JP3633502B2 - Wire bonding method - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高速にしかもボールにダメージを与えずに、キャピラリツールがボンディング面に接したことを検出できるようにしたワイヤボンディング方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
電子部品を製造する分野において、チップが搭載された基板に対し、ワイヤの下端部に形成されたボールを圧着し、このボールに連続するワイヤのループを形成し、このループの先端を基板に圧着するワイヤボンダが広く用いられている。
【0003】
さて、ワイヤボンダはホーンに保持されたキャピラリツールを昇降させて上記動作を行うものであるが、その動作中キャピラリツールがチップ又は基板に接地したことを検出する必要がある。この接地検出手段として、従来機械的接点を用いたものと、ホーンに印加される超音波振動に対するインピーダンス変化を利用するものとがある。
【0004】
図15は、機械的接点を用いた接地検出手段の側面図であり、図15中、1は揺動するホーン、2はホーン1の先端部に保持されたキャピラリツール、3はホーン1のボス部1aをシャフト4により揺動自在に枢支する揺動体、3a,3bは揺動体3の後部に突設される一対の支持アーム、5,6は一対の支持アーム3a,3bのそれぞれの後端部に軸支されるカムフォロア、7はカムフォロア5,6に接する偏心カム、8は偏心カム7を回転させるモータ、Sは接触型のセンサであり、揺動体3の上部に固定されている。そして、ボス部1a即ちホーン1はコイルスプリング9によって常時矢印N1方向に付勢されており、図15(a)に示すように通常ボス部1aから上方へ突設された突片1bがセンサSに接触している。
【0005】
次に図15(b)に示すように、モータ8を作動させると、偏心カム7が矢印N2方向に回転することにより、揺動体3が矢印N1方向に揺動する。ここで、ボス部1aが矢印N1方向に付勢されているので、ホーン1も揺動体3と一体的に揺動し、キャピラリツール1が基板10に接地する。そして図15(c)に示すように、キャピラリツール1が基板10に接地した後偏心カム7をさらに回転させると、矢印N1方向に付勢されていたボス部1aはキャピラリツール1が基板10から受ける抗力に負けて矢印N3にわずかに回転する。これにより、ボス部1aと一体的な突片1bはセンサSに接触しなくなり、このことをセンサSで検知して、接地信号を出力するというものである。
【0006】
ところが、このような構成では、モータの駆動力は揺動体3を介してホーン1に2次的に作用するものであり、ホーン1をモータにより直接揺動させる方式のワイヤボンダには採用できない。又、検出時間が約5msec程度と長くかかり、高速な検出には適さないし、機械的接点を利用するものであるため、チャッタリングなどの現象を生じやすいという問題点があった。
【0007】
また図16は、インピーダンス変化を利用した接地検出手段の動作概要を示す正面図である。11はホーン1に超音波振動を印加する超音波振動子、12は超音波振動子11において振動に対するインピーダンスを検出するインピーダンス検出回路、13はインピーダンス検出回路12からインピーダンス値を入力して、キャピラリツール2が接地したか否か判定する接地判定回路である。
【0008】
次に、この接地検出手段による動作を説明すると、まず図16(a)で示すように、キャピラリツール2が基板10又はチップの電極に接地する前から、超音波振動子11を作動し、ホーン1に予めある程度の強さの超音波振動を印加しながら、キャピラリツール2を下降させる。同時に、インピーダンス検出回路12は超音波振動のインピーダンスを検出しており接地判定回路13はインピーダンス値を入力している。ここで、キャピラリツール2及びホーン1は空中にあり、振動を抑制するものがほとんどないので、インピーダンス値は低い状態となっている。
【0009】
次いで、図16(b)に示すように、キャピラリツール2がチップ又は基板10に接地すると、キャピラリツール2及びそれと一体的なホーン1は基板10により振動を抑制され、インピーダンス値が急激に上昇する。これにより、接地判定回路13が接地信号を出力するというものである。
