JP3452810B2 - 光ディスク再生装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク再生装
置に関し、より詳細には、様々な種類の情報が記録され
ている光ディスク（例えば、ディジタルビデオディスク
やコンパクトディスク等）において、ディスク内の領域
によってピット形状が異なる悪い状態の光ディスクの場
合にも、再生された情報信号におけるエラーレートを低
減化するとともに、再生動作を良好に行うことを可能に
した当該光ディスク再生装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の光ディスク再生装置において、エ
ラーレートが大き過ぎて訂正不可能な場合にエラーレー
トを低減する手段を有するものがあり、この例を示すも
のとして、特開平９−１７１６６３号公報の開示を挙げ
ることができる。図６は、この従来例の装置を機能ブロ
ックにて示す図であり、図６に基づき装置構成とその動
作の概要を説明する。装置構成としては、光ディスクよ
りのアナログ情報信号を所定のスライスレベルで２値化
して再生する再生手段１０と、光ディスクの特定領域に
書き込んだ特定のパターンを再生するに際して、上記２
値化に用いるスライスレベルに対して複数のオフセット
値を与えて、そのレベルを変更するスライスレベル変更
手段２０と、各スライスレベルについての再生データの
エラーレートを求めるエラーレート算出手段３０と、エ
ラーレート算出手段３０で算出されたエラーレートに基
づいて特定種類の光ディスクの適正スライスレベルを得
るためのオフセット値を決定するスライスレベル補正手
段４０とを備えている。

【０００３】この光ディスク再生装置の動作としては、
光ディスク再生時、ＭＰＵ（MicroProcessor Unit）１
００のスライスレベル変更手段２０が作動し、光ディス
クからの信号を処理する再生手段１０におけるピークボ
トムホルダ１４より入力される信号をスライスするスラ
イスレベルに対してオフセット値を２値化回路１５に入
力し、スライスレベルＡで再生を試み、２値化処理を行
う。エラーレート算出手段３０は、この時（スライスレ
ベルＡ設定時）の２値化後の信号をデコーダ１６を通し
デコードし得た出力と予めテストパターンメモリ９０内
に記憶されているテストパターンとを比較してエラーレ
ートＥｒａが算出され、この結果がスライスレベルＡと
ともにレジスタＲａに格納される。次に、上記スライス
レベルＡより高いスライスレベルＢで上記と同様にエラ
ーレートＥｒｂを算出して、レジスタＲｂに収納する。
この様にして、順次スライスレベルをＡ→Ｂ→Ｃ→Ｄ→
Ｅと高くしながら、各スライスレベルでのエラーレート
Ｅｒａ、Ｅｒｂ、Ｅｒｃ、Ｅｒｄ、Ｅｒｅを対応するレ
ジスタＲａ、Ｒｂ、Ｒｃ、Ｒｄ、Ｒｅに収納していく。

【０００４】次いで、スライスレベル補正手段４０は各
レジスタＲａ〜Ｒｅに収納されたエラーレートを比較し
て、エラーレートが許容値以下のスライスレベルの上限
値と下限値を決定する。さらに、上記上限値、下限値の
中間の値を最適スライスレベルとし、ピークボトムホル
ダ１４より出力されるピークレベルとボトムレベルの中
点が最適スライスレベルとなる補正点を該中点に対する
オフセット値としてオフセット値メモリ４１に収納す
る。これによって、最適スライスレベルが得られたこと
になり、以降の再生は、ピークボトムホルダ１４より出
力されるピークレベルとボトムレベルの中点に対して常
に上記補正値がオフセットされたスライスレベルでの再
生がなされる。

【０００５】また、従来技術の他の例として、特開平２
−８１３６８号公報の開示を挙げることができる。この
例では、書き替え可能形ディスク装置の記録データ信号
再生系において、読み取ったアナログの記録データ信号
をディジタル化する過程で、アナログのデータ信号の振
幅変動に応じてスライスレベルを制御し、確実なデータ
再生を行う回路を設けたことを特徴とする光ディスク装
置の再生方式が開示されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記２
つの従来技術の場合、例えば、ディスク内の内周付近領
域と外周付近領域とでビット形状が違う場合の動作につ
いては、一切記載されていない。従って、このようなデ
ィスクを従来装置で再生する場合の動作としては、下記
の２通りの動作が予測される。 (1) たとえば、内周付近領域での「最適スライスレベ
ル」が記憶手段に記憶されているため、外周付近領域を
再生するときにもこの「最適スライスレベル」でスライ
スが行われる。 (2) 各領域にアクセスする度に「スライスレベル変更手
段」が動作する。このような動作を実行した場合、下記
のような問題点が生じることとなる。 上記(1)の場合については、外周付近領域での「最適ス
ライスレベル」とは異なるレベルでのスライスが行われ
るため。最悪の場合は再生不可能となる。上記(2)の場
合については、「内周付近領域から外周付近領域にアク
セスし、外周付近領域から内周領域へアクセスする」と
いう動作を頻繁に繰り返したときにアクセスに相当な時
間を要し処理速度を遅くしてしまう。

【０００７】加えて、上記特開平９−１７１６６３号公
報に開示された例の場合、予め用意されたスライスレベ
ルのオフセット値すべてのパターンを実行してエラーレ
ートを算出するので、「最適スライスレベル」を求める
のに常に一定時間を要する。従って、光ディスクから読
み出した再生データを蓄えておくバッファの残量が少な
くなり、再生中に光ディスク上で傷やほこりを検出した
こと等によるデータ欠落に対する保護性能をいたずらに
低下させる、という問題点が起きる可能性のあるもので
あった。

【０００８】本発明は、上述の従来技術の問題点に鑑み
てなされたものであって、ディスク内の領域によってピ
ット形状が異なる悪い状態の光ディスクの場合にも、再
生不能或いは再生処理速度の低下を起こすことなく、情
報信号の再生動作を良好に行うことを可能にした当該光
ディスク再生装置を提供することをその目的とする。

【０００９】

【課題を解決する手段】本発明は上記した課題を解決す
るために、光ディスク再生中は常に再生ＲＦ信号のエラ
ーレートを監視し、エラーレートが訂正不能領域まで悪
化し、再生ＲＦ信号の読取が不可能となった場合に、デ
ータスライスレベルとは異なったスライスレベルを作成
する第２のスライスレベル作成手段と、１度再生して再
生可能とされた光ディスク上の領域と、そのときの「再
生可能なデータスライスレベル」とを記憶する記憶手段
とを有するようにしたものである。すなわち、粗悪光デ
ィスクを再生する場合でも、エラーレート監視とデータ
スライスレベルを変更する第２のスライスレベル作成手
段によってエラーレートを低減させて再生可能とする。
また、光ディスク上の１度再生した領域或いはその付近
の領域にアクセスする場合には、記憶手段に記憶させて
あるデータスライスレベルを読出し、アクセス速度を向
上させると共に目的の領域を確実に再生する、という動
作を行うことを特徴とする光ディスク再生装置を提供す
るものである。

【００１０】そして、各請求項の発明は、以下の技術手
段により構成される。請求項１の発明は、記録済み光デ
ィスクから読み取られた再生ＲＦ信号にデータスライス
レベルに基づくスライス処理を行うことによりデータ信
号を得るデータ信号化手段と、データ信号からデータス
ライスレベルを作成する第１のスライスレベル作成手段
と、データ信号のエラーレートを検出するエラーレート
検出手段とを有する光ディスク再生装置であって、第１
のスライスレベル作成手段で作成されたデータスライス
レベルとは異なったスライスレベルを、エラーレート検
出手段で検出されたエラーレートが低減されるように作
成する第２のスライスレベル作成手段と、光ディスクを
複数の径方向領域に分け、領域ごとに再生可能とされた
適正なデータスライスレベルを記憶する記憶手段と、第
１のスライスレベル作成手段で作成されたデータスライ
スレベルと第２のスライスレベル作成手段で作成された
データスライスレベルと記憶手段に記憶されたデータス
ライスレベルとの何れかを選択する切換え手段とを具備
し、切換え手段は、第１のスライスレベル作成手段で作
成されたデータスライスレベルを選択した際、エラーレ
ート検出手段で検出されたエラーレートがデータ読取が
できない程大きかった場合、記憶手段にデータスライス
レベルが記憶されているときは、記憶手段に記憶されて
いるデータスライスレベルを選択し、記憶手段にデータ
スライスレベルが記憶されていないときは、第２のスラ
イスレベル作成手段で作成されるデータスライスレベル
を選択するように切換えることを特徴とするものであ
る。

【００１１】請求項２の発明は、請求項１記載の光ディ
スク再生装置で、第２のスライスレベル作成手段は、第
１のスライスレベル作成手段で作成されたデータスライ
スレベルを増加又は減少させてエラーレート検出手段で
検出されたエラーレートを低減するオフセット値を作成
し、このオフセット値を第１のスライスレベル作成手段
で作成されたデータスライスレベルに加算することを特
徴とするものである。

【００１２】

【００１３】

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明による実施の形態を
添付する図面に基づいて説明する。図１は、本発明によ
る光ディスク再生装置をディジタルビデオ光ディスク
（以下、ＤＶＤと略称する）に適用した第１の実施形態
において具備するエラーレート低減装置の構成を示すブ
ロック図である。また、図２は、本発明による光ディス
ク再生装置に用いるディスク上の領域分割を例示する概
念図である。図１及び図２を参照して、この実施形態の
装置の構成とその動作を次に示す。

【００１５】装置の初期動作状態において、切換スイッ
チ６は、６−１側に設定してある。ＤＶＤより得られた
再生ＲＦ信号Ｓ１は、コンパレータ１を通った後、スラ
イスレベルジェネレータ２に供給される。第１のスライ
スレベル作成手段であるスライスレベルジェネレータ２
は、コンパレータ１での比較結果の「ハイ」、「ロー」
区間の頻度を計測し、その差分量を平滑回路を介してデ
ータスライスレベル（以下、単にスライスレベルとい
う）を生成する。そして、このスライスレベルはＤ／Ａ
変換された信号Ｓ２となって出力される。一方、スライ
スレベルジェネレータ２を経て出力されるスライス信号
Ｓ３は、エラーレート検出手段であるＥＣＣ（Error Co
rrecting Circuit）処理部４に供給され、ＥＣＣ処理部
４において測定されたエラーレート信号Ｓ４はエラーレ
ート監視処理部５に供給される。

【００１６】エラーレート監視処理部５において、エラ
ーレート信号Ｓ４の値が小さい、つまり訂正可能なレベ
ルと判断された場合には、切換スイッチ６を６−１側に
設定する（初期状態に同じ）ことで、スライスレベルジ
ェネレータ２によって決定されたスライスレベルのＤ／
Ａ変換信号Ｓ２が基準電圧ジェネレータ３に供給され、
電圧値に変換されてコンパレータ１に供給される。この
場合の動作は、従来の「オートスライス機能」が動作し
ていることになる。エラーレート監視処理部５におい
て、エラーレート信号Ｓ４の値が大きく訂正不可能なレ
ベルと判断された場合には、エラーレート信号Ｓ４に基
づいてエラーレートを低減するようなスライスレベルを
決定する処理を行い、決定されたスライスレベルは、Ｄ
／Ａ変換信号Ｓ５となって出力される。この時は、切換
スイッチ６を６−２側に切り換えることでＤ／Ａ変換信
号Ｓ５が基準電圧ジェネレータ３に供給され、電圧値に
変換されてコンパレータ１に供給される。すなわち、エ
ラーレート監視処理部５は、エラーレートが悪化した場
合にスライスレベルを変更する第２のスライスレベル作
成手段としての機能を持つものである。

【００１７】以上のようなスライスレベルを変更する動
作を繰り返すことにより、再生ＲＦ信号Ｓ１に対する適
切なレベルでのデータスライスが行われ、ＥＣＣ処理部
４においてエラーレートを低減するＥＣＣ処理がなされ
再生信号として利用可能な信号Ｓ６がその出力として得
られる。そして、この時に再生したディスク上の領域が
図２の（Ａ）領域（内周付近）であれば、その時のスラ
イスレベルの値をホストマイコン（図示せず）上のメモ
リ（図１のディスク領域判別部７中）ＳＬ１に記憶して
おく。同様に、図２の（Ｂ）領域（内周と外周の中間付
近）を再生した時には、その時のスライスレベルの値を
ホストマイコン上のメモリＳＬ２に記憶し、図２の
（Ｃ）領域（外周付近）を再生した時には、その時のス
ライスレベルの値をホストマイコン上のメモリＳＬ３に
記憶しておく。以上のような動作を実行しておくことに
より、次のような動作が可能となる。

【００１８】すなわち、ディスク領域判別部７には、再
生信号として利用可能な信号Ｓ６を入力し、再生しよう
とする領域がスライスレベルを用意している領域のどれ
に当たるかを判断しその領域を特定する機能を持たせて
おく。上記のように外周付近再生中、ホストマイコンよ
り内周領域付近へのアクセス指令があった場合、ディス
ク領域判別部７は、「目的の再生領域は図２の（Ａ）領
域である」と判断し、上記のメモリＳＬ１上のデータを
選択し、Ｄ／Ａ変換されたスライスレベル信号Ｓ７とし
てこれを出力する。この時、切換スイッチ６を６−３側
に切り換えることでスライスレベル信号Ｓ７が基準電圧
ジェネレータ３に供給され、電圧値に変換されてコンパ
レータ１に供給される。従って、再生する領域に適した
スライスレベルが直ちに得られ、スライスレベル調整時
に行っていた動作（スライスレベルの変更とエラーレー
ト参照の繰り返し）によるタイムロスがなくなる。な
お、内周領域付近から外周領域付近に向けて連続的に再
生するような場合は、（Ａ）領域から（Ｂ）領域へと再
生領域が切り換わるポイントにおいて、「適正スライス
レベル」がＳＬ１からＳＬ２の中間値であると想定し、
その値に設定すれば良い。同様に、（Ｂ）領域から
（Ｃ）領域へと再生領域が切り換わるポイントにおいて
は、「適正スライスレベル」をＳＬ２とＳＬ３の中間値
に設定すれば良い。ところで、図２の例では領域を３つ
に分割したが、この分割数は一例であり、何ら本発明の
構成を制限するものではない。切換えスイッチ６は切換
え手段として、スライスレベルジェネレータ２によって
決定されたスライスレベル信号Ｓ２でデータ読取りがで
きなかった場合に、データ読取中の領域で記憶手段にデ
ータスライスレベルが記憶されているときは、先ず、記
憶手段に記憶されているデータスライスレベルを選択さ
せ、ディスク領域判別部７内のメモリに記憶されている
スライスレベル信号７を選択することができる。しか
し、データ読取中の領域で記憶手段にデータスライスレ
ベルが記憶されていないときは、エラーレート監視処理
部５からの指令によりエラーレート監視処理部５で変更
され決定されたスライスレベル信号Ｓ５を選択する。

【００１９】図３及び図４は、図１の実施形態における
動作（ＣＰＵで行われる動作）、特にエラーレート環視
処理部５と切換スイッチ６の制御方法を示すフローチャ
ートである。図３及び図４にて示される一連の処理はＤ
ＶＤ再生中に適当な時間間隔で定期的に実行される処理
である。この動作はホストからの再生指令により始ま
り、ホストからの再生指令があったとき、初期状態で
は、切換スイッチ６を６−１側に設定する。従って、再
生ＲＦ信号Ｓ１のスライスレベルはスライスレベルジェ
ネレータ２が有する「オートスライス機能」によって決
定され、スライスされた信号Ｓ３はＥＣＣ処理部４に供
給される。ＥＣＣ処理部４ではこの信号Ｓ３に対するエ
ラーレートＳ４を測定する（ステップＳ２１）。次に、
エラーレート監視処理部５において、現在「オートスラ
イス動作モード」か否かで処理が分岐する（ステップＳ
２２）。ステップＳ２２で、「オートスライス動作モー
ド」の場合（システムの初期状態は必ず「オートスライ
ス動作モード」である）は、オートスライス動作を停止
すべきか否かの判断基準（同一アドレスに対する再生又
はアクセス指令が４回以上連続し、かつエラーレート訂
正不能の状態が４回連続したか）と照らし合わせ（ステ
ップＳ２３）、判断基準に合致しなかった場合は図３の
処理を直ちに終了し、データ読み出し処理へ移行する。

