JP3791898B2 - Lamination method - Google Patents

Lamination method Download PDF

Info

Publication number
JP3791898B2
JP3791898B2 JP2001014259A JP2001014259A JP3791898B2 JP 3791898 B2 JP3791898 B2 JP 3791898B2 JP 2001014259 A JP2001014259 A JP 2001014259A JP 2001014259 A JP2001014259 A JP 2001014259A JP 3791898 B2 JP3791898 B2 JP 3791898B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
base material
roll
laminated
laminating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2001014259A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2002210823A (en
Inventor
岳史 大和
健一郎 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Priority to JP2001014259A priority Critical patent/JP3791898B2/en
Publication of JP2002210823A publication Critical patent/JP2002210823A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3791898B2 publication Critical patent/JP3791898B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Lining Or Joining Of Plastics Or The Like (AREA)

Description

【0001】
本発明は、回路付サスペンション基板の最終工程の基材上にフィルムをラミネートするラミネート方法、詳しくは、回路付サスペンション基板の最終工程の基材上にドライフィルムレジストなどをラミネートするラミネート方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、フレキシブル配線回路基板や回路付サスペション基板などの配線回路基板の製造工程の途中において、例えば、ステンレス箔などからなる金属支持層、ポリイミドフィルムなどからなる絶縁層、または、銅箔などからなる導体層などが、単層または多層として積層されている各種の基材に、めっきにより導体回路パターンを形成する場合や、エッチングにより所定のパターンを形成する場合には、めっきレジストやエッチングレジストなどのドライフィルムレジストを、基材上にラミネートして、そのラミネートされたドライフィルムレジストを所定のパターンに加工することによって、めっきやエッチングをしないその他の部分を被覆するようにした後、そのドライフィルムレジストをレジストとして、めっきを行なったり、基材をエッチングしたりしている。
【0003】
このようなドライフィルムレジストを基材上にラミネートする工程においては、ラミネートしたドライフィルムレジストと基材との間に、気泡溜まりが生じて、パターンの形状不良を生じる場合がある。
【0004】
そのため、そのような気泡溜まりが生じないように、ドライフィルムレジストを基材上にラミネートする方法として、従来より、例えば、ヒートロールを備える真空ラミネータを用いて、減圧雰囲気下において、ヒートロールによって、加熱しつつ加圧する方法、例えば、複数のヒートロールを備える多段ラミネータを用いて、常圧雰囲気下において、複数のヒートロールによって、多段で、加熱しつつ加圧する方法、例えば、基材上にドライフィルムレジストをラミネートした後、オートクレーブを用いて、高温高圧雰囲気下で一定時間保持する方法などが提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、ヒートロールを備える真空ラミネータを用いる方法では、気泡溜まりの発生を低減することはできるが、パターンによっては、大きな気泡溜まりを生じる場合がある。また、多段ラミネータを用いる方法では、確かに1段目よりも2段目の方が気泡溜まりが低減するが、その効果は小さい。さらに、オートクレーブを用いる方法では、気泡溜まりをかなり減少させることができるが、処理に時間がかかり、また、一度に処理できる量が少ない。
【0006】
一方、近年においては、配線回路基板の高密度化や小型化が進み、それに伴なって、金属支持層、絶縁層または導体層などからなる基材も、様々の仕様のものが要求されるようになってきており、例えば、数十μmを超える段差を有する基材に、ドライフィルムレジストをラミネートしなければならない場合も多く、そのような場合には、その段差の部分において、ドライフィルムレジストが基材上に良好に密着せずに気泡溜まりを生じてしまい、上記した方法では、そのような気泡溜まりを効率的に低減することがきわめて困難な場合も多い。
【0007】
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであって、その目的とするところは、回路付サスペンション基板の最終工程の基材上にフィルムをラミネートする工程において、簡易な構成によって、フィルムと基材との間に生じる気泡溜まりを低減して、良好なラミネートを実現し得る、ラミネート方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、回路付サスペンション基板の最終工程の基材上にフィルムをラミネートするラミネート方法であって、前記基材は、金属支持層の上にベース絶縁層が形成され、前記ベース絶縁層の上に導体層が形成され、前記導体層がカバー絶縁層によって被覆され、前記金属支持層の上面と前記カバー絶縁層の上面との間には、10〜50μmの段差が形成されており、減圧雰囲気下において、前記フィルムを、少なくとも前記段差上に重ねて、前記段差に対して直交する方向にラミネートするように、加熱しつつ押圧する第1の工程、および、前記第1の工程においてフィルムが重ねられた基材を、前記第1の工程におけるフィルムの積層後、200秒以内に、常圧雰囲気下において、前記段差に対して直交する方向に、加熱しつつ押圧する、または、加熱する第2の工程を含んでいることを特徴としている。
【0009】
このような方法では、第1の工程において、減圧雰囲気下で、基材の少なくとも段差上にフィルムが重ねられた後、その段差に対して直交する方向にラミネートするように、加熱しつつ押圧されるので、フィルムと基材との間に気泡溜まりが生じると、その気泡溜まりの内部は引圧状態となる。そして、第2の工程において、第1の工程におけるフィルムの積層後、200秒以内に、常圧雰囲気下で、その段差に対して直交する方向に、加熱しつつ押圧するか、または、加熱すれば、その気泡溜まりを被覆するフィルムが流動して、基材に良好に密着される。したがって、このラミネート方法では、たとえ、フィルムと基材との間に気泡溜まりが生じても、その気泡溜まりを、簡易な方法によって、効率的に低減することができ、良好なラミネートを実現することができる。
【0011】
基材に段差が形成されていると、その基材上にフィルムを重ねて加熱しつつ押圧しても、その段差の低い部分において、フィルムが基材上に良好に密着せず、どうしても気泡溜まりを生じる場合があるが、そのような場合においても、本発明のラミネート方法によれば、第2の工程において、フィルムを基材に密着させて、そのような気泡溜まりを効率的に低減することができる。そのため、本発明のラミネート方法では、10〜50μmの段差が形成されている回路付サスペンション基板の最終工程の基材であっても、その段差部分においてフィルムを良好にラミネートすることができる。
【0016】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明のラミネート方法に用いるラミネート装置の一実施形態を示す概略構成図である。
【0017】
図1において、このラミネート装置には、真空ラミネータ1と、第2ヒートロール2と、上側フィルム5および下側フィルム7がラミネートされる基材10を巻き取るための巻取ロール3とが、基材10の巻取方向おける上流側から下流側に沿って、順次、設けられている。
【0018】
真空ラミネータ1は、真空槽4と、その真空槽4内に、上側フィルム5が巻回されている上側巻回ロール6と、下側フィルム7が巻回されている下側巻回ロール8と、第1ヒートロール9とを備えている。
【0019】
真空槽4は、槽内が減圧されるように、図示しない真空ポンプなどが接続されるとともに、基材10を通過させるための上流側通過口11および下流側通過口12が、本体の前壁および後壁に、それぞれ開口形成されている。また、上流側通過口11の上流側近傍および下流側通過口12の下流側近傍には、真空槽4内の真空度を保持するための上流側真空シールロール13および下流側真空シールロール14がそれぞれ設けられている。
【0020】
上側巻回ロール6および下側巻回ロール8は、真空槽4内を通過する基材10を挟んで、所定の間隔を隔てて上下方向に対向配置されている。上側巻回ロール6には、基材10の上側をラミネートするための上側フィルム5が巻回されており、また、下側巻回ロール8には、基材10の下側をラミネートするための下側フィルム7が巻回されている。
【0021】
第1ヒートロール9は、互いに対向する1対の上側ロール15および下側ロール16からなり、真空槽4内における上流側通過口11および下流側通過口12を結ぶ直線上に配置されている。上側ロール15および下側ロール16は、図示しないヒータによって加熱されており、その加熱された状態で、基材10を挟み込んで、その基材10を送りながら、加熱しつつ押圧するように構成されている。
【0022】
また、上側ロール15には、その上方に配置される上側巻回ロール6からの上側フィルム5が引き出されており、また、下側ロール16には、その下方に配置される下側巻回ロール8からの下側フィルム7が引き出されている。そして、上側ロール15で、上側フィルム5を基材10の上側に重ね合わせた状態で押圧するとともに、下側ロール16で、下側フィルム7を基材10の下側に重ね合わせた状態で押圧するように構成されている。
【0023】
第2ヒートロール2は、真空ラミネータ1に対して、基材10の巻取方向おける下流側に配置され、互いに対向する1対の上側ロール17および下側ロール18を備えている。上側ロール17および下側ロール18は、図示しないヒータによって加熱されており、その加熱された状態で、上側フィルム5および下側フィルム7が積層された基材10を挟み込んで、その基材10を送りながら、加熱しつつ押圧するように構成されている。
【0024】
また、巻取ロール3は、第2ヒートロール2に対して、基材10の巻取方向おける下流側に配置され、真空ラミネータ1によって、上側フィルム5および下側フィルム7が積層され、第2ヒートロール2によって、それらが加熱しつつ押圧された基材10を巻き取るようにしている。
【0025】
次に、このようなラミネート装置を用いて、基材10に、上側フィルム5および下側フィルム7をラミネートする方法について説明する。
【0026】
基材10としては、回路付サスペンション基板の最終工程の基材が用いられる。
【0027】
また、上側フィルム5および下側フィルム7としては、例えば、基材10上にめっきにより導体回路パターンを形成するためのめっきレジストや、基材10にエッチングによりパターン化するためのエッチングレジストなどのドライフィルムレジストなどが用いられる。このようなドライフィルムレジストは、例えば、軟化点が、80〜130℃、好ましくは、100〜115℃の感光性のホットメルト樹脂によって形成されており、後の工程において、露光および現像するフォトリソグラフ法によって、所定のパターンに加工できるものが用いられる。
【0028】
また、上側フィルム5および下側フィルム7としては、ドライフィルムレジストの他に、例えば、後述するベース絶縁層32やカバー絶縁層34を形成するための絶縁フィルムや、基材10の各層を接合するための粘着フィルムなど、基材10を構成する各種のフィルムであってもよい。
【0029】
また、この方法は、図2(a)に示すように、回路付サスペンション基板を製造する最終工程において、適用することができる。すなわち、図2(a)において、この基材10は、回路付サスペンション基板の最終工程の基材であって、金属支持層31上に所定のパターンでベース絶縁層32が形成され、そのベース絶縁層32上に導体層33が所定の導体回路パターンとして形成され、さらに、その導体層33がカバー絶縁層34によって被覆されており、金属支持層31の上面とカバー絶縁層34の上面との間には、ベース絶縁層32、導体層33およびカバー絶縁層34の厚さ分の10〜50μmの大きな段差36が形成されている。
【0030】
そして、この回路付サスペンション基板の最終工程では、図2(b)に示すように、ドライフィルムレジストからなる上側フィルム5および下側フィルム7をこの基材10の両面にラミネートした後、図2(c)に示すように、上側フィルム5および下側フィルム7を、露光および現像するフォトリソグラフ法によって、所定のパターンに加工した後、図2(d)に示すように、上側フィルム5および下側フィルム7をレジストとして、金属支持層31を所定のパターンにエッチングする。
【0031】
そして、まず、この方法では、第1の工程として、真空ラミネータ1の真空槽4内を、例えば、10KPa以下、好ましくは、1.5KPa以下の減圧雰囲気とした後、例えば、約90〜130℃、好ましくは、約100〜110℃に加熱された上側ロール15で、上側フィルム5を基材10の上側の少なくとも段差上に重ね合わせた状態で、段差に対して直交する方向にラミネートするように、加熱しつつ押圧するとともに、同じく、例えば、約80〜120℃、好ましくは、約100〜110℃に加熱された下側ロール16で、下側フィルム7を基材10の下側に重ね合わせた状態で加熱しつつ押圧することにより、基材10の上側および下側に、上側フィルム5および下側フィルム7を重ね合わせて積層する。なお、この第1ヒートロール9の押圧力は、例えば、0.2〜0.5MPaとなるように設定されている。
【0032】
また、このようにして上側フィルム5および下側フィルム7が重ね合わされた基材10において、とりわけ、図2(a)に示すような、10〜50μmの大きな段差36を有する基材10では、第1ヒートロール9によって、上側フィルム5を基材10上に加熱しつつ押圧しても、その段差36の近傍の低い部分である金属支持層31の表面には、上側フィルム5が良好に密着せず、図2(b)に示すように、気泡溜まり35を生じやすくなる。
【0033】
すなわち、このような気泡溜まり35は、例えば、図3(a)に示すように、積層時において、第1ヒートロール9が段差36を乗り上げる時に、第1ヒートロール9の硬度や、段差36に対する上側フィルム5のラミネート方向37などに起因して、上側フィルム5が段差36の角部まで十分に充填されず、その結果、段差36の近傍にその段差36に沿った線状の隙間42が残り、次いで、図3(b)に示すように、第1ヒートロール9が段差36に乗り上がった時に、その上側フィルム5が押し戻されるとともに、表面張力の作用によって、その直線状の隙間が丸状となることにより形成される。そして、段差36に積層された上側フィルム5は、第1ヒートロール9から送り出されるとすぐに冷えてしまうので、上側フィルム5は、その内部が引圧状態となる気泡溜まり35を生じたまま流動性を失って、その気泡溜まり35を被覆する部分において残留応力が生じるようになる。
【0034】
このようにして生じた気泡溜まり35は、例えば、図2(c)に示すように、上側フィルム5および下側フィルム7を所定のパターンに加工して、下側フィルム7に金属支持層31のエッチング部分38を形成した時に、そのエッチング部分38に重なっていると、エッチング部分38の周りも上側フィルム5によって被覆されない状態となるため、図2(d)に示すように、金属支持層31を所定のパターンにエッチングする時においては、そのエッチング部分38の周りもエッチングされてしまい、パターンの形状不良を生じる。
【0035】
また、このような気泡溜まり35は、上記したように、第1ヒートロール9が段差36を乗り上げる時に生じるので、例えば、図4に示すような回路付サスペンション30においては、そのラミネート方向37に対して直交する部分39において、特に発生しやすく、その他のラミネート方向37に沿う部分40や、ラミネート方向37に対して傾斜する部分41においては、発生しにくい。
【0036】
次いで、この方法では、第2の工程として、常圧雰囲気において、上側フィルム5および下側フィルム7の軟化点以上、例えば、約90〜130℃、好ましくは、約100〜110℃に加熱された第2ヒートロール2の上側ロール17および下側ロール18で、上側フィルム5および下側フィルム7が積層された基材10を挟み込んで、その基材10を送りながら、段差に対して直交する方向に、加熱しつつ押圧する。なお、この第2ヒートロール2の押圧力は、例えば、0.2〜0.5MPaとなるように設定されている。
【0037】
このように、常圧雰囲気下において、上側フィルム5および下側フィルム7の軟化点以上に加熱しつつ押圧すれば、上側フィルム5および下側フィルム7が熱によって再び流動するので、段差36の近傍に発生した気泡溜まり35は、その内部が引圧状態となっていることから、残留応力の緩和によって押しつぶされて、例えば、図3(c)に示すように、パターンの形成に影響がない程度に収縮される。
【0038】
そのため、このようなラミネート方法によれば、たとえ、上側フィルム5および下側フィムル7と基材10との間、とりわけ、段差36の近傍に、気泡溜まり35が生じても、その気泡溜まり35を、簡易な方法によって、効率的に低減することができ、良好なラミネートを実現することができる。したがって、めっき時やエッチング時において、良好なパターンを形成することができる。
【0039】
また、このようなラミネート方法では、第2の工程において、とりわけ、上側フィルム5を流動させて、気泡溜まり35を収縮させればよいため、例えば、第2ヒートロール2に代えて、図5に示すように、加熱手段および温風加熱ヒータとしてブロワ19を用い、圧力をかけずに、段差に対して直交する方向に加熱するのみでもよい。すなわち、図5に示すラミネート装置では、ブロワ19が、真空ラミネータ1に対して、基材10の巻取方向おける下流側において、基材10の上方に配置されている。このブロワ19は、温風の吹出口20が下向きとされ、上側フィルム5に向けて温風を吹き出すように構成されている。
【0040】
そのため、図5に示すラミネート装置を用いた場合には、第2の工程では、常圧雰囲気において、ブロワ19によって、上側フィルム5の軟化点以上、例えば、約150〜200℃、好ましくは、約160〜180℃に加熱された温風が、その吹出口20から、基材10の上側フィルム5に吹き付けられる。そうすると、上側フィルム5が熱によって再び流動するので、段差36の近傍に発生した気泡溜まり35は、その内部が引圧状態となっていることから、残留応力の緩和によって押しつぶされて、上記と同様に、例えば、図3(c)に示すように、パターンの形成に影響がない程度に収縮される。
【0041】
さらに、例えば、第2ヒートロール2に代えて、図6に示すように、加熱手段として赤外線または遠赤外線のヒータ21を用いてもよい。すなわち、図6に示すラミネート装置では、ヒータ21が、真空ラミネータ1に対して、基材10の巻取方向おける下流側において、基材10の上方に配置されている。このヒータ21は、赤外線または遠赤外線の放射面22が下向きとされ、上側フィルム5に向けて赤外線または遠赤外線を放射するように構成されている。
【0042】
そのため、図6に示すラミネート装置を用いた場合には、第2の工程では、常圧雰囲気において、ヒータ21によって、赤外線または遠赤外線が、基材10の上側フィルム5に照射される。そうすると、上側フィルム5が、熱によって軟化点以上になると再び流動するので、段差36の近傍に発生した気泡溜まり35は、その内部が引圧状態となっていることから、残留応力の緩和によって押しつぶされて、上記と同様に、例えば、図3(c)に示すように、パターンの形成に影響がない程度に収縮される。
【0043】
なお、この方法では、真空ラミネータ1において、基材10の上側および下側に、上側フィルム5および下側フィルム7を重ね合わせて積層した後、なるべく早く、第2ヒートロール2によって加熱しつつ押圧する(または、ブロワ19やヒータ21によって加熱する)ことが好ましい。基材10の上側および下側に、上側フィルム5および下側フィルム7を重ね合わせて積層した後、一定時間が経過すると、大気から上側フィルム5を浸透して気泡溜まり35に空気が入り、第2ヒートロール2で加熱しつつ押圧(または、ブロワ19やヒータ21によって加熱)しても、気泡溜まり35が良好に収縮されない場合がある。
【0044】
そのため、より具体的には、真空ラミネータ1において、基材10の上側および下側に、上側フィルム5および下側フィルム7を重ね合わせて積層した後、200秒以内に、第2ヒートロール2によって、段差に対して直交する方向に、加熱しつつ押圧(または、ブロワ19やヒータ21によって加熱)する。
【0045】
また、第2の工程においては、ブロワ19や赤外線または遠赤外線のヒータ21を用いて加熱のみを行なうよりも、第2ヒートロール2を用いて、段差に対して直交する方向に、加熱しつつ加圧する方が、より気泡溜まり35を収縮させることができるが、ブロワ19や、赤外線または遠赤外線のヒータ21を用いた場合には、それらの装置は、基材と接触しないのでメンテナンスが容易となる。
【0047】
また、上記の説明では、基材10の両面に上側フィルム5および下側フィルム7をラミネートしたが、その目的および用途によって、上側フィルム5のみをラミネートしてもよく、また、このラミネート装置において、基材10は、真空ラミネータ1および第2ヒートロール2(または、ブロワ19やヒータ21)を通過できればよく、巻取ロール3によって巻き取る構成に代えて、その他の基材10の搬送手段を用いて、基材10を、真空ラミネータ1および第2ヒートロール2(または、ブロワ19やヒータ21)に搬送するようにしてもよい。
【0048】
【実施例】
以下に実施例および比較例を示し、本発明をさらに具体的に説明するが、本発明は、何ら実施例および比較例に限定されることはない。
【0049】
実施例1
厚さ25μmのステンレス箔上に、ポリアミック酸樹脂の溶液を塗工し、乾燥後、350℃でイミド化させることにより、厚さ10μmのポリイミドからなるベース絶縁層を形成した。次いで、ベース絶縁層上に、厚さ10μmの銅からなる導体層を、セミアディティブ法により所定の導体回路パターンとして形成した後、その導体層上に、ポリアミック酸樹脂の溶液を塗工し、乾燥後、350℃でイミド化させることにより、厚さ4μmのポリイミドからなるカバー絶縁層を形成した。この基材は、図2(a)に示す基材に相当し、24μmの段差が形成された。
【0050】
次いで、この基材の両面に、図1に示すラミネート装置を用いて、ドライフィルムレジストをラミネートした。すなわち、まず、真空ラミネータにおいて、減圧雰囲気下、基材の両面に、ドライフィルムレジストを積層した。この時のラミネート条件は、下記の通りである。
【0051】
ドライフィルムレジスト:軟化点100〜115℃のホットメルト樹脂系ドライフィルムレジスト
真空槽内の真空度:1.5KPa
第1ヒートロールの表面温度:約110℃
第1ヒートロールの圧力:0.4MPa
巻取ロールの搬送速度:0.5m/分
その後、ドライフィルムレジストが積層された基材中に発生した気泡溜まりを光学顕微鏡で観察した。その気泡溜まりの直径は、約140μmであった。また、この基材を水中に沈めて、ドライフィルムレジストにおける気泡溜まりの部分に孔を開けたところ、その内部に水が充填されたので、これによって、気泡溜まりが引圧状態となっていることを確認することができた。
【0052】
次いで、第2ヒートロールによって、ドライフィルムレジストが積層された基材を、下記の条件で加熱しつつ押圧した。
【0053】
第2ヒートロールの表面温度:約110℃
第2ヒートロールの圧力:0.4MPa
巻取ロールの搬送速度:0.5m/分
その後、ドライフィルムレジストが積層された基材中の気泡溜まりを光学顕微鏡で観察した。その気泡溜まりの直径は、約30μmで、約1/5まで収縮していることが確認された。
【0054】
なお、この第2ヒートロールによる加熱および押圧は、別途、真空ラミネータでの積層に連続して行ない、真空ラミネータから送り出された後、約200秒後に第2ヒートロールによって加熱しつつ押圧した。
【0055】
実施例2
図5に示すラミネート装置を用いた以外は、実施例1と同様の操作により、ドライフィルムレジストを基材にラミネートした。なお、ブロワの熱風温度は、約170℃で、その処理時間は、約60秒であった。また、実施例1と同様に、ドライフィルムレジストが積層された基材中の気泡溜まりを光学顕微鏡で観察した。その気泡溜まりの直径は、約37μmであった。
【0056】
実施例3
図6に示すラミネート装置を用いた以外は、実施例1と同様の操作により、ドライフィルムレジストを基材にラミネートした。なお、ヒータは、赤外線ヒータを用い、その処理時間は、約60秒であった。また、実施例1と同様に、ドライフィルムレジストが積層された基材中の気泡溜まりを光学顕微鏡で観察した。その気泡溜まりの直径は、約37μmであった。
【0057】
比較例1
市販の多段ラミネータ装置を用いて、実施例1と同様の基材の両面に、ドライフィルムレジストをラミネートした。なお、この多段ラミネータは、2つのヒートロールを備えており、ラミネートは、常圧雰囲気下において、それぞれのヒートロールで加熱しつつ押圧することを、2回繰り返すことにより行なった。その後、実施例1と同様に、ドライフィルムレジストが積層された基材中の気泡溜まりを光学顕微鏡で観察した。その気泡溜まりは、多数箇所にあり、中には直径200μmを越えるものもあった。
【0058】
比較例2
市販のラミネータ装置を用いて、実施例1と同様の基材の両面に、ドライフィルムレジストをラミネートした後、市販のオートクレーブを用いて、50℃、0.5MPaで保持した。そして、実施例1と同様に、ドライフィルムレジストが積層された基材中の気泡溜まりを光学顕微鏡で観察したところ、気泡溜まりが消失するまでに、1時間以上の長い時間を要した。
【0059】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明のラミネート装置を用いて、本発明のラミネート方法を行なうと、たとえ、フィルムと基材との間に気泡溜まりが生じても、その気泡溜まりを、簡易な方法によって、効率的に低減することができ、良好なラミネートを実現することができる。そのため、10〜50μmの段差が形成されている回路付サスペンション基板の最終工程の基材であっても、その段差部分においてフィルムを良好にラミネートすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のラミネート方法に用いるラミネート装置の一実施形態を示す概略構成図である。
【図2】 回路付サスペンション基板を製造する最終工程を説明するための工程図であって、
(a)は、回路付サスペンション基板の最終工程の基材を示す要部断面図、
(b)は、上側フィルムおよび下側フィルムを、基材の両面にラミネートする工程を示す要部断面図、
(c)は、上側フィルムおよび下側フィルムを、所定のパターンに加工する工程を示す要部断面図、
(d)は、上側フィルムおよび下側フィルムをレジストとして、金属支持層を所定のパターンにエッチングする工程を示す要部断面図である。
【図3】 図2に示す回路付サスペンション基板を製造する最終工程において、気泡溜まりが発生する過程を説明するための要部平面図であって、
(a)は、段差に沿った線状の隙間が生じた状態を示す要部平面図、
(b)は、直線状の隙間が丸状の気泡溜まりとなった状態を示す要部断面図、
(c)は、気泡溜まりが収縮された状態を示す要部断面図である。
【図4】 回路付サスペンション基板における気泡溜まりが発生する部分と、ラミネート方向との関係を説明するための要部平面図である。
【図5】 図1と異なる実施形態のラミネート装置(第2ヒートロールに代えてブロワを備える)を示す概略構成図である。
【図6】 図1と異なる実施形態のラミネート装置(第2ヒートロールに代えて赤外線または遠赤外線ヒータを備える)を示す概略構成図である。
符号の説明】
2 第2ヒートロール
4 真空槽
5 上側フィルム
7 下側フィルム
9 第1ヒートロール
10 基材
19 ブロワ
21 赤外線または遠赤外線ヒータ
36 段差
[0001]
  The present inventionOf the final process of suspension board with circuitLamination method for laminating a film on a substrate,Of the final process of suspension board with circuitDry on substrateFilm resistThe present invention relates to a laminating method for laminating and the like.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in the middle of the manufacturing process of a wired circuit board such as a flexible printed circuit board or a suspension board with circuit, for example, a metal support layer made of stainless steel foil, an insulating layer made of polyimide film, or a copper foil, etc. When a conductor circuit pattern is formed by plating on a variety of substrates in which a conductor layer or the like is laminated as a single layer or a multilayer, or when a predetermined pattern is formed by etching, a plating resist, an etching resist, etc. After laminating a dry film resist on a substrate and processing the laminated dry film resist into a predetermined pattern, the dry film resist is covered with other parts that are not plated or etched. Using as a resist, plating or It is or etching.
[0003]
In the process of laminating such a dry film resist on a base material, there is a case where bubbles are accumulated between the laminated dry film resist and the base material, resulting in a defective pattern shape.
