JP3947460B2 - Optical module - Google Patents

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JP3947460B2
JP3947460B2 JP2002350826A JP2002350826A JP3947460B2 JP 3947460 B2 JP3947460 B2 JP 3947460B2 JP 2002350826 A JP2002350826 A JP 2002350826A JP 2002350826 A JP2002350826 A JP 2002350826A JP 3947460 B2 JP3947460 B2 JP 3947460B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光素子と光伝送体を組み込む光モジュールに関する。さらに詳しくは、光素子と光伝送体との位置関係が精度よく調整され、かつ、信頼性の向上が図られた光モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】
たとえば幹線系伝送路における中継点に使われ、信号を増幅する役割を果たすEDFA(光ファイバアンプ)などに、励起光源として、半導体レーザチップと光ファイバを組み込んだ光モジュールが用いられている。この種の光モジュールは、図4に示されるような構造になっている。すなわち、筐体11内のペルチェ素子12上に基板1が配置されており、基板1には、サブマウント7を介して半導体レーザチップ21、光伝送体固定台3aを介して光ファイバ31、受光素子固定台6aを介して受光素子6が基板1に固着されている。そして、光伝送体固定台3aと光ファイバ31は、ハンダ材5を用いて固定されている(特許文献1参照)。一方、この種の光モジュールでは、半導体レーザチップ21の負荷を減らすため、半導体レーザチップ21と光ファイバ31との結合効率は80%以上にすることが求められており、それを達成するためには、光ファイバ31の位置精度は、±0.2μm程度以下にする必要がある。
【0003】
【特許文献1】
特開平7−333472号公報(図1)
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
上述の光モジュールでは、光ファイバの固着をハンダ付けにより行っているため、位置ずれが生じた場合に再度ハンダ材を溶融することによって補正することができるという利点があるが、ハンダ材を用いる弊害として、光ファイバ固着時にハンダ材を溶融する際の熱が半導体レーザチップに伝わることになり、半導体レーザチップの特性を劣化させる惧れがある。
【0005】
また、半導体レーザチップなどの光素子と、光ファイバなどの光伝送体との精密な位置合せの方法として、本発明者らはレーザマイクロメータにより固着の際のずれ量の絶対値を測定することにより、光素子と光伝送体との位置合せを簡単に精度良く行う方法を発明し、特願2002−320722により開示しているが、基板が透過性基板でない場合には、レーザマイクロメータから出射された平行光線が基板で反射され、受光部へ光が透過せず、基板と平行方向(X方向)のずれ量を測定することができず、完全な位置合せをすることができない。
【0006】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたもので、光素子を劣化させることなく光素子と光伝送体との位置関係が精度よく合せられ、結合効率が高く、かつ、光素子などの信頼性を高くした光モジュールを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明による光モジュールは、基板上に発光デバイスまたは受光デバイスからなる光素子が固着され、該光素子と光ファイバとを、該光ファイバの軸方向で対向させて結合させ、該光ファイバが前記基板上に固着される光モジュールであって、前記基板が、前記光ファイバの位置を検出するレーザマイクロメータのレーザ光に対して透過性でない材料からなり、前記光素子の固着部と前記光ファイバの固着部との間で、前記基板の表面上またはそれより上部を前記光ファイバが延伸している位置に、前記レーザマイクロメータのレーザ光を透過させ、前記光ファイバの位置を認識し得る貫通孔を有する基板からなっている。
【0009】
また、基板上に固着とは、基板上に直接固着する場合の他、固定台やサブマウントなどを介して基板上に固着する場合も含む意味である。さらに、固着部とは、基板と直接固着される場合には、基板側の固着部をいい、サブマウントや固定台などを介して基板と固着される場合には、サブマウントや固定台と基板との固着面の基板側の固着部をいう。
【0010】
このように、基板の光素子固着部と光伝送体固着部との間に貫通孔を設けることによって、ハンダ付けの際に発生する熱が、光素子側へ伝わりにくくなり、光素子の熱による劣化も防ぐことができる。すなわち、ハンダ付けの際に発生した熱は、貫通孔があるため、最短距離で光素子へ伝わらず光素子まで熱が到達するのに時間がかかり、光素子へ熱が伝わりにくくなる。一方、光素子が半導体レーザチップのように動作により熱が発生する場合は、サブマウントを介して直下の基板へ伝わり、ペルチェ素子などにより一定温度にされた基板で吸収され、光素子の熱を必要以上に高くする惧れはない。
【0011】
さらに、レーザマイクロメータのような光透過型の測定器などを用いて、光素子と光伝送体との位置合せを行う場合にも、貫通孔を通して光を透過させることができることになり、光素子と光伝送体とのY方向の位置関係のみならずX方向(図1参照)の位置関係を精度良く合せ、位置精度がよくなる。すなわち、ハンダ材で光伝送体を固着する前にレーザマイクロメータを用いて貫通孔に対向するようにレーザマイクロメータを設置することができ、レーザマイクロメータ出射部から出射された平行光線が貫通孔を透過し、レーザマイクロメータ受光部へ到達できることになり、X方向の最適位置も測定することができ、ハンダ材により固着後に、再度レーザマイクロメータを用いてX方向の位置を測定し、X方向のずれ量を検出して補正を行うことができるようになり、位置精度が高くなり、結合効率が向上する。
【0012】
【発明の実施の形態】
つぎに、本発明の光モジュールを図1(a)〜(b)を参照しながら説明する。本発明による光モジュールは、図1(a)にその一実施形態である光モジュールの説明図が示されるように、たとえば基板1上に光素子2と光伝送体固定台3aとが固着され、光素子2と光伝送体3とを結合させ光伝送体3が光伝送体固定台3aに固着されている。本発明では、基板1が、光素子固着部16と光伝送体固着部17との間に貫通孔13を有する基板からなっていることに特徴がある。
【0013】
基板1は、光素子固着部16と光伝送体固着部17との間に貫通孔13を有する絶縁性基板からなっている。なお、図1に示される例では、光素子2は、サブマウント7を介して、光伝送体3は光伝送体固定台3aを介して固着されている。また、基板1は、AlNやSiCなどの熱伝導率のよい基板からなることが放熱性の観点から好ましいが、これに限定されるものではなく、熱伝導率の劣るAl23、石英基板やガラスセラミックス基板などでもよい。また、基板の大きさは、たとえば、X方向は6mm程度、Y方向は1mm程度、Z方向は8mm程度の大きさからなっているが、この大きさに限定されない。ここにZ方向とは、光素子2と光伝送体3を結ぶ光軸方向をいい、Y方向とは、光素子2が固着された基板1の面と垂直方向をいい、X方向とは、Y方向およびZ方向と垂直方向をいう(図1参照)。
【0014】
貫通孔13は、光素子固着部16と光伝送体固着部17の間に基板1を貫通するように形成されている。このように形成されることにより、たとえば、光伝送体3を光伝送体固定台3aにハンダ付けにより固着する際、熱が光素子2に伝わるのに時間がかかり、光素子2の温度上昇を防ぐことができ、光素子の特性を劣化させない。また、このような観点からも、貫通孔13の大きさは、大きい方がハンダ付けの際の熱が光素子2側へさらに伝わりにくくなる点でも好ましいが、基板1の強度との関係で0.5mm程度の幅(W)で基板1の幅の50%程度の長さ(L)以下に形成される。そして、貫通孔13は、後述するように、X方向の位置合せの際、レーザマイクロメータ出射部10aから出射される平行光線を透過させることが好ましく、平行光線を透過させることができる幅(W)を有し、長さ(L)は、ビームの幅よりも小さくなるように形成することが位置合せの際、基板1の貫通孔13の端部を基準として、光伝送体3の位置を相対的に測定できる点で望ましい。
【0015】
光伝送体固定台3aは、ガラスセラミックス、ムライト(Al23とMgOを混合したもの)、石英など放熱の悪いものを用いることが望ましい。すなわち、後述するように、光ファイバ31などの光伝送体3を用いて光伝送体固定台3aにハンダ材5で固着する場合、ハンダ材5を溶融すると共に光伝送体3を固着するためにホットピンセットなどを用いて加熱することになるが、光伝送体固定台3aおよび基板1を介して、光素子2にも熱が伝わることになる。そのため、光素子2の特性が劣化する可能性があり、それを防ぐために光伝送体固定台3aに放熱の悪い材料を用いることで、ハンダ材5を溶融する際の熱が光素子2側へ伝わりにくくすることができる。
【0016】
光素子2は、半導体レーザや発光ダイオードなどの発光デバイス、フォトダイオードなどの受光デバイスの他、発光デバイスや受光デバイスと結合されるレンズまたはこれらの結合体や光導波路などの光伝送体と正確な位置合せをして組み立てるものをいい、たとえば、図1(a)に示される例では、光素子2として半導体レーザチップ21を用いており、EDFAの励起光源としては、980nm帯InGaAs系の高出力半導体レーザが用いられる。
【0017】
光素子2は、一般的にはAlNなどの熱伝導性のよいサブマウント7上に別途光素子2を図示しないハンダ材でダイボンディングされ、光素子2がダイボンディングされたサブマウント7が基板1上の予め決められた位置にAu-Sn合金などの図示しないハンダ材を用いて固着されており、この場合の光素子固着部16は、サブマウント7と基板1の間の基板1側の固着部となる。なお、基板1上にサブマウント7を先に固着しておき、その上に光素子2をダイボンディングすることも可能であり、サブマウント7を介することなく、直接光素子2が基板1上に固着されてもよく、この場合には光素子2と基板1との間の、基板1側の固着部となる。
【0018】
また、光素子2の他の例として、たとえば図2(a)に示されるように、半導体レーザチップ21とレンズ22とを一体的に結合した結合体であってもよい。結合体は、半導体レーザチップ21とレンズ22がサブマウント7上に形成されており、レンズ22は、半導体レーザチップ21から出射される光を集光し平行光線とし、光伝送体3、たとえば後述の光学部品組立体32へ伝送させるためのものである。具体的には、図2(a)に示されるようにサブマウント7上に、YAG溶接などによりレンズブラケット22aなどが形成され、その後、半導体レーザチップ21が固着されると共に、レンズブラケット22aにレンズ22が接着剤などで固着されることにより、形成される。なお、レンズが直接サブマウント7上に設けられていてもよい。さらに、光素子2がこれら以外のもの、たとえばキャンパッケージの半導体レーザ、光導波路、複数のレンズなどと半導体レーザチップ21などの発光デバイスを組み合せた結合体などでもよく、さらに、発光デバイスの代わりにフォトダイオードなどの受光デバイスでもよい。
【0019】
サブマウント7は、熱伝導性のよいものが光素子2の駆動時に光素子2から発せられる熱を基板1側へ放熱しやすいため好ましいが、これに限定されることはなく、たとえばシリコン基板上に酸化膜が形成されたサブマウントであってもよい。
【0020】
また、サブマウント7表面、または基板1上には受光素子6が設けられている。受光素子6は、サブマウント7に内蔵されていてもよいし、基板1上のいずれかの場所に受光素子固定台6aを介して個別に設けられていてもよい。すなわち、光素子2から出射される光の一部を受光できる位置に設置されていればよい。受光素子6は光素子2から出射される光を受けることで、光素子2の光出力をモニターし、光出力を一定に保つようにオートパワーコントロール駆動(以下、APC駆動という)を行うためのものであり、SiやInGaAsなどからなるフォトダイオードが一般に用いられる。
【0021】
光伝送体3は、光ファイバ31などの光伝送路の他、光伝送路と結合されるアイソレータや集光レンズなどからなる光学部品組立体32をいい、図1に示される例では、石英からなる光ファイバ31を用いており、光伝送体固定台3a上に載置され、かつ、その一端部が貫通孔13上を通過し、光素子2と後述する結合方法によって結合されるように固定されており、この場合の光伝送体固着部17は、光伝送体固定台3aと基板1との間の、基板1側の固着部をいう。また、光伝送体固定台3aを設けることなく、直接基板1に光伝送体3が固定されてもよく、この場合には、光伝送体3と基板1との間の、基板1側の固着部をいう。直接光ファイバ31を用いる場合、先端くさび形レンズドファイバを用いることが、さらに結合効率を上げられる点で望ましい。すなわち、先端くさび形レンズドファイバは、Y方向が球面レンズとなっており、たとえば光素子2として半導体レーザチップ21を用いている場合、一般的にY方向の光放射角が大きくなるが、このファイバを用いれば結合効率は落ちない。
【0022】
さらに、光伝送体3としてメッキ付きの光ファイバを用いる場合には、光ファイバ31を事前に加熱することが位置精度をあげるためにも望ましい。すなわち、たとえばNi/Auメッキされた光ファイバ31は、メッキによって応力がかかっており、熱を与えると光ファイバ31のY方向の位置が10μm程度変形することを本発明者らは見出し、一度光ファイバ31を熱することでメッキの応力が緩和され、再度熱してもほとんど変動しないことをさらに見出した。そのため、メッキ付きの光ファイバ31を用いる場合、たとえば150〜400℃で10〜60秒程度、好ましくは300℃で30秒程度の加熱処理を予め行うことが位置合せ時のずれ量をさらに減らすことができる点で望ましい。
【0023】
光伝送体3の他の例として、光ファイバに接続する光学部品組立体32であってもよい。たとえば、図2(b)に示されるように、光学部品組立体32は、コリメートレンズ32a、アイソレータ32b、集光レンズ32c、スリーブ32d、フェルール32eなどを筒32f内に組合せたものからなり、光素子2から出射される光を集光し、光学部品組立体32の一端部に結合される光ファイバ31などへ伝送させるためのものである。なお、光学部品組立体32は、上述の構成以外の構成でもよい。すなわち、半導体レーザチップ21から出射される光を伝送する構成となっており、レーザマイクロメータ10の光を透過または屈折させない構成となっているものであればよく、たとえば、BK7(ボロンシリケートクラウンガラス)や石英などからなるロッドレンズなどの単一のレンズのようなものでも、レーザマイクロメータ10の光を透過または屈折させない構成となっていればよい。
【0024】
ペルチェ素子12は、光素子2を駆動する際に発生する熱を吸収することにより基板1上の温度コントロールを行うものであり、一般的にはp形とn形の熱電素子を複数個、電気的に直列に配置され、その両側をセラミック基板で挟み込んだ構造からなり、基板1上のサーミスタ15でモニターされた温度に基づいて制御されるものである。また、サーミスタ15とは、熱に敏感な抵抗体であり、MoやCoを主体とする遷移金属酸化物を焼結した半導体の感熱素子であり、サーミスタ15で検出された温度をモニタしてペルチェ素子12にフィードバックすることにより基板1の温度を一定に制御するものである。
【0025】
つぎに、貫通孔13を有する基板1を用いた場合のX方向の位置合せ、および本発明の光モジュールの製法について図1(b)を参照しながら説明する。
【0026】
図1(b)に示されるように、半導体レーザチップ21などが組み立てられた基板1をたとえばペルチェ素子などの温度一定の作業台14上に載置し、光ファイバ31からなる光伝送体3の一端部を筐体11の側壁の貫通孔を通して半導体レーザチップ21と対向するようにXYZ方向に0.1μm以下の微調整が可能なXYZステージなどの駆動機構8により固定する。なお、作業台14にも、基板1の貫通孔13に対応する部分に貫通孔が設けられている。そして、半導体レーザチップ21を駆動すると共に、光ファイバ31を駆動機構8により移動させて、半導体レーザチップ21との結合が最適位置になるように位置調整をする。位置調整は、光ファイバ31を光伝送体固定台3a上に配設し、半導体レーザチップ21をAPC駆動する。一方、光ファイバ31の他端部側に図示しない光出力測定器を設置しておき、光ファイバ31内に光を入射させ、光ファイバ31より伝達される出力をモニターし、最適位置になるよう光ファイバ31のXY方向を駆動機構8により調整することにより行う。なお、Z方向は、位置ずれに対して鈍感であるため、駆動機構8を用いるまでもなく調整可能であるが、駆動機構8を用いて調整してもよい。
【0027】
そして、その最適位置に合せた状態でレーザマイクロメータ10(10a、10b、10c)を用いて、X方向の絶対位置を測定する。なお、Y方向についても同様にレーザマイクロメータ10(10d、10e、10c)を用いて測定することができる。レーザマイクロメータ10(10a〜10e)とは、高精度寸法管理を可能とする非接触の高精度レーザ測長センサであり、レーザ発振器から出射されたレーザビームを高速回転しているポリゴンミラーで反射させ、コリメータレンズにより平行光線とする出射部10a、10d、平行光線を集光レンズにより受光素子に集める受光部10b、10eおよび受光部での受けた光を寸法に変換し表示する処理制御部10cからなり、出射部10a、10dから出射された平行光線が測定物を高速で走査し、受光部10b、10eで受光し、測定物に遮られることによる光の明暗に応じて、それを処理制御部10cで寸法として表示するものであり、分解能は、0.02μm程度であり、測定精度は、0.1μm程度を有するものである。
【0028】
このレーザマイクロメータ10を用いることにより、ハンダ材5で固着後のずれ量の絶対値を検出することができ、補正の際に光素子2との相対位置を再度検出することなく、正確に位置合せをすることができる。たとえば、図1(b)に示されるように、X方向の測定では、貫通孔13に対向するようにY方向にレーザマイクロメータ10の出射部10aと受光部10bとを設置し、出射部10aから出射された平行光線が貫通孔13を透過し、受光部10bへ到達し、処理制御部10cでX方向の寸法に変換する。同様にY方向については、レーザマイクロメータ10(10d、10e、10c)をX方向に設置し、Y方向の寸法に変換する。さらにX方向の絶対位置の測定については、たとえば図3(a)に基板断面図(図1(b)のA−A方向断面図で、レーザマイクロメータ10a、10bを主体とした図)が示されるように、基板の貫通孔の幅(L)よりも幅の広い平行光線を出射部10aから出射し、受光部10bにおいては、基板1の影になる箇所、および光ファイバ31の影になる箇所は受光しないことになるため、貫通孔13の端を基準として、光ファイバ31の相対的位置(図3(a)の距離B)の測定が可能となる。なお、レーザマイクロメータ10のビーム幅の端部を基準とすることも可能であるが、レーザマイクロメータ10が少しでも動くと、測定値にくるいが生じるため、上述の貫通孔の端部を基準とした位置(B)を測定するのが好ましい。なお、Y方向についても、図3(b)の基板断面図(図1(b)のA−A方向断面図でレーザマイクロメータ10d、10eを主体とした図)に示されるように、基板1の表面を基準として距離Cを測定することができる。
【0029】
つぎに、位置調整された光ファイバ31を光伝送体固定台3aにハンダ材5により固着する。ハンダ材5による固着は、光ファイバ31の周りにハンダ材5をセットし、ホットピンセットなどを用いてたとえば300℃程度で加熱処理を行うことによってハンダ材5を溶融し、その後冷却することにより行う。なお、ハンダ材5は、図1(a)〜(b)に示される例では、Au-Sn合金(Au80at%含有)を用いているが、これらに限定されるものではなく、Au-Sn合金のAu含有率を変えたものやSn-Pb合金やInなども用いることができる。このようにハンダ材5を用いることにより、YAGレーザを用いた溶接による固着とは異なり、簡単に固着を解除でき、再度固着することができる。すなわち、YAGレーザを用いて固着してしまうと位置ずれが生じている場合の補正が難しく、また、精度も悪く、再調整にも限界があるのに対して、ハンダ材5を用いれば何度でも補正できる。
【0030】
つぎに、ハンダ材5によって固着した後、光ファイバ31のX方向の位置をレーザマイクロメータ10により測定して最適位置として記憶されている値とのずれ量Δdを検出する。そして、光ファイバ31の固着部を溶融して検出されたX方向のずれ量Δdだけ、駆動機構8により最適位置から光ファイバ31をずらせて再度固着する。再固着によっても、設定位置よりΔd近傍のずれが発生するため、予めΔdだけずらせて設定しておくことにより、最適位置付近で光ファイバ31が固着されることになる。この再固着後の光ファイバ31のX方向の位置を測定し、最適位置からのずれ量が大きい場合は、再度同じ調整を繰り返す。熱履歴の再現性がない(同じ温度を印加してもずれ量が異なる)場合に、調整後でもずれ量が発生する場合があるからである。なお、Y方向の位置合せについても同様に行う。そして、最後に光ファイバ31、半導体レーザチップ21を搭載した基板1を筐体11の中のペルチェ素子12上に組み込み、窒素雰囲気中で筐体11に蓋を閉め密封する。
【0031】
このように従来なら位置合せを行っても、実際には、位置合せ後に行う光ファイバなどの光伝送体を固着する時に位置ずれを生じてしまうため、それを補正する必要があり、YAGレーザによる溶接で光ファイバなどを固着する場合には、その複数回の補正が困難であり、一方、補正を可能とすべく、ハンダ材を用いて固着する場合にも、ハンダ材が溶融する際に、加熱処理などにより位置ずれしてしまい、光ファイバなどのずれの方向およびその絶対量が分からないため、完全な位置合せを行うことができないのに対して、本発明によれば、基板に貫通孔が設けられているため、光ファイバ31などの光伝送体3のX方向の位置調整にも、レーザマイクロメータを用いて、最初に最適な位置を決定し、ハンダ材で固着後、最適位置からのずれ量を検出することができる。すなわち、光伝送体と光素子との間に貫通孔を設けた基板を用いることにより、図1(b)に示されるようにレーザマイクロメータ出射部10aから出射された光は、光伝送体3の位置を認識しながら、貫通孔13を透過してレーザマイクロメータ受光部10bへ到達することになり、X方向の最適位置およびそのずれ量を正確に測定することができ、光素子と光伝送体との結合効率を高めることができる。
【0032】
さらに、この貫通孔が設けられることにより、ハンダ付けの際の熱は光素子側に伝達しづらく、動作時における光素子から発生する熱は基板直下に設けられるペルチェ素子などにより吸収されて温度上昇を防止することができる。
【0033】
前述の各例では、光素子2として半導体レーザチップ21、光伝送体3として光ファイバ31を用いた例であるが、これらに限定されることはなく、上述のその他の光素子や光伝送体を用いた場合でも同様に、熱による光素子の劣化を防ぎ、かつ、正確な位置合せを行うことができる。
【0034】
【発明の効果】
本発明によれば、基板が、光素子固着部と光伝送体固着部との間に貫通孔を有する基板からなることによって、ハンダ付けの際に発生する熱による光素子を劣化させることがなく、また組立の際にY方向のみならずX方向についても光素子と光伝送体との位置精度を少ない工数で正確に合せることができるため、非常に高特性で信頼性の高いが光モジュールを安価に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光モジュールの筐体内部、およびX方向ならびにY方向の位置合せを説明する斜視説明図である。
【図2】本発明による他の実施形態に係る光素子および光伝送体を説明する側面説明図である。
【図3】本発明による基板を用いた光伝送体の位置合せ方法を説明する断面説明図である。
【図4】従来の光モジュールの筐体内部の斜視説明図である。
【符号の説明】
1 基板
2 光素子
3 光伝送体
13 貫通孔
16 光素子固着部
17 光伝送体固着部
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical module incorporating an optical element and an optical transmission body. More specifically, the present invention relates to an optical module in which the positional relationship between the optical element and the optical transmission body is adjusted with high accuracy and the reliability is improved.
[0002]
[Prior art]
For example, an optical module in which a semiconductor laser chip and an optical fiber are incorporated as a pumping light source is used in an EDFA (optical fiber amplifier) used as a relay point in a trunk transmission line and playing a role of signals. This type of optical module has a structure as shown in FIG. That is, the substrate 1 is disposed on the Peltier element 12 in the housing 11, and the substrate 1 is provided with the semiconductor laser chip 21 via the submount 7, the optical fiber 31 via the optical transmitter fixing base 3 a, and the light reception. The light receiving element 6 is fixed to the substrate 1 through the element fixing base 6a. And the optical transmission body fixing base 3a and the optical fiber 31 are being fixed using the solder material 5 (refer patent document 1). On the other hand, in this type of optical module, in order to reduce the load on the semiconductor laser chip 21, the coupling efficiency between the semiconductor laser chip 21 and the optical fiber 31 is required to be 80% or more. The positional accuracy of the optical fiber 31 needs to be about ± 0.2 μm or less.
[0003]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Laid-Open No. 7-333472 (FIG. 1)
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
In the above-described optical module, since the optical fiber is fixed by soldering, there is an advantage that when the positional deviation occurs, it can be corrected by melting the solder material again. As described above, heat at the time of melting the solder material when the optical fiber is fixed is transferred to the semiconductor laser chip, which may deteriorate the characteristics of the semiconductor laser chip.
[0005]
In addition, as a method of precise alignment between an optical element such as a semiconductor laser chip and an optical transmission body such as an optical fiber, the present inventors measure an absolute value of a deviation amount at the time of fixing with a laser micrometer. Thus, a method for easily and accurately aligning an optical element and an optical transmission body has been invented and disclosed in Japanese Patent Application No. 2002-320722. If the substrate is not a transmissive substrate, it is emitted from a laser micrometer. The parallel light beam reflected by the substrate is not transmitted to the light receiving portion, the amount of deviation in the direction parallel to the substrate (X direction) cannot be measured, and perfect alignment cannot be performed.
[0006]
The present invention has been made in view of such circumstances, and the positional relationship between the optical element and the optical transmission body can be accurately adjusted without degrading the optical element, the coupling efficiency is high, and the optical element or the like can be used. An object is to provide an optical module with high reliability.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In the optical module according to the present invention, an optical element composed of a light emitting device or a light receiving device is fixed on a substrate, the optical element and the optical fiber are coupled to face each other in the axial direction of the optical fiber, and the optical fiber is An optical module fixed on a substrate, wherein the substrate is made of a material that is not transmissive to laser light of a laser micrometer that detects the position of the optical fiber, and the optical element fixing portion and the light The position of the optical fiber can be recognized by transmitting the laser light of the laser micrometer to the position where the optical fiber extends on or above the surface of the substrate between the fixed portion of the fiber. It consists of a substrate having a through hole.
[0009]
Further, the term “fixed on the substrate” means not only the case of directly fixing on the substrate but also the case of fixing on the substrate via a fixing base or a submount. Furthermore, the fixed portion refers to a fixed portion on the substrate side when directly fixed to the substrate, and when fixed to the substrate via a submount or a fixing base, the submount or the fixing base and the substrate. And a fixing portion on the substrate side of the fixing surface.
[0010]
As described above, by providing the through hole between the optical element fixing portion and the optical transmission member fixing portion of the substrate, the heat generated during soldering is hardly transmitted to the optical element side. Deterioration can also be prevented. That is, since heat generated during soldering has a through hole, it takes time for heat to reach the optical element without being transmitted to the optical element at the shortest distance, making it difficult for heat to be transmitted to the optical element. On the other hand, when heat is generated by the operation of an optical element like a semiconductor laser chip, it is transferred to the substrate directly below through the submount and absorbed by the substrate at a constant temperature by a Peltier element, etc., and the heat of the optical element is absorbed. There is no danger of raising it higher than necessary.
[0011]
Furthermore, even when the optical element and the optical transmission body are aligned using a light transmission type measuring instrument such as a laser micrometer, the light can be transmitted through the through-hole. The positional relationship in the X direction (see FIG. 1) as well as the positional relationship in the Y direction between the optical transmission body and the optical transmission body is accurately matched, and the positional accuracy improves. That is, the laser micrometer can be installed so as to face the through hole using a laser micrometer before the optical transmission body is fixed with the solder material, and the parallel light beam emitted from the laser micrometer emitting portion is passed through the through hole. The X-direction optimum position can be measured, and after fixing with a solder material, the X-direction position is again measured using the laser micrometer, and the X-direction is reached. It is possible to detect the amount of deviation and correct the position, thereby improving the positional accuracy and improving the coupling efficiency.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, the optical module of the present invention will be described with reference to FIGS. In the optical module according to the present invention, as shown in FIG. 1 (a), which is an explanatory diagram of an optical module according to one embodiment, for example, an optical element 2 and an optical transmitter fixing base 3a are fixed on a substrate 1. The optical element 2 and the optical transmission body 3 are coupled, and the optical transmission body 3 is fixed to the optical transmission body fixing base 3a. The present invention is characterized in that the substrate 1 is composed of a substrate having a through hole 13 between the optical element fixing portion 16 and the optical transmission member fixing portion 17.
[0013]
The substrate 1 is made of an insulating substrate having a through hole 13 between the optical element fixing portion 16 and the optical transmission member fixing portion 17. In the example shown in FIG. 1, the optical element 2 is fixed via a submount 7 and the optical transmission body 3 is fixed via an optical transmission body fixing base 3a. Further, the substrate 1 is preferably made of a substrate having good thermal conductivity such as AlN or SiC from the viewpoint of heat dissipation, but is not limited to this, and Al 2 O 3 or quartz substrate having poor thermal conductivity. Or a glass ceramic substrate. The size of the substrate is, for example, about 6 mm in the X direction, about 1 mm in the Y direction, and about 8 mm in the Z direction, but is not limited to this size. Here, the Z direction refers to the optical axis direction connecting the optical element 2 and the optical transmission body 3, the Y direction refers to a direction perpendicular to the surface of the substrate 1 to which the optical element 2 is fixed, and the X direction refers to A direction perpendicular to the Y direction and the Z direction (refer to FIG. 1).
[0014]
The through hole 13 is formed between the optical element fixing portion 16 and the optical transmission member fixing portion 17 so as to penetrate the substrate 1. By being formed in this way, for example, when the optical transmission body 3 is fixed to the optical transmission body fixing base 3a by soldering, it takes time for heat to be transmitted to the optical element 2, and the temperature of the optical element 2 is increased. This can be prevented and the characteristics of the optical element are not deteriorated. Further, from this point of view, it is preferable that the size of the through-hole 13 is larger in that the heat at the time of soldering is more difficult to be transmitted to the optical element 2 side, but it is 0 in relation to the strength of the substrate 1. The width (W) is about 5 mm and the length (L) is about 50% or less of the width of the substrate 1. Further, as will be described later, the through-hole 13 preferably transmits the parallel light beam emitted from the laser micrometer emission unit 10a during the alignment in the X direction, and has a width (W) capable of transmitting the parallel light beam. ) And the length (L) is smaller than the width of the beam, the position of the optical transmission body 3 is determined with reference to the end of the through hole 13 of the substrate 1 at the time of alignment. It is desirable in that it can be measured relatively.
[0015]
It is desirable that the light transmission base fixing base 3a be made of glass ceramics, mullite (a mixture of Al 2 O 3 and MgO), quartz or the like with poor heat dissipation. That is, as will be described later, when the optical transmission body 3 such as the optical fiber 31 is used to fix the optical transmission body fixing base 3a with the solder material 5, the solder material 5 is melted and the optical transmission body 3 is fixed. Heating is performed using hot tweezers or the like, but heat is also transmitted to the optical element 2 through the optical transmission body fixing base 3 a and the substrate 1. For this reason, there is a possibility that the characteristics of the optical element 2 may be deteriorated, and in order to prevent this, the heat at the time of melting the solder material 5 is transferred to the optical element 2 side by using a material with poor heat dissipation for the optical transmission body fixing base 3a. It can be difficult to communicate.
[0016]
The optical element 2 is not only a light emitting device such as a semiconductor laser or a light emitting diode, a light receiving device such as a photodiode, but also a lens coupled with the light emitting device or the light receiving device or an optical transmission body such as a combination of these or an optical waveguide. For example, in the example shown in FIG. 1A, a semiconductor laser chip 21 is used as the optical element 2, and an EDFA excitation light source is a high output power of 980 nm band InGaAs. A semiconductor laser is used.
[0017]
The optical element 2 is generally die-bonded with a solder material (not shown) separately on the submount 7 having good thermal conductivity such as AlN, and the submount 7 in which the optical element 2 is die-bonded is the substrate 1. The optical element fixing part 16 in this case is fixed to the substrate 1 side between the submount 7 and the substrate 1 by using a solder material (not shown) such as an Au—Sn alloy. Part. It is also possible to first fix the submount 7 on the substrate 1 and then die-bond the optical element 2 thereon, and the optical element 2 can be directly mounted on the substrate 1 without using the submount 7. In this case, it is a fixing portion on the substrate 1 side between the optical element 2 and the substrate 1.
[0018]
Further, as another example of the optical element 2, for example, as shown in FIG. 2A, a combined body in which the semiconductor laser chip 21 and the lens 22 are integrally coupled may be used. The combined body includes a semiconductor laser chip 21 and a lens 22 formed on the submount 7. The lens 22 condenses the light emitted from the semiconductor laser chip 21 into a parallel beam, and the optical transmission body 3, for example, described later. This is for transmission to the optical component assembly 32. Specifically, as shown in FIG. 2A, a lens bracket 22a and the like are formed on the submount 7 by YAG welding or the like, and then the semiconductor laser chip 21 is fixed, and the lens is attached to the lens bracket 22a. It is formed by fixing 22 with an adhesive or the like. A lens may be provided directly on the submount 7. Further, the optical element 2 may be other than these, for example, a can packaged semiconductor laser, an optical waveguide, a combination of a plurality of lenses and a light emitting device such as the semiconductor laser chip 21, etc. It may be a light receiving device such as a photodiode.
[0019]
The submount 7 is preferable because it has good thermal conductivity because it easily dissipates heat generated from the optical element 2 to the substrate 1 side when the optical element 2 is driven, but is not limited to this. A submount in which an oxide film is formed may be used.
[0020]
A light receiving element 6 is provided on the surface of the submount 7 or on the substrate 1. The light receiving element 6 may be built in the submount 7 or may be individually provided at any location on the substrate 1 via the light receiving element fixing base 6a. That is, it should just be installed in the position which can receive a part of light emitted from the optical element 2. The light receiving element 6 receives light emitted from the optical element 2 to monitor the optical output of the optical element 2 and perform auto power control driving (hereinafter referred to as APC driving) so as to keep the optical output constant. A photodiode made of Si, InGaAs or the like is generally used.
[0021]
The optical transmission body 3 is an optical component assembly 32 including an optical transmission path such as an optical fiber 31 and an isolator or a condenser lens coupled to the optical transmission path. In the example shown in FIG. The optical fiber 31 is used, and is fixed on the optical transmission body fixing base 3a so that one end of the optical fiber 31 passes through the through hole 13 and is coupled to the optical element 2 by a coupling method described later. In this case, the light transmission member fixing portion 17 is a fixing portion on the substrate 1 side between the light transmission member fixing base 3 a and the substrate 1. Further, the optical transmission body 3 may be directly fixed to the substrate 1 without providing the optical transmission body fixing base 3a. In this case, the optical transmission body 3 and the substrate 1 are fixed on the substrate 1 side. Part. When the direct optical fiber 31 is used, it is desirable to use a wedge-shaped lensed fiber at the tip because the coupling efficiency can be further increased. That is, the wedge-shaped lensed fiber at the tip is a spherical lens in the Y direction. For example, when the semiconductor laser chip 21 is used as the optical element 2, the light emission angle in the Y direction is generally large. If fiber is used, the coupling efficiency does not drop.
[0022]
Further, when a plated optical fiber is used as the optical transmission body 3, it is desirable to heat the optical fiber 31 in advance in order to increase the positional accuracy. That is, for example, the Ni / Au plated optical fiber 31 is stressed by plating, and the present inventors have found that the position of the optical fiber 31 in the Y direction is deformed by about 10 μm when heat is applied. It was further found that the stress of plating is relaxed by heating the fiber 31, and hardly changes even when heated again. Therefore, when using the optical fiber 31 with the plating, for example, performing heat treatment at 150 to 400 ° C. for about 10 to 60 seconds, preferably about 300 ° C. for about 30 seconds, further reduces the amount of misalignment. It is desirable in that it can.
[0023]
Another example of the optical transmission body 3 may be an optical component assembly 32 connected to an optical fiber. For example, as shown in FIG. 2B, the optical component assembly 32 includes a collimator lens 32a, an isolator 32b, a condenser lens 32c, a sleeve 32d, a ferrule 32e, and the like combined in a cylinder 32f. The light emitted from the element 2 is collected and transmitted to the optical fiber 31 or the like coupled to one end of the optical component assembly 32. The optical component assembly 32 may have a configuration other than the configuration described above. That is, any structure may be used as long as it transmits light emitted from the semiconductor laser chip 21 and does not transmit or refract the light of the laser micrometer 10. For example, BK7 (boron silicate crown glass ) Or a single lens such as a rod lens made of quartz or the like, as long as it has a configuration that does not transmit or refract the light of the laser micrometer 10.
[0024]
The Peltier element 12 controls the temperature on the substrate 1 by absorbing heat generated when the optical element 2 is driven, and generally includes a plurality of p-type and n-type thermoelectric elements. Are arranged in series and sandwiched between both sides by a ceramic substrate, and controlled based on the temperature monitored by the thermistor 15 on the substrate 1. The thermistor 15 is a resistor sensitive to heat, and is a semiconductor thermosensitive element obtained by sintering a transition metal oxide mainly composed of Mo or Co. The temperature detected by the thermistor 15 is monitored and the Peltier is detected. By feeding back to the element 12, the temperature of the substrate 1 is controlled to be constant.
[0025]
Next, the alignment in the X direction when the substrate 1 having the through holes 13 is used and the method for manufacturing the optical module of the present invention will be described with reference to FIG.
[0026]
As shown in FIG. 1B, a substrate 1 on which a semiconductor laser chip 21 or the like is assembled is placed on a work table 14 having a constant temperature such as a Peltier element, and an optical transmission body 3 composed of an optical fiber 31 is formed. One end is fixed by a drive mechanism 8 such as an XYZ stage that can be finely adjusted to 0.1 μm or less in the XYZ direction so as to face the semiconductor laser chip 21 through a through hole in the side wall of the housing 11. The work table 14 is also provided with a through hole in a portion corresponding to the through hole 13 of the substrate 1. Then, the semiconductor laser chip 21 is driven, and the optical fiber 31 is moved by the drive mechanism 8 to adjust the position so that the coupling with the semiconductor laser chip 21 becomes the optimum position. In the position adjustment, the optical fiber 31 is disposed on the optical transmitter fixing base 3a, and the semiconductor laser chip 21 is APC driven. On the other hand, a light output measuring instrument (not shown) is installed on the other end side of the optical fiber 31 so that light is incident on the optical fiber 31 and the output transmitted from the optical fiber 31 is monitored so that the optimum position is obtained. This is done by adjusting the XY direction of the optical fiber 31 by the drive mechanism 8. Note that the Z direction is insensitive to misalignment and can be adjusted without using the drive mechanism 8, but may be adjusted using the drive mechanism 8.
[0027]
And the absolute position of a X direction is measured using the laser micrometer 10 (10a, 10b, 10c) in the state match | combined with the optimal position. The Y direction can be similarly measured using the laser micrometer 10 (10d, 10e, 10c). The laser micrometer 10 (10a to 10e) is a non-contact high-precision laser measuring sensor that enables high-precision dimension control, and reflects a laser beam emitted from a laser oscillator by a polygon mirror that rotates at high speed. The collimator lens to emit parallel light rays 10a and 10d, the collimating lens to collect the parallel light rays on the light receiving element 10b and 10e, and the light received by the light receiving portion to the dimensions and display the processing control portion 10c. The parallel light beams emitted from the emitting units 10a and 10d scan the measurement object at high speed, receive the light at the light receiving units 10b and 10e, and control the processing according to the brightness of light caused by being blocked by the measurement object It is displayed as a dimension in the part 10c, the resolution is about 0.02 μm, and the measurement accuracy is about 0.1 μm.
[0028]
By using this laser micrometer 10, it is possible to detect the absolute value of the deviation amount after fixing with the solder material 5, and accurately detect the relative position with respect to the optical element 2 again during correction. Can be combined. For example, as shown in FIG. 1 (b), in measurement in the X direction, the emitting part 10a and the light receiving part 10b of the laser micrometer 10 are installed in the Y direction so as to face the through hole 13, and the emitting part 10a. The parallel rays emitted from the laser beam pass through the through-hole 13, reach the light receiving unit 10b, and are converted into dimensions in the X direction by the processing control unit 10c. Similarly, with respect to the Y direction, the laser micrometer 10 (10d, 10e, 10c) is installed in the X direction and converted into a dimension in the Y direction. Further, for the measurement of the absolute position in the X direction, for example, FIG. 3A shows a cross-sectional view of the substrate (a cross-sectional view in the direction of AA in FIG. 1B, which mainly includes the laser micrometers 10a and 10b). As shown in the figure, a parallel light beam having a width wider than the width (L) of the through hole of the substrate is emitted from the emitting portion 10a, and in the light receiving portion 10b, it becomes a shadow of the substrate 1 and a shadow of the optical fiber 31. Since the location does not receive light, the relative position of the optical fiber 31 (distance B in FIG. 3A) can be measured with the end of the through hole 13 as a reference. Although it is possible to use the end of the beam width of the laser micrometer 10 as a reference, if the laser micrometer 10 moves even a little, the measurement value will be distorted. It is preferable to measure the reference position (B). As for the Y direction as well, as shown in the substrate cross-sectional view of FIG. 3B (the cross-sectional view of the AA direction of FIG. 1B and mainly the laser micrometers 10d and 10e), the substrate 1 The distance C can be measured with reference to the surface.
[0029]
Next, the optical fiber 31 whose position has been adjusted is fixed to the optical transmission body fixing base 3 a with the solder material 5. The fixing with the solder material 5 is performed by setting the solder material 5 around the optical fiber 31, melting the solder material 5 by performing a heat treatment at about 300 ° C. using a hot tweezers, and then cooling it. . In addition, although the Au-Sn alloy (Au80at% content) is used for the solder material 5 in the example shown by Fig.1 (a)-(b), it is not limited to these, Au-Sn alloy In addition, a material having a different Au content, a Sn—Pb alloy, In, or the like can be used. By using the solder material 5 in this manner, unlike the fixation by welding using the YAG laser, the fixation can be easily released and the fixation can be performed again. In other words, if the YAG laser is fixed, it is difficult to correct the misalignment, the accuracy is poor, and the readjustment is limited. But it can be corrected.
[0030]
Next, after being fixed by the solder material 5, the position in the X direction of the optical fiber 31 is measured by the laser micrometer 10 to detect the deviation Δd from the value stored as the optimum position. Then, the drive mechanism 8 shifts the optical fiber 31 from the optimum position and fixes it again by an amount of deviation Δd in the X direction detected by melting the fixing portion of the optical fiber 31. Even if the re-adhesion is performed, a deviation in the vicinity of Δd occurs from the set position. Therefore, the optical fiber 31 is fixed in the vicinity of the optimum position by setting it by deviating by Δd in advance. The position in the X direction of the optical fiber 31 after this re-adhesion is measured, and if the amount of deviation from the optimum position is large, the same adjustment is repeated again. This is because if the thermal history is not reproducible (the amount of deviation differs even when the same temperature is applied), the amount of deviation may occur even after adjustment. The alignment in the Y direction is similarly performed. Finally, the substrate 1 on which the optical fiber 31 and the semiconductor laser chip 21 are mounted is incorporated on the Peltier element 12 in the casing 11, and the casing 11 is closed and sealed in a nitrogen atmosphere.
[0031]
As described above, even if the alignment is performed in the past, in actuality, a position shift occurs when an optical transmission body such as an optical fiber to be performed after the alignment is fixed. When fixing an optical fiber or the like by welding, it is difficult to correct the plurality of times.On the other hand, in order to enable correction, even when fixing using a solder material, when the solder material melts, Since the position is displaced due to heat treatment or the like, and the displacement direction of the optical fiber or the like and the absolute amount thereof are not known, complete alignment cannot be performed. In order to adjust the position of the optical transmission body 3 such as the optical fiber 31 in the X direction, the laser micrometer is used to first determine the optimum position, and after fixing with the solder material, from the optimum position. Noz It is possible to detect the amount. That is, by using a substrate in which a through-hole is provided between the optical transmission body and the optical element, the light emitted from the laser micrometer emission unit 10a as shown in FIG. While recognizing the position of the laser beam, the laser beam passes through the through-hole 13 and reaches the laser micrometer light receiving unit 10b, so that the optimum position in the X direction and the amount of deviation can be accurately measured. The binding efficiency with the body can be increased.
[0032]
Furthermore, by providing this through-hole, heat during soldering is difficult to transfer to the optical element side, and heat generated from the optical element during operation is absorbed by a Peltier element or the like provided directly under the substrate, resulting in a rise in temperature. Can be prevented.
[0033]
In each of the above examples, the semiconductor laser chip 21 is used as the optical element 2 and the optical fiber 31 is used as the optical transmission body 3. However, the present invention is not limited to these examples. In the same manner, it is possible to prevent deterioration of the optical element due to heat and perform accurate alignment.
[0034]
【The invention's effect】
According to the present invention, since the substrate is made of a substrate having a through hole between the optical element fixing portion and the optical transmission member fixing portion, the optical element is not deteriorated due to heat generated during soldering. Also, since the positional accuracy of the optical element and the optical transmission body can be precisely matched with less man-hours not only in the Y direction but also in the X direction during assembly, the optical module has a very high characteristic and high reliability. It can be obtained inexpensively.
[Brief description of the drawings]
BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a perspective explanatory view for explaining alignment of an optical module according to the present invention and alignment in an X direction and a Y direction.
FIG. 2 is an explanatory side view illustrating an optical element and an optical transmission body according to another embodiment of the present invention.
FIG. 3 is an explanatory cross-sectional view illustrating a method of aligning an optical transmission body using a substrate according to the present invention.
FIG. 4 is an explanatory perspective view of the inside of a housing of a conventional optical module.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board | substrate 2 Optical element 3 Optical transmission body 13 Through-hole 16 Optical element fixing | fixed part 17 Optical transmission body fixing | fixed part

Claims (1)

基板上に発光デバイスまたは受光デバイスからなる光素子が固着され、該光素子と光ファイバとを、該光ファイバの軸方向で対向させて結合させ、該光ファイバが前記基板上に固着される光モジュールであって、前記基板が、前記光ファイバの位置を検出するレーザマイクロメータのレーザ光に対して透過性でない材料からなり、前記光素子の固着部と前記光ファイバの固着部との間で、前記基板の表面上またはそれより上部を前記光ファイバが延伸している位置に、前記レーザマイクロメータのレーザ光を透過させ、前記光ファイバの位置を認識し得る貫通孔を有する基板からなる光モジュール。An optical element composed of a light emitting device or a light receiving device is fixed on a substrate, the optical element and an optical fiber are coupled to face each other in the axial direction of the optical fiber, and the optical fiber is fixed on the substrate. A module, wherein the substrate is made of a material that is not transmissive to laser light of a laser micrometer that detects the position of the optical fiber, and is between the fixing portion of the optical element and the fixing portion of the optical fiber. And a substrate having a through hole through which the laser light of the laser micrometer can be transmitted and the position of the optical fiber can be recognized at a position where the optical fiber extends on or above the surface of the substrate. Optical module.
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