JP3470105B2 - チルト検出装置および光ディスク装置、チルト検出方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザー光を光デ
ィスク媒体に照射することで情報の記録を行う光ディス
クとその光ディスク装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスク装置は大容量のデータ
を記録再生する手段として盛んに開発が行われ、より高
い記録密度を達成するためのアプローチがなされてお
り、その中の一つの方式に、結晶−非結晶間の可逆的な
状態変化を利用した相変化型光ディスク装置がある。

【０００３】相変化型の光ディスク装置では、結晶部を
アモルファス化するピークパワーと、アモルファス部を
結晶化するバイアスパワーの２つのパワーで半導体レー
ザーを光ディスク媒体に照射させることにより、光ディ
スク媒体上にマーク（アモルファス部）と、マークに挟
まれたスペース（結晶部）を形成する。

【０００４】これらマークおよびスペースは、ディスク
上の案内溝のランド部とグルーブ部の両方のトラックに
記録されるランド・グルーブ記録技術がある。

【０００５】光ディスクの信頼性を上げるためには、品
質のよい信号を光ディスクに記録再生する必要がある。
光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾き（チ
ルト角）があると、光スポットが収差をもち、品質のよ
い信号を光ディスクに記録再生することが困難である。
そのため、光ディスクに信号を記録再生するためには、
前記チルト角を正確に検出し、チルト角を補正する必要
がある。

【０００６】従来のチルト位置を補正する方法を図２に
示す。

【０００７】図２において、２０１は光ディスク、２０
２は、光ディスクに光ビームを集光させる光ヘッド、２
０３はチルト台、２０４は、演算回路、２０５は光スポ
ットを光ディスク面上に焦点位置制御するフォーカス制
御部、２０６は光スポットをトラック上に位置制御する
トラッキング制御部、２０７は前記光ビームの光軸に対
する光ディスクの記録面の傾きを検出するための光を光
ディスクに照射し、光ディスクで反射した光を受光し、
前記光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾き
を検出するチルトセンサ、２０８は前記チルトセンサの
検出値から、前記チルト台を傾け、前記光ビームの光軸
に対する前記光ディスクの記録面の傾きを制御する手段
としてのチルト制御部である。

【０００８】図３は従来の光ディスク装置で光ディスク
の内周および外周でチルト位置を補間した場合のグラフ
である。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の構
成では、光ディスクのチルト位置を検出するために、図
２で示したようなチルトセンサとチルト制御部を用いる
ために、前記光ビームの光軸に対する前記光ディスクの
記録面の傾きを補正する際に、光ヘッド２０２とは別に
チルト検出用のチルトセンサ２０７が必要であった。光
ヘッドとチルトセンサの２つの光学系は、光ディスク装
置を複雑にし、装置の実施規模を増大させコストアップ
を招く。また、光ヘッドとチルトセンサの２つの光学系
に対して光軸調整をしなければならず、調整作業を複雑
にし、前記光ビームの光軸に対する前記光ディスクの記
録面の傾き（チルト角）と、チルトセンサとの間に誤差
が生じ、正確にチルト角を検出することが困難であっ
た。

【００１０】本発明は、上述の課題をすべて解決するも
のであり、チルト検出手段の検出値が適切な値になるよ
うに、光スポットの品質および記録再生特性を改善する
ことを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】前記の問題点を解決する
ために本発明は、次の種種の観点を有する。

【００１２】第1の観点は、次の通りである。

【００１３】同心円またはスパイラル状に連続して形成
したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
と第２シフトピットとを有し、前記第１シフトピットは
繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピッ
トが繰り返し連続して設けられている光ディスクの記録
面の傾きを検出するチルト検出装置であって、前記光デ
ィスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記
録再生を行う光ヘッドと、前記光ディスクからの反射光
を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２
受光素子で受光する２分割光検出器と、前記光スポット
を２分割光検出器の差信号であるプシュプル信号を用い
てトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出器で
受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第３
和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を２分割
光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和
である第４和信号とを比較することによって前記トラッ
クのセンタと光スポットのセンタとのずれ量であるオフ
セット量を出力するオフトラック検出手段と、前記トラ
ッキング制御手段にオフトラック検出手段の出力を加算
し、光スポットがトラックのセンタに位置された状態
で、前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出
器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の差である
第１差信号の振幅（I）と、前記第２シフトピットから
の反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素
子からの出力の差である第２差信号の振幅（J）とを比
較することによって光ディスクの記録面の傾きを検出す
るチルト検出手段を有することを特徴とするチルト検出
装置である。

【００１４】

【００１５】

【００１６】

【００１７】

【００１８】

【００１９】

【００２０】

【００２１】

【００２２】第２の観点は、次の通りである。

【００２３】同心円またはスパイラル状に連続して形成
したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
と第２シフトピットを有し、前記第１シフトピットは繰
り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピット
が繰り返し連続して設けられている光ディスクの記録面
の傾きを検出し、補正する光ディスク装置であって、前
記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信
号の記録再生を行う光ヘッドと、前記光ディスクからの
反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第
１、第２受光素子で受光する２分割検出器と、前記光ス
ポットを２分割光検出器の差信号であるプシュプル信号
を用いてトラック上に位置制御するトラッキング制御手
段と、前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検
出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和であ
る第３和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を
２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出
力の和である第４和信号とを比較することによって前記
トラックのセンタと光スポットのセンタとのずれ量であ
るオフセット量を出力するオフトラック検出手段と、前
記トラッキング制御手段にオフトラック検出手段の出力
を加算し、光スポットがトラックのセンタに位置された
状態で、前記第１シフトピットからの反射光を２分割光
検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の差で
ある第１差信号の振幅（Ｉ）と、前記第２シフトピット
からの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２受
光素子からの出力の差である第２差信号の振幅（Ｊ）と
を比較することによって光ディスクの記録面の傾きを検
出するチルト検出手段と、チルト検出手段により検出さ
れたチルト量により光ディスクの角度を補正するチルト
補正手段とを有することを特徴とする光ディスク装置で
ある。

【００２４】第３の観点は、次の通りである。

【００２５】同心円またはスパイラル状に連続して形成
したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
と第２シフトピットとを有し、前記第１シフトピットは
繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピッ
トが繰り返し連続して設けられている光ディスクの記録
面の傾きを検出するチルト検出方法であって、前記光デ
ィスクに光ビームを絞った光スポットをあて、前記光デ
ィスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分
割された第１、第２受光素子で受光し、前記光スポット
を２分割光検出器の差信号であるプシュプル信号を用い
てトラック上に位置制御するトラッキング制御を行い、
前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出器で
受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第３
和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を２分割
光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和
である第４和信号とを比較することによって前記トラッ
クのセンタと光スポットのセンタとのずれ量をあらわす
オフトラック検出信号を生成し、前記トラッキング制御
を行う信号にオフトラック検出信号の出力を加算し、光
スポットがトラックのセンタに位置された状態で、前記
第１シフトピットからの反射光を受光し、第１、第２受
光素子からの出力の差である第１差信号の振幅（Ｉ）
と、前記第２シフトピットからの反射光を受光し、第
１、第２受光素子からの出力の差である第２差信号の振
幅（Ｊ）とを比較することによって光ディスクの記録面
の傾きを検出することを特徴とするチルト検出方法であ
る。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態及び参考
例における共通事項について、図面を参照しながら説明
する。

【００２７】図１に光ディスク装置の構成図を示す。

【００２８】図１において、１０１は光ディスク、１０
２は、光ディスクに光ビームを集光させる光ヘッド、１
００はａ、ｂ、ｃ、ｄの光検出素子からなる4分割光検
出器、１０３はチルト台、１０４は、演算回路、１０５
は光スポットを光ディスク面上に焦点位置制御するフォ
ーカス制御部、１０６は光スポットをトラック上に位置
制御するトラッキング制御部、１０７は前記光ビームの
光軸に対する光ディスクの記録面の傾きを検出するため
に、光検出器の出力から前記光ディスクの記録面の傾き
を検出するチルト検出部、１０８は前記チルト検出部の
検出値から、前記光ヘッドを傾け、前記光ビームの光軸
に対する前記光ディスクの記録面の傾きを補正するチル
ト補正部である。１１０はオフトラック検出部、１１１
はオフトラック制御部である。なお、4分割光検出器
は、ａ、ｄを一体物、ｂ、ｃを一体物と見た場合は、ト
ラック方向に平行に2分割された2分割光検出器と見るこ
ともできる。

【００２９】次に、記録再生動作の説明をする。

【００３０】光ヘッド１０２によって、光ディスク１０
１上に集光された光スポットは、フォーカス制御部１０
５によって、光ディスク１０１上にフォーカスされ、ト
ラッキング制御部１０６によって、光ディスク１０１の
所望の半径位置の所望のトラック位置に光スポットをト
ラッキングする。フォーカスおよびトラッキングされた
光スポットによって、光ディスク上の凹凸のピットある
いは、相変化光ディスクのような反射率の異なる濃淡の
マークを再生することによって、光ディスク上に記録さ
れたデータを読み出す。

【００３１】図４を用いて記録動作の説明をする。

【００３２】相変化型の光ディスク装置では、結晶部を
アモルファス化するピークパワー４０１と、アモルファ
ス部を結晶化するバイアスパワー４０２の２つのパワー
で半導体レーザを光ディスク媒体に照射させることによ
り、光ディスク媒体上にマーク（アモルファス部）４０
４と、マークに挟まれたスペース４０５（結晶部）を形
成する。

【００３３】マークとスペースでは反射率が異なるの
で、再生時にはこの反射率の違いを、前記ピークパワー
４０１および前記バイアスパワー４０２よりも低いパワ
ーである再生パワー４０３を利用して記録された信号を
読み出す。

【００３４】次に、図５を用いてチルトについて説明す
る。

【００３５】図５のように光ディスク５０１の中心と、
光ヘッド５０２から光ディスク５０１上に集光された光
スポットを結ぶ線上をラジアル方向５０４とよび、光デ
ィスク５０１のある平面上で前記ラジアル方向５０４に
垂直な方向をタンジェンシャル方向５０５とよぶ。ま
た、光ディスク５０１上の平面に垂直な方向をｚ軸方向
５０６とよぶ。

【００３６】チルトには、方向で区別すると、トラック
に直交する向きのラジアル方向のチルトとトラックに平
行な向きであるタンジェンシャル方向のチルトがある。

【００３７】図６を用いてラジアルチルト（Ｒチルト）
について説明する。

【００３８】図６において６０１は光ディスク、６０２
は光ヘッド、６０３はチルト台である。ラジアルチルト
（Ｒチルト）には、ディスクの反り、ディスクの回転に
よって生じる面ぶれ等によって生じるディスクＲチルト
６０４と、光ビームの光軸に対する前記光ディスク６０
１の記録面の傾き（チルト）が、光ヘッドの取り付け誤
差やチルト台の傾きによって生じるドライブＲチルト６
０５がある。本質的には、ディスクＲチルトとドライブ
Ｒチルトは区別せずにＲチルトとよぶ。

【００３９】図７を用いてタンジェンシャルチルト（Ｔ
チルト）について説明する。

【００４０】図７において７０１は光ディスク、７０２
は光ヘッド、７０３はチルト台である。タンジェンシャ
ルチルト（Ｔチルト）には、ディスク回転振動、ディス
クの面精度誤差等によって生じるディスクＴチルト７０
４と、光ビームの光軸に対する前記光ディスク７０１の
記録面の傾き（チルト）が、光ヘッドの取り付け誤差や
チルト台の傾きによって生じるドライブＴチルト７０５
がある。本質的には、ディスクＴチルトとドライブＴチ
ルトは区別せずにＴチルトとよぶ。

【００４１】次にＲチルトの検出方法を説明する。図１
のチルト検出部１０７におけるＲチルト検出方法には、
以下のものがある。 （１）トラッキングオンの状態、すなわち光ビームがト
ラックに沿って動作している状態で、光ディスクにあら
かじめ形成された案内溝で回折された光を受光した２分
割光検出器の差動信号（プシュプルＴＥ）の電圧を検出
してＲチルトを検出する方法。 （２）トラッキングオフの状態、すなわち光ビームがト
ラックを横断しながら動作している状態で、光ディスク
にあらかじめ形成された案内溝で回折された光を受光し
た２分割光検出器の差動信号（プシュプルＴＥ）の振幅
を検出してＲチルトを検出する方法。 （３）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらか
じめ周期的に蛇行（ウォブル）させながら形成された案
内溝のウォブル信号の振幅を検出してＲチルトを検出す
る方法。 （４）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらか
じめプリピットされているちどりマーク状の連続ピット
を再生したときの２分割光検出器の和信号出力の再生信
号の前半部と後半部の振幅あるいは下側信号のレベル
（下エンベロープ）あるいは上側信号のレベル（上エン
ベロープ）を比較してＲチルトを検出する方法。 （５）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらか
じめプリピットされているちどりマーク状の連続ピット
を再生したときの２分割光検出器の差信号出力の再生信
号の前半部と後半部の振幅を比較してＲチルトを検出す
る方法。 （６）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらか
じめプリピットされているちどりマーク状の孤立ピット
を再生したときの２分割光検出器の和信号出力の再生信
号の前半部と後半部の振幅あるいは下側信号のレベル
（下エンベロープ）を比較してＲチルトを検出する方法
がある。

【００４２】以上の内、（１）、（３）、（４）、
（５）、（６）の方法については、トラッキングオンの
状態でＲチルトの検出を行っている。たとえＲチルトま
たはＴチルトが生じていても、オフトラック検出部１１
０、オフトラック制御部１１１により、光スポットをト
ラックのセンタに位置させることが可能である。従っ
て、（１）、（３）、（５）、については、まず、オフ
トラック検出部１１０、オフトラック制御部１１１によ
り、光スポットをトラックのセンタに位置させる。その
状態で、光スポットの中心（真円部分の中心）を通り、
トラック方向に平行な線で光スポットを２分割し、それ
ぞれの分割部分の光量を調べる。2つの分割部分の光量
が等しい場合は、Ｒチルトがない場合であり、差が生じ
ている場合は、Ｒチルトがある場合である。

【００４３】以下の（１）、（３）、（４）、（５）、
（６）の方法の説明においては、オフトラック検出部１
１０、オフトラック制御部１１１により、光スポットは
トラックのセンタに位置させられているものとして説明
する。なお、オフトラック検出部１１０、オフトラック
制御部１１１の詳細については、後で、図２４から図２
９を参照しながら説明する。尚、本願発明において、前
記（５）の方法を実施の形態とし、前記（１）〜（４）
および（６）の方法を参考例として以下に説明する。

【００４４】参考例１ まず、（１）の光スポットが光ディスクにあらかじめ形
成された案内溝で回折された光を受光した2分割光検出
器の差動信号（プシュプルＴＥ）の電圧を検出してＲチ
ルトを検出する方法を参考例１として説明する。

【００４５】図１８が光ディスク上の案内溝の断面図と
そのときのトラッキングエラーを示す再生信号であるプ
シュプルＴＥ信号波形である。１８０１がグルーブトラ
ック、１８０２がランドトラックである。

【００４６】図１８に示す例は、トラッキングオン制御
がなされており、かつ、オフトラック制御がなされてい
る状態、すなわち光スポットがトラックのセンタに沿っ
て動作するように制御されている状態にある。図１８に
示す波形図は、再生時における2分割光検出器の差信号
出力（プシュプルＴＥ信号）を示す。

【００４７】Ｒチルト０度の時、プシュプルＴＥ信号
は、１８０３の基準レベルにある。Ｒチルトが＋０．４
度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生
じる。このとき、プシュプルＴＥ信号には位相シフトが
生じ前記Ｒチルトが０度のときの基準レベルからプシュ
プルＴＥ信号の再生信号にオフセット＋Ｇが生じる。Ｒ
チルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光ス
ポットに収差が生じる。このとき、プシュプルＴＥ信号
には位相シフトが生じ前記Ｒチルトが０度のときの基準
レベルからプシュプルＴＥ信号の再生信号にオフセット
−Ｇが生じる。Ｒチルトが＋０．４度のときと、Ｒチル
トが−０．４度のときにプシュプルＴＥ信号は基準レベ
ルからのオフセットＧが異なる。チルト検出部は、オフ
セットＧをチルト検出部の検出値として保持する。

【００４８】チルト制御部は、前記チルト検出値をチル
ト角とみなしてチルト角を補正する。

【００４９】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ｇの関係のシミュレーション結果が図１１である。シミ
ュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ
＝０．６、ラジアル方向における正規化された対物レン
ズ外周部の光強度であるＲＩＭ強度は０．２５、タンジ
ェンシャル方向ＲＩＭ強度は０．８３である。またスポ
ットはトラックの中心にトラッキングされている場合の
結果である。図１１でＲチルトが生じていない場合、プ
シュプルＴＥ信号のオフセットＧは０である。Ｒチルト
が発生すると、光スポットが収差をもち案内溝からの回
折光が真円とならず、光スポットの側部にこぶ状の1次
光スポットが形成される。Ｒチルトの角度が、＋の方向
にある場合（図6参照）は、＋1次光スポットが真円の右
側（図１８（ｃ）参照）に発生し、Ｒチルトの角度が、
−の方向にある場合は、−1次光スポットが真円の左側
（図１８（ａ）参照）に発生する。Ｒチルトが＋０．４
度のときとＲチルトが−０．４度のときでは案内溝から
の回折光を2分割光検出器で受光した場合の差動信号の
出力（プシュプルＴＥ信号）に差が生じる。前記プシュ
プルＴＥ信号のオフセットＧをプロットしたものが図１
１の曲線になる。

【００５０】チルト検出部は、前記プシュプルＴＥ信号
のオフセットＧをチルト角の検出値としてチルト角を検
出する。

【００５１】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記プシュプルＴＥ信号のオフセットＧ
が−０．０８である場合、図１１より、Ｒチルトは＋
０．４度であることから、チルト補正部１０８は、この
検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送
信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を
動かすことで、Ｒチルト角を補正する。

【００５２】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【００５３】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【００５４】参考例２ 次に、（２）のトラッキングオフの状態で、光スポット
が光ディスクにあらかじめ形成された案内溝から回折さ
れた光を受光した2分割光検出器の差動信号（プシュプ
ルＴＥ）の振幅を検出してＲチルトを検出する方法を参
考例２として説明する。

【００５５】ここでは、トラッキングオフの状態にある
ので、光スポットはトラックを横断するよう動作してい
る。図１９が光ディスク上の案内溝の配置図とそのとき
のプシュプルＴＥ信号波形である。１９０１が光スポッ
ト、１９０２が案内溝の中心であるトラック中心、１９
０３が前記光ディスクにあらかじめ形成された案内溝で
ある。

【００５６】トラッキングオフのときの2分割光検出器
の差信号出力（この場合プシュプルＴＥ信号）の再生時
の例である。

【００５７】Ｒチルト０度の時、プシュプルＴＥ信号の
振幅Ｋは大である。Ｒチルトが０．４度生じた場合、Ｒ
チルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、
プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋも回折の影響で振幅が減少
する。Ｒチルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによ
って光スポットに収差が生じる。このとき、プシュプル
ＴＥ信号の振幅Ｋも回折の影響で振幅が減少する。Ｒチ
ルトが＋０．４度のときと、Ｒチルトが−０．４度のと
きのプシュプルＴＥ信号の振幅Ｋは、Ｒチルトが０度の
ときの振幅Ｋと異なる。チルト検出部は、このプシュプ
ルＴＥ信号の振幅Ｋをチルト検出部の検出値として保持
する。

【００５８】チルト制御部は、前記チルト検出値をチル
ト角とみなしてチルト角を補正する。

【００５９】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ｋの関係のシミュレーション結果が図１２である。シミ
ュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ
＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェ
ンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。図１２でＲチ
ルトが生じていない場合、プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋ
は１．０である。Ｒチルトが発生すると、光スポットが
収差をもち案内溝からの回折光がＲチルトが±０．４度
のときとＲチルトが±０度のときでは案内溝からの回折
光を2分割光検出器で受光した場合の差動信号の出力
（プシュプルＴＥ信号）に差が生じる。前記プシュプル
ＴＥ信号の振幅Ｋをプロットしたものが図１２の曲線に
なる。

【００６０】チルト検出部は、前記プシュプルＴＥ信号
の振幅Ｋをチルト角の検出値としてチルト角を検出す
る。

【００６１】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋが０．
８である場合、図１２より、Ｒチルトは＋０．４度ある
いは−０．４度であることから、チルト補正部１０８
は、この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１
０９に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台
１０３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。

【００６２】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【００６３】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【００６４】参考例３ 次に、（３）の光スポットが光ディスクにあらかじめ周
期的に蛇行（ウォブル）させながら形成された案内溝か
ら回折された光を受光した2分割光検出器の差動信号
（ウォブル信号）の振幅を検出してＲチルトを検出する
方法を参考例３として説明する。

【００６５】図２０が光ディスク上の案内溝の配置図と
そのときのプシュプルＴＥ信号波形である。２００１が
光スポット、２００２が案内溝の中心であるトラック中
心、２００３があらかじめウォブルさせながら形成され
た案内溝である。

【００６６】ここでは、トラッキングオンの状態にある
ので、光スポットはトラックのセンタに沿って動作して
いる。図２０には、再生時における2分割光検出器の差
信号出力（この場合ウォブル信号）が示されている。

【００６７】Ｒチルト０度の時、ウォブル信号の振幅Ｈ
は最大である。Ｒチルトが０．４度生じた場合、Ｒチル
トによって光スポットに収差が生じる。このとき、ウォ
ブル信号の振幅Ｈも回折の影響で振幅が減少する。Ｒチ
ルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポ
ットに収差が生じる。このとき、ウォブル信号の振幅Ｈ
も回折の影響で振幅が減少する。Ｒチルトが＋０．４度
のときと、Ｒチルトが−０．４度のときのウォブル信号
の振幅Ｈは、Ｒチルトが０度のときの振幅Ｈと異なる。
チルト検出部は、このウォブル信号の振幅Ｈをチルト検
出部の検出値として保持する。

【００６８】チルト制御部は、前記チルト検出値をチル
ト角とみなしてチルト角を補正する。

【００６９】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ｈの関係のシミュレーション結果が図１３である。シミ
ュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ
＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェ
ンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポット
はトラックの中心にトラッキングされている場合の結果
である。図１３でＲチルトが生じていない場合、ウォブ
ル信号の振幅Ｈは０．０９である。Ｒチルトが発生する
と、光スポットが収差をもち案内溝からの回折光がＲチ
ルトが±０．４度のときとＲチルトが±０度のときでは
案内溝からの回折光を2分割光検出器で受光した場合の
差動信号の出力（ウォブル信号）に差が生じる。前記ウ
ォブル信号の振幅Ｈをプロットしたものが図１３の曲線
になる。

【００７０】チルト検出部は、前記ウォブル信号の振幅
Ｈをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。

【００７１】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記ウォブル信号の振幅Ｈが０．０８３
である場合、図１３より、Ｒチルトは＋０．４度あるい
は−０．４度であることから、チルト補正部１０８は、
この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９
に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０
３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。

【００７２】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【００７３】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【００７４】参考例４ 次に、（４）の光ディスクにあらかじめプリピットされ
ているちどりマーク状の連続ピットを再生したときの2
分割光検出器の和信号出力の再生信号の前半部と後半部
の下側信号のレベルを比較してＲチルトを検出する方法
を参考例４として説明する。

【００７５】図８が光ディスク上のピット配置図であ
る。８０１がデータを記録するためにスパイラル状に掘
られた案内溝のグルーブトラック、８０２が前記グルー
ブトラックに挟まれたランドトラックである。８０３
は、前記グルーブトラックの中心から外周側あるいは内
周側にウォブリングされて形成されている前半部の繰返
しピット列、８０４は前記前半部の繰返しピット列に続
いて、前記グルーブトラックの中心から前記前半部の繰
返しピット列とはトラック中心に対して対称位置にウォ
ブリングされて形成されている後半部の繰返しピット列
である。ウォブルされているピット列のラジアル方向の
ピット間隔１．１９μｍ、ピット幅０．３６μｍ、ピッ
ト深さλ／６、ピット長０．４６２μｍ、タンジェンシ
ャル方向ピット間隔１．１２μｍの繰返しパターン、ト
ラック中心からピット中心までの振り幅が０．３μｍ外
周あるいは内周側にウォブルされたピットである。ここ
でシフトされたピットが繰り返される間隔であるスペー
スＬｓは、ピット長をＬｐとした場合、Ｌｐ＜Ｌｓ＜２
Ｌｐを満たす。

【００７６】図２１に2分割光検出器の和信号出力の再
生時の例を示す。ここでは、トラッキングオンの状態に
あるので、光スポットはトラックのセンタに沿って動作
している。

【００７７】再生信号波形はＲチルト０度の時、前半部
の繰返しピットを再生した場合と、後半部の繰返しピッ
トを再生した場合、ピット列によって変調された和信号
出力の下側レベルＡｂとＢｂはＡｂ＝Ｂｂの関係にあ
る。Ｒチルトが０．４度生じた場合、Ｒチルトによって
光スポットに収差が生じる。このとき、前半部の繰返し
ピット列から再生される和信号出力の下側レベルＡｂ
と、後半部の繰返しピット列から再生される和信号出力
の下側レベルＢｂは異なる。チルト検出部は、この前半
部と後半部の和信号出力の下側信号レベルＡｂ−Ｂｂを
チルト検出部の検出値として保持する。

【００７８】Ｒチルトが−０．４度生じた場合、Ｒチル
トによって光スポットに収差が生じる。このとき、前半
部の繰返しピット列から再生される和信号出力の下側レ
ベルＡｂと、後半部の繰返しピット列から再生される和
信号出力の下側レベルＢｂは異なる。チルト検出部は、
この前半部と後半部の和信号出力の下側信号レベルＡｂ
−Ｂｂをチルト検出部の検出値として保持する。

【００７９】前記前半部と後半部の和信号出力の振幅
は、サンプルホールド回路によって、電圧のＤＣ値が保
持され、前半部の和信号出力の保持値Ａｂ、後半部の和
信号出力の保持値Ｂｂの差Ａｂ−Ｂｂをチルト検出値と
し、チルト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみ
なしてチルト角を補正する。

【００８０】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ａｂ−Ｂｂの関係のシミュレーション結果が図１４であ
る。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎ
ｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、
タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。また
スポットはトラックの中心にトラッキングされている場
合の結果である。図２１でＲチルトが生じていない場
合、和信号出力の下側レベルの差Ａｂ−Ｂｂは０であ
る。Ｒチルトが発生すると、光スポットが収差をもちピ
ットからの回折光のうち前半部の繰返しピットからの回
折光量と後半部の繰返しピットからの回折光量に差が生
じる。前記前半部の和信号出力の下側レベルＡｂと前記
後半部の和信号出力の下側レベルＢｂの差Ａｂ−Ｂｂを
プロットしたものが図１４の曲線になる。

【００８１】チルト検出部は、前記下側信号レベル差Ａ
ｂ−Ｂｂをチルト角の検出値としてチルト角を検出す
る。

【００８２】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記和信号出力の下側信号レベル差Ａｂ
−Ｂｂが−０．０６である場合、図１４より、Ｒチルト
は＋０．４度であることから、チルト補正部１０８は、
この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９
に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０
３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。

【００８３】ここでは、繰返しピット列の前半と後半の
和信号出力の下側信号レベルの差をチルト制御部の検出
値として説明したが、チルト検出値として和信号出力の
下側信号レベル差Ａｂ−Ｂｂの代わりに、繰返しピット
列の和信号出力の上側信号レベル差Ａｔ−Ｂｔを用いて
も構わない。

【００８４】ここでは、繰返しピット列の前半と後半の
和信号出力の下側信号レベルの差をチルト制御部の検出
値として説明したが、チルト検出値として和信号出力の
下側信号レベル差Ａｂ−Ｂｂの代わりに、繰返しピット
列の和信号出力の信号振幅差Ｃ−Ｄを用いても構わな
い。

【００８５】後で図２６、図２７と共に説明するよう
に、オフトラック検出においても前半の繰返しピット列
の和信号と、後半の繰返しピット列の和信号との差が用
いられている。上述より明らかなように、和信号は、お
よそ正弦波カーブを描いて変動しているので、和信号の
値は、（ｉ）上側信号レベルを採る場合と、（ｉｉ）下
側信号レベルを採る場合と、（ｉｉｉ）正弦波カーブの
振幅を採る場合の3通りの採り方がある。この（４）の
チルト検出方法を行う場合、（ｉ）、（ｉｉ）、（ｉｉ
ｉ）のいずれかひとつを採用すれば、オフトラック検出
においては、残りのいずれかひとつを採用するようにし
ている。これによりチルト検出に利用される信号と、オ
フトラック検出に利用される信号とが全く同じものにな
ることを回避している。

【００８６】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【００８７】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【００８８】参考例５ 次に（６）の光ディスクにあらかじめプリピットされて
いるちどりマーク状の孤立ピットを再生したときの2分
割光検出器の和信号出力の再生信号の前半部と後半部の
下側信号のレベルを比較してＲチルトを検出する方法を
参考例５として説明する。

【００８９】図９が孤立ピットを配した光ディスクのピ
ットの配置図とそのときの再生信号波形である。９０１
がデータを記録するためにスパイラル状に掘られた案内
溝のグルーブトラック、９０２が前記グルーブトラック
に挟まれたランドトラックである。９０３は、前記グル
ーブトラックの中心から外周側あるいは内周側にウォブ
リングされて形成されている前半部の孤立ピット、９０
４は、前記前半部の孤立ピットに続いて、前記グルーブ
トラックの中心から前記前半部の孤立ピットとはトラッ
ク中心に対して対称位置にウォブリングされて形成され
ている後半部の孤立ピットである。ウォブルされている
ピットのラジアル方向のピット間隔１．１９μｍ、トラ
ック方向の孤立ピット間隔１０μｍ以上、孤立ピットの
ピット幅０．３６μｍ、ピット深さλ／６、ピット長
０．４６２μｍ、トラック中心からピット中心までの振
り幅が０．３μｍ外周あるいは内周側にウォブルされた
ピットである。ここで、シフトされたピットが繰り返さ
れる間隔であるスペースＬｓは、ピット長をＬｐとした
場合、２０Ｌｐ＜Ｌｓを満たす。

【００９０】再生信号波形は、2分割光検出器の和信号
再生時の例である。ここでは、トラッキングオンの状態
にあるので、光スポットはトラックのセンタに沿って動
作している。

【００９１】再生信号波形はＲチルト０度の時、前半部
の孤立ピットを再生した場合と、後半部の孤立ピットを
再生した場合、ピットによって変調された和信号出力の
下側レベルＥとＦはＥ＝Ｆの関係にある。Ｒチルトが＋
０．６度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収
差が生じる。このとき、前半部の孤立ピットから再生さ
れる和信号出力の下側レベルＥと、後半部の孤立ピット
から再生される和信号出力の下側レベルＦは異なる。チ
ルト検出部は、この前半部と後半部の和信号出力の下側
信号レベル差Ｅ−Ｆをチルト検出部の検出値として保持
する。

【００９２】Ｒチルトが−０．６度生じた場合、Ｒチル
トによって光スポットに収差が生じる。このとき、前半
部の孤立ピットから再生される和信号出力の下側レベル
Ｅと、後半部の孤立ピットから再生される和信号出力の
下側レベルＦは異なる。チルト検出部は、この前半部と
後半部の和信号出力の下側信号レベル差Ｅ−Ｆをチルト
検出部の検出値として保持する。

【００９３】前記前半部と後半部の和信号出力の振幅
は、サンプルホールド回路によって、電圧のＤＣ値が保
持され、前半部の和信号出力の保持値Ｅ、後半部の和信
号出力の保持値Ｆの差Ｅ−Ｆをチルト検出値とし、チル
ト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみなしてチ
ルト角を補正する。

【００９４】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ｅ−Ｆの関係のシミュレーション結果が図１７である。
シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、
ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タン
ジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポ
ットはトラックの中心にトラッキングされている場合の
結果である。図１７でＲチルトが生じていない場合、和
信号出力の下側信号レベル差Ｅ−Ｆは０である。Ｒチル
トが発生すると、光スポットが収差をもちピットからの
回折光のうち前半部の孤立ピットからの回折光量と後半
部の孤立ピットからの回折光量に差が生じる。前記前半
部の和信号出力の下側信号レベルＥと前記後半部の和信
号出力の下側信号レベルＦの差Ｅ−Ｆをプロットしたも
のが図１７の曲線になる。

【００９５】チルト検出部は、前記和信号出力の下側信
号レベル差Ｅ−Ｆをチルト角の検出値としてチルト角を
検出する。

【００９６】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記和信号出力の下側信号レベル差Ｅ−
Ｆが＋０．０６である場合、図１７より、Ｒチルトは＋
０．６度であることから、チルト補正部１０８は、この
検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送
信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を
動かすことで、Ｒチルト角を補正する。

【００９７】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【００９８】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【００９９】このようにチルト検出部で検出された検出
値は、チルト補正部によって、チルト角が算出され、チ
ルト制御部によって、チルト台を動かして、Ｒチルトを
なくし、記録再生信号の信号品質を向上させる。

【０１００】なお、前述の（１）、（３）から（６）の
方法でＲチルトを検出するためには、光スポットがあら
かじめ案内溝で形成されたトラックの中心を走査してい
ることが望ましい。光ディスクのトラックの中心と光ス
ポットとのずれをオフトラックと呼ぶ。オフトラックが
０、すなわち、光スポットが光ディスクのあらかじめ形
成された案内溝の中心を走査していると前述の（１）、
（３）から（６）の方法でＲチルトを検出する場合によ
り精度よく、Ｒチルトを検出することが可能である。

【０１０１】実施の形態 次に、（５）の光ディスクにあらかじめプリピットされ
ているちどりマーク状の連続ピットを再生したときの2
分割光検出器の差信号出力の再生信号の前半部と後半部
の振幅を比較してＲチルトを検出する方法を実施の形態
として説明する。

【０１０２】図２３が光ディスク上のピット配置図であ
る。２３０１がデータを記録するためにスパイラル状に
掘られた案内溝のグルーブトラック、２３０２が前記グ
ルーブトラックに挟まれたランドトラックである。２３
０３は、前記グルーブトラックの中心から外周側あるい
は内周側にウォブリングされて形成されている前半部の
繰返しピット列、２３０４は前記前半部の繰返しピット
列に続いて、前記グルーブトラックの中心から前記前半
部の繰返しピット列とはトラック中心に対して対称位置
にウォブリングされて形成されている後半部の繰返しピ
ット列である。ウォブルされているピット列のラジアル
方向のピット間隔１．１９μｍ、ピット幅０．３６μ
ｍ、ピット深さλ／６、ピット長０．４６２μｍ、タン
ジェンシャル方向ピット間隔１．１２μｍの繰返しパタ
ーン、トラック中心からピット中心までの振り幅が０．
３μｍ外周あるいは内周側にウォブルされたピットであ
る。

【０１０３】トラッキングオンの時の2分割光検出器の
差信号出力について説明する。ここでは、トラッキング
オンの状態にあるので、光スポットはトラックのセンタ
に沿って動作している。

【０１０４】図２３で、2分割光検出器の一方のディテ
クタの出力がＮ１、もう一方のディテクタの出力がＮ２
である。トラック中心からウォブルされて配置されてい
る連続ピットを再生する場合、ディテクタの一方は、ピ
ットで回折された光によって、大きく変調されるが、も
う一方は、ピットによる回折の影響が少なく、光強度変
化は少ない。差信号出力は前記Ｎ１とＮ２の差信号出力
Ｎ１−Ｎ２で、Ｎ−の出力となる。

【０１０５】図２２に2分割光検出器の差信号出力の再
生時の例を示す。

【０１０６】再生信号波形はＲチルト０度の時、前半部
の繰返しピットを再生した場合と、後半部の繰返しピッ
トを再生した場合、ピット列によって変調された信号の
振幅ＩとＪはＩ＝Ｊの関係にある。Ｒチルトが０．４度
生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じ
る。このとき、前半部の繰返しピット列から再生される
差信号出力の振幅Ｉと、後半部の繰返しピット列から再
生される差信号出力の振幅Ｊは異なる。チルト検出部
は、この前半部と後半部の差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊを
チルト検出部の検出値として保持する。Ｒチルトが−
０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収
差が生じる。このとき、前半部の繰返しピット列から再
生される差信号出力の振幅Ｉと、後半部の繰返しピット
列から再生される差信号出力の振幅Ｊは異なる。チルト
検出部は、この前半部と後半部の差信号出力の振幅差Ｉ
−Ｊをチルト検出部の検出値として保持する。

【０１０７】前記前半部と後半部の差信号出力の振幅
は、サンプルホールド回路によって、電圧のＤＣ値が保
持され、前半部の差信号出力の保持値Ｉ、後半部の差信
号出力の保持値Ｊの差Ｉ−Ｊをチルト検出値とし、チル
ト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみなしてチ
ルト角を補正する。

【０１０８】上記のようにＲチルトが発生した状態での
Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値
Ｉ−Ｊの関係のシミュレーション結果が図１５である。
シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、
ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タン
ジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポ
ットはトラックの中心にトラッキングされている場合の
結果である。図１５でＲチルトが生じていない場合、差
信号出力の振幅の差Ｉ−Ｊは０である。Ｒチルトが発生
すると、光スポットが収差をもちピットからの回折光の
うち前半部の繰返しピットからの回折光量と後半部の繰
返しピットからの回折光量に差が生じる。前記前半部差
信号出力の振幅Ｉと前記後半部差信号出力の振幅Ｊの振
幅差Ｉ−Ｊをプロットしたものが図１５の曲線になる。

【０１０９】チルト検出部は、前記差信号出力の振幅差
Ｉ−Ｊをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。

【０１１０】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊが−０．
０９である場合、図１５より、Ｒチルトは＋０．４度で
あることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応
じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チル
ト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすこと
で、Ｒチルト角を補正する。

【０１１１】上記の場合、さらに光スポットがトラック
の中心から＋０．０２μｍオフトラックが生じている状
態での、Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出され
た検出値Ｉ−Ｊの関係のシミュレーション結果が図１６
である。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５
０ｎｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２
５、タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。
図１６でＲチルトが生じていない場合、差信号出力の振
幅の差Ｉ−Ｊは０である。Ｒチルトが発生すると、光ス
ポットが収差をもちピットからの回折光のうち前半部の
繰返しピットからの回折光量と後半部の繰返しピットか
らの回折光量に差が生じる。前記前半部差信号出力の振
幅Ｉと前記後半部差信号出力の振幅Ｊの振幅差Ｉ−Ｊを
プロットしたものが図１６の曲線になる。図１６の曲線
は、図１５の曲線とほとんど同じである。これは、光ス
ポットがトラックの中心にある場合（図１５）と、光ス
ポットがトラックの中心から＋０．０２μｍずれた位置
にある場合（図１６）とではチルト角の検出結果が同じ
であることを示す。

【０１１２】チルト検出部は、前記差信号出力の振幅差
Ｉ−Ｊをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。

【０１１３】例えば前記チルト検出部１０７で検出され
た検出値である前記差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊが−０．
０９である場合、図１６より、Ｒチルトは＋０．４度で
あることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応
じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チル
ト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすこと
で、Ｒチルト角を補正する。

【０１１４】

【０１１５】

【０１１６】なおシミュレーションで用いた光学条件に
限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。

【０１１７】前記チルト検出値は2分割光検出器にミラ
ー部からの反射光が１００％戻ってきた場合の光量を１
として規格化されている。

【０１１８】前記（５）のＲチルト検出方法における前
記オフトラックを補正する方法を以下で実施の形態とし
て説明する。また、以下のオフトラックを補正する方法
は、（５）のＲチルト検出方法に限らず前記（１）、
（３）および（４）のＲチルト検出方法におけるオフト
ラックを補正する方法として用いることも可能である。

【０１１９】オフトラックは、光ディスクにあらかじめ
ウォブルされて形成された、繰返しピット列を、光スポ
ットで再生する信号の和信号出力を用いて制御する。

【０１２０】図２４が光ディスク上のピット配置図であ
る。２４０１がデータを記録するためにスパイラル状に
掘られた案内溝のグルーブトラック、２４０２が前記グ
ルーブトラックに挟まれたランドトラックである。２４
０３は、前記グルーブトラックの中心から外周側あるい
は内周側にウォブリングされて形成されている前半部の
繰返しピット列、２４０４は前記前半部の繰返しピット
列に続いて、前記グルーブトラックの中心から前記前半
部の繰返しピット列とはトラック中心に対して対称位置
にウォブリングされて形成されている後半部の繰返しピ
ット列である。ウォブルされているピット列のラジアル
方向のピット間隔１．１９μｍ、ピット幅０．３６μ
ｍ、ピット深さλ／６、ピット長０．４６２μｍ、タン
ジェンシャル方向ピット間隔１．１２μｍの繰返しパタ
ーン、トラック中心からピット中心までの振り幅が０．
３μｍ外周あるいは内周側にウォブルされたピットであ
る。

【０１２１】図２５に2分割光検出器の和信号出力の再
生時の例を示す。

【０１２２】再生信号波形はオフトラック０の時、前半
部の繰返しピットを再生した場合と、後半部の繰返しピ
ットを再生した場合、ピット列によって変調された信号
の振幅ＬとＭはＬ＝Ｍの関係にある。オフトラックが
０．０２μｍ生じた場合、オフトラックによって2分割
光検出器の２つのディテクタの間に光量差が生じる。こ
のとき、前半部の繰返しピット列から再生される和信号
出力の振幅Ｌと、後半部の繰返しピット列から再生され
る和信号出力の振幅Ｍは異なる。この前半部と後半部の
和信号出力の振幅は、サンプルホールド回路によって、
電圧のＤＣ値が保持され、前半部の和信号出力の保持値
Ｌ、後半部の和信号出力の保持値Ｍの差Ｌ−Ｍをオフト
ラック検出値とし、この検出値をオフトラック位置とみ
なしてオフトラック位置を補正する。この場合、チルト
に依存せず、オフトラック位置を補正することが可能で
ある。

【０１２３】次に、チルト検出部によって検出された検
出値にもとづいて、光ディスクの異なる半径位置でのＲ
チルトの補正方法を、図１０を用いて説明する。

【０１２４】Ｒチルトはディスクの反りによって発生す
るため、光ディスクの内周から外周にかけてＲチルトの
大きさは図１０の曲線１００１のように変化する。

【０１２５】図１０において、１００１は、前記光ビー
ムの光軸に対する前記光ディスクの記録面の傾き（チル
ト）が、光ディスクの半径位置とともにどのように変化
しているかを表す実際のチルト曲線、１００２は前記チ
ルト曲線１００１上の内周の所定の半径位置でのチルト
量（またはチルト角）、１００３は前記チルト曲線１０
０１上の中周の所定の半径位置でのチルト量、１００４
は前記チルト曲線１００１上の外周の所定の半径位置で
のチルト量である。

【０１２６】次に、チルト検出部によって検出される検
出値から推定されるチルト量について説明する。１００
５は、前記チルト検出部によって、光ディスクの内周の
所定の半径位置で検出された検出値から推定されたチル
ト量、１００６は、前記チルト検出部によって、光ディ
スクの外周の所定の半径位置で検出された検出値から推
定されたチルト量、１００７は、前記チルト検出部によ
って、光ディスクの中周の所定の半径位置で検出された
検出値から推定されたチルト量、１００８は前記中周で
の推定されたチルト量１００７と、前記内周での推定さ
れたチルト量１００５および前記外周での推定されたチ
ルト量１００６を直線で補間した補間曲線１００８であ
る。

【０１２７】光ディスクは、チルトする際に内周と外周
でチルト量が異なる。このチルト量の半径位置による違
いを検出するために、本発明に関連する参考例の光ディ
スク装置では、図１０のように光ディスクの内周と外周
およびその間の中周の少なくとも３つの半径位置でのチ
ルト量を検出する。チルト角を検出した内周と中周の半
径位置の間にある半径位置でのチルト量は、前記内周で
の検出値から推定されたチルト量１００５と、前記中周
での検出値から推定されたチルト量１００７を直線で補
間した曲線１００８上の値を内周と中周の間での所望の
半径位置での推定されたチルト量としている。チルト角
を検出した外周と中周の半径位置の間にある半径位置で
のチルト量は、前記外周での検出値から推定されたチル
ト量１００６と、前記中周での検出値から推定されたチ
ルト量１００７を直線で補間した曲線１００８上の値を
外周と中周の間での所望の半径位置での推定されたチル
ト量としている。

【０１２８】この場合、光ディスクの中周の所定の半径
位置で推定されたチルト量１００７と実際の光ディスク
の中周でのチルト量１００３を正しく補正することが可
能であり、従来の方法に比べて、内外周でチルト量が異
なる光ディスクに対して、各半径位置で正確かつ精度よ
くチルト位置を補正することが可能であり、光ディスク
の記録再生時の信号品質を著しく向上させることが可能
である。

【０１２９】次にチルト補正部１０８の動作について説
明する。図１０において、内周の半径位置でチルト角
（Ｒチルト）が０度になっている。あるいは、内周のチ
ルト角を相対的に０度とする。光ディスクの外周部にお
いては、内周部に比べてディスクのたわみの影響でチル
ト角が大きくなっている。このたわみはディスク毎にば
らついており、各々のディスクでチルト角の半径位置に
対する大きさの特性は異なる。

【０１３０】光スポットが光ディスク面上に収束してい
る半径位置が外側に移動し、中周、あるいは外周で、前
記チルト検出部によってチルト角を検出し、１００８の
補間したチルト曲線におけるチルト角が内周でのチルト
角に比べて閾値（例えば０．４度）以上異なる場合は、
チルト補正部は、チルト角が前記閾値となる半径位置に
おいてチルト角が０になるようにチルト台１０３を動か
すよう指令する。

【０１３１】これにより、チルト角が内周から外周にか
けて生じるディスクのたわみによって生じるチルト角
を、チルト台を動かすことで小さくすることが可能であ
り、光ディスクの記録再生時の信号品質を向上させるこ
とが可能である。参考例６さらに、オフトラックの検
出、制御について、本発明の実施の形態で述べたオフト
ラック補正方法とは別の方法について参考例６として説
明する。

【０１３２】図２６を用いて、４分割検出器１００の４
つの受光素子からの出力ａ，ｂ，ｃ，ｄを受けて動作す
る演算回路１０４の動作について説明する。演算回路１
０４からは、 ＴＥ信号：（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）、 ＦＥ信号：（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）、 ＲＦ信号：（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）、 オフトラック検出信号（ＯＦ信号）： 対角和信号（ａ＋ｃ）、 対角和信号（ｂ＋ｄ） が生成される。

【０１３３】前記ＴＥ信号は、トラッキング制御部１０
６へ送られ、光スポットを光ディスクのトラック上にト
ラッキング位置制御するのに用いられる。前記ＦＥ信号
は、フォーカス制御部１０５へ送られ、光スポットを光
ディスク上に焦点位置制御するのに用いられる。前記Ｒ
Ｆ信号は、光ディスクに記録されているデータを読み出
し、再生信号となりデータ処理される。また前記ＲＦ信
号は、オフトラック検出部１１０に送られ、オフトラッ
ク位置検出に用いられる。前記オフトラック検出信号
（ＯＦ信号）はオフトラック検出部１１０へ送られ、オ
フトラック位置検出に用いられる。

【０１３４】次に、オフトラック検出部１１０で、前記
オフトラック検出信号からオフトラック位置が検出され
る過程を説明する。

【０１３５】オフトラック位置は、二組のオフトラック
検出信号の間の位相差を抽出することで検出される。

【０１３６】位相差信号の詳細を図２７を用いて説明す
る。

【０１３７】ここで図２７のように、光スポット２７０
１がトラックの中央にあるときにはディテクタ上での回
折光の強度は図２７の（Ｂ）のようになるため、対角和
信号（ａ＋ｃ）と（ｂ＋ｄ）の位相差は０である。ディ
スクが回転して、光スポットとピットの関係が矢印のよ
うに進んでも、この値は常にゼロで変わらない。光スポ
ットがトラックからずれて、図２７（Ａ）、図２７
（Ｃ）のようになって、ディスクの回転とともに図２７
の矢印の方向に移動したとき、対角和信号はともに正弦
波状の出力になるが、これらは、ＲＦ信号（ａ＋ｂ＋ｃ
＋ｄ）に対して位相が、＋９０度と−９０度の関係にな
るので、前記ＲＦ信号に対する対角和信号の位相差を検
出すれば光スポットがピットの中央からどれだけオフト
ラックしているかが検出できる。

【０１３８】オフトラック検出においても前半の繰返し
ピット列の和信号と、後半の繰返しピット列の和信号と
の差が用いられている。図21において説明したのと同様
に、対角和信号は、およそ正弦波カーブを描いて変動し
ているので、対角和信号の値は、（ｉ）上側信号レベル
を採る場合と、（ｉｉ）下側信号レベルを採る場合と、
（ｉｉｉ）正弦波カーブの振幅を採る場合の3通りの採
り方がある。

【０１３９】図２７（Ｄ）に位相差信号とオフトラック
の関係を表す波形を示す。図では（Ｂｓｉｇ）は、光ス
ポットがピットの中央を通った場合の出力点、（Ａｓｉ
ｇ）、（Ｃｓｉｇ）がそれぞれピットの左側および右側
を通った場合の出力点を示す。この位相差を用いてピッ
トの中心からのオフトラック位置が検出できる。

【０１４０】図２８（Ａ）のように光ディスク上にあら
かじめ記録されている凹凸のプリピット２８０５が案内
溝のグルーブトラックの中心に対してトラックをまたぐ
方向にＷａ（＝Ｔｐ／４）だけ振られた位置に連続に配
置されたピットを前半部プリピット列２８０３、前半部
プリピット列とはグルーブトラックの中心を基準に反対
側に振られた位置に連続に配置されたピット列を後半部
プリピット列２８０４とする。ここで前半部プリピット
の振り幅Ｗａと後半部プリピットの振り幅Ｗｂは等しく
配置されている（Ｗａ＝Ｗｂ）。配置されているピット
は、単一周波数の連続のピットが並んでいる。

【０１４１】図２８（Ｂ）はピットを中心とした位相差
信号のグラフである。光スポットが前半部プリピット列
のグルーブトラックの中心を通る場合、位相差信号の出
力はＰａ、光スポットが後半部プリピット列のグルーブ
トラックの中心を通る場合、位相差信号の出力はＰｂで
ある。これら前半部プリピット列での位相差信号と後半
部プリピット列の位相差信号を保持し、オフトラック検
出部で前半部プリピット列の出力と後半部繰返しピット
列の出力の和を計算した結果が図２８（Ｃ）である。光
スポットがトラックの中心を通った場合に、この位相差
和信号が０になる。

【０１４２】上記、条件に基づいてコンピュータシミュ
レーションを行った結果の説明をする。シミュレーショ
ンで用いた条件は以下の通りである。レーザー波長
（λ）６５０ｎｍ、対物レンズＮＡ０．６、タンジェン
シャル方向ＲＩＭ強度０．８３、ラジアル方向ＲＩＭ強
度０．２５、ディスクのトラックピッチ１．１９μｍ、
ピット深さλ／６、ピット幅０．３６μｍ、繰返しピッ
トの線方向の周期は１．１２ｕｍ、ピット長０．４６μ
ｍの繰返しウォブルピット列である。

【０１４３】図２９がＲチルトが生じた場合の特性であ
る。

【０１４４】図２９では（ａ）（ｂ）（ｃ）の順にＲチ
ルトを−０．６度、±０．０度、＋０．６度与えた場合
の、位相差信号を前半部ウォブルピットと後半部ウォブ
ルピットで演算したオフトラック検出信号を示す。横軸
はトラック中心を基準にしたオフトラック量を表してい
る。縦軸がオフトラック検出信号である。オフトラック
検出信号が０の場合がトラック中心である。（ｂ）の曲
線でＲチルトがない場合、グラフからオフトラック量に
応じたオフトラック検出信号が得られていることがわか
る。また、オフトラック位置が０のとき、オフトラック
検出信号も０となっている。

【０１４５】次にＲチルトが生じた場合、例えば（ａ）
の−０．６度傾いた場合、グラフからオフトラック量に
応じたオフトラック検出信号が得られていることがわか
る。また、オフトラック位置が０のとき、オフトラック
検出信号も０となっている。

【０１４６】（ｃ）の場合も同様である。

【０１４７】このように位相差信号とウォブル状に配置
された連続したプリピットを再生することで、Ｒチルト
に対する影響なくオフトラック量を精度よく検出するこ
とが可能である。

【０１４８】そのため、トラッキングの精度が向上し、
記録時に隣接トラックを消去してしまうクロス消去の影
響を除き、隣接トラックに記録された信号の信号品質を
向上させることが可能である。

【０１４９】

【発明の効果】以上のように本発明の光ディスク装置お
よび光ディスクのチルト制御方法によれば、記録再生信
号用の光学系とは別にチルト角検出用の光学系を必要と
せず、光ディスクにあらかじめ記録されているグルーブ
トラック、ランドトラックおよびグルーブトラックの中
心から外周側あるいは内周側に中心をずらせて形成され
ている繰返しピット列を用い、トラッキング信号および
チルト角を検出し、チルト補正部、チルト制御部を用い
てチルト角を補正することで記録再生時の信号品質を向
上させることが可能である。これによって、別途チルト
検出器を設ける必要がなく装置の実施規模を縮小させコ
ストを低減することができる。

【０１５０】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態における光ディスク装置の
構成図

【図２】従来の光ディスク装置の構成図

【図３】従来の光ディスクのチルト補正方法を表す図

【図４】本発明の実施の形態における光ディスク装置で
の記録再生を説明するための図

【図５】本発明の実施の形態において、光ディスクと光
ディスク装置の関係を示す構成図

【図６】本発明のＲチルトを説明するための図

【図７】本発明のＴチルトを説明するための図

【図８】光ディスクのピット配置の拡大図

【図９】本発明の参考例５の場合の波形図および光ディ
スクのピット配置図

【図１０】本発明の実施の形態における半径位置とＲチ
ルトの関係を表すグラフ

【図１１】本発明の参考例１の場合のＲチルトとプシュ
プルＴＥ信号の関係を表すグラフ

【図１２】本発明の参考例２の場合のＲチルトとプシュ
プルＴＥ信号振幅の関係を表すグラフ

【図１３】本発明の参考例３の場合のＲチルトとウォブ
ル信号振幅の関係を表すグラフ

【図１４】本発明の参考例４の場合のＲチルトと繰返し
連続ピット列の和信号下側信号レベル差の関係を表すグ
ラフ

【図１５】本発明の実施の形態の場合のＲチルトと繰返
し連続ピット列の差信号振幅差の関係を表すグラフ

【図１６】本発明の実施の形態の場合のオフトラックが
ある場合のＲチルトと繰返し連続ピット列の差信号振幅
差の関係を表すグラフ

【図１７】本発明の参考例５の場合のＲチルトと孤立ピ
ットの和信号下側信号レベル差の関係を表すグラフ

【図１８】本発明の参考例１の場合のＲチルトとプシュ
プルＴＥ信号の関係を説明するための図

【図１９】本発明の参考例２の場合のＲチルトとプシュ
プルＴＥ信号振幅の関係を説明するための図

【図２０】本発明の参考例３の場合のＲチルトとウォブ
ル信号振幅の関係を説明するための図

【図２１】本発明の参考例４の場合のＲチルトと繰返し
連続ピット列の和信号出力の関係を説明するための図

【図２２】本発明の実施の形態の場合のＲチルトと繰返
し連続ピット列の差信号出力の関係を説明するための図

【図２３】光ディスクのピット配置図および差信号出力
を説明するための図

【図２４】光ディスクのピット配置の拡大図

【図２５】本発明の参考例４の場合のオフトラックと繰
返し連続ピット列の和信号出力の関係を説明するための
図

【図２６】本発明の参考例６におけるオフトラック検出
方法を説明するための図

【図２７】本発明の参考例６における位相差信号を説明
するための図

【図２８】本発明の参考例６におけるオフトラック検出
方法を説明するための図

【図２９】本発明の参考例６におけるＲチルトに対する
オフトラック誤差のシミュレーション結果を示した図

【符号の説明】

１００ ４分割光検出器 １０１ 光ディスク １０２ 光ヘッド １０３ チルト台 １０４ 演算回路 １０５ フォーカス制御部 １０６ トラッキング制御部 １０７ チルト検出部 １０８ チルト補正部 １０９ チルト制御部 １１０ オフトラック検出部 １１１ オフトラック制御部 ８０３ 前半部繰返しピット列 ８０４ 後半部繰返しピット列 ９０３ 前半部孤立ピット ９０４ 後半部孤立ピット

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平10−208250（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−38939（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−76828（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/09 G11B 7/095

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】同心円またはスパイラル状に連続して形成
   したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
   れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
   第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
   と第２シフトピットとを有し、 前記第１シフトピットは繰り返し連続して設けられ、続
   いて前記第２シフトピットが繰り返し連続して設けられ
   ている光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出
   装置であって、 前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、
   信号の記録再生を行う光ヘッドと、 前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿
   って２分割された第１、第２受光素子で受光する２分割
   光検出器と、 前記光スポットを２分割光検出器の差信号であるプシュ
   プル信号を用いてトラック上に位置制御するトラッキン
   グ制御手段と、 前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出器で
   受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第３
   和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を２分割
   光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和
   である第４和信号とを比較することによって前記トラッ
   クのセンタと光スポットのセンタとのずれ量であるオフ
   セット量を出力するオフトラック検出手段と、 前記トラッキング制御手段にオフトラック検出手段の出
   力を加算し、光スポットがトラックのセンタに位置され
   た状態で、前記第１シフトピットからの反射光を２分割
   光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の差
   である第１差信号の振幅（Ｉ）と、前記第２シフトピッ
   トからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２
   受光素子からの出力の差である第２差信号の振幅（Ｊ）
   とを比較することによって光ディスクの記録面の傾きを
   検出するチルト検出手段を有することを特徴とするチル
   ト検出装置。
2. 【請求項２】 前記光ディスクは、前記第１シフトピッ
   トが繰り返される間隔であるスペースＬｓは、ピット長
   をＬｐとした場合、Ｌｐ＜Ｌｓ＜２Ｌｐであることを特
   徴とする請求項１記載のチルト検出装置。
3. 【請求項３】同心円またはスパイラル状に連続して形成
   したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
   れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
   第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
   と第２シフトピットを有し、 前記第１シフトピットは繰り返し連続して設けられ、続
   いて前記第２シフトピットが繰り返し連続して設けられ
   ている光ディスクの記録面の傾きを検出し、補正する光
   ディスク装置であって、 前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、
   信号の記録再生を行う光ヘッドと、 前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿
   って２分割された第１、第２受光素子で受光する２分割
   検出器と、 前記光スポットを２分割光検出器の差信号であるプシュ
   プル信号を用いてトラック上に位置制御するトラッキン
   グ制御手段と、 前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出器
   で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第
   ３和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を２分
   割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の
   和である第４和信号とを比較することによって前記トラ
   ックのセンタと光スポットのセンタとのずれ量であるオ
   フセット量を出力するオフトラック検出手段と、 前記トラッキング制御手段にオフトラック検出手段の出
   力を加算し、光スポットがトラックのセンタに位置され
   た状態で、前記第１シフトピットからの反射光を２分割
   光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の差
   である第１差信号の振幅（Ｉ）と、前記第２シフトピッ
   トからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２
   受光素子からの出力の差である第２差信号の振幅（Ｊ）
   とを比較することによって光ディスクの記録面の傾きを
   検出するチルト検出手段と、 チルト検出手段により検出されたチルト量により光ディ
   スクの角度を補正するチルト補正手段とを有することを
   特徴とする光ディスク装置。
4. 【請求項４】同心円またはスパイラル状に連続して形成
   したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けら
   れ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および
   第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピット
   と第２シフトピットとを有し、 前記第１シフトピットは繰り返し連続して設けられ、続
   いて前記第２シフトピットが繰り返し連続して設けられ
   ている光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出
   方法であって、 前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、 前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿
   って２分割された第１、第２受光素子で受光し、 前記光スポットを２分割光検出器の差信号であるプシュ
   プル信号を用いてトラック上に位置制御するトラッキン
   グ制御を行い、 前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出器
   で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第
   ３和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を２分
   割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の
   和である第４和信号とを比較することによって前記トラ
   ックのセンタと光スポットのセンタとのずれ量をあらわ
   すオフトラック検出信号を生成し、 前記トラッキング制御を行う信号にオフトラック検出信
   号の出力を加算し、光スポットがトラックのセンタに位
   置された状態で、前記第１シフトピットからの反射光を
   受光し、第１、第２受光素子からの出力の差である第１
   差信号の振幅（Ｉ）と、前記第２シフトピットからの反
   射光を受光し、第１、第２受光素子からの出力の差であ
   る第２差信号の振幅（Ｊ）とを比較することによって光
   ディスクの記録面の傾きを検出することを特徴とするチ
   ルト検出方法。