[0004]
Therefore, as a method of laminating a dry film resist on a substrate so that such bubble accumulation does not occur, conventionally, for example, using a vacuum laminator equipped with a heat roll, under a reduced pressure atmosphere, by a heat roll, A method of applying pressure while heating, for example, a method of applying pressure while heating in a multi-stage with a plurality of heat rolls under a normal pressure atmosphere using a multi-stage laminator having a plurality of heat rolls, for example, drying on a substrate. There has been proposed a method of laminating a film resist and holding it for a certain period of time in a high temperature and high pressure atmosphere using an autoclave.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the method using a vacuum laminator provided with a heat roll, the occurrence of bubble accumulation can be reduced, but depending on the pattern, a large bubble accumulation may occur. In the method using a multi-stage laminator, the bubble accumulation is certainly reduced in the second stage than in the first stage, but the effect is small. Furthermore, in the method using an autoclave, the accumulation of bubbles can be considerably reduced, but the processing takes time, and the amount that can be processed at one time is small.
[0006]
On the other hand, in recent years, the density and size of printed circuit boards have been increased, and accordingly, base materials composed of a metal support layer, an insulating layer, or a conductor layer are required to have various specifications. For example, in many cases, it is necessary to laminate a dry film resist on a substrate having a step exceeding several tens of μm. In such a case, the dry film resist is formed in the step portion. In many cases, it is extremely difficult to efficiently reduce the bubble accumulation by the above-described method because the bubble accumulation occurs without being adhered well on the substrate.
[0007]
  The present invention has been made in view of such circumstances, and its intended place is:Of the final process of suspension board with circuitAn object of the present invention is to provide a laminating method capable of realizing good lamination by reducing bubble accumulation generated between a film and a substrate with a simple configuration in a step of laminating a film on a substrate.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
  In order to achieve the above object, the present invention provides:Of the final process of suspension board with circuitA laminating method for laminating a film on a substrate,In the base material, a base insulating layer is formed on a metal supporting layer, a conductor layer is formed on the base insulating layer, the conductor layer is covered with a cover insulating layer, and the upper surface of the metal supporting layer and the A step of 10 to 50 μm is formed between the upper surface of the cover insulating layer,Under reduced pressure atmosphereThe film is at least on the stepAgain,To laminate in a direction perpendicular to the step,The first step of pressing while heating, and the base material on which the film is stacked in the first step, within 200 seconds after the lamination of the film in the first step, under atmospheric pressure,In a direction perpendicular to the step,It is characterized by including a second step of pressing while heating or heating.
[0009]
  In such a method, in the first step, the substrate is used under a reduced pressure atmosphere.At least on the stepAfter the film is overlaid onLaminate in the direction perpendicular to the step,Since the pressure is applied while heating, if a bubble pool is generated between the film and the substrate, the inside of the bubble pool is in a suction state. And in the second step, within 200 seconds after laminating the film in the first step, under atmospheric pressure atmosphere,In a direction perpendicular to the step,If the pressure is applied while heating or heating, the film covering the bubble pool flows and adheres well to the substrate. Therefore, in this laminating method, even if bubble accumulation occurs between the film and the substrate, the bubble accumulation can be efficiently reduced by a simple method, and a good lamination can be realized. Can do.
[0011]
  If a step is formed on the base material, even if the film is stacked on the base material and heated and pressed, the film does not adhere well on the base material at the low step portion, and air bubbles are inevitably collected. Even in such a case, according to the laminating method of the present invention, in the second step, the film is brought into close contact with the substrate to efficiently reduce such bubble accumulation. Can do. Therefore, in the laminating method of the present invention, a step of 10 to 50 μm is formed.Of the final process of suspension board with circuitEven if it is a base material, a film can be favorably laminated in the level | step-difference part.
[0016]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
  FIG. 1 illustrates the present invention.Used for laminating methodIt is a schematic block diagram which shows one Embodiment of a laminating apparatus.
[0017]
  In FIG.Is trueSky Laminator 1And secondTwo heat rolls 2 and a winding roll 3 for winding the base material 10 on which the upper film 5 and the lower film 7 are laminated, from the upstream side in the winding direction of the base material 10 along the downstream side, Sequentially provided.
[0018]
  Vacuum laminator 1Is trueAn empty tank 4, an upper winding roll 6 around which an upper film 5 is wound, and a lower winding roll 8 around which a lower film 7 is wound.And second1 heat roll 9.
[0019]
The vacuum chamber 4 is connected to a vacuum pump (not shown) so that the interior of the vacuum chamber is depressurized, and the upstream passage port 11 and the downstream passage port 12 for allowing the base material 10 to pass through are connected to the front wall of the main body. Openings are formed in the rear wall and the rear wall, respectively. An upstream vacuum seal roll 13 and a downstream vacuum seal roll 14 for maintaining the degree of vacuum in the vacuum chamber 4 are provided in the vicinity of the upstream side of the upstream passage port 11 and the downstream side of the downstream side passage port 12. Each is provided.
[0020]
The upper winding roll 6 and the lower winding roll 8 are opposed to each other in the vertical direction at a predetermined interval with the base material 10 passing through the vacuum chamber 4 interposed therebetween. An upper film 5 for laminating the upper side of the substrate 10 is wound on the upper winding roll 6, and a lower side of the substrate 10 is laminated on the lower winding roll 8. The lower film 7 is wound.
[0021]
The first heat roll 9 includes a pair of an upper roll 15 and a lower roll 16 that face each other, and is arranged on a straight line that connects the upstream passage port 11 and the downstream passage port 12 in the vacuum chamber 4. The upper roll 15 and the lower roll 16 are heated by a heater (not shown), and in the heated state, the base material 10 is sandwiched and the base material 10 is fed and heated and pressed. ing.
[0022]
Moreover, the upper film 5 is drawn out from the upper winding roll 6 disposed above the upper roll 15, and the lower winding roll disposed below the lower roll 16. The lower film 7 from 8 is drawn out. Then, the upper roll 5 is pressed in a state where the upper film 5 is superimposed on the upper side of the base material 10, and the lower roll 16 is pressed in a state where the lower film 7 is superimposed on the lower side of the base material 10. Is configured to do.
[0023]
The second heat roll 2 is disposed on the downstream side in the winding direction of the base material 10 with respect to the vacuum laminator 1 and includes a pair of upper roll 17 and lower roll 18 facing each other. The upper roll 17 and the lower roll 18 are heated by a heater (not shown). In the heated state, the base material 10 on which the upper film 5 and the lower film 7 are laminated is sandwiched, and the base material 10 is sandwiched. It is configured to press while heating while feeding.
[0024]
Moreover, the winding roll 3 is arrange | positioned with respect to the 2nd heat roll 2 in the downstream in the winding direction of the base material 10, the upper film 5 and the lower film 7 are laminated | stacked by the vacuum laminator 1, and 2nd The base material 10 that is pressed while being heated is wound up by the heat roll 2.
[0025]
  Next, using such a laminatorBaseA method of laminating the upper film 5 and the lower film 7 on the material 10 will be described.
[0026]
  As the substrate 10,Of the final process of suspension board with circuitA substrate is used.
[0027]
Moreover, as the upper film 5 and the lower film 7, for example, a dry resist such as a plating resist for forming a conductor circuit pattern by plating on the base material 10 or an etching resist for patterning the base material 10 by etching is used. A film resist or the like is used. Such a dry film resist is formed of, for example, a photosensitive hot melt resin having a softening point of 80 to 130 ° C., preferably 100 to 115 ° C., and is exposed and developed in a later step. A material that can be processed into a predetermined pattern is used.
[0028]
Moreover, as the upper film 5 and the lower film 7, in addition to the dry film resist, for example, an insulating film for forming a base insulating layer 32 and a cover insulating layer 34, which will be described later, and each layer of the base material 10 are bonded. Various films constituting the substrate 10 such as a pressure-sensitive adhesive film may be used.
[0029]
  Also this wayThe figureAs shown in 2 (a), in the final process of manufacturing a suspension board with circuitSuitableCan be used. That is, in FIG. 2A, this base material 10 is a base material in the final process of the suspension board with circuit, and a base insulating layer 32 is formed in a predetermined pattern on the metal support layer 31, and the base insulation is formed. A conductor layer 33 is formed as a predetermined conductor circuit pattern on the layer 32, and the conductor layer 33 is covered with a cover insulating layer 34. Between the upper surface of the metal support layer 31 and the upper surface of the cover insulating layer 34. Includes the thickness of the base insulating layer 32, the conductor layer 33, and the cover insulating layer 34.10-50 μmA large step 36 is formed.
[0030]
In the final step of the suspension board with circuit, as shown in FIG. 2B, after laminating the upper film 5 and the lower film 7 made of dry film resist on both surfaces of the base material 10, c) After the upper film 5 and the lower film 7 are processed into a predetermined pattern by a photolithographic method of exposing and developing, as shown in FIG. 2D, the upper film 5 and the lower film 7 are processed as shown in FIG. The metal support layer 31 is etched into a predetermined pattern using the film 7 as a resist.
[0031]
  First, in this method, as a first step, the inside of the vacuum chamber 4 of the vacuum laminator 1 is set to a reduced pressure atmosphere of, for example, 10 KPa or less, preferably 1.5 KPa or less. The upper film 5 is preferably placed on the upper side of the substrate 10 with the upper roll 15 heated to about 100 to 110 ° C.At least on the stepIn a state of being superimposed onLaminate in the direction perpendicular to the step,While pressing while heating, the lower film 7 was superposed on the lower side of the substrate 10 with the lower roll 16 heated to about 80 to 120 ° C., preferably about 100 to 110 ° C., for example. By pressing while heating in the state, the upper film 5 and the lower film 7 are laminated on the upper side and the lower side of the base material 10 to be laminated. The pressing force of the first heat roll 9 is set to be 0.2 to 0.5 MPa, for example.
[0032]
  Further, in the base material 10 on which the upper film 5 and the lower film 7 are superposed in this manner, in particular, as shown in FIG.10-50 μmIn the base material 10 having the large level difference 36, the surface of the metal support layer 31, which is a low part in the vicinity of the level difference 36, even if the upper film 5 is pressed on the base material 10 while being heated by the first heat roll 9. In this case, the upper film 5 does not adhere well, and as shown in FIG.
[0033]
  That is, such a bubble pool35For example, as shown in FIG. 3A, when the first heat roll 9 rides on the step 36 during lamination, the hardness of the first heat roll 9, the laminating direction 37 of the upper film 5 with respect to the step 36, etc. As a result, the upper film 5 is not sufficiently filled up to the corners of the step 36, and as a result, a linear gap 42 along the step 36 remains in the vicinity of the step 36, and then FIG. As shown in FIG. 4, when the first heat roll 9 rides on the step 36, the upper film 5 is pushed back, and the linear gap is rounded by the action of surface tension. And since the upper film 5 laminated | stacked on the level | step difference 36 will be cooled immediately if it sends out from the 1st heat roll 9, the upper film 5 will flow, with the bubble pool 35 which becomes the inside of the drawing pressure state produced. The residual stress is generated at the portion covering the bubble reservoir 35.
[0034]
For example, as shown in FIG. 2 (c), the bubble pool 35 generated in this way is formed by processing the upper film 5 and the lower film 7 into a predetermined pattern and forming the metal support layer 31 on the lower film 7. When the etching portion 38 is formed, if it overlaps with the etching portion 38, the periphery of the etching portion 38 is not covered with the upper film 5, so that the metal support layer 31 is formed as shown in FIG. When etching into a predetermined pattern, the periphery of the etched portion 38 is also etched, resulting in a defective pattern shape.
[0035]
Further, as described above, since such a bubble reservoir 35 is generated when the first heat roll 9 rides on the step 36, in the suspension 30 with circuit 30 as shown in FIG. This is particularly likely to occur in the portion 39 that is orthogonal to the other, and is unlikely to occur in the portion 40 along the other lamination direction 37 or the portion 41 that is inclined with respect to the lamination direction 37.
[0036]
  Next, in this method, as a second step, the film was heated to a softening point or higher of the upper film 5 and the lower film 7, for example, about 90 to 130 ° C., preferably about 100 to 110 ° C. in a normal pressure atmosphere. While sandwiching the base material 10 on which the upper film 5 and the lower film 7 are laminated with the upper roll 17 and the lower roll 18 of the second heat roll 2, while feeding the base material 10,In the direction perpendicular to the step,Press while heating. The pressing force of the second heat roll 2 is set to be 0.2 to 0.5 MPa, for example.
[0037]
Thus, in the normal pressure atmosphere, if the upper film 5 and the lower film 7 are pressed while being heated above the softening point of the upper film 5 and the lower film 7, the upper film 5 and the lower film 7 flow again due to heat, so the vicinity of the step 36. Since the bubble reservoir 35 generated in FIG. 3 is in an attractive state, the bubble reservoir 35 is crushed by the relaxation of the residual stress, and has no influence on the pattern formation as shown in FIG. 3C, for example. To be shrunk.
[0038]
Therefore, according to such a laminating method, even if the bubble pool 35 is generated between the upper film 5 and the lower film 7 and the base material 10, especially in the vicinity of the step 36, the bubble pool 35 is reduced. By a simple method, it can be reduced efficiently and a good laminate can be realized. Therefore, a good pattern can be formed during plating or etching.
[0039]
  In such a laminating method, in the second step, in particular, the upper film 5 may be flowed and the bubble reservoir 35 may be contracted. For example, instead of the second heat roll 2, FIG. As shown, the blower 19 is used as the heating means and hot air heater without applying pressure.In a direction perpendicular to the stepIt may be only heated. That is, in the laminating apparatus shown in FIG. 5, the blower 19 is disposed above the base material 10 on the downstream side in the winding direction of the base material 10 with respect to the vacuum laminator 1. The blower 19 is configured such that the hot air outlet 20 faces downward and the hot air is blown toward the upper film 5.
[0040]
Therefore, in the case where the laminating apparatus shown in FIG. 5 is used, in the second step, in the normal pressure atmosphere, the blower 19 causes the upper film 5 to have a softening point or higher, for example, about 150 to 200 ° C., preferably about Hot air heated to 160 to 180 ° C. is blown from the outlet 20 to the upper film 5 of the substrate 10. Then, since the upper film 5 flows again due to heat, the bubble reservoir 35 generated in the vicinity of the step 36 is crushed by the relaxation of the residual stress because the inside thereof is in a suction state, and the same as above. For example, as shown in FIG. 3C, the film is contracted to such an extent that the pattern formation is not affected.
[0041]
Further, for example, instead of the second heat roll 2, as shown in FIG. 6, an infrared or far-infrared heater 21 may be used as a heating means. That is, in the laminating apparatus shown in FIG. 6, the heater 21 is arranged above the base material 10 on the downstream side in the winding direction of the base material 10 with respect to the vacuum laminator 1. The heater 21 has an infrared or far-infrared radiation surface 22 facing downward, and is configured to emit infrared or far-infrared toward the upper film 5.
[0042]
Therefore, when the laminating apparatus shown in FIG. 6 is used, in the second step, the upper film 5 of the substrate 10 is irradiated with infrared rays or far infrared rays by the heater 21 in a normal pressure atmosphere. Then, since the upper film 5 flows again when the softening point is exceeded by heat, the bubble pool 35 generated in the vicinity of the step 36 is crushed by the relaxation of the residual stress because the inside thereof is in a suction state. In the same manner as described above, for example, as shown in FIG.
[0043]
In this method, in the vacuum laminator 1, the upper film 5 and the lower film 7 are stacked on the upper side and the lower side of the base material 10, and then pressed while being heated by the second heat roll 2 as soon as possible. Preferably (or heated by the blower 19 or the heater 21). After the upper film 5 and the lower film 7 are stacked and laminated on the upper side and the lower side of the base material 10, when a certain time has passed, the upper film 5 penetrates from the atmosphere and air enters the bubble reservoir 35, Even if it is pressed (or heated by the blower 19 or the heater 21) while being heated by the two heat rolls 2, the bubble reservoir 35 may not be contracted satisfactorily.
[0044]
  Therefore, more specifically, in the vacuum laminator 1, the upper film 5 and the lower film 7 are stacked and laminated on the upper side and the lower side of the base material 10, and then within 200 seconds by the second heat roll 2.In a direction perpendicular to the step,It presses (or heats with the blower 19 or the heater 21), heating.
[0045]
  In the second step, the second heat roll 2 is used rather than only the heating using the blower 19 or the infrared or far infrared heater 21.In the direction perpendicular to the step,The air pressure can be more contracted by pressurizing while heating. However, when the blower 19 or the infrared or far-infrared heater 21 is used, these devices do not come into contact with the base material, so maintenance is performed. Becomes easier.
[0047]
  In the above description, the upper film 5 and the lower film 7 are laminated on both surfaces of the base material 10, but depending on the purpose and application,Upper film 5In this laminating apparatus, the substrate 10 only needs to be able to pass through the vacuum laminator 1 and the second heat roll 2 (or the blower 19 or the heater 21), and is wound up by the take-up roll 3. It may replace with a structure and you may make it convey the base material 10 to the vacuum laminator 1 and the 2nd heat roll 2 (or the blower 19 or the heater 21) using the conveyance means of the other base material 10. FIG.
[0048]
【Example】
Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples and comparative examples. However, the present invention is not limited to the examples and comparative examples.
[0049]
Example 1
A base insulating layer made of polyimide having a thickness of 10 μm was formed by coating a solution of polyamic acid resin on a stainless steel foil having a thickness of 25 μm, followed by drying and imidization at 350 ° C. Next, a conductor layer made of copper having a thickness of 10 μm is formed as a predetermined conductor circuit pattern on the insulating base layer by a semi-additive method, and then a polyamic acid resin solution is applied on the conductor layer and dried. Thereafter, imidization was performed at 350 ° C. to form a cover insulating layer made of polyimide having a thickness of 4 μm. This base material corresponds to the base material shown in FIG. 2A, and a step of 24 μm was formed.
[0050]
Next, a dry film resist was laminated on both surfaces of the substrate using a laminating apparatus shown in FIG. That is, first, a dry film resist was laminated on both surfaces of a substrate in a vacuum laminator under a reduced pressure atmosphere. The laminating conditions at this time are as follows.
[0051]
Dry film resist: hot-melt resin dry film resist having a softening point of 100 to 115 ° C.
Degree of vacuum in the vacuum chamber: 1.5 KPa
Surface temperature of the first heat roll: about 110 ° C
First heat roll pressure: 0.4 MPa
Winding roll transport speed: 0.5 m / min
Then, the bubble accumulation which generate | occur | produced in the base material with which the dry film resist was laminated | stacked was observed with the optical microscope. The diameter of the bubble reservoir was about 140 μm. In addition, when this substrate is submerged in water and a hole is made in the bubble reservoir portion in the dry film resist, the inside of the bubble is filled with water, so that the bubble reservoir is in a state of suction. I was able to confirm.
[0052]
Subsequently, the base material on which the dry film resist was laminated was pressed with the second heat roll while heating under the following conditions.
[0053]
Surface temperature of the second heat roll: about 110 ° C
Second heat roll pressure: 0.4 MPa
Winding roll transport speed: 0.5 m / min
Then, the bubble accumulation in the base material with which the dry film resist was laminated | stacked was observed with the optical microscope. It was confirmed that the diameter of the bubble reservoir was about 30 μm and contracted to about 1/5.
[0054]
In addition, the heating and pressing by the second heat roll were separately performed in succession on the lamination with the vacuum laminator, and after being sent out from the vacuum laminator, the pressing was performed while heating with the second heat roll after about 200 seconds.
[0055]
Example 2
A dry film resist was laminated to the base material by the same operation as in Example 1 except that the laminating apparatus shown in FIG. 5 was used. The hot air temperature of the blower was about 170 ° C., and the treatment time was about 60 seconds. Further, in the same manner as in Example 1, the bubble accumulation in the base material on which the dry film resist was laminated was observed with an optical microscope. The diameter of the bubble reservoir was about 37 μm.
[0056]
Example 3
Except for using the laminating apparatus shown in FIG. 6, the dry film resist was laminated to the base material by the same operation as in Example 1. The heater used was an infrared heater, and the processing time was about 60 seconds. Further, as in Example 1, bubble accumulation in the base material on which the dry film resist was laminated was observed with an optical microscope. The diameter of the bubble reservoir was about 37 μm.
[0057]
Comparative Example 1
A dry film resist was laminated on both surfaces of the same substrate as in Example 1 using a commercially available multi-stage laminator apparatus. In addition, this multistage laminator was equipped with two heat rolls, and the lamination was performed by repeating pressing twice while heating with each heat roll in a normal pressure atmosphere. Thereafter, in the same manner as in Example 1, bubble accumulation in the substrate on which the dry film resist was laminated was observed with an optical microscope. There were many bubble pools, some of which exceeded 200 μm in diameter.
[0058]
Comparative Example 2
A dry film resist was laminated on both surfaces of the same substrate as in Example 1 using a commercially available laminator apparatus, and then held at 50 ° C. and 0.5 MPa using a commercially available autoclave. Then, as in Example 1, when the bubble accumulation in the base material on which the dry film resist was laminated was observed with an optical microscope, it took a long time of 1 hour or more until the bubble accumulation disappeared.
[0059]
【The invention's effect】
  As described above, when the laminating apparatus of the present invention is used to carry out the laminating method of the present invention, even if bubble accumulation occurs between the film and the substrate, the bubble accumulation can be reduced by a simple method. Can be reduced efficiently, and a good laminate can be realized. for that reason,10-50 μmA step is formedOf the final process of suspension board with circuitEven if it is a base material, a film can be favorably laminated in the level | step-difference part.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of a laminating apparatus used in a laminating method of the present invention.
FIG. 2 is a process diagram for explaining a final process of manufacturing a suspension board with circuit,
(A) is principal part sectional drawing which shows the base material of the last process of a suspension board with a circuit,
(B) is a fragmentary cross-sectional view showing a process of laminating the upper film and the lower film on both surfaces of the substrate;
(C) is a fragmentary cross-sectional view showing a process of processing the upper film and the lower film into a predetermined pattern;
(D) is principal part sectional drawing which shows the process of etching a metal support layer into a predetermined pattern by using an upper film and a lower film as a resist.
3 is a plan view of an essential part for explaining a process in which bubble accumulation occurs in a final process of manufacturing the suspension board with circuit shown in FIG. 2;
(A) is a principal part top view which shows the state which the linear gap along the level | step difference produced,
(B) is a cross-sectional view of the main part showing a state in which the linear gap becomes a round bubble pool;
(C) is principal part sectional drawing which shows the state by which the bubble pool was shrink | contracted.
FIG. 4 is a plan view of a main part for explaining the relationship between a portion where bubble accumulation occurs in a suspension board with circuit and a laminating direction.
FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing a laminating apparatus (including a blower instead of a second heat roll) of an embodiment different from FIG.
6 is a schematic configuration diagram showing a laminating apparatus (equipped with an infrared or far-infrared heater instead of the second heat roll) of an embodiment different from FIG.The
[Explanation of symbols]
2 Second heat roll
4 Vacuum chamber
5 Upper film
7 Lower film
9 First heat roll
10 Base material
19 Blower
21 Infrared or far infrared heater
36 steps

Claims (1)

回路付サスペンション基板の最終工程の基材上にフィルムをラミネートするラミネート方法であって、
前記基材は、金属支持層の上にベース絶縁層が形成され、前記ベース絶縁層の上に導体層が形成され、前記導体層がカバー絶縁層によって被覆され、前記金属支持層の上面と前記カバー絶縁層の上面との間には、10〜50μmの段差が形成されており、
減圧雰囲気下において、前記フィルムを、少なくとも前記段差上に重ねて、前記段差に対して直交する方向にラミネートするように、加熱しつつ押圧する第1の工程、および、
前記第1の工程においてフィルムが重ねられた基材を、前記第1の工程におけるフィルムの積層後、200秒以内に、常圧雰囲気下において、前記段差に対して直交する方向に、加熱しつつ押圧する、または、加熱する第2の工程を含んでいることを特徴とする、ラミネート方法。
A laminating method for laminating a film on a base material in a final process of a suspension board with circuit ,
In the base material, a base insulating layer is formed on a metal supporting layer, a conductor layer is formed on the base insulating layer, the conductor layer is covered with a cover insulating layer, and the upper surface of the metal supporting layer and the A step of 10 to 50 μm is formed between the upper surface of the cover insulating layer,
A first step of pressing while heating so that the film is laminated at least on the step and laminated in a direction perpendicular to the step in a reduced-pressure atmosphere; and
While heating the base material on which the film is overlapped in the first step within 200 seconds after the film is laminated in the first step, in a direction perpendicular to the step , in a normal pressure atmosphere. A laminating method comprising a second step of pressing or heating.
JP2001014259A 2001-01-23 2001-01-23 Lamination method Expired - Lifetime JP3791898B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001014259A JP3791898B2 (en) 2001-01-23 2001-01-23 Lamination method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001014259A JP3791898B2 (en) 2001-01-23 2001-01-23 Lamination method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002210823A JP2002210823A (en) 2002-07-31
JP3791898B2 true JP3791898B2 (en) 2006-06-28

