JP3962546B2 - 測距装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、測距対象物までの距離を測定する測距装置に関し、特に、カメラ等に用いられるアクティブ型の測距装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、カメラ等に用いられるアクティブ型の測距装置としては、特開平10−274524号公報に記載されるように、測距対象物での反射光を受けてその測距対象物までの距離に応じた近側信号及び遠側信号を出力する受光手段を有し、その遠側信号と予め設定されるクランプ信号とを大小比較し、その比較により大きい信号と近側信号との比から出力比信号を算出し、その出力比信号の値に基づいて異なる変換式により出力比信号を距離信号に変換するものが知られている。
【0003】
この測距装置は、回路規模を大きくすることなく、かつ、短時間に従来の光量測距併用方式と同程度の測距結果を得て、測距対象物までの距離が大きくても一意的かつ安定に距離を求めようとするものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、この種の測距装置において、複数回の発光動作により出力比信号を繰り返し算出し、それらの出力比信号に応じて積分コンデンサに充電することが考えられる。この場合、この積分コンデンサの充電電圧をCPUにより処理するためにA/D変換を行い、そのA/D変換値に基づいて測距対象物までの距離を算出することができる。
【0005】
しかしながら、A/D変換の際にA/D分割数のあらさによる変換誤差が生ずるおそれがある。また、測距動作を複数回行い、その平均をとって測距結果とする測距装置では、A/D変換の際の変換誤差が重畳されて大きな誤差となるおそれがある。
【0006】
そこで本発明は、このような技術課題を解決するためになされたものであって、A/D変換の変換誤差の低減を図り測距精度の向上が図れる測距装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために、本発明に係る測距装置は、測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、測距対象物に投光された光束の反射光を受光し測距対象物までの距離に応じた出力信号を出力する受光手段と、受光手段の出力信号に応じて積分コンデンサに対し充電又は放電を行う積分手段と、投光手段による投光、受光手段による受光及び積分手段による積分を一定回数繰り返してなる測距動作の終了後、積分コンデンサの電圧をA/D変換する変換手段とを備えて構成され、測距動作の繰り返し回数を異ならせて測距動作を複数回繰り返して行い、各測距動作の終了後のA/D変換にて得られた各A/D変換値の平均値に基づいて距離を検出することを特徴とする。
【0008】
また本発明に係る測距装置は、各測距動作における投光手段による投光、受光手段による受光及び積分手段による積分の繰り返し回数が、A/D変換値が異なる値となるように設定されていることを特徴とする。
【0009】
更に本発明に係る測距装置は、各測距動作における投光手段による投光、受光手段による受光及び積分手段による積分の繰り返し回数は、A/D変換値における変換誤差が異なる値となるように設定されていることを特徴とする。
【0010】
これらの発明によれば、各測距動作における繰り返し回数を異ならせることにより、A/D変換の際に生ずる変換誤差がばらつくため、変換誤差が大きくなることを防止できる。従って、測距精度の向上が図れる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に基づき、本発明の種々の実施形態について説明する。尚、各図において同一要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。また、図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致していない。
【0012】
図1に本実施形態に係る測距装置の構成図を示す。
【0013】
図1に示すように、本実施形態に係る測距装置100には、CPU1が設けられている。CPU1は、測距装置100を備えるカメラ全体の制御を行うものであり、EEPROM2に予め記憶されているプログラム及びパラメータに基づいて測距装置100を含むカメラ全体の制御を行う。
【0014】
測距装置100には、IRED(赤外線発光ダイオード)4が設けられている。IRED4は、発光により測距対象物へ投光ビームを投光する投光手段として機能する。このIRED4は、ドライバ3を介してそれぞれCPU1に接続されており、CPU1に発光制御されている。
【0015】
ドライバ3は、カメラに内蔵されるバッテリ(図示なし)の電源供給を受けCPU1の制御信号に従って、IRED4のほか、AFIC10などのカメラの構成部品に電源供給を行うものであり、例えばドライバICなどが用いられる。
【0016】
また、測距装置100には、PSD(位置検出素子)5が設けられている。PSD5は、各IRED4から測距対象物に投光された投光ビームの各反射ビームを受光する受光手段として機能するものである。
【0017】
更に、測距装置100には、自動焦点用IC(以下「AFIC」という。)10が設けられている。AFIC10は、PSD5の出力信号を処理する信号処理手段として機能するものであり、このAFIC10の動作はCPU1により制御され、AFIC10から出力されるAF信号(積分信号)はCPU1に入力される。
【0018】
IRED4から赤外光である投光ビームが出射されると、その投光ビームはIRED4の前面に配置された投光レンズ(図示せず)を介して測距対象物に投光される。その投光ビームの一部が反射され、PSD5の前面に配置された受光レンズ(図示せず)を介してPSD5の受光面上の何れかの位置で受光される。この受光位置は、測距対象物までの距離に応じたものである。そして、PSD5は、その受光位置に応じた2つの信号I1及びI2を出力する。
【0019】
信号I1は、受光光量が一定であれば距離が近いほど大きな値となる近側信号であり、信号I2は、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値となる遠側信号である。信号I1及びI2の和は、PSD5が受光した反射光の光量を表す。近側信号I1はAFIC10のPSDN端子に入力され、遠側信号I2はAFIC10のPSDF端子に入力される。ただし、実際には外界条件により近側信号I1 及び遠側信号I2それぞれに定常光成分I0が付加された信号がAFIC10に入力される。
【0020】
AFIC10は、集積回路(IC)であって、第1信号処理回路11、第2信号処理回路12、演算回路14及び出力回路15を備えて構成されている。
【0021】
第1信号処理回路11は、PSD5から出力された信号I1+I0の入力を受け、その信号に含まれる定常光成分I0を除去して近側信号I1を出力する。また、第2信号処理回路12は、PSD5から出力された信号I2+I0の入力を受け、その信号に含まれる定常光成分I0を除去して遠側信号I2を出力する。
【0022】
演算回路14は、第1信号処理回路11から出力された近側信号I1と、第2信号処理回路12から出力された遠側信号I2との入力を受け、出力比(I1/(I1+I2))を演算し、その結果を表す出力比信号を出力する。なお、この出力比(I1/(I1+I2))は、PSD5の受光面上の受光位置、即ち測距対象物までの距離を表す。
【0023】
出力回路15は、この出力比信号の入力を受け、AFIC10のCINT端子に接続された積分コンデンサ6とともにその出力比を多数回積算する積分手段であり、これによりS/N比の改善が図られる。このとき、積分コンデンサ6への出力比の積算は、放電した状態の積分コンデンサ6に出力比信号に応じて徐々に充電していくことにより行われる。
【0024】
そして、その積算された出力比は、AF信号(積分信号)としてAFIC10のSOUT端子から出力される。CPU1は、AFIC10から出力されたAF信号の入力を受け、所定の演算を行ってAF信号を距離信号に変換し、その距離信号をレンズ駆動回路7に送出する。レンズ駆動回路7は、その距離信号に基づいて撮影レンズ8を合焦動作させる。
【0025】
図2にAFIC10の第1信号処理回路11、出力回路15の具体的な構成図を示す。なお、第2信号処理回路12も、第1信号処理回路11と同様な回路構成を有している。
【0026】
図2に示すように、第1信号処理回路11は、PSD5から出力された定常光成分I0を含む近側信号I1を入力し、定常光成分I0を除去して、近側信号I1を出力するものである。PSD5の近距離側端子から出力される電流(I1+I0)は、AFIC10のPSDN端子を経て、第1信号処理回路11のオペアンプ20の−入力端子に入力される。オペアンプ20の出力端子はトランジスタ21のベース端子に接続されており、トランジスタ21のコレクタ端子は、トランジスタ22のベース端子に接続されている。トランジスタ22のコレクタ端子には、オペアンプ23の−入力端子が接続され、このコレクタ端子には圧縮ダイオード24のカソード端子が接続されている。また、オペアンプ23の+入力端子には圧縮ダイオード25のカソード端子が接続されており、圧縮ダイオード24及び25のそれぞれのアノード端子には第1基準電源26が接続されている。
【0027】
また、AFIC10のCHF端子には、定常光除去コンデンサ27が外付けされている。この定常光除去コンデンサ27は、第1信号処理回路11内の定常光除去用トランジスタ28のベース端子に接続されている。定常光除去コンデンサ27とオペアンプ23は、スイッチ29を介して接続されており、このスイッチ29のオンオフはCPU1により制御される。定常光除去用トランジスタ28のコレクタ端子はオペアンプ20の−入力端子に接続されており、トランジスタ28のエミッタ端子は他端が接地された抵抗30に接続されている。
【0028】
一方、図2において、出力回路15は、AFIC10のCINT端子に外付けされた積分コンデンサ6を備えている。積分コンデンサ6は、スイッチ60を介して演算回路14の出力端子に接続され、スイッチ62を介して定電流源63に接続され、スイッチ64を介して接地されている。これらのスイッチ60、62及び64は、CPU1からの制御信号により制御される。スイッチ62がオンすることにより、定電流源63から積分コンデンサ6に充電が行える。一方、スイッチ64をオンすることにより、積分コンデンサ6を放電することができる。
【0029】
次に、本実施形態に係る測距装置の動作について説明する。
【0030】
図3に測距装置の動作に係るタイミングチャートを示し、図4に測距装置の動作時における積分コンデンサの充電電圧を示す。
【0031】
シャッタレリーズなどのカメラ操作により、測距ルーチンの制御処理が開始され、コントロール信号に従って制御処理が順次行われる。コントロール信号は、CPU1からAFIC10のCONT端子に入力される制御信号であり、図3のCONTに示すように、先行する六つのパルス(P1〜P6)と、それに次いで入力される積分動作のためのパルス(P10、P20)とによりなる信号である。
【0032】
AFIC10にドライバ3から電源供給が開始されると、その電源供給を受けて積分コンデンサ6の急速充電が行われる。そして、コントロール信号のパルスP1の立ち下がり時に積分コンデンサ6の急速充電を終了し、積分コンデンサ6の放電が行われる。
【0033】
そして、コントロール信号のパルスP3の立ち下がり時に補正積分が行われる。補正積分は、積分コンデンサ6に一定時間に一定電流を流すことにより行われる。
この補正積分は、コントロール信号のパルスP4の立ち下がりにより終了する。
【0034】
そして、積分コンデンサ6の充電電圧がA/D変換され、CPU1に読み込まれる。CPU1では、A/D変換された電圧値から積分コンデンサ6の容量を算出する。この実測の容量に基づいて測距演算結果に補正を行うことにより、測距精度の向上が図られる。そして、パルスP5の入力により積分コンデンサ6が放電される。
【0035】
そして、コントロール信号のパルスP10の立ち上がり時からパルスP20の立ち上がり時までの期間では定常光除去コンデンサ27の充放電がホールドされ、パルスP10の立ち下がり時からパルスP20の立ち上がり時までの期間ではスイッチ60がオンされ積分コンデンサ6へ出力比信号に応じた充電が行われる。
【0036】
このコントロール信号のパルスP10、P20の入力により、IRED4による投光が一回行われ、それに従い積分コンデンサ6に充電が行われる。そして、コントロール信号のパルスP10、P20が繰り返し入力されることにより、積分コンデンサ電圧が上昇していく。
【0037】
そして、図4に示すように、一定回数のIRED4の投光が行われると、積分コンデンサ6が一度Vccまで充電され、その後、放電された後、再度測距動作が行われる。ここでいう「測距動作」とは、IRED4の投光、PSD5の受光、積分コンデンサ6への充電の各工程を一定回数繰り返す動作をいう。この測距動作は、一回の測距ルーチンにおいて複数回行われ、例えば、3回行われる。
【0038】
このとき、各測距動作におけるIRED4の投光、PSD5の受光、積分コンデンサ6への充電の各工程の繰り返し回数は、異なる回数とされる。一回目の繰り返し回数をN1、二回目の繰り返し回数をN2、三回目の繰り返し回数をN3とすると、例えば、N1が107回、N2が110回、N3が113回に設定される。
【0039】
また、この繰り返し回数は、測距動作の終了後における積分コンデンサ6の充電電圧をA/D変換(アナログ・デジタル変換)して得られたA/D変換値が異なる値となるように設定するのが望ましい。
【0040】
更に、より望ましくは、繰り返し回数が、A/D変換値における変換誤差が異なる値となるように設定される。
【0041】
そして、各測距動作の終了ごとに、積分コンデンサ6の充電電圧がA/D変換され、CPU1に読み込まれる。全ての測距動作を終了したら、各測距動作における積分コンデンサ6の充電電圧のA/D変換値に基づいて測距対象物までの距離が算出される。なお、測距動作において、積分コンデンサ6の積分工程は、積分コンデンサ6に一定の電圧を予め充電しておき、出力比信号に応じた電圧を繰り返し放電するものであってもよい。
【0042】
次に、本実施形態に係る測距装置により実際に測距を行った測距結果について説明する。
【0043】
図5に本実施形態に係る測距装置の測距結果を示す。図6に各測距動作における繰り返し回数(発光回数)を同じとした場合の測距結果を示す。なお、図5、図6の測距は、測距装置から測距対象物までの距離を907mmとし、A/D分割数を256分割としてA/D変換を行った結果を示してある。なお、A/D変換結果(A/D変換値)は、積分コンデンサ6の電圧値が連続的な値をとるのに対し、離散的な値をとるものである。
【0044】
図5に示すように、本実施形態に係る測距装置では、1回目の測距動作の繰り返し回数を107回、2回目の測距動作の繰り返し回数を110回、3回目の測距動作の繰り返し回数を113回とし、各測距動作の繰り返し回数を異ならせて測距を行っている。
【0045】
このため、各測距動作の終了後における積分コンデンサ(積分C)の電圧値は、1回目が1469.54mV、2回目が1510.74mV、3回目が1551.94mVとなり、それぞれ異なる電圧値となっており、これら1〜3回目の電圧平均値は1510.74mVである。また、その電圧値のA/D変換値(A/D変換結果)も1回目〜3回目の各カウント値が異なるものとなっている。しかしながら、A/D変換値の平均値から逆算した積分コンデンサ6の電圧平均値は1510.81mVであり、実際の積分コンデンサの電圧平均値とほとんど誤差が生じていない。
【0046】
一方、図6に示すように、1回目から3回目までの測距動作の繰り返し回数を110回として測距した場合には、各測距動作の終了後における積分コンデンサ(積分C)の電圧値は、1回目から3回目まで全て1510.74mVである。また、その電圧値のA/D変換値(A/D変換結果)も1回目〜3回目の各カウント値が全て94となっている。このA/D変換値から逆算した積分コンデンサ6の電圧平均値は1505.47mVであり、実際の積分コンデンサの電圧平均値である1505.47mVと5.5mVの誤差を生じている。
【0047】
この誤差の原因は、図7に示すように、各測距動作における繰り返し回数(発光回数)を同じにした場合には、測距動作を繰り返してもA/D変換による誤差を低減できず、誤差がそのまま測距結果に上乗せされてしまうからである。
【0048】
一方、図8に本実施形態に係る測距装置のように、各測距動作における繰り返し回数を異ならせる場合には、A/D変換による誤差が適当にばらついて相殺され、その誤差が重畳して大きな誤差が生ずることが防止される。
【0049】
以上のように、本実施形態に係る測距装置によれば、各測距動作における繰り返し回数を異ならせることにより、A/D変換の際に生ずる変換誤差がばらつくため、変換誤差が大きくなることを防止できる。従って、測距精度の向上が図れる。
【0050】
なお、本実施形態において、測距動作を複数回行う場合、図9に示すように、一回目の測距動作における積分コンデンサ6の充電時間ta1に対し、二回目以降の測距動作における積分コンデンサ6の充電時間ta2、ta3を短くすることが望ましい。
【0051】
また、一回目の測距動作における補正積分の時間tb1に対し、二回目以降の測距動作における補正積分の時間tb2、tb3を短くすることが望ましい。
【0052】
このように、二回目以降の測距動作における積分コンデンサ6の充電時間及び補正積分の時間を短くすることにより、測距時間を短くしてタイムパララックスを低減させることができる。
【0053】
また、複数回連続して測距動作を行う場合には、補正積分は一回目の結果を共通して用いることができる。このため、二回目以降の測距動作における補正積分を省略してもよい。本実施形態に係る測距装置では、コントロール信号のパルス入力に従って制御処理が進行するため、二回目以降の測距動作では補正積分の時間を短くしている。
【0054】
また、一回目の測距動作における急速充電(図9中の時間ta1の充電)により、積分コンデンサ6の誘電体吸収は除去されている。このため、二回目以降の測距動作における急速充電を省略してもよい。本実施形態に係る測距装置では、コントロール信号のパルスに従ってシーケンスが進行するため、二回目以降の測距動作では急速充電の時間(ta2、ta3)を短くしている。
【0055】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、各測距動作における繰り返し回数を異ならせることにより、A/D変換の際に生ずる変換誤差がばらつくため、変換誤差が大きくなることを防止できる。従って、測距精度の向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る測距装置の構成図である。
【図2】図1の測距装置における信号処理回路等の説明図である。
【図3】図1の測距装置の動作に係るタイミングチャートである。
【図4】測距装置の動作時における積分コンデンサの電圧の説明図である。
【図5】本実施形態に係る測距装置における測距結果の説明図である。
【図6】各測距動作の繰り返し回数を同じにした場合の測距結果の説明図である。
【図7】各測距動作の繰り返し回数を同じにした場合の測距誤差の説明図である。
【図8】本実施形態に係る測距装置における測距誤差の説明図である。
【図9】本実施形態に係る測距装置の変形例の説明図である。
【符号の説明】
1…CPU(変換手段)、2…EEPROM、4…IRED(投光手段)、5…PSD(受光手段)、6…積分コンデンサ、10…AFIC、15…出力回路(積分手段)。
Claims (3)
- 測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、
前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を受光し前記測距対象物までの距離に応じた出力信号を出力する受光手段と、
前記受光手段の前記出力信号に応じて積分コンデンサに対し充電又は放電を行う積分手段と、
前記投光手段による投光、前記受光手段による受光及び前記積分手段による積分を一定回数繰り返す測距動作の終了後、前記積分コンデンサの電圧をA/D変換する変換手段と、
を備えて構成され、
前記測距動作の繰り返し回数を異ならせて前記測距動作を複数回繰り返して行い、前記各測距動作の終了後の前記A/D変換にて得られた各A/D変換値の平均値に基づいて前記距離を検出すること、
を特徴とする測距装置。 - 前記各測距動作における前記投光手段による投光、前記受光手段による受光及び前記積分手段による積分の繰り返し回数は、前記A/D変換値が異なる値となるように設定されていること、
を特徴とする請求項1に記載の測距装置。 - 前記各測距動作における前記投光手段による投光、前記受光手段による受光及び前記積分手段による積分の繰り返し回数は、前記A/D変換値における変換誤差が異なる値となるように設定されていること、
を特徴とする請求項1又は2に記載の測距装置。
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