JP3579605B2 - プリント回路基板のはんだ面切削方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明はプリント回路基板をリサイクルすることを目的として、プリント回路基板から電子部品等を取外す基板解体処理方法に関し、殊に、プリント回路基板のはんだ面を切削するはんだ面切削方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年においては、あらゆる産業分野においてリサイクルの必要性が提唱されており、電気分野では廃家電製品に組込まれたプリント回路基板(以下、基板と称する場合がある。)の再資源化が早急に進めるべき研究課題になっている。
【0003】
基板はこれに取付けられている電子部品等を取外すのが困難であるため、従来はそのまま埋め立てたり焼却処分されることが多かった。しかし基板は有価資源と有害物質の含有率が共に高いので、リサイクルすることを目的としてそれを解体処理する方法が種々提案されている。
【0004】
基板から電子部品を取外す解体処理方法としては次のような方法がある。1つめはチャック等で基板を固定し、基板における電子部品のはんだ付け部を溶融半田槽に浸すことによってはんだ溶融し、衝撃を与えることによって電子部品を基板から引き外す方法である。2つめは基板を加熱しながら、回転する金属羽根を基板の実装面に押し当てることにより、電子部品を基板からかき落とす方法である。3つめは基板固定槽内で充填された基板保持媒体(鋼球等の粒体群)ではんだ面が上方を向いた状態で基板を保持して磁力で固定し、基板のはんだ面を切削用カッターによって切削することにより電子部品を取外すはんだ面切削方法である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記解体処理方法において、はんだ溶融したり金属羽根によるかき落としによって電子部品を基板から取外す方法では、対象となる基板の寸法が限られたものとなり、汎用性に欠けるという問題がある。
【0006】
また鋼球等の粒体群で基板を磁力で固定してから、はんだ面を切削することにより電子部品を取外す方法では、対象となる基板の形状範囲が大きく広がって汎用性が大きくなるものの、基板のはんだ面には電子部品のリード線や銅箔を被覆したはんだ等による凹凸があるために、単に基板のはんだ面を一定圧力で切削するだけでは正確に切削することはできない。
【0007】
そこで、本発明は上記のような問題点を解決し、さまざまな形状をした基板のはんだ面を、切削深さや切削範囲が制御された切削用カッターによって正確に切削し、基板に取付けられている電子部品を確実かつ容易に取外すことができるプリント回路基板のはんだ面切削方法を提供することを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本願第1発明は、プリント回路基板から電子部品を取外すために、切削用カッターによって電子部品装着面と反対側のはんだ面を切削するプリント回路基板のはんだ面切削方法において、レーザー位置センサをはんだ面上方で相対的に移動させることによって、レーザー位置センサとはんだ面との距離を連続して測定すると共に、その測定値の変動の大きさによってはんだ面の凸部と基板本体を構成する樹脂素材の樹脂面とを区別して検出し、その検出結果に基いて切削用カッターの高さ位置を設定し、切削用カッターにより前記樹脂面が露出する深さまではんだ面を切削することを特徴とする。
【0009】
この第1発明によれば、さまざまな凹凸形状をしている基板のはんだ面から、基板本体を構成する樹脂素材の樹脂面の位置を正確に検出し、平坦な樹脂面とはんだ面の凸部とを区別し、その検出結果に基いて、切削用カッターによって樹脂面が露出する深さまではんだ面を切削することができるので、はんだ面上に露出しているリード線を被覆するはんだ等の凸部を確実に切削除去し、基板に取付けられている電子部品を効率的に取外すことができる。
【0010】
上記目的を達成するために本願第2発明は、基板保持媒体が充填された基板固定槽内にはんだ面が上方を向き、電子部品が前記基板保持媒体に混入された状態で固定されたプリント回路基板から電子部品を取外すために、切削用カッターによってはんだ面を切削するプリント回路基板のはんだ面切削方法において、レーザー位置センサをはんだ面上方で相対的に移動させることによって、レーザー位置センサとはんだ面との距離を連続して測定すると共に、その測定値のばらつきによってはんだ面と前記基板保持媒体の上面とを区別して検出し、その検出結果に基いて切削用カッターによりプリント回路基板が位置する範囲だけはんだ面を切削することを特徴とする。
【0011】
この第2発明によれば、プリント回路基板のはんだ面と基板保持媒体の上面とを区別して検出し、その検出結果に基いて、切削用カッターによって基板固定槽上面の範囲内で基板が位置する範囲だけ確実に切削できる。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図1〜図6を参照しながら説明する。
【0013】
第1実施形態を具現化するプリント回路基板のはんだ面切削装置の概略構成を示す図1において、1は基板固定槽であり、鋼球等の粒体群(基板保持媒体)2が充填され、その中にリード線5付き電子部品4を挿入し、裏面で前記リード線5をはんだ付けしたプリント回路基板3(以下、基板3と称する。)を、はんだ面3aを上方にして位置決め状態にし、前記粒体群2を磁化することにより固定している。はんだ面3a上方には、電子部品4のリード線5やそれを被覆固定するはんだ5aや、銅箔とそれを被覆するソルダーレジスト等が露出している。
【0014】
基板固定槽1の上方には、レーザー位置センサ7を取付けた切削用カッターとしてのプレーンカッター6が設置されている。プレーンカッター6は、レーザー位置センサ7から出力されたレーザー光8にあたった部分の位置を測定した基板位置データにより、所定の切削深さとなるように下方に位置決めされ、基板3のはんだ面3aの切削を行う。このときプレーンカッター6の下方への位置決め基準となる測定データは、はんだ面3a上に露出するはんだ5a等が切削除去されて、基板3本体を構成する紙フェノールやガラスエポキシ等の樹脂素材の樹脂面10が露出する状態まで切削できるデータである必要がある。前記レーザー位置センサ7はプレーンカッター6の前側に取付けられ、図1に矢印で示すようにプレーンカッター6が移動しつつ切削するに先立って、レーザー位置センサ7とはんだ面3aとの距離を連続して測定する。なお、基板固定槽1側を図1の矢印方向と逆方向に移動させて、前記測定、切削を行うようにしてもよい。
【0015】
次に、レーザー位置センサ7で測定した基板位置データから基板3のはんだ面3aの樹脂面10を検出する方法を図2、図3を用いて説明する。
【0016】
図2はレーザー位置センサ7を基板3のはんだ面3aの上方で平行に動かし、レーザー位置センサ7とはんだ面3aとの距離を測定している状態を示している。基板3のはんだ面3aは、電子部品4のリード線5を被覆固定するはんだ5a等による凸部があるため、レーザー位置センサ7の測定位置ははんだ面3aの平坦な前記樹脂面10だけではなく、それぞれの凹凸に沿って測定される。図3は図2に示したような測定を行ったときの測定データを示すグラフであり、ソルダーレジスト9の凸部やリード線5を被覆固定するはんだ5aの凸部、平坦な樹脂面10等の形状が混在しており、平坦な樹脂面10のみを測定することは困難である。
【0017】
そこで本発明は、平坦な樹脂面10の測定値が他の部分のそれと比較して変動が小さいことに着目し、連続して測定した場合の測定値の変動の大きさにより平坦な樹脂面10とソルダーレジスト9やはんだ5a等による凸部とを正確に区別できることを確認した。この実験により得られたデータを図4のグラフに示す。
【0018】
上記実験ではレーザー位置センサ7が測定スタート点から0.2mm間隔に10回測定して2.0mm移動した。この実験結果により前後の測定値の差が0.1mm以内で10回連続した場合、はんだ面3aの平坦な樹脂面10の高さ変化とみなして10回のデータを平均値を算出し、樹脂面10の高さ変化分の補正をする。そして前後の測定値の差が0.1mm以上の場合には、これを削り取るべきはんだの突起とみなしてそれによる高さ補正をせずに、再度0.1mm以下が10回連続するごとに上記補正をする。この方法で基板3のはんだ面3aを凹凸に関係なく、プレーンカッター6によって樹脂面10が露出する所定深さまで正確にはんだ面3aを切削することが可能になる。
【0019】
以上のように第1実施形態によれば、さまざまな凹凸形状をしている基板3のはんだ面3aから平坦な樹脂面10の位置を正確に検出して樹脂面10とはんだ面3aの凸部とを区別し、はんだ面3aを被覆しているはんだ5a等を確実に除去し、基板3に取付けられている電子部品4を効率的に取外すことができる。よって、基板3の基板本体は、これの構成素材である紙フェノールやガラスエポキシ等が露出した状態で回収されるので、不純物の混入が少ないことから、リサイクル材料としての用途が広がり、効果的に再利用することができる。
【0020】
また図5に示す第2実施形態は、基板固定槽1内に充填された鋼球等の粒体群2によって位置決め状態に固定された基板3の位置検出方法を示している。この実施形態では、レーザー位置センサ7による測定値が、基板3のはんだ面3aと比較して、鋼球等の粒体群2上面では大きくばらつく傾向があることに着目することにより、はんだ面3aと粒体群2とを区別することができる。
【0021】
実験の実施結果において、レーザー位置センサ7を72mm/分で動かし、基板3または粒体群2上の位置を100回/1.2mm秒のスキャニングで連続測定した場合、粒体群2上を測定しているときにおいてはその結果データが、100回ごとに平均した値の±0.7mm以内の範囲に入らないものが50%以上ある状態が2回以上連続する(合計200回測定による結果)。このことから、上記粒体群2上面の条件に該当しない場合が基板3のはんだ面3aであることがわかり、基板固定槽1内に固定された基板3の位置を正確に知ることができる。この実験により得られたデータを表1に示す。
【0022】
【表1】
【0023】
この方法で、プレーンカッター6によって基板3のはんだ面3aが位置する範囲だけ確実に切削することが可能になり、第1実施形態のものと併用することにより、所定深さで所定範囲のはんだ面3aの切削工程を容易に行うことができる。
【0024】
【発明の効果】
以上説明したように本願の第1発明によれば、基板におけるはんだ面の凸部と平坦な樹脂面とを区別して検出し、その検出結果に基いて切削用カッターを制御して樹脂面が露出する深さまで確実に切削できるし、また本願の第2発明によれば、はんだ面と基板保持媒体とを区別して検出し、その検出結果に基いて切削用カッターを制御して基板が位置する範囲だけ確実に切削できる。よって両発明のはんだ面切削方法によれば、切削深さと切削範囲が制御された切削用カッターによってはんだ面を確実に切削して、電子部品を基板から効率的に取外すことができ、多種多様なプリント回路基板をリサイクル可能な状態で効率良く回収することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態を具現化するはんだ面切削装置を示す概略図。
【図2】同実施形態において、はんだ面の位置を測定する状態を示す斜視図。
【図3】図2に示す測定を行ったときの測定データを示すグラフ。
【図4】同実施形態において、はんだ面の位置を連続して測定した場合の測定値の変動を示すグラフ。
【図5】本発明の第2実施形態を示し、(a)ははんだ面と粒体群の上面とを測定する状態を示す側面図、(b)はその測定データを示すグラフ。
【符号の説明】
1 基板固定槽
2 鋼球等の粒体群(基板保持媒体)
3 プリント回路基板
3a はんだ面
4 電子部品
5 リード線
5a はんだ
6 プレーンカッター(切削用カッター)
7 レーザー位置センサ
10 基面
Claims (2)
- プリント回路基板から電子部品を取外すために、切削用カッターによって電子部品装着面と反対側のはんだ面を切削するプリント回路基板のはんだ面切削方法において、レーザー位置センサをはんだ面上方で相対的に移動させることによって、レーザー位置センサとはんだ面との距離を連続して測定すると共に、その測定値の変動の大きさによってはんだ面の凸部と基板本体を構成する樹脂素材の樹脂面とを区別して検出し、その検出結果に基いて切削用カッターの高さ位置を設定し、切削用カッターにより前記樹脂面が露出する深さまではんだ面を切削することを特徴とするプリント回路基板のはんだ面切削方法。
- 基板保持媒体が充填された基板固定槽内にはんだ面が上方を向き、電子部品が前記基板保持媒体に混入された状態で固定されたプリント回路基板から電子部品を取外すために、切削用カッターによってはんだ面を切削するプリント回路基板のはんだ面切削方法において、レーザー位置センサをはんだ面上方で相対的に移動させることによって、レーザー位置センサとはんだ面との距離を連続して測定すると共に、その測定値のばらつきによってはんだ面と前記基板保持媒体の上面とを区別して検出し、その検出結果に基いて切削用カッターによりプリント回路基板が位置する範囲だけはんだ面を切削することを特徴とするプリント回路基板のはんだ面切削方法。
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