JP3906016B2 - 同期回路 - Google Patents
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 title claims description 18
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 123
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 100
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 44
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 30
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 29
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 16
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 10
- 239000000706 filtrate Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 101100113692 Caenorhabditis elegans clk-2 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
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- G11C7/222—Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/04—Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
- G06F1/10—Distribution of clock signals, e.g. skew
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/135—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0814—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the phase shifting device being digitally controlled
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0816—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the controlled phase shifter and the frequency- or phase-detection arrangement being connected to a common input
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Dc Digital Transmission (AREA)
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えばクロック信号に同期して動作するシンクロナスDRAMやシンクロナスSRAM等の半導体集積回路に適用される同期回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、外部クロック信号に同期してデータを出力する半導体集積回路は、その内部に同期回路を有している。この同期回路は、外部クロック信号又は外部クロック信号と同じ周期を有する内部クロック信号に同期して出力回路を制御し、これによりデータが出力される。
【0003】
図15は、従来の半導体集積回路のデータ出力部の構成を概略的に示している。例えば図示せぬメモリセルアレイから読み出されたデータDoutは、半導体集積回路の周辺部に設けられた出力バッファとしてのオフチップドライバ回路(以下、OCD回路と称す)1を介して出力パッド2に供給される。このOCD回路1は例えばトライ・ステート・バッファ回路や論理ゲートにより構成され、同期回路3から出力されるデータ出力起動信号に応じて駆動される。
【0004】
前記同期回路3は、例えば内部クロック信号CLKの入力端、前記データ出力起動信号の出力端及びレプリカ回路4を接続するための端子XI、XOを有している。このレプリカ回路4は例えば前記OCD回路1と同一構成であり、OCD回路1と等しい遅延時間を有している。同期回路3はレプリカ回路4に設定された遅延時間分だけ内部クロック信号CLKの位相を早め、データ出力起動信号として出力する。このため、OCD回路1は外部クロック信号に同期してデータDoutを出力パッド2に出力できる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記同期回路を用いた半導体集積回路において、OCD回路1を構成するPチャネルMOSトランジスタ、NチャネルMOSトランジスタは製造プロセスのばらつき等により、電流駆動能力が一致しない場合がある。このため、ハイレベル“H”のデータと、ローレベル“L”のデータに対する駆動能力がアンバランスとなる場合がある。
【0006】
図16は、OCD回路1を構成する例えば最終段のNチャネルMOSトランジスタの電流駆動能力が、PチャネルMOSトランジスタの電流駆動能力よりも大きくなった場合を示している。このように、NチャネルMOSトランジスタとPチャネルMOSトランジスタの電流駆動能力が異なった場合、データ出力起動信号が活性化されてから、ハイレベルの出力電圧VDoutが所定のレベルとなるまでの時間と、ローレベルの出力電圧VDoutが所定のレベルとなるまでの時間とが異なってしまう。つまり、この場合、ローレベルデータを出力する場合に比べてハイレベルデータを出力するために時間がかかる。このため、OCD回路1の出力電圧VDoutにハイレベル又はローレベルのデータに依存するジッターが含まれることとなる。このジッターの長さは、最大100ps程度であるが、信号周波数の上昇に伴いその影響が大きくなる問題を有している。
【0007】
上記のように、データ出力起動信号は外部クロック信号に対してOCD回路における遅延時間が補償されている。しかし、従来はハイレベルデータに対する遅延のみが補償され、ローレベルデータについてはプロセスのセンター条件(標準の条件)とされ、プロセスのバラツキによる補償は特に行われていなかった。そこで、ハイレベルデータ、ローレベルデータについてジッターを補償する回路が考えられている。
【0008】
図17は、OCD回路によりハイレベルデータを出力する場合の起動信号と、ローレベルデータを出力する場合の起動信号を変えた回路を示している。すなわち、OCD回路1にはハイレベルデータを出力する場合の起動信号を生成するための同期回路5、及びローレベルデータを出力する場合の起動信号を生成するための同期回路6が接続されている。同期回路5には、ローレベルデータを出力するための例えばOCD回路のレプリカ回路5aが設けられ、同期回路6には、ハイレベルデータを出力するための例えばOCD回路のレプリカ回路6aが設けられている。このように、ハイレベルデータとローレベルデータを出力する場合に、それぞれOCD回路1の遅延時間に応じたデータ出力起動信号を使用することにより、ハイレベルデータとローレベルデータのVDoutのジッターを解消できる。
【0009】
しかし、図17に示す回路の場合、ハイレベルデータを出力する場合の起動信号とローレベルデータを出力する場合の起動信号を生成するために、2つの同期回路を必要とする。このため、半導体集積回路における同期回路の占有面積が大きくなるとともに、大きな消費電力を必要とするという問題が発生する。
【0010】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、半導体集積回路における占有面積の増大を抑えることが可能であるとともに、消費電力を削減し得る同期回路を提供しようとするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明の同期回路の第1の態様は、クロック信号と同じ周期を有する第1の起動信号に応じてハイレベルデータを出力し、前記クロック信号と同じ周期を有する第2の起動信号に応じてローレベルデータを出力する出力回路と、前記クロック信号が供給され、前記出力回路がハイレベルデータを出力するときの第1の遅延時間と、ローレベルデータを出力するときの第2の遅延時間の合計分だけ、前記クロック信号の位相を進める第1の信号生成回路と、前記第2の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第2の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記出力回路がハイレベルデータを出力するための前記第1の起動信号を生成する第2の信号生成回路と、前記第1の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第1の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記出力回路がローレベルデータを出力するための前記第2の起動信号を生成する第3の信号生成回路とを具備している。