Family

ID=18880983

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001014259A Expired - Lifetime JP3791898B2 (en) 2001-01-23 2001-01-23 Lamination method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3791898B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018110240A (en) * 2018-01-30 2018-07-12 大日本印刷株式会社 Lamination method of resist film

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002210823A (en) 2002-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000263577A5 (en)
KR101087357B1 (en) Conductor-clad laminate, wiring circuit board, and processes for producing the same
US20240188228A1 (en) Method for manufacturing printed wiring board and laminating system used for implementing the method
CN113163626A (en) Manufacturing method of ultrathin printed circuit board
JP3791898B2 (en) Lamination method
JP2768236B2 (en) Method for manufacturing multilayer substrate
JP3277195B2 (en) Multilayer printed wiring board and method of manufacturing the same
JP5057339B2 (en) Wiring board manufacturing method
JP5287075B2 (en) Circuit board manufacturing method
JP2803579B2 (en) Circuit board manufacturing method and manufacturing apparatus
JPH09232723A (en) Formation of circuit
KR102656671B1 (en) Apparatus for manufacturing of multilayer circuit board and method for manufacturing of multilayer circuit board
JP3396491B2 (en) Method for producing prepreg for bonding sheet and method for producing multilayer printed wiring board
WO2002085621A1 (en) Laminated plate and part using the laminated plate
JP2001053442A (en) Method and device for manufacturing multilayer printed wiring board
JP2002144432A (en) Method for adhering plastic film
JPH09270573A (en) Printed wiring board and manufacture thereof
JPH1168000A (en) Manufacture of lead frame
JP2002096392A (en) Method for manufacturing laminate
JP5287074B2 (en) Peeling trigger forming apparatus and peeling trigger forming method using the same
JPH04312996A (en) Manufacture of multilayer copper-clad board
JPH04268797A (en) Manufacture of laminated board
JPH02209233A (en) Continuous preparation of copper clad laminated sheet
JP2008124113A (en) Method and device for manufacturing multilayer printed-wiring board
JPH07202426A (en) Production of multilayer printed wiring board

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050802

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050930

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051025

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051222

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060328

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060403

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 3791898

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120414

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120414

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150414

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term