JP3948553B2 - 外装体欠陥検査方法および外装体欠陥検査装置 - Google Patents

外装体欠陥検査方法および外装体欠陥検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3948553B2
JP3948553B2 JP2001402700A JP2001402700A JP3948553B2 JP 3948553 B2 JP3948553 B2 JP 3948553B2 JP 2001402700 A JP2001402700 A JP 2001402700A JP 2001402700 A JP2001402700 A JP 2001402700A JP 3948553 B2 JP3948553 B2 JP 3948553B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exterior body
subject
electrodes
defect inspection
axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001402700A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003185638A5 (ja
JP2003185638A (ja
Inventor
稔 堀越
葉月 和佐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electronics Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electronics Co Ltd filed Critical Nissin Electronics Co Ltd
Priority to JP2001402700A priority Critical patent/JP3948553B2/ja
Publication of JP2003185638A publication Critical patent/JP2003185638A/ja
Publication of JP2003185638A5 publication Critical patent/JP2003185638A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3948553B2 publication Critical patent/JP3948553B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は樹脂等の絶縁材料で形成され、内部に食品、薬品ならびに化粧品等の導電性物質が充填された各種形態の密封包装体の外装体のピンホール等の欠陥を検査する外装体欠陥検査方法および外装体欠陥検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のソーセージで代表される円形断面の長手包装品のピンホール検査機は、実用新案登録3044448号公報記載のように円形断面または、角断面のオリフィス状構成の陰陽電極を被検体が貫通通過する、いわゆる被検体の長手軸方向進行の際、電極により胴体表面に対し電圧を印加をする方式によりピンホールを検出する検査方式が取られていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
この方式のピンホール検査は、被検体の総長に対する検査機のこれに適合する検査空間を必要とするため、長尺ものの場合、検査装置はそれなりに長尺構成必要になり、一個当たりの検査時間も長さに比例してかかるため、非能率さは否めない。そこで、長尺ものの大量処理に適する小型の高能率の機械が求められていた。
【0004】
【問題を解決するための手段】
本発明は被検体をその軸芯方向に搬送せずに、回転させながら、軸芯に垂直な面に対して所定の傾斜角を成すように形成された間隙を隔ててそれぞれ配置された複数の異極性の電極に被検体をそれぞれ線接触さることにより、大幅な能率向上を図ったものである。
例えば、平面構成の陰陽両極を混在配設の平板電極上で、被検体がその軸芯と直交する方向に回転移動するように配設した平ベルトまたは、複数の丸ベルトにより構成した原動機駆動の摩擦ベルト車で被検体を上から軽く挟圧しつつ回動搬送させる。
陰陽両電極を相互に放電しない適宜な間隔を隔てて、被検体の外表面にそれぞれ線接触するように混在配置する。
【0005】
陰陽両電極は電源およびピンホールを検出する検出制御回路に接続されている。
被検体は回転移動する際に、その外装体は陰陽両電極と満遍なく接触するため、ピンホール等の外装体欠陥に閃絡電流が流れる。この閃絡電流は検出制御回路で捉えられ、設定した規定電流値と比較され、外装体の欠陥が判別される
被検体の直径が小径の場合は、胴体の直線部のみの検査で問題ないが、大径の場合は、両端の絞り結束部も検査を要するため、平板電極の上面と平行で、被検体の両側面の絞り部高さに突設し、被検体が回するに伴い結束部の全周に接触するように構成した、アモルファス微細金属繊維を束状にまとめて機体に固着した側面陽電極を配設しても良い。
また、上記と同一目的のため、平板電極を胴体の直線部と両端に結束絞り部の半径相当の反りを加え、断面として平状皿に類似の形状にまとめた、変形の平板電極とした。
【0006】
【発明の実施の形態】
【実施例】
以下、本発明の第1実施を図1から図2を参照して説明する。図1は本発明の第1実施例の側面図である。平板電極を構成する陰陽両電極2,3は接続回路43、電源41および検出制御回路42に接続されている。
【0007】
図2は図1の平面図であり、摩擦ベルト車の下面からみた両端に接続のベルトコンベヤおよび平板電極23を示す平板電極23は搬送始端部と終端部は、被検体10の直径Dの1回転の円周長Sの長さでW幅の平行方形部をもち、これら2方形を結んだW幅の角度θで傾斜して斜交する斜帯板と2方形とで陽電極2を構成する。
【0008】
上記2平行方形部(T,S)は、被検体10の両端部の電圧印加を確実にするため平行方形部を構成し、その長手寸法Sは、被検体10の1回転分すなわちπD以上とする。また斜帯板の角度θと幅Wならびに、平行方形部の幅Tは、被検体10が平板電極23上で規定回転数を回動する際、電圧印加の効率を考慮して、下記項の陰電極3と複合された状態での陰陽両電極の接触面積比が、常に最良値になる条件で、経験上、θ=tan−1T/S で決めるものとする。
【0009】
平板電極23の方形寸法のF,Lから陽電極2と隙間δを差し引いた残部の二つの梯形状板部を陰電極3とする。これらの両極の隙間δは、相互に規定電圧で放電しない間隔としている。また、平板電極の幅Fは、被検体10の直線部寸法Eにプラスαの余裕をもっている。
【0010】
摩擦ベルト車20は、ベルト下面と平板電極23との間隔(D)の調整装置、また、被検体10に対する挟圧力の調整装置なども必要とするが、図上ではごく常識程度のもので足りるため図示を省略した。
【0011】
図3は本発明の第2実施例に係る側面図であり、側面陽電極4を突設した一組一対の電極スタンド5が図示されている。図4は、同じく平面図で、側面陽電極4の長さは平板電極23の長さLと同長で、被検体10の回動に伴い側面絞り部の全周に十分接触できることが分かる。
また、図5は同、正面図であり、側面陽電極4が高さとして被検体10の金環部と外径の範囲に突設している状態を明示している。
【0012】
図6は本発明の第実施例に係る正面図であり、前項の側面陽電極4と同一機能の変形平板電極24の両端部が被検体10の絞り部と合致しており、回動搬送に伴い外皮全体に同時に電圧を印加することがわかる。変形平板電極を構成する陰陽両電極の詳細は、図示していないが図2の幅Fを拡幅して被検体10の絞り部に合致する幅とし、この拡幅部は陰陽両電極が混在することとする。
【0013】
次いで、上記各実施例の機能ならびに作用をまとめて説明する。図1の供給コンベヤ50で供給される被検体10は、摩擦ベルト車20と平板電極23の食い込み部に達すると摩擦ベルトの摩擦力により挟圧状態で平板電極上を回して進行し、所定の検査を経て排出コンベヤ60に排出される。
【0014】
ここで、検査の流れを時系列的にみると、被検体10が平板電極23上に侵入すると、ここでは、図2の図示のようなW幅の変形Z形の陽電極2と一対の梯形状の陰電極3により構成されており、ここを通過する被検体10は、搬送始端部の平行方形部で、図示の場合被検体10の右端部に陽電極により電圧を印加しながら、1回周分(S)回転進行し、次いで被検体10が角度θで斜交いに配設のW幅の斜帯に入ると、ここでも陽電極により電圧を印加され終端部の平行方形板部に至り、左端部の電圧印加を終わり全周の電圧印加によるピンホール検査を終了する。
【0015】
図1および2は小径の被検体で胴体直線部のみの検査で十分のものの基本方式であるが、直径が比較的大径で両端の絞り部も検査を必要とするものでは、図3から図6までの側面陽電極4または変形平板電極24により胴体直線部の検査と同時に検査を実施する。この場合の作用に付いては、被検体10の回動時の接触作用などのきわめて単純な動作のため詳細は省略する。
【0016】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明よれば、ソーセージに代表される円断面胴体被検体の検査の場合、胴体を平板電極に線接触して検査するため、査空間の無駄を省け、また、単体当たりの検査所要時間がくすむので検査処理能力を高めることができる。
また、極の構造で代表するように、他の方式に比較すれば構造も単純で処理能力の割に低コストでまとめることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第実施に係るピンホール検査機の電気系統図を併示した側面図である
【図2】 同、平面図である
【図3】 本発明の第2実施例に係るピンホール検査機の側面図である。
【図4】 同、平面図である。
【図5】 同、正面図である。
【図6】 本発明の第3実施例に係わるピンホール検査機の正面図である。
【符号の説明】
2 陽電極
3 陰電極
4 側面陽電極
5 電極スタンド
10 被検体
20 摩擦ベルト車
23 平板電極
24 変形平板電極
41 電源
42 検出制御回路
43 接続回路
50 供給コンベヤ
60 排出コンベヤ

Claims (4)

  1. 導電性内容物を絶縁性外装体で密封した略円筒形状を成す被検体の表面に異極性の電極を接触させ、各該電極間に高電圧を印加してそれらの間を流れる漏洩電流の大きさを調べて前記被検体の外装体の欠陥の有無を検査する外装体欠陥検査方法において、前記被検体をその軸芯の回りに回転させながら、その略円筒表面にそれぞれ前記軸芯に平行に線接触するように、かつ、前記軸芯に垂直な面に対して所定の傾斜角を成すように形成された所定間隔の間隙を隔ててそれぞれ配置された複数の異極性の前記電極を接触させる工程を含むことを特徴とする外装体欠陥検査方法。
  2. 導電性内容物を絶縁性外装体で密封した略円筒形状を成す被検体の表面に接触する異極性の電極と、各該電極間に高電圧を印加してそれらの間を流れる漏洩電流の大きさを調べて前記被検体の外装体の欠陥を検出する外装体欠陥検出手段とを具えた外装体欠陥検査装置において、前記被検体をその軸芯の回りに回転させる回転駆動手段を有し、前記被検体の略円筒表面にそれぞれ前記軸芯に平行に線接触しつつ移動し、かつ、互いの間に所定間隔の間隙を隔てて複数の異極性の前記電極が形成されており、該間隙を介して対向するそれぞれの端縁は前記軸芯に垂直な面に対して所定の傾斜角を成すように配置されたことを特徴とする外装体欠陥検査装置。
  3. 一方の極性の電極は隣り合うより面積の大きな他方の極性の電極と所定の間隙を隔てて挟まれるように設けられている部分を含むことを特徴とする請求項2記載の外装体欠陥検査装置。
  4. それぞれ所定の間隙を介して他方の極性の電極と隣り合う一方の極性の電極は被検体の軸芯に垂直な面に対して所定の傾斜角を成して斜行する斜行部と、該斜行部にそれぞれ延設され、前記軸芯に垂直な面に沿って所定の長さを有した並行部とを有したことを特徴とする請求項3記載の外装体欠陥検査装置。
JP2001402700A 2001-12-17 2001-12-17 外装体欠陥検査方法および外装体欠陥検査装置 Expired - Fee Related JP3948553B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001402700A JP3948553B2 (ja) 2001-12-17 2001-12-17 外装体欠陥検査方法および外装体欠陥検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001402700A JP3948553B2 (ja) 2001-12-17 2001-12-17 外装体欠陥検査方法および外装体欠陥検査装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2003185638A JP2003185638A (ja) 2003-07-03
JP2003185638A5 JP2003185638A5 (ja) 2005-10-20
JP3948553B2 true JP3948553B2 (ja) 2007-07-25

Family

ID=27605567

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001402700A Expired - Fee Related JP3948553B2 (ja) 2001-12-17 2001-12-17 外装体欠陥検査方法および外装体欠陥検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3948553B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102452488B (zh) * 2010-10-27 2013-07-24 中国科学院沈阳自动化研究所 一种火腿肠外观在线视觉检测设备
DE102012207736B4 (de) * 2012-05-09 2023-05-17 Syntegon Technology Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Fördern gefüllter Behälter und Prüfen derselben auf ausgetretene Flüssigkeit

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003185638A (ja) 2003-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3948553B2 (ja) 外装体欠陥検査方法および外装体欠陥検査装置
CN108511782A (zh) 一种铅酸电池合盖后的密封圈自动上装系统
KR850000284A (ko) 폐기 타이어의 절단장치
KR20150062335A (ko) 젤리롤 외경 자동 측정 장치 및 젤리롤 외경 자동 측정 방법
WO2018103764A1 (zh) 一种滚针检测装置及检测方法
JPS63250558A (ja) 磁粉探傷装置
CN205120898U (zh) 自动化耐压测试机
JPS59151007A (ja) 卵の自動搬送検査装置
JPH09222378A (ja) ピンホール検査装置
JP3775565B2 (ja) ピンホール検査機
WO2020199443A1 (zh) 高速无胶封尾装置及其工作方法
JP4435294B2 (ja) シール不良検査装置
CN111559665A (zh) 一种不干胶生产用检验装置
JP2837338B2 (ja) 密封包装体の漏れ検査装置
JP4505157B2 (ja) ピンホール検査機
CN216696617U (zh) 一种平面变压器模组综合功能测试机构
CN218950309U (zh) 一种圆锥滚子表面缺陷视觉检验装置
CN208937279U (zh) 一种联排放电检漏机
JP4825954B2 (ja) シール不良検査機
CN211169155U (zh) 铝箔纸过纸辊装置
JP4293894B2 (ja) 曲面摺接用電極、曲面摺接用電極と被摺動体との摺接方法および摺接装置
CN107185862A (zh) 基于色选机设备的输送装置
CN113960498A (zh) 一种平面变压器模组综合功能测试机构
JP3575758B2 (ja) ピンホール検査用接触型電極および装置
JP2003329650A (ja) 密封包装物の検査装置用電極

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040312

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041215

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041215

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20050128

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20050131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061114

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061225

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070403

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070411

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 3948553

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100427

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110427

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120427

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120427

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130427

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130427

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140427

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees