JP3650654B2 - 電子管 - Google Patents
電子管 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3650654B2 JP3650654B2 JP22361295A JP22361295A JP3650654B2 JP 3650654 B2 JP3650654 B2 JP 3650654B2 JP 22361295 A JP22361295 A JP 22361295A JP 22361295 A JP22361295 A JP 22361295A JP 3650654 B2 JP3650654 B2 JP 3650654B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- face plate
- receiving face
- incident
- light receiving
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J31/00—Cathode ray tubes; Electron beam tubes
- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/26—Image pick-up tubes having an input of visible light and electric output
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、微弱な光を入射し増強して検出する電子管に関し、より詳細には、入射した光の入力像に対し歪みのない出力像を出力できる電子管に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
電子管は、微弱な二次元的な入射光を増幅して電気信号として検出する機器であって、天体観察や夜間の動物の生態観察などで用いられるイメージインテンシファイヤの構成部品などとして用いられている。
【0003】
この電子管は、受光面板とステムが所定距離隔てて対向して配設され、その受光面板のステム対向面には光の入射により光電子を放出する光電面が設けられ、ステムの受光面板と対向する面には光電子を受けて電気信号を出力する半導体素子が設けられると共に、受光面板とステムとの間を真空状態としその真空空間に放出された光電子の軌道を制御する電子レンズが設けられた構造となっている。
【0004】
この電子管によれば、受光面板の表面に入力像である光が入射されると、光電面により光電子に変換されて半導体素子へ向けて放出され、電子レンズにより半導体素子上に結像され、この半導体素子により電気信号として出力像を検出することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、その電子管にあっては、光による入力像に対し、半導体素子で検出される出力像が歪んでしまうという問題が発生する。すなわち、前述のように光電面から放出された光電子は電子レンズの電界によりその走行軌道が制御されるわけであるが、その電界の電位変化は光電面と半導体素子を結ぶ軸線から離れるほど急峻となるため、その軸線から遠く離れた位置を通過する光電子はその電界により必要以上に曲げられ、半導体素子上の所要の位置からずれて結像することになる。そのため、出力像に歪みを生じてしまう。
【0006】
このような歪みを低減する方法として、特開平3ー34242号公報に記載された試みがなされているが、理想的な状態を除いて、現実的には、この歪みを完全に除去するのは不可能である。また、電子レンズによる歪みを回避するためには、電子レンズによる電界領域において電子管軸付近のごく狭い範囲をだけを利用する方法がある。しかし、この方法を用いると、電子管の外形に対し有効径が小さくなるという問題がある。このため、電子管の大きさを自由に設定できる場合にはこのような方法が適用できるが、電子管の外形に制限のある場合には適用できなくなる。
【0007】
また、前述の歪みを低減する方法として、光電面を球面状に形成して電子管を構成する方法がある。すなわち、光電子の放出軌道が交差するクロスオーバー点を中心として光電面を球面状に形成し、光電面の各部からクロスオーバー点までの距離を等しくし、電子レンズによる歪みを低減しようとする方法である。この場合、出力面である半導体素子も光電面のように球面状とすれば歪みがいっそう改善される。しかし、光電面を球面状とすると、平板状のシンチレータ(入射した放射線に応じて蛍光を発する部材)を受光面板の全面に渡って均一にコンタクトが取れないという問題が発生する。また、出力面である半導体素子の表面を球面状することはほとんど不可能である。
【0008】
更に、前述の歪みの問題を解決しようとしたものとして、特公平2ー15981号公報にはイメージ管の技術が記載されている。このイメージ管は、受光面板(入力面)が矩形状であり、それに伴う出力面での画像の歪みに対し、電子管側部へ縞状の電圧を印加して球対称に近い電界を作り出すことでその低減を図ろうとするものである。しかしながら、この公報の技術を適用するには、電子管の側部に電圧供給用の真空貫通端子を多数取り付ける必要がある。また、この技術によっても出力画像の歪みを完全に取り除くことは非常に困難である。
【0009】
そこで本発明は、このような技術課題を解消するためになされたもので、入射する光の像を全く歪みのない電子像の信号として出力する電子管を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
即ち本発明は、裏面に光電面が設けられ表面への光の入射によりその光電面から光電子を放出する受光面板と、その受光面板の前記光電面と対向して配置され前記受光面板と対向する面に設けられた入射窓で前記光電子を受けて電気信号として出力する半導体素子と、前記受光面板と前記半導体素子の間に形成される真空空間内に配設され前記光電子の放出軌道を制御する電子レンズとを備えて構成される電子管において、前記受光面板は平板状とされ、前記入射窓はその外形が前記受光面板の外形に対し中心より遠方になるほど外側へ引き延ばされた形状とされ、かつ複数の画素に分割されたことを特徴とする。
【0011】
このような発明によれば、平板状である受光面板に入射した光は、その内側に取り付けられた光電面で光電子に変換されて半導体素子へ向けて放出される。その際、光電子は電子レンズにより歪んだ結像状態で半導体素子上へ入射されるが、半導体素子の入射窓がその光電子の結像の歪み状態と同形状に形成されると共に、複数の画素に分割化されているので、受光面板への入射した光の入力像と全く歪みのない状態の出力像が電気信号として半導体素子から出力される。また受光面板が平板状であるから平板状部材、例えばシンチレータへの接合性に優れる。
【0012】
また本発明は、受光面板の外形が矩形とされ、かつ前記入射窓の外形が矩形の角部をほぼ対角線延長方向へ引き延ばした形状とされたことを特徴する。
【0013】
このような発明によれば、前述と同様に、受光面板へ入射した光を増倍して全く歪みのない電気信号として出力されると共に、複数の電子管を隣接して配列した場合、デッドスペースがほとんど生じないので、入射した光を忠実に電気信号として出力できる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に基づき、本発明に係る電子管を説明する。尚、各図において同一要素には同一符号を付して説明を省略する。
【0015】
図1は電子管の全体概要図である。図2は半導体素子の拡大図である。図3は電子管の使用例を示す図である。
【0016】
図1に示すように、電子管10は、所定距離隔てて受光面板1とステム2が対向して配設され、その間の空間が真空状態に保たれた構造となっている。例えば、一方へ向けて先細り状とした筒形の側管3の大開口部に受光面板1、小開口部にステム2がそれぞれ各端の開口部を閉塞するように配設され、その側管3内が密閉されており、その内部が真空状態とされている。
【0017】
前述の受光面板1は、入力像である光を受けるためのものであって、外形を矩形とした平板状の板体で構成され、具体的にはガラス板などが用いられる。その受光面板1の裏面、すなわちステム2との対向面には光電面11が形成されている。この光電面11は透過型の光電変換材であって、例えば、Cs、Na、K、Rbなどのアルカリ金属、GaAsなどの化合物半導体又はAgO等により形成され、受光面板1の外側に光が入射するとその内側(ステム2側)へ光電子を放出するようになっている。
【0018】
また、受光面板1とステム2の間に位置する側管3の内部空間には、電子レンズ4が形成されている。この電子レンズ4は、光電面11から放出された光電子の軌道を制御するためのものであって、例えば、円筒型の第一電極41、第二電極42、第三電極43をそれぞれ電子管10の管軸方向へ所定距離隔てて同心状に順次配設した構造とされる。これらの各電極41〜43へ電圧を印加することにより、側管3内に電界が形成され、光電面11から放出された光電子の軌道が制御され、受光面板1に入る光の入力像が半導体素子6上へ縮小されて結像されることとなる。この受光面板1として外形100mm×100mmのものを採用し、電子レンズとして画像を10分の1程度に縮小するものを用いるのが好ましい。尚、電子レンズ4は、放出される光電子の軌道を制御できるものであれば、前述のものに限られるものでなく、その他の構造又は形態のものを採用してもよい。
【0019】
一方、前述のステム2は、多層構造のセラミックからなる平板で形成されており、その周縁部に断面をクランク形としたリング状のコバールフランジ5がろう付けされており、そのコバールフランジ5を介して側管3の開口部へ取り付けられている。また、このステム2の裏面(受光面板1に対向する面)に半導体素子6が取り付けられている。半導体素子6は、光電面11から発せられる光電子を受けて増倍させ電気信号として出力する素子であり、その表面に光電子を直接受ける入射窓61が形成されている。この入射窓61は、その外形が矩形の角部を略対角線延長方向へ引き延ばした形状とされ、かつ複数の画素62に分割されている。すなわち、入射窓61は、受光面板1への光の入射像に対し入射窓61への光電子の歪んだ入射状態を補正するために、その歪み状態に合わせて矩形の角部を略対角線延長方向へ引き延ばしたピンクッション形とされており、また受光面板1のどの位置に光が入射したかを正確に把握するために複数の画素62a、62b、…に分割されている。この入射窓61の外形及び画素62の形状は、光電子の入射状態の歪み程度に応じて決定される。それらの形状の具体的な設定は、電子レンズ4の各電極41〜43で形成される電界を計算することにより、光電面11の各部から放出される光電子の各軌道が算出できるから、その光電子の軌道に基づいて決定すればよい。尚、図2においては、入射窓61が4×4の16個の画素62に分割されているが、必要に応じてそれ以下又はそれ以上の分割状態としてもよい。また画素62をその他の形状として分割しても勿論よい。
【0020】
また、前述の半導体素子6としては、例えば、マルチチャンネルPDなどが採用され、その具体的な構造としては、図2に示すように、10kΩcm程度の高抵抗としたn型シリコンの基板63を基本材として、その表面(受光面板1に対向する面)に前述の入射窓61以外の部分に電極64が被覆され、その裏面(ステム2接触面)側の縁部分を取り巻いてn+ チャネルストップ層65が形成され、そのn+ チャンネルストップ層65に囲まれた部分に入射窓61と同形状とされ画素62a、62b、…62pに対応して分割された複数のp型層66が形成され、その各p型層66上に接続されて電極67が形成され、前述の電極64下層に基板63全面にわたってn+ 層68が形成されて構成される。また、電極64は前述のコバールフランジ5とワイヤーボンディングにより電気的に接続されている。尚、前述のn+ チャネルストップ層65はリンの拡散により、p型層66はボロンの拡散により、またn+ 層68はリンの拡散により形成すればよい。
【0021】
更に、前述のステム2の裏面(半導体素子6接触面)には、図2の如く、半導体素子6の各電極67と対面するように複数のボンディングパット21が形成され、前述の各p型層26とその表面に配置された金製のバンプ69を介してバンプボンディングされ電気的に接続されている。また、この各ボンディングパット21に対応して複数のピン22がステム2の表面に突設され、個々のボンディングパット21と結線されており、電子管10への光の入射に対応した電気信号を出力するようになっている。
【0022】
次に、電子管10の動作について説明する。図1において、まず、光検出を行う前に、コバールフランジ5及び半導体素子6表面の電極64を0Vとして、光電面11に−8kV、電子レンズ4の電極41に−7.5kV、電極42に−5kV、電極43に0Vを印加しておく。また、半導体素子6には光電面11側の表面からその裏面に向けて200Vの逆バイアスを印加しておく。その状態において、受光面板1の表面へ光が入射すると、その裏面側の光電面11により光電子に変換され、電子管10内のステム2へ向けて放出される。
【0023】
一方、電子管10内では電子レンズ4の円筒状の電極41〜43により所定の電界が形成され、その電界により光電子が加速されてステム2上の半導体素子6の入射窓61へ入射される。その際、光電面11の中心から離れた位置から放出される光電子ほど電子レンズ4の電界により必要以上に大きく曲げられて入射窓61へ入射されることとなる。この現象を二次元的に考察すると、受光面板1への光の入力像に対し、半導体素子6の入射窓61への光電子の入射像はその中心から離れるほど外側へ引き延ばされた形状となって歪んでしまうこととなる。また、受光面板1及び光電面11が平板状である場合では、光電面11の端部分と中心部分では光電子軌道のクロスオーバー点(図1では電極43付近)までの距離が大きく異なるので、光電子の入射像の歪みは更に助長される。
【0024】
しかし、歪んだ状態で入射してくる光電子の軌道が予め計算され、その計算に基づき入射窓61が矩形の角部を略対角線延長方向へ引き延ばした形状とされており、かつ複数(16個)の画素62に分割されているから、受光面板1から放出された光電子はその受光面板1に対応した画素62へ入射することとなる。そして、画素62へ入射した光電子は半導体素子6内でエネルギーを失いながら1500個程度の電子−正孔対を生成し増倍されて、電極67及びボンディングパット21を介してピン22から電気信号として出力されていく。
【0025】
このように電子管10によれば、受光面板が矩形の平板状であるのにかかわらず、入射してくる光の入力像を増倍して全く歪みのない出力像の電気信号として出力することができる。
【0026】
次に、前述の電子管10をガンマカメラへ適用した場合の使用例について説明する。図3において、ガンマカメラ20は、入射したγ線を可視光に変換する平板状のシンチレータ7の裏面に、ガラスよりなる平板状の拡散板8を介して、受光面板1を当接した状態で複数の電子管10の配列して構成される。図3中の9は電子管10の出力信号を読み出す初段の回路である。このガンマカメラ20にあっては、電子管10の受光面板1外形が矩形であるから隣接する各受光面板1の間に隙間を生じさせることなく配列することが可能である。このため、シンチレータ7へ入射するγ線をいずれかの電子管10で確実に受光できる。また、電子管10の受光面板1が平板状であるから各受光面板1をシンチレータ7裏面へ拡散板8を介し当接して、また平行状態として配置できる。このため、シンチレータ7へ入射するγ線を歪みなく正確に電子管10で受光できる。このように、ガンマカメラ20によれば、シンチレータ7へのγ線入射状態を正確で、かつ歪みない電気信号として出力できる。
【0027】
尚、前述の電子管10の受光面板1の外形は矩形に限られるものでなく、隙間なく隣接できる形状であれば、六角形や三角形などその他の形状であってもよい。そのような電子管10であっても、前述の如く、入射してくる光の入力像を増倍して全く歪みのない出力像の電気信号として出力することができる。
【0028】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、次のような効果を得ることができる。
【0029】
すなわち、光を受ける受光面板が平板状とされ、光電変換された光電子を受ける半導体素子の入射窓の外形が受光面板の外形に対し中心より遠方になるほど外側へ引き延ばされた形状とされ、且つ入射窓が複数の画素に分割されたことにより、受光面板への光の入力像に対し半導体素子への光電子の歪んだ入射像が半導体素子で補正されるから、入射する光を増倍して全く歪みのない電気信号として出力することができる。
【0030】
また、受光面板の外形が矩形とされ、かつ前記入射窓の外形が矩形の角部をほぼ対角線延長方向へ引き延ばした形状とされたことにより、前述と同様に、受光面板へ入射した光を増倍して全く歪みのない電気信号として出力できると共に、複数の電子管を隣接して配列した場合デッドスペースがほとんど生じないので、入射した光に忠実な電気信号として出力できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る電子管の全体斜視図である。
【図2】半導体素子の拡大図である。
【図3】図3は電子管の使用例を示す図である。
【符号の説明】
10…電子管、1…受光面板、2…ステム、3…側管、4…電子レンズ
5…コバールフランジ、6…半導体素子、61…入射窓
62…画素
【発明の属する技術分野】
本発明は、微弱な光を入射し増強して検出する電子管に関し、より詳細には、入射した光の入力像に対し歪みのない出力像を出力できる電子管に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
電子管は、微弱な二次元的な入射光を増幅して電気信号として検出する機器であって、天体観察や夜間の動物の生態観察などで用いられるイメージインテンシファイヤの構成部品などとして用いられている。
【0003】
この電子管は、受光面板とステムが所定距離隔てて対向して配設され、その受光面板のステム対向面には光の入射により光電子を放出する光電面が設けられ、ステムの受光面板と対向する面には光電子を受けて電気信号を出力する半導体素子が設けられると共に、受光面板とステムとの間を真空状態としその真空空間に放出された光電子の軌道を制御する電子レンズが設けられた構造となっている。
【0004】
この電子管によれば、受光面板の表面に入力像である光が入射されると、光電面により光電子に変換されて半導体素子へ向けて放出され、電子レンズにより半導体素子上に結像され、この半導体素子により電気信号として出力像を検出することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、その電子管にあっては、光による入力像に対し、半導体素子で検出される出力像が歪んでしまうという問題が発生する。すなわち、前述のように光電面から放出された光電子は電子レンズの電界によりその走行軌道が制御されるわけであるが、その電界の電位変化は光電面と半導体素子を結ぶ軸線から離れるほど急峻となるため、その軸線から遠く離れた位置を通過する光電子はその電界により必要以上に曲げられ、半導体素子上の所要の位置からずれて結像することになる。そのため、出力像に歪みを生じてしまう。
【0006】
このような歪みを低減する方法として、特開平3ー34242号公報に記載された試みがなされているが、理想的な状態を除いて、現実的には、この歪みを完全に除去するのは不可能である。また、電子レンズによる歪みを回避するためには、電子レンズによる電界領域において電子管軸付近のごく狭い範囲をだけを利用する方法がある。しかし、この方法を用いると、電子管の外形に対し有効径が小さくなるという問題がある。このため、電子管の大きさを自由に設定できる場合にはこのような方法が適用できるが、電子管の外形に制限のある場合には適用できなくなる。
【0007】
また、前述の歪みを低減する方法として、光電面を球面状に形成して電子管を構成する方法がある。すなわち、光電子の放出軌道が交差するクロスオーバー点を中心として光電面を球面状に形成し、光電面の各部からクロスオーバー点までの距離を等しくし、電子レンズによる歪みを低減しようとする方法である。この場合、出力面である半導体素子も光電面のように球面状とすれば歪みがいっそう改善される。しかし、光電面を球面状とすると、平板状のシンチレータ(入射した放射線に応じて蛍光を発する部材)を受光面板の全面に渡って均一にコンタクトが取れないという問題が発生する。また、出力面である半導体素子の表面を球面状することはほとんど不可能である。
【0008】
更に、前述の歪みの問題を解決しようとしたものとして、特公平2ー15981号公報にはイメージ管の技術が記載されている。このイメージ管は、受光面板(入力面)が矩形状であり、それに伴う出力面での画像の歪みに対し、電子管側部へ縞状の電圧を印加して球対称に近い電界を作り出すことでその低減を図ろうとするものである。しかしながら、この公報の技術を適用するには、電子管の側部に電圧供給用の真空貫通端子を多数取り付ける必要がある。また、この技術によっても出力画像の歪みを完全に取り除くことは非常に困難である。
【0009】
そこで本発明は、このような技術課題を解消するためになされたもので、入射する光の像を全く歪みのない電子像の信号として出力する電子管を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
即ち本発明は、裏面に光電面が設けられ表面への光の入射によりその光電面から光電子を放出する受光面板と、その受光面板の前記光電面と対向して配置され前記受光面板と対向する面に設けられた入射窓で前記光電子を受けて電気信号として出力する半導体素子と、前記受光面板と前記半導体素子の間に形成される真空空間内に配設され前記光電子の放出軌道を制御する電子レンズとを備えて構成される電子管において、前記受光面板は平板状とされ、前記入射窓はその外形が前記受光面板の外形に対し中心より遠方になるほど外側へ引き延ばされた形状とされ、かつ複数の画素に分割されたことを特徴とする。
【0011】
このような発明によれば、平板状である受光面板に入射した光は、その内側に取り付けられた光電面で光電子に変換されて半導体素子へ向けて放出される。その際、光電子は電子レンズにより歪んだ結像状態で半導体素子上へ入射されるが、半導体素子の入射窓がその光電子の結像の歪み状態と同形状に形成されると共に、複数の画素に分割化されているので、受光面板への入射した光の入力像と全く歪みのない状態の出力像が電気信号として半導体素子から出力される。また受光面板が平板状であるから平板状部材、例えばシンチレータへの接合性に優れる。
【0012】
また本発明は、受光面板の外形が矩形とされ、かつ前記入射窓の外形が矩形の角部をほぼ対角線延長方向へ引き延ばした形状とされたことを特徴する。
【0013】
このような発明によれば、前述と同様に、受光面板へ入射した光を増倍して全く歪みのない電気信号として出力されると共に、複数の電子管を隣接して配列した場合、デッドスペースがほとんど生じないので、入射した光を忠実に電気信号として出力できる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面に基づき、本発明に係る電子管を説明する。尚、各図において同一要素には同一符号を付して説明を省略する。
【0015】
図1は電子管の全体概要図である。図2は半導体素子の拡大図である。図3は電子管の使用例を示す図である。
【0016】
図1に示すように、電子管10は、所定距離隔てて受光面板1とステム2が対向して配設され、その間の空間が真空状態に保たれた構造となっている。例えば、一方へ向けて先細り状とした筒形の側管3の大開口部に受光面板1、小開口部にステム2がそれぞれ各端の開口部を閉塞するように配設され、その側管3内が密閉されており、その内部が真空状態とされている。
【0017】
前述の受光面板1は、入力像である光を受けるためのものであって、外形を矩形とした平板状の板体で構成され、具体的にはガラス板などが用いられる。その受光面板1の裏面、すなわちステム2との対向面には光電面11が形成されている。この光電面11は透過型の光電変換材であって、例えば、Cs、Na、K、Rbなどのアルカリ金属、GaAsなどの化合物半導体又はAgO等により形成され、受光面板1の外側に光が入射するとその内側(ステム2側)へ光電子を放出するようになっている。
【0018】
また、受光面板1とステム2の間に位置する側管3の内部空間には、電子レンズ4が形成されている。この電子レンズ4は、光電面11から放出された光電子の軌道を制御するためのものであって、例えば、円筒型の第一電極41、第二電極42、第三電極43をそれぞれ電子管10の管軸方向へ所定距離隔てて同心状に順次配設した構造とされる。これらの各電極41〜43へ電圧を印加することにより、側管3内に電界が形成され、光電面11から放出された光電子の軌道が制御され、受光面板1に入る光の入力像が半導体素子6上へ縮小されて結像されることとなる。この受光面板1として外形100mm×100mmのものを採用し、電子レンズとして画像を10分の1程度に縮小するものを用いるのが好ましい。尚、電子レンズ4は、放出される光電子の軌道を制御できるものであれば、前述のものに限られるものでなく、その他の構造又は形態のものを採用してもよい。
【0019】
一方、前述のステム2は、多層構造のセラミックからなる平板で形成されており、その周縁部に断面をクランク形としたリング状のコバールフランジ5がろう付けされており、そのコバールフランジ5を介して側管3の開口部へ取り付けられている。また、このステム2の裏面(受光面板1に対向する面)に半導体素子6が取り付けられている。半導体素子6は、光電面11から発せられる光電子を受けて増倍させ電気信号として出力する素子であり、その表面に光電子を直接受ける入射窓61が形成されている。この入射窓61は、その外形が矩形の角部を略対角線延長方向へ引き延ばした形状とされ、かつ複数の画素62に分割されている。すなわち、入射窓61は、受光面板1への光の入射像に対し入射窓61への光電子の歪んだ入射状態を補正するために、その歪み状態に合わせて矩形の角部を略対角線延長方向へ引き延ばしたピンクッション形とされており、また受光面板1のどの位置に光が入射したかを正確に把握するために複数の画素62a、62b、…に分割されている。この入射窓61の外形及び画素62の形状は、光電子の入射状態の歪み程度に応じて決定される。それらの形状の具体的な設定は、電子レンズ4の各電極41〜43で形成される電界を計算することにより、光電面11の各部から放出される光電子の各軌道が算出できるから、その光電子の軌道に基づいて決定すればよい。尚、図2においては、入射窓61が4×4の16個の画素62に分割されているが、必要に応じてそれ以下又はそれ以上の分割状態としてもよい。また画素62をその他の形状として分割しても勿論よい。
【0020】
また、前述の半導体素子6としては、例えば、マルチチャンネルPDなどが採用され、その具体的な構造としては、図2に示すように、10kΩcm程度の高抵抗としたn型シリコンの基板63を基本材として、その表面(受光面板1に対向する面)に前述の入射窓61以外の部分に電極64が被覆され、その裏面(ステム2接触面)側の縁部分を取り巻いてn+ チャネルストップ層65が形成され、そのn+ チャンネルストップ層65に囲まれた部分に入射窓61と同形状とされ画素62a、62b、…62pに対応して分割された複数のp型層66が形成され、その各p型層66上に接続されて電極67が形成され、前述の電極64下層に基板63全面にわたってn+ 層68が形成されて構成される。また、電極64は前述のコバールフランジ5とワイヤーボンディングにより電気的に接続されている。尚、前述のn+ チャネルストップ層65はリンの拡散により、p型層66はボロンの拡散により、またn+ 層68はリンの拡散により形成すればよい。
【0021】
更に、前述のステム2の裏面(半導体素子6接触面)には、図2の如く、半導体素子6の各電極67と対面するように複数のボンディングパット21が形成され、前述の各p型層26とその表面に配置された金製のバンプ69を介してバンプボンディングされ電気的に接続されている。また、この各ボンディングパット21に対応して複数のピン22がステム2の表面に突設され、個々のボンディングパット21と結線されており、電子管10への光の入射に対応した電気信号を出力するようになっている。
【0022】
次に、電子管10の動作について説明する。図1において、まず、光検出を行う前に、コバールフランジ5及び半導体素子6表面の電極64を0Vとして、光電面11に−8kV、電子レンズ4の電極41に−7.5kV、電極42に−5kV、電極43に0Vを印加しておく。また、半導体素子6には光電面11側の表面からその裏面に向けて200Vの逆バイアスを印加しておく。その状態において、受光面板1の表面へ光が入射すると、その裏面側の光電面11により光電子に変換され、電子管10内のステム2へ向けて放出される。
【0023】
一方、電子管10内では電子レンズ4の円筒状の電極41〜43により所定の電界が形成され、その電界により光電子が加速されてステム2上の半導体素子6の入射窓61へ入射される。その際、光電面11の中心から離れた位置から放出される光電子ほど電子レンズ4の電界により必要以上に大きく曲げられて入射窓61へ入射されることとなる。この現象を二次元的に考察すると、受光面板1への光の入力像に対し、半導体素子6の入射窓61への光電子の入射像はその中心から離れるほど外側へ引き延ばされた形状となって歪んでしまうこととなる。また、受光面板1及び光電面11が平板状である場合では、光電面11の端部分と中心部分では光電子軌道のクロスオーバー点(図1では電極43付近)までの距離が大きく異なるので、光電子の入射像の歪みは更に助長される。
【0024】
しかし、歪んだ状態で入射してくる光電子の軌道が予め計算され、その計算に基づき入射窓61が矩形の角部を略対角線延長方向へ引き延ばした形状とされており、かつ複数(16個)の画素62に分割されているから、受光面板1から放出された光電子はその受光面板1に対応した画素62へ入射することとなる。そして、画素62へ入射した光電子は半導体素子6内でエネルギーを失いながら1500個程度の電子−正孔対を生成し増倍されて、電極67及びボンディングパット21を介してピン22から電気信号として出力されていく。
【0025】
このように電子管10によれば、受光面板が矩形の平板状であるのにかかわらず、入射してくる光の入力像を増倍して全く歪みのない出力像の電気信号として出力することができる。
【0026】
次に、前述の電子管10をガンマカメラへ適用した場合の使用例について説明する。図3において、ガンマカメラ20は、入射したγ線を可視光に変換する平板状のシンチレータ7の裏面に、ガラスよりなる平板状の拡散板8を介して、受光面板1を当接した状態で複数の電子管10の配列して構成される。図3中の9は電子管10の出力信号を読み出す初段の回路である。このガンマカメラ20にあっては、電子管10の受光面板1外形が矩形であるから隣接する各受光面板1の間に隙間を生じさせることなく配列することが可能である。このため、シンチレータ7へ入射するγ線をいずれかの電子管10で確実に受光できる。また、電子管10の受光面板1が平板状であるから各受光面板1をシンチレータ7裏面へ拡散板8を介し当接して、また平行状態として配置できる。このため、シンチレータ7へ入射するγ線を歪みなく正確に電子管10で受光できる。このように、ガンマカメラ20によれば、シンチレータ7へのγ線入射状態を正確で、かつ歪みない電気信号として出力できる。
【0027】
尚、前述の電子管10の受光面板1の外形は矩形に限られるものでなく、隙間なく隣接できる形状であれば、六角形や三角形などその他の形状であってもよい。そのような電子管10であっても、前述の如く、入射してくる光の入力像を増倍して全く歪みのない出力像の電気信号として出力することができる。
【0028】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、次のような効果を得ることができる。
【0029】
すなわち、光を受ける受光面板が平板状とされ、光電変換された光電子を受ける半導体素子の入射窓の外形が受光面板の外形に対し中心より遠方になるほど外側へ引き延ばされた形状とされ、且つ入射窓が複数の画素に分割されたことにより、受光面板への光の入力像に対し半導体素子への光電子の歪んだ入射像が半導体素子で補正されるから、入射する光を増倍して全く歪みのない電気信号として出力することができる。
【0030】
また、受光面板の外形が矩形とされ、かつ前記入射窓の外形が矩形の角部をほぼ対角線延長方向へ引き延ばした形状とされたことにより、前述と同様に、受光面板へ入射した光を増倍して全く歪みのない電気信号として出力できると共に、複数の電子管を隣接して配列した場合デッドスペースがほとんど生じないので、入射した光に忠実な電気信号として出力できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る電子管の全体斜視図である。
【図2】半導体素子の拡大図である。
【図3】図3は電子管の使用例を示す図である。
【符号の説明】
10…電子管、1…受光面板、2…ステム、3…側管、4…電子レンズ
5…コバールフランジ、6…半導体素子、61…入射窓
62…画素
Claims (2)
- 裏面に光電面が設けられ表面への光の入射によりその光電面から光電子を放出する受光面板と、その受光面板の前記光電面と対向して配置され前記受光面板と対向する面に設けられた入射窓で前記光電子を受けて電気信号として出力する半導体素子と、前記受光面板と前記半導体素子の間に形成される真空空間内に配設され前記光電子の放出軌道を制御する電子レンズとを備えて構成される電子管において、
前記受光面板は平板状とされ、
前記入射窓は、その外形が前記受光面板の外形に対し中心より遠方になるほど外側へ引き延ばされた形状とされ、かつ複数の画素に分割されたことを特徴とする、
電子管。 - 前記受光面板の外形が矩形とされ、かつ前記入射窓の外形が矩形の角部をほぼ対角線延長方向へ引き延ばした形状とされたことを特徴する、
請求項1に記載の電子管。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22361295A JP3650654B2 (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 電子管 |
DE69604635T DE69604635T2 (de) | 1995-08-31 | 1996-08-29 | Elektronenröhre |
EP96306276A EP0760525B1 (en) | 1995-08-31 | 1996-08-29 | Electron tube |
US08/705,678 US5780967A (en) | 1995-08-31 | 1996-08-30 | Electron tube with a semiconductor anode outputting a distortion free electrical signal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22361295A JP3650654B2 (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 電子管 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0969348A JPH0969348A (ja) | 1997-03-11 |
JP3650654B2 true JP3650654B2 (ja) | 2005-05-25 |
Family
ID=16800933
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22361295A Expired - Fee Related JP3650654B2 (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 電子管 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5780967A (ja) |
EP (1) | EP0760525B1 (ja) |
JP (1) | JP3650654B2 (ja) |
DE (1) | DE69604635T2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6297489B1 (en) * | 1996-05-02 | 2001-10-02 | Hamamatsu Photonics K.K. | Electron tube having a photoelectron confining mechanism |
US5874728A (en) * | 1996-05-02 | 1999-02-23 | Hamamatsu Photonics K.K. | Electron tube having a photoelectron confining mechanism |
KR100889351B1 (ko) | 2001-05-15 | 2009-03-18 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | Tdi 검출 디바이스, 피드-스루 장비 및 이들 디바이스를 이용하는 전자빔 장치 |
EP2686864B1 (en) | 2011-03-18 | 2015-05-06 | Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) | Electron beam apparatus |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3688122A (en) * | 1968-04-16 | 1972-08-29 | Vincent J Santilli | An electrostatic focused electron image device |
US3937964A (en) * | 1974-06-21 | 1976-02-10 | G. D. Searle & Co. | Scintillation camera with second order resolution |
GB1554246A (en) * | 1977-08-20 | 1979-10-17 | English Electric Valve Co Ltd | Thermal camera tubes |
US4317063A (en) * | 1978-10-28 | 1982-02-23 | Plessey Handel Und Investments Ag | Pyroelectric detectors |
US4323925A (en) * | 1980-07-07 | 1982-04-06 | Avco Everett Research Laboratory, Inc. | Method and apparatus for arraying image sensor modules |
EP0135642A1 (de) * | 1983-08-05 | 1985-04-03 | Deutsche ITT Industries GmbH | Sensorsystem für Fernsehbildröhren |
US4626694A (en) * | 1983-12-23 | 1986-12-02 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Image intensifier |
JPS61133543A (ja) * | 1984-11-30 | 1986-06-20 | Toshiba Corp | 電子管およびその調整方法 |
US5146296A (en) * | 1987-12-03 | 1992-09-08 | Xsirius Photonics, Inc. | Devices for detecting and/or imaging single photoelectron |
FR2631868B1 (fr) * | 1988-05-25 | 1990-09-21 | Framatome Sa | Dispositif et procede de vissage et de devissage d'un ecrou sur un element de liaison |
JPH0334242A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-14 | Hamamatsu Photonics Kk | イメージインテンシファイヤ管 |
US5120949A (en) * | 1991-01-17 | 1992-06-09 | Burle Technologies, Inc. | Semiconductor anode photomultiplier tube |
-
1995
- 1995-08-31 JP JP22361295A patent/JP3650654B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-08-29 DE DE69604635T patent/DE69604635T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-29 EP EP96306276A patent/EP0760525B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-30 US US08/705,678 patent/US5780967A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69604635T2 (de) | 2000-01-27 |
EP0760525A1 (en) | 1997-03-05 |
US5780967A (en) | 1998-07-14 |
DE69604635D1 (de) | 1999-11-18 |
EP0760525B1 (en) | 1999-10-13 |
JPH0969348A (ja) | 1997-03-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4310190B2 (ja) | インテンシファイハイブリッド固体センサ | |
US7005637B2 (en) | Backside thinning of image array devices | |
US8581228B2 (en) | Corner cube enhanced photocathode | |
JP4780765B2 (ja) | 連結検出器ピクセル、光子/パルスカウント輻射線像形成素子 | |
US10580630B2 (en) | Photomultiplier tube and method of making it | |
US5686721A (en) | Position-transmitting electromagnetic quanta and particle radiation detector | |
JPS61133540A (ja) | イメージ検出器 | |
Allinson | Development of non-intensified charge-coupled device area X-ray detectors | |
EP2180497B1 (en) | Electron tube | |
EP0820089A1 (en) | Electron tube | |
JPS5828706B2 (ja) | ストリ−クカメラ撮像管 | |
US4339659A (en) | Image converter having serial arrangement of microchannel plate, input electrode, phosphor, and photocathode | |
JP3650654B2 (ja) | 電子管 | |
US8168936B2 (en) | Interface techniques for coupling a sensor to a readout circuit | |
US6198221B1 (en) | Electron tube | |
US3798453A (en) | Multichannel digital photometer | |
US20210405218A1 (en) | Radiation detectors with scintillators | |
Vallerga et al. | Optically sensitive MCP image tube with a Medipix2 ASIC readout | |
Boutot et al. | Multianode photomultiplier for detection and localization of low light level events | |
US5025144A (en) | Resistive anode encoder target and method producing baths charged and visual images | |
US4264811A (en) | Semiconductor image sensing device | |
CN215865490U (zh) | 一种超快高分辨并行读出单光子探测器 | |
JP5000254B2 (ja) | 撮像装置 | |
Johnson | Photoelectronic detector technology review and update (Keynote Address) | |
CN113532640A (zh) | 一种超快高分辨并行读出单光子探测器及探测方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050124 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050214 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050221 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |