JP3484100B2

JP3484100B2 - 試験装置の動作確認方法

Info

Publication number: JP3484100B2
Application number: JP14688299A
Authority: JP
Inventors: 保二郎塙
Original assignee: Fujitsu Telecom Networks Ltd
Current assignee: Fujitsu Telecom Networks Ltd
Priority date: 1999-05-26
Filing date: 1999-05-26
Publication date: 2004-01-06
Anticipated expiration: 2019-05-26
Also published as: JP2000338202A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、試験装置の動作確
認方法に関し、例えば二次電池の充放電試験を行う装置
が予め定めたとおりに動作しているか否かを確認するた
めに利用可能な動作確認方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば二次電池の電池性能を評価した
り、製品である二次電池の抜き取り検査を実施したり、
あるいは電池性能の改良研究を行ったりする場合に充放
電試験装置が用いられる。この種の充放電試験装置は、
二次電池の充電及び放電を短い周期で交互に繰り返した
り、充電電流，放電電流を変更したり、充放電の休止期
間を設けたり、様々な条件で充放電試験ができるように
構成される。

【０００３】実際に充放電試験を行う場合、充放電サイ
クルの条件を決定する１ステップ毎に、充放電の電流値
を決定するデータを入力する必要がある。一般に、充放
電試験装置は入力されたデータの電流値と実際に測定し
て得られた電流値との誤差が小さくなるように電源電流
などをフィードバック制御する。しかしながら、例えば
充放電試験装置の制御系や二次電池自体に不安定な要素
が存在する場合には、入力されたデータの電流値と実際
の充放電電流とが常に等しくなるという保証はない。

【０００４】従って、確実な試験を実施するためには、
入力したデータの電流値と実際の充放電電流とが等しく
なるように充放電試験装置が正しく動作しているか否か
を確認する必要がある。

【０００５】例えば、数秒程度の時間ステップ毎に充放
電電流を変更する試験の場合には、従来より１ステップ
毎に充放電試験装置にデータを入力し、その都度、オペ
レータが目視により入力データの電流値と実際に測定さ
れた電流値とを比較して動作を確認している。しかし、
例えば１秒以下の短い時間ステップ毎に充放電電流を繰
り返し変更するような試験を行う場合には、入力データ
の転送や更新にかかる時間の影響を考慮して、予め定め
た正確な時間間隔で電流値が変更されるようにしなけれ
ばならない。

【０００６】従って、複数ステップの入力データを予め
決定して記憶しておき、所定のスタート信号などに同期
して記憶された各ステップのデータを一定の時間間隔で
順次に転送して自動的に電流値を更新するのが望まし
い。このように、短い時間ステップ毎に充放電電流を変
更する場合には、目視で各ステップの実際の充放電電流
値を確認することはできない。このような場合、従来
は、自動記録計（ロガー）を用いて電流などの波形を全
時間に渡って記録したり、検出した電流のピーク値だけ
に基づいて動作を判定していた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】短い時間ステップ毎に
充放電電流を変更する場合には、電流などの波形を正確
に記録するためには、短い時間周期（例えば時間ステッ
プの１／１０）でデータをサンプリングして記録する必
要がある。従って、長時間に渡って試験をする場合に
は、記録のために大量のメモリや記録紙を消費する。ま
た、試験の後で記録された波形を確認する必要がある。

【０００８】また、検出した電流のピーク値だけに基づ
いて動作を判定する場合には、試験を行いながら動作が
正常か否かをを確認できるが、波形の一部分だけを参照
して動作を確認するので信頼性が低い。

【０００９】例えば、単位時間毎に実際に流れている電
流の瞬時値を測定し、測定した瞬時値を制御側の出力し
た電流設定値と比較することは可能である。しかし、電
流設定値を変更してから実際に流れる電流が電流設定値
に応じた電流値に到達するまでの立ち上がり及び立ち下
がりの時間遅れや、極性を変更する場合に発生する休止
期間などの影響があるため、電流設定値のタイミングと
検出した電流の各瞬時値のタイミングとが一致しない。

【００１０】仮に両者のタイミングをある時点で同期さ
せたとしても、他の時点ではタイミングがずれる可能性
がある。タイミングがずれると、正しい動作チェックが
できない。すなわち、正常に動作していても検出した電
流が許容範囲を外れる可能性がある。また、許容範囲を
広げると異常発生時にその異常を検出するのに時間がか
かるし、小さな異常は検出不可能になる。

【００１１】本発明は、上記の充放電試験装置のような
試験装置の動作を確認するための試験装置の動作確認方
法において、大量のメモリや記録紙を不要にするととも
に、試験を行っている途中であっても信頼性の高い動作
確認を可能にすることを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】請求項１の試験装置の動
作確認方法は、順次に送出される設定値群に応じて検査
対象物の状態を制御する試験装置を用い、前記検査対象
物の状態を示す測定値を検出して前記試験装置の動作を
確認する試験装置の動作確認方法であって、順次に送出
される前記設定値群に含まれる第１の設定値に基づいて
第１の許容範囲を決定し、検出した測定値を前記第１の
許容範囲と比較し、少なくとも前記測定値が前記第１の
許容範囲を外れる場合には、前記第１の設定値とは異な
る時点に現れる第２の設定値に基づいて第２の許容範囲
を決定し、前記測定値を前記第２の許容範囲と比較する
ことを特徴とする。

【００１３】ここでは、設定値群のタイミングに対して
検出される測定値のタイミングが遅れている場合を想定
する。例えば、設定値が５から１０に変化すると、設定
値が１０になってから遅れ時間を経過した後で測定値は
１０に近づく。設定値が５から１０に変化した直後に
は、現在の設定値の１０（第１の設定値）に基づいて第
１の許容範囲が決定されるのに対して、測定値にはまだ
変化後の設定値（１０）が反映されないので、測定値が
第１の許容範囲を外れることになる。

【００１４】ここで、第２の設定値として現在より少し
前の時点における変化前の設定値（５）を採用すると、
前記測定値は、第２の設定値に基づいて決定される第２
の許容範囲に入る可能性が高い。このような場合、例え
ば、第１の許容範囲を外れていても第２の許容範囲を外
れなければ「正常」とみなすように制御すれば、タイミ
ングのずれを許容できる。許容範囲を必要以上に広げる
必要はないので、異常検出の遅れや検出感度の低下を防
止できる。

【００１５】設定値群のタイミングに対して検出される
測定値のタイミングが時間的に進んでいる場合には、上
記の例とは逆に、現在より遅れた時点における設定値を
第２の設定値として採用することにより、タイミングの
ずれを許容できる。請求項２は、請求項１の試験装置の
動作確認方法において、少なくとも前記測定値が前記第
１の許容範囲を外れる場合には、前記第１の設定値より
前に現れる第３の設定値に基づいて第３の許容範囲を決
定し、前記第１の設定値より後で現れる第４の設定値に
基づいて第４の許容範囲を決定し、前記測定値を前記第
３の許容範囲及び前記第４の許容範囲と比較することを
特徴とする。

【００１６】例えば、設定値群のタイミングに対して検
出される測定値のタイミングが遅れている場合には、設
定値を前記第１の設定値より前に現れる第３の設定値に
基づいて決定される第３の許容範囲と比較することによ
り、正しい動作確認を行うことができる。また、設定値
群のタイミングに対して検出される測定値のタイミング
が時間的に進んでいる場合には、設定値を前記第１の設
定値より後で現れる第４の設定値に基づいて決定される
第４の許容範囲と比較することにより、正しい動作確認
を行うことができる。

【００１７】請求項３は、請求項１の試験装置の動作確
認方法において、検出した測定値が前記第１の許容範囲
を外れ、しかも前記測定値が前記第２の許容範囲内にあ
る場合には、前記設定値群と前記第１の設定値との相対
的なタイミングを変更することを特徴とする。検出した
測定値が前記第１の許容範囲を外れ、しかも前記測定値
が前記第２の許容範囲内にある場合には、設定値群のタ
イミングと検出される測定値のタイミングとがずれてい
る可能性がある。従って、そのような場合には前記設定
値群と前記第１の設定値との相対的なタイミングを変更
することによって両者のタイミングを同期させることが
できる。すなわち、検出した測定値が前記第１の許容範
囲に入るように自動的にタイミングを調整できる。

