JP3454445B2 - Defect size measurement method for mobile flaw detector - Google Patents

Defect size measurement method for mobile flaw detector

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JP3454445B2
JP3454445B2 JP32829094A JP32829094A JP3454445B2 JP 3454445 B2 JP3454445 B2 JP 3454445B2 JP 32829094 A JP32829094 A JP 32829094A JP 32829094 A JP32829094 A JP 32829094A JP 3454445 B2 JP3454445 B2 JP 3454445B2
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detecting
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憲次 須山
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は超音波探傷等の移動式探
傷装置における欠陥寸法測定方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a defect size measuring method in a mobile flaw detector such as ultrasonic flaw detector.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば被探傷物に沿って自走可能に構成
した移動式探傷装置等において利用する超音波探傷にお
いて欠陥の寸法を測定する方法としては、下記のような
方法がある。 エコー強度による方法…欠陥寸法が超音波ビームの幅
よりも小さい場合において、エコー強度と欠陥寸法が良
い相関関係にあることを利用し、エコー強度から欠陥寸
法を推定する方法である。 画像による方法…超音波探傷センサ、即ち探触子を走
査して、夫々の位置におけるエコーの反射源位置を算出
し、その位置をプロットして得られた画像(Bスコープ
表示、Cスコープ表示等)により欠陥寸法を推定する方
法である。 端部エコーによる方法…超音波の伝搬時間を利用した
測定法の一つで、欠陥先端部のエコー、即ち「端部エコ
ー」と、欠陥と材料表面とのコーナーのエコー、即ち
「コーナーエコー」との路程差により欠陥寸法を推定す
る方法である。 その他の方法…探触子の移動距離による方法、伝搬時
間を利用した他の方法、周波数分析による方法等があ
る。
2. Description of the Related Art For example, as a method for measuring the size of a defect in ultrasonic flaw detection, which is used in a movable flaw detector or the like configured to be capable of self-propelled along an object to be inspected, there is the following method. Method based on echo intensity: This is a method of estimating the defect size from the echo intensity by utilizing the fact that the echo intensity and the defect size have a good correlation when the defect size is smaller than the width of the ultrasonic beam. Image-based method: An ultrasonic flaw detection sensor, that is, a probe is scanned to calculate the echo reflection source position at each position, and an image obtained by plotting the position (B scope display, C scope display, etc.) ) Is a method of estimating the defect size. Edge echo method: One of the measurement methods that uses the propagation time of ultrasonic waves. It is an echo at the tip of the defect, or "edge echo", and an echo at the corner between the defect and the material surface, or "corner echo". This is a method of estimating the defect size from the difference in the path length between the and. Other methods: a method based on the moving distance of the probe, another method using the propagation time, a method based on frequency analysis, and the like.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述したような方法に
より同一の欠陥の測定を行った場合、欠陥寸法の測定値
は、欠陥に対する超音波の入射方向により変化してしま
い、測定した欠陥寸法が必ずしも実際の欠陥寸法を反映
しているとはいえない。
When the same defect is measured by the above-mentioned method, the measured value of the defect size changes depending on the incident direction of the ultrasonic wave to the defect, and the measured defect size is It does not necessarily reflect the actual defect size.

【0004】例えば図3は、人工的に構成した溶接欠陥
A,B,Cについて、いろいろな方向から探傷して、夫
々につきエコー強度と欠陥像の高さ(Bスコープ表示上
の高さ)を測定したものを、縦軸をエコー強度、横軸を
欠陥像の高さとしてプロットしたものであり、夫々丸
印、四角印、三角印が溶接欠陥A,B,Cに対応するも
のである。
For example, in FIG. 3, for artificially constructed welding defects A, B, and C, flaws are detected from various directions, and the echo intensity and the defect image height (height on the B scope display) are respectively detected. The measured values are plotted with the ordinate indicating the echo intensity and the abscissa indicating the height of the defect image. The circles, squares, and triangles correspond to welding defects A, B, and C, respectively.

【0005】この図から、欠陥寸法の測定値は、同一の
欠陥でも探傷方向、即ち欠陥に対する超音波の入射方向
により大幅に変化することがわかる。
From this figure, it can be seen that the measured value of the defect size greatly changes depending on the flaw detection direction, that is, the incident direction of ultrasonic waves to the defect, even for the same defect.

【0006】欠陥が直線形状である場合には、原理的に
は欠陥の長手方向に対して直角の方向を探傷方向とした
時が最も欠陥寸法が大きく測定されるわけであるが、こ
のような形状でない場合、特に自然欠陥の場合には形状
が複雑であるため、必ずしも最適な探傷方向が特定され
るとは限らない。このことは、例えば図2において、エ
コー強度と欠陥像の高さの最大となる探傷方向が必ずし
も一致しないことからわかる。従って本発明は、このよ
うな課題を解決することを目的とするものである。
In the case where the defect has a linear shape, in principle, the defect size is most measured when the flaw detection direction is perpendicular to the longitudinal direction of the defect. If the shape is not a shape, especially if it is a natural defect, the shape is complicated, and therefore the optimum flaw detection direction is not always specified. This can be understood from the fact that the echo intensity and the flaw detection direction that maximizes the height of the defect image do not always coincide with each other in FIG. Therefore, the present invention aims to solve such a problem.

【0007】上述した課題を解決するために、本発明で
は、欠陥検出センサを直線的に移動し、その移動方向の
直角方向を欠陥検出方向として走査して欠陥の検出を行
う移動式探傷装置において、ある移動方向において欠陥
からの信号を検出した場合には、その方向での適宜移動
範囲のデータ群により欠陥寸法を推定して、これを記憶
し、次いで前回の移動方向から適宜角度変更した移動方
向につき、前回の移動範囲に対応する範囲で上記欠陥寸
法の推定、記憶を行う動作を、欠陥からの信号が検出さ
れなくなるまで繰り返して欠陥寸法の推定値群を記憶
し、記憶された推定値群のうちの最大値を欠陥寸法の測
定値とする欠陥寸法測定方法を提案する。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is directed to a moving flaw detector in which a defect detection sensor is linearly moved, and a defect is detected by scanning a direction perpendicular to the moving direction as a defect detection direction. When a signal from a defect is detected in a certain moving direction, the defect size is estimated from the data group of the appropriate moving range in that direction, this is stored, and then the angle is appropriately changed from the previous moving direction. For each direction, the operation of estimating and storing the defect size in the range corresponding to the previous movement range is repeated until the signal from the defect is no longer detected, and the defect size estimated value group is stored, and the stored estimated value is stored. We propose a defect dimension measurement method in which the maximum value of the group is the measured value of the defect dimension.

【0008】また本発明では、上記の方法において、欠
陥検出センサは、欠陥検出方向と、この方向の直角方向
を走査方向とすることを提案する。
Further, the present invention proposes that, in the above method, the defect detection sensor has a defect detection direction and a direction perpendicular to the defect detection direction as a scanning direction.

【0009】また本発明では上記の構成において、欠陥
検出動作は、複数の異なった欠陥寸法測定方法における
検出動作とし、各欠陥検出動作において複数の異なった
方法毎に欠陥寸法を導出すると共に、各方法毎に欠陥寸
法の最大値を抽出して、夫々を測定値とすることを提案
する。
Further, according to the present invention, in the above structure, the defect detecting operation is a detecting operation in a plurality of different defect size measuring methods, and the defect size is derived for each of a plurality of different method in each defect detecting operation. It is proposed to extract the maximum value of the defect size for each method and use each as the measured value.

【0010】そして本発明では、上記欠陥検出センサ
は、超音波探傷センサとすることを提案する。
The present invention proposes that the defect detection sensor is an ultrasonic flaw detection sensor.

【0011】[0011]

【作用】欠陥の検出動作を各方向から行って、その最大
値を欠陥寸法の測定値とすることで、欠陥寸法の過小評
価が防げる。
By performing the defect detection operation from each direction and setting the maximum value as the measured value of the defect size, the underestimation of the defect size can be prevented.

【0012】各方向の検出動作につき複数の欠陥寸法測
定方法を適用すれば、夫々の測定方法につき欠陥寸法の
最大値を測定値として得ることができ、欠陥の総合的判
定が可能となる。
If a plurality of defect size measuring methods are applied to the detection operation in each direction, the maximum value of the defect size can be obtained as a measured value for each measuring method, and the defect can be comprehensively judged.

【0013】[0013]

【実施例】次に本発明を図について説明する。図1は本
発明による欠陥検出動作を示すもので、符号1は被探傷
物に存在する欠陥、2は移動式探傷装置に設置した欠陥
検出センサである。欠陥検出センサ2は探傷方法に対応
して設定する。この実施例では、探傷方法は超音波探傷
方法であり、従って欠陥検出センサ2は超音波探触子で
ある。この欠陥検出センサ2は図示を省略している移動
式探傷装置に、縦横方向に移動可能で、旋回が可能に支
持している。また移動式探傷装置は、欠陥検出センサ2
の、被探傷物上における座標及び移動方向を管理可能な
構成である。
The present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a defect detecting operation according to the present invention. Reference numeral 1 is a defect existing in an object to be inspected, and 2 is a defect detection sensor installed in a movable flaw detector. The defect detection sensor 2 is set according to the flaw detection method. In this embodiment, the flaw detection method is an ultrasonic flaw detection method, and thus the defect detection sensor 2 is an ultrasonic probe. The defect detection sensor 2 is supported by a movable flaw detector (not shown) so as to be movable in the vertical and horizontal directions and to be rotatable. In addition, the movable flaw detector has a defect detection sensor 2
This is a configuration capable of managing the coordinates and the moving direction on the flaw detection object.

【0014】以上の構成において、移動式探傷装置は、
図1に示すように欠陥検出センサ2を図中縦方向、即ち
A方向に所定距離移動させた後、図中横方向、即ちA方
向と直角をなすB方向に移動させ、このように欠陥検出
センサ2をジグザグ状に走査して欠陥の検出動作を行
う。この際の、欠陥検出センサ2における欠陥検出方
向、即ち、この場合、超音波ビーム3の中心の指向方向
はB方向である。
In the above structure, the movable flaw detector is
As shown in FIG. 1, after the defect detection sensor 2 is moved in the vertical direction in the drawing, that is, in the A direction by a predetermined distance, it is moved in the horizontal direction in the drawing, that is, in the B direction that is perpendicular to the A direction, and defect detection is performed in this way. The sensor 2 is scanned in a zigzag pattern to detect defects. At this time, the defect detection direction in the defect detection sensor 2, that is, the direction of the center of the ultrasonic beam 3 in this case is the B direction.

【0015】しかして移動式探傷装置は、欠陥検出セン
サ2による欠陥検出動作において欠陥1からのエコーを
観測した場合には、欠陥検出センサ2を上述したよう
に、欠陥検出方向と直角方向、即ちA方向に移動させな
がらジグザグ状に走査して適宜移動範囲における欠陥の
検出動作を行う。この移動範囲は、例えば予め設定した
移動範囲としたり、欠陥を検出した位置から欠陥を検出
しなくなった位置までの範囲とすることができる。この
ようにして移動式探傷装置は、A方向での移動範囲にお
いて超音波のエコーのデータ群から、例えば上述した
〜の各方法により欠陥寸法を推定し、これを記憶手段
に記憶する。例えば被探傷物に図に示すような直線的な
欠陥1が存在している場合、この回の検出動作では、欠
陥1の長さ方向と角度θ1を成すB方向から欠陥1を検
出していることになる。
When the echo from the defect 1 is observed in the defect detecting operation by the defect detecting sensor 2, the movable flaw detector detects the defect detecting sensor 2 in the direction perpendicular to the defect detecting direction, as described above. While moving in the A direction, scanning is performed in a zigzag manner to perform a defect detecting operation in a moving range as appropriate. This movement range can be, for example, a preset movement range or a range from a position where a defect is detected to a position where a defect is no longer detected. In this way, the mobile flaw detector estimates the defect size from the ultrasonic echo data group in the moving range in the A direction, for example, by each of the above-mentioned methods (1) to (5) and stores it in the storage means. For example, when a linear defect 1 as shown in the figure is present in the flaw detection object, in this detection operation, the defect 1 is detected from the B direction forming an angle θ 1 with the length direction of the defect 1. Will be there.

【0016】次いで移動式探傷装置は、上記前回の移動
方向から適宜角度変更した移動方向について、前回の移
動範囲に対応する範囲、例えば上述したように、予め設
定した移動範囲や、欠陥を検出した位置から欠陥を検出
しなくなった位置までの範囲において上記欠陥寸法の推
定、記憶を行う。移動方向の変更は、例えば、前回の移
動範囲の端部における所定角度θの旋回動作により行う
ことができ、このようにして変更した移動方向、即ち図
2中のA′方向につき、上述したように欠陥検出センサ
2をジグザグ状に走査して前回の移動範囲に対応する範
囲における欠陥の検出動作を行う。この回の検出動作で
は、欠陥1の方向と角度θ2を成すB′方向から欠陥を
検出していることになる。尚、角度θ2=θ1+θであ
る。
Then, the movable flaw detector detects a range corresponding to the previous movement range, for example, a preset movement range or a defect as described above, in the movement direction in which the angle is appropriately changed from the previous movement direction. The defect size is estimated and stored in the range from the position to the position where the defect is no longer detected. The movement direction can be changed by, for example, the turning operation at the predetermined angle θ at the end of the previous movement range. The movement direction changed in this way, that is, the A ′ direction in FIG. 2, is as described above. Then, the defect detection sensor 2 is scanned in a zigzag manner to detect a defect in a range corresponding to the previous movement range. In this detection operation, the defect is detected from the B'direction forming an angle θ 2 with the direction of the defect 1. Note that the angle θ 2 = θ 1 + θ.

【0017】以上の検出動作、即ち前回の移動方向から
適宜角度変更した移動方向につき、前回の移動範囲に対
応する範囲で上記欠陥寸法の推定、記憶を行う動作を、
欠陥からの信号が検出されなくなるまで繰り返して欠陥
寸法の推定値群を記憶する。尚、上記A方向から角度θ
毎の角度変更は、時計方向、反時計方向のいずれについ
ても行い、こうして欠陥からの信号が検出されなくなっ
た時点で欠陥1に対する検出動作の手順を完了する。そ
して記憶されている推定値群のうちの最大値を欠陥寸法
の測定値として処理する。
The above detection operation, that is, the operation of estimating and storing the defect size in the range corresponding to the previous moving range in the moving direction obtained by appropriately changing the angle from the previous moving direction,
The estimated value group of the defect size is stored repeatedly until the signal from the defect is no longer detected. Note that the angle θ from the above A direction
The angle change is performed for each of the clockwise direction and the counterclockwise direction, and when the signal from the defect is no longer detected, the procedure of the detection operation for the defect 1 is completed. Then, the maximum value of the stored estimated value group is processed as the measured value of the defect dimension.

【0018】次に本発明の動作例を図4、図5に示す流
れ図により説明する。まず図4は自走式の超音波探傷ロ
ボットにおいて本発明を適用した場合の処理の流れの一
例を示すものである。まずロボットは処理の始まりS1
においては、例えばA方向に移動して、所定の探傷開始
位置にまで移動したものとする。この位置においてロボ
ットは、ステップS2において、欠陥検出方向と直角を
成す方向、例えば図1中のA方向に予め設定した所定距
離だけジグザグに移動しながら、B方向を欠陥検出方向
として欠陥検出動作を行い、欠陥からの信号のデータを
収集する。そしてステップS3において欠陥からの信号
の有無を判定する。
Next, an operation example of the present invention will be described with reference to the flow charts shown in FIGS. First, FIG. 4 shows an example of the flow of processing when the present invention is applied to a self-propelled ultrasonic flaw detection robot. First, the robot starts processing S1
In this case, for example, it is assumed that it has moved in the A direction to reach a predetermined flaw detection start position. At this position, in step S2, the robot moves in a zigzag direction in a direction perpendicular to the defect detection direction, for example, the direction A in FIG. Perform and collect signal data from defects. Then, in step S3, it is determined whether or not there is a signal from the defect.

【0019】判定の結果、欠陥からの信号がない場合に
はステップS10に移行し、ロボットはA方向に他の位
置まで移動して、上述と同様にステップS2によりB方
向を探傷方向として次の所定距離間の欠陥検出動作を行
う。そしてステップS3において欠陥からの信号の有無
を判定する。
As a result of the determination, if there is no signal from the defect, the process proceeds to step S10, the robot moves to the other position in the A direction, and in the same manner as described above, the B direction is set as the flaw detection direction in the next step S2. A defect detection operation for a predetermined distance is performed. Then, in step S3, it is determined whether or not there is a signal from the defect.

【0020】ステップS3での判定の結果、欠陥からの
信号、即ちエコーを検出していて欠陥からの信号のデー
タを収集していた場合にはステップS4において欠陥寸
法の導出(推定)と必要な処理を行い、符号M1で示す
ように記憶手段に欠陥寸法の第1回推定値として記憶す
る。そしてステップS5に移行してロボットは旋回機構
等により自体の移動方向を所定角度θだけ変更して、図
2中のA′方向とする。そしてこの状態で前回の移動範
囲に対応する範囲についてジグザグに移動しながら、
B′方向を欠陥検出方向として欠陥検出動作を行い、欠
陥からの信号のデータを収集する。そしてステップS6
において欠陥からの信号の有無を判定する。
As a result of the determination in step S3, when the signal from the defect, that is, the echo is detected and the data of the signal from the defect is collected, it is necessary to derive (estimate) the defect size in step S4. Processing is performed and the result is stored in the storage means as the first estimated value of the defect dimension, as indicated by the symbol M1. Then, proceeding to step S5, the robot changes the moving direction of the robot by a predetermined angle θ by the turning mechanism or the like to set it as the A ′ direction in FIG. And in this state, while moving zigzag about the range corresponding to the previous movement range,
A defect detection operation is performed with the B'direction as the defect detection direction, and signal data from the defect is collected. And step S6
In, it is determined whether there is a signal from the defect.

【0021】判定の結果、欠陥からの信号を検出してい
て、欠陥からの信号のデータを収集していた場合にはス
テップS7において欠陥寸法の導出と必要な処理を行
い、符号Mnで示すように記憶手段に欠陥寸法の第2回
推定値として記憶する。次いで、ステップS5に戻り、
更にロボットの移動方向を変更して欠陥検出センサの欠
陥検出方向を変えて上述した欠陥検出動作を行う。この
ようにしてステップS6において欠陥からの信号を検出
しているかぎり、順次ロボットの移動方向を変更して欠
陥検出センサを移動させ、欠陥に対する方向を変えた欠
陥検出動作が行われ、記憶手段には順次、欠陥の第3
回、………第n回推定値として記憶されていく。
As a result of the judgment, when the signal from the defect is detected and the data of the signal from the defect is collected, the defect size is derived and the necessary processing is performed in step S7, as indicated by the symbol Mn. Then, it is stored in the storage means as the second estimated value of the defect size. Then, return to step S5,
Furthermore, the moving direction of the robot is changed to change the defect detecting direction of the defect detecting sensor to perform the above-described defect detecting operation. In this way, as long as the signal from the defect is detected in step S6, the defect detection operation is performed by sequentially changing the moving direction of the robot and moving the defect detection sensor, and the defect detection operation in which the direction with respect to the defect is changed is performed and stored in the storage means. Is the third defect
........ It is stored as the nth estimated value.

【0022】そしてステップS6における判定の結果、
上記移動範囲において欠陥からの信号を検出しなくなっ
た場合には、ステップS8に移行し、記憶手段に記憶さ
れている第1回〜第n回の欠陥寸法の推定値の最大値を
抽出する。そして抽出された最大値をステップS9にお
いて欠陥寸法の測定値として記憶した後、ステップS1
0に移行する。欠陥寸法の測定値はロボットの位置と共
に記憶する。
Then, as a result of the determination in step S6,
When the signal from the defect is no longer detected in the movement range, the process proceeds to step S8, and the maximum value of the first to n-th estimated defect size values stored in the storage unit is extracted. Then, after storing the extracted maximum value as the measured value of the defect dimension in step S9, step S1
Move to 0. The measurement value of the defect size is stored together with the position of the robot.

【0023】以上のようにして被探傷物のある位置にお
ける欠陥寸法の測定値を導出、そして必要な記憶等を行
った後、ロボットは上記A方向に他の位置に移動し、再
びステップS2に移行して上述の欠陥検出動作が繰り返
される。
After deriving the measured value of the defect size at a certain position of the flaw-detecting object and performing necessary storage as described above, the robot moves to another position in the above-mentioned A direction, and again returns to step S2. After the shift, the above defect detection operation is repeated.

【0024】つぎに図5は図4と同様に自走式の超音波
ロボットにおいて本発明を適用した方法の処理の流れの
他例を示すものであり、図4の方法と異なる点は、欠陥
検出動作は、複数の異なった欠陥寸法測定方法における
検出動作とし、各欠陥検出動作において複数の異なった
方法毎に欠陥寸法を導出すると共に、各方法毎に欠陥寸
法の最大値を抽出して、夫々を測定値とする点であり、
この点を除き、符号を同一とする各ステップの動作は図
4のものと同様である。
Next, FIG. 5 shows another example of the processing flow of the method to which the present invention is applied in a self-propelled ultrasonic robot similar to FIG. 4. The difference from the method of FIG. The detecting operation is a detecting operation in a plurality of different defect size measuring methods, and the defect size is derived for each of a plurality of different methods in each defect detecting operation, and the maximum value of the defect size is extracted for each method. It is the point that each is a measured value,
Except for this point, the operation of each step with the same reference numeral is the same as that of FIG.

【0025】この方法では、夫々の測定方法につき欠陥
寸法の最大値を測定値として得ることができるので、欠
陥を、複数の方法における最大値としてとらえることが
できるという利点がある。
With this method, the maximum value of the defect size can be obtained as the measured value for each measuring method, so that there is an advantage that the defect can be regarded as the maximum value in a plurality of methods.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明は以上の通りであるので、次のよ
うな効果がある。 欠陥の検出動作を各方向から行って、その最大値を欠
陥寸法の測定値とするため、欠陥を過小評価することが
防げる。 各方向の検出動作につき複数の欠陥寸法測定方法を適
用すれば、夫々の測定方法につき欠陥寸法の最大値を測
定値として得ることができるので、欠陥を、複数の方法
における最大値としてとらえることができ、欠陥の過小
評価を、各方法により防げる。
As described above, the present invention has the following effects. Since the defect detection operation is performed from each direction and the maximum value is used as the measured value of the defect size, it is possible to prevent the defect from being underestimated. If multiple defect dimension measurement methods are applied to the detection operation in each direction, the maximum value of the defect dimension can be obtained as the measurement value for each measurement method, so that the defect can be regarded as the maximum value in the multiple methods. Yes, and underestimation of defects can be prevented by each method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明による欠陥検出動作のある段階を示す
概念図である。
FIG. 1 is a conceptual diagram showing a stage of a defect detection operation according to the present invention.

【図2】 本発明による欠陥検出動作の次の段階を示す
概念図である。
FIG. 2 is a conceptual diagram showing the next stage of the defect detection operation according to the present invention.

【図3】 探傷方向の変化による欠陥寸法の変化を示す
説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a change in defect size due to a change in flaw detection direction.

【図4】 本発明の動作例を示す流れ図である。FIG. 4 is a flowchart showing an operation example of the present invention.

【図5】 本発明の他の動作例を示す流れ図である。FIG. 5 is a flowchart showing another operation example of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 欠陥 2 欠陥検出センサ 3 超音波ビーム 1 defect 2 Defect detection sensor 3 ultrasonic beam

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−133942(JP,A) 特開 昭61−117450(JP,A) 特開 昭64−68652(JP,A) 特開 昭64−80859(JP,A) 特開 昭63−263465(JP,A) 特開 昭49−131489(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 29/00 - 29/28 G01B 17/00 - 17/08 G01N 22/02 Continuation of the front page (56) Reference JP-A-5-133942 (JP, A) JP-A-61-117450 (JP, A) JP-A-64-68652 (JP, A) JP-A-64-80859 (JP , A) JP-A-63-263465 (JP, A) JP-A-49-131489 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G01N 29/00-29/28 G01B 17/00-17/08 G01N 22/02

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 欠陥検出センサを直線的に移動し、その
移動方向の直角方向を欠陥検出方向として走査して欠陥
の検出を行う移動式探傷装置において、ある移動方向に
おいて欠陥からの信号を検出した場合には、その方向で
の適宜移動範囲のデータ群により欠陥寸法を推定して、
これを記憶し、次いで前回の移動方向から適宜角度変更
した移動方向につき、前回の移動範囲に対応する範囲で
上記欠陥寸法の推定、記憶を行う動作を、欠陥からの信
号が検出されなくなるまで繰り返して欠陥寸法の推定値
群を記憶し、記憶された推定値群のうちの最大値を欠陥
寸法の測定値とすることを特徴とする移動式探傷装置に
おける欠陥寸法測定方法
1. A moving flaw detector for detecting a defect by linearly moving a defect detection sensor and scanning the direction perpendicular to the moving direction as a defect detection direction to detect a signal from the defect in a certain moving direction. In that case, the defect size is estimated from the data group of the appropriate movement range in that direction,
This is stored, and then the operation of estimating and storing the defect size in the range corresponding to the previous moving range is repeated until the signal from the defect is no longer detected in the moving direction where the angle is appropriately changed from the previous moving direction. Defect size estimation value group is stored as a defect size measurement value, and the maximum value of the stored estimation value group is used as the defect size measurement value.
【請求項2】 欠陥検出センサは、欠陥検出方向と、こ
の方向の直角方向を走査方向としたことを特徴とする請
求項1記載の移動式探傷装置における欠陥寸法測定方法
2. The defect size measuring method in a mobile flaw detector according to claim 1, wherein the defect detecting sensor has a defect detecting direction and a direction perpendicular to the defect detecting direction.
【請求項3】 欠陥検出動作は、複数の異なった欠陥寸
法測定方法における検出動作とし、各欠陥検出動作にお
いて複数の異なった方法毎に欠陥寸法を導出すると共
に、各方法毎に欠陥寸法の最大値を抽出して、夫々を測
定値とすることを特徴とする請求項1記載の移動式探傷
装置における欠陥寸法測定方法
3. The defect detecting operation is a detecting operation in a plurality of different defect size measuring methods, and in each defect detecting operation, the defect size is derived for each of a plurality of different methods, and the maximum defect size is obtained for each method. 2. A method for measuring a defect size in a mobile flaw detector according to claim 1, wherein the values are extracted and used as measured values.
【請求項4】 欠陥検出センサは、超音波探傷センサで
あることを特徴とする請求項1,2又は3記載の移動式
探傷装置における欠陥寸法測定方法
4. The defect size measuring method in a movable flaw detector according to claim 1, wherein the defect detection sensor is an ultrasonic flaw detector.
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