JP3539209B2 - バンプ付き電子部品のボンディング方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、バンプ付き電子部品を基板などの被圧着面にボンディングするバンプ付き電子部品のボンディング方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
バンプ付き電子部品を基板などの被圧着面にボンディングする方法として超音波圧接を用いる方法が知られている。この方法は、電子部品のバンプを基板に押圧しながら超音波振動を付与し、接合面を相互に摩擦させてボンディングするものである。このボンディング過程において、良好な接合性を確保するためには、バンプを基板の電極に対して適切な圧着荷重値で押圧する必要がある。このため、従来のバンプ付き電子部品のボンディング方法においては、ボンディングヘッドをバンプ付き電子部品に当接させて押圧を開始し、押圧荷重が所定値に到達した後にこの荷重値を所定時間保持することによりバンプを電極に接合する制御方法が用いられていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところでボンディング過程での電極に対するバンプの押圧状態を確認する意味で、電子部品と基板との隙間を適切に保つ必要がある。すなわちこの隙間が過大であれば押圧不足であり接合が完全になされてなく、また隙間が過小であれば押圧力によりバンプが押しつぶされて隣接したバンプとの短絡のおそれがあるなど、この隙間は接合状態の良否と密接な関係を有している。しかしながら、従来のバンプ付き電子部品のボンディング方法では、上述のように押圧荷重は制御されているものの、ボンディング過程でのバンプの押圧状態を制御することができず、その結果前述の隙間が一定せずに、押圧不足による接合不良や押圧過剰によるバンプのつぶれなど接合結果のばらつきが生じるという問題点があった。
【0004】
そこで本発明は、接合結果のばらつきを防止することができるバンプ付き電子部品のボンディング方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明のバンプ付き電子部品のボンディング方法は、ボンディングヘッドによってバンプ付き電子部品のバンプを被圧着面の電極に押圧して超音波振動を印加することにより前記電極にボンディングするバンプ付き電子部品のボンディング方法であって、前記ボンディングヘッドを下降させて前記バンプを前記電極に当接させる工程と、前記ボンディングヘッドを更に下降させてバンプの押圧荷重を増大させる工程と、前記押圧荷重を監視する工程と、この押圧荷重が目標値に到達したならば前記押圧荷重を作用させた状態で前記ボンディングヘッドに超音波振動を印加する工程と、前記バンプ付き電子部品と被圧着面との隙間を高さ計測手段により監視する工程と、この隙間が所定値に到達したならば前記超音波振動の印加を停止する工程とを含む。
【0006】
本発明によれば、バンプ付き電子部品と被圧着面との隙間の変化を監視しながら超音波振動を印加してバンプを被圧着面に押圧し、この隙間が所定の隙間に到達したならば前記超音波振動の印加を停止することにより、適正な隙間を確保してばらつきのないボンディングを行うことができる。
【0007】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態のバンプ付き電子部品のボンディング装置の正面図、図2は同バンプ付き電子部品のボンディング方法のフロー図、図3(a)は同ボンディング過程におけるボンディングヘッドの高さを示すグラフ、図3(b)は同ボンディング過程における押圧荷重を示すグラフ、図3(c)は同ボンディング過程における超音波振動子駆動電源出力を示すグラフである。
【0008】
まず、図1を参照してバンプ付き電子部品のボンディング装置の全体構造を説明する。1は支持フレームであって、その前面には第1昇降板2と第2昇降板3が昇降自在に設けられている。第1昇降板2にはシリンダ4が装着されており、そのロッド5は第2昇降板3に結合されている。シリンダ4は常時第2昇降板3を下方へ付勢する。第2昇降板3にはボンディングヘッド10が装着されている。支持フレーム1の上面にはZ軸モータ6が設けられている。Z軸モータ6は垂直な送りねじ7を回転させる。送りねじ7は第1昇降板2の背面に設けられたナット8に螺合している。したがってZ軸モータ6が駆動して送りねじ7が回転すると、ナット8は送りねじ7に沿って上下動し、第1昇降板2や第2昇降板3も上下動する。
【0009】
図1において、被圧着面である基板32は基板ホルダ33上に載せられており、基板ホルダ34はテーブル35上に載せられている。テーブル34は可動テーブルであって、基板32をX方向やY方向へ水平移動させ、基板32を所定の位置に位置決めする。主制御部35は、モータ駆動部36を介してZ軸モータ6を制御し、またテーブル制御部37を介してテーブル34を制御する。またシリンダ4は荷重制御部38を介して主制御部35に接続されており、シリンダ4のロッド5の突出力すなわちボンディングツール20でバンプ付きの電子部品30を基板32に押し付ける押圧荷重が制御される。
【0010】
ボンディングヘッド10の本体11の下端部にはロードセル13を介してホルダ12が結合されている。ホルダ12にはブロック14が装着されており、ブロック14にはボンディングツール20が固定されている。ボンディングツール20は超音波振動を発生する超音波振動子21を備えており、超音波振動子21は超音波振動子駆動部39により駆動される。ボンディングツール20は、中央部の下面に設けられた保持部に電子部品30を吸着して保持する。電子部品30を保持した状態でボンディングヘッド10を下降させ、電子部品30を基板32に押圧しながら超音波振動子21を駆動することにより、電子部品30は基板32にボンディングされる。
【0011】
上記ボンディング過程において、以下に述べる3種類の計測値が監視対象として設定されている。まずボンディング時の押圧加重はロードセル13によって検出され、荷重読取部42によって荷重データとして読みとられ、主制御部35に伝達される。また、ボンディングヘッド10の高さ位置は、第2昇降板3に設けられたリニアスケールユニット40によって計測され、高さ読取部41によって高さデータとして読みとられて主制御部35へ伝達される。このときの高さ計測の基準となる基準面は基板32の上面であり、予め標準的な基準面を想定して、固定された基準面を設定しておいてもよく、また基板によるばらつきを排除するため、ボンディング動作の都度基板32の上面の高さ位置を計測して基準面を補正するようにしてもよい。
【0012】
ボンディング過程における超音波振動子21の駆動電流は、電流測定部43によって測定され、測定結果は主制御部35へ伝達される。主制御部35には表示部44が接続されており、表示部44のモニタ画面には、上記計測値、すなわちボンディングヘッド10の高さ、押圧荷重および超音波振動子駆動出力がグラフ表示される。
【0013】
このバンプ付き電子部品のボンディング装置は上記のように構成されており、次に動作を図2のフローに沿って図3のグラフを参照しながら説明する。ボンディングツール20の保持部に電子部品30を真空吸着させて保持し、基板32の上方に位置させた状態から図2のフローが開始する。まずタイミングt0にてZ軸モータ6を駆動して電子部品30を保持したボンディングヘッド10を下降させる(ST1)。この後ボンディングヘッド10は下降し、タイミングt1にて電子部品30のバンプが基板32の電極上面に当接する。するとロードセル13の出力が変化してこの当接が主制御部35によって検出される(ST2)。
【0014】
このタイミングt1よりz軸モータ6の駆動を超低速に切り換え、シリンダ4による電子部品30の押圧荷重を徐々に増大させる(ST3)。また押圧開始とともに荷重読取部42により押圧荷重を監視する(ST4)。そして押圧荷重が規定の圧着荷重として設定された目標値に到達したか否かが判断される(ST5)。タイミングt2にて押圧荷重が目標値に到達したならば、Z軸モータ6の駆動を停止して電子部品30を基板へ押し付ける押圧荷重を固定する(ST6)。
【0015】
タイミングt1からタイミングt2の過程で、電子部品30のバンプは押圧荷重によって変形し、ボンディングヘッド10もこの変形に伴ってh1からh2へ下降する。タイミングt1の時点では、バンプの高さのばらつきや基板のうねり等により、ごく一部のバンプのみが基板に接触しているだけであるが、タイミングt2の時点では、ほぼ全てのバンプが基板と当接する。超音波接合においては超音波を印加する前に全てのバンプを基板に接触させておくことが接合品質を維持するために重要である。従って、押圧荷重の目標値は全てのバンプを基板に接触させるために必要な値に設定しておく。Z軸モータ6を停止したら、超音波振動子21の駆動が開始され(ST7)、これ以降に高さ読取部41によるボンディングヘッド10の高さ監視が開始する(ST8)。超音波が印加されることにより、バンプはさらに変形し、ボンディングヘッド10は徐々に下降する。
【0016】
そしてボンディングヘッド10の高さが設定高さh3に到達したか否か、すなわち電子部品30と基板32との隙間が所定位置に到達したか否かが判断され(ST9)、タイミングt3にて設定高さに到達したならば超音波振動子駆動を停止する(ST10)。この後ボンディングヘッド10を上昇させて(ST11)、電子部品30のボンディングを終了する。このように、ボンディング過程においてボンディングヘッドの高さが設定高さになるまで電子部品の押圧および超音波振動の付加を継続し、設定高さに到達した時点で押圧と超音波振動付与を停止することにより、ボンディング過程終了時には、電子部品30と基板32との隙間が常に適正に保たれ、ばらつきのないボンディングを行うことができる。
【0017】
【発明の効果】
本発明によれば、バンプ付きの電子部品と被圧着面の間の隙間の変化を監視しながら超音波振動を印加してバンプを被圧着面に押圧し、この隙間が所定の隙間に到達したならば前記超音波振動の印加を停止するようにしたので、適正な隙間を確保してばらつきのないボンディングを行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態のバンプ付き電子部品のボンディング装置の正面図
【図2】本発明の一実施の形態のバンプ付き電子部品のボンディング方法のフロー図
【図3】(a)本発明の一実施の形態のボンディング過程におけるボンディングヘッドの高さを示すグラフ
(b)本発明の一実施の形態のボンディング過程における押圧荷重を示すグラフ
(c)本発明の一実施の形態のボンディング過程における超音波振動子駆動電源出力を示すグラフ
【符号の説明】
12 ホルダ
13 ロードセル
20 ボンディングツール
21 超音波振動子
30 電子部品
32 基板
35 主制御部
38 荷重制御部
39 超音波振動子駆動部
40 リニアスケールユニット
41 高さ読取部
42 荷重読取部
43 電流測定部

Claims (1)

  1. ボンディングヘッドによってバンプ付き電子部品のバンプを被圧着面の電極に押圧して超音波振動を印加することにより前記電極にボンディングするバンプ付き電子部品のボンディング方法であって、前記ボンディングヘッドを下降させて前記バンプを前記電極に当接させる工程と、前記ボンディングヘッドを更に下降させてバンプの押圧荷重を増大させる工程と、前記押圧荷重を監視する工程と、この押圧荷重が目標値に到達したならば前記押圧荷重を作用させた状態で前記ボンディングヘッドに超音波振動を印加する工程と、前記バンプ付き電子部品と被圧着面との隙間を高さ計測手段により監視する工程と、この隙間が所定値に到達したならば前記超音波振動の印加を停止する工程とを含むことを特徴とするバンプ付き電子部品のボンディング方法。
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