【0012】
本発明の同期回路の第2の態様は、クロック信号が供給される入力バッファと、前記入力バッファの出力信号が供給され、遅延時間が変化される第1の遅延回路と、前記第1の遅延回路の出力信号が供給される第1の出力バッファと、前記第1の遅延回路の出力信号が供給される第2の出力バッファと、第1の起動信号に応じて、供給されたデータのハイレベルデータを出力し、第2の起動信号に応じて、供給されたデータのローレベルデータを出力する出力回路と、前記第1の出力バッファの出力信号が供給され、前記出力回路がローレベルデータを出力する回路と同一の構成とされ、前記第 1 の起動信号を出力する第1のレプリカ回路と、前記第2の出力バッファの出力信号が供給され、前記出力回路がハイレベルデータを出力する回路と同一の構成とされ、前記第2の起動信号を出力する第2のレプリカ回路と、前記第1の遅延回路の出力信号が供給され、前記第1、第2の出力バッファと同一構成の第3のレプリカ回路と前記第1、第2のレプリカ回路と同一構成の第4のレプリカ回路により構成されている第2の遅延回路と、前記第2の遅延回路の出力信号が供給され、前記入力バッファと同一構成とされている第5のレプリカ回路と、前記第5のレプリカ回路の出力信号と前記入力バッファの出力信号の位相を比較し、前記第5のレプリカ回路の出力信号と前記入力バッファの出力信号の位相差に応じて前記第1の遅延回路を制御する位相比較器とを具備し、前記第1の遅延回路は、前記出力回路がハイレベルデータを出力するときの第1の遅延時間と前記出力回路がローレベルデータを出力するときの第2の遅延時間との和及び前記第1、第2の出力バッファの遅延時間に相当する時間だけ進んだ信号を出力することを特徴とする。
【0013】
本発明の同期回路の第3の態様は、第1のデータが供給され、クロック信号と同じ周期を有する第1の起動信号に応じて前記第1のデータのハイレベルデータを出力し、前記クロック信号と同じ周期を有する第2の起動信号に応じて前記第1のデータのローレベルデータを出力する第1の出力回路と、第2のデータが供給され、前記クロック信号と同じ周期を有する第3の起動信号に応じて前記第2のデータのハイレベルデータを出力し、前記クロック信号と同じ周期を有する第4の起動信号に応じて第2のデータのローレベルデータを出力する第2の出力回路と、前記クロック信号に応じて前記第1、第2の起動信号を生成する第1の同期回路と、前記クロック信号の反転信号に応じて前記第3、第4の起動信号を生成する第2の同期回路とを具備し、前記第1の同期回路は、前記クロック信号が供給され、前記第1の出力回路がハイレベルデータを出力するときの第1の遅延時間と、ローレベルデータを出力するときの第2の遅延時間の合計分だけ、前記クロック信号の位相を進める第1の信号生成回路と、前記第2の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第2の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記第1の出力回路がハイレベルデータを出力するための前記第1の起動信号を生成する第2の信号生成回路と、前記第1の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第1の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記第1の出力回路がローレベルデータを出力するための前記第2の起動信号を生成する第3の信号生成回路とを具備し、前記第2の同期回路は、前記クロック信号が供給され、前記第2の出力回路がハイレベルデータを出力するときの第3の遅延時間と、ローレベルデータを出力するときの第4の遅延時間の合計分だけ、前記クロック信号の位相を進める第4の信号生成回路と、前記第4の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第4の信号生成回路から出力される信号を前記第4の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記第2の出力回路がハイレベルデータを出力するための前記第3の起動信号を生成する第5の信号生成回路と、前記第3の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第4の信号生成回路から出力される信号を前記第3の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記第2の出力回路がローレベルデータを出力するための前記第4の起動信号を生成する第6の信号生成回路とを具備することを特徴とする。
【0014】
本発明の同期回路の第4の態様は、第1、第2のデータが供給され、前記第1、第2のデータを順次出力するパラレル/シリアル変換回路と、前記パラレル/シリアル変換回路の出力信号が供給され、ハイレベルデータ又はローレベルデータを出力するシフトレジスタと、前記シフトレジスタの出力信号が供給される出力回路と、前記シフトレジスタに接続され、前記パラレル/シリアル変換回路の出力信号と、クロック信号と同じ周期を有しハイレベルデータを出力するための第1の起動信号、及び前記クロック信号と同じ周期を有しローレベルデータを出力するための第2の起動信号に応じて制御信号を発生し、前記シフトレジスタに供給する制御回路と、前記クロック信号に応じて前記第1、第2の起動信号を生成する起動信号発生回路とを具備し、前記起動信号発生回路は、前記クロック信号が供給され、前記シフトレジスタがハイレベルデータを出力するときの第1の遅延時間と、ローレベルデータを出力するときの第2の遅延時間の合計分だけ、前記クロック信号の位相を進める第1の信号生成回路と、前記第2の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第2の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記シフトレジスタがハイレベルデータを出力するための前記第1の起動信号を生成する第2の信号生成回路と、前記第1の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第1の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記シフトレジスタがローレベルデータを出力するための前記第2の起動信号を生成する第3の信号生成回路とを具備することを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【0017】
図1は、本発明の原理を示すものであり、外部クロック信号(又は外部クロック信号と同期した内部クロック信号)CLKの立ち上がりエッジにおいて、OCD回路の出力電圧VDoutがハイ又はローの所定のレベルをクロスするような場合を示している。さらに、製造プロセスのばらつきにより、PチャネルMOSトランジスタの電流駆動能力が低下していたり、NチャネルMOSトランジスタの電流駆動能力が高くなっていたりする場合を示している。
【0018】
上記条件において、本発明は、1つの同期回路を用いてOCD回路によってハイレベルデータを出力する場合と、ローレベルデータを出力する場合の遅延時間を補償する2種類のデータ出力起動信号を発生する。すなわち、本発明は、OCD回路からハイレベルデータを出力する場合に要する時間tHと、ローレベルデータを出力する場合に要する時間tLの和tH+tLに相当する時間だけ位相を進めた信号SFを生成する。さらに、この位相が進められた信号SFからハイレベルデータを出力するためのハイレベルデータ出力起動信号SSHと、ローレベルデータを出力するためのローレベルデータ出力起動信号SSLを生成する。すなわち、起動信号SSHは前記位相が進められた信号SFを、ローレベルデータを出力する場合に要する時間tLだけ遅延して生成される。また、起動信号SSLは前記位相が進められた信号SFを、ハイレベルデータを出力する場合に要する時間tHだけ遅延して生成される。このため、ハイレベルデータを出力する場合、及びローレベルデータを出力する場合においても、OCD回路から出力される各電圧VDoutを外部クロック信号CLKに同期させることができる。
【0019】
(第1の実施例)
図2は、本発明の第1の実施例を示すものであり、本発明をディレイ・ロックド・ループ(以下、DLLと称す)に適用した場合を示している。このDLLは、例えば“A 256 Mb SDRAM Using Register-Controlled Digital DLL”(Digest of Technical Papers of ISSCC ’97)に開示されている。このようなDLLでは、OCD回路のレプリカ回路として出力バッファと同一構成の回路が用いられている。
【0020】
第1の実施例において、例えば外部クロック信号CLK(又は外部クロック信号と同じ周期を有する内部クロック信号)は入力バッファ(I.B.)11に供給される。この入力バッファ11はクロック信号CLKを所定時間遅延する。この入力バッファ11の出力信号Caは可変遅延線12に供給されるとともに、位相比較器13の一方入力端に供給される。前記可変遅延線12は例えば複数の論理ゲートがカスケード接続された論理ゲートチェーンにより構成されており、この可変遅延線12の遅延量は前記位相比較器13の出力信号により制御される。この可変遅延線12の出力信号CbはOCD回路18からハイレベルの電圧を出力する場合に要する時間tHと、ローレベルの電圧を出力する場合に要する時間tLの和tH+tL及び後述する出力バッファ14、16の遅延時間に相当する時間だけ位相が進んだクロック信号である。
【0021】
前記可変遅延線12の出力信号Cbは出力バッファ(O.B.)14を介して、レプリカ回路15に供給される。このレプリカ回路15は、OCD回路18のうちローレベルデータが通過する回路と同一構成とされている。また、前記可変遅延線12の出力信号Cbは出力バッファ(O.B.)16を介して、レプリカ回路17に供給される。このレプリカ回路17は、OCD回路18のハイレベルデータが通過する回路と同一構成とされている。前記レプリカ回路15から出力されるハイレベルデータ出力起動信号SSH、及び前記レプリカ回路17から出力されるローレベルデータ出力起動信号SSLはそれぞれOCD回路18に供給される。このOCD回路18は前記起動信号SSH、SSLに応じて例えばメモリセルアレイ19から読み出されたデータを出力パッド20に出力する。OCD回路18の構成は、例えば図8(a)に示すOCD回路1と同様の回路である。
【0022】
さらに、前記可変遅延線12の出力信号Cbは例えばレプリカ回路21に供給される。このレプリカ回路21は、例えば前記出力バッファ14、16と同一構成とされているが、出力バッファのレプリカ回路に限らず出力バッファそのものでもよい。このレプリカ回路21の出力信号はレプリカ回路22に供給される。このレプリカ回路22は、前記レプリカ回路17と同一構成であり、例えば前記OCD回路18のうちハイレベルデータが通過する回路と同一構成とされている。このレプリカ回路22の出力信号はレプリカ回路23に供給される。このレプリカ回路23は、前記レプリカ回路15と同一構成であり、例えば前記OCD回路18のうちローレベルデータが通過する回路と同一構成とされている。このレプリカ回路22、23の配置は、これに限らず、レプリカ回路22、23の順番を逆とすることも可能である。これらの順序は、状態に応じて設定すればよい。また、レプリカ回路22、23の二つを用いる必要はなく、これらレプリカ回路22、23の遅延時間の合計の遅延時間を有する1つのレプリカ回路を設けてもよい。
【0023】
前記レプリカ回路23の出力信号Ccはレプリカ回路24に供給される。このレプリカ回路24は、例えば前記入力バッファ11と同一構成の回路とされている。このレプリカ回路24の出力信号は、前記位相比較器13の他方入力端に供給される。この位相比較器13は、前記レプリカ回路21、22、23、24を介して遅延されたクロック信号Ccと入力バッファ11から供給されるクロック信号Caの位相を1サイクル毎に比較し、これらの位相差に応じて可変遅延線12の遅延量を制御する。
【0024】
尚、レプリカ回路15、17の前段には出力バッファ14、16をそれぞれ設けている。しかし、これに限らず、図2に示すように、可変遅延線12の出力信号を1つの出力バッファ25により受け、この出力バッファ25の出力信号をレプリカ回路15、17にそれぞれ供給する構成としてもよい。あるいは、この出力バッファ25の出力信号をレプリカ回路15、17、22にそれぞれ供給する構成としてもよい。この場合、レプリカ回路21を省略できる。
【0025】
図3は、図2の動作を示しており、図2の各部はこのタイミングに従って動作する。すなわち、入力バッファ11に供給されたクロック信号CLKは、所定時間遅延される。この入力バッファ11の出力信号Caは位相比較器13の出力信号により制御される可変遅延線12に供給される。この可変遅延線12は信号Ca及び前記位相比較器13の出力信号に基づきレプリカ回路22、23の遅延時間の和tH+tL及び出力バッファ14、16の遅延時間に相当する時間だけ位相が進んだクロック信号Cbを生成する。尚、図3は、出力バッファの遅延時間を省略して示している。このクロック信号Cbは出力バッファ14、16を介してレプリカ回路15、17にそれぞれ供給される。レプリカ回路15において、クロック信号CbはOCD回路18のローレベルデータが通過する回路が有する遅延時間tLだけ遅延され、ハイレベルデータ出力起動信号SSHとして出力される。また、レプリカ回路17において、クロック信号CbはOCD回路18のハイレベルデータが通過する回路が有する遅延時間tHだけ遅延され、ローレベルデータ出力起動信号SSLとして出力される。これらレプリカ回路15から出力されるハイレベルデータ出力起動信号SSH、及びレプリカ回路17から出力されるローレベルデータ出力起動信号SSLはOCD回路18に供給される。このため、OCD回路18では、メモリセルアレイ19から読み出されたハイレベルデータを出力する場合と、ローレベルデータを出力する場合とのタイミングを一致させることができる。したがって、OCD回路18から出力される出力信号VDoutをクロック信号CLKに同期させることができる。
【0026】
上記第1の実施例によれば、可変遅延線12を用いてクロック信号CLKをOCD回路18のハイレベルデータが通過する回路の遅延時間とローレベルデータが通過する回路の遅延時間の合計の時間だけ進め、この位相が進められたクロック信号をOCD回路18のローレベルデータが通過する回路の遅延時間だけ遅延させてOCD回路18のハイレベルデータ出力起動信号SSHを生成し、OCD回路18のハイレベルデータが通過する回路の遅延時間だけ遅延させてOCD回路18のローレベルデータ出力起動信号SSLを生成している。つまり、第1の実施例によれば、1つの可変遅延線12を用いてハイレベルデータ出力起動信号SSHと、ローレベルデータ出力起動信号SSLとを生成することができる。このため、遅延線の数を従来の半分とすることができる。同期回路において、遅延線の占有面積、及び消費電力は他の回路に比べて大きい。したがって、このように遅延線の数を半分とすることにより、占有面積及び消費電力を削減できる利点を有している。
【0027】
しかも、遅延線は一般に複数の論理回路がカスケード接続されたロジックチェーンである。このため、遅延線が動作することにより、ノイズが発生する。しかし、第1の実施例によれば、遅延線の数が従来の半分であるため、ノイズの量も半減できる利点を有している。
【0028】
また、ハイレベルデータとローレベルデータの出力タイミングを一致させることができる。このため、データのレベルに依存するジッターを減少でき、高速にデータを出力できる。しかも、同期速度の低下を防止でき、制御が複雑化することも回避できる。
【0029】
(第2の実施例)
図4、図5は、本発明の第2の実施例を示すものであり、図4は本発明を周知のミラータイプDLLに適用した場合を示している。このミラータイプDLLとしては、例えば“A 1-ps Jitter 2 Clock Cycle Lock Time CMOS Digital Clock Generator Based on an Interleaved Synchronous Mirror Delay Scheme”(’97 Symposium on VLSI Circuits Digest of Technical Papers)に開示されている。また、図5は図4の各部の波形を示している。
【0030】
図4、図5において、外部クロック信号又は外部クロック信号と同じ周期を有する内部クロック信号CLKは、入力バッファ41に供給される。この入力バッファから出力される所定時間遅延された信号Caは、ディレイモニタDMを構成するレプリカ回路42、43、44、45に供給される。前記レプリカ回路42は前記入力バッファ41と同一の遅延時間を有する回路であり、前記レプリカ回路43は後述する出力バッファ47と同一遅延時間を有する回路である。さらに、前記レプリカ回路44は後述するOCD回路50のハイレベルデータが通過する回路と同一構成とされており、OCD回路50のハイレベルデータが通過する回路と同一の遅延時間(tH)を有している。さらに、前記レプリカ回路45は後述するOCD回路50のローレベルデータが通過する回路と同一構成とされており、OCD回路50のローレベルデータが通過する回路と同一の遅延時間(tL)を有している。