【0010】
しかしながら、このような構成では、キャピラリツール2が接地した際、既に超音波振動が印加されており、特にチップの電極に対してワイヤボンディングを行う時に、ワイヤの下端部に形成されたボールに対し過大なダメージを与えてしまい、ボールが潰れ過ぎるなど、ボンディング品質を低下させるおそれがあるという問題点があった。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
上記問題点に鑑み、本発明は、高速かつボールにダメージを与えずに接地検出を行えるワイヤボンディング方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明のワイヤボンディング方法は、ホーンの先端部に保持されたキャピラリツールに挿通されたワイヤをチップに圧着するワイヤボンディング方法であって、モータを位置制御方式にて駆動してホーンを揺動させることにより前記キャピラリツールをチップに向かって下降させ、前記ホーンを揺動自在に軸支するシャフトの回転位置を検出するエンコーダから出力されるパルス信号の周期が所定時間よりも長くなったら接地検出信号を出力し、接地検出信号が出力されたならばキャピラリツールやホーン等の可動部の慣性運動を打ち消すトルクを前記モータに発生させてブレ−キング処理を行い、その後前記位置制御方式からトルク制御方式に切替えて前記モータに予め設定されたトルクを発生させてワイヤをチップに圧着する。
【0013】
また望ましくは、前記位置制御方式が、動作パターンに基づくパルス信号と前記エンコーダから出力されるパルス信号の偏差を溜りパルスとしてカウントし、この溜りパルスに応じた電流を前記モータに出力する制御方式であり、前記接地検出信号が出力されたら、前記溜りパルスをクリアしてトルク制御に切替える。
【0014】
【発明の実施の形態】
次に図面を参照しながら、本発明の実施の形態を説明する。図1は、本発明の一実施の形態におけるワイヤボンダの斜視図であり、31はベース部材、32はベース部材31に設けられたYモータ33により駆動されるYテーブル、34はYテーブル32上にX方向スライド自在に載置される支持ブロック、35はYテーブル32に設けられ、支持ブロック34をX方向にスライドさせるXモータである。支持ブロック34の前部には、X方向を向くシャフト36が回転自在に軸支され、シャフト36はホーン37が固定されるボックス38に軸着されている。Eはシャフト36の回転位置を検出するエンコーダ、39はホーン37の後部に装着される超音波振動子、40はボックス38を上下方向に揺動させることによりホーン37を矢印N方向に直接揺動させるモータである。41はホーン37の先端部に保持されるキャピラリツール42に挿通されるワイヤ、43はワイヤ41のテンションクランパ、44は支持アーム45によりボックス38に固定されるカットクランパ、46は高電圧が印加されて電気的スパークを発生することによりワイヤ41の下端部にボール41a(図7参照)を形成するトーチ電極である。また、47はキャピラリツール42の下方に位置決めされた基板としてのリードフレーム、47aはリードフレーム47のインナーリード、48はリードフレーム47に搭載されたチップ、49はリードフレーム47を押さえるプレートである。
【0015】
図2は、図1のワイヤボンダの制御装置を示すブロック図である。図2中、50はエンコーダEのA相信号、B相信号を入力し、ホーン37が上昇/下降のいずれの方向に揺動しているかを判定し、上昇であれば上昇検出パルス信号を、下降であれば下降検出パルス信号を、択一的に可逆カウンタ51に出力する方向弁別回路、51は上昇検出パルス信号を計数して計数値を上昇させ、下降検出パルス信号を計数して計数値を下降させて、現在の計数値を現在位置信号としてインターフェイス部52に出力する可逆カウンタである。また、53は十分高い一定周波数の方形波からなる基準パルス信号を発生し、パルス幅比較回路54に出力する基準パルス信号発生回路、54は基準パルス信号を参照し、方向弁別回路50が出力する下降検出パルス信号を入力すると共に、インターフェイス部52から予め入力したしきい値Nと、下降検出パルス信号のパルス幅を基準パルス信号のパルス幅で徐した値を比較し、この値がしきい値Nを越えたならば、アクティブの接地信号を接地検出スイッチ55へ出力するパルス幅比較回路である。また接地検出スイッチ55はインターフェイス部52から許可信号を得た場合のみ、接地信号をインターフェイス部52に出力するものである。
