JP3438622B2 - 光ディスク用再生装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 【０００１】 【発明の属する技術分野】この発明は、ＣＤ等の光ディ
スクの反りに対応して光ピックアップのチルト角を制御
するチルトサーボを実施する光ディスク用再生装置に関
するものである。 【０００２】 【従来の技術】光ディスク用再生装置において、光ディ
スクの反りがあると、対物レンズの中心軸が光ディスク
の面に対して傾斜することになるので、対物レンズに収
差が生じ、反射光に波形干渉が生じる。このような波形
干渉は、光ディスクの記録情報のない所に情報があるか
のように、光検出器の出力に影響を与え、結果として、
アイパターンの開口率が低下し、ビットエラー増大に繋
がる。 【０００３】そこで、従来の光ディスク用再生装置で
は、データ読取用光源とは別個に、反り検出用の光源を
光ピックアップに付加し、その光源から光を２本のビー
ムに分けて光ディスクに照射し、光ディスクからの各反
射光の光量の差に基づいてチルトモータを駆動して、デ
ータ読取り用ビームが光ディスクの反りにもかかわら
ず、光ディスクに直角に当たるようにしている。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】従来の光ディスク用再
生装置では、反り検出用の光ビームが、光ディスクから
のデータ読出し用の光ビームから離れており、反り検出
用の光ビームにより検出した光ディスクの反り角が、デ
ータ読出し用スポット近傍の光ディスク部分の反り角に
対する誤差が大きいという問題がある。 【０００５】この発明の目的は、光ピックアップのチル
トサーボの制御精度を向上した光ディスク用再生装置を
提供することである。 【０００６】 【課題を解決するための手段】この発明の光ディスク用
再生装置(10)は、光ピックアップ(13)からの光ディスク
(11)のデータ読出し用のメインビーム(18)が光ディスク
(11)に直角に当たるように、光ピックアップ(13)のチル
ト角を制御するチルトサーボ制御を実施する。この光デ
ィスク用再生装置(10)ては、メインビーム(18)の通過す
る光ピックアップ(13)の対物レンズ(14)に、第１のサブ
ビーム(19a)及び第２のサブビーム(19b)を通過させるこ
ととし、これら第１のサブビーム(19a)及び第２のサブ
ビーム(19b)は、メインビーム(18)に対して対称の傾斜
角で進み、かつ光ディスク(11)に第１のサブスポット(3
4)及び第２のサブスポット(35)を生成するものとしてい
る。そして、第１のサブスポット(34)及び第２のサブス
ポット(35)からの光ピックアップ(13)への反射光の光量
差に対応する量がチルトサーボ制御のチルトエラー信号
に設定される。 【０００７】光ディスク(11)には、例えばＣＤ、ＭＤ、
及びＤＶＤ等を含むものとする。したがって、光ディス
ク用再生装置(10)には、例えばＣＤプレーヤ、ＭＤプレ
ーヤ、及びＤＶＤプレーヤ等が含まれる。第１のサブビ
ーム(19a)及び第２のサブビーム(19b)は、例えばメイン
ビーム(18)を生成する光源からの光を回折格子やホログ
ラム等に通過させることにより、生成することができ
る。 【０００８】このように、第１のサブビーム(19a)及び
第２のサブビーム(19b)を、データ読出し用のメインビ
ーム(18)と同じ対物レンズ(14)を通過させて、メインス
ポット(33)の近傍に第１のサブスポット(34)及び第２の
サブスポット(35)を生成して、第１のサブスポット(34)
及び第２のサブスポット(35)からの反射光の差に基づい
て光ディスク(11)の反りを検出するようになっているの
で、メインスポット(33)近傍における光ディスク(11)の
反りを精確に検出することができ、光ピックアップ(13)
についてのチルト制御の精度を向上できる。 【０００９】この発明の光ディスク用再生装置(10)は、
光ピックアップ(13)からの光ディスク(11)のデータ読出
し用のメインビーム(18)が光ディスク(11)に直角に当た
るように、光ピックアップ(13)のチルト角を制御するチ
ルトサーボ制御を実施する。この光ディスク用再生装置
(10)では、メインビーム(18)に対して対称の傾斜角とな
る第１のサブビーム(19a)及び第２のサブビーム(19b)
を、対物レンズ(14)の通過する対物レンズ(14)に通過さ
せて、光ディスク(11)に光ディスク(11)の半径方向へ離
れた位置に第１のサブスポット(34)及び第２のサブスポ
ット(35)を生成する。第１のサブスポット(34)及び第２
のサブスポット(35)からの反射光の光量を検出する第１
のサブスポット用光検出装置(41)及び第２のサブスポッ
ト用光検出装置(42)が、メインスポット(33)からの反射
光の光量を検出するメインビーム用光検出装置(40)に対
して対称位置で、かつメインスポット(33)からの反射光
に対して直角の平面内に設けられる。第１のサブスポッ
ト用光検出装置(41)及び第２のサブスポット用光検出装
置(42)はその配列方向へ共に二分割され、その配列方向
の一端側から他端側へ、配置順に、第１のサブスポット
用第１の光検出器(43)、第１のサブスポット用第２の光
検出器(44)、第２のサブスポット用第１の光検出器(4
5)、及び第２のサブスポット用第２の光検出器(46)とさ
れる。第１のサブスポット用第１の光検出器(43)の入射
光量が第１のサブスポット用第２の光検出器(44)の入射
光量より大きいときは、第１のサブスポット用第１の光
検出器(43)及び第２のサブスポット用第１の光検出器(4
5)への入射光量の差の対応量がチルトサーボ制御のチル
トエラー信号とされる。また、第１のサブスポット用第
２の光検出器(44)の入射光量が第１のサブスポット用第
１の光検出器(43)の入射光量より大きいときは、第１の
サブスポット用第２の光検出器(44)及び第２のサブスポ
ット用第２の光検出器(46)への入射光量の差の対応量が
チルトサーボ制御のチルトエラー信号とするようになっ
ている。 【００１０】配列方向の一端側から他端側へ、配置順
に、第１のサブスポット用第１の光検出器(43)、第１の
サブスポット用第２の光検出器(44)、第２のサブスポッ
ト用第１の光検出器(45)、第２のサブスポット用第２の
光検出器(46)とされることについて、配列方向の一端側
及び他端側は、光ディスク(11)の半径方向のそれぞれ内
側及び外側に対応していても、又はその逆に、光ディス
ク(11)の半径方向のそれぞれ外側及び内側対応していて
もよい。 【００１１】光ピックアップ(13)はトラッキングサーボ
により光ディスク(11)の半径方向へ揺さぶられる。これ
に伴い、メインスポット(33)、第１のサブスポット(3
4)、及び第２のサブスポット(35)も、光ディスク(11)上
を光ディスク(11)の半径方向へ揺さぶられる。この揺さ
ぶりに伴い、第１のサブスポット(34)及び第２のサブス
ポット(35)は、全体が光ディスク(11)のランド(30)に位
置せず、ランド(30)とグルーブ(31)とにまたがって位置
することが頻繁に起こり、この場合、グルーブ(31)から
の反射光を入射される方の半部では、入射光量（強度）
が大きく変動する。そこで、第１のサブスポット用第１
の光検出器(43)及び第１のサブスポット用第２の光検出
器(44)への入射光量を対比し、入射光量の大きい方の半
部はランド(30)からの安定化された反射光と判断し、第
１のサブスポット用光検出装置(41)及び第２のサブスポ
ット用光検出装置(42)において、ランド(30)からの反射
光を入射されている方の半部同士について、入射光量を
対比することにする。すなわち、（ａ）第１のサブスポ
ット用第１の光検出器(43)の入射光量が第１のサブスポ
ット用第２の光検出器(44)の入射光量より大きいとき
は、第１のサブスポット用第１の光検出器(43)及び第２
のサブスポット用第１の光検出器(45)への入射光量の差
の対応量がチルトサーボ制御のチルトエラー信号とされ
る。また、（ｂ）第１のサブスポット用第２の光検出器
(44)の入射光量が第１のサブスポット用第１の光検出器
(43)の入射光量より大きいときは、第１のサブスポット
用第２の光検出器(44)及び第２のサブスポット用第２の
光検出器(46)への入射光量の差の対応量がチルトサーボ
制御のチルトエラー信号とされる。第１のサブスポット
用第１の光検出器(43)の入射光量及び第１のサブスポッ
ト用第２の光検出器(44)の入射光量はほぼ均衡している
ときは、（ａ）及び（ｂ）の両方に属しないことになる
が、そのときは、第１のサブスポット用第１の光検出器
(43)及び第２のサブスポット用第１の光検出器(45)への
各入射光量と、第１のサブスポット用第２の光検出器(4
4)及び第２のサブスポット用第２の光検出器(46)への各
入射光量とはほぼ等ししいので、チルトサーボ制御のチ
ルトエラー信号としては、第１のサブスポット用第１の
光検出器(43)及び第２のサブスポット用第１の光検出器
(45)への入射光量の差の対応量、並びに第１のサブスポ
ット用第２の光検出器(44)及び第２のサブスポット用第
２の光検出器(46)への入射光量の差の対応量のいずれを
チルトサーボ制御のチルトエラー信号に選択してもよ
い。 【００１２】 【発明の実施の形態】以下、発明の実施の形態について
図面を参照して説明する。図１は光ディスクプレーヤ10
における光ピックアップ13のチルト制御に係る部分の構
成図である。光ディスク11は例えばＣＤ、ＭＤ、及びＤ
ＶＤ等であり、光ディスクプレーヤ10は例えばＣＤプレ
ーヤ、ＭＤプレーヤ、及びＤＶＤプレーヤ等である。光
ディスク11は中央部に配置されてチャッキングされ、ス
ピンドルモータ12により回転駆動される。光ピックアッ
プ13では、対物レンズ14は、その焦点が光ディスク11の
ピット32（図２）に合うように、対物レンズ14を軸方向
へ変位する周知のフォーカシングサーボ、及び対物レン
ズ14の中心軸が光ディスク11の半径方向へ所望のトラッ
クの位置になるように対物レンズ14を光ディスク11の半
径方向へ変位する周知のトラッキングサーボか実施され
る。ガイドレール15は、光ディスク11の半径方向へ光デ
ィスク11の中央部から周辺部にわたって延び、光ピック
アップ13を光ディスク11の半径方向へ案内する。支点16
は、スピンドルモータ12の出力軸の回転方向に対して接
線方向へ延びる軸線の周りに回転させる支点となってお
り、光ディスク11の半径方向のガイドレール15の内側の
端部を回転自在に支持している。ガイドレール15は、ま
た、光ディスク11の半径方向へ外側の端において、チル
トモータ17のねじ溝付きの出力軸に螺合し、チルトモー
タ17の回転に伴い螺合位置が変化する。チルトモータ17
は、両方向へ回転可能であり、各回転方向に対してガイ
ドレール15の外側の端部は、チルトモータ17の出力軸の
方向へ変位し、光ディスク11の方へ接近及び離反する。
対物レンズ14からは、メインビーム18及びその両側の第
１及び第２のサブビーム19a，19bが光ディスク11へ向か
って放射される。第１及び第２のサブビーム19a，19b
は、メインビーム18の光源としての発光ダイオードから
の光を回折格子等の光学素子に通すことにより作り出さ
れる。メインビーム18の光軸は対物レンズ14の中心軸に
一致し、第１及び第２のサブビーム19a，19bの光軸はメ
インビーム18の光軸に対して対称にかつ光ディスク11の
方へ末広がりの傾斜角となっている。差動増幅装置22〜
電力増幅器25については、後述する。 【００１３】図２は光ディスク11におけるメインスポッ
ト33等の生成状態を示している。光ディスク11は、半径
方向（図２において左右方向）へランド30とグルーブ31
とを交互に有し、グルーブ31にはピット32の列が形成さ
れている。ランド30及びグルーブ31はほぼ等幅である。
メインスポット33、第１及び第２のサブスポット34，35
は図１のメインビーム18、第１及び第２のサブビーム19
a，19bが光ディスク11に照射した個所に相当し、トラッ
ク方向に対して所定の傾斜角で一列に並んでいる。メイ
ンスポット33、第１及び第２のサブスポット34，35は、
また、ほぼ等径であり、光ディスク11の半径方向へほぼ
ランド30の幅になっている。図２では、左側及び右側が
それぞれ光ディスク11の半径方内側及び外側となってお
り、第１及び第２のサブスポット34，35は、後述の説明
のために、光ディスク11の半径方向へ２等分割して示
し、Ａ１，Ａ２は光ディスク11の半径方向へ第１のサブ
スポット34の内側及び外側の半部を占め、Ｂ１，Ｂ２は
光ディスク11の半径方向へ第２のサブスポット35の内側
及び外側の半部を示している。 【００１４】図３は光ピックアップ13の主要部と差動増
幅装置22との詳細図である。光ピックアップ13は、メイ
ンスポット用光検出装置40、第１及び第２のサブスポッ
ト用光検出装置41，42を内蔵し、メインスポット用光検
出装置40、第１及び第２のサブスポット用光検出装置4
1，42は、それぞれメインスポット33、第１のサブスポ
ット34、及び第２のサブスポット35から対物レンズ14を
経て光ピックアップ13内へ入って来た各反射光の光量を
検出するようになっている。メインスポット用光検出装
置40は、周方向へ四等分割されたａ，ｂ，ｃ，ｄより成
り、各ａ，ｂ，ｃ，ｄは、図２のメインスポット33を、
メインスポット33の中心を通り互いに直行するトラック
方向と光ディスク11の半径方向との直線により４等分割
された各分割部分からの反射光分の入射光量分を検出す
る部位に対応する。メインスポット用光検出装置40の各
部分ａ，ｂ，ｃ，ｄへの入射光量をあらためてａ，ｂ，
ｃ，ｄとすると、この光ディスクプレーヤ10では、トラ
ッキングサーボにはプッシュプル方式を、また、フォー
カシングサーボ制御には非点収差方式を、それぞれ採用
し、トラッキングエラー信号＝（ａ＋ｂ）−（ｃ＋
ｄ）、フォーカシングエラー信号＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋
ｄ）と設定される。第１及び第２のサブスポット用光検
出装置41，42は、メインスポット用光検出装置40の両側
に対称に配設され、第１のサブスポット用光検出装置41
は、第１のサブスポット用第１のフォトダイオード43及
び第１のサブスポット用第２のフォトダイオード44に二
等分割され、第２のサブスポット用光検出装置42は、第
２のサブスポット用第１のフォトダイオード45、第２の
サブスポット用第２のフォトダイオード46に二等分割さ
れている。第１のサブスポット用第１のフォトダイオー
ド43及び第１のサブスポット用第２のフォトダイオード
44は、それぞれ図２のＡ１，Ａ２からの反射光を入射さ
れ、その入射光量に関係する電気信号を出力する。第２
のサブスポット用第１のフォトダイオード45及び第２の
サブスポット用第２のフォトダイオード46は、それぞれ
図２のＢ１，Ｂ２からの反射光を入射され、その入射光
量に関係する電気信号を出力する。差動増幅器50，51，
52，コンパレータ53は差動増幅装置22に含まれる。差動
増幅器50は、その正相入力端子及び逆相入力端子へそれ
ぞれ第１のサブスポット用第１のフォトダイオード43及
び第１のサブスポット用第２のフォトダイオード44の出
力電圧を入力される。差動増幅器51は、その正相入力端
子及び逆相入力端子へそれぞれ第１のサブスポット用第
１のフォトダイオード43及び第２のサブスポット用第１
のフォトダイオード45の出力電圧を入力される。差動増
幅器52は、その正相入力端子及び逆相入力端子へそれぞ
れ第１のサブスポット用第２のフォトダイオード44及び
第２のサブスポット用第２のフォトダイオード46の出力
電圧を入力される。スイッチ54は、差動増幅器51，52の
一方の出力を選択して、位相補償増幅器23へ出力する。
コンパレータ53は、差動増幅器50の出力に基づいてスイ
ッチ54のスイッチ位置を制御する。 【００１５】図４はコンパレータ53をその入力と共に示
す図である。コンパレータ53は、その逆相入力端子へ
は、基準電圧端子55を接続されて、基準電圧端子55の基
準電圧Ｖｒｅｆを入力され、また、その正相入力端子へ
は差動増幅器50の出力を入力される。 【００１６】図５はコンパレータ53の入力と出力との関
係を示す図である。図５の上段側の波形状電圧はコンパ
レータ53の正相入力端子への入力電圧例を示し、正相入
力端子への入力電圧が基準電圧Ｖｒｅｆ以上である期間
に限り、コンパレータ53の出力電圧は”０”から”１”
となる。正相入力端子への入力電圧が基準電圧Ｖｒｅｆ
以上であるときとは、第１のサブスポット用第１のフォ
トダイオード43への入射光量が第１のサブスポット用第
２のフォトダイオード44への入射光量よりも、Ｖｒｅｆ
に対応分の光量だけ大きいときである。 【００１７】図６は第１のサブスポット34の位置と第１
のサブスポット用第１のフォトダイオード43及び第１の
サブスポット用第２のフォトダイオード44への第１のサ
ブスポット34の反射光との関係を示している。図６
（ａ）では、第１のサブスポット34の中心が光ディスク
11の半径方向へグルーブ31の中心に位置しており、結
果、第１のサブスポット用第１のフォトダイオード43及
び第１のサブスポット用第２のフォトダイオード44への
反射光の強度分布は、反射光の光軸に対して対称にな
り、第１のサブスポット用第１のフォトダイオード43及
び第１のサブスポット用第２のフォトダイオード44への
入射光量は、Ａ１＝Ａ２となる。これに対して、図６
（ｂ）では、第１のサブスポット34の中心が光ディスク
11の半径方向へグルーブ31の中心に対して第１のサブス
ポット用第１のフォトダイオード43の対応側へ偏移して
おり、結果、第１のサブスポット用第１のフォトダイオ
ード43及び第１のサブスポット用第２のフォトダイオー
ド44への反射光の強度分布は、大きい方が反射光の光軸
に対して第１のサブスポット用第１のフォトダイオード
43の対応側へ偏移し、第１のサブスポット用第１のフォ
トダイオード43及び第１のサブスポット用第２のフォト
ダイオード44への入射光量は、Ａ１＞Ａ２となる。第１
のサブスポット34は、トラッキングサーボによる光ディ
スク11の半径方向への光ピックアップ13の対物レンズ14
の変位により、光ディスク11の半径方向へ揺さぶられ、
第１のサブスポット34の中心は、グルーブ31の中心に常
に保持されるとは限らず、グルーブ31の中心に対して光
ディスク11の半径方向へ偏移して、これは、第１のサブ
スポット用第１のフォトダイオード43及び第１のサブス
ポット用第２のフォトダイオード44への入射光量へ影響
を与える。第１のサブスポット用第１のフォトダイオー
ド43及び第１のサブスポット用第２のフォトダイオード
44への入射光量に差異が生じたとき、入射光量の大きい
方はランド30からの反射光分を多く入射されていること
を意味し、グルーブ31からの反射光分はピット32の有無
により変動し不安定であるので、光ディスク11の反りの
検出には、ランド30からの安定した反射光を利用する方
が有利である。また、第１及び第２のサブスポット34，
35は、光ディスク11の半径方向へ同一方向へほぼ等量だ
け変位するので、第１のサブスポット用第１のフォトダ
イオード43がランド30からの反射光分を入射されている
場合は、第２のサブスポット用第１のフォトダイオード
45もランド30からの反射光分を入射され、また、第１の
サブスポット用第２のフォトダイオード44がランド30か
らの反射光分を入射されている場合は、第２のサブスポ
ット用第２のフォトダイオード46もランド30からの反射
光分を入射される。したがって、差動増幅器50において
第１のサブスポット用第１のフォトダイオード43及び第
１のサブスポット用第２のフォトダイオード44の出力を
比較し、第１のサブスポット用第１のフォトダイオード
43及び第１のサブスポット用第２のフォトダイオード44
の各入射光量をそれぞれＡ１，Ａ２としたときに、コン
パレータ53は、Ａ１＞Ａ２のときは、差動増幅器51の出
力を後段の位相補償増幅器23へ送るように、スイッチ54
を切替え、また、Ａ１≦Ａ２のときは、差動増幅器52の
出力を後段の位相補償増幅器23へ送るように、スイッチ
54を切替える。なお、Ａ１＝Ａ２のときは、差動増幅器
51，52の出力はほぼ同一であり、差動増幅器51の出力を
後段の位相補償増幅器23へ送るようにしてもよい。 【００１８】図１において、差動増幅装置22からの出
力、すなわちスイッチ54（図３）からの出力は、回路ル
ープにおける発振防止のために、位相補償増幅器23にお
いて位相補償され、スレッショルド回路24において所定
のスレッショルドを取り、そのスレッショルドを越える
ときのみ、スレッショルド回路24から電力増幅器25へ出
力を出して、電力増幅器25によりチルトモータ17を駆動
する。 【００１９】光ディスクプレーヤ10の全体の作用につい
て説明する。第１及び第２のサブビーム19a，19bは、メ
インビーム18と共に対物レンズ14から光ディスク11へ向
かって放射される。第１及び第２のサブビーム19a，19b
は、光ディスク11において、第１及び第２のサブスポッ
ト34，35を生成し、第１及び第２のサブスポット34，35
の反射光が対物レンズ14を第１及び第２のサブビーム19
a，19bとは逆方向へ通過して、光ピックアップ13内の第
１及び第２のサブスポット用光検出装置41，42へ入射
し、第１のサブスポット用第１のフォトダイオード43、
第１のサブスポット用第２のフォトダイオード44、第２
のサブスポット用第１のフォトダイオード45、及び第２
のサブスポット用第２のフォトダイオード46により入射
光量が検出される。対物レンズ14は、トラッキングサー
ボにより光ディスク11の半径方向へ常時揺さぶられてい
るので、第１及び第２のサブスポット34，35は、ランド
30，グルーブ31にまたがっていることが多い。差動増幅
器50は、第１のサブスポット用第１のフォトダイオード
43及び第１のサブスポット用第２のフォトダイオード44
からの出力、すなわち第１のサブスポット用第１のフォ
トダイオード43及び第１のサブスポット用第２のフォト
ダイオード44への入射光量Ａ１，Ａ２を対比し、ランド
30からの反射光分を受けている方の第１及び第２のサブ
スポット用光検出装置41，42の半部対、すなわちＡ１＞
Ａ２であるならば、第１のサブスポット用第１のフォト
ダイオード43及び第２のサブスポット用第１のフォトダ
イオード45の半部対、Ａ１＜Ａ２であるならば、第１の
サブスポット用第２のフォトダイオード44及び第２のサ
ブスポット用第２のフォトダイオード46の半部対の出力
を対比する差動増幅器52，52をそれぞれ選択して、その
出力を位相補償増幅器23へ出力する。なお、Ａ１＝Ａ２
の場合は、第１のサブスポット34の中心はグルーブ31の
幅方向中心にほぼ位置しているので、第１のサブスポッ
ト用第１のフォトダイオード43及び第２のサブスポット
用第１のフォトダイオード45の半部対の出力差、第１の
サブスポット用第２のフォトダイオード44及び第２のサ
ブスポット用第２のフォトダイオード46の半部対の出力
差のどちらでもチルトエラー信号として使用可である
が、この光ディスクプレーヤ10では、差動増幅器52の出
力を選択することになっている。こうして、メインスポ
ット33の光軸に対して対称の傾斜角で放射される第１及
び第２のサブビーム19a，19bに対して光ディスク11に第
１及び第２のサブスポット34，35が生成され、第１及び
第２のサブスポット34，35の、ランド30に照射されてい
る方の半部からの反射光の入射光量同士の差が差動増幅
装置22から位相補償増幅器23へ出力される。そして、光
ディスク11より強い反射光が光ピックアップ13へ戻って
来ている方、すなわち光ディスク11の半径方向へメイン
スポット33に対して光ディスク11と光ピックアップ13と
の間の距離が近い方の側が遠い方の側に対して光ピック
アップ13から遠ざかるように、ガイドレール15のチルト
角がチルトモータ17によ調整され、これにより、両側の
距離は等しくされ、メインビーム18は、光ディスク11の
反りにもかかわらず、光ディスク11に直角に照射される
ことになる。 【００２０】この光ディスクプレーヤ10では、第１及び
第２のサブビーム19a，19bを、メインビーム18と同じ対
物レンズ14から放射し、光ディスク11からの反射光を、
再び、対物レンズ14に第１及び第２のサブビーム19a，1
9bとは逆方向へ通過させて、その入射光量の差異に基づ
いてチルトサーボ制御を行なっている。このように、メ
インスポット33の近傍に第１及び第２のサブスポット3
4，35を生成して、その反射光より光ディスク11の反り
としての傾斜角を検出することになるので、メインビー
ム18を光ディスク11に直角に照射するチルトサーボ制御
の精度を高めることができる。

【図面の簡単な説明】 【図１】光ディスクプレーヤにおける光ピックアップの
チルト制御に係る部分の構成図である。 【図２】光ディスクにおけるメインスポット等の生成状
態を示す図である。 【図３】光ピックアップの主要部と差動増幅装置との詳
細図である。 【図４】コンパレータをその入力と共に示す図である。 【図５】コンパレータの入力と出力との関係を示す図で
ある。 【図６】第１のサブスポットの位置と第１のサブスポッ
ト用第１のフォトダイオード及び第１のサブスポット用
第２のフォトダイオードへの第１のサブスポットの反射
光との関係を示す図である。 【符号の説明】 １０ 光ディスクプレーヤ（光ディスク用再生装置） １１ 光ディスク １３ 光ピックアップ １４ 対物レンズ １７ チルトモータ（チルトサーボ制御） １８ メインビーム １９ａ 第１のサブビーム １９ｂ 第２のサブビーム ３０ ランド ３１ グルーブ ３３ メインスポット ３４ 第１のサブスポット ３５ 第２のサブスポット ４０ メインスポット用光検出装置 ４１ 第１のサブスポット用光検出装置 ４２ 第２のサブスポット用光検出装置 ４３ 第１のサブスポット用第１のフォトダイオード
（第１のサブスポット用第１の光検出器） ４４ 第１のサブスポット用第２のフォトダイオード
（第１のサブスポット用第２の光検出器） ４５ 第２のサブスポット用第１のフォトダイオード
（第２のサブスポット用第１の光検出器） ４６ 第２のサブスポット用第２のフォトダイオード
（第２のサブスポット用第２の光検出器）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/095 G11B 7/125

Claims (1)

1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 光ピックアップ(13)からの光ディスク(1
   1)のデータ読出し用のメインビーム(18)が前記光ディス
   ク(11)に直角に当たるように、前記光ピックアップ(13)
   のチルト角を制御するチルトサーボ制御を実施する光デ
   ィスク用再生装置(10)において、 前記メインビーム(18)に対して対称の傾斜角となる第１
   のサブビーム(19a)及び第２のサブビーム(19b)を、前記
   対物レンズ(14)の通過する対物レンズ(14)に通過させ
   て、前記光ディスク(11)に前記光ディスク(11)の半径方
   向へ離れた位置に第１のサブスポット(34)及び第２のサ
   ブスポット(35)を生成し、 前記第１のサブスポット(34)及び前記第２のサブスポッ
   ト(35)からの反射光の光量を検出する第１のサブスポッ
   ト用光検出装置(41)及び第２のサブスポット用光検出装
   置(42)を、前記メインスポット(33)からの反射光の光量
   を検出するメインビーム用光検出装置(40)に対して対称
   位置で、かつ前記メインスポット(33)からの反射光に対
   して直角の平面内に設け、 前記第１のサブスポット用光検出装置(41)及び前記第２
   のサブスポット用光検出装置(42)はその配列方向へ共に
   二分割され、その配列方向の一端側から他端側へ、配置
   順に、第１のサブスポット用第１の光検出器(43)、第１
   のサブスポット用第２の光検出器(44)、第２のサブスポ
   ット用第１の光検出器(45)、及び第２のサブスポット用
   第２の光検出器(46)であり、 第１のサブスポット用第１の光検出器(43)の入射光量が
   第１のサブスポット用第２の光検出器(44)の入射光量よ
   り大きいときは、第１のサブスポット用第１の光検出器
   (43)及び第２のサブスポット用第１の光検出器(45)への
   入射光量の差の対応量をチルトサーボ制御のチルトエラ
   ー信号とし、また、第１のサブスポット用第２の光検出
   器(44)の入射光量が第１のサブスポット用第１の光検出
   器(43)の入射光量より大きいときは、第１のサブスポッ
   ト用第２の光検出器(44)及び第２のサブスポット用第２
   の光検出器(46)への入射光量の差の対応量をチルトサー
   ボ制御のチルトエラー信号とするようになっていること
   を特徴とする光ディスク用再生装置。