JP3783693B2 - Liquid crystal display device and method for inspecting liquid crystal display device - Google Patents

Liquid crystal display device and method for inspecting liquid crystal display device Download PDF

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【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置、液晶表示装置の検査方法に関し、特に、液晶表示マトリクスを駆動するためのトランジスタを、液晶表示マトリクス基板上に形成した液晶表示装置等に関する。
【0002】
【背景技術】
薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor;以下、TFTという)をスイッチング素子として用いたアクティブマトリクス型液晶表示装置において、アクティブマトリクスの駆動回路をTFTで構成し、その駆動回路を構成するTFTを、画素部のTFTと同時にアクティブマトリクス基板上に形成できれば、ドライバICを搭載する必要がなくなり便利である。
【0003】
但し、TFTは、単結晶シリコン基板に集積されたトランジスタに比べて動作スピードが遅く駆動回路の高速化には一定の限界があり、また、駆動回路を高速動作させれば、それだけ消費電力も増大する。
【0004】
液晶表示装置の駆動回路を高速に動作させるための技術の例としては、日本国の特開昭61−32093号公報に記載の技術,SID Digest,pp609−612(1992)に記載の技術がある。
【0005】
日本国の特開昭61−32093号公報に記載の技術は、駆動回路を複数のシフトレジスタで構成し、各シフトレジスタをそれぞれ、位相が少しずつ異なるクロックで駆動することによって、シフトレジスタの実質的な動作周波数を向上させるものである。
【0006】
また、SID Digest,pp609−612(1992)には、複数のアナログスイッチを、タイミング制御回路の一つの出力で同時に一括して駆動し、映像信号を並列に書き込む技術が開示されている。
【0007】
また、駆動回路の低消費電力化を図る技術の例としては、特開昭61−32093号公報に記載の技術がある。この技術は、駆動回路を複数のブロックに分割し、動作しなければならないブロックのみを動作状態とし、他のブロックは非動作状態とすることによって消費電力の削減を図るものである。
【0008】
しかし、日本国の特開昭61−32093号公報に記載の技術を実施する場合、位相の異なる複数のクロックを用意する必要があり、回路構成の複雑化や端子数の増大を招く。
【0009】
また、SID Digest,pp609−612(1992)に記載の技術は、複数のアナログスイッチを一括して駆動するため、負荷が重く、したがって重い負荷を駆動できるバッファを用意する必要がある。また、駆動信号の遅延により、各アナログスイッチの駆動タイミングにもずれが生じやすい。
【0010】
また、特開昭61−32093号公報に記載の技術は、分割されたブロックを選択的に動作状態とするための制御回路が必要であり、回路の複雑化を招き、また、この技術は駆動回路の高速化には何ら寄与しない。
【0011】
さらに、上述の従来技術の駆動回路をTFTで構成した場合、いずれの場合も回路が複雑で、回路の電気的特性を正確かつ高速に検査することが難しく、よって信頼性の評価の面では問題がある。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上述の従来技術の問題点を考慮してなされたものであり、その目的は、高速動作が可能で、ある程度の消費電力の削減も図れ、かつ検査も容易に行える、新規な液晶表示装置やその駆動方法等を提供することにある。
【0013】
本発明の液晶表示装置の一つの態様では、一本のシフトレジスタを用いて複数のパルスを同時に発生させる。
【0014】
したがって、シフトレジスタの動作クロックの周波数を変更することなく、シフトレジスタの出力信号の周波数を高くすることができる。同時に発生するパルスの数を「N個(Nは2以上の自然数)」とした場合、シフトレジスタの出力信号の周波数はN倍となる。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上述のシフトレジスタの出力信号を、アナログドライバにおける映像信号のサンプリングタイミングを決めるために使用すれば、高速なデータ線の駆動が実現される。また、上述のシフトレジスタの出力信号を、デジタルドライバにおける映像信号のラッチタイミングを決めるために使用すれば、映像信号の高速なラッチが実現される。したがって、液晶表示マトリクスの駆動回路をTFTで構成した場合でも、消費電力を増大させずに、駆動回路の高速動作が可能となる。
【0016】
一本のシフトレジスタを用いて複数のパルスを同時に発生させるには、例えば、そのシフトレジスタの入力端に、映像信号の1水平期間毎に1つの同極性のパルスを入力していき、少なくとも(N−1)回の水平期間の経過を待って、前記シフトレジスタの各段の出力端より、相互に間隔をおいて並列に走るN個のパルスが出力されるような定常状態を実現すればよい。
【0017】
本発明の液晶表示装置の他の態様では、一本のシフトレジスタに加えて、そのシフトレジスタの出力信号を入力とするゲート回路が設けられ、そのゲート回路の出力信号を、データ線駆動回路を構成する回路のタイミング制御信号として使用する。例えば、ゲート回路の出力信号は、アナログドライバにおける映像信号のサンプリングタイミングを決めるタイミング信号として使用でき、デジタルドライバにおける映像信号のラッチタイミングを決めるタイミング信号として使用できる。
【0018】
例えば、ゲート回路として排他的論理和ゲートを使用し、シフトレジスタの隣り合う段の各出力をその排他的論理和ゲートの入力とし、シフトレジスタに映像信号の2水平期間を1周期とするクロックを入力とすれば、1水平期間におけるクロックのレベルの変化数が減少し、より低消費電力化が可能である。
【0019】
本発明の液晶表示装置の他の態様では、一本のシフトレジスタを活用することにより、液晶表示マトリクスの電気的検査を行うことができる構成を実現する。例えば、データ線の一端に検査用信号の入力回路を接続し、データ線の他端にアナログスイッチを介して映像信号の入力線を接続しておく。
【0020】
そして、検査用信号の入力回路を用いてデータ線に検査用の信号を一括して入力し、そのような入力が維持されている状態で、1本のシフトレジスタより一つのパルスを順次に出力させ、そのパルスの各々を用いて複数のアナログスイッチを順次にオンさせ、これにより、前記データ線の一端より送信された検査用の信号を、アナログスイッチおよび映像信号の入力線を介して受信することにより、データ線やアナログスイッチの電気的特性の検査を行うことができる。例えば、データ線やアナログスイッチの周波数特性やデータ線の断線等を正確かつ高速に検出可能である。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を用いて、本発明の内容をより詳細に説明する。
【0022】
(実施例1)
(全体構成)
図1Aは本発明の液晶表示装置の一実施例の構成を示し、図1Bはアクティブマトリクス型液晶表示装置のおける画素部の構成を示す図である。
【0023】
本実施例は、アナログスイッチ(スイッチ回路)を用いてデータ線を駆動する方式を採用した液晶表示装置である。
【0024】
また、本実施例では、データ線駆動回路を構成するトランジスタとしてTFTを使用している。そのTFTは、画素部のスイッチング用TFTと同時に基板上に形成されたものである。その製造プロセスについては、後述する。
【0025】
画素部(アクティブマトリクス)300における1つの画素は、図1Bに示すように、スイッチング用のTFT350と液晶素子370とで構成される。TFT350のゲートは走査線L(k)に接続され、ソース(ドレイン)はデータ線D(k)に接続されている。
【0026】
走査線L(k)は、図1Aに示される走査線駆動回路100により駆動され、データ線D(k)は、図1Aに示されるデータ線駆動回路200により駆動される。
【0027】
データ線駆動回路200は、データ線の本数に対応する段数を少なくとも具備するシフトレジスタ220と、ゲート回路240と、N本(本実施例では4本)の映像信号線(S1〜S4)に接続される複数のアナログスイッチ261とを有している。
【0028】
N本の映像信号線(S1〜S4)が用意されているということは、映像信号が多重化されていてかつ、その多重度が「N」であることを意味する。
【0029】
複数のアナログスイッチは、任意のM個毎(本実施例では、4個毎)にグループ化され、そのグループの総数は映像信号線の総数(すなわち「N」)に等しい。つまり、本実施例ではアナログスイッチのグループ数は「4」個であり、一つのグループに属する各アナログスイッチは1本の映像信号線に共通に接続されている。
【0030】
図1A中、「V1」,「V2」,「V3」,「V4」は多重化された映像信号を示し、「SP」はシフトレジスタ220に入力されるスタートパルスを示し、「CL1」,「nCL1」は動作クロックを示す。なお、「CL1」と「nCL1」は位相が180度ずれたパルスである。以下の説明において、他のパルス信号についても、位相が180度ずれたクロックは冒頭に「n」を付して表すこととする。また、正極性のパルスがデジタル値の「1」に対応し、負極性のパルスがデジタル値の「0」に対応する。
【0031】
また、映像信号の多重化の意味が図4Bに示されている。図4Aに示すように、1番目から16番目までの映像信号を例にとると、通常、各信号は時系列的に順番に配置されている。
【0032】
一方、本実施例のように多重度「4」で映像信号を多重化すると、図4Bに示すように、時刻t1において、映像信号V1〜V4にはそれぞれ、「1番目」,「5番目」,「9番目」,「13番目」の各信号が同時に現れる。以下、同様に、時刻t2には「2番目」,「6番目」,「10番目」,「14番目」の各信号が同時に現れ、時刻t3には「3番目」,「7番目」,「11番目」,「15番目」の各信号が同時に現れ、時刻t4には「4番目」,「8番目」,「12番目」,「16番目」の各信号が同時に現れる。
【0033】
映像信号の多重化は、例えば、図6に示すようにアナログ映像信号を少しずつ遅延させて、位相が少しずつ異なる複数の映像信号を作成することにより可能である。そのような映像信号の遅延は、例えば、図5に示すような遅延回路1200を用いて実現できる。遅延回路1200は同じ遅延量をもつ4つの遅延回路1202〜1207を直列に接続してなり、各遅延回路の出力をデータ線駆動回路200に供給する。なお、図5において、参照番号1000はアナログ映像信号発生装置であり、参照番号1100はタイミングコントローラである。
【0034】
本実施例では、このように映像信号を多重化しておき、一方、一本のシフトレジスタを用いて多重度に応じた数のパルスを同時に発生させ、複数のアナログスイッチを同時に駆動して、映像信号を同時に複数のデータ線に供給することにより、データ線駆動の高速化が図られる。
【0035】
なお、液晶表示装置は、実際は、図21に示されるように、アクティブマトリクス基板3100と対向基板3000とを張り合わせて構成される。各基板の間に液晶が封入されている。
【0036】
(データ線駆動回路の具体的構成)
本実施例は、データ線駆動回路200における動作に特徴があり、以下、具体的に説明する。
【0037】
図2に示されるように、本施例では、シフトレジスタ220において、所定間隔をおいて複数の正極性のパルス(1つのパルスはデータ「1」に対応する)が同時にシフトされ、これに対応してシフトレジスタの各段から、相互に間隔をおいて並列に走る複数のパルスが出力される。並列に走るパルスの数は、上述の映像信号の多重度「N」に等しい。つまり、本実施例では「4」個である。
【0038】
それらのパルスは、アナログスイッチ261の動作タイミングを決定するために使用される。具体的には、それらのパルスはゲート回路240に入力され、そのゲート回路240の出力端(OUT1〜OUT(N×M))から、相互に間隔をおいて並列に走る複数のパルスが出力される。
【0039】
そして、本実施例では、ゲート回路240から出力されるそれらのパルスは、アナログスイッチによる映像信号のサンプリングのタイミングを決定するために用いられる。
【0040】
ゲート回路240は、波形整形のために使用される。つまり、p型のTFTとn型のTFTとでは、図23Aに示すように電圧−電流特性に差があり、したがって、それらのTFTを出力段トランジスタとして用いて図23Bのようなバッファを構成すると、図23Cに示すように、パルス入力に対して出力波形が鈍り、信号の遅延が生じる。このような遅延を抑制するため、ゲート回路240を設けるのが望ましいのである。しかし、必ず必要というものではなく、シフトレジスタ220の出力信号で、直接にアナログスイッチ261を駆動してもよい。
【0041】
データ線駆動回路200の、より具体的な回路構成が図3に示される。
【0042】
図3に明示されるように、アナログスイッチ261は、MOSトランジスタ410により構成されている。また、参照番号412は、データ線自体がもつ容量(以下、データ線容量という)である。
【0043】
また、シフトレジスタ220を構成する一つの段(参照番号500)は、インバータ504と、クロックドインバータ502,506とからなっている。
【0044】
また、ゲート回路240は、シフトレジスタの隣り合う2つの段の出力を入力とする2入力ナンドゲート241〜246を具備している。
【0045】
(回路動作の説明)
次に、図9および図10を用いて、図3に示される回路の動作を具体的に説明する。図9及び図10は、N=4,M=10の例を示している。図9は、シフトレジスタ220から並列に走る4つのパルスが定常的に出力されるようになるまで(その状態が図10に示される)の動作のうちの、初期段階の動作を示している。
【0046】
図9において、「a」〜「g」は、図3に示される、シフトレジスタ220の各段の出力端における信号波形を示し、「OUT1」〜「OUT6」は、同じく図3に示されるナンドゲート241〜246のそれぞれの出力信号の波形を示す。また、「GP」は一本の走査線の選択パルスであり、「H1」は非定常時の1番目の選択期間を示し、「H2」は非定常時の2番目の選択期間を示し、「H3」は非定常時の3番目の選択期間を示す。また、上述したように、「CL1」,「nCL1」は動作クロックであり、「SP」はスタートパルスである。図10においても同様である。
【0047】
図9に示されるように、1選択期間(1H)に1個のスタートパルス(SP)をシフトレジスタ220に順次に入力していくと、それに対応してシフトレジスタ220の各段から一つのパルスが出力され、そのパルスは順次にシフトされていく。これに応じて、ナンドゲート241〜246のそれぞれから順次に1つのパルスが出力される。
【0048】
このような動作が繰り返され、図10に示すように、4番目の選択期間が定常時の最初の選択期間「H1th」であり、その開始時点(時刻t1)において、初めて、4つのパルスが、ゲート回路240より同時に出力される(OUT1,OUT11,OUT21,OUT31)。以後、各パルスは相互の間隔を保ちながら同一方向に並列に走るようになり、4つのパルスが同時に出力される状態が定常的に実現される。
【0049】
このようにして得られた、同時に出力される4つのパルスでもって、図3の各アナログスイッチ261を構成するMOSトランジスタ410を同時にオンさせ、多重化された映像信号を同時にサンプリングし、対応する4本のデータ線に同時に映像信号を供給する。
【0050】
すなわち、パルスが入力されるとMOSトランジスタ410がオンし、データ線(D(n))と映像信号線(S1〜S4)とが電気的に接続され、アナログビデオ信号がデータ線容量412に書き込まれる。そして、MOSトランジスタ410がオフすると、書き込まれた信号がデータ線容量412に保持される。つまり、データ線容量412がホールディングコンデンサの役割を果たす。データ線のドライバがアナログスイッチのみで構成されているので、回路構成が簡単で集積度を高めることができ、また、映像信号のサンプリングも正確に行うことができる。なお、比較的小型の液晶パネルの場合、本実施例のようなアナログスイッチのみのドライバでデータ線を十分に駆動可能である。
【0051】
このように、本実施例では、まず、一本のシフトレジスタを用いて複数のパルスを同時に発生させる。したがって、シフトレジスタの動作クロックの周波数を変更することなく、シフトレジスタの出力信号の周波数を高くすることができる。同時に発生するパルスの数を「N個(Nは2以上の自然数)」とした場合、シフトレジスタの出力信号の周波数はN倍となる。
【0052】
そして、シフトレジスタの各出力信号を、アナログスイッチによる映像信号のサンプリングのタイミングを決めるために使用することにより、高速なデータ線の駆動が実現される。したがって、液晶表示マトリクスの駆動回路をTFTで構成しても、消費電力を増大させずに、高速なデータ線の駆動が可能である。
【0053】
なお、アナログスイッチとしては、1個のMOSトランジスタのみからなるものだけでなく、図25Aに示すようなCMOSで構成されるスイッチも使用可能である。CMOSスイッチは、MOSトランジスタ414,416と、インバータ418とで構成されている。
【0054】
また、データ線ドライバとして、図25Bのようなアナログドライバを用いることも可能である。アナログドライバは、MOSトランジスタ440およびホールディングコンデンサ420からなるサンプル・ホールド回路と、バッファ回路(ボルテージフォロワ)400とで構成されている。
【0055】
さらに、本実施例は、以下に述べるような優れた独自の効果を有している。以下、比較例と対比して、その効果について説明する。
【0056】
(比較例との対比)
図11Aは比較例のデータ線駆動回路の構成を示す図であり、図11Bは図11Aの構成の問題点を示す図である。
【0057】
図11Aの比較例では、シフトレジスタ(SR)およびゲート回路を複数設け(222〜226,242〜246)、シフトレジスタ(SR)のそれぞれに、個別にスタートパルス(SP)を供給するようにしている。そのスタートパルスのシフトレジスタへの入力は、専用の配線S10を介して行う必要がある。
【0058】
この場合、スタートパルス入力用の配線S10が、各シフトレジスタ222,224,226へ動作クロック(CL1,nCL1)を入力するための配線S20と交差し、その結果、図11Bに示すように、スタートパルスにノイズが重畳されることになる。
【0059】
また、スタートパルスの入力用配線S10の長さは、少なくとも10μm程度になり、よって微細化の大きな障害となる。
【0060】
さらに、その配線の抵抗よってスタートパルスが遅延し、各シフトレジスタへの入力タイミングに差が生じる恐れもある。
【0061】
これに対し、本実施例のデータ線駆動回路では、図12Aに示されるように、1本のシフトレジスタ220の左端から所望のタイミングでスタートパルス(SP)を入力すればよく、スタートパルス用の専用配線は不要である。
【0062】
したがって、本実施例では、図11Bに示すようにスタートパルスにノイズが重畳するがことがなく、また、レイアウト面積の削減も図れる。
【0063】
また、一本のシフトレジスタを用いて複数のパルスを生成するので、スタートパルスの遅延も生じない。
【0064】
このように、本発明によれば、回路の微細化とシフトレジスタの動作クロックの周波数の低減とを両立できる。したがって、例えば、データ線駆動回路を構成するTFTとして、低温プロセスを用いて作成したTFTを用いた場合でも高速かつ正確な動作が確保される。
【0065】
したがって、本実施例を用いれば、駆動回路をTFTで構成した液晶表示装置の性能を高めることができる。
【0066】
(TFTの製造プロセス)
図22A〜図22Eに、ドライバ部のTFTと、アクティブマトリクス部(画素部)のTFTとを同時に基板上に形成する場合の、製造プロセス(低温製造プロセス)の一例が示されている。本製造プロセスにより製造されるTFTは、ポリシリコンを用いた、LDD(Lightly Doped Drain)構造のTFTである。
【0067】
まず、ガラス基板4000上に絶縁膜4100を形成し、絶縁膜4100上にポリシリコンアイランド(4200a,4200b,4200c)を形成し、続いて、全面にゲート酸化膜4300を形成する(図22A)。
【0068】
次に、ゲート電極4400a,4400b,4400cを形成した後、マスク材4500a,4500bを形成し、次に、ボロンを高濃度にイオン打ち込みし、p型のソース・ドレイン領域4702を形成する(図22b)。
【0069】
次に、マスク材4500a,4500bを除去し、リンをイオン打ち込みし、n型のソース・ドレイン領域4700,4900を形成する(図22C)。
【0070】
続いて、マスク材4800a,4800bを形成した後、リンをイオン打ち込みする(図22D)。
【0071】
続いて、層間絶縁膜5000、金属電極5001,5002,5004,5006,5008、最終保護膜6000を形成して、デバイスが完成する。
【0072】
(実施例2)
本発明は、アナログ方式のドライバを用いたデータ線駆動回路のみならず、デジタルドライバを用いたデータ線駆動回路にも適用が可能である。
【0073】
図8は、デジタルドライバを用いた線順次駆動方式のデータ線駆動回路の構成例を示す。
【0074】
この回路の構成の特徴は、デジタル映像信号(V1a〜V1d)を取り込んで一時的に記憶する第1のラッチ1500と、この第1のラッチ1500の各ビットのデータを一括して取り込んで一時的に記憶する第2のラッチ1510と、この第2のラッチ1510の各ビットのデジタルデータを同時にアナログ信号に変換し、全データ線を同時に駆動するD/Aコンバータ1600とを有していることである。
【0075】
このようなデジタルドライバを用いた回路においても、デジタル映像信号(V1a〜V1d)を第1のラッチ1500に取り込む方式として、前掲の第1の実施例で示した技術を適用できる。つまり、デジタル映像信号(V1a〜V1d)を多重化し、かつ一本のシフトレジスタ220から複数のパルスを同時に発生させ、それらのパルスを用いてデジタル映像信号の複数のデータを並列にラッチすることにより、シフトレジスタの動作クロックの周波数を高めることなく、デジタル映像信号のラッチを高速化できる。
【0076】
デジタル映像信号の多重化は例えば、図7に示される、データの組み替え回路1270により実現できる。なお、図7において、参照番号1000はアナログ映像信号発生装置を示し、参照番号1250はA/D変換回路を示し、参照番号1260はγ補正用ROMを示し、参照番号1110はタイミングコントローラを示す。
【0077】
なお、線順次駆動方式のデジタルドライバに限定されず、点順次駆動方式のデジタルドライバにも同様に、本発明は適用可能である。
【0078】
(実施例3)
本発明の第3の実施例の特徴が図19A,図19Bに示されている。第1の実施例では、ゲート回路240をナンドゲートで構成していたが(図3)、本実施例では、ゲート回路240を排他的論理和ゲート251で構成している。排他的論理和ゲート251は、シフトレジスタの隣接する2つの段の出力(a,b・・・)を入力とし、映像信号のサンプリングタイミングを決めるために使用されるパルス(X,Y,Z・・・)を出力する。
【0079】
排他的論理和ゲート251を用いる利点は、スタートパルス(SP)の1周期を2選択期間(選択期間の2倍)とすると消費電力の低減が可能となる点と、出力パルスの後端が急峻となってパルス幅が広がるのを防ぐことができる点である。
【0080】
すなわち、図3に示すように、スタートパルス(SP)の1周期を2選択期間(選択期間の2倍)とすると、図9に示されるのと同様の回路動作によって並列にパルスが出力されると共に、1選択期間あたりの、シフトレジスタの各段の出力(a,b・・・)のレベル変化の回数が、図9のような動作が行われる場合に比べて半分となる。
【0081】
つまり、図19Aの「b」点における1選択期間(1H)内の信号のレベル変化は、図19Bに示すように、1回である。つまり、1選択期間(1H)にはポジティブエッジR3が1つ存在するだけである。
【0082】
これに対し、図9に示す回路動作では、「b」点における信号レベルは1選択期間(1H)内で2回変化している。つまり、1選択期間(1H)には、ポジティブエッジR1とネガティブエッジR2の2つが存在する。したがって、図9の場合に比べ、図19の場合は信号レベルの遷移回数が半減しており、それに伴い、消費電力が約半分となる。
【0083】
また、図24Bに示すように、2入力ナンドゲート(図24Aに示される)の場合、1つの入力のポジティブエッジと他の入力のネガティブエッジとで出力パルスのパルス幅(T1)が決定されるのに対し、2入力排他的論理和ゲート(図24C)の場合、図24Dに示されるように、2つの入力のポジティブエッジで出力パルスのパルス幅(T2)が決定される。このため、出力パルスの後端が急峻となってパルス幅が広がるのを防止できる。
【0084】
(実施例4)
図13Aに本発明の第4の実施例の要部構成が示される。
【0085】
本実施例の特徴は、図1のゲート回路240を、シフトレジスタの各段の出力と出力イネーブル信号(E,nE)とを入力とするナンドゲート(241,242,243,244・・・)で構成したことである。
【0086】
出力イネーブル信号(E,nE)による制御を可能としたことにより、シフトレジスタの出力のレベルとゲート回路の出力のレベルとを独立して制御可能となる。この特徴を活用すると、回路の動作中に、ナンドゲート(241,242,243,244・・・)からのパルスの発生(ネガティブエッジ発生)を一時的に中断させることができ、かつ、その中断を解いて、パルスの発生を再開させることが可能となる。
【0087】
例えば、図13Bにおいて、時刻t4〜時刻t6(期間TS1)において、ナンドゲート(241,242,243,244・・・)からのパルスの発生を停止させ、かつ、時刻t6にパルスの発生を再開させる場合を考える。
【0088】
このような動作は、期間TS1において動作クロックCL1,nCL1を停止し、一方、出力イネーブル信号(E)を時刻t4〜時刻t5までローレベルに固定しておき、時刻t5において、動作クロックと同じ周期での変化を再開させることにより実現される。出力イネーブル信号(nE)については、時刻t6より動作クロックと同じ周期での変化を再開させればよい。
【0089】
このようなパルスの発生を停止する技術は、例えば、水平帰線期間(BL)における映像信号のサンプリングを禁止するために利用できる。
【0090】
図14に、実際の回路において、水平帰線期間(時刻t12〜t13)にゲート回路からのパルスの発生を停止させる場合の動作が示される。図14中、例えば、「157」は、一本のシフトレジスタの「第157段の出力」を示し、「OUT159」は、「第159番目のナンドゲートの出力」を示す。
【0091】
図14に明示されるように、水平帰線期間(時刻t12〜t13)にゲート回路からのパルスの発生を停止させるためには、時刻t1〜t14において、動作クロック(CL1,nCL1)およびイネーブル信号(n,nE)を停止させればよい。
【0092】
(実施例5)
図1に示す液晶表示装置は、データ線等の電気的特性の検査にも適している。すなわち、図15の上側に示すように、検査用信号の入力回路2000を設けることにより、データ線やアナログスイッチの周波数特性や、データ線の断線等を正確かつ高速に検出可能となる。
【0093】
図15において、データ線の一端に検査用信号の入力回路200が接続され、データ線の他端に、アナログスイッチ261を介して映像信号の入力線S1が接続されている。図15において、「TG」はテストイネーブル信号を示し、「TC」は電源電圧を示す。
【0094】
検査は、以下のように行われる。
【0095】
まず、テストイネーブル信号「TG」をアクティブとし、各データ線に電源電圧(検査用電圧)を一括して供給する。
【0096】
そのような電圧印加状態において、1本のシフトレジスタより一つのパルスを順次に出力させる。すると、ゲート回路240から1個のパルスが順次に出力される。そのパルスによりアナログスイッチが順次にオンし、これにより、データ線の一端より供給された電圧を、アナログスイッチ261および映像信号の入力線S1を介して受信でき、これにより、データ線やアナログスイッチの電気的特性の検査を行うことができる。
【0097】
このように、本実施例では、1本のシフトレジスタから1個ずつ順次にパルスを発生させることが必要である。つまり、図16Aに示すようにデータ線が配列されていて、前掲の実施例では、図16Bに示すように複数本同時にデータ線を駆動する方式を採用していたが、本実施例では、図16Cに示すように、一本ずつ順次に駆動する方式に切り替えることが必要である。
【0098】
このような切り替えは、図17に示すように、スタートパルスの入力方式を変更することで容易に行える。つまり、図17に示すように、1番目の選択期間(H1st)の最初に1つのスタートパルス(SP)を入力し、そのパルスを全段数に渡ってシフトさせれば、順次に1つのパルスが発生し、各選択期間毎に1つのスタートパルス(SP)を入力すれば、図10に示すように、複数のパルスを同時に発生させることができる。
【0099】
1本のシフトレジスタから1個ずつ順次にパルスを発生させることにより、データ線の電気的特性を一本毎に調べることができ、検査が容易となる。
【0100】
なお、図18Aの構成を用いた場合、図18Bに示されるように、所定期間TS3において、シフトレジスタの動作クロックCL1,nCL1を停止させれば、その期間内では、ナンドゲートの出力(OUT1)のみがハイレベルとなる。よって、対応するアナログスイッチのみがオンし、所定期間TS3においては、第1番目のデータ線のみをじっくりと検査できる。
【0101】
また、図20では、専用の検査用信号の入力回路2000の代わりに、線順次デジタルドライバ214(図8の構成と同一である)を設けてもよい。この場合、デジタルドライバ214は、本来のデータ線を駆動するという働きの他に、検査用信号の入力回路としても機能することになる。
【0102】
図20の構成では、アナログ映像信号に基づくデータ線駆動およびデジタル映像信号に基づくデータ線駆動の双方が可能である。
【0103】
以上説明した本発明の液晶表示装置をパーソナルコンピュータ等の機器における表示装置として使用すれば、製品の価値が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1Aは、本発明の液晶表示装置の一実施例の全体構成を示す図であり、図1Bは画素部の構成を示す図である。
【図2】 図1に示される実施例の特徴を説明するための図である。
【図3】 図2に示される回路構成をより具体化して示す回路図である。
【図4】 図4Aは、原映像のデータ配列を示す図であり、図4Bは、本発明に用いられる手法により、原映像のデータを時系列に配置した場合のデータ配列の例を示す図である。
【図5】 アナログ映像信号を、図4Bに示されるような多重化された信号に加工するための回路構成の例を示す図である。
【図6】 図5の回路の主要な動作を説明するための図である。
