JP3833043B2 - Gradation wiring for display, driver for liquid crystal display, and stress test method thereof - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、表示器用階調配線、液晶表示器用ドライバ及びそのストレス試験方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図10は、従来技術による液晶表示器用ドライバ内の階調電圧生成部の配線図である。階調電圧生成部は、基準電圧入力端子(ICパッド)V1〜V9、ラダー抵抗R、及び階調配線WWを有する。階調配線WWは、前半の階調配線WAと後半の階調配線WBに分けることができる。
【0003】
階調配線WWは、実際には例えば64階調に対応する64本の階調配線を有するが、ここでは図の簡略化のために33本の階調配線W1〜W33がある場合を例に説明する。階調配線W1〜W33の各階調配線間には、ラダー抵抗Rが接続されている。入力端子V1は階調配線W1に接続され、入力端子V2は階調配線W5に接続され、入力端子V3は階調配線W9に接続され、入力端子V4は階調配線W13に接続され、入力端子V5は階調配線W17に接続され、入力端子V6は階調配線W21に接続され、入力端子V7は階調配線W25に接続され、入力端子V8は階調配線W29に接続され、入力端子V9は階調配線W33に接続される。
【0004】
階調配線W1〜W33は、図示しない液晶パネルに接続され、W1〜W33より供給される階調電圧によって液晶パネルが駆動される。液晶パネルの駆動方法を説明する。入力端子V1に例えば0Vを印加し、入力端子V9に例えば6Vを印加する。また、入力端子V2〜V8に0〜6Vの間を補間する電圧を印加する。すると、階調配線W1〜W33に生じる電圧はラダー抵抗Rにより抵抗分圧される。これにより、階調配線W1〜W33からはガンマ補正された0〜6Vの間の電圧が出力される。そして、画像データに応じて階調配線W1〜W33の中から選択した何れかの電圧を液晶パネルに印加することにより、液晶パネルを駆動することができる。
【0005】
階調配線W1〜W33の各階調配線間はラダー抵抗Rにより接続されているが、液晶表示器用ドライバの製造工程において階調配線間に異物(ゴミ)が混入することがある。階調配線間に異物が混入すると、階調配線間がショートしてしまい、階調配線W1〜W33からは規定の階調電圧が出力されない。階調配線間が完全にショートしている場合には、検査工程で容易にその不良品の液晶表示器用ドラバを検出することができる。
【0006】
しかし、階調配線間に異物が混入しても、階調配線間が完全にはショートしない場合がある。その場合は、検査工程にて不良を検出することが困難であり、不良品の液晶表示器用ドライバを製品出荷してしまう可能性がある。その場合、ユーザが使用している間に配線間の異物の状態が変化していき、途中で故障し、正常な階調電圧を出力することができなくなってしまうことがある。正常な階調電圧が出力されないと、液晶パネル上の画素表示に線欠陥が生じてしまう。
【0007】
そのような不都合を回避するために、液晶表示器用ドライバの検査の際にストレス試験を行っている。ストレス試験では、まず、ストレス電圧印加工程を行い、その後に検査工程を行う。
【0008】
ストレス電圧印加工程を説明する。ストレス電圧印加工程では、まず、入力端子V1とV2の間に例えば12Vのストレス電圧(最大定格電圧)を印加し、次に入力端子V2とV3の間にも例えば12Vのストレス電圧を印加する。同様に、入力端子V3〜V9の各端子間にそれぞれストレス電圧を印加する。例えば階調配線間に異物が混入しているときには、ストレス電圧を印加することにより、その階調配線間の絶縁不良が顕著化する。
【0009】
上記のストレス電圧を印加した後に、検査工程を行う。検査工程では、上記の液晶パネルの通常駆動と同様に、入力端子V1に例えば0Vを印加し、入力端子V9に例えば6Vを印加し、入力端子V2〜V8に0〜6Vの間の電圧を印加する。そして、階調配線W1〜W33の各階調配線の出力電圧を測定し、出力電圧が規定値の範囲内にないときには、その液晶表示器用ドライバを不良品として除去することができる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記のストレス電圧印加工程では、階調配線W1とW5の間に12Vのストレス電圧が印加されるのみで、階調配線W1とその隣の階調配線W2の間には、約3V(=12V÷4)の低い電圧しか印加されない。すなわち、各階調配線間には十分に大きなストレス電圧を印加することができず、階調配線間の絶縁不良の検出率が比較的低かった。
【0011】
また、ストレス電圧印加工程では、まず、入力端子V1とV2の間にストレス電圧を印加し、次に、入力端子V2とV3の間にストレス電圧を印加し、同様に各入力端子V3〜V9間にストレス電圧を印加することにより、合計8回の電圧印加工程を繰り返す必要があり、ストレス電圧印加工程に長時間を要していた。
【0012】
本発明の目的は、階調配線間の絶縁不良をより確実に検出することができる表示器用階調配線、液晶表示器用ドライバ及びそのストレス試験方法を提供することである。
【0013】
本発明の他の目的は、階調配線間の絶縁不良を短時間で検出することができる表示器用階調配線、液晶表示器用ドライバ及びそのストレス試験方法を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本発明の表示器用階調配線は、表示器の全階調数を複数に分割した際の第1の階調エリアの電圧を出力するための第1の階調エリアの各階調の配線と、前記第1の階調エリアとは異なる第2の階調エリアの電圧を出力するための第2の階調エリアの各階調の配線であって、前記第1の階調エリアの各階調の配線と互い違いに配置された第2の階調エリアの各階調の配線とを備える。そして、このような階調配線の絶縁不良等の検査をするときは、第1の階調エリアの所定階調の配線に第1の電位を印加すると共に、第2の階調エリアの所定階調の配線に第2の電位を印加することにより、基準入力電圧よりも高いストレス電圧を前記配線間に印加するようにする。
【0015】
本発明は上記技術手段より成るので、第1の階調エリアの各配線に対して同電位(第1の電位)が印加されるとともに、この第1の階調エリアの各配線と互い違いに配置された第2の階調エリアの各配線に対しても同電位(上記第1の階調エリアとは異なる第2の電位)が印加されることとなり、第1の階調エリアの各配線と、これに隣接する第2の階調エリアの各配線との間には全て第1の電位と第2の電位との差電圧が等しく印加される。これにより、第1の電位と第2の電位とを1回印加するだけで、各階調配線間に大きなストレス電圧を印加することが可能となる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態による液晶表示器の構成例を示すブロック図である。液晶表示器は、液晶パネル1と液晶表示器用ドライバ2を有する。液晶表示器用ドライバ2は、入力端子INに入力されるデジタル階調値を、アナログ階調値に変換して出力端子OUTに出力するD/A変換器3を含む。D/A変換器3は、階調電圧生成部4とデコーダ5を有する。
【0017】
階調電圧生成部4とデコーダ5は、例えば64本の階調配線で相互に接続されている。入力端子INには、液晶パネル1の各画素の階調値がデジタル値で入力される。階調電圧生成部4は、例えば64階調のアナログ電圧を生成し、64本の階調配線を介してデコーダ5に出力する。デコーダ5は、階調電圧生成部4の階調配線から出力されるアナログ階調電圧値を基に、入力端子INに入力されるデジタル階調値をアナログ階調値に変換して、出力端子OUTに出力する。液晶パネル1は、出力端子OUTを介して、デコーダ5から各画素のアナログ階調電圧を入力する。液晶表示器用ドライバ2は、液晶パネル1の各画素の階調値を制御して液晶パネル1を駆動する。液晶パネル1は、所定の階調値を有する各画素を表示する。
【0018】
図2は、第1の実施の形態による液晶表示器内の階調電圧生成部4の構成例を示す配線図である。本実施の形態による階調電圧生成部4は、図10に示す階調電圧生成部における前半の階調配線WAと後半の階調配線WBとを同一層で櫛歯状に互い違いに配置したものである。
【0019】
階調電圧生成部4は、基準電圧入力端子(ICパッド)V1〜V9、前半部の階調配線WA、後半部の階調配線WB、及びラダー抵抗R1,R2を有する。以下、階調配線WAと階調配線WBの双方を合わせた階調配線を、階調配線WWという。
【0020】
階調配線WWは、実際には例えば64階調に対応する64本の階調配線を有するが、ここでは図の簡略化のために33本の階調配線W1〜W33がある場合を例に説明する。階調配線W1〜W33は、各階調の電圧を出力するための階調配線である。階調配線W1は最小階調値を示す電圧を出力するための配線であり、階調配線W33は最大階調値を示す電圧を出力するための階調配線である。
【0021】
前半部の階調配線WAは、液晶表示器の全階調数を2つに分割した際の階調値が小さい方の約半分の階調エリアの電圧を出力するための16本の階調配線W1〜W16を含む。後半部の階調配線WBは、液晶表示器の全階調数を2つに分割した際の階調値が大きい方の約半分の階調エリアの電圧を出力するための17本の階調配線W17b〜W33を含む。
【0022】
前半部の階調配線WAの各階調配線W1〜W16間には、第1のラダー抵抗R1が接続されており、後半部の階調配線WBの各階調配線W17b〜W33間には、第2のラダー抵抗R2が接続されている。入力端子V1は最小階調を示す階調配線W1に接続され、入力端子V2は階調配線W5に接続され、入力端子V3は階調配線W9に接続され、入力端子V4は階調配線W13に接続され、入力端子V5は中間の階調を示す階調配線W17a及びW17bに接続され、入力端子V6は階調配線W21に接続され、入力端子V7は階調配線W25に接続され、入力端子V8は階調配線W29に接続され、入力端子V9は最大階調を示す階調配線W33に接続される。
【0023】
階調配線W1〜W33は、図1のデコーダ5を介して液晶パネル1に接続される。入力端子V1〜V9に、以下の基準電圧を印加することにより、液晶パネル1を駆動することができる。すなわち、入力端子V1に例えば0Vを印加し、入力端子V9に例えば6Vを印加する。また、入力端子V2〜V8に0〜6Vの間を補間する電圧を印加すると、階調配線W1〜W33の電圧はラダー抵抗R1,R2により抵抗分圧され、図3に示すようにガンマ補正された0〜6Vの間の電圧を出力する。図3は、横軸が階調値を示し、縦軸が階調値に対応する階調配線の出力電圧を示す。図3に示すガンマ特性に応じて、入力端子V2〜V8に入力する基準電圧の値が決まる。
【0024】
なお、図2では入力端子V1〜V9が9個存在する場合を説明したが、入力端子の数はガンマ補正の特性曲線に応じて任意の数にすることができる。ただし、前半部の階調配線WAのうちの少なくとも2つの階調配線W1及びW4に入力端子V1及びV4を接続し、後半部の階調配線WBのうちの少なくとも2つの階調配線W17a(W17b)及びW33に入力端子V5及びV9を接続する必要がある。
【0025】
上記の基準電圧を入力端子V1〜V9に印加すると、第1のラダー抵抗R1には、図の上から下に向かって、すなわち小さな階調値の階調配線W1から大きな階調値の階調配線W17aに向かって電流が流れる。左下の階調配線W17aは右上の階調配線W17bに接続されているので、第2のラダー抵抗R2にも、図の上から下に向かって、すなわち小さな階調値の階調配線W17bから大きな階調値の階調配線W33に向かって電流が流れる。第1のラダー抵抗R1に流れる電流の方向と第2のラダー抵抗R2に流れる電流の方向は同一である。これにより、階調配線W1〜W33には、ラダー抵抗R1,R2により抵抗分圧された電圧が現れ、具体的には図3に示す各階調の電圧値が現れる。
【0026】
次に、ストレス試験方法について説明する。階調配線W1〜W33の各階調配線間はラダー抵抗R1,R2により接続されているが、液晶表示器用ドライバ2(図1)の製造工程において階調配線間に異物(ゴミ)が混入したり工程のばらつきが生じたりすることにより、階調配線間に絶縁不良が生じることがある。絶縁不良の液晶表示器用ドライバ2は不良品として破棄されるが、階調配線間の絶縁不良は、次に示すストレス試験により、検出することができる。ストレス試験では、まず、ストレス電圧印加工程を行い、その後に検査工程を行う。
【0027】
ストレス電圧印加工程について説明する。ストレス電圧印加工程では、入力端子V1,V2,V3,V4に例えば0Vを印加し、入力端子V5,V6,V7,V8,V9に例えば12Vのストレス電圧(最大定格電圧)を印加する。ストレス電圧を印加することにより、例えば階調配線間に絶縁不良があると、その階調配線間の絶縁不良が顕著化する。
【0028】
上記のストレス電圧を印加すると、V1〜V4には全て0Vの同電位が印加されるので、R1による分圧が行われても、W1〜W13には全て0Vの階調電圧が現れる。一方、V5〜V9には全て12Vの同電位が印加されるので、R2による分圧が行われても、W17b〜W33には全て12Vの階調電圧が現れる。このように、入力端子V1に0Vが印加され、入力端子V5に12Vが印加されるので、階調配線W1と階調配線W17bとの間に12Vの十分に高いストレス電圧を印加することができる。また、階調配線W2には第1のラダー抵抗R1を介して入力端子V1及びV2から0Vが印加されるので、階調配線W2と階調配線W17bとの間にも、12Vの高いストレス電圧が印加される。同様に、後に示す区間を除いては、各階調配線間に12Vの高いストレス電圧を印加することができ、階調配線間の絶縁不良をより確実に検出することができる。
【0029】
すなわち、図10に示した従来の階調電圧生成部では、階調配線W1とW5の間に12Vのストレス電圧が印加されるのみで、各階調配線間には、約3V(=12V÷4)の低い電圧しか印加されない。一方、本実施の形態による階調電圧生成部4では、一部の区間を除いて各階調配線間に12Vの高いストレス電圧を印加することができ、より確実に階調配線間の絶縁不良を検出することが可能になる。
【0030】
また、図10に示した従来の階調電圧生成部では、まず、入力端子V1とV2の間にストレス電圧を印加し、次に、入力端子V2とV3の間にストレス電圧を印加し、同様に各入力端子V3〜V9間にストレス電圧を印加することにより、合計8回のストレス電圧印加工程を繰り返さなければならないが、本実施の形態による階調電圧生成部4では、入力端子V1〜V4に0Vを印加し、入力端子V5〜V9に12Vを印加する1回のストレス電圧印加工程で済み、短時間でストレス電圧印加工程の処理を行うことができる。これにより、短時間で階調配線間の絶縁不良を検出することができる。
【0031】
なお、本実施の形態のストレス電圧印加工程は、中間の基準電圧入力端子V5に12Vを印加する場合に限定されず、0Vを印加してもよい。すなわち、入力端子V1〜V5に0Vを印加し、入力端子V6〜V9に12Vを印加してもよい。ただし、入力端子V5〜V9に12Vを印加したときには、階調配線W13から階調配線W17aまでの間には第1のラダー抵抗R1を介して12Vの電圧が印加されるために電圧降下が生じ、階調配線W13から階調配線W17aまでの間だけは、12Vの大きなストレス電圧を印加することができない。その場合は、入力端子V1〜V4に0V、入力端子V5〜V9に12Vを印加した後に、入力端子V1〜V5に0V、入力端子V6〜V9に12Vを印加すれば、上記の不都合を解消することができる。なお、当該不都合を解消するための他の階調電圧生成部4は、後に図5を参照しながら説明する。
【0032】
上記のストレス電圧を印加した後に、検査工程を行う。検査工程では、上記の液晶パネルの通常駆動と同様に、入力端子V1に例えば0Vを印加し、入力端子V9に例えば6Vを印加し、入力端子V2〜V8に0〜6Vの間を補間する電圧を印加する。階調配線W1〜W33の各階調配線の出力電圧を測定し、出力電圧が規定値の範囲内にないときには、その液晶表示器用ドライバ2を不良品として除去することができる。上記のストレス電圧印加工程により、階調配線間の絶縁不良が加速され、この検査工程でより確実に階調配線間の絶縁不良を検出することができる。
【0033】
(第2の実施の形態)
図4は、第2の実施の形態による階調電圧生成部4の構成例を示す配線図である。図2に示した第1の実施の形態では、後半部の階調配線WBは、階調値が小さい階調配線W17bを上側に設け、階調値が大きい階調配線W33を下側に設けて階調値順に階調配線W17b〜W33を並べていたが、本実施の形態の後半部の階調配線WBでは、階調値が小さい階調配線W18を下側に設け、階調値が大きい階調配線W33を上側に設けて階調値順に階調配線W18〜W33を並べる。また、図2に示した2つの階調配線17a,17bは1つの階調配線17にまとめて一番下側に設けている。本実施の形態の前半部の階調配線WAは、第1の実施の形態の前半部の階調配線WAと同様である。
【0034】
前半部の階調配線WAは、階調値が小さい方の約半分の階調エリアの電圧を出力するための17本の階調配線W1〜W17を含む。後半部の階調配線WBは、階調値が大きい方の約半分の階調エリアの電圧を出力するための16本の階調配線W18〜W33を含む。
【0035】
前半部の階調配線WAの各階調配線W1〜W17間には、第1のラダー抵抗R1が接続されており、後半部の階調配線WBの各階調配線W18〜W33間には、第2のラダー抵抗R2が接続されている。入力端子V1〜V4と階調配線WAとの接続は第1の実施の形態と同じである。入力端子V5は階調配線W17に接続され、入力端子V6は階調配線W21に接続され、入力端子V7は階調配線W25に接続され、入力端子V8は階調配線W29に接続され、入力端子V9は階調配線W33に接続される。
【0036】
このような構成において、入力端子V1〜V9に対して第1の実施の形態と同じ基準電圧を印加することにより、液晶パネル1を駆動することができる。すなわち、入力端子V1に例えば0Vを印加し、入力端子V9に例えば6Vを印加し、入力端子V2〜V8に0〜6Vの間を補間する電圧を印加する。上記の基準電圧を入力端子V1〜V9に印加すると、第1のラダー抵抗R1には、図の上から下に向かって、すなわち小さな階調値の階調配線W1から大きな階調値の階調配線W17に向かって電流が流れる。第2のラダー抵抗R2は、階調配線W17を介して第1のラダー抵抗R1と接続されているので、第2のラダー抵抗R2には、図の下から上に向かって、すなわち小さな階調値の階調配線W17から大きな階調値の階調配線W33に向かって電流が流れる。第1のラダー抵抗R1に流れる電流の方向と第2のラダー抵抗R2に流れる電流の方向とは逆である。これにより、階調配線W1〜W33には、ラダー抵抗R1,R2により抵抗分圧された電圧が現れ、具体的には図3に示す各階調の電圧値が現れる。
