JP3676683B2 - Microwave passive circuit, high-pass filter and duplexer - Google Patents

Microwave passive circuit, high-pass filter and duplexer Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、サスペンデッド線路からなる先端短絡スタブを含むマイクロ波受動回路と該マイクロ波受動回路を構成要素とする高域通過フィルタおよび分波器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、サスペンデッド線路において、信号が伝搬する主線路に対して先端短絡スタブを構成するにあたり、前記線路に対して片側にのみスタブを配置していた。
【0003】
図8は、JOHM WILEY & SONS, “MICROWAVE PLANAR PASSIVE CIRCUIT AND FILTERS”に記載された従来の高域通過フィルタの構成図であり、上面図と断面図を示している。
図中、100は外導体、101は誘電体基板、102は信号が伝搬する主線路である。また、103は平行平板キャパシタで、主線路102を誘電体基板101の両面に配することで構成される。また、外導体100には金属ポスト105が設けられており、同ポスト105を主線路102に接続されたスタブ106の先端に接触させることで先端短絡スタブを構成している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
従来の高域通過フィルタにおいては、信号が伝搬する主線路102に対して先端短絡スタブを構成するにあたり、スタブ106を前記主線路102に対して片側にのみ配置し、その先端と外導体を接触させることで短絡点を形成していた。しかし、上述した如く構成においては、金属ポスト105と主線路102を含む回路基板との間に位置ずれが生じた場合に短絡点とスタブの接触位置が変化し、前記スタブの電気長が変化することでそのリアクタンス値にずれが生じ、回路全体の特性が劣化してしまう問題があった。
【0005】
この発明は前記の問題を解決するためになされたもので、サスペンデッド線路の回路基板と金属ポストとの位置ずれにより生じる先端短絡スタブのリアクタンス変動を抑圧し、前記スタブを含むマイクロ波受動回路の特性劣化を抑圧するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るマイクロ波受動回路は、サスペンデッド線路で回路を構成するにあたり、信号が伝搬する主線路の一点に、先端を金属製ねじによって金属製ポストに接触させることで短絡点が形成された2本の先端短絡スタブをそのなす角度が180度となるよう接続し、かつ各々のスタブの長さを使用周波数にて4分の1波長未満としたことを特徴とするものである。
【0008】
また、前記2本の先端短絡スタブをその途中で互いに逆方向に折り曲げたことを特徴とするものである。
【0011】
また、この発明に係る高域通過フィルタは、前記マイクロ波受動回路に高域通過素子を接続して構成したことを特徴とするものである。
【0012】
さらに、この発明に係る分波器は、前記高域通過フィルタに低域通過フィルタを接続し、それらの接続点に共通端子を設けて構成したことを特徴とするものである。
【0013】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1に係るマイクロ波受動回路の構成図であり、上面図と断面図を示している。図中、1は外導体、2は誘電体基板で、信号が伝搬する主線路3および2本のスタブ4を含んでおり、これらによりサスペンデッド線路を構成している。また、5は金属ポスト、6は金属製のねじで、これらは短絡点を形成し、スタブ4の先端に接触させることで先端短絡スタブを構成しており、主線路3の一点に対し2本の先端短絡スタブ4がそのなす角度が180度となるように接続されている。
【0014】
次に動作について説明する。2本のスタブ4は、その長さがいずれも使用周波数にて4分の1波長未満となっており、誘導性リアクタンスを有する高域通過型素子として機能する。ここで、スタブ4を含む誘電体基板2の位置が外導体1に対してスタブ4と平行な方向にずれた場合を考えると、スタブ4の短絡点の位置がずれることでスタブ単体をみたときのリアクタンス値が大きく変動してしまう。しかし、2本のスタブを併せて考えると、一方のスタブは電気長が長くなることでリアクタンス値が大きくなるが、もう一方のスタブは電気長が短くなることでリアクタンス値が小さくなる。従って、前記2本のスタブ4が接続された主線路3上の点からみたリアクタンス値は、前記誘電体基板2の位置ずれにかかわらずほぼ一定値を保つことができる。
【0015】
以上のように、実施の形態1の構成によれば、サスペンデッド線路にて先端短絡スタブを構成したときの短絡点の位置ずれによるリアクタンス変動を相殺することができ、回路全体の特性劣化を抑圧することができる。なお、ここでは主線路3と先端短絡スタブ4のなす角度が直角としたものであるが、直角以外の角度においても同様の効果を得ることができる。
【0016】
実施の形態2.
