JP3889920B2 - 散乱式粒子径分布測定装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、光源からの光を試料に対して光を照射し、そのとき散乱光を集光レンズを介して光検出器に入射させ、このとき得られる散乱光強度パターンに基づいて試料中の粒子径分布を測定する散乱式粒子径分布測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
図6は従来の散乱式粒子径分布測定装置の構成を概略的に示すもので、この図において、1はレーザ光2を発する光源、3はレーザ光2を適宜拡大するビームエクスパンダ、4は試料5が供給される流通型のセル、6はセル4の後方に設けられる集光レンズである。7は集光レンズ6からの散乱光や透過光を検出する光検出器で、光軸中心部に設けられる透過光受光素子8を中心にして複数の円弧状の散乱光受光素子9が適宜の間隔をおいて設けられてなり、各受光素子8,9はフォトダイオードよりなる。10は光検出器7からの信号を取り込むマルチプレクサ、11はマルチプレクサ10からの信号が入力され、散乱光強度パターンに基づいて演算を行って粒子径分布を求めるCPU、12は装置全体を制御するパソコンで、演算結果などを表示するカラーディスプレイなどの表示装置13を備えている。
【0003】
前記散乱式粒子径分布測定装置においては、セル4に試料5を供給しながらレーザ光2をセル4に対して照射すると、レーザ光2の一部がセル4内の試料5中の粒子を照射して散乱光14となり、残りの光は粒子と粒子との間を通過して透過光15となる。そして、これら散乱光14および透過光15は、それぞれ、集光レンズ6を経て光検出器7の散乱光受光素子9および透過光受光素子8に入射する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記散乱式粒子径分布測定装置においては、光源1と光検出器7との光軸が厳密に一致していなければならず、この例においては、光源1を発したレーザ光2の光軸中心と光検出器7における散乱光受光素子9の中心位置とが一致している必要があるが、光源1が熱歪みを起こしたり、セル4、レンズ6、光検出器7をそれぞれ設けたベンチ(図示してない)が熱で歪んだり、また、セル4を交換したりする場合、その取付け位置が変化するなどして、前記光軸にずれが生ずることがあった。
【0005】
そこで、従来の散乱式粒子径分布測定装置においては、光検出器7を平行に移動するXYステージ16に設け、このXYステージ16を、圧電素子やステッピングモータなどの直動式のアクチュエータ17,18を用いて、X方向および/またはY方向に移動し、前記光軸のずれを矯正し、光軸調整を行うようにしていた。
【0006】
しかしながら、上記従来の散乱式粒子径分布測定装置においては、光軸調整のために必要とされる移動量あるいはステップ数を確保するために装置内に比較的大きなスペースを要するとともに、構成が複雑になる。そして、精度の高い測定を行うには、前記光軸調整を高精度で行う必要があるが、精度の高い調整を行うためには、動作精度の高い高価な直動部品が必要になり、ひいては、装置が高価なものになるといった課題があった。
【0007】
この発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その目的は、大きなスペースを要することなく、光源と光検出器との光軸を簡単な構造でありながらも精度よく調整することができる散乱式粒子径分布測定装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、この発明では、光源からの光を試料に対して照射し、そのときに生ずる散乱光を光検出器で検出し、このとき得られる散乱光強度パターンに基づいて試料中の粒子径分布を測定する散乱式粒子径分布測定装置において、前記光検出器を保持するための保持ベースが第1および第2ベース部材よりなり、そのうち第1ベース部材はその一端部において前記光源と光検出器とを結ぶ軸と平行またはこれと角度をなすように設けられた軸を中心に回転自在に枢支され、第2ベース部材は前記第1ベース部材の他端部において該第1ベース部材の枢支軸と平行に設けられた軸を中心に回転自在に枢支され、前記光検出器は第2ベース部材の表面に保持されており、かつ、前記第1ベース部材を前記枢支軸を中心に回転させるための第1アクチュエータおよび前記第2ベース部材を前記第1ベース部材の他端部の枢支軸を中心に回転させるべく第1ベース部材に取り付けた第2アクチュエータが設けられ、これら第1および第2アクチュエータはそれらの作用点 が前記第1および第2ベース部材の枢支軸近くに位置するように配置されていることを特徴とする(請求項1)。
【0009】
また、請求項2に記載のように、前記光検出器を保持するための保持ベースが第1および第2ベース部材よりなり、そのうち第1ベース部材は前記光源と光検出器とを結ぶ軸と直交する方向またはこれと角度をなす方向に直線的に移動するように設けられ、第2ベース部材は前記第1ベース部材上に前記光源と光検出器とを結ぶ軸と平行またはこれと角度をなすように設けられた軸を中心に回転自在に枢支され、前記光検出器は第2ベース部材の表面に保持されており、かつ、前記第1ベース部材を前記方向に直線的に移動させるための第1アクチュエータおよび前記第2ベース部材を前記第1ベース部材側面の枢支軸を中心に回転させるべく第1ベース部材に取り付けた第2アクチュエータが設けられ、この第2アクチュエータはその作用点が前記第2ベース部材の枢支軸近くに位置するように配置されている、あるいは、請求項3に記載のように、前記光検出器を保持するための保持ベースが第1および第2ベース部材よりなり、そのうち第1ベース部材はその一端部において前記光源と光検出器とを結ぶ軸と平行またはこれと角度をなすように設けられた軸を中心に回転自在に枢支され、第2ベース部材は前記第1ベース部材上に前記光源と光検出器とを結ぶ軸と直交する方向またはこれと角度をなす方向に直線的に移動するように設けられ、前記光検出器は第2ベース部材の表面に保持されており、かつ、前記第1ベース部材を前記枢支軸を中心に回転させるための第1アクチュエータおよび前記第2ベース部材を前記方向に直線的に移動させるべく前記第1ベース部材に取り付けた第2アクチュエータが設けられ、前記第1アクチュエータはその作用点が前記第1ベース部材の枢支軸近くに位置するように配置されているなどの態様を採用することを特徴とする。
【0010】
上記構成の散乱式粒子径分布測定装置においては、光源と光検出器とを結ぶ軸と平行またはこれと角度をなすように設けられた軸を中心にした第1および第2ベース部材の回転の組合せ、あるいは、第1ベース部材の光源と光検出器とを結ぶ軸と直交する方向またはこれと角度をなす方向への直線移動または前記軸を中心にした回転と第2ベース部材の前記軸を中心にした回転または前記方向への直線移動の組合せによって、光検出器の移動範囲を大きくとれるようにしているので、従来に比べて、光軸の調整範囲が広がり、散乱式粒子径分布測定装置散乱式粒子径分布測定装置の分解能が向上する。そして、光軸調整のための構成部材が少なくて済み、また、装置内に光軸調整のために大きなスペースを要することがなくなるとともに、高価な直動部材を必要としないので、測定精度が高く、安価でコンパクトな散乱式粒子径分布測定装置を得ることができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
この発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。図1および図2は、この発明の一つの実施の形態を示すものである。これらの図において、図6に示した符号と同一のものは同一物であるので、その詳細な説明は省略する。
【0012】
前記図1および図2に示す散乱式粒子径分布測定装置が、図6に示したものと大きく異なる点は、光検出器7を、光源1と光検出器7とを結ぶ軸19と平行またはこれと角度をなすように設けられる軸を中心に回転する機構を構成する保持ベース20に保持させた点である。すなわち、図1において、20は光検出器7を保持するための保持ベースで、この保持ベース20は、二つのベース部材、すなわち、第1ベース部材21と第2ベース部材22とからなる。
【0013】
前記保持ベース20の構成を、図2をも参照しながら説明すると、まず、第1ベース部材21は、例えば適宜厚さのアーム体またはレバー体よりなり、その一端側が光源1と光検出器7とを結ぶ軸19とはやや離れ、これと平行に設けられた軸23に回転自在に枢支されている。すなわち、第1ベース部材21の回転面は、前記軸19と直交している。そして、この枢支軸23に比較的近い下端部、つまり、その作用点が枢支軸23近くに位置するように被押圧部材24が設けられ、この被押圧部材24を押圧するように第1アクチュエータ25が設けられており、この第1アクチュエータ25の動作により、第1ベース部材21は、枢支軸23を中心にして図中の矢印U方向に回転する。なお、26は第1アクチュエータ25の取付け用ブラケット部材である。
【0014】
そして、第2ベース部材22は、例えば適宜厚さの扇体よりなり、その要の部分が、第1ベース部材21の枢支軸23とは反対側の他端部において枢支軸23と平行に設けられる軸27に回転自在に枢支されている。すなわち、第2ベース部材22の回転面は、前記第1ベース部材21の回転面と平行かつ前記軸19と直交している。そして、第1ベース部材21の枢支軸27に比較的近い部分、つまり、その作用点が前記第1ベース部材21の枢支軸27近くに位置するように配置されて第2ベース部材22の下端面を押圧するための第2アクチュエータ28がブラケット29を介して取り付けられており、この第2アクチュエータ28の動作により、第2ベース部材22は、枢支軸27を中心にして図中の矢印V方向に回転する。
【0015】
なお、前記アクチュエータ25,28としては、例えば圧電素子やステッピングモータなど直線的に動作するものを用いることができる。また、このアクチュエータ25,28は、パソコン12によって制御される。
【0016】
そして、この実施の形態においては、透過光受光素子8および複数の散乱光受光素子9よりなる光検出器7は、前記第2ベース部材22のレンズ6に面した表面22aに所定の状態で保持される。
【0017】
上記構成の散乱式粒子径分布測定装置においては、第1アクチュエータ25を動作させることにより、第1ベース部材21が軸23を中心にして矢印U方向に回転する。これによって、第2ベース部材22およびその枢支軸27も軸23を中心にして円弧状に移動するが、第2ベース部材22を、枢支軸27を中心して回転させる第2アクチュエータ28も第2ベース部材22およびその枢支軸27と同様に軸23を中心にして円弧状に移動するため、第2ベース部材22およびその枢支軸27と第2アクチュエータ28との相対的な位置関係は、常に一定であり、固定されている。
【0018】
そして、第2アクチュエータ28を動作させることにより、第2ベース部材22が軸27を中心にして矢印V方向に回転する。
【0019】
上記構成の散乱式粒子径分布測定装置における光軸調整の一例を説明すると、測定に先立って、セル4が空の状態で、光源1からレーザ光2をセル4に照射する。そのときセル4を透過した光15は、透過光受光素子8に入射する。この透過光受光素子8からの信号がCPU11に入力されて、透過光強度が求められ、これがパソコン12に入力される。そして、透過光受光素子8によって検出される透過光強度が最大になるように、パソコン12から前記アクチュエータ25,28に対して制御信号が送出され、これに基づいて第1ベース部材21および第2ベース部材22が所定量回転され、所望の光軸調整が自動で行われる。
【0020】
上記実施の形態においては、光検出器7が、光源1と光検出器7とを結ぶ軸19と平行な軸23,27を中心にしてそれぞれ回転する第1および第2ベース部材21,22からなる保持ベース20に保持させており、回転方向の調整を行うようにしているので、従来に比べて、調整範囲が広がり、分解能が向上する。すなわち、ベース部材21,22をアクチュエータ25,28によって回転させる場合、それぞれの回転のためにベース部材21,22に加える力の作用点が、軸23,27に近い位置に設けられているので、アクチュエータ25,28のストロークが同一であってもベース部材21,22の移動範囲を大きくすることができ、調整範囲が広がる。このため、光軸調整のための調整幅が大きくなり、結果として、散乱式粒子径分布測定装置の分解能が向上されることになるのである。
【0021】
そして、上記構成によれば、光軸調整のための構成部材が少なくて済み、また、装置内に光軸調整のために大きなスペースを要することがなくなるとともに、高価な直動部材を必要としないので、安価でコンパクトな散乱式粒子径分布測定装置を得ることができる。
【0022】
また、特に、光検出器7を保持した第2ベース部材22を、第1ベース部材21上において回転させるように構成するとともに、第2ベース部材22を回転させるための第2アクチュエータ28を第1ベース部材21に設けているので、第2ベース部材22およびその枢支軸27と第2アクチュエータ28との相対的な位置関係が常に一定となり固定化されるので、位置調整のための信号制御が簡素化される。
【0023】
上述の実施の形態においては、保持ベース20を構成する第1ベース部材21および第2ベース部材22がともに回転するものであったが、これに代えて、図3または図4に示すように、一方のベース部材を回転させ、他方のベース部材を直線的に移動させるようにしてもよい。
【0024】
まず、図3は第2の実施の形態を示すもので、この図において、30は矢印X方向に直線的に移動する第1ベース部材で、この第1ベース部材30は、例えば平板よりなり、第1アクチュエータ31によってガイドベース32に沿って移動する。そして、33は第1ベース部材30の側面に設けられる第2ベース部材で、前記第2ベース部材22と同様に構成されており、図においては、対応する部分に図1における符号と同一符号を付している。この第2ベース部材33は、第1ベース部材30に設けられた第2アクチュエータ28の動作により、枢支軸27を中心にして矢印U方向に回転する。そして、この第2ベース部材33の表面に光検出器7が所定の状態で保持される。
【0025】
次に、図4は第3の実施の形態を示すもので、この図において、40は第1ベース部材で、例えば平面視五角形の平板よりなり、その一端側(三角形状側)が光源1と光検出器7とを結ぶ軸19とはやや離れ、これと平行に設けられた軸41に回転自在に枢支され、その軸41近くの下端部の適宜位置において第1アクチュエータ42が押圧することにより、枢支軸41を中心にして図中の矢印U方向に回転するように構成されている。また、43は第1ベース部材40の側面に設けられる第2ベース部材で、例えば平板よりなり、第1ベース部材40に固定した状態で設けられるガイドベース44の一端側に設けられた第2アクチュエータ45によって、前記ガイドベース44に沿うようにして水平方向(矢印X方向)に移動する。そして、この第2ベース部材43の表面に光検出器7が所定の状態で保持される。
【0026】
上記第2および第3の実施の形態の動作およびその作用効果は、前記第1の実施の形態のそれとほぼ同じであるので、その説明は省略する。
【0027】
なお、上述の各実施の形態においては、集光レンズ6をセル4の後段側、より詳しくは、セル4と光検出器7との間に設け、光源からの光2をセル4内の試料5に対して照射し、そのときに生ずる散乱光14を集光レンズ6を介して光検出器7に入射させる光学系を採用していたが、この発明はこれに限られるものではなく、例えば図1に示した実施の形態において、その光学系を、図5に示すように、集光レンズ6をセル4の前段側(例えばビームエクスパンダ3とセル4との間)に設けた逆フーリエ型の光学系に構成してもよい。
【0028】
この発明は、上述の各実施の形態に限られるものではなく、種々に変形して実施することができる。例えば、上述の各実施の形態においては、第1ベース部材21,40や第2ベース部材22,33の回転面を、光源1と光検出器7とを結ぶ軸19と直交するように、第1ベース部材21,40、第2ベース部材22,33の枢支軸23,27,40を、前記軸19と平行になるようにしていたが、このようにする必要はなく、前記軸23,27,40を軸19と平行ではなく、これと角度をなすようにして設けてよい。特に、光検出器7を取り付けた第2ベース部材22,33の回転面をやや傾けた場合、光検出器7に一旦入射した光が、光検出器7の表面で反射しても、その反射光がセル1側に再入射して、ノイズとなる迷光が生ずるのが防止される。
【0029】
そして、図3や図4に示すように、第1ベース部材30や第2ベース部材43を直線的に移動させる場合においては、これらの部材30,43を、光源1と光検出器7とを結ぶ軸19と角度をなす方向に直線的に移動させるようにしてもよい。
【0030】
また、前記第1ベース部材21,40や第2ベース部材22,33を枢支する軸23,27,41の軸受け部にベアリングを用いるようにすれば、前記部材21,22,33,40,の回転がスムーズに行われる。このベアリングとしては市販の安価なものでよい。
【0031】
そして、前記第1ベース部材21,40や第2ベース部材22,32を回転させるためのアクチュエータ25,42,28,45の作用点を、それらの枢支軸23,27に対してより近くに設けることにより、少しのストロークによって前記ベース部材21,22,32,40を大きく移動させることができる。
【0032】
【0033】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明においては、光源と光検出器とを結ぶ軸と平行またはこれと角度をなすように設けられた軸を中心にした第1および第2ベース部材の回転の組合せ、あるいは、第1ベース部材の光源と光検出器とを結ぶ軸と直交する方向またはこれと角度をなす方向への直線移動または前記軸を中心にした回転と第2ベース部材の前記軸を中心にした回転または前記方向への直線移動の組合せによって、光検出器の移動範囲を大きくとれるようにしているので、従来に比べて、調整範囲が広がり、分解能が向上する。そして、光軸調整のための構成部材が少なくて済み、また、装置内に光軸調整のために大きなスペースを要することがなくなるとともに、高価な直動部材を必要としないので、安価でコンパクトな散乱式粒子径分布測定装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の散乱式粒子径分布測定装置の構成の一例を概略的に示す図である。
【図2】 前記散乱式粒子径分布測定装置における光検出器の保持部分の構成の一例を示す斜視図である。
【図3】 前記保持部分の他の構成例を示す斜視図である。
【図4】 前記保持部分のさらに他の構成例を示す斜視図である。
【図5】 前記散乱式粒子径分布測定装置の他の構成例を概略的に示す図である。
【図6】 従来技術を説明するための図である。
【符号の説明】
1…光源、2…光、5…試料、7…光検出器、14…散乱光、19…光源と光検出器とを結ぶ軸、20…保持ベース、21,30,40…第1ベース部材、22,33,43…第2ベース部材、23,27,41…枢支軸、25,31,42…第1アクチュエータ、28,45…第2アクチュエータ。
Claims (3)
- 光源からの光を試料に対して照射し、そのときに生ずる散乱光を光検出器で検出し、このとき得られる散乱光強度パターンに基づいて試料中の粒子径分布を測定する散乱式粒子径分布測定装置において、前記光検出器を保持するための保持ベースが第1および第2ベース部材よりなり、そのうち第1ベース部材はその一端部において前記光源と光検出器とを結ぶ軸と平行またはこれと角度をなすように設けられた軸を中心に回転自在に枢支され、第2ベース部材は前記第1ベース部材の他端部において該第1ベース部材の枢支軸と平行に設けられた軸を中心に回転自在に枢支され、前記光検出器は第2ベース部材の表面に保持されており、かつ、前記第1ベース部材を前記枢支軸を中心に回転させるための第1アクチュエータおよび前記第2ベース部材を前記第1ベース部材の他端部の枢支軸を中心に回転させるべく第1ベース部材に取り付けた第2アクチュエータが設けられ、これら第1および第2アクチュエータはそれらの作用点が前記第1および第2ベース部材の枢支軸近くに位置するように配置されていることを特徴とする散乱式粒子径分布測定装置。
- 光源からの光を試料に対して照射し、そのときに生ずる散乱光を光検出器で検出し、このとき得られる散乱光強度パターンに基づいて試料中の粒子径分布を測定する散乱式粒子径分布測定装置において、前記光検出器を保持するための保持ベースが第1および第2ベース部材よりなり、そのうち第1ベース部材は前記光源と光検出器とを結ぶ軸と直交する方向またはこれと角度をなす方向に直線的に移動するように設けられ、第2ベース部材は前記第1ベース部材上に前記光源と光検出器とを結ぶ軸と平行またはこれと角度をなすように設けられた軸を中心に回転自在に枢支され、前記光検出器は第2ベース部材の表面に保持されており、かつ、前記第1ベース部材を前記方向に直線的に移動させるための第1アクチュエータおよび前記第2ベース部材を前記第1ベース部材側面の枢支軸を中心に回転させるべく第1ベース部材に取り付けた第2アクチュエータが設けられ、この第2アクチュエータはその作用点が前記第2ベース部材の枢支軸近くに位置するように配置されていることを特徴とする散乱式粒子径分布測定装置。
- 光源からの光を試料に対して照射し、そのときに生ずる散乱光を光検出器で検出し、このとき得られる散乱光強度パターンに基づいて試料中の粒子径分布を測定する散乱式粒子径分布測定装置において、前記光検出器を保持するための保持ベースが第1および第2ベース部材よりなり、そのうち第1ベース部材はその一端部において前記光源と光検出器とを結ぶ軸と平行またはこれと角度をなすように設けられた軸を中心に回転自在に枢支され、第2ベース部材は前記第1ベース部材上に前記光源と光検出器とを結ぶ軸と直交する方向またはこれと角度をなす方向に直線的に移動するように設けられ、前記光検出器は第2ベース部材の表面に保持されており、かつ、前記第1ベース部材を前記枢支軸を中心に回転させるための第1アクチュエータおよび前記第2ベース部材を前記方向に直線的に移動させるべく前記第1ベース部材に取り付けた第2アクチュエータが設けられ、前記第1アクチュエータはその作用点が前記第1ベース部材の枢支軸近くに位置するように配置されていることを特徴とする散乱式粒子径分布測定装置。
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- 2000-09-22 JP JP2000288052A patent/JP3889920B2/ja not_active Expired - Fee Related
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CN106066294A (zh) * | 2015-04-22 | 2016-11-02 | 罗伯特·博世有限公司 | 颗粒传感器设备 |
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