JP3410337B2 - 欠陥検出方法及びその装置並びに欠陥検出制御プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents
欠陥検出方法及びその装置並びに欠陥検出制御プログラムを記録した記録媒体Info
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- JP3410337B2 JP3410337B2 JP22227097A JP22227097A JP3410337B2 JP 3410337 B2 JP3410337 B2 JP 3410337B2 JP 22227097 A JP22227097 A JP 22227097A JP 22227097 A JP22227097 A JP 22227097A JP 3410337 B2 JP3410337 B2 JP 3410337B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像処理を用いた
欠陥検査方法であって、特に欠陥が被検査物のエッジ付
近に存在する場合であっても欠陥を検出できる方法に関
する。
欠陥検査方法であって、特に欠陥が被検査物のエッジ付
近に存在する場合であっても欠陥を検出できる方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】画像処理を用いた欠陥検出方法のうち、
濃淡画像を微分したエッジ画像から欠陥を検出する方法
は、ごく一般的に用いられている（例えば、特開平８─
１４８６７参照）。即ち、欠陥部位では、正常部位と比
較して光学特性が大きく異なるため、欠陥部位あるいは
両者の境界において光量変化が大きく現れる。そこで、
微分値があるしきい値以上である画素が検査領域に含ま
れるとき、欠陥が存在すると判定する。
濃淡画像を微分したエッジ画像から欠陥を検出する方法
は、ごく一般的に用いられている（例えば、特開平８─
１４８６７参照）。即ち、欠陥部位では、正常部位と比
較して光学特性が大きく異なるため、欠陥部位あるいは
両者の境界において光量変化が大きく現れる。そこで、
微分値があるしきい値以上である画素が検査領域に含ま
れるとき、欠陥が存在すると判定する。
【０００３】上記の方法は、画像全体が検査領域である
場合には特に問題ないが、画像の一部を検査領域とする
場合には、検査領域を表す検査ウインドウを予め設定
し、エッジ画像のうち検査ウインドウに含まれる領域の
みを検査領域とする必要がある。さらに、検査対象の位
置が画像中で変化しなければ、検査ウインドウの位置は
固定でよいが、変化する場合には、２値画像やエッジ画
像等から検査対象の位置を検出し、それにあわせて検査
ウインドウの位置を設定する必要がある。また、検査対
象と検査ウインドウとの位置ズレの他にも、検査対象の
回転や大きさの変化等が生じる場合には、それぞれの変
化に応じて検査ウインドウを対応させる必要がある。
場合には特に問題ないが、画像の一部を検査領域とする
場合には、検査領域を表す検査ウインドウを予め設定
し、エッジ画像のうち検査ウインドウに含まれる領域の
みを検査領域とする必要がある。さらに、検査対象の位
置が画像中で変化しなければ、検査ウインドウの位置は
固定でよいが、変化する場合には、２値画像やエッジ画
像等から検査対象の位置を検出し、それにあわせて検査
ウインドウの位置を設定する必要がある。また、検査対
象と検査ウインドウとの位置ズレの他にも、検査対象の
回転や大きさの変化等が生じる場合には、それぞれの変
化に応じて検査ウインドウを対応させる必要がある。
【０００４】これらの問題を解決するため、カメラで撮
像した画像に差分処理を施してエッジ画像を作成し、そ