図2は、この発明の実施の形態2に係るマイクロ波受動回路を示す構成図である。図中、12は誘電体基板で、信号が伝搬する主線路13およびスタブ14を2本含んでおり、スタブ14は、その途中で直角かつ互いに逆方向に折り曲げられている。なお、それらの外部には、実施の形態1と同様に、外導体が配置されサスペンデッド線路が構成される。また、15は金属製ポストであり、短絡点を形成しており、スタブ14の先端に接触させることで先端短絡スタブを構成している。
【0017】
次に動作について説明する。実施の形態2は、実施の形態1において、2本の先端短絡スタブ14をその途中で直角かつ互いに逆方向に折り曲げた点が異なる。従って、実施の形態1においてはスタブ4を含む誘電体基板2がスタブ4と平行な方向に位置ずれを生じた際の特性変動を抑圧するのに対して、実施の形態2では誘電体基板12が前記スタブ14と直角な方向に位置ずれを生じたときの特性変動を抑圧することができる。
【0018】
以上のように、実施の形態2の構成によれば、サスペンデッド線路にて先端短絡スタブを構成したときの短絡点の位置ずれによるリアクタンス変動を相殺することができ、回路全体の特性劣化を抑圧することができる。なお、ここでは先端短絡スタブ14を折り曲げる角度が直角であるとしたが、直角以外の角度とした場合も同様の効果を得ることができる。
【0019】
実施の形態3.
図3は、この発明の実施の形態3に係るマイクロ波受動回路を示す構成図である。図中、22は誘電体基板で、信号が伝搬する主線路23およびスタブ27を含んでおり、スタブ27は、線路24および同線路より線路幅の大きい線路26からなる。なお、それらの外部には、実施の形態1と同様に、外導体が配置されサスペンデッド線路が構成される。また、25は金属製ポストであり、短絡点を形成し、スタブ27の先端に接触させることで先端短絡スタブを構成している。
【0020】
次に動作について説明する。先端短絡スタブ27の短絡点から電気長θだけ離れた地点から短絡点側をみたときのリアクタンスZは、スタブの特性インピーダンスをZo、スタブの電気長をθとすると、
Z=jZotanθ
で与えられる。このとき、スタブの短絡点の位置ずれにより電気長θが変化した場合のリアクタンス変化量は、前記リアクタンスZの微係数に比例し、Zo/(cosθ)2となる。従って、短絡点近傍での線路幅を大きくし、同部においてのみ特性インピーダンスZoを小さくすることで、所望のリアクタンス値を適当な長さの先端短絡スタブで実現しながら、かつ前記リアクタンス変化量を小さくすることができる。
【0021】
以上のように、実施の形態3によれば、サスペンデッド線路にて先端短絡スタブを構成したときの短絡点の位置ずれによるリアクタンス変動を抑圧することができ、回路全体の特性劣化を抑圧することができる。
【0022】
実施の形態4.
図4は、この発明の実施の形態4に係るマイクロ波受動回路を示す構成図である。図中、32は誘電体基板で、信号が伝搬する主線路33およびスタブ37を含んでおり、スタブ37は、線路34および同線路より線路幅の大きい線路36からなる。なお、それらの外部には、実施の形態1と同様に、外導体が配置されサスペンデッド線路が構成される。また、35は金属製ポストであり、短絡点を形成し、スタブ37の先端に接触させることで先端短絡スタブを構成している。
【0023】
次に動作について説明する。実施の形態4は、実施の形態3に記載のマイクロ波受動回路を実施の形態1に記載のマイクロ波受動回路に適用したもので、両者共に先端短絡スタブの短絡点位置が変動した時のリアクタンス変化を抑圧できることから、それらを併用することで前記リアクタンス変化をより一層抑圧することができる。
【0024】
以上のように、実施の形態4の構成によれば、サスペンデッド線路にて先端短絡スタブを構成したときの短絡点の位置ずれによるリアクタンス変動を抑圧することができ、回路全体の特性劣化を抑圧することができる。
【0025】
実施の形態5.
図5は、この発明の実施の形態5に係るマイクロ波受動回路を示す構成図である。図中、42は誘電体基板で、信号が伝搬する主線路43およびスタブ44を2本含んでおり、スタブ44は、その途中で直角かつ互いに逆方向に折り曲げられており、かつ線路45および同線路より線路幅の大きい線路46からなる。なお、それらの外部には、実施の形態1と同様に、外導体が配置されサスペンデッド線路が構成される。また、47は金属製ポストであり、短絡点を形成し、スタブ44の先端に接触させることで先端短絡スタブを構成している。
【0026】
次に動作について説明する。実施の形態5は、実施の形態3に記載のマイクロ波受動回路を実施の形態2に記載のマイクロ波受動回路に適用したもので、両者共に先端短絡スタブの短絡点位置が変動した時のリアクタンス変化を抑圧できることから、それらを併用することで前記リアクタンス変化をより一層抑圧することができる。
【0027】
以上のように、実施の形態5の構成によれば、サスペンデッド線路にて先端短絡スタブを構成したときの短絡点の位置ずれによるリアクタンス変動を抑圧することができ、回路全体の特性劣化を抑圧することができる。
【0028】
実施の形態6.
図6は、この発明の実施の形態6に係る高域通過フィルタを示す構成図である。図中、62は誘電体基板で、信号が伝搬する主線路63およびスタブ64を含んでいる。なお、それらの外部には、実施の形態1と同様に、外導体が配置されサスペンデッド線路が構成される。また、65は金属製ポストで短絡点を形成し、スタブ64の先端に接触させることで先端短絡スタブを構成している。また、66はキャパシタであり、チップコンデンサや平行平板キャパシタにより構成される。
【0029】
次に動作について説明する。実施の形態6は、実施の形態1に示したマイクロ波受動回路に高域通過素子であるキャパシタ66を接続したものであり、これらは高域通過フィルタを構成する。実施の形態1で述べたように、スタブを2本にすることで先端短絡スタブの短絡点の位置が変動したときのリアクタンス変動を抑圧することができることから、前記の構成により、短絡点位置変動時の特性劣化の少ない高域通過フィルタを実現することができる。なお、実施の形態2〜5に示したマイクロ波受動回路に対しても動揺に高域通過素子であるキャパシタ66を接続して高域通過フィルタを構成できる。
【0030】
以上のように、実施の形態6の構成によれば、サスペンデッド線路にて先端短絡スタブを構成したときの短絡点の位置ずれによるリアクタンス変動を抑圧することができ、同スタブからなる高域通過フィルタの特性劣化を抑圧することができる。
【0031】
実施の形態7.
図7は、この発明の実施の形態7に係る分波器を示す構成図である。図中、72は誘電体基板で、信号が伝搬する主線路73およびスタブ74を含んでいる。なお、それらの外部には、実施の形態1と同様に、外導体が配置されサスペンデッド線路を構成している。また、75は金属製ポストで短絡点を形成し、スタブ74の先端に接触させることで先端短絡スタブを構成している。また、76はキャパシタであり、チップコンデンサや平行平板キャパシタにより構成され、前記先端短絡スタブと併せて高域通過フィルタを構成している。一方、誘電体基板72は、高インピーダンス線路77と低インピーダンス線路78を含んでおり、それらは同基板上で縦続接続され、低域通過フィルタを構成しており、前記高域通過フィルタとの接続点には共通端子79が設けられていて、以上の構成要素から分波器が構成される。
【0032】
次に動作について説明する。実施の形態7は、実施の形態6に記載の高域通過フィルタに低域通過フィルタを接続し、それらの接続点に共通端子を設けることで分波器を構成したものである。前記高域通過フィルタは、実施の形態6に示したように、先端短絡スタブの短絡点の位置が変動したときの特性変動を抑圧することができるため、同フィルタに低域通過フィルタを接続することで同じく特性変動の小さい分波器を実現することができる。
【0033】
以上のように、実施の形態7の構成によれば、サスペンデッド線路にて先端短絡スタブを構成したときの短絡点の位置ずれによるリアクタンス変動を抑圧することができ、同スタブからなる高域通過フィルタを構成要素とする分波器全体の特性劣化を抑圧することができる。
【0034】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、サスペンデッド線路にて先端短絡スタブを構成したときの短絡点の位置ずれによるリアクタンス変動を相殺することができ、回路全体の特性劣化を抑圧することができる。
【0035】
また、サスペンデッド線路にて先端短絡スタブを構成したときの短絡点の位置ずれによるリアクタンス変動を抑圧することができ、同スタブからなる高域通過フィルタの特性劣化を抑圧することができる。
【0036】
さらに、サスペンデッド線路にて先端短絡スタブを構成したときの短絡点の位置ずれによるリアクタンス変動を抑圧することができ、同スタブからなる高域通過フィルタを構成要素とする分波器全体の特性劣化を抑圧することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1に係るマイクロ波受動回路を示す構成図である。
【図2】 この発明の実施の形態2に係るマイクロ波受動回路を示す構成図である。
【図3】 この発明の実施の形態3に係るマイクロ波受動回路を示す構成図である。
【図4】 この発明の実施の形態4に係るマイクロ波受動回路を示す構成図である。
【図5】 この発明の実施の形態5に係るマイクロ波受動回路を示す構成図である。
【図6】 この発明の実施の形態6に係る高域通過フィルタを示す構成図である。
【図7】 この発明の実施の形態7に係る分波器を示す構成図である。
【図8】 従来のサスペンデッド線路を用いたマイクロ波受動回路を示す構成図である。
【符号の説明】
1、100、外導体、2、12、22、32、42、62、72、101 誘電体基板、3、13、23、33、43、63、73、102 主線路、4、14、27、37、44、64、74、106 スタブ、5、15、25、35、47、65、75、105 金属製ポスト、6 金属製ねじ、24、26、34、36、45、46 線路、66、76 キャパシタ、77 高インピーダンス線路、78 低インピーダンス線路、79 分波器共通端子、103 平行平板キャパシタ、104 先端短絡スタブ。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a microwave passive circuit including a tip short-circuited stub made of a suspended line, a high-pass filter including the microwave passive circuit as a component, and a duplexer.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in forming a short-circuited short-circuit stub for a main line through which a signal propagates in a suspended line, the stub is disposed only on one side of the line.
[0003]
FIG. 8 is a configuration diagram of a conventional high-pass filter described in JOHM WILEY & SONS, “MICROWAVE PLANAR PASSIVE CIRCUIT AND FILTERS”, and shows a top view and a cross-sectional view.