【0016】
ここで、図9〜図10を参照しながら、本実施の形態における接地検出手段の動作について説明する。さてまず、パルス幅比較回路54には、しきい値Nが設定され、方向弁別回路50から下降検出パルス信号が入力されると共に、基準パルス発生回路53から高周波の基準パルス信号が入力される。図9は、上記しきい値N=4の場合の例を示すタイムチャートであり、図9(a)は高周波一定周期Aの基準パルス信号、図9(b)はホーン37の下降速度が次第に低下しキャピラリツール42がボンディング面に接地しようとする状態の下降検出パルス信号、図9(c)はパルス幅比較回路54が出力する接地信号を示す。又図10はパルス幅比較回路54が接地信号を出力する接地条件を示す特性図である。本実施の形態では、しきい値N=4であり、パルス幅比較回路54が、下降検出パルス信号の周期Bを基準パルス信号の一定周期Aで徐した値を、しきい値Nと比較し、しきい値N以上となった際接地信号を出力するようにしている。もちろん、上記徐した値がしきい値Nを越えた際接地信号を出力するという接地条件にしても良い。
【0017】
さて図9(b)の下降検出パルス信号において、周期B1〜B3では、基準パルス信号の周期Aにしきい値Nを乗じた所定時間4Aよりも小さくほぼ一定の状態にあり、ホーン37がほぼ等速で下降していることを示す。そして、周期B4は周期B3以前よりも長くなっており、ホーン37の下降動作が減速していることを示す。そして、周期B5は上記所定時間4Aよりも長くなっており、周期B5中にホーン37がほとんど停止(すなわちキャピラリツール42がボンディング面に接地)しているものであり、周期B5におけるパルスの立上りから上記所定時間4Aだけ経過した時刻に、パルス幅比較回路54が接地検出信号を出力するものである。
【0018】
さて図2において、56はCPUなどのボンダ制御回路、57はROMであり、このROM57には、図6,図7のフローチャートに沿う制御プログラムを記憶すると共に、図4(b)に示すように、図11及び図13の動作パターンが格納された動作パターン記憶部57aと、トルク制御下のボンディング荷重Fに相当するトルク指令値が格納されたトルク指令値記憶部57bとが、設けられている。58はRAMであり、このRAM58には図4(a)に示すように(図8も参照)、接地検出を行う際にホーン37の下降状態を高速下降から低速下降に切替えるサーチレベルL1(通常200〜300μm)、位置制御からトルク制御へ制御方式を切替える高さである制御切替レベルL2、次の制御切替レベルL2を定める補正レベルΔL(一定値)のそれぞれを記憶するための領域が設けられている。また図8中、L3はボンディング完了時の高さであり、L2=L3+ΔLなる関係がある。なお、図4中、( )内の数字で「1」とあるのは、ボール41aをチップ48に圧着させる第1ボンディング動作時の高さ、「2」とあるのは、ワイヤ41のループ先端をインナーリード47aに圧着する第2ボンディング動作時の高さを示す。また図2中、60はボンダ制御回路56からの指令により、超音波振動子39をコントロールする超音波発振回路、59はモータ40へボンダ制御回路56の指令に応じた駆動電流Iを供給するデジタルサーボドライバである。ボンダ制御回路56は、動作パターン記憶部57aに記憶されている動作パターンに基づいたパルス信号を、指令パルス信号としてデジタルサーボドライバ40へ出力する。
【0019】
図3に示すように、デジタルサーボドライバ59は、駆動電流Iをモータ40へ出力する駆動回路59aと、駆動回路59aの前段に設けられる演算器59bとを備えている。演算器59bは、ボンダ制御回路56から送信されてくる指令パルス信号とエンコーダEから送信されてくるフィードバックパルス信号の偏差を溜まりパルスとしてカウントする。駆動回路59aは、位置制御機能とトルク制御機能とを併有している。位置制御機能では、駆動回路59aはモータ40に、このモータ40が、キャピラリツール42の現在位置と目標位置(指令パルス信号)との偏差(溜まりパルスで表現される)を零とする方向のトルクを発生するための駆動電流Iを出力する。勿論偏差の絶対値が大きくなれば、駆動電流Iも大きくなる。一方トルク制御機能では、駆動回路59aは、トルク指令値に応じた駆動電流Iをモータ40に印加し、モータ40はトルク指令値に対応する一定のトルクを発生する。
【0020】
さて、デジタルサーボドライバ59の演算器59bには、図2に示すようにボンダ制御回路56から、溜まりパルスクリア信号と指令パルス信号が、エンコーダEからフィードバックパルス信号がそれぞれ入力可能となっており、駆動回路59aにはボンダ制御回路56から制御切替信号とトルク指令値が入力可能となっている。このうち、制御切替信号は、駆動回路59aの位置制御機能と、トルク制御機能を切替えるものであり、指令パルス信号は位置制御下において目標位置を、フィードバックパルス信号はキャピラリツール42の現在位置を示すものであり、演算器59bは指令パルス信号とフィードバックパルス信号とから演算して、上記偏差を駆動回路59aに出力するようになっている。また溜まりパルスクリア信号は、この偏差を強制的に零とする信号である。
【0021】
次に位置制御下における制動の原理につき、図5を参照しながら説明する。さてHはキャピラリツール42を制動したいレベルである。ここで、図5(a)に示すようにキャピラリツール42が下降してこのレベルHに至ったとき(勿論キャピラリツール42の位置はエンコーダEにより監視しておく)、下向きの速度Vを有していたものとする。ここで位置制御下において、レベルHに下向きの速度Vを有するということは、レベルHよりもより下方に目標位置が設定されているということであり、図5(a)に示す状態における上記偏差は零ではない。そしてキャピラリツール42がレベルHに達した瞬間に、溜まりパルスクリア信号を立上げてこの偏差を零にすると共に指令パルス信号の送信を停止すると、レベルHが新たな目標位置となる。しかし、キャピラリツール42は上記速度Vを有しているので、図5(b)に示すように、レベルHから小距離δだけ行き過ぎてしまう。ここで、目標位置はレベルHであるから、上述のように行き過ぎた段階で、上向きの小距離δに相当する偏差が新たに蓄積されたことになる。すると、位置制御は偏差を零とするように、モータ40に駆動電流Iを印加するものであるから、この小距離δを零とするようなトルクがモータ40に発生して、このトルクはキャピラリツール42やホーン37等の可動部の慣性運動を打ち消すように作用する。以上はごく短時間に生ずる現象であって、これを要約すれば、位置制御下、制動をかけたいあるレベルで溜まりパルスクリア信号を立上げると共に指令パルス信号の送信を停止すれば、そのレベルでキャピラリツール42の下降に対し制動をかけることができるということである。なお後述するように、本実施の形態において接地検出を行うボンディング動作(図11)では、接地検出時に溜まりパルスクリア信号を立上げるようにしてあり、サーチレスボンディング動作(図13)では制御切替レベルにて溜まりパルスクリア信号を立上げることとしている。
【0022】
次に図6〜図7を参照しながら、本実施の形態のワイヤボンダの動作の概要について説明する。図6に示すようにまず初期化処理が行われる(ステップ1)。即ち、ボンダ制御回路56は可逆カウンタ51の計数値を初期化し、パルス幅比較回路54にしきい値Nを設定する。次いで、トーチ電極46とワイヤ41の下端部に高電圧を印加してスパークを発生させ、ワイヤ41の下端部にボール41aを形成し(ステップ2)、ボール41aをチップ48の電極に押付ける第1ボンディング動作を行う。次に、ボンダ制御回路56はモータ40を駆動してホーン37を揺動させながら、Xモータ35、Yモータ33を駆動してキャピラリツール42を水平方向に移動してループを形成し(ステップ4)、ループの先端をインナーリード47aに押付け第2ボンディング動作を行う(ステップ5)。そして、カットクランパ44でワイヤ41を挾持し、キャピラリツール42を上昇させ、第2ボンディング動作で接合させた部分からワイヤ41を切断し(ステップ6)ボンディングが完了するまで(ステップ7)、ステップ2〜ステップ6の処理を繰返す。
【0023】
さて、図7は各ボンディング動作を示すフローチャートである。ここで、ボンダ制御回路56からみた第1ボンディング動作と第2ボンディング動作の流れは基本的に同様であるので、第1ボンディング動作のみについて説明する。まず、始めにボンダ制御回路56は制御方式を位置制御とし(ステップ11)、Xモータ35、Yモータ33及びモータ40を駆動して、ホーン37を下降開始位置Oに移動させる(ステップ12)。次に、今回行うボンディング動作について、接地検出が必要か否か判定する(ステップ13)。ここで、本実施の形態では新たなチップ48に初めてボンディングを行う際には接地検出を行うボンディング動作(図11、ステップ14〜20、ステップ26〜28)とし、2回目以後は接地検出を行なわないサーチレスボンディング動作(図13、ステップ21〜28)とするものとする。しかし、接地検出を行うボンディング動作とするかあるいはサーチレスボンディング動作とするかの設定条件は、今回ボンディングする電極と次にボンディングする電極との距離(既知)と所定値とを比較し、この距離が所定値を越えているときのみ要とするなど種々変更しても良い。
【0024】
次に図11の接地検出を行うボンディング動作(図7のステップ14〜20、ステップ26〜28)について説明する。図11において横軸は時刻を示す。まず時刻T1にて、位置制御下、下降開始位置Oから予め設定されたサーチレベルL1までキャピラリツール42を高速下降させる(ステップ14,15)。時刻T2にて、サーチレベルL1に至ると、ボンダ制御回路56はインターフェイス部52を介して接地検出スイッチ55に許可信号を出力し、接地信号の立上りを監視しながら(ステップ16)、指令パルス信号を小さくしてキャピラリツール42の下降速度を低速(V2)にする(ステップ17)。時刻T3にて、ボール41aの下端がチップ48に接地し(図12(a))、時刻T3から小時間ΔTだけ経過した時刻T4にて、パルス幅比較回路54から接地信号が発せられると(ステップ18)、溜まりパルスクリア信号を立上げて上述したブレーキング処理を行い(ステップ19,図12(b))、時刻T5にて制御方式をトルク制御に切替えて(ステップ20)、予め設定されたトルクによりボール41aをボンディング面であるチップ48に圧着させる。また超音波発振信号を立上げて超音波振動を印加する(ステップ26)。そして、時刻T6になると、制御切替レベルL2を更新し(ステップ27)、制御方式を位置制御に戻して(ステップ28)、時刻T7までキャピラリツール42を高速上昇させる(ステップ28)。ここでステップ27にて制御切替レベルL2の更新が行われるが、図8に示すように、ボンディング動作が完了した時点(時刻T6)における高さL3(エンコーダEにより実測)に補正レベルΔL(一定値)を加えたものを次のボンディング動作の制御切替レベルL2とするので、例えばチップ48が水平面に対し傾いているような場合でも、直前のボンディング動作完了時の高さL3が次のボンディング動作の制御切替レベルL2に反映され、制御切替レベルL2を常に適正にすることができる。また、接地検出時(時刻T4)に、溜まりパルスクリア信号を立上げて、図12(b)に示すように速度V2を有する可動部に上向きのトルクを発生させて制動をかけることにより、ボール41aの潰れすぎやチップ48へのダメージを抑止することができる。
【0025】
一方、ステップ13で接地検出不要と判定された際には、図13のサーチレスボンディング動作が行われる(ステップ21〜25)。まず、時刻t1にて、下降開始位置Oにあるキャピラリツール42は、位置制御下ボンダ制御回路56から演算器59bに大きな指令パルス信号が与えられることにより、高速下降する(ステップ21)。そして、ボンダ制御回路56は、可逆カウンタ51の現在位置信号を監視し、時刻t2にてキャピラリツール42が制御切替レベルL2に達したことを検知すると(ステップ22)、溜まりパルスクリア信号を立上げて上述したブレーキング処理を行い(図14(a))、ホーン37などの可動部の慣性力を打消す(ステップ23)。そして、時刻t3にてボンダ制御回路56は、駆動回路59aに制御切替信号を出力すると共に、トルク指令値記憶部57bからボンディング荷重Fに相当するトルク指令値を読出して駆動回路59aに出力する(ステップ24、図14(b))。そして、ボンダ制御回路56は、時刻t6まで所定時間この状態を保持する(ステップ25)。またこの所定時間の後部に、超音波発振回路60に指令して、超音波振動子を作動させる(ステップ26)。そして時刻t6にてボンダ制御回路56は、図11のボンディング動作と同様に制御切替レベルL2にボンディング完了時の高さL3を反映した修正を施し(ステップ27)、再び制御方式を位置制御に戻してキャピラリツール42を高速上昇させる。このように、接地検出を行わない場合についても、1回のボンディング動作ごとに制御切替レベルL2にボンディング完了時の高さL2から補正レベルΔLだけの余裕をもたせ、しかも制御切替レベルL2を修正していくようにしている。したがって、サーチレスボンディング動作において、チップ48が傾いている場合にも接地検出を省略しつつ、しかも過大な衝撃がチップ48に及ばないようにすることができる。
【0026】
【発明の効果】
本発明によれば、接地時に超音波振動を与える必要がなくボールのダメージを少なくすることができると共に、機械的接点に依存することなく高速正確な接地検出を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態におけるワイヤボンダの斜視図
【図2】本発明の一実施の形態におけるワイヤボンダのブロック図
【図3】本発明の一実施の形態におけるデジタルサーボドライバのブロック図
【図4】(a)本発明の一実施の形態におけるRAMのデータ構成図
(b)本発明の一実施の形態におけるROMのデータ構成図
【図5】(a)本発明の一実施の形態におけるブレーキング処理の説明図
(b)本発明の一実施の形態におけるブレーキング処理の説明図
【図6】本発明の一実施の形態におけるワイヤボンディング方法を示すフローチャート
【図7】本発明の一実施の形態におけるワイヤボンディング方法を示すフローチャート
【図8】本発明の一実施の形態におけるレベルの説明図
【図9】(a)本発明の一実施の形態における基準パルス信号を示すタイムチャート
(b)本発明の一実施の形態における下降検出パルス信号を示すタイムチャート
(c)本発明の一実施の形態における接地信号を示すタイムチャート
【図10】本発明の一実施の形態における接地検出手段の動作説明図
【図11】本発明の一実施の形態における接地検出を行うボンディング動作のタイムチャート
【図12】(a)本発明の一実施の形態における接地検出を行うボンディング動作の動作説明図
(b)本発明の一実施の形態における接地検出を行うボンディング動作の動作説明図
(c)本発明の一実施の形態における接地検出を行うボンディング動作の動作説明図
【図13】本発明の一実施の形態におけるサーチレスボンディング動作のタイムチャート
【図14】(a)本発明の一実施の形態におけるサーチレスボンディング動作の動作説明図
(b)本発明の一実施の形態におけるサーチレスボンディング動作の動作説明図
(c)本発明の一実施の形態におけるサーチレスボンディング動作の動作説明図
【図15】(a)従来のワイヤボンダの動作説明図
(b)従来のワイヤボンダの動作説明図
(c)従来のワイヤボンダの動作説明図
【図16】従来のワイヤボンダのブロック図
【符号の説明】
37 ホーン
40 モータ
41 ワイヤ
42 キャピラリツール
54 パルス幅比較回路
E エンコーダ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a wire bonding method capable of detecting that a capillary tool is in contact with a bonding surface at high speed and without damaging a ball.
[0002]
[Prior art]
In the field of manufacturing electronic components, a ball formed at the lower end of a wire is pressed against a substrate on which a chip is mounted, a loop of wire is formed continuously with this ball, and the tip of this loop is crimped to the substrate Wire bonders are widely used.
[0003]
The wire bonder performs the above operation by moving the capillary tool held by the horn up and down, and it is necessary to detect that the capillary tool is grounded to the chip or the substrate during the operation. As the ground detection means, there are a conventional one using a mechanical contact and a one using an impedance change with respect to ultrasonic vibration applied to a horn.
[0004]
15 is a side view of a ground contact detection means using a mechanical contact. In FIG. 15, 1 is a swinging horn, 2 is a capillary tool held at the tip of the
[0005]
Next, as shown in FIG. 15B, when the
[0006]
However, in such a configuration, the driving force of the motor acts secondarily on the
[0007]
FIG. 16 is a front view showing an outline of the operation of the ground detection means using impedance change. 11 is an ultrasonic transducer that applies ultrasonic vibration to the
[0008]
Next, the operation of the ground detection means will be described. First, as shown in FIG. 16A, the ultrasonic vibrator 11 is operated before the
[0009]
Next, as shown in FIG. 16B, when the
[0010]
However, in such a configuration, when the
[0011]
[Problems to be solved by the invention]
In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a wire bonding method capable of detecting ground contact at high speed without damaging the ball.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
The wire bonding method of the present invention is a wire bonding method in which a wire inserted through a capillary tool held at the tip of a horn is crimped to a chip, and the horn is swung by driving a motor by a position control method. Accordingly, when the period of the pulse signal output from the encoder for detecting the rotational position of the shaft for pivotally supporting the horn is lowered, the grounding detection signal is lowered. If the ground detection signal is output, cancel the inertial motion of moving parts such as capillary tools and horns. Generate torque in the motor A breaking process is performed, and then the position control method is switched to the torque control method, and a preset torque is generated in the motor to crimp the wire to the chip.
[0013]
Preferably, the position control method is a control method in which a deviation between a pulse signal based on an operation pattern and a pulse signal output from the encoder is counted as a pool pulse, and a current corresponding to the pool pulse is output to the motor. If the ground detection signal is output, the droop pulse is cleared and the control is switched to torque control.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view of a wire bonder according to an embodiment of the present invention, in which 31 is a base member, 32 is a Y table driven by a
[0015]
FIG. 2 is a block diagram showing a control device of the wire bonder of FIG. In FIG. 2, 50 inputs the A phase signal and the B phase signal of the encoder E, determines in which direction the
[0016]
Here, the operation of the grounding detection means in the present embodiment will be described with reference to FIGS. First, the threshold value N is set in the pulse
[0017]
In the descending detection pulse signal of FIG. 9B, in the periods B1 to B3, the period A of the reference pulse signal is multiplied by the threshold value N and is in a substantially constant state smaller than a predetermined time 4A, and the
[0018]
In FIG. 2,
[0019]
As shown in FIG. 3, the
[0020]
Now, as shown in FIG. 2, the
[0021]
Next, the principle of braking under position control will be described with reference to FIG. Now, H is a level at which the
[0022]
Next, an outline of the operation of the wire bonder according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 6, an initialization process is first performed (step 1). That is, the
[0023]
FIG. 7 is a flowchart showing each bonding operation. Here, since the flow of the first bonding operation and the second bonding operation viewed from the
[0024]
Next, the bonding operation (steps 14 to 20 and steps 26 to 28 in FIG. 7) for detecting the grounding in FIG. 11 will be described. In FIG. 11, the horizontal axis indicates time. First, at time T1, under the position control, the
[0025]
On the other hand, when it is determined in
[0026]
【The invention's effect】
According to the present invention, it is not necessary to apply ultrasonic vibration at the time of grounding, and damage to the ball can be reduced, and high-speed and accurate grounding detection can be performed without depending on a mechanical contact.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view of a wire bonder according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram of a wire bonder according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a block diagram of a digital servo driver according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4A is a data configuration diagram of a RAM according to an embodiment of the present invention.
(B) Data configuration diagram of ROM in one embodiment of the present invention
FIG. 5A is an explanatory diagram of a braking process according to an embodiment of the present invention.
(B) Explanatory drawing of the braking process in one embodiment of this invention
FIG. 6 is a flowchart showing a wire bonding method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a flowchart showing a wire bonding method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 8 is an explanatory diagram of levels in one embodiment of the present invention.
FIG. 9A is a time chart showing a reference pulse signal according to an embodiment of the present invention.
(B) Time chart showing the fall detection pulse signal in one embodiment of the present invention
(C) Time chart showing ground signal in one embodiment of the present invention
FIG. 10 is a diagram for explaining the operation of the ground detection means in one embodiment of the present invention.
FIG. 11 is a time chart of a bonding operation for performing grounding detection according to an embodiment of the present invention.
FIG. 12A is an operation explanatory diagram of a bonding operation for performing ground detection in an embodiment of the present invention.
(B) Operation explanatory diagram of bonding operation for performing grounding detection in one embodiment of the present invention
(C) Operation explanatory diagram of bonding operation for performing grounding detection in one embodiment of the present invention
FIG. 13 is a time chart of the searchless bonding operation in one embodiment of the present invention.
FIG. 14A is an operation explanatory diagram of searchless bonding operation in an embodiment of the present invention.
(B) Operation explanatory diagram of searchless bonding operation in one embodiment of the present invention
(C) Operation explanatory diagram of searchless bonding operation in one embodiment of the present invention
FIG. 15A is a diagram for explaining the operation of a conventional wire bonder.
(B) Operation explanatory diagram of a conventional wire bonder
(C) Operation explanatory diagram of a conventional wire bonder
FIG. 16 is a block diagram of a conventional wire bonder.
[Explanation of symbols]
37 Horn
40 motor
41 wire
42 Capillary tool
54 Pulse width comparison circuit
E Encoder
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001113701A JP3633502B2 (en) | 2001-04-12 | 2001-04-12 | Wire bonding method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001113701A JP3633502B2 (en) | 2001-04-12 | 2001-04-12 | Wire bonding method |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28658293A Division JP3201104B2 (en) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | Wire bonder and wire bonding method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001298040A JP2001298040A (en) | 2001-10-26 |
JP3633502B2 true JP3633502B2 (en) | 2005-03-30 |
Family
ID=18964891
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001113701A Expired - Fee Related JP3633502B2 (en) | 2001-04-12 | 2001-04-12 | Wire bonding method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3633502B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003059953A (en) * | 2001-08-08 | 2003-02-28 | Mitsubishi Electric Corp | Apparatus and method for die-bonding and semiconductor device produced by the same |
JP4106008B2 (en) * | 2003-09-22 | 2008-06-25 | 株式会社新川 | Wire bonding method and apparatus |
-
2001
- 2001-04-12 JP JP2001113701A patent/JP3633502B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001298040A (en) | 2001-10-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
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|
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