JP3428064B2 - Manufacturing method of optical disk substrate - Google Patents

Manufacturing method of optical disk substrate

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JP3428064B2
JP3428064B2 JP09338993A JP9338993A JP3428064B2 JP 3428064 B2 JP3428064 B2 JP 3428064B2 JP 09338993 A JP09338993 A JP 09338993A JP 9338993 A JP9338993 A JP 9338993A JP 3428064 B2 JP3428064 B2 JP 3428064B2
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stamper
substrate
optical disk
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resist
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクスタンパー
を製造する光ディスク基板の製造方法に関する。 【0002】 【従来の技術】例えば、光ディスクや光磁気ディスク等
を2P法によって製造するに際して用いられる光ディス
クスタンパーを製造するには、以下の手順に従って行わ
れる。 【0003】先ず、図4のフローチャートに示すよう
に、ステップST101で原盤となるガラス基板を精密
洗浄する。 【0004】次に、ステップST102でガラス基板を
ベークする。続いて、ステップST103でガラス基板
の一主面にレジストを塗布する。 【0005】かかるガラス基板をステップST104で
プリベークした後、ステップST105で信号情報をレ
ーザーカッティングする。次に、ステップST106で
現像する。この結果、プリフォーマットデータパターン
に応じた部分のレジストが除去されることになる。 【0006】次いで、ステップST107で100℃,
60分にてポストベークを行う。しかる後、ステップS
T108で無電解メッキを行い、続いてステップST1
09で電解メッキを施す。次に、ステップST110で
ガラス基板の裏面を研磨した後、ガラス基板からスタン
パーを剥離する。 【0007】次に、ステップST111でスタンパーに
付着したレジストを除去する。この結果、ステップST
112でスタンパーが作製される。 【0008】なお、ステップST113でガラス基板を
再生するために、ステップST114でNiを除去す
る。そして、ステップST115でアルカリ処理した
後、ステップST116でポリッシングしてガラス基板
を再生する。再生したガラス基板は、ステップST10
1に戻り、前述の工程を順次繰り返して再度スタンパー
の作製に供される。 【0009】 【発明が解決しようとする課題】ところで、現状の工程
では、ガラス基板とレジストとの密着力が不足している
ため、カッティング済のガラス基板(レジスト原盤)か
らスタンパーを剥離する際に、レジスト層が破壊され、
スタンパーに付着するという不都合がある。したがっ
て、剥離後にスタンパーに付着したレジストをアセトン
等で溶かす工程が必要となる。 【0010】このように、上述の製造方法では、1枚の
ガラス基板から1枚のスタンパーしか製造することがで
きず、スタンパーを量産する上で極めて不利であり、ま
た精密洗浄から現像までの工程(ステップST101〜
ステップST106までの工程)の工数(3日間程度)
がかかる。 【0011】そこで、本発明は、かかる従来の実情に鑑
みて提案されたものであり、1枚のマスター基板から同
一特性のスタンパーを複数枚製造可能となす高品質且つ
生産性に優れた光ディスク基板の製造方法を提供するこ
とを目的とする。 【0012】 【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明は、予め信号情報をレーザーカッティング
により記録してなるガラス基板をマスター基板とし、こ
のマスター基板から転写により光ディスクスタンパーを
製造する光ディスク基板の製造方法において、第1のス
タンパーを形成するに際し、上記マスター基板は、レー
ザーカッティング及び現像処理後、不活性雰囲気中で紫
外線照射及びベーキング処理が施され、次いで、化学メ
ッキ前処理、化学メッキ及び電解メッキまでの工程で第
1のスタンパーを得る。その後、上記マスター基板と第
1のスタンパーとの剥離を行った後、上記マスター基板
の溶剤洗浄、保護膜の塗布、Niメッキの除去、保護膜
剥離、溶剤洗浄、ベーキングを施す。そして、第2のス
タンパー以降のスタンパーを形成するに際し、酸を添加
した前記化学メッキ前処理から化学メッキ、電解メッ
キ、マスター基板とスタンパーとの剥離までの工程を繰
り返す。 【0013】 【作用】本発明においては、レーザーカッティング及び
現像処理が施されたマスター基板を、紫外線照射すると
フォトレジストが重合し、高分子化する。続いて、これ
をベーキング処理すると、ガラスとレジストとの密着力
が高まる。したがって、その後にマスター基板からスタ
ンパーを剥離しても、スタンパーにレジストが付着する
ようなことがなく、数回マスター基板の再利用が図られ
る。 【0014】 【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例で
は、光ディスク基板の製造工程を図1に示すフローチャ
ートに沿って説明する。 【0015】光ディスクスタンパーとなる光ディスク基
板を製造するには、先ず、ステップST1で円盤状をな
すガラス基板(直径220mm)を精密洗浄する。具体
的には、シラン処理をした後に、IPA乾燥を行う。 【0016】次に、ステップST2で、120℃,12
0分の条件の下にガラスベークを行う。 【0017】次いで、ステップST3でガラス基板の一
主面にレジストを塗布する。 【0018】レジストを塗布するに際しては、後述の工
程で行う紫外線照射後のベーキングが200℃とかなり
ハードなために、フォトレジストの膜べり量を計算に入
れ、レジストは少し厚めに塗布する。 【0019】これまでの手法では、103±1nmであ
るが、本実施例では108±1nm程度にする。 【0020】次に、ステップST4でレジストが形成さ
れたガラス基板に対して60℃,60分の条件の下にプ
リベークを行う。 【0021】しかる後、ステップST5で信号情報をレ
ーザーカッティングする。 【0022】次に、ステップST6で現像する。する
と、プリフォーマットデータパターンに応じた部分のレ
ジストが除去されることになる。 【0023】かかる現像が終了した後、ステップST7
で残存したレジストに対して紫外線(UV)をN中で
約30秒間照射する。 【0024】紫外線を照射するに際しては、図2に示す
ように、矢印Xで示す左右方向に±25mm移動可能と
なされたステージ1(400×400mm)上に、現像
後のガラス基板2を載置し、このガラス基板2と相対向
して所定距離隔てて設けられる光源3から、紫外線を当
該ガラス基板2上のレジストに対して照射する。 【0025】光源3には、185nm,254nmの短
波長の100Wの低圧直管型水銀灯が7つ用いられる。
例えば、この装置において、ガラス基板2の厚みを10
mmとし、そのガラス基板2のレジストが形成される上
面と光源3との対向距離を15mmとしたときの光強度
は、7〜8mW/cmとなる。このときの紫外線の照
射量は、約30秒の照射で210〜240mJ/cm
となる。 【0026】N量は、例えば20〜50リットル/分
程度とされ、導入圧は約3kg/cm程度とされる。
なお、ステージ1には、温度上昇防止のため冷却水(5
リットル/分)が流される。 【0027】レジストに紫外線が照射されると、フォト
レジストが重合し、高分子化する。 【0028】この結果、次工程のポストベーク1でより
ハードなベーキング条件が可能となる。 【0029】続いて、ガラスとレジストとの密着力を高
めるために、ステップST8で従来手法での温度(10
0℃)の倍、つまり200℃,3時間の条件の下にベー
キングを行う。 【0030】ベーキングは、N流量20リットル/
分,導入圧3〜5kg/cmの下に、紫外線照射した
ガラス基板2をガラスケースに入れ、フタをしたままベ
ーキングする。温度は、図3に示すように、約1時間か
けて200℃まで上昇させ、そのまま3時間その温度に
保ち、その後は5〜6時間かけて常温まで窒素冷却し、
そのまま保存する。なお、図3中、Aで示す破線は実際
の温度状態を示す。 【0031】かかる紫外線照射とベーキング処理を施す
ことにより、ガラスとレジストとの密着力が高まる。 【0032】次に、化学メッキを行うわけであるが、ポ
ストベークを強化しているために、レジスト表面が疎水
性になっているので、ステップST9で化学メッキ前処
理として、約1N−HClでレジスト面を親水性にす
る。続いて、親水性の触媒(キャタリスト9F)を付与
し、アクセレレーターで活性化する。 【0033】そして、ステップST10で化学メッキを
行う。化学メッキは、次工程で電解メッキをする際に、
電極との通電を図るために行うものである。かかる無電
解メッキは、ガラス基板2の側面から裏面の一部に亘っ
て行うと共に、レジスト表面に1000Åメッキする。 【0034】次に、ステップST11でスタンパーを形
成するための無電解メッキを行う。本実施例では、無電
解メッキを300μm厚となるようにした。 【0035】次いで、ステップST12でガラス基板2
の裏面を研磨(ラッピング)し、スタンパーを剥離する
ために、ガラス基板2の端面のNiを削り落とす。 【0036】そして、ステップST13でガラス基板2
からスタンパーを剥離する。このとき、レジストはガラ
ス基板2に対して強固に固定されているので、スタンパ
ーをガラス基板2から剥離してもスタンパーにレジスト
が残存しない。つまり、レジストはそのままガラス基板
2に設けられたままとなる。 【0037】次に、作製されたスタンパーをステップS
T14でレジスト洗浄する。スタンパー洗浄は、アセト
ンで行う。これで1枚目のスタンパーが完成する。 【0038】なお、スタンパーの乾燥方法については、
アセトンからIPAに置換し、高速(500rpm)で
振り切り乾燥させる。 【0039】そして、ステップST15で作製されたス
タンパーの厚みをチェックした後、ステップST16で
スタンパー表面の凹凸をチェックするディフェクトチェ
ックを行う。次に、ステップST17で2Pディスクと
し、その後ステップST18で実際にドライブにかけて
信号をチェックするシグナルチェックを行う。 【0040】次いで、ステップST19でトリミングす
ることによりスタンパーが完成する。 【0041】一方、スタンパーを剥離したガラス基板2
を以下の手順に従って再生する。なお、本実施例では、
レーザーカッティング及び現像後のガラス基板2を、ス
テップST20以降ガラスマスターと称する。 【0042】ガラスマスターは、溶剤には不溶となって
いるので、ステップST21でアセトン洗浄を行い、I
PAスピン乾燥させる。 【0043】次に、ステップST22で保護膜(クリー
ンコートS)をレジスト面に塗布する。これは、塩鉄に
よる影響(しみ等)を無くすためである。 【0044】次に、ステップST23でNiを除去す
る。これは、ガラスマスターの端,裏面のNiを除去す
るために塩化第二鉄溶液中に約1〜2時間浸す。 【0045】そして、ステップST24で保護膜を剥が
し、かかる保護膜の残り等を洗浄するために、もう一度
ステップST25でIPAスピン乾燥を行う。 【0046】次に、ステップST26でポストベーク2
を行う。ここでは、200℃,3時間の条件の下にガラ
スマスターの再ベーキングを行う。 【0047】最後に、ステップST27で化学メッキ前
処理に入るが、ガラスマスターは端面を一度削ってある
ので、シラン(0.1%程度)をベンコットでしみこま
せ、手で端面、裏面を擦る。 【0048】以後、塩酸をプラスした先のステップST
9の処理を行い、化学メッキに入る。さらに、ステップ
ST11の電解メッキからステップST13のスタンパ
ーの剥離までの工程を繰り返し、2枚目のスタンパーを
作製する。 【0049】作製された2枚目のスタンパーは、1枚目
のスタンパーを製造した同一のガラスマスターから転写
されて得られるので、同じ特性を有するという利点があ
る。 【0050】以上のフローを繰り返すことにより、同一
特性を有した複数枚のスタンパーを効率良く製造するこ
とができる。つまり、ステップST1の精密洗浄からス
テップST6の現像までの工程のコスト、時間(3日間
程度かかる)等を減少させることができ、その結果スタ
ンパーのコストダウンが図れる。 【0051】ここで実際に、直径を略64mmとなし、
音楽信号で略74分の記録を可能となす光ディスク又は
光磁気ディスクを製造するに際して用いられるスタンパ
ーを、前述のフローに従って作製した。なお、比較例と
して従来の手法によって同様のスタンパーを作製し、こ
れらスタンパーの2P評価での信号特性を調べてみた。
その結果を表1に示す。なお、表1中、P−Pはグルー
ブ又はピットの幅、RCはグルーブ又はピットの高さを
示す。 【0052】 【表1】 【0053】この結果からわかるように、レジストの厚
さとレーザーカッティングの条件を管理することによ
り、従来品のスタンパーと同等の信号特性が得られた。
また、本発明に係るガラスマスターにより作製されたス
タンパーの1枚目と2枚目の信号特性は、いずれも略同
じ結果であり、非常に再現性が良いことが判る。また、
グルーブ形状については、SEM観察において、従来品
のものと比較しても数段に滑らかになっている。これ
は、ハードなベーキングの差と考えられる。 【0054】以上、本発明を適用した具体的な実施例に
ついて説明したが、本発明は上述の実施例に限定される
ことなく種々の変更が可能である。例えば、本発明の方
法は、5.25インチの光磁気ディスク、3.5インチ
の光磁気ディスク、追記型光ディスク等のあらゆる光デ
ィスクを製造するに際して用いられるスタンパーの製造
に適用することができる。 【0055】 【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の方法によれば、レーザーカッティング及び現像処理
が施されたマスター基板を紫外線照射した後、ベーキン
グ処理しているので、ガラスとレジストとの密着力が高
まり、その後の工程でマスター基板からスタンパーを剥
離した際にスタンパーにレジストが付着するのが回避さ
れ、数回マスター基板を再利用することができる。した
がって、1枚のマスター基板から複数枚の同じ特性を持
つスタンパーを製造することができ、工程の品質保証上
もスムーズに管理することができる。 【0056】また、本発明の方法によれば、スタンパー
製造工程においての精密洗浄から現像までの工程が省略
でき、生産性の大幅な向上を図ることもできる。さら
に、今まで高価であったスタンパーの価格も、本発明を
利用することにより、大幅にコストダウンを図ることが
できる。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an optical disk substrate for manufacturing an optical disk stamper. 2. Description of the Related Art For example, an optical disk stamper used for manufacturing an optical disk, a magneto-optical disk or the like by the 2P method is manufactured according to the following procedure. First, as shown in a flowchart of FIG. 4, a glass substrate serving as a master is precision-cleaned in step ST101. Next, in step ST102, the glass substrate is baked. Subsequently, in step ST103, a resist is applied to one main surface of the glass substrate. After pre-baking the glass substrate in step ST104, signal information is laser-cut in step ST105. Next, development is performed in step ST106. As a result, the resist corresponding to the preformat data pattern is removed. Next, at step ST107, the temperature of 100 ° C.
Perform post-bake in 60 minutes. Then, step S
Electroless plating is performed in T108, and then in step ST1.
At 09, electroplating is performed. Next, after polishing the back surface of the glass substrate in step ST110, the stamper is peeled off from the glass substrate. Next, in step ST111, the resist adhering to the stamper is removed. As a result, step ST
At 112, a stamper is made. In order to regenerate the glass substrate in step ST113, Ni is removed in step ST114. Then, after alkali treatment in step ST115, polishing is performed in step ST116 to regenerate the glass substrate. The recycled glass substrate is placed in step ST10.