【００１８】請求項４は、請求項２の試験装置の動作確
認方法において、検出した測定値が前記第１の許容範囲
を外れ、しかも前記測定値が前記第３の許容範囲又は前
記第４の許容範囲の範囲内にある場合には、前記設定値
群と前記第１の設定値との相対的なタイミングを変更す
ることを特徴とする。検出した測定値が前記第１の許容
範囲を外れ、しかも前記測定値が前記第３の許容範囲内
にある場合には、設定値群のタイミングに比べて検出さ
れる測定値のタイミングが遅れている可能性がある。ま
た、検出した測定値が前記第１の許容範囲を外れ、しか
も前記測定値が前記第４の許容範囲内にある場合には、
設定値群のタイミングに比べて検出される測定値のタイ
ミングが進んでいる可能性がある。

【００１９】従って、そのような場合には前記設定値群
と前記第１の設定値との相対的なタイミングを変更する
ことによって両者のタイミングを同期させることができ
る。すなわち、検出した測定値が前記第１の許容範囲に
入るように自動的にタイミングを調整できる。請求項５
は、請求項４の試験装置の動作確認方法において、検出
した測定値が前記第１の許容範囲を外れ、しかも前記測
定値が前記第３の許容範囲及び前記第４の許容範囲の両
方の範囲内にある場合には、前記設定値群と前記第１の
設定値との相対的なタイミングの変更を禁止することを
特徴とする。

【００２０】前記第１の設定値のタイミングと、第３の
設定値，第４の設定値のタイミングとの時間差が前記設
定値群の更新間隔に比べて小さい場合を想定すると、設
定値群と測定値とのタイミングのずれによって測定値が
第１の許容範囲を外れる場合には、前記測定値は、通常
は前記第３の許容範囲及び前記第４の許容範囲のいずれ
か一方の範囲に入る可能性が高い。

【００２１】しかし、何らかの異常が生じると、検出し
た測定値が前記第１の許容範囲を外れた場合に、前記測
定値が前記第３の許容範囲内に入り、同時に前記測定値
が前記第４の許容範囲内にも入る可能性がある。このよ
うな場合には、タイミングの変更を禁止するのが望まし
い。請求項６は、請求項３又は請求項４の試験装置の動
作確認方法において、前記設定値群と前記第１の設定値
との相対的なタイミングの変更範囲を所定値以内に規制
することを特徴とする。

【００２２】前記設定値群から前記第１の設定値をサン
プリングする周期と設定値群の更新周期との比率が一定
だと仮定すると、前記設定値群のタイミングと前記第１
の設定値のタイミングとが時間の経過に伴って同一方向
に限りなくずれていくことはあり得ない。つまり、通常
は電流などの立ち上がり及び立ち下がりに伴う遅れや休
止期間の出現などによって、補正すべき遅れ時間や進み
時間は比較的小さい範囲内でのみ変動する。

【００２３】設定値群と第１の設定値との相対的なタイ
ミングの変更範囲を所定値以内に規制することによっ
て、同期制御における異常の発生を比較的短い時間で検
出できる。

【００２４】

【発明の実施の形態】本発明の試験装置の動作確認方法
の１つの実施の形態について、図１〜図７を参照して説
明する。この形態は全ての請求項に対応する。

【００２５】図１は図２に示すバッテリー試験装置の動
作確認制御の内容を示すフローチャートである。図２は
バッテリー試験装置の構成例を示すブロック図である。
図３はコントローラが出力する設定値及びバッテリーを
流れる電流値の例を示すタイムチャートである。図４は
コントローラが出力する設定値，バッテリーを流れる電
流値及びサンプリングタイミングの例を示すタイムチャ
ートである。

【００２６】図５は３つのサンプリングタイミングの間
で設定値が変化しない場合の設定値及び上下限値を示す
タイムチャートである。図６は３つのサンプリングタイ
ミングの間で設定値が増大する場合の設定値及び上下限
値を示すタイムチャートである。図７は３つのサンプリ
ングタイミングの間で設定値が減少する場合の設定値及
び上下限値を示すタイムチャートである。

【００２７】この形態では、図２に示すバッテリー試験
装置の動作確認に本発明の試験装置の動作確認方法を適
用する。図２に示すバッテリー試験装置は、検査対象の
バッテリー１０９の他に、コントローラ１００，電源部
１０１，充放電切り替え部１０２，負荷制御部１０３，
計測部１０４，表示装置１０５，補助記憶装置１０６，
入力装置１０７及び電流検出部１０８を備えている。

