JP3303705B2 - Thermocompression bonding equipment for electronic components with bumps - Google Patents

Thermocompression bonding equipment for electronic components with bumps

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JP3303705B2
JP3303705B2 JP00933497A JP933497A JP3303705B2 JP 3303705 B2 JP3303705 B2 JP 3303705B2 JP 00933497 A JP00933497 A JP 00933497A JP 933497 A JP933497 A JP 933497A JP 3303705 B2 JP3303705 B2 JP 3303705B2
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    • H01L2224/75745Suction holding means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head

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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、バンプ付電子部品
圧着装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thermocompression bonding apparatus for electronic components with bumps.

【0002】[0002]

【従来の技術】バンプ付電子部品は下面に多数のバンプ
を有しており、これらのバンプの全てが基板の回路パタ
ーンの電極に均等に圧着されることにより、正しく基板
に実装される。
2. Description of the Related Art An electronic component with bumps has a large number of bumps on its lower surface, and all of these bumps are evenly pressed on electrodes of a circuit pattern on the substrate to be correctly mounted on the substrate.

【0003】ところが、一般にはバンプ付電子部品のバ
ンプには高さのばらつきがあり、やわらかくてたわみや
すい基板を用いれば、バンプのばらつきを基板のたわみ
の大小で吸収することも可能であるが、基板にはガラス
エポキシ基板のように硬くたわみにくいものがあり、基
板のたわみでばらつきを吸収できないことも多い。
However, in general, bumps of electronic parts with bumps vary in height. If a soft and flexible substrate is used, it is possible to absorb the variation in bumps depending on the degree of deflection of the substrate. Some substrates are hard and hard to bend, such as glass epoxy substrates, and the deflection of the substrate often cannot absorb variations.

【0004】このため、バンプ付電子部品を上述のよう
に正しく実装するためには全てのバンプを均等な力で基
板の電極に押し付けながら圧着する必要がある。しかし
実際にはバンプの高さのばらつきや圧着を行う吸着ツー
ルの下面と基板の上面との平行度のばらつき等により一
部のバンプに力が片寄るなどして圧着むらが生じやす
い。このため圧着むらを少なくするために圧着ヘッドに
球面ベアリングを使用したチルト機構を備え、吸着ツー
ルの下面(正確にはバンプの配列面)を基板の上面にな
らわせて平行度のばらつきを吸収するものが知られてい
る。
[0004] For this reason, in order to mount the electronic component with bumps correctly as described above, it is necessary to press-fit all the bumps while pressing them against the electrodes of the substrate with an equal force. However, in practice, uneven pressure is likely to occur due to uneven bias of the bumps due to unevenness in the height of the bumps or unevenness in the parallelism between the lower surface of the suction tool for performing the pressing and the upper surface of the substrate. For this reason, a tilt mechanism that uses a spherical bearing in the pressure bonding head is provided to reduce uneven pressure bonding, and the lower surface of the suction tool (accurately, the arrangement surface of bumps) is aligned with the upper surface of the substrate to absorb variations in parallelism. Things are known.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし従来の圧着ヘッ
ドによる圧着装置では、吸着ツールにバンプ付電子部品
を保持させて基板にバンプ付電子部品を接合する際に、
チルト機構によって吸着ツールがθ方向にも回転してし
まい、これにより基板の電極とバンプの相対位置に狂い
を生じてしまう問題があった。とくに半導体ICの電極
にバンプが形成されたフリップチップを基板に実装する
場合には、圧着むらが少ないことに加えて高精度実装が
要求されるため特にこの問題が顕著になっている。
However, in a conventional crimping apparatus using a crimping head, when a suction tool holds an electronic component with bumps and joins the electronic component with bumps to a substrate,
The tilting mechanism causes the suction tool to rotate in the θ direction, which causes a problem in that the relative positions of the electrodes and the bumps on the substrate are deviated. In particular, when a flip chip in which bumps are formed on electrodes of a semiconductor IC is mounted on a substrate, high precision mounting is required in addition to less pressure unevenness, and this problem is particularly remarkable.

【0006】そこで本発明は、バンプをむらなく圧着
でき、しかも基板に高精度で位置合わせができるバンプ
付電子部品の圧着装置を提供することを目的とする。
[0006] The present invention, bumps can without unevenness thermocompression bonding, moreover an object to provide a thermocompression bonding apparatus for electronic components with bumps capable alignment with high accuracy on the substrate.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、テーブルに載
せられた基板の電極にバンプ付電子部品のバンプを着地
させ、圧着ヘッドにより前記バンプを前記電極に圧着
するバンプ付電子部品の圧着装置であって、前記圧着
ヘッドが、その下面がY円弧面である第1固定ブロック
と、その上面がこのY円弧面に当接し前記熱圧着によっ
このY円弧面に沿って回動する第1可動ブロックと、
この第1可動ブロックの下方に設けられてその下面がX
円弧面である第2固定ブロックと、その上面がこのX円
弧面に当接し前記熱圧着によってこのX円弧面に沿って
回動する第2可動ブロックを備え、前記第2可動ブロッ
クの下方に上から順に断熱部と、ヒーターを備えたヒー
トブロックと、バンプ付電子部品を真空吸着する吸着ツ
ールを装着した
The present invention SUMMARY OF] causes the landing electronic parts bumped bump to an electrode on the substrate placed on the table, heat of the electronic component with bumps thermocompression bonding the bump to the electrode by crimping head a crimping device, the crimping head, a first fixed block its lower surface is Y arc surface, the top surface due to contact with the thermocompression bonding in the Y arcuate surface
A first movable block to rotate along the Y arcuate surface Te,
It is provided below the first movable block, and its lower surface is X
It includes a second fixed block is an arc surface, a second movable block whose upper surface is rotated along the X arcuate surface by contact with said heat bonding to the X arcuate surface, on the lower side of the second movable block Heat insulation unit and heater with heater
Block and suction tool for vacuum suction of electronic components with bumps
Was installed .

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】上記構成の本発明によれば、基板
とバンプとが平行になっていなくとも、第1可動ブロッ
クや第2可動ブロックをY円弧面やX円弧面に沿って回
動させて吸着ツールに吸着されたバンプ付電子部品をチ
ルトさせ、基板にならわせることで、基板とバンプとを
平行にすることができ、すべてのバンプが基板の電極に
均等に圧着され、実装不良を解消することができる。
According to the present invention having the above structure, even if the substrate and the bump are not parallel, the first movable block and the second movable block are rotated along the Y-arc surface and the X-arc surface. The electronic components with bumps sucked by the suction tool are tilted, and the board and the bumps can be made parallel by making them conform to the board, and all the bumps are evenly pressed against the electrodes of the board and mounted. Defects can be eliminated.

【0009】次に図面を参照しながら、本発明の実施の
形態を説明する。図1は、本発明の一実施の形態におけ
るバンプ付電子部品の圧着装置のブロック図である。図
1に示すように、基板1はテーブル3上の基板ホルダ2
に載せられる。テーブル3は可動テーブルであって、基
板1をX方向やY方向へ水平移動させ、所定位置に位置
決めする。また基板ホルダ2上には、十分な水平度を有
するように調整された定盤4が設置されている。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a crimping apparatus for an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, a substrate 1 is a substrate holder 2 on a table 3.
Be placed on The table 3 is a movable table that horizontally moves the substrate 1 in the X direction or the Y direction and positions it at a predetermined position. On the substrate holder 2, a surface plate 4 adjusted so as to have a sufficient level is installed.

【0010】基板ホルダ2の上方には、昇降板6をZモ
ータ7によってZ方向に昇降させるZテーブル5が設け
られ、昇降板6の前面にはヘッドホルダ8が固定されて
いる。また、ロードセル9はヘッドホルダ8に作用する
荷重を計測し、制御部Cに荷重信号を出力する。この荷
重信号は、後述するバンプの着地検出のために用いられ
る。
Above the substrate holder 2, there is provided a Z table 5 for raising and lowering the elevating plate 6 in the Z direction by a Z motor 7, and a head holder 8 is fixed to the front surface of the elevating plate 6. The load cell 9 measures a load acting on the head holder 8 and outputs a load signal to the control unit C. This load signal is used for later-described detection of bump landing.

【0011】ヘッドホルダ8には、圧着ヘッド10の、
プルスタッドボルト12を備えたヘッダ11が装着され
ており、圧着ヘッド10は昇降板6と一体的に昇降す
る。また、圧着ヘッド10には空気供給源13が吐出す
る圧縮空気が配管14を介して供給される。この圧縮空
気は後述するY円弧面とX円弧面の境目に吹出されるも
のである。なお、圧着ヘッド10の詳細な構造は後述す
る。
The head holder 8 includes
A header 11 having a pull stud bolt 12 is mounted, and the pressure bonding head 10 moves up and down integrally with the lifting plate 6. Compressed air discharged from the air supply source 13 is supplied to the pressure bonding head 10 through a pipe 14. This compressed air is blown out at a boundary between a Y-arc surface and an X-arc surface described later. The detailed structure of the pressure bonding head 10 will be described later.

【0012】圧着ヘッド10の側方には、移動軸16に
よって矢印N1方向に出退し、上下方を観察するカメラ
部17を備えた認識装置15が設けられている。カメラ
部17は、図1の破線で示すように、圧着ヘッド10に
吸着されるバンプ付電子部品Pの真下に至って、バンプ
付電子部品Pのバンプ及び基板1の回路パターンを観察
するものである。
A recognition device 15 is provided beside the pressure bonding head 10 and has a camera section 17 which moves back and forth in the direction of arrow N1 by a moving shaft 16 and observes the upper and lower sides. The camera unit 17 observes the bumps of the electronic component P with bumps and the circuit pattern of the substrate 1 right below the electronic component P with bumps sucked by the pressure bonding head 10 as shown by the broken line in FIG. .

【0013】次に、図2、図3を用いて、圧着ヘッド1
0の構造を説明する。ヘッダ11の下部には、第1固定
ブロック18がボルトB1によって固定されている。第
1固定ブロック18の下面は、Y方向に湾曲するY円弧
面19となっている。第1固定ブロック18のY円弧面
19には、第1可動ブロック20の円弧状の上面が当接
しており、第1可動ブロック20はY円弧面19に沿っ
て回動する(図2の矢印M1を参照)。第1可動ブロッ
ク20の下部には第2固定ブロック21がボルトB2に
より固定されている。第2固定ブロック21の下面は、
X方向に湾曲するX円弧面22になっている。X円弧面
22には第2可動ブロック23の円弧状の上面が当接し
ており、第2可動ブロック23はX円弧面22に沿って
回動する(図3の矢印M2を参照)。
Next, referring to FIG. 2 and FIG.
The structure of 0 will be described. A first fixing block 18 is fixed to a lower portion of the header 11 by a bolt B1. The lower surface of the first fixed block 18 is a Y-arc surface 19 that curves in the Y direction. The arc-shaped upper surface of the first movable block 20 is in contact with the Y-arc surface 19 of the first fixed block 18, and the first movable block 20 rotates along the Y-arc surface 19 (arrow in FIG. 2). M1). A second fixed block 21 is fixed to a lower portion of the first movable block 20 by a bolt B2. The lower surface of the second fixed block 21
It is an X-arc surface 22 that curves in the X direction. The arc-shaped upper surface of the second movable block 23 is in contact with the X arc surface 22, and the second movable block 23 rotates along the X arc surface 22 (see the arrow M2 in FIG. 3).

【0014】後述するように、バンプ付電子部品Pは吸
着ツール36の下面に真空吸着されるが、吸着ツール3
6に真空吸着されたバンプ付電子部品PがY円弧面19
およびX円弧面22の中心O1,O2に位置するよう
に、Y円弧面19とX円弧面22の曲率は決定される。
これにより、M1方向やM2方向のチルト動作を行って
も、バンプ付電子部品Pの位置が変動しないようにし
て、バンプ付電子部品Pを基板1の正しい位置に圧着で
きるようにしている。
As will be described later, the electronic component P with bumps is vacuum-sucked on the lower surface of the suction tool 36.
The electronic component P with bumps vacuum-sucked on the Y-shaped surface 6
The curvatures of the Y-arc surface 19 and the X-arc surface 22 are determined so as to be located at the centers O1 and O2 of the X-arc surface 22.
Thus, even when the tilt operation in the M1 direction or the M2 direction is performed, the position of the electronic component with bumps P is not changed, so that the electronic component with bumps P can be pressed to the correct position on the substrate 1.

【0015】ここで、第1可動ブロック20は、X案内
板24(図3)によって第1固定ブロック18に対して
X方向およびθ方向にずれないように規制され、第2可
動ブロック23は、Y案内板25(図2)によって第2
固定ブロック21に対してY方向およびθ方向にずれな
いよう規制される。したがって第1可動ブロック20は
XZ平面に沿ってのみ回動し、第2可動ブロック23は
XZ平面に直交するYZ平面に沿って回動する。これに
よりチルト動作のときに第1可動ブロック20および第
2可動ブロック23が不要にXY方向へずれたり、θ方
向へ回転することを防止し、チルト動作によるバンプ付
電子部品の位置ずれが発生しないようにしている。また
ヘッダ11、第1固定ブロック18、第1可動ブロック
20、第2固定ブロック21、第2可動ブロック23に
は、プルスタッドボルト12と同軸的な貫通孔が形成さ
れ、その貫通孔内に引上棒27がスライド自在に挿入さ
れている。
Here, the first movable block 20 is regulated by the X guide plate 24 (FIG. 3) so as not to be shifted in the X direction and the θ direction with respect to the first fixed block 18, and the second movable block 23 is By the Y guide plate 25 (FIG. 2), the second
It is regulated so as not to shift in the Y direction and the θ direction with respect to the fixed block 21. Therefore, the first movable block 20 rotates only along the XZ plane, and the second movable block 23 rotates along the YZ plane orthogonal to the XZ plane. This prevents the first movable block 20 and the second movable block 23 from being unnecessarily displaced in the XY directions and rotating in the θ direction during the tilt operation, and does not cause the displacement of the electronic component with bumps due to the tilt operation. Like that. The header 11, the first fixed block 18, the first movable block 20, the second fixed block 21, and the second movable block 23 are formed with through-holes coaxial with the pull stud bolts 12, and are drawn in the through-holes. The upper bar 27 is slidably inserted.

【0016】また、第2可動ブロック23内で貫通孔の
下端部が拡径されて球座26が形成してあり、この球座
26に、引上棒27の下端部に設けられた球28が位置
している。そして、引上棒27の上端部は、スプリング
29によって上方へ付勢されている。したがってスプリ
ング29のばね力によって第1可動ブロック20の円弧
状の上面はY円弧面19にしっかり押接され、また第2
可動ブロック23の円弧状の上面はX円弧面22にしっ
かり押接される。
The lower end of the through hole is enlarged in the second movable block 23 to form a ball seat 26, and the ball seat 26 is provided with a ball 28 provided at the lower end of a pull-up rod 27. Is located. The upper end of the pull-up bar 27 is urged upward by a spring 29. Accordingly, the arc-shaped upper surface of the first movable block 20 is firmly pressed against the Y-arc surface 19 by the spring force of the spring 29, and the second
The arc-shaped upper surface of the movable block 23 is firmly pressed against the X-arc surface 22.

【0017】ここで、配管14から供給される圧縮空気
は、Y円弧面19とX円弧面22に吐出され得るもので
あり、吐出を行うと、Y円弧面19、X円弧面22にわ
ずかな隙間が形成される。このとき、第1可動ブロック
20は第1固定ブロック18に対して矢印M1方向のチ
ルト(回動)が許され、第2可動ブロック23は第2固
定ブロック21に対して矢印M2方向のチルトが許され
る。逆に、吐出を止めると、球28のばね力によって、
上述した2方向のチルトが禁止され、チルトロックの状
態となる。以上のように、引上棒27、球28、スプリ
ング29は第1可動ブロック20のY円弧面19に対す
る回動および第2可動ブロック23のX円弧面22に対
する回動をロックするロック手段となっており、また空
気供給源13、配管14は、圧縮空気の供給・供給停止
を切り換えることによりチルトロックとチルトロック解
除を切り換える切り換え手段となっている。
Here, the compressed air supplied from the pipe 14 can be discharged to the Y-arc surface 19 and the X-arc surface 22. A gap is formed. At this time, the first movable block 20 is allowed to tilt (rotate) in the direction of arrow M1 with respect to the first fixed block 18, and the second movable block 23 is tilted in the direction of arrow M2 with respect to the second fixed block 21. forgiven. Conversely, when the discharge is stopped, the spring force of the ball 28 causes
The two-way tilt described above is prohibited, and a tilt lock state is set. As described above, the pull-up bar 27, the ball 28, and the spring 29 are locking means for locking the rotation of the first movable block 20 with respect to the Y-arc surface 19 and the rotation of the second movable block 23 with respect to the X-arc surface 22. The air supply source 13 and the piping 14 are switching means for switching between tilt lock and tilt lock release by switching between supply and stop of supply of compressed air.

【0018】なおロック手段や切り換え手段としては磁
気手段なども適用できる。すなわち第1固定ブロック1
8、第2固定ブロック21を電磁石により形成し、第1
可動ブロック20、第2可動ブロック23を磁性体にて
形成し、磁気力を発生させることにより第1可動ブロッ
ク20を第1固定ブロック18に吸着しまた第2可動ブ
ロック23を第2固定ブロック21に吸着してロック
し、磁気力を削減させることによりロック解除してもよ
い。
As the locking means and the switching means, magnetic means and the like can be applied. That is, the first fixed block 1
8. The second fixed block 21 is formed by an electromagnet,
The movable block 20 and the second movable block 23 are formed of a magnetic material, and the first movable block 20 is attracted to the first fixed block 18 by generating a magnetic force. The lock may be released by attracting and locking the magnetic force and reducing the magnetic force.

【0019】第2可動ブロック23の下部には、ボルト
B3により中間ブロック30が固定され、中間ブロック
30の下部には、上から順に、多孔質板31、断熱板3
3、ヒータブロック34が、ボルトB4により固定され
ている。中間ブロック30内には、冷気が供給される第
1流路32が形成され、第1流路32中の冷気は多孔質
板31の内部を通過して、多孔質板31の側面から外部
へ吐出される。これは、ヒータブロック34がヒータ3
5により高温となることで、ヒータブロック34の熱が
中間ブロック30よりも上方へ伝達されないようにし
て、ヘッダ11、第1固定ブロック18、第1可動ブロ
ック20、第2固定ブロック21、第2可動ブロック2
3等が熱歪を生じないようにしたものである。
At the lower part of the second movable block 23, an intermediate block 30 is fixed by bolts B3. At the lower part of the intermediate block 30, the porous plate 31, the heat insulating plate 3
3. The heater block 34 is fixed by bolts B4. A first flow path 32 to which cool air is supplied is formed in the intermediate block 30, and the cool air in the first flow path 32 passes through the inside of the porous plate 31 and goes from the side surface of the porous plate 31 to the outside. Discharged. This is because the heater block 34 is the heater 3
5, the heat of the heater block 34 is prevented from being transmitted above the intermediate block 30, and the header 11, the first fixed block 18, the first movable block 20, the second fixed block 21, and the second Movable block 2
No. 3 etc. do not cause thermal distortion.

【0020】圧着ヘッド10はヘッダ11をヘッドホル
ダ8の内部に挿入してヘッドホルダ8に装着されるもの
であり、ヘッダ11がヒータブロック34からの伝熱に
より熱膨張して熱歪が生じると、ヘッダ11のヘッドホ
ルダ8に対する挿脱が困難となり、圧着ヘッド10の取
りはずし交換ができなくなる。さらに第1固定ブロック
18,第1可動ブロック20,第2固定ブロック21,
第2可動ブロック23が熱歪を生じると、円弧面も変形
し、スムースなチルト動作が行えずにバンプの圧着ムラ
が生じてしまう。したがって多孔質板31および断熱板
33等の断熱部を設けることによって上述した熱による
問題を解決している。本実施の形態は、多孔質板31に
冷気を積極的に吹き込んで断熱効果を十分に高めている
ものである。
The crimping head 10 has the header 11 inserted into the head holder 8 and mounted on the head holder 8. When the header 11 thermally expands due to heat transfer from the heater block 34 and thermal distortion occurs. In addition, it becomes difficult to insert and remove the header 11 from the head holder 8, and the crimping head 10 cannot be removed and replaced. Further, the first fixed block 18, the first movable block 20, the second fixed block 21,
When the second movable block 23 generates thermal distortion, the arc surface is also deformed, so that a smooth tilting operation cannot be performed and uneven compression of the bumps occurs. Therefore, the above-mentioned problem caused by heat is solved by providing the heat insulating portions such as the porous plate 31 and the heat insulating plate 33. In the present embodiment, cold air is positively blown into the porous plate 31 to sufficiently enhance the heat insulating effect.

【0021】そして、ヒータブロック34の下部には、
バンプ付電子部品Pを吸着する吸着ツール36が固定さ
れ、バンプ付電子部品Pは、吸着ツール36、ヒータブ
ロック34に形成された第2流路37が負圧になること
で吸着されるようになっている。なおQはバンプ付電子
部品Pのバンプである。
Then, below the heater block 34,
A suction tool 36 for sucking the electronic component P with bumps is fixed, and the electronic component P with bumps is sucked when the suction tool 36 and the second flow path 37 formed in the heater block 34 become negative pressure. Has become. In addition, Q is a bump of the electronic component P with a bump.

【0022】次に、図4を用いて、本実施の形態のバン
プ付電子部品の圧着方法の各過程を説明する。まず、ス
テップ1にて、圧縮空気の吐出を止め、チルトロックの
状態として、バンプ付電子部品Pを吸着ツール36に吸
着させる(ステップ2)。
Next, each step of the method for crimping an electronic component with bumps according to the present embodiment will be described with reference to FIG. First, in step 1, the discharge of the compressed air is stopped, and the electronic component P with bumps is sucked by the suction tool 36 in a tilt lock state (step 2).

【0023】次に、定盤4を圧着ヘッド10の真下へセ
ットし、圧縮空気の吐出を行い、チルトを許す状態で、
圧着ヘッド10を定盤4へ向けて下降させ、定盤4へバ
ンプQを押し付けてバンプQを若干潰す(ステップ
4)。これにより、バンプQの高さにばらつきがあって
も、高いバンプQがより潰れることで、複数のバンプQ
の下端部は1つの平面上に整列する。
Next, the platen 4 is set immediately below the pressure bonding head 10, and compressed air is discharged.
The crimping head 10 is lowered toward the surface plate 4, and the bumps Q are pressed against the surface plate 4 to slightly crush the bumps Q (step 4). As a result, even if the height of the bumps Q varies, the plurality of bumps Q
Are aligned on one plane.

【0024】次に、チルトロックを行い(ステップ
5)、高さが均一になったバンプQの姿勢をそのまま拘
束し、圧着ヘッド10を上昇させ、基板1が圧着ヘッド
10の真下に位置するように、テーブル3を駆動する。
そして、カメラ部17を図1の破線で示すように、バン
プQの真下へ至らせ、バンプQ及び基板1の回路パター
ンを観察して両者の位置をそれぞれ認識し、テーブル3
を駆動して両者の相対的な位置合わせを行う(ステップ
6)。
Next, a tilt lock is performed (Step 5), the posture of the bump Q having a uniform height is restrained as it is, and the pressure bonding head 10 is raised so that the substrate 1 is positioned directly below the pressure bonding head 10. Then, the table 3 is driven.
Then, as shown by the broken line in FIG. 1, the camera unit 17 is moved directly below the bump Q, and the bump Q and the circuit pattern of the substrate 1 are observed to recognize the positions of both.
Is driven to perform relative positioning between the two (step 6).

【0025】位置合わせが終わるとチルトロックを維持
したまま、圧着ヘッド10を基板1へ向けて下降させ
(ステップ7)、ロードセル9の荷重信号を監視する。
ここで、バンプQが基板1に着地すると、荷重信号が示
す荷重が急激に増加するので、この増加を検出したとき
に、バンプQが着地したものとする(ステップ8)。
When the alignment is completed, the pressure bonding head 10 is lowered toward the substrate 1 while maintaining the tilt lock (step 7), and the load signal of the load cell 9 is monitored.
Here, when the bump Q lands on the substrate 1, the load indicated by the load signal sharply increases. Therefore, when this increase is detected, it is assumed that the bump Q lands (step 8).

【0026】着地検出が行われたら、チルトロックを解
除して(ステップ9)、バンプQを基板1の回路パター
ンに圧着する(ステップ10)。ここで、基板1の上面
と複数のバンプQの下端面が整列する平面とがが完全に
平行になっていなくとも、上述した矢印M1,M2方向
のチルトを行うことで、バンプQが整列する平面を基板
1にならわせ、両者を完全に平行にすることができる。
この場合、バンプ付電子部品PはY円弧面19とX円弧
面22の中心O1,O2に位置しているので、チルト動
作を行ってもバンプ付電子部品Pの位置が変動すること
はなく、したがってバンプ付電子部品Pを位置ずれなく
圧着できる。
When the landing is detected, the tilt lock is released (step 9), and the bump Q is pressed on the circuit pattern of the substrate 1 (step 10). Here, even if the upper surface of the substrate 1 and the plane on which the lower end surfaces of the plurality of bumps Q are aligned are not completely parallel, the bumps Q are aligned by performing the tilting in the directions of the arrows M1 and M2 described above. The plane can be made to follow the substrate 1 and both can be completely parallel.
In this case, since the electronic component with bump P is located at the center O1, O2 of the Y-arc surface 19 and the X-arc surface 22, the position of the electronic component with bump P does not change even when the tilt operation is performed. Therefore, the electronic component P with bumps can be pressed without displacement.

【0027】以上により、全てのバンプQが均等な力で
基板1の電極1aに圧着されることとなり、実装不良を
防止することができる。なお圧着時の荷重は制御部Cが
ロードセル9の荷重信号を検出しながらZモータ7を制
御して調節する。
As described above, all the bumps Q are pressed against the electrodes 1a of the substrate 1 with an equal force, and a mounting failure can be prevented. The load at the time of press bonding is adjusted by controlling the Z motor 7 while detecting the load signal of the load cell 9 by the control unit C.

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明は、以上のように構成したので、
チップのすべてのバンプを基板の電極にむらなく均一に
圧着でき、しかも精度よく基板に実装することができ
る。
The present invention is configured as described above.
All bumps on the chip are evenly distributed on the substrate electrodes
It can be thermocompression bonded and can be accurately mounted on a substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の圧着装置のブロック図
FIG. 1 is a block diagram of a crimping apparatus for an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の圧着装置の圧着ヘッドの断面図
FIG. 2 is a cross-sectional view of a crimping head of a crimping apparatus for an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の圧着装置の圧着ヘッドの断面図
FIG. 3 is a cross-sectional view of a crimping head of a crimping apparatus for an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施の形態におけるバンプ付電子部
品の圧着方法のフローチャート
FIG. 4 is a flowchart of a method for crimping an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 1a 電極 3 テーブル 10 圧着ヘッド 11 ヘッダ 18 第1固定ブロック 19 Y円弧面 20 第1可動ブロック 21 第2固定ブロック 22 X円弧面 23 第2可動ブロック 27 引上棒(押接手段) 28 球(押接手段) 29 スプリング(押接手段) 36 吸着ツール P バンプ付電子部品 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 1a Electrode 3 Table 10 Crimping head 11 Header 18 1st fixed block 19 Y arc surface 20 1st movable block 21 2nd fixed block 22 X arc surface 23 2nd movable block 27 Pulling-up rod (pressing means) 28 ball (Pressing means) 29 Spring (Pressing means) 36 Suction tool P Electronic component with bump

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 Continuation of front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/60

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】テーブルに載せられた基板の電極にバンプ
付電子部品のバンプを着地させ、圧着ヘッドにより前記
バンプを前記電極に圧着するバンプ付電子部品の
着装置であって、前記圧着ヘッドが、その下面がY円弧
面である第1固定ブロックと、その上面がこのY円弧面
に当接し前記熱圧着によってこのY円弧面に沿って回動
する第1可動ブロックと、この第1可動ブロックの下方
に設けられてその下面がX円弧面である第2固定ブロッ
クと、その上面がこのX円弧面に当接し前記熱圧着によ
ってこのX円弧面に沿って回動する第2可動ブロック
備え、前記第2可動ブロックの下方に上から順に断熱部
と、ヒータを備えたヒートブロックと、バンプ付電子部
品を真空吸着する吸着ツールを装着したことを特徴とす
るバンプ付電子部品の圧着装置。
1. A by landing a bump of the electronic component with bumps on electrodes of the substrate placed on the table, a thermal pressure <br/> deposition apparatus for electronic components bumped thermocompression bonding the bump to the electrode by crimping head A first fixed block having a lower surface formed of a Y-arc surface and a first movable block having an upper surface contacting the Y-arc surface and rotating along the Y-arc surface by the thermocompression bonding; A second fixed block provided below the first movable block, the lower surface of which is an X-arc surface, and the upper surface of which is in contact with the X-arc surface, and is formed by the thermocompression bonding.
What the second movable block is rotated along the X arcuate surface
And a heat insulating part below the second movable block in order from the top.
, Heat block with heater, and electronic part with bump
A thermocompression bonding device for electronic components with bumps, which is equipped with a suction tool for vacuum-sucking components.
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