JP3860168B2

JP3860168B2 - 光パルス試験器及び光ファイバの異常解析方法

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Publication number: JP3860168B2
Application number: JP2003430241A
Authority: JP
Inventors: 善文今津; 一基田中
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2003-12-25
Filing date: 2003-12-25
Publication date: 2006-12-20
Anticipated expiration: 2023-12-25
Also published as: JP2005191887A

Description

本発明は、複数の測定地点において正常時の測定を忠実に再現して測定の信頼性を向上させることができる光パルス試験器及び光ファイバの異常解析方法に関し、特に、光ファイバスターカプラにより、１台の伝送装置からの信号を例えば各家庭の測定地点に配置される複数の光加入者装置で共有するＰＯＮ(Passive Optical Network) 方式の光ファイバアクセスネットワークに用いて好適な光パルス試験器及び光ファイバの異常解析方法に関するものである。

以下では、光ファイバアクセスネットワークの場合を例にとって説明する。
従来より光ファイバ通信は通信ネットワークの根幹となる大動脈として導入されており、通信ネットワークの高度化において重要な役割を果たしている。

そして、通信ネットワークが高度化される反面、オフィスや家庭へと面的に広がるアクセス（加入者）ネットワークに関しては、依然として伝送媒体がメタリックケーブルとなっているのが現状である。

近年、インターネットの普及により、従来のアクセスネットワークでは不十分となり、電話回線が利用しない周波数帯域でデータ通信を行うＡＤＳＬ(Asymmetric Digital Subscriber Line)などメタリックケーブルを高速化する技術も普及している。しかし、この種の技術で高速化できるのは局から加入者への下りのみであり、伝送速度も数Ｍｂｉｔ／ｓと限界がある。このため、光ファイバ化によるアクセスネットワークの高速化が要求されており、光ファイバを家庭まで引き込むＦＴＴＨ(Fiber To The Home) へと発展しつつある。

ところで、上述したＦＴＴＨを実現するべく、光ファイバが各家庭に敷設されてくると、開通時や障害発生時に、加入者の家庭側に測定装置を持ち込み、屋内機器として設置される光加入者装置（ＯＮＵ：Optical Network Unit) を測定装置につなぎ替えて測定を行う必要がある。

この場合の測定装置としては、例えば光ファイバの各種特性測定を行う際に一般的に用いられている光パルス試験器が考えられる。光パルス試験器は、光ファイバに光パルスを入射し、この光パルスの入射に伴う後方散乱光およびフレネル反射光のレベルを測定することにより、光ファイバの損失分布状態を試験して確認するものである。

ところで、光ファイバの中途位置で接続損失が増大している場合など、光ファイバに障害があると、それ以降では後方散乱光のレベルが不連続に低下する。さらに、断線している場合にはフレネル反射光が生じる。そこで、光パルス試験器を用い、レベルが不連続に低下する位置およびフレネル反射光が発生している位置を距離で観測し、障害位置を特定する。しかし、この観測を光パルス試験器で行うためには、初期設定として、入射パルスのパルス幅、距離レンジ、測定結果の平均化処理時間などの測定パラメータを各々調整する必要があった。
特開平１０−１６３９６０号公報特開２００１−３４５８１４号公報

しかしながら、従来のように、加入者宅内に設置されている光加入者装置の光入力端子に接続されている光ファイバ線路の終端部に光パルス試験器（測定装置）をつなぎ、各種測定パラメータを調整して測定を行う方法では、正常時の測定データや測定パラメータが分からないまま、障害が発生した時点で光加入者装置を光パルス試験器につなぎ替えて測定を行うことになり、障害位置を特定するための最適な測定パラメータを調整するのに手間と時間がかかるという問題があった。特に、光ファイバの断線ではなく、特定位置での損失増加による障害の場合には、測定データと正常時の測定データとを比較しなければ、その損失増加位置を確認することが困難であった。

また、光パルス試験器によって測定された測定データや測定パラメータは、過去データを含めて各加入者毎に工事業者側のサーバで一括管理することも考えられる。しかし、光パルス試験器で測定を行って実際に障害が発見され、その場で対処方法が見つからなければ、そのときの測定データを一旦持ち帰って過去データと比較する必要があり、対処方法を見出すために再度出直さなければならず、障害時の対応が遅れるという問題があった。また、測定時に正常時の測定パラメータが設定されているとは限らず、測定時の測定パラメータが正常時のものと対応していないおそれもある。この場合、正常時の測定を忠実に再現することが困難であり、測定の信頼性に欠けるという課題がある。

さらに、上述した障害の有無の測定を設備局側から行うことも考えられる。ところが、コスト低減を図るため、例えば特許文献１や特許文献２に開示されるように、図５に示すようなＰＯＮ方式を採用した光ファイバアクセスネットワークの場合には、設備局（親局）に配置された１台の伝送装置４からの信号を、光ファイバスターカプラ２により複数の子局に配置された各光加入者装置５（図５の例では５Ａ，５Ｂ，５Ｃ）で共有することになる。このため、伝送装置４を光パルス試験器（測定装置）につなぎ替えた際、測定対象としていない他の加入者の光加入者装置と伝送装置との間でデータ通信を行うことができないという問題を招く。従って、ＰＯＮ方式を採用した光ファイバアクセスネットワークの場合には、光加入者装置５側から障害の有無の測定を効率的に行うことができる装置やシステムの構築が望まれていた。

そこで、本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、不慣れな工事業者の場合であっても複数の測定地点において正常時の測定を忠実に再現して測定の信頼性を向上させることができる光パルス試験器及び光ファイバの異常解析方法を提供することを目的としている。

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された光パルス試験器は、光ファイバアクセスネットワーク上に敷設されている光ファイバに光加入者装置側から光パルスを入射し、該光パルスの入射に伴う反射光のレベルを測定することにより、被測定対象である該光ファイバの障害の有無を判別する光パルス試験器であって、
光ファイバを敷設し、測定地点に光加入者装置を配置し、光ファイバアクセスネットワークを構築する際、該光加入者装置側から当該光ファイバの損失分布状態を測定して測定時の測定パラメータ及び測定結果を前記測定地点に記録するために二次元バーコードとして出力する出力手段１６を備え、
前記光ファイバに障害が生じたか否かを試験するために、前記測定地点に残された前記二次元バーコードを読み取る読取手段１７と、
前記読取手段で読み取った測定パラメータを用いて前記光加入者装置側から前記光ファイバの損失分布状態を測定する測定手段１３と、
その測定結果と前記二次元バーコードに記録されて前記読取手段で読み取られた測定結果とを比較して障害の有無を判別する制御手段１２とを備えたことを特徴とする。

請求項２に記載された光パルス試験器は、光ファイバアクセスネットワーク上に敷設されている光ファイバに光加入者装置側から光パルスを入射し、該光パルスの入射に伴う反射光のレベルを測定することにより、被測定対象である該光ファイバの障害の有無を判別する光パルス試験器であって、
光ファイバを敷設し、測定地点に光加入者装置を配置し、光ファイバアクセスネットワークを構築する際、該光加入者装置側から当該光ファイバの損失分布状態を測定して測定時の測定パラメータ及び測定結果を前記測定地点に記録するために記憶素子に出力する出力手段１６を備え、
前記光ファイバに障害が生じたか否かを試験するために、前記測定地点に残された前記記憶素子を読み取る読取手段１７と、
前記読取手段で読み取った測定パラメータを用いて前記光加入者装置側から前記光ファイバの損失分布状態を測定する測定手段１３と、
その測定結果と前記記憶素子に記録されて前記読取手段で読み取られた測定結果とを比較して障害の有無を判別する制御手段１２とを備えたことを特徴とする。

請求項３に記載された光パルス試験器は、請求項１または請求項２記載の光パルス試験器において、
前記光ファイバアクセスネットワークはＰＯＮ方式の光ファイバアクセスネットワークであることを特徴とする。

請求項４に記載された光ファイバの異常解析方法は、光ファイバアクセスネットワーク上に敷設されている光ファイバに光加入者装置側から光パルスを入射し、該光パルスの入射に伴う反射光のレベルを測定することにより、被測定対象である該光ファイバの障害の有無を判別する光ファイバの異常解析方法であって、
光ファイバを敷設し、測定地点に光加入者装置を配置し、光ファイバアクセスネットワークを構築する際、該光加入者装置側から当該光ファイバの損失分布状態を測定して測定時の測定パラメータ及び測定結果を前記測定地点に記録するために二次元バーコードとして出力するステップと、
前記光ファイバに障害が生じたか否かを試験するために、前記測定地点に残された前記二次元バーコードを読み取るステップと、
前記読み取った測定パラメータを用いて前記光加入者装置側から前記光ファイバの損失分布状態を測定するステップと、
その測定結果と前記二次元バーコードに記録された測定結果とを比較して障害の有無を判別するステップとを含むことを特徴とする。

請求項５に記載された光ファイバの異常解析方法は、光ファイバアクセスネットワーク上に敷設されている光ファイバに光加入者装置側から光パルスを入射し、該光パルスの入射に伴う反射光のレベルを測定することにより、被測定対象である該光ファイバの障害の有無を判別する光ファイバの異常解析方法であって、
光ファイバを敷設し、測定地点に光加入者装置を配置し、光ファイバアクセスネットワークを構築する際、該光加入者装置側から当該光ファイバの損失分布状態を測定して測定時の測定パラメータ及び測定結果を前記測定地点に記録するために記憶素子として出力するステップと、
前記光ファイバに障害が生じたか否かを試験するために、前記測定地点に残された前記記憶素子を読み取るステップと、
前記読み取った測定パラメータを用いて前記光加入者装置側から前記光ファイバの損失分布状態を測定するステップと、
その測定結果と前記記憶素子に記録された測定結果とを比較して障害の有無を判別するステップとを含むことを特徴とする。

請求項６に記載された光ファイバの異常解析方法は、請求項４または請求項５の光ファイバの異常解析方法において、
前記光ファイバアクセスネットワークはＰＯＮ方式の光ファイバアクセスネットワークであることを特徴とする。

本発明によれば、測定地点における正常時の測定結果と測定パラメータとをその測定地点に測定データ記録として残し、再度測定するときに測定データ記録として残された正常時の測定結果および測定パラメータをあらかじめ読取っておくことで現在の測定結果との比較が容易に行え、正常時の測定を忠実に再現でき、測定の信頼性が向上する。

また、光ファイバを敷設した際の測定に関わらず、測定地点が多くの場所に分散している状態で、測定対象となる測定地点で過去の正常時の測定パラメータにより測定を行い、この測定結果を正常時の測定結果と比較することにより、保守工事業者が熟練者でなくても異常時の問題の原因究明を容易に実現できるといった効果がある。

図１は本発明に係る測定システムの概略構成図、図２は図１の測定システムにおいて測定時に光加入者装置とつなぎ替えられる本発明に係る測定装置のブロック構成図、図３は本発明に係る測定装置が出力および読取を行う２次元バーコードの一例を示す図、図４は本発明に係る測定装置によって測定される正常時の測定結果と障害時の測定結果を一画面上に表示した例を示す図である。

図１に示すように、本発明による測定システム１は、光ファイバスターカプラ２により、通信事業者の設備局（親局）３に配置される１台の伝送装置（ＳＬＴ(Subscriber Line Terminal)）４からの信号を、各測定地点Ｐ（子局、図１の例では、Ｐ１，Ｐ２）に屋内機器として配置される複数の光加入者装置５で共有するＰＯＮ方式の光ファイバアクセスネットワークを構築している。ＰＯＮ方式によれば、図５を用いて説明したように、各光加入者装置５からの信号は、衝突しないように時間的に分離され、自由に時間が割り当てられるＴＤＭＡ(Time Division Multiple Access) 方式により多重化される。上りと下りの信号は交互に伝送、又は上り波長１．３μｍ、下り波長１．５５μｍのＷＤＭ(Wavelength Division Multiplexing)が行われる。さらに、ＣＡＴＶ（ケーブル・テレビ）伝送を付加する場合は、映像信号をＳＣＭにより多重化して波長１．５５μｍの光信号に変換し、この変換された光信号を光ファイバ増幅器により増幅して各加入者に分配する。

ＰＯＮ方式を用いた光ファイバアクセスネットワークの伝送方式としては、ＳＴＭ(Synchronous Transfer Mode) 方式、ＡＴＭ(Asynchronous Transfer Mode)方式の何れであってもよい。ＳＴＭ方式を採用した場合には、予め固定化された速度で各情報が周期的に転送される。これに対し、ＡＴＭ方式を採用した場合には、種類にかかわらず、情報を一定長のセルに詰め込んで送信することができる。これにより、インターネットと同様に、音声、データ、映像などの様々な情報を低速から高速までより効率的かつ柔軟に伝送することが可能である。

本例の測定システム１を構成する測定装置（光パルス試験器）６は、図２に示すように、操作手段１１、制御手段１２、測定手段１３、記憶手段１４、表示手段１５、出力手段１６、読取手段１７を備えて概略構成される。

操作手段１１は、後述する２次元バーコードを出力手段１６に出力する際の指示、読取手段１７が２次元バーコードを読み取る際の指示、測定パラメータの設定や測定結果の表示を行う際の指示等を与えるために、ユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成される。

制御手段１２は、例えばＣＰＵなどのコンピュータ回路で構成され、操作手段１１からの操作信号に基づいて測定手段１３に対する測定制御、記憶手段１４に対するデータの読み書き制御、表示手段１５の表示制御、出力手段１６への２次元バーコードの出力制御、読取手段１７の２次元バーコードの読み取り制御などを行っている。また、制御手段１２は、正常時の測定パラメータと測定結果を２次元バーコードに変換し、この変換された２次元バーコードを出力手段１６に出力制御している。さらに、制御手段１２は、測定に先立って読取手段１７が２次元バーコードを読み取って過去の正常時の測定パラメータおよび測定結果を解読し、この解読された正常時の測定パラメータで光ファイバ１８の測定を行うべく測定手段１３に制御信号を出力している。

ここで、２次元バーコードとは、例えば図３に示すように、黒と白の正方形の組み合わせで数字などの情報を記録するものである。この２次元バーコードは、縦、横二方向に情報を持ち、３箇所の切り出しシンボルにより３６０°どの方向からも背景模様に影響されず高速に読み出し可能である。２次元バーコードとしては、米シンボル・テクノロジー社のＰＤＦ４１７、米アイ・ディ・マトリックス社のＤＡＴＡＭＡＴＲＩＸ、ＵＰＳ社（米）のＭＡＸＩＣＯＤＥ、デンソー（日本）が開発元のAIMInternational JIS ISOで規格化されたＱＲ(Quick Response)コードが知られているが、ここではＱＲコードについて説明する。ＱＲコードは、従来のバーコード（一次元）のデータの格納容量が２０桁程度であるのに対し、その数十倍から数百倍のデータの格納が可能であり、情報量が同じであれば、バーコード（一次元）の１０分の１程度の大きさで表現が可能である。このＱＲコードで符号化できる文字としては、数字、英数字、８ビットバイトデータ、漢字データの４つのモードであり、この４つのモードの混在も可能となっている。また、複数のＱＲコードに分かれて格納された情報を一つのデータとして連結可能であり、最大で１６分割でき、細長いエリアへの印字も可能となっている。さらに、誤り訂正機能を有し、全体の３０％程度の汚れや破損であれば復元可能であり、汚れや破損に強い。

測定手段１３は、光加入者装置５を測定装置６につなぎ替え、操作手段１１から測定指示を示す操作信号が制御手段１２に入力されると、光ファイバアクセスネットワークを構成する、各光加入者装置５に引き込まれている光ファイバ１８に対して制御手段１２からの制御信号により光パルスを入射し、この光パルスの入射に伴う後方散乱光やフレネル反射光のレベルを測定している。

記憶手段１４は、過去データ（過去の入射パルスのパルス幅、距離レンジ、測定結果の平均化処理時間などの測定パラメータと測定結果）を記憶する第１記憶手段１４ａと、現在データ（現在の入射パルスのパルス幅、距離レンジ、測定結果の平均化処理時間などの測定パラメータと測定結果）を記憶する第２記憶手段１４ｂとを備えて構成される。なお、図２の例では、記憶手段１４を第１記憶手段１４ａと第２記憶手段１４ｂの２つに機能分けしているが、物理的には記憶手段１４を例えば一つのＲＡＭなどで構成することができ、過去データの記憶領域と現在データの記憶領域とをアドレスによって切り分ける構成とすればよい。

表示手段１５は、測定パラメータの設定画面の表示や測定手段１３による測定結果を制御手段１２からの制御信号により表示している。

出力手段１６は、２次元バーコードを印刷用紙に印字出力している。この２次元バーコードが印字出力された印刷用紙は、測定データ記録の印刷物として、例えば測定が行われた測定地点Ｐの光加入者装置５の筐体面に貼付される。

読取手段１７は、測定地点Ｐの光加入者装置５の筐体面に貼付された正常時の測定パラメータおよび測定結果を示す２次元バーコードを読み取って制御手段１２に出力している。

なお、図２では、出力手段１６と読取手段１７とが測定装置６に組み込まれた構成としている。例えば、読取手段１７については、データ（画像）を取り込む取込手段と、取り込んだデータを解読（ｄｅｃｏｄｅ）する解読手段とを有しており、形態としては、（１）両者が一体となっていて測定装置６内にある場合、（２）両者は一体となっているが、測定装置６の外部にあって（例えばカメラ付き携帯電話を用いた場合）、測定装置６に備えられる入出力インターフェースの入出力ポートを介して制御手段１２と接続されており着脱可能となっている場合、（３）両者は一体となっておらず、解読手段は測定装置６に備えられ、取込手段は外部にあって、解読手段とは入出力インターフェースを介して接続されている場合、などがある。なお、出力手段１６については、符号化（ｅｎｃｏｄｅ）する符号化手段と、印字手段である例えばプリンタとを有し、両者の形態については、上記した読取手段１７の場合と同様である。測定装置６の入出力インターフェースについては、例えばＳＣＳＩ、ＵＳＢなどのインターフェースがある。

このように、本例の測定装置６は、測定手段１３により測定した結果や測定パラメータを２次元バーコードに変換して出力するプリンタ機能と、２次元バーコードから測定結果と測定パラメータを読み取る読取機能を有している。

次に、上記構成による測定装置６を含む測定システム１において、障害の有無を測定する場合の測定方法について説明する。

図１に示すように、光ファイバを敷設し、ＰＯＮ方式による光ファイバアクセスネットワークを構築するにあたって、測定地点Ｐ（例えばＰ１）に屋内機器として光加入者装置５を設置する時に、光加入者装置５を図２に示す構成の測定装置６につなぎ替えて測定を行う。初めての測定では、操作手段１１の操作により表示手段１５に測定パラメータの設定画面を表示し、各測定パラメータを設定する。そして、各測定パラメータを調整して得られる正常時の測定結果と測定パラメータを制御手段１２により２次元バーコード（例えばＱＲコード）に変換して出力手段１６から出力する。出力手段１６から出力された２次元バーコードは、例えば印刷用紙に印字されるので、この２次元バーコードが印字された印刷用紙を光加入者装置５の例えば筐体面に貼り付け、測定地点Ｐ１に正常時の測定データ記録として残しておく。

そして、後日、既に正常時の測定結果と測定パラメータが得られた測定地点Ｐ１で通信障害が発生した場合には、測定装置６を測定地点Ｐ１に持ち込み、その測定地点Ｐ１の光加入者装置５に貼り付けてられている印刷用紙（２次元バーコードの印字による測定データおよび測定パラメータの記録）を読取手段１７により読み取る。この読取手段１７によって読み取られた印刷用紙の２次元バーコードの情報は制御手段１２に入力される。制御手段１２は、入力された２次元バーコードの情報から過去の正常時の測定結果と測定パラメータを解読する。そして、正常時の測定結果と測定パラメータが解読されると、その正常時の測定パラメータが設定され、この正常時の測定パラメータに従って測定手段１３により測定を行う。正常時と同じ測定条件で測定が行われると、制御手段１２がそのときの測定結果と正常時の測定結果とを比較し、障害の有無を判別する。例えば今回の測定で図４に示すような表示結果が得られた場合について説明する。図４の表示例では、実線の波形が正常時の測定結果を示し、破線の波形が障害時の測定結果を示している。図４の表示結果では、正常時の測定結果（実線の波形）と障害時の測定結果（破線の波形）を比較すると、約４００ｍ地点からのレベルが正常時のレベルよりも低下していることが判る。従って、この場合には、レベルが正常時より低下している約４００ｍ地点を障害点と判別し、波形上にマーキング（図４の例では、十字状のマーク）が施される。これにより、表示画面で障害点と判別された位置を確認することで障害原因をすばやく特定することができる。

このように、本例では、ＰＯＮ方式を用いた光ファイバアクセスネットワークの測定地点Ｐにおける正常時の測定結果と測定パラメータとをその測定地点に測定データ記録として残し、再度測定するときに測定データ記録として残された過去の正常時の測定結果と測定パラメータを読取って障害時の測定結果と比較して障害の有無を判別している。これにより、従来のような過去の測定データを印刷物としてファイリングしたり、測定地点から離れた場所でのサーバーによる測定データの一括管理を行うことなく、不慣れな工事業者であっても正常時の測定を忠実に再現でき、測定の信頼性も向上する。

なお、本例は、特にＰＯＮ方式を用いた光ファイバアクセスネットワークに採用した場合に他の子局の光加入者装置に影響を及ぼすことなく測定を行うことができるという利点を有するが、ＰＯＮ方式を用いた光ファイバアクセスネットワークを構築するべく光ファイバを敷設した際の測定に関わらず、測定地点が多くの場所に分散している状態で、測定対象となる測定地点で過去の正常時の測定パラメータにより測定を行い、この測定結果と正常時の測定結果とを比較することにより、異常時の問題の原因究明を行う場合に効果的である。すなわち、例えば、地上ディジタル放送における中継局（子局）での、スペクトラムアナライザ（信号解析装置）を使った電波の周波数やパワーの監視などにも効果的である。

ところで、上述した形態では、正常時の測定結果と測定パラメータを２次元バーコード（例えばＱＲコード）で印字した印刷物を測定データ記録として測定地点の光加入者装置５に残すようにしているが、これに限定されるものではない。例えば正常時の測定結果と測定パラメータを光加入者装置５に設けられる記憶素子（例えばＩＣチップ、ＲＦＩＤ）に記憶させておくようにしてもよい。ＲＦＩＤ(Radio Frequency IDentification)もＱＲコードの代用として考えられるものであり、設置されている装置でもよい。ＲＦＩＤは、非接触で読み書きができ、繰り返して使用可能である。バーコードと異なり、物陰に隠れていても読み書き可能であり、複数のＲＦＩＤが存在していても、一度にアクセス可能といった特徴をもつ。この場合、測定装置６による測定の前に、光加入者装置５の記憶素子に記憶された正常時の測定結果と測定パラメータを読み取り、この読み取った正常時の測定パラメータで測定を行った後、その測定結果を正常時の測定結果と比較して障害の有無を判別する。この構成によれば、２次元バーコード（例えばＱＲコード）では記録情報容量が限られるのに対し、光加入者装置５に交換可能に取り付けられる記憶素子に正常時の測定パラメータと測定結果を記憶することで記録容量を大きくすることが可能となる。しかも、その測定地点における測定結果を複数記憶させることも可能であり、定期的に測定地点での測定結果を記憶させておけば、過去の履歴比較により劣化状況などの捕捉が可能となる。

本発明に係る測定システムの概略構成図である。図１の測定システムにおいて測定時に光加入者装置とつなぎ替えられる本発明に係る測定装置のブロック構成図である。本発明に係る測定装置が出力および読取を行う２次元バーコードの一例を示す図である。本発明に係る測定装置によって測定される正常時の測定結果と障害時の測定結果を一画面上に表示した例を示す図である。ＰＯＮ方式の概略説明図である。

符号の説明

１測定システム
２光ファイバスターカプラ
３設備局
４伝送装置（親局）
５（５Ａ，５Ｂ，５Ｃ）光加入者装置（子局）
６測定装置
１１操作手段
１２制御手段
１３測定手段
１４記憶手段
１５表示手段
１６出力手段
１７読取手段
１８光ファイバ
Ｐ（Ｐ１，Ｐ２）測定地点

Claims

光ファイバアクセスネットワーク上に敷設されている光ファイバに光加入者装置側から光パルスを入射し、該光パルスの入射に伴う反射光のレベルを測定することにより、被測定対象である該光ファイバの障害の有無を判別する光パルス試験器であって、
光ファイバを敷設し、測定地点に光加入者装置を配置し、光ファイバアクセスネットワークを構築する際、該光加入者装置側から当該光ファイバの損失分布状態を測定して測定時の測定パラメータ及び測定結果を前記測定地点に記録するために二次元バーコードとして出力する出力手段（１６）を備え、
前記光ファイバに障害が生じたか否かを試験するために、前記測定地点に残された前記二次元バーコードを読み取る読取手段（１７）と、
前記読取手段で読み取った測定パラメータを用いて前記光加入者装置側から前記光ファイバの損失分布状態を測定する測定手段（１３）と、
その測定結果と前記二次元バーコードに記録されて前記読取手段で読み取られた測定結果とを比較して障害の有無を判別する制御手段（１２）とを備えたことを特徴とする光パルス試験器。
光ファイバアクセスネットワーク上に敷設されている光ファイバに光加入者装置側から光パルスを入射し、該光パルスの入射に伴う反射光のレベルを測定することにより、被測定対象である該光ファイバの障害の有無を判別する光パルス試験器であって、
光ファイバを敷設し、測定地点に光加入者装置を配置し、光ファイバアクセスネットワークを構築する際、該光加入者装置側から当該光ファイバの損失分布状態を測定して測定時の測定パラメータ及び測定結果を前記測定地点に記録するために記憶素子に出力する出力手段（１６）を備え、
前記光ファイバに障害が生じたか否かを試験するために、前記測定地点に残された前記記憶素子を読み取る読取手段（１７）と、
前記読取手段で読み取った測定パラメータを用いて前記光加入者装置側から前記光ファイバの損失分布状態を測定する測定手段（１３）と、
その測定結果と前記記憶素子に記録されて前記読取手段で読み取られた測定結果とを比較して障害の有無を判別する制御手段（１２）とを備えたことを特徴とする光パルス試験器。
前記光ファイバアクセスネットワークはＰＯＮ方式の光ファイバアクセスネットワークであることを特徴とする請求項１または請求項２記載の光パルス試験器。
光ファイバアクセスネットワーク上に敷設されている光ファイバに光加入者装置側から光パルスを入射し、該光パルスの入射に伴う反射光のレベルを測定することにより、被測定対象である該光ファイバの障害の有無を判別する光ファイバの異常解析方法であって、
光ファイバを敷設し、測定地点に光加入者装置を配置し、光ファイバアクセスネットワークを構築する際、該光加入者装置側から当該光ファイバの損失分布状態を測定して測定時の測定パラメータ及び測定結果を前記測定地点に記録するために二次元バーコードとして出力するステップと、
前記光ファイバに障害が生じたか否かを試験するために、前記測定地点に残された前記二次元バーコードを読み取るステップと、
前記読み取った測定パラメータを用いて前記光加入者装置側から前記光ファイバの損失分布状態を測定するステップと、
その測定結果と前記二次元バーコードに記録された測定結果とを比較して障害の有無を判別するステップとを含むことを特徴とする光ファイバの異常解析方法。
光ファイバアクセスネットワーク上に敷設されている光ファイバに光加入者装置側から光パルスを入射し、該光パルスの入射に伴う反射光のレベルを測定することにより、被測定対象である該光ファイバの障害の有無を判別する光ファイバの異常解析方法であって、
光ファイバを敷設し、測定地点に光加入者装置を配置し、光ファイバアクセスネットワークを構築する際、該光加入者装置側から当該光ファイバの損失分布状態を測定して測定時の測定パラメータ及び測定結果を前記測定地点に記録するために記憶素子として出力するステップと、
前記光ファイバに障害が生じたか否かを試験するために、前記測定地点に残された前記記憶素子を読み取るステップと、
前記読み取った測定パラメータを用いて前記光加入者装置側から前記光ファイバの損失分布状態を測定するステップと、
その測定結果と前記記憶素子に記録された測定結果とを比較して障害の有無を判別するステップとを含むことを特徴とする光ファイバの異常解析方法。
前記光ファイバアクセスネットワークはＰＯＮ方式の光ファイバアクセスネットワークであることを特徴とする請求項４または請求項５記載の光ファイバの異常解析方法。