【００２８】このバッテリー試験装置は、バッテリー１
０９の充電試験及び放電試験を行う。バッテリー１０９
の充電のための電力は電源部１０１から供給される。放
電の際にバッテリー１０９から流出する電流は、負荷制
御部１０３に内蔵された電子負荷装置で消費される。充
放電切り替え部１０２は、バッテリー１０９の充電動作
と放電動作とを切り替える。

【００２９】電流検出部１０８は、バッテリー１０９を
流れる電流を検出する。電流検出部１０８は、例えば抵
抗器で構成することができる。計測部１０４は、電流検
出部１０８で検出された電流をサンプリングし、計測部
１０４に内蔵されたアナログ−ディジタル変換器によっ
て電流値をディジタル値に変換する。また、計測部１０
４はバッテリー１０９の温度なども計測する。

【００３０】マイクロコンピュータ（ＣＰＵ）やメモリ
を内蔵するコントローラ１００は、インタフェースＤＩ
Ｏを介して電源部１０１，充放電切り替え部１０２及び
負荷制御部１０３と接続され、インタフェースＧＰ−Ｉ
Ｂを介して負荷制御部１０３と接続され、インタフェー
スＰＣＩを介して計測部１０４と接続されている。コン
トローラ１００と接続された表示装置１０５は、バッテ
リー試験装置の動作状態を表示する。補助記憶装置１０
６は、フロッピーディスクやハードディスクで構成され
る。入力装置１０７は、キーボードやマウスを備えてい
る。

【００３１】バッテリー１０９の充電電流及び放電電流
を決定する設定値は、コントローラ１００から出力さ
れ、電源部１０１，充放電切り替え部１０２及び負荷制
御部１０３に入力される。この例では、コントローラ１
００が出力する設定値は、図３に示すように１秒毎に更
新される。図３に示すプラス側の電流値は充電電流を表
し、マイナス側の電流値は放電電流を表す。

【００３２】基本的には、設定値と同じ電流がバッテリ
ー１０９に流れるように制御されるが、実際には、図３
に示すように設定値の波形とバッテリー１０９を流れる
電流の波形とは多少異なっている。すなわち、設定値が
増大してから電流値が前記設定値に到達するまでの立ち
上がりや、設定値が減少してから電流値が前記設定値に
到達するまでの立ち下がりにはある程度の時間を必要と
する。また、充電状態から放電状態に切り替える場合に
は、充電を終了してからある程度の休止期間をおいてか
ら放電状態に切り替える必要があり、放電状態から充電
状態に切り替える場合には、放電を終了してからある程
度の休止期間をおいてから充電状態に切り替える必要が
ある。

【００３３】このような波形の違いがあるため、仮に設
定値の波形と検出した電流値の波形とが同期している場
合であっても、波形の立ち上がり，立ち下がりのタイミ
ングや休止期間において、設定値と検出した電流の大き
さとの間に大きな違いが生じる可能性がある。また、例
えば互いに異なる時点の多数の設定値をまとめてコント
ローラ１００から送出して、電流値の切り替えタイミン
グを電源部１０１，充放電切り替え部１０２，負荷制御
部１０３側で制御する場合には、実際にバッテリー１０
９を流れる電流が変化するタイミングをコントローラ１
００側で把握できない。従って、コントローラ１００が
把握している設定値の波形のタイミングと検出した電流
値の波形とが図３に示すように同期しているとは限らな
い。

【００３４】実際にバッテリー１０９を流れている電流
がコントローラ１００の送出した設定値とほぼ等しい場
合には、図２のバッテリー試験装置が正常に動作してい
るとみなすことができる。しかし、上記のような理由に
より設定値と検出した電流値とのタイミングや波形が必
ずしも一致しないため、設定値と検出した電流値との比
較は難しい。

【００３５】この例では、コントローラ１００は図１に
示す処理によりバッテリー試験装置自体の動作確認を行
っている。図１の各ステップの内容について、以下に説
明する。ステップＳ１０では、時間軸カウンタＴｎをク
リアするとともに、時間軸補正カウンタＴＣをクリアす
る。時間軸カウンタＴｎ及び時間軸補正カウンタＴＣの
値は、参照する設定値のタイミングの決定に利用され
る。

【００３６】ステップＳ１１では、所定のサンプリング
タイミングになったか否かを識別する。この例では、
０．１秒毎の一定間隔で図４に示すようにサンプリング
タイミングが繰り返し現れる。実際には、コントローラ
１００に内蔵されたタイマを用いてサンプリングタイミ
ングを決定している。従って、０．１秒を経過する毎に
次のステップＳ１２に進む。

【００３７】ステップＳ１２では、電流検出部１０８が
検出したバッテリー１０９の電流を計測部１０４でサン
プリングし、サンプリングした電流のレベルをアナログ
−デイジタル変換して得られた電流の実測データＤｄを
計測部１０４からコントローラ１００に入力する。ステ
ップＳ１３では、まず、当該サンプリングタイミングに
おける設定値（コントローラ１００が送出した値）Ｘｎ
を、時間軸カウンタＴｎの値と時間軸補正カウンタＴＣ
の値とを利用して求める。

【００３８】コントローラ１００が送出する設定値は、
この例では１秒ごとの更新タイミングで順次に更新され
るが、各時点に対応づけられた送出済みの設定値は、コ
ントローラ１００の内部メモリに送出順に並べて記憶さ
れている。そこで、経過時間を示す時間軸カウンタＴｎ
の値を用いて、各時点に対応づけられた送出済みの設定
値群の中から、いずれか１つの設定値を設定値Ｘｎとし
て取り出す。但し、サンプリングタイミングの現れる周
期は設定値の更新周期の１０倍なので、同一の設定値を
連続する１０個のサンプリングタイミングで繰り返し参
照してから次の設定値を参照する。

【００３９】例えば、図４に示す（Ｔｎ＝Ｋ）のサンプ
リングタイミングにおいては、設定値群の中からＫに対
応するタイミングの設定値Ｄｓ［Ｋ］を設定値Ｘｎとし
て取り出す。但し、コントローラ１００の把握している
設定値のタイミングが、現実に電流の制御に利用されて
いる設定値のタイミングと同期しているとは限らない。
そこで、時間軸カウンタＴｎの値だけでなく時間軸補正
カウンタＴＣの値をも用いて、１つの設定値を設定値Ｘ
ｎとして取り出す。例えば、図４に示す（Ｔｎ＝Ｋ）の
サンプリングタイミングにおいて（ＴＣ＝１）であれ
ば、設定値群の中から設定値Ｄｓ［Ｋ＋１］を設定値Ｘ
ｎとして取り出し、（ＴＣ＝−１）であれば、設定値群
の中から設定値Ｄｓ［Ｋ−１］を設定値Ｘｎとして取り
出す。

【００４０】また、ステップＳ１３では求めた設定値Ｘ
ｎと、設定誤差Ｅｘ及び測定値誤差Ｅｄを用いて、その
時点の許容誤差ΔＸｎを計算する。設定誤差Ｅｘは例え
ば１％に設定され、測定値誤差Ｅｄは例えば０．５に設
定される。ステップＳ１４では、ステップＳ１３で求め
た設定値Ｘｎと許容誤差ΔＸｎとを用いて、上限値ＳＨ
Ｃ及び下限値ＳＬＣをそれぞれ求める。

【００４１】また、ステップＳ１５では、現時点よりも
１つ前のサンプリングタイミングにおける上限値ＳＨＢ
及び下限値ＳＬＢと、現時点よりも１つ後のサンプリン
グタイミングにおける上限値ＳＨＡ及び下限値ＳＬＡと
をそれぞれ求める。現在のサンプリングタイミングと１
つ前のサンプリングタイミングと１つ後のサンプリング
タイミングとの間で設定値に変化がない場合には、例え
ば図５に示すように、上限値ＳＨＢ及びＳＨＡは上限値
ＳＨＣと同一になり、下限値ＳＬＢ及び下限値ＳＬＡは
下限値ＳＬＣと同一になる。

【００４２】しかし、現在のサンプリングタイミングと
１つ前のサンプリングタイミングと１つ後のサンプリン
グタイミングとの間で設定値が変化している場合には、
例えば図６又は図７に示すように、上限値ＳＨＢ又はＳ
ＨＡは上限値ＳＨＣと異なる値になり、下限値ＳＬＢ又
は下限値ＳＬＡも下限値ＳＬＣと異なる値になる。ステ
ップＳ１６では、ステップＳ１２で検出した電流の実測
データＤｄを、上限値ＳＨＣ及び下限値ＳＬＣと比較す
る。実測データＤｄのレベルが上限値ＳＨＣと下限値Ｓ
ＬＣと範囲内にある場合には、ステップＳ１６からＳ１
７に進み、図２に示すバッテリー試験装置の動作状態が
「正常」であるとみなす。

【００４３】ステップＳ１６において、実測データＤｄ
のレベルが上限値ＳＨＣと下限値ＳＬＣとの間から外れ
ていた場合にはステップＳ１８に進む。例えば、図２の
電源部１０１や負荷制御部１０３の電流制御に異常が発
生した場合には、実測データＤｄのレベルが上限値ＳＨ
Ｃと下限値ＳＬＣとの間から外れる可能性がある。

【００４４】但し、バッテリー試験装置の動作状態が
「正常」な場合であっても、コントローラ１００の把握
している設定値のタイミングが、現実に電流の制御に利
用されている設定値のタイミングに対してずれている場
合や、電流の立ち上がり及び立ち下がりの時間遅れや充
電と放電との切り替えに伴う休止期間の影響を受ける時
にも、実測データＤｄのレベルが上限値ＳＨＣと下限値
ＳＬＣとの間から外れる可能性がある。

【００４５】ステップＳ１８では、ステップＳ１２で検
出した電流の実測データＤｄを、１つ前のサンプリング
タイミングに対応する上限値ＳＨＢ及び下限値ＳＬＢと
比較する。実測データＤｄのレベルが上限値ＳＨＢと下
限値ＳＬＢと範囲内にある場合にはステップＳ１９に進
み、範囲外の場合にはステップＳ２２に進む。ステップ
Ｓ１９，Ｓ２２では、いずれにおいても、ステップＳ１
２で検出した電流の実測データＤｄを１つ後のサンプリ
ングタイミングに対応する上限値ＳＨＡ及び下限値ＳＬ
Ａと比較する。

【００４６】ステップＳ１９で実測データＤｄのレベル
が上限値ＳＨＡと下限値ＳＬＡとの範囲内にある場合に
はステップＳ２５に進み、範囲外の場合にはステップＳ
２０に進む。また、ステップＳ２２で実測データＤｄの
レベルが上限値ＳＨＡと下限値ＳＬＡとの範囲内にある
場合にはステップＳ２３に進み、範囲外の場合にはステ
ップＳ２５に進む。

【００４７】つまり、実測データＤｄのレベルが、現在
のサンプリングタイミングに対応する上限値ＳＨＣ及び
下限値ＳＬＣの範囲を外れ、しかも１つ前のサンプリン
グタイミングに対応する上限値ＳＨＢ及び下限値ＳＬＢ
の範囲内にあり、更に１つ後のサンプリングタイミング
に対応する上限値ＳＨＡ及び下限値ＳＬＡの範囲を外れ
る場合にステップＳ２０に進む。

【００４８】また、実測データＤｄのレベルが、現在の
サンプリングタイミングに対応する上限値ＳＨＣ及び下
限値ＳＬＣの範囲を外れ、しかも１つ前のサンプリング
タイミングに対応する上限値ＳＨＢ及び下限値ＳＬＢの
範囲を外れ、更に１つ後のサンプリングタイミングに対
応する上限値ＳＨＡ及び下限値ＳＬＡの範囲内にある場
合にステップＳ２３に進む。

【００４９】また、実測データＤｄのレベルが、現在の
サンプリングタイミングに対応する上限値ＳＨＣ及び下
限値ＳＬＣの範囲を外れ、しかも１つ前のサンプリング
タイミングに対応する上限値ＳＨＢ及び下限値ＳＬＢの
範囲を外れ、更に１つ後のサンプリングタイミングに対
応する上限値ＳＨＡ及び下限値ＳＬＡの範囲も外れる場
合にステップＳ２５に進む。

【００５０】また、実測データＤｄのレベルが、現在の
サンプリングタイミングに対応する上限値ＳＨＣ及び下
限値ＳＬＣの範囲を外れ、しかも１つ前のサンプリング
タイミングに対応する上限値ＳＨＢ及び下限値ＳＬＢの
範囲内にあり、更に１つ後のサンプリングタイミングに
対応する上限値ＳＨＡ及び下限値ＳＬＡの範囲内にある
場合にもステップＳ２５に進む。

【００５１】ステップＳ２０では、時間軸補正カウンタ
ＴＣの値を予め決定した下限値ＴＣminと比較する。時
間軸補正カウンタＴＣの値が下限値ＴＣminよりも大き
い場合には、次のステップＳ２１で時間軸補正カウンタ
ＴＣの値から１を減算してステップＳ１３に戻る。ステ
ップＳ１３及びＳ１５において参照する設定値は、時間
軸補正カウンタＴＣの値に応じて決定したサンプリング
タイミングに対応付けられた値なので、ステップＳ２１
で時間軸補正カウンタＴＣの値が更新される度にステッ
プＳ１３，Ｓ１５では異なるサンプリングタイミングの
設定値を参照することになる。

【００５２】例えば、時間軸カウンタＴｎがＫで時間軸
補正カウンタＴＣの値が０の場合にはステップＳ１３で
参照する設定値Ｘｎは図４のＤｓ［Ｋ］になるが、時間
軸補正カウンタＴＣの値が−１に更新されるとステップ
Ｓ１３の設定値Ｘｎは図４のＤｓ［Ｋ−１］になる。

【００５３】設定値が変化する時には、コントローラ１
００の把握している設定値のタイミングと実際の電流制
御で利用されている設定値との時間ずれＴｄ０や電流の
立ち上がりに要する時間Ｔｄ１によって、例えば図５に
示すようにサンプリングタイミングで参照される設定値
Ｄｓ［ｎ］と検出される電流値との間に大きな違いが生
じるため、実測データＤｄのレベルが上限値ＳＨＣ，下
限値ＳＬＣの範囲を外れる。

【００５４】しかし、ステップＳ２１で時間軸補正カウ
ンタＴＣの値を更新して処理を繰り返す場合には参照す
る設定値のタイミングが自動的に修正されるので、設定
値と電流とのタイミングのずれを吸収することができ
る。図５の例では、１回目の処理では設定値Ｄｓ［ｎ］
に基づいて上限値ＳＨＣ，下限値ＳＬＣを決定するため
実測データＤｄのレベルが上限値ＳＨＣ，下限値ＳＬＣ
の範囲を外れる。しかし、２回目の処理では設定値Ｄｓ
［ｎ−１］に基づいて上限値ＳＨＣ，下限値ＳＬＣを決
定するため図５に示す上限値ＳＨＢ，下限値ＳＬＢがそ
れぞれ上限値ＳＨＣ，下限値ＳＬＣになり、実測データ
Ｄｄのレベルは上限値ＳＨＣ，下限値ＳＬＣの範囲内に
入る。つまり、タイミングのずれは自動的に修正され
る。

【００５５】ステップＳ２３では、時間軸補正カウンタ
ＴＣの値を予め決定した上限値ＴＣmaxと比較する。時
間軸補正カウンタＴＣの値が上限値ＴＣmaxよりも小さ
い場合には、次のステップＳ２４で時間軸補正カウンタ
ＴＣの値に１を加算してステップＳ１３に戻る。ステッ
プＳ１３及びＳ１５において参照する設定値は、時間軸
補正カウンタＴＣの値に応じて決定したサンプリングタ
イミングに対応付けられた値なので、ステップＳ２４で
時間軸補正カウンタＴＣの値が更新される度にステップ
Ｓ１３，Ｓ１５では異なるサンプリングタイミングの設
定値を参照することになる。

【００５６】時間軸補正カウンタＴＣの値をステップＳ
２０で下限値ＴＣminと比較し、ステップＳ２３で上限
値ＴＣmaxと比較しているので、時間軸補正カウンタＴ
Ｃの変化範囲は上限値ＴＣmaxと下限値ＴＣminとの範囲
内に規制される。ステップＳ２５では、実測データＤｄ
のレベルがＳＨＣ，ＳＬＣの範囲を外れ、ＳＨＢ，ＳＬ
Ｂの範囲も外れ、更にＳＨＡ，ＳＬＡの範囲も外れてい
るか、あるいは、実測データＤｄのレベルがＳＨＣ，Ｓ
ＬＣの範囲を外れ、ＳＨＢ，ＳＬＢの範囲内に入り、し
かもＳＨＡ，ＳＬＡの範囲内にも入っているので、バッ
テリー試験装置の動作状態が「異常」であるとみなす。

【００５７】ステップＳ１７又はステップＳ２５で動作
状態を識別した後は、ステップＳ２６で時間軸カウンタ
Ｔｎの値に１を加算し、ステップＳ１１に戻る。そし
て、次のサンプリングタイミングになったら再び上記の
動作を繰り返す。なお、図１に示す処理についてはマイ
クロコンピュータなどのソフトウェア処理によって実現
してもよいし、専用のハードウェアで処理してもよい。

【００５８】なお、ここではバッテリー試験装置におけ
る充放電電流について動作を確認する場合を説明した
が、充放電電力，充放電電圧の場合も同様であり、本発
明の試験装置の動作確認方法は様々な試験装置に同様に
適用できる。

【００５９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば測
定値を第１の許容範囲だけでなく第２の許容範囲とも比
較するので、設定値と測定値との間にタイミングとのず
れが存在する場合であっても動作状態を正しく判定する
ことができる。設定誤差や測定誤差以上に許容範囲を広
げる必要がないので、小さな動作異常でも検出可能であ
り、検出の遅れも生じにくい。

【図面の簡単な説明】

【図１】図２に示すバッテリー試験装置の動作確認制御
の内容を示すフローチャートである。

【図２】バッテリー試験装置の構成例を示すブロック図
である。

【図３】コントローラが出力する設定値及びバッテリー
を流れる電流の例を示すタイムチャートである。

【図４】コントローラが出力する設定値，バッテリーを
流れる電流及びサンプリングタイミングの例を示すタイ
ムチャートである。

【図５】３つのサンプリングタイミングの間で設定値が
変化しない場合の設定値及び上下限値を示すタイムチャ
ートである。

【図６】３つのサンプリングタイミングの間で設定値が
増大する場合の設定値及び上下限値を示すタイムチャー
トである。

【図７】３つのサンプリングタイミングの間で設定値が
減少する場合の設定値及び上下限値を示すタイムチャー
トである。

【符号の説明】

１００コントローラ１０１電源部１０２充放電切り替え部１０３負荷制御部１０４計測部１０５表示装置１０６補助記憶装置１０７入力装置１０８電流検出部１０９バッテリー

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】順次に送出される設定値群に応じて検査
対象物の状態を制御する試験装置を用い、前記検査対象
物の状態を示す測定値を検出して前記試験装置の動作を
確認する試験装置の動作確認方法であって、順次に送出される前記設定値群に含まれる第１の設定値
に基づいて第１の許容範囲を決定し、検出した測定値を
前記第１の許容範囲と比較し、少なくとも前記測定値が前記第１の許容範囲を外れる場
合には、前記第１の設定値とは異なる時点に現れる第２
の設定値に基づいて第２の許容範囲を決定し、前記測定
値を前記第２の許容範囲と比較する、ことを特徴とする試験装置の動作確認方法。
【請求項２】請求項１の試験装置の動作確認方法にお
いて、少なくとも前記測定値が前記第１の許容範囲を外
れる場合には、前記第１の設定値より前に現れる第３の
設定値に基づいて第３の許容範囲を決定し、前記第１の
設定値より後で現れる第４の設定値に基づいて第４の許
容範囲を決定し、前記測定値を前記第３の許容範囲及び
前記第４の許容範囲と比較することを特徴とする試験装
置の動作確認方法。
【請求項３】請求項１の試験装置の動作確認方法にお
いて、検出した測定値が前記第１の許容範囲を外れ、し
かも前記測定値が前記第２の許容範囲内にある場合に
は、前記設定値群と前記第１の設定値との相対的なタイ
ミングを変更することを特徴とする試験装置の動作確認
方法。
【請求項４】請求項２の試験装置の動作確認方法にお
いて、検出した測定値が前記第１の許容範囲を外れ、し
かも前記測定値が前記第３の許容範囲又は前記第４の許
容範囲の範囲内にある場合には、前記設定値群と前記第
１の設定値との相対的なタイミングを変更することを特
徴とする試験装置の動作確認方法。
【請求項５】請求項４の試験装置の動作確認方法にお
いて、検出した測定値が前記第１の許容範囲を外れ、し
かも前記測定値が前記第３の許容範囲及び前記第４の許
容範囲の両方の範囲内にある場合には、前記設定値群と
前記第１の設定値との相対的なタイミングの変更を禁止
することを特徴とする試験装置の動作確認方法。
【請求項６】請求項３又は請求項４の試験装置の動作
確認方法において、前記設定値群と前記第１の設定値と
の相対的なタイミングの変更範囲を所定値以内に規制す
ることを特徴とする試験装置の動作確認方法。