JP3629850B2 - Crimping method for bumped electronic parts - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、バンプ付電子部品の圧着方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
バンプ付電子部品は、下面に多数のバンプを有し、これらのバンプの全てが基板の回路パターンに均等に圧着されることにより、正しく基板に実装できる。
【0003】
ところが、一般にはバンプ付電子部品のバンプには高さのばらつきがあり、やわらかい基板を用いれば、バンプのばらつきを基板のたわみの大小で吸収することも可能であるが、基板には、ガラスエポキシ基板のように、硬くたわみにくいものがあり、基板のたわみでばらつきを吸引できないことも多い。
【0004】
このため、バンプ付電子部品を上述のように正しく実装するためには全てのバンプを均等な力で基板の電極に押し付けながら圧着する必要がある。しかし実際にはバンプの高さのばらつきや圧着を行う吸着ツールの下面と基板の上面との平行度のばらつき等により一部のバンプに力が片寄るなどして圧着むらが生じやすい。このため圧着むらを少なくするために圧着ヘッドにチルト機構を備え、吸着ツールの下面(正確にはバンプの配列面)を基板の上面にならわせて平行度のばらつきを吸収するものが知られている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし従来の圧着ヘッドによる圧着方法では、吸着ツールにバンプ付電子部品を保持させて基板とバンプ付電子部品を位置合わせを行う際に、チルト機構によって吸着ツールが振れてしまいこれにより基板の電極とバンプの相対位置に狂いを生じてしまう問題があった。とくに半導体ICの電極にバンプが形成されたフリップチップを基板に実装する場合には、圧着むらが少ないことに加えて高精度実装が要求されるため特にこの問題が顕著になっている。
【0006】
そこで本発明は、バンプをむらなく圧着でき、しかも基板に高精度で位置合わせができるバンプ付電子部品の圧着方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明のバンプ付電子部品の圧着方法は、バンプ付電子部品を吸着する吸着ツールと、前記吸着ツールをチルト可能に支持する支持部と、前記支持部のチルトを禁止するロック機構とを備えた圧着ヘッドによるバンプ付電子部品の圧着方法であって、チルトを禁止して前記吸着ツールにバンプ付電子部品を吸着する吸着ステップと、チルトを禁止して前記吸着ツールに吸着されたバンプ付電子部品の位置を認識してこのバンプ付電子部品と基板との位置合わせを行うステップと、チルトを禁止して着地検出するステップと、チルトを許して前記吸着ツールに吸着されたバンプ付電子部品のバンプを基板に圧着する圧着ステップとを含む。
【0008】
【発明の実施の形態】
請求項1記載のバンプ付電子部品の圧着方法は、バンプ付電子部品を吸着する吸着ツールと、吸着ツールをチルト可能に支持する支持部と、支持部のチルトを禁止するロック機構とを備えた圧着ヘッドによるバンプ付電子部品の圧着方法であって、チルトを禁止して吸着ツールにバンプ付電子部品を吸着する吸着ステップと、チルトを禁止して吸着ツールに吸着されたバンプ付電子部品の位置を認識してこのバンプ付電子部品と基板との位置合わせを行うステップと、チルトを禁止して着地検出するステップと、チルトを許して吸着ツールに吸着されたバンプ付電子部品のバンプを基板に圧着する圧着ステップとを含む。したがって、圧着ステップにおいて、当初、基板とバンプとが平行になっていなくとも、吸着ツールに吸着されたバンプ付電子部品をチルトさせ、基板にならわせることで、基板とバンプとを平行にすることができ、バンプが均等に圧着され、実装不良を抑制することができる。
【0009】
また吸着ツールに吸着されたバンプ付電子部品の位置を認識してこのバンプ付電子部品と基板との位置合わせを行うときにはチルトをロック機構によって禁止して、高精度実装を行うことができる。
【0010】
次に図面を参照しながら、本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明の一実施の形態における部品実装装置のブロック図である。図1に示すように、基板1は基板ホルダ2上に保持され、XYテーブル3によって位置決めされる。また基板ホルダ2上には、十分な水平度を有するように調整された定盤4が設置されている。
