JP3725699B2 - 光半導体素子の実装方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、光半導体素子の実装方法に関し、特に高精度な実装が可能な光半導体素子の実装方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図6は従来の光半導体装置の構造を示す側面図であり、シリコン(Si)基板1の表面上に半導体レーザチップ2とモニタフォトダイオードチップ3とが、ブロック部材を介さずに半田材10により、それぞれの表面が基板1の表面に対向するように、ジャンクションダウン、即ちそれぞれのpn接触している部分に近い面がSi基板1側になるように実装されている。半導体レーザチップ2の表面近傍には活性層2aが設けられ、モニタフォトダイオードチップ3の表面の所定の領域には受光部6が設けられている。モニタフォトダイオードチップ3は、その表面に設けられた所定の厚さの金メッキ4を介して半田材10により基板1と固着されている。前端面から出射光7を出力する半導体レーザチップ2はその活性層2aの後端面側から出力されるモニタ光8の一部が、基板1表面に反射されて受光部6に入力されるように、モニタフォトダイオードチップ3と所定の間隔9だけ離れた位置に配置されている。モニタフォトダイオード3と基板1表面との高さ5は金メッキ3と半田材10とをあわせた厚さにより決定される。
【0003】
この従来の光半導体装置においては、半導体レーザチップ2及びモニタフォトダイオードチップ3と基板1との間にブロック部材を使用しないで半田材10を用いて実装ができるため、低コストなチップの実装が実現できる。しかしながら、モニタフォトダイオードチップ3に関しては、受光部6をSi基板1側に向けてダイボンドし、半導体チップ2の後端面からのモニタ光8をSi基板1の表面に反射させてから入射させるため、例えばチップ間距離9を10μmとすると、このモニタ光量を一定量に保つためには、モニタフォトダイオードチップ3の受光部6のSi基板1の表面に対する高さ5をSi基板1の表面から精度良く20μm±2μm程度に制御してやる必要がある。従来はこの高さ制御の方法として、モニタフォトダイオードチップ3の表面にウェハプロセス時に20μm±2μmの金メッキ4をあらかじめ形成し、図6に示すように、この金メッキ4を高さ方向のスペーサ材として使用する方法をとっていたが、この方法では20μmという厚い金メッキを施さねばならないため、±2μmの精度で厚さ制御をすることが難しく、装置ごとにこの高さ5がばらついてしまい、結果としてモニタ光量を安定化させた光半導体装置を製造できなかった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
以上のように、従来は、モニタフォトダイオードチップ等の光半導体素子を、基板1の高さ方向において、位置精度よく実装させることができないという問題があった。
【0005】
この発明は上記のような課題を解消するためになされたものであり、基板の高さ方向において、位置精度よく光半導体素子を実装することができる光半導体素子の実装方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る光半導体素子の実装方法は、基板を用意し、この基板の表面に断面形状が同一である複数の溝を形成し、直径が同一である複数の繊維状スペーサを用意し、上記溝上にこの複数の繊維状スペーサを配置し、平坦な表面を有する光半導体素子を、その表面が上記複数の繊維状スペーサと接するよう、上記複数の繊維状スペーサ上に配置するようにしたものである。
【0007】
また、上記光半導体素子の実装方法において、上記基板は、シリコンからなり、上記溝の断面形状は、V字形状又は台形形状のいずれか一方であるようにしたものである。
【0008】
また、上記光半導体素子の実装方法において、上記繊維状スペーサを光ファイバとしたものである。
【0018】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1に係る光半導体素子の実装方法を示す、モニタ光の光軸に対して垂直な側面図であり、ここでは特に光半導体素子としてモニタフォトダイオードチップ3を用いた場合について説明する。図において、50は光半導体装置であり、Si基板1は、その表面に断面形状が同一のV字形状である溝11(以下,V溝と称す)を2つ以上備えている。同じ直径の光ファイバ12がそれぞれのV溝11上に配置されている。V溝11は光ファイバ12の最上部がSi基板1表面よりも高い位置に位置するような形状となっている。平坦な表面を有するとともに、この表面の所定の領域に受光部6を備えたモニタフォトダイオードチップ3は、その表面が各光ファイバ12に接するように、その表面がSi基板1の表面に対向するように配置され、Si基板1表面に配置された半田材10により固着されている。半田材のかわりに樹脂等の他の固着材を用いるようにしてもよい。なお、Si基板1上にはモニタ光がSi基板1表面で反射されて受光部6に入るようにレーザダイオード素子も配置されるがここでは省略している。