のエッジ部分を除く部分を検査ウインドウとする方法が
ある（特開平７─７３３２４）。この方法を用いて、ソ
ーセージの検査方法を説明する。図５（ａ）に示すよう
に、画像処理装置に取り込まれた濃淡画像をあらかじめ
設定したしきい値で２値化し、図５（ｃ）に示すよう
に、抽出ウインドウを求める。ここで、しきい値は、
ソーセージ（検査対象）とベルトコンベア（背景）とを
分離できる値とする。この際、図５（ｂ）に示すように
欠陥と判断される可能性のある部分（以下、「欠陥候
補」という。）１３が、検査対象であるソーセージの領
域からはずれてしまう場合（黒画素となる場合）には、
図５（ｃ）に示すように、欠陥候補１３が現れないよう
に穴埋め処理される。即ち、欠陥候補１３が存在する場
合には、埋め処理を行って抽出ウインドウを作成するよ
うになっている。尚、この穴埋め処理は、図５（ｂ）に
示す２値画像の白画素領域を１画素分拡大する膨張処理
を所要回数行った後、１画素分縮小する第１収縮処理を
同じ回数だけ行うことによって穴埋めするものである。
像した画像に差分処理を施してエッジ画像を作成し、そ
のエッジ部分を除く部分を検査ウインドウとする方法が
ある（特開平７─７３３２４）。この方法を用いて、ソ
ーセージの検査方法を説明する。図５（ａ）に示すよう
に、画像処理装置に取り込まれた濃淡画像をあらかじめ
設定したしきい値で２値化し、図５（ｃ）に示すよう
に、抽出ウインドウを求める。ここで、しきい値は、
ソーセージ（検査対象）とベルトコンベア（背景）とを
分離できる値とする。この際、図５（ｂ）に示すように
欠陥と判断される可能性のある部分（以下、「欠陥候
補」という。）１３が、検査対象であるソーセージの領
域からはずれてしまう場合（黒画素となる場合）には、
図５（ｃ）に示すように、欠陥候補１３が現れないよう
に穴埋め処理される。即ち、欠陥候補１３が存在する場
合には、埋め処理を行って抽出ウインドウを作成するよ
うになっている。尚、この穴埋め処理は、図５（ｂ）に
示す２値画像の白画素領域を１画素分拡大する膨張処理
を所要回数行った後、１画素分縮小する第１収縮処理を
同じ回数だけ行うことによって穴埋めするものである。
【０００５】次に、図５（ｄ）に示すように、抽出ウイ
ンドウ（図５（ｃ））に対しさらに規定回数第２収縮処
理を行って検査ウインドウを作成する。ここで、この第
２収縮処理の回数は、ソーセージの周縁部分（後述する
エッジ画像のエッジ）が検査ウインドウ内に含まれない
ようになるまでの回数とする。尚、ここで、第２収縮処
理するのは、第２収縮処理をしないと、後述の論理積を
取る段階で、検査ウインドウのエッジ（白画素）と検査
対象のエッジ（白画素）とが重なり、欠陥と共にエッジ
まで検出してしまうためである。即ち、論理積から欠陥
だけを検出するためには、検査ウインドウのエッジと検
査対象のエッジとが異なる大きさでなければならないた
めである。尚、図５（ｄ）に示す細線は、説明の便宜上
書き加えた収縮前のソーセージの周縁であり実際の画像
には現れない。
ンドウ（図５（ｃ））に対しさらに規定回数第２収縮処
理を行って検査ウインドウを作成する。ここで、この第
２収縮処理の回数は、ソーセージの周縁部分（後述する
エッジ画像のエッジ）が検査ウインドウ内に含まれない
ようになるまでの回数とする。尚、ここで、第２収縮処
理するのは、第２収縮処理をしないと、後述の論理積を
取る段階で、検査ウインドウのエッジ（白画素）と検査
対象のエッジ（白画素）とが重なり、欠陥と共にエッジ
まで検出してしまうためである。即ち、論理積から欠陥
だけを検出するためには、検査ウインドウのエッジと検
査対象のエッジとが異なる大きさでなければならないた
めである。尚、図５（ｄ）に示す細線は、説明の便宜上
書き加えた収縮前のソーセージの周縁であり実際の画像
には現れない。
【０００６】次に、濃淡画像である原画像（図５
（ａ））から前記抽出ウインドウ内に含まれる検査画像
（検査対象であるソーセージの領域内の画像）を抽出す
る。そして、図５（ｅ）に示すように、抽出された濃淡
画像に微分処理を行ってエッジ画像を作成し、さらに予
め設定したしきい値で２値化する。最後に、図５
（ｆ）に示すように、検査ウインドウ（図５（ｄ））と
エッジ画像（図５（ｅ））との論理積から、検査ウイン
ドウ内の欠陥候補１３を求め、欠陥の面積（画素数）を
計算する。この面積が予め設定したしきい値以上なら
ばこのソーセージは不良であると判定される。
（ａ））から前記抽出ウインドウ内に含まれる検査画像
（検査対象であるソーセージの領域内の画像）を抽出す
る。そして、図５（ｅ）に示すように、抽出された濃淡
画像に微分処理を行ってエッジ画像を作成し、さらに予
め設定したしきい値で２値化する。最後に、図５
（ｆ）に示すように、検査ウインドウ（図５（ｄ））と
エッジ画像（図５（ｅ））との論理積から、検査ウイン
ドウ内の欠陥候補１３を求め、欠陥の面積（画素数）を
計算する。この面積が予め設定したしきい値以上なら
ばこのソーセージは不良であると判定される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
方法では、図６（ａ）に示すように、欠陥候補１２がエ
ッジ近傍に存在する場合には、図６（ａ）のような原画
像を２値化処理して第２収縮処理すると、図６（ｂ）に
示すように、欠陥候補１２が検査ウインドウに含まれな
いため、欠陥を検出できなくなるという問題があった。
方法では、図６（ａ）に示すように、欠陥候補１２がエ
ッジ近傍に存在する場合には、図６（ａ）のような原画
像を２値化処理して第２収縮処理すると、図６（ｂ）に
示すように、欠陥候補１２が検査ウインドウに含まれな
いため、欠陥を検出できなくなるという問題があった。
【０００８】そこで、本発明は、上記問題を鑑みてなさ
れたものであって、その目的とするところは、検査対象
の周縁を拡大させることにより、検査ウインドウのエッ
ジと検査対象のエッジとを異なる大きさにすることによ
って、検査対象の周縁部分に欠陥候補が存在する場合で
も欠陥を検出できる欠陥検出方法を提供するものであ
る。
れたものであって、その目的とするところは、検査対象
の周縁を拡大させることにより、検査ウインドウのエッ
ジと検査対象のエッジとを異なる大きさにすることによ
って、検査対象の周縁部分に欠陥候補が存在する場合で
も欠陥を検出できる欠陥検出方法を提供するものであ
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
濃淡画像を微分することにより輝度変化の大きい画素を
検出する欠陥検出方法であって、検査領域を表す検査ウ
インドウをその他の領域から分離するように前記濃淡画
像を２値化する２値化工程と、前記検査ウインドウから
検査対象となる検査画像のみを抽出する抽出工程と、前
記検査画像の周囲に前記検査画像の周縁部分と同程度の
輝度の画素を配置させた拡大画像を作成する画像拡大工
程と、前記拡大画像を微分し、２値化してエッジ２値画
像を作成する微分２値化工程とを含み、前記エッジ２値
画像のうち、検査ウインドウに含まれる領域全体を検出
範囲とすることを特徴とする。これにより、検査対象の
周縁を本来の検査対象の周縁よりも拡大させることがで
きるため、従来のように、検査ウインドウ（図５
（ｄ））を検査対象（図５（ｅ））よりも小さくする必
要が無くなり、検査対象の周縁付近に存在する欠陥をも
検出することができる。即ち、検査対象の周縁部分を検
査ウインドウに含ませることにより、検査対象の周縁部
分に存在する欠陥をも検出できるため、検査精度を向上