【００２０】ここで、データが読み出せなかった場合
は、ホストから再度ディスク上の同じ場所、すなわち同
一アドレスに対するアクセス指令があるので、再び図３
の処理が動作しステップ２３の部分を通過する。つま
り、エラーレート大の状態でステップＳ２３を４回連続
で通過することになるため、判断基準に合致し、オート
スライス動作を停止する（ステップＳ２４）。なお、ス
テップＳ２３で「４回以上」という条件を設定したの
は、ディスク上のキズ或いはほこり等の影響で一時的な
エラーレートの悪化が生じた場合に誤動作しないような
対策の一例であり、何ら本発明を制限するものではな
い。

【００２１】ステップＳ２４の後、オートスライス動作
でのスライスレベルをＣＰＵで読み取り、この値とは違
う値にスライスレベル固定値を決定する。この段階では
読み取った値よりも大きなレベルと小さなレベルのどち
らに設定すべきかは判断できないため、例えばその値よ
りも小さな値にスライスレベル固定値を仮設定し、「ス
ライスレベル固定値モード」に設定する（ステップＳ２
５）。すなわち、切換スイッチ６を６−１側から６−２
側に切り換え、エラーレート監視処理部５において決定
されたスライスレベル固定値のＤ／Ａ変換信号Ｓ５を基
準電圧ジェネレータ３に供給する。なお、ステップＳ２
５においてオートスライス動作でのスライスレベルをＣ
ＰＵで読み取ることが出来ない場合は、スライスレベル
の固定値を、例えば取り得る値の中心値付近の値に設定
する等の手段をとって実機での検証を行い、「スライス
レベル固定値モード」での初期値を決定すればよい。

【００２２】図４のフローでは、上記のようにして設定
された「スライスレベル固定値」によってスライスされ
た信号に対する「スライスレベル固定値モード」の動作
が実行される。まず、ステップＳ２２において「スライ
スレベル固定値モード」になっているので、ステップＳ
３１に進む。ステップＳ３１において「エラーレート訂
正不能」の場合は、再生対象領域が過去に「スライスレ
ベル固定値モード」で再生したことがあるかチェックし
（ステップＳ３２）、再生したことがない場合は前回の
スライスレベル設定値におけるエラーレートの値との比
較を行う（ステップＳ３４）。

【００２３】エラーレートの値が前回よりも大きくなっ
た場合はスライスレベルを変更する方向（スライスレベ
ル固定値を前回よりも大きくするか、小さくするか）が
誤っていると判断し、スライスレベル固定値を前回とは
反対方向の値に設定する。つまり、前回大きくしたので
あれば小さい値、前回小さくしたのであれば大きい値に
設定する（ステップＳ３５）。ステップＳ３４におい
て、エラーレートの値が前回より大きくはならなかった
場合、つまり小さくなった、或いは殆ど変わらなかった
場合は、スライスレベルを変更する方向が正しいと判断
し、スライスレベル固定値を前回と同一方向（前回大き
くしたのであれば大きい値、前回小さくしたのであれば
小さい値）にさらに変更した値に設定する（ステップＳ
３６）。

【００２４】以上の処理を繰り返すことで、あるスライ
スレベル固定値においてエラーレートが訂正可能なレベ
ルとなり、ＥＣＣ処理部４からエラーレートの小さな信
号Ｓ６が出力され、ディスク上に記録されている情報の
再生が可能となる。このようにしてエラーレートが小さ
くなった状態で図４の処理を実行する時には、ステップ
Ｓ３１の分岐によってステップＳ４１に進む。現在再生
中の領域に対応するスライスレベルがまだメモリに記憶
されていないため、現在のスライスレベルの値を現在再
生中の領域に対応するメモリに記憶する。例えば現在再
生中の領域が図２の（Ａ）領域であれば、メモリＳＬ１
にスライスレベルの値を記憶する（ステップＳ４２）。

【００２５】ステップＳ３２において、過去に再生した
ことがある場合は、ディスク領域判別部７が動作してそ
の時のスライスレベルの値（例えば図２の（Ｂ）領域で
あればＳＬ２）が選択され（ステップＳ３３）、Ｄ／Ａ
変換信号Ｓ７が出力されるので、切換スイッチ６を６−
２側から６−３側に切り換えることでＤ／Ａ変換信号Ｓ
７が基準電圧ジェネレータ３に供給され、再生対象領域
に適切なスライスレベルでスライスされる。従って、エ
ラーレートが訂正可能なレベルとなり、ＥＣＣ処理部４
からエラーレートの小さな信号Ｓ６が出力される。

【００２６】なお、図３及び図４には記さなかったが、
過去に用いたスライスレベルの値を用いても再生不可能
な場合には、再度スライスレベルの値を変更する処理を
行う。「スライスレベル固定値モード」から「オートス
ライス動作モード」に戻す処理も必要である。すなわ
ち、安定してエラーレート小の状態が続いている場合、
ステップＳ３１においてエラーレート小なのでステップ
Ｓ４１に進み、当該領域用のスライスレベルは記憶済み
なのでステップＳ４３に進む。ここで安定してエラーレ
ート小の状態が続いているので「オートスライス動作モ
ード」に移行する（ステップＳ４４）。ステップＳ４３
における判断基準については、一例として「エラーレー
トがある値以下の状態が一定時間以上連続し、かつその
時のスライスレベル値とオートスライスレベル値との差
が２レベル以内であること」という考え方がある。

【００２７】ところで、上記実施形態に示したＣＰＵの
動作は一つの例を示しただけであり、本発明の構成を限
定するものではない。例えばステップＳ２３の判断基準
は、決してエラーレート監視処理部５における処理を限
定しているものではない。同様に、ステップＳ３１〜４
４の処理も決してエラーレート監視処理部５における処
理を限定しているものではない。システム全体の構成と
照らし合わせ、最良のアルゴリズムを決定すればよい。

【００２８】図５は、本発明による光ディスク再生装置
を適用した第２の実施形態において具備するエラーレー
ト低減装置の構成を示すブロック図である。なお、図２
は、この実施形態についても共通に用いる。第２の実施
形態の装置の構成とその動作を図５及び図２を参照し
て、以下に説明する。装置の初期動作状態において、切
換スイッチ６₁は６₁−１側に設定してあり、切換スイッ
チ６₂は６₂−１側に設定してある。ＤＶＤより得られた
再生ＲＦ信号Ｓ１は、上記第一の実施形態と同様にコン
パレータ１とスライスレベルジェネレータ２を介して、
スライスレベルがＤ／Ａ変換された信号Ｓ２及びスライ
スされた信号Ｓ３となって出力される。信号Ｓ３はＥＣ
Ｃ処理部４に供給され、ＥＣＣ処理部４において測定さ
れたエラーレートＳ４はエラーレート監視処理部５に供
給される。

【００２９】エラーレート監視処理部５において、エラ
ーレートＳ４の値が小さい、つまり訂正可能なレベルと
判断された場合には、第１の実施形態と同様に切換スイ
ッチ６₁を６₁−１側に設定（初期状態と同じ）すること
で、「オートスライス機能」を動作させる。ところが、
エラーレート監視処理部５において、エラーレートＳ４
の値が大きく訂正不可能なレベルと判断された場合に
は、スライスレベルジェネレータ２によって生成された
スライスレベル信号Ｓ２とエラーレートを低減するよう
なスライスレベル信号との差の値（以下、「スライスレ
ベルのオフセット値」と称する）をエラーレートＳ４に
基づいて決定する処理を行う。なお、スライスレベルの
オフセット値は、スライスレベル信号Ｓ２を増加又は減
少させる処理を繰り返して適正な値に決定される。決定
されたオフセット値は、Ｄ／Ａ変換信号Ｓ５となって出
力され、スライスレベル信号Ｓ２に加算されて基準電圧
ジェネレータ３に入力される。スライスレベルのオフセ
ット値は、スライスレベル信号Ｓ２に一定値（プラス又
はマイナス値）を加算するだけでよいので、エラーレー
ト処理を速くすることができる。

【００３０】一方、ＥＣＣ処理後の信号Ｓ６にはディス
ク上のアドレス情報が含まれるので、ディスク領域判別
部７において現在再生中の領域が図２の（Ａ）〜（Ｃ）
のどの領域に該当するかを判別し、過去に再生したこと
がない（スライスレベルのオフセット値がＳＬ１〜ＳＬ
３に記憶されていない）場合は、切換スイッチ６₂を６₂
−１側に設定（初期設定と同じ）することで、上記Ｄ／
Ａ変換信号Ｓ５が加算器８に供給され、上記スライスレ
ベルジェネレータ２によって生成されたスライスレベル
信号Ｓ２と加算された後、切換スイッチ６₁を６₁−２側
に切り換えることで基準電圧ジェネレータ３に供給され
て電圧値に変換され、コンパレータ１に供給される。

【００３１】以上のようなスライスレベルのオフセット
値を変更する動作を繰り返すことにより、再生ＲＦ信号
Ｓ１に対する適切なレベルでのデータスライスが行わ
れ、エラーレートの低減された、ＥＣＣ処理後の再生可
能な信号Ｓ６が得られる。そして、この時に再生したデ
ィスク上の領域に対応させて、スライスレベルのオフセ
ット値を第１の実施形態と同様にホストマイコン上のメ
モリに記憶しておく。以上のような動作を実行しておく
ことにより、次のような動作が可能となる。

【００３２】すなわち、外周領域付近再生中、ホストマ
イコンより内周領域付近へのアクセス指令があった場
合、ディスク領域判別部７において「目的の再生領域は
過去に再生したことがあり、それは図２の（Ａ）領域に
該当する」と判断されるので上記のメモリＳＬ１上のデ
ータが選択され、Ｄ／Ａ変換されたスライスレベルのオ
フセット信号Ｓ７となって出力される。この時、切換ス
イッチ６₁を６₁−２側に切り換えることで信号Ｓ７が加
算器８に供給されるので、上記スライスレベル信号Ｓ２
と加算された後、基準電圧ジェネレータ３に供給され
（切換スイッチ６₁を６₁−２側に切り換えたままであ
る）、電圧値に変換されて、コンパレータ１に供給され
る。従って第１の実施形態と同様に、再生する領域に適
したスライスレベルが直ちに得られる。

【００３３】なお、内周領域付近から外周領域付近に向
けて連続的に再生するような場合についても第１の実施
形態と同様に、（Ａ）領域から（Ｂ）領域へと再生領域
が切り換わるポイントにおいて、「適正スライスレベル
のオフセット値」がＳＬ１からＳＬ２の中間値であると
想定し、その値に設定すれば良い。同様に、（Ｂ）領域
から（Ｃ）領域へと再生領域が切り換わるポイントにお
いては、「適正スライスレベルのオフセット値」をＳＬ
２とＳＬ３の中間値に設定すれば良い。

【００３４】

【発明の効果】本発明によると、ディスク内の内周付近
領域と外周領域付近とでピット形状が違うような粗悪デ
ィスクを再生する場合においても、再生ＲＦ信号に対し
て適切なレベルでのデータスライスが行われるため、従
来は内周又は外周のどちらかで再生不可能であった信号
に対してもエラーレートの小さな訂正可能な信号が得ら
れ、再生が可能となる。また、この様なディスクで内周
から外周、又は外周から内周というアクセス動作を行っ
た時でも直ちに各領域での再生可能なスライスレベルに
てデータスライスが行われ、タイムロスの無い再生処理
が行われる。

【００３５】さらに、スライスレベルの変更動作をおい
ては、エラーレートが訂正可能になったところで変更動
作を中止し、たとえこのスライスレベルとは違うスライ
スレベルでエラーレートがさらに低減するとしても、ス
ライスレベルの変更は行わない、つまり、スライスレベ
ルの変更動作に必要以上の時間を費やさないようにして
いる。従って、光ディスクから読み出した再生データを
蓄えておくバッファの残量を減らす、という無駄が無く
なるので、再生中に光ディスク上でキズやほこりを検出
したこと等によるデータ欠落に対する保護性能の低下を
防ぐことが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光ディスク再生装置の第１の実施
形態において具備するエラーレート低減装置の構成を示
すブロック図である。

【図２】本発明による光ディスク再生装置に用いるディ
スク上の領域分割を例示する概念図である。

【図３】図１の実施形態における動作、特にエラーレー
ト監視処理部と切換スイッチの制御方法を示すフローチ
ャート（その１）である。

【図４】図１の実施形態における動作、特にエラーレー
ト監視処理部と切換スイッチの制御方法を示すフローチ
ャート（その２）である。

【図５】本発明による光ディスク再生装置を適用した第
２の実施形態において具備するエラーレート低減装置の
構成を示すブロック図である。

【図６】従来の光ディスク再生装置を機能ブロックにて
示す図である。

【符号の説明】

１…コンパレータ、 ２…スライスレベルジェネレータ、 ３…基準電圧ジェネレータ、 ４…ＥＣＣ処理部、 ５…エラーレート監視処理部、 ６，６₁，６₂…切換スイッチ、 ７…ディスク領域判別部、 ８…加算器、 １０…再生手段、 １４…ピークボトムホルダ、 １５…２値化回路、 １６…デコーダ、 ２０…スライスレベル変更手段、 ３０…エラ−レート算出手段、 ４０…スライスレベル補正手段、 ９０…テストパターンメモリ、 １００…ＭＰＵ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 照井 渉 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (56)参考文献 特開 平９−171663（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−368632（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−187733（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−81368（ＪＰ，Ａ) 特開 平10−55545（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−17122（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−272412（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−193364（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−118972（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/13 G11B 20/10 G11B 20/18

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録済み光ディスクから読み取られた再
   生ＲＦ信号にデータスライスレベルに基づくスライス処
   理を行うことによりデータ信号を得るデータ信号化手段
   と、前記データ信号から前記データスライスレベルを作
   成する第１のスライスレベル作成手段と、前記データ信
   号のエラーレートを検出するエラーレート検出手段とを
   有する光ディスク再生装置であって、 前記第１のスライスレベル作成手段で作成されたデータ
   スライスレベルとは異なったスライスレベルを、前記エ
   ラーレート検出手段で検出されたエラーレートが低減さ
   れるように作成する第２のスライスレベル作成手段と、 前記光ディスクを複数の径方向領域に分け、領域ごとに
   再生可能とされた適正なデータスライスレベルを記憶す
   る記憶手段と、 前記第１のスライスレベル作成手段で作成されたデータ
   スライスレベルと前記第２のスライスレベル作成手段で
   作成されたデータスライスレベルと前記記憶手段に記憶
   されたデータスライスレベルとの何れかを選択する切換
   え手段とを具備し、 前記切換え手段は、前記第１のスライスレベル作成手段
   で作成されたデータスライスレベルを選択した際、前記
   エラーレート検出手段で検出されたエラーレートがデー
   タ読取ができない程大きかった場合、前記記憶手段にデ
   ータスライスレベルが記憶されているときは、前記記憶
   手段に記憶されているデータスライスレベルを選択し、
   前記記憶手段にデータスライスレベルが記憶されていな
   いときは、前記第２のスライスレベル作成手段で作成さ
   れるデータスライスレベルを選択するように切換えるこ
   とを特徴とする光ディスク再生装置。
2. 【請求項２】 前記第２のスライスレベル作成手段は、
   前記第１のスライスレベル作成手段で作成されたデータ
   スライスレベルを増加又は減少させて前記エラーレート
   検出手段で検出されてエラーレートを低減するオフセッ
   ト値を作成し、このオフセット値を前記第１のスライス
   レベル作成手段で作成されたデータスライスレベルに加
   算することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再
   生装置。