【0031】
前記レプリカ回路45から出力される信号Ccは、可変遅延線46に供給される。この可変遅延線46は第1、第2の遅延線46a、46b、及び制御部46cとにより構成されており、前記レプリカ回路45の出力信号は第1の遅延線46aの入力端に供給される。第1、第2の遅延線46a、46bは例えば図示せぬ複数の単位遅延素子により構成され、制御部46cは前記入力バッファ41の出力信号Caに応じて第1、第2の遅延線46a、46bを制御する。前記第1の遅延線46aに供給された信号Ccは第1の遅延線46aにより遅延された時間と同じ時間だけ第2の遅延線46bにより遅延されて出力される。すなわち、第1の遅延線46aに供給された信号Ccは、クロック信号CLKの次のパルスが制御部46cに供給される迄の間、第1の遅延線46aを伝播され、この第1の遅延線46aを伝播した時間と同一時間、第2の遅延線46bを伝播される。したがって、第2の可変遅延線46bからは、前記クロック信号CLKに同期し、OCD回路50がハイレベルデータを出力する場合の遅延時間(tH)と、ローレベルデータを出力する場合の遅延時間(tL)を合計した遅延時間(tH+tL+tO.B.)(tO.B.は出力バッファ47の遅延時間)分だけ進んだクロック信号Cbが出力される。尚、図5は、出力バッファ47の遅延時間tO.B.を省略して示している。
【0032】
前記第2の可変遅延線46bの出力信号Cbは出力バッファ47に供給される。この出力バッファ47の出力信号はレプリカ回路48及びレプリカ回路49に供給される。前記レプリカ回路48は、前記レプリカ回路45と同様に後述するOCD回路50のローレベルデータが通過する回路と同一構成とされており、OCD回路50のローレベルデータが通過する回路と同一の遅延時間(tL+tO.B.)を有している。このため、レプリカ回路48からは、前記第2の可変遅延線46aの出力信号が時間(tL)だけ遅延されたハイレベルデータ出力起動信号SSHが出力される。
【0033】
また、前記レプリカ回路49は後述するOCD回路50のハイレベルデータが通過する回路と同一構成とされており、OCD回路50のハイレベルデータが通過する回路と同一の遅延時間(tH+tO.B.)を有している。このため、レプリカ回路48からは、前記第2の可変遅延線46aの出力信号が時間(tH)だけ遅延されたローレベルデータ出力起動信号SSLが出力される。
【0034】
前記レプリカ回路48から出力されるハイレベルデータ出力起動信号SSH、及び前記レプリカ回路49から出力されるローレベルデータ出力起動信号SSLはそれぞれOCD回路50に供給される。このOCD回路50は前記起動信号SSH、SSLに応じて例えばメモリセルアレイ51から読み出されたデータを出力パッド52に出力する。したがって、OCD回路50は、レプリカ回路48から出力されるハイレベルデータ出力起動信号SSHに応じてハイレベルデータVDoutを出力し、レプリカ回路48から出力されるローレベルデータ出力起動信号SSLに応じてローレベルデータVDoutを出力する。
【0035】
尚、レプリカ回路48、49には1つの出力バッファ47の出力信号が供給されているが、これに限定されるものではなく、例えば前記第2の遅延線46bの出力端に2つの同一の遅延時間を有する出力バッファを並列接続し、これら出力バッファを介して第2の遅延線46bの出力信号をレプリカ回路48、49にそれぞれ供給する構成としてもよい。
【0036】
上記第2の実施例によっても第1の実施例と同様の効果を得ることができる。しかも、ミラータイプDLLを用いることにより、第1の実施例に示すDLLに比べて一層ジッターを減少できる。
【0037】
尚、上記第1、第2の実施例は、本発明をOCD回路の制御に適用した場合について説明したが、本発明は、OCD回路の制御に限定されるものではなく、クロック信号に同期してハイレベル/ローレベルデータを出力するような回路に適用することが可能である。
【0038】
(第3の実施例)
次に、本発明の第3の実施例について説明する。上記第1、第2の実施例は、本発明をSDR(Single Data Rate)方式の回路に適用した場合について説明した。これに対して第3の実施例は、本発明をDDR(Double Data Rate)方式の回路に適用した場合を示している。
【0039】
すなわち、DDR方式では、例えば100MHzの外部クロック信号に同期して、チップ内部の回路が動作し、この回路の動作に対応して2倍のデータレート(例えば200MHz)でデータを出力する。このため、例えばメモリセルアレイからパッドまでの間に2ビットから1ビットへデータを変換するパラレル/シリアル変換回路を必要とする。
【0040】
図6は、2系統のOCD回路を有する方式を示している。図6において、図2と同一部分には同一符号を付し、異なる部分について説明する。
【0041】
メモリセルアレイ19から出力されたデータDout1、Dout2は、第1、第2のOCD回路61、62の入力端にそれぞれ供給される。これら第1、第2のOCD回路61、62には第1、第2の同期回路63、64が接続され、これら第1、第2の同期回路63、64から前記ハイレベルデータ出力起動信号SSH、ローレベルデータ出力起動信号SSLがそれぞれ供給される。これら第1、第2のOCD回路61、62の出力端はパッド20にそれぞれ供給される。これら第1、第2のOCD回路61、62により、2ビットのデータが1ビットのデータに変換されてパッド20に出力される。すなわち、第1、第2のOCD回路61、62は、パラレル/シリアル変換回路を構成している。
【0042】
図7は、第1、第2のOCD回路61、62の一例を示している。第1、第2のOCD回路61、62は同一構成であるため、第1のOCD回路61の構成のみを説明し、第2のOCD回路62において第1のOCD回路61と同一部分には符号62に同一の添え字を付して示し説明は省略する。
【0043】
第1のOCD回路61において、メモリセルアレイ19から供給されるデータDout1は、インバータ回路61a、61b、61cを介して、例えばトライ・ステート・バッファ回路61dの入力端に供給される。このトライ・ステート・バッファ回路61dの出力端は前記パッド20に接続される。前記インバータ回路61cの出力信号はインバータ回路61eを介してアンド回路61fの一方入力端に供給されるとともに、直接アンド回路61gの一方入力端に供給される。これらアンド回路61g、61fの他方入力端には前記ハイレベルデータ出力起動信号SSH、ローレベルデータ出力起動信号SSLがそれぞれ供給される。これらアンド回路61f、61gの出力信号はオア回路61hに供給される。このオア回路61hの出力信号C1は、制御信号として前記トライ・ステート・バッファ回路61dに供給される。
【0044】
図8(a)は、前記トライ・ステート・バッファ回路61dの一例を示している。前記インバータ回路61cの出力信号(Dout1で示す)はナンド回路81、ノア回路82の一方入力端に供給される。前記オア回路61hの出力信号C1は、ノア回路82の他方入力端に供給されるとともに、インバータ回路83を介してナンド回路81の他方入力端に供給される。電源VDDと接地間にはPチャネルMOSトランジスタ84、NチャネルMOSトランジスタ85が直列接続されている。前記トランジスタ84のゲートには、前記ナンド回路81の出力信号が供給され、前記トランジスタ85のゲートにはノア回路82の出力信号が供給されている。前記トランジスタ84と85の接続ノードN1からトライ・ステート・バッファ回路61dの出力信号が出力される。トライ・ステート・バッファ回路の構成は、図8(a)に限らず、クロックド・インバータ回路により構成してもよい。
【0045】
図8(b)は、上記トライ・ステート・バッファ回路61における、データDout1、制御信号C1及び接続ノードのレベルの関係を示している。
【0046】
図6に示す前記第1、第2の同期回路63、64は、図2に示す回路と同一構成とされている。但し、第1、第2の同期回路63、64のハイレベルデータ出力起動信号SSLを生成するためのレプリカ回路(OCD回路“L”)15、23は、第1、第2のOCD回路61、62において、データDout1(Dout2)がハイレベルで、信号C1(C2)がハイレベルの時、パッド20をローレベルとするパスの回路と同一の遅延時間を有する回路である。また、ローレベルデータ出力起動信号SSHを生成するためのレプリカ回路(OCD回路“H”)17、22は、データDout1(Dout2)がローレベルで、信号C1(C2)がハイレベルの時、パッド20をハイレベルとするパスの回路と同一の遅延時間を有する回路である。
