JP3452331B2 - ポリシング装置 - Google Patents

ポリシング装置

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JP3452331B2
JP3452331B2 JP28585093A JP28585093A JP3452331B2 JP 3452331 B2 JP3452331 B2 JP 3452331B2 JP 28585093 A JP28585093 A JP 28585093A JP 28585093 A JP28585093 A JP 28585093A JP 3452331 B2 JP3452331 B2 JP 3452331B2
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top ring
thrust
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Automatic Control Of Machine Tools (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、半導体の素材である単
結晶シリコンウエハ等のポリシング対象物の表面を平坦
且つ鏡面に研磨するポリシング装置に関するものであ
る。 【0002】 【従来技術】図2は従来のこの種のポリシング装置の構
成を示す図である。図示するように従来のポリシング装
置は、表面に研磨布10を貼り付けたターンテーブル1
1と、ポリシング対象物1を真空吸着等の手段で取り付
けるトップリング2を具備する。前記ターンテーブル1
1は2組のラジアル軸受12,12及びスラルト軸受1
3で回転自在に支持された回転軸14の上端に固定さ
れ、図示しないモータ等の駆動手段で回転するようにな
っている。トップリング2は2組のラジアル軸受53,
53で回転自在に支持されたトップリング駆動軸51の
下端に取り付けられ、モ−タ56によりプーリ55、駆
動ベルト54、プーリ52を介して回転するようになっ
ている。なお、57はラジアル軸受53,53が固定さ
れるケーシングである。 【0003】ポリシング対象物1の表面を研磨するに
は、ターンテーブル11を回転させ、前記ポリシング対
象物1をトップリング2の下面と該ターンテーブル11
の上面の間に入れモ−タ56でトップリング2を回転す
ることにより、ポリシング対象物1はトップリング2の
下面と該ターンテーブル11の上面の間で回転し、研磨
布10に接する面が研磨される。尚、ターンテーブル1
1の直径はポリシング対象物1の直径の10倍以上が普
通である。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の技術ではポリシング対象物1の研磨速度を速めるた
め、トップリング2の回転速度及びターンテーブル11
の回転速度とポリシング対象物1にかける圧力を増す
と、或る一定の条件で大きな振動がポリシング装置全体
に発生し、研磨を継続することが出来なくなると云う問
題があった。 【0005】この振動現象の原因は、ポリシング対象物
1の表面とターンテーブル11の研磨布10との間の、
研磨係数(摩擦力)が相対滑り速度に対して負の特性と
なり、マイナスの減衰力(自励振動励振力)となるため
である。 【0006】本発明は上述の点に鑑みてなされたもの
で、上記問題点を除去し、前記振動を検知し補償するこ
とにより研磨速度を速めても振動を抑制できるポリシン
グ装置を提供することを目的とする。 【0007】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
請求項1の発明は、図1に示すように、各々独立した回
転数で回転するターンテーブル11とトップリング2を
有するトップリング部Pを有し、該トップリング2が一
定の圧力をターンテーブル11に与える手段を有し、該
ターンテーブル11と該トップリング2の間にポリシン
グ対象物1を介在させて該ポリシング対象物1の表面を
平坦且つ鏡面に研磨するポリシング装置において、トッ
プリング駆動軸25をケーシング45に少なくとも2つ
のラジアル磁気軸受22、24と1つのスラスト磁気軸
受23を介して回転自在に支持し、トップリング駆動軸
25のラジアル方向の変位を検出し該変位を補償回路3
5、38を通してラジアル磁気軸受22、24にフィー
ドバックするラジアル制御手段と、トップリング駆動軸
25のスラスト方向の変位を検出し該変位を補償回路4
2を通してスラスト磁気軸受23にフィードバックする
スラスト制御手段とを設け、トップリング部Pの振動を
検出する振動計31をトップリング駆動軸25を支持す
るケーシング45に取り付け、該振動計31の検出出力
ラジアル制御手段の補償回路35、38を通してラジ
アル磁気軸受22、24にフィードバックすることによ
り、固有振動数での減衰量を制御すると共に、該振動計
31の検出出力をスラスト制御手段の補償回路42を通
してスラスト磁気軸受23にフィードバックすることに
より、トップリング駆動軸25のスラスト方向の力を制
御し、自励振動を抑制することを特徴とする。 【0008】 【0009】 【0010】 【0011】 【0012】 【作用】上記構成のポリシング装置の作用を図3を用い
て説明する。図3(A)はポリシング装置の概念図を示
し、図3(B)はその1自由度モデルを示す図である。
図3(B)はターンテーブル11の上面とトップリング
2の下面の間にポリシング対象物1を介在しトップリン
グ駆動軸25をターンテーブル11に対して押しつけた
場合の1自由度モデルである。図中、mはトップリング
駆動軸25の等価質量、kは等価剛性、xは変位を示
す。今、ターンテーブル11上の研磨布10の面とポリ
シング対象物1の間に作用する摩擦力をf(u)(uは
回転速度)とすると運動式は式(1)となる。 ここでCaは弾性支持部材の減衰係数で、その減衰力は
Fd=Ca・dx/dtとなる。 【0013】ところで、運転状態では回転速度uと摩擦
力fは図4のような特性を示し、式(2)で表現でき
る。回転速度がu0の場合は特性401となり、押しつけ力
が大きいときは特性402となり、回転速度が下がると
特性403となる。いずれの場合も摩擦力fは回転速度
に対して右下がりの負特性を示す。式(2)において、
Cは図4の特性曲線の勾配を表わし負となる。式(1)
に式(2)を代入すると、式(1)は式(3)と変形で
きる。 この式から、トップリング駆動軸25の固有振動数Ωは
式(4)となる。 【0014】Ca=0の場合、C<0であるから固有振
動数の実数部が正となり、不安定な振動系となる。Ca
>0で、しかもCa+C>0の場合(減衰力のある弾性
支持部材採用の場合)固有振動数の根の実数部が負とな
り、安定な振動系となる。従って、 (1)トップリング駆動軸25の振動の減衰力 (2)押しつけ力 (3)回転数(摺動速度) を最適化することによりポリシング装置は安定した振動
系となり、もっとも生産性の高い運転条件での操作を可
能にできる。また、ケ−シング45に振動計31を設置
することにより、自励振動の発生を瞬時に検出できるの
で自励振動発生のしきい値の近傍での運転を可能にす
る。 【0015】図1のトップリング駆動軸25の減衰力
は、支持するラジアル磁気軸受22、24の補償回路3
8、35において、所定周波数で位相進み補償、或い
は、微分動作成分を増加させることで調整できる。 【0016】自励振動が発生したとき、スラスト磁気軸
受23のスラスト制御力を制御し、ポリシング対象物1
の押しつけ力を小さくすると、スティックスリップによ
る負の摩擦力が小さくなり自励振動は抑制できる。 【0017】また、トップリング駆動軸25の駆動用の
モ−タ21やターンテーブル11の駆動用のモ−タ18
の回転数を制御して(大きくして)ポリシング対象物1
とターンテーブル11の研磨布10の間に発生するステ
ィックスリップによる負の摩擦係数の絶対値を小さくす
れば、自励振動は抑制できる。 【0018】 【実施例】以下本発明の一実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図1は本発明のポリシング装置の構成を示
す図である。本ポリシング装置は図示するように、表面
に研磨布10を貼り付けたターンテーブル11と、下端
面にポリシング対象物1を真空吸着等の手段で取り付け
るトップリング2を有するトップリング部Pとを具備し
ている。ターンテーブル11は2組のラジアル軸受1
2,12及びスラスト軸受13で回転自在に支持された
回転軸14の上端に固定され、プーリ15、ベルト1
6、プーリ17を介してモ−タ18で回転駆動するよう
になっている。 【0019】トップリング部Pのトップリング2はケー
シング45に2組のラジアル磁気軸受22、24とスラ
スト磁気軸受23で回転自在に支持されたトップリング
駆動軸25の下端に取り付けられ、ケ−シング45内に
固定されたモータ21により回転駆動されるようになっ
ている。 【0020】ポリシング対象物1の表面を研磨する際
は、ターンテーブル11をモ−タ18で回転させ、ポリ
シング対象物1をトップリング2の下面とターンテーブ
ル11の研磨布10の間に介在させ、モ−タ21でトッ
プリング駆動軸25を回転駆動することによりトップリ
ング2を回転させる。これによりポリシング対象物1は
ターンテーブル11に対して所定の圧力で押しつけられ
ると共に、自身も回転しながら研磨布10との接触面が
研磨される。尚、ターンテーブル11の直径はポリシン
グ対象物1の直径の10倍以上とする。 【0021】トップリング駆動軸25のラジアル方向の
変位は変位センサ32,33で検出され、その検出出力
はアンプ34,37で増幅され、補償回路35,38を
通り、パワ−アンプ36,39で増幅され、ラジアル磁
気軸受22,24にフィードバックされる。これによ
り、トップリング駆動軸25が正常位置(軸中心と磁気
軸受中心と一致する位置)に制御される。振動計31は
ケ−シング45に取り付けられ、トップリング部Pの自
励振動を検知し、その検出出力は補償回路35,38を
通って上記と同様ラジアル磁気軸受22,24にフィー
ドバックされる。ここで、補償回路38は振動計31の
検出出力からラジアル磁気軸受22,24の制御力(ラ
ジアル方向の力)を制御して、自励振動を抑制するよう
ラジアル磁気軸受22,24の制御電流を補償する。 【0022】トップリング駆動軸25のスラスト方向の
変位は変位センサ40により検出され、その検出出力は
アンプ41で増幅され、補償回路42を通り、パワ−ア
ンプ43で増幅されスラスト磁気軸受23にフィードバ
ックされる。これにより、トップリング駆動軸25はス
ラスト方向の正常な位置になるように制御される。ま
た、前記振動計31の検出出力は補償回路42を通って
上記と同様スラスト磁気軸受23にフィードバックされ
る。ここで補償回路42は振動計31の検出出力からス
ラスト磁気軸受23のスラスト方向の力を制御して、自
励振動を抑制するようにスラスト磁気軸受23の制御電
流を補償する。 【0023】更に前記振動計31の出力信号はモ−タ駆
動制御装置44に入力され、モ−タ駆動制御装置44に
おいて自励振動を抑制するようにモ−タ21の回転速度
を制御する。尚、モ−タ駆動制御装置44は振動計31
の出力信号でモータ21の回転数を制御できるように例
えばインバータコントローラを具備する。 【0024】更に前記振動計31の出力信号はモ−タ駆
動装置19に入力され、自励振動を抑制するようにモ−
タ18の回転速度を制御しターンテーブル11の速度
(摺動速度)を制御して自励振動を抑制する。尚、モ−
タ駆動制御装置19も振動計31の出力信号でモータ2
1の回転数を制御できるように例えばインバータコント
ローラを具備する。 【0025】図5は補償回路35,38の構成例を示す
ブロック図であり、補償回路35,38はPID(比例
・積分・微分)回路、ラジアル方向固有振動数fnを中
心としたバンドパスフィルターBP、電圧制御ゲインア
ンプKv及び加算器ADで構成される。トップリング駆
動軸25のラジアル方向の変位を検出する変位センサ3
2,33の検出出力はアンプ34,37を通って、PI
D回路に入力される。また、微分された検出信号と振動
計31の検出出力はバンドパスフィルターBPを通っ
て、電圧制御ゲインアンプKvに入力される。PID回
路の出力と電圧制御ゲインアンプKvの出力は加算器A
Dで加算され、パワーアンプ36,39に出力され、ラ
ジアル磁気軸受22,24にフィードバックされる。こ
れにより、ラジアル磁気軸受22,23のラジアル方向
の力を制御し、自励振動を抑制する。 【0026】図6は補償回路42の構成例を示すブロッ
ク図であり、補償回路42はPID回路、加算器AD、
比較器DF及びトップリング2の基準押圧信号を発生す
る押圧信号発生器Pで構成される。スラスト方向の変位
を検出する変位センサ40の検出出力はアンプ41を通
ってPID回路に入力され、比較器DFでこのPID回
路の出力から振動計31の検出出力を減算し、この減算
値と押圧信号発生器Pからの基準押圧信号を比較し、そ
の差をパワーアンプ43に出力し、スラスト磁気軸受2
3にフィードバックする。これにより、振動計31の検
出出力の振幅が大きくなるとパワーアンプ43への指令
信号を減少させ、トップリング駆動軸25のスラスト方
向の力を制御し、自励振動を抑制する。 【0027】 【発明の効果】以上、詳細に説明したように本発明によ
れば、下記のような優れた効果が期待できる。トップリ
ング駆動軸をケーシングにラジアル磁気軸受とスラスト
磁気軸受を介して回転自在に支持し、トップリング部の
振動を検出する振動計をケーシングに取り付け、該振動
計の検出出力をラジアル制御手段の補償回路を通してラ
ジアル磁気軸受にフィードバックすることにより、固有
振動数での減衰量を制御すると共に、該振動計の検出出
力をスラスト制御手段の補償回路を通してスラスト磁気
軸受にフィードバックすることにより、トップリング駆
動軸のスラスト方向の力を制御し、自励振動を抑制する
ので、ポリシング装置の研磨速度を上げることが可能と
なり、生産性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明のポリシング装置の構成を示す図であ
る。 【図2】従来のポリシング装置の構成を示す図である。 【図3】図3(A)はポリシング装置の概念図、同図
(B)はその1自由度モデルを示す図である。 【図4】図4は回転速度uと摩擦力fの関係を示す図で
ある。 【図5】補償回路35,38の構成を示すブロック図で
ある。 【図6】補償回路42の構成を示すブロック図である。 【符号の説明】 1 ポリシング対象物 2 トップリング 10 研磨布 11 ターンテーブル 12 ラジアル軸受 13 スラスト軸受 14 回転軸 15 プーリ 16 ベルト 17 プーリ 18 モ−タ 19 モ−タ駆動装置 21 モ−タ 22 ラジアル磁気軸受 23 スラスト磁気軸受 24 ラジアル磁気軸受 25 トップリング駆動軸 31 振動計 32 変位センサ 33 変位センサ 34 アンプ 35 補償回路 36 パワ−アンプ 37 アンプ 38 補償回路 39 パワ−アンプ 40 変位センサ 41 アンプ 42 補償回路 43 パワ−アンプ 44 モ−タ駆動制御装置 45 ケ−シング
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B24B 37/00 B24B 37/04 B23Q 15/12 B24B 41/04 H01L 21/304 621 H01L 21/304 622 F16C 32/04 B23B 19/02

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 各々独立した回転数で回転するターンテ
    ーブルとトップリングを有するトップリング部を具備
    し、該トップリングを所定の圧力で前記ターンテーブル
    に押圧する手段を有し、該ターンテーブルと該トップリ
    ングの間にポリシング対象物を介在させて該ポリシング
    対象物の表面を平坦且つ鏡面に研磨するポリシング装置
    において、 前記トップリング駆動軸をケーシングに少なくとも2つ
    のラジアル磁気軸受と1つのスラスト磁気軸受を介して
    回転自在に支持し、 前記トップリング駆動軸のラジアル方向の変位を検出し
    該変位を補償回路を通して前記ラジアル磁気軸受にフィ
    ードバックするラジアル制御手段と、回転軸のスラスト
    方向の変位を検出し該変位を補償回路を通して前記スラ
    スト磁気軸受にフィードバックするスラスト制御手段と
    を設け、前記トップリング部の振動を検出する振動計をトップリ
    ング駆動軸を支持するケーシングに取り付け、該振動計
    の検出出力を 前記ラジアル制御手段の補償回路を通して
    前記ラジアル磁気軸受にフィードバックすることによ
    り、固有振動数での減衰量を制御すると共に、該振動計
    の検出出力を前記スラスト制御手段の補償回路を通して
    前記スラスト磁気軸受にフィードバックすることによ
    り、前記トップリング駆動軸のスラスト方向の力を制御
    し、自励振動を抑制することを特徴とするポリシング装
    置。
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JP6088919B2 (ja) 2013-06-28 2017-03-01 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
CN106312821B (zh) * 2016-09-08 2018-06-22 北京化工大学 一体化侧励磁电磁滑环式自动平衡装置

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