JP3692712B2 - 発光分光分析装置及び該装置を用いたデータ処理方法 - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、イメージセンサを具備してなる発光分光分析装置と、この発光分光分析装置を用いて実行されるデータ処理方法とに関する。
【0002】
【従来の技術】
図示省略しているが、一般的な発光分光分析装置においては、発光スタンドやプラズマトーチなどの発光部で発生した試料からの放射光が集光レンズを通ったうえで分光部内の入口スリットへと導かれ、かつ、入口スリットから出た放射光が回折格子によって波長の相違するスペクトル光として分光されることになり、分光して得られたスペクトル光のそれぞれはフォトマルチプライヤやイメージセンサなどのような光検出器でもって検出されることになっている。そして、光検出器から測光部、つまり、積分器などからなる測光部を介して検出された測光データはマイクロ・コンピュータを利用して構成されたデータ処理部でもって処理されることになり、この際のデータ処理では試料に含まれた元素の定性分析や定量分析が実行されている。なお、光検出器として用いられるイメージセンサの具体例としては、多数個の受光用素子(ピクセル)が基板上に並列して設けられたフォトダイオードアレイやCCDなどが挙げられる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、光検出器であるイメージセンサを具備して構成された発光分光分析装置においては、フォトダイオードアレイやCCDなどを構成するピクセルの相互間に感度バラツキが存在しており、製造段階などで発生するピクセル相互間の感度バラツキをなくすことは困難であるため、イメージセンサを介して検出されたスペクトル光それぞれの強度が感度バラツキの影響を受けてしまうこととなる結果、測光データに誤差が含まれることは避けられず、測光データの誤差を排除できないという不都合が生じることになっていた。
【0004】
本発明は、このような不都合に鑑みて創案されたものであり、イメージセンサを構成するピクセルの相互間に存在している感度バラツキの影響が測光データに及ぶことを防止できる発光分光分析装置と、この発光分光分析装置を用いた際におけるデータ処理方法との提供を目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る発光分光分析装置は、回折格子でもって分光されたスペクトル光を検出するイメージセンサが配設された分光部と、イメージセンサを介して検出された測光データを処理するデータ処理部とを備えてなるものであり、分光部にはイメージセンサを構成するピクセルの全体に対して同一の光を照射する補正用光源が配設されているとともに、データ処理部には、補正用光源の光照射時におけるピクセルごとの検出値の相違に対応したバラツキ補正係数を算出して記憶しており、かつ、スペクトル光の測光処理時における各ピクセルからの検出値をバラツキ補正係数に基づいて補正する測光データ補正手段が設けられていることを特徴とする。
【0006】
本発明に係るデータ処理方法は、上記構成とされた発光分光分析装置を用いることによって実行されるデータ処理方法であり、補正用光源からイメージセンサに対して同一の光を照射し、イメージセンサを構成するピクセルごとのバラツキ補正係数を算出したうえで記憶しておいた後、スペクトル光の測光処理に伴って得られた各ピクセルの検出値をバラツキ補正係数に基づいて補正することを特徴としている。そして、このようなデータ処理方法を採用した際には、イメージセンサを構成しているピクセルの相互間に存在する感度バラツキの影響が測光データにまでは及ばず、誤差を含まない正確な測光データが得られることになる。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【0008】
図1は本実施の形態に係る発光分光分析装置の構成を簡略化して示す説明図、図2は発光分光分析装置が備えるイメージセンサを構成するピクセルとバラツキ補正係数との対応関係を例示する説明図である。
【0009】
本実施の形態に係る発光分光分析装置は、従来の形態と同じく、発光スタンドやプラズマトーチなどからなる発光部1と、発光部1内で発生した試料(図示省略)からの放射光L1が集光レンズ(図示省略)及び入口スリット2を通過して導かれたうえで分光される回折格子3と、回折格子3でもって分光されたうえで波長が互いに異なるスペクトル光L2のそれぞれを検出するための光検出器として機能するイメージセンサ4と、イメージセンサ4を介して検出された測光データ、つまり、イメージセンサ4に接続された積分器などからなる測光部5を通じて出力される測光データを演算処理するマイクロ・コンピュータであるところのデータ処理部6とを備えている。なお、イメージセンサの具体例としては、フォトダイオードアレイやCCDなどが挙げられる。
【0010】
そして、この際における入口スリット2及び回折格子3、イメージセンサ4のそれぞれは真空排気処理される分光部7内の所定位置ごとに位置決めしたうえで配設されており、この分光部7内における回折格子3の近傍位置には、イメージセンサ4を構成するピクセル4aの全体に対して同一の光を照射するための補正用光源8が配設されている。すなわち、この補正用光源8は、具体的にはレーザ光源などを利用して構成されたものであり、例えば、完全な暗室内でイメージセンサ4の各ピクセル4aと一定距離を保ちつつ、一定速度でレーザ光源を平行移動させながら同一の光を照射することにより、イメージセンサ4を構成するピクセル4aの相互間に存在する感度バラツキを補正する際に使用されるものとなっている。なお、各ピクセル4aにおける強度が同一となる光を照射する必要上、補正用光源8はイメージセンサ4からできる限り遠方の位置に配設されていることが好ましく、この補正用光源8は発光分光分析装置の操作部(図示省略)に設けられた操作ボタンなどを利用して入力される指示に基づいて光照射を実行することになっている。
【0011】
また、本実施の形態に係る発光分光分析装置が備えるデータ処理部6には、補正用光源8の光照射時におけるイメージセンサ4のピクセル4aごとでもって検出される検出値の相違に対応したバラツキ補正係数を算出したうえで記憶し、かつ、スペクトル光の測光処理時における各ピクセル4aからの検出値をバラツキ補正係数に基づいて補正するための測光データ補正手段9が設けられている。すなわち、補正用光源8から同一の光が照射されてきた際には、イメージセンサ4を構成する各ピクセル4aの検出値が等しくなるはずであるにも拘わらず、これらピクセル4aの相互間には感度バラツキが存在しているため、各ピクセル4aの検出値が等しくはならず、互いに相違することになってしまう。
【0012】
そこで、この測光データ補正手段9では、各ピクセル4aの検出値全体をピクセル4aの個数でもって除した平均値を算出したうえ、算出された平均値を基準値、つまり、1としたうえでピクセル4aそれぞれの検出値が基準値から離れている程度をバラツキ補正係数としてメモリ(図示省略)によって記憶することが行われる。すなわち、この際においては、図2で例示するように、第1番目ピクセル4aのバラツキ補正係数が0.98、第2番目ピクセル4aのバラツキ補正係数が1.14であり、かつ、第n−1番目ピクセル4aのバラツキ補正係数が0.90、第n番目ピクセル4aのバラツキ補正係数が1.02であるというような対応付けに基づく記憶が行われている。なお、バラツキ補正係数を算出するに際しては、ピクセル4a全体における検出値の平均値をバラツキ補正係数の基準値とするのが実用的であるが、ある特定された1つのピクセル4aにおける検出値を基準値としてもよく、このような場合にあっては、特定されたピクセル4aの検出値から他のピクセル4aそれぞれの検出値が離れている程度をバラツキ補正係数としておくことになる。
【0013】
さらに、本実施の形態に係る発光分光分析装置を使用することによっては従来と同様の手順に従ったスペクトル光の測光処理が実行されることになり、スペクトル光の測光処理時におけるイメージセンサ4のピクセル4aそれぞれから得られる検出値に対しては、予め各ピクセル4aと対応付けたうえで記憶されているバラツキ補正係数の各々が測光データ補正手段9によって乗じられる。そこで、この際におけるイメージセンサ4から測光部5を介して検出されたうえでデータ処理部6によって処理される測光データは、イメージセンサ4を構成しているピクセル4aの相互間における感度バラツキを考慮したうえで補正されていることになり、結果的にはピクセル4aの相互間における感度バラツキの影響が及んでいない測光データがデータ処理部6でもって処理されることになる。
【0014】
すなわち、この発光分光分析装置を用いたデータ処理方法にあっては、補正用光源8からイメージセンサ4に対して同一の光を照射し、かつ、イメージセンサ4を構成するピクセル4aごとのバラツキ補正係数を算出したうえで記憶しておいた後、スペクトル光の測光処理に伴って得られた各ピクセル4aからの検出値をバラツキ補正係数に基づいて補正することが実行されている。そのため、このようなデータ処理方法を採用した際には、イメージセンサ4を構成しているピクセル4aの相互間に存在する感度バラツキの影響が測光データにまでは及ばず、誤差を含まない正確な測光データが得られることになる。
【0015】
ところで、この種の発光分光分析装置においては標準試料を用いたうえでイメージセンサ4の経時変化を較正する必要があり、前記従来構成とされた発光分光分光装置では全測定元素を網羅する必要上、複数種類の標準試料を用いながらの測定を繰り返して実行しなければならないことになっていた。しかしながら、本実施の形態に係る発光分光分析装置においては、上記構成及びデータ処理方法を採用していることに基づき、各ピクセル4aが互いに同一の感度を有していると仮定できるため、単一個の標準試料を用いたうえでの測定によって全てのピクセル4aを標準化できることになる。
【0016】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る発光分光分析装置及び発光分光分析装置を用いたデータ処理方法によれば、イメージセンサを構成しているピクセルの相互間に存在する感度バラツキが測光データにまで影響を及ぼすことがなくなり、誤差の含まれない正確な測光データを得ることができるという優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態に係る発光分光分析装置の構成を簡略化して示す説明図である。
【図2】イメージセンサを構成するピクセルとバラツキ補正係数との対応関係を例示する説明図である。
【符号の説明】
3 回折格子
4 イメージセンサ
4a ピクセル
6 データ処理部
7 分光部
8 補正用光源
9 測光データ補正手段
L2 スペクトル光
【発明の属する技術分野】
本発明は、イメージセンサを具備してなる発光分光分析装置と、この発光分光分析装置を用いて実行されるデータ処理方法とに関する。
【0002】
【従来の技術】
図示省略しているが、一般的な発光分光分析装置においては、発光スタンドやプラズマトーチなどの発光部で発生した試料からの放射光が集光レンズを通ったうえで分光部内の入口スリットへと導かれ、かつ、入口スリットから出た放射光が回折格子によって波長の相違するスペクトル光として分光されることになり、分光して得られたスペクトル光のそれぞれはフォトマルチプライヤやイメージセンサなどのような光検出器でもって検出されることになっている。そして、光検出器から測光部、つまり、積分器などからなる測光部を介して検出された測光データはマイクロ・コンピュータを利用して構成されたデータ処理部でもって処理されることになり、この際のデータ処理では試料に含まれた元素の定性分析や定量分析が実行されている。なお、光検出器として用いられるイメージセンサの具体例としては、多数個の受光用素子(ピクセル)が基板上に並列して設けられたフォトダイオードアレイやCCDなどが挙げられる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、光検出器であるイメージセンサを具備して構成された発光分光分析装置においては、フォトダイオードアレイやCCDなどを構成するピクセルの相互間に感度バラツキが存在しており、製造段階などで発生するピクセル相互間の感度バラツキをなくすことは困難であるため、イメージセンサを介して検出されたスペクトル光それぞれの強度が感度バラツキの影響を受けてしまうこととなる結果、測光データに誤差が含まれることは避けられず、測光データの誤差を排除できないという不都合が生じることになっていた。
【0004】
本発明は、このような不都合に鑑みて創案されたものであり、イメージセンサを構成するピクセルの相互間に存在している感度バラツキの影響が測光データに及ぶことを防止できる発光分光分析装置と、この発光分光分析装置を用いた際におけるデータ処理方法との提供を目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る発光分光分析装置は、回折格子でもって分光されたスペクトル光を検出するイメージセンサが配設された分光部と、イメージセンサを介して検出された測光データを処理するデータ処理部とを備えてなるものであり、分光部にはイメージセンサを構成するピクセルの全体に対して同一の光を照射する補正用光源が配設されているとともに、データ処理部には、補正用光源の光照射時におけるピクセルごとの検出値の相違に対応したバラツキ補正係数を算出して記憶しており、かつ、スペクトル光の測光処理時における各ピクセルからの検出値をバラツキ補正係数に基づいて補正する測光データ補正手段が設けられていることを特徴とする。
【0006】
本発明に係るデータ処理方法は、上記構成とされた発光分光分析装置を用いることによって実行されるデータ処理方法であり、補正用光源からイメージセンサに対して同一の光を照射し、イメージセンサを構成するピクセルごとのバラツキ補正係数を算出したうえで記憶しておいた後、スペクトル光の測光処理に伴って得られた各ピクセルの検出値をバラツキ補正係数に基づいて補正することを特徴としている。そして、このようなデータ処理方法を採用した際には、イメージセンサを構成しているピクセルの相互間に存在する感度バラツキの影響が測光データにまでは及ばず、誤差を含まない正確な測光データが得られることになる。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【0008】
図1は本実施の形態に係る発光分光分析装置の構成を簡略化して示す説明図、図2は発光分光分析装置が備えるイメージセンサを構成するピクセルとバラツキ補正係数との対応関係を例示する説明図である。
【0009】
本実施の形態に係る発光分光分析装置は、従来の形態と同じく、発光スタンドやプラズマトーチなどからなる発光部1と、発光部1内で発生した試料(図示省略)からの放射光L1が集光レンズ(図示省略)及び入口スリット2を通過して導かれたうえで分光される回折格子3と、回折格子3でもって分光されたうえで波長が互いに異なるスペクトル光L2のそれぞれを検出するための光検出器として機能するイメージセンサ4と、イメージセンサ4を介して検出された測光データ、つまり、イメージセンサ4に接続された積分器などからなる測光部5を通じて出力される測光データを演算処理するマイクロ・コンピュータであるところのデータ処理部6とを備えている。なお、イメージセンサの具体例としては、フォトダイオードアレイやCCDなどが挙げられる。
【0010】
そして、この際における入口スリット2及び回折格子3、イメージセンサ4のそれぞれは真空排気処理される分光部7内の所定位置ごとに位置決めしたうえで配設されており、この分光部7内における回折格子3の近傍位置には、イメージセンサ4を構成するピクセル4aの全体に対して同一の光を照射するための補正用光源8が配設されている。すなわち、この補正用光源8は、具体的にはレーザ光源などを利用して構成されたものであり、例えば、完全な暗室内でイメージセンサ4の各ピクセル4aと一定距離を保ちつつ、一定速度でレーザ光源を平行移動させながら同一の光を照射することにより、イメージセンサ4を構成するピクセル4aの相互間に存在する感度バラツキを補正する際に使用されるものとなっている。なお、各ピクセル4aにおける強度が同一となる光を照射する必要上、補正用光源8はイメージセンサ4からできる限り遠方の位置に配設されていることが好ましく、この補正用光源8は発光分光分析装置の操作部(図示省略)に設けられた操作ボタンなどを利用して入力される指示に基づいて光照射を実行することになっている。
【0011】
また、本実施の形態に係る発光分光分析装置が備えるデータ処理部6には、補正用光源8の光照射時におけるイメージセンサ4のピクセル4aごとでもって検出される検出値の相違に対応したバラツキ補正係数を算出したうえで記憶し、かつ、スペクトル光の測光処理時における各ピクセル4aからの検出値をバラツキ補正係数に基づいて補正するための測光データ補正手段9が設けられている。すなわち、補正用光源8から同一の光が照射されてきた際には、イメージセンサ4を構成する各ピクセル4aの検出値が等しくなるはずであるにも拘わらず、これらピクセル4aの相互間には感度バラツキが存在しているため、各ピクセル4aの検出値が等しくはならず、互いに相違することになってしまう。
【0012】
そこで、この測光データ補正手段9では、各ピクセル4aの検出値全体をピクセル4aの個数でもって除した平均値を算出したうえ、算出された平均値を基準値、つまり、1としたうえでピクセル4aそれぞれの検出値が基準値から離れている程度をバラツキ補正係数としてメモリ(図示省略)によって記憶することが行われる。すなわち、この際においては、図2で例示するように、第1番目ピクセル4aのバラツキ補正係数が0.98、第2番目ピクセル4aのバラツキ補正係数が1.14であり、かつ、第n−1番目ピクセル4aのバラツキ補正係数が0.90、第n番目ピクセル4aのバラツキ補正係数が1.02であるというような対応付けに基づく記憶が行われている。なお、バラツキ補正係数を算出するに際しては、ピクセル4a全体における検出値の平均値をバラツキ補正係数の基準値とするのが実用的であるが、ある特定された1つのピクセル4aにおける検出値を基準値としてもよく、このような場合にあっては、特定されたピクセル4aの検出値から他のピクセル4aそれぞれの検出値が離れている程度をバラツキ補正係数としておくことになる。
【0013】
さらに、本実施の形態に係る発光分光分析装置を使用することによっては従来と同様の手順に従ったスペクトル光の測光処理が実行されることになり、スペクトル光の測光処理時におけるイメージセンサ4のピクセル4aそれぞれから得られる検出値に対しては、予め各ピクセル4aと対応付けたうえで記憶されているバラツキ補正係数の各々が測光データ補正手段9によって乗じられる。そこで、この際におけるイメージセンサ4から測光部5を介して検出されたうえでデータ処理部6によって処理される測光データは、イメージセンサ4を構成しているピクセル4aの相互間における感度バラツキを考慮したうえで補正されていることになり、結果的にはピクセル4aの相互間における感度バラツキの影響が及んでいない測光データがデータ処理部6でもって処理されることになる。
【0014】
すなわち、この発光分光分析装置を用いたデータ処理方法にあっては、補正用光源8からイメージセンサ4に対して同一の光を照射し、かつ、イメージセンサ4を構成するピクセル4aごとのバラツキ補正係数を算出したうえで記憶しておいた後、スペクトル光の測光処理に伴って得られた各ピクセル4aからの検出値をバラツキ補正係数に基づいて補正することが実行されている。そのため、このようなデータ処理方法を採用した際には、イメージセンサ4を構成しているピクセル4aの相互間に存在する感度バラツキの影響が測光データにまでは及ばず、誤差を含まない正確な測光データが得られることになる。
【0015】
ところで、この種の発光分光分析装置においては標準試料を用いたうえでイメージセンサ4の経時変化を較正する必要があり、前記従来構成とされた発光分光分光装置では全測定元素を網羅する必要上、複数種類の標準試料を用いながらの測定を繰り返して実行しなければならないことになっていた。しかしながら、本実施の形態に係る発光分光分析装置においては、上記構成及びデータ処理方法を採用していることに基づき、各ピクセル4aが互いに同一の感度を有していると仮定できるため、単一個の標準試料を用いたうえでの測定によって全てのピクセル4aを標準化できることになる。
【0016】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る発光分光分析装置及び発光分光分析装置を用いたデータ処理方法によれば、イメージセンサを構成しているピクセルの相互間に存在する感度バラツキが測光データにまで影響を及ぼすことがなくなり、誤差の含まれない正確な測光データを得ることができるという優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態に係る発光分光分析装置の構成を簡略化して示す説明図である。
【図2】イメージセンサを構成するピクセルとバラツキ補正係数との対応関係を例示する説明図である。
【符号の説明】
3 回折格子
4 イメージセンサ
4a ピクセル
6 データ処理部
7 分光部
8 補正用光源
9 測光データ補正手段
L2 スペクトル光
Claims (2)
- 回折格子でもって分光されたスペクトル光を検出するイメージセンサが配設された分光部と、イメージセンサを介して検出された測光データを処理するデータ処理部とを備えてなる発光分光分析装置であって、
分光部にはイメージセンサを構成するピクセルの全体に対して同一の光を照射する補正用光源が配設されているとともに、
データ処理部には、補正用光源の光照射時におけるピクセルごとの検出値の相違に対応したバラツキ補正係数を算出して記憶しており、かつ、スペクトル光の測光処理時における各ピクセルからの検出値をバラツキ補正係数に基づいて補正する測光データ補正手段が設けられていることを特徴とする発光分光分析装置。 - 請求項1記載の発光分光分析装置を用いたデータ処理方法であって、
補正用光源からイメージセンサに対して同一の光を照射し、イメージセンサを構成するピクセルごとのバラツキ補正係数を算出したうえで記憶しておいた後、スペクトル光の測光処理に伴って得られた各ピクセルの検出値をバラツキ補正係数に基づいて補正することを特徴とするデータ処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15496497A JP3692712B2 (ja) | 1997-06-12 | 1997-06-12 | 発光分光分析装置及び該装置を用いたデータ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP15496497A JP3692712B2 (ja) | 1997-06-12 | 1997-06-12 | 発光分光分析装置及び該装置を用いたデータ処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH112565A JPH112565A (ja) | 1999-01-06 |
JP3692712B2 true JP3692712B2 (ja) | 2005-09-07 |
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ID=15595759
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP15496497A Expired - Fee Related JP3692712B2 (ja) | 1997-06-12 | 1997-06-12 | 発光分光分析装置及び該装置を用いたデータ処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3692712B2 (ja) |
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1997
- 1997-06-12 JP JP15496497A patent/JP3692712B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH112565A (ja) | 1999-01-06 |
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