させることができる。
濃淡画像を微分することにより輝度変化の大きい画素を
検出する欠陥検出方法であって、検査領域を表す検査ウ
インドウをその他の領域から分離するように前記濃淡画
像を２値化する２値化工程と、前記検査ウインドウから
検査対象となる検査画像のみを抽出する抽出工程と、前
記検査画像の周囲に前記検査画像の周縁部分と同程度の
輝度の画素を配置させた拡大画像を作成する画像拡大工
程と、前記拡大画像を微分し、２値化してエッジ２値画
像を作成する微分２値化工程とを含み、前記エッジ２値
画像のうち、検査ウインドウに含まれる領域全体を検出
範囲とすることを特徴とする。これにより、検査対象の
周縁を本来の検査対象の周縁よりも拡大させることがで
きるため、従来のように、検査ウインドウ（図５
（ｄ））を検査対象（図５（ｅ））よりも小さくする必
要が無くなり、検査対象の周縁付近に存在する欠陥をも
検出することができる。即ち、検査対象の周縁部分を検
査ウインドウに含ませることにより、検査対象の周縁部
分に存在する欠陥をも検出できるため、検査精度を向上
させることができる。
【００１０】請求項２記載の発明は、濃淡画像を微分す
ることにより輝度変化の大きい画素を検出する欠陥検出
装置であって、検査領域を表す検査ウインドウをその他
の領域から分離するように前記濃淡画像を２値化する２
値化手段と、前記検査ウインドウから検査対象となる検
査画像のみを抽出する抽出手段と、前記検査画像の周囲
に前記検査画像の周縁部分と同程度の輝度の画素を配置
させた拡大画像を作成する画像拡大手段と、前記拡大画
像を微分し、２値化してエッジ２値画像を作成する微分
２値化手段とを有し、前記エッジ２値画像のうち、検査
ウインドウに含まれる領域全体を検出範囲とすることを
特徴とする。これにより、検査対象の周縁を本来の検査
対象の周縁よりも拡大させることができるため、従来の
ように、検査ウインドウ（図５（ｄ））を検査対象（図
５（ｅ））よりも小さくする必要が無くなり、検査対象
の周縁付近に存在する欠陥をも検出することができる。
即ち、検査対象の周縁部分を検査ウインドウに含ませる
ことにより、検査対象の周縁部分に存在する欠陥をも検
出できるため、検査精度を向上させることができる。
ることにより輝度変化の大きい画素を検出する欠陥検出
装置であって、検査領域を表す検査ウインドウをその他
の領域から分離するように前記濃淡画像を２値化する２
値化手段と、前記検査ウインドウから検査対象となる検
査画像のみを抽出する抽出手段と、前記検査画像の周囲
に前記検査画像の周縁部分と同程度の輝度の画素を配置
させた拡大画像を作成する画像拡大手段と、前記拡大画
像を微分し、２値化してエッジ２値画像を作成する微分
２値化手段とを有し、前記エッジ２値画像のうち、検査
ウインドウに含まれる領域全体を検出範囲とすることを
特徴とする。これにより、検査対象の周縁を本来の検査
対象の周縁よりも拡大させることができるため、従来の
ように、検査ウインドウ（図５（ｄ））を検査対象（図
５（ｅ））よりも小さくする必要が無くなり、検査対象
の周縁付近に存在する欠陥をも検出することができる。
即ち、検査対象の周縁部分を検査ウインドウに含ませる
ことにより、検査対象の周縁部分に存在する欠陥をも検
出できるため、検査精度を向上させることができる。
【００１１】請求項３記載の発明は、濃淡画像を微分す
ることにより輝度変化の大きい画素を検出する欠陥検出
プログラムを記録した記録媒体であって、前記プログラ
ムは、検査領域を表す検査ウインドウをその他の領域か
ら分離するように前記濃淡画像を２値化させ、前記検査
ウインドウから検査対象となる検査画像のみを抽出さ
せ、前記検査画像の周囲に前記検査画像の周縁部分と同
程度の輝度の画素を配置させた拡大画像を作成させ、前
記拡大画像を微分させ、２値化させてエッジ２値画像を
作成させ、前記エッジ２値画像のうち、検査ウインドウ
に含まれる領域全体を検出範囲とすることを特徴とす
る。これにより、検査対象の周縁を本来の検査対象の周
縁よりも拡大させることができるため、従来のように、
検査ウインドウ（図５（ｄ））を検査対象（図５
（ｅ））よりも小さくする必要が無くなり、検査対象の
周縁付近に存在する欠陥をも検出することができる。即
ち、検査対象の周縁部分を検査ウインドウに含ませるこ
とにより、検査対象の周縁部分に存在する欠陥をも検出
できるため、検査精度を向上させることができる。
ることにより輝度変化の大きい画素を検出する欠陥検出
プログラムを記録した記録媒体であって、前記プログラ
ムは、検査領域を表す検査ウインドウをその他の領域か
ら分離するように前記濃淡画像を２値化させ、前記検査
ウインドウから検査対象となる検査画像のみを抽出さ
せ、前記検査画像の周囲に前記検査画像の周縁部分と同
程度の輝度の画素を配置させた拡大画像を作成させ、前
記拡大画像を微分させ、２値化させてエッジ２値画像を
作成させ、前記エッジ２値画像のうち、検査ウインドウ
に含まれる領域全体を検出範囲とすることを特徴とす
る。これにより、検査対象の周縁を本来の検査対象の周
縁よりも拡大させることができるため、従来のように、
検査ウインドウ（図５（ｄ））を検査対象（図５
（ｅ））よりも小さくする必要が無くなり、検査対象の
周縁付近に存在する欠陥をも検出することができる。即
ち、検査対象の周縁部分を検査ウインドウに含ませるこ
とにより、検査対象の周縁部分に存在する欠陥をも検出
できるため、検査精度を向上させることができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。本実施形態に係る欠陥検出装置５
は、図１（ａ）に示すようにソーセージ検査システム１
に用いられている。このソーセージ検査システム１は、
主にソーセージ３を搬送するコンベア２と、ソーセージ
３を撮像するＣＣＤカメラ４と、ＣＣＤカメラ４に接続
された欠陥検出装置５とを有している。
基づいて説明する。本実施形態に係る欠陥検出装置５
は、図１（ａ）に示すようにソーセージ検査システム１
に用いられている。このソーセージ検査システム１は、
主にソーセージ３を搬送するコンベア２と、ソーセージ
３を撮像するＣＣＤカメラ４と、ＣＣＤカメラ４に接続
された欠陥検出装置５とを有している。
【００１３】上記のコンベア２の上方には、ＣＣＤカメ
ラ４が設けられおり、このＣＣＤカメラ４は、コンベア
２上のソーセージ３を撮像し、撮像した原画像を欠陥検
出装置５に送信するようになっている。そして、欠陥検
出装置５は、取り込んだ原画像を処理して欠陥のあるソ
ーセージ３を検出するようになっており、欠陥のあるソ
ーセージ３を検出した場合には、コンベア２の先に設け
られたソーセージ除去機構６（図示せず）に除去信号を
送信するようになっている。この除去信号を受信したソ
ーセージ除去機構６は、欠陥のあるソーセージ３を他の
正常なソーセージ３から除去するようになっている。
ラ４が設けられおり、このＣＣＤカメラ４は、コンベア
２上のソーセージ３を撮像し、撮像した原画像を欠陥検
出装置５に送信するようになっている。そして、欠陥検
出装置５は、取り込んだ原画像を処理して欠陥のあるソ
ーセージ３を検出するようになっており、欠陥のあるソ
ーセージ３を検出した場合には、コンベア２の先に設け
られたソーセージ除去機構６（図示せず）に除去信号を
送信するようになっている。この除去信号を受信したソ
ーセージ除去機構６は、欠陥のあるソーセージ３を他の
正常なソーセージ３から除去するようになっている。
【００１４】上記の欠陥検出装置５は、図１（ｂ）に示