【0019】
以下、実装方法について説明する。まず、図1(a) に示すように、深さが高精度に制御されたV溝11を備えたSi基板1を準備する。このV溝は繊維状スペーサとなる光ファイバ12の高さ調整のために用いられるものであり、例えばSi基板1表面をSiNからなるマスクで覆い、ついで同マスクにストライプ状の抜きパターンを形成し、これをマスクとしてSi基板1表面をKOH溶液でエッチングすると、エッチング面としてSi結晶固有の面方位が表れ、その面により構成されるV溝が形成されると、エッチングがそれ以上進まなくなるため、最終的にマスクのストライプパターン幅を開口幅とした深さの安定した加工精度の良いV溝11が得られる。加工精度としては深さ、幅ともに±1μm以下が可能である。
【0020】
ついで、図2(b) に示すように、このV溝11内に光ファイバ12を落とし込み、半田材10もSi基板1上に載せる。
【0021】
続いて、モニタフォトダイオードチップ3をその表面がSi基板1表面に対向するように、キャピラリ13で光ファイバ12の方へ押さえつけた状態で、半田材10を加熱・冷却して、融解・凝固を行い、Si基板1上にモニタフォトダイオードチップ3を実装する。これにより、モニタフォトダイオードチップ3の平坦な表面と、光ファイバ12との間および光ファイバ12とSi基板1との間に余分な隙間を生じることなく、これらが相互に接するようにモニタフォトダイオードチップ3を実装できる。
【0022】
その後、図示していないが、Si基板1上にモニタ光がSi基板1表面で反射されて受光部6に入るようにレーザダイオード素子を配置する。
【0023】
このようにしてモニタフォトダイオードチップ3が実装されて得られた光半導体装置においては、上述のように、Si基板1を用いたことにより、V溝11の幅・深さが精密に制御できる。また、スペーサ材として挿入される光ファイバ12は直径125±1μmの精度のものが一般的に市販されているので容易に入手可能である。このため、直径の精度の高い光ファイバ12を高精度に形成可能なV溝に配置することで、モニタフォトダイオードチップ3における受光部6の、Si基板1表面からの高さ5は所望の高さに対して±2μmの精度で制御することができる。また、この所望の高さ5そのものはV溝11の幅と深さを替えることで光ファイバ12のV字溝11への落とし込み量を調整することにより、自由に変えることができることから、基板1表面とモニタフォトダイオードチップ3との間隔に合わせた直径のスペーサを新たに設計し作製することなく、一般に容易に入手可能な既存の光ファイバを用いて高さ調整を高精度に行うことができる。
【0024】
このように、本実施の形態1によれば、Si基板1を用意し、この基板の表面に断面形状が同一である複数のV溝11を形成し、直径が同一である複数の光ファイバ12を用意し、V溝11上にこの複数の光ファイバ12をそれぞれ配置し、平坦な表面を有するともに、この表面に受光部6を備えたモニタフォトダイオードチップ3を、その表面が上記複数の光ファイバと接するよう、上記複数の光ファイバ上に配置し、Si基板1と半田材10により固着させるようにしたから、Si基板1表面とモニタフォトダイオードチップ3表面との高さ方向の距離を、高さ精度のよい均一な高さの光ファイバ12を、形状の制御を精度よく行える均一な形状の高さ制御用のV溝11に落とし込んだ状態とした時の高さとして、Si基板1の高さ方向において、位置精度よくモニタフォトダイオードチップ3を配置することができ、Si基板1表面に対する受光部6の高さ5を高精度に制御して、モニタ光量を安定化させた光半導体装置を提供できる効果がある。
【0025】
なお、本実施の形態1においては、V溝11を設けたものについて説明したが、本発明においては、断面形状が台形形状である溝を用いるようにしてもよい。このような台形形状の溝も、Si基板1を用いればV溝を形成する工程と同様の工程で、V溝となる前にエッチングを停止させることにより、容易に精度よく形成することが可能であり、このような溝を用いても上記実施の形態1と同様の効果を奏する。
【0026】
また、本実施の形態1においては、繊維状スペーサとして光ファイバを用いて説明したが、高精度に直径を制御したものが入手可能であれば、グラスファイバ等の、他の繊維状部材からなる繊維状スペーサを用いるようにしても同様の効果を奏する。
【0027】
実施の形態2.
