JP3846565B2 - Internal self-test system and method for communication circuit operation verification - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、シリアル通信回路の動作検証に用いられる内部自己検査(BIST:Built In Self Test)システムに関し、特に、パケット化されたデータの検証が可能で、非同期通信又はチャネル間同期を容易に検証できるBISTシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種の通信回路動作検証用のBISTシステムでは、LSI(大規模集積回路)が用いられている。多くのLSIでは、動作速度の高速化、入出力データピン数の増加に伴い、集積回路に内蔵したBIST回路によって動作検証が行われている。BIST回路を用いることにより、高価な高速テスターを用いることなく動作が検証できると共に、テスト時間の短縮も期待できる。従って、テストにかかるコストが低減できる。更に、装置内で使用する際にも動作テストを容易に行なうことが可能となる。
【0003】
BISTシステムを使った動作検証は通信回路の分野でも行われている。
【0004】
例えば特開2001−127684号公報には、通信衛星のペイロード・レベルでデータ伝送の正常性を検査するBISTシステムが紹介されている。このシステムでは、内部のデータストリームにおいて上流側で所定のBISTパターンを挿入し下流側の複数箇所で受信するBISTパターンを検証している。
【0005】
しかし、近年、新たに検証すべき通信回路の機能として、送信側と受信側とで動作周波数が違う非同期通信、又は複数のシリアル通信回路が並列に配置された多チャンネル通信回路でのチャネル間同期が問題となっている。通信回路では非同期通信又はチャネル間同期を実現するためにデータのパケット化が行われている。従って、このような通信回路のBIST回路には、上記公開公報の提案によるデータストリームにBISTパターンを適用する手法が採用できず、各データごとの先頭にヘッダ信号を付加してパケット化されたデータを正しく検証する機能が必要になる。
【0006】
例えば、図7は通信回路用BISTシステムとして一般的に考えられる伝送系回路構成の一例を示す図である。このBISTシステムは、送信データ発生回路1、送信回路2、受信回路3、及びデータ検証回路4から構成される。送信データ発生回路1はヘッダ制御回路11及びヘッダ発生回路12を備える。データ検証回路4は、期待値データ発生回路21及びデータ比較回路22から構成され、送信回路2と受信回路3との間でデータが正しく転送されているか否かを検証する。ここで、送信データ発生回路1及び期待値データ発生回路21は同じ擬似ランダム信号とパケットを構成するヘッダ信号とを発生する。
【0007】
まず、送信データ発生回路1では、ヘッダ制御部11の制御によりヘッダ発生回路12が送信されるシリアルデータの所定個所に所定のヘッダ信号を挿入して送信信号を発生する。送信データ発生回路1により発生した送信信号は送信回路2に入力され伝送信号として出力される。伝送信号は受信回路3により受信され受信信号として出力される。受信信号はBISTシステムのデータ検証回路4へ入力される。データ検証回路4では、入力した受信信号は、期待値データ発生回路21で生成された期待値信号と共にデータ比較回路22に入力され、その比較結果は比較結果信号として出力される。
【0008】
次に、図8は、多チャンネル通信回路でチャネル間の同期を検証するBISTシステム構成の一例を示す図である。このBISTシステムは、ヘッダ検出回路を含む受信回路31〜3Nと上記図7に示されるものと同一のデータ検証回路41〜4NとをN個のチャネルに備え、N個のチャネル全てに対して一つのチャネル間同期検証回路50を設ける。受信回路31〜3Nそれぞれは、ヘッダ検出回路により各チャネルで、受信信号Sr1〜Srnのヘッダ信号に対してハイ(HIGH)レベル、またヘッダ信号でない信号に対してロウ(LOW)レベルとなるヘッダ検出信号Sh1〜Shnを出力する。チャネル間同期検証回路50は、各チャネルから出力されるヘッダ検出信号Sh1〜Shnそれぞれの一致を検証して同期検証信号Svを出力する。
【0009】
次いで、図8に図7を併せ参照して動作機能について説明する。
【0010】
このBISTシステムは、まず、図7に示される経路により、伝送路を転送される各チャネルの伝送データを受信回路31〜3Nにより受信し、受信信号Sr1〜Srnとして出力する。受信信号Sr1〜Srnはデータ検証回路41〜4Nに入力される。データ検証回路41〜4Nそれぞれは、受信回路31〜3Nそれぞれが正しくデータを受信しているか否かを、比較結果信号So1〜Sonにより出力する。一方、各チャネルの受信回路31〜3Nのヘッダ検出回路により出力されるヘッダ検出信号Sh1〜Shnはチャネル間同期検証回路50に入力される。チャネル間同期検証回路50は、各チャネルのヘッダ検出信号Sh1〜Shnに基いて、受信データのヘッダ信号位置が各チャネルで一致しているか否かを検証し、その結果を同期検証信号Svとして出力する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述したようなデータストリームを対象としたBISTシステムでは、送信回路の動作周波数が受信回路のそれよりも遅い場合、周波数差を吸収するために受信回路内部でヘッダ信号部分の長さを短くする必要がある。
【0012】
図9には、図7における送信データ発生回路で生成された送信信号と比較してヘッダ信号部が短くなった例が示されている。すなわち、受信側では、送信側のデータ列を想定してデータ検証回路4の期待値データ発生回路21は期待値信号を生成する。従って、図9に示されるようにデータ列が変化した結果、データ比較回路22では受信信号と期待値信号との間に不一致が起こる。
【0013】
同様に送信回路の動作周波数が受信回路のそれよりも速い場合はヘッダ信号の挿入が行われ、パケット長が長くなり期待値信号との間に不一致が起こる。このように、上述したBISTシステムは送信回路及び受信回路それぞれの周波数が違うような非同期通信では正しく動作しない。
【0014】
また、図8に示すチャネル間同期検証用のBISTシステムでは、チャネル毎のデータ検証回路とは別に、各チャネルに共通のチャネル間同期検証回路が必要となる。すなわち、各チャネルからのヘッダ検出信号を一箇所に集める必要がある。従って、チャネル数の増加に伴い、ヘッダ検出信号を正しく伝送するためにはより多くのバッファリングが必要となり消費電力の増大を招く。更に、チャネル間同期検証回路は各チャネルからのヘッダ検出信号を同時に受け取る必要があるため、チャネル数の増加によりタイミング設計の困難さが増大する。また、チャネル数が新たに追加して増えた場合、このようなシステムではチャネル間同期検証回路を新たに設計し直す必要がある。
【0015】
本発明の目的は、このような課題を解決し、通信回路におけるパケット化されたデータの検証が可能で、非同期通信又はチャネル間同期を容易に検証できるBISTシステムを提供することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】
本発明による内部自己検査システムは、基本的に、シリアル通信回路の動作検証に用いるシステムであって、送信データを発生すると共に、ヘッダ信号の発生を制御するヘッダ制御信号を入力し、当該ヘッダ制御信号に同期して送信信号の更新を止める送信データ発生回路と、データの受信側で、受信データの正常性を検証すると共に、受信信号からヘッダ信号を検出した際に得られるヘッダ検出信号を入力するデータ検証回路とを備え、当該データ検証回路は受けた前記ヘッダ検出信号に同期して期待値信号の更新を止める期待値発生回路を備えることを特徴としている。
【0017】
このような構成により、データ検証回路が送信側のヘッダ信号の制御と受信側でのヘッダ信号の長さの変化とを認識できるので、受信信号と期待値信号との比較による一致を期待することができる。
【0018】
また、データ検証回路に入力されるヘッダ検出信号を、同一グループを形成する他のシリアル通信回路から供給することにより、同一グループ内の受信信号の同期を検証することが容易である。
【0019】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図面では紙面の都合上、本発明に関する主要部分を示してある。
【0020】
図1は本発明における機能ブロック回路の実施の一形態を示す図である。
【0021】
図1に示された通信回路動作検証用の内部自己検査(BIST)システムは、送信データ発生回路100、送信回路104、受信回路110、及びデータ検証回路120により構成される。送信データ発生回路100はデータ発生回路101、ヘッダ制御回路102、及びヘッダ発生回路103により構成される。受信回路110はヘッダ検出回路111を有する。データ検証回路120は期待値データ発生回路121、ヘッダ発生回路122、及びデータ比較回路123により構成される。ここでデータ発生回路101及び期待値データ発生回路121それぞれは同じデータパターンを発生するように設定されている。
【0022】
この構成において、送信データ発生回路100では、ヘッダ制御回路102により発生されたヘッダ制御信号は、データ発生回路101及びヘッダ発生回路103に入力される。データ発生回路101ではヘッダ制御信号がロー(LOW)レベルでのみ発生信号を更新した送信信号aを出力する。送信信号aはヘッダ発生回路103に入力され、ヘッダ制御信号がハイ(HIGH)の間の信号はヘッダ信号「H」に変換され、変換後の送信信号bとして送信回路104により伝送信号に変換され伝送路へ送出される。
【0023】
伝送信号は受信回路110により受信され、上記送信信号bと同一のデータパターンを有する受信信号となる。受信回路110では、ヘッダ検出回路111により受信信号からヘッダ信号「H」が検出される。ヘッダ検出回路111は、ヘッダ信号「H」を検出した場合にヘッダ検出信号のハイレベルを期待値データ発生回路121及びヘッダ発生回路122へ出力する。
【0024】
期待値データ発生回路121は、ヘッダ検出信号がローレベルの間では期待値データを更新し、ヘッダ発生回路122へ期待値信号aとして出力する。ヘッダ発生回路122は、ヘッダ検出信号がハイレベルの間では期待値信号aのデータをヘッダ信号「H」に変換し、期待値信号bとして出力する。データ比較回路123は、ヘッダ発生回路122から出力される変換後の期待値信号bを入力し、受信信号と比較する。比較結果は比較結果信号として出力される。
【0025】
本発明の特徴は、ヘッダ信号の発生を制御するヘッダ制御信号をデータ発生回路に供給して発生信号の更新をヘッダ発生回路の制御と一致させていること、及び伝送路を介して受信する伝送信号からヘッダ検出回路がヘッダ信号を検出して期待値信号の対応位置をヘッダ信号に変換している点である。この結果、送受信双方のデータ発生回路で生成された検証用のデータパターンに、システムと一致したヘッダ信号を挿入して所定のパケットを生成しチャネルの受信側でデータ比較しているので、パケット毎の比較による同期の検証が可能である。
【0026】
次に、図2に図1を併せ参照してこのBISTシステムの動作における実施の一形態について説明する。図示される例では、ヘッダ信号2個及び データ信号3個からなるパケットを伝送している。
【0027】
すなわち、データ発生回路101により出力される送信信号aでは、ヘッダ制御信号がローレベルの間の信号「1・2・3、4・5・6、〜」のみが更新されている。一方、更新されない部分の2個ずつの信号は、ヘッダ発生回路103でヘッダ制御信号によりヘッダ信号「H」に変換され、その結果、送信信号bとして送信回路104へ出力される。
【0028】
この送信信号bは、受信回路110の出力の受信信号でヘッダ信号が1つ削除されている場合でも、期待値データ発生回路121はヘッダ検出信号に同期して期待値信号aを発生する。一方、ヘッダ発生回路122は、ヘッダ検出信号に同期してヘッダ信号「H」に更新するため、受信信号と一致した期待値信号bを発生してデータ比較回路123へ供給できる。すなわち、上述した構成により、パケット長の変化に関わらず正確な検証が可能なBISTシステムを得ることができる。
【0029】
次に、図3を参照して二つのシリアル通信回路が隣接するチャネルを形成する場合の受信側での実施の一形態について説明する。
【0030】
図示される受信回路201,202及びデータ検証回路211,212それぞれは、図1に示された同一名称の構成要素と同一の構成及び機能を有し、それぞれが隣接チャネルを形成して同期を必要としている。
【0031】
すなわち、図1と同様に、受信回路201,201それぞれは対応するヘッダ検出回路221,222を含む。データ検証回路211,212それぞれは、対応する期待値データ発生回路231,241、ヘッダ発生回路231,242、及びデータ比較回路233,243を有する。
【0032】
図3の図1との相違は、一方の第2チャネル側のデータ検証回路212では、他方の第1チャネル側のヘッダ検出回路221が出力するヘッダ検出信号aを受けて、入力している点である。すなわち、ヘッダ検出回路221は、受信信号aがヘッダ信号である間にハイレベル、ヘッダ信号でない間にローレベルとなるヘッダ検出信号aを、期待値データ発生回路231,241およびヘッダ発生回路231,242の全てに供給している。従って、第2チャネルの受信回路202から出力のヘッダ検出信号bは不要である。
【0033】
次に、この動作をについて説明する。各チャネルの伝送データは、上述したBISTシステムと同様の経路で受信回路201,202により受信され、受信信号a,bとして出力される。ここで受信信号aがヘッダ信号「H」の場合、ヘッダ検出回路221からヘッダ検出信号aがハイレベルでデータ検証回路211,212へ出力される。
【0034】
第1チャネルのデータ検証回路211は、図1のBISTシステムと同様に受信信号aのヘッダ検出信号aにより受信信号aの検証を行ない、比較結果信号aを出力する。一方、第2チャネルのデータ検証回路212は受信信号201から得たヘッダ検出信号aにより受信信号bの検証が行われる。すなわち、ヘッダ検出信号aを受けた期待値データ発生回路241により期待値信号cが発生され、期待値信号cを受けたヘッダ発生回路242はヘッダ検出信号aを受けて期待値信号dを出力する。期待値信号dはデータ比較回路243により受信信号bと比較され、比較結果信号bが出力される。
【0035】
次に、図4に図3を併せ参照して二つのチャネル間にわたるBISTシステムの同期検証動作について説明する。ここでは、ヘッダ信号1個、データ信号3個からなるパケットを伝送した場合を示す。
【0036】
すなわち、第2チャネルのデータ検証回路212は、受信信号aから得られるヘッダ検出信号aを元に期待値信号dを発生する。従って、受信信号aと受信信号bとのチャネル間の同期がとれている場合は、期待値信号dと受信信号bとは一致し、比較結果は「エラーなし」となる。しかし、図示されるような、受信信号cのデータ配列が正しくとも、信号が一つずつずれておりチャネル間の同期がとれていない場合は期待値信号dとの比較結果は「エラーあり」となる。すなわち、比較結果信号bを観測することにより受信信号bのデータ列が正しくかつ受信信号aと同期しているか否かが判別できる。このような構成により、二つのチャネル間の同期を検証可能なBISTシステムを得ることができる。
【0037】
次に、図5を参照して、上述したとは別の実施の一形態であって、N個のシリアル通信回路のチャネル間における同期検証を行なう場合について説明する。
【0038】
図示される受信回路301〜30N及びデータ検証回路311〜31Nそれぞれは、図1に示された同一名称の構成要素と同一の構成及び機能を有し、それぞれが隣接チャネルを形成している。すなわち、受信回路301〜30Nそれぞれは、図示を省略するが、対応するヘッダ検出回路を含む。データ検証回路311〜31Nそれぞれは、図示を省略するが、対応する期待値データ発生回路、ヘッダ発生回路、及びデータ比較回路を有する。
【0039】
このような構成において、受信回路301〜30Nそれぞれから出力される受信信号Sr1〜Srnそれぞれはそれぞれに対応するチャネルのデータ検証回路311〜31Nに入力される。また受信回路301〜30Nそれぞれから出力されるヘッダ検出信号Sh1〜Shnは選択回路320に入力される。
【0040】
図5の図3との相違は、Nチャンネルのうちの一つである第2チャネルのデータ検証回路312が、全てのチャネルから出力されるヘッダ検出信号Sh1〜Shnのうちの一つを選択して受け、これを入力している点である。すなわち、第2チャネルのデータ検証回路312は、第2チャネルの受信信号Sr2と他の一つであるチャネルの受信信号Sriとの同期を検証することができる。ここで「i」は「2」を除く「1」から「n」までのうち選択回路320で選択されたチャネルの番号数字である。
【0041】
すなわち、選択回路320は選択信号Sslに応じて受信回路301〜30Nのうちから特定の一つを受け、ヘッダ検出信号Shとしてデータ検証回路312に出力する。図3の実施例から分かるように、データ検証回路312では選択されたヘッダ検出信号Shの出力元である受信回路から出力される受信信号と、受信回路302から出力される受信信号Sr2とが同期しているか否かを検証することが可能となる。従って、このような構成により、あるチャネルの受信信号がどのチャネルの受信信号と同期しているかを検証可能なBISTシステムが得られる。
【0042】
次に、図6を参照して、上述したとは別の実施の一形態であって、N個のシリアル通信回路が隣接したチャネル間における同期検証を行なう場合について説明する。
【0043】
図示される受信回路401〜40N及びデータ検証回路411〜41Nそれぞれは、図1に示された同一名称の構成要素と同一の構成及び機能を有し、それぞれが隣接チャネルを形成している。すなわち、受信回路401〜40Nそれぞれは、図示を省略するが、対応するヘッダ検出回路を含む。データ検証回路411〜41Nそれぞれは、図示を省略するが、対応する期待値データ発生回路、ヘッダ発生回路、及びデータ比較回路を有する。
【0044】
図6と図3とを比較すれば、受信回路401,402及びデータ検証回路411,412それぞれの接続は同一である。相違は、受信回路402以降それぞれから出力されるヘッダ検出信号Sh2以降の信号それぞれは次の順位に隣接するチャネルのデータ検証回路413〜41Nそれぞれに接続される。従って、受信回路40Nからヘッダ検出信号Shnは接続先がないので出力されない。
【0045】
このような構成により、受信信号Sr1と受信信号Sr2との同期がデータ検証回路412により確認される。同様に、受信信号Sr2と受信信号Sr3との同期がデータ検証回路413により確認され、隣接するチャネルの受信信号同士の同期が確認できる。
【0046】
従って、全ての比較結果信号So1〜Sonが「エラーなし」である状態を確認することにより、全ての受信信号Sr1〜Srnの同期していることが確認できる。ここで、隣接するチャネルの受信回路とデータ検証回路とは十分近いのでタイミング設計も容易であり、かつ信号を伝えるために必要となるバッファ回路も少なくて済む。また、チャネル数の増加した場合も最後のチャネルの受信回路40Nから出力されるヘッダ検出信号Shnを新たに追加されたチャネルのデータ検証回路に接続すればよいので、容易に拡張可能である。
【0047】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、通信回路におけるパケット化されたデータの検証が可能で、非同期通信又はチャネル間同期を容易に検証できるという効果を得ることができる。すなわち、パケット長の変化に関わらず正しく検証可能な、非同期通信に対応したBISTシステムが得られる。
【0048】
その理由は、送信側で送信データの所定位置にヘッダ信号を発生し、受信側でそのヘッダ信号を検出して比較し同一位置を検証しているからである。
【0049】
また、チャネル数の多少に関わらず全てのチャネルに対して受信されたデータが同期しているか否かを容易に検証できるという効果を得ることができる。
【0050】
その理由の一つは、選択回路により一つのチャネルと残りの複数のチャネルとの同期を確認しているからである。また他の一つは全ての隣接するチャネル同士それぞれで同期を確認しているからである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における機能ブロック回路の実施の一形態を示す図である。
【図2】図1における動作の一形態を示すタイムチャートである。
【図3】本発明における二つのチャネル間の同期検証におけるブロック回路の実施の一形態を示す図である。
【図4】図3における二つのチャネル間にわたる同期検証動作の一形態を示すタイムチャートである。
【図5】本発明におけるN個のチャネル間における同期検証に対するブロック回路の実施の一形態を示す図である。
【図6】図5とは別のN個のチャネル間における同期検証に対するブロック回路の実施の一形態を示す図である。
【図7】従来のブロック回路の一例を示す図である。
【図8】従来のN個のチャネル間における同期検証に対するブロック回路の一例を示す図である。
【図9】図7における動作の一例を示すタイムチャートである。
【符号の説明】
100 送信データ発生回路
101 データ発生回路
102 ヘッダ制御回路
103、122、232、242 ヘッダ発生回路
104 送信回路
110、201、202、301〜30N、401〜40N 受信回路
111、221、222 ヘッダ検出回路
120、211、212、311〜31N、411〜41N データ検証回路
121、231、241 期待値データ発生回路
123、233、243 データ比較回路
320 選択回路[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a built-in self test (BIST) system used for operation verification of a serial communication circuit, and in particular, can verify packetized data and easily verify asynchronous communication or inter-channel synchronization. It relates to a BIST system that can be used.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in this type of BIST system for verifying communication circuit operation, an LSI (Large Scale Integrated circuit) is used. In many LSIs, operation verification is performed by a BIST circuit built in an integrated circuit as the operation speed increases and the number of input / output data pins increases. By using the BIST circuit, the operation can be verified without using an expensive high-speed tester, and the test time can be shortened. Therefore, the cost for testing can be reduced. Furthermore, it is possible to easily perform an operation test when used in the apparatus.
[0003]
Operation verification using the BIST system is also performed in the field of communication circuits.
[0004]
For example, Japanese Patent Laid-Open No. 2001-127684 introduces a BIST system that checks the normality of data transmission at the payload level of a communication satellite. In this system, a predetermined BIST pattern is inserted on the upstream side in an internal data stream, and BIST patterns received at a plurality of locations on the downstream side are verified.
[0005]
However, in recent years, the functions of communication circuits to be newly verified include asynchronous communication with different operating frequencies on the transmission side and reception side, or inter-channel synchronization in a multi-channel communication circuit in which multiple serial communication circuits are arranged in parallel. Is a problem. In the communication circuit, data is packetized to realize asynchronous communication or inter-channel synchronization. Therefore, the BIST circuit of such a communication circuit cannot adopt the method of applying the BIST pattern to the data stream proposed in the above publication, and packetized data by adding a header signal to the head of each data. The function to verify correctly is required.
[0006]
For example, FIG. 7 is a diagram showing an example of a transmission system circuit configuration generally considered as a communication circuit BIST system. The BIST system includes a transmission
[0007]
First, the transmission
[0008]
Next, FIG. 8 is a diagram showing an example of a BIST system configuration for verifying synchronization between channels in a multi-channel communication circuit. This BIST system includes
[0009]
Next, the operation function will be described with reference to FIG.
[0010]
In this BIST system, first, the transmission data of each channel transferred through the transmission path is received by the
[0011]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the BIST system for the data stream as described above, when the operating frequency of the transmitting circuit is slower than that of the receiving circuit, the length of the header signal portion is shortened in the receiving circuit in order to absorb the frequency difference. There is a need to.
[0012]
FIG. 9 shows an example in which the header signal portion is shorter than the transmission signal generated by the transmission data generation circuit in FIG. That is, on the reception side, the expected value
[0013]
Similarly, when the operating frequency of the transmitting circuit is faster than that of the receiving circuit, a header signal is inserted, and the packet length becomes longer, resulting in a mismatch with the expected value signal. Thus, the above-described BIST system does not operate correctly in asynchronous communication in which the frequencies of the transmission circuit and the reception circuit are different.
[0014]
Further, in the BIST system for verifying synchronization between channels shown in FIG. 8, an inter-channel synchronization verification circuit common to each channel is required in addition to the data verification circuit for each channel. That is, it is necessary to collect header detection signals from each channel in one place. Therefore, as the number of channels increases, more buffering is required to correctly transmit the header detection signal, resulting in an increase in power consumption. Furthermore, since the inter-channel synchronization verification circuit needs to receive header detection signals from each channel at the same time, the difficulty in timing design increases due to the increase in the number of channels. Further, when the number of channels is newly increased and increased, in such a system, it is necessary to newly design an inter-channel synchronization verification circuit.
[0015]
An object of the present invention is to solve such a problem and provide a BIST system that can verify packetized data in a communication circuit and can easily verify asynchronous communication or inter-channel synchronization.
[0016]
[Means for Solving the Problems]
The internal self-inspection system according to the present invention is basically a system used for verifying the operation of a serial communication circuit, which generates transmission data and inputs a header control signal for controlling generation of a header signal. The transmission data generation circuit that stops updating the transmission signal in synchronization with the signal, and the data reception side verifies the normality of the received data and inputs the header detection signal obtained when the header signal is detected from the reception signal The data verification circuit includes an expected value generation circuit that stops updating the expected value signal in synchronization with the received header detection signal.
[0017]
With this configuration, the data verification circuit can recognize the control of the header signal on the transmission side and the change in the length of the header signal on the reception side, so expect a match by comparing the received signal with the expected value signal Can do.
[0018]
In addition, by supplying the header detection signal input to the data verification circuit from another serial communication circuit forming the same group, it is easy to verify the synchronization of the received signals in the same group.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, for the sake of space, the main parts related to the present invention are shown.
[0020]
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a functional block circuit according to the present invention.
[0021]
The communication circuit operation verification internal self-test (BIST) system shown in FIG. 1 includes a transmission
[0022]
In this configuration, in the transmission
[0023]
The transmission signal is received by the
[0024]
The expected value data generation circuit 121 updates the expected value data while the header detection signal is at a low level, and outputs the expected value data to the
[0025]
A feature of the present invention is that a header control signal for controlling the generation of the header signal is supplied to the data generation circuit so that the update of the generation signal coincides with the control of the header generation circuit, and the transmission received through the transmission path The header detection circuit detects the header signal from the signal and converts the corresponding position of the expected value signal into the header signal. As a result, a header packet that matches the system is inserted into the data pattern for verification generated by the data generation circuits for both transmission and reception, and a predetermined packet is generated and data is compared on the receiving side of the channel. It is possible to verify the synchronization by comparing the two.
[0026]
Next, an embodiment of the operation of the BIST system will be described with reference to FIG. In the illustrated example, a packet consisting of two header signals and three data signals is transmitted.
[0027]
That is, in the transmission signal a output from the
[0028]
As for this transmission signal b, even when one header signal is deleted from the reception signal output from the
[0029]
Next, an embodiment on the receiving side in the case where two serial communication circuits form adjacent channels will be described with reference to FIG.
[0030]
Each of the receiving
[0031]
That is, as in FIG. 1, the receiving
[0032]
3 is different from FIG. 1 in that the
[0033]
Next, this operation will be described. The transmission data of each channel is received by the receiving
[0034]
The data verification circuit 211 of the first channel verifies the received signal a by using the header detection signal a of the received signal a as in the BIST system of FIG. 1, and outputs a comparison result signal a. On the other hand, the
[0035]
Next, the synchronization verification operation of the BIST system over two channels will be described with reference to FIG. 4 and FIG. Here, a case where a packet composed of one header signal and three data signals is transmitted is shown.
[0036]
That is, the second channel
[0037]
Next, with reference to FIG. 5, a case in which synchronization verification between channels of N serial communication circuits, which is an embodiment different from the above, is described.
[0038]
Each of the receiving
[0039]
In such a configuration, the reception signals Sr1 to Srn output from the
[0040]
5 differs from FIG. 3 in that the data verification circuit 312 of the second channel, which is one of the N channels, selects one of the header detection signals Sh1 to Shn output from all the channels. This is the point that this is input. That is, the data verification circuit 312 of the second channel can verify the synchronization between the reception signal Sr2 of the second channel and the reception signal Sri of the other channel. Here, “i” is the number of the channel selected by the
[0041]
That is, the
[0042]
Next, with reference to FIG. 6, a case where N serial communication circuits perform synchronization verification between adjacent channels, which is an embodiment different from the above, will be described.
[0043]
The illustrated receiving
[0044]
Comparing FIG. 6 with FIG. 3, the connections of the receiving
[0045]
With such a configuration, the
[0046]
Accordingly, by confirming that all the comparison result signals So1 to Son are “no error”, it can be confirmed that all the reception signals Sr1 to Srn are synchronized. Here, since the receiving circuit and the data verification circuit of the adjacent channels are sufficiently close, the timing design is easy, and the number of buffer circuits required for transmitting signals is small. Even when the number of channels is increased, the header detection signal Shn output from the receiving circuit 40N of the last channel may be connected to the newly added data verification circuit of the channel, so that it can be easily expanded.
[0047]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to verify packetized data in a communication circuit, and it is possible to obtain an effect that asynchronous communication or inter-channel synchronization can be easily verified. That is, it is possible to obtain a BIST system compatible with asynchronous communication that can be correctly verified regardless of changes in packet length.
[0048]
The reason is that the transmitting side generates a header signal at a predetermined position of transmission data, and the receiving side detects and compares the header signal to verify the same position.
[0049]
In addition, it is possible to easily verify whether or not the received data is synchronized with respect to all channels regardless of the number of channels.
[0050]
One reason is that the selection circuit confirms the synchronization between one channel and the remaining plurality of channels. Another reason is that synchronization is confirmed between all adjacent channels.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a functional block circuit according to the present invention.
FIG. 2 is a time chart showing one mode of operation in FIG. 1;
FIG. 3 is a diagram showing an embodiment of a block circuit in synchronization verification between two channels in the present invention.
4 is a time chart showing one form of a synchronization verification operation across two channels in FIG. 3. FIG.
FIG. 5 is a diagram showing an embodiment of a block circuit for verifying synchronization between N channels in the present invention.
6 is a diagram showing an embodiment of a block circuit for synchronization verification between N channels different from FIG. 5. FIG.
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a conventional block circuit.
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a block circuit for synchronization verification between N conventional channels.
9 is a time chart showing an example of the operation in FIG.
[Explanation of symbols]
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Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002031992A JP3846565B2 (en) | 2002-02-08 | 2002-02-08 | Internal self-test system and method for communication circuit operation verification |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002031992A JP3846565B2 (en) | 2002-02-08 | 2002-02-08 | Internal self-test system and method for communication circuit operation verification |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003234725A JP2003234725A (en) | 2003-08-22 |
JP3846565B2 true JP3846565B2 (en) | 2006-11-15 |
Family
ID=27775235
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002031992A Expired - Fee Related JP3846565B2 (en) | 2002-02-08 | 2002-02-08 | Internal self-test system and method for communication circuit operation verification |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3846565B2 (en) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07131461A (en) * | 1993-10-29 | 1995-05-19 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Header control system for atm communication |
EP1083682A3 (en) * | 1999-09-10 | 2003-07-02 | TRW Inc. | Built-in self test (BIST) approach for regenerative data transmission system |
-
2002
- 2002-02-08 JP JP2002031992A patent/JP3846565B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003234725A (en) | 2003-08-22 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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