JP4153621B2 - チルト検出装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光を光ディスク媒体に照射することで情報の記録を行う光ディスクとその光ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ディスク装置は大容量のデータを記録再生する手段として盛んに開発が行われ、より高い記録密度を達成するためのアプローチがなされており、その中の一つの方式に、結晶−非結晶間の可逆的な状態変化を利用した相変化型光ディスク装置がある。
【０００３】
相変化型の光ディスク装置では、結晶部をアモルファス化するピークパワーと
、アモルファス部を結晶化するバイアスパワーの２つのパワーで半導体レーザを光ディスク媒体に照射させることにより、光ディスク媒体上にマーク（アモルファス部）と、マークに挟まれたスペース（結晶部）を形成する。
【０００４】
これらマークおよびスペースは、ディスク上の案内溝のランド部とグルーブ部の両方のトラックに記録されるランド・グルーブ記録技術がある。
【０００５】
光ディスクの信頼性を上げるためには、品質のよい信号を光ディスクに記録再生する必要がある。光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾き（チルト角）があると、光スポットが収差をもち、品質のよい信号を光ディスクに記録再生することが困難である。そのため、光ディスクに信号を記録再生するためには
、前記チルト角を正確に検出し、チルト角を補正する必要がある。
【０００６】
従来のチルト位置を補正する方法を図２に示す。
【０００７】
図２において、２０１は光ディスク、２０２は、光ディスクに光ビームを集光させる光ヘッド、２０３はチルト台、２０４は、信号演算回路、２０５は光スポットを光ディスク面上に焦点位置制御するフォーカス制御手段、２０６は光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段、２０７は前記光ビームの光軸に対する光ディスクの信号の傾きを検出するための光を光ディスクに照射し、光ディスクで反射した光を受光し、前記光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルトセンサ、２０８は前記チルトセンサの検出値から、前記チルト台を傾け、前記光ビームの光軸に対する前記光ディスクの記録面の傾きを制御するチルト制御手段である。
【０００８】
図３は従来の光ディスク装置で光ディスクの内周および外周でチルト位置を補完した場合のグラフである。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら従来の構成では、光ディスクのチルト位置を検出するために、図２で示したようなチルトセンサとチルト制御手段を用いるために、前記光ビームの光軸に対する前記光ディスクの記録面の傾きを補正する際に、光ヘッド２０２とは別にチルト検出用のチルトセンサ２０７が必要であった。光ヘッドとチルトセンサの２つの光学系は、光ディスク装置を複雑にし、装置の実施規模の増大させコストアップを招く。また、光ヘッドとチルトセンサの２つの光学系に対して光軸調整をしなければならず、調整作業を複雑にし、前記光ビームの光軸に対する前記光ディスクの記録面の傾き（チルト角）と、チルトセンサとの間に誤差が生じ、正確にチルト角を検出することが困難であった。
【００１０】
本発明は、上述の課題をすべて解決するものであり、チルト検出手段の検出値が適切な値になるように、光ディスクの内周、中周、外周の各半径位置で光ビームの光軸に対する光ディスクの傾きを補正し、光スポットの品質および記録再生特性を改善することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
前記の問題点を解決するために本発明は、次の種種の観点を有する。なお、第１の観点〜第５の観点、第９の観点〜第１８の観点、第２０の観点〜第２６の観点は、明細書の最後に、参考例として説明されている。
【００１２】
第６の観点は実施の形態における（５）に対応するものである。
【００１３】
同心円またはスパイラル状に連続したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットとを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２受光素子で受光する２分割光検出器と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記第１シフトピットからの反射光を前記２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の差である第１差信号と、前記第２シフトピットからの反射光を前記２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の差である第２差信号とを比較することによって光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段を有することを特徴とするチルト検出装置である。
【００１４】
第７の観点は実施の形態における（５）、特に図２２に示す上側信号レベルに対応するものである。
【００１５】
第6の観点のチルト検出装置において、前記チルト検出手段は、第1差信号のエンベロープの絶対値の高い方のレベルと、前記第２差信号のエンベロープの絶対値の高い方のレベルとを比較することを特徴とする。
【００１６】
第８の観点は実施の形態における（５）、特に図２２に示す振幅に対応するものである。
【００１７】
第6の観点のチルト検出装置において、前記チルト検出手段は、第1差信号の振幅と、前記第２差信号の振幅とを比較することを特徴とする。
【００１８】
第１９の観点は実施の形態における（５）に対応するものである。
【００１９】
同心円またはスパイラル状に連続したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットとを有する光ディスクの記録面の傾きを検出し、補正する光ディスク装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２受光素子で受光する２分割光検出器と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の差である第１差信号と、前記第２シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の差である第２差信号とを比較することによって光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段と、
チルト検出手段により検出されたチルト量により光ディスクの角度を制御するチルト補正手段とを有することを特徴とする光ディスク装置である。
【００２０】
第２７の観点は実施の形態における図２６、図２７に対応するものである。
【００２１】
本発明にかかる、チルト検出装置において、前記第１及び第２のシフトピットからの反射光を４分割光検出器で受光し、前記４分割ディテクタの対角和信号出力の内、前後それぞれのピットに対応する出力値の位相を比較することによって、前記トラッキング制御のオフセット量であるオフトラック検出手段を有し、前記トラッキング制御手段に加算していることを特徴とする。
【００２２】
第２８の観点は実施の形態における図２６，図２７に対応するものである。
【００２３】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックを有する光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光スポットを光ディスク面上に焦点位置制御するフォーカス制御手段と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
直交する分割線で４分割された受光面で、前記光ビームの反射光を受光する４分割光検出器と、
前記４分割光検出器の出力から生成されたフォーカスエラー信号と、
前記４分割光検出器の出力から生成されたトラッキングエラー信号と、
前記４分割光検出器の出力から生成された全加算信号と、
前記４分割光検出器の対角をなす２つの受光素子の出力を加算した二組みの対角和信号から生成されたオフトラック検出信号と
を生成する演算回路と、
前記演算回路で生成されたオフトラック検出信号からオフトラック量を検出するオフトラック検出手段と、
前記オフトラック検出手段によって検出された検出値から前記光スポットのオフトラック位置を補正するオフトラック制御手段とを備えた光ディスク装置である。
【００２４】
第２９の観点は実施の形態における図２６、図２７に対応するものである。
【００２５】
第２８の観点の光ディスク装置において、オフトラック検出手段によって検出される検出値は、トラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットを前記光ヘッドで再生した再生信号から検出される検出値であることを特徴とする。
【００２６】
第３０の観点は実施の形態における図２６、図２７に対応するものである。
【００２７】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックを有する光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて信号の記録再生を行うステップと、
前記光スポットを光ディスク面上に焦点位置制御するフォーカス制御ステップと、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御ステップと、
直交する分割線で４分割された受光面で、前記光ビームの反射光を４分割光検出器で受光する受光ステップと、
前記４分割光検出器の出力から生成されたフォーカスエラー信号と、
前記４分割光検出器の出力から生成されたトラッキングエラー信号と、
前記４分割光検出器の出力から生成された全加算信号と、
前記４分割光検出器の対角をなす２つの受光素子の出力を加算した二組みの対角和信号から生成されたオフトラック検出信号と
を生成する演算ステップと、
前記演算ステップで生成されたオフトラック検出信号からオフトラック量を検出するオフトラック検出ステップと、
前記オフトラック検出ステップによって検出された検出値から前記光スポットのオフトラック位置を補正するオフトラック制御ステップとを備えた光ディスクのオフトラック検出方法である。
【００２８】
第３１の観点は実施の形態における図２６、図２７に対応するものである。
【００２９】
