JP3436116B2 - Heat block for eutectic bonding of electronic components - Google Patents
Heat block for eutectic bonding of electronic componentsInfo
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品を基板に
共晶ボンディングするための電子部品共晶ボンディング
用ヒートブロックに関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品を基板に実装する方法として、
共晶ボンディングが知られている。共晶ボンディング
は、基板をヒートブロック上に載置して共晶温度まで加
熱し、電子部品を押しつけて共晶ボンディングするもの
である。ヒートブロックは鋼製であり、その内部にヒー
タを内蔵して構成されている。
【0003】図7(a)は、第1の従来のヒートブロッ
クの側面図である。ヒートブロック1Aの内部には2個
のヒータ2が内蔵されている。ヒートブロック1Aの上
面両側部にはガイド部3が突設されており、ガイド部3
の間の浅い溝部の上面が基板7の載置部4となってい
る。載置部4の直下には熱電対などの温度センサ5が埋
め込まれている。ヒータ2と温度センサ5はコントロー
ラ6に接続されている。温度センサ5で載置部4の温度
を検出し、検出結果をコントローラ6にフィードバック
しながら、コントローラ6でヒータ2を制御し、載置部
4を最適温度に保つようにしている。基板7は載置部4
に載せられてヒートブロック1Aの伝熱により加熱さ
れ、電子部品8が共晶ボンディングされる。
【0004】しかしながらこの第1の従来例は、ヒータ
2は載置部4の至近距離に設けられているため、載置部
4を急速加熱できるという利点があるが、載置部4の温
度分布taが図示するように波打ち、場所的に温度がば
らついてしまうという問題点があった。
【0005】図7(b)は第2の従来のヒートブロック
の側面図である。ヒートブロック1Bはかなり肉厚に形
成されており、ヒータ2は載置部4からかなり離した位
置に内蔵されている。したがってヒータ2の熱Hは載置
部4まで伝達される間にヒートブロック1B内で均熱化
され、温度分布tbに示すように基板7を均一に加熱す
ることができる。しかしながらこのものは、ヒータ2は
載置部4からかなり離れているため、温度センサ5で温
度を検出してコントローラ6にフィードバックし、コン
トローラ6でヒータ2を制御して載置部4の温度を適正
温度にするまでにかなりの時間を要するので、載置部4
の温度制御の応答性が悪いという問題点があった。
【0006】図7(c)は、第3の従来のヒートブロッ
クの側面図である。ヒートブロック1Cには多数個のヒ
ータ2が載置部4の直下に内蔵されている。したがって
このものは、温度分布tcに示すように、載置部4の温
度を略均一化できるという利点を有している。しかしな
がらヒータ2、温度センサ5、コントローラ6を多数個
備えるため、コストアップになるという問題点があっ
た。なお図7(b),(c)ではコントローラ6は省略
している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】したがって本発明は、
少数のヒータにより、基板の載置部の温度管理を最適に
行うことができる電子部品共晶ボンディング用ヒートブ
ロックを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明のヒートブロック
は、ヒータが内蔵された鋼製の第1のブロックと、第1
のブロック上に設けられる第1のブロックよりも熱伝導
率の高い金属から成る第2のブロックとを備え、第2の
ブロックの上部に基板の載置部を有する鋼製の第3のブ
ロックを設け、更に前記の第2のブロックを前記第3の
ブロックの凹入部に形成した。
【0009】この構成によれば、第2のブロックの熱伝
導率は高いので、第2のブロックは第1のブロックから
の伝熱によりその全体が速かにかつ均一に高温度に加熱
され、更に第2ブロックからの伝熱により第3のブロッ
クは速かにかつ均一に加熱される。そして載置部に載置
された基板は第3のブロックにより均一に共晶温度に加
熱される。
【0010】
【発明の実施の形態】(実施の形態1)図1は本発明の
実施の形態1の電子部品共晶ボンディング装置の全体斜
視図、図2は同ヒートブロックの斜視図、図3は同ヒー
トブロックの分解斜視図、図4は同ヒートブロックの側
面図、図5は同ヒートブロックの熱伝導の説明図であ
る。
【0011】まず、図1を参照して電子部品共晶ボンデ