図2は、本発明の実施の形態2に係る光半導体素子の実装方法を示す、モニタ光の光軸に対して垂直な側面図であり、この実施の形態2はSi基板21とモニタフォトダイオード3とを同一の直径を有する複数の粒状材14aを粒状スペーサとして含む半田材14により固着することにより、Si基板21表面と受光部6との距離を精度よく制御できるようにしたものである。
【0028】
図において、図1と同一符号は同一又は相当する部分を示している。光半導体装置51は、表面が平坦なSi基板21上方に、表面に受光部を備えたモニタフォトダイオードチップ3が、その表面がSi基板21の表面に対向するように配置され、Si基板21とモニタフォトダイオードチップ3との表面同士が、粒状材(フィラー)入りの半田材14により固着されている。この半田材14には、粒状材14aとして、耐熱性を有し、一定の直径を持つ球状の粒が複数混ぜられている。この場合、粒状材としては半田材の融点まであげても融解・変形せず、形状を保てる材質、例えば石英のもの等を使用すればよい。また、半田の変わりに樹脂等の他の固着材を用いるようにしてもよい。さらに、粒状材として短径の同一である扁平型の球状の粒状スペーサや、同一直径の繊維状スペーサを同一長さで短冊状に寸断してなる粒状スペーサを用いるようにしてもよい。また、Si基板21の変わりに他の材料からなる基板を用いるようにしてもよく、基板として通常のヒートシンク材等を利用してもよい。なお、Si基板21上にはモニタ光がSi基板21表面で反射されて受光部6に入るようにレーザダイオード素子も配置されるがここでは省略している。
【0029】
次に実装方法について説明する。まず、図2(a) に示すように、粒状材入りの半田材14をSi基板21上に載せ、次に図2(b) に示すように、モニタフォトダイオードチップ3をキャピラリ13で粒状材入りの半田材14の上に載せ、同キャピラリ13でモニタフォトダイオードチップ3をSi基板21の方へ向けて押さえつけた状態で加熱・冷却し、粒状材入りの半田材14の融解・凝固を行い、チップをSi基板1上に固定する。
【0030】
その後、図示していないが、Si基板21上にモニタ光がSi基板21表面で反射されて受光部6に入るようにレーザダイオード素子を配置する。
【0031】
このようにすればSi基板21の表面と粒状材14a、及びモニタフォトダイオードチップ3の表面と粒状材14aとが、それぞれ接することとなり、モニタフォトダイオードチップ3の受光部6についてSi基板21表面からの高さ5を粒状材の直径により決まる高さにすることができる。例えば、20±2μmの直径を有する粒状材を用いれば従来例では実現の難しかった20±2μmの高さ制御が実現可能となる。20±2μmの直径を有する粒状材の作製は、例えば光学用球レンズの作製方法によれば可能である。
【0032】
このように、本実施の形態2によれば、Si基板21表面とモニタフォトダイオードチップ3表面とを、同一の直径の球状の粒を複数有する半田材14を用いて、それぞれの表面がこの球状の粒に接するよう固着させるようにしたから、Si基板21表面とモニタフォトダイオードチップ3表面との高さ方向の距離を、精度よく形成された直径が均一な粒状材14aの高さとして、Si基板21表面に対する受光部6の高さ5を高精度に制御して、モニタ光量を安定化させた光半導体装置を提供できる効果がある。
【0033】
実施の形態3.
