JP4065458B2 - プロセッサシステムにおける動的電力管理の方法および装置 - Google Patents

プロセッサシステムにおける動的電力管理の方法および装置 Download PDF

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Description

発明の分野
[0001]本発明の分野は、主にプロセッサシステムに関し、より具体的にはプロセッサシステムの電力管理に関するが、これだけには限定されない。
背景情報
[0002]コンピューティングプラットフォームで使用されるようなプロセッサシステムの設計では、(プロセッサを含む)コンピューティングプラットフォームは、一般に、性能を高めるように設計される。一方、特にモバイル用途では、コンピューティングプラットフォームは、電力消費を低減するようにも設計される。一般に、これらの設計目標は対立する。
[0003]これらの目標に対する従来の解決策の1つは、ユーザがコンピューティングプラットフォームの構成を高性能モードと電力節約モードとの間で必要に応じて切り替える手段を提供することである。例えば、あるコンピューティングプラットフォームは、ハードウェアスイッチか、コンピューティングプラットフォームによって表示されるメニューおよびダイアログボックスで、所望のモードをユーザに選択させることが可能である。そのような方式は、ユーザの関与を必要とする。
発明の概要
[0004]本発明の態様によれば、システムは、プロセッサとシステムメモリとを含み、システムメモリに格納されるオペレーティングシステムが、プロセッサを、性能および/または電力損失のレベルの異なる複数の実行状態のうちの1つで動作させる。一実施形態では、オペレーティングシステムは、オペレーティングシステムによって監視されるプロセッサ情報に応答して実行状態を選択する。プロセッサ情報として、例えば、プロセッサ負荷履歴がある。
[0005]本発明の別の態様では、オペレーティングシステムは、プロセッサ情報の未来の状態を予測する。一実施形態では、オペレーティングシステムは、監視されたプロセッサ負荷履歴に基づいて未来のプロセッサ負荷を予測する。この態様のさらなる改良では、オペレーティングシステムは、予測と実際のプロセッサ情報との平均をとってプロセッサの実行状態の選択に使用することができる。
[0006]本発明のさらに別の態様では、オペレーティングシステムは、プロセッサ情報の監視時に、選択されたサンプル窓において発生する、連続する飽和サンプルの数を追跡する。オペレーティングシステムは、連続する飽和サンプルの数に基づいて未来のプロセッサ情報サンプルの予測を行う。さらなる改良では、オペレーティングシステムは、ウィンドウのサイズ、飽和サンプルを定義するしきい値、実行状態間の移行が起こるしきい値、および/またはプロセッサ情報のサンプルレートを変えることができる。
[0007]以下、本発明の非限定的かつ非網羅的な実施形態について、添付図面を参照しながら説明する。添付図面全体を通して、同様の参照符号は、特に指定されない限り、同様の部分を指す。
好ましい実施形態の詳細な説明
[0013]図1は、本発明の一実施形態による動的電力管理を有する例示的コンピューティングシステム100を示す。この実施形態では、コンピュータシステム100は、中央処理装置102と、周辺装置104〜104とを含む。中央処理装置102は、1つまたは複数のバス106で周辺装置104〜104と接続されている。実施形態によっては、中央処理装置102は、周辺装置104〜104と通信する周辺装置コントローラ(「サウスブリッジ」(図示せず))を含む場合がある。
[0014]この実施形態では、中央処理装置102は、プロセッサ110と、システムメモリ112(通常はRAMおよびROMに実装されている)とを含む。プロセッサ110は、1つまたは複数のバス114でシステムメモリ112と接続されている。実施形態によっては、プロセッサ110とシステムメモリ112との間の情報転送にメモリコントローラ(図示せず)が用いられる場合がある。他の実施形態では、中央処理装置102は、複数のプロセッサを含むことができる。
[0015]システムメモリ112は、一般に、基本入出力システム(BIOS)121、オペレーティングシステム122、1つまたは複数のアプリケーションプログラム123、およびデータ123を格納するために用いられる。プロセッサ110としては、任意の好適なプロセッサデバイス(例えば、汎用マイクロプロセッサ(いくつかのベンダから市販されているものなど)、マイクロコントローラ、デジタル信号プロセッサなど)を用いることができる。ここで挙げたプロセッサデバイスは代表的なものであって、網羅的であることを意図していない。
[0016]この実施形態では、周辺装置104〜104として、1つまたは複数のモニタ、メモリドライブ(例えば、ハードディスクドライブ、フロッピーディスクドライブ、CD−ROMドライブ、DVDドライブ、フラッシュメモリドライブなど)、プリンタ、スキャナなどが挙げられる。ここで挙げた周辺装置は代表的なものであって、網羅的であることを意図していない。
[0017]本発明の実施形態によれば、オペレーティングシステム122は、監視されたプロセッサ情報に基づいて、いくつかの実行状態のうちの1つで動作するようにプロセッサ110を構成することによって、動的電力管理を提供するように構成されている。この動的電力管理については、後で詳述する。
[0018]図2は、本発明の一実施形態による、中央処理装置102(図1)に実装された動的電力管理システム200を示す。この実施形態では、動的電力管理システム200は、プロセッサモニタ201と電力/性能状態コントローラ(本明細書では状態コントローラとも呼ぶ)203とを有するオペレーティングシステム122(図1)を含む。動的電力管理システム200はさらに、1つまたは複数のソフトウェアドライバ205と、プロセッサ電力/性能ハードウェア207とを含む。複数のプロセッサを有する他の実施形態では、動的電力管理システム200は、単一プロセッサ内で、すべてのプロセッサを用いて電力/性能を管理するように「動作」できる。あるいは、複数のプロセッサをグループ分けして、各グループの1つのプロセッサがそのグループのプロセッサを用いて電力/性能を管理するようにできる。
[0019]この実施形態では、プロセッサモニタ201は、選択された1つまたは複数のパラメータを、プロセッサ110(図1)の動作中に監視するモジュールである。例えば、プロセッサモニタ201は、プロセッサの作業負荷を監視できる。そのようなモニタは、ほとんどの市販オペレーティングシステムに最初から実装されている。
[0020]状態コントローラ203は、この実施形態では、プロセッサモニタ201によって監視された情報に基づいてプロセッサ110(図1)の実行状態を決定するモジュールである。一実施形態では、状態コントローラ203は、有限状態マシンとして実装されている。
[0021]ドライバ205は、プロセッサ110(図1)の性能および/または電力損失特性を変更するために、プロセッサハードウェアに制御信号を供給するモジュールである。例えば、実施形態によっては、プロセッサ110(図1)のクロック周波数または「コア」電圧を変更してプロセッサ110(図1)の性能/電力損失特性を変えるためにドライバ205が用いられる。この実施形態では、プロセッサ電力/性能ハードウェア207は、クロックジェネレータ、コア電圧レギュレータ、またはプロセッサ110(図1)の電力/性能特性を変えることのできる他の回路を含む。
[0022]動的電力管理システム200の構成要素は、次のように相互接続されている。オペレーティングシステム122のプロセッサモニタ201は、状態コントローラ203と通信するために結合されている。状態コントローラ203は、ドライバ205と通信するために結合されており、ドライバ205は、プロセッサ電力/性能ハードウェア207と通信するために結合されている。
[0023]さらに、一実施形態では、オペレーティングシステム122は、破線矢印209で図示されているように、ユーザが動的電力管理システム200に入力を行うことを可能にする手段を有する。例えば、オペレーティングシステム122は、ユーザが入力を行うことができるメニューおよび/またはダイアログボックスを表示させることができる。後で詳述するように、動的電力管理システム200は、実施形態によっては、様々なユーザ構成可能パラメータ(例えば、しきい値、履歴サイズなど)を有する。
[0024]図3は、本発明の一実施形態による、動的電力管理システム200(図2)の動作フローを示す。図2および3を参照すると、動的電力管理システム200は次のように動作する。
[0025]ブロック302で、プロセッサ情報がサンプリングされる。この実施形態では、プロセッサモニタ201は、プロセッサ110(図1)の動作の1つまたは複数のパラメータを監視する。ある特定の実施形態では、プロセッサモニタ201は、プロセッサ110(図1)の作業負荷を監視するが、他の実施形態では別のパラメータが監視可能である。例えば、スケジューラ情報(例えば、実行可能スレッドの数)やスレッド別統計(例えば、優先度、実時間要件、スケジューリング量子の%使用率など)が監視可能である。さらなる改良では、プロセッサモニタ201がプロセッサ情報をサンプリングするレートをユーザ構成可能にすることができる。一実施形態では、最新のNサンプル分のプロセッサ情報がサンプル履歴に格納される。実施形態によっては、Nをユーザ構成可能にすることができる。
[0026]ブロック304で、プロセッサ110(図1)の実行状態が、サンプル履歴の関数として決定される。一実施形態では、状態コントローラ203は、プロセッサ110(図1)が動作できる、2つ以上の可能な実行状態のうちの1つを選択する。例えば、一実施形態では、複数の実行状態が、プロセッサのクロック周波数および/またはコア電圧の様々な組合せを有する。したがって、プロセッサの実行状態を変更することによって、プロセッサの性能および電力損失特性を変えることができる。一実施形態では、状態コントローラ203は、未来のプロセッサ情報サンプルを予測し、それから、サンプル履歴と予測サンプルの平均をとる。状態コントローラ203は、この平均を用いて、どの実行状態を選択するかを決定する。例えば、平均の範囲を、それぞれが個々の実行状態に対応するサブ範囲に分割し、平均がどのサブ範囲に当てはまるかを状態コントローラ203が調べるようにできる。そして、状態コントローラ203は、そのサブ範囲に対応する実行状態でプロセッサ110(図1)を動作させる。ブロック304の一実施形態について、後で図4と併せて詳述する。
[0027]ブロック306で、プロセッサが、ブロック304で決定された実行状態で動作するように構成される。一実施形態では、状態コントローラ203は、プロセッサのクロック周波数および/またはコア電圧が、決定された実行状態に対応するレベルまで変化するように、1つまたは複数のドライバ205に、(必要に応じて)プロセッサ電力/性能ハードウェア207を制御させる。
[0028]図4は、本発明の一実施形態による、ブロック304(図3)の動作フローを示す。図2および4を参照すると、この実施形態のブロック304は、次のように実行される。
[0029]ブロック402で、プロセッサ情報のサンプルがサンプル履歴(図示せず)に挿入される。一実施形態では、このサンプル履歴は、システムメモリ112(図1)に格納されて、最新のNサンプルを格納するデータ構造体である。プロセスモニタ201は、この実施形態では、最新のサンプルをサンプル履歴に挿入する。サンプル履歴が既に満杯の場合は、最も古いサンプルが廃棄され、その空いた場所に最新のサンプルが格納される。
[0030]ブロック404で、サンプル履歴に基づいて未来のサンプルが予測される。この実施形態では、状態コントローラ203が、未来のサンプルの予測を決定する。一実施形態では、この予測は、連続する最新の、選択されたしきい値を上回るサンプル(本明細書では「飽和サンプル」とも呼ぶ)の数に基づく。その実施形態では、連続する最新の飽和サンプルの数に、あらかじめ選択された係数が乗ぜられる。この積(例えば、非負整数Pに丸められる)は、未来に受信される飽和サンプルの数の予測としての働きをする。他の実施形態では、別のアルゴリズムを用いて、未来のサンプル(飽和サンプルである必要がない)を予測することができる。
[0031]ブロック406で、サンプル履歴と、ブロック404での予測サンプルとを用いて平均が求められる。一実施形態では、状態コントローラ203は、サンプル履歴に格納されているN個(サンプル履歴が満杯でない場合はN個未満でも可)のサンプルに、P個の予測飽和サンプルが加算されたものの平均を求める。一実施形態では、P個の飽和サンプル(Pがゼロより大きい場合)が、プロセッサ情報のサンプルが持ちうる最大値を有すると見なされる。例えば、プロセッサ情報が作業負荷の場合は、一実施形態では、P個の飽和サンプルが、それぞれ100%の値を有する(すなわち、プロセッサが100%の能力で稼動していることを示す)。他の実施形態では、各飽和サンプルの値が、他の何らかのあらかじめ選択された値になることが可能であり、平均は別の方法で計算されることが可能である。この意味で、平均は、サンプル履歴と予測サンプルとを用いて計算される値であることが可能であり、これを、プロセッサ110(図1)の可能な実行状態の1つにマッピングすることが可能である。
[0032]ブロック408で、実行状態が、ブロック406で決定された平均の関数として決定される。一実施形態では、状態コントローラ203は、実行状態を、プロセッサの複数の可能な実行状態から選択する。例えば、平均の範囲は、重なり合わないが隣接するサブ範囲に分割されることが可能であり、その各サブ範囲は、複数の可能な実行状態のうちの一意の実行状態に対応する。この実施形態では、状態コントローラ203は、平均がどのサブ範囲に含まれるかを調べ、これによって実行状態が事実上決まる。他の実施形態では、実行状態間の移行にヒステリシスを導入できるように、サブ範囲が重なり合うことが可能である。
[0033]図5A〜5Cは、本発明の一実施形態に従って、動的電力管理システム200(図2)が様々な一連のサンプルをどのように処理するかの例を示す。この実施形態では、プロセッサ情報がプロセッサ作業負荷であり、サンプルが作業負荷パーセンテージである。
[0034]図5Aでは、プロセッサモニタ201(図2)が最新の8個のサンプル(すなわち、N=8)をサンプル履歴(図示せず)に格納する。この実施例では、最新のサンプルが飽和している場合に、予測飽和サンプルの数が、最新の蓄積された飽和サンプルの数と等しい(すなわち、乗ずる係数が1)。一方、最新のサンプルが飽和していない場合には、予測飽和サンプルの数が、最新の蓄積された飽和サンプルの数の半分に等しくなる。また、サンプルが飽和しているかどうかを決定するしきい値が95%である(すなわち、95%を超えるサンプルが、飽和していると見なされる)。さらに、この実施例では、実行状態の数が2である(1つは高性能状態で、もう1つは電力節約状態である)。この実施例では、2つの状態の間のしきい値も95%である(すなわち、平均が95%を超える場合が高性能状態に該当する)。また、この実施例では、予測飽和サンプルのそれぞれの値が100%に設定されている。さらに、平均は、サンプル履歴全体と予測サンプルとの平均として計算される。
[0035]この実施例では、最新のサンプル(すなわち、サンプルS)が100%である。したがって、サンプルSは飽和している。この実施例の予測アルゴリズムによれば、予測飽和サンプルの数が、最新の連続する飽和サンプルの数と同じである。この例では最新の4個のサンプルが飽和していたので、Pは4に等しい。サンプル履歴の8個のサンプル(すなわち、サンプルSn−7、Sn−6、...、S)および4個の予測飽和サンプルの平均は95.6%である。したがって、動的電力管理システム200(図2)は、プロセッサ110(図1)を高性能実行状態に移行させる。
[0036]この実施例を図5Bで続けると、次のサンプル(すなわち、Sn+1)は80%である。このように、サンプルSn+1は飽和していない。結果として、予測アルゴリズムは、予測飽和サンプルの数を半分にすることを必要とする。したがって、この実施例では、Pは2まで低減される。サンプル履歴の8個のサンプル(すなわち、サンプルSn−6、Sn−5、...、Sn、Sn+1)および2個の予測飽和サンプルの平均は92.9%である。したがって、動的電力管理システム200(図2)は、プロセッサ110(図1)を電力節約実行状態に移行させる。
[0037]この例示的実施形態は、動的電力管理システム200(図2)が負荷の変化にいかに早く応答できるかを示している。作業負荷が比較的軽ければ、プロセッサは、プロセッサ性能の低下をユーザに実感させることなく、コンピュータプラットフォームの電力損失が少なくなるように、低性能/電力節約実行状態で動作することが可能である。このように実感させることが可能なのは、作業負荷が比較的軽いので、低性能実行状態になっても作業が比較的高速で実行され続けるからである。このようにして、ユーザの実感に影響を及ぼすことなく電力損失が低減される。この実施形態では、電力節約実行状態におけるプロセッサの作業時間を、プロセッサ性能の低下をユーザに実感させない範囲で最大化するという目標でアルゴリズムが設計されている。他の実施形態では、別の電力/性能目標を達成するようにアルゴリズムを用いることができる。
[0038]図5Cは、サンプル履歴に格納された別の8個のサンプルのシーケンスを示す(すなわち、サンプルSm−7、Sm−6、...、S。Sが最新)。この実施例では、連続する6個の飽和サンプルがサンプル履歴に格納され、その後に、飽和していない最新のサンプル(すなわち、75%のサンプルS)が続いている。結果として、サンプルSが受信された後のPは、この実施例では3である。サンプル履歴と3個の予測飽和サンプルの平均は約95.3%である。
[0039]前のサイクルであれば(すなわち、サンプルSm−1が受信された場合は)、Pが6に等しくなり、それによって、サンプル履歴と6個の予測飽和サンプルとの平均が、高性能実行状態になるためのしきい値95%を十分に上回ったはずである。したがって、動的電力管理システム200(図2)は、プロセッサ110(図1)を高性能実行状態にとどまらせる。この実施例は、いくつかの連続する飽和サンプルを受信した後に非飽和サンプルを1つ受信しても、必ずしもプロセッサが低電力実行状態に移行するわけではない様子を示している。
[0040]本明細書には、動的電力管理の方法および装置の実施形態を記載した。これまでの記述では、本発明の実施形態が十分に理解されるように、多数の具体的な詳細を説明した。しかしながら、当業者であれば、これらの特定の詳細の1つまたは複数を用いないか、他の方法、コンポーネント、材料などを用いて本発明を実施できることを認識されるであろう。他の実例、よく知られた構造、材料、または動作については、本発明の態様が曖昧になることを避けるために、詳細までは図示または記載していない。
[0041]本明細書を通しての「一実施形態」または「実施形態」への参照は、その実施形態に関連して記載された特定の機能、構造、または特徴が、本発明の少なくとも1つの実施形態に含まれることを意味する。したがって、本明細書の随所に見られる「一実施形態では」または「実施形態では」という句は、必ずしもすべてが同一の実施形態を参照するわけではない。さらに、特定の機能、構造、または特徴は、1つまたは複数の実施形態において、任意の好適な形で組み合わせられることが可能である。
[0042]本発明の実施形態は、何らかの形のプロセシングコア(コンピュータのCPUなど)に対して実行されるソフトウェアプログラムとして、またはそのソフトウェアプログラムをサポートするために、用いられることが可能である。あるいは、マシン可読媒体に対して、またはマシン可読媒体内で、実装または実現されることが可能である。マシン可読媒体は、マシン(例えば、コンピュータ)が読み取れる形式で情報を格納または伝送する任意のメカニズムを含む。例えば、マシン可読媒体として、読み出し専用メモリ(ROM)、ランダムアクセスメモリ(RAM)、磁気ディスクストレージ媒体、光ストレージ媒体、フラッシュメモリデバイスなどが挙げられる。さらに、マシン可読媒体として、電気、光、音などの伝搬信号やその他の形の伝搬信号(例えば、搬送波、赤外線信号、デジタル信号など)が挙げられる。
[0043]前述の本発明の実施形態の説明は、要約書に記載された内容を含め、網羅的であること、および開示された形態に本発明を厳密に限定することを目的とするものではない。本発明の特定の実施形態および本発明の実施例は、例示を目的として本明細書に記載されており、当業者であれば認識されるように、本発明の範囲内で様々な等価な修正が可能である。
[0044]それらの修正は、前述の詳細な説明に照らして、本発明に対して行われることが可能である。添付の特許請求項で用いられている用語は、本発明を、本明細書ならびに本特許請求項で開示された特定の実施形態に限定するものであると解釈されてはならない。もっと正確に言えば、本発明の範囲は、添付の特許請求項によって完全に決定されるべきであり、特許請求項は、特許請求項の解釈についての確立された原則に従って解釈されるべきである。
本発明の一実施形態による例示的コンピュータシステムの概略ブロック図である。 本発明の一実施形態による動的電力管理システムのブロック図である。 本発明の一実施形態による、図2のシステムの動作フローを示すフロー図である。 本発明の一実施形態による、図3に示した動作の動作フローを示すフロー図である。 サンプル予測と、サンプル履歴の各種の実施例の平均とを示す図である。 サンプル予測と、サンプル履歴の各種の実施例の平均とを示す図である。 サンプル予測と、サンプル履歴の各種の実施例の平均とを示す図である。

Claims (42)

  1. プロセッサと、
    オペレーティングシステムを格納するシステムメモリと、
    を備え、
    前記システムメモリは、プロセッサ情報の第1の個数のサンプルを含むサンプル履歴を更に格納し、
    前記オペレーティングシステムは、複数の状態から選択された実行状態で前記プロセッサを動作させ、
    前記複数の状態の各状態は、それぞれ異なる性能レベルを有し、
    前記オペレーティングシステムは、
    前記サンプル履歴内の最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを決定するステップと、
    前記最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを用いて、未来のサンプルの予測数を求めるステップと、
    前記サンプル履歴に格納された前記第1の個数のサンプルと、前記予測数の前記未来のサンプルとを用いて、前記複数の状態から前記実行状態を選択するステップと
    を前記プロセッサに実行させる、
    コンピュータシステム。
  2. 前記プロセッサ情報がプロセッサ負荷情報を備え
    前記予測数を求めるステップは、前記第2の個数に係数を乗ずることにより前記予測数を算出することを含む、請求項1に記載のシステム。
  3. プロセッサ情報がサンプリングされるレートが調整可能である、請求項1に記載のシステム。
  4. 各状態が、それぞれ異なる、プロセッサクロック周波数とプロセッサ電圧との組合せを有する、請求項1に記載のシステム。
  5. 状態間の移行を定義するしきい値が調整可能である、請求項1に記載のシステム。
  6. 前記実行状態を選択するステップは前記サンプル履歴に格納された前記第1の個数のサンプルと、前記予測数の前記未来のサンプルとの平均を求めることを含む、請求項に記載のシステム。
  7. 飽和サンプルと非飽和サンプルとの間の移行を定義する、サンプルのしきい値が調整可能である、請求項に記載のシステム。
  8. 最新のサンプルが飽和サンプルである場合は、前記未来サンプルの予測数が、前記最も新しく連続した飽和サンプルの前記第2の個数に等しく、前記最も新しく連続した飽和サンプルが前記最新のサンプルを含む、請求項に記載のシステム。
  9. 最新のサンプルが飽和サンプルでない場合は、前記未来サンプルの予測数が、前記最も新しく連続した飽和サンプルの前記第2の個に係数を乗ずることにより求められ、前記最も新しく連続した飽和サンプルが前記最新のサンプルより前に連続的に受信される、請求項に記載のシステム。
  10. コンピューティングプラットフォームのオペレーティングシステムによって実行される方法であって、
    プロセッサの動作に関連する情報のサンプルを受信してサンプル履歴に格納することと、
    複数の状態から選択された実行状態で前記プロセッサが動作するように、前記オペレーティングシステムに前記プロセッサを構成させることと、
    を備え、
    前記複数の状態の各状態は、それぞれ異なる性能レベルを有し、
    前記オペレーティングシステムに前記プロセッサを構成させることは、
    前記サンプル履歴内の第1の個数のサンプルから、前記最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを決定するステップと、
    前記最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを用いて、未来のサンプルの予測数を求めるステップと、
    前記サンプル履歴に格納された前記第1の個数のサンプルと、前記予測数の前記未来のサンプルとを用いて、前記複数の状態から前記実行状態を選択するステップと、
    を含む、
    方法。
  11. 前記情報がプロセッサ負荷情報を備え
    前記予測数を求めるステップは、前記第2の個数に係数を乗ずることにより前記予測数を算出することを含む、請求項10に記載の方法。
  12. プロセッサ情報がサンプリングされるレートが調整可能である、請求項10に記載の方法。
  13. 各状態が、それぞれ異なる、プロセッサクロック周波数とプロセッサ電圧との組合せを有する、請求項10に記載の方法。
  14. 状態間の移行を定義するしきい値が調整可能である、請求項10に記載の方法。
  15. 前記実行状態を選択するステップは、前記サンプル履歴に格納された前記第1の個数のサンプルと、前記予測数の前記未来のサンプルとの平均を求めることをさらに含む、請求項10に記載の方法。
  16. 飽和サンプルと非飽和サンプルとの間の移行を定義するしきい値が調整可能である、請求項10に記載の方法。
  17. 最新のサンプルが飽和サンプルである場合は、前記未来サンプルの予測数が、前記最も新しく連続した飽和サンプルの前記第2の個数に等しく、前記最も新しく連続した飽和サンプルが前記最新のサンプルを含む、請求項10に記載の方法。
  18. 最新のサンプルが飽和サンプルでない場合は、前記未来サンプルの予測数が、前記最も新しく連続した飽和サンプルの前記第2の個に係数を乗ずることにより求められ、前記最も新しく連続した飽和サンプルが前記最新のサンプルより前に連続的に受信される、請求項10に記載の方法。
  19. プロセッサで使用するためのオペレーティングシステムであって、
    前記プロセッサの動作に関連する情報のサンプルを受信してサンプル履歴に格納する手段と、
    複数の状態から選択された実行状態で前記プロセッサが動作するように、前記プロセッサを構成する手段と、
    を備え、
    前記複数の状態の各状態は、それぞれ異なる性能レベルを有し、
    前記プロセッサを構成する手段は、
    前記サンプル履歴内の第1の個数のサンプルから、前記最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを決定するステップと、
    前記最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを用いて、未来のサンプルの予測数を求めるステップと、
    前記サンプル履歴に格納された前記第1の個数のサンプルと、前記予測数の前記未来のサンプルとを用いて、前記複数の状態から前記実行状態を選択するステップと、
    含む動作によって前記実行状態を選択する、
    オペレーティングシステム。
  20. 前記情報がプロセッサ負荷情報を備え
    前記予測数を求めるステップは、前記第2の個数に係数を乗ずることにより前記予測数を算出することを含む、請求項19に記載のオペレーティングシステム。
  21. プロセッサ情報がサンプリングされるレートが調整可能である、請求項19に記載のオペレーティングシステム。
  22. 各状態が、それぞれ異なる、プロセッサクロック周波数とプロセッサ電圧との組合せを有する、請求項19に記載のオペレーティングシステム。
  23. 状態間の移行を定義するしきい値が調整可能である、請求項19に記載のオペレーティングシステム。
  24. 前記実行状態を選択するステップは、前記サンプル履歴に格納された前記第1の個数のサンプルと、前記予測数の前記未来のサンプルとの平均を求める手段をさらに含む、請求項19に記載のオペレーティングシステム。
  25. 飽和サンプルと非飽和サンプルとの間の移行を定義するしきい値が調整可能である、請求項19に記載のオペレーティングシステム。
  26. 最新のサンプルが飽和サンプルである場合は、前記未来サンプルの予測数が、前記最も新しく連続した飽和サンプルの前記第2の個数に等しく、前記最も新しく連続した飽和サンプルが前記最新のサンプルを含む、請求項19に記載のオペレーティングシステム。
  27. 最新のサンプルが飽和サンプルでない場合は、前記未来サンプルの予測数が、前記最も新しく連続した飽和サンプルの前記第2の個に係数を乗ずることにより決定され、前記最も新しく連続した飽和サンプルが前記最新のサンプルより前に連続的に受信される、請求項19に記載のオペレーティングシステム。
  28. 実行されたときに、
    プロセッサの動作に関連する情報のサンプルを受信してサンプル履歴に格納することと、
    複数の状態から選択された実行状態で前記プロセッサが動作するように、前記オペレーティングシステムに前記プロセッサを構成させることと、
    を備える動作を、オペレーティングシステムに実行させる命令を有し、
    前記複数の状態の各状態は、それぞれ異なる性能レベルを有し、
    前記オペレーティングシステムに前記プロセッサを構成させることは、
    前記サンプル履歴内の第1の個数のサンプルから、前記最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを決定するステップと、
    前記最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを用いて、未来のサンプルの予測数を求めるステップと、
    前記サンプル履歴に格納された前記第1の個数のサンプルと、前記予測数の前記未来のサンプルとを用いて、前記複数の状態から前記実行状態を選択するステップと、
    含む、
    マシン可読媒体。
  29. 前記情報がプロセッサ負荷情報を備え
    前記予測数を求めるステップは、前記第2の個数に係数を乗ずることにより前記予測数を算出することを含む、請求項28に記載のマシン可読媒体。
  30. プロセッサ情報がサンプリングされるレートが調整可能である、請求項28に記載のマシン可読媒体。
  31. 各状態が、それぞれ異なる、プロセッサクロック周波数とプロセッサ電圧との組合せを有する、請求項28に記載のマシン可読媒体。
  32. 状態間の移行を定義するしきい値が調整可能である、請求項28に記載のマシン可読媒体。
  33. 実行されたときに、
    前記実行状態を選択するステップは、前記サンプル履歴に格納された前記第1の個数のサンプルと、前記予測数の前記未来のサンプルとの平均を求めることを含む動作を前記オペレーティングシステムに実行させる命令をさらに含む、請求項28に記載のマシン可読媒体。
  34. 飽和サンプルと非飽和サンプルとの間の移行を定義するしきい値が調整可能である、請求項28に記載のマシン可読媒体。
  35. 最新のサンプルが飽和サンプルである場合は、前記未来サンプルの予測数が、前記最も新しく連続した飽和サンプルの前記第2の個数に等しく、前記最も新しく連続した飽和サンプルが前記最新のサンプルを含む、請求項28に記載のマシン可読媒体。
  36. 最新のサンプルが飽和サンプルでない場合は、前記未来サンプルの予測数が、前記最も新しく連続した飽和サンプルの前記第2の個に係数を乗ずることにより決定され、前記最も新しく連続した飽和サンプルが前記最新のサンプルより前に連続的に受信される、請求項28に記載のマシン可読媒体。
  37. プロセッサと、
    プログラムを格納するメモリと、
    を備え、
    前記メモリは、プロセッサ情報の第1の個数のサンプルを含むサンプル履歴を更に格納し、
    前記プログラムは、複数の状態から選択された実行状態で前記プロセッサを動作させ、
    前記複数の状態の各状態は、それぞれ異なる性能レベルを有し、
    前記プログラムは、
    前記サンプル履歴内の最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを決定するステップと、
    前記最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを用いて、未来のサンプルの予測数を求めるステップと、
    前記サンプル履歴に格納された前記第1の個数のサンプルと、前記予測数の前記未来のサンプルとを用いて、前記複数の状態から前記実行状態を選択するステップと、
    含む動作を前記プロセッサに実行させる、
    コンピュータシステム。
  38. 前記プロセッサ情報がプロセッサ負荷情報を備え、
    前記予測数を求めるステップは、前記最も新しく連続した飽和サンプルの前記第2の個数に係数を乗ずることにより前記予測数を求めることを含み、
    各状態が、それぞれ異なる、プロセッサクロック周波数とプロセッサ電圧との組合せを有する、請求項37に記載のシステム。
  39. 状態間の移行を定義するしきい値が調整可能である、請求項37に記載のシステム。
  40. 実行されたときに、
    データプロセッシングシステムの動作に関連する情報のサンプルを受信してサンプル履歴に格納することと、
    複数の状態から選択された実行状態で前記データプロセッシングシステムが動作するように、前記データプロセッシングシステムを構成させることと、
    を備える方法を、前記データプロセッシングシステムに実行させる命令を有し、
    前記複数の状態の各状態は、それぞれ異なる性能レベルを有し、
    前記データプロセッシングシステムを構成させることは、
    前記サンプル履歴内の第1の個数のサンプルから、前記最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを決定するステップと、
    前記最も新しく連続した第2の個数の飽和サンプルを用いて、未来のサンプルの予測数を求めるステップと、
    前記サンプル履歴に格納された前記第1の個数のサンプルと、前記予測数の前記未来のサンプルとを用いて、前記複数の状態から前記実行状態を選択するステップと、
    を含む、
    マシン可読媒体。
  41. 前記情報がプロセッサ負荷情報を備え、
    各状態が、それぞれ異なる、プロセッサクロック周波数とプロセッサ電圧との組合せを有する、請求項40に記載のマシン可読媒体。
  42. 状態間の移行を定義するしきい値が調整可能である、請求項40に記載のマシン可読媒体。
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