【0037】
また、ストレス試験方法は、第1の実施の形態と同じ方法により行うことができ、同様な効果を得ることができる。すなわち、各階調配線間に12Vの高いストレス電圧を印加することができ、各階調配線間の絶縁不良をより確実に検出することができるとともに、短時間でストレス試験を行うことができる。
【0038】
(第3の実施の形態)
図5は、第3の実施の形態による階調電圧生成部4の構成例を示す配線図である。第3の実施の形態は、図2に示した第1の実施の形態における中間の入力端子V5を2つの入力端子V5A及びV5Bに分割したものであり、その他の点は第1の実施の形態と同様である。
【0039】
後半部の階調配線WBのうちで階調値が最も小さい階調配線は、階調配線W17cと階調配線W17dとに分離されている。一方の階調配線17cはストレス試験にのみ使用され、他方の階調配線W17dが実際に階調電圧を出力するための階調配線として使用される。第1のラダー抵抗R1は、階調配線W1〜W17aの各階調配線間に接続され、第2のラダー抵抗R2は、階調配線W17d〜W33の各階調配線間に接続される。入力端子V5Aは、階調配線W17a及びW17cに接続され、入力端子V5Bは階調配線W17dに接続される。
【0040】
ストレス電圧印加工程について説明する。ストレス電圧印加工程では、入力端子V1,V2,V3,V4,V5Aに例えば0Vを印加し、入力端子V5B,V6,V7,V8,V9に例えば12Vのストレス電圧(最大定格電圧)を印加する。図2の第1の実施の形態では、階調配線W13から階調配線W17aまでの間には大きなストレス電圧を印加することができなかったが、本実施の形態によれば、これらの階調配線W13,W17aが接続された入力端子V4と入力端子V5Aに同電位の0Vを印加するとともに、入力端子V5B,V6に12Vを印加するので、階調配線W13から階調配線W17aまでの間においても、各階調配線間に12Vのストレス電圧を印加することができる。すなわち、すべての階調配線間に12Vの大きなストレス電圧を印加することができ、より確実に階調配線間の絶縁不良を検出することができる。
【0041】
なお、ストレス電圧を印加した後の検査工程及び通常の液晶駆動を行う際には、入力端子V5A及び入力端子V5Bに同じ電圧を印加することにより、本実施の形態は第1の実施の形態(図2)と等価な回路を構成し、等価な動作を行わせることができる。
【0042】
(第4の実施の形態)
図6は、第4の実施の形態による階調電圧生成部4の構成例を示す配線図である。本実施の形態は、図4に示した第2の実施の形態における中間の入力端子V5を2つの入力端子V5A及びV5Bに分割したものであり、その他の点は第2の実施の形態と同様である。
【0043】
前半部の階調配線WAのうちで階調値が最も大きい階調配線は、階調配線W17aと階調配線W17cとに分離されている。一方の階調配線17cはストレス試験にのみ使用され、他方の階調配線W17aが実際に階調電圧を出力するための階調配線として使用される。第1のラダー抵抗R1は、階調配線W1〜W17aの各階調配線間に接続され、第2のラダー抵抗R2は、階調配線W17c〜W33の各階調配線間に接続される。入力端子V5Aは、階調配線W17aに接続され、入力端子V5Bは階調配線W17cに接続される。
【0044】
ストレス電圧印加工程では、入力端子V1,V2,V3,V4,V5Aに例えば0Vを印加し、入力端子V5B,V6,V7,V8,V9に例えば12Vのストレス電圧(最大定格電圧)を印加する。第2の実施の形態(図4)では、階調配線W13から階調配線W17までの間には大きなストレス電圧を印加することができなかったが、本実施の形態によれば、これらの階調配線W13,W17aが接続された入力端子V4と入力端子V5Aに同電位の0Vを印加するとともに、入力端子V5B,V6に12Vを印加するので、階調配線W13から階調配線W17までの間においても、各階調配線間に12Vのストレス電圧を印加することができる。すなわち、すべての階調配線間に12Vの大きなストレス電圧を印加することができ、より確実に階調配線間の絶縁不良を検出することができる。
【0045】
なお、ストレス電圧を印加した後の検査工程及び通常の液晶駆動を行う際には、入力端子V5A及び入力端子V5Bに同じ電圧を印加することにより、本実施の形態は第2の実施の形態(図4)と等価な回路を構成し、等価な動作を行わせることができる。
【0046】
(第5の実施の形態)
図7は、第5の実施の形態による階調電圧生成部4の構成例を示す配線図である。本実施の形態では、図5に示した第3の実施の形態における中間の入力端子V5AとV5Bの間にスイッチSWを設け点が異なり、その他の点は第3の実施の形態と同様である。
【0047】
スイッチSWは、入力端子V5AとV5Bとの間を接続又は切断することができる。本実施の形態では、第3の実施の形態(図5)と同様に、ストレス電圧印加工程のときにはスイッチSWが入力端子V5AとV5Bとの間を切断し、検査工程及び通常の液晶パネル駆動時にはスイッチSWが入力端子V5AとV5Bとの間を接続する。なお、同様に、第4の実施の形態(図6)の端子V5AとV5Bとの間にスイッチSWを設けてもよい。
【0048】
図8は、上記のスイッチSWの構成を示す回路図である。スイッチSWは、PチャネルMOSトランジスタ(転送ゲート)12とNチャネルMOSトランジスタ(転送ゲート)13との組み合わせ素子と、NOT回路(インバータ)11とを有する。制御端子CTLは、NOT回路11の入力端子及びNチャネルトランジスタ13のゲートに接続される。NOT回路11の出力端子は、Pチャネルトランジスタ12のゲートに接続される。トランジスタ12及びトランジスタ13のソース/ドレインは、それぞれ入力端子V5A及び入力端子V5Bに接続される。
【0049】
制御端子CTLにハイレベルの電圧が印加されると、トランジスタ12及び13のソース−ドレイン間は導通状態になり、入力端子V5AとV5Bとの間が接続される。一方、制御端子CTLにローレベルの電圧が印加されると、トランジスタ12及び13のソース−ドレイン間が遮断状態になり、入力端子V5AとV5Bとの間が切断される。
【0050】
なお、スイッチSWは、PチャネルとNチャネルのMOSトランジスタ(転送ゲート)の組み合わせ素子による構成に限定されず、NチャネルのみのMOSトランジスタ(転送ゲート)で構成してもよいし、PチャネルのみのMOSトランジスタ(転送ゲート)で構成してもよい。
【0051】
以上詳しく説明したように、第1〜第5の実施の形態によれば、第1の階調エリア(例えば前半部の階調エリア)と第2の階調エリア(例えば後半部の階調エリア)の各階調配線を互い違いに配置することにより、各階調配線間に十分に大きなストレス電圧を印加することができ、階調配線間の絶縁不良をより確実に検出することができる。これにより、市場での劣化による不良率を下げることができ、信頼度を向上させることができる。また、1回のストレス電圧印加工程により各階調配線間にストレス電圧を印加することができるので、短時間で階調配線間の絶縁不良を検出することができ、工程時間の短縮によるコストダウンを図ることができる。
【0052】
図9(A)は、液晶表示器用ドライバ2(図1)の半導体基板の断面図である。第1の配線層21は、デコーダ5(図1)の配線層であり、その上に絶縁層22が形成される。絶縁層22の上には第2の配線層WA,WBが形成される。第2の配線層WAは前半部の階調配線層であり、第2の配線層WBは後半部の階調配線層である。第2の配線層WA及びWBは、同一層内で水平方向に交互に形成される。第2の配線層WA,WBの上には、絶縁層24が形成される。
【0053】
図9(A)では、前半部の階調配線WAと後半部の階調配線WBとを同一の配線層に配置する場合を例に説明したが、図9(B)に示すように、前半部の階調配線WAと後半部の階調配線WBとを異なる配線層に配置してもよい。
【0054】
図9(B)は、液晶表示器用ドライバ2(図1)の他の半導体基板の断面図である。第1の配線層21は、デコーダ5(図1)の配線層であり、その上に絶縁層22が形成される。絶縁層22の上には第2の配線層(前半部の階調配線層)WAが形成され、その上に絶縁層24が形成される。絶縁層24の上には第3の配線層(後半部の階調配線層)WBが形成され、その上に絶縁層26が形成される。
【0055】
図9(C)は、液晶表示器用ドライバ2(図1)の他の半導体基板の断面図である。第1の配線層21は、デコーダ5(図1)の配線層であり、その上に絶縁層22が形成される。絶縁層22の上には、第2の配線層(前半部の階調配線層)WA及び第2の配線層(後半部の階調配線層)WBが同一層内で水平方向に交互に形成される。第2の配線層WA,WBの上には、絶縁層24が形成される。絶縁層24の上には、第3の配線層(前半部の階調配線層)WA及び第3の配線層(後半部の階調配線層)WBが同一層内で水平方向に交互に形成される。第3の配線層WA,WBの上には、絶縁層26が形成される。また、配線層WA及びWBは、異なる配線層間で、垂直方向にも交互に形成される。
【0056】
また、上記実施の形態では階調配線を前半部の階調配線WAと後半部の階調配線WBとに分割する場合を例に説明したが、3つ以上に分割してもよい。例えば、図10に示す階調電圧生成部において、階調配線W1〜W4の第1の領域と階調配線W5〜W8の第2の領域と階調配線W9〜W12の第3の領域と階調配線W13〜W16の第4の領域等に分割し、第1の領域と第2の領域とを櫛歯状に互い違いに配置し、第3の領域と第4の領域とを櫛歯状に互い違いに配置してもよい。その際、互い違いに配置する2つの領域は、互いに階調が続く階調エリアの配線領域であることが好ましい。後半部の階調配線WBも、前半部の階調配線WAと同様に4つの領域に分割して互い違いに配置することができる。
【0057】
その他、上記に示した各実施の形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化のほんの一例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその精神、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【0058】
本発明の様々な形態をまとめると、以下のようになる。
(付記1)表示器の全階調数を複数に分割した際の第1の階調エリアの電圧を出力するための第1の階調エリアの各階調の配線と、
前記第1の階調エリアとは異なる第2の階調エリアの電圧を出力するための第2の階調エリアの各階調の配線であって、前記第1の階調エリアの各階調の配線と互い違いに配置された第2の階調エリアの各階調の配線と
を備えたことを特徴とする表示器用階調配線。
(付記2)前記第2の階調エリアは、前記第1の階調エリアの階調に続く階調を有する階調エリアであることを特徴とする付記1記載の表示器用階調配線。
【0059】
(付記3)前記第1の階調エリアの各階調の配線は、前記表示器の全階調数を2つに分割した際の前半部の階調エリアの配線であり、前記第2の階調エリアの各階調の配線は、前記表示器の全階調数を2つに分割した際の後半部の階調エリアの配線であることを特徴とする付記2記載の表示器用階調配線。
(付記4)前記第1及び第2の階調エリアの各階調の配線は、液晶表示器の階調電圧を出力するための配線であることを特徴とする付記1記載の表示器用階調配線。
【0060】
(付記5)前記第1の階調エリアの各階調の配線間に接続される第1のラダー抵抗と、
前記第2の階調エリアの各階調の配線間に接続される第2のラダー抵抗と
を更に備えたことを特徴とする付記1記載の表示器用階調配線。
(付記6)前記第1の階調エリアの各階調の配線の電圧を同電位にするために接続される第1の基準電圧入力端子と、
前記第2の階調エリアの各階調の配線の電圧を同電位にするために接続される第2の基準電圧入力端子と
を更に備えたことを特徴とする付記5記載の表示器用階調配線。
【0061】
(付記7)前記第1及び第2の基準電圧入力端子間に電圧を印加した際に前記第1のラダー抵抗に流れる電流の方向と前記第2のラダー抵抗に流れる電流の方向とが同一であることを特徴とする付記6記載の表示器用階調配線。
(付記8)前記第1及び第2の基準電圧入力端子間に電圧を印加した際に前記第1のラダー抵抗に流れる電流の方向と前記第2のラダー抵抗に流れる電流の方向とが逆であることを特徴とする付記6記載の表示器用階調配線。
【0062】
(付記9)前記配線のうちの最小階調を示す配線に接続される最小階調基準電圧入力端子と、
前記配線のうちの最大階調を示す配線に接続される最大階調基準電圧入力端子と、
前記配線のうちの所定の同一階調を示す配線に接続される2つの所定階調基準電圧入力端子と
を更に備えたことを特徴とする付記1記載の表示器用階調配線。
(付記10)前記配線のうちの最小階調を示す配線に接続される最小階調基準電圧入力端子と、
前記配線のうちの最大階調を示す配線に接続される最大階調基準電圧入力端子と、
前記配線のうちの中間の階調を示す配線に接続される2つの中間階調基準電圧入力端子と
を更に備えたことを特徴とする付記3記載の表示器用階調配線。
【0063】
(付記11)前記2つの所定階調基準電圧入力端子を接続又は切断するためのスイッチング素子を更に備えたことを特徴とする付記9記載の表示器用階調配線。(付記12)前記スイッチング素子は、NチャネルとPチャネルの転送ゲートの組み合わせ素子を含むことを特徴とする付記11記載の表示器用階調配線。
【0064】
(付記13)前記スイッチング素子は、Nチャネルのみの転送ゲートを含むことを特徴とする付記11記載の表示器用階調配線。
(付記14)前記スイッチング素子は、Pチャネルのみの転送ゲートを含むことを特徴とする付記11記載の表示器用階調配線。
【0065】
(付記15)前記第1の階調エリアの各階調の配線と前記第2の階調エリアの各階調の配線とは同一の層に配置されていることを特徴とする付記1記載の表示器用階調配線。
(付記16)前記第1の階調エリアの各階調の配線と前記第2の階調エリアの各階調の配線とは異なる層に配置されていることを特徴とする付記1記載の表示器用階調配線。
【0066】
(付記17)液晶表示器の全階調数を複数に分割した際の第1の階調エリアの各階調のアナログ階調電圧を出力するための第1の階調エリアの各階調の配線と、前記第1の階調エリアとは異なる第2の階調エリアの各階調のアナログ階調電圧を出力するための第2の階調エリアの各階調の配線であって、前記第1の階調エリアの各階調の配線と互い違いに配置された第2の階調エリアの各階調の配線と、
前記第1の階調エリアの各階調の配線間に接続される第1のラダー抵抗と、
前記第2の階調エリアの各階調の配線間に接続される第2のラダー抵抗と、
前記第1の階調エリアの配線の電圧を同電位にするために接続される第1の基準電圧入力端子と、
前記第2の階調エリアの配線の電圧を同電位にするために接続される第2の基準電圧入力端子と、
前記第1及び第2の階調エリアの各階調の配線から出力されるアナログ階調電圧値を基に、入力されるデジタル階調値をアナログ階調値に変換するデコーダとを備えたことを特徴とする液晶表示器用ドライバ。
(付記18)表示器の全階調数を複数に分割した際の第1の階調エリアの電圧を出力するための第1の階調エリアの各階調の配線と、前記第1の階調エリアとは異なる第2の階調エリアの電圧を出力するための第2の階調エリアの各階調の配線であって、前記第1の階調エリアの各階調の配線と互い違いに配置された第2の階調エリアの各階調の配線とを備えた液晶表示器用ドライバのストレス試験方法であって、
前記第1の階調エリアの所定階調の配線に第1の電位を印加すると共に、前記第2の階調エリアの所定階調の配線に第2の電位を印加することにより、基準入力電圧よりも高いストレス電圧を前記配線間に印加するステップと、
前記第1及び第2の階調エリアの所定階調の配線にそれぞれ各階調の基準入力電圧を印加し、全階調の配線から出力される電圧を測定することにより出力電圧の異常の有無を検査するステップと
を有することを特徴とする液晶表示器用ドライバのストレス試験方法。
【0067】
【発明の効果】
上記のように構成した本発明によれば、各階調配線間に十分に大きなストレス電圧を印加することができ、階調配線間の絶縁不良をより確実に検出することができる。また、1回のストレス電圧印加工程により各階調配線間にストレス電圧を印加することができるので、階調配線間の絶縁不良を短時間で検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態による液晶表示器の構成を示すブロック図である。
【図2】第1の実施の形態による液晶表示器内の階調電圧生成部の構成を示す配線図である。
【図3】階調値と電圧の関係を示すグラフである。
【図4】第2の実施の形態による階調電圧生成部の構成を示す配線図である。
【図5】第3の実施の形態による階調電圧生成部の構成を示す配線図である。
【図6】第4の実施の形態による階調電圧生成部の構成を示す配線図である。
【図7】第5の実施の形態による階調電圧生成部の構成を示す配線図である。
【図8】スイッチの構成を示す回路図である。
【図9】図9(A)〜(C)は液晶表示器用ドライバの半導体基板の断面図である。
【図10】従来技術による階調電圧生成部の構成を示す配線図である。
【符号の説明】
1 液晶パネル
2 液晶表示器用ドライバ
3 D/A変換器
4 階調電圧生成部
5 デコーダ
11 NOT回路
12 PチャネルMOSトランジスタ
13 NチャネルMOSトランジスタ
21 第1の配線層
22,24,26 絶縁層
V1〜V9 基準電圧入力端子
W1〜W33 階調配線
WA 前半部の階調配線
WB 後半部の階調配線
R1,R2,R ラダー抵抗
SW スイッチ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a gradation wiring for a display, a driver for a liquid crystal display, and a stress test method thereof.
[0002]
[Prior art]
FIG. 10 is a wiring diagram of a grayscale voltage generator in a liquid crystal display driver according to the prior art. The gradation voltage generation unit includes reference voltage input terminals (IC pads) V1 to V9, a ladder resistor R, and a gradation wiring WW. The gradation wiring WW can be divided into a first half gradation wiring WA and a second half gradation wiring WB.
[0003]
The gradation wiring WW actually has, for example, 64 gradation wirings corresponding to 64 gradations, but here, for the sake of simplification of the drawing, an example in which there are 33 gradation wirings W1 to W33 is taken as an example. explain. A ladder resistor R is connected between the gradation wirings W1 to W33. The input terminal V1 is connected to the gradation wiring W1, the input terminal V2 is connected to the gradation wiring W5, the input terminal V3 is connected to the gradation wiring W9, the input terminal V4 is connected to the gradation wiring W13, and the input terminal V5 is connected to the gradation wiring W17, the input terminal V6 is connected to the gradation wiring W21, the input terminal V7 is connected to the gradation wiring W25, the input terminal V8 is connected to the gradation wiring W29, and the input terminal V9 is Connected to the gradation wiring W33.
[0004]
The gradation wirings W1 to W33 are connected to a liquid crystal panel (not shown), and the liquid crystal panel is driven by gradation voltages supplied from W1 to W33. A method for driving the liquid crystal panel will be described. For example, 0 V is applied to the input terminal V1, and 6 V is applied to the input terminal V9. Further, a voltage for interpolating between 0 to 6 V is applied to the input terminals V2 to V8. Then, the voltage generated in the gradation wirings W1 to W33 is divided by the ladder resistor R. As a result, a voltage between 0 and 6V that has been gamma corrected is output from the gradation wirings W1 to W33. The liquid crystal panel can be driven by applying any voltage selected from the gradation wirings W1 to W33 according to the image data to the liquid crystal panel.
[0005]
The gradation wirings W1 to W33 are connected to each other by a ladder resistor R, but foreign matter (dust) may be mixed between the gradation wirings in the manufacturing process of the liquid crystal display driver. When a foreign substance is mixed between the gradation wirings, the gradation wirings are short-circuited, and a prescribed gradation voltage is not output from the gradation wirings W1 to W33. When the gradation wiring is completely short-circuited, the defective LCD driver can be easily detected in the inspection process.
[0006]
However, even if foreign matter is mixed between the gradation wirings, the gradation wirings may not be completely short-circuited. In that case, it is difficult to detect a defect in the inspection process, and a defective liquid crystal display driver may be shipped. In such a case, the state of the foreign matter between the wirings may change during use by the user, and a failure may occur in the middle, making it impossible to output a normal gradation voltage. If normal gradation voltages are not output, line defects will occur in the pixel display on the liquid crystal panel.
[0007]
In order to avoid such an inconvenience, a stress test is performed at the time of testing the driver for the liquid crystal display. In the stress test, first, a stress voltage application process is performed, and then an inspection process is performed.
[0008]
The stress voltage application process will be described. In the stress voltage application step, first, for example, a stress voltage of 12 V (maximum rated voltage) is applied between the input terminals V1 and V2, and then, for example, a stress voltage of 12 V is also applied between the input terminals V2 and V3. Similarly, a stress voltage is applied between the input terminals V3 to V9. For example, when foreign matter is mixed between the gradation wirings, the insulation failure between the gradation wirings becomes remarkable by applying the stress voltage.
[0009]
After applying the stress voltage, an inspection process is performed. In the inspection process, for example, 0 V is applied to the input terminal V1, 6V is applied to the input terminal V9, and a voltage between 0 to 6V is applied to the input terminals V2 to V8, as in the normal driving of the liquid crystal panel. To do. Then, the output voltage of each gradation wiring of the gradation wirings W1 to W33 is measured, and when the output voltage is not within the range of the specified value, the driver for the liquid crystal display can be removed as a defective product.
[0010]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above stress voltage application step, only a 12V stress voltage is applied between the gradation wirings W1 and W5, and about 3V (between the gradation wiring W1 and the adjacent gradation wiring W2). Only a low voltage of 12V / 4) is applied. That is, a sufficiently large stress voltage cannot be applied between the gradation wirings, and the detection rate of the insulation failure between the gradation wirings is relatively low.
[0011]
In the stress voltage application step, first, a stress voltage is applied between the input terminals V1 and V2, then a stress voltage is applied between the input terminals V2 and V3, and similarly between each of the input terminals V3 to V9. It was necessary to repeat the voltage application process eight times in total by applying a stress voltage to the stress voltage application process, which required a long time.
[0012]
An object of the present invention is to provide a gradation wiring for a display, a driver for a liquid crystal display, and a stress test method thereof that can more reliably detect an insulation failure between gradation wirings.
[0013]
Another object of the present invention is to provide a gradation wiring for a display, a driver for a liquid crystal display, and a stress test method thereof that can detect an insulation failure between gradation wirings in a short time.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
The gradation wiring for a display device according to the present invention includes wiring for each gradation in the first gradation area for outputting the voltage of the first gradation area when the total number of gradations of the display is divided into a plurality of parts. Wiring of each gradation of the second gradation area for outputting a voltage of a second gradation area different from the first gradation area, and wiring of each gradation of the first gradation area And wiring for each gradation of the second gradation area arranged alternately. Then, when inspecting such an insulation failure of the gradation wiring, the first potential is applied to the predetermined gradation wiring in the first gradation area and the predetermined gradation in the second gradation area is applied. By applying the second potential to the tonal wiring, a stress voltage higher than the reference input voltage is applied between the wirings.
[0015]
Since the present invention comprises the above technical means, the same potential (first potential) is applied to each wiring in the first gradation area, and the wiring is alternately arranged with each wiring in the first gradation area. The same potential (second potential different from the first gradation area) is applied to each wiring in the second gradation area, and each wiring in the first gradation area is connected to each wiring in the first gradation area. The difference voltage between the first potential and the second potential is equally applied to all the wirings in the second gradation area adjacent thereto. As a result, it is possible to apply a large stress voltage between the gradation wirings by applying the first potential and the second potential only once.
[0016]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration example of the liquid crystal display according to the first embodiment. The liquid crystal display has a liquid crystal panel 1 and a liquid
[0017]
The
[0018]
FIG. 2 is a wiring diagram illustrating a configuration example of the gradation
[0019]
The gradation
[0020]
The gradation wiring WW actually has, for example, 64 gradation wirings corresponding to 64 gradations, but here, for the sake of simplification of the drawing, an example in which there are 33 gradation wirings W1 to W33 is taken as an example. explain. The gradation wirings W1 to W33 are gradation wirings for outputting a voltage of each gradation. The gradation wiring W1 is a wiring for outputting a voltage indicating the minimum gradation value, and the gradation wiring W33 is a gradation wiring for outputting a voltage indicating the maximum gradation value.
[0021]
The gradation wiring WA in the first half part has 16 gradations for outputting the voltage of the gradation area whose half gradation value is smaller when the total number of gradations of the liquid crystal display is divided into two. Wirings W1-W16 are included. The gradation wiring WB in the latter half part has 17 gradations for outputting the voltage of the gradation area of about half of the larger gradation value when the total number of gradations of the liquid crystal display is divided into two. Wirings W17b to W33 are included.
[0022]
The first ladder resistor R1 is connected between the gradation wirings W1 to W16 of the first half gradation wiring WA, and the second ladder wiring W17 is connected between the gradation wirings W17b to W33 of the second gradation wiring WB. The ladder resistor R2 is connected. The input terminal V1 is connected to the gradation wiring W1 indicating the minimum gradation, the input terminal V2 is connected to the gradation wiring W5, the input terminal V3 is connected to the gradation wiring W9, and the input terminal V4 is connected to the gradation wiring W13. The input terminal V5 is connected to the gradation wirings W17a and W17b indicating intermediate gradation, the input terminal V6 is connected to the gradation wiring W21, the input terminal V7 is connected to the gradation wiring W25, and the input terminal V8. Is connected to the gradation wiring W29, and the input terminal V9 is connected to the gradation wiring W33 showing the maximum gradation.
[0023]
The gradation wirings W1 to W33 are connected to the liquid crystal panel 1 via the
[0024]
Although FIG. 2 illustrates the case where there are nine input terminals V1 to V9, the number of input terminals can be any number according to the characteristic curve of gamma correction. However, the input terminals V1 and V4 are connected to at least two gradation wirings W1 and W4 in the first half gradation wiring WA, and at least two gradation wirings W17a (W17b) in the second half gradation wiring WB. ) And W33 need to be connected to input terminals V5 and V9.
[0025]
When the above reference voltage is applied to the input terminals V1 to V9, the first ladder resistor R1 has a gradation with a large gradation value from the top to the bottom of the drawing, that is, from the gradation wiring W1 with a small gradation value. A current flows toward the wiring W17a. Since the lower left gradation wiring W17a is connected to the upper right gradation wiring W17b, the second ladder resistor R2 also increases from the gradation wiring W17b having a smaller gradation value from the top to the bottom of the figure. A current flows toward the gradation wiring W33 having gradation values. The direction of the current flowing through the first ladder resistor R1 and the direction of the current flowing through the second ladder resistor R2 are the same. As a result, voltages divided by the ladder resistors R1 and R2 appear in the gradation wirings W1 to W33, and specifically, voltage values of the respective gradations shown in FIG. 3 appear.
[0026]
Next, a stress test method will be described. The gradation wirings W1 to W33 are connected by ladder resistors R1 and R2, but foreign matter (dust) is mixed between the gradation wirings in the manufacturing process of the liquid crystal display driver 2 (FIG. 1). Insufficient insulation may occur between gradation wirings due to process variations. Although the liquid
[0027]
The stress voltage application process will be described. In the stress voltage application step, for example, 0V is applied to the input terminals V1, V2, V3, and V4, and a stress voltage (maximum rated voltage) of, for example, 12V is applied to the input terminals V5, V6, V7, V8, and V9. By applying a stress voltage, for example, if there is an insulation failure between gradation wirings, the insulation failure between the gradation wirings becomes prominent.
[0028]
When the above stress voltage is applied, the same potential of 0V is applied to V1 to V4, so that even if the voltage is divided by R1, a gradation voltage of 0V appears in W1 to W13. On the other hand, since the same potential of 12V is applied to all of V5 to V9, even if the voltage is divided by R2, a gradation voltage of 12V appears in W17b to W33. Thus, 0V is applied to the input terminal V1, and 12V is applied to the input terminal V5. Therefore, a sufficiently high stress voltage of 12V can be applied between the gradation wiring W1 and the gradation wiring W17b. . Further, since 0V is applied to the gradation wiring W2 from the input terminals V1 and V2 via the first ladder resistor R1, a high stress voltage of 12V is also applied between the gradation wiring W2 and the gradation wiring W17b. Is applied. Similarly, a high stress voltage of 12 V can be applied between the gradation wirings except for the section shown later, and an insulation failure between the gradation wirings can be detected more reliably.
[0029]
That is, in the conventional gradation voltage generation unit shown in FIG. 10, only a stress voltage of 12V is applied between the gradation wirings W1 and W5, and about 3V (= 12V ÷ 4) is applied between the gradation wirings. Only a low voltage of) is applied. On the other hand, in the gradation
[0030]
In the conventional gradation voltage generator shown in FIG. 10, first, a stress voltage is applied between the input terminals V1 and V2, and then a stress voltage is applied between the input terminals V2 and V3. The stress voltage application process must be repeated a total of 8 times by applying a stress voltage between the input terminals V3 to V9. In the
[0031]
In addition, the stress voltage application process of this Embodiment is not limited to applying 12V to the intermediate | middle reference voltage input terminal V5, You may apply 0V. That is, 0V may be applied to the input terminals V1 to V5, and 12V may be applied to the input terminals V6 to V9. However, when 12V is applied to the input terminals V5 to V9, a voltage drop occurs because a voltage of 12V is applied through the first ladder resistor R1 between the gradation wiring W13 and the gradation wiring W17a. A large stress voltage of 12 V cannot be applied only between the gradation wiring W13 and the gradation wiring W17a. In that case, if 0V is applied to the input terminals V1 to V4, 12V is applied to the input terminals V5 to V9, then 0V is applied to the input terminals V1 to V5, and 12V is applied to the input terminals V6 to V9, the above problems are eliminated. be able to. The other gradation
[0032]
After applying the stress voltage, an inspection process is performed. In the inspection process, similarly to the normal driving of the liquid crystal panel, for example, 0V is applied to the input terminal V1, 6V is applied to the input terminal V9, and the voltage for interpolating between 0 to 6V to the input terminals V2 to V8. Apply. The output voltage of each gradation wiring of the gradation wirings W1 to W33 is measured, and when the output voltage is not within the specified value range, the liquid
[0033]
(Second Embodiment)
FIG. 4 is a wiring diagram illustrating a configuration example of the gradation
[0034]
The gradation wiring WA in the first half includes 17 gradation wirings W1 to W17 for outputting the voltage of about half the gradation area having the smaller gradation value. The second half gradation wiring WB includes sixteen gradation wirings W18 to W33 for outputting the voltage of the gradation area of about half of the larger gradation value.
[0035]
The first ladder resistor R1 is connected between the gradation wirings W1 to W17 of the first half gradation wiring WA, and the second gradation wiring W18 of the second half gradation wiring WB is connected to the second gradation wiring W1. The ladder resistor R2 is connected. The connection between the input terminals V1 to V4 and the gradation wiring WA is the same as that in the first embodiment. The input terminal V5 is connected to the gradation wiring W17, the input terminal V6 is connected to the gradation wiring W21, the input terminal V7 is connected to the gradation wiring W25, the input terminal V8 is connected to the gradation wiring W29, and the input terminal V9 is connected to the gradation wiring W33.
[0036]
In such a configuration, the liquid crystal panel 1 can be driven by applying the same reference voltage as in the first embodiment to the input terminals V1 to V9. That is, for example, 0V is applied to the input terminal V1, 6V is applied to the input terminal V9, and a voltage that interpolates between 0 to 6V is applied to the input terminals V2 to V8. When the above reference voltage is applied to the input terminals V1 to V9, the first ladder resistor R1 has a gradation with a large gradation value from the top to the bottom of the drawing, that is, from the gradation wiring W1 with a small gradation value. A current flows toward the wiring W17. Since the second ladder resistor R2 is connected to the first ladder resistor R1 through the gradation wiring W17, the second ladder resistor R2 has a small gradation from the bottom to the top in the drawing. A current flows from the value gradation wiring W17 toward the gradation wiring W33 having a large gradation value. The direction of the current flowing through the first ladder resistor R1 is opposite to the direction of the current flowing through the second ladder resistor R2. As a result, voltages divided by the ladder resistors R1 and R2 appear in the gradation wirings W1 to W33, and specifically, voltage values of the respective gradations shown in FIG. 3 appear.
[0037]
Moreover, the stress test method can be performed by the same method as the first embodiment, and the same effect can be obtained. That is, a high stress voltage of 12 V can be applied between the gradation wirings, and an insulation failure between the gradation wirings can be detected more reliably, and a stress test can be performed in a short time.
[0038]
(Third embodiment)
FIG. 5 is a wiring diagram illustrating a configuration example of the gradation
[0039]
The gradation wiring having the smallest gradation value among the gradation wirings WB in the latter half is separated into the gradation wiring W17c and the gradation wiring W17d. One gradation wiring 17c is used only for the stress test, and the other gradation wiring W17d is used as a gradation wiring for actually outputting the gradation voltage. The first ladder resistor R1 is connected between the gradation wirings of the gradation wirings W1 to W17a, and the second ladder resistor R2 is connected between the gradation wirings of the gradation wirings W17d to W33. The input terminal V5A is connected to the gradation wirings W17a and W17c, and the input terminal V5B is connected to the gradation wiring W17d.
[0040]
The stress voltage application process will be described. In the stress voltage application step, for example, 0V is applied to the input terminals V1, V2, V3, V4, and V5A, and a stress voltage (maximum rated voltage) of, for example, 12V is applied to the input terminals V5B, V6, V7, V8, and V9. In the first embodiment of FIG. 2, a large stress voltage cannot be applied between the gradation wiring W13 and the gradation wiring W17a. However, according to the present embodiment, these gradations are not applied. Since 0 V having the same potential is applied to the input terminal V4 and the input terminal V5A to which the wirings W13 and W17a are connected, and 12 V is applied to the input terminals V5B and V6, between the gradation wiring W13 and the gradation wiring W17a. In addition, a stress voltage of 12 V can be applied between the gradation wirings. That is, a large stress voltage of 12 V can be applied between all the gradation wirings, and insulation failure between the gradation wirings can be detected more reliably.
[0041]
In the inspection process after applying the stress voltage and normal liquid crystal driving, the same voltage is applied to the input terminal V5A and the input terminal V5B, so that the present embodiment is the first embodiment ( A circuit equivalent to that in FIG. 2) can be configured and an equivalent operation can be performed.
[0042]
(Fourth embodiment)
FIG. 6 is a wiring diagram illustrating a configuration example of the gradation
[0043]
The gradation wiring having the largest gradation value among the gradation wirings WA in the first half is separated into the gradation wiring W17a and the gradation wiring W17c. One gradation wiring 17c is used only for the stress test, and the other gradation wiring W17a is used as a gradation wiring for actually outputting the gradation voltage. The first ladder resistor R1 is connected between the gradation lines W1 to W17a, and the second ladder resistor R2 is connected between the gradation lines W17c to W33. The input terminal V5A is connected to the gradation wiring W17a, and the input terminal V5B is connected to the gradation wiring W17c.
[0044]
In the stress voltage application step, for example, 0V is applied to the input terminals V1, V2, V3, V4, and V5A, and a stress voltage (maximum rated voltage) of, for example, 12V is applied to the input terminals V5B, V6, V7, V8, and V9. In the second embodiment (FIG. 4), a large stress voltage cannot be applied between the gradation wiring W13 and the gradation wiring W17. However, according to the present embodiment, these levels are not applied. Since 0 V having the same potential is applied to the input terminal V4 and the input terminal V5A to which the adjustment wirings W13 and W17a are connected, and 12 V is applied to the input terminals V5B and V6, the interval between the gradation wiring W13 and the gradation wiring W17 is applied. In FIG. 5, a stress voltage of 12 V can be applied between the gradation wirings. That is, a large stress voltage of 12 V can be applied between all the gradation wirings, and insulation failure between the gradation wirings can be detected more reliably.
[0045]
Note that when performing the inspection process after applying the stress voltage and normal liquid crystal driving, the same voltage is applied to the input terminal V5A and the input terminal V5B, so that this embodiment is the second embodiment ( A circuit equivalent to that in FIG. 4) can be configured and an equivalent operation can be performed.
[0046]
(Fifth embodiment)
FIG. 7 is a wiring diagram illustrating a configuration example of the gradation
[0047]
The switch SW can connect or disconnect between the input terminals V5A and V5B. In the present embodiment, as in the third embodiment (FIG. 5), the switch SW disconnects between the input terminals V5A and V5B during the stress voltage application process, and during the inspection process and normal liquid crystal panel driving. A switch SW connects between the input terminals V5A and V5B. Similarly, a switch SW may be provided between the terminals V5A and V5B of the fourth embodiment (FIG. 6).
[0048]
FIG. 8 is a circuit diagram showing the configuration of the switch SW. The switch SW includes a combination element of a P channel MOS transistor (transfer gate) 12 and an N channel MOS transistor (transfer gate) 13, and a NOT circuit (inverter) 11. The control terminal CTL is connected to the input terminal of the
[0049]
When a high level voltage is applied to the control terminal CTL, the source and drain of the
[0050]
The switch SW is not limited to a configuration using a combination element of a P-channel and an N-channel MOS transistor (transfer gate), and may be configured by an N-channel MOS transistor (transfer gate) or only a P-channel. You may comprise by a MOS transistor (transfer gate).
[0051]
As described above in detail, according to the first to fifth embodiments, the first gradation area (for example, the first half gradation area) and the second gradation area (for example, the second half gradation area). ) Are arranged in a staggered manner, a sufficiently large stress voltage can be applied between the gradation wirings, and an insulation failure between the gradation wirings can be detected more reliably. Thereby, the defect rate due to deterioration in the market can be lowered, and the reliability can be improved. In addition, since a stress voltage can be applied between each gradation wiring by a single stress voltage application process, it is possible to detect an insulation failure between gradation wirings in a short time, and to reduce costs by shortening the process time. Can be planned.
[0052]
FIG. 9A is a cross-sectional view of the semiconductor substrate of the liquid crystal display driver 2 (FIG. 1). The
[0053]
In FIG. 9A, the case where the first half gradation wiring WA and the second half gradation wiring WB are arranged in the same wiring layer has been described as an example. However, as shown in FIG. The gradation wiring WA in the part and the gradation wiring WB in the latter half may be arranged in different wiring layers.
[0054]
FIG. 9B is a cross-sectional view of another semiconductor substrate of the liquid crystal display driver 2 (FIG. 1). The
[0055]
FIG. 9C is a cross-sectional view of another semiconductor substrate of the liquid crystal display driver 2 (FIG. 1). The
[0056]
In the above embodiment, the case where the gradation wiring is divided into the first half gradation wiring WA and the second half gradation wiring WB has been described as an example. However, the gradation wiring may be divided into three or more. For example, in the gradation voltage generator shown in FIG. 10, the first region of the gradation wirings W1 to W4, the second region of the gradation wirings W5 to W8, the third region of the gradation wirings W9 to W12, and the floor. Dividing the control wirings W13 to W16 into fourth regions and the like, arranging the first regions and the second regions alternately in a comb shape, and forming the third regions and the fourth region in a comb shape. You may arrange alternately. In that case, it is preferable that the two regions arranged alternately are wiring regions in a gradation area where gradations continue to each other. Similarly to the gradation wiring WA in the first half, the latter half gradation wiring WB can be divided into four regions and arranged alternately.
[0057]
In addition, each of the above-described embodiments is merely an example of the embodiment for carrying out the present invention, and the technical scope of the present invention should not be construed in a limited manner. It will not be. In other words, the present invention can be implemented in various forms without departing from the spirit or main features thereof.
[0058]
The various aspects of the present invention are summarized as follows.
(Supplementary note 1) Wiring of each gradation in the first gradation area for outputting the voltage of the first gradation area when dividing the total number of gradations of the display into a plurality of parts,
Wiring of each gradation of the second gradation area for outputting a voltage of a second gradation area different from the first gradation area, and wiring of each gradation of the first gradation area And wiring of each gradation in the second gradation area arranged alternately
A gradation wiring for a display, comprising:
(Supplementary note 2) The display-use gradation wiring according to supplementary note 1, wherein the second gradation area is a gradation area having a gradation following the gradation of the first gradation area.
[0059]
(Supplementary Note 3) The wiring for each gradation in the first gradation area is wiring in the gradation area in the first half when the total number of gradations of the display is divided into two, and the
(Supplementary Note 4) The gradation wiring for a display according to Supplementary Note 1, wherein the gradation wirings in the first and second gradation areas are wirings for outputting gradation voltages of a liquid crystal display. .
[0060]
(Additional remark 5) The 1st ladder resistance connected between the wiring of each gradation of the said 1st gradation area,
A second ladder resistor connected between the wirings of each gradation in the second gradation area;
The gradation wiring for a display device according to appendix 1, further comprising:
(Supplementary note 6) a first reference voltage input terminal connected to make the voltage of the wiring of each gradation in the first gradation area the same potential;
A second reference voltage input terminal connected to make the voltage of the wiring of each gradation in the second gradation area the same potential;
The gradation wiring for a display device according to
[0061]
(Supplementary note 7) When a voltage is applied between the first and second reference voltage input terminals, the direction of the current flowing through the first ladder resistor is the same as the direction of the current flowing through the second ladder resistor. The gradation wiring for a display device according to
(Supplementary note 8) When a voltage is applied between the first and second reference voltage input terminals, the direction of the current flowing through the first ladder resistor is opposite to the direction of the current flowing through the second ladder resistor. The gradation wiring for a display device according to
[0062]
(Additional remark 9) The minimum gradation reference voltage input terminal connected to the wiring which shows the minimum gradation among the said wiring,
A maximum gradation reference voltage input terminal connected to the wiring indicating the maximum gradation of the wiring;
Two predetermined gradation reference voltage input terminals connected to a wiring having a predetermined same gradation among the wirings;
The gradation wiring for a display device according to appendix 1, further comprising:
(Additional remark 10) The minimum gradation reference voltage input terminal connected to the wiring which shows the minimum gradation among the said wiring,
A maximum gradation reference voltage input terminal connected to the wiring indicating the maximum gradation of the wiring;
Two intermediate gray scale reference voltage input terminals connected to a wiring showing an intermediate gray scale among the wirings;
The gradation wiring for a display device according to
[0063]
(Additional remark 11) The gradation wiring for displays according to additional remark 9, further comprising a switching element for connecting or disconnecting the two predetermined gradation reference voltage input terminals. (Additional remark 12) The said switching element contains the combination element of the transfer gate of N channel and P channel, The gradation wiring for displays of
[0064]
(Supplementary note 13) The gradation wiring for display according to
(Supplementary note 14) The gradation wiring for display device according to
[0065]
(Supplementary note 15) The display device according to supplementary note 1, wherein each gradation wiring in the first gradation area and each gradation wiring in the second gradation area are arranged in the same layer. Gradation wiring.
(Supplementary note 16) The display floor according to supplementary note 1, wherein each gradation wiring in the first gradation area and each gradation wiring in the second gradation area are arranged in different layers. Adjustment wiring.
[0066]
(Supplementary Note 17) Wiring of each gradation in the first gradation area for outputting an analog gradation voltage of each gradation in the first gradation area when the total number of gradations of the liquid crystal display is divided into a plurality of Wiring for each gradation in the second gradation area for outputting an analog gradation voltage for each gradation in the second gradation area different from the first gradation area, Wiring for each gradation in the second gradation area arranged alternately with the wiring for each gradation in the gradation area;
A first ladder resistor connected between the wirings of each gradation in the first gradation area;
A second ladder resistor connected between the wirings of each gradation in the second gradation area;
A first reference voltage input terminal connected to set the voltage of the wiring in the first gradation area to the same potential;
A second reference voltage input terminal connected to set the voltage of the wiring in the second gradation area to the same potential;
A decoder for converting an input digital gradation value into an analog gradation value based on an analog gradation voltage value output from each gradation wiring in the first and second gradation areas; A driver for liquid crystal displays.
(Supplementary Note 18) Wiring of each gradation in the first gradation area for outputting the voltage of the first gradation area when the total number of gradations of the display is divided into a plurality, and the first gradation Wiring of each gradation in the second gradation area for outputting a voltage of the second gradation area different from the area, and alternately arranged with the wiring of each gradation in the first gradation area A stress test method for a driver for a liquid crystal display comprising a wiring for each gradation in a second gradation area,
By applying a first potential to the wiring of a predetermined gradation in the first gradation area and applying a second potential to the wiring of a predetermined gradation in the second gradation area, a reference input voltage Applying a higher stress voltage between the wires;
By applying a reference input voltage for each gradation to each of the predetermined gradation wirings in the first and second gradation areas and measuring the voltages output from the wirings for all gradations, it is possible to determine whether there is an abnormality in the output voltage. Step to inspect and
A stress test method for a driver for a liquid crystal display, comprising:
[0067]
【The invention's effect】
According to the present invention configured as described above, a sufficiently large stress voltage can be applied between the gradation wirings, and an insulation failure between the gradation wirings can be detected more reliably. In addition, since a stress voltage can be applied between the gradation wirings by a single stress voltage application step, an insulation failure between the gradation wirings can be detected in a short time.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a liquid crystal display according to a first embodiment.
FIG. 2 is a wiring diagram illustrating a configuration of a gradation voltage generation unit in the liquid crystal display according to the first embodiment.
FIG. 3 is a graph showing a relationship between a gradation value and a voltage.
FIG. 4 is a wiring diagram illustrating a configuration of a gradation voltage generation unit according to a second embodiment.
FIG. 5 is a wiring diagram showing a configuration of a gradation voltage generation unit according to a third embodiment.
FIG. 6 is a wiring diagram illustrating a configuration of a gradation voltage generation unit according to a fourth embodiment.
FIG. 7 is a wiring diagram showing a configuration of a gradation voltage generation unit according to a fifth embodiment.
FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration of a switch.
FIGS. 9A to 9C are cross-sectional views of a semiconductor substrate of a driver for a liquid crystal display.
FIG. 10 is a wiring diagram illustrating a configuration of a grayscale voltage generation unit according to the related art.
[Explanation of symbols]
1 LCD panel
2 LCD display driver
3 D / A converter
4 gradation voltage generator
5 Decoder
11 NOT circuit
12 P-channel MOS transistor
13 N-channel MOS transistor
21 First wiring layer
22, 24, 26 Insulating layer
V1 to V9 reference voltage input terminal
W1-W33 gradation wiring
WA First half gradation wiring
WB gradation wiring in the latter half
R1, R2, R Ladder resistance
SW switch
Claims (9)
前記第1の階調エリアとは異なる第2の階調エリアの電圧を出力するための第2の階調エリアの各階調の配線であって、前記第1の階調エリアの各階調の配線と互い違いに配置された第2の階調エリアの各階調の配線と
を備えたことを特徴とする表示器用階調配線。Wiring of each gradation in the first gradation area for outputting the voltage of the first gradation area when the total number of gradations of the display is divided into a plurality of areas;
Wiring of each gradation of the second gradation area for outputting a voltage of a second gradation area different from the first gradation area, and wiring of each gradation of the first gradation area And a gradation wiring for a display, wherein the gradation wirings of the second gradation area are alternately arranged.
前記第2の階調エリアの各階調の配線間に接続される第2のラダー抵抗と
を更に備えたことを特徴とする請求項1記載の表示器用階調配線。A first ladder resistor connected between the wirings of each gradation in the first gradation area;
The display gradation wiring according to claim 1, further comprising a second ladder resistor connected between the wirings of each gradation in the second gradation area.
前記配線のうちの最大階調を示す配線に接続される最大階調基準電圧入力端子と、
前記配線のうちの所定の同一階調を示す配線に接続される2つの所定階調基準電圧入力端子と
を更に備えたことを特徴とする請求項1記載の表示器用階調配線。A minimum gradation reference voltage input terminal connected to the wiring indicating the minimum gradation among the wirings;
A maximum gradation reference voltage input terminal connected to the wiring indicating the maximum gradation of the wiring;
The display gradation wiring according to claim 1, further comprising two predetermined gradation reference voltage input terminals connected to a wiring having a predetermined same gradation among the wirings.
前記第1の階調エリアとは異なる第2の階調エリアの各階調のアナログ階調電圧を出力するための第2の階調エリアの各階調の配線であって、前記第1の階調エリアの各階調の配線と互い違いに配置された第2の階調エリアの各階調の配線と、
前記第1の階調エリアの各階調の配線間に接続される第1のラダー抵抗と、
前記第2の階調エリアの各階調の配線間に接続される第2のラダー抵抗と、
前記第1の階調エリアの配線の電圧を同電位にするために接続される第1の基準電圧入力端子と、
前記第2の階調エリアの配線の電圧を同電位にするために接続される第2の基準電圧入力端子と、
前記第1及び第2の階調エリアの各階調の配線から出力されるアナログ階調電圧値を基に、入力されるデジタル階調値をアナログ階調値に変換するデコーダとを備えたことを特徴とする液晶表示器用ドライバ。Wiring of each gradation in the first gradation area for outputting an analog gradation voltage of each gradation in the first gradation area when the total number of gradations of the liquid crystal display is divided into a plurality;
Wiring of each gradation of the second gradation area for outputting an analog gradation voltage of each gradation of the second gradation area different from the first gradation area, wherein the first gradation Wiring of each gradation of the second gradation area arranged alternately with wiring of each gradation of the area;
A first ladder resistor connected between the wirings of each gradation in the first gradation area;
A second ladder resistor connected between the wirings of each gradation in the second gradation area;
A first reference voltage input terminal connected to set the voltage of the wiring in the first gradation area to the same potential;
A second reference voltage input terminal connected to set the voltage of the wiring in the second gradation area to the same potential;
A decoder for converting an input digital gradation value into an analog gradation value based on an analog gradation voltage value output from each gradation wiring in the first and second gradation areas; A driver for liquid crystal displays.
前記第1の階調エリアの所定階調の配線に第1の電位を印加すると共に、前記第2の階調エリアの所定階調の配線に第2の電位を印加することにより、基準入力電圧よりも高いストレス電圧を前記配線間に印加するステップと、
前記第1及び第2の階調エリアの所定階調の配線にそれぞれ各階調の基準入力電圧を印加し、全階調の配線から出力される電圧を測定することにより出力電圧の異常の有無を検査するステップと
を有することを特徴とする液晶表示器用ドライバのストレス試験方法。The wiring of each gradation in the first gradation area for outputting the voltage of the first gradation area when the total number of gradations of the display is divided into a plurality is different from the first gradation area. Wiring for each gradation in the second gradation area for outputting the voltage in the second gradation area, and the second floor arranged alternately with the wiring for each gradation in the first gradation area. A stress test method for a driver for a liquid crystal display provided with wiring for each gradation in a gray scale area,
By applying a first potential to the wiring of a predetermined gradation in the first gradation area and applying a second potential to the wiring of a predetermined gradation in the second gradation area, a reference input voltage Applying a higher stress voltage between the wires;
By applying a reference input voltage for each gradation to each of the predetermined gradation wirings in the first and second gradation areas and measuring the voltages output from the wirings for all gradations, it is possible to determine whether there is an abnormality in the output voltage. A stress test method for a driver for a liquid crystal display.
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