図3は本発明の実施の形態3に係る光半導体素子の実装方法を示す、モニタ光の光軸に対して垂直な側面図であり、図において図1、図2と同一符号は同一又は相当する部分を示している。なお、Si基板21上にはモニタ光がSi基板21表面で反射されて受光部6に入るようにレーザダイオード素子も配置されるがここでは省略している。この実施の形態3は、Si基板21の表面及びモニタフォトダイオードチップ3の受光部6が形成されている表面に反射膜15a,15bをそれぞれ設けて、反射膜15a,15bによって反射可能な波長のレーザ光16を外部から、モニタフォトダイオードチップ3の裏面側より照射してこれを反射膜15a,15bによって反射させ、反射光17a,17bの強度をモニタしながらモニタフォトダイオードチップ3のSi基板1からの高さ5を制御するものである。
【0034】
次に実装方法について説明する。まず、Si基板21表面及びモニタフォトダイオードチップ3表面にそれぞれ厚さが略同一である反射膜15a,15bをそれぞれ形成しておく。この反射膜15a,15bは例えばメタルを蒸着することにより容易に形成可能である。そして、図3(a) に示すように、モニタフォトダイオードチップ3をキャピラリ13に吸着させた後、モニタフォトダイオードチップ3を受光部6がSi基板21表面に対向するように、あらかじめ半田材10等の固着材を配置しておいたSi基板21上へ押さえつける。この場合、半田材10を加熱により融着させておくとモニタフォトダイオード3とSi基板21は反射膜15a,15bを介して密着し、モニタフォトダイオードチップ側の反射膜15bと基板の反射膜15aとは略同一平面上に、即ち略同一の高さに位置することになる。
【0035】
ここで、モニタフォトダイオードチップ3の裏面よりSi基板21表面に対して垂直に外部からレーザ光16を入射させ、モニタフォトダイオードチップ3を透過したレーザ光16がSi基板21の反射膜15aにより反射された反射光17aとモニタフォトダイオードチップ3の反射膜15bにより反射された反射光17bとをそれぞれ区別してモニタフォトダイオードチップ3の裏面より光カプラ18の入力ポート18a,18bにそれぞれ入射させる。そして、入力ポート18a,18bにそれぞれ入力された反射光17a,17bを光カプラ18経由で光パワーメータ19に入力させ、それぞれの光強度を光パワーメータ19でモニタする。光カプラ18の2つの入力ポート18a,18bのうち片方のポート、ここでは入力ポート18b、には光結合部である光カプラ18に至る前に光の位相を調整する光位相調整器20を設けておく。この光位相調整器20を調整すれば、モニタフォトダイオード3の反射膜15aとSi基板21の反射膜15bから反射された光の干渉によってきまる光強度をモニタできる。光パワーメータ19でモニタされる光強度と反射膜15a,15b間の高さ方向の距離、即ちモニタフォトダイオードチップ3表面の高さ5との関係は、図4に示すようになり、モニタフォトダイオードチップ3とSi基板21が密着した状態、即ち、図にaとして示すように、高さ=0の状態で光強度を最大とすることができる。
【0036】
次に、この高さ=0の状態からモニタフォトダイオードチップ3を徐々にSi基板21から離していくと、光パワーメータ19でモニタしている光カプラ18の入力ポート18a,18bに入力される反射光17a,17bの光強度は、図4に示すように周期的に変動する。その周期はモニタフォトダイオード3からの反射光17bとSi基板21からの反射光17aの干渉によってできるため、1周期の距離がレーザ光16の1波長分に相当する。従って、レーザ光16の波長として2.0μmの波長を使用すれば、図4に示す光強度の周期的な変動は2.0μmの周期で発生することになる。第n周期目のピークbにきたところでモニタフォトダイオードチップ3の移動を止めれば、モニタフォトダイオードチップ3をSi基板21からの高さ5が2×nμmのところで止めることができる。ここで半田材10を冷却すれば、所望の高さでチップを固定でき、光半導体装置52が得られる。例えば、20μmの高さで固定したい場合は、第10周期(n=10)のピークで止めればよい。
【0037】
その後、図示していないが、Si基板21上にモニタ光がSi基板21表面で反射されて受光部6に入るようにレーザダイオード素子を配置する。
【0038】
このように、本実施の形態3によれば、Si基板21表面に反射膜15aを設け、モニタフォトダイオードチップ3の表面に反射膜15bを設け、Si基板21とモニタフォトダイオードチップ3とを、その表面同士が互いに対向するように、半田材10を挟み込んで配置し、上記モニタフォトダイオードチップ3の裏面側からレーザ光16を照射し、このレーザ光16の反射膜15a,15bによる反射光17を用いて上記反射膜15a,15b間の基板に対する高さ方向における距離をモニタしながら、Si基板21表面とモニタフォトダイオードチップ3表面との間隔を調整した後、半田材10でSi基板21とモニタフォトダイオードチップ3とを固着するようにしたから、Si基板21表面に対する受光部6の高さ5の制御をモニタの検出精度まで高めることができ、モニタ光量を安定化させた光半導体装置を提供できる効果がある。
【0039】
また、半田材10等の固着材のみを用いてモニタフォトダイオードチップ3を高さ方向において固定するため、高さを確保するためのスペーサ材等を用いる必要がなく、部品点数を減らして低コストな光半導体装置を提供できる効果がある。
【0040】
実施の形態4.
図5は本発明の実施の形態4に係る光半導体素子の実装方法を示す側面図であり、図において、図1、図2と同一符号は同一又は相当する部分を示している。なお、Si基板21上にはモニタ光がSi基板21表面で反射されて受光部6に入るようにレーザダイオード素子も配置されるがここでは省略している。この実施の形態4は、Si基板21上にモニタフォトダイオードチップ3を配置した状態で、両者が接近している部分近傍の一側面にレーザ光26を当て、その反射光27の強度をモニタしながら、モニタフォトダイオードチップ3のSi基板21からの高さ5を制御するものである。
【0041】
まず、図5(a) に示すように、Si基板21上に半田材10を配置するとともに、半田材10を融解させた状態にしておき、キャピラリ13を用いてモニタフォトダイオードチップ3をその表面がSi基板21の表面に対向するようSi基板21に押しつける。この状態で、モニタフォトダイオードチップ3の側面とSi基板21の側面とにより構成される一側面の、モニタフォトダイオードチップ3とSi基板21とが向かいあっている部分の近傍領域に、側面からビーム径が一定であるレーザ光26を当てる。ここでは特にモニタフォトダイオードチップ3表面とSi基板21表面との中間地点がその照射されるビーム径の中心となるようにレーザ光26を照射する。そして、この側面において反射された反射光27の強度を光パワーメータ29により受光しモニタする。そして、このモニタ状態のまま、キャピラリ13を上方に移動させ、徐々にモニタフォトダイオードチップ3の高さ5を上げていく。
【0042】
図7は反射光27の光強度と高さ5との関係を示す図であり、高さを上げると光強度が弱くなることがわかる。
【0043】
そして、モニタフォトダイオードチップ3の表面のSi基板21表面に対する高さを例えば20μmの高さに固定したいのであれば、あらかじめ20μmの高さで精度よく組み立てた光半導体部材に同じ条件でレーザ光26を当てた場合の反射光27の強度を測定しておき、図5(b) に示すように、この強度と、光パワーメータ29でモニタされる反射光27の強度とが等しくなったところ、即ち図7のb点でモニタフォトダイオードチップ3の上昇を止めて、半田材10を冷却すれば、モニタフォトダイオードチップ3表面のSi基板からの高さ5を20μmとしたところでモニタフォトダイオードチップ3を固定することができる。半田材のかわりに他の固着材を用いるようにしてもよい。モニタフォトダイオードチップ3とSi基板21とを積み重ねたものにおいて、側面での単位面積当たりの反射量がいつも同一である場合、即ちモニタフォトダイオードチップ3及びSi基板21の側面の鏡面精度が同一である場合には、反射光27に基づいてモニタ結果から決定したチップ高さの精度は、光パワーメータ29の測定精度で決まるが、この精度は現時点で15%以下にすることができるため、1μm以下の精度で高さ制御が可能である。例えば、モニタフォトダイオードチップ3とSi基板21の側面にあたるレーザ光16のビーム直径を例えば20μmとした場合に、図5(c) に示すように、反射光がなくなった時点でチップの移動を止めれば、1μm以下、即ち20μmの5%以下の精度で高さ制御できることが明らかである。なお、Si基板21とモニタフォトダイオードチップ3との側面、即ち反射面を鏡面とすることは、結晶方位を利用した劈開や鏡面研磨で容易に実現できる。
【0044】
その後、図示していないが、Si基板21上にモニタ光がSi基板21表面で反射されて受光部6に入るようにレーザダイオード素子を配置する。
【0045】
このように、本実施の形態4によれば、Si基板21とモニタフォトダイオードチップ3とを、その表面同士が互いに対向するように、半田材10を挟み込んで配置し、Si基板21の側面とモニタフォトダイオードチップ3の側面とからなる一側面に、一定のレーザ光26を照射するとともに、この光の一側面による反射光27の反射量をモニタしながら、この反射量があらかじめ定めた所定値となるようにSi基板21とモニタフォトダイオードチップ3との間隔である高さ5を調整した後,上記半田材10でSi基板21とモニタフォトダイオードチップ3とを固着するようにしたから、Si基板21表面に対する受光部6の高さ5をモニタの検出精度まで高めることができ、モニタ光量を安定化させた光半導体装置を提供できる効果がある。
【0046】
また、半田材10等の固着材のみを用いてモニタフォトダイオードチップ3を高さ方向において固定するため、高さを確保するためのスペーサ材等を用いる必要がなく、部品点数を減らして低コストな光半導体装置を提供できる効果がある。