【図7】 デジタル映像信号を図4Bに示されるような多重化された信号に加工するための回路構成の例を示す図である。
【図8】 デジタル線順次方式の液晶マトリクス駆動回路の構成例を示す図である。
【図9】 図1A,図2,図3に示される回路の動作タイミングを示すタイミングチャートである。
【図10】 図10は図1A,図2,図3に示される回路における、アナログスイッチ261の出力信号の出力タイミングを示すタイミングチャートである。
【図11】 図11Aは、比較例の回路構成を示す図であり、図11Bは、図11Aの回路の問題点を示す信号の波形図である。
【図12】 図12Aは、図1〜図3に示される本発明の液晶表示装置の要部を抜き出して示す図であり、図12Bは図12Aの回路の利点を示す、信号の波形図である。
【図13】 図13Aは、本発明の液晶表示装置の他の実施例の要部構成を示す図であり、図13Bは、図13Aの回路の動作例を説明するためのタイミングチャートである。
【図14】 図13Aに示す回路の他の動作例を示すタイミングチャートである。
【図15】 本発明の液晶表示装置の他の実施例の全体構成を示す図である。
【図16】 図16Aは、図15の回路におけるデータ線の配列を示す図であり、図16Bは、本発明の駆動回路の通常動作を示す図であり、図16Cは図16Bの駆動回路の欠陥検査時の動作例を示す図である。
【図17】 図16Cに示される本発明の駆動回路の欠陥検査時の動作を、より具体的に説明するためのタイミングチャートである。
【図18】 図18Aは、本発明の駆動回路の要部構成を示す図であり、図18Bは、図18Aの回路の欠陥検査時の動作の一例を示す図である。
【図19】 図19Aは、本発明の駆動回路の要部構成を示す図であり、図19Bは、図19Aの駆動回路の通常の動作例を示すタイミングチャートである。
【図20】 本発明の液晶表示装置の他の実施例の構成を示す図である。
【図21】 液晶表示装置の構造を示す斜視図である。
【図22】 図22A〜図22Eはそれぞれ、ドライバ部を構成するTFTとアクティブマトリクスを構成するTFTとを同時に形成する製造プロセスの例を示す、各工程におけるデバイスの断面図である。
【図23】 図23Aは、pチャネルTFTとnチャネルTFTの電圧−電流特性を示す図であり、図23Bは、pチャネルTFTおよびnチャネルTFTを用いたバッファ回路の回路図であり、図23Cは、図23Bの回路の入力波形と出力波形を示す図である。
【図24】 図24Aは、pチャネルTFTおよびnチャネルTFTを用いたナンドゲートを示し、図24Bは、図24Aの回路の入力波形と出力波形を示す図であり、図24Cは、pチャネルTFTおよびnチャネルTFTを用いた排他的論理和ゲートを示す図であり、図24Dは、図24Cの回路の入力波形と出力波形を示す図である。
【図25】 図25Aは、アナログスイッチの構成の一例を示す図であり、図25Bは、アナログドライバの構成を示す図である。
【符号の説明】
100 走査線駆動回路、 200 データ線駆動回路、 214 デジタルドライバ、 220 シフトレジスタ、 222〜226,242〜246 ゲート回路、 240 ゲート回路、 251 排他的論理和ゲート、 261 アナログスイッチ、 300 画素部(アクティブマトリクス)、 350 TFT、 370 液晶素子、 410,414,416,440 MOSトランジスタ、 412 データ線容量、 418,504 インバータ、 420 ホールディングコンデンサ、 400 バッファ回路(ボルテージフォロワ)、
502,506 クロックドインバータ、 1000 アナログ映像信号発生装置、 1100,1110 タイミングコントローラ、 1250 A/D変換回路、 1260 γ補正用ROM、 1270 データの組み替え回路、 1500 第1のラッチ、 1510 第2のラッチ、 1600 D/Aコンバータ、 2000 検査用信号の入力回路、 3000 対向基板、 3100 アクティブマトリクス基板、 4000 ガラス基板、 4100 絶縁膜、 4200a,4200b,4200c ポリシリコンアイランド
4300 ゲート酸化膜、 4400a,4400b,4400c ゲート電極、 4500a,4500b マスク材、 4702 p型ソース・ドレイン領域、 4700,4900 n型ソース・ドレイン領域、 4800a,4800b マスク材、 5000 層間絶縁膜、 5001,5002,5004,5006,5008 金属電極、 6000 最終保護膜、 V1〜V4 映像信号、 SP スタートパルス、 CL1,nCL1 動作クロック、 t1,t2,t3,t4 時刻、 GP 走査線の選択パルス、 D(n) データ線、 S1〜S4 映像信号線、 SR シフトレジスタ、 S10 配線、 V1a〜V1d デジタル映像信号、 E,nE 出力イネーブル信号、 BL 水平帰線期間、 TG テストイネーブル信号、 TC 電源電圧
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a liquid crystal display device and a liquid crystal display device inspection method, and more particularly to a liquid crystal display device in which a transistor for driving a liquid crystal display matrix is formed on a liquid crystal display matrix substrate.
[0002]
[Background]
In an active matrix liquid crystal display device using a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT) as a switching element, a driving circuit of the active matrix is configured by a TFT, and the TFT configuring the driving circuit is defined as a TFT in a pixel portion. If it can be formed on the active matrix substrate at the same time, there is no need to mount a driver IC, which is convenient.
[0003]
However, TFTs have a lower operating speed than transistors integrated on a single crystal silicon substrate, and there is a certain limit to speeding up the drive circuit. If the drive circuit is operated at a higher speed, the power consumption increases accordingly. To do.
[0004]
As an example of a technique for operating a driving circuit of a liquid crystal display device at high speed, there is a technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-32093, and a technique described in SID Digest, pp 609-612 (1992). .
[0005]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-32093 discloses a technique in which a drive circuit is constituted by a plurality of shift registers, and each shift register is driven by a clock having a slightly different phase, thereby realizing the substantial shift register. The operating frequency is improved.
[0006]
SID Digest, pp 609-612 (1992) discloses a technique for simultaneously driving a plurality of analog switches with one output of a timing control circuit and writing video signals in parallel.
[0007]
Moreover, as an example of a technique for reducing the power consumption of the drive circuit, there is a technique described in Japanese Patent Laid-Open No. 61-32093. In this technique, the drive circuit is divided into a plurality of blocks, and only the blocks that must operate are set in an operating state, and the other blocks are set in a non-operating state, thereby reducing power consumption.
[0008]
However, when the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-32093 is implemented, it is necessary to prepare a plurality of clocks having different phases, resulting in a complicated circuit configuration and an increase in the number of terminals.
[0009]
Further, since the technique described in SID Digest, pp 609-612 (1992) drives a plurality of analog switches in a lump, it is necessary to prepare a buffer having a heavy load and therefore capable of driving a heavy load. Also, the drive timing of each analog switch is likely to shift due to the delay of the drive signal.
[0010]
In addition, the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-32093 requires a control circuit for selectively bringing the divided blocks into an operating state, resulting in a complicated circuit. It does not contribute to the speeding up of the circuit.
[0011]
Furthermore, when the above-described prior art drive circuit is composed of TFTs, the circuit is complicated in any case, and it is difficult to accurately and quickly inspect the electrical characteristics of the circuit, and thus there is a problem in terms of reliability evaluation. There is.
[0012]
[Problems to be solved by the invention]
The present invention has been made in consideration of the above-mentioned problems of the prior art, and its purpose is to provide a novel liquid crystal that can operate at high speed, can reduce power consumption to some extent, and can be easily inspected. It is to provide a display device and a driving method thereof.
[0013]
In one embodiment of the liquid crystal display device of the present invention, a plurality of pulses are generated simultaneously using a single shift register.
[0014]
Therefore, the frequency of the output signal of the shift register can be increased without changing the frequency of the operation clock of the shift register. When the number of simultaneously generated pulses is “N (N is a natural number of 2 or more)”, the frequency of the output signal of the shift register is N times.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
If the output signal of the shift register is used to determine the sampling timing of the video signal in the analog driver, high-speed data line driving can be realized. Further, if the output signal of the shift register is used to determine the latch timing of the video signal in the digital driver, the video signal can be latched at high speed. Therefore, even when the driving circuit of the liquid crystal display matrix is constituted by TFTs, the driving circuit can be operated at high speed without increasing power consumption.
[0016]
In order to simultaneously generate a plurality of pulses using a single shift register, for example, one pulse having the same polarity is input to the input end of the shift register every horizontal period of the video signal, and at least ( N-1) Waiting for the elapse of the horizontal period, if a steady state is realized in which N pulses running in parallel at intervals are output from the output terminals of the respective stages of the shift register. Good.
[0017]
In another aspect of the liquid crystal display device of the present invention, in addition to one shift register, a gate circuit that receives an output signal of the shift register is provided, and the output signal of the gate circuit is transmitted to the data line driving circuit. Used as a timing control signal for the circuit to be configured. For example, the output signal of the gate circuit can be used as a timing signal that determines the sampling timing of the video signal in the analog driver, and can be used as a timing signal that determines the latch timing of the video signal in the digital driver.
[0018]
For example, an exclusive OR gate is used as a gate circuit, and outputs of adjacent stages of the shift register are input to the exclusive OR gate, and a clock having two horizontal periods of a video signal as one cycle is input to the shift register. As an input, the number of clock level changes in one horizontal period is reduced, and lower power consumption is possible.
[0019]
In another aspect of the liquid crystal display device of the present invention, a configuration capable of performing an electrical inspection of the liquid crystal display matrix is realized by utilizing a single shift register. For example, an inspection signal input circuit is connected to one end of the data line, and a video signal input line is connected to the other end of the data line via an analog switch.
[0020]
Then, the inspection signal input circuit is used to input the inspection signals to the data lines in a lump, and one pulse is sequentially output from one shift register in a state where such input is maintained. Then, a plurality of analog switches are sequentially turned on using each of the pulses, thereby receiving a test signal transmitted from one end of the data line via the analog switch and the video signal input line. As a result, the electrical characteristics of the data line and the analog switch can be inspected. For example, it is possible to accurately and quickly detect the frequency characteristics of data lines and analog switches, disconnection of data lines, and the like.
[0021]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the content of the present invention will be described in more detail using examples of the present invention.
[0022]
Example 1
(overall structure)
FIG. 1A shows a configuration of an embodiment of a liquid crystal display device of the present invention, and FIG. 1B is a diagram showing a configuration of a pixel portion in an active matrix liquid crystal display device.
[0023]
The present embodiment is a liquid crystal display device adopting a method of driving a data line using an analog switch (switch circuit).
[0024]
In this embodiment, a TFT is used as a transistor constituting the data line driving circuit. The TFT is formed on the substrate simultaneously with the switching TFT in the pixel portion. The manufacturing process will be described later.
[0025]
One pixel in the pixel portion (active matrix) 300 includes a switching TFT 350 and a liquid crystal element 370 as shown in FIG. 1B. The gate of the TFT 350 is connected to the scanning line L (k), and the source (drain) is connected to the data line D (k).
[0026]
The scanning line L (k) is driven by the scanning line driving circuit 100 shown in FIG. 1A, and the data line D (k) is driven by the data line driving circuit 200 shown in FIG. 1A.
[0027]
The data line driving circuit 200 is connected to a shift register 220 having at least the number of stages corresponding to the number of data lines, a gate circuit 240, and N (four in this embodiment) video signal lines (S1 to S4). A plurality of analog switches 261.
[0028]
The fact that N video signal lines (S1 to S4) are prepared means that the video signals are multiplexed and the multiplicity thereof is “N”.
[0029]
The plurality of analog switches are grouped every arbitrary M (in this embodiment, every four), and the total number of the groups is equal to the total number of video signal lines (ie, “N”). That is, in this embodiment, the number of groups of analog switches is “4”, and each analog switch belonging to one group is commonly connected to one video signal line.
[0030]
In FIG. 1A, “V1”, “V2”, “V3”, “V4” indicate multiplexed video signals, “SP” indicates a start pulse input to the shift register 220, “CL1”, “V1” “nCL1” indicates an operation clock. “CL1” and “nCL1” are pulses whose phases are shifted by 180 degrees. In the following description, for other pulse signals, a clock whose phase is shifted by 180 degrees is represented by “n” at the beginning. A positive pulse corresponds to a digital value “1”, and a negative pulse corresponds to a digital value “0”.
[0031]
The meaning of the multiplexing of the video signal is shown in FIG. 4B. As shown in FIG. 4A, when the first to sixteenth video signals are taken as an example, each signal is usually arranged in order in time series.
[0032]
On the other hand, when video signals are multiplexed with a multiplicity of “4” as in the present embodiment, as shown in FIG. 4B, the video signals V1 to V4 are “first” and “fifth” at time t1, respectively. , “9th” and “13th” signals appear simultaneously. Similarly, at time t2, “second”, “sixth”, “tenth”, “14th” signals appear simultaneously, and at time t3, “third”, “seventh”, “ The eleventh and fifteenth signals appear simultaneously, and the fourth, eighth, twelfth, and sixteenth signals appear at time t4.
[0033]
Multiplexing of video signals is possible, for example, by delaying an analog video signal little by little and creating a plurality of video signals having slightly different phases as shown in FIG. Such a delay of the video signal can be realized by using, for example, a delay circuit 1200 as shown in FIG. The delay circuit 1200 is formed by connecting four delay circuits 1202 to 1207 having the same delay amount in series, and supplies the output of each delay circuit to the data line driving circuit 200. In FIG. 5, reference numeral 1000 is an analog video signal generator, and reference numeral 1100 is a timing controller.
[0034]
In this embodiment, the video signals are multiplexed in this way, while a single shift register is used to simultaneously generate a number of pulses corresponding to the multiplicity, and a plurality of analog switches are driven simultaneously to generate video. By supplying signals to a plurality of data lines at the same time, the data line drive speed can be increased.
[0035]
Note that the liquid crystal display device is actually configured by bonding an active matrix substrate 3100 and a counter substrate 3000, as shown in FIG. Liquid crystal is sealed between the substrates.
[0036]
(Specific configuration of data line driving circuit)
This embodiment is characterized in the operation of the data line driving circuit 200, and will be specifically described below.
[0037]
As shown in FIG. 2, in the present embodiment, in the shift register 220, a plurality of positive polarity pulses (one pulse corresponds to data “1”) are simultaneously shifted at a predetermined interval, and this is supported. Then, a plurality of pulses that run in parallel at intervals are output from each stage of the shift register. The number of pulses running in parallel is equal to the multiplicity “N” of the video signal. That is, in this embodiment, there are “4”.
[0038]
Those pulses are used to determine the operation timing of the analog switch 261. Specifically, these pulses are input to the gate circuit 240, and a plurality of pulses that run in parallel at intervals are output from the output terminals (OUT1 to OUT (N × M)) of the gate circuit 240. The
[0039]
In this embodiment, these pulses output from the gate circuit 240 are used to determine the timing of sampling the video signal by the analog switch.
[0040]
The gate circuit 240 is used for waveform shaping. That is, there is a difference in voltage-current characteristics between the p-type TFT and the n-type TFT, as shown in FIG. 23A. Therefore, when these TFTs are used as output stage transistors, a buffer as shown in FIG. 23B is configured. As shown in FIG. 23C, the output waveform becomes dull with respect to the pulse input, and a signal delay occurs. In order to suppress such a delay, it is desirable to provide the gate circuit 240. However, this is not always necessary, and the analog switch 261 may be directly driven by the output signal of the shift register 220.