In the figure, 100 is an outer conductor, 101 is a dielectric substrate, and 102 is a main line through which a signal propagates. Reference numeral 103 denotes a parallel plate capacitor, which is configured by disposing the main line 102 on both surfaces of the dielectric substrate 101. Further, the outer conductor 100 is provided with a metal post 105, and the post 105 is brought into contact with the tip of the stub 106 connected to the main line 102 to constitute a tip short-circuit stub.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
In the conventional high-pass filter, when forming a short-circuited short stub with respect to the main line 102 through which the signal propagates, the stub 106 is arranged only on one side with respect to the main line 102, and the tip and the outer conductor are in contact with each other. By doing so, a short-circuit point was formed. However, in the configuration as described above, when a displacement occurs between the metal post 105 and the circuit board including the main line 102, the contact position between the short-circuit point and the stub changes, and the electrical length of the stub changes. As a result, there is a problem that the reactance value is shifted and the characteristics of the entire circuit are deteriorated.
[0005]
The present invention has been made to solve the above-described problem, and suppresses fluctuations in reactance of the short-circuited short-circuit stub caused by misalignment between the circuit board of the suspended line and the metal post, and the characteristics of the microwave passive circuit including the stub Deterioration is suppressed.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In the microwave passive circuit according to the present invention, when a circuit is formed by a suspended line , a short-circuit point is formed at one point of a main line through which a signal propagates by bringing a tip into contact with a metal post with a metal screw. The tip short-circuit stubs of the book are connected so that the angle formed by them is 180 degrees, and the length of each stub is less than a quarter wavelength at the operating frequency.
[0008]
Further, the two tip short-circuited stubs are bent in the opposite directions in the middle thereof.
[0011]
The high-pass filter according to the present invention is characterized in that a high-pass element is connected to the microwave passive circuit.
[0012]
Furthermore, the duplexer according to the present invention is characterized in that a low-pass filter is connected to the high-pass filter and a common terminal is provided at the connection point.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiment 1 FIG.
1 is a configuration diagram of a microwave passive circuit according to a first embodiment of the present invention, and shows a top view and a cross-sectional view. In the figure, 1 is an outer conductor, 2 is a dielectric substrate, and includes a main line 3 through which a signal propagates and two stubs 4, which constitute a suspended line. Further, 5 is a metal post, 6 is a metal screw, and these form a short-circuit point, which is brought into contact with the tip of the stub 4 to constitute a tip short-circuit stub. The tip short-circuit stubs 4 are connected so that the angle formed by them is 180 degrees.
[0014]
Next, the operation will be described. Each of the two stubs 4 has a length of less than a quarter wavelength at the operating frequency, and functions as a high-pass element having inductive reactance. Here, when the case where the position of the dielectric substrate 2 including the stub 4 is shifted in the direction parallel to the stub 4 with respect to the outer conductor 1 is considered, when the position of the short-circuit point of the stub 4 is shifted, the stub alone is viewed. The reactance value of fluctuates greatly. However, when considering two stubs together, one stub has a longer reactance value due to an increase in electrical length, while the other stub has a decrease in reactance value due to a decrease in electrical length. Accordingly, the reactance value viewed from a point on the main line 3 to which the two stubs 4 are connected can be maintained at a substantially constant value regardless of the positional deviation of the dielectric substrate 2.
[0015]
As described above, according to the configuration of the first embodiment, the reactance fluctuation due to the misalignment of the short-circuit point when the tip short-circuit stub is configured by the suspended line can be canceled, and the characteristic deterioration of the entire circuit is suppressed. be able to. Although the angle formed between the main line 3 and the tip short-circuit stub 4 is a right angle here, the same effect can be obtained at an angle other than the right angle.
[0016]
Embodiment 2. FIG.
2 is a block diagram showing a microwave passive circuit according to Embodiment 2 of the present invention. In the figure, reference numeral 12 denotes a dielectric substrate, which includes two main lines 13 and two stubs 14 through which signals propagate. The stubs 14 are bent at right angles and in opposite directions. In addition, outside conductors are arranged outside them to form a suspended line as in the first embodiment. Reference numeral 15 denotes a metal post, which forms a short-circuit point, and constitutes a tip short-circuit stub by contacting the tip of the stub 14.
[0017]
Next, the operation will be described. The second embodiment is different from the first embodiment in that the two short-circuited tip stubs 14 are bent at right angles and in opposite directions. Therefore, in the first embodiment, the dielectric substrate 2 including the stub 4 suppresses the characteristic variation when the positional deviation occurs in the direction parallel to the stub 4, whereas in the second embodiment, the dielectric substrate 12 However, it is possible to suppress fluctuations in characteristics when a displacement occurs in a direction perpendicular to the stub 14.
[0018]
As described above, according to the configuration of the second embodiment, it is possible to cancel out the reactance fluctuation caused by the misalignment of the short-circuit point when the tip short-circuit stub is configured with the suspended line, and suppress the characteristic deterioration of the entire circuit. be able to. Here, the angle at which the tip short-circuit stub 14 is bent is a right angle, but the same effect can be obtained when the angle is not a right angle.
[0019]
Embodiment 3 FIG.
3 is a block diagram showing a microwave passive circuit according to Embodiment 3 of the present invention. In the figure, reference numeral 22 denotes a dielectric substrate, which includes a main line 23 and a stub 27 through which a signal propagates. The stub 27 includes a line 24 and a line 26 having a line width larger than that of the line. In addition, outside conductors are arranged outside them to form a suspended line as in the first embodiment. Reference numeral 25 denotes a metal post, which forms a short-circuit point and constitutes a tip short-circuit stub by contacting the tip of the stub 27.
[0020]
Next, the operation will be described. The reactance Z when the short-circuit point side is viewed from a point separated from the short-circuit point of the tip short-circuited stub 27 by the electrical length θ is Zo as the characteristic impedance of the stub and θ as the electrical length of the stub.
Z = jZotanθ
Given in. At this time, the reactance change amount when the electrical length θ changes due to the displacement of the short-circuit point of the stub is proportional to the differential coefficient of the reactance Z and becomes Zo / (cos θ) 2 . Therefore, by increasing the line width in the vicinity of the short-circuit point and reducing the characteristic impedance Zo only in the same part, the desired reactance value can be realized with the tip short-circuited short-circuit stub and the reactance change amount can be reduced. Can be small.
[0021]
As described above, according to the third embodiment, it is possible to suppress the reactance fluctuation due to the positional deviation of the short-circuit point when the tip short-circuit stub is configured by the suspended line, and to suppress the characteristic deterioration of the entire circuit. it can.
[0022]
Embodiment 4 FIG.
4 is a block diagram showing a microwave passive circuit according to Embodiment 4 of the present invention. In the figure, reference numeral 32 denotes a dielectric substrate, which includes a main line 33 and a stub 37 through which a signal propagates. The stub 37 includes a line 34 and a line 36 having a line width larger than that of the line. In addition, outside conductors are arranged outside them to form a suspended line as in the first embodiment. Reference numeral 35 denotes a metal post, which forms a short-circuit point and makes a tip short-circuit stub by contacting the tip of the stub 37.
[0023]
Next, the operation will be described. In the fourth embodiment, the microwave passive circuit described in the third embodiment is applied to the microwave passive circuit described in the first embodiment. In both cases, the reactance when the short-circuit position of the tip short-circuited stub fluctuates is changed. Since the change can be suppressed, the reactance change can be further suppressed by using them together.
[0024]
As described above, according to the configuration of the fourth embodiment, it is possible to suppress the reactance fluctuation due to the misalignment of the short-circuit point when the tip short-circuit stub is configured by the suspended line, and to suppress the characteristic deterioration of the entire circuit. be able to.
[0025]
Embodiment 5 FIG.
5 is a block diagram showing a microwave passive circuit according to Embodiment 5 of the present invention. In the figure, reference numeral 42 denotes a dielectric substrate, which includes two main lines 43 and stubs 44 through which signals propagate. The stubs 44 are bent at right angles and in opposite directions, and the lines 45 and It consists of a line 46 having a larger line width than the line. In addition, outside conductors are arranged outside them to form a suspended line as in the first embodiment. Reference numeral 47 denotes a metal post, which forms a short-circuit point and constitutes a tip short-circuit stub by contacting the tip of the stub 44.
[0026]
Next, the operation will be described. In the fifth embodiment, the microwave passive circuit described in the third embodiment is applied to the microwave passive circuit described in the second embodiment. In both cases, the reactance when the short-circuit point position of the tip short-circuit stub varies is used. Since the change can be suppressed, the reactance change can be further suppressed by using them together.
[0027]
As described above, according to the configuration of the fifth embodiment, it is possible to suppress the reactance fluctuation due to the misalignment of the short-circuit point when the tip short-circuit stub is configured by the suspended line, and to suppress the deterioration of the characteristics of the entire circuit. be able to.
[0028]
Embodiment 6 FIG.
6 is a block diagram showing a high-pass filter according to Embodiment 6 of the present invention. In the figure, reference numeral 62 denotes a dielectric substrate, which includes a main line 63 and a stub 64 through which a signal propagates. In addition, outside conductors are arranged outside them to form a suspended line as in the first embodiment. Reference numeral 65 is a metal post that forms a short-circuit point and makes a short-circuited stub by contacting the tip of the stub 64. Reference numeral 66 denotes a capacitor, which is composed of a chip capacitor or a parallel plate capacitor.
[0029]
Next, the operation will be described. In the sixth embodiment, a capacitor 66, which is a high-pass element, is connected to the microwave passive circuit shown in the first embodiment, and these constitute a high-pass filter. As described in the first embodiment, the reactance fluctuation when the position of the short-circuit point of the short-circuited short-circuit stub fluctuates can be suppressed by using two stubs. It is possible to realize a high-pass filter with little characteristic deterioration at the time. Note that the high-pass filter can be configured by connecting the capacitor 66, which is a high-pass element, to the microwave passive circuits shown in the second to fifth embodiments.
[0030]
As described above, according to the configuration of the sixth embodiment, it is possible to suppress the reactance fluctuation due to the positional deviation of the short-circuit point when the tip short-circuit stub is configured by the suspended line, and the high-pass filter including the stub can be suppressed. It is possible to suppress the deterioration of characteristics.
[0031]
Embodiment 7 FIG.
FIG. 7 is a block diagram showing a duplexer in accordance with Embodiment 7 of the present invention. In the figure, reference numeral 72 denotes a dielectric substrate including a main line 73 and a stub 74 through which a signal propagates. In addition, outside conductors are arranged outside them to form a suspended line, as in the first embodiment. Reference numeral 75 is a metal post that forms a short-circuit point and is brought into contact with the tip of the stub 74 to constitute a tip short-circuit stub. A capacitor 76 is constituted by a chip capacitor or a parallel plate capacitor, and constitutes a high-pass filter together with the tip short-circuit stub. On the other hand, the dielectric substrate 72 includes a high-impedance line 77 and a low-impedance line 78, which are connected in cascade on the same substrate to form a low-pass filter, and are connected to the high-pass filter. A common terminal 79 is provided at the point, and a duplexer is constituted by the above components.
[0032]
Next, the operation will be described. In the seventh embodiment, a duplexer is configured by connecting a low-pass filter to the high-pass filter described in the sixth embodiment and providing a common terminal at the connection point. Since the high-pass filter can suppress the characteristic fluctuation when the position of the short-circuit point of the tip short-circuit stub fluctuates, as shown in the sixth embodiment, a low-pass filter is connected to the filter. Thus, it is possible to realize a duplexer having a small characteristic variation.
[0033]
As described above, according to the configuration of the seventh embodiment, it is possible to suppress the reactance fluctuation due to the misalignment of the short-circuit point when the tip short-circuit stub is configured with the suspended line, and the high-pass filter including the stub can be suppressed. It is possible to suppress the deterioration of the characteristics of the entire duplexer having the component.
[0034]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to cancel the reactance fluctuation caused by the positional deviation of the short-circuit point when the tip short-circuit stub is configured by the suspended line, and to suppress the characteristic deterioration of the entire circuit.
[0035]
In addition, it is possible to suppress reactance fluctuations due to misalignment of a short-circuit point when a tip short-circuit stub is configured with a suspended line, and to suppress characteristic deterioration of a high-pass filter including the stub.
[0036]
Furthermore, it is possible to suppress reactance fluctuations due to misalignment of the short-circuit point when the tip short-circuit stub is configured with the suspended line, and to reduce the characteristics of the entire duplexer including the high-pass filter composed of the stub as a component. Can be suppressed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing a microwave passive circuit according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram showing a microwave passive circuit according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a configuration diagram showing a microwave passive circuit according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a configuration diagram showing a microwave passive circuit according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a configuration diagram showing a microwave passive circuit according to a fifth embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a block diagram showing a high-pass filter according to Embodiment 6 of the present invention.
FIG. 7 is a configuration diagram illustrating a duplexer according to a seventh embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a configuration diagram showing a microwave passive circuit using a conventional suspended line.
[Explanation of symbols]
1, 100, outer conductor, 2, 12, 22, 32, 42, 62, 72, 101 Dielectric substrate 3, 13, 23, 33, 43, 63, 73, 102 Main line 4, 14, 27, 37, 44, 64, 74, 106 Stub 5, 15, 25, 35, 47, 65, 75, 105 Metal post, 6 Metal screw, 24, 26, 34, 36, 45, 46 Track, 66, 76 capacitor, 77 high impedance line, 78 low impedance line, 79 branching filter common terminal, 103 parallel plate capacitor, 104 tip short circuit stub.

Claims (4)

サスペンデッド線路で回路を構成するにあたり、信号が伝搬する主線路の一点に、先端を金属製ねじによって金属製ポストに接触させることで短絡点が形成された2本の先端短絡スタブをそのなす角度が180度となるよう接続し、かつ各々のスタブの長さを使用周波数にて4分の1波長未満としたことを特徴とするマイクロ波受動回路。In constructing a circuit with a suspended line, the angle formed by two short-circuited stubs with a short- circuit point formed by bringing the tip into contact with a metal post with a metal screw at one point of the main line through which the signal propagates A microwave passive circuit which is connected so as to be 180 degrees and the length of each stub is less than a quarter wavelength at a use frequency. 請求項1に記載のマイクロ波受動回路において、
前記2本の先端短絡スタブをその途中で互いに逆方向に折り曲げた
ことを特徴とするマイクロ波受動回路。
The microwave passive circuit according to claim 1,
The microwave passive circuit, wherein the two short-circuited short stubs are bent in opposite directions in the middle.
請求項1または2に記載のマイクロ波受動回路に高域通過素子を接続して構成した
ことを特徴とする高域通過フィルタ。
High pass filter, characterized in that constructed by connecting a high pass element in microwave passive circuit according to claim 1 or 2.
請求項に記載の高域通過フィルタに低域通過フィルタを接続し、それらの接続点に共通端子を設けて構成した
ことを特徴とする分波器。
A duplexer comprising: a low-pass filter connected to the high-pass filter according to claim 3; and a common terminal provided at the connection point.
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