第３０の観点の光ディスク装置において、前記オフトラック検出ステップによって検出される検出値は、トラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットを前記光ヘッドで再生した再生信号から検出される検出値であることを特徴とする。
【００３０】
【実施の形態】
以下本発明の第１の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
【００３１】
図１に本実施形態における光ディスク装置の構成図を示す。
【００３２】
図１において、１０１は光ディスク、１０２は、光ディスクに光ビームを集光させる光ヘッド、１００はａ、ｂ、ｃ、ｄの光検出素子からなる4分割光検出器、１０３はチルト台、１０４は、信号演算回路、１０５は光スポットを光ディスク面上に焦点位置制御するフォーカス制御部、１０６は光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御部、１０７は前記光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾きを検出するために、光検出器の出力から前記光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出部、１０８は前記チルト検出部の検出値から、前記光ヘッドを傾け、前記光ビームの光軸に対する前記光ディスクの記録面の傾きを補正するチルト補正部である。１１０はオフトラック検出部、１１１はオフトラック制御部である。なお、4分割光検出器は、ａ、ｄを一体物、ｂ、ｃを一体物と見た場合は、トラック方向に平行に2分割された2分割光検出器と見ることもできる。
【００３３】
次に、記録再生動作の説明をする。
【００３４】
光ヘッド１０２によって、光ディスク１０１上に集光された光スポットは、フォーカス制御部１０５によって、光ディスク１０１上にフォーカスされ、トラッキング制御部１０６によって、光ディスク１０１の所望の半径位置の所望のトラック位置に光スポットをトラッキングする。フォーカスおよびトラッキングされた光スポットによって、光ディスク上の凹凸のピットあるいは、相変化光ディスクのような反射率の異なる濃淡のマークを再生することによって、光ディスク上に記録されたデータを読み出す。
【００３５】
図４を用いて記録動作の説明をする。
【００３６】
相変化型の光ディスク装置では、結晶部をアモルファス化するピークパワー４０１と、アモルファス部を結晶化するバイアスパワー４０２の２つのパワーで半導体レーザを光ディスク媒体に照射させることにより、光ディスク媒体上にマーク（アモルファス部）４０４と、マークに挟まれたスペース４０５（結晶部）を形成する。
【００３７】
マークとスペースでは反射率が異なるので、再生時にはこの反射率の違いを、前記ピークパワー４０１および前記バイアスパワー４０２よりもパワーよりも低いパワーである再生パワー４０３を利用して記録された信号を読み出す。
【００３８】
次に、図５を用いてチルトについて説明する。
【００３９】
図５のように光ディスク５０１の中心と、光ヘッド５０２から光ディスク５０１上に集光された光スポットを結ぶ線上をラジアル方向５０４とよび、光ディスク５０１のある平面上で前記ラジアル方向５０４に垂直な方向をタンジェンシャル方向５０５とよぶ。また、光ディスク５０１上の平面に垂直な方向をｚ軸方向５０６とよぶ。
【００４０】
チルトには、方向で区別すると、トラックに直交する向きのラジアル方向のチルトとトラックに平行な向きであるタンジェンシャル方向のチルトがある。
【００４１】
図６を用いてラジアルチルト（Ｒチルト）について説明する。
【００４２】
図６において６０１は光ディスク、６０２は光ヘッド、６０３はチルト台である。ラジアルチルト（Ｒチルト）には、ディスクの反り、ディスクの回転によって生じる面ぶれ等によって生じるディスクＲチルト６０４と、光ビームの光軸に対する前記光ディスク６０１の記録面の傾きを（チルト）が、光ヘッドの取り付け誤差やチルト台の傾きによって生じるドライブＲチルト６０５がある。本質的には、ディスクＲチルトとドライブＲチルトは区別せずにＲチルトとよぶ。
【００４３】
図７を用いてタンジェンシャルチルト（Ｔチルト）について説明する。
【００４４】
図７において７０１は光ディスク、７０２は光ヘッド、７０３はチルト台である。タンジェンシャルチルト（Ｔチルト）には、ディスク回転振動、ディスクの面精度誤差等によって生じるディスクＴチルト７０４と、光ビームの光軸に対する前記光ディスク７０１の記録面の傾きを（チルト）が、光ヘッドの取り付け誤差やチルト台の傾きによって生じるドライブＴチルト７０５がある。本質的には、ディスクＴチルトとドライブＴチルトは区別せずにＴチルトとよぶ。
【００４５】
次にＲチルトの検出方法を説明する。図１のチルト検出部１０７で検出される信号には、以下のものがある。
（１）トラッキングオンの状態、すなわち光ビームがトラックに沿って動作している状態で、光ディスクにあらかじめ形成された案内溝で回折された光を受光した2分割光検出器の差動信号（プシュプルＴＥ）の電圧を検出する方法。
（２）トラッキングオフの状態、すなわち光ビームがトラックを横断しながら動作している状態で、光ディスクにあらかじめ形成された案内溝で回折された光を受光した2分割光検出器の差動信号（プシュプルＴＥ）の振幅を検出する方法。
（３）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらかじめ周期的に蛇行（ウォブル）させながら形成された案内溝のウォブル信号の振幅を検出する方法。
（４）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらかじめプリピットされているちどりマーク状の連続ピットを再生したときの2分割光検出器の和信号出力の再生信号の前半部と後半部の振幅あるいは下側信号のレベル（下エンベロープ）あるいは上側信号のレベル（上エンベロープ）を比較して検出する方法。
（５）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらかじめプリピットされているちどりマーク状の連続ピットを再生したときの2分割光検出器の差信号出力の再生信号の前半部と後半部の振幅あるいは上側信号のレベル（上エンベロープ）を比較して検出する方法。
（６）トラッキングオンの状態で、光ディスクにあらかじめプリピットされているちどりマーク状の孤立ピットを再生したときの2分割光検出器の和信号出力の再生信号の前半部と後半部の振幅あるいは下側信号のレベル（下エンベロープ）を比較して検出する方法がある。
【００４６】
以上の内、（１）、（３）、（４）、（５）、（６）については、トラッキングオンの状態で制御を行っている。たとえＲチルトまたはＴチルトが生じていても、オフトラック検出部１１０、オフトラック制御部１１１により、光スポットをトラックのセンタに位置させることが可能である。従って、（１）、（３）、（４）、（５）、（６）については、まず、オフトラック検出部１１０、オフトラック制御部１１１により、光スポットをトラックのセンタに位置させる。その状態で、光スポットの中心（真円部分の中心）を通り、トラック方向に平行な線で光スポットを２分割し、それぞれの分割部分の光量を調べる。2つの分割部分の光量が等しい場合は、チルトがない場合であり、差が生じている場合は、チルトがある場合である。
【００４７】
以下の（１）、（３）、（４）、（５）、（６）の説明においては、オフトラック検出部１１０、オフトラック制御部１１１により、光スポットはトラックのセンタに位置させられているものとして説明する。なお、オフトラック検出部１１０、オフトラック制御部１１１の詳細については、後で、図２４から図２９を参照しながら説明する。
【００４８】
まず、（１）の光スポットが光ディスクにあらかじめ形成された案内溝で回折された光を受光した2分割光検出器の差動信号（プシュプルＴＥ）を検出する方法を例に説明する。
【００４９】
図１８が光ディスク上の案内溝の断面図とそのときの再生信号波形である。１８０１がグルーブトラック、１８０２がランドトラックである。
【００５０】
図１８に示す例は、トラッキングオン制御がなされており、かつ、オフトラック制御がなされている状態、すなわち光スポットがトラックのセンタに沿って動作するように制御されている状態にある。図１８に示す波形図は、再生時における2分割光検出器の差信号出力（プシュプルＴＥ信号）を示す。 再生信号波形はＲチルト０度の時、プシュプルＴＥ信号は、１８０３の基準レベルにある。Ｒチルトが＋０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、プシュプルＴＥ信号には位相シフトが生じ前記Ｒチルトが０度のときの基準レベルからプシュプルＴＥ信号の再生信号にオフセット＋Ｇが生じる。Ｒチルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、プシュプルＴＥ信号には位相シフトが生じ前記Ｒチルトが０度のときの基準レベルからプシュプルＴＥ信号の再生信号にオフセット−Ｇが生じる。Ｒチルトが＋０．４度のときと、Ｒチルトが−０．４度のときにプシュプルＴＥ信号は基準レベルからのオフセットＧが異なる。チルト検出部は、オフセットＧをチルト検出部の検出値として保持する。
【００５１】
チルト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみなしてチルト角を補正する。
【００５２】
上記のようにＲチルトが発生した状態でのＲチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値Ｇの関係のシミュレーション結果が図１１である。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポットはトラックの中心にトラッキングされている場合の結果である。図１１でＲチルトが生じていない場合、プシュプルＴＥ信号のオフセットＧは０である。Ｒチルトが発生すると、光スポットが収差をもち案内溝からの回折光が真円とならず、光スポットの側部にこぶ状の1次光スポットが形成される。Ｒチルトの角度が、＋の方向にある場合（図6参照）は、＋1次光スポットが真円の右側（図１８（ｃ）参照）に発生し、Ｒチルトの角度が、−の方向にある場合は、−1次光スポットが真円の左側（図１８（ａ）参照）に発生する。Ｒチルトが＋０．４度のときとＲチルトが−０．４度のときでは案内溝からの回折光を2分割光検出器で受光した場合の差動信号の出力（プシュプルＴＥ信号）に差が生じる。前記プシュプルＴＥ信号のオフセットＧをプロットしたものが図１１の曲線になる。
【００５３】
チルト検出部は、前記プシュプルＴＥ信号のオフセットＧをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。
【００５４】
例えば前記チルト検出部１０７で検出された検出値である前記プシュプルＴＥ信号のオフセットＧが−０．０８である場合、図１１より、Ｒチルトは＋０．４度であることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。
【００５５】
なおシミュレーションで用いた光学条件に限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。
【００５６】
前記チルト検出値は2分割光検出器にミラー部からの反射光が１００％光が戻ってきた場合を１と規格化されている。
【００５７】
次に、（２）の光スポットが光ディスクにあらかじめ形成された案内溝から回折された光を受光2分割光検出器の差動信号（プシュプルＴＥ）の振幅を検出する方法を例に説明する。
【００５８】
ここでは、トラッキングオフの状態にあるので、光スポットはトラックを横断するよう動作している。図１９が光ディスク上の案内溝の配置図とそのときの再生信号波形である。１９０１が光スポット、１９０２が案内溝の中心であるトラック中心、１９０３が前記光ディスクにあらかじめ形成された案内溝である。
【００５９】
トラッキングオフのときの2分割光検出器の差信号出力（この場合プシュプルＴＥ信号）の再生時の例である。
【００６０】
再生信号波形はＲチルト０度の時、プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋは大である。Ｒチルトが０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋも回折の影響で振幅が減少する。Ｒチルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋも回折の影響で振幅が減少する。Ｒチルトが＋０．４度のときと、Ｒチルトが−０．４度のときのプシュプルＴＥ信号の振幅Ｋ、Ｒチルトが０度のときの振幅Ｋと異なる。チルト検出部は、このプシュプルＴＥ信号の振幅Ｋをチルト検出部の検出値として保持する。
【００６１】
チルト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみなしてチルト角を補正する。
【００６２】
上記のようにＲチルトが発生した状態でのＲチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値Ｈの関係のシミュレーション結果が図１２である。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポットはトラックの中心にトラッキングされている場合の結果である。図１２でＲチルトが生じていない場合、プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋは１．０ある。Ｒチルトが発生すると、光スポットが収差をもち案内溝からの回折光がＲチルトが＋０．４度のときとＲチルトが−０．４度のときでは案内溝からの回折光を2分割光検出器で受光した場合の差動信号の出力（プシュプルＴＥ信号）に差が生じる
。前記プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋをプロットしたものが図１２の曲線になる。
【００６３】
チルト検出部は、前記プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。
【００６４】
例えば前記チルト検出部１０７で検出された検出値である前記プシュプルＴＥ信号の振幅Ｋが０．８である場合、図１２より、Ｒチルトは＋０．４度あるいは−０．４度であることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。
【００６５】
なおシミュレーションで用いた光学条件に限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。
【００６６】
前記チルト検出値は2分割光検出器にミラー部からの反射光が１００％光が戻ってきた場合を１と規格化されている。
【００６７】
次に、（３）の光スポットが光ディスクにあらかじめ周期的に蛇行（ウォブル）させながら形成された案内溝から回折された光を受光2分割光検出器の差動信号（ウォブル信号）の振幅を検出する方法を例に説明する。
【００６８】
図２０が光ディスク上の案内溝の配置図とそのときの再生信号波形である。２００１が光スポット、２００２が案内溝の中心であるトラック中心、２００３あらかじめウォブルさせながら形成された案内溝である。
【００６９】
ここでは、トラッキングオンの状態にあるので、光スポットはトラックのセンタに沿って動作している。図２０には、再生時における2分割光検出器の差信号出力（この場合ウォブル信号）が示されている。
【００７０】
再生信号波形はＲチルト０度の時、ウォブル信号の振幅Ｈは最大である。Ｒチルトが０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、ウォブル信号の振幅Ｈも回折の影響で振幅が減少する。Ｒチルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、ウォブル信号の振幅Ｈも回折の影響で振幅が減少する。Ｒチルトが＋０．４度のときと、Ｒチルトが−０．４度のときのウォブル信号の振幅Ｈは、Ｒチルトが０度のときの振幅Ｈと異なる。チルト検出部は、このウォブル信号の振幅Ｈをチルト検出部の検出値として保持する。
【００７１】
チルト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみなしてチルト角を補正する。
【００７２】
上記のようにＲチルトが発生した状態でのＲチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値Ｈの関係のシミュレーション結果が図１３である。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポットはトラックの中心にトラッキングされている場合の結果である。図１３でＲチルトが生じていない場合、ウォブル信号の振幅Ｈは０．０９である。Ｒチルトが発生すると、光スポットが収差をもち案内溝からの回折光がＲチルトが＋０．４度のときとＲチルトが−０．４度のときでは案内溝からの回折光を2分割光検出器で受光した場合の差動信号の出力（ウォブル信号）に差が生じる。前記ウォブル信号の振幅Ｈをプロットしたものが図１３の曲線になる。
【００７３】
チルト検出部は、前記ウォブル信号の振幅Ｈをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。
【００７４】
例えば前記チルト検出部１０７で検出された検出値である前記ウォブル信号の振幅Ｈが０．０８３である場合、図１３より、Ｒチルトは＋０．４度あるいは−０．４度であることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。
【００７５】
なおシミュレーションで用いた光学条件に限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。
【００７６】
前記チルト検出値は2分割光検出器にミラー部からの反射光が１００％光が戻ってきた場合を１と規格化されている。
【００７７】
次に、（４）の光ディスクにあらかじめプリピットされているちどりマーク状の連続ピットを再生したときの2分割光検出器の和信号出力の再生信号の前半部と後半部の下側信号のレベルを比較してチルト角を検出する方法を例に説明する。
【００７８】
図８が光ディスク上のピット配置図である。８０１がデータを記録するためにスパイラル状に掘られた案内溝のグルーブトラック、８０２が前記グルーブトラックに挟まれたランドトラックである。８０３は、前記グルーブトラックの中心から外周側あるいは内周側にウォブリングされて形成されている前半部の繰返しピット列、８０４は前記前半部の繰返しピット列に続いて、前記グルーブトラックの中心から前記前半部の繰返しピット列とはトラック中心に対して対称位置にウォブリングされて形成されている後半部の繰返しピット列である。ウォブルされているピット列のラジアル方向のピット間隔１．１９μｍ、ピット幅０．３６μｍ、ピット深さλ／６、ピット長０．４６２μｍ、タンジェンシャル方向ピット間隔１．１２μｍの繰返しパターン、トラック中心からピット中心までの振り幅が０．３μｍ外周あるいは内周側にウォブルされたピットである。ここでシフトされたピットが繰り返される間隔であるスペースＬｓは、ピット長をＬｐとした場合、Ｌｐ＜Ｌｓ＜２Ｌｐを満たす。
【００７９】
図２１に2分割光検出器の和信号出力の再生時の例である。ここでは、トラッキングオンの状態にあるので、光スポットはトラックのセンタに沿って動作している。
【００８０】
再生信号波形はＲチルト０度の時、前半部の繰返しピットを再生した場合と、後半部の繰返しピットを再生した場合、ピット列によって変調された和信号出力の下側レベルＡｂとＢｂはＡｂ＝Ｂｂの関係にある。Ｒチルトが０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、前半部の繰返しピット列から再生される和信号出力の下側レベルＡｂと、後半部の繰返しピット列から再生される和信号出力の下側レベルＢｂは異なる。チルト検出部は、この前半部と後半部の和信号出力の下側信号レベルＡｂ−Ｂｂをチルト検出部の検出値として保持する。
【００８１】
Ｒチルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、前半部の繰返しピット列から再生される和信号出力の下側レベルＡと、後半部の繰返しピット列から再生される和信号出力の下側レベルＢは異なる。チルト検出部は、この前半部と後半部の和信号出力の下側信号レベルＡ−Ｂをチルト検出部の検出値として保持する。
【００８２】
前記前半部と後半部の和信号出力の振幅は、サンプルホールド回路によって、電圧のＤＣ値が保持され、前半部の和信号出力の保持値Ａｂ、後半部の和信号出力の保持値Ｂｂの差Ａｂ−Ｂｂをチルト検出値とし、チルト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみなしてチルト角を補正する。
【００８３】
上記のようにＲチルトが発生した状態でのＲチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値Ａｂ−Ｂｂの関係のシミュレーション結果が図１４である
。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポットはトラックの中心にトラッキングされている場合の結果である。図２１でＲチルトが生じていない場合、和信号出力の下側レベルの差Ａｂ−Ｂｂは０である。Ｒチルトが発生すると、光スポットが収差をもちピットからの回折光が前半部の繰返しピットからの回折光量と後半部の繰返しピットからの回折光量に差が生じる。前記前半部の和信号出力の下側レベルＡｂと前記後半部の和信号出力の下側レベルＢｂの差Ａｂ−Ｂｂをプロットしたものが図１４の曲線になる。
【００８４】
チルト検出部は、前記下側信号レベル差Ａｂ−Ｂｂをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。
【００８５】
例えば前記チルト検出部１０７で検出された検出値である前記和信号出力の下側信号レベル差Ａｂ−Ｂｂが−０．０６である場合、図１４より、Ｒチルトは＋０．４度であることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。
【００８６】
ここでは、繰返しピット列の前半と後半の和信号出力の下側信号レベルの差をチルト制御部の検出値として説明したが、チルト検出値として和信号出力の下側信号レベル差Ａｂ−Ｂｂの代わりに、繰返しピット列の和信号出力の上側信号レベル差Ａｔ−Ｂｔを用いても構わない。
【００８７】
ここでは、繰返しピット列の前半と後半の和信号出力の下側信号レベルの差をチルト制御部の検出値として説明したが、チルト検出値として和信号出力の下側信号レベル差Ａｂ−Ｂｂの代わりに、繰返しピット列の和信号出力の信号振幅差Ｃ−Ｄを用いても構わない。
【００８８】
後で図２６、図２７と共に説明するように、オフトラック検出においても前半の繰返しピット列の和信号と、後半の繰返しピット列の和信号との差が用いられている。上述より明らかなように、和信号は、およそ正弦波カーブを描いて変動しているので、和信号の値は、（ｉ）上側信号レベルを採る場合と、（ｉｉ）下側信号レベルを採る場合と、（ｉｉｉ）正弦波カーブの振幅を採る場合の3通りの採り方がある。この（４）のチルト検出方法を行う場合、（ｉ）、（ｉｉ）、（ｉｉｉ）のいずれかひとつを採用すれば、オフトラック検出においては、残りのいずれかひとつを採用するようにしている。これによりチルト検出に利用される信号と、オフトラック検出に利用される信号とが全く同じものになることを回避している。
【００８９】
なおシミュレーションで用いた光学条件に限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。
【００９０】
前記チルト検出値は2分割光検出器にミラー部からの反射光が１００％光が戻ってきた場合を１と規格化されている。
【００９１】
次に、（５）の光ディスクにあらかじめプリピットされているちどりマーク状の連続ピットを再生したときの2分割光検出器の差信号出力の再生信号の前半部と後半部の振幅を比較して検出する方法を例に説明する。
【００９２】
図２３が光ディスク上のピット配置図である。２３０１がデータを記録するためにスパイラル状に掘られた案内溝のグルーブトラック、２３０２が前記グルーブトラックに挟まれたランドトラックである。２３０３は、前記グルーブトラックの中心から外周側あるいは内周側にウォブリングされて形成されている前半部の繰返しピット列、２３０４は前記前半部の繰返しピット列に続いて、前記グルーブトラックの中心から前記前半部の繰返しピット列とはトラック中心に対して対称位置にウォブリングされて形成されている後半部の繰返しピット列である。ウォブルされているピット列のラジアル方向のピット間隔１．１９μｍ、ピット幅０．３６μｍ、ピット深さλ／６、ピット長０．４６２μｍ、タンジェンシャル方向ピット間隔１．１２μｍの繰返しパターン、トラック中心からピット中心までの振り幅が０．３μｍ外周あるいは内周側にウォブルされたピットである。
【００９３】
トラッキングオンの時の2分割光検出器の差信号出力について説明する。ここでは、トラッキングオンの状態にあるので、光スポットはトラックのセンタに沿って動作している。
【００９４】
図２３で、2分割光検出器の一方をＮ１、もう一方のディテクタがＮ２である。トラック中心からウォブルされて配置されている連続ピットを再生する場合、ディテクタの一方は、ピットで回折された光によって、大きく変調されるが、もう一方は、ピットによる回折の影響が少なく、光強度変化は少ない。差信号出力は前記Ｎ１とＮ２の差信号出力Ｎ１−Ｎ２で、Ｎ−の出力となる。
【００９５】
図２２に2分割光検出器の差信号出力の再生時の例である。
【００９６】
再生信号波形はＲチルト０度の時、前半部の繰返しピットを再生した場合と、後半部の繰返しピットを再生した場合、ピット列によって変調された信号の振幅ＩとＪはＩ＝Ｊの関係にある。Ｒチルトが０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、前半部の繰返しピット列から再生される差信号出力の振幅Ｉと、後半部の繰返しピット列から再生される差信号出力の振幅Ｊは異なる。チルト検出部は、この前半部と後半部の差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊをチルト検出部の検出値として保持する。
Ｒチルトが−０．４度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる
。このとき、前半部の繰返しピット列から再生される差信号出力の振幅Ｉと、後半部の繰返しピット列から再生される差信号出力の振幅Ｊは異なる。チルト検出部は、この前半部と後半部の差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊをチルト検出部の検出値として保持する。
【００９７】
前記前半部と後半部の差信号出力の振幅は、サンプルホールド回路によって、電圧のＤＣ値が保持され、前半部の差信号出力の保持値Ｉ、後半部の差信号出力の保持値Ｊの差Ｉ−Ｊをチルト検出値とし、チルト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみなしてチルト角を補正する。
【００９８】
上記のようにＲチルトが発生した状態でのＲチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値Ｉ−Ｊの関係のシミュレーション結果が図１５である。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポットはトラックの中心にトラッキングされている場合の結果である。図１５でＲチルトが生じていない場合、差信号出力の振幅の差Ｉ−Ｊは０である。Ｒチルトが発生すると、光スポットが収差をもちピットからの回折光が前半部の繰返しピットからの回折光量と後半部の繰返しピットからの回折光量に差が生じる。前記前半部差信号出力の振幅Ｉと前記後半部差信号出力の振幅Ｊの振幅差Ｉ−Ｊをプロットしたものが図１５の曲線になる。
【００９９】
チルト検出部は、前記差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。
【０１００】
例えば前記チルト検出部１０７で検出された検出値である前記差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊが−０．０９である場合、図１５より、Ｒチルトは＋０．４度であることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。
【０１０１】
上記の場合、さらに光スポットがトラックの中心から＋０．０２μｍオフトラックが生じている状態での、Ｒチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値Ｉ−Ｊの関係のシミュレーション結果が図１６である。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポットはトラックの中心にトラッキングされている場合の結果である。図１６でＲチルトが生じていない場合、差信号出力の振幅の差Ｉ−Ｊは０である。Ｒチルトが発生すると、光スポットが収差をもちピットからの回折光が前半部の繰返しピットからの回折光量と後半部の繰返しピットからの回折光量に差が生じる。前記前半部差信号出力の振幅Ｉと前記後半部差信号出力の振幅Ｊの振幅差Ｉ−Ｊをプロットしたものが図１６の曲線になる。図１６の曲線は、図１５の曲線とほとんど同じである。これは、光スポットがトラックの中心にある場合（図１５）と、光スポットがトラックの中心から＋０．０２μｍずれた位置にある場合（図１６）とではチルト角の検出結果が同じであることを示す。
【０１０２】
チルト検出部は、前記差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。
【０１０３】
例えば前記チルト検出部１０７で検出された検出値である前記差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊが−０．０９である場合、図１６より、Ｒチルトは＋０．４度であることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。
【０１０４】
この場合、光スポットがトラックの中心からオフトラックしていても正確にＲチルト角を検出することが可能である。
【０１０５】
ここでは、繰返しピット列の前半と後半の差信号出力の下側信号レベルの差をチルト制御部の検出値として説明したが、チルト検出値として差信号出力の振幅差Ｉ−Ｊの代わりに、繰返しピット列の差信号出力の上側信号レベル差Ｉｔ−Ｊｔを用いても構わない。
【０１０６】
なおシミュレーションで用いた光学条件に限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。
【０１０７】
前記チルト検出値は2分割光検出器にミラー部からの反射光が１００％光が戻ってきた場合を１と規格化されている。
【０１０８】
次に（６）の光ディスクにあらかじめプリピットされているちどりマーク状の孤立ピットを再生したときの2分割光検出器の和信号出力の再生信号の前半部と後半部の下側信号のレベルを比較してチルト角を検出する方法を例に説明する。
【０１０９】