【0047】
なお、上記実施の形態1〜4においては、フォトダイオードを用いたものについて説明しているが、他の光半導体素子を用いたものであってもよく、本発明と同様の効果を奏する。
【0048】
【発明の効果】
以上のようにこの発明によれば、基板を用意し、この基板の表面に断面形状が同一である複数の溝を形成し、直径が同一である複数の繊維状スペーサを用意し、上記溝上にこの複数の繊維状スペーサを配置し、平坦な表面を有する光半導体素子を、その表面が上記複数の繊維状スペーサと接するよう、上記複数の繊維状スペーサ上に配置するようにしたから、基板表面と光半導体素子表面との間隔を、高さ精度のよい均一な高さの繊維状スペーサを均一な形状の溝に落とし込んだ状態とした時の、繊維状スペーサの基板表面に対する高さとして、基板の高さ方向において、位置精度よく光半導体素子を配置することができる光半導体素子の実装方法を提供できる効果がある。
【0049】
また、この発明によれば、上記基板は、シリコンからなり、上記溝の断面形状は、V字形状又は台形形状のいずれか一方であるようにしたから、面方位選択性を有するエッチングにより、高精度に溝の形状を制御することができ、基板の高さ方向において、位置精度よく光半導体素子を配置することができる光半導体素子の実装方法を提供できる効果がある。
【0050】
また、この発明によれば、上記繊維状スペーサを光ファイバとしたから、基板表面と光半導体素子表面との間隔を、高さ精度のよい均一な高さの光ファイバを均一な形状の溝に落とし込んだ状態とした時の、光ファイバの基板表面に対する高さとして、基板の高さ方向において、位置精度よく光半導体素子を配置することができる光半導体素子の実装方法を提供できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1に係る光半導体素子の実装方法を示す側面図である。
【図2】 この発明の実施の形態2に係る光半導体素子の実装方法を示す側面図である。
【図3】 この発明の実施の形態3に係る光半導体素子の実装方法を示す側面図である。
【図4】 この発明の実施の形態1に係る光半導体素子の実装方法を説明するための図である。
【図5】 この発明の実施の形態4に係る光半導体素子の実装方法を示す側面図である。
【図6】 従来の光半導体素子の実装方法を説明するための図である。
【図7】 この発明の実施の形態4に係る光半導体素子の実装方法を説明するための図である。
【符号の説明】
1,21 Si基板、2 半導体レーザチップ、2a 活性層、3 モニタフォトダイオードチップ、4 金メッキ、5 高さ、6 受光部、7 出射光、
8 モニタ光、9 チップ間距離、10 半田材、11 V溝、12 光ファイバ、13 キャピラリ、15a,15b 反射膜、16,26 レーザ光、
17a,17b,27 反射光、18 光カプラ、18a,18b 入力ポート、19,29 光パワーメータ、20 光位相調整期、50,51,52 光半導体装置。
Claims (3)
- 基板を用意し、この基板の表面に断面形状が同一である複数の溝を形成し、
直径が同一である複数の繊維状スペーサを用意し、上記溝上にこの複数の繊維状スペーサを配置し、
平坦な表面を有する光半導体素子を、その表面が上記複数の繊維状スペーサと接するよう、上記複数の繊維状スペーサ上に配置することを特徴とする光半導体素子の実装方法。 - 請求項1に記載の光半導体素子の実装方法において、
上記基板は、シリコンからなり、
上記溝の断面形状は、V字形状又は台形形状のいずれか一方であることを特徴とする光半導体素子の実装方法。 - 請求項1に記載の光半導体素子の実装方法において、
上記繊維状スペーサは光ファイバであることを特徴とする光半導体素子の実装方法。
Priority Applications (1)
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JP19259598A JP3725699B2 (ja) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | 光半導体素子の実装方法 |
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JP19259598A JP3725699B2 (ja) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | 光半導体素子の実装方法 |
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