JP3691955B2 - 飛行時間型質量分析装置 - Google Patents

飛行時間型質量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3691955B2
JP3691955B2 JP05952998A JP5952998A JP3691955B2 JP 3691955 B2 JP3691955 B2 JP 3691955B2 JP 05952998 A JP05952998 A JP 05952998A JP 5952998 A JP5952998 A JP 5952998A JP 3691955 B2 JP3691955 B2 JP 3691955B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flight
time
mass spectrometer
ions
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP05952998A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11260311A (ja
Inventor
石原盛男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP05952998A priority Critical patent/JP3691955B2/ja
Publication of JPH11260311A publication Critical patent/JPH11260311A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3691955B2 publication Critical patent/JP3691955B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は所定の加速エネルギーで出射したイオンを所定距離離れた検出器で検出し、イオンの速度と飛行時間とからイオンの質量を分析する飛行時間型質量分析装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図3は飛行時間型質量分析装置の原理を説明する図である。
パルスイオン源1の前側にはスリット2が設けられ、パルス電圧で加速されてスリットから出射したイオンI1 ,I2 ,I3 は所定長さの飛行空間を隔てたイオン検出器3によって検出される。ここで、イオンが加速エネルギーeVa(eは電荷、Vaは加速電圧)でイオン源1を出射したとし、その質量をMとすると、出射したイオンの速さv0
0 =(2eVa/M)1/2 ……(1)
となる。
イオン検出器までの飛行距離をlとすると、パルスイオン源からイオン検出器までの飛行時間t0
0 =l/v0 ……(2)
となる。
(1)、(2)式より飛行時間は質量によって異なるため、飛行時間から質量分析を行うことが可能である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、図3の例に示すように、飛行軸に対して垂直方向の速度成分が存在する場合、イオンビームは横方向に広がるため、検出器3は大型のものを用いる必要がある。しかし、大型の検出器はコストが高いため、なるべく小型であることが望ましい。
【0004】
本発明は上記課題を解決するためのもので、飛行時間型質量分析装置において、ビームが横方向に広がることを防ぐことを目的とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、パルスイオン源と、飛行空間を介してパルスイオン源から所定距離隔てて設けられたイオン検出器とを備え、パルスイオン源から所定エネルギーで出射し、イオン検出器で検出されるまでの飛行時間よりイオンの質量を分析する飛行時間型質量分析装置において、飛行空間の側面に設けられた接地電位のメッシュ電極と、該メッシュ電極の外側に設けられたイオンを反射するための反射電極とを備え、メッシュ電極と反射電極間に飛行軸に対して垂直方向の電場を形成するようにしたことを特徴とする。
【0006】
【発明の実施の形態】
以下本発明の実施の形態について説明する。
図1は本発明の実施の形態の例を模式的に示したものである。パルスイオン源1、スリット2を通してイオンビームI1 ,I2 ,I3 がそれぞれ飛行し、検出器7で検出され、その到達時間差により質量分析が行われるのは図3の場合と同様である。
本発明においては、飛行空間の側面に接地電位(イオン出射位置のスリット2の電位)のメッシュ電極4,4′と、その外側にメッシュ電極方向にイオンを反射するための反射電極5,5′とが設けられている。反射電極5,5′は電源6、6′により所定電位に保持されているため、メッシュ電極と反射電極との間には飛行軸に対して垂直方向の電場が形成され、メッシュ電極を通して中心から外れたイオンはこの垂直の電場で反射されて飛行軸中心方向に戻ってくることになる。このように、メッシュ電極と反射電極間の電場は飛行軸に対して垂直であるため、飛行軸方向のイオンの速さを変化させることはない。従って、パルスイオン源1から検出器7までの飛行時間は反射場の有無にかかわらず、同じである。そして、飛行軸中心から外れたイオンは必ず中心軸方向に戻されるため、検出器7を小型化することが可能である。
【0007】
なお、本発明は上記例に限定されるものではなく、色々な変形が可能である。例えば、図2に示すように飛行空間の側面に設けられた対向する2枚の接地電極11,12、これら接地電極11に垂直で飛行空間の側面に設けられた1枚の反射電極10とで構成するようにしてもよい。反射電極10は電源13で所定電位にされているので、反射電極10と接地電極11,12の間には、飛行軸に垂直方向の電場が形成され、同様に飛行軸から反射電極10側にそれたイオンを中心軸方向に戻すことが可能である。
【0008】
このように、反射電極は必ずしも飛行空間の両側面にある必要はなく、例えば、一方向に加速されているイオンビームを90度曲げて飛行時間型質量分析装置の飛行空間に導くような場合には、加速方向にのみ反射電極を設ければよい。
【0009】
また、図1においては、上下側面に反射電極を設けるように示したが、全側面覆うように反射電極を設けるようにしてもよい。
また、図1では自由空間を飛行するものについて説明したが、途中にセクター場、リフレクトロン等が用いられている場合にも、自由空間に対して本発明を用いることができる。要するに、本発明は検出対象のイオンビームが広がっては困るようないかなる場合に対しても適用可能である。
【0010】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、飛行時間型質量分析装置において、ビームが横方向に広がることがないので、検出器が小さくて済み、コストを安くすることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態の例を模式的に示した図である。
【図2】 本発明の他の例を示す図である。
【図3】 従来の飛行時間型質量分析装置を示す図である。
【符号の説明】
1…パルスイオン源、2…ス0ット、4,4′…メッシュ電極、5,5′…反射電極、10…反射電極、11,12…接地電極。

Claims (1)

  1. パルスイオン源と、飛行空間を介してパルスイオン源から所定距離隔てて設けられたイオン検出器とを備え、パルスイオン源から所定エネルギーで出射し、イオン検出器で検出されるまでの飛行時間よりイオンの質量を分析する飛行時間型質量分析装置において、飛行空間の側面に設けられた接地電位のメッシュ電極と、該メッシュ電極の外側に設けられたイオンを反射するための反射電極とを備え、メッシュ電極と反射電極間に飛行軸に対して垂直方向の電場を形成するようにしたことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
JP05952998A 1998-03-11 1998-03-11 飛行時間型質量分析装置 Expired - Fee Related JP3691955B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP05952998A JP3691955B2 (ja) 1998-03-11 1998-03-11 飛行時間型質量分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP05952998A JP3691955B2 (ja) 1998-03-11 1998-03-11 飛行時間型質量分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11260311A JPH11260311A (ja) 1999-09-24
JP3691955B2 true JP3691955B2 (ja) 2005-09-07

Family

ID=13115904

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP05952998A Expired - Fee Related JP3691955B2 (ja) 1998-03-11 1998-03-11 飛行時間型質量分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3691955B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4665517B2 (ja) * 2004-12-28 2011-04-06 株式会社島津製作所 質量分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11260311A (ja) 1999-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6287419B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
US7355168B2 (en) Time of flight mass spectrometer
JP5993677B2 (ja) 飛行時間型質量分析計及び飛行時間型質量分析計の制御方法
DE60128419D1 (de) Flugzeitmassenspektrometer mit auswählbarer Driftlänge
US20080111071A1 (en) Mass Spectrometer
GB2361353A (en) Gridless time of flight mass spectrometer for orthogonal ion injection
JP2007526458A (ja) 試料を質量分析するための方法およびシステム
GB0314568D0 (en) Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and a method of use
JP2001517858A (ja) 飛行時間型質量分析計用2次イオン発生/検出器
EP0408288B1 (en) An ion mirror for a time-of-flight mass spectrometer
JP2015502649A (ja) 飛行時間におけるフィールドフリー領域を用いた一次および二次の集束
WO2005001876A3 (en) Electrostatic parallelizing lens for ion beams
GB2295720A (en) Improved mass resolution of a time-of-flight mass spectrometer with ion reflector
JP3691955B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
JPH11297267A (ja) 飛行時間型質量分析装置
JP6044715B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
Sudakov et al. TOF systems with two-directional isochronous motion
JP2757460B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
JPS6217349B2 (ja)
SU516306A1 (ru) Врем пролетный масс-спектрометр
JPH10144253A (ja) 粒子選択方法および飛行時間型選択式粒子分析装置
JPS62291853A (ja) 飛行時間型質量分析計
RU2020646C1 (ru) Способ времяпролетной масс-спектрометрии
JP2002532845A (ja) 衝突誘導解離を使用する分子構造分析用のインライン反射飛翔時間型質量分析計
JP3093087B2 (ja) 飛行時間型質量分析計

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050309

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050509

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050601

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050617

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080624

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090624

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090624

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100624

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100624

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110624

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120624

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120624

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130624

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130624

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees