JP3627932B2 - Manufacturing method of substrate with through electrode - Google Patents

Manufacturing method of substrate with through electrode Download PDF

Info

Publication number
JP3627932B2
JP3627932B2 JP2003159002A JP2003159002A JP3627932B2 JP 3627932 B2 JP3627932 B2 JP 3627932B2 JP 2003159002 A JP2003159002 A JP 2003159002A JP 2003159002 A JP2003159002 A JP 2003159002A JP 3627932 B2 JP3627932 B2 JP 3627932B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
conductive paste
electrode
filler powder
electrodes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003159002A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2004363275A (en
Inventor
山口  聡
靖人 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Metals Ltd
Original Assignee
Hitachi Metals Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Metals Ltd filed Critical Hitachi Metals Ltd
Priority to JP2003159002A priority Critical patent/JP3627932B2/en
Priority to PCT/JP2004/007354 priority patent/WO2004110116A1/en
Publication of JP2004363275A publication Critical patent/JP2004363275A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3627932B2 publication Critical patent/JP3627932B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気的導通に優れた電極を安定的に得ることが可能な、貫通電極つき基板の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
ウエハープロセスを利用して作製されたセンサーチップから電極を取り出す場合には、メタルワイヤーの超音波ボンディングやパターン形成されたフレキシブルケーブルのはんだ接着などが一般的には利用されてきた。センサーチップを作製するにあたり、貫通電極つき基板の適用が可能であれば、センサーチップ裏面から電極を取ることができ、センサーチップ表面(回路面)側の電極パッドが不要となり、センサーチップサイズを小型化することが可能となる。また、センサーチップ表面側にワイヤーやフレキシブルケーブルの取りまわしが無くなり、センシングの対象に対してセンサーチップ表面を近接できるので、センサーの感度を向上することも可能である。さらには、センシングの対象がフラットな面であれば、センサーを摺動させることも可能である。ウエハープロセスを使用することで、フォトリソ技術によるセンサーパターンの微細化や小型化、センサーチップを一括作製することによるコストダウンも可能である。以上のメリットから、貫通電極つき基板は、センサーチップの製造に対して非常に有用な基板であると言える。
【0003】
貫通電極つき基板の作製方法は、基板を構成する電極と絶縁性基材に着目して、あらかじめ形成した電極に絶縁性基材を付与して基板を作製する方法、電極と絶縁性基材を同時に形成して基板を作製する方法、あらかじめ形成した絶縁性基材に電極を付与して基板を作製する方法の3通りが考えられる。
【0004】
あらかじめ形成した電極に絶縁性基材を付与して基板を作製する方法としては、細線状の電極をあらかじめ配置して、それを取り囲むように絶縁性基材材質を固化形成する方法が考えられる。電極である細線状の物質は金属などの導電性物質であれば良く、絶縁性基材はセラミックス、ガラス、樹脂などの絶縁性物質であれば良い。絶縁性基材の固化形成には、絶縁性基材材質の選択により、型への流し込み、射出成型、焼結などの方法が考えられる。しかしながら、ここに例として示した方法では細線状の電極を精度良く配置することは困難であるだけでなく、絶縁性基材形成時の熱や圧力で細線状の電極の位置精度を維持することが難しい。フォトリソ技術の利点を活かすには、高精度で微細な電極が配されている必要があるため、本方法は貫通電極つき基板の作製に向いているとは言い難い。
【0005】
電極と絶縁性基材を同時形成して基板を作製する方法としては、積層セラミックスの製造手法が考えられる。これは、導電性ペーストの貫通電極パターンを配置したセラミックスのシートを、何枚か重ね合わせて焼結する方法である。しかしこの方法では、基板を形成するにあたって薄いシートを何枚も重ね合わせる必要がある。基板焼結時の収縮も大きいので、電極を精度良く配置させることが困難である。従って、本方法も貫通電極つき基板の作製に向いているとは言い難い。
【0006】
絶縁性基材に電極を付与して基板を作製する方法としては、絶縁性基材に貫通孔を形成し、その貫通孔に導電性ペーストを充填し硬化して貫通電極つき基板を得る方法がある。絶縁性基材はセラミックス、ガラス、樹脂などの絶縁体であれば良く、導電性ペーストは絶縁性基材材質の耐熱温度内で硬化するものを選択すれば良い。導電性ペーストの充填にはスクリーン印刷技術を用いることができ、絶縁性基材に形成した貫通孔に一括してペーストを充填することが可能である。電極の配置精度は貫通孔形成の加工精度で決まるので、精度良く微細な貫通孔を形成する方法を選択すれば、微細な電極を高精度に配置した貫通電極つき基板を作製することが可能である。貫通孔に電極を形成する方法には、塑性変形しやすい金属を貫通孔に嵌め込む方法もあるが、金属を嵌め込む時の力で絶縁性基材が割れてしまう危険性があるので、望ましい方法とは言えない。また貫通孔をめっきにより金属で充填する方法もあるが、基材が絶縁体であるので何らかの方法によりめっきシード層を形成する必要があり、プロセスが煩雑になりやすいので望ましい方法とは言えない。貫通孔を形成した絶縁性基材に導電性ペーストを充填して電極を形成する方法は、容易に貫通電極つき基板を作製する方法として有効な方法であると言える。
【0007】
導電性ペーストは、フィラーと呼ばれる導電性の粉末粒子と、バインダーと呼ばれる液状の結合材から構成される。バインダーに適当な成分を選択することで導電性ペーストの硬化温度を必要な温度とすることが可能である。積層セラミックス部品の電極形成等で使用される導電性ペーストは、バインダーにガラス成分を使用するので硬化に900℃前後の焼成が必要となるが、エポキシ等の熱硬化型樹脂をバインダーとする樹脂硬化型の導電性ペーストでは、200℃前後の温度で硬化が可能である。樹脂硬化型の導電性ペーストを使用すればオーブンのような簡易装置でも導電性ペーストの硬化が可能であり、耐熱温度が低い材料でも絶縁性基材として使用することが可能になる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
発明者らは、貫通孔を形成した種々の板状基材(以降、基材を基板と称することもある)に樹脂硬化型の導電性ペースト(以下、単に導電性ペーストと言う)を充填、硬化して貫通電極つき基板の作製を試みた。導電性ペーストの充填にはスクリーン印刷法を使用し、貫通孔は過不足無く導電性ペーストで充填されるようにした。導電性ペーストの硬化には予め加熱しておいたバッチ式のオーブンを使用した。貫通電極つき基板が完成した後に電極両端での抵抗値を調べたところ、導通不良電極が多発していることが判った。導電性ペースト最表層のフィラー粉末粒子が酸化していることを考慮して、基板表面を軽く数μmラップ加工して再測定したが、導通不良電極の発生頻度に大きな変化は無かった。
【0009】
導通不良電極を詳細に観察したところ貫通電極断面のフィラー粉末濃度分布に特徴があることが判った。図2a)に導電性ペーストを充填、硬化した貫通電極部の断面を示す。導電性ペースト3の表面からある深さの部分に、表層31及び内部33と比較してフィラー粉末濃度が薄い領域32が絶縁性基材1の両面に形成されていることが判った。図2b)に示すように、表層31を軽くラップ加工で除去してもフィラー粉末濃度が薄い領域32は導電性ペースト3内に存在していたこのことから、導通不良電極の発生は、図2で説明されるフィラー粉末濃度が薄い領域32に起因していると推測される
【0010】
導電性ペーストのバインダー樹脂はフィラー粉末粒子と比較して熱膨張率が大きく流動性に富むので、熱硬化時に導電性ペースト内部から外部に染み出しやすいという性質がある。また、熱硬化時にフィラー粉末粒子は互いに凝集しやすく、バインダー樹脂の染み出しは助長されやすい。さらに、絶縁性基材1の板厚tが厚くなると熱伝導が不均一になりやすく、導電性ペースト3の表層31が先んじて硬化しやすい。など、以上のような点が、フィラー粉末濃度が薄い領域32を形成する要因となっていると推測される。
【0011】
図3を使ってフィラー粉末濃度が薄い領域32が形成される模様を説明する。図3a)に示される絶縁性基材1の貫通孔に充填した直後の硬化前の導電性ペースト30は、予めエポキシ系樹脂の硬化温度に加熱しておいたオーブンの熱に晒されることにより硬化が開始する。しかし導電性ペースト30内部まで直ぐには熱が伝わり難いため、オーブンからの直接的な放射熱(破線矢印)により、まず図3b)に示される表層(初期硬化層)31が急速に形成される。この表層31の形成時には熱膨張によるバインダー樹脂の染み出しが発生せず、ほぼ充填時のフィラー粉末とバインダー樹脂の比のままで硬化が完了すると推測される。絶縁性基材1の加熱が進行するに従い、貫通孔側壁を通して導電性ペースト30に熱(実線矢印)が加わり、ペースト内部でも硬化が開始する。しかし導電性ペースト30内部の硬化は、伝導熱による緩やかな硬化であるため、熱で膨張したバインダー樹脂が表層31との界面に染み出しつつ硬化が完了し、結果として図3c)に示されるようにフィラー粉末濃度が薄い領域32を形成すると推測される。フィラー粉末濃度が薄い領域32ではフィラー粉末粒子の接点が少ないので、電流パスが細くなり抵抗値が上昇する。フィラー粉末濃度が薄い領域32のフィラー粉末濃度次第では、硬化した導電性ペースト、すなわち貫通電極は導通不良電極になってしまうものと考えられる。
【0012】
フィラー粉末濃度の薄い領域を形成しないようにする方法としては、特許文献1に記載されている導電性ペーストを貫通孔に充填すると同時にロール等で加圧する方法などがある。導電性ペーストを充填した直後にロール加圧することで貫通孔内のフィラー粉末濃度は上昇するしかしこのような方法を採用するためには、公報に示されるような特別な装置が必要であり、容易に採用することは困難であると言える。
【0013】
【特許文献1】
特開平2001−160684号(図1,3から6)
【0014】
以上のような問題を鑑み、本発明ではフィラー粉末濃度を上げるための特別な装置を必要とせず、導通不良電極が発生しない貫通電極つき基板を製造する方法を提供しようとするものである。すなわち、絶縁性基材に形成した貫通孔に樹脂硬化型の導電性ペーストを充填し、導電性ペースト内のエポキシ系樹脂の硬化温度に予め加熱したオーブンに基板を入れて、基板の初期加熱時に基板表面と基板内部に温度差を生じさせてエポキシ系樹脂を硬化させる。基板の初期加熱時に温度差が生じた状態で硬化させることで、基板厚中央部にフィラー濃度の濃い領域を形成し、基板両表面端近傍にフィラー濃度の薄い領域を形成する。熱硬化後に導電性ペーストのフィラー濃度の薄い領域と絶縁性基材表面を同時に機械加工することによって、絶縁性基材面と導電性ペースト面が同一で、電気的導通に優れた電極を安定的に得ることが可能な、貫通電極つき基板を製造する方法の提供を目的としている。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明における貫通電極つき基板の製造方法では、セラミックス、ガラス、樹脂もしくはこれらの複合材からなる絶縁性基材に、レーザー、ショットブラスト、パンチ、ドリル、エッチング等で複数の貫通孔を形成し、貫通孔に180℃以上200℃以下の硬化温度であるエポキシ系樹脂に、平均粒径が1.0μm以上20μm以下の導電性の粉末粒子からなるフィラーを混練した導電性ペーストを貫通孔に充填し、導電性ペーストを基板両面より50μm以上200μm以下の高さで凸に形成したのち、予めエポキシ系樹脂の硬化温度に加熱したオーブンに室温の基板を入れ、基板の初期加熱時に基板表面と基板内部に温度差を生じさせてエポキシ系樹脂を硬化することで、導電性ペーストのフィラー粉末濃度の薄い高抵抗領域を基板表面近傍の両端部に、導電性ペーストのフィラー粉末濃度の濃い低抵抗領域を基板内部にと、硬化した導電性ペーストの抵抗値が異なる領域を形成し、基板端部の高抵抗領域を基板と同時に片側3μm以上50μm以下研削もしくは研磨加工除去し、基板と硬化した導電性ペーストの面が同一で、板厚300μm以上2mm以下とすることが望ましい。
【0016】
本発明は300μm以上2mm以下の板厚tの、貫通電極つき基板の製造方法を対象としている。板厚tが300μm未満の基板は、プロセス中のハンドリング時や加工後のチップ実装時で割れや欠けが発生しやすく、強度のある貫通電極つき基板を得ることが困難である。板厚tが2mm以上の貫通電極つき基板では貫通孔に導電性ペーストを均一に充填することが困難である。
【0017】
絶縁性基材に形成した貫通孔に導電性ペーストを充填する方法としては、孔毎に導電性ペーストを注入する方法や、絶縁性基材の全ての貫通孔から導電性ペーストを押出す方法や、スクリーン印刷法を使用することができる。スクリーン印刷法を使用すれば、絶縁性基材に精密なパターンで配置形成した全ての貫通孔に、一括して導電性ペーストを充填することが可能である。また絶縁性基材表面に不必要な導電性ペーストが付着することも防止でき、後工程で付着物を除去する工程が不要になるだけでなく導電性ペーストの節約にもなり経済的である。さらには、スクリーン印刷法を使用すれば、本発明で重要となる導電性ペーストのはみ出し高さをコントロールすることが容易となる。スクリーン印刷法では、導電性ペーストのはみ出し高さを導電性ペーストの充填量と絶縁性基材裏面にセットされるストッパーシートとのスペーシングにより、精密にコントロールすることができる。
【0018】
導電性ペーストを絶縁性基材に設けられた貫通孔に充填する際のはみ出し高さは、50μm以上200μ以下とすることが望ましい。導電性ペーストのはみ出し高さが50μm未満では、フィラー粉末濃度の薄い領域が加工により除去しきれず、貫通電極つき基板内に導通不良の電極が発生する可能性がある。また、導電性ペーストのはみ出し高さが200μm以上になると、加工により除去される導電性ペースト量が多くなるので経済的でなく、加工時間もかかってしまう。より確実にフィラー粉末濃度の薄い領域を除去し、より経済的に導電性ペーストを使用するためには、導電性ペーストのはみ出し高さを70μm以上100μm以下とすることがより望ましい。
【0019】
熱硬化した導電性ペーストを含む絶縁性基材の加工では、研削もしくはラップにより平滑な面に加工することが望ましい。貫通電極つき基板の表面を平滑にすることで、フォトリソによる精度の良い微細配線パターン形成が可能となる。絶縁性基材の片面加工量は、3μm以上50μm以下とすることが望ましい。加工量が3μm未満では絶縁性基材の面全体を平均的に加工することが難しく、フィラー粉末濃度の薄い領域が加工により除去しきれない部分が発生し、貫通電極つき基板内に導通不良の電極が発生する可能性がある。加工量を50μm以上とすると、加工時間が長くなるだけでなく、厚い絶縁性基材を使用せざるを得ないため、製造コストの上昇となり好ましいものではない。
【0021】
絶縁性基材としては、電子部品用途として実績があり、成型が容易でかつ必要な強度が得られるセラミックス、ガラス、樹脂もしくはこれらの複合材であることが望ましい。絶縁性基材の絶縁性を示す体積抵抗率は、電極間の電気的絶縁性を保ち、且つエレクトロマイグレーションによる電極間短絡の発生予防の観点から、1010Ωcm以上であることが望ましい。絶縁性基材の耐熱温度は、導電性ペーストの硬化温度が200℃前後であることから、軟化温度が250℃以上の材質が望ましく、300℃以上であることが更に望ましい。材質の具体例としては、セラミックスでは、アルミナ、ジルコニア、シリカ、BaTiO、CaTiO、NiZnフェライトなどが使用できる。ガラスでは、ソーダガラス、ホウケイ酸ガラス、鉛ガラス、石英ガラス、結晶化ガラスなどが使用できる。樹脂では、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリスルホンなどが使用でき、複合材としては、セラミックス−ガラス複合材、ガラス−エポキシなどが使用できる。
【0023】
絶縁性基材の貫通孔は、工業的に容易にかつ精度良く形成されることが望ましく、レーザーやショットブラスト、パンチ、ドリル、エッチング、鋳込みなどの方法を取ることができる。特にショットブラストとエッチングは、絶縁性基材に多数の貫通孔を一括して形成できるので、望ましい方法である。貫通孔の径は30μm以上800μm以下であることが望ましい。径が30μm未満の貫通孔は容易に且つ安定的に形成することが難しく、導電性ペーストを均一に充填することも困難である。径が800μm以上の貫通孔は、充填して硬化するまでの間に導電性ペーストが漏れ出てきやすい等の問題があり望ましくない。貫通孔は円形に限らず、方形、楕円、不定の形状でも構わないものである。これらの径は、方形では対角線、楕円では長径、不定の形状では最短の対角線と最長の対角線の平均長さで規定されるものである。
【0025】
バインダー樹脂は、エポキシ基を2個以上有する液状エポキシ樹脂を主成分とすることが望ましい。液状エポキシ樹脂を使用すれば、適当な硬化剤を選択することで200℃前後の低温でも導電性ペーストを硬化することが可能となる。硬化温度が低温であれば、オーブンのような簡易的な装置を使用することも可能である。さらには耐熱温度が低い材料でも絶縁性基材として使用することも可能である。エポキシ基を2個以上有する液状エポキシ樹脂には、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、アミン型エポキシ樹脂、ナフタレン骨格のエポキシ樹脂、ダイマー酸をグリシジルエステル化したエポキシ樹脂などを、単独もしくは混合して使用することが可能である。特にグリシジルエステル系のエポキシ樹脂は粘度が低く硬化後に可撓性を有している。これらの樹脂を混合使用することにより導電性ペーストの熱サイクルに対する信頼性を高くすることが可能である。熱サイクルに対して信頼性が低い導電性ペーストでは、熱による膨張、収縮によって、フィラー粉末粒子どうしの接触状態が変わり電気抵抗が変化してしまう。
【0026】
バインダー樹脂に添加する硬化剤は、エポキシ樹脂との混合状態において、室温では長時間特性が変わることなく保存可能で、所定の温度以上に加熱したときに速やかに硬化する特性を有することが望ましい。硬化剤としては、ジシアンジアミドやカルボン酸ヒドラジドなどのアミン系硬化剤、2−エチル−4−メチルイミダゾールなどのイミダゾール系硬化剤、無水フタル酸、無水ピロメリット酸、無水ヘキサヒドロフタル酸、無水メチルナジック酸などの酸無水物系硬化剤、ジアミノジフェニルメタン、ジアミノジフェニルスルフォン酸などの芳香族アミン系(アミンアダクト)硬化剤、3−(3,4−ジクロロフェニル)−1、1−ジメチル尿素などの尿素系硬化剤、カチオン触媒系硬化剤、フェノール系硬化剤などが使用することが可能である。硬化剤の添加量は0.2〜3.0wt%が望ましい。添加量が3.0wt%以上であると導電性ペーストの粘度が高くなり、貫通孔への充填が困難になる。添加量が0.2wt%以下では樹脂が硬化しないことがある。
【0027】
分散剤は導電性ペーストの粘度を下げ、貫通孔への充填を助ける効果があるので添加することもできる。分散剤としては、高級脂肪酸のエチレンオキシド、プロピレンオキシド付加エステル化物、ゾルビタンと脂肪酸のエステル化合物、ゾルビタン等の多価アルコールのエチレンオキシド、プロピレンオキシド付加エーテル化合物、アルキルベンゼンのエチレンオキシド、プロピレンオキシド付加物等の非イオン性分散剤、アルキルベンゼンスルフォン酸アルカリ塩、高級アルコール硫酸エステルアルカリ塩、リン酸エステル化合物、高級脂肪酸、高級脂肪酸のエチレンオキシド、プロピレンオキシド付加物のサルファートアルカリ塩等のアニオン系分散剤、アンモニウム塩タイプのカチオン系分散剤、などを使用することができる。分散剤の添加量は1.0wt%以下が望ましい。1.0wt%以上の分散材の添加は、導電性ペーストの粘度が下がり過ぎてしまうので望ましくない。
【0028】
フィラー粉末は、貴金属、卑金属、カーボンなどの導電性粉末粒子を使用することができる。電気抵抗が小さく電気的導通が良好な貫通電極を得るためには、電気抵抗の小さいフィラー粉末材質であることが望ましい。電気抵抗の小さいフィラー粉末材質としては、体積抵抗率が20×10−6Ωcm以下であるPd、Pt、W、Ni、Sn、Zn、Feなどの金属を主たる成分とする材質を使用することができる。より電気抵抗が小さく電気的導通が良好な貫通電極を得るためには、体積抵抗率が5.0×10−6Ωcm以下であるAu、Ag、Cu、Alなどの金属を主たる成分とする材質を使用することがより望ましい。フィラー粉末粒子の表面酸化を防ぐため、卑金属の粉末粒子表面に貴金属をコーティングしたものを用いることもできる。例えば、酸化し易いCu粉末粒子の表面にAgをコーティングしたフィラー粉末粒子は、Ag粉末粒子と同等の電気抵抗を示し且つ経済的であることから望ましいものである。
【0029】
フィラー粉末粒子の形状は、球状、楕円状、6面体や8面体もしくはこれ以上の多面体状、板状、フレーク状、針状、個々の形状に規則性が見いだし難い不定形、またはこれらの組合せた形状を使用することが可能である。粒子は単体ではなく複数の粒子を結合させた粒子を使用することも可能である。球状やフレーク状の粒子は、アトマイズ法や還元法など工業的に容易な方法で作製可能であるため、フィラー粉末粒子としてより望ましい形状である。
【0030】
フィラー粉末粒子の平均粒径は、球状の場合は1.0μm以上8.0μm以下、フレーク状の場合は3μm以上20μm以下であることが望ましい。ここでいうフィラー粉末粒子の粒径は、導電性粘着テープに付着させた少量のフィラー粉末粒子を、走査電子顕微鏡で観察することにより得られたものである。観察像から測長される粒子個々の最長径を粒径とし、任意の観察視野に含まれる粒子全ての粒径の平均値を平均粒径としている。上記範囲より小さい平均粒径のフィラー粉末は、体積に対する比表面積が大きいので粒子が酸化されやすく望ましくない。また、粒子どうしの接点が増えるので接触抵抗も増加しやすい。一方、上記範囲より大きい平均粒径のフィラー粉末は、逆に粒子どうしの接点が少なくなり電気抵抗が上がることと、導電性ペースト硬化後の熱サイクルに対する信頼性が低くなるので望ましくない。フレーク状のフィラー粉末は、球状フィラー粉末に比べ同一混合重量としたとき粘度が高くなる傾向があるため、スクリーン印刷がし難くなるので、スクリーン印刷の条件を変える必要がある。球状フィラー粉末粒子とフレーク状フィラー粉末粒子およびその他の形状のフィラー粉末粒子を混合して使用することもできる。混合することにより、接触抵抗が小さいフレーク状フィラー粉末粒子と、絶縁性基材との密着性に優れた球状フィラー粉末粒子の長所を共に生かすことが可能である。
【0031】
導電性ペーストに対するフィラー粉末の混合量は85wt%以上93%wt以下であることが望ましい。フィラー粉末の混合量が85wt%より少ないと、導電性ペースト硬化後のフィラー粉末粒子どうしの接点が少なくなり電気抵抗が上がることと、導電性ペースト硬化後の熱サイクルに対する信頼性が低くなるので望ましくない。またフィラー粉末の混合量が93wt%より多くなると、導電性ペーストの粘度が高くなり、貫通孔へ充填しにくくなるので望ましくない。より貫通孔へ充填しやすく、熱サイクルに対する信頼性が高い電極を得るためには、導電性ペーストに対するフィラー粉末の混合量を90〜92wt%とすることがより望ましい。
【0032】
【発明の実施の形態】
本発明の実施例について図を用いて詳細に説明する。説明を判り易くするため同一の部位、部品には同一の符号を用いている。図1を使用して本発明の貫通電極つき基板の製造工程を説明する。図1a)に示される絶縁性基材1には、図1b)に示すように貫通孔2が形成される。図1b)のX−X’断面を示したものが図1c)である。貫通孔2には図1d)に示すように、はみ出し量(h、h’)が生じるように導電性ペーストを充填し硬化する。次に、図1e)に示すように、絶縁性基材1の表面は、加工量(w、w’)をもって両面加工され、貫通電極つき基板4を得た。
【0033】
絶縁性基材の板厚t、貫通孔の大きさ、導電性ペーストのはみ出し量、絶縁性基材の加工量等を種々検討した結果を、表1から表4を用いて導電性ペーストのはみ出し量、絶縁性基板の加工量等の適正範囲について詳細に説明する。表1に絶縁性基材の板厚tと材質、貫通孔の大きさを変えた貫通電極の電気抵抗値の評価結果を示す。
【0034】
表1

Figure 0003627932
【0035】
表1の試料は、絶縁性基材にポリイミドとガラス−エポキシ基材を使用した。ポリイミド基材の形状は100mm角の正方形で、厚さは1.5mmと3.0mmの2種類とした。ガラス−エポキシ基材の形状は120mm角の正方形で、厚さは1.8mmと2.4mmの2種類とした。貫通孔の形成にはNCドリルによるマイクロ孔あけ加工機を使用し、径が200μmφと400μmφの2種類の貫通孔を形成した。貫通孔は2mmピッチの等間隔で形成し、各条件1000個の貫通孔に電極が形成されるよう基材枚数を用意し、貫通電極つき基板を作製した。導電性ペーストは、バインダー樹脂として、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エピコート828 油化シェルエポキシ製)と脂環式エポキシ樹脂(ST−1000 東都化成製)を1:1で混合したものを使用し、硬化剤としてアミンアダクト系硬化剤(MY−24 味の素製)、分散剤としてリン酸エステル(陰イオン界面活性剤“ブライサーフ” 第一工業製薬製)を使用した。硬化剤と分散剤は、導電性ペースト比でそれぞれ0.2wt%、0.2wt%添加した。フィラー粉末には平均粒径2.1μmの球状Ag粒子の粉末を使用し、導電性ペースト比で90.5wt%添加した。これらバインダー樹脂とフィラー粉末は三本ロールで脱泡しながら攪拌、混練した。混練された導電性ペーストの粘度は、室温におけるE型粘度計による測定で、1300〜1400Pa・s(回転数は0.5RPS)であった。貫通孔への導電性ペーストの充填はスクリーン印刷機を使用し、図1d)に示すh、h’が共に100μmとなる条件で充填した。導電性ペーストはオーブンを使用して200℃×60minの条件で硬化した後、図1e)に示すw、w’が共に20μmとなる条件で絶縁性基材の両面をラップ加工して貫通電極つき基板を得た。
【0036】
各条件の貫通電極1000個について両端の抵抗値を測定した。3.0mm厚のポリイミド基材と2.4mmのガラス−エポキシ基材を使用した貫通電極つき基板の電極では、体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以上の大きい抵抗値を示す電極が全体の70%以上含まれていた。また、その大半は電気的導通が全く無い電極であり、貫通電極として使用できないために×の評価結果となった。これは絶縁性基材が厚く貫通孔に導電性ペーストが均一充填出来なかったためと考えられる。本発明の実施例である厚さ2mm以下の貫通電極つき基板では、全ての電極が体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以下の抵抗値を示し、電気的導通が良好な貫通電極が形成されていることが確認されたので○の評価結果となった。
【0037】
表2に絶縁性基材の板厚tと材質、貫通孔の大きさ、貫通孔の形成方法、導電性ペーストのはみ出し高さh、絶縁性基材の加工量を変えた時の、貫通電極の電気抵抗値の評価結果を示す。
【0038】
表2
Figure 0003627932
【0039】
表2の試料は、絶縁性基材に純度96%の焼結アルミナと無アルカリガラス(#1737 コーニング社製)を使用した。アルミナ基材の形状は75mmφの円盤状で厚さは1.0mmとし、無アルカリガラス基材の形状は150mmφの円盤状で厚さは0.7mmとした。アルミナ基材には炭酸ガスレーザーによるレーザー加工機で150μmφの円形の貫通孔を形成し、無アルカリガラス基材にはレジストマスクとショットブラストで200μmφの円形の貫通孔を形成した。貫通孔は2mmピッチの等間隔で形成し、各条件1000個の貫通孔に電極が形成されるよう基材枚数を用意し、貫通電極つき基板を作製した。使用した導電性ペーストは、バインダー樹脂として、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エピコート828 油化シェルエポキシ製)と脂環式エポキシ樹脂(ST−1000東都化成製)を1:1で混合したものを使用し、硬化剤としてアミンアダクト系硬化剤(MY−24 味の素製)、分散剤としてリン酸エステル(陰イオン界面活性剤“ブライサーフ” 第一工業製薬製)を使用した。硬化剤と分散剤は、導電性ペースト比でそれぞれ0.2wt%、0.2wt%添加した。フィラー粉末には平均粒径2.1μmの球状Ag粒子の粉末を使用し、導電性ペースト比で90.5wt%添加した。これらバインダー樹脂とフィラー粉末は三本ロールで脱泡しながら攪拌、混練した。混練された導電性ペーストの粘度は、室温におけるE型粘度計による測定で、1300〜1400Pa・s(回転数は0.5RPS)であった。貫通孔への導電性ペーストの充填はスクリーン印刷機を使用し、図1d)に示すはみ出し高さhを変えて充填した。絶縁性基材の裏面側導電性ペーストはみ出し高さh’は、スクリーン印刷機のスペーサーを調整することで100μmとした。導電性ペーストはオーブンを使用して200℃×60minの条件で熱硬化した後、図1e)に示す絶縁性基材の表面加工量wを変えてラップ加工して貫通電極つき基板を得た。このとき絶縁性基材の裏面側の加工量w’は、20μmとした。
【0040】
各条件の貫通電極1000個について両端の抵抗値を測定した。導電性ペーストのはみ出し高さhが50μm以下の条件と、基材加工量wが3μm未満の条件では、体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以上の大きい抵抗値を示す電極が全体の50%以上含まれてので×の評価結果となった。これは、導電性ペーストのはみ出し高さhもしくは基材加工量wが小さいために、図2a)に示すフィラー粉末濃度が薄い領域32が電極内部に残り、電極の抵抗値が大きくなったともの考えられる。50μm以上のはみ出し高さhと、3μm以上の基材加工量の両方を兼ね備えた実施例の貫通電極つき基板では、全ての電極が体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以下の抵抗値を示し、電気的導通が良好な貫通電極が形成されていることが確認されたので○の評価結果となった。
【0041】
表3に絶縁性基材の板厚tと材質、貫通孔の大きさ、貫通孔の形成方法を変えた時の、貫通電極の電気抵抗値の評価結果を示す。
【0042】
表3
Figure 0003627932
【0043】
表3の試料は、絶縁性基材に純度96%の焼結アルミナとポリイミド基材を使用した。アルミナ基材の形状は75mmφの円盤状で厚さは0.6mmとし、ポリイミド基材の形状は100mm角の正方形で厚さは1.5mmとした。絶縁性基材への貫通孔の形成には、アルミナ基材の場合は炭酸ガスレーザーによるレーザー加工機を使用し、ポリイミド基材の場合はパンチによる孔あけ加工機を使用し、円形の貫通孔を形成した。貫通孔は2mmピッチの等間隔で形成し、各条件1000個の貫通孔に電極が形成されるよう基材枚数を用意し、貫通電極つき基板を作製した。導電性ペーストは、バインダー樹脂として、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エピコート828 油化シェルエポキシ製)と脂環式エポキシ樹脂(ST−1000 東都化成製)を1:1で混合したものを使用し、硬化剤としてアミンアダクト系硬化剤(MY−24 味の素製)、分散剤としてリン酸エステル(陰イオン界面活性剤“ブライサーフ” 第一工業製薬製)を使用した。硬化剤と分散剤は、導電性ペースト比でそれぞれ0.2wt%、0.2wt%添加した。フィラー粉末には平均粒径2.1μmの球状Ag粒子の粉末を使用し、導電性ペースト比で90.5wt%添加した。これらバインダー樹脂とフィラー粉末は三本ロールで脱泡しながら攪拌、混練した。混練された導電性ペーストの粘度は、室温におけるE型粘度計による測定で、1300〜1400Pa・s(回転数0.5RPS)であった。貫通孔への導電性ペーストの充填はスクリーン印刷機を使用し、図1d)に示すh、h’が共に100μmとなる条件で充填した。導電性ペーストはオーブンを使用して200℃×60minの条件で硬化した後、図1e)に示すw、w’が共に20μmとなる条件で絶縁性基材の表面をラップ加工して貫通電極つき基板を得た。
【0044】
各条件の貫通電極1000個について両端の抵抗値を測定した。貫通孔の径が18μmであるアルミナ基材を使用した基板では、体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以上の大きい抵抗値を示す電極が全体の70%以上含まれていた。また、その大半は電気的導通が全く無い電極であり、貫通電極として使用できないために×の評価結果となった。これは貫通孔の径が小さく導電性ペーストが均一充填出来なかったためと考えられる。また、貫通孔の径が900μmのポリイミド基材を使用した基板では、充填直後にペーストが垂れ出してしまった貫通孔があり、安定して導電性ペーストを充填出来なかった。本発明の実施例である貫通孔の径が30μm以上800μm以下の貫通電極つき基板では、全ての電極が体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以下の抵抗値を示し、電気的導通が良好な貫通電極が形成されていることが確認されたので○の評価結果となった。
【0045】
表4に導電性ペーストにおけるフィラー粉末の平均粒径、フィラー粉末粒子の形状を変えた時の、貫通電極の電気抵抗値の評価結果と熱サイクル試験結果を示す。
【0046】
表4
Figure 0003627932
【0047】
表4の試料は、絶縁性基材に無アルカリガラス(#1737 コーニング社製)を使用した。絶縁性基材の形状は150mmφの円盤状で厚さは0.7mmとした。貫通孔の径は200μmとし、ガラス基板上にレジストマスクを形成した後、ショットブラストをあてることで円形の貫通孔を形成した。貫通孔は2mmピッチの等間隔で形成し、各条件1000個の貫通孔に電極が形成されるよう基材枚数を用意し、貫通電極つき基板を作製した。導電性ペーストは、バインダー樹脂として、ビスフェノールF型エポキシ樹脂(エピコート807 油化シェルエポキシ製)とダイマー酸をグルシジルエステル化したエポキシ樹脂(エポキシ当量400〜500g/eq)を混合したものを使用し、最終的な導電性ペーストの粘度が室温におけるE型粘度計による評価で、1200〜1300Pa・s(回転数0.5RPS)となるように混合比を調整した。硬化剤にはジシアンジアミド(DICY7 油化シェルエポキシ製)、分散剤には陰イオン界面活性剤(カチオーゲン 第一工業製薬製)を使用した。硬化剤と分散剤は、導電性ペースト比でそれぞれ1.0wt%、0.3wt%添加した。フィラー粉末には表4に示す平均粒径の異なる粉末を使用し、導電性ペースト比で90.5wt%添加した。これらバインダー樹脂とフィラー粉末は三本ロールで脱泡しながら攪拌、混練した。貫通孔への導電性ペーストの充填はスクリーン印刷機を使用し、図1d)に示すh、h’が共に100μmとなる条件で充填した。導電性ペーストはオーブンを使用して200℃×60minの条件で硬化した後、図1e)に示すw、w’が共に20μmとなる条件で絶縁性基材の両表面をラップ加工して貫通電極つき基板を得た。
【0048】
各条件の貫通電極1000個について両端の抵抗値を測定した。球状フィラー粉末の平均粒径が1.0μm以下およびフレーク状フィラー粉末の平均粒径が3.0μm以下の条件では、体積抵抗率換算で20×10−4Ωcm以上の大きい抵抗値を示す電極が全体の70%以上含まれていた。これは、フィラー粉末粒子が小さいために粒子どうしの接点が増えることによる接触抵抗が増えたためと考えられる。その他の試料では、全ての電極が体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以下の抵抗値を示し、電気的導通が良好な貫通電極が形成されていることが確認された。
【0049】
全ての電極で、体積抵抗率換算2×10−4Ωcm以下の電気的な導通が良好な抵抗値を示した条件の基板を、−55℃〜125℃各30分、1000サイクルの熱サイクル試験に投入したところ、球状フィラー粉末の平均粒径が8.0μm以上およびフレーク状フィラー粉末の平均粒径が20μm以下の条件では、熱サイクル試験後の抵抗値上昇が3%と大きくなることが分かった。フィラー粉末粒子が大きいために粒子どうしの接点が少なくなるため、電極の熱サイクルに対する信頼性が低くなっているものと考えられる。本発明の実施例である、球状フィラー粉末の平均粒径が1.0μm以上8.0μm以下、およびフレーク状フィラー粉末の平均粒径が3.0μm以上20μm以下の条件では、全ての電極で電気的な導通が良好な抵抗値を示し、熱サイクル試験後の抵抗値変化も1%以下と良好な値を示したので○の評価結果となった。
【0050】
表1から表4を用いて説明した様に、導電性ペーストを貫通孔に絶縁性基材の面から高さ50μm以上200μm以下のはみ出し量が発生するように充填し、熱硬化した後導電性ペーストを含む絶縁性基材を、研削もしくはラップで片側5μm以上50μm以下加工して、300μm以上2mm以下の貫通電極つき基板を得ることで、全ての電極で電気的な導通が良好な抵抗値を示し、熱サイクル試験後の抵抗値変化も小さいものが得られるものである。これら本発明の製造条件範囲内で、製作した貫通電極つき基板の実施例を以下に述べる。
【0051】
本発明の実施例として、セラミックス基材を使用した例を以下に示す。絶縁性基材に純度96%の焼結アルミナを使用した。絶縁性基材の体積抵抗率は1×1014Ωcmである。絶縁性基材は75mmφの円盤状で厚さは1.0mmとした。貫通孔は炭酸ガスレーザーによるレーザー加工機で形成し、径が150μmφの円形とした。貫通孔は2mmピッチの等間隔で形成し、3000個の貫通孔に電極が形成されるよう基材枚数を用意し、貫通電極つき基板を作製した。導電性ペーストは、バインダー樹脂として、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エピコート828 油化シェルエポキシ製)と脂環式エポキシ樹脂(ST−1000東都化成製)を1:1で混合したものを使用し、硬化剤としてアミンアダクト系硬化剤(MY−24 味の素製)、分散剤としてリン酸エステル(陰イオン界面活性剤“ブライサーフ” 第一工業製薬製)を使用した。硬化剤と分散剤は、導電性ペースト比でそれぞれ0.2wt%、0.2wt%添加した。フィラー粉末には平均粒径2.1μmの球状Ag粒子の粉末を使用し、導電性ペースト比で90.5wt%添加した。これらバインダー樹脂とフィラー粉末は三本ロールで脱泡しながら攪拌、混練した。混練された導電性ペーストの粘度は、室温におけるE型粘度計による測定で、1300〜1400Pa・s(回転数は0.5RPS)であった。貫通孔への導電性ペーストの充填はスクリーン印刷機を使用し、図1d)に示すh、h’が共に100μmとなる条件で充填した。導電性ペーストはオーブンを使用して200℃×60minの条件で硬化した後、図1e)に示すw、w’が共に20μmとなる条件で絶縁性基材表面をラップ加工して、75mmφ、0.96mm厚の貫通電極つき基板を得た。
【0052】
貫通電極3000個について両端の抵抗値を測定したところ、全ての電極が体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以下の抵抗値を示し、電気的導通が良好な貫通電極が形成されていることが確認された。
【0053】
本発明の他の実施例として、ガラス基材を使用した例を以下に示す。絶縁性基材に無アルカリガラス(#1737 コーニング社製)を使用した。絶縁性基材の体積抵抗率は3×1013Ωcmである。絶縁性基材は150mmφの円盤状で厚さは0.7mmとした。貫通孔の径は200μmとし、ガラス基板上にフォトレジストマスクを形成した後、ショットブラストをあてることで形成した。貫通孔は2mmピッチの等間隔で形成し、3000個の貫通孔に電極が形成されるよう基材枚数を用意し、貫通電極つき基板を作製した。導電性ペーストは、バインダー樹脂として、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エピコート828 油化シェルエポキシ製)とアミン型エポキシ樹脂(ELN−125 住友化学工業製)を1:1で混合したものを使用し、硬化剤としてアミンアダクト系硬化剤(PN−23 味の素製)、分散剤としてポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル(非イオン界面活性剤“ソルゲン”TW 第一工業製薬製)を使用した。硬化剤と分散剤は、導電性ペースト比でそれぞれ0.3wt%、0.2wt%添加した。フィラー粉末には還元法で作製した平均粒径4.9μmの球状Cu粒子にAgをコーティングした粉末を使用し、導電性ペースト比で91.0wt%添加した。これらバインダー樹脂とフィラー粉末は三本ロールで脱泡しながら攪拌、混練した。混錬された導電性ペーストの粘度は、室温におけるE型粘度計による測定で、1200〜1300Pa・s(回転数は0.5RPS)であった。貫通孔への導電性ペーストの充填はスクリーン印刷機を使用し、図1d)に示すh、h’が共に100μmとなる条件で充填した。導電性ペーストはオーブンを使用して180℃×60minの条件で硬化した後、図1e)に示すw、w’が共に20μmとなる条件で絶縁性基材表面をラップ加工して、150mmφ、0.66mm厚の貫通電極つき基板を得た。
【0054】
貫通電極3000個について両端の抵抗値を測定したところ、全ての電極が体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以下の抵抗値を示し、電気的導通が良好な貫通電極が形成されていることが確認された。
【0055】
本発明の他の実施例として、絶縁性基材にポリイミドを使用した例を以下に示す。絶縁性基材の体積抵抗率は1×1016Ωcmである。絶縁性基材は100mm角の正方形で厚さは0.5mmとした。貫通孔はパンチによる孔あけ加工機で形成し、短径130μm、長径180μmの楕円形とした。貫通孔は2mmピッチの等間隔で形成し、3000個の貫通孔に電極が形成されるよう基材枚数を用意し、貫通電極つき基板を作製した。導電性ペーストは、バインダー樹脂として、ビスフェノールF型エポキシ樹脂(エピコート807 油化シェルエポキシ製)とダイマー酸をグルシジルエステル化したエポキシ樹脂(エポキシ当量400〜500g/eq)を1:3で混合したものを使用し、硬化剤としてジシアンジアミド(DICY7 油化シェルエポキシ製)、分散剤として陰イオン界面活性剤(カチオーゲン 第一工業製薬製)を使用した。硬化剤と分散剤は、導電性ペースト比でそれぞれ1.0wt%、0.3wt%添加した。フィラー粉末には平均粒径10.5μmのフレーク状Ag粒子の粉末を使用し、導電性ペースト比で90.3wt%添加した。これらバインダー樹脂とフィラー粉末は三本ロールで脱泡しながら攪拌、混練した。混練された導電性ペーストの粘度は、室温におけるE型粘度計による測定で、1300〜1400Pa・s(回転数0.5RPS)であった。貫通孔への導電性ペーストの充填はスクリーン印刷機を使用し、図1d)に示すh、h’が共に100μmとなる条件で充填した。導電性ペーストはオーブンを使用して200℃×60minの条件で硬化した後、図1e)に示すw、w’が共に20μmとなる条件で絶縁性基材表面をラップ加工して、100mm角、0.46mm厚の貫通電極つき基板を得た。
【0056】
貫通電極3000個について両端の抵抗値を測定したところ、全ての電極が体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以下の抵抗値を示し、電気的導通が良好な貫通電極が形成されていることが確認された。
【0057】
本発明の他の実施例として、絶縁性基材にガラス−エポキシ基材を使用した例を以下に示す。絶縁性基材は200μm厚のアラミド不織布エポキシシートを6枚重ねたものであり、絶縁性基材の体積抵抗率は2×1010Ωcmである。絶縁性基材は120mm角の正方形で、厚さは1.2mmとした。貫通孔はNCドリルによるマイクロ孔あけ加工機で形成し、径は250μmφの円形とした。貫通孔は2mmピッチの等間隔で形成し、3000個の貫通孔に電極が形成されるよう基材枚数を用意し、貫通電極つき基板を作製した。導電性ペーストは、バインダー樹脂として、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エピコート828 油化シェルエポキシ製)とダイマー酸をグルシジルエステル化したエポキシ樹脂(エポキシ当量400〜500g/eq)を1:1で混合したものを使用し、硬化剤として無水フタル酸、分散剤としてリン酸エステル(陰イオン界面活性剤“ブライサーフ” 第一工業製薬製)を使用した。硬化剤と分散剤は、導電性ペースト比でそれぞれ2.8wt%、0.2wt%添加した。フィラー粉末には平均粒径1.5μmの球状Ag粒子と平均粒径11.2μmのフレーク状Ag粒子を4:6で混合した粉末を使用し、導電性ペースト比で89.7wt%添加した。これらバインダー樹脂とフィラー粉末は三本ロールで脱泡しながら攪拌、混練した。混練された導電性ペーストの粘度は、室温におけるE型粘度計による測定で、1200〜1300Pa・s(回転数は0.5RPS)であった。貫通孔への導電性ペーストの充填はスクリーン印刷機を使用し、図1d)に示すh、h’が共に100μmとなる条件で充填した。導電性ペーストはオーブンを使用して200℃×60minの条件で硬化した後、図1e)に示すw、w’が共に30μmとなる条件で絶縁性基材表面をラップ加工して、120mm角、1.14mm厚の貫通電極つき基板を得た。
【0058】
貫通電極3000個について両端の抵抗値を測定したところ、全ての電極が体積抵抗率換算で2×10−4Ωcm以下の抵抗値を示し、電気的導通が良好な貫通電極が形成されていることが確認された。
【0059】
【発明の効果】
絶縁性基材に形成した貫通孔に樹脂硬化型の導電性ペーストを充填し、エポキシ系樹脂の硬化温度に予め加熱したオーブンに基板を入れて、基板の初期加熱時に基板表面と基板内部に温度差を生じさせてエポキシ系樹脂を硬化させ、基板厚中央部にフィラー濃度の濃い領域を形成し、基板両表面端近傍にフィラー濃度の薄い領域を形成する。熱硬化後に導電性ペーストのフィラー濃度の薄い領域と絶縁性基板表面を同時に機械加工する。フィラー粉末濃度を上げるための特別な装置を必要としない容易な方法で、電気的導通に優れた電極を安定的に得ることが可能な、絶縁性基材面と導電性ペースト面が同一な貫通電極つき基板を製造する方法を提供できた。
以 上
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の工程フローを示す基板断面図である。
【図2】従来の貫通電極のフィラー粉末濃度分布を示す断面図である。
【図3】フィラー粉末濃度が薄い領域の形成を説明する図である。
【符号の説明】
1 絶縁性基材、2 貫通孔、3 導電性ペースト、4 貫通電極つき基板、30 硬化前の導電性ペースト、31 表層、
32 硬化後フィラー粉末濃度が薄い領域、33 内部。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for manufacturing a substrate with a through electrode, which can stably obtain an electrode excellent in electrical conduction.
[0002]
[Prior art]
When taking out an electrode from a sensor chip manufactured by using a wafer process, ultrasonic bonding of metal wires, solder bonding of a patterned flexible cable, and the like have been generally used. When manufacturing a sensor chip, if a substrate with a through electrode can be applied, the electrode can be taken from the back of the sensor chip, eliminating the need for an electrode pad on the sensor chip surface (circuit surface) side, and reducing the sensor chip size. Can be realized. In addition, since no wires or flexible cables are arranged on the surface side of the sensor chip and the surface of the sensor chip can be brought close to the sensing target, it is possible to improve the sensitivity of the sensor. Furthermore, if the sensing target is a flat surface, the sensor can be slid. By using the wafer process, the sensor pattern can be miniaturized and miniaturized by photolithography, and the cost can be reduced by batch production of sensor chips. From the above merits, it can be said that the substrate with the through electrode is a very useful substrate for the production of the sensor chip.
[0003]
The method of manufacturing a substrate with a through electrode is a method of manufacturing a substrate by applying an insulating base material to a previously formed electrode, focusing on the electrodes and the insulating base material constituting the substrate, and the electrode and the insulating base material. Three methods are conceivable: a method of forming a substrate by forming simultaneously, and a method of manufacturing a substrate by applying an electrode to an insulating base formed in advance.
[0004]
As a method of manufacturing a substrate by applying an insulating base material to a previously formed electrode, a method in which a thin wire electrode is arranged in advance and an insulating base material is solidified so as to surround it can be considered. The thin wire-like substance serving as the electrode may be a conductive substance such as metal, and the insulating substrate may be an insulating substance such as ceramics, glass, or resin. For the solidified formation of the insulating base material, methods such as pouring into a mold, injection molding, and sintering can be considered depending on the selection of the insulating base material. However, with the method shown here as an example, it is difficult not only to arrange the fine wire electrodes with high precision, but also to maintain the position accuracy of the thin wire electrodes with heat and pressure during the formation of the insulating substrate. Is difficult. In order to make use of the advantages of the photolithography technology, it is necessary to dispose high-precision and fine electrodes. Therefore, it is difficult to say that this method is suitable for manufacturing a substrate with a through electrode.
[0005]
As a method for forming a substrate by simultaneously forming an electrode and an insulating base material, a method for producing a laminated ceramic can be considered. This is a method in which several ceramic sheets on which through electrode patterns of conductive paste are arranged are stacked and sintered. However, in this method, it is necessary to superimpose many thin sheets when forming the substrate. Since the shrinkage at the time of sintering the substrate is large, it is difficult to arrange the electrodes with high accuracy. Therefore, it cannot be said that this method is also suitable for producing a substrate with a through electrode.
[0006]
As a method for producing a substrate by applying an electrode to an insulating base material, there is a method of forming a through hole in the insulating base material, filling the through hole with a conductive paste, and curing to obtain a substrate with a through electrode. is there. The insulating substrate may be an insulator such as ceramics, glass, or resin, and the conductive paste may be selected from a material that cures within the heat resistant temperature of the insulating substrate material. A screen printing technique can be used for filling the conductive paste, and it is possible to fill the through holes formed in the insulating base material in a lump. Since the electrode placement accuracy is determined by the processing accuracy of through-hole formation, if a method for forming fine through-holes with high accuracy is selected, it is possible to produce a substrate with through-electrodes with fine electrodes arranged with high accuracy. is there. As a method of forming an electrode in the through hole, there is a method of fitting a metal that is easily plastically deformed into the through hole, but it is desirable because there is a risk that the insulating base material is broken by the force when the metal is fitted. It's not a method. There is also a method of filling the through holes with metal by plating. However, since the base material is an insulator, it is necessary to form a plating seed layer by some method, and this is not a desirable method because the process tends to be complicated. It can be said that the method of forming an electrode by filling an insulating base material having a through hole with a conductive paste is an effective method for easily producing a substrate with a through electrode.
[0007]
The conductive paste is composed of conductive powder particles called a filler and a liquid binder called a binder. By selecting an appropriate component for the binder, the curing temperature of the conductive paste can be set to a necessary temperature. Conductive paste used for electrode formation of laminated ceramic parts, etc. uses a glass component as a binder, and therefore requires baking at around 900 ° C. for curing, but resin curing using a thermosetting resin such as epoxy as a binder The mold type conductive paste can be cured at a temperature of about 200 ° C. If a resin curable conductive paste is used, the conductive paste can be cured with a simple device such as an oven, and even a material having a low heat-resistant temperature can be used as an insulating substrate.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
The inventors have made various plate-like substrates having through-holes.(Hereafter, the base material may be referred to as a substrate)A resin curable conductive paste (hereinafter simply referred to as a conductive paste) was filled and cured, and a substrate with through electrodes was prepared. A screen printing method was used for filling the conductive paste, and the through holes were filled with the conductive paste without excess or deficiency. A batch-type oven heated in advance was used for curing the conductive paste. When the resistance value at both ends of the electrode was examined after the substrate with through electrodes was completed, it was found that there were many conductive defects. Considering the fact that the filler powder particles on the outermost layer of the conductive paste were oxidized, the surface of the substrate was lightly lapped by several μm and remeasured, but there was no significant change in the frequency of occurrence of poorly conductive electrodes.
[0009]
Detailed observation of poorly conductive electrodes,It was found that the filler powder concentration distribution in the cross section of the through electrode is characteristic. FIG. 2 a) shows a cross section of the through electrode portion filled and cured with the conductive paste. It turned out that the area | region 32 where the filler powder density | concentration is thin compared with the surface layer 31 and the inside 33 is formed in both surfaces of the insulating base material 1 in the part of a certain depth from the surface of the electrically conductive paste 3. FIG. As shown in FIG. 2 b), even when the surface layer 31 was lightly removed by lapping, a region 32 having a low filler powder concentration was present in the conductive paste 3..From this, it is estimated that generation | occurrence | production of a poor conduction electrode originates in the area | region 32 where the filler powder density | concentration demonstrated in FIG. 2 is thin..
[0010]
The binder resin of conductive paste has a larger coefficient of thermal expansion than filler powder particles.,Since it is rich in fluidity, it has the property of easily exuding from the inside of the conductive paste to the outside during thermosetting. In addition, the filler powder particles tend to aggregate each other at the time of thermosetting, and the bleeding of the binder resin is easily promoted. Furthermore, when the plate thickness t of the insulating base material 1 is increased, the heat conduction is likely to be uneven, and the surface layer 31 of the conductive paste 3 is likely to be hardened first. The above points are presumed to be a factor for forming the region 32 with a low filler powder concentration.
[0011]
The pattern in which the area | region 32 with a low filler powder density | concentration is formed is demonstrated using FIG. The conductive paste 30 before curing immediately after filling the through holes of the insulating substrate 1 shown in FIG.Preheated to the curing temperature of the epoxy resinCuring begins upon exposure to oven heat.HoweverUp to inside of conductive paste 30ImmediatelyHeatBecause it is difficult to communicateFirst, a surface layer (initially cured layer) 31 shown in FIG. 3b) by direct radiant heat (dashed arrow) from the oven.Rapidly formed. When the surface layer 31 is formed, the binder resin does not bleed out due to thermal expansion, and it is presumed that the curing is completed with the ratio of the filler powder and the binder resin almost filled at the time of filling. As the heating of the insulating substrate 1 proceeds, heat (solid arrow) is applied to the conductive paste 30 through the side wall of the through hole, and curing also starts inside the paste. However, since the inside of the conductive paste 30 is slowly cured by conduction heat, the curing is completed while the binder resin expanded by heat oozes out to the interface with the surface layer 31, and as a result, as shown in FIG. 3c). Region 32 where the filler powder concentration is lowFormIt is guessed. In the region 32 where the filler powder concentration is low, the number of contacts of the filler powder particles is small, so that the current path becomes thin and the resistance value increases. Depending on the filler powder concentration in the region 32 where the filler powder concentration is low, it is considered that the cured conductive paste, that is, the through electrode, becomes a poor conduction electrode.
[0012]
Filler powder concentrationThin areaAvoid formingThe method is described in Patent Document 1.,A method of filling a through-hole with a conductive paste and simultaneously pressing with a roll or the likeetcis there. Immediately after filling the conductive paste, roll pressure increases the filler powder concentration in the through hole..However, in order to adopt such a method, a special device as shown in the publication is required, and it can be said that it is difficult to adopt it easily.
[0013]
[Patent Document 1]
JP 2001-160684 (FIGS. 1, 3 to 6)
[0014]
In view of the above problems, the present inventionSpecial to increase filler powder concentrationIt is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a substrate with a through electrode that does not require an apparatus and does not generate a poorly conductive electrode. That is, filling a through-hole formed in the insulating base material with a resin-curable conductive paste,The substrate is put in an oven preheated to the curing temperature of the epoxy resin in the conductive paste, and the epoxy resin is cured by causing a temperature difference between the substrate surface and the substrate during the initial heating of the substrate. By curing in a state where a temperature difference has occurred during initial heating of the substrate, a region having a high filler concentration is formed in the central portion of the substrate thickness, and a region having a low filler concentration is formed in the vicinity of both surface edges of the substrate.Conductive paste after thermosettingArea with low filler concentrationAnd insulating substrate surfaceat the same timeInsulated by machiningThe base material surface and the conductive paste surface are the same,An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a substrate with a through electrode, which can stably obtain an electrode excellent in electrical conduction.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
In the method for producing a substrate with a through electrode in the present invention,A plurality of through holes are formed in an insulating base material made of ceramics, glass, resin or a composite material thereof by laser, shot blasting, punching, drilling, etching, etc., and a curing temperature of 180 ° C. or higher and 200 ° C. or lower is formed in the through holes. A conductive paste prepared by kneading a filler composed of conductive powder particles having an average particle size of 1.0 μm or more and 20 μm or less into an epoxy resin is filled in through holes, and the conductive paste is 50 μm or more and 200 μm or less from both sides of the substrate. After a convex shape is formed at a height, the substrate at room temperature is placed in an oven preheated to the curing temperature of the epoxy resin, and the epoxy resin is cured by causing a temperature difference between the substrate surface and the substrate during the initial heating of the substrate. By filling the both ends near the substrate surface with a thin, high-resistance region of the conductive paste filler powder concentration, the filler powder concentration of the conductive paste A thick low resistance region is formed inside the substrate and a region where the resistance value of the cured conductive paste is different, and the high resistance region at the edge of the substrate is removed by grinding or polishing at 3 μm or more and 50 μm or less on one side simultaneously with the substrate, The surface of the cured conductive paste is the same, and the plate thickness is 300 μm or more and 2 mm or lessIs desirable.
[0016]
The present invention is directed to a method for manufacturing a substrate with a through electrode having a thickness t of 300 μm or more and 2 mm or less. A substrate having a thickness t of less than 300 μm is likely to be cracked or chipped during handling during processing or chip mounting after processing, and it is difficult to obtain a strong substrate with a through electrode. In a substrate with a through electrode having a plate thickness t of 2 mm or more, it is difficult to uniformly fill the through hole with the conductive paste.
[0017]
As a method of filling the through hole formed in the insulating substrate with the conductive paste, a method of injecting the conductive paste for each hole, a method of extruding the conductive paste from all the through holes of the insulating substrate, The screen printing method can be used. If the screen printing method is used, it is possible to fill all the through-holes arranged and formed in a precise pattern on the insulating base material with the conductive paste in a lump. In addition, it is possible to prevent unnecessary conductive paste from adhering to the surface of the insulating base material, which not only eliminates the need for a step of removing the adhering material in a subsequent process, but also saves the conductive paste, which is economical. Furthermore, if the screen printing method is used, it becomes easy to control the protruding height of the conductive paste which is important in the present invention. In the screen printing method, the protruding height of the conductive paste can be precisely controlled by spacing between the filling amount of the conductive paste and a stopper sheet set on the back surface of the insulating substrate.
[0018]
It is desirable that the protruding height when the conductive paste is filled in the through holes provided in the insulating base material is 50 μm or more and 200 μm or less. When the protruding height of the conductive paste is less than 50 μm, the region with a low filler powder concentration cannot be removed by processing, and an electrode with poor conduction may be generated in the substrate with a through electrode. Further, if the protruding height of the conductive paste is 200 μm or more, the amount of the conductive paste that is removed by processing increases, which is not economical and requires processing time. In order to more reliably remove the region having a low filler powder concentration and use the conductive paste more economically, it is more desirable that the protruding height of the conductive paste be 70 μm or more and 100 μm or less.
[0019]
In the processing of an insulating substrate containing a heat-cured conductive paste, it is desirable to process it to a smooth surface by grinding or lapping. By smoothing the surface of the substrate with through electrodes, it is possible to form a fine wiring pattern with high accuracy by photolithography. The single-sided processing amount of the insulating base material is desirably 3 μm or more and 50 μm or less. If the processing amount is less than 3 μm, it is difficult to averagely process the entire surface of the insulating base material, and a portion where the region where the filler powder concentration is low cannot be removed by processing occurs, and there is a conduction failure in the substrate with through electrodes. Electrodes can occur. If the processing amount is 50 μm or more, not only the processing time is lengthened, but also a thick insulating substrate must be used, which is not preferable because the manufacturing cost increases.
[0021]
The insulating base material is desirably ceramics, glass, resin, or a composite material thereof that has a proven track record for use as an electronic component and can be easily molded and has a required strength. The volume resistivity indicating the insulating property of the insulating base material is 10 from the viewpoint of maintaining electrical insulation between the electrodes and preventing the occurrence of a short circuit between the electrodes due to electromigration.10It is desirable that it is Ωcm or more. The heat resistance temperature of the insulating base material is preferably a material having a softening temperature of 250 ° C. or higher, more preferably 300 ° C. or higher, since the curing temperature of the conductive paste is around 200 ° C. Specific examples of materials include alumina, zirconia, silica, and BaTiO for ceramics.3, CaTiO3NiZn ferrite can be used. As glass, soda glass, borosilicate glass, lead glass, quartz glass, crystallized glass and the like can be used. As the resin, polyimide, polycarbonate, polyethersulfone, polysulfone, or the like can be used, and as the composite material, ceramic-glass composite material, glass-epoxy, or the like can be used.
[0023]
The through hole of the insulating base material is desirably formed easily and accurately industrially, and methods such as laser, shot blasting, punching, drilling, etching, and casting can be employed. In particular, shot blasting and etching are desirable methods because a large number of through-holes can be collectively formed in an insulating substrate. The diameter of the through hole is desirably 30 μm or more and 800 μm or less. A through hole having a diameter of less than 30 μm is difficult to form easily and stably, and it is difficult to uniformly fill the conductive paste. A through-hole having a diameter of 800 μm or more is not desirable because there is a problem that the conductive paste easily leaks between filling and curing. The through hole is not limited to a circle, but may be a square, an ellipse, or an indefinite shape. These diameters are defined by a diagonal line for a square, a long diameter for an ellipse, and an average length of the shortest diagonal line and the longest diagonal line for an indefinite shape.
[0025]
The binder resin is preferably composed mainly of a liquid epoxy resin having two or more epoxy groups. If a liquid epoxy resin is used, the conductive paste can be cured even at a low temperature of around 200 ° C. by selecting an appropriate curing agent. If the curing temperature is low, a simple device such as an oven can be used. Furthermore, even a material having a low heat-resistant temperature can be used as the insulating base material. The liquid epoxy resin having two or more epoxy groups includes bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, amine type epoxy resin, epoxy resin with naphthalene skeleton, and dimer acid glycidyl ester epoxy Resins and the like can be used alone or in combination. In particular, glycidyl ester epoxy resins have low viscosity and are flexible after curing. It is possible to increase the reliability of the conductive paste with respect to the thermal cycle by mixing and using these resins. In the conductive paste having low reliability with respect to the heat cycle, the contact state between the filler powder particles changes due to expansion and contraction due to heat, and the electric resistance changes.
[0026]
It is desirable that the curing agent added to the binder resin can be stored for a long time at room temperature without changing the characteristics in a mixed state with the epoxy resin, and has a characteristic of rapidly curing when heated to a predetermined temperature or higher. Curing agents include amine curing agents such as dicyandiamide and carboxylic acid hydrazide, imidazole curing agents such as 2-ethyl-4-methylimidazole, phthalic anhydride, pyromellitic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyl nadic anhydride. Acid anhydride type curing agents such as acids, aromatic amine type (amine adduct) curing agents such as diaminodiphenylmethane and diaminodiphenylsulfonic acid, urea types such as 3- (3,4-dichlorophenyl) -1, 1-dimethylurea A curing agent, a cationic catalyst curing agent, a phenol curing agent, or the like can be used. The addition amount of the curing agent is preferably 0.2 to 3.0 wt%. When the addition amount is 3.0 wt% or more, the viscosity of the conductive paste increases, and it becomes difficult to fill the through holes. If the addition amount is 0.2 wt% or less, the resin may not be cured.
[0027]
A dispersant can be added because it has the effect of lowering the viscosity of the conductive paste and assisting the filling of the through holes. Dispersants include higher fatty acid ethylene oxide, propylene oxide addition ester, sorbitan and fatty acid ester compounds, polyhydric alcohols such as sorbitan, ethylene oxide, propylene oxide addition ether compounds, alkylbenzene ethylene oxide, propylene oxide addition products, etc. -Type dispersants, alkylbenzene sulfonic acid alkali salts, higher alcohol sulfuric acid ester alkali salts, phosphate ester compounds, higher fatty acids, higher fatty acid ethylene oxide, propylene oxide adduct sulfate alkaline salts, and the like, ammonium salt type Cationic dispersants and the like can be used. The addition amount of the dispersant is desirably 1.0 wt% or less. Addition of 1.0 wt% or more of the dispersion material is not desirable because the viscosity of the conductive paste is too low.
[0028]
As the filler powder, conductive powder particles such as noble metal, base metal, and carbon can be used. In order to obtain a through electrode having a small electric resistance and good electric conduction, a filler powder material having a small electric resistance is desirable. As a filler powder material with low electrical resistance, the volume resistivity is 20 × 10.-6A material mainly containing a metal such as Pd, Pt, W, Ni, Sn, Zn, Fe, or the like that is Ωcm or less can be used. In order to obtain a through electrode having a smaller electrical resistance and good electrical conduction, the volume resistivity is 5.0 × 10-6It is more preferable to use a material whose main component is a metal such as Au, Ag, Cu, or Al that is Ωcm or less. In order to prevent the surface oxidation of the filler powder particles, it is also possible to use a base metal powder particle surface coated with a noble metal. For example, filler powder particles obtained by coating Ag on the surface of Cu powder particles that are easily oxidized are desirable because they exhibit electrical resistance equivalent to that of Ag powder particles and are economical.
[0029]
The shape of the filler powder particles may be spherical, elliptical, hexahedral, octahedral or higher polyhedral, plate-like, flake-like, needle-like, irregular shapes in which regularity is difficult to find, or a combination thereof. It is possible to use a shape. It is also possible to use particles in which a plurality of particles are combined instead of a single particle. Spherical and flaky particles can be produced by industrially easy methods such as an atomizing method and a reducing method, and thus are more desirable as filler powder particles.
[0030]
The average particle size of the filler powder particles is desirably 1.0 μm or more and 8.0 μm or less in the case of a spherical shape, and 3 μm or more and 20 μm or less in the case of a flake shape. The particle size of the filler powder particles herein is obtained by observing a small amount of filler powder particles adhered to the conductive adhesive tape with a scanning electron microscope. The longest diameter of each particle measured from the observation image is defined as the particle diameter, and the average value of the particle diameters of all the particles included in an arbitrary observation field is defined as the average particle diameter. A filler powder having an average particle size smaller than the above range is not desirable because it has a large specific surface area with respect to volume and is likely to be oxidized. In addition, since the number of contact points between particles increases, the contact resistance tends to increase. On the other hand, a filler powder having an average particle size larger than the above range is not desirable because, on the contrary, the number of contact points between particles is reduced, the electrical resistance is increased, and the reliability with respect to the heat cycle after curing of the conductive paste is lowered. Since the flaky filler powder tends to have a higher viscosity when the same mixing weight is used as compared with the spherical filler powder, it is difficult to perform screen printing, so it is necessary to change the screen printing conditions. A mixture of spherical filler powder particles, flaky filler powder particles, and filler powder particles of other shapes can also be used. By mixing, it is possible to take advantage of the advantages of the flaky filler powder particles having low contact resistance and the spherical filler powder particles having excellent adhesion to the insulating substrate.
[0031]
The amount of filler powder mixed with the conductive paste is desirably 85 wt% or more and 93% wt or less. If the amount of the filler powder is less than 85 wt%, it is desirable because the number of contacts between the filler powder particles after curing the conductive paste is reduced, the electrical resistance is increased, and the reliability with respect to the thermal cycle after curing the conductive paste is reduced. Absent. On the other hand, when the amount of the filler powder mixed is more than 93 wt%, the viscosity of the conductive paste becomes high and it is difficult to fill the through hole, which is not desirable. In order to obtain an electrode that can be more easily filled into the through hole and has high reliability with respect to the thermal cycle, it is more desirable that the amount of filler powder mixed with the conductive paste is 90 to 92 wt%.
[0032]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In order to make the explanation easy to understand, the same reference numerals are used for the same parts and components. The manufacturing process of the board | substrate with a penetration electrode of this invention is demonstrated using FIG. A through hole 2 is formed in the insulating substrate 1 shown in FIG. 1a) as shown in FIG. 1b). FIG. 1c) shows an X-X ′ cross section of FIG. 1b). As shown in FIG. 1d), the through hole 2 is filled with a conductive paste and hardened so that the amount of protrusion (h, h ') is generated. Next, as shown in FIG. 1e), the surface of the insulating base material 1 was processed on both sides with a processing amount (w, w ') to obtain a substrate 4 with through electrodes.
[0033]
The results of various investigations on the thickness t of the insulating base material, the size of the through hole, the amount of protrusion of the conductive paste, the amount of processing of the insulating base material, etc. The appropriate range of the amount and the processing amount of the insulating substrate will be described in detail. Table 1 shows the evaluation results of the electrical resistance values of the through electrodes in which the plate thickness t and material of the insulating base material and the size of the through holes were changed.
[0034]
Table 1
Figure 0003627932
[0035]
The samples in Table 1 used polyimide and glass-epoxy substrate for the insulating substrate. The shape of the polyimide substrate was a square of 100 mm square, and the thickness was two types of 1.5 mm and 3.0 mm. The shape of the glass-epoxy substrate was a 120 mm square, and the thicknesses were 1.8 mm and 2.4 mm. A micro-drilling machine using an NC drill was used to form the through-hole, and two types of through-holes having a diameter of 200 μmφ and 400 μmφ were formed. The through-holes were formed at equal intervals of 2 mm pitch, and the number of base materials was prepared so that electrodes were formed in 1000 through-holes for each condition, and a substrate with through electrodes was produced. The conductive paste uses a mixture of bisphenol A type epoxy resin (Epicoat 828 made by Yuka Shell Epoxy) and alicyclic epoxy resin (ST-1000 made by Tohto Kasei) as the binder resin, and is cured. An amine adduct curing agent (MY-24 Ajinomoto Co., Inc.) was used as the agent, and a phosphate ester (an anionic surfactant “Blysurf”, manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku) was used as the dispersant. The curing agent and the dispersing agent were added at 0.2 wt% and 0.2 wt%, respectively, in the conductive paste ratio. As the filler powder, spherical Ag particles having an average particle diameter of 2.1 μm were used, and 90.5 wt% was added in a conductive paste ratio. These binder resin and filler powder were stirred and kneaded while defoaming with a three roll. The kneaded conductive paste had a viscosity of 1300 to 1400 Pa · s (rotation speed: 0.5 RPS) as measured with an E-type viscometer at room temperature. The through-hole was filled with the conductive paste using a screen printing machine under the condition that h and h 'shown in FIG. The conductive paste is cured using an oven at 200 ° C. × 60 min, and then lapped on both sides of the insulating base material with w and w ′ shown in FIG. A substrate was obtained.
[0036]
The resistance values at both ends were measured for 1000 through electrodes under each condition. In an electrode of a substrate with a through electrode using a 3.0 mm thick polyimide substrate and a 2.4 mm glass-epoxy substrate, 2 × 10 in terms of volume resistivity-4An electrode showing a large resistance value of Ωcm or more was contained in 70% or more of the whole. Further, most of the electrodes were electrodes that had no electrical continuity and could not be used as penetrating electrodes. This is presumably because the insulating substrate was thick and the conductive paste could not be uniformly filled in the through holes. In the substrate with through electrodes having a thickness of 2 mm or less, which is an example of the present invention, all the electrodes are 2 × 10 in terms of volume resistivity.-4Since it was confirmed that a through electrode having a resistance value of Ωcm or less and having good electrical continuity was formed, the evaluation result was “◯”.
[0037]
Table 2 shows the through electrode when the thickness and material of the insulating base material, the size of the through hole, the method of forming the through hole, the protruding height h of the conductive paste, and the processing amount of the insulating base material are changed. The evaluation result of the electrical resistance value of is shown.
[0038]
Table 2
Figure 0003627932
[0039]
For the samples in Table 2, sintered alumina having a purity of 96% and alkali-free glass (# 1737 by Corning) were used as the insulating base material. The shape of the alumina substrate was a disc shape of 75 mmφ and the thickness was 1.0 mm, and the shape of the alkali-free glass substrate was a disc shape of 150 mmφ and the thickness was 0.7 mm. A 150 μmφ circular through hole was formed on the alumina substrate by a carbon dioxide laser processing machine, and a 200 μmφ circular through hole was formed on the non-alkali glass substrate by a resist mask and shot blasting. The through-holes were formed at equal intervals of 2 mm pitch, and the number of base materials was prepared so that electrodes were formed in 1000 through-holes for each condition, and a substrate with through electrodes was produced. The conductive paste used was a mixture of bisphenol A type epoxy resin (Epicoat 828 made by Yuka Shell Epoxy) and alicyclic epoxy resin (ST-1000 made by Tohto Kasei) 1: 1 as the binder resin. An amine adduct type curing agent (manufactured by MY-24 Ajinomoto) was used as a curing agent, and a phosphate ester (an anionic surfactant “Blysurf” manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku) was used as a dispersing agent. The curing agent and the dispersing agent were added at 0.2 wt% and 0.2 wt%, respectively, in the conductive paste ratio. As the filler powder, spherical Ag particles having an average particle diameter of 2.1 μm were used, and 90.5 wt% was added in a conductive paste ratio. These binder resin and filler powder were stirred and kneaded while defoaming with a three roll. The kneaded conductive paste had a viscosity of 1300 to 1400 Pa · s (rotation speed: 0.5 RPS) as measured with an E-type viscometer at room temperature. The through-holes were filled with the conductive paste using a screen printing machine, changing the protrusion height h shown in FIG. The protruding height h ′ of the back side conductive paste of the insulating substrate was set to 100 μm by adjusting the spacer of the screen printer. The conductive paste was thermally cured using an oven at 200 ° C. for 60 minutes, and then lapped by changing the surface processing amount w of the insulating base shown in FIG. 1e) to obtain a substrate with a through electrode. At this time, the processing amount w ′ on the back side of the insulating base material was set to 20 μm.
[0040]
The resistance values at both ends were measured for 1000 through electrodes under each condition. Under the condition that the protruding height h of the conductive paste is 50 μm or less and the condition that the substrate processing amount w is less than 3 μm, 2 × 10 in terms of volume resistivity.-4Since 50% or more of the electrodes having a large resistance value of Ωcm or more were included, an evaluation result of × was obtained. This is because the region 32 where the filler powder concentration shown in FIG. 2a) is thin remains in the electrode because the protruding height h of the conductive paste or the substrate processing amount w is small, and the resistance value of the electrode is increased. It is done. In the substrate with through electrodes of the example having both the protruding height h of 50 μm or more and the base material processing amount of 3 μm or more, all electrodes are 2 × 10 in terms of volume resistivity.-4Since it was confirmed that a through electrode having a resistance value of Ωcm or less and having good electrical continuity was formed, the evaluation result was “◯”.
[0041]
Table 3 shows the evaluation results of the electrical resistance value of the through electrode when the plate thickness t and material of the insulating base material, the size of the through hole, and the formation method of the through hole are changed.
[0042]
Table 3
Figure 0003627932
[0043]
In the sample of Table 3, sintered alumina having a purity of 96% and a polyimide substrate were used as the insulating substrate. The shape of the alumina base material was a disk shape of 75 mmφ and the thickness was 0.6 mm, and the shape of the polyimide base material was a 100 mm square and the thickness was 1.5 mm. For the formation of through holes in an insulating substrate, a laser processing machine using a carbon dioxide laser is used for an alumina base material, and a punching machine using a punch is used for a polyimide base material. Formed. The through-holes were formed at equal intervals of 2 mm pitch, and the number of base materials was prepared so that electrodes were formed in 1000 through-holes for each condition, and a substrate with through electrodes was produced. The conductive paste uses a mixture of bisphenol A type epoxy resin (Epicoat 828 made by Yuka Shell Epoxy) and alicyclic epoxy resin (ST-1000 made by Tohto Kasei) as the binder resin, and is cured. An amine adduct curing agent (MY-24 Ajinomoto Co., Inc.) was used as the agent, and a phosphate ester (an anionic surfactant “Blysurf”, manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku) was used as the dispersant. The curing agent and the dispersing agent were added at 0.2 wt% and 0.2 wt%, respectively, in the conductive paste ratio. As the filler powder, spherical Ag particles having an average particle diameter of 2.1 μm were used, and 90.5 wt% was added in a conductive paste ratio. These binder resin and filler powder were stirred and kneaded while defoaming with a three roll. The viscosity of the kneaded conductive paste was 1300 to 1400 Pa · s (rotation speed: 0.5 RPS) as measured with an E-type viscometer at room temperature. The through-hole was filled with the conductive paste using a screen printing machine under the condition that h and h 'shown in FIG. After the conductive paste is cured using an oven at 200 ° C. for 60 minutes, the surface of the insulating base material is lapped on the condition that w and w ′ are both 20 μm as shown in FIG. A substrate was obtained.
[0044]
The resistance values at both ends were measured for 1000 through electrodes under each condition. For a substrate using an alumina base material with a through hole diameter of 18 μm, 2 × 10 in terms of volume resistivity.-4An electrode showing a large resistance value of Ωcm or more was contained in 70% or more of the whole. Further, most of the electrodes were electrodes that had no electrical continuity and could not be used as penetrating electrodes. This is presumably because the diameter of the through hole was small and the conductive paste could not be filled uniformly. Moreover, in the board | substrate using the polyimide base material whose diameter of a through-hole is 900 micrometers, there exist the through-hole from which the paste dripped immediately after filling, and could not be filled with the conductive paste stably. In the substrate with a through electrode having a through hole diameter of 30 μm or more and 800 μm or less, which is an example of the present invention, all electrodes are 2 × 10 in terms of volume resistivity.-4Since it was confirmed that a through electrode having a resistance value of Ωcm or less and having good electrical continuity was formed, the evaluation result was “◯”.
[0045]
Table 4 shows the evaluation result of the electrical resistance value of the through electrode and the thermal cycle test result when the average particle diameter of the filler powder in the conductive paste and the shape of the filler powder particle are changed.
[0046]
Table 4
Figure 0003627932
[0047]
In the samples in Table 4, non-alkali glass (manufactured by # 1737 Corning) was used as the insulating base material. The shape of the insulating substrate was a disc shape of 150 mmφ and the thickness was 0.7 mm. The diameter of the through hole was 200 μm, and after forming a resist mask on the glass substrate, a circular through hole was formed by applying shot blasting. The through-holes were formed at equal intervals of 2 mm pitch, and the number of base materials was prepared so that electrodes were formed in 1000 through-holes for each condition, and a substrate with through electrodes was produced. The conductive paste uses a mixture of a bisphenol F-type epoxy resin (Epicoat 807 made by oiled shell epoxy) and a dimer acid epoxidized resin (epoxy equivalent 400 to 500 g / eq) as a binder resin. The mixing ratio was adjusted such that the final conductive paste had a viscosity of 1200 to 1300 Pa · s (rotation speed 0.5 RPS) as evaluated by an E-type viscometer at room temperature. As the curing agent, dicyandiamide (DICY7 oil-made shell epoxy) was used, and as the dispersing agent, an anionic surfactant (Katiogen Daiichi Kogyo Seiyaku) was used. The curing agent and the dispersing agent were added at 1.0 wt% and 0.3 wt%, respectively, in the conductive paste ratio. As the filler powder, powders having different average particle diameters shown in Table 4 were used, and 90.5 wt% was added in a conductive paste ratio. These binder resin and filler powder were stirred and kneaded while defoaming with a three roll. The through-hole was filled with the conductive paste using a screen printing machine under the condition that h and h 'shown in FIG. The conductive paste is cured using an oven at 200 ° C. for 60 minutes, and then lapped on both surfaces of the insulating substrate under the condition that w and w ′ are both 20 μm as shown in FIG. I got a substrate.
[0048]
The resistance values at both ends were measured for 1000 through electrodes under each condition. Under the condition that the average particle size of the spherical filler powder is 1.0 μm or less and the average particle size of the flaky filler powder is 3.0 μm or less, 20 × 10 in terms of volume resistivity.-4An electrode showing a large resistance value of Ωcm or more was contained in 70% or more of the whole. This is presumably because the contact resistance due to the increase in the number of contact points between the particles because the filler powder particles are small. In other samples, all electrodes are 2 × 10 in terms of volume resistivity.-4It was confirmed that a through electrode having a resistance value of Ωcm or less and good electrical conduction was formed.
[0049]
Volume resistivity 2 × 10 for all electrodes-4When a substrate having a resistance value with good electrical continuity of Ωcm or less was put in a thermal cycle test of 1000 cycles at −55 ° C. to 125 ° C. for 30 minutes each, the average particle size of the spherical filler powder was 8 It was found that the resistance value increase after the thermal cycle test was as large as 3% under the condition of 0.0 μm or more and the average particle size of the flaky filler powder of 20 μm or less. Since the filler powder particles are large, the number of contact points between the particles is small, and it is considered that the reliability of the electrode with respect to the thermal cycle is low. In an embodiment of the present invention, all the electrodes were electrically operated under the condition that the spherical filler powder had an average particle size of 1.0 μm or more and 8.0 μm or less and the flaky filler powder had an average particle size of 3.0 μm or more and 20 μm or less. The electrical continuity showed a good resistance value, and the resistance value change after the thermal cycle test showed a good value of 1% or less.
[0050]
As explained with reference to Tables 1 to 4, the conductive paste is filled in the through-holes so that a protruding amount of 50 μm or more and 200 μm or less from the surface of the insulating base material is generated, and after heat curing, the conductivity is obtained. An insulating base material containing paste is processed by grinding or lapping at 5 μm or more and 50 μm or less on one side to obtain a substrate with a through electrode of 300 μm or more and 2 mm or less. As shown, the resistance value change after the thermal cycle test is small. Examples of the manufactured substrate with through electrodes within the manufacturing condition range of the present invention will be described below.
[0051]
As an example of the present invention, an example using a ceramic substrate is shown below. Sintered alumina with a purity of 96% was used for the insulating substrate. The volume resistivity of the insulating substrate is 1 × 1014Ωcm. The insulating base material was a disc shape of 75 mmφ and the thickness was 1.0 mm. The through hole was formed by a laser processing machine using a carbon dioxide gas laser, and was formed into a circle having a diameter of 150 μmφ. The through holes were formed at equal intervals of 2 mm pitch, the number of base materials was prepared so that electrodes were formed in 3000 through holes, and a substrate with through electrodes was prepared. The conductive paste uses a mixture of bisphenol A type epoxy resin (Epicoat 828 made by oil-coated shell epoxy) and alicyclic epoxy resin (made by ST-1000 Toto Kasei) 1: 1 as the binder resin, and cured. An amine adduct curing agent (MY-24 Ajinomoto Co., Inc.) was used as the agent, and a phosphate ester (an anionic surfactant “Blysurf”, manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku) was used as the dispersant. The curing agent and the dispersing agent were added at 0.2 wt% and 0.2 wt%, respectively, in the conductive paste ratio. As the filler powder, spherical Ag particles having an average particle diameter of 2.1 μm were used, and 90.5 wt% was added in a conductive paste ratio. These binder resin and filler powder were stirred and kneaded while defoaming with a three roll. The kneaded conductive paste had a viscosity of 1300 to 1400 Pa · s (rotation speed: 0.5 RPS) as measured with an E-type viscometer at room temperature. The through-hole was filled with the conductive paste using a screen printing machine under the condition that h and h 'shown in FIG. After the conductive paste is cured using an oven at 200 ° C. × 60 min, the surface of the insulating substrate is lapped under the condition that w and w ′ shown in FIG. 1e) are both 20 μm, and 75 mmφ, 0 A substrate with a through electrode having a thickness of 96 mm was obtained.
[0052]
When resistance values at both ends of 3000 through electrodes were measured, all electrodes were 2 × 10 in terms of volume resistivity.-4It was confirmed that a through electrode having a resistance value of Ωcm or less and good electrical conduction was formed.
[0053]
As another embodiment of the present invention, an example using a glass substrate is shown below. Non-alkali glass (manufactured by # 1737 Corning) was used for the insulating substrate. The volume resistivity of the insulating substrate is 3 × 1013Ωcm. The insulating base material was a disk shape of 150 mmφ, and the thickness was 0.7 mm. The diameter of the through hole was 200 μm, and a photoresist mask was formed on the glass substrate and then formed by applying shot blast. The through holes were formed at equal intervals of 2 mm pitch, the number of base materials was prepared so that electrodes were formed in 3000 through holes, and a substrate with through electrodes was prepared. The conductive paste uses a mixture of bisphenol A-type epoxy resin (Epicoat 828 made by oil-coated shell epoxy) and amine-type epoxy resin (ELN-125, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.) as a binder resin, and is cured. An amine adduct curing agent (PN-23 Ajinomoto) was used as an agent, and a polyoxyethylene sorbitan fatty acid ester (nonionic surfactant “Sorgen” TW Daiichi Kogyo Seiyaku) was used as a dispersant. The curing agent and the dispersant were added in an amount of 0.3 wt% and 0.2 wt%, respectively, in the conductive paste ratio. As the filler powder, a powder obtained by coating Ag on spherical Cu particles having an average particle diameter of 4.9 μm produced by a reduction method was used, and 91.0 wt% was added in a conductive paste ratio. These binder resin and filler powder were stirred and kneaded while defoaming with a three roll. The kneaded conductive paste had a viscosity of 1200 to 1300 Pa · s (rotation speed: 0.5 RPS) as measured with an E-type viscometer at room temperature. The through-hole was filled with the conductive paste using a screen printing machine under the condition that h and h 'shown in FIG. After the conductive paste is cured using an oven under the conditions of 180 ° C. × 60 min, the surface of the insulating substrate is lapped under the condition that w and w ′ shown in FIG. 1e) are both 20 μm, and 150 mmφ, 0 A substrate with a through electrode having a thickness of 66 mm was obtained.
[0054]
When resistance values at both ends of 3000 through electrodes were measured, all electrodes were 2 × 10 in terms of volume resistivity.-4It was confirmed that a through electrode having a resistance value of Ωcm or less and good electrical conduction was formed.
[0055]
As another embodiment of the present invention, an example in which polyimide is used for an insulating substrate will be described below. The volume resistivity of the insulating substrate is 1 × 1016Ωcm. The insulating substrate was a 100 mm square and the thickness was 0.5 mm. The through hole was formed by a punching machine using a punch, and had an elliptical shape with a minor axis of 130 μm and a major axis of 180 μm. The through holes were formed at equal intervals of 2 mm pitch, the number of base materials was prepared so that electrodes were formed in 3000 through holes, and a substrate with through electrodes was prepared. As the binder resin, a bisphenol F type epoxy resin (Epicoat 807 made by oiled shell epoxy) and an epoxy resin obtained by glycidyl esterification of dimer acid (epoxy equivalent 400 to 500 g / eq) were mixed at 1: 3 as a binder resin. A dicyandiamide (DICY7 oil-made shell epoxy) was used as a curing agent, and an anionic surfactant (manufactured by Kachiogen Daiichi Kogyo Seiyaku) was used as a dispersant. The curing agent and the dispersing agent were added at 1.0 wt% and 0.3 wt%, respectively, in the conductive paste ratio. As the filler powder, a powder of flaky Ag particles having an average particle diameter of 10.5 μm was used, and 90.3 wt% was added in a conductive paste ratio. These binder resin and filler powder were stirred and kneaded while defoaming with a three roll. The viscosity of the kneaded conductive paste was 1300 to 1400 Pa · s (rotation speed: 0.5 RPS) as measured with an E-type viscometer at room temperature. The through-hole was filled with the conductive paste using a screen printing machine under the condition that h and h 'shown in FIG. After the conductive paste is cured using an oven at 200 ° C. × 60 min, the surface of the insulating substrate is lapped under the condition that w and w ′ shown in FIG. A substrate with a through electrode having a thickness of 0.46 mm was obtained.
[0056]
When resistance values at both ends of 3000 through electrodes were measured, all electrodes were 2 × 10 in terms of volume resistivity.-4It was confirmed that a through electrode having a resistance value of Ωcm or less and good electrical conduction was formed.
[0057]
As another embodiment of the present invention, an example in which a glass-epoxy substrate is used as an insulating substrate will be shown below. The insulating base material is a laminate of 6 sheets of 200 μm thick aramid non-woven epoxy sheets, and the volume resistivity of the insulating base material is 2 × 10.10Ωcm. The insulating substrate was a 120 mm square and the thickness was 1.2 mm. The through hole was formed by a micro drilling machine using an NC drill, and the diameter was a circle of 250 μmφ. The through holes were formed at equal intervals of 2 mm pitch, the number of base materials was prepared so that electrodes were formed in 3000 through holes, and a substrate with through electrodes was prepared. The conductive paste was mixed as a binder resin with a bisphenol A type epoxy resin (Epicoat 828 made by oiled shell epoxy) and an epoxy resin obtained by glycidyl ester of dimer acid (epoxy equivalent 400 to 500 g / eq) at a ratio of 1: 1. A phthalic anhydride was used as a curing agent, and a phosphate ester (an anionic surfactant “Blysurf” manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.) was used as a dispersing agent. The curing agent and the dispersant were added at 2.8 wt% and 0.2 wt%, respectively, in the conductive paste ratio. As the filler powder, a powder in which spherical Ag particles having an average particle diameter of 1.5 μm and flaky Ag particles having an average particle diameter of 11.2 μm were mixed at a ratio of 4: 6 was used, and 89.7 wt% of the conductive paste ratio was added. These binder resin and filler powder were stirred and kneaded while defoaming with a three roll. The kneaded conductive paste had a viscosity of 1200 to 1300 Pa · s (rotation speed: 0.5 RPS) as measured with an E-type viscometer at room temperature. The through-hole was filled with the conductive paste using a screen printing machine under the condition that h and h 'shown in FIG. After the conductive paste is cured using an oven at 200 ° C. × 60 min, the surface of the insulating substrate is lapped under the condition that w and w ′ shown in FIG. A substrate with a through electrode having a thickness of 1.14 mm was obtained.
[0058]
When resistance values at both ends of 3000 through electrodes were measured, all electrodes were 2 × 10 in terms of volume resistivity.-4It was confirmed that a through electrode having a resistance value of Ωcm or less and good electrical conduction was formed.
[0059]
【The invention's effect】
Fill the through-hole formed in the insulating base material with resin-cured conductive paste,Put the substrate in an oven preheated to the curing temperature of the epoxy resin, create a temperature difference between the substrate surface and the inside of the substrate during the initial heating of the substrate, cure the epoxy resin, and have a thick filler concentration in the center of the substrate thickness A region is formed, and a region with a low filler concentration is formed in the vicinity of both surface edges of the substrate.After thermosettingThin region and insulating property of conductive paste with low filler concentrationMachining the substrate surface simultaneously. For increasing filler powder concentrationWith an easy method that does not require special equipment, it is possible to stably obtain an electrode with excellent electrical continuity.The insulating substrate surface and the conductive paste surface are the sameA method of manufacturing a substrate with a through electrode could be provided.
that's all
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a substrate showing a process flow of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a filler powder concentration distribution of a conventional through electrode.
FIG. 3 is a diagram illustrating the formation of a region where the filler powder concentration is low.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Insulating base material, 2 Through-hole, 3 Conductive paste, 4 Substrate with a board, 30 Conductive paste before hardening, 31 Surface layer,
32 Area with low filler powder concentration after curing, 33 inside.

Claims (1)

セラミックス、ガラス、樹脂もしくはこれらの複合材からなる絶縁性基材に、レーザー、ショットブラスト、パンチ、ドリル、エッチング等で複数の貫通孔を形成し、貫通孔に180℃以上200℃以下の硬化温度であるエポキシ系樹脂に、平均粒径が1.0μm以上20μm以下の導電性の粉末粒子からなるフィラーを混練した導電性ペーストを貫通孔に充填し、導電性ペースト面を基板両面より50μm以上200μm以下の高さで凸に形成したのち、予めエポキシ系樹脂の硬化温度に加熱したオーブンに室温状態の基板を入れ、基板の初期加熱時に基板表面と基板内部に温度差を生じさせてエポキシ系樹脂を硬化させ、導電性ペーストのフィラー粉末濃度の薄い高抵抗領域を基板表面近傍の両端部に、導電性ペーストのフィラー粉末濃度の濃い低抵抗領域を基板内部にと、硬化した導電性ペーストの抵抗値が異なる領域を形成し、基板端部の高抵抗領域を基板と同時に片側3μm以上50μm以下研削もしくは研磨加工除去し、基板と硬化した導電性ペーストの面が同一で、板厚300μm以上2mm以下の貫通電極つき基板を得ることを特徴とする貫通電極つき基板の製造方法。 A plurality of through holes are formed in an insulating base material made of ceramics, glass, resin or a composite material thereof by laser, shot blasting, punching, drilling, etching, etc., and a curing temperature of 180 ° C. or higher and 200 ° C. or lower is formed in the through holes. A conductive paste prepared by kneading a filler composed of conductive powder particles having an average particle size of 1.0 μm or more and 20 μm or less into an epoxy resin is filled in through holes, and the conductive paste surface is 50 μm or more and 200 μm from both sides of the substrate. After forming a convex at the following height, place the substrate at room temperature in an oven preheated to the curing temperature of the epoxy resin, and create a temperature difference between the substrate surface and the inside of the substrate during the initial heating of the substrate, thereby causing the epoxy resin The conductive paste filler powder concentration is thin at the both ends near the substrate surface. A thick low resistance region is formed inside the substrate and a region where the resistance value of the cured conductive paste is different, and the high resistance region at the edge of the substrate is removed by grinding or polishing at 3 μm or more and 50 μm or less on one side simultaneously with the substrate, A method for producing a substrate with a through electrode, comprising obtaining a substrate with a through electrode having the same surface of the cured conductive paste and having a thickness of 300 μm or more and 2 mm or less .
JP2003159002A 2003-06-03 2003-06-04 Manufacturing method of substrate with through electrode Expired - Fee Related JP3627932B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003159002A JP3627932B2 (en) 2003-06-04 2003-06-04 Manufacturing method of substrate with through electrode
PCT/JP2004/007354 WO2004110116A1 (en) 2003-06-03 2004-05-28 Production method for feedthrough electrode-carrying substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003159002A JP3627932B2 (en) 2003-06-04 2003-06-04 Manufacturing method of substrate with through electrode

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004363275A JP2004363275A (en) 2004-12-24
JP3627932B2 true JP3627932B2 (en) 2005-03-09

Family

ID=34052195

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003159002A Expired - Fee Related JP3627932B2 (en) 2003-06-03 2003-06-04 Manufacturing method of substrate with through electrode

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3627932B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011187771A (en) * 2010-03-10 2011-09-22 Omron Corp Structure of electrode portion

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004363275A (en) 2004-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100382631B1 (en) Metal-based multilayer circuit board and semiconductor module having the same
KR100832628B1 (en) Conductive paste
US6515237B2 (en) Through-hole wiring board
JP4825286B2 (en) Manufacturing method of multilayer wiring board
TWI293315B (en) Wiring substrate
Li et al. Multinozzle 3D printing of multilayer and thin flexible electronics
JPH07126489A (en) Electrically conductive resin paste
JP2009212101A (en) Member for multilayer wiring board and method of manufacturing multilayer wiring board
JP2005093105A (en) Conductive structure and its manufacturing method
JP3627932B2 (en) Manufacturing method of substrate with through electrode
JP2002317121A (en) Embedding resin
JP3786512B2 (en) Manufacturing method of multilayer wiring board
JPH1174625A (en) Wiring board and method for manufacturing it
JP2009212099A (en) Member for multilayer wiring board and method of manufacturing multilayer wiring board
JPH11298106A (en) Via hole filling type of both-sided printed wiring board and its manufacture
JPH09293952A (en) Manufacture of wiring board
JP4190632B2 (en) Printed wiring board
JPH11103165A (en) Multilayered wiring board and its manufacture
TW200908828A (en) Circuitized substrate with internal resistor, method of making said circuitized substrate, and electrical assembly utilizing said circuitized substrate
JP2008010821A (en) Method of hardening resin film for die bonding, and method of die bonding
WO2004110116A1 (en) Production method for feedthrough electrode-carrying substrate
JP4845274B2 (en) Wiring board and manufacturing method thereof
JP2007027173A (en) Electronic component packaging structure
JP2007027409A (en) Conductor pattern forming method
JP2011187999A (en) Multilayer wiring board

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041025

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041119

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041202

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071217

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081217

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091217

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees