JP3806486B2 - 測距装置用調整装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は測距装置の出来ばえによる誤差を補正して、より正確な測距を可能とした調整用の技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、測距装置の生産時等に於いて、部品の出来ばえのばらつきや組立時のばらつきによって生じる測距誤差を抑制するためのAF(オートフォーカス)調整装置が開発されている。こうしたAF調整装置と同様の発明としては、例えば特開昭63−198818号公報が挙げられる。この特開昭63−198818号公報による技術は、設計値から論理的に求められる測距特性と、実測値により、その差がなくなるような補正計算を行うものであり、その補正計算に用いる補正係数を生産等に調整機が算出して、測距装置の有する電気的に書込み可能なメモリ(EEPROM)に記憶させるものである。測距装置は、この補正結果を測距のたびに参照して補正を行うので、測距装置の出来ばえによる誤差がなく、正確な測距が可能となる。
【0003】
図8は、測距装置の構成の一例と測距原理を示した図である。同図に於いて、測距対象物1から所定距離Lだけ離れた位置に測距装置2の受光レンズ3a及び3bが配置される。上記受光レンズ3a及び3bは主点間距離(基線長)Sだけ離して配置されているため、視差によって2つの光路から入射された測距対象物1の像は、該レンズ後方に配置された2つのセンサアレイ4a及び4b上の相対的に異なる位置に入射される。加えて、この差zは対象物1の距離Lによって変化する。この差zと、受光レンズ3a、3bと、センサアレイ4a、4b間の距離f及び上記基線長Sにより、距離Lは、
L=sf/z …(1)
として求められる。
【0004】
上記差zは、センサアレイ4a、4bの各々の出力をA/D変換部5a、5bで量子化され、ワンチップマイクロコンピュータ等で構成される演算制御部(CPU)6によって算出される。こうして得られた結果をDATAとすると、理論的には、図9(b)に示されるように、上記(1)式に基いて被写体距離Lの逆数に比例した関係がとられる。しかし、図9(a)に示されるように、各レンズの位置やセンサアレイとの相対位置等に誤差を用いると、図9(b)に示されるように、設計値(図中aで示される実線)から外れた図中bの破線で示されるような関係となる。
【0005】
したがって、上述した特開昭63−198818号公報では、図8に示されるチエッカ8にて、L1 、L2 等、複数ポイントをCPU6を制御して測距させ、実測値と理論値を比較して実測時の誤差がなくなるような補正値が算出され、EEPROM7に記憶させている。上記チェッカ8は、測距装置2の生産工程に於いて工程内に配置されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上述した特開昭63−198818号公報に記載された調整だけでは、遠距離のものを正確に測距しようとすると、図10に示されるように、測定者9からはるかに遠くのものまでを実際に測距する必要があった。これでは工場内に広大なスペースを必要とする。近距離の結果で遠距離を予測しようとすると、図11に示されるように、L1 とL2 の近距離ポイントの測距結果にσのばらつきがある場合、そのばらつきによって、予測される遠距離L3 での測距結果は、図示されるように、σF ものばらつきを有してしまう。そのため、遠距離を正しく測距することはできなかった。
【0007】
尚、図10に於いて、測距用のチャートが1a〜1dの4枚示されているのは、図12に示されるように、なるべく多くのポイントの結果から、より正確な補正を行おうとしたものである。これらのチャートは、測距用光路から退避可能なものであるが、図10に於いては、その機構は省略されている。
【0008】
また、特公平7−69174号公報には、測距装置の光路を曲げる光学系を併用して、より近距離で遠距離測距と同様の効果をもたせることの可能な技術が記載されている。
【0009】
しかしながら、この特公平7−69174号公報による技術では、光路を屈曲させる光学系の設計が困難であり、測距装置のセッティングにより、光路の曲がり方が変化して誤差となる虞れがあった。
【0010】
このように、上述した特開昭63−198818号公報による技術では、遠距離を正確に測距しようとすると工場内に広大なスペースを必要とし、また特公平7−69174号公報による技術では、光路を屈曲させる光学系の設計が困難で、測距装置のセッティングによっては光路の曲がり方が変化して誤差となる虞れがあった。
【0011】
この発明は、上記の点に鑑みてなされたものであり、小さなスペースで生産、若しくは修理するにもかかわらず、遠距離の測距が単純な構成で正確に行うことのできる測距装置用調整装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
すなわちこの発明は、視差を有する2つの光路を介して入射する被写体像をそれぞれ光電変換素子センサアレイ上に結像させ、該光電変換素子センサアレイより得られる2像信号の相対間隔を検知して上記被写体までの距離を求める測距装置を着脱自在に取付け可能であって、取付けられた該測距装置の測距誤差を算出し補正する測距装置用調整装置に於いて、上記測距装置に対向して所定距離離れて配置される測距対象用のテストチャートと上記光電変換素子センサアレイとの相対位置を、上記光電変換素子センサアレイのセンサアレイ並び方向に、上記所定距離を保ちつつ複数の位置に設定変更移動させるシフト手段と、上記テストチャートと光電変換素子センサアレイとの所定距離が異なる少なくとも2つの状態で、それぞれ上記シフト手段による各位置に応じて出力される上記測距装置の測距信号を入力する測距信号入力手段と、を具備することを特徴とする。
【0013】
またこの発明は、視差を有する2つの光路を介して入射する被写体像をそれぞれ光電変換素子センサアレイ上に結像させ、該光電変換素子センサアレイより得られる2像信号の相対間隔を検知して上記被写体までの距離を求める測距装置を着脱自在に取付け可能であって、取付けられた該測距装置の測距誤差を算出し補正する測距装置用調整装置に於いて、上記測距装置に対向して第1の所定距離離れて配置される測距対象用の第1のテストチャートと、上記測距装置に対向して第2の所定距離離れて配置される測距対象用の第2のテストチャートと、上記第1及び第2のテストチャートと上記光電変換素子センサアレイとのセンサアレイ並び方向の相対位置を変更するように、上記第1及び第2のテストチャートと上記光電変換素子センサアレイとの少なくとも一方を複数の設定位置に移動させるシフト手段と、上記第1のテストチャートに対応して、上記シフト手段による複数の設定位置に応じて出力される上記測距装置の第1の距離測距信号と、上記第2のテストチャートに対応して、上記シフト手段による複数の設定位置に応じて出力される上記測距装置の第2の距離測距信号とを入力する測距信号入力手段と、上記測距信号入力手段により入力された複数の第1の距離測距信号に基いて、上記第1の所定距離に対応すべき測距信号の値を、上記測距信号入力手段により入力された複数の第2の距離測距信号に基いて、上記第2の所定距離に対応すべき測距信号の値を算出する算出手段と、この算出手段による値に基いて、第3の所定距離に対してあるべき測距結果が得られるように上記測距装置の補正値を演算する補正値演算手段とを具備することを特徴とする。
【0014】
この発明は、視差を有する2つの光路を介して入射する被写体像をそれぞれ光電変換素子センサアレイ上に結像させ、該光電変換素子センサアレイより得られる2像信号の相対間隔を検知して上記被写体までの距離を求める測距装置を着脱自在に取付け可能であって、取付けられた該測距装置の測距誤差を算出し補正する測距装置用調整装置である。測距対象用のテストチャートは、上記測距装置に対向して所定距離離れて配置される。また、シフト手段は、上記光電変換素子センサアレイのセンサアレイ並び方向に、上記テストチャートと上記光電変換素子センサアレイとの相対位置を、上記所定距離を保ちつつ複数の位置に設定変更移動させる。そして、このシフト手段による各位置に応じて出力される上記測距装置の測距信号が、測距信号入力手段により入力される。
【0015】
またこの発明の測距装置用調整装置は、視差を有する2つの光路を介して入射する被写体像をそれぞれ光電変換素子センサアレイ上に結像させ、該光電変換素子センサアレイより得られる2像信号の相対間隔を検知して上記被写体までの距離を求める測距装置を着脱自在に取付け可能であって、取付けられた該測距装置の測距誤差を算出し補正する。そして、上記測距装置に対向して第1及び第2の所定距離離れて、測距対象用の第1及び第2のテストチャートが配置される。シフト手段は、上記第1及び第2のテストチャートと上記光電変換素子センサアレイとのセンサアレイ並び方向の相対位置を変更するように、上記第1及び第2のテストチャートと上記光電変換素子センサアレイとの少なくとも一方を複数の設定位置に移動させる。そして、上記第1のテストチャートに対応して、上記シフト手段による複数の設定位置に応じて出力される上記測距装置の第1の距離測距信号と、上記第2のテストチャートに対応して、上記シフト手段による複数の設定位置に応じて出力される上記測距装置の第2の距離測距信号とが、測距信号入力手段により入力される。ここで、上記測距信号入力手段により入力された複数の第1の距離測距信号に基いて上記第1の所定距離に対応すべき測距信号の値が、また上記測距信号入力手段により入力された複数の第2の距離測距信号に基いて上記第2の所定距離に対応すべき測距信号の値が、それぞれ算出手段で算出される。そして、この算出手段による値に基いて、補正値演算手段にて、第3の所定距離に対してあるべき測距結果が得られるように上記測距装置の補正値が演算される。
【0016】
この発明の測距装置用調整装置にあっては、近距離の測距結果のばらつきを抑え、正しく遠距離を予測することによって、狭いスペースでも遠距離の測距結果を正しく予測し、遠距離まで正確に測距できる測距装置を生産、調整できるように構成している。
【0017】
ばらつきの主原因は、測距用チャートと装置との基線長方向、すなわちセンサアレイの並び方向の相対位置のばらつきによるものと特定し、これらの位置を変えられるスライド機構によってこの相対位置をシフトしつつ、測距を行ってこの結果を平均化する。これにより、近距離測距等の位置差によるばらつきを抑えることができる。平均化の効果によって、ランダムノイズによるばらつきも、同時に抑えることができる
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照してこの発明の実施の形態を説明する。
先ず、図2を参照して、基線長方向の位置差による測距結果のばらつきについて説明する。
【0019】
図2(a)は、横軸にセンサアレイの各センサを表し、縦軸にその出力(図8に於いてセンサアレイ4aの出力Rまたは4bの出力L)を表している。図8に示されるように白黒のチャートを測距する場合、レンズ2a、2bのぼけもあって、図2(a)に示されるように、曲線で示された光量分布がセンサ上に入射される。
【0020】
この分布はアナログ的に変化するが、各センサ出力はA/D変換器5a、5bによってデジタル的に処理される上、センサのピッチも所定の粗さを有しているため、センサデータとしては不規則な段階状となる。したがって、図2(a)の測距装置と、チャートの基線方向の相対関係が1つのセンサの範囲内でシフトを生じると、図2(b)に示されるようになる。しかしながら、上記像の形のノンリニア性と、上記センサの粗さとA/D変換等の量子化誤差によって、各センサ出力は不規則に変化する。図2(c)は、この不規則性をかわりやすく表したものである。
【0021】
図2(c)に於いて、図中○印は、図2(a)のセンサデータ、△印は図2(b)のセンサデータである。これによると、同一距離でありながら、あるセンサデータはΔR1 の変化を示し、あるデータはΔR2 の変化を示しており、ΔR1 とΔR2 は等しくない。このようなノンリニア性と量子化誤差による不規則性によって、測距結果は、図3(a)に示されるようにセンサ内のどの位置にチャートの輝度差のエッジが位置するかによって変化する。
【0022】
図3(a)に於いて、横軸は測距装置とチャートの間の基線方向の相対位置であり、縦軸は測距結果を表している。上記基線方向の相対位置がちょうど1センサ分シフトすると、センサ出力は、隣のセンサにシフトした形でまた同じ値に戻るため、演算された測距結果も元に戻る。したがって、この発明では、このxのシフトを行いながら測距を行い、この“センサ内エッジ位置誤差”を除いて補正演算を行う。
【0023】
このシフト量は、1センサ分であればよく、図3(b)に示されるように、1センサ分のシフト量をXSPとすると、距離をL、上述したレンズセンサ間の距離をf、1つのセンサの幅SPより
XSP=(L/f)・SP …(2)
として求められる。
【0024】
仮に、SP=20μm、f=16mm、とすると、L=1mのチャートに関しては、XSP3m=12.5mm、L=3mのチャートに関しては、37.5mmの幅で相対位置を変化させればよい。
【0025】
このような考え方によって、図3(a)に示されるように、各xに於ける測距結果をモニタし、最も平均値に近い所の結果によって補正演算を行えば、図4に示されるように、データの中央を通る線より、L3 のデータを正しく推測することができる。
【0026】
図1は、この発明の測距用調整装置の第1の実施の形態の概略を示したものである。
この第1の実施の形態では、測距装置をカメラのオートフォーカス(AF)用に用い、カメラの生産工程で、このAF装置が正しく被写体を測距できるように作業者が調整を行うものである。
【0027】
図1に於いて、測距装置13であるAFを有したカメラ14が、図示x方向にシフト可能なステージ15上に載置される。このステージ15は、モータ16及びドライバ17を介して、パーソナルコンピュータ18によって作業者19が操作することによって、図示x方向にシフトする移動量が制御される。上記パーソナルコンピュータ18は、カメラ14に内蔵の図示されないCPUと通信して測距装置14を制御する。
【0028】
また、カメラ14から距離L1 及びL2 の2箇所の位置に、各々チャート20a及び20bが配置される。このうち、チャート20aは、送りねじ21とモータ22及びガイドレール23によって、上下方向に移動可能に構成されている。
【0029】
このような構成に於いて、作業者19がパーソナルコンピュータ18によってチャート20a及び20bを操作する。すなわち、チャート20aが下降された時には、チャート20bが測距用光路に入って測距でき、一方、チャート20aが上昇された時にはチャート20aが測距用光路に入って測距できるようになっている。
【0030】
そして、パーソナルコンピュータ18からの入力により、カメラ14に内蔵の図示されないCPUと通信して測距装置14が制御され、測距結果、またはセンサデータが入力される。このデータを基に、補正係数が算出され、カメラ14に内蔵の図示されないEEPROMに算出された補正係数が憶される。
【0031】
カメラ14は、この工程の後は、測距の度にこの係数を参照しながらピント合せ距離を算出するので、常に正しい測距が可能となる。
このように測距装置用調整装置を構成して、図3のような、シフト量xと、測距結果の関係を得て、平均値に近いデータを用いて補正演算を行えばよい。
【0032】
ここで、図9(b)のグラフに基いて、補正演算の説明を行う。
同図に於いて、aが理論値であり、例えば、カメラのCPU内のプログラムは、D1 の測距結果が得られた場合には内蔵のレンズ繰出し機構を制御してL1 の距離にピントを合わせるようにしている。したがって、L1 の距離でD10のデータが出るような測距装置を搭載していると、そのままでは正しくL1 の距離にピントを合わせることができない。
上記CPUのプログラムが前提としている関係式は、
【0033】
【数1】
しかし、実際には
【0034】
【数2】
の関係となっている。そこで、DATA1 をDATAに換算するために、次のような補正が行われる。
【0035】
【数3】
【0036】
【数4】
このk、dがEEPROMに書込まれれば、CPUによって、上記(5)式より、正しく、D10から距離L1 に対してピント合せができるようになる。
【0037】
この第1の実施の形態では、上記データD10、D20に相当する実測データが、図3(a)に示されるようにx方向にシフトされた中で中間の値で用いられる。したがって、図11のように傾き係数がばらつくことなく、近距離L1 、L2 の測距結果から、正しく傾き係数kを求めることができ、図4のように遠距離L3 の測距が正しくできる。
【0038】
次に、図5を参照して、この発明の第2の実施の形態を説明する。
尚、この第2の実施の形態の構成は、上述した図1に示される第1の実施の形態と同じである。
【0039】
図5は、上述したパーソナルコンピュータ18の処理する動作プログラムを表したものであり、図1に示される作業者19がカメラ14をシフトさせるステージ15上にセットしてパーソナルコンピュータ18と接続し、カメラ14のCPUと通信させた後の動作フローとなっている。
【0040】
先ず、ステップS1にて、セットされたチャート距離より、上記(2)式のXSPが求められると共に、所定の位置xに於けるチャート測距時のセンサデータR(x)、L(x)が初期化される。ここで、R(x)、L(x)は、それぞれ右側センサ及び左側センサのデータである。次いで、ステップS2にて、パーソナルコンピュータ18またはカメラの測距装置13(AF)が作動されて、上記センサデータR(x)、L(x)が入力される。
【0041】
次に、ステップS3にてステージ15がΔxだけスキャンされ、ステップS4に於いて該スキャンが上記(2)式のXSPの幅だけ終了したか否かが判定される。ここで、スキャンが終了していなければ上記ステップS2に戻り、センサデータの入力が繰返される。一方、スキャン終了であればステップS5へ移行する。
【0042】
ステップS5では、センサデータの平均化が行われる。このセンサデータの平均化が行われれば、続くステップS6にて、補間計算が行われる。図2(c)に示されるように、A/D変換器やCPUの制約によってデジタル的離散的に求められたデータが平均化によって、より滑らかな、アナログデータに近い形として、パーソナルコンピュータ18が処理することができる。当然、カメラ14に内蔵のCPUより、パーソナルコンピュータ18のデータ処理能力は高度なものを仮定している。
【0043】
したがって、例えば、あるセンサのデータが1回毎にはA/D変換器(図示せず)によって所定の整数値で得られたとしても、平均化されたデータは、図2(d)に示されるように、小数部まで含んだ形となる。しかしながら、パーソナルコンピュータ18でなら、このようにバイト数の多いデータでも処理可能であると考えられる。
【0044】
パーソナルコンピュータ18では、カメラ14のCPUが行うのと同じ測距計算が、より多い情報量で行われて、量子化誤差の小さいデータとして、上記(4)式のD10、D20が求められる。したがって、上記(7)式及び(8)式の計算も、より量子化誤差の小さい形で行えるので、より精度が高くなる。
【0045】
また、xを変化させながら何度もデータを取得し、平均化しているので、1回のデータ入力では必ず重畳されるノイズの影響も、低減することができる。これは、ランダムノイズは、平均化によって抑えられるからである。このような観点からも、より精度の高い補正係数の算出が可能となる。
【0046】
そして、ステップS7に於いて、チャート切換えが終了していなければ、ステップS8に移行する。このステップS8では、チャート20aがシフトされて測距チャートが切換えられ、その後再度ステップS1に戻る。
【0047】
このようにして、距離L1 、L2 の2点の、ランダムノイズの影響が除去され、図2(c)の量子化誤差を低減させた、より正確なセンサデータを得ることができる。
【0048】
上記ステップS7に於いて、終了であれば、ステップS9に移行して、上記(8)式に従って、パーソナルコンピュータ18により、補正係数k、dが算出される。次いで、ステップS10にて、これら算出された補正係数k、dがEEPROMに書込まれて調整が終了される。
【0049】
以上説明したように、第2の実施の形態では、図2で説明したセンサ内エッジ位置誤差と共に、量子化誤差による精度劣化を対策し、尚且つセンサ内で発生するランダムノイズによる調整誤差をも対策したので、高精度なAF調整が可能となる。
【0050】
このように、L1 、L2 の各距離で誤差なく測距値が入力できれば、L3 の距離を実際に測距しなくても正しく傾き係数(上記(8)式のk)を求めることができ、遠距離でも正しくピント合せの可能なAFカメラを提供することができる。
【0051】
この効果により、距離L3 のチャートは不要となるので、狭い工場であっても生産が可能となり、工場の制約をなくして、上り廉価なカメラを提供することができる。
【0052】
次に、この発明の第3の実施の形態を説明する。
上述した第2の実施の形態では、カメラの位置xを変化させながら、センサデータをパーソナルコンピュータに入力していたが、図2(d)に示されるように、いくつものセンサデータをパーソナルコンピュータに転送するのは通信上困難となる。そのため、この第3の実施の形態は、より単純な形で同様な効果を得ようとするものである。
【0053】
図6は、第3の実施の形態の動作を説明するフローチャートである。尚、第3の実施の形態に於ける装置の構成は、上述した第1の実施の形態と同じである。この第3の実施の形態に於いては、センサデータをパーソナルコンピュータに入力せず、CPUがセンサデータを基に計算したAF結果D(x)のみをパーソナルコンピュータに入力するので、通信が単純化され、時間を短くすることができる。
【0054】
先ず、ステップS11にて、CPUのAF結果がパーソナルコンピュータ18により入力される。次いで、ステップS12に於いて、ステージ15のスキャンが終了したか否かが判定される。終了していなければ、ステップS13に移行して、ステージ15のスキャンが実行される。その後、上記ステップS11に戻って該ステップS11の処理が繰返されることにより、図3(a)に示されるように測距結果D(x)が得られる。
【0055】
そして、センサ幅相当のスキャンが終了すると(上記(2)式のXSP相当)、ステップS14に移行して、得られた係数のD(x)が平均化される。次いで、ステップS15にて、この平均データが用いられて、上記(7)式及び(8)式による補正値算出が行われ、図2で説明した、センサ内エッジ位置誤差が対策される。この場合も、平均データが用いられることにより、1回の測距では除去することのできないランダムノイズによるばらつきを抑えて、精度の高い補正値算出が可能となる。但し、センサデータの量子化誤差は低減できない。
【0056】
ステップS16では、このようにして得られた補正値が、EEPROMに入力され、カメラは測距の度にこのデータを参照するようにする。
図7は、この発明の第4の実施の形態の概略を示した図である。
【0057】
上述した第1乃至第3の実施の形態ではカメラ側をシフトさせたが、この第4の実施の形態では、チャート側を移動させてxを可変としている。
図1に於けるチャート20a、20bの退避機能である送りねじ21、モータ22及びガイドレール23は、図7に於いてはx変位機構に置換えられている。すなわち、x変位機構は、チャート20a′及び20b′を載置して図示x方向に移動可能なステージ24a及び24bと、モータ16a及び16bにより構成される。更に、これらモータ16a及び16bは、それぞれドライバ17a及び17bを介してパーソナルコンピュータ18により駆動制御されるようになっている。
【0058】
チャート20a′の退避時にチャート20b′が測距されるが、カメラ14内の図示されないCPUにより、ドライバ17aを介してモータ16aを回転させてチャート20a′が測距光路から退避できるだけの変位が可能な設計にするため、ステージ24a及び24bの長さは、図1のステージ15よりも長くしておく。但し、載置して移動されるものがカメラよりはるかに軽いチャートであるので、制御は簡単である。
【0059】
具体的な動作としては、先ず、チャート20a′が測距される。この時、図示x方向に、上記(2)式のXSPの1/10ぐらいのピッチで移動されながら、パーソナルコンピュータ18によってデータが入力される。そして、XSPの区間の結果が平均化され、チャート20a′は光路から退避される。
【0060】
次に、チャート20a′が光路から退避されてチャート20b′が測距できるので、モータ16bが駆動される。同時に、XSPの1/10ぐらいのピッチでチャート20b′が図示x方向に移動されながら、データが入力、XSPの区間にわたって得られたデータが同時に平均化される。
【0061】
このように、パーソナルコンピュータ18により入力されたデータを基にして、補正係数が算出され、カメラ内の図示されないEEPROMに記憶される。
この第4の実施の形態では、モータによりスキャン制御可能なステージを2つ用意するだけでよく、図1に示されるようなチャートを上下動させる機構は不要となる。したがって、設計の共通化による調整機設計の工数削減、日程短縮が可能となる。
【0062】
また、XSPの区間にわたって、データが取込まれるため、センサ内エッジ位置誤差を対策して、正確なAF調整が可能となる。
尚、この発明の上記実施態様によれば、以下の如き構成を得ることができる。
【0063】
(1) 視差を有する2つの光路を介して入射する被写体像をそれぞれ光電変換素子センサアレイ上に結像させ、該光電変換素子センサアレイより得られる2像信号の相対間隔を検知して上記被写体までの距離を求める測距装置を着脱自在に取付け可能であって、取付けられた該測距装置の測距誤差を算出し補正する測距装置用調整装置に於いて、
上記測距装置に対向して所定距離離れて配置される測距対象用のテストチャートと、
上記光電変換素子センサアレイのセンサアレイ並び方向に、上記テストチャートと上記光電変換素子センサアレイとの相対位置を、上記所定距離を保ちつつ複数の位置に設定変更移動させるシフト手段と、
上記シフト手段による各位置に応じて出力される上記測距装置の測距信号を入力する測距信号入力手段と、
この測距信号入力手段により入力された複数の測距信号に基いて、上記所定距離に対応すべき測距信号の値を算出する算出手段と
を具備することを特徴とする測距装置用調整装置。
【0064】
(2) 上記シフト手段は、上記光電変換素子センサアレイを有する測距装置を上記テストチャートに対して移動することを特徴とする上記(1)に記載の測距装置用調整装置。
【0065】
(3) 上記シフト手段は、上記テストチャートを上記光電変換素子センサアレイを有する測距装置に対して移動することを特徴とする上記(1)に記載の測距装置用調整装置。
【0066】
(4) 上記算出手段は、入力された複数の測距信号を平均化して算出することを特徴とする上記(1)に記載の測距装置用調整装置。
(5) 上記シフト手段による上記テストチャートと上記光電変換素子センサアレイとの相対位置の変更移動範囲は、上記光電変換素子センサアレイ構成する同一の複数の受光素子のうち1つの受光素子の受光面のサイズと、上記テストチャートの上記測距装置に対する距離と基いて可変させることを特徴とする上記(1)に記載の測距装置用調整装置。
【0067】
(6) 上記算出手段による値に基いて得られる情報を上記測距装置に入力記憶させる補正値入力手段を更に具備することを特徴とする上記(1)に記載の測距装置用調整装置。
【0068】
(7) 上記算出手段による値に基いて上記測距装置の測距特性に対する補正値を演算し、上記測距装置に入力記憶させる補正値演算入力手段を更に具備することを特徴とする上記(1)に記載の測距装置用調整装置。
【0069】
(8) 視差を有する2つの光路を介して入射する被写体像をそれぞれ光電変換素子センサアレイ上に結像させ、該光電変換素子センサアレイより得られる2像信号の相対間隔を検知して上記被写体までの距離を求める測距装置の測距誤差を算出し補正する測距装置用調整方法に於いて、
上記測距装置に対向して所定距離離して測距対象用のテストチャートを配置し、
上記光電変換素子センサアレイのセンサアレイ並び方向に、上記テストチャートと上記光電変換素子センサアレイとの相対位置を、上記所定距離を保ちつつ複数の位置に設定変更移動し、
上記複数の位置に応じて出力される上記測距装置の測距信号に基いて、上記所定距離に対応すべき測距信号の値を算出するようにした
ことを特徴とする測距装置用調整方法。
【0070】
【発明の効果】
以上説明したようにこの発明によれば、小さなスペースで生産、若しくは修理するにもかかわらず、遠距離の測距が単純な構成で正確に行うことのできる測距装置用調整装置を提供することができる。
これにより、狭い工場やリペアセンターでも正確な調整が可能となり、より廉価な製品、より廉価な修理費用の製品作りが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の測距用調整装置の第1の実施の形態の概略を示した図である。
【図2】基線長方向の位置差による測距結果のばらつきについて説明する図である。
【図3】(a)は測距装置とチャートの間の基線方向の相対位置と測距結果との関係を表した図、(b)は1センサ分のシフト量XSPと、距離L、レンズとセンサ間の距離f、1つのセンサの幅SPとの関係を示した図である。
【図4】第1の実施の形態による被写体距離Lの逆数とAF結果との関係を表した図である。
【図5】この発明の第2の実施の形態に於けるパーソナルコンピュータ18の処理する動作プログラムを表したフローチャートである。
【図6】この発明の第3の実施の形態の動作を説明するフローチャートである。
【図7】この発明の第4の実施の形態の概略を示した図である。
【図8】測距装置の構成の一例と測距原理を示した図である。
【図9】(a)は受光レンズとセンサアレイの配置関係を示した図、(b)は被写体距離Lの逆数と図1のCPUの算出データとの関係を表した図である。
【図10】従来の測距装置用調整装置による調整の一例を示した図である。
【図11】被写体距離Lの逆数とAF結果との関係を表したもので、予測される遠距離L3 での測距結果のばらつきσF を示した図である。
【図12】被写体距離Lの逆数とAF結果との関係を表した図である。
【符号の説明】
13 測距装置、
14 カメラ、
15、24a、24b ステージ、
16、16a、16b、22 モータ、
17、17a、17b ドライバ、
18 パーソナルコンピュータ、
19 作業者、
20a、20b、20a′、20b′ チャート、
21 送りねじ、
23 ガイドレール。
Claims (3)
- 視差を有する2つの光路を介して入射する被写体像をそれぞれ光電変換素子センサアレイ上に結像させ、該光電変換素子センサアレイより得られる2像信号の相対間隔を検知して上記被写体までの距離を求める測距装置を着脱自在に取付け可能であって、取付けられた該測距装置の測距誤差を算出し補正する測距装置用調整装置に於いて、
上記測距装置に対向して所定距離離れて配置される測距対象用のテストチャートと上記光電変換素子センサアレイとの相対位置を、上記光電変換素子センサアレイのセンサアレイ並び方向に、上記所定距離を保ちつつ複数の位置に設定変更移動させるシフト手段と、
上記テストチャートと光電変換素子センサアレイとの所定距離が異なる少なくとも2つの状態で、それぞれ上記シフト手段による各位置に応じて出力される上記測距装置の測距信号を入力する測距信号入力手段と、
を具備することを特徴とする測距装置用調整装置。 - 上記シフト手段による上記テストチャートと上記光電変換素子センサアレイとの相対位置の変更移動範囲は、上記光電変換素子センサアレイ構成する複数の受光素子のうち1つの受光素子の受光面のサイズと、上記テストチャートの上記測距装置に対する距離とに基いて可変させることを特徴とする請求項1に記載の測距装置用調整装置。
- 視差を有する2つの光路を介して入射する被写体像をそれぞれ光電変換素子センサアレイ上に結像させ、該光電変換素子センサアレイより得られる2像信号の相対間隔を検知して上記被写体までの距離を求める測距装置を着脱自在に取付け可能であって、取付けられた該測距装置の測距誤差を算出し補正する測距装置用調整装置に於いて、
上記測距装置に対向して第1の所定距離離れて配置される測距対象用の第1のテストチャートと、
上記測距装置に対向して第2の所定距離離れて配置される測距対象用の第2のテストチャートと、
上記第1及び第2のテストチャートと上記光電変換素子センサアレイとのセンサアレイ並び方向の相対位置を変更するように、上記第1及び第2のテストチャートと上記光電変換素子センサアレイとの少なくとも一方を複数の設定位置に移動させるシフト手段と、
上記第1のテストチャートに対応して、上記シフト手段による複数の設定位置に応じて出力される上記測距装置の第1の距離測距信号と、上記第2のテストチャートに対応して、上記シフト手段による複数の設定位置に応じて出力される上記測距装置の第2の距離測距信号とを入力する測距信号入力手段と、
上記測距信号入力手段により入力された複数の第1の距離測距信号に基いて、上記第1の所定距離に対応すべき測距信号の値を、上記測距信号入力手段により入力された複数の第2の距離測距信号に基いて、上記第2の所定距離に対応すべき測距信号の値を算出する算出手段と、
この算出手段による値に基いて、第3の所定距離に対してあるべき測距結果が得られるように上記測距装置の補正値を演算する補正値演算手段と
を具備することを特徴とする測距装置用調整装置。
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JPH10288521A JPH10288521A (ja) | 1998-10-27 |
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