JP3518104B2 - 高速液体クロマトグラフ用検出器 - Google Patents
高速液体クロマトグラフ用検出器Info
- Publication number
- JP3518104B2 JP3518104B2 JP28560995A JP28560995A JP3518104B2 JP 3518104 B2 JP3518104 B2 JP 3518104B2 JP 28560995 A JP28560995 A JP 28560995A JP 28560995 A JP28560995 A JP 28560995A JP 3518104 B2 JP3518104 B2 JP 3518104B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cooling fan
- detector
- liquid chromatograph
- performance liquid
- rotation speed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は高速液体クロマトグ
ラフ（以下ＨＰＬＣ）用検出器に係り、特に、冷却ファ
ンの回転数を検出する電気回路を備え、装置内部の過度
な温度上昇の原因である冷却ファンの異常時に、過熱状
態、特に電気部品の絶縁物の劣化による事故を防止する
ＨＰＬＣ用検出器に関する。
ラフ（以下ＨＰＬＣ）用検出器に係り、特に、冷却ファ
ンの回転数を検出する電気回路を備え、装置内部の過度
な温度上昇の原因である冷却ファンの異常時に、過熱状
態、特に電気部品の絶縁物の劣化による事故を防止する
ＨＰＬＣ用検出器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、冷却ファンの異常時に過熱状態、
特に電気部品の絶縁物の劣化による事故を防止する手段
は、温度によって短絡状態から開放状態にまで抵抗値が
変化するサーモスイッチや、温度の上昇にともない次第
に抵抗値が小さくなるサーミスタなど、温度変化によっ
て抵抗値が大きく変化する性質を持つ素子を用いて、温
度が上限値を超えたことを検出し、熱源となっている部
分の動作を停止させていた。しかしこの方式では、以下
の問題があった。
特に電気部品の絶縁物の劣化による事故を防止する手段
は、温度によって短絡状態から開放状態にまで抵抗値が
変化するサーモスイッチや、温度の上昇にともない次第
に抵抗値が小さくなるサーミスタなど、温度変化によっ
て抵抗値が大きく変化する性質を持つ素子を用いて、温
度が上限値を超えたことを検出し、熱源となっている部
分の動作を停止させていた。しかしこの方式では、以下
の問題があった。
【０００３】（１）熱源となる部品や、電気部品の絶縁
部分など、過熱状態が問題となる全ての箇所で実際に温
度の測定を行い、その結果より過熱状態を検出する最適
位置を決定する必要がある。
部分など、過熱状態が問題となる全ての箇所で実際に温
度の測定を行い、その結果より過熱状態を検出する最適
位置を決定する必要がある。
【０００４】（２）温度検出用の素子を用いるため、取
付位置の加工，ケーブルやコネクタが必要となる。
付位置の加工，ケーブルやコネクタが必要となる。
【０００５】（３）温度上限値に達するまで、すなわち
実際に過熱状態になるまでは異常を検出不可能である。
また、冷却ファンの異常が発生してから、装置が異常を
検出するまでに長時間を要する。
実際に過熱状態になるまでは異常を検出不可能である。
また、冷却ファンの異常が発生してから、装置が異常を
検出するまでに長時間を要する。
【０００６】（４）設定した上限値と周囲温度の関係に
加え、素子の検出温度にばらつきがあるため、裕度不足
による誤検出が発生する。
加え、素子の検出温度にばらつきがあるため、裕度不足
による誤検出が発生する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、装置の本体
ケース内部の過熱状態を防止するために、サーモスイッ
チや、サーミスタなどの温度検出用素子を必要としてい
たＨＰＬＣ用検出器に対して、冷却ファンの回転数を検
出することで、温度の過度な上昇の原因である冷却ファ
ンの異常を検出し、装置内が正常動作時の温度状態で、
熱源となる部分の動作を停止し、温度検出用素子を用い
ずに、過熱状態を防止するＨＰＬＣ用検出器を提供す
る。
ケース内部の過熱状態を防止するために、サーモスイッ
チや、サーミスタなどの温度検出用素子を必要としてい
たＨＰＬＣ用検出器に対して、冷却ファンの回転数を検
出することで、温度の過度な上昇の原因である冷却ファ
ンの異常を検出し、装置内が正常動作時の温度状態で、
熱源となる部分の動作を停止し、温度検出用素子を用い
ずに、過熱状態を防止するＨＰＬＣ用検出器を提供す
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、分析対象試料
に対して光を照射する光源と、冷却ファンと、前記光源
及び冷却ファンを制御する制御部とを備えた高速液体ク
ロマトグラフ用検出器において、前記制御部は、前記冷
却ファンの回転数を検出するように構成される。
に対して光を照射する光源と、冷却ファンと、前記光源
及び冷却ファンを制御する制御部とを備えた高速液体ク
ロマトグラフ用検出器において、前記制御部は、前記冷
却ファンの回転数を検出するように構成される。
【０００９】本発明では、冷却ファンの回転数を検出す
る電気回路を備えたことで、異物の接触や混入，冷却フ
ァン自体の故障等による回転数の低下や冷却ファンの停
止状態を検出することが可能となり、装置がまだ正常動
作時の温度状態で、熱源となる部分の動作を停止し、装
置の過熱状態を防止することが可能となる。
る電気回路を備えたことで、異物の接触や混入，冷却フ
ァン自体の故障等による回転数の低下や冷却ファンの停
止状態を検出することが可能となり、装置がまだ正常動
作時の温度状態で、熱源となる部分の動作を停止し、装
置の過熱状態を防止することが可能となる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明のＨＰＬＣ用検出器は、冷
却ファンの回転数を検出する電気回路を備えており、冷
却ファンの回転数の低下もしくは冷却ファンの停止状態
を認識する。事前に設定されたある回転数以下に冷却フ
ァンの回転が低下した場合、冷却ファンの風量の低下に
よる過熱状態を防ぐため、熱源となる部分の動作を停止
する手段を有している。
却ファンの回転数を検出する電気回路を備えており、冷
却ファンの回転数の低下もしくは冷却ファンの停止状態
を認識する。事前に設定されたある回転数以下に冷却フ
ァンの回転が低下した場合、冷却ファンの風量の低下に
よる過熱状態を防ぐため、熱源となる部分の動作を停止
する手段を有している。
【００１１】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明
する。図１は本発明のＨＰＬＣ用検出器、特にＵＶ−Vi
sible(紫外−可視）検出器の全体構成を示すブロック図
である。以下では、本発明の実施例としてＵＶ−Visibl
e 検出器を用いて説明するが、必ずしもＵＶ−Visible
検出器に限定されるべきものではなく、ＵＶ検出器やダ
イオードアレイ検出器，蛍光検出器など各種の検出器を
含むものである。
する。図１は本発明のＨＰＬＣ用検出器、特にＵＶ−Vi
sible(紫外−可視）検出器の全体構成を示すブロック図
である。以下では、本発明の実施例としてＵＶ−Visibl
e 検出器を用いて説明するが、必ずしもＵＶ−Visible
検出器に限定されるべきものではなく、ＵＶ検出器やダ
イオードアレイ検出器，蛍光検出器など各種の検出器を
含むものである。
【００１２】ＵＶ−Visible 検出器１は、本体ケース２
の中にフローセル３，ランプハウス４，分光器５，光セ
ンサ６，冷却ファン７，電源８，制御基板９を備えてい
る。ランプハウス４には光源であるＤ2 ランプ１０及び
ＷＩランプ１１が内蔵されている。Ｄ2 ランプ１０及び
ＷＩランプ１１は光とともに多量の熱を発生し、本体ケ
ース内部の温度を上昇させる熱源となっている。制御基
板９は、各種の入出力信号を処理する電気回路が載って
おり、電源８から供給された電力を冷却ファン７の回転
数を検出する電気回路を通して冷却ファン７に送ってい
る。冷却ファン７は、正常動作時はほぼ一定の回転数を
保ち、本体ケース２内部の空気を外部に吐き出すことに
よって、温度の過度な上昇を防いでいる。また、冷却フ
ァン７の回転数の低下もしくは停止が、装置内部の過熱
状態の原因となる。
の中にフローセル３，ランプハウス４，分光器５，光セ
ンサ６，冷却ファン７，電源８，制御基板９を備えてい
る。ランプハウス４には光源であるＤ2 ランプ１０及び
ＷＩランプ１１が内蔵されている。Ｄ2 ランプ１０及び
ＷＩランプ１１は光とともに多量の熱を発生し、本体ケ
ース内部の温度を上昇させる熱源となっている。制御基
板９は、各種の入出力信号を処理する電気回路が載って
おり、電源８から供給された電力を冷却ファン７の回転
数を検出する電気回路を通して冷却ファン７に送ってい
る。冷却ファン７は、正常動作時はほぼ一定の回転数を
保ち、本体ケース２内部の空気を外部に吐き出すことに
よって、温度の過度な上昇を防いでいる。また、冷却フ
ァン７の回転数の低下もしくは停止が、装置内部の過熱
状態の原因となる。
【００１３】図３は冷却ファン７に一定電圧を印加した
ときのファン電流波形及び冷却ファン７の回転数を検出
する電気回路各部の出力波形である。同じ波形を繰り返
す周期Ｔは、冷却ファン７の回転数と相関があり、回転
数が低下するほど周期Ｔは長くなる。また、強制的に回
転を完全に停止させた状態でも、電流は完全に零とはな
らないが、周期は正常時の約百倍に長くなる。
ときのファン電流波形及び冷却ファン７の回転数を検出
する電気回路各部の出力波形である。同じ波形を繰り返
す周期Ｔは、冷却ファン７の回転数と相関があり、回転
数が低下するほど周期Ｔは長くなる。また、強制的に回
転を完全に停止させた状態でも、電流は完全に零とはな
らないが、周期は正常時の約百倍に長くなる。
【００１４】図２は冷却ファン７の回転数を検出する電
気回路のブロック図を示す。冷却ファン７には図３の様
にパルス状に変化する電流が流れるため、単純に電流の
大小もしくは有無によって回転数を検出することはでき
ない。そこで本発明のHPLC用検出器では、図２に示すよ
うに、冷却ファン７と直列に、冷却ファン７を流れるフ
ァン電流波形３０の大きさおよび位相，周波数成分にほ
とんど影響を与えない低インピーダンス素子２０を挿入
する。そしてその低インピーダンス素子２０の両端にか
かる電圧を、交流増幅部２１で増幅する。その波形は交
流増幅部波形３１であり、この信号が波形整形部２２に
入力され、スレッショルド電圧ＶSHと比較して高い値の
部分を“Ｈ”レベル、それ以外の部分を“Ｌレベル”と
する、デジタル回路で取扱い可能な波形整形部波形３２
に整形された後、周期観測部２３に入力される。冷却フ
ァン７は正常動作時はほぼ一定の回転数なので、周期観
測部２３では、周期Ｔがある限度（本実施例では２ｔ、
ｔは正常時の周期）以上に長くなった場合、すなわち、
ある限度以上に冷却ファン７の回転数が低下した場合、
ＣＰＵ２４にエラー信号３３を出力する。エラー信号３
３を入力したＣＰＵ２４は本体ケース２内部の過度の温
度上昇を防ぐため、熱源であるＤ2 ランプ１０及びＷＩ
ランプ１１を消灯させる。もちろんＡ／Ｄコンバータ内
蔵のＣＰＵ等を用い、交流増幅部２１，波形整形部２
２，周期観測部２３の機能一部もしくは全部をＣＰＵ２
４のみでソフト的に処理し、同様のランプ消灯動作を行
ってもかまわない。また、ＣＰＵ２４がソフト的に行っ
ているランプ消灯動作をハード的に処理してもよい。
気回路のブロック図を示す。冷却ファン７には図３の様
にパルス状に変化する電流が流れるため、単純に電流の
大小もしくは有無によって回転数を検出することはでき
ない。そこで本発明のHPLC用検出器では、図２に示すよ
うに、冷却ファン７と直列に、冷却ファン７を流れるフ
ァン電流波形３０の大きさおよび位相，周波数成分にほ
とんど影響を与えない低インピーダンス素子２０を挿入
する。そしてその低インピーダンス素子２０の両端にか
かる電圧を、交流増幅部２１で増幅する。その波形は交
流増幅部波形３１であり、この信号が波形整形部２２に
入力され、スレッショルド電圧ＶSHと比較して高い値の
部分を“Ｈ”レベル、それ以外の部分を“Ｌレベル”と
する、デジタル回路で取扱い可能な波形整形部波形３２
に整形された後、周期観測部２３に入力される。冷却フ
ァン７は正常動作時はほぼ一定の回転数なので、周期観
測部２３では、周期Ｔがある限度（本実施例では２ｔ、
ｔは正常時の周期）以上に長くなった場合、すなわち、
ある限度以上に冷却ファン７の回転数が低下した場合、
ＣＰＵ２４にエラー信号３３を出力する。エラー信号３
３を入力したＣＰＵ２４は本体ケース２内部の過度の温
度上昇を防ぐため、熱源であるＤ2 ランプ１０及びＷＩ
ランプ１１を消灯させる。もちろんＡ／Ｄコンバータ内
蔵のＣＰＵ等を用い、交流増幅部２１，波形整形部２
２，周期観測部２３の機能一部もしくは全部をＣＰＵ２
４のみでソフト的に処理し、同様のランプ消灯動作を行
ってもかまわない。また、ＣＰＵ２４がソフト的に行っ
ているランプ消灯動作をハード的に処理してもよい。
【００１５】
【発明の効果】本発明のＨＰＬＣ用検出器は、冷却ファ
ンの回転数を検出する電気回路を備え、冷却ファンの回
転数の低下、あるいは停止状態を検出することで、本体
ケース内部の過熱状態を防止するので、サーモスイッチ
やサーミスタなどの温度を検出する素子が不要となる。
さらに、その素子を用いた場合に必要であった検出のた
めの最適位置の決定や取付位置の加工，ケーブルやコネ
クタが不要となる。
ンの回転数を検出する電気回路を備え、冷却ファンの回
転数の低下、あるいは停止状態を検出することで、本体
ケース内部の過熱状態を防止するので、サーモスイッチ
やサーミスタなどの温度を検出する素子が不要となる。
さらに、その素子を用いた場合に必要であった検出のた
めの最適位置の決定や取付位置の加工，ケーブルやコネ
クタが不要となる。
【００１６】さらに、冷却ファンの回転数低下や停止状
態が発生した時点で異常を検出するため、正常動作時の
温度状態で、熱源となる部分の動作を停止し、装置の過
熱状態を防止することが可能となる。
態が発生した時点で異常を検出するため、正常動作時の
温度状態で、熱源となる部分の動作を停止し、装置の過
熱状態を防止することが可能となる。
【図１】本発明のＨＰＬＣ用検出器の構成全体を示すブ
ロック図。
ロック図。
【図２】冷却ファンの回転数を検出する電気回路のブロ
ック図。
ック図。
【図３】冷却ファンの回転数を検出する電気回路の各部
の信号波形図。
の信号波形図。
１…ＵＶ−Visible 検出器、２…本体ケース、７…冷却
ファン、１０…Ｄ2 ランプ、１１…ＷＩランプ、２０…
低インピーダンス素子、２１…交流増幅部、２２…波形
整形部、２３…周期観測部、２４…ＣＰＵ。
ファン、１０…Ｄ2 ランプ、１１…ＷＩランプ、２０…
低インピーダンス素子、２１…交流増幅部、２２…波形
整形部、２３…周期観測部、２４…ＣＰＵ。
フロントページの続き
(72)発明者 池井 秀樹
茨城県ひたちなか市大字市毛882番地
株式会社 日立製作所 計測器事業部内
(56)参考文献 特開 平８−233659（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−122246（ＪＰ，Ａ)
特開 平９−53990（ＪＰ，Ａ)
特開 昭61−90056（ＪＰ，Ａ)
特開 昭60−73341（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 30/00 - 30/96
Claims (4)
- 【請求項１】分析対象試料に対して光を照射する光源
と、冷却ファンと、前記光源及び冷却ファンを制御する
制御部とを備えた高速液体クロマトグラフ用検出器にお
いて、前記制御部は、前 記冷却ファンの回転数を検出すること
を特徴とする高速液体クロマトグラフ用検出器。 - 【請求項２】 請求項１において、 前記冷却ファンと直列に接続される低インピーダンス素
子を備え、当該低インピーダンスの両端の電圧を検出す
ることを特徴とする高速液体クロマトグラフ用検出器。 - 【請求項３】 請求項２において、 前記低インピーダンスの両端から検出される出力波形の
周期が、予め設定された周期以上になった場合、前記制
御部はエラー信号を発することを特徴とする高速液体ク
ロマトグラフ用検出器。 - 【請求項４】 請求項３において、 前記エラー信号が発せられた場合に、前記光源を消灯す
ることを特徴とする高速液体クロマトグラフ用検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28560995A JP3518104B2 (ja) | 1995-11-02 | 1995-11-02 | 高速液体クロマトグラフ用検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28560995A JP3518104B2 (ja) | 1995-11-02 | 1995-11-02 | 高速液体クロマトグラフ用検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09127085A JPH09127085A (ja) | 1997-05-16 |
| JP3518104B2 true JP3518104B2 (ja) | 2004-04-12 |
Family
ID=17693750
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28560995A Expired - Fee Related JP3518104B2 (ja) | 1995-11-02 | 1995-11-02 | 高速液体クロマトグラフ用検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3518104B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006191501A (ja) * | 2005-01-07 | 2006-07-20 | Ricoh Co Ltd | 画像読取装置 |
-
1995
- 1995-11-02 JP JP28560995A patent/JP3518104B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006191501A (ja) * | 2005-01-07 | 2006-07-20 | Ricoh Co Ltd | 画像読取装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09127085A (ja) | 1997-05-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI260476B (en) | Temperature detection and control circuit | |
| US20190383870A1 (en) | Insulation detecting method for electric machine | |
| US5700089A (en) | Battery tester with load temperature detection | |
| CN109209962B (zh) | 风扇检测芯片、风扇检测方法及风扇检测系统 | |
| JP3518104B2 (ja) | 高速液体クロマトグラフ用検出器 | |
| KR0145614B1 (ko) | 온도보상 기능을 갖는 직류 전동기 과전류 검출장치 | |
| US6781389B1 (en) | Conductivity sensor for detecting conductivity of a fluid | |
| US20100102823A1 (en) | Error recognition in a control unit | |
| US6801031B1 (en) | Method and apparatus for current measurement for electronically-controlled pump | |
| KR20000048544A (ko) | 부하전류 검측용 전기회로 | |
| CN104810785B (zh) | 电力采集设备外部负载用试探性过流保护电路 | |
| JP3614687B2 (ja) | 火災警報器の点検方法およびその記録媒体 | |
| JPS5733332A (en) | Detection of abnormality in temperature sensor | |
| JP3509605B2 (ja) | 電気機器駆動回路における電界効果トランジスタの過熱診断装置 | |
| JP2000171385A (ja) | エアーフィルタ目詰まり検出方法 | |
| WO2024053013A1 (ja) | ノイズ除去回路及びセンサ | |
| JP2000018081A5 (ja) | ||
| KR960012517B1 (ko) | 빨래 건조기의 전류트랜스 검사장치 및 방법 | |
| JPH081589Y2 (ja) | 直接通電加熱装置 | |
| JP2615321B2 (ja) | 複合薄膜センサモジュール | |
| US4082948A (en) | Generator monitoring apparatus | |
| KR20040013586A (ko) | 차량용 매연 유입 차단 장치 및 방법 | |
| JP3401075B2 (ja) | 炎検出装置 | |
| JPH01138424A (ja) | 液体窒素液量計 | |
| JPS5925002Y2 (ja) | 熱伝導度検出器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040106 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040119 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080206 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |