JP4022054B2 - Solid-state imaging device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラ等の撮像デバイスとして用いられる固体撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、デジタルスチルカメラの高画質化が急速に進んでおり、100万画素以上の画素数を有する固体撮像装置、特にCCDイメージセンサが、広く使われるようになっている。これらのCCDイメージセンサは、概ね、スチルモード、モニタリングモード、オートフォーカスモードの3つの駆動方法で用いられる。スチルモードは、全画素の信号電荷を独立に読み出すことによって静止画を得る駆動モード、モニタリングモードは、液晶モニター等に動画を映し出す駆動モード、オートフォーカスモードは、CCDイメージセンサの信号の一部を用いてオートフォーカスや露出の制御等を行なう駆動モードである。
【0003】
モニタリングモードで駆動するには、毎秒30枚程度のフレームレートが必要である。しかし、全フォトダイオードからの信号電荷をモニタ液晶に表示すると、多画素化が著しいCCDイメージセンサに駆動周波数の限界があり、低消費電力化の要請があることから、モニタリングモードにおけるフレームレートが低下する。そこで一般に、100万画素以上の画素数を有するCCDイメージセンサでは、総ての列でなく、特定の列上のフォトダイオードからの信号電荷のみを読み出してライン数を間引いて表示することによって、フレームレートを向上させている。
また、オートフォーカスモードの駆動では、主に中央部のフォトダイオードからの信号電荷が制御処理に用いられ、かつ迅速な応答が要求される。そのため、モニタリングモードの場合と同様、中央部の特定列上のフォトダイオードからの信号電荷のみを読み出すことによって、高速処理を図っている。
【0004】
図12は、CCDイメージセンサの駆動方法の従来例を示す概略図である。このCCDイメージセンサは、4相駆動垂直レジスタをもつプログレッシブスキャン方式を採用し、フォトダイオード51、トランスファゲート52、垂直レジスタ53および水平レジスタ54を備えるとともに、電荷排出部57に接続されて不要な電荷を行単位で排出するドレイン56と電荷の排出を制御するコントロールゲート55を、垂直レジスタ53と水平レジスタ54との境界部に設けて、フレームレートを向上させている。なお、58は、水平レジスタ54から出力される信号電荷を検出する電荷検出部である。
他の従来例として、上記ドレイン56とコントロールゲート55を、水平レジスタ54に下縁に隣接して設けたCCDイメージセンサや、不要な電荷を排出するドレインとコントロールゲートを、特定の垂直列の端部と水平レジスタとの間に設け、垂直レジスタから水平レジスタへの信号電荷の転送を禁止し、列単位で画素を間引いて、フレームレートを向上させるCCDイメージセンサがある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来のCCDイメージセンサの駆動方法は、マトリックス状に配置されたフォトダイオード51,51,…からの信号電荷を行単位では高い自由度で間引くことができる。ところが、フォトダイオードからの信号電荷を列単位で間引こうとすると、不要な電荷を排出するドレインと電荷の排出を制御するコントロールゲートを、間引くべき信号電荷に対応したフォトダイオード列の下端に設ける必要がある。換言すれば、不要電荷排出用のドレインおよびコントロールゲートのための電極形成用パターンを、間引くべき列の位置に合わせて変更して設ける必要があり、このようなパターン形成位置の変更は、CCDイメージセンサの製造工程の初期に行なわなければならない。
従って、間引くべき列が異なる場合、その列の位置に応じてドレインとコントロールゲートを設けた専用のCCDイメージセンサが必要となり、逆に、専用のCCDイメージセンサでは、間引かれる列が固定されていて変更できないという問題がある。
【0006】
そこで、本発明の目的は、信号電荷の間引きの方法に応じてドレインおよびコントロールゲートの位置を変更することなく、工程の僅かな変更と駆動タイミングの変更のみで、任意の箇所と任意の数で信号電荷を間引くことができ、多彩な読み出しモードとフレームレートを実現できる自由度の高い読み出しを行なうことができる固体撮像装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明の固体撮像装置は、 半導体基板上にマトリックス状に形成された複数の受光部と、この受光部から読み出された信号電荷を垂直方向に転送する複数の垂直レジスタと、この複数の垂直レジスタによって転送された信号電荷を水平方向へ転送する水平レジスタを有し、上記複数の垂直レジスタの中を転送される信号電荷を、行単位および列単位で排出することが可能な電荷排出手段と、この電荷排出手段で信号電荷が列単位で排出された行のうちの信号電荷が排出された列以外の残る列の信号電荷を読み出す電荷読み出し手段を備えた固体撮像装置において、上記水平レジスタは、N型転送チャネルをもつ第1の下層電極 , N − 型転送チャネルをもつ第1の上層電極 , N型転送チャネルをもつ第2の下層電極 , N − 型転送チャネルをもつ第2の上層電極を順に行方向に並べた電極組を各垂直レジスタの終端に備えるととともに、第1水平転送クロックおよびその反転パルスである第1反転水平転送クロックを夫々供給する第1信号線および第1反転信号線と、第2水平転送クロックおよびその反転パルスである第2反転水平転送クロックを夫々供給する第2信号線および第2反転信号線を備える一方、各垂直レジスタの終端付近を横切るようにドレインが配置され、信号電荷を読み出すべき垂直レジスタの上記電極組は、第2の上層および下層電極を上記第1反転信号線に接続し、この第2の上層電極に上記ドレインに対応するゲートを接続し、第1の上層および下層電極を上記第1信号線に接続して第1電極組とする一方、信号電荷を排出すべき垂直レジスタの上記電極組は、第2の上層および下層電極を上記第2反転信号線に接続し、この第2の上層電極に上記ドレインに対応するゲートを接続し、第1の上層および下層電極を上記第2信号線に接続して第2電極組とするとともに、1行の信号電荷を各垂直レジスタの終端に転送する一連の垂直転送パルスに同期して立ち上がり , 上記垂直転送パルスの継続時間に亘ってハイになる信号を、上記第1信号線および第2信号線に供給して、上記第1および第2電極組を介して、上記1行の信号電荷を総て水平レジスタに転送して格納し、上記一連の垂直転送パルスに同期して立ち上がり , その継続時間に亘ってハイになる信号を上記第1信号線に、上記一連の垂直転送パルスに同期して立ち下がり , その継続時間に亘ってローになる信号を上記第2信号線に夫々供給して、上記1行の信号電荷のうち、上記第1電極組に係る信号電荷を水平レジスタに転送して格納し、上記第2電極組に係る信号電荷をドレインへ排出し、上記一連の垂直転送パルスに同期して立ち下がり , その継続時間に亘ってローになる信号を上記第1および第2信号線に夫々供給して、上記第1および第2電極組を介して、上記1行の信号電荷を総てドレインへ排出することを特徴とする。
このような構成により、間引きの方法に応じてドレインとゲートの位置を変えることなく、水平レジスタの第1信号線および第2信号線に供給する水平転送信号のハイ , ローのタイミングを変更するだけで、信号電荷を読み出すべき行および列の位置と数を任意に変更でき、多彩な読み出しモードと種々のフレームレートを実現でき、自由度の高い間引き読み出しが可能になる。
【0008】
一実施形態では、各垂直レジスタの終端における上記第1電極組および第2電極組の配置を変更することによって、任意の列の信号電荷を間引いて読み出せるようにしている。
これにより、信号電荷を間引くべき列の垂直レジスタの電極組を、第2信号線および第2反転信号線に接続して第2電極組とするだけで、任意の列単位の間引き読み出しができるCCDイメージセンサを実現することができる。
【0009】
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。
図1は、本発明の固体撮像装置としてのCCDイメージセンサの第1の実施形態を示す概略構成図である。このCCDイメージセンサは、4相駆動垂直レジスタを有し、プログレッシブスキャン方式を採用したインターライン転送型のもので、マトリックス状に配置された受光部としてのフォトダイオード1、このフォトダイオード1からの信号電荷を伝えるトランスファゲート2と、トランスファゲート2を介して受けた信号電荷を垂直方向に転送する垂直レジスタ3と、第1の相φH1A,φH1Bの電極10a,b;10e,fと第2の相φH2A(φH1Aの反転パルス),φH2B(φH1B反転パルス)の電極10c,d;10g,hが交互に繰り返し配列されてなり、垂直レジスタ3から受けた信号電荷を水平方向へ転送する水平レジスタ4を備えている。なお、本実施形態では、便宜上7行6列に配置されたフォトダイオード1,1,…について説明する。
【0011】
上記垂直レジスタ3は、垂直転送クロックφV1〜φV4が入力される4つの垂直転送電極9a〜9d(図2参照)からなり、クロックφV1が入力される垂直転送電極9aは、トランスファゲート2を兼ねている。そして、図3の時刻t0で垂直転送クロックφV1に読出しパルスVHが立つと、総てのフォトダイオード1から信号電荷がトランスファゲート2を経て垂直レジスタ3に読み出され、図3の時刻t1〜t2に示される波形とタイミングで垂直転送クロックφV1〜φV4が入力されると、読み出された各信号電荷が垂直レジスタ3中を垂直下方へ1段転送されるようになっている。
【0012】
上記水平レジスタ4は、2相の水平転送クロックφH1,φH2(φH1の反転パルス)により2端子で駆動されていた図12の従来例と異なり、第1信号線に供給されるクロックφH1A、第1反転信号線に供給されるφ H1A の反転パルスであるクロックφH2A、第2信号線に供給されるクロックφH1B、第2反転信号線に供給されるφ H1B の反転パルスであるクロックφH2Bの4つの水平転送クロックで駆動される。そして、図3の時刻t2直後に各水平転送クロックが反転すると、1行分の信号電荷を水平左方へ転送し、転送された信号電荷は、電荷検出部8によって順次信号電圧に変換されて、図示しない信号処理回路などに出力される。
上記水平レジスタ4は、図2でも述べるように、各垂直レジスタ3の下端に、第1の下層 , 上層電極10 a,b( 10 e,f) と第2の下層 , 上層電極10 c,d( 10 g,h) を順に行方向に並べた電極組を備え、信号電荷を読み出すべき垂直レジスタ ( 第1 , 4列 ) の電極組は、第2の下層 , 上層電極10 c,d を第1反転信号線 ( φ H2A) に、第1の下層 , 上層電極10 a,b を第1信号線 ( φ H1A) に夫々接続して第1電極組とする一方、信号電荷を排出すべき垂直レジスタ ( 第2 , 3 , 5 , 6列 ) の電極組は、第2の下層 , 上層電極10 g,h を第2反転信号線 ( φ H2B) に、第1の下層 , 上層電極10 e,f を第2信号線 ( φ H1B) に夫々接続して第2電極組としている。
上述の信号電荷の1段垂直転送と1行分の水平転送が、図3に示すように、フォトダイオード1の行数だけ(本実施形態では7回)繰り返されて、1フレーム分の信号電圧が得られる。
【0013】
各垂直レジスタ3と水平レジスタ4の間には、図1に示すように、垂直レジスタ3の中を転送される信号電荷を行単位および列単位で排出する電荷排出手段としてのゲート5とドレイン6とを備えた電荷排出部7が設けられている。各ゲート5は、図2に示されているように、第1反転信号線 ( φ H2A) に接続された第2の上層電極10 d または第2反転信号線 ( φ H2B) に接続された第2の上層電極10 hに接続される。垂直レジスタ3からの信号電荷は、第1水平転送クロックφ H1Aがハイレベル(Hレベル)で、第1反転水平転送クロックφ H2Aがローレベル(Lレベル)の場合、または第2水平転送クロックφ H1B がハイレベル ( Hレベル ) で、第2反転水平転送クロックφ H2B がローレベル ( Lレベル ) の場合、水平レジスタ4へ転送され、逆に、第1水平転送クロックφ H1AがLレベルで、第1反転水平転送クロックφ H2AがHレベルの場合、または第2水平転送クロックφ H1B がLレベルで、第2反転水平転送クロックφ H2B がHレベルの場合、ドレイン6へ排出されるようになっている。
【0014】
図2は、電荷排出部7の具体的な構造例を示す平面図である。図2において、垂直レジスタ3上には、4相の垂直転送クロックφV1〜φV4が印加される垂直転送電極9a〜9dが、垂直レジスタ3に直交する方向に上下に配置されている。垂直転送クロックφV2,φV4が印加される垂直転送電極9b,9d(図中の一点鎖線で示す)は、1層目のポリシリコンで、垂直転送クロックφV3が印加される垂直転送電極9c(図中の二点鎖線で示す)は、2層目のポリシリコンで、垂直転送クロックφV1が印加される垂直転送電極9a(図中の実線で示す)は、3層目のポリシリコンで夫々形成される。
【0015】
一方、水平レジスタ4は、各垂直レジスタ3に連結される夫々4つの水平転送電極からなる電極組で構成され、図中左端の垂直レジスタ3には水平転送電極10a,10b,10c,10dが、右隣の垂直レジスタ3には水平転送電極10e,10f,10g,10hが、夫々連結される。また、水平転送電極10a,10b(図1の10a,b)には、第1信号線を経て第1水平転送クロックφH1Aが、水平転送電極10c,10d(図1の10c,d)には、第1反転信号線を経てその反転クロックである第1反転水平転送クロックφH2Aが、水平転送電極10e,10f(図1の10e,f)には、第2信号線を経て第2水平転送クロックφH1Bが、水平転送電極10g,10h(図1の10g,h)には、第2反転信号線を経てその反転クロックである第2反転水平転送クロックφH2Bが夫々入力される。
4つの電極からなる電極組のうち図中の二点鎖線で示す水平転送電極10a,10c;10e,10gは、第1 , 第2の下層電極として2層目のポリシリコンで形成され、その下方のチャネルをN型転送チャネルとする一方、図中の実線で示す水平転送電極10b,10d;10f,10hは、第1 , 第2の上層電極として3層目のポリシリコンで形成され、その下方のチャネルをN−型チャネルとして、各転送クロックのゲート下ポテンシャルに段差を設けて2相駆動できるようにしている。
【0016】
ゲート5とドレイン6とからなる上記電荷排出部7(図中の破線で示す)は、各垂直レジスタ3を転送されてきた行方向に並ぶ信号電荷を選択的に間引いて排出する。なお、フォトダイオード1は、図1に示すように、カラーフィルタで一般的な原色ベイヤ配列で配置されている。
図1,2に示す例では、各垂直レジスタ3の下端に行方向に並ぶ信号電荷を3画素ごとに2画素、間引くため、残すべき画素に対応する左端列の垂直レジスタ3に連結する電極組は、第1の下層 , 上層電極10 a, 10 b を、第1水平転送クロックφ H1A を供給する第1信号線に、第2の下層 , 上層電極10 c, 10 d を、第1反転水平転送クロックφ H2A を供給する第1反転信号線に接続して第1電極組としている。また、排出すべき画素に対応する隣の2列の垂直レジスタに連結する電極組は、第1の下層 , 上層電極10 e, 10 g を、第2水平転送クロックφ H1B を供給する第2信号線に、第2の下層 , 上層電極10 f, 10 h を、第2反転水平転送クロックφ H2B を供給する第2反転信号線に接続して第2電極組としている。
各ゲート5は、図2の示す如く、垂直転送電極9dに開口(ヴィアホール)を設けることによってドレイン6に接続されるとともに、同じポリシリコン層で一体に形成され、各電極組の第2の上層電極10d, 10 h…に接続されて、第1または第2反転水平転送クロックφH2A, φ H2Bが入力される。各ドレイン6には、そのポテンシャルが垂直レジスタ3のポテンシャルよりも深くなるように電圧VDが印加される。
【0017】
上記ゲート5には、第2の上層電極10d, 10 hを介して第1または第2反転水平転送クロックφH2A, φH2B が印加されるが、この反転水平転送クロックφH2A, φH2B の電圧が“L”レベル、第1の下層 , 上層電極10a,10b; 10 e, 10 fに印加される第1または第2水平転送クロックφH1A, φH1B の電圧が“H”レベルのとき、ゲート5のポテンシャルが垂直レジスタ3のポテンシャルよりも浅くなり、第1の上層電極10b,10fのポテンシャルが垂直レジスタ3のポテンシャルよりも深くなることにより、垂直レジスタ3を転送されてきた信号電荷は、そのまま水平レジスタ4へ転送される。
一方、第2の上層電極10d, 10h に印加される第1または第2反転水平転送クロックφH2A, φH2B の電圧が“H”レベル、第1の下層 , 上層電極10a,10b; 10 e, 10 fに印加される水平転送クロックφH1A, φH1B の電圧が“L”レベルのときは、ゲート5のポテンシャルが垂直レジスタ3のポテンシャルよりも深くなり、第1の上層電極10b,10fのポテンシャルが垂直レジスタ3のポテンシャルよりも浅くなることにより、垂直レジスタ3を転送されてきた信号電荷は、ゲート5よりもさらに深いポテンシャルになっているドレイン6へ排出される。
こうして、水平転送クロックφH1A(φH1B) の電圧レベルの“H”,“L”に応じて画素に対応する信号電荷を垂直列単位で水平レジスタに転送 , ドレインへ排出して、選択的に間引くことができるのである。本実施形態では、行方向に並ぶ信号電荷を、3列ごとに1列選んで水平レジスタ4へ転送し、残る2列についてはドレイン6へ排出することができる。
【0018】
図1,2で述べたCCDイメージセンサの駆動方法を、全画素読み出し(スチルモード)と画素間引きの2つのモードについて、図3〜図5のタイミングチャートを参照しつつ説明する。
全画素読み出しモードの駆動タイミングを示す図3において、時刻t0で垂直転送クロックφV1に“H”の読み出しパルスVHが印加されると、全画素のフォトダイオード1から信号電荷が垂直レジスタ3に読み出される。時刻t1〜t2で一連の垂直転送クロックφV1〜φV4が印加されると、信号電荷は垂直レジスタ3を1段下方へ転送されるが、このとき、第1 , 第2水平転送クロックφH1A,φH1Bは“H”レベル、第1 , 第2反転水平転送クロックφH2A,φH2Bは“L”レベルなので、1行目の信号電荷は、水平方向に間引かれることなく水平レジスタ4に総て転送される。
【0019】
次に、時刻t2〜t3で第1 , 第2水平転送クロックのレベルが反転すると、1行分の信号電荷は水平に転送されて、電荷検出部8から信号電圧になって出力される。さらに、時刻t3〜t4で、時刻t1〜t2と同じパターンの垂直,水平転送信号φV1〜φV4,φH1A〜φH2Bが印加されて、2行目の信号電荷が、垂直レジスタ3から水平レジスタ4に行方向に間引かれることなく転送され、時刻t4〜t5で、時刻t2〜t3と同じパターンの垂直,水平転送信号の印加により電荷検出部8から信号電圧となって出力される。このような信号電荷の転送を、フォトダイオードアレイの行数(本実施形態では7回)だけ繰り返すことによって、全画素の信号電荷が読み出される。
【0020】
図4は、画素間引き読み出しモードの駆動タイミングを示し、図5(A)は、その際の画素のカラーフィルタ配列と水平レジスタの電極構成を、図5(a)〜(k)は、水平レジスタのポテンシャル図を夫々示している。
図4において、時刻t0で垂直転送信号φV1に読み出しパルスVHが印加されると、全画素のフォトダイオード1から信号電荷が垂直レジスタ3に読み出される。時刻t1〜t2で、図3の時刻t1〜t2と同じパターンの一連の垂直転送クロックφV1〜φV4が印加されると、信号電荷は垂直レジスタ3を1段下方へ転送されるが、このとき、図3の場合に対して、第1水平転送クロックφH1Aは“H”レベル(φH2Aは“L”レベル)で同じであるが、第2水平転送クロックφH1Bが“L”レベル(φH2Bが“H”レベル)に反転している。従って、図5(A)に示す1行目の信号電荷のうちR11,G14は水平レジスタ4に転送されるが、他の信号電荷G12,R13,R15,G16はドレイン6に排出される。
【0021】
図4の時刻t3で、φH1Aが“L”レベル(φH2Aが“H”レベル) に反転すると、水平レジスタ4に転送された信号電荷のR11,G14は水平方向に半ビットシフトされる一方、垂直レジスタ3の下端にある2行目の信号電荷は、φH1Aが“L”,φH2Aが“H”,φH1Bが“L”,φH2Bが“H”なので、総てドレイン6へ排出される。次に、時刻t3〜t4で、水平転送クロックのレベルを維持したまま、時刻t1〜t2と同じパターンの一連の垂直転送クロックφV1〜φV4を2回印加して、垂直レジスタ中の信号電荷を下方へ2段転送するとともに、これら2,3行目の2行分の画素に相当する信号電荷を総てドレイン6へ排出する。
時刻t4で、φH1Aが“H”レベル(φH2Aが“L”レベル)に戻ると、時刻t1と同じクロック状態となり、時刻t1〜t2と同じパターンの一連の垂直転送クロックの印加が終わる時刻t5では、4行目の信号電荷のうちG41,B44は水平レジスタ4に転送され、他の信号電荷B42,G43,G45,B46はドレイン6に排出される。
【0022】
時刻t6で、φH1Bが“H”レベル(φH2Bが“L”) に反転すると、水平レジスタ4中の信号電荷R11,G14が、図5(e)に示すように半ビットシフトし、時刻t7で、再びφH1Bが“L”レベル(φH2Bが“H”レベル)に戻り、かつ、φH1Aφが“L”レベル(H2Aが“H”レベル) に反転すると、水平レジスタ4中の信号電荷R11,G41,G14,B44が、図5(f)に示すように更に半ビットシフトするとともに、垂直レジスタ3の下端にある1行分の信号電荷を総てドレイン6へ排出する準備ができた時刻t3と同じ状態になる。
以下、時刻t7〜t11では、時刻t3〜t7と同じ動作が行なわれ、まず時刻t7〜t8の2段垂直転送で、5行目,6行目の信号電荷が、総てドレイン6へ排出され、次いで時刻t8〜t11で、7行目の信号電荷のうちR71,R74のみが、図5(h)に示すように、水平レジスタ4に転送された後、水平レジスタ4中の信号電荷R11,G41,G14,B44が、図5(i)に示すように半ビットシフトし、更に水平レジスタ4中の信号電荷R11,G41,R71,G14,B44,G74が、図5(j)に示すように半ビットシフトする。この一連の動作で時刻t12に至ると、図5(k)に示すように、水平レジスタ4には、3列ごとに1列選ばれた列上で行方向に並ぶ信号電荷から3画素ごとに1画素選ばれた6つの信号電荷が、R11,G41,R71,G14,B44,G74と順に並び、時刻t12〜t13で、図示の垂直,水平転送クロックが印加されると、上記信号電荷が、1行分の水平転送によって電荷検出部8へ出力され、電圧信号に変換される。以降、垂直、水平方向の信号電荷の間引きおよび転送の動作が1フレーム単位、つまり7行ごとに繰り返される。
【0023】
上述の画素間引き読み出しモードでは、画素間引きにより行方向に1/3、列方向に1/3の率で画素を読み出すことにより、フレームレートを全画素読み出しモードの約9倍に上げることができる。上記実施形態のCCDイメージセンサの構成によれば、垂直,水平転送電極の駆動タイミングを切り替えるだけで、全画素読み出しモードと画素間引き読み出しモードを選択でき、画素間引き読み出しモードで高いフレームレートを実現することができる。
【0024】
図6は、本発明のCCDイメージセンサの第2の実施形態を示す概略構成図である。このCCDイメージセンサは、行方向に並ぶ水平転送電極の5つごとに1つの電極に第1水平転送クロックφH1Aおよび第1反転水平転送クロックφH2Aを印加し、残る5つの電極には、第2水平転送クロックφH1Bおよび第2反転水平転送クロックφH2Bを印加するようにした点が図1で述べた第1実施形態と異なる。図6の例では、左端およびそれから5つ目の水平電極に、第1水平転送クロックφH1Aおよび第1反転水平転送クロックφH2Aが印加されている。
【0025】
全画素読み出しモードの駆動タイミングは、図3で示した第1実施形態の場合と全く同じであり、時刻t0の読み出しパルスVHの印加に続いて、時刻t1〜t2の垂直転送と時刻t2〜t3の水平転送が交互に7回繰り返されて、1フレーム分の信号電荷が得られる。
図7は、図6のCCDイメージセンサにおける画素間引き読み出しモードの駆動タイミングを示している。この駆動タイミングが図4で述べた第1実施形態のそれと異なるのは、図4の時刻t4〜t8と同じパターンの一連の垂直,水平転送動作の繰り返しが、時刻t12〜t16,t16〜t20で示すように2回増えている点だけである。従って、本実施形態の画素間引き読み出しモードでは、第1実施形態で述べたと同じ動作によって、間引きによって列方向に1/3、行方向に1/5の率で画素が選び出され、1行分の信号電荷として電荷検出部8に送られるから、フレームレートを全画素読み出しモードの約15倍に上げることができる。
また、図示しないが、時刻t3〜t4,t7〜t8,t11〜t12,t15〜t16,t19〜t20における各垂直転送クロックφV1φ〜V4のパルス数を2つから4つにすることによって、間引きによって列方向に1/5、行方向に1/5の率で画素を読み出して、全画素読み出しモードの約25倍にフレームレートを上げることができる。
【0026】
このように、水平転送電極への水平転送クロックの印加形態を、例えばCCDイメージセンサの製造中の電極組と信号線の接続態様を変更することによって、行方向の間引きの形態を自由に変えて、印加すべき水平転送クロックと垂直転送クロックのタイミングの組み合わせを変更するだけで、列方向の間引きの形態を自由に変えることができる。
【0027】
図8は、本発明のCCDイメージセンサの第3の実施形態を示す概略構成図である。このCCDイメージセンサは、オートフォーカスや露出の制御のモードにおいて、画素領域の中央部などの1部のみから信号電荷を読み出す場合に用いられる。上記CCDイメージセンサは、行方向に並ぶ水平転送電極の中央の2つには、第1水平転送クロックφH1Aおよび第1反転水平転送クロックφH2Aを印加する一方、その両側の各2つには、第2水平転送クロックφH1Bおよび第2反転水平転送クロックφH2Bを印加するようにした点が図1の第1実施形態と異なる。
【0028】
全画素読み出しモードの駆動タイミングは、図3で示した第1実施形態の場合と全く同じであるので、説明を省略する。
図9は、図8のCCDイメージセンサにおける画素間引き読み出しモードの駆動タイミングを示し、図10(A)は、その際の画素のカラーフィルタ配列と水平レジスタの電極構造を、図10(a)〜(j)は、水平レジスタのポテンシャル図を夫々示している。
図9において、時刻t0で垂直転送信号φV1に読み出しパルスVHが印加されると、全画素のフォトダイオード1から信号電荷が垂直レジスタ3に読み出される。時刻t1〜t2で、図3の時刻t1〜t3と同じパターンの垂直転送クロックφV1〜φV4が2回印加されると、信号電荷は垂直レジスタ3を2段下方へ転送されるが、このとき、反転水平転送クロックφH2A,φH2Bが“H”レベル、水平転送クロックφH1A,φH1Bが“L”レベルであるので、図8の電極組の第1の上層および下層電極が総て“L”レベルになって、1行目と2行目の画素の信号電荷は総てドレイン6へ排出される。
【0029】
図9の時刻t3で、φH1Aが“H”レベル(φH2Aが“L”レベル) に反転し、時刻t3〜t4で、一連の垂直転送クロックφV1〜φV4が1回印加されると、垂直レジスタ3の下端にある3行目の信号電荷は、水平レジスタ4に対しては電極組の第1の上層および下層が“H”レベルである中央の2つの電極組に対応する信号電荷R33,G34のみが、図10(a)に示すように転送され、電極組の第1の上層および下層電極が“L”レベルである他の水平転送電極対に対応する信号電荷R31,G32,R35,G36は、総てドレイン6へ排出される。
時刻t4〜t6で、水平転送電極に、図9に示す各水平転送クロックφH1A〜φH2Bのレベルが3回反転すると、水平レジスタ4中の信号電荷R33,G34が、図10(a)〜(c)に示すように1ビット半シフトし、時刻t7で、φH1Aが“H”レベル,φH2Aが“L”レベルに反転し、時刻t7〜t8で、一連の垂直転クロックφV1〜φV4が1回印加されると、4行目の信号電荷のうち中央部の信号電荷G43,B44のみが、図10(d)に示すように水平レジスタ4に転送され、他の信号電荷G41,B42,G45,B46は、ドレイン6に排出される。
【0030】
時刻t9で、第2水平転送クロックφH1Bが“H”レベル(φH2Bが“L”レベル)に反転すると、水平レジスタ4中の信号電荷R33,G34が、図10(e)に示すように水平方向に半ビットシフトし、次いで、時刻t10までに各水平転送クロックφH1A〜φH2Bのレベルが3回反転すると、水平レジスタ4中の信号電荷R33,G34,G43,B44が、図10(f)に示すように水平方向へ1ビット半シフトする。
そして、時刻t11で、φH1Aが“H”レベル(φH2Aが“L”レベル)に反転し、時刻t12までに一連の垂直転クロックφV1〜φV4が1回印加されると、垂直レジスタ3を1段下方へ転送される5行目の信号電荷のうち中央部の信号電荷R53,G54のみが、図10(g)に示すように水平レジスタ4に転送され、他の信号電荷R51,G52,R55,G56はドレイン6に排出される。そして、時刻t13で、水平転送クロックφH1B,φH2Bが反転すると、水平レジスタ4中の信号電荷R33,G34,G43,B44は、図10(h)に示すように水平方向に半ビットシフトし、時刻t14までに、各水平転送クロックφH1A〜φH2Bが反転を3回繰り返すと、水平レジスタ4中の信号電荷R33,G34,G43,B44,R53,G54gが、図10(i)に示すように水平方向に1ビット半シフトする。
【0031】
次に、時刻t14〜t15で、一連の垂直転クロックφV1〜φV4が2回印加されると、垂直レジスタ3を2段下方へ転送される6行目,7行目の信号電荷は、水平転送クロックφH2A〜φH2Bのレベルが時刻t1〜t2と同じなので、総てドレイン6へ排出される。
以上の読み出し動作により、時刻t15で、水平レジスタ4には図10(j)に示すように、図8の画素のうち中央3行2列からの信号電荷R33,G34,G43,B44,R53,G54が順に配列されている。最後に、時刻t15〜t16で、通常の水平転送が行なわれ、画素の中央部の上記3行2列の信号電荷が、電荷検出部8を経て1ラインの転送時間内で出力される。この実施形態の間引き読み出しモードでは、全画素読み出しモードの約7倍のフレームレートで画素部の中央部3行2列の信号を出力することができる。
このように、上記CCDイメージセンサの構成によれば、駆動タイミングを切り替えるだけで、全画素読み出しモードと画素部中央部の読み出しモードを選択できる。CCDイメージセンサの信号を用いてオートフォーカスや露出の制御を行う場合、主として画素中央部の電荷信号が処理に用いられるので、上記画素中央部の読み出しモードにより、高い応答速度でオートフォーカスや露出の制御を行なうことができる。
【0032】
図11は、本発明のCCDイメージセンサの第4の実施形態を示す概略構成図である。このCCDイメージセンサは、既述の実施形態1と3を組み合わせて、駆動タイミングを切り替えるだけで、全画素読み出しモード、間引き読み出しモード、中央部読み出しモードの3種類の読み出しを可能にしている。上記CCDイメージセンサは、図示のように水平転送クロックをφH1C,H2C,φH1D,φH2D,φH1E,φH2E,φH1F,φH2Fの4組に分けた点が図1の第1実施形態と異なる。
【0033】
上記CCDイメージセンサにおいて、全画素読み出しモードは、図11の水平転送パルスφH1C,φH1D,φH1E,φH1Fに、第1実施形態の図3の水平転送パルスφH1Aと同じ駆動パルスを与え、図11の水平転送パルスφH2C,φH2D,φH2E,φH2Fに図3の水平転送パルスφH2Aと同じ駆動パルスを与えることによって行なわる。
間引き読み出しモードは、図11のφH1C,φH1Eに図4のφH1Aと、図11のφH2C,φH2Eに図4のφH2Aと、図11のφH1D,φH1Fに図4のφH1Bと、図11のφH2D,φH2Fに図4のφH2Bと夫々同じ駆動パルスを与えることによって行なわれる。これによって、列方向に1/3、行方向に1/3の画素を間引くことができ、全画素読み出しモードの約9倍にフレームレートを上げることができる。
また、中央部読み出しモードは、図11のφH1E,φH1Fに図9のφH1Aと、図11のφH2E,φH2Fに図9のφH2Aと、図11のφH1C,φH1Dに図9のφH1Bと、図11のφH2C,φH2DにφH2Bと夫々同じ駆動パルスを与えることによって行なわれ、これによって、全画素読み出しモードの約7倍のフレームレートで画素中央部の3行2列の信号を出力することができる。
【0034】
上記構成のCCDイメージセンサによれば、駆動タイミングを切り替えることによって、読み出しモードとして、全画素読み出し、間引き読み出し、画素中央部読み出しの3つを選択できる。例えば、デジタルスチルカメラにおいてこの3種類の読み出しモードを用いれば、全画素の信号電荷を独立に読み出して静止画を得るスチルモード駆動、液晶モニター等に動画を映し出すモニタリングモード駆動、オートフォーカスや露出の制御を行う場合のオートフォーカスモード駆動を容易に使い分けることができる。
【0035】
なお、上記実施形態では、一般的なカラーフィルタ配列の一つである原色ベイヤ配列について本発明を説明したが、本発明は、2行2列以外の繰り返しで配列されたフィルタにも適用できる。また、本発明は、上記実施形態で述べた4相駆動垂直レジスタをもつプログレッシブスキャン方式のインターライン転送型CCDイメージセンサに限らず、4相駆動垂直レジスタ以外、あるいはインターライン転送型以外のCCDイメージセンサにも適用できる。さらに、プログレッシブスキャン方式に限らずインターレース方式のCCDイメージセンサについても、フレームを構成する各フィールドに本発明を適用することによって同じ効果が得られる。本発明は、上記実施形態で述べた以外の電荷排出手段やCCDイメージセンサ駆動方法を適用することもできる。
【0036】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明の固体撮像装置によれば、受光部からの信号電荷の間引きの方法に応じてドレインとコントロールゲートの構成を変えることなく、製造工程での電極組と信号線の接続態様の僅かな変更と駆動タイミングの変更のみによって、列方向の読み出しライン数、行方向の読み出し画素数または読み出し位置を変更でき、多彩な読み出しモードとフレームレートを選択できる自由度の高い固体撮像装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施形態のCCDイメージセンサを示す概略構成図である。
【図2】 上記第1実施形態のCCDイメージセンサの水平レジスタ近傍の詳細図である。
【図3】 上記第1実施形態のCCDイメージセンサの全画素読み出しモードにおける駆動タイミング図である。
【図4】 上記第1実施形態のCCDイメージセンサの間引き読み出しモードにおける駆動タイミング図である。
【図5】 上記第1実施形態のCCDイメージセンサの間引き読み出しモードを説明するCCDイメージセンサの概略構成図およびポテンシャル図である。
【図6】 本発明の第2実施形態のCCDイメージセンサを示す概略構成図である。
【図7】 上記第2実施形態のCCDイメージセンサの間引き読み出しモードにおける駆動タイミング図である。
【図8】 本発明の第3実施形態のCCDイメージセンサを示す概略構成図である。
【図9】 上記第3実施形態のCCDイメージセンサの中央部読み出しモードにおける駆動タイミング図である。
【図10】 上記第3実施形態のCCDイメージセンサの中央部読み出しモードを説明するCCDイメージセンサの概略構成図およびポテンシャル図である。
【図11】 本発明の第4実施形態のCCDイメージセンサを示す概略構成図である。
【図12】 従来のCCDイメージセンサを示す概略構成図である。
【符号の説明】
1 フォトダイオード
2 トランスファゲート
3 垂直レジスタ
4 水平レジスタ
5 ゲート
6 ドレイン
7 電荷排出部
8 電荷検出部
9a〜9d 垂直転送電極
10a,b〜10g,h 水平転送電極
φV1〜φV4 垂直転送クロック
φH1A〜φH2B 垂直転送クロック[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a solid-state imaging device used as an imaging device such as a digital still camera or a digital video camera.
[0002]
[Prior art]
In recent years, the image quality of digital still cameras has been rapidly increasing, and solid-state imaging devices having a number of pixels of 1 million pixels or more, especially CCD image sensors, are widely used. These CCD image sensors are generally used in three driving methods: a still mode, a monitoring mode, and an autofocus mode. The still mode is a drive mode that obtains a still image by independently reading out the signal charges of all pixels, the monitoring mode is a drive mode that displays a moving image on a liquid crystal monitor, etc., and the autofocus mode is a part of the CCD image sensor signal. This is a drive mode in which autofocus, exposure control, and the like are used.
[0003]
To drive in the monitoring mode, a frame rate of about 30 frames per second is required. However, when the signal charge from all photodiodes is displayed on the monitor liquid crystal, the CCD image sensor, which has a large number of pixels, has a limit in driving frequency and there is a demand for lower power consumption, so the frame rate in the monitoring mode decreases. To do. Therefore, in general, in a CCD image sensor having a number of pixels of 1 million pixels or more, only the signal charges from the photodiodes on a specific column are read out and displayed by thinning out the number of lines instead of all columns. The rate has been improved.
In driving in the autofocus mode, signal charges from the photodiode at the center are mainly used for control processing, and a quick response is required. Therefore, as in the monitoring mode, high-speed processing is achieved by reading out only signal charges from photodiodes on a specific column in the center.
[0004]
FIG. 12 is a schematic view showing a conventional example of a method for driving a CCD image sensor. This CCD image sensor adopts a progressive scan system having a four-phase drive vertical register, and includes a
As another conventional example, a CCD image sensor in which the
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
The conventional CCD image sensor driving method can thin out signal charges from the
Therefore, if the columns to be thinned out are different, a dedicated CCD image sensor provided with a drain and a control gate is required according to the position of the row. Conversely, in the dedicated CCD image sensor, the thinned columns are fixed. Problem that cannot be changed.
[0006]
Therefore, an object of the present invention is to change the process and the drive timing at any location and in any number without changing the positions of the drain and control gate according to the method of thinning out signal charges. A solid-state imaging device capable of thinning out signal charge and performing various readout modes and frame rates with high flexibility.PlaceIt is to provide.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a solid-state imaging device according to the present invention includes a plurality of light receiving units formed in a matrix on a semiconductor substrate and a plurality of vertical light sources that transfer signal charges read from the light receiving units in a vertical direction. Register and signal charges transferred by these vertical registers are transferred in the horizontal direction.WaterHas flat registerAnd aboveThe charge discharging means capable of discharging the signal charges transferred through the plurality of vertical registers in units of rows and columns, and among the rows in which the signal charges are discharged in units of columns by the charge discharging means. Charge readout means for reading out signal charges in the remaining columns other than the column from which the signal charges have been dischargedTa solidBody imaging deviceThe horizontal register includes a first lower layer electrode having an N-type transfer channel. , N − First upper layer electrode with a transfer channel , Second lower layer electrode with N-type transfer channel , N − A pair of electrodes, in which second upper layer electrodes having a transfer channel are arranged in the row direction in order, are provided at the end of each vertical register, and a first horizontal transfer clock and a first inverted horizontal transfer clock as an inversion pulse thereof are supplied. A first signal line and a first inverted signal line, and a second signal line and a second inverted signal line for supplying a second horizontal transfer clock and a second inverted horizontal transfer clock that is an inverted pulse thereof, respectively. A drain is arranged so as to cross the vicinity of the end of the register, and the electrode set of the vertical register from which signal charges are to be read connects the second upper layer electrode and the lower layer electrode to the first inverted signal line, and the second upper layer electrode A gate corresponding to the drain is connected to the first upper and lower electrodes connected to the first signal line to form a first electrode set, while a vertical level at which signal charges are to be discharged. The electrode pair of the star connects the second upper layer electrode and the lower layer electrode to the second inversion signal line, connects the gate corresponding to the drain to the second upper layer electrode, and connects the first upper layer electrode and the lower layer electrode Connected to the second signal line to form a second electrode set, and rises in synchronization with a series of vertical transfer pulses for transferring one row of signal charges to the end of each vertical register , A signal that goes high over the duration of the vertical transfer pulse is supplied to the first signal line and the second signal line, and the signal charges in the one row are supplied via the first and second electrode sets. All are transferred to the horizontal register and stored, rising in sync with the above series of vertical transfer pulses , A signal that goes high over the duration falls to the first signal line in synchronization with the series of vertical transfer pulses. , A signal that goes low over the duration is supplied to each of the second signal lines, and among the signal charges in one row, the signal charges related to the first electrode set are transferred to a horizontal register and stored. The signal charge related to the second electrode set is discharged to the drain and falls in synchronization with the series of vertical transfer pulses. , A signal that goes low over the duration is supplied to the first and second signal lines, respectively, and the signal charges in the one row are all discharged to the drain via the first and second electrode sets. ThatCharacterize.
With this configuration, the drain can be selected according to the thinning method.AndWithout changing the position of theThe high level of the horizontal transfer signal supplied to the first signal line and the second signal line of the horizontal register , The signal charge should be read out simply by changing the row timingThe position and number of rows and columns can be arbitrarily changed, various readout modes and various frame rates can be realized, and thinning readout with a high degree of freedom is possible.
[0008]
In one embodiment,By changing the arrangement of the first electrode group and the second electrode group at the end of each vertical register, signal charges in an arbitrary column can be read out.
ThisBy simply connecting the electrode set of the vertical register of the column from which signal charges are to be thinned out to the second signal line and the second inverted signal line, the second electrode set is obtained., Decimation by any columnCan readA CCD image sensor can be realized.
[0009]
[0010]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the illustrated embodiments.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of a CCD image sensor as a solid-state imaging device of the present invention. This CCD image sensor is of an interline transfer type having a four-phase drive vertical register and adopting a progressive scan system, and a
[0011]
The
[0012]
The
As described in FIG. 2, the
The one-stage vertical transfer of signal charges and the horizontal transfer for one row are repeated by the number of rows of photodiodes 1 (7 times in this embodiment) as shown in FIG. Is obtained.
[0013]
Between each
[0014]
FIG. 2 is a plan view showing a specific structural example of the charge discharging unit 7. In FIG. 2, on the
[0015]
On the other hand, the
Of the electrode set consisting of four
[0016]
The charge discharging unit 7 (shown by a broken line in the figure) composed of the
In the example shown in FIGS. 1 and 2, signal charges arranged in the row direction at the lower end of each
Each gate 5The figureAs shown in 2,By providing an opening (via hole) in the
[0017]
The
on the other hand,
Thus,waterFlat transfer clock φH1A (φH1B) ofDepending on the voltage level “H”, “L”, the signal charge corresponding to the pixel is in units of vertical columns.Transfer to horizontal register , To the drain,It can be thinned out selectively. In this embodiment, the signal charges arranged in the row direction can be selected for every three columns and transferred to the
[0018]
The CCD image sensor driving method described with reference to FIGS. 1 and 2 will be described with reference to timing charts of FIGS. 3 to 5 in two modes of all pixel readout (still mode) and pixel thinning.
In FIG. 3 showing the drive timing in the all-pixel readout mode, an “H” readout pulse V is applied to the vertical transfer clock φV1 at time t0.HIs applied, signal charges are read from the
[0019]
Next, at time t2 to t3First , SecondHorizontal transfer clockOfWhen the level is inverted, the signal charges for one row are transferred horizontally and output as signal voltages from the
[0020]
FIG. 4 shows the driving timing in the pixel thinning readout mode, FIG. 5A shows the color filter array of the pixel and the electrode configuration of the horizontal register, and FIGS. 5A to 5K show the horizontal register. The potential diagrams are shown respectively.
In FIG. 4, the read pulse V is applied to the vertical transfer signal φV1 at time t0.HIs applied, signal charges are read from the
[0021]
At time t3 in FIG. 4, φH1A is at “L” level.(φH2A is “H” level) AgainstAs a result, the signal charges R11 and G14 transferred to the
At time t4, φH1A is “H” level(φH2A is “L” level), The clock state is the same as at time t1, and G41 and B44 of the signal charges in the fourth row are transferred to the
[0022]
At time t6, φH1B is “H” level(φH2B is “L”) AgainstAs a result, the signal charges R11 and G14 in the
Thereafter, from time t7 to t11, the same operation as that from time t3 to t7 is performed. First, all the signal charges in the fifth and sixth rows are discharged to the
[0023]
In the above-described pixel thinning readout mode, by reading out pixels at a rate of 1/3 in the row direction and 1/3 in the column direction by pixel thinning, the frame rate can be increased to about nine times that in the all pixel readout mode. According to the configuration of the CCD image sensor of the above-described embodiment, it is possible to select the all-pixel readout mode and the pixel thinning readout mode only by switching the driving timing of the vertical and horizontal transfer electrodes, and a high frame rate is realized in the pixel thinning readout mode. be able to.
[0024]
FIG. 6 is a schematic configuration diagram showing a second embodiment of the CCD image sensor of the present invention. This CCD image sensor has one electrode for every five horizontal transfer electrodes arranged in the row direction.FirstHorizontal transfer clock φH1AAnd first inverted horizontal transfer clockφH2A is applied and the remaining five electrodes are connected to the second horizontal transfer clock φH1B.And second inverted horizontal transfer clockThe difference from the first embodiment described with reference to FIG. 1 is that φH2B is applied. In the example of FIG. 6, the first horizontal transfer clock φH1A is provided at the left end and the fifth horizontal electrode thereafter.And first inverted horizontal transfer clockφH2A is applied.
[0025]
The drive timing in the all-pixel readout mode is exactly the same as that in the first embodiment shown in FIG. 3, and the readout pulse V at time t0.HFollowing the application of, vertical transfer at times t1 to t2 and horizontal transfer at times t2 to t3 are alternately repeated seven times to obtain signal charges for one frame.
FIG. 7 shows the drive timing in the pixel thinning readout mode in the CCD image sensor of FIG. This drive timing is different from that of the first embodiment described in FIG. 4 in that a series of vertical and horizontal transfer operations having the same pattern as the times t4 to t8 in FIG. 4 are repeated at times t12 to t16 and t16 to t20. It is only the point that has increased twice as shown. Therefore, in the pixel decimation readout mode of this embodiment, pixels are selected at a rate of 1/3 in the column direction and 1/5 in the row direction by decimation by the same operation as described in the first embodiment. Therefore, the frame rate can be increased to about 15 times that of the all-pixel readout mode.
Although not shown in the figure, the number of pulses of each vertical transfer clock φV1φ to V4 at time t3 to t4, t7 to t8, t11 to t12, t15 to t16, t19 to t20 is changed from two to four by thinning. Pixels can be read at a rate of 1/5 in the column direction and 1/5 in the row direction, and the frame rate can be increased to about 25 times that of the all-pixel reading mode.
[0026]
As described above, the horizontal transfer clock is applied to the horizontal transfer electrode in the form of, for example, a CCD image sensor being manufactured.How to connect the electrode set and signal lineBy changing, you can freely change the thinning mode in the row directionTheBy simply changing the combination of the timings of the horizontal transfer clock and the vertical transfer clock to be applied, the thinning form in the column direction can be freely changed.
[0027]
FIG. 8 is a schematic configuration diagram showing a third embodiment of the CCD image sensor of the present invention. This CCD image sensor is used when reading out signal charges from only one part such as the central part of the pixel area in the auto focus and exposure control modes. The CCD image sensor has two central transfer electrodes arranged in the row direction at the center.FirstHorizontal transfer clock φH1AAnd first inverted horizontal transfer clockWhile applying φH2A, each two on both sides ofSecondHorizontal transfer clock φH1BAnd second inverted horizontal transfer clockThe difference from the first embodiment in FIG. 1 is that φH2B is applied.
[0028]
The drive timing in the all-pixel readout mode is exactly the same as that in the first embodiment shown in FIG.
FIG. 9 shows the driving timing of the pixel thinning readout mode in the CCD image sensor of FIG. 8, and FIG. 10A shows the color filter array of the pixel and the electrode structure of the horizontal register at that time. (j) shows the potential diagram of the horizontal register.
In FIG. 9, the read pulse V is applied to the vertical transfer signal φV1 at time t0.HIs applied, signal charges are read from the
[0029]
At time t3 in FIG. 9, φH1A is at “H” level.(φH2A is “L” level) InWhen a series of vertical transfer clocks φV1 to φV4 are applied once at times t3 to t4, the signal charges in the third row at the lower end of the
At times t4 to t6, when the level of each of the horizontal transfer clocks φH1A to φH2B shown in FIG. 9 is inverted three times at the horizontal transfer electrode, the signal charges R33 and G34 in the
[0030]
At time t9SecondHorizontal transfer clock φH1B is “H” level(φH2B is “L” level), The signal charges R33 and G34 in the
At time t11, φH1A is at “H” level.(φH2A is “L” level)When a series of vertical rotation clocks φV1 to φV4 are applied once by time t12, the signal charges R53, C3 in the central portion of the signal charges in the fifth row transferred down the
[0031]
Next, at time t14 to t15, when a series of vertical clocks φV1 to φV4 are applied twice, the signal charges in the sixth and seventh rows that are transferred down the
As a result of the above readout operation, at time t15, the
As described above, according to the configuration of the CCD image sensor, it is possible to select the all-pixel readout mode and the readout mode at the center of the pixel unit simply by switching the drive timing. When autofocus and exposure control is performed using the signal from the CCD image sensor, the charge signal at the center of the pixel is mainly used for processing. Therefore, the autofocus and exposure can be controlled at a high response speed according to the readout mode at the center of the pixel. Control can be performed.
[0032]
FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a fourth embodiment of the CCD image sensor of the present invention. This CCD image sensor combines the above-described first and third embodiments, and enables only three types of readout, that is, the all-pixel readout mode, the thinning readout mode, and the center readout mode, by simply switching the drive timing. The CCD image sensor is different from the first embodiment of FIG. 1 in that the horizontal transfer clock is divided into four groups of φH1C, H2C, φH1D, φH2D, φH1E, φH2E, φH1F, and φH2F as shown.
[0033]
In the CCD image sensor, in the all-pixel readout mode, the horizontal drive pulses φH1C, φH1D, φH1E, and φH1F in FIG. 11 are given the same drive pulse as the horizontal transfer pulse φH1A in FIG. The transfer pulse φH2C, φH2D, φH2E, φH2F is performed by giving the same drive pulse as the horizontal transfer pulse φH2A in FIG.
The thinning-out read modes are: φH1C and φH1E in FIG. 11 are φH1A in FIG. 4, φH2C and φH2E in FIG. 11 are φH2A in FIG. 4, φH1D and φH1F in FIG. 11 are φH1B in FIG. The same drive pulse as that of φH2B in FIG. As a result, 1/3 of the pixels in the column direction and 1/3 of the pixels in the row direction can be thinned, and the frame rate can be increased to about nine times that in the all-pixel reading mode.
Further, the central portion reading mode includes φH1E in FIG. 11 at φH1A in FIG. 11, φH2A in FIG. 11 at φH2E in FIG. 11, φH2A in FIG. 11, φH1C in FIG. 11, φH1B in FIG. This is done by applying the same drive pulses as φH2B to φH2C and φH2D, respectively, so that a signal of 3 rows and 2 columns in the center of the pixel can be output at a frame rate about 7 times that of the all pixel readout mode.
[0034]
According to the CCD image sensor having the above-described configuration, by switching the driving timing, it is possible to select three readout modes, ie, all pixel readout, thinning readout, and pixel center readout. For example, if these three readout modes are used in a digital still camera, still mode driving for reading out the signal charges of all pixels independently to obtain a still image, monitoring mode driving for displaying a moving image on a liquid crystal monitor, auto focus and exposure It is possible to easily use the autofocus mode drive when performing control.
[0035]
In the above-described embodiment, the present invention has been described with respect to a primary color Bayer array that is one of general color filter arrays. However, the present invention can also be applied to a filter arrayed by repetition other than 2 rows and 2 columns. The present invention is not limited to the progressive scan type interline transfer type CCD image sensor having the four-phase drive vertical register described in the above embodiment, but other than the four-phase drive vertical register or the CCD image other than the interline transfer type. It can also be applied to sensors. Further, not only the progressive scan method but also an interlaced CCD image sensor, the same effect can be obtained by applying the present invention to each field constituting the frame. The present invention can also apply charge discharging means and a CCD image sensor driving method other than those described in the above embodiment.
[0036]
【The invention's effect】
As is clear from the above description, the solid-state imaging device of the present invention.In placeAccording to the manufacturing process without changing the configuration of the drain and the control gate according to the method of thinning out the signal charge from the light receiving unit.Of electrode electrode and signal line connectionWith only a slight change and drive timing change, the number of readout lines in the column direction, the number of readout pixels in the row direction, or the readout position can be changed, and a solid-state imaging device with a high degree of freedom that can select various readout modes and frame rates is realized. can do.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a CCD image sensor according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a detailed view of the vicinity of a horizontal register of the CCD image sensor of the first embodiment.
FIG. 3 is a drive timing chart in the all-pixel readout mode of the CCD image sensor of the first embodiment.
FIG. 4 is a drive timing chart in a thinning readout mode of the CCD image sensor of the first embodiment.
FIG. 5 is a schematic configuration diagram and a potential diagram of a CCD image sensor for explaining a thinning readout mode of the CCD image sensor according to the first embodiment.
FIG. 6 is a schematic configuration diagram showing a CCD image sensor according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a drive timing chart in a thinning readout mode of the CCD image sensor of the second embodiment.
FIG. 8 is a schematic configuration diagram showing a CCD image sensor according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a drive timing chart in the central portion readout mode of the CCD image sensor of the third embodiment.
FIGS. 10A and 10B are a schematic configuration diagram and a potential diagram of a CCD image sensor for explaining a central portion reading mode of the CCD image sensor of the third embodiment. FIGS.
FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a CCD image sensor according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 12 is a schematic configuration diagram showing a conventional CCD image sensor.
[Explanation of symbols]
1 Photodiode
2 Transfer gate
3 Vertical register
4 Horizontal registers
5 Gate
6 Drain
7 Charge discharging part
8 Charge detector
9a-9d Vertical transfer electrode
10a, b-10g, h Horizontal transfer electrode
φV1 to φV4 vertical transfer clock
φH1A to φH2B vertical transfer clock
Claims (2)
上記水平レジスタは、N型転送チャネルをもつ第1の下層電極 , N − 型転送チャネルをもつ第1の上層電極 , N型転送チャネルをもつ第2の下層電極 , N − 型転送チャネルをもつ第2の上層電極を順に行方向に並べた電極組を各垂直レジスタの終端に備えるととともに、第1水平転送クロックおよびその反転パルスである第1反転水平転送クロックを夫々供給する第1信号線および第1反転信号線と、第2水平転送クロックおよびその反転パルスである第2反転水平転送クロックを夫々供給する第2信号線および第2反転信号線を備える一方、各垂直レジスタの終端付近を横切るようにドレインが配置され、
信号電荷を読み出すべき垂直レジスタの上記電極組は、第2の上層および下層電極を上記第1反転信号線に接続し、この第2の上層電極に上記ドレインに対応するゲートを接続し、第1の上層および下層電極を上記第1信号線に接続して第1電極組とする一方、
信号電荷を排出すべき垂直レジスタの上記電極組は、第2の上層および下層電極を上記第2反転信号線に接続し、この第2の上層電極に上記ドレインに対応するゲートを接続し、第1の上層および下層電極を上記第2信号線に接続して第2電極組とするとともに、
1行の信号電荷を各垂直レジスタの終端に転送する一連の垂直転送パルスに同期して立ち上がり , 上記垂直転送パルスの継続時間に亘ってハイになる信号を、上記第1信号線および第2信号線に供給して、上記第1および第2電極組を介して、上記1行の信号電荷を総て水平レジスタに転送して格納し、
上記一連の垂直転送パルスに同期して立ち上がり , その継続時間に亘ってハイになる信号を上記第1信号線に、上記一連の垂直転送パルスに同期して立ち下がり , その継続時間に亘ってローになる信号を上記第2信号線に夫々供給して、上記1行の信号電荷のうち、上記第1電極組に係る信号電荷を水平レジスタに転送して格納し、上記第2電極組に係る信号電荷をドレインへ排出し、
上記一連の垂直転送パルスに同期して立ち下がり , その継続時間に亘ってローになる信号を上記第1および第2信号線に夫々供給して、上記第1および第2電極組を介して、上記1行の信号電荷を総てドレインへ排出することを特徴とする固体撮像装置。A plurality of light receiving portions formed in a matrix on a semiconductor substrate, a plurality of vertical registers for transferring signal charges read from the light receiving portions in the vertical direction, and a signal charge transferred by the plurality of vertical registers have a horizontal register that transferred to the horizontal direction, the signal charges transferred through the upper Symbol plurality of vertical registers, a charge discharging means capable of discharging line by line and column by column, the charge discharging means in the solid-state image pickup apparatus having the signal charges of the charge reading means for reading the signal charges of the remaining rows other than the discharged column of the in line signal charges are discharged by columns,
The horizontal register, the first lower electrode, N with N-type transfer channel - first of type transfer channel - type transfer first upper electrode having a channel, a second lower electrode with N-type transfer channel, N And a first signal line for supplying a first horizontal transfer clock and a first inverted horizontal transfer clock, which is an inverted pulse thereof, and an electrode set in which two upper layer electrodes are arranged in the row direction in order. A first inverted signal line and a second signal line and a second inverted signal line for supplying a second horizontal transfer clock and a second inverted horizontal transfer clock that is an inverted pulse thereof, respectively, cross the vicinity of the end of each vertical register. So that the drain is placed
The electrode set of the vertical register from which the signal charge is to be read has a second upper layer electrode and a lower layer electrode connected to the first inverted signal line, a gate corresponding to the drain connected to the second upper layer electrode, While connecting the upper and lower electrodes of the first signal line to the first signal line,
The electrode set of the vertical register to which the signal charge is to be discharged has a second upper layer electrode and a lower layer electrode connected to the second inverted signal line, a gate corresponding to the drain connected to the second upper layer electrode, 1 upper layer and lower layer electrodes are connected to the second signal line to form a second electrode set,
Rise simultaneously one row of signal charge into a series of vertical transfer pulses to transfer the end of each vertical register, a signal which becomes high over the duration of the vertical transfer pulse, the first signal line and the second signal Supply to the line, and through the first and second electrode sets, all the signal charges in the one row are transferred and stored in a horizontal register,
Rising in synchronism with the series of vertical transfer pulse, a signal which becomes high over its duration to the first signal line, falling in synchronism with the sequence of vertical transfer pulses, row over its duration Are supplied to the second signal lines, and the signal charges related to the first electrode set among the signal charges in the one row are transferred to the horizontal register and stored, and the signals related to the second electrode set are stored. Drain the signal charge to the drain,
Falling in synchronism with the series of vertical transfer pulse, the signal goes low over its duration and respectively supplied to the first and second signal lines, via the first and second electrode sets, A solid-state imaging device, wherein all the signal charges in one row are discharged to a drain .
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