【0011】
基板ホルダ2の上方には、昇降板6をZモータ7によってZ方向に昇降させるZテーブル5が設けられ、昇降板6の前面にはヘッドホルダ8が固定されている。また、ロードセル9はヘッドホルダ8に作用する荷重を計測し、制御部Cに荷重信号を出力する。この荷重信号は、後述する着地検出のために用いられる。
【0012】
ヘッドホルダ8には、圧着ヘッド10の、プルスタッドボルト12を備えたヘッダ11が装着されており、圧着ヘッド10は昇降板6と一体的に昇降する。また、圧着ヘッド10には空気供給源13が吐出する圧縮空気が配管14を介して供給される。この圧縮空気は後述する円弧面の境目に吹出されるものである。なお、圧着ヘッド10の詳細な構造は後述する。
【0013】
圧着ヘッド10の側方には、移動軸16によって矢印N1方向に出退し、上下方を観察するカメラ部17を備えた認識装置15が設けられている。カメラ部17は、図1の破線で示すように、圧着ヘッド10に吸着されるバンプ付電子部品Pの真下に至って、バンプ付電子部品Pのバンプ及び基板1のパターンを観察するものである。
【0014】
次に、図2、図3を用いて、圧着ヘッド10の構造を説明する。ヘッダ11の下部には、Y円弧面19を備えた第1固定ブロック18が、ボルトB1によって固定されている。また第1固定ブロック18のY円弧面19には、第1可動ブロック20が密接し、第1可動ブロック20の下部には、X円弧面22を有する第2可動ブロック23がボルトB2によって固定されている。そして第2固定ブロック21のX円弧面22には第2可動ブロック23が密接している。
【0015】
ここで、第1可動ブロック20は、X案内板24によって第1固定ブロック18に対してX方向にずれないように規制され、第2可動ブロック23は、Y案内板25によって第2固定ブロック21に対してY方向にずれないよう規制される。また、ヘッダ11、第1固定ブロック18、第1可動ブロック20、第2固定ブロック21、第2可動ブロック23には、プルスタッドボルト12と同軸的な貫通孔が形成され、その貫通孔内に引上棒27がスライド自在に挿入されている。
【0016】
また、第2可動ブロック23内で貫通孔の下端部が拡径されて球座26が形成してあり、この球座26に、引上棒27の下端部に設けられた球28が位置している。そして、引上棒27の上端部は、球28によって上方へ付勢されている。これにより、Y円弧面19を挟む第1固定ブロック18と第1可動ブロック20、X円弧面22を挟む第2固定ブロック21と第2可動ブロック23とが、互いに密接するようになっている。これら第1固定ブロック18、第1可動ブロック20、第2固定ブロック21、第2可動ブロック23は支持部に相当する。
【0017】
ここで、配管14から供給される圧縮空気は、Y円弧面19とX円弧面22に吐出され得るものであり、吐出を行うと、Y円弧面19、X円弧面22にわずかな隙間が形成される。このとき、第1可動ブロック20は第1固定ブロック18に対して矢印M1方向のチルトが許され、第2可動ブロック23は第2固定ブロック21に対して矢印M2方向のチルトが許される。逆に、吐出を止めると、球28のばね力によって、上述した2方向のチルトが禁止され、チルトロックの状態となる。引上棒27、球28、スプリング29はロック機構に相当する。
【0018】
第2可動ブロック23の下部には、ボルトB3により中間ブロック30が固定され、中間ブロック30の下部には、上から順に、多孔質板31、断熱板33、ヒータブロック34が、ボルトB4により固定されている。中間ブロック30内には、冷気が供給される第1流路32が形成され、第1流路32中の冷気は多孔質板31の内部を通過して、多孔質板31の側面から外部へ吐出される。これは、ヒータブロック34がヒータ35により高温となることで、ヒータブロック34の熱が中間ブロック30よりも上方へ伝達されないようにして、第1固定ブロック18、第1可動ブロック20、第2固定ブロック21、第2可動ブロック23等が熱歪を生じないようにしたものである。
【0019】
そして、ヒータブロック34の下部には、バンプ付電子部品Pを吸着する吸着ツール36が固定され、バンプ付電子部品Pは、吸着ツール36、ヒータブロック34に形成された第2流路37が負圧になることで吸着されるようになっている。なおQはバンプ付電子部品Pのバンプである。
【0020】
次に、図4を用いて、本形態のバンプ付電子部品の圧着方法の各過程を説明する。
【0021】
まず、ステップ1にて、圧縮空気の吐出を止め、チルトロックの状態として、バンプ付電子部品Pを吸着ツール36に吸着させる(ステップ2)。
【0022】
次に、定盤4を圧着ヘッド10の真下へセットし、圧縮空気の吐出を行い、チルトを許す状態で、圧着ヘッド10を定盤4へ向けて下降させ、定盤4へバンプQを押し付けてバンプQを若干潰す(ステップ4)。これにより、バンプQの高さにばらつきがあっても、高いバンプQがより潰れることで、複数のバンプQの下端部は1つの平面上に整列する。
【0023】
次に、チルトロックを行い(ステップ5)、高さが均一になったバンプQの姿勢をそのまま拘束し、圧着ヘッド10を上昇させ、基板1が圧着ヘッド10の真下に位置するように、XYテーブル3を駆動する。そして、カメラ部17を図1の破線で示すように、バンプQの真下へ至らせ、バンプQ及び基板1のパターンを観察して両者の位置をそれぞれ認識し、XYテーブル3を駆動して両者の相対的な位置合わせを行う(ステップ6)。
【0024】
位置合わせが終わるとチルトロックを維持したまま、圧着ヘッド10を基板1へ向けて下降させ(ステップ7)、ロードセル9の荷重信号を監視する。
【0025】
ここで、バンプQが基板1に着地すると、荷重信号が示す荷重が急激に増加するので、この増加を検出したときに、バンプQが着地したものとする(ステップ8)。
【0026】
着地検出が行われたら、チルトロックを解除して(ステップ9)、バンプQを基板1の回路パターンに圧着する(ステップ10)。ここで、基板1の上面と複数のバンプQの下端面が整列する平面とがが完全に平行になっていなくとも、上述した矢印M1,M2方向のチルトを行うことで、バンプQが整列する平面を基板1にならわせ、両者を完全に平行にすることができる。
【0027】
これにより、全てのバンプQが均等に圧着されることとなり、実装不良を防止することができる。なお圧着時の荷重は制御部cがロードセル9の荷重信号を検出しながらZモータ7を制御して調節する。
【0028】
【発明の効果】
本発明は、以上のように構成したので、バンプをむらなく均一に圧着でき、実装不良を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における部品実装装置のブロック図
【図2】本発明の一実施の形態における圧着ヘッドの断面図
【図3】本発明の一実施の形態における圧着ヘッドの断面図
【図4】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部品の圧着方法のフローチャート
【符号の説明】
10 圧着ヘッド
36 吸着ツール
P バンプ付電子部品
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for crimping a bumped electronic component.
[0002]
[Prior art]
The electronic component with bumps has a large number of bumps on the lower surface, and all of these bumps are evenly pressure-bonded to the circuit pattern of the substrate, so that they can be correctly mounted on the substrate.
[0003]
However, bumps of electronic components with bumps generally vary in height, and if a soft substrate is used, it is possible to absorb the variation in bumps with the amount of deflection of the substrate. Some substrates, such as substrates, are hard and difficult to bend, and in many cases, variations cannot be sucked by substrate deflection.
[0004]
For this reason, in order to correctly mount the electronic component with bumps as described above, it is necessary to perform pressure bonding while pressing all the bumps against the electrodes of the substrate with equal force. However, in practice, unevenness in crimping is likely to occur due to the bias of some bumps due to variations in bump height, parallelism between the lower surface of the suction tool and the upper surface of the substrate, etc. For this reason, it is known that a crimping head is provided with a tilt mechanism in order to reduce crimping unevenness, and the lower surface of the suction tool (more precisely, the bump arrangement surface) is made to conform to the upper surface of the substrate to absorb the variation in parallelism. Yes.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the conventional crimping method using the crimping head, when the electronic component with bumps is held by the adsorption tool and the electronic component with bumps is aligned, the adsorption tool is shaken by the tilt mechanism. There was a problem that the relative position of the bumps was distorted. In particular, when a flip chip in which bumps are formed on the electrodes of a semiconductor IC is mounted on a substrate, this problem is particularly noticeable because high-precision mounting is required in addition to a small unevenness of pressure bonding.
[0006]
Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for crimping a bumped electronic component that can crimp a bump uniformly and can be aligned with a substrate with high accuracy.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
The method for crimping electronic components with bumps according to the present invention includes a suction tool that sucks electronic components with bumps, a support portion that supports the suction tool in a tiltable manner, and a lock mechanism that prohibits tilting of the support portion. a crimping method of the electronic component with bumps according bonding head, adsorption step and the electronic component with bumps adsorbed to the suction tool prohibits tilt to suck the electronic component bumped to the suction tool prohibits tilt The step of recognizing the position of the bumped electronic component and aligning the bumped electronic component with the substrate, the step of detecting the landing with the tilt prohibited, and the bump of the electronic component with the bump adsorbed by the suction tool allowing the tilt A crimping step of crimping the substrate to the substrate.
[0008]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The method for press-bonding an electronic component with bump according to claim 1 includes an adsorption tool that adsorbs the electronic component with bump, a support portion that supports the adsorption tool in a tiltable manner, and a lock mechanism that prohibits tilting of the support portion. a crimping method of the electronic component with bumps according bonding head, the position of the adsorption step and the electronic component with bumps sucked by the suction tool prohibits tilt to suck the electronic part mounted bumps suction tool prohibits tilt Recognizing the bumps and aligning the bumped electronic component with the substrate , prohibiting the tilt and detecting the landing, and allowing the bump of the bumped electronic component adsorbed by the suction tool to the substrate. A crimping step for crimping. Therefore, in the crimping step, even if the substrate and the bump are not parallel to each other at the beginning, the electronic component with bumps adsorbed by the suction tool is tilted and made to conform to the substrate so that the substrate and the bump are parallel. In other words, the bumps are uniformly crimped and mounting defects can be suppressed.
[0009]
Further, when the position of the electronic component with bumps adsorbed by the adsorption tool is recognized and the electronic component with bumps and the substrate are aligned, tilting is prohibited by the lock mechanism, and high-precision mounting can be performed.
[0010]
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the substrate 1 is held on a substrate holder 2 and positioned by an XY table 3. On the substrate holder 2, a surface plate 4 adjusted to have a sufficient level is installed.
[0011]
Above the substrate holder 2 is provided a Z table 5 for raising and lowering the elevating plate 6 in the Z direction by a Z motor 7, and a head holder 8 is fixed to the front surface of the elevating plate 6. Further, the load cell 9 measures the load acting on the head holder 8 and outputs a load signal to the control unit C. This load signal is used for landing detection described later.
[0012]
The head holder 8 is mounted with a header 11 of the crimping head 10 having a pull stud bolt 12. The crimping head 10 moves up and down integrally with the lifting plate 6. The compressed head 10 is supplied with compressed air discharged from the air supply source 13 through a pipe 14. This compressed air is blown out at the boundary of the arc surface described later. The detailed structure of the pressure bonding head 10 will be described later.
[0013]
On the side of the pressure-bonding head 10, there is provided a recognition device 15 including a camera unit 17 that moves in and out in the direction of the arrow N1 by the moving shaft 16 and observes the upper and lower sides. As shown by a broken line in FIG. 1, the camera unit 17 observes the bumps of the bumped electronic component P and the pattern of the substrate 1 just below the bumped electronic component P attracted to the crimping head 10.
[0014]
Next, the structure of the crimping head 10 will be described with reference to FIGS. A first fixing block 18 having a Y arc surface 19 is fixed to the lower portion of the header 11 by a bolt B1. The first movable block 20 is in close contact with the Y arc surface 19 of the first fixed block 18, and the second movable block 23 having the X arc surface 22 is fixed to the lower portion of the first movable block 20 with a bolt B2. ing. The second movable block 23 is in close contact with the X arc surface 22 of the second fixed block 21.
[0015]
Here, the first movable block 20 is regulated by the X guide plate 24 so as not to be displaced in the X direction with respect to the first fixed block 18, and the second movable block 23 is regulated by the Y guide plate 25. However, it is regulated not to shift in the Y direction. Further, the header 11, the first fixed block 18, the first movable block 20, the second fixed block 21, and the second movable block 23 are formed with a through hole coaxial with the pull stud bolt 12, and in the through hole. The pull-up bar 27 is slidably inserted.
[0016]
In addition, the lower end portion of the through hole is expanded in the second movable block 23 to form a ball seat 26, and a ball 28 provided at the lower end portion of the pull-up bar 27 is positioned on the ball seat 26. ing. The upper end of the pull-up bar 27 is urged upward by a ball 28. Accordingly, the first fixed block 18 and the first movable block 20 that sandwich the Y arc surface 19, and the second fixed block 21 and the second movable block 23 that sandwich the X arc surface 22 are in close contact with each other. The first fixed block 18, the first movable block 20, the second fixed block 21, and the second movable block 23 correspond to a support portion.
[0017]
Here, the compressed air supplied from the pipe 14 can be discharged to the Y arc surface 19 and the X arc surface 22, and when discharged, a slight gap is formed in the Y arc surface 19 and the X arc surface 22. Is done. At this time, the first movable block 20 is allowed to tilt in the direction of arrow M1 relative to the first fixed block 18, and the second movable block 23 is allowed to tilt relative to the second fixed block 21 in the direction of arrow M2. On the contrary, when the ejection is stopped, the above-described two-direction tilt is prohibited by the spring force of the ball 28, and the tilt lock state is established. The pulling rod 27, the ball 28, and the spring 29 correspond to a lock mechanism.
[0018]
The intermediate block 30 is fixed to the lower part of the second movable block 23 by a bolt B3, and the porous plate 31, the heat insulating plate 33, and the heater block 34 are fixed to the lower part of the intermediate block 30 from the top by bolts B4. Has been. A first flow path 32 to which cool air is supplied is formed in the intermediate block 30, and the cool air in the first flow path 32 passes through the inside of the porous plate 31 to the outside from the side surface of the porous plate 31. Discharged. This is because the heater block 34 is heated by the heater 35 so that the heat of the heater block 34 is not transmitted upward from the intermediate block 30, and the first fixed block 18, the first movable block 20, and the second fixed block. The block 21, the second movable block 23, and the like are configured so as not to cause thermal distortion.
[0019]
A suction tool 36 for sucking the bumped electronic component P is fixed to the lower portion of the heater block 34. The bumped electronic component P has a negative flow path 37 formed in the suction tool 36 and the heater block 34. It becomes adsorbed by becoming pressure. Q is a bump of the electronic component P with bump.
[0020]
Next, with reference to FIG. 4, each process of the method for crimping a bumped electronic component of this embodiment will be described.
[0021]
First, in step 1, the discharge of compressed air is stopped and the electronic component P with bumps is attracted to the suction tool 36 in a tilt lock state (step 2).
[0022]
Next, the surface plate 4 is set directly under the pressure bonding head 10, the compressed air is discharged, and the pressure bonding head 10 is lowered toward the surface plate 4 while allowing the tilt, and the bump Q is pressed against the surface plate 4. The bumps Q are slightly crushed (step 4). Thereby, even if there is variation in the height of the bumps Q, the lower bumps of the plurality of bumps Q are aligned on one plane because the higher bumps Q are more crushed.
[0023]
Next, tilt lock is performed (step 5), the posture of the bump Q having a uniform height is restrained as it is, the pressure-bonding head 10 is raised, and the substrate 1 is positioned directly below the pressure-bonding head 10. The table 3 is driven. Then, as shown by the broken line in FIG. 1, the camera unit 17 is brought directly below the bump Q, the pattern of the bump Q and the substrate 1 is observed to recognize the positions of both, and the XY table 3 is driven to Are aligned relative to each other (step 6).
[0024]
When the alignment is completed, the pressure-bonding head 10 is lowered toward the substrate 1 while maintaining the tilt lock (step 7), and the load signal of the load cell 9 is monitored.
[0025]
Here, when the bump Q lands on the substrate 1, the load indicated by the load signal increases rapidly, and it is assumed that the bump Q has landed when this increase is detected (step 8).
[0026]
When landing detection is performed, the tilt lock is released (step 9), and the bumps Q are pressure-bonded to the circuit pattern of the substrate 1 (step 10). Here, even if the upper surface of the substrate 1 and the plane on which the lower end surfaces of the plurality of bumps Q are aligned are not completely parallel, the bumps Q are aligned by performing the tilt in the directions of the arrows M1 and M2. The plane can be made to be the substrate 1 and both can be made completely parallel.
[0027]
As a result, all the bumps Q are uniformly crimped, and mounting defects can be prevented. The load at the time of crimping is adjusted by the control unit c by controlling the Z motor 7 while detecting the load signal of the load cell 9.
[0028]
【The invention's effect】
Since the present invention is configured as described above, bumps can be uniformly crimped without unevenness and mounting defects can be suppressed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view of a crimping head according to an embodiment of the present invention. Sectional view [FIG. 4] Flow chart of a method for crimping a bumped electronic component according to an embodiment of the present invention [Explanation of symbols]
10 Crimping head 36 Suction tool P Electronic components with bumps

Claims (2)

バンプ付電子部品を吸着する吸着ツールと、前記吸着ツールをチルト可能に支持する支持部と、前記支持部のチルトを禁止するロック機構とを備えた圧着ヘッドによるバンプ付電子部品の圧着方法であって、チルトを禁止して前記吸着ツールにバンプ付電子部品を吸着する吸着ステップと、チルトを禁止して前記吸着ツールに吸着されたバンプ付電子部品の位置を認識してこのバンプ付電子部品と基板との位置合わせを行うステップと、チルトを禁止して着地検出するステップと、チルトを許して前記吸着ツールに吸着されたバンプ付電子部品のバンプを基板に圧着する圧着ステップとを含むことを特徴とするバンプ付電子部品の圧着方法。A method for crimping electronic components with bumps by a crimping head comprising a suction tool that sucks electronic components with bumps, a support portion that supports the suction tools in a tiltable manner, and a lock mechanism that prohibits tilting of the support portions. Te, an adsorption step for adsorbing an electronic component bumped to the suction tool prohibits tilting said to recognize the position of the electronic component with bumps sucked by the suction tool prohibits tilt and this bumped electronic component A step of performing alignment with the substrate, a step of detecting the landing while prohibiting the tilt, and a step of pressing the bump of the electronic component with the bump adsorbed by the suction tool while allowing the tilt to be bonded to the substrate. A method for crimping a bumped electronic component. 前記認識ステップに先立ち、チルトを許して前記吸着ツールに吸着されたバンプ付電子部品のバンプを定盤に押し付けてバンプのレベリングを行い、次いでチルトを禁止して圧着ヘッドを上昇させることを特徴とする請求項1記載のバンプ付電子部品の圧着方法。Wherein prior to recognition step, by pressing a bump of the adsorbed electronic components bumped into the suction tool allowing the tilt to the base have line leveling the bump, and then raise the pressure bonding head is prohibited tilt The method for crimping electronic components with bumps according to claim 1.
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