[0041]
A more specific circuit configuration of the data line driving circuit 200 is shown in FIG.
[0042]
As clearly shown in FIG. 3, the analog switch 261 is configured by a MOS transistor 410. Reference numeral 412 denotes a capacity of the data line itself (hereinafter referred to as data line capacity).
[0043]
One stage (reference number 500) constituting the shift register 220 includes an inverter 504 and clocked inverters 502 and 506.
[0044]
In addition, the gate circuit 240 includes 2-input NAND gates 241 to 246 that receive outputs of two adjacent stages of the shift register.
[0045]
(Explanation of circuit operation)
Next, the operation of the circuit shown in FIG. 3 will be specifically described with reference to FIGS. 9 and 10. 9 and 10 show examples of N = 4 and M = 10. FIG. 9 shows an initial stage operation among the operations until four pulses running in parallel from the shift register 220 are steadily output (the state is shown in FIG. 10).
[0046]
9, “a” to “g” indicate signal waveforms at the output terminals of the respective stages of the shift register 220 shown in FIG. 3, and “OUT1” to “OUT6” are NAND gates also shown in FIG. The waveforms of output signals 241 to 246 are shown. “GP” is a selection pulse of one scanning line, and “H” 1 "Indicates the first selection period in the non-stationary state, and" H 2 "Indicates the second selection period in the non-stationary state, and" H Three "Indicates the third selection period in the non-stationary state. As described above, “CL1” and “nCL1” are operation clocks, and “SP” is a start pulse. The same applies to FIG.
[0047]
As shown in FIG. 9, when one start pulse (SP) is sequentially input to the shift register 220 in one selection period (1H), one pulse is output from each stage of the shift register 220 correspondingly. Are output, and the pulses are sequentially shifted. In response to this, one pulse is sequentially output from each of the NAND gates 241 to 246.
[0048]
Such an operation is repeated, and as shown in FIG. 10, the fourth selection period is the first selection period “H” in the steady state. 1th At the start time (time t1), for the first time, four pulses are simultaneously output from the gate circuit 240 (OUT1, OUT11, OUT21, OUT31). Thereafter, the pulses run in parallel in the same direction while maintaining a mutual interval, and a state in which four pulses are output simultaneously is steadily realized.
[0049]
With the four pulses output at the same time, the MOS transistors 410 constituting the analog switches 261 in FIG. 3 are simultaneously turned on, and the multiplexed video signals are sampled at the same time. Video signals are simultaneously supplied to the data lines.
[0050]
That is, when a pulse is input, the MOS transistor 410 is turned on, the data line (D (n)) and the video signal lines (S1 to S4) are electrically connected, and the analog video signal is written to the data line capacitor 412. It is. When the MOS transistor 410 is turned off, the written signal is held in the data line capacitor 412. That is, the data line capacitance 412 serves as a holding capacitor. Since the data line driver is composed of only analog switches, the circuit configuration is simple, the degree of integration can be increased, and the video signal can also be sampled accurately. In the case of a relatively small liquid crystal panel, the data line can be sufficiently driven by a driver having only an analog switch as in this embodiment.
[0051]
As described above, in this embodiment, first, a plurality of pulses are simultaneously generated using one shift register. Therefore, the frequency of the output signal of the shift register can be increased without changing the frequency of the operation clock of the shift register. When the number of simultaneously generated pulses is “N (N is a natural number of 2 or more)”, the frequency of the output signal of the shift register is N times.
[0052]
Then, by using each output signal of the shift register to determine the sampling timing of the video signal by the analog switch, high-speed data line driving is realized. Therefore, even if the driving circuit of the liquid crystal display matrix is constituted by TFTs, high-speed data lines can be driven without increasing power consumption.
[0053]
As an analog switch, not only a single MOS transistor but also a CMOS switch as shown in FIG. 25A can be used. The CMOS switch is composed of MOS transistors 414 and 416 and an inverter 418.
[0054]
Further, an analog driver as shown in FIG. 25B can be used as the data line driver. The analog driver includes a sample / hold circuit including a MOS transistor 440 and a holding capacitor 420 and a buffer circuit (voltage follower) 400.
[0055]
Further, this embodiment has excellent unique effects as described below. Hereinafter, the effect will be described in comparison with the comparative example.
[0056]
(Contrast with comparative example)
FIG. 11A is a diagram showing a configuration of a data line driving circuit of a comparative example, and FIG. 11B is a diagram showing a problem of the configuration of FIG. 11A.
[0057]
In the comparative example of FIG. 11A, a plurality of shift registers (SR) and gate circuits are provided (222 to 226, 242 to 246), and a start pulse (SP) is individually supplied to each of the shift registers (SR). Yes. It is necessary to input the start pulse to the shift register via the dedicated wiring S10.
[0058]
In this case, the start pulse input wiring S10 intersects with the wiring S20 for inputting the operation clock (CL1, nCL1) to each of the shift registers 222, 224, and 226. As a result, as shown in FIG. Noise is superimposed on the pulse.
[0059]
Further, the length of the input line S10 for the start pulse is at least about 10 μm, which is a major obstacle to miniaturization.
[0060]
Furthermore, the start pulse is delayed by the resistance of the wiring, and there is a possibility that the input timing to each shift register may be different.
[0061]
On the other hand, in the data line driving circuit of this embodiment, as shown in FIG. 12A, a start pulse (SP) may be input at a desired timing from the left end of one shift register 220. Dedicated wiring is not required.
[0062]
Therefore, in this embodiment, no noise is superimposed on the start pulse as shown in FIG. 11B, and the layout area can be reduced.
[0063]
In addition, since a plurality of pulses are generated using a single shift register, the start pulse is not delayed.
[0064]
Thus, according to the present invention, both circuit miniaturization and reduction in the frequency of the operation clock of the shift register can be achieved. Therefore, for example, even when a TFT formed using a low-temperature process is used as a TFT constituting the data line driving circuit, high-speed and accurate operation is ensured.
[0065]
Therefore, if this embodiment is used, the performance of the liquid crystal display device in which the drive circuit is composed of TFTs can be improved.
[0066]
(TFT manufacturing process)
22A to 22E show an example of a manufacturing process (low-temperature manufacturing process) in the case where the TFT of the driver part and the TFT of the active matrix part (pixel part) are formed on the substrate at the same time. The TFT manufactured by this manufacturing process is a TFT having a LDD (Lightly Doped Drain) structure using polysilicon.
[0067]
First, an insulating film 4100 is formed on a glass substrate 4000, polysilicon islands (4200a, 4200b, 4200c) are formed on the insulating film 4100, and then a gate oxide film 4300 is formed on the entire surface (FIG. 22A).
[0068]
Next, after forming the gate electrodes 4400a, 4400b, and 4400c, mask materials 4500a and 4500b are formed, and then boron is ion-implanted at a high concentration to form p-type source / drain regions 4702 (FIG. 22b). ).
[0069]
Next, the mask materials 4500a and 4500b are removed, and phosphorus is ion-implanted to form n-type source / drain regions 4700 and 4900 (FIG. 22C).
[0070]
Subsequently, after forming mask materials 4800a and 4800b, phosphorus is ion-implanted (FIG. 22D).
[0071]
Subsequently, an interlayer insulating film 5000, metal electrodes 5001, 5002, 5004, 5006, 5008, and a final protective film 6000 are formed to complete the device.
[0072]
(Example 2)
The present invention can be applied not only to a data line driving circuit using an analog driver but also to a data line driving circuit using a digital driver.
[0073]
FIG. 8 shows a configuration example of a data line driving circuit of a line sequential driving method using a digital driver.
[0074]
This circuit is characterized by a first latch 1500 that captures and temporarily stores digital video signals (V1a to V1d), and data of each bit of the first latch 1500 is collectively captured and temporarily stored. And a D / A converter 1600 that simultaneously converts the digital data of each bit of the second latch 1510 into an analog signal and drives all the data lines simultaneously. is there.
[0075]
Even in a circuit using such a digital driver, the technique shown in the first embodiment can be applied as a method of taking the digital video signals (V1a to V1d) into the first latch 1500. That is, by multiplexing digital video signals (V1a to V1d), simultaneously generating a plurality of pulses from one shift register 220, and latching a plurality of data of the digital video signal in parallel using these pulses. The digital video signal latch can be speeded up without increasing the frequency of the operation clock of the shift register.
[0076]
Multiplexing of digital video signals can be realized, for example, by a data rearrangement circuit 1270 shown in FIG. In FIG. 7, reference numeral 1000 indicates an analog video signal generator, reference numeral 1250 indicates an A / D conversion circuit, reference numeral 1260 indicates a γ correction ROM, and reference numeral 1110 indicates a timing controller.
[0077]
Note that the present invention is not limited to the line-sequential drive type digital driver, and can also be applied to a dot-sequential drive type digital driver.
[0078]
Example 3
The features of the third embodiment of the present invention are shown in FIGS. 19A and 19B. In the first embodiment, the gate circuit 240 is composed of a NAND gate (FIG. 3), but in this embodiment, the gate circuit 240 is composed of an exclusive OR gate 251. The exclusive OR gate 251 receives the outputs (a, b...) Of two adjacent stages of the shift register as inputs, and uses pulses (X, Y, Z,...) Used to determine the sampling timing of the video signal.・ ・) Is output.
[0079]
The advantage of using the exclusive OR gate 251 is that power consumption can be reduced when one period of the start pulse (SP) is two selection periods (twice the selection period), and the trailing edge of the output pulse is steep. Thus, the pulse width can be prevented from widening.
[0080]
That is, as shown in FIG. 3, assuming that one cycle of the start pulse (SP) is two selection periods (twice the selection period), pulses are output in parallel by the same circuit operation as shown in FIG. At the same time, the number of level changes of the outputs (a, b...) Of each stage of the shift register per selection period is halved compared to the case where the operation as shown in FIG. 9 is performed.
[0081]
That is, the signal level change within one selection period (1H) at the point “b” in FIG. 19A is once as shown in FIG. 19B. That is, there is only one positive edge R3 in one selection period (1H).
[0082]
On the other hand, in the circuit operation shown in FIG. 9, the signal level at the point “b” changes twice within one selection period (1H). That is, there are two positive edges R1 and negative edges R2 in one selection period (1H). Therefore, compared with the case of FIG. 9, in the case of FIG. 19, the number of signal level transitions is halved, and accordingly, the power consumption is reduced to about half.
[0083]
24B, in the case of a two-input NAND gate (shown in FIG. 24A), the pulse width (T1) of the output pulse is determined by the positive edge of one input and the negative edge of the other input. On the other hand, in the case of the 2-input exclusive OR gate (FIG. 24C), as shown in FIG. 24D, the pulse width (T2) of the output pulse is determined by the positive edges of the two inputs. For this reason, it is possible to prevent the trailing edge of the output pulse from becoming steep and the pulse width from widening.
[0084]
(Example 4)
FIG. 13A shows the main configuration of a fourth embodiment of the present invention.
[0085]
A feature of this embodiment is that the gate circuit 240 of FIG. 1 is a NAND gate (241, 242, 243, 244...) That receives the output of each stage of the shift register and the output enable signal (E, nE). It is configured.
[0086]
Since the control by the output enable signal (E, nE) is enabled, the output level of the shift register and the output level of the gate circuit can be controlled independently. By utilizing this feature, pulse generation (negative edge generation) from the NAND gates (241, 242, 243, 244...) Can be temporarily interrupted during circuit operation. As a result, the generation of pulses can be resumed.
[0087]
For example, in FIG. 13B, from time t4 to time t6 (period TS1), the generation of pulses from the NAND gates (241, 242, 243, 244...) Is stopped, and the generation of pulses is resumed at time t6. Think about the case.
[0088]
In such an operation, the operation clocks CL1 and nCL1 are stopped in the period TS1, while the output enable signal (E) is fixed at a low level from time t4 to time t5, and at the time t5, the same cycle as that of the operation clock. This is realized by resuming changes in For the output enable signal (nE), the change in the same cycle as the operation clock may be resumed from time t6.
[0089]
A technique for stopping the generation of such a pulse can be used, for example, to prohibit sampling of a video signal in a horizontal blanking period (BL).
[0090]
FIG. 14 shows an operation in an actual circuit when the generation of pulses from the gate circuit is stopped during the horizontal blanking period (time t12 to t13). In FIG. 14, for example, “157” indicates “output of the 157th stage” of one shift register, and “OUT159” indicates “output of the 159th NAND gate”.
[0091]
As clearly shown in FIG. 14, in order to stop the generation of pulses from the gate circuit during the horizontal blanking period (time t12 to t13), the operation clock (CL1, nCL1) and the enable signal at time t1 to t14. (N, nE) may be stopped.
[0092]
(Example 5)
The liquid crystal display device shown in FIG. 1 is also suitable for inspection of electrical characteristics such as data lines. That is, as shown in the upper side of FIG. 15, by providing the test signal input circuit 2000, the frequency characteristics of the data lines and analog switches, the disconnection of the data lines, and the like can be detected accurately and at high speed.
[0093]
In FIG. 15, the test signal input circuit 200 is connected to one end of the data line, and the video signal input line S <b> 1 is connected to the other end of the data line via the analog switch 261. In FIG. 15, “TG” indicates a test enable signal, and “TC” indicates a power supply voltage.
[0094]
The inspection is performed as follows.
[0095]
First, the test enable signal “TG” is activated, and the power supply voltage (inspection voltage) is supplied to each data line at once.
[0096]
In such a voltage application state, one pulse is sequentially output from one shift register. Then, one pulse is sequentially output from the gate circuit 240. The analog switch is sequentially turned on by the pulse, whereby the voltage supplied from one end of the data line can be received via the analog switch 261 and the video signal input line S1, and thereby the data line and the analog switch can be received. Inspection of electrical characteristics can be performed.
[0097]
Thus, in this embodiment, it is necessary to sequentially generate pulses one by one from one shift register. That is, the data lines are arranged as shown in FIG. 16A, and in the above-described embodiment, a method of driving a plurality of data lines simultaneously as shown in FIG. 16B is adopted. As shown in 16C, it is necessary to switch to a method of sequentially driving one by one.
[0098]
Such switching can be easily performed by changing the input method of the start pulse as shown in FIG. That is, as shown in FIG. 17, the first selection period (H 1st ) If one start pulse (SP) is input at the beginning and the pulse is shifted over the entire number of stages, one pulse is generated sequentially, and one start pulse (SP) is generated for each selection period. If input, a plurality of pulses can be generated simultaneously as shown in FIG.
[0099]
By sequentially generating pulses one by one from one shift register, the electrical characteristics of the data lines can be examined one by one, and the inspection becomes easy.
[0100]
When the configuration shown in FIG. 18A is used, as shown in FIG. 18B, if the operation clocks CL1 and nCL1 of the shift register are stopped in a predetermined period TS3, only the output (OUT1) of the NAND gate is used during that period. Becomes high level. Therefore, only the corresponding analog switch is turned on, and only the first data line can be inspected carefully during the predetermined period TS3.
[0101]
In FIG. 20, a line-sequential digital driver 214 (same configuration as that in FIG. 8) may be provided instead of the dedicated test signal input circuit 2000. In this case, the digital driver 214 also functions as an inspection signal input circuit in addition to the function of driving the original data line.
[0102]
In the configuration of FIG. 20, both data line driving based on an analog video signal and data line driving based on a digital video signal are possible.
[0103]
If the liquid crystal display device of the present invention described above is used as a display device in a device such as a personal computer, the value of the product is improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1A is a diagram showing an overall configuration of an embodiment of a liquid crystal display device of the present invention, and FIG. 1B is a diagram showing a configuration of a pixel portion.
FIG. 2 is a diagram for explaining the features of the embodiment shown in FIG. 1;
3 is a circuit diagram showing the circuit configuration shown in FIG. 2 more specifically. FIG.
FIG. 4A is a diagram showing a data array of original video, and FIG. 4B is a diagram showing an example of a data array when data of the original video is arranged in time series by the technique used in the present invention. It is.
FIG. 5 is a diagram showing an example of a circuit configuration for processing an analog video signal into a multiplexed signal as shown in FIG. 4B.
6 is a diagram for explaining the main operation of the circuit of FIG. 5; FIG.
7 is a diagram showing an example of a circuit configuration for processing a digital video signal into a multiplexed signal as shown in FIG. 4B.
FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration example of a digital line sequential liquid crystal matrix driving circuit.
FIG. 9 is a timing chart showing operation timings of the circuits shown in FIGS. 1A, 2 and 3;
FIG. 10 is a timing chart showing the output timing of the output signal of the analog switch 261 in the circuits shown in FIGS. 1A, 2 and 3;
11A is a diagram showing a circuit configuration of a comparative example, and FIG. 11B is a signal waveform diagram showing problems of the circuit of FIG. 11A.
FIG. 12A is a diagram showing an essential part of the liquid crystal display device of the present invention shown in FIGS. 1 to 3, and FIG. 12B is a signal waveform diagram showing advantages of the circuit of FIG. 12A. is there.
FIG. 13A is a diagram showing a main configuration of another embodiment of the liquid crystal display device of the present invention, and FIG. 13B is a timing chart for explaining an operation example of the circuit of FIG. 13A.
FIG. 14 is a timing chart showing another operation example of the circuit shown in FIG. 13A.
FIG. 15 is a diagram showing an overall configuration of another embodiment of the liquid crystal display device of the present invention.
16A is a diagram showing an arrangement of data lines in the circuit of FIG. 15, FIG. 16B is a diagram showing a normal operation of the drive circuit of the present invention, and FIG. 16C is a diagram of the drive circuit of FIG. 16B. It is a figure which shows the operation example at the time of a defect inspection.
FIG. 17 is a timing chart for more specifically explaining the operation at the time of defect inspection of the drive circuit of the present invention shown in FIG. 16C;
18A is a diagram showing a configuration of a main part of a drive circuit according to the present invention, and FIG. 18B is a diagram showing an example of an operation at the time of defect inspection of the circuit of FIG. 18A.
