JP3728787B2 - 半導体レーザモジュール - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体レーザモジュールに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、半導体レーザモジュールとしては、図4に示すように、パッケージAの内部にチップキャリアB及びL型キャリアCを介して半導体レーザDが設置されたものが知られている。この半導体レーザモジュールEは、箱状のパッケージAの内部に垂直部C1と水平部C2からなるL型キャリアCが配設され、パッケージA内床面に冷却用のペルチェ素子Fを介して固着されている。また、L型キャリアCの垂直部C1にはコリメートレンズGが取り付けられ、そのコリメートレンズGから所定距離おいて水平部C2にモニタ用のフォトダイオードHが取り付けられると共に、そのL型キャリアCのコリメートレンズGとフォトダイオードHの間にはサブマウントIを介して半導体レーザDを載置したチップキャリアBが配置されている。このチップキャリアBは、半田付けによりL型キャリアCに固着されている。この半導体レーザモジュールEによれば、半導体レーザDに電流が注入されることにより、半導体レーザDからレーザ光Jが射出され、コリメートレンズGで集光されてパッケージAから出力できるようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の半導体レーザモジュールEにあっては、チップキャリアBをL型キャリアCに半田付けする際に、それらのチップキャリアBとL型キャリアCの間からの半田材Kが流出して、その半田材Kの流出によりレーザ光Jの出力不良を引き起こしてしまうという問題がある。すなわち、半導体レーザモジュールEにおいて、半導体レーザDの配設位置は、レーザ光Jの射出する方向を決定することから非常に重要であり、その配設作業は正確に行う必要がある。このため、チップキャリアBをL型キャリアCに半田付けするときにチップキャリアBをできるだけL型キャリアCに密着させて位置決めを行うのが望ましいが、その密着によりチップキャリアBとL型キャリアCの間で半田材Kが強く押し挟まれるため、チップキャリアBとL型キャリアCの間から半田材Kが流出してしまう。そして、半田材Kの流出が半導体レーザDの位置まで及んでしまうと、レーザ光Jの射出の支障となりレーザ光Jの出力低下を招き、また半導体レーザDの電極間が短絡してレーザ光Jの出力が不能となってしまう。
【0004】
一方、半田材Kの流出を回避するために、チップキャリアBの半田付けに使用する半田材Kの量を調整することが考えられる。しかし、チップキャリアBは数mm程度の微小なものであるから、半田材Kの使用量を調整するのは困難であり、そのような調整を行うには専用の装置が必要となってしまう。
【0005】
そこで本発明は、以上のような問題点を解決するためになされたものであって、半導体レーザの取付作業性に優れた半導体レーザモジュールを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
すなわち本発明は、半導体レーザチップが搭載される第一キャリアと、L型に形成される水平部と垂直部を有し、その垂直部側に前記半導体レーザチップを配した状態で側面を前記垂直部に当接させ底面を前記水平部に当接させて前記第一キャリアが半田付けによって取り付けられる第二キャリアとを単一のパッケージ内に備えて構成され、前記第二キャリアの前記垂直部に余分な半田材を所定の方向へ流出させる逃し部が形成されていることを特徴とする。
また本発明は、半導体レーザチップが搭載される第一キャリアと、L型に形成される水平部と垂直部を有し、その垂直部側に前記半導体レーザチップを配した状態で側面を前記垂直部に当接させ底面を前記水平部に当接させて前記第一キャリアが半田付けによって取り付けられる第二キャリアとを単一のパッケージ内に備えて構成され、前記第一キャリアの前記側面に余分な半田材を所定の方向へ流出させる逃し部が形成されていることを特徴とする。
【0007】
このような発明によれば、第一キャリアを設置面に半田付けするとき、余分な半田材が逃し部を通じて所定の方向へ流出していく。このため、その余分な半田材が半導体レーザ側へ流出してレーザ光の出力に影響を与えることはない。
【0008】
また本発明は、前述の第一キャリアの逃し部は、底面と側面との境界部に沿って設けられていることを特徴とする。
【0009】
これらの発明によれば、前述の第一キャリアが設置面における水平面と垂直面に当接されて半田付けされるとき、半田材の溜まりやすい角部分に沿って逃し部が設けられているから、余分な半田材が確実に所望の方向へ流出されることとなる。このため、余分な半田材が半導体レーザ側へ流出することはない。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に基づき、本発明に係る実施形態の一例について説明する。なお、各図において同一要素には同一符号を付して説明を省略する。また、図面の寸法比率は説明のものと必ずしも一致していない。
【0013】
図1は半導体レーザモジュール1の断面図である。図1に示すように、半導体レーザモジュール1は、半導体レーザであるレーザダイオード2が内蔵されそのレーザダイオード2から発せられるレーザ光2aを光ファイバ81を通じて出力するものである。そのレーザ光2aを発するレーザダイオード2は箱型のパッケージ3内に配設されている。例えば、レーザダイオード2は、ヒートシンクとなるサブマウント21、第一キャリアであるチップキャリア3、第二キャリアであるL型キャリア4、冷却手段であるペルチェ素子5を介して、パッケージ6の内床面31上に設置されている。ペルチェ素子5は、熱電冷却により熱を吸収する冷却部材であって、所定の電流を供給されることとにより周囲の熱を吸収して冷却効果を発揮するものであり、パッケージ6の内床面31に固着されている。
【0014】
L型キャリア4は、図1に示すように、チップキャリア3、コリメートレンズ61、フォトダイオード62を取り付けるための部材であって、ほぼ直交する水平部41と垂直部42を有しており、その垂直部42を光ファイバ81側に位置させてペルチェ素子5上に固着されている。垂直部42には、それを貫通する方向にレーザ光2aの射出孔42aが開設されており、その射出孔42aの開設方向の延長上にコリメートレンズ61が取り付けられている。このコリメートレンズ61により射出孔42aを貫通するレーザ光2aが光ファイバ81に向けて集束されることとなる。一方、L型キャリア4の水平部41には、垂直部42から距離をおいてフォトダイオード62が配置されており、このフォトダイオード62の受光信号を計測することによりレーザダイオード2のレーザ光2aの出力状態を検知できるようになっている。
【0015】
また、図1に示すように、L型キャリア4における垂直部42とフォトダイオード62の間の水平部41上には、チップキャリア3が配置されている。すなわち、L型キャリア4の水平部41と垂直部42の内表面がチップキャリア3を半田付けするための設置面となっており、チップキャリア3の側面32が垂直部42の表面と当接し、チップキャリア3の底面31が水平部41の表面と当接した状態で、L型キャリア4上にチップキャリア3が半田付けされている。このチップキャリア3は、レーザダイオード2を所定位置に配置するためのスペーサとして機能し、かつ、レーザダイオード2が発する熱を拡散するためのヒートシンクとして機能するものであって、熱伝導性及び精密加工性に優れる素材により形成され、例えば、金属製のものが採用される。
【0016】
ここで、L型キャリア4とチップキャリア3の構造について説明すると、図2のように、L型キャリア4の水平部41と垂直部42の内側境界部には半田材7の逃し部である凹溝43が設けられ、チップキャリア3の側面32と底面31との角部には半田材7の逃し部である面取り部33が設けられており、チップキャリア3をL型キャリア4上に半田付けする際に余分な半田材7がそれらの面取り部33、凹溝43に沿って排出される構造となっている。凹溝43は、断面凹形の溝であって、水平部41と垂直部42の内側境界部に沿って形成されている。凹溝43の溝幅、深度及び断面形状は、余分な半田材7の排出が可能なように、チップキャリア3の寸法や使用する半田材7の材質などに応じて適宜設定すればよい。また、面取り部33は、チップキャリア3の側面32と底面31の角部を削り取ることにより形成されており、その面取り部33の形成寸法は、凹溝43と同様に、余分な半田材7の排出が可能なように、チップキャリア3の寸法や使用する半田材7の材質などに応じて適宜設定すればよい。なお、チップキャリア3における逃し部は、前述の面取り部33のように直線状にチップキャリア3の角部を削り取ったものに限られるものではなく、チップキャリア3の角部に沿って刻設される断面凹状の凹溝であってもよい。
【0017】
チップキャリア3上には、サブマウント21が固着されており、そのサブマウント21上にレーザダイオード2が直接取り付けられている。このサブマウント21は、チップキャリア3と同様に、レーザダイオード2を所定位置に配置するためのスペーサとして機能し、かつ、レーザダイオード2が発する熱を拡散するためのヒートシンクとして機能するものであって、熱伝導性及び精密加工性に優れる素材により形成される。また、このサブマウント21は、レーザダイオード2がL型キャリア4の射出孔42aの開設方向の延長上に位置するように配置される。
【0018】
レーザダイオード2は、光の発生及び増幅を行う活性領域を有し、その活性領域を挟んだ相対向する端面が高い光反射率を有する反射面となって共振器を形成しており、活性領域へ電流が注入されることにより光を発生し、その光を共振器で反射して増幅させ、一方の端面からレーザ光2aを射出するものである。このレーザダイオード2としては、例えば、InPからなるクラッド層の間にInGaAsPからなる活性領域が配設されたInGaAsP/InPのダブルヘテロ構造体のものが採用される。
【0019】
一方、パッケージ6の側壁には、ハーメチックガラス82が取り付けられ、レーザダイオード2から射出され射出孔42a、コリメートレンズ61を透過したレーザ光2aがそのハーメチックガラス82を通じてパッケージ6外へ出射できるようになっている。また、パッケージ6外には光ファイバ81が配設され、ハーメチックガラス82から射出されたレーザ光2aがアイソレータ83、第二レンズ84を透過しフェルール85内の光ファイバ81を通じて出力されるようになっている。
【0020】
次に半導体レーザモジュール1の製造工程について説明する。
【0021】
図1において、先ず、L型キャリア4上にチップキャリア3の固定を行う。その際、チップキャリア3上には、予めサブマウント21を介してレーザダイオード2を取り付けておく。チップキャリア3の固定は半田付けにより行う。その半田付けの工程を詳説すると、図2に示すように、加熱して流動状となった半田材7をL型キャリア4の水平部41上に供給する。その供給位置は、水平部41と垂直部42との境界部分であってもよい。そして、半田材7が供給されたL型キャリア4上へチップキャリア3を押し当てる。すなわち、L型キャリア4の水平部41にチップキャリア3の底面31が当接し、垂直部42にチップキャリア3の側面32が当接して、その水平部41と垂直部42の内隅部分にチップキャリア3が配置されるように、チップキャリア3を移動させる。
【0022】
すると、図3のように、L型キャリア4の水平部41上の半田材7は、移動するチップキャリア3の底面31との間に挟まれて、その水平部41に沿って広がっていく。そして、垂直部42側へ広がった半田材7は、垂直部42に到達すると、その垂直部42に沿って上方へ広がっていく。その際、水平部41と垂直部42との境界部分には、L型キャリア4の凹溝43とチップキャリア3の面取り部33による空間が形成されているので、その空間を通じてチップキャリア3の固定において余分な半田材7が排出されることとなる。このため、半田材7が垂直部42に沿った移動が抑制され、レーザダイオード2が配置される位置まで達することはない。そして、チップキャリア3をL型キャリア4の水平部41と垂直部42の内隅部分に密着させ、半田材7の硬化によりチップキャリア3が正確な位置に固定されることとなる。
【0023】
そして、図1のように、チップキャリア3を固定したL型キャリア4にコリメートレンズ61、フォトダイオード62を取り付けた後、そのL型キャリア4をパッケージ1内のペルチェ素子5上へ取り付ける。また、パッケージ6へのL型キャリア4の取付後もしくは取付前に、パッケージ6にレーザ光2aの射出窓となるハーメチックガラス82を取り付ける。そして、そのハーメチックガラス82の位置にレーザ光2aの光軸に合わせてアイソレータ83、第二レンズ84、光ファイバ81を取り付けて、半導体レーザモジュール1の製造を完了する。
【0024】
このような半導体レーザモジュール1によれば、チップキャリア3をL型キャリア4に半田付けする際に、余分な半田材7が凹溝43、面取り部33を通じて所定の方向へ排出されるから、余分な半田材7のレーザダイオード2側への流動を回避できる。このため、半田材7がレーザダイオード2の電極部分やレーザ光2aの出射経路へ流動することによりレーザ光2aの出力が不安定になったり出力不能になったりすることがなく、作動信頼性が向上する。また、チップキャリア3の固定に使用する半田材7の使用量を微妙に調整する必要がなく、確実にチップキャリア3を固定でき、チップキャリア3の取付作業性に優れている。また、L型キャリア4、チップキャリア3の角部分に凹溝43、面取り部33が形成されているから、余分な半田材7の排出効率に優れており確実に半田材7を排出できる。更に、チップキャリア3の設置面がパッケージ6と別個のL型キャリア4に形成されているから、パッケージ6内に設けられるべき凹溝43の形成が容易である。
【0025】
次に半導体レーザモジュール1のその他種々の実施形態について説明する。
【0026】