【0047】
また、第1の同期回路63には外部クロック信号CLKもしくは外部クロック信号CLKと外部クロック信号/CLKの差分が供給され、第2の同期回路64には、外部クロック信号CLKの反転信号/CLKもしくは外部クロック信号の反転信号/CLKと外部クロック信号CLKの差分が供給される。このため、第1、第2の同期回路63、64は外部クロック信号CLKの半周期ずれたタイミングで動作する。
【0048】
図9は、図6乃至図8に示す回路の動作を示している。第1のOCD回路61は、データDout1、ハイレベルデータ出力起動信号SSH、及びローレベルデータ出力起動信号SSLに基づいて、図9に示す制御信号C1を生成する。この制御信号C1はトライ・ステート・バッファ回路61dに供給される。また、第2のOCD回路62は、Dout2、ハイレベルデータ出力起動信号SSH、及びローレベルデータ出力起動信号SSLに基づいて制御信号C2を生成する。この制御信号C2はトライ・ステート・バッファ回路61dに供給される。第1、第2のOCD回路61、62のトライ・ステート・バッファ回路61d、62dは、制御信号C1及びC2に応じてメモリセルアレイ19から読み出されたデータDout1、Dout2を順次出力する。したがって、外部クロック信号CLKの1サイクルにおいて、データDout1、Dout2をパッド20に出力することができる。
【0049】
上記第3の実施例によれば、メモリセルアレイ19の出力データDout1、Dout2を受ける第1、第2のOCD回路61、62を設け、これら第1、第2のOCD回路61、62は、トライ・ステート・バッファ回路61d、62dを有し、これらトライ・ステート・バッファ回路61d、62dは、第1、第2の同期回路63、64から供給されるハイレベルデータ出力起動信号SSH、ローレベルデータ出力起動信号SSLに応じて生成された制御信号C1、C2により制御されている。このため、DDRにおいて、第1、第2のOCD回路61、62から出力されるデータを外部クロック信号CLKに同期して出力することができるとともに、データの立ち上がり及び立下りを一致させることがきる。しかも、各OCD回路に対して1つ同期回路を設ければよいため、DDRにおいて、同期回路の占有面積の増大を防止することができるとともに、消費電流を削減することが可能である。
【0050】
(第4の実施例)
図10は、本発明の第4の実施例を示している。第3の実施例は、第1、第2のOCD回路61、62のトライ・ステート・バッファ回路61d、62dにより、データのパラレル/シリアル変換を行うとともに、パッド20を駆動している。
【0051】
これに対して、図10に示す第4の実施例は、パラレル/シリアル変換回路100を構成する第1、第2のバッファ回路101、102によりデータDout1、Dout2のパラレル/シリアル変換を行い。これら第1、第2のバッファ回路101、102の出力信号をOCD回路103に供給し、このOCD回路103によりパッド20を駆動している。
【0052】
上記第1、第2のバッファ回路101、102は、第3の実施例における第1、第2のOCD回路61、62とほぼ同一の構成とされている。すなわち、図10において、図7に示すインバータ回路61c、62cは省略されている。インバータ回路61bの出力信号はインバータ回路61eを介してアンド回路61gの一方入力端に供給されるとともに、インバータ回路61fの一方入力端に直接供給されている。また、インバータ回路62bの出力信号はインバータ回路62eを介してアンド回路62gの一方入力端に供給されるとともに、インバータ回路62fの一方入力端に直接供給されている。その他、第1、第2のOCD回路61、62と同一部分には同一符号を付し説明は省略する。
【0053】
また、OCD回路103は直列接続されたインバータ回路103a、103b、及びトライ・ステート・バッファ回路103cにより構成されている。このトライ・ステート・バッファ回路103cは、例えば図8(a)に示す回路と同様である。このトライ・ステート・バッファ回路103cには制御信号C3が供給されている。この制御信号C3はパラレル/シリアル変換されたデータを出力するときトライ・ステート・バッファ回路103cのハイ・インピーダンス状態を解除する信号である。この制御信号C3は外部クロック信号CLKに同期されている。
【0054】
また、OCD回路103のレプリカ回路は、例えばトライ・ステート・バッファ回路61d、62dの出力端からパッド20までのパスと同じ遅延時間を有する回路により構成される。すなわち、ハイレベルデータ出力起動信号SSHを生成するためのレプリカ回路(OCD回路“L”)15、23は、データDout1(Dout2)がハイレベルで、信号C1(C2)がハイレベルの時、パッド20をハイレベルとするパスの回路と同一の遅延時間を有する回路である。また、ローレベルデータ出力起動信号SSLを生成するためのレプリカ回路(OCD回路“H”)17、22は、データDout1(Dout2)がローレベルで、信号C1(C2)がハイレベルの時、パッド20をローレベルとするパスの回路と同一の遅延時間を有する回路である。
【0055】
図11は、図10に示す回路の動作を示している。第1のバッファ回路101は、データDout1、ハイレベルデータ出力起動信号SSH、及びローレベルデータ出力起動信号SSLに基づいて、図10に示すような制御信号C1を生成する。この制御信号C1はトライ・ステート・バッファ回路61dに供給される。第2のバッファ回路102は、データDout2、ハイレベルデータ出力起動信号SSH、及びローレベルデータ出力起動信号SSLに基づいて、図10に示すような制御信号C2を生成する。この制御信号C2はトライ・ステート・バッファ回路62dに供給される。第1、第2のバッファ回路101、102のトライ・ステート・バッファ回路61d、62dは、制御信号C1及びC2に応じてメモリセルアレイ19から読み出されたデータDout1、Dout2を順次出力する。
【0056】
OCD回路103において、トライ・ステート・バッファ回路103cは、外部クロック信号CLKに同期した制御信号C3に応じてハイ・インピーダンス状態が解除される。この状態において、トライ・ステート・バッファ回路103cは、インバータ回路103a、103bを介して供給されるデータDout1、Dout2に応じてパッド20を駆動する。したがって、外部クロック信号CLKの1サイクルにおいて、データDout1、Dout2をパッド20に出力することができる。
【0057】
上記第4の実施例によれば、DDRにおいて、パラレル/シリアル変換回路100から出力されるデータを外部クロック信号CLKに同期して出力することができるとともに、データの立ち上がり及び立下りを一致させることがきる。
【0058】
しかも、第1、第2のバッファ回路101、102の出力信号をOCD回路103に供給し、このOCD回路103によりパッド20を駆動している。このため、パッド20を駆動するトライ・ステート・バッファ回路103cを構成するトランジスタのサイズのみを大きくして駆動能力を大きくすればよい。つまり、パッド20を駆動する必要がないトライ・ステート・バッファ回路61d、62dを構成するトランジスタのサイズは、トライ・ステート・バッファ回路103cのトランジスタより小さくてよい。したがって、第4の実施例は第3の実施例に比べて回路構成を簡単化することができる。
【0059】
(第5の実施例)
図12は、本発明の第5の実施例を示している。例えばシンクロナスDRAMにおいて、例えばコマンドデコーダが読み出しコマンドを受けてから実際にデータを出力するまでのクロック数をカウントするために、パラレル/シリアル変換後のパスにシフトレジスタを用いる場合がある。第5の実施例は、この場合のように、パラレル/シリアル変換回路とパッドの相互間にシフトレジスタが設けられている。
【0060】
図12において、パラレル/シリアル変換回路110を構成する第1、第2のバッファ回路111、112は、それぞれ例えばトライ・ステート・バッファ回路111a、112aにより構成されている。前記トライ・ステート・バッファ回路111aにはメモリセルアレイ19から出力されたデータDout1が供給され、前記トライ・ステート・バッファ回路112aにはメモリセルアレイ19から出力されたデータDout2が供給される。前記トライ・ステート・バッファ回路111aは制御信号C1により制御され、前記トライ・ステート・バッファ回路112aは制御信号C2により制御される。これら制御信号C1、C2は、外部クロック信号CLKに同期した信号であり、トライ・ステート・バッファ回路111a、112aに交互に供給される。
【0061】