図９が孤立ピットを配した光ディスクのピットの配置図とそのときの再生信号波形である。９０１がデータを記録するためにスパイラル状に掘られた案内溝のグルーブトラック、９０２が前記グルーブトラックに挟まれたランドトラックである。９０３は、前記グルーブトラックの中心から外周側あるいは内周側にウォブリングされて形成されている前半部の孤立ピット、９０４は、前記前半部の孤立ピットに続いて、前記グルーブトラックの中心から前記前半部の孤立ピットとはトラック中心に対して対称位置にウォブリングされて形成されている後半部の孤立ピットである。ウォブルされているピットのラジアル方向のピット間隔１．１９μｍ、トラック方向の孤立ピット間隔１０μｍ以上、孤立ピットのピット幅０．３６μｍ、ピット深さλ／６、ピット長０．４６２μｍ、トラック中心からピット中心までの振り幅が０．３μｍ外周あるいは内周側にウォブルされたピットである。ここで、シフトされたピットが繰り返される間隔であるスペースＬｓは、ピット長をＬｐとした場合、２０Ｌｐ＜Ｌｓを満たす。
【０１１０】
再生信号波形は、2分割光検出器の和信号再生時の例である。ここでは、トラッキングオンの状態にあるので、光スポットはトラックのセンタに沿って動作している。
【０１１１】
再生信号波形はＲチルト０度の時、前半部の孤立ピットを再生した場合と、後半部の孤立ピットを再生した場合、ピットによって変調された和信号出力の下側レベルＥとＦはＥ＝Ｆの関係にある。Ｒチルトが＋０．６度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、前半部の孤立ピットから再生される和信号出力の下側レベルＥと、後半部の孤立ピットから再生される和信号出力の下側レベルＦは異なる。チルト検出部は、この前半部と後半部の和信号出力の下側信号レベル差Ｅ−Ｆをチルト検出部の検出値として保持する。
【０１１２】
Ｒチルトが−０．６度生じた場合、Ｒチルトによって光スポットに収差が生じる。このとき、前半部の孤立ピットから再生される和信号出力の下側レベルＥと
、後半部の孤立ピットから再生される和信号出力の下側レベルＦは異なる。チルト検出部は、この前半部と後半部の和信号出力の下側信号レベル差Ｅ−Ｆをチルト検出部の検出値として保持する。
【０１１３】
前記前半部と後半部の和信号出力の振幅は、サンプルホールド回路によって、電圧のＤＣ値が保持され、前半部の和信号出力の保持値Ｅ、後半部の和信号出力の保持値Ｆの差Ｅ−Ｆをチルト検出値とし、チルト制御部は、前記チルト検出値をチルト角とみなしてチルト角を補正する。
【０１１４】
上記のようにＲチルトが発生した状態でのＲチルトの量とチルト検出部によって検出された検出値Ｅ−Ｆの関係のシミュレーション結果が図１７である。シミュレーションで用いた光学条件は波長６５０ｎｍ、ＮＡ＝０．６、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３である。またスポットはトラックの中心にトラッキングされている場合の結果である。図１７でＲチルトが生じていない場合、和信号出力の下側信号レベル差Ｅ−Ｆは０である。Ｒチルトが発生すると、光スポットが収差をもちピットからの回折光が前半部の孤立ピットからの回折光量と後半部の孤立ピットからの回折光量に差が生じる。前記前半部の和信号出力の下側信号レベルＥと前記後半部の和信号出力の下側信号レベルＦの差Ｅ−Ｆをプロットしたものが図１７の曲線になる。
【０１１５】
チルト検出部は、前記和信号出力の下側信号レベル差Ｅ−Ｆをチルト角の検出値としてチルト角を検出する。
【０１１６】
例えば前記チルト検出部１０７で検出された検出値である前記和信号出力の下側信号レベル差Ｅ−Ｆが＋０．０６である場合、図１７より、Ｒチルトは＋０
．６度であることから、チルト補正部１０８は、この検出値に応じたチルト補正量をチルト制御部１０９に送信し、チルト制御部１０９によって、チルト台１０３を動かすことで、Ｒチルト角を補正する。
【０１１７】
なおシミュレーションで用いた光学条件に限らず、本Ｒチルト検出方法は実施できる。
【０１１８】
前記チルト検出値は2分割光検出器にミラー部からの反射光が１００％光が戻ってきた場合を１と規格化されている。
【０１１９】
このようににチルト検出部で検出された検出は、チルト補正部によって、チルト角が算出され、チルト制御部によって、チルト台を動かして、Ｒチルトをなくし、記録再生信号の信号品質を向上させる。
【０１２０】
なお、前述の（１）から（６）の方法でＲチルトを検出するためには、光スポットがあらかじめ案内溝で形成されたトラックの中心を走査していることが望ましい。光ディスクのトラックの中心と光スポットとずれをオフトラックと呼ぶ。オフトラックが０、すなわち、光スポットが光ディスクのあらかじめ形成された案内溝の中心を走査していると前述の（１）から（６）の方法でＲチルトを検出する場合により精度よく、Ｒチルトを検出することが可能である。
【０１２１】
前記オフトラックを補正する方法を以下で説明する。
【０１２２】
オフトラックは、光ディスクにあらかじめウォブルされて形成された、繰返しピット列を、光スポットで再生する信号の和信号出力を用いて制御する。
【０１２３】
図２４が光ディスク上のピット配置図である。２４０１がデータを記録するためにスパイラル状に掘られた案内溝のグルーブトラック、２４０２が前記グルーブトラックに挟まれたランドトラックである。２４０３は、前記グルーブトラックの中心から外周側あるいは内周側にウォブリングされて形成されている前半部の繰返しピット列、２４０４は前記前半部の繰返しピット列に続いて、前記グルーブトラックの中心から前記前半部の繰返しピット列とはトラック中心に対して対称位置にウォブリングされて形成されている後半部の繰返しピット列である。ウォブルされているピット列のラジアル方向のピット間隔１．１９μｍ、ピット幅０．３６μｍ、ピット深さλ／６、ピット長０．４６２μｍ、タンジェンシャル方向ピット間隔１．１２μｍの繰返しパターン、トラック中心からピット中心までの振り幅が０．３μｍ外周あるいは内周側にウォブルされたピットである。
【０１２４】
図２５に2分割光検出器の和信号出力の再生時の例を示す。
【０１２５】
再生信号波形はオフトラック０の時、前半部の繰返しピットを再生した場合と、後半部の繰返しピットを再生した場合、ピット列によって変調された信号の振幅ＬとＭはＬ＝Ｍの関係にある。オフトラックが０．０２μｍ度生じた場合、オフトラックによって2分割光検出器２つのディテクタの間に光量差が生じる。このとき、前半部の繰返しピット列から再生される和信号出力の振幅Ｌと、後半部の繰返しピット列から再生される和信号出力の振幅Ｍは異なる。この前半部と後半部の和信号出力の振幅は、サンプルホールド回路によって、電圧のＤＣ値が保持され、前半部の和信号出力の保持値Ｌ、後半部の和信号出力の保持値Ｍの差Ｌ−Ｍをオフトラック検出値とし、この検出値をオフトラック位置とみなしてオフトラック位置を補正する。この場合、チルトに依存せず、オフトラック位置を補正することが可能である。
【０１２６】
次に、チルト検出部によって検出された検出値から、光ディスクの異なる半径位置でのＲチルトの補正方法を、図１０を用いて説明する。
【０１２７】
Ｒチルトはディスクの反りによって発生するため、光ディスクの内周から外周にかけてＲチルトの大きさは図１０の曲線１００１ように変化する。
【０１２８】
図１０おいて、１００１は、前記光ビームの光軸に対する前記光ディスクの記録面の傾き（チルト）が、光ディスクの半径位置とともにどのように変化しているかを表す実際のチルト曲線、１００２は前記チルト曲線１００１上の内周の所定の半径位置でのチルト量（またはチルト角）、１００３は前記チルト曲線１００１上の中周の所定の半径位置でのチルト量、１００４は前記チルト曲線１００１上の外周の所定の半径位置でのチルト量である。
【０１２９】
次に、チルト検出部によって検出される検出値から推定されるチルト量について説明する。１００５は、前記チルト検出部によって、光ディスクの内周の所定の半径位置で検出された検出値から推定されたチルト量、１００６は、前記チルト検出部によって、光ディスクの外周の所定の半径位置で検出された検出値から推定されたチルト量、１００７は、前記チルト検出部によって、光ディスクの中周の所定の半径位置で検出された検出値から推定されたチルト量、１００８は前記中周での推定されたチルト量１００７と、前記内周での推定されたチルト量１００５および前記外周での推定されたチルト量１００６を直線で補完した補完曲線１００８である。
【０１３０】
光ディスクは、チルトする際に内周と外周でチルト量が異なる。このチルト量の半径位置による違いを検出するために、本発明の光ディスク装置では、図１０のように光ディスクの内周と外周およびその間の中周の少なくとも３つの半径位置でのチルト量を検出する。チルト角を検出した内周と中周の半径位置の間にある半径位置でのチルト量は、前記内周での検出値から推定されたチルト量１００５と、前記中周での検出値から推定されたチルト量１００７を直線で補完した曲線１００８上の値を内周と中周の所望の半径位置での推定されたチルト量としている。チルト角を検出した外周と中周の半径位置の間にある半径位置でのチルト量は、前記外周での検出値から推定されたチルト量１００６と、前記中周での検出値から推定されたチルト量１００７を直線で補完した曲線１００８上の値を外周と中周の所望の半径位置での推定されたチルト量としている。
【０１３１】
この場合、光ディスクの中周の所定の半径位置で推定されたチルト量１００７と実際の光ディスクの中周でのチルト量１００３のを正しく補正することが可能であり、従来の方法に比べて、内外周でチルト量が異なる光ディスクに対して、各半径位置で正確かつ精度よくチルト位置を補正することが可能であり、光ディスクの記録再生時の信号品質を著しく向上させることが可能である。
【０１３２】
次にチルト補正部１０８の動作について説明する。図１０において、内周の半径位置でチルト角（Ｒチルト）が０度になっている。あるいは、内周のチルト角を相対的に０度とする。光ディスクの外周部においては、内周部に比べてディスクのたわみの影響でチルト角が大きくなっている。このたわみはディスク毎にばらついており、各々のディスクでチルト角の半径位置に対する大きさの特性は異なる。
【０１３３】
光スポットが光ディスク面上に収束している半径位置が外側に移動し、中周、あるいは外周で、前記チルト検出部によってチルト角を検出し、１００８の補完したチルト曲線におけるチルト角が内周でのチルト角に比べて閾値（例えば０．４度）以上異なる場合は、チルト補正部は、チルト角が前記閾値となる半径位置においてチルト角が０になるようにチルト台１０３を動かすよう指令する。
【０１３４】
これにより、チルト角が内周から外周にかけて生じるディスクのたわみによって生じるチルト角を、チルト台を動かすことで小さくすることが可能であり、光ディスクの記録再生時の信号品質を向上させることが可能である。
【０１３５】
さらに、オフトラックの検出、制御について、より詳しく説明する。
【０１３６】
図２６は、４分割検出器１００の４つの受光素子からの出力ａ，ｂ，ｃ，ｄを受けて動作する演算回路１０４の動作について説明する。演算回路１０４からは、
ＴＥ信号：（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）、
ＦＥ信号：（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）、
ＲＦ信号：（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）、
オフトラック検出信号（ＯＦ信号）：
対角和信号（ａ＋ｃ）、
対角和信号（ｂ＋ｄ）
が生成される。
【０１３７】
前記ＴＥ信号は、トラッキング制御部１０６へ送られ、光スポットを光ディスクのトラック上にトラッキング位置制御するのに用いられる。前記ＦＥ信号は、フォーカス制御部１０５へ送られ、光スポットを光ディスク上に焦点位置制御するのに用いられる。前記ＲＦ信号は、光ディスクに記録されているデータを読み出した、再生信号となりデータ処理される。また前記、ＲＦ信号は、オフトラック検出部１１０に送られ、オフトラック位置検出に用いられる。前記オフトラック検出信号（ＯＦ信号）はオフトラック検出部１１０へ送られ、オフトラック位置検出に用いられる。
【０１３８】
次に、オフトラック検出部１１０で、前記オフトラック検出信号からオフトラック位置が検出される過程を説明する。
【０１３９】
オフトラック位置は、二組のオフトラック検出信号の間の位相差を抽出することで検出される。
【０１４０】
位相差信号の詳細を図２７を用いて説明する。
【０１４１】
ここで図２７のように、光スポット２７０１がトラックの中央にあるときにはディテクタ上での回折光の強度は図２７の（Ｂ）のようになるため、対角線差信号（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）は、０である。ディスクが回転して、光スポットとピットの関係が矢印のように進んでも、この値は常にゼロで変わらない。光スポットがトラックからずれて、図２７（Ａ）、図２７（Ｃ）のようになって、ディスクの回転とともに図２７の矢印の方向に移動したとき、対角線差信号はともに正弦波状の出力になるが、これらは、ＲＦ信号（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）に対して位相が、＋９０度と−９０度の関係になるので、前記ＲＦ信号に対する対角線差信号の位相差を検出すれば光スポットがピットの中央からどれだけオフトラックしているかが検出できる。
【０１４２】
オフトラック検出においても前半の繰返しピット列の和信号と、後半の繰返しピット列の和信号との差が用いられている。図21において説明したと同様に、対角和信号は、およそ正弦波カーブを描いて変動しているので、対角和信号の値は、（ｉ）上側信号レベルを採る場合と、（ｉｉ）下側信号レベルを採る場合と、（ｉｉｉ）正弦波カーブの振幅を採る場合の3通りの採り方がある。
【０１４３】
図２７（Ｄ）に対角線差信号の位相差とオフトラックの関係を表す波形を示す。図では（Ｂｓｉｇ）は、光スポットがピットの中央を通った場合の出力点、（Ａｓｉｇ）、（Ｃｓｉｇ）がそれぞれピットの左側および右側を通った場合の出力点を示す。この位相差を用いてピットの中心からのオフトラック位置が検出できる。
【０１４４】
図２８（Ａ）のように光ディスク上にあらかじめ記録されている凹凸のプリピット２８０５が案内溝のグルーブトラックの中心に対してトラックをまたぐ方向にＷａ（＝Ｔｐ／４）だけ振られた位置に連続に配置されたピットを前半部プリピット列２８０３、前半部プリピット列とはグルーブトラックの中心を基準に反対側に振られた位置に連続に配置されたピット列を後半部プリピット列２８０４である。ここで前半部プリピットの振り幅Ｗａと後半部プリピットの振り幅Ｗｂは等しいディスクである。（Ｗａ＝Ｗｂ）配置されているピットは、単一周波数の連続のピットが並んでいる。
【０１４５】
図２８（Ｂ）はピットを中心とした対角線差信号の位相差信号のグラフである。光スポットが前半部プリピット列のグルーブトラックの中心を通る場合、位相差信号の出力はＰａ、光スポットが後半部プリピット列のグルーブトラックの中心を通る場合、位相差信号の出力はＰｂである。これら前半部プリピット列での位相差信号と後半部プリピット列の位相差信号を保持し、オフトラック検出部で前半部プリピット列の出力と後半部繰返しピット列の出力の和を計算した結果が図２８（Ｃ）である。光スポットがトラックの中心を通った場合に、この位相差和信号が０になる。
【０１４６】
上記、条件に基づいてコンピュータシミュレーションを行った結果の説明をする。シミュレーションで用いた条件は以下の通りである。レーザー波長（λ）６５０ｎｍ、対物レンズＮＡ０．６、タンジェンシャル方向ＲＩＭ強度０．８３、ラジアル方向ＲＩＭ強度０．２５、ディスクのトラックピッチ１．１９μｍ、ピット深さλ／６、ピット幅０．３６μｍ、繰返しピットの線方向の周期は１．１２ｕｍ、ピット長０．４６μｍの繰返しウォブルピット列である。
【０１４７】
図２９がＲチルトが生じた場合の特性である。
【０１４８】
図２９では（ａ）（ｂ）（ｃ）の順にＲチルトを−０．６度、±０．０度、＋０．６度与えた場合の、位相差信号を前半部ウォブルピットと後半部ウォブルピットで演算したオフトラック検出信号を示す。横軸はトラック中心を基準にしたオフトラック量を表している。縦軸がオフトラック検出信号である。オフトラック検出信号が０の場合がトラック中心である。（ｂ）の曲線でＲチルトがない場合、グラフからオフトラック量に応じたオフトラック検出信号が得られていることがわかる。また、オフトラック位置が０のとき、オフトラック検出信号も０となっている。
【０１４９】
次にＲチルトが生じた場合、例えば（ａ）の−０．６度傾いた場合、グラフからオフトラック量に応じたオフトラック検出信号が得られていることがわかる。また、オフトラック位置が０のとき、オフトラック検出信号も０となっている。
【０１５０】
（ｃ）の場合も同様である。
【０１５１】
このように位相差信号とウォブル上に配置された連続したプリピットを再生することで、Ｒチルトに対する影響なくオフトラック量を精度よく検出することが可能であり、図１で説明した実施の形態のオフトラック検出部に本方式を用いることでも良好なチルト検出、チルト制御の結果を得ることができる。
【０１５２】
そのため、トラッキングの精度が向上し、記録時に隣接トラックを消去してしまうクロス消去の影響を除き、隣接トラックに記録された信号の信号品質を向上させることが可能である。
【０１５３】
【発明の効果】
以上のように本発明の光ディスク装置および光ディスクのチルト制御方法によれば、記録再生信号用の光学系とは別にチルト角検出用の光学系を必要とせず、光ディスクにあらかじめ記録されているグルーブトラック、ランドトラックおよびグルーブトラックの中心から外周側あるいは内周側に中心をずらせて形成されている繰返しピット列を用い、独立または組み合わせてトラッキング信号およびチルト角を検出し、チルト補正部、チルト制御部を用いてチルト角を補正することで記録再生時の信号品質を向上させることが可能である。これによって、別途チルト検出器を設ける必要がなく装置の実施規模を縮小させコストを低減することができる。
【０１５４】
また、図１０で示したチルト検出方法のように、内周、中周、外周の少なくとも３つの検出値から、光ディスクの所望の半径位置のチルト量を推定し、記録再生時の信号品質を劣化させることなく記録再生特性を著しく改善することが可能である。
【０１５５】
以下、参考例を説明する。なお、第６の観点〜第８の観点、第１９の観点、第２７の観点〜第３１の観点は、明細書の「課題を解決するための手段」において説明されている。
第 1 の観点は、実施の形態における（１）に対応するものである。
【０１５６】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２受光素子で受光する２分割光検出器と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記連続トラックからの反射光を２分割光検出器で受光し、前記第１、第２受光素子からの信号の差である差信号出力を用いて前記光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段を有することを特徴とするチルト検出装置である。
【０１５７】
これにより、記録再生信号用の光学系とは別にチルト角検出用の光学系を必要とせず、光ディスクにあらかじめ記録されているピットを用いてチルト角を検出し、記録再生時の信号品質を向上させることが可能である。これによって、装置の実施規模を縮小させコストを低減する作用を有する。
【０１５８】
第 2 の観点は実施の形態における（４）に対応するものである。
【０１５９】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットとを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２受光素子で受光する２分割光検出器と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第１和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第２和信号とを比較することによって光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段を有することを特徴とするチルト検出装置である。
【０１６０】
第３の観点は実施の形態における（４）、特に図２１示す下側信号レベルに対応するものである。
【０１６１】
第 2 の観点のチルト検出装置において、前記チルト検出手段は、第 1 和信号のエンベロープ信号の絶対値の低い方のレベルと、前記第２和信号のエンベロープ信号の絶対値の低い方のレベルとを比較することを特徴とする。
【０１６２】
第４の観点は実施の形態における（４）、特に図２１示す上側信号レベルに対応するものである。
【０１６３】
第 2 の観点のチルト検出装置において、前記チルト検出手段は、第 1 和信号のエンベロープ信号の絶対値の高い方のレベルと、前記第２和信号のエンベロープ信号の絶対値の高い方のレベルとを比較することを特徴とする。
【０１６４】
第５の観点は実施の形態における（４）、特に図２１示す振幅に対応するものである。
【０１６５】
第 2 の観点のチルト検出装置において、前記チルト検出手段は、第 1 和信号の振幅と、前記第２和信号の振幅とを比較することを特徴とする。
【０１６６】
第９の観点は実施の形態におけるオフトラック検出に対応するものである。
【０１６７】
参考例のチルト検出装置において、前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第３和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第４和信号とを比較することによって前記トラックのセンタと光スポットのセンタとのずれ量であるオフセット量を出力するオフトラック検出手段をさらに有し、オフセット量を前記トラッキング制御手段に加算していることを特徴とする。
【０１６８】
第１０の観点は実施の形態におけるシフトピットの間隔に対応するものである。
【０１６９】
参考例のチルト検出装置において、前記第１シフトピットは繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピットが繰り返し連続して設けられていることを特徴とする。
【０１７０】
第１１の観点は実施の形態におけるシフトピットの間隔が小さい場合（図８）に対応するものである。
【０１７１】
第１０の観点のチルト検出装置において、前記第１シフトピットが繰り返される間隔であるスペースＬｓは、ピット長をＬｐとした場合、Ｌｐ＜Ｌｓ＜２Ｌｐであることを特徴とする。
【０１７２】
第１２の観点は実施の形態におけるシフトピットの間隔が大きい場合（図９）に対応するものである。
【０１７３】
第１０の観点のチルト検出装置において、前記第１シフトピットが繰り返される間隔であるスペースＬｓは、ピット長をＬｐとした場合、２０Ｌｐ＜Ｌｓであることを特徴とする。
【０１７４】
第１３の観点は実施の形態における（３）に対応するものである。
【０１７５】
同心円またはスパイラル状に連続し、周期的にウォブルさせて形成したトラックを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光ディスクからの反射光を受光する光検出器と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記ウォブルするトラックからの反射光を光検出器で受光し、ウォブル信号を出力し、ウォブル信号の振幅によって光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段を有することを特徴とするチルト検出装置である。
【０１７６】
第１４の観点は実施の形態における（２）に対応するものである。
【０１７７】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光ディスクからの反射光を受光する光検出器と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記トラッキング制御手段をオフにして、光スポットがトラックを横断するようにした時に、トラックからの反射光を光検出器で受光し、トラッキングエラー信号を出力し、トラッキングエラー信号の振幅によって光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段を有することを特徴とするチルト検出装置である。
【０１７８】
第１５の観点は実施の形態における図１０に対応するものである。
【０１７９】
参考例のチルト検出装置において、光ディスクの内周部分、中周部分、外周部分でチルト検出を行い、チルト量のサンプリングを行う。これにより、光ディスクの半径位置によらず正確にチルト角を検出し、記録再生時の信号品質を向上させることが可能である。
【０１８０】
第１６の観点は実施の形態における図１０に対応するものである。
【０１８１】
チルト検出手段の出力が一定値以上の時にチルト量の補正を行う。
【０１８２】
第１７の観点は実施の形態における（１）に対応するものである。
【０１８３】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットを有する光ディスクの記録面の傾きを検出し、補正する光ディスク装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２受光素子で受光する２分割光検出器と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記連続トラックからの反射光を２分割光検出器で受光し、前記第１、第２受光素子からの信号の差である差信号出力を用いて前記光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段と、
チルト検出手段により検出されたチルト量により光ディスクの角度を制御するチルト補正手段とを有することを特徴とする光ディスク装置である。
【０１８４】
第１８の観点は実施の形態における（４）に対応するものである。
【０１８５】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットとを有する光ディスクの記録面の傾きを検出し、補正する光ディスク装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２受光素子で受光する２分割光検出器と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第１和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第２和信号とを比較することによって光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段と、
チルト検出手段により検出されたチルト量により光ディスクの角度を制御するチルト補正手段とを有することを特徴とする光ディスク装置である。
【０１８６】
第２０の観点は実施の形態における（３）に対応するものである。
【０１８７】
同心円またはスパイラル状に連続し、周期的にウォブルさせて形成したトラックを有する光ディスクの記録面の傾きを検出し、補正する光ディスク装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光ディスクからの反射光を受光する光検出器と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記ウォブルするトラックからの反射光を光検出器で受光し、ウォブル信号を出力し、ウォブル信号の振幅によって光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段と、
チルト検出手段により検出されたチルト量により光ディスクの角度を制御するチルト補正手段とを有することを特徴とする光ディスク装置である。
【０１８８】
第２１の観点は実施の形態における（２）に対応するものである。
【０１８９】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごと に設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットを有する光ディスクの記録面の傾きを検出し、補正する光ディスク装置であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
前記光ディスクからの反射光を受光する光検出器と、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
前記トラッキング制御手段をオフにして、光スポットがトラックを横断するようにした時に、トラックからの反射光を光検出器で受光し、トラッキングエラー信号を出力し、トラッキングエラー信号の振幅によって光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段と、
チルト検出手段により検出されたチルト量により光ディスクの角度を制御するチルト補正手段とを有することを特徴とする光ディスク装置である。
【０１９０】
第２２の観点は実施の形態における（１）に対応するものである。
【０１９１】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出方法であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、
前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２受光素子で受光し、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御し、
前記連続トラックからの反射光を受光し、前記第１、第２受光素子からの信号の差である差信号出力を用いて前記光ビームの光軸に対する光ディスクの記録面の傾きを検出することを特徴とするチルト検出方法である。
【０１９２】
第２３の観点は実施の形態における（４）に対応するものである。
【０１９３】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットとを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出方法であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、
前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２受光素子で受光し、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御し、
前記第１シフトピットからの反射光を受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第１和信号と、前記第２シフトピットからの反射光を受光し、第１、第２受光素子からの出力の和である第２和信号とを比較することによって光ディスクの記録面の傾きを検出することを特徴とするチルト検出方法である。
【０１９４】
第２４の観点は実施の形態における（５）に対応するものである。
【０１９５】
同心円またはスパイラル状に連続したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットとを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出方法であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、
前記光ディスクからの反射光を、トラック方向の線に沿って２分割された第１、第２受光素子で受光し、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御し、
前記第１シフトピットからの反射光を受光し、第１、第２受光素子からの出力の差である第１差信号と、前記第２シフトピットからの反射光を受光し、第１、第２受光素子からの出力の差である第２差信号とを比較することによって光ディスクの記録面の傾きを検出することを特徴とするチルト検出方法である。
【０１９６】
第２５の観点は実施の形態における（３）に対応するものである。
【０１９７】
同心円またはスパイラル状に連続し、周期的にウォブルさせて形成したトラックを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出方法であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、
前記光ディスクからの反射光を受光し、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御し、
前記ウォブルするトラックからの反射光を受光し、ウォブル信号を出力し、ウォブル信号の振幅によって光ディスクの記録面の傾きを検出することを特徴とするチルト検出方法である。
【０１９８】
第２６の観点は実施の形態における（２）に対応するものである。
【０１９９】
同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出方法であって、
前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、
前記光ディスクからの反射光を受光し、
前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御し、
前記トラッキング制御手段をオフにして、光スポットがトラックを横断するようにした時に、トラックからの反射光を受光し、トラッキングエラー信号を出力し、トラッキングエラー信号の振幅によって光ディスクの記録面の傾きを検出することを特徴とするチルト検出方法である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態における光ディスク装置の構成図
【図２】従来の光ディスク装置の構成図
【図３】従来の光ディスクのチルト補正方法を表す図
【図４】本発明の第１の実施形態における光ディスク装置での記録再生を説明するための図
【図５】本発明の第１の実施形態における光ディスク装置の構成図
【図６】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトを説明するための図
【図７】本発明の第１の実施形態におけるＴチルトを説明するための図
【図８】本発明の第１の実施形態における光ディスクの構成図
【図９】本発明の第１の実施形態における光ディスクの構成図
【図１０】本発明の第１の実施形態における半径位置とＲチルトの関係を表すグラフ
【図１１】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトとプシュプルＴＥ信号の関係を表すグラフ
【図１２】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトとプシュプルＴＥ信号振幅の関係を表すグラフ
【図１３】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトとウォブル信号振幅の関係を表すグラフ
【図１４】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトと繰返し連続ピット列の和信号下側信号レベル差の関係を表すグラフ
【図１５】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトと繰返し連続ピット列の差信号振幅差の関係を表すグラフ
【図１６】本発明の第１の実施形態におけるオフトラックがある場合のＲチルトと繰返し連続ピット列の差信号振幅差の関係を表すグラフ
【図１７】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトと孤立ピットの和信号下側信号レベル差の関係を表すグラフ
【図１８】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトとプシュプルＴＥ信号の関係を説明するための図
【図１９】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトとプシュプルＴＥ信号振幅の関係を説明するための図
【図２０】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトとウォブル信号振幅の関係を説明するための図
【図２１】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトと繰返し連続ピット列の和信号出力の関係を説明するための図
【図２２】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトと繰返し連続ピット列の差信号出力の関係を説明するための図
【図２３】本発明の第１の実施形態に差信号出力を説明するための図
【図２４】本発明の第１の実施形態における光ディスクの構成図
【図２５】本発明の第１の実施形態におけるオフトラックと繰返し連続ピット列の和信号出力の関係を説明するための図
【図２６】本発明の第１の実施形態におけるオフトラック検出方法を説明するための図
【図２７】本発明の第１の実施形態における位相差信号を説明するための図
【図２８】本発明の第１の実施形態におけるオフトラック検出方法を説明するための図
【図２９】本発明の第１の実施形態におけるＲチルトに対するオフトラック誤差のシミュレーション結果を示した図
【符号の説明】
１００ ４分割光検出器
１０１ 光ディスク
１０２ 光ヘッド
１０３ チルト台
１０４ 演算回路
１０５ フォーカス制御部 １０６ トラッキング制御部
１０７ チルト検出部
１０８ チルト補正部
１０９ チルト制御部
１１０ オフトラック検出部
１１１ オフトラック制御部
８０３ 前半部繰返しピット列
８０４ 後半部繰返しピット列
９０３ 前半部孤立ピット
９０４ 後半部孤立ピット

Claims (7)

1. 同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットとを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出装置であって、
   前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
   トラック方向の線とこれに直交する線で分割された４つの受光素子の受光面で、前記光ビームの反射光を受光する４分割光検出器と、
   前記４分割光検出器の出力から生成されたトラッキングエラー信号から、前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
   前記４分割光検出器の対角をなす２つの受光素子の出力を加算した二組の対角和信号から生成されたオフトラック検出信号を生成する演算回路と、
   前記演算回路で生成されたオフトラック検出信号からオフトラック量を検出するオフトラック検出手段と、
   光スポットがトラックのセンタに位置された状態で、
   前記第１シフトピットからの反射光を４分割光検出器で受光した際、前記二組の対角和信号の差を第１差信号とし、
   前記第２シフトピットからの反射光を４分割光検出器で受光した際、前記二組の対角和信号の差を第２差信号とし、
   前記第１差信号と前記第２差信号とを比較することによって光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段とを有し、
   前記トラッキング制御手段に前記オフトラック検出手段の出力を加算することを特徴とするチルト検出装置。
2. 前記光ディスクは、前記第１シフトピットは繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピットが繰り返し連続して設けられていることを特徴とする請求項１に記載のチルト検出装置。
3. 前記光ディスクは、前記第１シフトピットが繰り返される間隔であるスペースＬｓは、ピット長をＬｐとした場合、Ｌｐ＜Ｌｓ＜２Ｌｐであることを特徴とする請求項２に記載のチルト検出装置。
4. 同心円またはスパイラル状に連続して形成したトラックと、該トラックに一定間隔ごとに設けられ、かつトラックの中心からトラックの第１側方および第２側方にそれぞれずらせて形成した第１シフトピットと第２シフトピットとを有する光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出装置であって、
   前記光ディスクに光ビームを絞った光スポットをあて、信号の記録再生を行う光ヘッドと、
   トラック方向の線とこれに直交する線で分割された４つの受光素子の受光面で、前記光ビームの反射光を受光する４分割光検出器と、
   前記４分割光検出器の出力から生成されたトラッキングエラー信号から、前記光スポットをトラック上に位置制御するトラッキング制御手段と、
   前記４分割光検出器の対角をなす２つの受光素子の出力を加算した二組の対角和信号から生成されたオフトラック検出信号を生成する演算回路と、
   前記演算回路で生成されたオフトラック検出信号からオフトラック量を検出するオフトラック検出手段と、
   トラック方向の線で分割された２つの受光素子を含む２分割光検出器と、
   光スポットがトラックのセンタに位置された状態で、
   前記第１シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光した際、２つの受光素子からの出力の差を第１差信号とし、
   前記第２シフトピットからの反射光を２分割光検出器で受光した際、２つの受光素子からの出力の差を第２差信号とし、
   前記第１差信号と前記第２差信号とを比較することによって光ディスクの記録面の傾きを検出するチルト検出手段とを有し、
   前記トラッキング制御手段に前記オフトラック検出手段の出力を加算することを特徴とするチルト検出装置。
5. 前記光ディスクは、前記第１シフトピットは繰り返し連続して設けられ、続いて前記第２シフトピットが繰り返し連続して設けられていることを特徴とする請求項４に記載のチルト検出装置。
6. 前記光ディスクは、前記第１シフトピットが繰り返される間隔であるスペースＬｓは、ピット長をＬｐとした場合、Ｌｐ＜Ｌｓ＜２Ｌｐであることを特徴とする請求項５に記載のチルト検出装置。
7. 前記２分割光検出器は、前記４分割光検出器の少なくとも一部を利用して構成したことを特徴とする請求項４に記載のチルト検出装置。

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