ィング装置の全体構造を説明する。電子部品共晶ボンデ
ィング装置には、複数個(本例では6個)のヒートブロ
ック30が直線状に配設されている。中央のヒートブロ
ック30は、Xテーブル11とYテーブル12から成る
可動テーブル13上に載置されている。基板7は、各ヒ
ートブロック30の上面を搬送される。
【0012】ヒートブロック30で構成される基板7の
搬送路の上流側部にはストッカ14が設けられており、
ストッカ14に基板7が積層して収納されている。また
搬送路の下流には、電子部品の共晶ボンディングが終了
した基板7を回収するマガジン15が設けられている。
【0013】可動テーブル13の一方の側方にはウェハ
15、位置規制爪16を備えたテーブル17が設けられ
ている。18は移送ヘッドであり、ノズル19でウェハ
15の電子部品8を真空吸着してピックアップし、テー
ブル17上に移載する。テーブル17上に移載された電
子部品8には位置規制爪16が押し当てられ、その位置
ずれが補正される。位置ずれが補正されたテーブル17
上の電子部品8は、ボンディングヘッド20のノズル2
1に真空吸着してピックアップされ、可動テーブル13
上のヒートブロック30上に載置された基板7に移載さ
れ、共晶ボンディングされる。なお可動テーブル13
は、基板7のXY方向の位置を調整する。
【0014】可動テーブル13の他方の側方には金プリ
フォームの供給ユニット22が設けられている。23は
供給ユニット22から導出された金テープである。金テ
ープ23は電子部品8のサイズに合わせて金テープ片2
3aに切断される。切断された金テープ片23aはヘッ
ド24のノズル25に真空吸着してピックアップされ、
基板7に移載される。ボンディングヘッド20は、この
金テープ片23a上に電子部品8を搭載する。
【0015】26は基板搬送用のヘッド部であって、ス
トッカ14に備えられた基板7を吸着パッド27で1枚
づつ真空吸着してピックアップし、最上流(図1におい
て左側)のヒートブロック30上に移載する。ヒートブ
ロック30の側部には第1の搬送爪28と第2の搬送爪
29が設けられており、ヒートブロック30上の基板7
をマガジン15に向ってピッチ送りする。各ヒートブロ
ック30の温度は、上流から順に200°C,300°
C,400°C,450°C,300°C,200°C
である。電子部品8の共晶ボンディング温度は450°
Cであり、ヒートブロック30上を基板7を搬送しなが
ら徐々に加熱し、可動テーブル13上のヒートブロック
30上で共晶ボンディングが終了したならば、基板7の
温度を徐々に下げながらマガジン15に回収する。
【0016】次に、図2〜図4を参照して、ヒートブロ
ック30の構造を説明する。ヒートブロック30は、第
1のブロック31と第2のブロック32と第3のブロッ
ク33を積層し、ねじ34で分離自在に結合して成る。
第1のブロック31は鋼製であり、その上部に複数個
(本例では2個)のヒータ35が内蔵されている。第2
のブロック32は第1のブロック31よりもかなり薄
く、銅などの第1のブロック31よりも熱伝導率の高い
金属からなっている。第2のブロック32は第1のブロ
ック31上に面接合して載置されており、第1のブロッ
ク31からの伝熱は第2のブロック32の下面全面に伝
達される。第3のブロック33は鋼製であり、その両側
部にはガイド部36が突設されている。ガイド部36と
ガイド部36の間の浅い溝部の上面が基板7の載置部3
7に成っている。
【0017】第3のブロック33には熱電対などの温度
センサ38が内蔵されている。温度センサ38はヒータ
35の真上に設けられている。図4において、温度セン
サ38とヒータ35はコントローラ39に接続されてい
る。載置部37の温度は温度センサ38で検出され、検
出結果はコントローラ39に入力される。コントローラ
39は、検出された温度に基づいて、ヒータ35の駆動
を制御する。
【0018】この電子部品共晶ボンディング装置は上記
のような構成より成り、次に全体の動作を説明する。図
1において、ストッカ14の基板7はヘッド部26でピ
ックアップされ、最上流の第1番目のヒートブロック3
0上に移載される。このヒートブロック30上に移載さ
れた基板7は搬送爪28により第2番目のヒートブロッ
ク30、第3番目のヒートブロック30に順に送られ、
さらに可動テーブル13上の第4番目(ボンディング位
置)のヒートブロック30上に送られる。その間に、基
板7は各ヒートブロック30により徐々に加熱され、ボ
ンディング位置のヒートブロック30上で共晶温度(4
50°C)に加熱される。
【0019】ヘッド24のノズル25は供給ユニット2
2の金テープ片23aをピックアップし、基板7の所定
の座標位置に搭載する。また移送ヘッド18はウェハ1
5の電子部品8をテーブル17に移載し、位置規制爪1
6により電子部品8の位置ずれは補正される。位置ずれ
が補正された電子部品8はボンディングヘッド20のノ
ズル21でピックアップされ、基板7の金テープ片23
a上に搭載されて基板7に押しつけられ、これにより電
子部品8は基板7に共晶ボンディングされる。共晶ボン
ディングが終了した基板7は、搬送爪29により第5番
目と第6番目のヒートブロック30上を搬送され、マガ
ジン15内に回収される。その間に、基板7は徐々に冷
却される。
【0020】図5は、ヒートブロック30の熱伝導の様
子を示している。第2のブロック32は、第1のブロッ
ク31からの伝熱H1により加熱される。第2のブロッ
ク32は熱伝導率が高く、また第2のブロック32の下
面は第1のブロック31の上面に面接合しているので、
この伝熱H1は速かに第2のブロック32全体に伝熱さ
れ(矢印H2参照)、第2のブロック32はその全体が
迅速にかつ均一に高温度に加熱される。そして第2のブ
ロック32の上面全面からの伝熱H3は第3のブロック
33の下面全面に伝達され、第3のブロック33全体は
伝熱H4により速かにかつ均一に加熱される。したがっ
てこのヒートブロック30によれば、基板7全体を熱効
率よくかつ均一に加熱して、共晶ボンディングを良好に
行うことができる。tdは載置部37の温度分布を示し
ており、均一な温度分布が得られる。
【0021】(実施の形態2)図6は本発明の実施の形
態2のヒートブロックの断面図である。ヒートブロック
40は、鋼製の第1のブロック41と、銅製の第2のブ
ロック42と、鋼製の第3のブロック43から成ってい
る。第2のブロック42は第3のブロック43の凹入部
49に銅を鋳込んで形成されている。46はガイド部、
47は基板の載置部である。
【0022】このヒートブロック40の作用効果は実施
の形態1と同じであって、第1のブロック41からの伝
熱で第2のブロック42全体を迅速・均一に加熱し、更
に第2のブロック42の表面全面からの伝熱により第3
のブロック43全体を均一に加熱する。teは載置部4
7の温度分布である。第2のブロック42と第3のブロ
ック43は一体形成されているので、第2のブロック4
2から第3のブロック43への熱伝導は、実施の形態1
のヒートブロック30よりもすぐれている。
【0023】
【0024】
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、第
2のブロックは第1のブロックからの伝熱によりその全
体が速かに高温度にかつ均一に加熱され、更に第2ブロ
ックからの伝熱により第3のブロックは速かにかつ均一
に加熱されるので、載置部に載置された基板を均一かつ
速かに所定温度まで加熱し、電子部品の共晶ボンディン
グを良好に行うことができる。また高い熱伝導率によ
り、温度制御の応答性もすぐれている。またヒータの個
数は少なくても、第3のブロック全体を均一に加熱でき
る。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a heat block for eutectic bonding of electronic components for eutectic bonding of electronic components to a substrate. 2. Description of the Related Art As a method of mounting an electronic component on a substrate,
Eutectic bonding is known. In eutectic bonding, a substrate is placed on a heat block and heated to a eutectic temperature, and electronic components are pressed to perform eutectic bonding. The heat block is made of steel and has a built-in heater inside. [0003] FIG. 7 (a) is a side view of a first conventional heat block. Two heaters 2 are built in the heat block 1A. Guide portions 3 are provided on both sides of the upper surface of the heat block 1A so as to protrude.
The upper surface of the shallow groove between them constitutes the mounting portion 4 of the substrate 7. A temperature sensor 5 such as a thermocouple is embedded immediately below the mounting section 4. The heater 2 and the temperature sensor 5 are connected to a controller 6. The temperature of the mounting section 4 is detected by the temperature sensor 5, and while the detection result is fed back to the controller 6, the controller 6 controls the heater 2 to maintain the mounting section 4 at an optimum temperature. The substrate 7 is placed on the receiver 4
The electronic component 8 is heated by the heat transfer of the heat block 1A, and the eutectic bonding of the electronic component 8 is performed. [0004] However, the first conventional example has an advantage that the heater 2 can be rapidly heated because the heater 2 is provided at a very short distance from the mounting portion 4, but the temperature distribution of the mounting portion 4 can be increased. As shown in the figure, there is a problem that the temperature ta varies and the temperature varies locally. [0005] FIG. 7 (b) is a side view of a second conventional heat block. The heat block 1B is formed to be quite thick, and the heater 2 is built in a position far away from the mounting portion 4. Therefore, the heat H of the heater 2 is uniformed in the heat block 1B while being transmitted to the mounting portion 4, so that the substrate 7 can be uniformly heated as indicated by the temperature distribution tb. However, in this case, since the heater 2 is far away from the receiver 4, the temperature is detected by the temperature sensor 5 and fed back to the controller 6, and the controller 6 controls the heater 2 to reduce the temperature of the receiver 4. It takes a considerable amount of time to reach the appropriate temperature.
However, there is a problem that the responsiveness of the temperature control is poor. [0006] FIG. 7 (c) is a side view of a third conventional heat block. A large number of heaters 2 are built in the heat block 1 </ b> C immediately below the mounting section 4. Therefore, this has an advantage that the temperature of the mounting portion 4 can be made substantially uniform, as shown by the temperature distribution tc. However, since a large number of heaters 2, temperature sensors 5, and controllers 6 are provided, there is a problem that the cost is increased. Note FIG. 7 (b), is omitted controller 6 in (c). [0007] Accordingly, the present invention provides
An object of the present invention is to provide a heat block for eutectic bonding of electronic components, which can optimally control the temperature of a mounting portion of a substrate with a small number of heaters. [0008] A heat block according to the present invention comprises a steel first block having a built-in heater, and a first block.
A second block made of a metal having higher thermal conductivity than the first block provided on the first block, and a third block made of steel having a substrate mounting portion on the second block.
A lock is provided , and the second block is connected to the third block.
It was formed in the recess of the block . According to this structure, since the thermal conductivity of the second block is high, the entire second block is rapidly and uniformly heated to a high temperature by the heat transfer from the first block . In addition, heat transfer from the second block
Click is Ru are and uniformly heated or fast. Then, the substrate placed on the placement section is uniformly heated to the eutectic temperature by the third block. (Embodiment 1) FIG. 1 is an overall perspective view of an electronic component eutectic bonding apparatus according to Embodiment 1 of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of the same heat block, and FIG. FIG. 4 is an exploded perspective view of the heat block, FIG. 4 is a side view of the heat block, and FIG. 5 is an explanatory diagram of heat conduction of the heat block. First, an overall structure of an electronic component eutectic bonding apparatus will be described with reference to FIG. In the electronic component eutectic bonding apparatus, a plurality (six in this example) of heat blocks 30 are linearly arranged. The central heat block 30 is mounted on a movable table 13 including an X table 11 and a Y table 12. The substrate 7 is transported on the upper surface of each heat block 30. A stocker 14 is provided on the upstream side of the transport path of the substrate 7 constituted by the heat block 30.
The substrates 7 are stacked and stored in the stocker 14. A magazine 15 is provided downstream of the transport path for collecting the substrate 7 on which the eutectic bonding of electronic components has been completed. A table 17 provided with a wafer 15 and a position regulating claw 16 is provided on one side of the movable table 13. Reference numeral 18 denotes a transfer head, which picks up the electronic component 8 of the wafer 15 by vacuum suction with a nozzle 19 and transfers the electronic component 8 onto the table 17. The position restricting claw 16 is pressed against the electronic component 8 transferred on the table 17, and the positional deviation is corrected. Table 17 with misalignment corrected
The upper electronic component 8 is the nozzle 2 of the bonding head 20.
1 and is picked up by the vacuum
The substrate is transferred to the substrate 7 placed on the upper heat block 30 and subjected to eutectic bonding. The movable table 13
Adjusts the position of the substrate 7 in the X and Y directions. On the other side of the movable table 13, a supply unit 22 for a gold preform is provided. Reference numeral 23 denotes a gold tape derived from the supply unit 22. The gold tape 23 is a gold tape piece 2 according to the size of the electronic component 8.
It is cut into 3a. The cut gold tape piece 23a is vacuum-adsorbed to the nozzle 25 of the head 24 and is picked up.
It is transferred to the substrate 7. The bonding head 20 mounts the electronic component 8 on the gold tape piece 23a. Numeral 26 denotes a substrate transport head, which picks up the substrates 7 provided in the stocker 14 by vacuum suction one by one with suction pads 27, and picks up the most upstream (left side in FIG. 1) heat block 30. Transfer to the top. A first transfer claw 28 and a second transfer claw 29 are provided on a side portion of the heat block 30.
Is pitch-fed toward the magazine 15. The temperature of each heat block 30 is 200 ° C., 300 °
C, 400 ° C, 450 ° C, 300 ° C, 200 ° C
It is. Eutectic bonding temperature of electronic component 8 is 450 °
C, the substrate 7 is gradually heated while transporting the substrate 7 on the heat block 30. When the eutectic bonding is completed on the heat block 30 on the movable table 13, the magazine 15 is gradually reduced while the temperature of the substrate 7 is gradually reduced. To be collected. Next, the structure of the heat block 30 will be described with reference to FIGS. The heat block 30 is formed by stacking a first block 31, a second block 32, and a third block 33, and connecting them by screws 34 so as to be separable.
The first block 31 is made of steel, and has a plurality (two in this example) of heaters 35 built therein. Second
The block 32 is much thinner than the first block 31 and is made of a metal having a higher thermal conductivity than the first block 31, such as copper. The second block 32 is mounted on the first block 31 by surface bonding, and the heat transfer from the first block 31 is transmitted to the entire lower surface of the second block 32. The third block 33 is made of steel, and has guide portions 36 projecting from both sides thereof. The upper surface of the shallow groove between the guide portion 36 and the guide portion 36
It is seven. The third block 33 contains a temperature sensor 38 such as a thermocouple. The temperature sensor 38 is provided right above the heater 35. 4, the temperature sensor 38 and the heater 35 are connected to a controller 39. The temperature of the mounting section 37 is detected by a temperature sensor 38, and the detection result is input to a controller 39. The controller 39 controls the driving of the heater 35 based on the detected temperature. This electronic component eutectic bonding apparatus is constructed as described above, and the overall operation will be described next. In FIG. 1, the substrate 7 of the stocker 14 is picked up by the head unit 26, and the first heat block 3 in the uppermost stream.
Transferred to 0. The substrate 7 transferred onto the heat block 30 is sequentially sent to the second heat block 30 and the third heat block 30 by the transport claws 28,
Further, it is sent onto the fourth (bonding position) heat block 30 on the movable table 13. In the meantime, the substrate 7 is gradually heated by each heat block 30, and the eutectic temperature (4
50 ° C). The nozzle 25 of the head 24 is connected to the supply unit 2
The second gold tape piece 23a is picked up and mounted on the substrate 7 at a predetermined coordinate position. The transfer head 18 is used for the wafer 1
The electronic component 8 of FIG.
6 corrects the displacement of the electronic component 8. The electronic component 8 whose positional deviation has been corrected is picked up by the nozzle 21 of the bonding head 20, and the gold tape piece 23 of the substrate 7 is
a and is pressed against the substrate 7, whereby the electronic component 8 is eutectic bonded to the substrate 7. The substrate 7 on which the eutectic bonding has been completed is transported on the fifth and sixth heat blocks 30 by the transport claws 29 and collected in the magazine 15. Meanwhile, the substrate 7 is gradually cooled. FIG. 5 shows how the heat block 30 conducts heat. The second block 32 is heated by the heat transfer H1 from the first block 31. Since the second block 32 has high thermal conductivity and the lower surface of the second block 32 is surface-bonded to the upper surface of the first block 31,
This heat transfer H1 is quickly transferred to the entire second block 32 (see arrow H2), and the entire second block 32 is quickly and uniformly heated to a high temperature. Then, the heat transfer H3 from the entire upper surface of the second block 32 is transmitted to the entire lower surface of the third block 33, and the entire third block 33 is quickly and uniformly heated by the heat transfer H4. Therefore, according to the heat block 30, the entire substrate 7 can be heated uniformly and efficiently, and eutectic bonding can be performed satisfactorily. td indicates the temperature distribution of the mounting portion 37, and a uniform temperature distribution can be obtained. (Embodiment 2) FIG. 6 is a sectional view of a heat block according to Embodiment 2 of the present invention. The heat block 40 includes a first block 41 made of steel, a second block 42 made of copper, and a third block 43 made of steel. The second block 42 is formed by casting copper into the recess 49 of the third block 43. 46 is a guide section,
Reference numeral 47 denotes a substrate mounting portion. The function and effect of the heat block 40 are the same as those of the first embodiment. The heat from the first block 41 heats the entire second block 42 quickly and uniformly. 42 due to heat transfer from the entire surface of
Block 43 is uniformly heated. te is the receiver 4
7 is a temperature distribution. Since the second block 42 and the third block 43 are integrally formed, the second block 4
The heat conduction from the second to the third block 43 is the same as in the first embodiment.
It is better than the heat block 30 of FIG. As described above, according to the present invention, the entire second block is quickly and uniformly heated to a high temperature by heat transfer from the first block. Heated to the second blow
The third block is fast and uniform due to heat transfer from the rack
Can be heated Runode, heated to whether the substrate placed on the placing portion uniformly and quickly to a predetermined temperature, performs better eutectic bonding electronic components. In addition, the responsiveness of temperature control is excellent due to the high thermal conductivity. Even if the number of heaters is small, the entire third block can be uniformly heated.
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1の電子部品共晶ボンディ
ング装置の全体斜視図
【図2】本発明の実施の形態1のヒートブロックの斜視
図
【図3】本発明の実施の形態1のヒートブロックの分解
斜視図
【図4】本発明の実施の形態1のヒートブロックの側面
図
【図5】本発明の実施の形態1のヒートブロックの熱伝
導の説明図
【図6】本発明の実施の形態2のヒートブロックの断面
図
【図7】(a)従来のヒートブロックの側面図
(b)従来のヒートブロックの側面図
(c)従来のヒートブロックの側面図
【符号の説明】
7 基板
8 電子部品
30,40 ヒートブロック
31,41 第1のブロック
32,42 第2のブロック
33,43 第3のブロック
35 ヒータ
36,46 ガイド部
37,47 載置部
38 温度センサ
39 コントローラBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is an overall perspective view of an electronic component eutectic bonding apparatus according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a perspective view of a heat block according to the first embodiment of the present invention. FIG. 4 is an exploded perspective view of the heat block according to the first embodiment of the present invention. FIG. 4 is a side view of the heat block according to the first embodiment of the present invention. FIG. 6 is a sectional view of a heat block according to a second embodiment of the present invention. FIG. 7 (a) is a side view of a conventional heat block, (b) is a side view of a conventional heat block, and (c) is a side view of a conventional heat block. Side view [Description of reference numerals] 7 Board 8 Electronic components 30, 40 Heat blocks 31, 41 First blocks 32, 42 Second blocks 33, 43 Third blocks 35 Heaters 36, 46 Guide parts 37, 47 Placement Part 38 temperature sensor 3 Controller
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 H01L 21/52 Continuation of the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/60 H01L 21/52
Claims (1)
ートブロックであって、ヒータが内蔵された鋼製の第1
のブロックと、第1のブロック上に設けられる第1のブ
ロックよりも熱伝導率の高い金属から成る第2のブロッ
クとを備え、第2のブロックの上部に基板の載置部を有
する鋼製の第3のブロックを設け、更に前記の第2のブ
ロックを前記第3のブロックの凹入部に形成したことを
特徴とする電子部品共晶ボンディング用ヒートブロッ
ク。(57) [Claim 1] A heat block for eutectic bonding of electronic components, wherein the first block is made of steel and has a built-in heater.
And a second block made of metal having a higher thermal conductivity than the first block provided on the first block, and a mounting portion for the substrate is provided above the second block.
A third steel block is provided , and the second block is further provided .
A heat block for eutectic bonding of electronic components , wherein a lock is formed in a concave portion of the third block.
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