前記トライ・ステート・バッファ回路111a、112aの出力端とパッド20の相互間には、シフトレジスタ114、115、及びOCD回路としてのトライ・ステート・バッファ回路116が直列接続されている。トライ・ステート・バッファ回路116にはデータを出力する時、ハイ・インピーダンス状態を解除する制御信号C3が供給される。この制御信号C3は第4の実施例と同様である。
【0062】
前記各シフトレジスタ114、115には制御回路117、118が接続されている。これら制御回路117、118は同一構成であるため、制御回路117についてのみ説明する。
【0063】
制御回路117において、アンド回路117a、117bの一方入力端にはハイレベルデータ出力起動信号SSH、ローレベルデータ出力起動信号SSLがそれぞれ供給されている。これらハイレベルデータ出力起動信号SSH、ローレベルデータ出力起動信号SSLを生成する回路は、図2あるいは図6に示す回路と同様である。但し、後述するように、レプリカ回路の構成が相違する。
【0064】
前記アンド回路117aの他方入力端にはシフトレジスタ114の入力信号が供給され、アンド回路117bの他方入力端には、インバータ回路117cを介して前記シフトレジスタ114の入力信号が供給される。アンド回路117a、117bの出力信号はオア回路117dの入力端に供給される。オア回路117dの出力端から出力される制御信号C4は、前記シフトレジスタ114に供給される。
【0065】
なお、制御回路118から出力される制御信号C5は、シフトレジスタ115に供給される。これら制御信号C4、C5は外部クロック信号CLKの2倍の周期を有する信号である。
【0066】
図13は、上記シフトレジスタ114の一例を示している。上記シフトレジスタ115も図13に示す回路と同様の構成とされている。このシフトレジスタ114はクロックド・インバータ回路114aとラッチ回路を構成するインバータ回路114b、及びクロックド・インバータ回路114cにより構成されている。前記クロックド・インバータ回路114aには前記制御信号C4が供給され、クロックド・インバータ回路114cには反転された制御信号/C4が供給されている。
【0067】
また、図12に示す回路において、シフトレジスタ115以降がクリティカルパスとなる。このため、レプリカ回路は、シフトレジスタ115からパッド20までのパスと同じ遅延時間を有する回路により構成される。すなわち、図2に示すハイレベルデータ出力起動信号SSHを生成するためのレプリカ回路(OCD回路“L”)15、23は、シフトレジスタ114の出力データDD2がローレベルで、ローレベルデータ出力起動信号SSLがハイレベルの時、パッド20をローレベルとするパスの回路と同一の遅延時間を有する回路である。また、ローレベルデータ出力起動信号SSLを生成するためのレプリカ回路(OCD回路“H”)17、22は、シフトレジスタ114の出力データDD2がハイレベルで、ハイレベルデータ出力起動信号SSHがハイレベルの時、パッド20をハイレベルとするパスの回路と同一の遅延時間を有する回路である。
【0068】
図14は、図12に示す回路の動作を示している。図12に示すように、第1、第2のバッファ回路111、112のトライ・ステート・バッファ回路111d、112dは、制御信号C1及びC2に応じてメモリセルアレイ19から読み出されたデータDout1、Dout2を順次出力する。
【0069】
制御回路117は、第1、第2のバッファ回路111、112から出力されたデータDD1とハイレベルデータ出力起動信号SSHと、ローレベルデータ出力起動信号SSLとに応じて、外部クロック信号CLKの2倍の周期を有する制御信号C4を出力する。シフトレジスタ114は、制御信号C4に応じて第1、第2のバッファ回路111、112から出力されたデータDD1を取り込み、データDD2として順次出力する。
【0070】
制御回路118は、シフトレジスタ114から出力されたデータDD2とハイレベルデータ出力起動信号SSHと、ローレベルデータ出力起動信号SSLとに応じて外部クロック信号CLKの2倍の周期を有する制御信号C5を出力する。シフトレジスタ115は、制御信号C5に応じてシフトレジスタ114から出力されたデータDD2を取り込み、データDD3として順次出力する。シフトレジスタ115から出力されたデータDD3は、トライ・ステート・バッファ回路116に供給される。このトライ・ステート・バッファ回路116は制御信号C3に応じてデータDD3をパッド20に出力する。
【0071】
上記第5の実施例によれば、シフトレジスタ114、115を制御する制御信号C4、C5をハイレベルデータ出力起動信号SSHと、ローレベルデータ出力起動信号SSLとに基づいて生成している。このため、DDR方式であって、出力データのパスにシフトレジスタ114、115を有する回路において、データの立ち上がり、立ち下りを一致させることができる。
【0072】
本発明は、上記実施例に限定されるものではなく、発明の要旨を変えない範囲において種々変形実施可能なことは勿論である。
【0073】
【発明の効果】
以上、詳述したように本発明によれば、半導体集積回路における占有面積の増大を抑えることが可能であるとともに、消費電力を削減し得る同期回路を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理を説明するために示す図。
【図2】本発明の第1の実施例を示すものであり、本発明をディレイ・ロックド・ループに適用した場合を示す構成図。
【図3】図2の動作を説明するために示すタイミングチャート。
【図4】本発明の第2の実施例を示すものであり、本発明をミラータイプ・ディレイ・ロックド・ループに適用した場合を示す構成図。
【図5】図4の動作を説明するために示すタイミングチャート。
【図6】本発明の第3の実施例を示すものであり、2系統のOCD回路を有する方式を示す構成図。
【図7】図6の一部を具体的に示す回路図。
【図8】図8(a)は図7に示すトライ・ステート・バッファ回路の一例を示す回路図、図8(b)は、図8(a)の動作を示す図。
【図9】図6の動作を示すタイミングチャート。
【図10】本発明の第4の実施例を示す回路図。
【図11】図10の動作を示すタイミングチャート。
【図12】本発明の第5の実施例を示す回路図。
【図13】図12に示すシフトレジスタの一例を示す回路図。
【図14】図12の動作を示すタイミングチャート。
【図15】従来の同期回路を示す構成図。
【図16】図15の動作を示すタイミングチャート。
【図17】従来の同期回路の他の例を示す構成図。
【符号の説明】
11…入力バッファ、
12…可変遅延線、
13…位相比較器、
15、16、22、23…レプリカ回路、
18…オフチップ駆動回路、
41…入力バッファ、
42、43、44、45、48、49…レプリカ回路、
46…可変遅延線、
46a、46b…第1、第2の遅延線、
46c…制御部、
50…オフチップ駆動回路、
SSH…ハイレベルデータ起動信号、
SSL…ローレベルデータ起動信号、
DM…ディレイモニタ、
61、62…オフチップ駆動回路、
63、64…第1、第2の同期回路、
61d、62d、103c…トライ・ステート・バッファ回路、
100、110…パラレル/シリアル変換回路、
101、102、111、112…第1、第2のバッファ回路、
111a、112a、116…トライ・ステート・バッファ回路、
103…OCD回路、
114、115…シフトレジスタ、
117、118…制御回路。
Claims (7)
- クロック信号と同じ周期を有する第1の起動信号に応じてハイレベルデータを出力し、前記クロック信号と同じ周期を有する第2の起動信号に応じてローレベルデータを出力する出力回路と、
前記クロック信号が供給され、前記出力回路がハイレベルデータを出力するときの第1の遅延時間と、ローレベルデータを出力するときの第2の遅延時間の合計分だけ、前記クロック信号の位相を進める第1の信号生成回路と、
前記第2の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第2の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記出力回路がハイレベルデータを出力するための前記第1の起動信号を生成する第2の信号生成回路と、
前記第1の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第1の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記出力回路がローレベルデータを出力するための前記第2の起動信号を生成する第3の信号生成回路と
を具備することを特徴とする同期回路。 - 前記第1の信号生成回路は、
前記クロック信号が供給される入力バッファと、
前記入力バッファの出力信号を遅延する遅延線と、
前記第2、第3の信号生成回路、及び前記入力バッファの合計の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記遅延線の出力信号を遅延するレプリカ回路と、
前記入力バッファの出力信号と前記レプリカ回路の出力信号が供給され、前記入力バッファの出力信号と前記レプリカ回路の出力信号との位相差を検出し、この検出した位相差に応じて前記遅延線を制御する位相比較器と
を具備することを特徴とする請求項1記載の同期回路。 - 前記第1の信号生成回路は、
クロック信号が供給される入力バッファと、
前記入力バッファの出力信号が供給され、前記入力バッファと出力バッファの遅延量をモニタするディレイモニタと、
前記ディレイモニタの出力信号が供給され、前記ディレイモニタの出力信号を前記入力バッファから出力されるクロック信号の1周期分遅延する第1の遅延線と、
前記第1の遅延線により遅延された信号を第1の遅延線による遅延時間と同等の時間だけ遅延する第2の遅延線と
を具備することを特徴とする請求項2記載の同期回路。 - クロック信号が供給される入力バッファと、
前記入力バッファの出力信号が供給され、遅延時間が変化される第1の遅延回路と、
前記第1の遅延回路の出力信号が供給される第1の出力バッファと、
前記第1の遅延回路の出力信号が供給される第2の出力バッファと、
第1の起動信号に応じて、供給されたデータのハイレベルデータを出力し、第2の起動信号に応じて、供給されたデータのローレベルデータを出力する出力回路と、
前記第1の出力バッファの出力信号が供給され、前記出力回路がローレベルデータを出力する回路と同一の構成とされ、前記第 1 の起動信号を出力する第1のレプリカ回路と、
前記第2の出力バッファの出力信号が供給され、前記出力回路がハイレベルデータを出力する回路と同一の構成とされ、前記第2の起動信号を出力する第2のレプリカ回路と、
前記第1の遅延回路の出力信号が供給され、前記第1、第2の出力バッファと同一構成の第3のレプリカ回路と前記第1、第2のレプリカ回路と同一構成の第4のレプリカ回路により構成されている第2の遅延回路と、
前記第2の遅延回路の出力信号が供給され、前記入力バッファと同一構成とされている第5のレプリカ回路と、
前記第5のレプリカ回路の出力信号と前記入力バッファの出力信号の位相を比較し、前記第5のレプリカ回路の出力信号と前記入力バッファの出力信号の位相差に応じて前記第1の遅延回路を制御する位相比較器と
を具備し、
前記第1の遅延回路は、前記出力回路がハイレベルデータを出力するときの第1の遅延時間と前記出力回路がローレベルデータを出力するときの第2の遅延時間との和及び前記第1、第2の出力バッファの遅延時間に相当する時間だけ進んだ信号を出力することを特徴とする同期回路。 - 第1のデータが供給され、クロック信号と同じ周期を有する第1の起動信号に応じて前記第1のデータのハイレベルデータを出力し、前記クロック信号と同じ周期を有する第2の起動信号に応じて前記第1のデータのローレベルデータを出力する第1の出力回路と、
第2のデータが供給され、前記クロック信号と同じ周期を有する第3の起動信号に応じて前記第2のデータのハイレベルデータを出力し、前記クロック信号と同じ周期を有する第4の起動信号に応じて第2のデータのローレベルデータを出力する第2の出力回路と、
前記クロック信号に応じて前記第1、第2の起動信号を生成する第1の同期回路と、
前記クロック信号の反転信号に応じて前記第3、第4の起動信号を生成する第2の同期回路とを具備し、
前記第1の同期回路は、
前記クロック信号が供給され、前記第1の出力回路がハイレベルデータを出力するときの第1の遅延時間と、ローレベルデータを出力するときの第2の遅延時間の合計分だけ、前記クロック信号の位相を進める第1の信号生成回路と、
前記第2の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第2の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記第1の出力回路がハイレベルデータを出力するための前記第1の起動信号を生成する第2の信号生成回路と、
前記第1の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第1の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記第1の出力回路がローレベルデータを出力するための前記第2の起動信号を生成する第3の信号生成回路とを具備し、
前記第2の同期回路は、
前記クロック信号が供給され、前記第2の出力回路がハイレベルデータを出力するときの第3の遅延時間と、ローレベルデータを出力するときの第4の遅延時間の合計分だけ、前記クロック信号の位相を進める第4の信号生成回路と、
前記第4の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第4の信号生成回路から出力される信号を前記第4の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記第2の出力回路がハイレベルデータを出力するための前記第3の起動信号を生成する第5の信号生成回路と、
前記第3の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第4の信号生成回路から出力される信号を前記第3の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記第2の出力回路がローレベルデータを出力するための前記第4の起動信号を生成する第6の信号生成回路とを具備する
ことを特徴とする同期回路。 - 前記第1、第2の出力回路とパッドとの間に接続され、前記第1、第2の出力回路から出力されるデータに応じて前記パッドを駆動する第3の出力回路をさらに具備し、
前記第1、第2の出力回路に含まれるバッファ回路を構成するトランジスタのサイズは、前記第3の出力回路に含まれるバッファ回路を構成するトランジスタのサイズより小さいことを特徴とする請求項5記載の同期回路。 - 第1、第2のデータが供給され、前記第1、第2のデータを順次出力するパラレル/シリアル変換回路と、
前記パラレル/シリアル変換回路の出力信号が供給され、ハイレベルデータ又はローレベルデータを出力するシフトレジスタと、
前記シフトレジスタの出力信号が供給される出力回路と、
前記シフトレジスタに接続され、前記パラレル/シリアル変換回路の出力信号と、クロック信号と同じ周期を有しハイレベルデータを出力するための第1の起動信号、及び前記クロック信号と同じ周期を有しローレベルデータを出力するための第2の起動信号に応じて制御信号を発生し、前記シフトレジスタに供給する制御回路と、
前記クロック信号に応じて前記第1、第2の起動信号を生成する起動信号発生回路と
を具備し、
前記起動信号発生回路は、
前記クロック信号が供給され、前記シフトレジスタがハイレベルデータを出力するときの第1の遅延時間と、ローレベルデータを出力するときの第2の遅延時間の合計分だけ、前記クロック信号の位相を進める第1の信号生成回路と、
前記第2の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第2の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記シフトレジスタがハイレベルデータを出力するための前記第1の起動信号を生成する第2の信号生成回路と、
前記第1の遅延時間と同等の遅延時間を有し、前記第1の信号生成回路から出力される信号を前記第1の遅延時間遅延し、この遅延された信号により前記シフトレジスタがローレベルデータを出力するための前記第2の起動信号を生成する第3の信号生成回路と
を具備することを特徴とする同期回路。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000244839A JP3906016B2 (ja) | 1999-08-17 | 2000-08-11 | 同期回路 |
US09/641,139 US6313674B1 (en) | 1999-08-17 | 2000-08-16 | Synchronizing circuit for generating internal signal synchronized to external signal |
KR1020000047151A KR100344597B1 (ko) | 1999-08-17 | 2000-08-16 | 외부 신호에 동기한 내부 신호를 발생하는 동기 회로 |
TW089116635A TW517460B (en) | 1999-08-17 | 2000-08-17 | Synchronous circuit for generating internal signal synchronized to external signal |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11-230702 | 1999-08-17 | ||
JP23070299 | 1999-08-17 | ||
JP2000244839A JP3906016B2 (ja) | 1999-08-17 | 2000-08-11 | 同期回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001125665A JP2001125665A (ja) | 2001-05-11 |
JP3906016B2 true JP3906016B2 (ja) | 2007-04-18 |
Family
ID=26529483
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000244839A Expired - Fee Related JP3906016B2 (ja) | 1999-08-17 | 2000-08-11 | 同期回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6313674B1 (ja) |
JP (1) | JP3906016B2 (ja) |
KR (1) | KR100344597B1 (ja) |
TW (1) | TW517460B (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6081147A (en) * | 1994-09-29 | 2000-06-27 | Fujitsu Limited | Timing controller and controlled delay circuit for controlling timing or delay time of a signal by changing phase thereof |
JP2001068650A (ja) * | 1999-08-30 | 2001-03-16 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
US6877054B2 (en) * | 2001-07-16 | 2005-04-05 | Rambus Inc. | Method and apparatus for position dependent data scheduling |
US7107476B2 (en) * | 2001-11-21 | 2006-09-12 | Hynix Semiconductor Inc. | Memory system using non-distributed command/address clock signals |
KR100560644B1 (ko) * | 2002-01-09 | 2006-03-16 | 삼성전자주식회사 | 클럭 동기회로를 구비하는 집적회로장치 |
DE10302128B3 (de) * | 2003-01-21 | 2004-09-09 | Infineon Technologies Ag | Pufferverstärkeranordnung |
JP3953041B2 (ja) * | 2004-03-31 | 2007-08-01 | 日本電気株式会社 | 出力バッファ回路および半導体集積回路 |
US7084686B2 (en) * | 2004-05-25 | 2006-08-01 | Micron Technology, Inc. | System and method for open-loop synthesis of output clock signals having a selected phase relative to an input clock signal |
US7078951B2 (en) * | 2004-08-27 | 2006-07-18 | Micron Technology, Inc. | System and method for reduced power open-loop synthesis of output clock signals having a selected phase relative to an input clock signal |
US7199629B2 (en) * | 2004-10-27 | 2007-04-03 | Infineon Technologies Ag | Circuit having delay locked loop for correcting off chip driver duty distortion |
KR100646932B1 (ko) * | 2004-12-06 | 2006-11-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 오프 칩 드라이버 제어용 카운터 회로 |
KR102035112B1 (ko) * | 2012-12-11 | 2019-10-23 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 |
TWI619316B (zh) | 2015-05-29 | 2018-03-21 | 創惟科技股份有限公司 | 適用於連接不同類型連接埠的通用序列匯流排之集線裝置及其方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5900752A (en) * | 1997-01-24 | 1999-05-04 | Cypress Semiconductor Corp. | Circuit and method for deskewing variable supply signal paths |
-
2000
- 2000-08-11 JP JP2000244839A patent/JP3906016B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2000-08-16 KR KR1020000047151A patent/KR100344597B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2000-08-16 US US09/641,139 patent/US6313674B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-08-17 TW TW089116635A patent/TW517460B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20010050086A (ko) | 2001-06-15 |
JP2001125665A (ja) | 2001-05-11 |
US6313674B1 (en) | 2001-11-06 |
KR100344597B1 (ko) | 2002-07-20 |
TW517460B (en) | 2003-01-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060516 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060718 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100119 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100119 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110119 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110119 Year of fee payment: 4 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
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|
S533 | Written request for registration of change of name |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130119 Year of fee payment: 6 |
|
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130119 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140119 Year of fee payment: 7 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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