FIG. 19A is a diagram showing a main configuration of the drive circuit of the present invention, and FIG. 19B is a timing chart showing a normal operation example of the drive circuit of FIG. 19A.
FIG. 20 is a diagram showing a configuration of another embodiment of the liquid crystal display device of the present invention.
FIG. 21 is a perspective view showing a structure of a liquid crystal display device.
FIG. 22A to FIG. 22E are cross-sectional views of devices in respective steps, showing an example of a manufacturing process for simultaneously forming TFTs constituting a driver section and TFTs constituting an active matrix.
23A is a diagram showing voltage-current characteristics of a p-channel TFT and an n-channel TFT, and FIG. 23B is a circuit diagram of a buffer circuit using the p-channel TFT and the n-channel TFT. FIG. 24 is a diagram showing an input waveform and an output waveform of the circuit of FIG. 23B.
24A shows a NAND gate using a p-channel TFT and an n-channel TFT, FIG. 24B shows an input waveform and an output waveform of the circuit of FIG. 24A, and FIG. 24C shows a p-channel TFT and an n-channel TFT. FIG. 24D is a diagram showing an exclusive OR gate using n-channel TFTs, and FIG. 24D is a diagram showing an input waveform and an output waveform of the circuit of FIG. 24C.
FIG. 25A is a diagram illustrating an example of a configuration of an analog switch, and FIG. 25B is a diagram illustrating a configuration of an analog driver.
[Explanation of symbols]
100 scanning line driving circuit, 200 data line driving circuit, 214 digital driver, 220 shift register, 222-226, 242-246 gate circuit, 240 gate circuit, 251 exclusive OR gate, 261 analog switch, 300 pixel part (active Matrix), 350 TFT, 370 liquid crystal element, 410, 414, 416, 440 MOS transistor, 412 data line capacitance, 418, 504 inverter, 420 holding capacitor, 400 buffer circuit (voltage follower),
502, 506 clocked inverter, 1000 analog video signal generator, 1100, 1110 timing controller, 1250 A / D conversion circuit, 1260 γ correction ROM, 1270 data recombination circuit, 1500 first latch, 1510 second latch 1600 D / A converter 2000 Inspection signal input circuit 3000 Counter substrate 3100 Active matrix substrate 4000 Glass substrate 4100 Insulating film 4200a 4200b 4200c Polysilicon island
4300 gate oxide film, 4400a, 4400b, 4400c gate electrode, 4500a, 4500b mask material, 4702 p-type source / drain region, 4700, 4900 n-type source / drain region, 4800a, 4800b mask material, 5000 interlayer insulating film, 5001, 5002,5004,5006,5008 Metal electrode, 6000 Final protective film, V1-V4 video signal, SP start pulse, CL1, nCL1 operation clock, t1, t2, t3, t4 time, GP scanning line selection pulse, D (n Data line, S1-S4 video signal line, SR shift register, S10 wiring, V1a-V1d digital video signal, E, nE output enable signal, BL horizontal blanking period, TG test enable signal, TC power supply voltage

Claims (4)

走査線とデータ線との交点に対応して液晶表示画素が形成されている液晶表示マトリックスと、前記走査線を駆動する走査線駆動回路と、前記データ線を駆動するデータ線駆動回路と、検査用の信号を前記データ線に入力するための検査用信号入力回路と、を有する液晶表示装置において、
前記データ線駆動回路は、前記データ線の各々の第1の端側に対応して設けられ、映像信号入力線を介して入力される映像信号をサンプリングするための複数のスイッチ回路を有し、
前記検査用信号入力回路が前記データ線の第2の端側に設けられ、前記検査用の信号を前記データ線の各々に一括して入力し、前記データ線と前記スイッチ回路とを介して、前記検査用の信号を前記映像信号入力線に出力させるように構成されることを特徴とする液晶表示装置。
A liquid crystal display matrix in which liquid crystal display pixels are formed corresponding to the intersections of the scanning lines and the data lines, a scanning line driving circuit for driving the scanning lines, a data line driving circuit for driving the data lines, and an inspection In a liquid crystal display device having an inspection signal input circuit for inputting a signal for use to the data line,
The data line driving circuit has a plurality of switch circuits provided corresponding to the first end side of each of the data lines, and for sampling a video signal input via a video signal input line,
The inspection signal input circuit is provided on the second end side of the data line, and the inspection signal is input to each of the data lines at once, via the data line and the switch circuit, A liquid crystal display device configured to output the inspection signal to the video signal input line.
走査線とデータ線の交点に対応して液晶表示画素が形成されている液晶表示マトリックスと、前記走査線を駆動する走査線駆動回路と、前記データ線を駆動するデータ線駆動回路と、検査用の信号を前記データ線に入力するための検査用信号入力回路と、を有する液晶表示装置の検査方法において、
前記データ線駆動回路は、複数段を備えるシフトレジスタと、
前記データ線の各々の第1の端側に対応して設けられ、映像信号入力線を介して入力される映像信号をサンプリングするための複数のスイッチ回路と、
を有し
前記検査用信号入力回路が前記データ線の第2の端側に設けられ、前記検査用の信号を前記データ線の各々に一括して入力し、
前記シフトレジスタで一つのパルスを順次シフトさせ、これにより、前記シフトレジスタの各段からパルスが出力され、前記各段からのパルスが対応する前記スイッチ回路をオンすることにより、前記検査用の信号を前記スイッチ回路及び前記映像信号入力線を介して受信して、前記データ線および前記スイッチ回路の電気特性の検査行うことを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
A liquid crystal display matrix in which liquid crystal display pixels are formed corresponding to the intersections of the scanning lines and the data lines, a scanning line driving circuit for driving the scanning lines, a data line driving circuit for driving the data lines, and an inspection In an inspection method for a liquid crystal display device, comprising: an inspection signal input circuit for inputting the signal to the data line;
The data line driving circuit includes a shift register having a plurality of stages,
A plurality of switch circuits provided corresponding to the first end side of each of the data lines, for sampling a video signal input via the video signal input line;
The inspection signal input circuit is provided on the second end side of the data line, and the inspection signal is input to each of the data lines in a batch.
By sequentially shifting one pulse in the shift register, a pulse is output from each stage of the shift register, and the test signal is turned on by turning on the switch circuit corresponding to the pulse from each stage. A method for inspecting a liquid crystal display device, wherein the electrical characteristics of the data line and the switch circuit are inspected by receiving the signal through the switch circuit and the video signal input line.
前記シフトレジスタへのクロック信号の供給を停止して、特定のスイッチ回路のみをオン状態とし、対応する特定のデータ線および前記特定のスイッチ回路の検査を行うことを特徴とする請求項2記載の液晶表示装置の検査方法。  3. The clock signal supply to the shift register is stopped, only a specific switch circuit is turned on, and a corresponding specific data line and the specific switch circuit are inspected. Inspection method for liquid crystal display devices. 走査線とデータ線の交点に対応して液晶表示画素が形成されている液晶表示マトリックスと、前記走査線を駆動する走査線駆動回路と、前記データ線を駆動するデータ線駆動回路と、を有する液晶表示装置において、
前記データ線駆動回路は、
複数段を備えるシフトレジスタと、
前記データ線の各々の第1の端側に対応して設けられ、前記シフトレジスタの出力に応じて映像信号をサンプリングするための複数のスイッチ回路と、
を有し、
前記データ線の各々の第2の端側には線順次デジタルドライバを有し、
前記線順次デジタルドライバは、
デジタル映像信号を取り込んで一時的に記憶する第1のラッチと、
前記第1のラッチの各ビットのデジタルデータを一括して取り込んで一時的に記憶する第2のラッチと、
前記第2のラッチの各ビットのデジタルデータを同時にアナログ信号に変換し、前記データ線を同時に駆動するD/Aコンバータと、
を有し、
前記線順次デジタルドライバを検査用の信号の入力回路として用いて、前記D/Aコンバータより検査用の信号を前記データ線に供給すること特徴とする液晶表示装置。
A liquid crystal display matrix in which liquid crystal display pixels are formed corresponding to intersections of the scanning lines and the data lines; a scanning line driving circuit for driving the scanning lines; and a data line driving circuit for driving the data lines. In liquid crystal display devices,
The data line driving circuit includes:
A shift register having a plurality of stages;
A plurality of switch circuits provided corresponding to the first end of each of the data lines, for sampling a video signal according to the output of the shift register;
Have
Each of the data lines has a line sequential digital driver on the second end side,
The line sequential digital driver is:
A first latch for capturing and temporarily storing a digital video signal;
A second latch that collectively captures and temporarily stores digital data of each bit of the first latch;
A D / A converter for simultaneously converting the digital data of each bit of the second latch into an analog signal and simultaneously driving the data lines;
Have
A liquid crystal display device using the line-sequential digital driver as an input circuit for an inspection signal, and supplying an inspection signal from the D / A converter to the data line.
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