Returning to step 1, the above-described steps are sequentially repeated, and the process is again performed to manufacture a stamper. However, in the current process, the adhesion between the glass substrate and the resist is insufficient, and therefore, when the stamper is peeled off from the cut glass substrate (resist master). , The resist layer is destroyed,
There is a disadvantage that it adheres to the stamper. Therefore, a step of dissolving the resist adhering to the stamper with acetone or the like after peeling is required. As described above, according to the above-described manufacturing method, only one stamper can be manufactured from one glass substrate, which is extremely disadvantageous in mass-producing the stamper. (Steps ST101 to ST101)
Man-hours (steps up to step ST106) (about 3 days)
It takes. Accordingly, the present invention has been proposed in view of such a conventional situation, and is an optical disk substrate having high quality and excellent productivity which enables a plurality of stampers having the same characteristics to be manufactured from one master substrate. It is an object of the present invention to provide a method for producing the same. In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides a glass substrate on which signal information is recorded in advance by laser cutting, as a master substrate, and an optical disk by transfer from the master substrate. In the method of manufacturing an optical disc substrate for manufacturing a stamper, when forming the first stamper, the master substrate is subjected to ultraviolet irradiation and baking in an inert atmosphere after laser cutting and development, and then to chemical plating. A first stamper is obtained in the steps from pretreatment, chemical plating and electrolytic plating. Then, after the master substrate and the first stamper are separated, the master substrate is subjected to solvent cleaning, application of a protective film, removal of Ni plating, removal of the protective film, solvent cleaning, and baking. Then, in forming a stamper subsequent to the second stamper, the steps from the chemical plating pretreatment to which an acid is added to chemical plating, electrolytic plating, and separation of the master substrate and the stamper are repeated. In the present invention, when the master substrate subjected to the laser cutting and developing treatment is irradiated with ultraviolet rays, the photoresist is polymerized and polymerized. Subsequently, when this is baked, the adhesion between the glass and the resist increases. Therefore, even if the stamper is subsequently peeled off from the master substrate, the resist does not adhere to the stamper, and the master substrate can be reused several times. Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In the present embodiment, a manufacturing process of an optical disk substrate will be described with reference to a flowchart shown in FIG. In order to manufacture an optical disk substrate serving as an optical disk stamper, first, a disk-shaped glass substrate (220 mm in diameter) is precision-cleaned in step ST1. Specifically, IPA drying is performed after the silane treatment. Next, at step ST2, at 120.degree.
Glass baking is performed under the condition of 0 minutes. Next, in step ST3, a resist is applied to one main surface of the glass substrate. In applying the resist, since the baking after the irradiation of ultraviolet rays performed in the later-described step is quite hard at 200 ° C., the amount of photoresist thinning is taken into account, and the resist is applied slightly thicker. In the conventional method, the value is 103 ± 1 nm, but in the present embodiment, it is set to about 108 ± 1 nm. Next, prebaking is performed on the glass substrate on which the resist has been formed in step ST4 at 60 ° C. for 60 minutes. Thereafter, signal information is laser-cut in step ST5. Next, development is performed in step ST6. Then, the resist corresponding to the preformat data pattern is removed. After the development is completed, step ST7
The remaining resist is irradiated with ultraviolet rays (UV) in N 2 for about 30 seconds. When irradiating with ultraviolet light, as shown in FIG. 2, the glass substrate 2 after development is placed on a stage 1 (400 × 400 mm) which can be moved ± 25 mm in the left-right direction indicated by an arrow X. Then, a UV light is applied to the resist on the glass substrate 2 from a light source 3 provided at a predetermined distance opposite to the glass substrate 2. As the light source 3, seven 100 W low-pressure straight tube mercury lamps having short wavelengths of 185 nm and 254 nm are used.
For example, in this apparatus, the thickness of the glass substrate 2 is set to 10
mm, and when the facing distance between the upper surface of the glass substrate 2 on which the resist is formed and the light source 3 is 15 mm, the light intensity is 7 to 8 mW / cm 2 . The irradiation amount of the ultraviolet light at this time is 210 to 240 mJ / cm 2 in irradiation for about 30 seconds.
It becomes. The amount of N 2 is, for example, about 20 to 50 l / min, and the introduction pressure is about 3 kg / cm 2 .
The stage 1 includes cooling water (5
Liters / minute). When the resist is irradiated with ultraviolet rays, the photoresist is polymerized and polymerized. As a result, harder baking conditions can be achieved in post bake 1 in the next step. Next, in order to increase the adhesion between the glass and the resist, at step ST8, the temperature (10
(0 ° C.), that is, baking is performed at 200 ° C. for 3 hours. The baking was carried out at a flow rate of 20 liters of N 2 /
The glass substrate 2 irradiated with ultraviolet rays is placed in a glass case under an introduction pressure of 3 to 5 kg / cm 2 , and baked with the lid closed. As shown in FIG. 3, the temperature is raised to 200 ° C. over about 1 hour, kept at that temperature for 3 hours, and then nitrogen cooled to room temperature over 5 to 6 hours.
Save as is. In FIG. 3, a broken line indicated by A indicates an actual temperature state. By performing such ultraviolet irradiation and baking, the adhesion between the glass and the resist is increased. Next, chemical plating is performed. Since the resist surface is hydrophobic because post-baking is strengthened, about 1N-HCl is used as a chemical plating pretreatment in step ST9. Make the resist surface hydrophilic. Subsequently, a hydrophilic catalyst (Catalyst 9F) is applied, and activated by an accelerator. Then, in step ST10, chemical plating is performed. Chemical plating, when electrolytic plating in the next process,
This is performed to energize the electrodes. Such electroless plating is performed from the side surface of the glass substrate 2 to a part of the back surface, and the resist surface is plated at 1000 °. Next, in step ST11, electroless plating for forming a stamper is performed. In this embodiment, the thickness of the electroless plating is set to 300 μm. Next, at step ST12, the glass substrate 2
In order to remove the stamper by polishing (lapping) the back surface of the substrate, Ni on the end surface of the glass substrate 2 is scraped off. Then, in step ST13, the glass substrate 2
Peel off the stamper. At this time, since the resist is firmly fixed to the glass substrate 2, even if the stamper is peeled off from the glass substrate 2, the resist does not remain on the stamper. That is, the resist remains provided on the glass substrate 2 as it is. Next, the manufactured stamper is inserted into the step S
The resist is washed at T14. The stamper cleaning is performed with acetone. This completes the first stamper. The method for drying the stamper is as follows.
Replace acetone with IPA and shake off and dry at high speed (500 rpm). Then, after checking the thickness of the stamper manufactured in step ST15, a defect check is performed in step ST16 to check for irregularities on the surface of the stamper. Next, in step ST17, a 2P disk is set, and then in step ST18, a signal check is performed to check the signal by actually driving the drive. Next, the stamper is completed by trimming in step ST19. On the other hand, the glass substrate 2 from which the stamper was peeled off
Is reproduced according to the following procedure. In this embodiment,
The glass substrate 2 after laser cutting and development is referred to as a glass master after step ST20. Since the glass master is insoluble in the solvent, the glass master is washed with acetone in step ST21.
PA spin dry. Next, in step ST22, a protective film (clean coat S) is applied to the resist surface. This is to eliminate the influence (stain etc.) due to the salt iron. Next, Ni is removed in step ST23. This is immersed in a ferric chloride solution for about 1 to 2 hours to remove Ni on the edge and the back of the glass master. Then, in step ST24, the protective film is peeled off, and IPA spin-drying is performed again in step ST25 in order to wash the remaining protective film and the like. Next, in step ST26, post bake 2
I do. Here, the glass master is baked again at 200 ° C. for 3 hours. Finally, the chemical plating pretreatment is started in step ST27. Since the glass master has its end face once shaved, silane (about 0.1%) is impregnated with bencot, and the end face and the back face are rubbed by hand. Thereafter, in the step ST where hydrochloric acid is added,
Perform the process of No. 9 and start chemical plating. Further, the steps from the electrolytic plating in step ST11 to the peeling of the stamper in step ST13 are repeated to produce a second stamper. The produced second stamper is obtained by being transferred from the same glass master from which the first stamper is manufactured, and thus has the advantage of having the same characteristics. By repeating the above flow, a plurality of stampers having the same characteristics can be efficiently manufactured. That is, the cost, time (about 3 days), etc., of the process from the precise cleaning in step ST1 to the development in step ST6 can be reduced, and as a result, the cost of the stamper can be reduced. Here, actually, the diameter is set to approximately 64 mm,
A stamper used for manufacturing an optical disk or a magneto-optical disk capable of recording a music signal for approximately 74 minutes was manufactured according to the above-described flow. As a comparative example, similar stampers were manufactured by a conventional method, and the signal characteristics of these stampers in 2P evaluation were examined.
Table 1 shows the results. In Table 1, PP indicates the width of the groove or pit, and RC indicates the height of the groove or pit. [Table 1] As can be seen from the results, by controlling the thickness of the resist and the conditions of laser cutting, signal characteristics equivalent to those of the conventional stamper were obtained.
In addition, the signal characteristics of the first and second sheets of the stamper manufactured by the glass master according to the present invention are almost the same, and it can be seen that the reproducibility is very good. Also,
The groove shape is several steps smoother than that of the conventional product in SEM observation. This is considered a hard baking difference. Although the specific embodiments to which the present invention is applied have been described, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made. For example, the method of the present invention can be applied to the manufacture of a stamper used in manufacturing any optical disk such as a 5.25-inch magneto-optical disk, a 3.5-inch magneto-optical disk, and a write-once optical disk. As is clear from the above description, according to the method of the present invention, the master substrate subjected to the laser cutting and the developing treatment is irradiated with ultraviolet rays and then subjected to the baking treatment. The adhesion between the glass and the resist is increased, so that the resist is prevented from adhering to the stamper when the stamper is peeled off from the master substrate in a subsequent step, and the master substrate can be reused several times. Therefore, a plurality of stampers having the same characteristics can be manufactured from one master substrate, and the quality assurance of the process can be smoothly controlled. According to the method of the present invention, the steps from precision cleaning to development in the stamper manufacturing process can be omitted, and the productivity can be greatly improved. Furthermore, the cost of the stamper, which has been expensive until now, can be significantly reduced by using the present invention.

【図面の簡単な説明】 【図1】スタンパーを製造する工程を順次示すフローチ
ャート図である。 【図2】スタンパーを製造する工程のうちレジストに紫
外線を照射する工程を示す図である。 【図3】スタンパーを製造する工程のうちレーザーカッ
ティング、次いで現像及び紫外線照射した後のベーキン
グ処理工程における処理温度と時間を示す図である。 【図4】従来の方法によりスタンパーを製造する工程を
順次示すフローチャート図である。 【符号の説明】 1 ステージ、 2 ガラス基板、 3 光源、
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a flowchart sequentially showing steps of manufacturing a stamper. FIG. 2 is a view showing a step of irradiating a resist with ultraviolet rays in a step of manufacturing a stamper. FIG. 3 is a view showing a processing temperature and a time in a baking processing step after laser cutting, development, and irradiation of ultraviolet rays in a step of manufacturing a stamper. FIG. 4 is a flowchart sequentially showing steps of manufacturing a stamper by a conventional method. [Description of Signs] 1 stage, 2 glass substrate, 3 light source,

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 予め信号情報をレーザーカッティングに
より記録してなるガラス基板をマスター基板とし、この
マスター基板から転写により光ディスクスタンパーを製
造する光ディスク基板の製造方法において、第1のスタンパーを形成するに際し、 上記マスター基板は、レーザーカッティング及び現像処
理後、不活性雰囲気中で紫外線照射及びベーキング処理
が施され、次いで化学メッキ前処理、化学メッキ及び電解メッキ
までの工程で第1のスタンパーを得、 その後、上記マスター基板と第1のスタンパーとの剥離
を行った後、 上記マスター基板の溶剤洗浄、保護膜の塗布、Niメッ
キの除去、保護膜剥離、溶剤洗浄、ベーキングを施し、 第2のスタンパー以降のスタンパーを形成するに際し、 酸を添加した前記化学メッキ前処理から化学メッキ、電
解メッキ、マスター基板とスタンパーとの剥離までの工
程を繰り返すこと を特徴とする光ディスク基板の製造方
法。
(57) [Claim 1] In a method for manufacturing an optical disk substrate, a glass substrate on which signal information is recorded in advance by laser cutting is used as a master substrate, and an optical disk stamper is manufactured by transfer from the master substrate. In forming the first stamper, the above-mentioned master substrate is subjected to ultraviolet irradiation and baking in an inert atmosphere after laser cutting and development, followed by chemical plating pretreatment, chemical plating and electrolytic plating.
The first stamper is obtained by the steps described above , and thereafter, the master substrate and the first stamper are separated.
After that, the solvent cleaning of the master substrate, the application of the protective film, the Ni plating
When removing the protective film, removing the protective film, washing with a solvent, and baking, and forming the stamper after the second stamper , the chemical plating pretreatment including the addition of acid,
Until plating, peeling of master board and stamper
A method of manufacturing an optical disk substrate, characterized by repeating the steps.
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