JP3690342B2 - ボンディングワイヤ及びそれを用いた半導体装置 - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ICチップとICパッケージ基板を接続するためのボンディングワイヤ及びそれを用いた半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のワイヤボンディングでは、幾つかのシグナルラインに対してその間にグランドラインが飛び飛びでボンディグされている。これによりシグナルラインとグランドラインが大きく離れている個所が多く存在する。
【0003】
近年のICチップは高クロック化が進んでおり、ICチップからボンィングワイヤを伝送路として見た時、シグナルラインとペアとなるグランドラインが近端、もしくは遠方にあると、シグナルラインとペアとなるグランドラインの距離がまちまちとなり、ワイヤボンディング部では特性インピーダンスが各シグナルラインでずれ電気的に不連続部となる。その結果、ICチップまたはICパッケージから伝搬してきたパルスが、ICチップまたはICパッケージ双方の特性インピーダンスと異なるため、ワイヤ部分で反射や輻射を起こす。これにより、伝搬するパルスが歪みICチップの動作に悪影響を与えるという問題がある。
【0004】
そこで、シグナルラインを常にグランドラインで挟むと電気的な不連続部を防ぐことはできる。しかし、すべてのシグナルラインをグランドラインで挟み込んでボンディングするのは、現実的にワイヤの数やそれを受けるパットの数が増え過ぎるため実用上は非常に難しいという問題を有している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上記問題点に鑑み考案されたもので、ICチップとICパッケージ基板がワイヤボンディングされた半導体装置において、高周波領域での伝送特性に優れたボンディングワイヤ及びそれを用いた半導体装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明に於いて上記課題を達成するために、まず請求項1においては、ICチップとICパッケージ用基板をボンディング接続するワイヤであって、前記ワイヤ1の周囲を所定厚の誘電体2で覆って誘電体被覆ワイヤ10を形成し、前記誘電体被覆ワイヤ10の周囲を別のワイヤ3で巻き付けて同軸構造にしたことを特徴とするボンディングワイヤとしたものである。
【0007】
また、請求項2においては、ICチップとICパッケージ用基板をボンディング接続するワイヤであって、前記誘電体被覆ワイヤ10の少なくとも2本以上を束ねて、その周囲を別のワイヤ3で巻き付けて同軸構造にしたことを特徴とするボンディングワイヤとしたものである。
【0008】
また、請求項3においては、ICチップとICパッケージ用基板をボンディング接続するワイヤであって、前記誘電体被覆ワイヤ10の少なくとも2本以上を束ねて、その周囲を別のワイヤ3が個々の前記誘電体被覆ワイヤ10の上下を通るように織り込んで同軸構造にしたことを特徴とするボンディングワイヤとしたものである。
【0009】
また、請求項4においては、請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のボンディングワイヤを用いてICチップとICパッケージ基板をボンディング接続してなる半導体装置としたものである。
【0010】
さらにまた、請求項5においては、前記誘電体被覆ワイヤ10のワイヤ1がシグナルライン、前記別のワイヤ3がグランドラインに接続されていることを特徴とする請求項4記載の半導体装置としたものである。
【0011】
上記のように、ボンディングワイヤを同軸構造とすることにより、ICチップまたはICパッケージ基板から伝搬してきたパルスが、ICチップまたはICパッケージ双方の特性インピーダンスと異なるワイヤの部分での反射や輻射を起こすことがなくなり、歪みのないパルスを伝搬することができる。
また、ボンディングワイヤのワイヤ1をパッケージ基板のシグナルライン、別のワイヤ3をグランドラインに接続することにより、ICチップからICパッケージ基板にボンディングするグランドラインの数を抑え、且つ電気特性の良いワイヤボンディングが出来る。更に、ボンディングワイヤのワイヤ1同士の空間的電磁結合であるクロストークを抑えることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
図1は、請求項1に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図、図2は、請求項2に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図、図3は、請求項3に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図をそれぞれ示す。
請求項1に係わる本発明のボンディングワイヤは、図1に示すように、ワイヤ1の周囲を所定厚の誘電体2で覆い、誘電体被覆ワイヤ10を形成し、さらに、別のワイヤ3を誘電体2に巻き付けて同軸構造のボンディングワイヤ20を形成したものである。
【0013】
請求項2に係わる本発明のボンディングワイヤは、図2に示すように、誘電体被覆ワイヤ10を少なくとも2本以上(この例では3本)束ねて、その周囲を別のワイヤ3で巻き付けて同軸構造のボンディングワイヤ30を形成したものである。
【0014】
請求項3に係わる本発明のボンディングワイヤは、図3に示すように、誘電体被覆ワイヤ10を少なくとも2本以上(この例では3本)束ねて、その周囲を別のワイヤ3が個々の誘電体被覆ワイヤ10の上下を通るように織り込んで同軸構造のボンディングワイヤ40を形成したものである。
【0015】
誘電体被覆ワイヤ10の誘電体は、好ましい基材はポリイミド、四弗化エチレン等の高周波領域において低損失、熱的、機械的優れた特性を持つものが好ましいが、ワイヤ1を伝送するパルスが低周波の場合は、あえて高周波領域において低損失な材質を使用しなくとも充分伝送できる。
【0016】
ここで、請求項1及び2に係わるボンディングワイヤ20及び30の特性インピーダンスを求める式は、式1のようになる。
【0017】
【化1】
【0018】
また、請求項3に係わるボンディングワイヤ40のように常に半円だけの別のワイヤ3で囲まれている場合の特性インピーダンスを求める式は、式2のようになる。
【0019】
【化2】
【0020】
上記式1及び式2中の、aは同軸の内導体の半径、bは同軸の外導体の半径、l:誘電体が挿入された長さ、ρは抵抗率をそれぞれ示す。
ワイヤ1や誘電体の直径とそれを覆う誘電体の種類を変えることで特性インピーダンスを任意の値に設計できる。これにより、ICチップやICパッケージ基板内の伝送線路にそれぞれ固有の特性インピーダンスがあってもインピーダンスマッチングが行うことができ、伝送特性を向上させることが出来る。
【0021】
ボンディングワイヤ30では、誘電体被覆ワイヤ10を少なくとも2本以上束ねて、外周を別のワイヤ3を巻き付けているため、ワイヤ1部分での反射、輻射はほぼ完全に抑えられるが、特性インピーダンスが誘電体被覆ワイヤ10の位置によって若干異なる場合がある。
ボンディングワイヤ40では、誘電体被覆ワイヤ10を少なくとも2本以上束ねて、個々の誘電体被覆ワイヤ10を別のワイヤ3で織り込むように巻き付けているため、ワイヤ1部分での反射、輻射はほぼ完全に抑えられ、且つ個々の誘電体被覆ワイヤ10の特性インピーダンスも均一なものが得られる。
【0022】
請求項4または請求5項に係わる半導体装置は、上記ボンディングワイヤ20、30及び40を用いて、ワイヤ1とICチップのパッド電極及びICパッケージ基板のシグナル用のボンディングパッドと、ワイヤ3とグランドライン用のボンディングパッドをボンディング接続しているため、ICチップからICパッケージ基板にボンディングするグランドラインの数を抑え、且つ電気特性の良いワイヤボンディングが出来る。更に、シグナルラインに接続されるワイヤ1同士の空間的電磁結合であるクロストークを抑えることができる。
【0023】
以下に、本発明のボンディングワイヤを用いて作成した半導体装置について説明する。
図4に、本発明のボンディングワイヤを用いて作製した半導体装置の一実施例の模式構成断面図を示す。
あらかじめ、ワイヤ1を誘電体2で覆った誘電体被覆ワイヤ10を別のワイヤ3で巻き付けたボンディングワイヤ20、30、40のいずれか及びICパッケージ基板50を用意する。
ここで、何本の誘電体被覆ワイヤ10を束にするかを決定し、相応のボンディングワイヤを用意する。
【0024】
ICパッケージ基板50は、絶縁基板11の一方の面にシグナル用ボンディングバッド21、グランドライン用ボンディングバッド22、配線パターン(図示せず)及び絶縁基板11の他方の面にボンディングパッド22とビアホール23にて電気的に接続されたバンプ電極24が形成されたものである。
【0025】
まず、ICパッケージ基板50上にパッド電極61が形成されたICチップ60を導電接着剤41にて接着・固定する。
次に、ボンディングワイヤ20、30、40のいずれかのワイヤ1をICパッケージ基板50のシグナル用のボンディングバッド21及びICチップ60のパッド電極61に、さらに、ボンディングワイヤ20、30、40のいずれかのワイヤ3をグランドライン用のボンディングバッド22に、それぞれボンディング接続する。
さらに、モールド樹脂71にて樹脂封止し、半田バンプ31を形成して、本発明の半導体装置100を得る。
【0026】
本発明の同軸ワイヤボンディングと従来のワイヤボンディングを用いて半導体装置を作成し、伝送特性を測定した結果を図5、図6に示す。
図5に示すように、ワイヤボンディング40を用いることにより、従来のワイヤボンディングに比べ伝送特性が向上していることが分かる。図6は、同軸ワイヤボンディングと従来のワイヤボンディングでのクロストークの比較である。同軸ワイヤボンディングにすることにより、従来のワイヤボンディングに比べクロストークが抑えられていることが分かる。
【0027】
【発明の効果】
上記したように、本発明の同軸構造のボンディングワイヤを用いてワイヤボンディングにより半導体装置を作製することにより、ICチップとICパッケージ基板とのシグナルラインの高周波領域での伝送特性を大幅に改善でき、グランドラインの数を減らすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図である。
【図2】請求項2に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図である。
【図3】請求項3に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図である。
【図4】本発明のボンディングワイヤを用いて作製した半導体装置の一実施例を示す模式構成断面図である。
【図5】本発明のボンディングワイヤを用いて作製した半導体装置の伝送特性の一例を示す説明図である。
【図6】本発明のボンディングワイヤを用いて作製した半導体装置の伝送特性の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
1……ワイヤ
2……誘電体
3……別のワイヤ
10……誘電体被覆ワイヤ
20、30、40……ボンディングワイヤ
11……絶縁基板
21……シグナルライン用ボンディングパッド
22……グランドライン用ボンディングパッド
23……ビアホール
24……バンプ電極
31……半田バンプ
41……導電接着剤
50……ICパッケージ基板
60……ICチップ
61……パッド電極
71……モールド樹脂
100……半導体装置
【発明の属する技術分野】
本発明は、ICチップとICパッケージ基板を接続するためのボンディングワイヤ及びそれを用いた半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のワイヤボンディングでは、幾つかのシグナルラインに対してその間にグランドラインが飛び飛びでボンディグされている。これによりシグナルラインとグランドラインが大きく離れている個所が多く存在する。
【0003】
近年のICチップは高クロック化が進んでおり、ICチップからボンィングワイヤを伝送路として見た時、シグナルラインとペアとなるグランドラインが近端、もしくは遠方にあると、シグナルラインとペアとなるグランドラインの距離がまちまちとなり、ワイヤボンディング部では特性インピーダンスが各シグナルラインでずれ電気的に不連続部となる。その結果、ICチップまたはICパッケージから伝搬してきたパルスが、ICチップまたはICパッケージ双方の特性インピーダンスと異なるため、ワイヤ部分で反射や輻射を起こす。これにより、伝搬するパルスが歪みICチップの動作に悪影響を与えるという問題がある。
【0004】
そこで、シグナルラインを常にグランドラインで挟むと電気的な不連続部を防ぐことはできる。しかし、すべてのシグナルラインをグランドラインで挟み込んでボンディングするのは、現実的にワイヤの数やそれを受けるパットの数が増え過ぎるため実用上は非常に難しいという問題を有している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上記問題点に鑑み考案されたもので、ICチップとICパッケージ基板がワイヤボンディングされた半導体装置において、高周波領域での伝送特性に優れたボンディングワイヤ及びそれを用いた半導体装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明に於いて上記課題を達成するために、まず請求項1においては、ICチップとICパッケージ用基板をボンディング接続するワイヤであって、前記ワイヤ1の周囲を所定厚の誘電体2で覆って誘電体被覆ワイヤ10を形成し、前記誘電体被覆ワイヤ10の周囲を別のワイヤ3で巻き付けて同軸構造にしたことを特徴とするボンディングワイヤとしたものである。
【0007】
また、請求項2においては、ICチップとICパッケージ用基板をボンディング接続するワイヤであって、前記誘電体被覆ワイヤ10の少なくとも2本以上を束ねて、その周囲を別のワイヤ3で巻き付けて同軸構造にしたことを特徴とするボンディングワイヤとしたものである。
【0008】
また、請求項3においては、ICチップとICパッケージ用基板をボンディング接続するワイヤであって、前記誘電体被覆ワイヤ10の少なくとも2本以上を束ねて、その周囲を別のワイヤ3が個々の前記誘電体被覆ワイヤ10の上下を通るように織り込んで同軸構造にしたことを特徴とするボンディングワイヤとしたものである。
【0009】
また、請求項4においては、請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のボンディングワイヤを用いてICチップとICパッケージ基板をボンディング接続してなる半導体装置としたものである。
【0010】
さらにまた、請求項5においては、前記誘電体被覆ワイヤ10のワイヤ1がシグナルライン、前記別のワイヤ3がグランドラインに接続されていることを特徴とする請求項4記載の半導体装置としたものである。
【0011】
上記のように、ボンディングワイヤを同軸構造とすることにより、ICチップまたはICパッケージ基板から伝搬してきたパルスが、ICチップまたはICパッケージ双方の特性インピーダンスと異なるワイヤの部分での反射や輻射を起こすことがなくなり、歪みのないパルスを伝搬することができる。
また、ボンディングワイヤのワイヤ1をパッケージ基板のシグナルライン、別のワイヤ3をグランドラインに接続することにより、ICチップからICパッケージ基板にボンディングするグランドラインの数を抑え、且つ電気特性の良いワイヤボンディングが出来る。更に、ボンディングワイヤのワイヤ1同士の空間的電磁結合であるクロストークを抑えることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
図1は、請求項1に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図、図2は、請求項2に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図、図3は、請求項3に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図をそれぞれ示す。
請求項1に係わる本発明のボンディングワイヤは、図1に示すように、ワイヤ1の周囲を所定厚の誘電体2で覆い、誘電体被覆ワイヤ10を形成し、さらに、別のワイヤ3を誘電体2に巻き付けて同軸構造のボンディングワイヤ20を形成したものである。
【0013】
請求項2に係わる本発明のボンディングワイヤは、図2に示すように、誘電体被覆ワイヤ10を少なくとも2本以上(この例では3本)束ねて、その周囲を別のワイヤ3で巻き付けて同軸構造のボンディングワイヤ30を形成したものである。
【0014】
請求項3に係わる本発明のボンディングワイヤは、図3に示すように、誘電体被覆ワイヤ10を少なくとも2本以上(この例では3本)束ねて、その周囲を別のワイヤ3が個々の誘電体被覆ワイヤ10の上下を通るように織り込んで同軸構造のボンディングワイヤ40を形成したものである。
【0015】
誘電体被覆ワイヤ10の誘電体は、好ましい基材はポリイミド、四弗化エチレン等の高周波領域において低損失、熱的、機械的優れた特性を持つものが好ましいが、ワイヤ1を伝送するパルスが低周波の場合は、あえて高周波領域において低損失な材質を使用しなくとも充分伝送できる。
【0016】
ここで、請求項1及び2に係わるボンディングワイヤ20及び30の特性インピーダンスを求める式は、式1のようになる。
【0017】
【化1】
【0018】
また、請求項3に係わるボンディングワイヤ40のように常に半円だけの別のワイヤ3で囲まれている場合の特性インピーダンスを求める式は、式2のようになる。
【0019】
【化2】
【0020】
上記式1及び式2中の、aは同軸の内導体の半径、bは同軸の外導体の半径、l:誘電体が挿入された長さ、ρは抵抗率をそれぞれ示す。
ワイヤ1や誘電体の直径とそれを覆う誘電体の種類を変えることで特性インピーダンスを任意の値に設計できる。これにより、ICチップやICパッケージ基板内の伝送線路にそれぞれ固有の特性インピーダンスがあってもインピーダンスマッチングが行うことができ、伝送特性を向上させることが出来る。
【0021】
ボンディングワイヤ30では、誘電体被覆ワイヤ10を少なくとも2本以上束ねて、外周を別のワイヤ3を巻き付けているため、ワイヤ1部分での反射、輻射はほぼ完全に抑えられるが、特性インピーダンスが誘電体被覆ワイヤ10の位置によって若干異なる場合がある。
ボンディングワイヤ40では、誘電体被覆ワイヤ10を少なくとも2本以上束ねて、個々の誘電体被覆ワイヤ10を別のワイヤ3で織り込むように巻き付けているため、ワイヤ1部分での反射、輻射はほぼ完全に抑えられ、且つ個々の誘電体被覆ワイヤ10の特性インピーダンスも均一なものが得られる。
【0022】
請求項4または請求5項に係わる半導体装置は、上記ボンディングワイヤ20、30及び40を用いて、ワイヤ1とICチップのパッド電極及びICパッケージ基板のシグナル用のボンディングパッドと、ワイヤ3とグランドライン用のボンディングパッドをボンディング接続しているため、ICチップからICパッケージ基板にボンディングするグランドラインの数を抑え、且つ電気特性の良いワイヤボンディングが出来る。更に、シグナルラインに接続されるワイヤ1同士の空間的電磁結合であるクロストークを抑えることができる。
【0023】
以下に、本発明のボンディングワイヤを用いて作成した半導体装置について説明する。
図4に、本発明のボンディングワイヤを用いて作製した半導体装置の一実施例の模式構成断面図を示す。
あらかじめ、ワイヤ1を誘電体2で覆った誘電体被覆ワイヤ10を別のワイヤ3で巻き付けたボンディングワイヤ20、30、40のいずれか及びICパッケージ基板50を用意する。
ここで、何本の誘電体被覆ワイヤ10を束にするかを決定し、相応のボンディングワイヤを用意する。
【0024】
ICパッケージ基板50は、絶縁基板11の一方の面にシグナル用ボンディングバッド21、グランドライン用ボンディングバッド22、配線パターン(図示せず)及び絶縁基板11の他方の面にボンディングパッド22とビアホール23にて電気的に接続されたバンプ電極24が形成されたものである。
【0025】
まず、ICパッケージ基板50上にパッド電極61が形成されたICチップ60を導電接着剤41にて接着・固定する。
次に、ボンディングワイヤ20、30、40のいずれかのワイヤ1をICパッケージ基板50のシグナル用のボンディングバッド21及びICチップ60のパッド電極61に、さらに、ボンディングワイヤ20、30、40のいずれかのワイヤ3をグランドライン用のボンディングバッド22に、それぞれボンディング接続する。
さらに、モールド樹脂71にて樹脂封止し、半田バンプ31を形成して、本発明の半導体装置100を得る。
【0026】
本発明の同軸ワイヤボンディングと従来のワイヤボンディングを用いて半導体装置を作成し、伝送特性を測定した結果を図5、図6に示す。
図5に示すように、ワイヤボンディング40を用いることにより、従来のワイヤボンディングに比べ伝送特性が向上していることが分かる。図6は、同軸ワイヤボンディングと従来のワイヤボンディングでのクロストークの比較である。同軸ワイヤボンディングにすることにより、従来のワイヤボンディングに比べクロストークが抑えられていることが分かる。
【0027】
【発明の効果】
上記したように、本発明の同軸構造のボンディングワイヤを用いてワイヤボンディングにより半導体装置を作製することにより、ICチップとICパッケージ基板とのシグナルラインの高周波領域での伝送特性を大幅に改善でき、グランドラインの数を減らすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図である。
【図2】請求項2に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図である。
【図3】請求項3に係わる本発明のボンディングワイヤの一実施例を示す斜視図である。
【図4】本発明のボンディングワイヤを用いて作製した半導体装置の一実施例を示す模式構成断面図である。
【図5】本発明のボンディングワイヤを用いて作製した半導体装置の伝送特性の一例を示す説明図である。
【図6】本発明のボンディングワイヤを用いて作製した半導体装置の伝送特性の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
1……ワイヤ
2……誘電体
3……別のワイヤ
10……誘電体被覆ワイヤ
20、30、40……ボンディングワイヤ
11……絶縁基板
21……シグナルライン用ボンディングパッド
22……グランドライン用ボンディングパッド
23……ビアホール
24……バンプ電極
31……半田バンプ
41……導電接着剤
50……ICパッケージ基板
60……ICチップ
61……パッド電極
71……モールド樹脂
100……半導体装置
Claims (5)
- ICチップとICパッケージ用基板をボンディング接続するワイヤであって、前記ワイヤ(1)の周囲を所定厚の誘電体(2)で覆って誘電体被覆ワイヤ(10)を形成し、前記誘電体被覆ワイヤ(10)の周囲を別のワイヤ(3)で巻き付けて同軸構造にしたことを特徴とするボンディングワイヤ。
- ICチップとICパッケージ用基板をボンディング接続するワイヤであって、前記ワイヤ(1)の周囲を所定厚の誘電体(2)で覆った誘電体被覆ワイヤ(10)の少なくとも2本以上を束ねて、その周囲を別のワイヤ(3)で巻き付けて同軸構造にしたことを特徴とするボンディングワイヤ。
- ICチップとICパッケージ用基板をボンディング接続するワイヤであって、前記ワイヤ(1)の周囲を所定厚の誘電体(2)で覆った誘電体被覆ワイヤ(10)の少なくとも2本以上を束ねて、その周囲を別のワイヤ(3)が個々の前記誘電体被覆ワイヤ(10)の上下を通るように織り込んで同軸構造にしたことを特徴とするボンディングワイヤ。
- 請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のボンディングワイヤを用いてICチップとICパッケージ基板をボンディング接続してなる半導体装置。
- 前記誘電体被覆ワイヤ(10)のワイヤ(1)がシグナルライン、前記別のワイヤ(3)がグランドラインに接続されていることを特徴とする請求項4記載の半導体装置。
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---|---|
JP2003179095A JP2003179095A (ja) | 2003-06-27 |
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JP2018518828A (ja) * | 2015-06-26 | 2018-07-12 | インテル コーポレイション | 集合化された絶縁ワイヤを含むパッケージ・アセンブリ |
CN115831935B (zh) * | 2023-02-15 | 2023-05-23 | 甬矽电子(宁波)股份有限公司 | 芯片封装结构和芯片封装方法 |
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- 2001-12-10 JP JP2001375362A patent/JP3690342B2/ja not_active Expired - Fee Related
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