JP3668400B2 - 乾燥装置 - Google Patents

乾燥装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3668400B2
JP3668400B2 JP31928099A JP31928099A JP3668400B2 JP 3668400 B2 JP3668400 B2 JP 3668400B2 JP 31928099 A JP31928099 A JP 31928099A JP 31928099 A JP31928099 A JP 31928099A JP 3668400 B2 JP3668400 B2 JP 3668400B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plate
substrate
sealed container
drying apparatus
exhaust
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP31928099A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001133149A (ja
Inventor
克之 町田
億 久良木
出 井関
勉 上山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Screen Holdings Co Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Screen Holdings Co Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Screen Holdings Co Ltd, Nippon Telegraph and Telephone Corp, Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Screen Holdings Co Ltd
Priority to JP31928099A priority Critical patent/JP3668400B2/ja
Publication of JP2001133149A publication Critical patent/JP2001133149A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3668400B2 publication Critical patent/JP3668400B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Drying Of Solid Materials (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基体上の塗布された溶媒に溶解分散した樹脂組成物などからなる塗布膜を乾燥するための乾燥装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
基板やシートフィルムなどの基体上に塗布された有機溶媒を含む樹脂組成物などを乾燥する場合、乾燥によって有機溶媒が揮発するため、揮発した有機溶媒の気体が離散しないように、乾燥を所定の容器内で行うようにしている。
上記の揮発気体が離散しないようにした乾燥装置に関して説明すると、図4に示すように、まず、ヒータ401aにより加熱されるホットプレート401を備える。このホットプレート401上に、乾燥対象の樹脂組成物が塗布されたガラス基板やシートフィルムなどの基体402が載置されると、基体402が加熱され、基体402表面の樹脂組成物が加熱されて有機溶媒が蒸発して乾燥する。
【0003】
また、ホットプレート401は容器403内に配置されている。容器403上部のガス導入口403aからは乾燥窒素ガスが供給され、容器403側部のガス排出口403bより内部のガスが排気される。ガス排出口403aより排気されるガスは、ガス中の有機溶媒を除去するなどの処理がなされる。基体402は、容器403内部のホットプレート401上で加熱処理されるので、基体402上の樹脂組成物が加熱された結果発生した有機溶媒のガスなどは、ガス排出口403bから排気され、外部に離散することがない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の乾燥装置は上述したように構成されていたので、排気口403b付近と排気口403bより離れた領域とで、基体402上に形成する樹脂組成物の膜厚が異なるという問題があった。上記の乾燥装置では、容器403内部にガスの流れを形成し、容器401側部のガス排出口403bより排気しているため、図4(b)に示すように、排気口403b付近の基体402表面には、ガスの流れに触れる領域410が発生する。基体402表面のガスの流れに触れた領域410は温度が低下するため、温度が低下しない他の領域とは樹脂組成物の乾燥状態が変化して膜厚が変化してしまう。
【0005】
この発明は、以上のような問題点を解消するためになされたものであり、基体上に塗布された膜を均一に乾燥して均一な膜を形成することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この発明の乾燥装置は、上面中央部に排気口を備えた密閉容器と、この密閉容器内部にこの密閉容器の上面より所定の距離を開けてかつこの密閉容器側面より所定の距離を開けて配置されて上面に処理対象の基体を載置するプレートと、このプレートを加熱する加熱手段と、排気口より密閉容器内部のガスを排気する排気手段と、密閉容器のプレート上面より低い位置でプレート配置領域より外側に設けられたガス導入口と、プレート上部に所定の間隔を開けて配置されて複数の開口部を備えた板状の排気流分散板と、排気流分散板をプレートの上部に所定の間隔を開けて保持する複数のピンとを備え、排気流分散板は、その外周と前記密閉容器との間の少なくとも一部に通気のための間隙を有するようにしたものである。
この発明によれば、排気手段により密閉容器上部の排気口から内部のガスを排気すると、ガス導入口よりガスが導入され、ガス導入口より導入されたガスは密閉容器の内壁に沿って上昇し、排気口より排気され、排気流分散板により基体上部のガスの上昇気流が均一になる。
【0007】
この発明の他の態様による乾燥装置は、ピンにより、排気流分散板をプレートの上部に所定の間隔を開けて配置するとともに、基板をプレートに固定するようにしてもよい。
また、この発明の他の態様による乾燥装置は、基体をプレート上に固定する固定手段を備える。なお、基体は、ガラス基板,シートフィルム,シリコン基板のいずれかであればよい。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下この発明の実施の形態を図を参照して説明する
じめに、本発明における乾燥装置の基本的な構成ついて説明する。この乾燥装置は、図1に示すように、まず、密閉容器101内にプレート102が配置されている。プレート102は、ヒータ102aにより所定温度に加熱され、プレート102上部に載置される基体103を加熱する。この基体103は、例えば、ガラス基板や樹脂製のシートフィルムまたは半導体基板などである。
【0009】
密閉容器101の側面は、プレート102が配置されたところより上部に向かって徐々に内側に傾斜する形状となっている。また、密閉容器101の上面は、中央部に近づくほどプレート102より離れるように構成されている。そして、密閉容器101上面の中央部に排気口101aが設けられ、排気口101aは排気手段104に連通している。また、密閉容器101下部の密閉容器101側部近くにはガス導入口101bが設けられ、窒素ガスやアルゴンガスなどの不活性ガスが導入される。なお、図1(a)は断面の状態を概略的に示し、図1(b)は上面からみた状態を示している。
【0010】
密閉容器101内のガスは、排気口101aを介して排気手段104により排気される。排気手段104では、排気するガス中より、有機溶媒などを除去するようにしている。また、排気手段104により排気して密閉容器101内を負圧とすることで、ガス導入口101bより密閉容器101内に窒素ガスを導入する。
プレート102上に載置される基体103は、基体103周囲をリング状の固定手段105で押さえられて固定されている。固定手段105は、数本のピン106により密閉容器101上部に固定されている。なお、他の方法により基体103を固定するようにしてもよく、例えば、真空吸着で基体をプレート上に固定するようにしてもよい。
【0011】
上記構成とした乾燥装置において、ガス導入口101bより導入された窒素ガスは、密閉容器101の内部側面に沿って上昇し、排気口101aより排気される。したがって、ガス導入口101bより密閉容器101内部に導入されて排気口101aより排出される窒素ガスの気流は、プレート102上に載置されている基体103表面に接触することがない。なお、導入された窒素ガスの中で、拡散することで基体103表面に接触するものはあるが、これらは微量である。
一方、ヒータ102aにより例えば100℃にされたプレート102上では、載置された基体103が加熱される結果、基体103表面に塗布された樹脂組成物に含まれる有機溶剤が揮発する。また、基体103表面の樹脂組成物が昇華する。これら有機溶剤の気化ガスや樹脂組成物の昇華ガスは、加熱されたホットプレート102上の上昇気流とともに上昇し、排気口101aより排気される。
【0012】
以上説明したように、図1の乾燥装置によれば、まず、密閉容器内で乾燥しているので、基体上に塗布された樹脂組成物を乾燥するとき、樹脂組成物に含まれる有機溶剤の気化ガスや樹脂組成物が昇華することで発生するガスが周囲に離散することがない。また、密閉容器内は、常に窒素などの不活性ガスが導入され、また、密閉容器上部より密閉容器内部のガスを排気しているので、密閉容器内に、上記の乾燥により発生するガスが充満して乾燥を阻害することがない。
【0013】
また、密閉容器の底部より内部に導入された窒素ガスの気流は、密閉容器内の側壁に沿って移動し、密閉容器上部の排出口より強制排気されるので、排気によるガスの流れが基体表面に触れることが無く、基体表面に温度分布が形成されることがない。このように、基体表面に温度分布が形成されないので、図1の乾燥装置によれば、基体表面の樹脂組成物による膜が、基体上に均一に形成できる。加えて、密閉容器内の側壁に沿って移動するガスの流れが形成されるので、樹脂組成物の加熱乾燥により発生したガスによる密閉容器内壁の汚染が抑制できる。
【0014】
に、この発明の実施の形態について説明する。本実施の形態の乾燥装置は、図2に示すように、まず、密閉容器101内にプレート102が配置されている。プレート102は、ヒータ102aにより所定温度に加熱され、プレート102上部に載置される基体103を加熱する。密閉容器101上部には排気口101aが設けられ、排気口101aは排気手段104に連通している。また、密閉容器101下部の密閉容器101側部近くにはガス導入口101bが設けられ、窒素ガスやアルゴンガスなどの不活性ガスが導入される。なお、図2(a)は断面の状態を示し、図2(b)は上面からみた状態を示している。
【0015】
密閉容器101内のガスは、排気口101aを介して排気手段104により排気される。また、排気手段104により排気して密閉容器101内を負圧とすることで、ガス導入口101bより密閉容器101内に窒素ガスを導入する。以上のことは、図1に示した乾燥装置と同様である。
本実施の形態では、新たに、複数の開口部201aを設けた排気流分散板201を、基体103上部に配置した。また、基体103のプレート102に対する固定は複数のピン(固定手段)202で行い、同時にこのピン202により排気流分散板201をプレート101上部に所定の間隔を開けて保持するようにした。したがって、排気流分散板201と基体103との間の空間は、側部において周囲に開放されている。
【0016】
上記構成とした乾燥装置においても、ガス導入口101bより導入された窒素ガスは、密閉容器101の内部側面に沿って上昇し、排気口101aより排気される。したがって、ガス導入口101bより密閉容器101内部に導入さてて排気口101aより排出される窒素ガスの気流は、プレート102上に載置されている基体103表面に接触することがない。
一方、ヒータ102aにより例えば100℃にされたプレート102上では、載置された基体103が加熱される結果、基体103上部には上昇気流が発生する。また、基体103上部の空間にあるガスは、排気口101aから排気手段104により強制排気されている。
【0017】
このように、基体103上部のガスが上方に向かって流れていく中で、本実施の形態では排気流分散板201を直上に配置しているので、基体103上部のガスの上方への流れがより均一となる。また、図1の装置と同様に、排気口101aより排気されていく密閉容器101内のガスの流れが、基体103表面に触れることがない。したがって、本実施の形態によれば、基体103表面の温度分布のムラを、図1の装置に比較してより向上させることができる。
ところで、上述では、図2(b)の上面図にも示したように、排気流分散板に複数の小さな円形の開口部を設けるようにしたが、これに限るものではなく、図3(a),(b)に示すように、円弧状のスリットや放射状のスリットを開口部として設けるようにしてもよい。
【0018】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明では、上面中央部に排気口を備えた密閉容器と、この密閉容器内部にこの密閉容器の上面より所定の距離を開けてかつこの密閉容器側面より所定の距離を開けて配置されて上面に処理対象の基体を載置するプレートと、このプレートを加熱する加熱手段と、排気口より密閉容器内部のガスを排気する排気手段と、密閉容器のプレート上面より低い位置でプレート配置領域より外側に設けられたガス導入口と、プレート上部に所定の間隔を開けて配置されて複数の開口部を備えた板状の排気流分散板と、排気流分散板をプレートの上部に所定の間隔を開けて保持する複数のピンとを備えるようにし、さらに排気流分散板の外周と密閉容器との間の少なくとも一部に通気のための間隙を有するようにした。
この発明によれば、排気手段により密閉容器上部の排気口から内部のガスを排気すると、ガス導入口よりガスが導入され、ガス導入口より導入されたガスは密閉容器の内壁に沿って上昇し、排気口より排気される。したがって、密閉容器内のガスの流れが、基体表面に触れることがないので、基体表面の温度分布が均一となり、基体上に塗布された膜を均一に乾燥して均一な膜を形成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明を説明するための乾燥装置の断面構成(a)と平面構成(b)を示す構成図である。
【図2】 この発明の実施の形態における乾燥装置の断面構成(a)と平面構成(b)を示す構成図である。
【図3】 排気流分散板の他の形態を示す平面図である。
【図4】 従来よりある乾燥装置の断面構成(a)と平面構成(b)を示す構成図である。
【符号の説明】
101…密閉容器、101a…排気口、101b…ガス導入口、102…プレート、102a…ヒータ、103…基体、104…排気手段、105…固定手段、106…ピン。

Claims (6)

  1. 上面中央部に排気口を備えた密閉容器と、
    この密閉容器内部にこの密閉容器の上面より所定の距離を開けてかつこの密閉容器側面より所定の距離を開けて配置されて上面に処理対象の基体を載置するプレートと、
    このプレートを加熱する加熱手段と、
    前記排気口より前記密閉容器内部のガスを排気する排気手段と、
    前記密閉容器の前記プレート上面より低い位置で前記プレート配置領域より外側に設けられたガス導入口と、
    前記プレート上部に所定の間隔を開けて配置されて複数の開口部を備えた板状の排気流分散板と、
    前記排気流分散板を前記プレートの上部に所定の間隔を開けて保持する複数のピンとを備え
    前記排気流分散板は、その外周と前記密閉容器との間の少なくとも一部に通気のための間隙を有する
    ことを特徴とする乾燥装置。
  2. 請求項1記載の乾燥装置において、
    前記ピンは、前記排気流分散板を前記プレートの上部に所定の間隔を開けて配置するとともに、前記基板を前記プレートに固定する
    ことを特徴とする乾燥装置。
  3. 請求項1または2に記載の乾燥装置において、前記基体はガラス基板であることを特徴とする乾燥装置。
  4. 請求項1から3のいずれか1項に記載の乾燥装置において、
    前記基体はシートフィルムであることを特徴とする乾燥装置。
  5. 請求項1から3のいずれか1項に記載の乾燥装置において、
    前記基体は半導体基板であることを特徴とする乾燥装置。
  6. 溶媒に溶解分散した樹脂組成物を含んで基板上に塗布された塗布膜を乾燥するための乾燥装置であって、
    上部に排気口を備えた密閉容器と、
    前記排気口より前記密閉容器内部のガスを排気して前記密閉容器内を負圧とする排気手段と、
    前記密閉容器内部の下部に配置されて上面に処理対象の基体を載置するプレートと、
    このプレートを加熱する加熱手段と、
    前記プレートの上部に所定の間隔を開けて配置されて複数の開口部を備えた板状の排気流分散板と
    を備え、
    前記排気流分散板は、複数のピンにより前記プレート直上部に所定の間隔を開けて保持され、
    前記排気流分散板と基板との間の空間は、側部において周囲に開放されており、
    前記排気流分散板は、その外周と前記密閉容器との間の少なくとも一部に通気のための間隙を有す
    ことを特徴とする乾燥装置。
JP31928099A 1999-11-10 1999-11-10 乾燥装置 Expired - Fee Related JP3668400B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31928099A JP3668400B2 (ja) 1999-11-10 1999-11-10 乾燥装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31928099A JP3668400B2 (ja) 1999-11-10 1999-11-10 乾燥装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001133149A JP2001133149A (ja) 2001-05-18
JP3668400B2 true JP3668400B2 (ja) 2005-07-06

Family

ID=18108455

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31928099A Expired - Fee Related JP3668400B2 (ja) 1999-11-10 1999-11-10 乾燥装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3668400B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4048242B2 (ja) 2002-05-29 2008-02-20 エスペック株式会社 熱処理装置
TWI311634B (en) * 2003-03-19 2009-07-01 Hirata Corporatio Multi stage type heating apparatus for large size substrates
TWI312856B (en) * 2003-03-24 2009-08-01 Hirata Corporatio Multi stage type heating apparatus for large size substrates

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05181285A (ja) * 1991-12-27 1993-07-23 Fuji Photo Film Co Ltd 画像形成方法
JP2909944B2 (ja) * 1992-09-28 1999-06-23 東京エレクトロン株式会社 処理装置
JPH06275512A (ja) * 1993-03-19 1994-09-30 Fujitsu Ltd 感光性レジスト膜のベーキング方法とその装置
JP3028462B2 (ja) * 1995-05-12 2000-04-04 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001133149A (ja) 2001-05-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100798659B1 (ko) 기판처리장치
US6417117B1 (en) Spin coating spindle and chuck assembly
US4794021A (en) Method of providing a planarized polymer coating on a substrate wafer
KR100875597B1 (ko) 가열처리장치
KR100583134B1 (ko) 기판의 처리장치 및 처리방법
WO2003036694A1 (fr) Materiel de traitement thermique et procede de traitement thermique
JP2764038B2 (ja) Hmds処理装置
JP3668400B2 (ja) 乾燥装置
JP3180048U (ja) 熱処理装置
JP3928417B2 (ja) 塗布膜の乾燥方法及びその装置
JP4267809B2 (ja) 基板の処理装置及び処理方法
JPH09181155A (ja) 堆積装置のサセプタ
CN111326447B (zh) 基板处理装置
JPH1012517A (ja) 基板熱処理装置
JP2016205717A (ja) 加熱乾燥装置
JP3026305B2 (ja) 加熱処理方法
JP4294893B2 (ja) 基板熱処理装置及びその整流機構並びに整流方法
JP2889935B2 (ja) 基板加熱装置
JP3636378B2 (ja) 半導体製造装置
JPS61235833A (ja) 塗布装置
JP3806660B2 (ja) 減圧乾燥装置及び減圧乾燥方法
JP2586600Y2 (ja) 基板加熱処理装置
JP2611161B2 (ja) レジスト処理装置
JP2792886B2 (ja) 化学気相成長装置
JP4912227B2 (ja) 加熱処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040825

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040907

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041026

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20041214

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20050113

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050210

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20050221

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050405

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050408

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090415

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090415

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100415

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees