JP4022918B2 - Optical component mounting structure and manufacturing method - Google Patents

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【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、複数の光部品を用いて光学系を構成するに好適な光部品実装構造とその製法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、シリコン基板等の実装基板上に光半導体素子、光導波路等の複数の光部品を実装する方法としては、予めホトリソグラフィ処理により実装基板及び各光部品の対向面に位置合せマークを形成しておき、画像認識により位置合せマークを認識して実装基板上で各光部品を位置決めし、このような位置決め状態において各光部品を半田又は接着材により実装基板に固定するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
【特許文献1】
特開2001−356245号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
上記した従来技術によると、ホトリソグラフィ処理により形成した位置合せマークを用いて位置決めを行なうので、実装面での位置決め精度としては、1μm以内の精度を確保することができる。しかしながら、次の(イ),(ロ)のような問題点がある。
【0005】
(イ)画像認識により位置合せマークを検出するには、実装基板又は光部品のいずれかが透明材である必要がある。また、実装基板、光部品及び位置合せマークについては、光学的なコントラストが得られる材料組合せを選定する必要がある。さらに、ホトリソグラフィ処理により位置合せマークを形成するには、実装基板や光部品がウェハ状態で取扱えることが必要である。従って、実装基板や光部品の材料、厚さ、形状等によっては、位置合せマークの検出が困難となる事態が生ずる。
【0006】
(ロ)位置合せマークの検出結果をフィードバックしながら位置決めを行なうため、高度の位置調整設備が必要であり、実装に要する時間とコストが増大する。
【0007】
この発明の目的は、複数の光部品の位置決めを高精度且つ簡単になしうる新規な光部品実装構造とその製法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る第1の光部品実装構造は、
光部品位置決め用の複数の嵌合凹部がめっき処理により一方の主面に形成された実装基板と、
各々の底部に設けられた嵌合凸部を前記複数の嵌合凹部にそれぞれ嵌合させた状態で光学系を構成する複数の光部品と
を備えたものである。
【補正の内容】
【0009】
第1の光部品実装構造によれば、実装基板の複数の嵌合凹部及び各光部品の嵌合凸部は、いずれも薄膜プロセスにより形成可能であり、位置精度及び寸法精度としては、サブミクロンの精度が得られる。従って、実装基板上で各光部品の嵌合凸部を対応する嵌合凹部に嵌合させるだけで簡単に1μm以下の高精度で位置決めを行い、実装を達成することができる。この精度は、光学系を構成する上で支障がない精度である。
【0010】
この発明に係る第2の光部品実装構造は、
実装基板と、
この実装基板の一方の主面にめっき処理により形成された光部品位置決め用の複数の嵌合凸部と、
各々の底部に設けられた嵌合凹部を前記複数の嵌合凸部にそれぞれ嵌合させた状態で光学系を構成する複数の光部品と
を備えたものである。
【0011】
第2の光部品実装構造によれば、実装基板上の複数の嵌合凸部及び各光部品の嵌合凹部は、いずれも薄膜プロセスにより形成可能であり、位置精度及び寸法精度としては、サブミクロンの精度が得られる。従って、実装基板上で各光部品の嵌合凹部を対応する嵌合凸部に嵌合させるだけで簡単に1μm以下の高精度で位置決めを行ない、実装を達成することができる。
【0012】
この発明に係る光部品実装構造の製法は、
光部品位置決め用の複数の嵌合凹部(又は嵌合凸部)を実装基板の一方の主面にめっき処理により形成する工程と、
複数の光部品のうちの各光部品毎にその底部に嵌合凸部(又は嵌合凹部)をめっき処理により形成する工程と、
前記複数の光部品の嵌合凸部(又は嵌合凹部)を前記実装基板の複数の嵌合凹部(又は嵌合凸部)にそれぞれ嵌合させることにより前記複数の光部品を含む光学系を構成する工程と
を含むものである。この製法は、前述した第1又は第2の光部品実装構造を製作するのに適している。各光部品の底部に嵌合凸部(又は嵌合凹部)を形成する工程は、実装基板の一方の主面に嵌合凹部(又は嵌合凸部)を形成する工程の前でもよく、あるいは実装基板の一方の主面に嵌合凹部(又は嵌合凸部)を形成する工程と並行的に実行してもよい。
【0013】
この発明の光部品実装構造の製法によれば、実装基板の複数の嵌合凹部(又は嵌合凸部)と各光部品の嵌合凸部(又は嵌合凹部)とを薄膜プロセスにより形成するので、各嵌合凹部及び各嵌合凸部をサブミクロンの精度で形成可能である。従って、実装基板上で各光部品の嵌合凸部(又は嵌合凹部)を対応する嵌合凹部(又は嵌合凸部)に嵌合させるだけで簡単に1μm以下の高精度で位置決めを行ない、実装を達成することができる。
【0014】
この発明に係る第3の光部品実装構造は、
光部品位置決め用の第1〜第3の嵌合凹部が一方の主面に形成された実装基板と、
各々の底部に設けられた第1及び第2の嵌合凸部を前記第1及び第2の嵌合凹部にそれぞれ嵌合させた状態で前記実装基板の一方の主面に配置された第1及び第2の光部品と、
底部に設けられた第3の嵌合凸部を前記第3の嵌合凹部に嵌合させた状態で前記実装基板の一方の主面に配置された金属層と、
この金属層の上面において所定の位置に装着された第3の光部品と
を備え、前記第2の光部品により前記第1及び第3の光部品を光学的に結合したものである。
【0015】
第3の光部品実装構造によれば、実装基板上で第1〜第3の嵌合凹部に第1,第2の光部品の第1,第2の嵌合凸部及び金属層の第3の嵌合凸部をそれぞれ嵌合させて実装を行なうので、第1の光部品実装構造に関して前述したと同様に簡単に高精度の実装を達成することができる。また、金属層には第3の光部品を装着すると共に、第2の光部品により第1及び第3の光部品を光学的に結合するようにしたので、基板及び金属層の上面を利用して複雑で高度の機能を持った光学系(光モジュール)を実現することができる。
【0016】
この発明に係る第4の光部品実装構造は、
実装基板と、
この実装基板の一方の主面に形成された光部品位置決め用の第1〜第3の嵌合凸部と、
各々の底部に設けられた第1及び第2の嵌合凹部を前記第1及び第2の嵌合凸部にそれぞれ嵌合させた状態で前記実装基板の一方の主面に配置された第1及び第2の光部品と、
底部に設けられた第3の嵌合凹部を前記第3の嵌合凸部に嵌合させた状態で前記実装基板の一方の主面に配置された金属層と、
この金属層の上面において所定の位置に装着された第3の光部品と
を備え、前記第2の光部品により前記第1及び第3の光部品を光学的に結合したものである。
【0017】
第4の光部品実装構造によれば、実装基板上で第1〜第3の嵌合凸部に第1,第2の光部品の第1,第2の嵌合凹部及び金属層の第3の嵌合凹部をそれぞれ嵌合させて実装を行なうので、第2の光部品実装構造に関して前述したと同様に簡単に高精度の実装を達成することができる。また、金属層には第3の光部品を装着すると共に、第2の光部品により第1及び第3の光部品を光学的に結合するようにしたので、基板及び金属層の上面を利用して複雑で高度の機能を持った光学系を実現することができる。
【0018】
第3又は第4の光部品実装構造において、前記所定の位置に設けた嵌合凹部(又は嵌合凸部)と前記第3の光部品の底部に設けた嵌合凸部(又は嵌合凹部)との嵌合により前記第3の光部品の実装を達成してもよい。このようにすると、第3の光部品を簡単に高精度で位置決めして実装することができる。
【0019】
この発明に係る光部品実装構造及びその製法において、嵌合凹部としては、嵌合孔又は嵌合溝のいずれを用いてもよく、嵌合凸部としても、嵌合孔又は嵌合溝に適合するものを用いることができる。
【0020】
【発明の実施の形態】
図1,2は、この発明の一実施形態に係る光部品実装構造を示すもので、図1は、図2の光ファイバF及びレンズLに沿う断面を示している。
【0021】
実装基板10は、シリコン、石英又はステンレススチール等からなるもので、その一方の主面には、Ni−Fe合金等からなる金属層12がメッキ処理等を含む薄膜プロセスにより形成されている。金属層12は、平面形状が例えば円形状である多数の嵌合孔を有するように形成される。図1には、便宜上、金属層12の多数の嵌合孔のうちの6個の嵌合孔S〜Sを示す。S等の多数の嵌合孔の位置は、光ファイバアレイ14、マイクロレンズアレイ16等の光部品を用いて所望の光学系を構成する際に各々の光部品を配置すべき設計位置に対応して決定される。S等の各嵌合孔は、開口端に近づくにつれてサイズ(直径)が増大するように形成される。このようにすると、嵌合が容易となり遊びを少なくして精密な嵌合を達成できる。
【0022】
一例として、基板10を石英基板で構成する場合、基板10の厚さAは1250μm、金属層12の厚さBは50μm、S等の各嵌合孔の直径は50.3μmとすることができる。S等の各嵌合孔の平面形状は、円形状に限らず、楕円形状、細長形状、多角形状等であってもよい。また、光部品1個あたりの嵌合孔設置数は、1又は複数個とすることができ、1個とするときは回転しない形状とすればよい。
【0023】
光ファイバアレイ14は、8つの光ファイバ保持孔が並設された光ファイバホルダFHと、このホルダFHの8つの光ファイバ保持孔にそれぞれ保持された8本のシングルモードの光ファイバF〜Fと、ホルダFHの底部に設けられた複数の嵌合突起とを備えている。図1には、便宜上、ホルダFHの複数の嵌合突起のうちの2つの嵌合突起P,Pを示す。嵌合突起P,Pは、いずれもNi−Fe合金等の金属からなるもので、嵌合孔S,Sにそれぞれ嵌合可能なサイズ及び形状を有するように薄膜プロセスにより形成される。このことは、ホルダFHに設けられたP,P以外の嵌合突起についても同様である。一例として、ホルダFHの長さCは2000μm、ホルダFHの厚さDは600μm、F5等の各光ファイバの中心(光軸)とホルダFHの底面との間の距離Eは300μmとすることができる。
【0024】
マイクロレンズアレイ16は、光ファイバアレイ14からの射出光を受取るもので、石英等からなる透光基板BPと、この基板BPの一方の主面に並設された8つの凸状レンズL〜Lと、透光窓LPにてレンズL〜Lを露呈するように基板BPに装着され、底部に複数の嵌合突起を有する支持枠SFとを備えている。図1には、便宜上、支持枠SFの複数の嵌合突起のうちの1つの嵌合突起Qを示す。嵌合突起Qは、Ni−Fe合金等の金属からなるもので、嵌合孔Sに嵌合可能なサイズ及び形状を有するように薄膜プロセスにより形成される。このことは、支持枠SFに設けられたQ以外の嵌合突起について同様である。基板BPの他方の主面(光ファイバアレイ14の光射出面に対向する主面)には、反射戻り光を抑制するため斜め研磨が施されている。基板BPの他方の主面における光軸位置と光ファイバアレイ14の光射出面との間の間隔Fは、300μmとすることができる。
【0025】
前述したようにS等の各嵌合孔の平面形状を円形状とし、各嵌合孔の直径を50.3μmとした場合、P,P,Q等の各嵌合突起を円柱状とし、各嵌合突起の直径を50μmとすることができる。各嵌合孔の位置精度及び寸法精度と各嵌合突起の位置精度及び寸法精度とは、いずれも薄膜プロセスで使用する縮小投影露光装置のアライメント精度に等しいため、0.1〜0.2μmの精度とすることができる。
【0026】
実装基板10に光部品を実装する際には、光ファイバアレイ14のP,P等の嵌合突起をS,S等の嵌合孔に嵌合し、マイクロレンズアレイ16のQ等の嵌合突起をS等の嵌合孔に嵌合する。このように嵌合するだけで簡単に1μm以下の高精度でアレイ14、16等の光部品を実装基板10上に位置決めし、実装することができる。
【0027】
この後は、必要に応じて各光部品を金属層12に固定する作業を行なうことができる。この場合、P等の各嵌合突起が金属製であるため、半田付け、レーザー(例えばYAG[Yttrium Alminium Garnet]レーザー)溶接等の信頼性の高い固定手段を用いることができる。
【0028】
図1,2に示す光学系では、光ファイバアレイ14の例えば光ファイバFから射出した光は、マイクロレンズアレイ16のレンズLでコリメート(平行光化)される。このような動作は、F以外の光ファイバF〜F,F〜Fの射出光についても同様である。
【0029】
図1,2の実施形態によれば、簡単に高精度の実装を行なうことができ、実装に要する時間とコストを大幅に低減することができる。
【0030】
図3は、この発明の他の実施形態に係る光部品実装構造を示すもので、図1,2と同様の部分には同様の符号を付して詳細な説明を省略する。
【0031】
マイクロレンズアレイ16は、図1に示したマイクロレンズアレイ16とは透光基板BPの一方の主面にL等の8個の凸状レンズを並設する代りにL51等の8個の凹状レンズを並設した点のみを異にするものである。
【0032】
光導波路17は、マイクロレンズアレイ16からの射出光を受取るもので、マイクロレンズアレイ16の8個の凹状レンズにそれぞれ対応した8本のコア(導光路)を有する。光導波路17の底部には複数の嵌合突起が設けられている。図3には、便宜上、光導波路17の複数の嵌合突起のうちの2つの嵌合突起U,Uを示す。嵌合突起U,Uは、いずれもNi−Fe合金等の金属からなるもので、嵌合孔S,Sにそれぞれ嵌合可能なサイズ及び形状を有するように薄膜プロセスにより形成される。このことは、光導波路17に設けられたU,U以外の嵌合突起についても同様である。
【0033】
Ni−Fe合金等からなる金属層12’は、金属層12と同様に多数の嵌合孔を有するもので、メッキ処理等を含む薄膜プロセスにより形成される。図3には、便宜上、金属層12’の多数の嵌合孔のうちの1つの嵌合孔Sを示す。S等の多数の嵌合孔の位置は、マイクロレンズアレイ16’等の複数の光部品を用いて所望の光学系を構成する際に各々の光部品を配置すべき設計位置に対応して決定される。S等の各嵌合孔は、開口端に近づくにつれてサイズ(直径)が増大するように形成される。このようにすると、嵌合が容易となり、精密な嵌合が可能になる。
【0034】
金属層12’の底部には、複数の嵌合突起が設けられている。図3では、便宜上、金属層12’の複数の嵌合突起のうちの1つの嵌合突起Tを示す。嵌合突起Tは、Ni−Fe合金等の金属からなるもので、嵌合孔Sに嵌合可能なサイズ及び形状を有するように薄膜プロセスにより形成される。このことは、金属層12’に設けられたT以外の嵌合突起についても同様である。
【0035】
マイクロレンズアレイ16’は、光導波路17からの射出光を受取るもので、石英等からなる透光基板BP’と、この基板BP’の一方の主面に並設された8つの凸状レンズと、透光窓LP’にて8つの凸状レンズを露呈するように基板BP’に装着され、底部に複数の嵌合突起を有する支持枠SF’とを備えている。図3には、便宜上、8つに凸状レンズのうちの1つのレンズL52を示すと共に、複数の嵌合突起のうちの1つの嵌合突起Qを示す。
【0036】
レンズL52は、マイクロレンズアレイ16のレンズL51に対応するものである。嵌合突起Qは、Ni−Fe合金等の金属からなるもので、嵌合孔Sに嵌合可能なサイズ及び形状を有するように薄膜プロセスにより形成される。このことは、支持枠SF’に設けられたQ以外の嵌合突起についても同様である。基板BP’の他方の主面(光導波路17の光射出面に対向する主面)は、傾斜のない平坦面としたが、マイクロレンズアレイ16の基板BPと同様に斜め研磨を施してもよい。
【0037】
一例として、S,S〜S等の各嵌合孔の平面形状を円形状とし、各嵌合孔の直径を50.3μmとした場合、Q,U,U,T等の各嵌合突起を円柱状とし、各嵌合突起の直径を50μmとすることができる。各嵌合孔の位置精度及び寸法精度と各嵌合突起の位置精度及び寸法精度とは、図1の実施形態に関して前述したと同様にいずれも0.1〜0.2μmの精度とすることができる。なお、各嵌合孔の平面形状が円形状に限定されないことは前述した通りである。
【0038】
実装基板10に光部品を実装する際には、光導波路17のU,U等の嵌合突起をS,S等の嵌合孔に嵌合し、金属層12’のT等の嵌合突起をS等の嵌合孔に嵌合し、マイクロレンズアレイ16’のQ等の嵌合突起をS等の嵌合孔に嵌合する。また、金属層12’において、図示しない1又は複数の嵌合孔には、図示しない1又は複数の光部品の嵌合突起をそれぞれ嵌合する。予め光部品を嵌合により装着した金属層12’を金属層12に嵌合により装着してもよい。このように嵌合するだけで簡単に1μm以下の高精度で光導波路17、マイクロレンズアレイ16’等の光部品を実装基板10上で多層的に位置決めし、実装することができる。実装作業の後は、前述したと同様に固定作業を行なうことができる。
【0039】
図3の実施形態によれば、図1,2の実施形態と同様に簡単に高精度の実装を行なうことができる。その上、限られた実装面内において多層的に光部品の実装を行なうことができるので、小型で高機能の光学系を実現できる利点もある。
【0040】
図3に示す光学系では、光ファイバアレイ14の例えば光ファイバFから射出した光は、マイクロレンズアレイ16のレンズL51で集光され、光導波路17にて対応するコアを介してマイクロレンズアレイ16’のレンズL52でコリメートされる。このような動作は、F以外の光ファイバからの射出光についても同様である。
【0041】
図4〜9は、この発明に係るマイクロレンズアレイの製法の一例を示すものである。
【0042】
図4(A)の工程では、石英基板20の一方の主面に所定のマイクロレンズアレイ領域毎に4つの凸状レンズにそれぞれ対応する4つのレジスト層をホトリソグラフィ処理により形成する。このときのホトリソグラフィ処理では、1つのマイクロレンズアレイのためのレジスト層K11〜K14が形成される。また、レジスト層K11〜K14の左隣りには、他のマイクロレンズアレイのためのレジスト層K15,K16等が形成され、レジスト層K11〜K14の右隣りには、更に他のマイクロレンズアレイのためのレジスト層K17,K18等が形成される。そして、レジスト層K11〜K18にリフローのための熱処理を施して各レジスト層が球面状凸部をなすようにする。
【0043】
図4(B)の工程では、レジスト層K11〜K18及び基板20の表面にエッチング処理を施してレジスト層K11〜K18のレンズパターンを基板20の表面に転写することによりレジスト層K11〜K18にそれぞれ対応する凸状レンズL11〜L18を基板20の表面に形成する。このとき形成されるレンズL11〜L18の平面配置パターンは、図7に示されている。図4(B)は、図7のX−X’線断面に対応している。
【0044】
図4(C)の工程では、基板20の上面にマイクロレンズアレイ領域毎に4個のレンズを覆うようにリフトオフ用のレジスト層をホトリソグラフィ処理により形成する。このときのホトリソグラフィ処理では、レンズL11〜L14を覆うようにレジスト層K21が形成される。また、レンズL15,L16等を覆うようにレジスト層K22が形成され、レンズL17,L18等を覆うようにレジスト層K23が形成される。
【0045】
図5(D)の工程では、基板20の上面にスパッタ法により順次にCr層及びCu層を堆積してCu/Cr積層(Cr層にCu層を重ねた積層)を形成する。このとき形成されるCu/Cr積層のうち、レジスト層K21〜K23上に堆積される積層には符号22を付し、基板20の表面に堆積される積層には符号22aを付す。Cu/Cr積層22aは、犠牲層として用いられるもので、平面形状が長方形であるレジスト層K21を取囲むように形成される。一例として、Cr層及びCu層の厚さは、それぞれ30nm及び300nmとすることができる。Cr層は、Cu層の密着性を向上させるために用いられるものである。
【0046】
図5(E)の工程では、リフトオフ処理によりレジスト層K21〜K23をその上のCu/Cr積層22と共に除去し、Cu/Cr積層22aを残存させる。そして、基板20の上面にマイクロレンズアレイ領域毎に4個のレンズを覆うようにリフトオフ用のレジスト層をホトリソグラフィ処理により形成する。このときのホトリソグラフィ処理では、レンズL11〜L14を覆うようにレジスト層K31が形成される。また、レンズL15,L16等を覆うようにレジスト層K32が形成され、レンズL17,L18等を覆うようにレジスト層K33が形成される。レジスト層K31〜K33は、Cu/Cr積層22aの両側に基板20の表面部分を露呈させるよう形成される。
【0047】
この後、基板20の上面にスパッタ法によりNi−Fe合金層を形成する。このとき形成されるNi−Fe合金層のうち、レジスト層K31〜K33上に堆積される合金層には符号24を付し、Cu/Cr積層22aを覆って基板20の表面に堆積される合金層には符号24aを付す。Ni−Fe合金層24aは、メッキ下地層として用いられるもので、平面形状が長方形状であるレジスト層K31を取囲むように形成される。Ni−Fe合金層24aの厚さは、150nm程度とすることができる。
【0048】
図5(F)の工程では、リフトオフ処理によりレジスト層K31〜K33をその上のNi−Fe合金層24と共に除去し、Ni−Fe合金層24aを残存させる。そして、Cu/Cr積層22aとNi−Fe合金層24aとの積層膜の上に所定のダイシング線に沿ってレジスト層26a〜26d,26e〜26hを図7に示すような平面パターンで形成する。レジスト層26a〜26hは、図6(I)のダイシング工程においてダイシング深さ方向の緩衝層として役立つものである。
【0049】
図6(G)の工程では、基板20の上面にメッキマスク用のレジスト層をホトリソグラフィ処理により形成する。このときのホトリソグラフィ処理では、マイクロレンズアレイ領域毎にL11〜L14等の4つのレンズを覆うようにレジスト層が形成されると共に、26a,26b等の隣り合うレジスト層毎に該レジスト層間で延長するようにレジスト層が形成される。すなわち、図6(G)及び図7に示すように、レンズL11〜L14を覆うようにレジスト層K41が形成されると共にレンズL15,L16等を覆うようにレジスト層K42が形成され、レンズL17,L18等を覆うようにレジスト層K43が形成される。また、レジスト層26a,26b間で延長するようにレジスト層K44が形成されると共に、レジスト層26c,26d間で延長するようにレジスト層K45が形成される。さらに、レジスト層26e,26f間で延長するようにレジスト層K46が形成されると共に、レジスト26g,26h間で延長するようにレジスト層K47が形成され、レジスト層K46,K47は、次の工程で形成される支持枠28に嵌合突起Q〜Qを付与するように凹部を有するパターンで形成される。レジスト層K44〜K47は、交点毎に連続する格子状のパターンで形成される。
【0050】
図6(H)の工程では、レジスト層K41〜K47をマスクとするNi−Fe合金の選択メッキ処理によりマイクロレンズアレイ領域毎にNi−Fe合金からなる支持枠28をNi−Fe合金層(メッキ下地層)24aの上に形成する。このとき、支持枠28には、図7に示すように嵌合突起Q〜Qが付与される。
【0051】
図6(I)の工程では、基板20の他方の主面に対して26a〜26h等の各レジスト層に沿ってダイシング刃BLによりダイシング処理を施すことにより基板20をチップ化する。20Aは、チップ化された基板である。このとき、26a〜26h等の各レジスト層は、ダイシング刃BLが支持枠28に損傷を与えるのを防ぐ。
【0052】
この後、図6(I)に示す構造体にチップ分離処理を施すと、図8,9に示すようなマイクロレンズアレイが得られる。図8は、図9のY−Y’線断面に相当する。チップ分離処理では、薬液処理によりCu/Cr積層(犠牲層)22aを除去すると共に、レジスト層26a〜26h,K41〜K47を除去し、隣り合うチップ(チップ化された基板)間でNi−Fe合金層24aを切断する。レジスト層K41を除去することで支持枠28には透光窓28Aが付与され、レンズL11〜L14が透光窓28Aから露呈される。図8において、28b,28cは、図7のレジスト層26b,26cにそれぞれ対応する孔である。
【0053】
図8,9に示したマイクロレンズアレイは、サブミクロンの精度で形成されるもので、図1〜3に示したマイクロレンズアレイ16と同様にして実装基板に簡単に且つ高精度で実装することができる。
【0054】
図10〜12は、この発明に係る光ファイバアレイの製法の一例を示すものである。
【0055】
図10(A)の工程では、石英基板30の一方の主面にスパッタ法により順次にCr層及びCu層を堆積してメッキ下地層としてのCu/Cr積層32を形成する。一例として、Cr層及びCu層の厚さは、それぞれ30nm及び300nmとすることができる。
【0056】
図10(B)の工程では、Cu/Cr積層32の上に孔O〜Oを有するレジスト層33をホトリソグラフィ処理により形成する。孔O〜Oは、いずれも所望の嵌合突起に対応するもので、平面形状を例えば50μm角の方形状とすることができる。レジスト層33の厚さは、80μm程度とすることができる。
【0057】
図10(C)の工程では、基板30の上面にNi−Fe合金のオーバーフローメッキ処理を施すことにより孔O〜O及びレジスト層33を覆うように150μm程度の厚さのNi−Fe合金層34を形成する。合金層34は、下面に孔O〜Oにそれぞれ対応する嵌合突起P11〜P16を有するように形成される。この後、合金層34の表面を10μm程度研磨することにより合金層34の表面を平坦化する。
【0058】
次に、孔O〜Oの上方の光ファイバ保持部に対応するライン・スペース部36Aと孔O〜Oの上方の光ファイバ保持部に対応するライン・スペース部36Bとを有するレジスト層36を合金層34の上にホトリソグラフィ処理により形成する。ライン・スペース部36Aにおいては、図11(D)及び図12に示すファイバ整列層38A,38A〜38Aが得られるように複数の細長いレジスト層が並列的に形成され、ライン・スペース部36Bにおいても、ライン・スペース部36Aと同様にレジスト層が並列的に形成される。
【0059】
図11(D)の工程では、ライン・スペース部36A,36Bを有するレジスト層36をマスクとしてNi−Fe合金の選択メッキ処理を行なうことにより70μm程度の厚さを有するファイバ整列層38A,38Bをそれぞれライン・スペース部36A,36Bに形成する。ライン・スペース部36Aにおいては、図12に示すようにファイバ整列層38Aから紙面の奥方向にファイバ整列層38A,38A…38Aが並ぶように形成され、ライン・スペース部36Bにおいても、ファイバ整列層38Bから紙面の奥方向にライン・スペース部36Aと同様に8つのファイバ整列層が並べて形成される。
【0060】
図11(E)の工程では、レジスト層36とライン・スペース部36A,36Bのレジスト層とを除去する。そして、基板30、Cu/Cr積層32及びNi−Fe合金層34の積層体に対してダイシング刃BLによりダイシング処理を施すことにより該積層体を所定の光ファイバホルダ領域毎にチップ化する。30Aは、チップ化された基板であり、34Aは、チップ化された基板30A上のNi−Fe合金層からなる光ファイバホルダである。
【0061】
この後、各チップ毎に薬液処理によりCu/Cr積層32を除去すると共にレジスト層33を除去すると、図12に示すように嵌合突起P11〜P13を底部に有すると共にファイバ整列層38A,38A〜38Aを上部に有する光ファイバホルダ34Aが得られる。
【0062】
光ファイバホルダ34Aにおいて、38A,38A等の隣り合うファイバ整列層間にはF等の光ファイバを装填する。8本の光ファイバF〜Fを装填し、整列し終わった段階で、金属板又は石英板等からなる押え板39で光ファイバF〜Fを押えて光ファイバホルダ34Aに固定する。この固定には、レーザー溶接、半田付け、UV(紫外線)接着剤等を使用することができる。
【0063】
図10〜12では、金属層34Aの下面に3つの嵌合突起P11〜P13を形成する例を示したが、必要に応じて更に多くの嵌合突起を前述したと同様にして形成することができる。なお、P11等の各嵌合突起の平面形状を方形状とした(各嵌合突起を角柱状とした)ときは、図1に示したS等の嵌合孔の平面形状も方形状とするのが望ましい。
【0064】
図12に示した光ファイバアレイは、サブミクロンの精度で形成されるもので、P11等の各嵌合突起を図1又は図3に示した実装基板10のS等の嵌合孔に嵌合させるだけで簡単に高精度の実装を達成することができる。
【0065】
図13は、この発明に係る実装基板の製法の一例を示すものである。
【0066】
図13(A)の工程では、石英からなる実装基板40の一方の主面にスパッタ法によりNi−Fe合金層42を形成する。合金層42は、メッキ下地層として用いられるもので、150nm程度の厚さで形成することができる。
【0067】
図13(B)の工程では、図14(E)に示す嵌合孔S11〜S14にそれぞれ対応するレジスト層K51〜K54を含むレジスト群と、嵌合孔S15〜S18にそれぞれ対応するレジスト層K55〜K58を含むレジスト群とをNi−Fe合金層42の上に所定の間隔を隔ててホトリソグラフィ処理により形成する。K51等の各レジスト層は、S11等の各嵌合孔が開口端に近づくにつれてサイズを増大するのを可能にするために形成されるもので、S11等の各嵌合孔の嵌合部のサイズより若干大きなサイズで形成される。
【0068】
図13(C)の工程では、ホトリソグラフィ処理によりレジスト層K51〜K54の上にそれぞれレジスト層K61〜K64を形成すると共にレジスト層K55〜K58の上にそれぞれレジスト層K65〜K68を形成する。K61等の各レジスト層は、S11等の各嵌合孔に対応するもので、S11等の各嵌合孔の嵌合部に相当するサイズで形成される。
【0069】
図14(D)の工程では、レジスト層K51〜K58,K61〜K68をマスクとするNi−Fe合金の選択メッキ処理を行なうことによりNi−Fe合金からなる金属層44をNi−Fe合金層(メッキ下地層)42の上に形成する。金属層44の厚さは、50μm程度にすることができる。
【0070】
図14(E)の工程では、レジスト層K51〜K58,K61〜K68を除去して金属層44に嵌合孔S11〜S18を付与する。S11等の各嵌合孔は、K61等の各レジスト層の周囲にK51等各レジスト層が存在してメッキの成長を遅らせるため、開口端に近づくにつれてサイズが増大するように形成される。
【0071】
図14(F)の工程では、実装基板40に各種の光部品を装填する。一例として、光ファイバアレイ14は、光ファイバホルダFHの上部にて光ファイバFを複数保持するもので、ホルダFHの底部には嵌合突起P21〜P24が設けられている。嵌合突起P21〜P24を嵌合孔S15〜S18にそれぞれ嵌合させることにより光ファイバアレイ14を実装基板40に実装することができる。
【0072】
図14(F)に示す実装構造にあっては、S15等の各嵌合孔の深さに比べてP21等の各嵌合突起の突出長を大きく設定してあるので、金属層44のメッキ厚さのばらつきの影響を受けることなく、Ni−Fe合金層42の表面を基準として光部品間の光軸調整を行なうことができる。
【0073】
図15は、この発明に係る光ファイバアレイの他の例を示すもので、図12と同様の部分には同様の符号を付して詳細な説明を省略する。
【0074】
図15の光ファイバアレイの特徴は、図12で示したように金属層34Aの下面に嵌合突起P11〜P13を設ける代りに、金属層34Aの下面に嵌合孔N〜Nを設けた点にある。
【0075】
図15に示した光ファイバアレイを得るためには、図10〜12に関して前述した製法に若干の変更を加えればよい。すなわち、図10(B)の工程では、Cu/Cr積層32の上にレジスト層M〜M,M〜Mをホトリソグラフィ処理により形成する。レジスト層M〜Mは、所望の4つの嵌合孔に対応したもので、いずれも平面形状が方形状のレジスト層からなっている。レジスト層M,M,M,Mのいずれについても、1つの側部を破線で示す。M等の各レジスト層の平面的に見たサイズは、50μm角とすることができ、各レジスト層の厚さは、80μm程度とすることができる。レジスト層M〜Mも、レジスト層M〜Mと同様に形成される。この後は、図10(C)〜図12の工程を前述したと同様に実行する。
【0076】
図16は、図15の光ファイバアレイを実装基板に装着した状態を示すもので、図15と同様の部分には同様の符号を付してある。
【0077】
実装基板50は、石英、シリコン又はステンレススチール等からなるもので、その一方の主面には、Ni−Fe合金等からなる金属層52が形成されている。金属層52の上には、金属層34Aの嵌合孔N〜Nにそれぞれ対応する嵌合突起P31〜P34が形成されている。P31等の各嵌合突起は、先端に近づくにつれてサイズが減少するように形成される。このようにすると、嵌合が容易となり、精密な嵌合が可能となる。
【0078】
図15の光ファイバアレイは、サブミクロンの精度で形成されるもので、N等の嵌合孔を実装基板50のP31等の嵌合突起に嵌合させるだけに簡単に高精度の実装を達成することができる。
【0079】
図17〜19は、この発明に係る実装基板の製法の他の例を示すもので、この製法では、図16に示したのと同様の嵌合突起を有する実装基板が得られる。
【0080】
図17の工程では、石英からなる実装基板50の一方の主面に例えばスパッタ法によりNi−Fe合金を堆積してメッキ下地層としての金属層(Ni−Fe合金層)52を形成する。金属層52の厚さは、150nm程度とすることができる。次に、金属層52の上には、図19の嵌合突起P31〜P34にそれぞれ対応する孔e〜eを有するレジスト層54をホトリソグラフィ処理により形成する。e等の各孔は、金属層(メッキ下地層)52の一部を露呈するもので、P31等の各嵌合突起の嵌合部より若干小さいサイズで形成される。
【0081】
この後、図19の嵌合突起P31〜P34にそれぞれ対応する孔E〜Eを有するレジスト層56をホトリソグラフィ処理により形成する。E等の各孔は、e等の各孔とその周囲のレジスト部分(レジスト層54の一部)とを露呈するもので、P31等の各嵌合突起の嵌合部に相当するサイズで形成される。
【0082】
図18の工程では、レジスト層54,56をマスクとするNi−Fe合金の選択メッキ処理によりNi−Fe合金からなる嵌合突起P31〜P34を形成する。P31等の各嵌合突起は、e等の各孔の周囲にレジスト層54の一部が環状をなすように存在してメッキの成長を遅らせるため、先端に近づくにつれてサイズが減少するように形成される。
【0083】
図19の工程では、レジスト層54,56を除去する。この結果、嵌合突起P31〜P34を有する実装基板50が得られる。
【0084】
図20〜22は、この発明に係る実装基板の更に他の例を示すもので、この製法では、図16に示したものとは異なる嵌合突起を有する実装基板が得られる。
【0085】
図20の工程では、石英からなる実装基板50の一方の主面にメッキ下地層としての金属層52a〜52dを形成する。金属層52a〜52dは、図22の嵌合突起P41〜P44にそれぞれ対応するもので、例えば金属層52a〜52dにそれぞれ対応する4つの孔を有するレジスト層を基板表面に形成した後、スパッタ法によりNi−Fe合金を堆積し、レジスト層をその上のNi−Fe合金層と共に除去(リフトオフ)し、残存するNi−Fe合金層により形成することができる。52a等の各金属層は、P41等の各嵌合突起の嵌合部より若干小さいサイズで形成される。
【0086】
次に、基板50の一方の主面には、図22の嵌合突起P41〜P44にそれぞれ対応する孔E11〜E14を有するレジスト層58をホトリソグラフィ処理により形成する。E11等の各孔は、52a等の各金属層とその周囲の基板表面部分とを露呈するもので、P41等の各嵌合突起の嵌合部に相当するサイズで形成される。
【0087】
図21の工程では、レジスト層58をマスクとするNi−Fe合金の選択メッキ処理によりNi−Fe合金からなる嵌合突起P41〜P44を形成する。P41等の各嵌合突起は、52a等の各金属層(メッキ下地層)の周囲に基板表面部分が環状に露呈してメッキの成長を遅らせるため、先端に近づくにつれてサイズが減少するように形成される。
【0088】
図22の工程では、レジスト層58を除去する。この結果、嵌合突起P41〜P44を有する実装基板50が得られる。この実装基板50は、図16に関して前述した実装基板50と同様にして簡単且つ高精度の実装が可能である。
【0089】
この発明は、上記した実施形態に限定されるものではなく、種々の改変形態で実施可能なものである。例えば、次のような変更が可能である。
【0090】
(1)図13,14に示した実装基板の製法においては、S11〜S14等の嵌合孔を図20〜22に示した製法の応用により形成してもよい。
【0091】
(2)レンズ配置、光ファイバ配置、嵌合孔配置及び嵌合突起配置については、一次元配置を例示したが、二次元配置にしてもよい。
【0092】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、実装基板の一方の主面において複数の光部品を凹凸嵌合により位置決めし、実装するようにしたので、簡単に高精度の光学系を実現できる効果が得られる。また、高度な位置調整設備や複雑なアライメントフィードバックを必要としないので、短時間且つ低コストで実装を行なえる利点もある。
【0093】
その上、基板及び金属層の上面を利用して多層的に光部品を配置するようにしたので、限られた実装面内において高度の機能を有する光学系を実現できる効果も得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施形態に係る光部品実装構造を示す断面図である。
【図2】 図1の光部品実装構造を示す斜視図である。
【図3】 この発明の他の実施形態に係る光部品実装構造を示す断面図である。
【図4】 この発明に係るマイクロレンズアレイの製法の一例を示すもので、(A)は、レジスト層形成工程及びレジストリフロー工程を示す断面図、(B)は、レンズ形成工程を示す断面図、(C)は、レジスト層形成工程を示す断面図である。
【図5】 図4(C)の工程に続く工程を示すものであって、(D)は、Cu/Cr積層形成工程を示す断面図、(E)は、リフトオフ工程、レジスト層形成工程及びNi−Fe合金層形成工程を示す断面図、(F)は、リフトオフ工程及びレジスト層形成工程を示す断面図である。
【図6】 図5(F)の工程に続く工程を示すものであって、(G)は、レジスト層形成工程を示す断面図、(H)は、選択メッキ工程を示す断面図、(I)は、ダイシング工程を示す断面図である。
【図7】 図6(I)の基板の上面図である。
【図8】 図6(I)のダイシング工程の後、チップ分離処理を施して得られたマイクロレンズアレイを示す断面図である。
【図9】 図8のマイクロレンズアレイの上面図である。
【図10】 この発明に係る光ファイバアレイの製法の一例を示すもので、(A)は、Cu/Cr積層形成工程を示す断面図、(B)は、レジスト層形成工程を示す断面図、(C)はオーバーメッキ工程及びレジスト層形成工程を示す断面図である。
【図11】 図10(C)の工程に続く工程を示すもので、(D)は、選択メッキ工程を示す断面図、(E)は、レジスト除去工程及びダイシング工程を示す断面図である。
【図12】 図11(E)の工程の後、Cu/Cr積層除去処理及びレジスト除去処理を施して得られた基板を用いて光ファイバアレイを構成する様子を示す斜視図である。
【図13】 この発明に係る実装基板の製法の一例を示すもので、(A)は、Ni−Fe合金層形成工程を示す断面図、(B)は、レジスト層形成工程を示す断面図、(C)は、レジスト層形成工程を示す断面図である。
【図14】 図13(C)の工程に続く工程を示すもので、(D)は、選択メッキ工程を示す断面図、(E)は、レジスト除去工程を示す断面図、(F)は、光部品装填工程を示す断面図である。
【図15】 光ファイバアレイの他の例を示す斜視図である。
【図16】 図15の光ファイバアレイを実装基板に装着した状態を示す断面図である。
【図17】 この発明に係る実装基板の製法の他の例におけるNi−Fe合金層形成工程及びレジスト層形成工程を示す断面図である。
【図18】 図17の工程に続く選択メッキ工程を示す断面図である。
【図19】 図18の工程に続くレジスト除去工程を示す断面図である。
【図20】 この発明に係る実装基板の製法の更に他の例におけるNi−Fe合金層形成工程及びレジスト層形成工程を示す断面図である。
【図21】 図20の工程に続く選択メッキ工程を示す断面図である。
【図22】 図21の工程に続くレジスト除去工程を示す断面図である。
【符号の説明】
10,40,50:実装基板、12,12’,44,52,52a〜52d:金属層、14:光ファイバアレイ、16,16’:マイクロレンズアレイ、17:光導波路、20,30:石英基板、20A,30A:チップ化された基板、22,22a,32:Cu/Cr積層、24,24a,34,:Ni−Fe合金層、26a〜26h,36,44,46,54,56,58,K11〜K18,K21〜K23,K31〜K33,K41〜K47,K51〜K58,K61〜K68,M〜M:レジスト層、28:支持枠、28A:透光窓、34A:光ファイバホルダ、38A,38A〜38A,38B:ファイバ整列層、39:押え板、S〜S,S11〜S18,N〜N:嵌合孔、P,P,P11〜P13,P21〜P24,P31〜P34,P41〜P44,Q〜Q,R,R,T,U,U:嵌合突起、F〜F:光ファイバ、L〜L,L11〜L18,L51,L52:レンズ、BL:ダイシング刃。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical component mounting structure suitable for constituting an optical system using a plurality of optical components and a method for manufacturing the same.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, as a method of mounting a plurality of optical components such as an optical semiconductor element and an optical waveguide on a mounting substrate such as a silicon substrate, alignment marks are previously formed on the mounting substrate and the opposing surfaces of the respective optical components by photolithography. In addition, there is known a technique in which an alignment mark is recognized by image recognition to position each optical component on the mounting substrate, and each optical component is fixed to the mounting substrate with solder or an adhesive in such a positioning state. (For example, refer to Patent Document 1).
[0003]
[Patent Document 1]
JP 2001-356245 A
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
According to the above-described conventional technique, positioning is performed using the alignment mark formed by photolithography, so that the positioning accuracy on the mounting surface can be ensured within 1 μm. However, there are the following problems (a) and (b).
[0005]
(A) In order to detect an alignment mark by image recognition, either the mounting substrate or the optical component needs to be a transparent material. For the mounting substrate, the optical component, and the alignment mark, it is necessary to select a material combination that can provide optical contrast. Furthermore, in order to form an alignment mark by photolithography, it is necessary that the mounting substrate and the optical component can be handled in a wafer state. Therefore, depending on the material, thickness, shape, and the like of the mounting substrate and the optical component, it may become difficult to detect the alignment mark.
[0006]
(B) Since positioning is performed while feeding back the detection result of the alignment mark, a high-level position adjustment facility is required, and the time and cost required for mounting increase.
[0007]
An object of the present invention is to provide a novel optical component mounting structure and a method for manufacturing the same that can easily and accurately position a plurality of optical components.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
A first optical component mounting structure according to the present invention includes:
A mounting board in which a plurality of fitting recesses for positioning optical components are formed on one main surface by plating;
A plurality of optical components constituting the optical system in a state in which the fitting convex portions provided on the respective bottom portions are respectively fitted to the plurality of fitting concave portions;
It is equipped with.
[Contents of correction]
[0009]
According to the first optical component mounting structure, the plurality of fitting concave portions of the mounting substrate and the fitting convex portions of each optical component can be formed by a thin film process, and the positional accuracy and dimensional accuracy are submicron. Accuracy is obtained. Accordingly, the mounting can be achieved by simply positioning with high accuracy of 1 μm or less by simply fitting the fitting convex portions of the respective optical components into the corresponding fitting concave portions on the mounting substrate. This accuracy is an accuracy that does not hinder the construction of the optical system.
[0010]
The second optical component mounting structure according to this invention is
A mounting board;
A plurality of fitting projections for positioning optical components formed by plating on one main surface of the mounting substrate;
A plurality of optical components constituting an optical system in a state in which fitting concave portions provided on the respective bottom portions are respectively fitted to the plurality of fitting convex portions;
It is equipped with.
[0011]
According to the second optical component mounting structure, the plurality of fitting convex portions on the mounting substrate and the fitting concave portions of the respective optical components can be formed by a thin film process. Micron accuracy can be obtained. Therefore, the mounting can be achieved by simply positioning with high accuracy of 1 μm or less by simply fitting the fitting concave portions of the respective optical components to the corresponding fitting convex portions on the mounting substrate.
[0012]
The manufacturing method of the optical component mounting structure according to the present invention is as follows:
Forming a plurality of fitting recesses (or fitting projections) for optical component positioning on one main surface of the mounting substrate by plating; and
Forming a fitting convex part (or fitting concave part) on the bottom of each optical part among a plurality of optical parts by plating,
An optical system including the plurality of optical components by fitting the fitting convex portions (or fitting concave portions) of the plurality of optical components into the plurality of fitting concave portions (or fitting convex portions) of the mounting substrate, respectively. Process to configure
Is included. This manufacturing method is suitable for manufacturing the first or second optical component mounting structure described above. The step of forming the fitting convex portion (or fitting concave portion) on the bottom of each optical component may be before the step of forming the fitting concave portion (or fitting convex portion) on one main surface of the mounting substrate, or You may perform in parallel with the process of forming a fitting recessed part (or fitting convex part) in one main surface of a mounting substrate.
[0013]
According to the manufacturing method of the optical component mounting structure of the present invention, the plurality of fitting concave portions (or fitting convex portions) of the mounting substrate and the fitting convex portions (or fitting concave portions) of the respective optical components are formed by a thin film process. Therefore, each fitting concave part and each fitting convex part can be formed with submicron accuracy. Therefore, positioning can be easily performed with high accuracy of 1 μm or less simply by fitting the fitting convex portions (or fitting concave portions) of the respective optical components to the corresponding fitting concave portions (or fitting convex portions) on the mounting substrate. Implementation can be achieved.
[0014]
The third optical component mounting structure according to this invention is
A mounting board in which first to third fitting recesses for positioning optical components are formed on one main surface;
1st and 2nd fitting convex parts provided in each bottom part are the 1st arranged on one principal surface of the mounting substrate in the state where it fitted into the 1st and 2nd fitting concave parts, respectively. And a second optical component;
A metal layer disposed on one main surface of the mounting substrate in a state in which the third fitting convex portion provided on the bottom portion is fitted to the third fitting concave portion;
A third optical component mounted at a predetermined position on the upper surface of the metal layer;
And the first and third optical components are optically coupled by the second optical component.
[0015]
According to the third optical component mounting structure, the first and second fitting convex portions of the first and second optical components and the third of the metal layer are formed in the first to third fitting concave portions on the mounting substrate. Since the fitting projections are respectively fitted and mounted, the high-precision mounting can be achieved easily as described above with respect to the first optical component mounting structure. In addition, since the third optical component is mounted on the metal layer and the first and third optical components are optically coupled by the second optical component, the upper surface of the substrate and the metal layer is used. It is possible to realize an optical system (optical module) that is complex and has advanced functions.
[0016]
A fourth optical component mounting structure according to the present invention includes:
A mounting board;
First to third fitting protrusions for positioning optical components formed on one main surface of the mounting substrate;
1st and 2nd fitting recessed parts provided in each bottom part are the 1st arranged on one principal surface of the mounting board in the state where it was made to fit in the 1st and 2nd fitting convex parts, respectively. And a second optical component;
A metal layer disposed on one main surface of the mounting substrate in a state in which a third fitting recess provided on the bottom portion is fitted to the third fitting projection;
A third optical component mounted at a predetermined position on the upper surface of the metal layer;
And the first and third optical components are optically coupled by the second optical component.
[0017]
According to the fourth optical component mounting structure, the first and second fitting concave portions of the first and second optical components and the third of the metal layer are formed on the first to third fitting convex portions on the mounting substrate. Since the mounting recesses are respectively fitted and mounted, the high-precision mounting can be achieved easily as described above for the second optical component mounting structure. In addition, since the third optical component is mounted on the metal layer and the first and third optical components are optically coupled by the second optical component, the upper surface of the substrate and the metal layer is used. It is possible to realize an optical system with complex and advanced functions.
[0018]
In the third or fourth optical component mounting structure, the fitting concave portion (or fitting convex portion) provided at the predetermined position and the fitting convex portion (or fitting concave portion) provided at the bottom of the third optical component. The mounting of the third optical component may be achieved by fitting with (3). In this way, the third optical component can be easily positioned and mounted with high accuracy.
[0019]
In the optical component mounting structure and the manufacturing method therefor according to the present invention, either the fitting hole or the fitting groove may be used as the fitting concave portion, and the fitting convex portion is adapted to the fitting hole or the fitting groove. Can be used.
[0020]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
1 and 2 show an optical component mounting structure according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 shows an optical fiber F shown in FIG. 5 And lens L 5 The cross section along is shown.
[0021]
The mounting substrate 10 is made of silicon, quartz, stainless steel, or the like, and a metal layer 12 made of a Ni—Fe alloy or the like is formed on one main surface thereof by a thin film process including plating. The metal layer 12 is formed so as to have a large number of fitting holes whose planar shape is, for example, a circular shape. In FIG. 1, for convenience, six fitting holes S among the many fitting holes of the metal layer 12 are shown. 1 ~ S 6 Indicates. S 1 The positions of a large number of fitting holes, etc., correspond to the design positions where each optical component is to be arranged when a desired optical system is configured using optical components such as the optical fiber array 14 and the microlens array 16. It is determined. S 1 Etc., each fitting hole is formed such that its size (diameter) increases as it approaches the open end. In this way, the fitting becomes easy and the play can be reduced to achieve a precise fitting.
[0022]
As an example, when the substrate 10 is composed of a quartz substrate, the thickness A of the substrate 10 is 1250 μm, the thickness B of the metal layer 12 is 50 μm, and S 1 The diameter of each fitting hole such as can be 50.3 μm. S 1 The planar shape of each fitting hole is not limited to a circular shape, and may be an elliptical shape, an elongated shape, a polygonal shape, or the like. Also, the number of fitting holes installed per optical component can be one or a plurality, and when it is one, the shape may not be rotated.
[0023]
The optical fiber array 14 includes an optical fiber holder FH in which eight optical fiber holding holes are arranged in parallel, and eight single-mode optical fibers F respectively held in the eight optical fiber holding holes of the holder FH. 1 ~ F 8 And a plurality of fitting protrusions provided on the bottom of the holder FH. In FIG. 1, for convenience, two fitting protrusions P of the plurality of fitting protrusions of the holder FH are shown. 1 , P 2 Indicates. Mating protrusion P 1 , P 2 Are made of a metal such as a Ni-Fe alloy, and the fitting hole S 1 , S 2 Are formed by a thin film process so as to have a size and shape that can be fitted to each other. This is because the P provided in the holder FH 1 , P 2 The same applies to other fitting protrusions. As an example, the length C of the holder FH is 2000 μm, the thickness D of the holder FH is 600 μm, and the distance E between the center (optical axis) of each optical fiber such as F5 and the bottom surface of the holder FH is 300 μm. it can.
[0024]
The microlens array 16 receives light emitted from the optical fiber array 14, and includes a translucent substrate BP made of quartz or the like and eight convex lenses L arranged in parallel on one main surface of the substrate BP. 1 ~ L 8 And lens L at translucent window LP 1 ~ L 8 And a support frame SF having a plurality of fitting protrusions on the bottom. In FIG. 1, for convenience, one of the plurality of fitting protrusions Q of the support frame SF is fitted. 1 Indicates. Mating protrusion Q 1 Is made of a metal such as a Ni-Fe alloy, and the fitting hole S 3 It is formed by a thin film process so as to have a size and a shape that can be fitted to each other. This is because the Q provided on the support frame SF. 1 The same applies to other fitting protrusions. The other main surface of the substrate BP (the main surface facing the light emission surface of the optical fiber array 14) is subjected to oblique polishing in order to suppress reflected return light. The distance F between the optical axis position on the other main surface of the substrate BP and the light exit surface of the optical fiber array 14 can be set to 300 μm.
[0025]
S as mentioned above 1 When the planar shape of each fitting hole is circular and the diameter of each fitting hole is 50.3 μm, P 1 , P 2 , Q 1 Etc., each fitting protrusion can be formed in a columnar shape, and the diameter of each fitting protrusion can be 50 μm. Since the position accuracy and dimensional accuracy of each fitting hole and the position accuracy and dimensional accuracy of each fitting projection are equal to the alignment accuracy of the reduction projection exposure apparatus used in the thin film process, 0.1 to 0.2 μm It can be accuracy.
[0026]
When mounting an optical component on the mounting substrate 10, the optical fiber array 14 P 1 , P 2 The fitting protrusion such as S 1 , S 2 And the like, and the Q of the microlens array 16 1 The fitting protrusion such as S 3 It fits into a fitting hole such as. The optical components such as the arrays 14 and 16 can be positioned and mounted on the mounting substrate 10 with high accuracy of 1 μm or less simply by fitting in this manner.
[0027]
Thereafter, an operation of fixing each optical component to the metal layer 12 can be performed as necessary. In this case, P 1 Since each of the fitting protrusions is made of metal, a highly reliable fixing means such as soldering or laser (for example, YAG [Yttrium Alminium Garnet] laser) welding can be used.
[0028]
In the optical system shown in FIGS. 1 and 2, for example, the optical fiber F of the optical fiber array 14. 5 The light emitted from the lens L is the lens L of the micro lens array 16. 5 Is collimated. Such an operation is 5 Optical fiber F other than 1 ~ F 4 , F 6 ~ F 8 The same applies to the emitted light.
[0029]
According to the embodiment of FIGS. 1 and 2, high-precision mounting can be easily performed, and the time and cost required for mounting can be greatly reduced.
[0030]
FIG. 3 shows an optical component mounting structure according to another embodiment of the present invention, and the same parts as those in FIGS.
[0031]
The microlens array 16 is different from the microlens array 16 shown in FIG. 5 Instead of arranging 8 convex lenses such as 51 The only difference is that the eight concave lenses are arranged side by side.
[0032]
The optical waveguide 17 receives light emitted from the microlens array 16 and has eight cores (light guides) respectively corresponding to the eight concave lenses of the microlens array 16. A plurality of fitting protrusions are provided on the bottom of the optical waveguide 17. In FIG. 3, for convenience, two fitting protrusions U among the plurality of fitting protrusions of the optical waveguide 17 are shown. 1 , U 2 Indicates. Mating protrusion U 1 , U 2 Are made of a metal such as a Ni-Fe alloy, and the fitting hole S 4 , S 5 Are formed by a thin film process so as to have a size and shape that can be fitted to each other. This is because the U provided in the optical waveguide 17 1 , U 2 The same applies to other fitting protrusions.
[0033]
The metal layer 12 ′ made of Ni—Fe alloy or the like has a large number of fitting holes like the metal layer 12 and is formed by a thin film process including plating. In FIG. 3, for convenience, one fitting hole S among the many fitting holes of the metal layer 12 ′ is shown. 0 Indicates. S 0 The positions of a plurality of fitting holes such as are determined in accordance with the design position where each optical component is to be arranged when a desired optical system is configured using a plurality of optical components such as the microlens array 16 '. The S 0 Etc., each fitting hole is formed such that its size (diameter) increases as it approaches the open end. If it does in this way, fitting will become easy and precise fitting will become possible.
[0034]
A plurality of fitting protrusions are provided on the bottom of the metal layer 12 ′. In FIG. 3, for convenience, one fitting protrusion T of the plurality of fitting protrusions of the metal layer 12 ′. 1 Indicates. Mating protrusion T 1 Is made of a metal such as a Ni-Fe alloy, and the fitting hole S 6 It is formed by a thin film process so as to have a size and a shape that can be fitted to each other. This is because T provided on the metal layer 12 ' 1 The same applies to other fitting protrusions.
[0035]
The microlens array 16 ′ receives light emitted from the optical waveguide 17, and includes a light transmitting substrate BP ′ made of quartz or the like, and eight convex lenses arranged in parallel on one main surface of the substrate BP ′. And a support frame SF ′ mounted on the substrate BP ′ so as to expose the eight convex lenses through the light transmitting window LP ′ and having a plurality of fitting protrusions on the bottom. In FIG. 3, for convenience, one of the eight convex lenses L 52 And one fitting projection Q of the plurality of fitting projections 0 Indicates.
[0036]
Lens L 52 Is the lens L of the microlens array 16 51 It corresponds to. Mating protrusion Q 0 Is made of a metal such as a Ni-Fe alloy, and the fitting hole S 0 It is formed by a thin film process so as to have a size and a shape that can be fitted to each other. This is because the Q provided on the support frame SF ′. 0 The same applies to other fitting protrusions. The other main surface of the substrate BP ′ (the main surface facing the light emitting surface of the optical waveguide 17) is a flat surface without an inclination. However, the substrate BP ′ may be subjected to oblique polishing similarly to the substrate BP of the microlens array 16. .
[0037]
As an example, S 0 , S 4 ~ S 6 When the planar shape of each fitting hole is circular and the diameter of each fitting hole is 50.3 μm, Q 0 , U 1 , U 2 , T 1 Etc., each fitting protrusion can be formed in a columnar shape, and the diameter of each fitting protrusion can be 50 μm. The position accuracy and dimensional accuracy of each fitting hole and the position accuracy and dimensional accuracy of each fitting protrusion may be 0.1 to 0.2 μm as described above with reference to the embodiment of FIG. it can. As described above, the planar shape of each fitting hole is not limited to a circular shape.
[0038]
When mounting an optical component on the mounting substrate 10, the U of the optical waveguide 17 1 , U 2 The fitting protrusion such as S 4 , S 5 Etc., and the metal layer 12 ′ T 1 The fitting protrusion such as S 6 And the like, and the Q of the microlens array 16 ' 0 The fitting protrusion such as S 0 It fits into a fitting hole such as. Further, in the metal layer 12 ′, one or a plurality of fitting holes (not shown) are fitted in one or a plurality of fitting holes (not shown), respectively. The metal layer 12 ′ in which the optical component is previously mounted by fitting may be mounted on the metal layer 12 by fitting. By simply fitting in this way, optical components such as the optical waveguide 17 and the microlens array 16 ′ can be easily positioned and mounted on the mounting substrate 10 with high accuracy of 1 μm or less. After the mounting operation, the fixing operation can be performed in the same manner as described above.
[0039]
According to the embodiment of FIG. 3, high-precision mounting can be easily performed as in the embodiments of FIGS. In addition, since optical components can be mounted in multiple layers within a limited mounting surface, there is an advantage that a compact and highly functional optical system can be realized.
[0040]
In the optical system shown in FIG. 3, for example, the optical fiber F of the optical fiber array 14. 5 The light emitted from the lens L is the lens L of the micro lens array 16. 51 The lens L of the microlens array 16 ′ is collected through the corresponding core in the optical waveguide 17. 52 Is collimated. Such an operation is 5 The same applies to light emitted from other optical fibers.
[0041]
4 to 9 show an example of a method for producing a microlens array according to the present invention.
[0042]
In the process of FIG. 4A, four resist layers corresponding to four convex lenses are formed on one main surface of the quartz substrate 20 for each predetermined microlens array region by photolithography. In this photolithography process, the resist layer K for one microlens array 11 ~ K 14 Is formed. Resist layer K 11 ~ K 14 Next to the left is a resist layer K for another microlens array 15 , K 16 Etc., and the resist layer K 11 ~ K 14 Next to the right side is a resist layer K for another microlens array. 17 , K 18 Etc. are formed. And resist layer K 11 ~ K 18 The resist layer is subjected to heat treatment for reflow so that each resist layer forms a spherical convex portion.
[0043]
In the step of FIG. 4B, the resist layer K 11 ~ K 18 And the surface of the substrate 20 is etched to form a resist layer K 11 ~ K 18 The lens layer is transferred onto the surface of the substrate 20 to transfer the resist layer K 11 ~ K 18 Convex lenses L respectively corresponding to 11 ~ L 18 Is formed on the surface of the substrate 20. Lens L formed at this time 11 ~ L 18 The planar arrangement pattern is shown in FIG. FIG. 4B corresponds to the XX ′ line cross section of FIG.
[0044]
In the step of FIG. 4C, a lift-off resist layer is formed on the upper surface of the substrate 20 by photolithography so as to cover four lenses for each microlens array region. In this photolithography process, the lens L 11 ~ L 14 Resist layer K to cover 21 Is formed. Lens L 15 , L 16 Resist layer K so as to cover 22 Is formed and the lens L 17 , L 18 Resist layer K so as to cover 23 Is formed.
[0045]
In the step of FIG. 5D, a Cr layer and a Cu layer are sequentially deposited on the upper surface of the substrate 20 by a sputtering method to form a Cu / Cr laminate (a laminate in which a Cu layer is laminated on a Cr layer). Of the Cu / Cr stack formed at this time, the resist layer K 21 ~ K 23 A layer 22 deposited on the surface of the substrate 20 is denoted by reference numeral 22a. The Cu / Cr laminate 22a is used as a sacrificial layer, and the resist layer K whose planar shape is rectangular. 21 Is formed so as to surround. As an example, the thickness of the Cr layer and the Cu layer may be 30 nm and 300 nm, respectively. The Cr layer is used for improving the adhesion of the Cu layer.
[0046]
In the step shown in FIG. 5E, the resist layer K is lifted off. 21 ~ K 23 Are removed together with the Cu / Cr laminate 22 thereon, leaving the Cu / Cr laminate 22a. Then, a lift-off resist layer is formed on the upper surface of the substrate 20 by photolithography so as to cover four lenses for each microlens array region. In this photolithography process, the lens L 11 ~ L 14 Resist layer K to cover 31 Is formed. Lens L 15 , L 16 Resist layer K so as to cover 32 Is formed and the lens L 17 , L 18 Resist layer K so as to cover 33 Is formed. Resist layer K 31 ~ K 33 Is formed so as to expose the surface portion of the substrate 20 on both sides of the Cu / Cr laminate 22a.
[0047]
Thereafter, a Ni—Fe alloy layer is formed on the upper surface of the substrate 20 by sputtering. Of the Ni-Fe alloy layers formed at this time, the resist layer K 31 ~ K 33 The alloy layer deposited thereon is denoted by reference numeral 24, and the alloy layer deposited on the surface of the substrate 20 so as to cover the Cu / Cr laminate 22a is denoted by reference numeral 24a. The Ni—Fe alloy layer 24a is used as a plating underlayer, and the resist layer K whose planar shape is rectangular. 31 Is formed so as to surround. The thickness of the Ni—Fe alloy layer 24a can be about 150 nm.
[0048]
In the process shown in FIG. 5F, the resist layer K is lifted off. 31 ~ K 33 Are removed together with the Ni—Fe alloy layer 24 thereon, leaving the Ni—Fe alloy layer 24a. Then, resist layers 26a to 26d and 26e to 26h are formed in a planar pattern as shown in FIG. 7 on a laminated film of the Cu / Cr laminated layer 22a and the Ni—Fe alloy layer 24a along predetermined dicing lines. The resist layers 26a to 26h serve as buffer layers in the dicing depth direction in the dicing process of FIG.
[0049]
6G, a resist layer for a plating mask is formed on the upper surface of the substrate 20 by photolithography. In the photolithographic process at this time, L for each microlens array region. 11 ~ L 14 A resist layer is formed so as to cover four lenses such as 26a and 26b, and a resist layer is formed so as to extend between the resist layers for each adjacent resist layer such as 26a and 26b. That is, as shown in FIG. 6 (G) and FIG. 11 ~ L 14 Resist layer K to cover 41 And the lens L 15 , L 16 Resist layer K so as to cover 42 Is formed and the lens L 17 , L 18 Resist layer K so as to cover 43 Is formed. Further, the resist layer K is extended so as to extend between the resist layers 26a and 26b. 44 And the resist layer K so as to extend between the resist layers 26c and 26d. 45 Is formed. Further, the resist layer K is extended so as to extend between the resist layers 26e and 26f. 46 And a resist layer K so as to extend between the resists 26g and 26h. 47 The resist layer K is formed 46 , K 47 Are fitted into the support frame 28 formed in the next step. 1 ~ Q 4 It is formed with a pattern having a concave portion so as to impart. Resist layer K 44 ~ K 47 Are formed in a grid pattern continuous at each intersection.
[0050]
In the step of FIG. 6H, the resist layer K 41 ~ K 47 A support frame 28 made of a Ni—Fe alloy is formed on the Ni—Fe alloy layer (plating underlayer) 24a for each microlens array region by selective plating of a Ni—Fe alloy using as a mask. At this time, the support frame 28 has a fitting projection Q as shown in FIG. 1 ~ Q 4 Is granted.
[0051]
In the step of FIG. 6I, the substrate 20 is chipped by performing a dicing process with the dicing blade BL along each resist layer such as 26a to 26h on the other main surface of the substrate 20. Reference numeral 20A denotes a chip substrate. At this time, the resist layers such as 26 a to 26 h prevent the dicing blade BL from damaging the support frame 28.
[0052]
Thereafter, when a chip separation process is performed on the structure shown in FIG. 6I, a microlens array as shown in FIGS. 8 and 9 is obtained. 8 corresponds to a cross section taken along line YY ′ of FIG. In the chip separation process, the Cu / Cr layer (sacrificial layer) 22a is removed by chemical treatment, and the resist layers 26a to 26h, K 41 ~ K 47 And the Ni—Fe alloy layer 24a is cut between adjacent chips (chipd substrates). Resist layer K 41 The transparent frame 28A is provided to the support frame 28 by removing the lens L, and the lens L 11 ~ L 14 Is exposed from the translucent window 28A. In FIG. 8, 28b and 28c are holes respectively corresponding to the resist layers 26b and 26c of FIG.
[0053]
The microlens array shown in FIGS. 8 and 9 is formed with submicron accuracy, and can be mounted on the mounting substrate simply and with high accuracy in the same manner as the microlens array 16 shown in FIGS. Can do.
[0054]
10-12 shows an example of the manufacturing method of the optical fiber array based on this invention.
[0055]
In the process of FIG. 10A, a Cr layer and a Cu layer are sequentially deposited on one main surface of the quartz substrate 30 by a sputtering method to form a Cu / Cr laminate 32 as a plating underlayer. As an example, the thickness of the Cr layer and the Cu layer may be 30 nm and 300 nm, respectively.
[0056]
In the step of FIG. 10B, the hole O is formed on the Cu / Cr laminate 32. 1 ~ O 6 A resist layer 33 having the above is formed by photolithography. Hole O 1 ~ O 6 These correspond to desired fitting protrusions, and the planar shape can be a square of 50 μm square, for example. The thickness of the resist layer 33 can be about 80 μm.
[0057]
In the step of FIG. 10 (C), the upper surface of the substrate 30 is subjected to the overflow plating process of the Ni—Fe alloy, whereby the hole O 1 ~ O 6 Then, a Ni—Fe alloy layer 34 having a thickness of about 150 μm is formed so as to cover the resist layer 33. The alloy layer 34 has a hole O on the lower surface. 1 ~ O 6 Fitting protrusions P corresponding to 11 ~ P 16 Is formed. Thereafter, the surface of the alloy layer 34 is flattened by polishing the surface of the alloy layer 34 by about 10 μm.
[0058]
Next, the hole O 1 ~ O 3 Line space portion 36A corresponding to the optical fiber holding portion above and the hole O 4 ~ O 6 A resist layer 36 having a line / space portion 36B corresponding to the optical fiber holding portion above is formed on the alloy layer 34 by photolithography. In the line space portion 36A, the fiber alignment layers 38A and 38A shown in FIGS. 1 ~ 38A 8 A plurality of elongated resist layers are formed in parallel so that the resist layer is formed in parallel in the line space portion 36B as well as in the line space portion 36A.
[0059]
In the step of FIG. 11D, the fiber alignment layers 38A and 38B having a thickness of about 70 μm are formed by performing selective plating of Ni—Fe alloy using the resist layer 36 having the line and space portions 36A and 36B as a mask. They are formed in the line space portions 36A and 36B, respectively. In the line space portion 36A, as shown in FIG. 12, the fiber alignment layer 38A extends from the fiber alignment layer 38A in the depth direction of the paper surface. 8 , 38A 7 ... 38A 1 In the line space portion 36B, eight fiber alignment layers are formed side by side from the fiber alignment layer 38B in the depth direction of the paper surface in the same manner as the line space portion 36A.
[0060]
In the step of FIG. 11E, the resist layer 36 and the resist layers in the line / space portions 36A and 36B are removed. Then, the laminated body of the substrate 30, the Cu / Cr laminated layer 32, and the Ni—Fe alloy layer 34 is subjected to a dicing process with a dicing blade BL, thereby forming the laminated body into chips for each predetermined optical fiber holder region. Reference numeral 30A denotes a chip substrate, and 34A denotes an optical fiber holder made of a Ni—Fe alloy layer on the chip substrate 30A.
[0061]
Thereafter, when the Cu / Cr stack 32 is removed and the resist layer 33 is removed by chemical treatment for each chip, as shown in FIG. 11 ~ P 13 At the bottom and fiber alignment layers 38A, 38A 1 ~ 38A 8 Can be obtained.
[0062]
In the optical fiber holder 34A, 38A 1 , 38A 2 Between adjacent fiber alignment layers such as F 1 Etc. are loaded. 8 optical fibers F 1 ~ F 8 And the optical fiber F is pressed by the presser plate 39 made of a metal plate or a quartz plate. 1 ~ F 8 Is fixed to the optical fiber holder 34A. For this fixing, laser welding, soldering, UV (ultraviolet) adhesive or the like can be used.
[0063]
10-12, three fitting protrusions P are formed on the lower surface of the metal layer 34A. 11 ~ P 13 In the example shown in FIG. 1, more fitting protrusions can be formed as described above if necessary. P 11 When the planar shape of each fitting protrusion is a square (each fitting protrusion is a prism), the S shown in FIG. 1 It is desirable that the planar shape of the fitting holes is also a square shape.
[0064]
The optical fiber array shown in FIG. 12 is formed with submicron accuracy. 11 The fitting protrusions such as S on the mounting substrate 10 shown in FIG. 1 It is possible to easily achieve high-precision mounting simply by fitting in a fitting hole such as the above.
[0065]
FIG. 13 shows an example of a method for manufacturing a mounting board according to the present invention.
[0066]
In the step of FIG. 13A, a Ni—Fe alloy layer 42 is formed on one main surface of the mounting substrate 40 made of quartz by sputtering. The alloy layer 42 is used as a plating underlayer, and can be formed with a thickness of about 150 nm.
[0067]
In the step of FIG. 13B, the fitting hole S shown in FIG. 11 ~ S 14 Resist layer K corresponding to each 51 ~ K 54 A resist group including a fitting hole S 15 ~ S 18 Resist layer K corresponding to each 55 ~ K 58 And a resist group including the same are formed on the Ni—Fe alloy layer 42 by a photolithography process at a predetermined interval. K 51 Each resist layer such as S 11 Are formed to allow each fitting hole to increase in size as it approaches the open end, and S 11 It is formed in a size slightly larger than the size of the fitting portion of each fitting hole.
[0068]
In the step of FIG. 13C, the resist layer K is processed by photolithography. 51 ~ K 54 Each resist layer K 61 ~ K 64 And resist layer K 55 ~ K 58 Each resist layer K 65 ~ K 68 Form. K 61 Each resist layer such as S 11 Corresponding to each fitting hole such as S 11 It is formed in a size corresponding to the fitting part of each fitting hole.
[0069]
In the step of FIG. 14D, the resist layer K 51 ~ K 58 , K 61 ~ K 68 A metal layer 44 made of a Ni—Fe alloy is formed on the Ni—Fe alloy layer (plating underlayer) 42 by performing a selective plating process of the Ni—Fe alloy using as a mask. The thickness of the metal layer 44 can be about 50 μm.
[0070]
In the step of FIG. 14E, the resist layer K 51 ~ K 58 , K 61 ~ K 68 And the fitting hole S is formed in the metal layer 44. 11 ~ S 18 Is granted. S 11 Etc., each fitting hole is K 61 K around each resist layer 51 Since each resist layer is present to retard the growth of plating, the resist layer is formed to increase in size as it approaches the open end.
[0071]
In the process of FIG. 14F, various optical components are loaded on the mounting board 40. As an example, the optical fiber array 14 includes an optical fiber F above the optical fiber holder FH. 0 A plurality of holding projections P are fitted on the bottom of the holder FH. 21 ~ P 24 Is provided. Mating protrusion P 21 ~ P 24 Fitting hole S 15 ~ S 18 The optical fiber array 14 can be mounted on the mounting substrate 40 by being fitted to each other.
[0072]
In the mounting structure shown in FIG. 15 P compared to the depth of each fitting hole 21 Since the protrusion length of each fitting protrusion is set to be large, the optical axis between optical components is not affected by variations in the plating thickness of the metal layer 44 and the surface of the Ni—Fe alloy layer 42 is used as a reference. Adjustments can be made.
[0073]
FIG. 15 shows another example of the optical fiber array according to the present invention. The same parts as those in FIG.
[0074]
The optical fiber array of FIG. 15 is characterized in that a fitting protrusion P is formed on the lower surface of the metal layer 34A as shown in FIG. 11 ~ P 13 The fitting hole N is formed on the lower surface of the metal layer 34A. 1 ~ N 4 It is in the point which provided.
[0075]
In order to obtain the optical fiber array shown in FIG. 15, the manufacturing method described above with reference to FIGS. That is, in the process of FIG. 10B, the resist layer M is formed on the Cu / Cr laminate 32. 1 ~ M 4 , M 5 ~ M 8 Is formed by photolithography. Resist layer M 1 ~ M 4 Corresponds to the desired four fitting holes, and each is made of a resist layer having a square planar shape. Resist layer M 1 , M 4 , M 5 , M 8 In either case, one side is indicated by a broken line. M 1 The size of each resist layer as viewed in a plane can be 50 μm square, and the thickness of each resist layer can be about 80 μm. Resist layer M 5 ~ M 8 Resist layer M 1 ~ M 4 Formed in the same manner. Thereafter, the steps of FIGS. 10C to 12 are performed in the same manner as described above.
[0076]
FIG. 16 shows a state where the optical fiber array of FIG. 15 is mounted on a mounting substrate, and the same reference numerals are given to the same parts as FIG.
[0077]
The mounting substrate 50 is made of quartz, silicon, stainless steel, or the like, and a metal layer 52 made of Ni—Fe alloy or the like is formed on one main surface thereof. On the metal layer 52, the fitting hole N of the metal layer 34A is provided. 1 ~ N 4 Fitting protrusions P corresponding to 31 ~ P 34 Is formed. P 31 Etc., each fitting protrusion is formed such that its size decreases as it approaches the tip. If it does in this way, fitting will become easy and precise fitting will be attained.
[0078]
The optical fiber array of FIG. 15 is formed with submicron accuracy, and N 1 The fitting hole such as P 31 High-precision mounting can be easily achieved simply by fitting with a fitting projection such as the above.
[0079]
17 to 19 show another example of the manufacturing method of the mounting board according to the present invention. In this manufacturing method, a mounting board having the same fitting projection as shown in FIG. 16 is obtained.
[0080]
In the process of FIG. 17, a Ni—Fe alloy is deposited on one main surface of a mounting substrate 50 made of quartz, for example, by sputtering to form a metal layer (Ni—Fe alloy layer) 52 as a plating underlayer. The thickness of the metal layer 52 can be about 150 nm. Next, on the metal layer 52, the fitting protrusion P of FIG. 31 ~ P 34 Corresponding to each hole e 1 ~ E 4 A resist layer 54 having the above is formed by photolithography. e 1 Etc., each hole exposes a part of the metal layer (plating underlayer) 52, and P 31 It is formed in a size slightly smaller than the fitting portion of each fitting protrusion such as.
[0081]
Thereafter, the fitting protrusion P in FIG. 31 ~ P 34 Corresponding to each hole E 1 ~ E 4 A resist layer 56 having the above is formed by photolithography. E 1 Each hole such as e 1 And the surrounding resist portion (a part of the resist layer 54) are exposed. 31 It is formed in a size corresponding to the fitting portion of each fitting protrusion.
[0082]
In the process of FIG. 18, the fitting protrusion P made of Ni—Fe alloy by selective plating of Ni—Fe alloy using the resist layers 54 and 56 as a mask. 31 ~ P 34 Form. P 31 Each fitting protrusion such as e 1 Since a part of the resist layer 54 exists in a ring shape around each of the holes to delay the growth of the plating, the size of the resist layer 54 is reduced so as to approach the tip.
[0083]
In the step of FIG. 19, the resist layers 54 and 56 are removed. As a result, the fitting protrusion P 31 ~ P 34 A mounting substrate 50 having the following is obtained.
[0084]
20 to 22 show still another example of the mounting board according to the present invention. With this manufacturing method, a mounting board having a fitting protrusion different from that shown in FIG. 16 can be obtained.
[0085]
In the process of FIG. 20, metal layers 52a to 52d as plating base layers are formed on one main surface of a mounting substrate 50 made of quartz. The metal layers 52a to 52d are the fitting protrusions P in FIG. 41 ~ P 44 For example, after forming a resist layer having four holes respectively corresponding to the metal layers 52a to 52d on the surface of the substrate, a Ni—Fe alloy is deposited by sputtering, and the resist layer is formed on the Ni layer. It can be removed (lifted off) together with the -Fe alloy layer and formed by the remaining Ni-Fe alloy layer. Each metal layer such as 52a is P 41 It is formed in a size slightly smaller than the fitting portion of each fitting protrusion such as.
[0086]
Next, on one main surface of the substrate 50, the fitting protrusion P of FIG. 41 ~ P 44 Corresponding to each hole E 11 ~ E 14 A resist layer 58 having the above is formed by photolithography. E 11 The holes such as 52a expose each metal layer such as 52a and the surrounding substrate surface portion. 41 It is formed in a size corresponding to the fitting portion of each fitting protrusion.
[0087]
In the step of FIG. 21, the fitting protrusion P made of Ni—Fe alloy by selective plating of Ni—Fe alloy using the resist layer 58 as a mask. 41 ~ P 44 Form. P 41 Etc. are formed so that the substrate surface portion is exposed in an annular shape around each metal layer (plating underlayer) such as 52a to delay the growth of the plating, so that the size decreases as it approaches the tip. The
[0088]
In the step of FIG. 22, the resist layer 58 is removed. As a result, the fitting protrusion P 41 ~ P 44 A mounting substrate 50 having the following is obtained. The mounting board 50 can be mounted easily and with high accuracy in the same manner as the mounting board 50 described above with reference to FIG.
[0089]
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented in various modifications. For example, the following changes are possible.
[0090]
(1) In the mounting substrate manufacturing method shown in FIGS. 11 ~ S 14 Such fitting holes may be formed by applying the manufacturing method shown in FIGS.
[0091]
(2) For the lens arrangement, the optical fiber arrangement, the fitting hole arrangement, and the fitting projection arrangement, the one-dimensional arrangement is illustrated, but a two-dimensional arrangement may be used.
[0092]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, since a plurality of optical components are positioned and mounted on one main surface of the mounting substrate by concave-convex fitting, it is possible to easily realize a highly accurate optical system. can get. In addition, since there is no need for sophisticated position adjustment equipment or complicated alignment feedback, there is an advantage that mounting can be performed in a short time and at low cost.
[0093]
In addition, since the optical components are arranged in multiple layers using the upper surface of the substrate and the metal layer, an effect of realizing an optical system having a high function within a limited mounting surface can be obtained.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an optical component mounting structure according to an embodiment of the present invention.
2 is a perspective view showing the optical component mounting structure of FIG. 1. FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing an optical component mounting structure according to another embodiment of the present invention.
4A and 4B show an example of a method for manufacturing a microlens array according to the present invention, in which FIG. 4A is a cross-sectional view showing a resist layer forming step and a registry flow step, and FIG. 4B is a cross-sectional view showing a lens forming step. (C) is sectional drawing which shows a resist layer formation process.
FIG. 5 shows a step following the step of FIG. 4C, in which (D) is a cross-sectional view showing a Cu / Cr layer forming step, and (E) is a lift-off step, a resist layer forming step, and Sectional drawing which shows a Ni-Fe alloy layer formation process, (F) is sectional drawing which shows a lift-off process and a resist layer formation process.
6 shows a step subsequent to the step of FIG. 5 (F), (G) is a cross-sectional view showing a resist layer forming step, (H) is a cross-sectional view showing a selective plating step, and (I) ) Is a cross-sectional view showing a dicing process.
7 is a top view of the substrate of FIG. 6 (I). FIG.
8 is a cross-sectional view showing a microlens array obtained by performing a chip separation process after the dicing step of FIG. 6 (I).
9 is a top view of the microlens array in FIG. 8. FIG.
FIGS. 10A and 10B show an example of a method of manufacturing an optical fiber array according to the present invention, in which FIG. 10A is a cross-sectional view showing a Cu / Cr layer forming process, and FIG. 10B is a cross-sectional view showing a resist layer forming process; (C) is sectional drawing which shows an overplating process and a resist layer formation process.
FIG. 11 shows a step following the step of FIG. 10C, (D) is a cross-sectional view showing a selective plating step, and (E) is a cross-sectional view showing a resist removing step and a dicing step.
12 is a perspective view showing a state in which an optical fiber array is configured using a substrate obtained by performing a Cu / Cr lamination removal process and a resist removal process after the step of FIG. 11E.
FIGS. 13A and 13B show an example of a method of manufacturing a mounting substrate according to the present invention, in which FIG. 13A is a cross-sectional view showing a Ni—Fe alloy layer forming step, and FIG. 13B is a cross-sectional view showing a resist layer forming step; (C) is sectional drawing which shows a resist layer formation process.
FIG. 14 shows a step following the step of FIG. 13C, (D) is a sectional view showing a selective plating step, (E) is a sectional view showing a resist removing step, and (F) is a sectional view. It is sectional drawing which shows an optical component loading process.
FIG. 15 is a perspective view showing another example of an optical fiber array.
16 is a cross-sectional view showing a state in which the optical fiber array of FIG. 15 is mounted on a mounting substrate.
FIG. 17 is a cross-sectional view showing a Ni—Fe alloy layer forming step and a resist layer forming step in another example of the method of manufacturing a mounting substrate according to the present invention.
18 is a cross-sectional view showing a selective plating step following the step of FIG.
FIG. 19 is a cross-sectional view showing a resist removing step that follows the step of FIG. 18;
FIG. 20 is a cross-sectional view showing a Ni—Fe alloy layer forming step and a resist layer forming step in still another example of the method for manufacturing a mounting board according to the present invention.
FIG. 21 is a cross-sectional view showing a selective plating step that follows the step of FIG. 20;
22 is a cross-sectional view showing a resist removing step that follows the step of FIG. 21. FIG.
[Explanation of symbols]
10, 40, 50: Mounting substrate, 12, 12 ′, 44, 52, 52a to 52d: Metal layer, 14: Optical fiber array, 16, 16 ′: Micro lens array, 17: Optical waveguide, 20, 30: Quartz Substrate, 20A, 30A: chipped substrate, 22, 22a, 32: Cu / Cr laminated layer, 24, 24a, 34 ,: Ni-Fe alloy layer, 26a-26h, 36, 44, 46, 54, 56, 58, K 11 ~ K 18 , K 21 ~ K 23 , K 31 ~ K 33 , K 41 ~ K 47 , K 51 ~ K 58 , K 61 ~ K 68 , M 1 ~ M 8 : Resist layer, 28: support frame, 28A: translucent window, 34A: optical fiber holder, 38A, 38A 1 ~ 38A 8 , 38B: Fiber alignment layer, 39: Presser plate, S 0 ~ S 6 , S 11 ~ S 18 , N 1 ~ N 4 : Fitting hole, P 1 , P 2 , P 11 ~ P 13 , P 21 ~ P 24 , P 31 ~ P 34 , P 41 ~ P 44 , Q 0 ~ Q 4 , R 1 , R 2 , T 1 , U 1 , U 2 : Fitting protrusion, F 0 ~ F 8 : Optical fiber, L 1 ~ L 8 , L 11 ~ L 18 , L 51 , L 52 : Lens, BL: Dicing blade.

Claims (5)

光部品位置決め用の複数の嵌合凹部がめっき処理により一方の主面に形成された実装基板と、
各々の底部に設けられた嵌合凸部を前記複数の嵌合凹部にそれぞれ嵌合させた状態で光学系を構成する複数の光部品と
を備えた光部品実装構造。
A mounting board in which a plurality of fitting recesses for positioning optical components are formed on one main surface by plating;
An optical component mounting structure comprising: a plurality of optical components constituting an optical system in a state in which a fitting convex portion provided on each bottom portion is fitted in each of the plurality of fitting concave portions.
実装基板と、
この実装基板の一方の主面にめっき処理により形成された光部品位置決め用の複数の嵌合凸部と、
各々の底部に設けられた嵌合凹部を前記複数の嵌合凸部にそれぞれ嵌合させた状態で光学系を構成する複数の光部品と
を備えた光部品実装構造。
A mounting board;
A plurality of fitting projections for positioning optical components formed by plating on one main surface of the mounting substrate;
An optical component mounting structure comprising: a plurality of optical components constituting an optical system in a state in which fitting concave portions provided on the respective bottom portions are fitted to the plurality of fitting convex portions, respectively.
前記めっき処理の下地層はNi−Fe合金層である、
請求項1または2に記載の光部品実装構造。
The underlayer for the plating treatment is a Ni-Fe alloy layer,
The optical component mounting structure according to claim 1 or 2.
光部品位置決め用の複数の嵌合凹部(又は嵌合凸部)を実装基板の一方の主面にめっき処理により形成する工程と、
複数の光部品のうちの各光部品毎にその底部に嵌合凸部(又は嵌合凹部)をめっき処理により形成する工程と、
前記複数の光部品の嵌合凸部(又は嵌合凹部)を前記実装基板の複数の嵌合凹部(又は嵌合凸部)にそれぞれ嵌合させることにより前記複数の光部品を含む光学系を構成する工程と
を含む光部品実装構造の製法。
Forming a plurality of fitting recesses (or fitting projections) for optical component positioning on one main surface of the mounting substrate by plating; and
Forming a fitting convex part (or fitting concave part) on the bottom of each optical part among a plurality of optical parts by plating,
An optical system including the plurality of optical components by fitting the fitting convex portions (or fitting concave portions) of the plurality of optical components into the plurality of fitting concave portions (or fitting convex portions) of the mounting substrate, respectively. A method of manufacturing an optical component mounting structure including a process of configuring.
前記実装基板に前記嵌合凹部(又は嵌合凸部)を形成する工程において、Ni−Fe合金層をめっき下地層とする、
請求項4に記載の光部品実装構造の製法。
In the step of forming the fitting recess (or fitting protrusion) on the mounting substrate, the Ni-Fe alloy layer is used as a plating base layer.
The manufacturing method of the optical component mounting structure of Claim 4.
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