前述の半導体レーザモジュール1において、L型キャリア4の凹溝43は、水平部41と垂直部42の境界部分の位置以外に設けられていてもよい。例えば、水平部41又は垂直部42における内隅から離れた途中位置に凹溝43が設けられていてもよい。また、チップキャリア3の面取り部33は、底面31と側面32との角部以外に設けられていてもよい。その際、断面凹状の溝形状とすればよい。このような半導体レーザモジュールであっても、余分な半田材7が自由に流動するのを規制すること可能である。従って、前述同様に、レーザ出力における作動信頼性、チップキャリア3の取付作業性の向上が図れる。
【0027】
また、前述の半導体レーザモジュール1において、L型キャリア4の凹溝43又はチップキャリア3の面取り部33のいずれか一方の形成を省略してもよい。すなわち、L型キャリア4の凹溝43又はチップキャリア3の面取り部33のいずれか一方のみを設けることにより、チップキャリア3の半田付け時の余分な半田材7の排出経路を形成してもよい。このような場合であっても、前述同様に、レーザ出力における作動信頼性、チップキャリア3の取付作業性の向上が図れる。
【0028】
また、前述の半導体レーザモジュール1において、チップキャリア3の設置面はL型キャリア4以外に設けられていてもよい。その際、チップキャリア3の設置面が水平部と垂直部からなる直角面でなく、単なる平面状であってもよい。例えば、チップキャリア3の設置面が、パッケージ3の内床面31上に形成され、また、その他パッケージ3内に配設される部材の表面に形成されている場合などであってもよく、その場合、チップキャリア3に面取り部33が形成され、又はその設置面に凹溝43が形成されていれば、前述同様に、レーザ出力における作動信頼性、チップキャリア3の取付作業性の向上を図ることが可能である。
【0029】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、次のような効果を得ることができる。すなわち、第一キャリアの表面又はその第一キャリアの設置面のいずれか一方若しくは双方に逃し部が設けられていることにより、第一キャリアを設置面に半田付けするとき、余分な半田材が逃し部に沿って排出されるので、その余分な半田材が半導体レーザ側へ流出してレーザ光の出力に影響を与えることはない。このため、半導体レーザの発振不良を防止でき、所望のレーザ光を確実に出力することができる。また、第一キャリアを設置面に半田付けするとき、半田材の使用量を微妙に調整することなく半田付けが可能である。
【0030】
また、第一キャリアを水平部及び垂直部からなる設置面に半田付けする際に、その水平部と垂直部との内側境界部に沿って逃し部が設けられ、または、その第一キャリアの底面と側面との境界部に沿って逃し部が設けられることにより、第一キャリアがその設置面に半田付けされるとき、余分な半田材をその逃し部に溜めて確実に所望の方向へ排出できる。
【0031】
更に、第一キャリアの設置面がパッケージ内に固定される第二キャリアの表面に設けられることにより、逃し部が設けられる設置面がパッケージと別体となるから、逃し部の形成が容易となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】半導体レーザモジュールの断面図である。
【図2】半導体レーザモジュールにおける逃し部の説明図である。
【図3】半導体レーザモジュールにおける製造工程の説明図である。
【図4】従来の半導体レーザモジュールの説明図である。
【符号の説明】
1…半導体レーザモジュール、2…レーザダイオード(半導体レーザ)
3…チップキャリア(第一キャリア)、4…L型キャリア(第二キャリア)
6…パッケージ、7…半田材
Claims (3)
- 半導体レーザチップが搭載される第一キャリアと、
L型に形成される水平部と垂直部を有し、その垂直部側に前記半導体レーザチップを配した状態で側面を前記垂直部に当接させ底面を前記水平部に当接させて前記第一キャリアが半田付けによって取り付けられる第二キャリアと、
を単一のパッケージ内に備えて構成され、
前記第二キャリアの前記垂直部に、余分な半田材を所定の方向へ流出させる逃し部が形成されていること、
を特徴とする半導体レーザモジュール。 - 半導体レーザチップが搭載される第一キャリアと、
L型に形成される水平部と垂直部を有し、その垂直部側に前記半導体レーザチップを配した状態で側面を前記垂直部に当接させ底面を前記水平部に当接させて前記第一キャリアが半田付けによって取り付けられる第二キャリアと、
を単一のパッケージ内に備えて構成され、
前記第一キャリアの前記側面に、余分な半田材を所定の方向へ流出させる逃し部が形成されていること、
を特徴とする半導体レーザモジュール。 - 前記第一キャリアの逃し部は、前記底面と前記側面との境界部に沿って設けられていることを特徴とする請求項2に記載の半導体レーザモジュール。
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