JP3559452B2 - 自動焦点検出測量機の遮光構造 - Google Patents

自動焦点検出測量機の遮光構造 Download PDF

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Description

【0001】
【技術分野】
本発明は、自動焦点検出測量機のAF検出センサーへの遮光に関するものである。
【0002】
【従来の技術およびその問題点】
従来のトータルステーションなどの視準望遠鏡を備えた自動焦点検出測量機の光学系は、目標物から順に、対物レンズ、合焦レンズ、ポロプリズム、焦点板、接眼レンズを有する視準光学系と、ポロプリズム近傍に設けられた分岐光学素子により視準光学系から焦点検出光学系を分岐させた分岐光学系から構成されていた。合焦方式は、焦点検出光学系内に位置する視準光学系の焦点面と光学的に等価な面の焦点状態を、一対のCCDセンサーを有するいわゆる位相差方式のオートフォーカスセンサーにより検出してデフォーカス量を演算し、そのデフォーカス量に基づいて合焦レンズを合焦位置に移動させて自動合焦(AF)を行うものであった。
【0003】
しかし、前記構造では分岐光学素子とポロプリズムが視準光学系の光軸上に位置するため、接眼レンズから外光が入射すると、その外光が内面反射などによりAFセンサーに到達し、対物レンズからの光束と重なり合い、正確な合焦ができないという問題があった。
【0004】
【発明の目的】
本発明は、以上の従来の問題点に鑑みてなされたものであり、接眼レンズからの入射光を遮光し、AFセンサーが受光することを防止することにより、正確な合焦が可能である自動焦点検出測量機を得ることを目的とする。
【0005】
【発明の概要】
本発明は、対物光学系および接眼光学系を備えた望遠光学系と、前記対物光学系を透過した物体光束を前記望遠光学系から分岐する分岐光学素子と、この分岐光学素子で分岐された物体光束を受光する受光手段を備えた焦点検出手段と、を備えた自動焦点検出測量機において、前記接眼光学系から入射した外光が前記分岐光学素子の分岐面を透過又は反射した後に最初に到達する前記分岐光学素子の1つの面に反射防止処理を施したことを特徴としている。
【0006】
また、本発明の別の態様は、対物光学系および接眼光学系を備えた望遠光学系と、前記対物光学系を透過した物体光束を前記望遠光学系から分岐する分岐光学素子と、この分岐光学素子で分岐された物体光束を受光する受光手段を備えた焦点検出手段と、を備えた自動焦点検出測量機において、前記接眼光学系から入射した外光が前記分岐光学素子の分岐面を透過又は反射した後に最初に到達する面と対向する位置に、該分岐光学素子から射出した外光が分岐光学素子に入射しない方向に反射する面を設けたことを特徴としている。
【0007】
【発明の実施形態】
本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の実施形態を表すトータルステーション1の部分断面側面図である。被写体からの光束は、対物レンズ2,合焦レンズ3を通り、ポロプリズム4の4つの反射面で反射して焦点板5に正立像を形成し、接眼レンズ6を通して見ることができる。また、図2に示す通り、ポロプリズム4の第2反射面8bにプリズム9を密着し、境界部分の分割コート面11aは分岐光学素子として形成されている。分割コート面11aに入射した光の一部は分割コート面11aを透過してプリズム9に入射・透過して、AF検出センサ7へ到達する。
【0008】
しかし、図7に示すように、この構造では接眼レンズ6から入射した外光10もAF検出センサ7が受光し、対物レンズ2からの光束と重なり合って正確な合焦ができない。すなわち、接眼レンズ6からの外光10はポロプリズム4の第4反射面8d、第3反射面8cで反射し、分割コート面11aを透過し、透過した外光10は、プリズム9の側面12あるいは鏡筒内面13で反射し、反射した外光10は再度分割コート面11aで反射しAF検出センサー7に達する。
【0009】
上記はポロプリズム4の第2反射面8bを分岐面とした場合であるが、ポロプリズム4には4つの反射面があり、他の各反射面を分岐面とした場合も同様の問題が発生する。その他の各反射面で分岐した場合におけるポロプリズム4とプリズム9の配置を表す斜視図を図3ないし図5に示す。また、ポロプリズム4の前側(対物レンズ側)又は後側にビームスプリッタ17を配置した場合(図6参照)も同様の問題が発生する。
【0010】
この問題を解消する本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。本発明を適用した第一の実施形態は、図8〜図12に示す通り、接眼レンズ6からの外光10が内部反射によりAF検出センサー7に到達するのを防止するための処置として、プリズム9の1つの面を磨り面にする、又は磨り面に、例えば無反射塗装等の無反射処理を施したという形態である。磨り面または無反射処理を施した磨り面により、分割コート面11aを透過した外光10は拡散又は吸収され、AF検出センサ7へ入射する外光10は減少する。以下に、それぞれの実施例における上記処置を施すべき面を記す。
【0011】
(実施例1)ポロプリズム4の第2反射面8bにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11aにした場合(図2参照)には、図8に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11aを透過後最初に到達する面、すなわち側面12に上記処置を施す。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8d、第3反射面8cで反射し、分割コート11aを透過するが、側面12で拡散又は吸収される。そのため、側面12で反射し、さらに分割コート面11aで反射しAFセンサ7に到達する外光10は著しく減少する。
(実施例2)ポロプリズム4の第3反射面8cにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11bにした場合(図3参照)には、図9に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11bを透過後最初に到達する面、すなわち側面14に上記処置を施す。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8dで反射し、分割コート11bを透過するが、側面14で拡散又は吸収される。そのため、側面14で反射し、さらに分割コート11bで反射しAFセンサ7に到達する外光10は著しく減少する。
(実施例3)ポロプリズム4の第4反射面8dにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11cにした場合(図4参照)には、図10に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11cを透過後最初に到達する面、すなわち側面15に上記処置を施す。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10はプリズム9に入射し、分割コート11cを透過するが、側面15で拡散又は吸収される。そのため、側面15で反射し、さらに分割コート11cで反射しAFセンサ7に到達する外光10は著しく減少する。
(実施例4)ポロプリズム4の第1反射面8aにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11dにした場合(図5参照)には、図11に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11dを透過後最初に到達する面、すなわち側面16に上記処置を施す。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8d、第3反射面8c、第2反射面8bで反射し、分割コート11dを透過するが、側面16で拡散又は吸収される。そのため、側面16で反射し、さらに分割コート面11dで反射しAFセンサ7に到達する外光10は著しく減少する。
(実施例5)ポロプリズムの前側(対物レンズ側)にビームスプリッタ17を配置した場合(図6参照)には、図12に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11eを反射後最初に到達する面、すなわちビームスプリッタ17の側面18に上記処置を施す。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8d、第3反射面8c、第2反射面8b、第1反射面8aで反射し、ビームスプリッタ17に入射し、分割コート面11eで反射して側面18で拡散又は吸収される。従って、分割コート面11eで反射し又は分割コート面11eを透過し、再度分割コート面11eに戻り透過又は反射することによりAFセンサ7に到達する外光10は著しく減少する。また、ビームスプリッタ17をポロプリズム4の後側に配置した場合も同様の処置を施す。
【0012】
本発明を適用した第二の実施形態は、図13〜図17に示す通り、プリズム9の1つの面を外光10が透過するように、その面に無反射コート19を施し、さらにその面と向き合う鏡筒内面に無反射面20を形成したという形態をである。無反射面は例えば、モケット・ベルセード張り付け、無反射塗装などによって形成する。分割コート面11を透過した外光10は、プリズム9の1つの面における無反射コート面19により反射が減少し、さらに無反射面20を形成した鏡筒内面にて吸収されることにより、AF検出センサー7への入射は減少する。以下に、それぞれの実施例における上記処置を施すべき面を記す。
【0013】
(実施例1)ポロプリズム4の第2反射面8bにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート11aにした場合(図2参照)には、図13に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11aを透過後最初に到達する面、すなわち側面12に無反射コート19及びその面と向き合う鏡筒内面13aに無反射面20を形成する。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8d、第3反射面8cで反射し、分割コート11aを透過するが、側面12を透過して鏡筒内面13aの無反射面20で吸収されるため、AFセンサー7に到達する外光10が著しく減少する。
(実施例2)ポロプリズム4の第3反射面8cにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11bにした場合(図3参照)には、図14に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11bを透過後最初に到達する面、すなわち側面14に無反射コート19及びその面と向き合う鏡筒内面13bに無反射面20を形成する。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8dで反射し、分割コート11bを透過するが、側面14を透過して鏡筒内面13bの無反射面20で吸収されるため、AFセンサー7に到達する外光10が著しく減少する。
(実施例3)ポロプリズム4の第4反射面8dにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11cにした場合(図4参照)には、図15に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11cを透過後最初に到達する面、すなわち側面15に無反射コート19及びその面と向き合う鏡筒内面13cに無反射面20を形成する。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、分割コート11cを透過するが、側面15を透過して鏡筒内面13cの無反射面20で吸収されるため、AFセンサー7に到達する外光10が著しく減少する。
(実施例4)ポロプリズム4の第1反射面8aにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11dにした場合(図5参照)には、図16に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11dを透過後最初に到達する面、すなわち側面16に無反射コート19及びその面と向き合う鏡筒内面13dに無反射面20を形成する。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8d、第3反射面8c、第2反射面8bで反射し、分割コート11dを透過するが、側面16を透過して鏡筒内面13dの無反射面20で吸収されるため、AFセンサー7に到達する外光10が著しく減少する。
(実施例5)ポロプリズムの前側(対物レンズ側)にビームスプリッタ17を配置した場合(図6参照)には、図17に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11eを反射後最初に到達する面、すなわちビームスプリッタ17の側面18に無反射コート19及びその面と向き合う鏡筒内面13eに無反射面20を形成する。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8d、第3反射面8c、第2反射面8b、第1反射面8aで反射し、ビームスプリッタ17に入射し、分割コート11eを反射して側面18を透過して鏡筒内面13eで吸収される。従って、分割コート面11eで反射し又は分割コート面11eを透過し、再度分割コート面11eに戻り、透過又は反射することによりAFセンサ7に到達する外光10は著しく減少する。また、ビームスプリッタ17をポロプリズムの後側に配置した場合も同様の処置を施す。
【0014】
本発明を適用した第三の実施形態は、図18から図22に示す通り、プリズム9の1つの面に無反射コート19を施し、さらにその面とその面が向き合う鏡筒内面とのなす角度を一定の角度としたという形態である。分割コート11を透過した外光10は、プリズム9の1つの面における無反射コート19により反射が減少する。さらにその面を透過し鏡筒内面に達し内面で反射した外光10は、前記一定の角度がつけられたことにより、プリズム9から外れる方向に進む。前記一定の角度は、鏡筒内面を反射した外光10が再度プリズム9に入光しない角度を設定する。以下に、それぞれの実施例における上記処置を施すべき面を記す。
【0015】
(実施例1)ポロプリズム4の第2反射面8bにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11aにした場合(図2参照)には、図18に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11aを透過後最初に到達する面、すなわち側面12に無反射コート19を施し、かつ側面12と向き合う鏡筒内面13aと側面12のなす角度を一定角度α1とする。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8d、第3反射面8cで反射し、分割コート11aを透過し、さらに側面12を透過して鏡筒内面13aで、プリズム9から外れる方向に反射する。従って、AFセンサーに到達する外光10は著しく減少する。
(実施例2)ポロプリズム4の第3反射面8cにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11bにした場合(図3参照)には、図19に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11bを透過後最初に到達する面、すなわち側面14に無反射コート19を施し、かつ側面14と向き合う鏡筒内面13bと側面14のなす角度を一定角度α2とする。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8dで反射し、分割コート11bを透過し、さらに側面14を透過して鏡筒内面13bでプリズム9から外れる方向に反射する。従って、AFセンサーに到達する外光10は著しく減少する。
(実施例3)ポロプリズム4の第4反射面8dにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11cにした場合(図4参照)には、図20に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11cを透過後最初に到達する面、すなわち側面15に無反射コート19を施し、かつ側面15と向き合う鏡筒内面13cと側面15のなす角度を一定角度α3とする。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、分割コート11cを透過し、さらに側面15を透過して鏡筒内面13cでプリズム9から外れる方向に反射する。従って、AFセンサーに到達する外光10は著しく減少する。
(実施例4)ポロプリズム4の第1反射面8aにプリズム9を接合してできた接合面を分割コート面11dにした場合(図5参照)には、図21に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11dを透過後最初に到達する面、すなわち側面16に無反射コート19を施し、かつ側面16と向き合う鏡筒内面13dと側面16のなす角度を一定角度α4とする。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8d、第3反射面8c、第2反射面8bで反射し、分割コート11dを透過し、さらに側面16を透過して鏡筒内面13dでプリズム9から外れる方向に反射する。従って、AFセンサーに到達する外光10は著しく減少する。
(実施例5)ポロプリズム4の前側(対物レンズ側)にビームスプリッタ17を配置した場合(図6参照)には、図22に示すように、接眼レンズ6からの外光10が、分割コート面11eを反射後最初に到達する面、すなわちビームスプリッタ17の側面18に無反射コート19を施し、かつ側面18と向き合う鏡筒内面13eと側面18のなす角度を一定角度α5とする。この場合、ポロプリズム4に入射した接眼レンズ6からの外光10は、第4反射面8d、第3反射面8c、第2反射面8b、第1反射面8aで反射し、ビームスプリッタ17に入射し、分割コート11eを反射し、側面18を透過して鏡筒内面13eでビームスプリッタ17から外れる方向に反射する。従って、分割コート面11eで反射し又は分割コート面11eを透過し、再度分割コート面11eに戻り透過又は反射することによりAFセンサ7に到達する外光10は著しく減少する。また、ビームスプリッタ17をポロプリズムの後側に配置した場合も同様の処置を施す。
【0016】
【発明の効果】
以上の説明から明らかな通り、本発明によれば接眼光学系からの外光が内面反射により焦点検出手段に入射しないようにしたため、該外光が対物光学系からの物体光束に干渉することなく正確なAF検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したトータルステーションの部分断面側面図である。
【図2】ポロプリズムの第2反射面にプリズムを接合した場合を示す斜視図である。
【図3】ポロプリズムの第3反射面にプリズムを接合した場合を示す斜視図である。
【図4】ポロプリズムの第4反射面にプリズムを接合した場合を示す斜視図である。
【図5】ポロプリズムの第1反射面にプリズムを接合した場合を示す斜視図である。
【図6】ポロプリズムの前側(対物レンズ側)にビームスプリッターを配置した場合を示す斜視図である。
【図7】(A)接眼レンズからの入射光がAF検出センサーへ入射する様子を示す側面図である。
(B)同正面図である。
【図8】本発明を適用した第一の実施形態の実施例1のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図9】本発明を適用した第一の実施形態の実施例2のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図10】本発明を適用した第一の実施形態の実施例3のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図11】本発明を適用した第一の実施形態の実施例4のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図12】本発明を適用した第一の実施形態の実施例5のポロプリズム、ビームスプリッタ、AF検出センサの配置を示す図である。
【図13】本発明を適用した第二の実施形態の実施例1のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図14】本発明を適用した第二の実施形態の実施例2のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図15】本発明を適用した第二の実施形態の実施例3のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図16】本発明を適用した第二の実施形態の実施例4のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図17】本発明を適用した第二の実施形態の実施例5のポロプリズム、ビームスプリッタ、AF検出センサの配置を示す図である。
【図18】本発明を適用した第三の実施形態の実施例1のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図19】本発明を適用した第三の実施形態の実施例2のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図20】本発明を適用した第三の実施形態の実施例3のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図21】本発明を適用した第三の実施形態の実施例4のポロプリズム、プリズム、AF検出センサの配置を示す図である。
【図22】本発明を適用した第三の実施例形態の実施例5のポロプリズム、ビームスプリッタ、AF検出センサの配置を示す図である。
【符号の説明】
1 トータルステーション
2 対物レンズ
3 合焦レンズ
4 ポロプリズム
5 焦点板
6 接眼レンズ
7 AF検出センサ
8a 第1反射面
8b 第2反射面
8c 第3反射面
8d 第4反射面
9 プリズム
10 外光
11a 11b 11c 11d 11e 分割コート面
12 側面
13 鏡筒内面
14 側面
15 側面
16 側面
17 ビームスプリッタ
18 側面
19 無反射コート
20 無反射面
α1 α2 α3 α4 α5 一定角度

Claims (10)

  1. 対物光学系および接眼光学系を備えた望遠光学系と、前記対物光学系を透過した物体光束を前記望遠光学系から分岐する分岐光学素子と、この分岐光学素子で分岐された物体光束を受光する受光手段を備えた焦点検出手段と、を備えた自動焦点検出測量機において、
    前記接眼光学系から入射した外光が前記分岐光学素子の分岐面を透過又は反射した後に最初に到達する前記分岐光学素子の1つの面に反射防止処理を施したことを特徴とする自動焦点検出測量機の遮光構造。
  2. 請求項1に記載の自動焦点検出測量機の遮光構造において、前記反射防止処理は、光拡散処理である自動焦点検出測量機の遮光構造。
  3. 請求項2に記載の自動焦点検出測量機の遮光構造において、前記光拡散処理は磨り面加工である自動焦点検出測量機の遮光構造。
  4. 請求項2または3に記載の自動焦点検出測量機の遮光構造において、前記反射防止処理を施した1つの面にさらに無反射塗装を施した自動焦点検出測量機の遮光構造。
  5. 請求項1に記載の自動焦点検出測量機の遮光構造において、前記反射防止処理は無反射コートであって、その無反射コートを施した面から射出した外光が入射する自動焦点検出測量機の内面に反射防止加工を施した自動焦点検出測量機の遮光構造。
  6. 請求項5に記載の自動焦点検出測量機の遮光構造において、前記反射防止加工に植毛部材を使用した自動焦点検出測量機の遮光構造。
  7. 請求項5に記載の自動焦点検出測量機の遮光構造において、前記反射防止加工にモルトプレーンを使用した自動焦点検出測量機の遮光構造。
  8. 請求項5に記載の自動焦点検出測量機の遮光構造において、前記反射防止加工を反射防止塗装とした自動焦点検出測量機の遮光構造。
  9. 対物光学系および接眼光学系を備えた望遠光学系と、前記対物光学系を透過した物体光束を前記望遠光学系から分岐する分岐光学素子と、この分岐光学素子で分岐された物体光束を受光する受光手段を備えた焦点検出手段と、を備えた自動焦点検出測量機において、
    前記接眼光学系から入射した外光が前記分岐光学素子の分岐面を透過又は反射した後に最初に到達する前記分岐光学素子の1つの面に無反射コートを施し、この面と対向する位置に、該分岐光学素子から射出した外光が分岐光学素子に入射しない方向に反射する面を設けたことを特徴とする自動焦点検出測量機の遮光構造。
  10. 請求項9に記載の自動焦点検出測量機の遮光構造において、前記分岐光学素子から射出した外光が該分岐光学素子に入射しない方向に反射する面は自動焦点検出測量機の鏡筒の内面に形成されている自動焦点検出測量機の遮光構造。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6945657B2 (en) 2000-10-19 2005-09-20 Pentax Corporation Surveying instrument
JP4519530B2 (ja) * 2004-06-09 2010-08-04 株式会社トプコン 測量機
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JP5787217B2 (ja) * 2011-06-30 2015-09-30 株式会社リコー 光学センサユニットおよび画像形成装置
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4534649A (en) * 1981-10-30 1985-08-13 Downs Michael J Surface profile interferometer
JPH07198914A (ja) * 1993-12-28 1995-08-01 Asahi Optical Co Ltd プリズム及びプリズムを有するファインダ
JP3648514B2 (ja) 1995-04-26 2005-05-18 ペンタックス株式会社 測量機の合焦調節装置
US5872661A (en) 1996-02-28 1999-02-16 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Automatic focusing apparatus for a telephotographic system
DE19710753C2 (de) 1996-03-15 2000-11-23 Asahi Optical Co Ltd Automatische Fokussiereinrichtung
US5877892A (en) 1996-04-01 1999-03-02 Asahi Seimitsu Kabushiki Kaisha Focus detecting apparatus for a telescope system
US5923468A (en) 1996-07-01 1999-07-13 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Surveying instrument having an automatic focusing device
US5936736A (en) * 1996-09-30 1999-08-10 Asahi Seimitsu Kabushiki Kaisha Focusing method and apparatus for a surveying instrument having an AF function, and arrangement of an AF beam splitting optical system therein

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