JP4017858B2 - 鋼片の検査・手入れ方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、鋼片の検査・手入れを能率良く行うことができる方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
現状の鋼片の検査・手入れは、図４に示したように、例えば自動磁粉探傷検査を行った後、この自動検査で探傷した割れ疵を例えばビレットグラインダーによって手入れし、その後、この手入れ部分を部分的に再度磁粉探傷し、疵手入れが不十分であった箇所が発見された場合に当該箇所を例えばビレットグラインダーによって再手入れし、この再手入れ後に目視検査により開口疵やへげ状疵の最終検査を行っていた。なお、この最終検査で開口疵やへげ状疵が発見されればハンドグラインダーで最終手入れする。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記した従来の検査・手入れでは、各工程毎に検査設備や手入れ設備が変るため、工程が変わるごとに鋼片を搬送する必要がある。鋼片の搬送は、一般的にはクレーンを使用して行われるので、ハンドリングに多くの時間が必要になって、効率的な検査・手入れが行われているとはいえなかった。
【０００４】
なお、設備コストの低減化を図るために２つの手入れを同じビレットグラインダーで行うようにした場合には、この自動探傷から再検査まではライン化できるが、その後の工程はクレーンを使用せざるを得ず、効率化の面ではまだ改良の余地が残されている。
【０００５】
特開平７−５１２１号では、磁粉探傷検査と可視光検査を同時に行うことで、ビレット全種類の表面疵を高精度かつ効率良く検査する方法が、また、特開平８−３１３４９２号では、角ビレットの角部３方向からブラックライトを照射することで、照射範囲の照度分布を等しくして検査する方法が提案されている。
【０００６】
しかしながら、上記のいずれの提案も工程が変わるごとに鋼片を搬送する必要があることには変わりはなく、上記した問題の解決にはならない。
加えて、特開平７−５１２１号で提案された方法では、開口疵と割れ疵を同時に検出しなければならないので、オペレータに熟練が要求されることになる。なお、この方法を自動疵検査装置に適用した場合には、検出した開口疵と割れ疵を一緒に手入れできるので、手入れ時間の短縮を図ることができると考えられるが、最終検査をなくすまでには至らない。
【０００７】
本発明は、上記した従来の問題点に鑑みてなされたものであり、オペレータの熟練を必要とすることなく、しかも、再検査設備や再検査後の手入れ設備、最終検査への搬送を省略することができ、効率的かつ高精度に鋼片の検査・手入れが行える方法を提供することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記した目的を達成するために、本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法は、手入れ部分の再検査を上部用ブラックライトとコーナ用ブラックライトで照射して行なう磁粉探傷装置と、再検査後の疵手入れを連続して行うビレットグラインダーを備えた磁粉探傷装置付ビレットグラインダーを配置して前記自動検査後の手入れ工程とライン化すると共に、この磁粉探傷装置付ビレットグラインダーの検査部に可視光ライトを設置し、前記自動検査後の疵手入れの後に再検査と疵手入れを連続して行った後、引き続いて目視検査による最終検査を行うこととしている。
【０００９】
そして、このようにすることで、再検査から最終検査までを１つの設備で連続して行えるようになる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法は、自動検査を行った後、この自動検査で探傷した疵を手入れする手入れ工程の後に、前記手入れ部分の再検査を上部用ブラックライトとコーナ用ブラックライトで照射して行なう磁粉探傷装置と、再検査後の疵手入れを連続して行うビレットグラインダーを備えた磁粉探傷装置付ビレットグラインダーを配置して前記自動検査後の手入れ工程とライン化すると共に、この磁粉探傷装置付ビレットグラインダーの検査部に可視光ライトを設置し、前記自動検査後の疵手入れの後に再検査と疵手入れを連続して行った後、引き続いて目視検査による最終検査を行うものである。
【００１１】
本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法によれば、再検査から再検査後の疵手入れを連続して行った後、可視光ライトを照射して同一設備内で最終検査まで行えるので、再検査や再検査後の手入れ設備への搬送、最終検査への搬送が省略できるようになる。
【００１２】
また、本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法においては、磁粉探傷装置付ビレットグラインダーの検査部に、更にコーナ用のブラックライトを設置し、このコーナ用のブラックライトをも照射した状態で再検査するので、上部用ブラックライトの照明だけでは照度が低くて検査が困難であったコーナ部も、照度がアップして再検査の探傷精度が向上するようになる。
【００１３】
【実施例】
以下、本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法を図１〜図３に示す図面に基づいて説明する。
図１は本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法の概略流れを示したフロー図、図２は可視光ライトの設置状態を説明する図、図３はコーナ用ブラックライトの設置状態を説明する図である。
【００１４】
本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法は、図１に示したように、例えば自動磁粉探傷検査を行った後、この自動検査で探傷した割れ疵を例えばビレットグラインダーによって手入れする工程の後に次のような構成の設備を配置し、前記自動検査後の手入れ工程とライン化することにより行うものである。
【００１５】
すなわち、自動検査後の手入れ工程の後に設置する設備は、前記自動磁粉探傷検査装置において疵検査し、手入れした後の手入れ部分を引き続いて磁粉探傷する磁粉探傷装置と、この磁粉探傷装置によって再検査した後、疵手入れが不十分であった箇所が発見された場合に、当該箇所を連続して再手入れするビレットグラインダーを備えた磁粉探傷装置付ビレットグラインダーの検査部に、更に、図２に示したように、鋼片１の角部斜め上方から可視光を照射する可視光ライト２を設置した構成である。
【００１６】
そして、上記の構成の設備を用いて行う検査・手入れでは、自動検査後の手入れ工程後に引き続いて再検査と必要な手入れを連続して行った後に、この設備内で目視による開口疵やへげ状疵の最終検査を行うのである。
【００１７】
つまり、本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法によれば、自動検査後の手入れ工程後に、引き続いて再検査と必要な疵手入れが連続して行えるようになるのと共に、目視による最終検査が行えるようになって、再検査設備や再検査後の手入れ設備への搬送、最終検査への搬送が省略できるようになる。
【００１８】
ところで、通常の磁粉探傷では、ブラックライトの照射は、図３に示したように、鋼片１の上部からのみ行っていたが、このような上部用ブラックライト３ａのみによる照射では、鋼片１のコーナ部の照度が低下するので、コーナ部の探傷精度を保証することが困難である。
【００１９】
従って、本発明では、上部用ブラックライト３ａに加えて、図３に示したように、鋼片１の角部上方にもコーナ用ブラックライト３ｂを設置し、検査範囲内のコーナ部の照度を上げているので、当該コーナ部が見やすくなって、探傷精度が向上することになる。
【００２０】
本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法は上記したような構成であり、次に、本発明方法の効果を確認するために行った実施結果について、自動検査からこの自動検査の結果に基づく手入れまでをライン化したのみの従来方法と比較して下記表１に示す。なお、下記表１は、断面が１６０ｍｍ角で長さが１０．５ｍの鋼片（ＪＩＳ Ｓ４０Ｃ相当鋼) を使用して実施した結果である。
【００２１】
【表１】
上記表１より明らかなように、従来方法によれば、自動検査後の手入れ以降の各工程へはマグネット付のクレーンで搬送していたので、搬送に各６０秒ずつで計１８０秒必要であり、全体の検査・手入れには８７５秒必要であった。
【００２３】
これに対し、コーナ用のブラックライトを設置せずに磁粉探傷した比較方法や、コーナ用のブラックライトを設置して磁粉探傷した本発明方法では、何れの場合も、自動検査後の手入れ以降は全て同じ設備で作業が行なえるので、最終検査には従来方法よりも２０秒よけいに時間がかかったものの、搬送に要する１８０秒が全くかからず、全体としては７１５秒と、１６０秒間短縮できた。
【００２４】
また、上記の本発明方法の効果を確認するために、上記の検査・手入れを行った鋼片について磁粉探傷装置により再検査を実施したところ、コーナ用のブラックライトを設置しない比較方法では、コーナ部の照度が低いので、実質上は無害であるものの、コーナ部に深さが０．１ｍｍの疵が２箇所残存していたが、コーナ用のブラックライトを設置した本発明例では、コーナ部の照度が向上したことから、前記のような残存疵は見つからなかった。
【００２５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法によれば、疵の種類に応じて最適な検査を別々に連続して行うので、オペレータの熟練を必要とすることなく、高精度に鋼片の検査が行えると共に、再検査から再検査後の疵手入れを連続して行った後、可視光ライトを照射して同一設備内で最終検査を行うので、再検査や再検査後の手入れ設備への搬送、最終検査への搬送が省略できるようになり、作業効率の向上が図れる。
【００２６】
また、本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法では、磁粉探傷装置付ビレットグラインダーの検査部に、更にコーナ用のブラックライトを設置し、このコーナ用のブラックライトをも照射した状態で再検査するので、コーナ部の照度がアップして再検査の探傷精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法の概略流れを示したフロー図である。
【図２】可視光ライトの設置状態を説明する図である。
【図３】コーナ用ブラックライトの設置状態を説明する図である。
【図４】鋼片の検査・手入れにおける従来方法の概略流れを示したフロー図である。
【符号の説明】
１ 鋼片
２ 可視光ライト
３ａ 上部用ブラックライト
３ｂ コーナ用ブラックライト
Claims (1)
- 自動検査を行った後、この自動検査で探傷した疵を手入れする手入れ工程の後に、
前記手入れ部分の再検査を上部用ブラックライトとコーナ用ブラックライトで照射して行なう磁粉探傷装置と、再検査後の疵手入れを連続して行うビレットグラインダーを備えた磁粉探傷装置付ビレットグラインダーを配置して前記自動検査後の手入れ工程とライン化すると共に、この磁粉探傷装置付ビレットグラインダーの検査部に可視光ライトを設置し、
前記自動検査後の疵手入れの後に再検査と疵手入れを連続して行った後、引き続いて目視検査による最終検査を行うことを特徴とする鋼片の検査・手入れ方法。
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| JP2001330898A JP4017858B2 (ja) | 2001-10-29 | 2001-10-29 | 鋼片の検査・手入れ方法 |
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