すように、ＣＣＤカメラ４やソーセージ除去機構６に接
続されるＩ／Ｏ部７ａ・７ｂと、これらのＩ／Ｏ部７ａ
・７ｂに信号バス８を介して接続される演算部１１、Ｒ
ＡＭ９、ＲＯＭ１０とを有しており、原画像から欠陥の
あるソーセージを検出するようになっている。
すように、ＣＣＤカメラ４やソーセージ除去機構６に接
続されるＩ／Ｏ部７ａ・７ｂと、これらのＩ／Ｏ部７ａ
・７ｂに信号バス８を介して接続される演算部１１、Ｒ
ＡＭ９、ＲＯＭ１０とを有しており、原画像から欠陥の
あるソーセージを検出するようになっている。
【００１５】上記のＲＡＭ９には、各種記憶領域９ａか
ら９ｄが形成されており、各種記憶領域には、画像デー
タ記憶領域９ａと、検査ウインドウ記憶領域９ｂと、エ
ッジ画像記憶領域９ｃと、欠陥記憶領域９ｄとが含まれ
る。この画像データ記憶領域９ａには、ＣＣＤカメラ４
から取り込まれた原画像（図２（ａ）参照）が画像デー
タとして格納されるようになっている。また、検査ウイ
ンドウ記憶領域９ｂには、後述する検査ウインドウが格
納されるようになっている。さらに、エッジ画像記憶領
域９ｃには、原画像を微分して２値化したエッジ２値画
像が格納されるようになっている。また、欠陥記憶領域
９ｄは、抽出された欠陥候補の面積（画素数）が欠陥デ
ータとして格納されるようになっている。
ら９ｄが形成されており、各種記憶領域には、画像デー
タ記憶領域９ａと、検査ウインドウ記憶領域９ｂと、エ
ッジ画像記憶領域９ｃと、欠陥記憶領域９ｄとが含まれ
る。この画像データ記憶領域９ａには、ＣＣＤカメラ４
から取り込まれた原画像（図２（ａ）参照）が画像デー
タとして格納されるようになっている。また、検査ウイ
ンドウ記憶領域９ｂには、後述する検査ウインドウが格
納されるようになっている。さらに、エッジ画像記憶領
域９ｃには、原画像を微分して２値化したエッジ２値画
像が格納されるようになっている。また、欠陥記憶領域
９ｄは、抽出された欠陥候補の面積（画素数）が欠陥デ
ータとして格納されるようになっている。
【００１６】ＲＯＭ１０には、欠陥検出ルーチン１０ａ
が格納されており、この欠陥検出ルーチン１０ａは、演
算部１１により実行されるようになっている。また、欠
陥検出ルーチン１０ａは、画像データ記憶領域９ａに格
納された画像データから欠陥を検出し、その欠陥により
ソーセージ３が不良品であるか否かを判定するようにな
っている。
が格納されており、この欠陥検出ルーチン１０ａは、演
算部１１により実行されるようになっている。また、欠
陥検出ルーチン１０ａは、画像データ記憶領域９ａに格
納された画像データから欠陥を検出し、その欠陥により
ソーセージ３が不良品であるか否かを判定するようにな
っている。
【００１７】演算部１１は、図２（ａ）に示すように、
ＣＣＤカメラ４から取り込んだ画像データを、一旦画像
データ記憶領域９ａに格納するようになっている。そし
て、図２（ｂ）に示すように、この画像データをしきい
値で２値化処理し、白黒反転処理して検査領域を表す
検査ウインドウを作成する。また、この検査ウインドウ
を検査ウインドウ記憶領域９ｂに格納するようになって
いる。ここで、しきい値は、検査対象であるソーセー
ジと、背景になるコンベアとを分離できるような値とす
る。
ＣＣＤカメラ４から取り込んだ画像データを、一旦画像
データ記憶領域９ａに格納するようになっている。そし
て、図２（ｂ）に示すように、この画像データをしきい
値で２値化処理し、白黒反転処理して検査領域を表す
検査ウインドウを作成する。また、この検査ウインドウ
を検査ウインドウ記憶領域９ｂに格納するようになって
いる。ここで、しきい値は、検査対象であるソーセー
ジと、背景になるコンベアとを分離できるような値とす
る。
【００１８】次に、演算部１１は、図２（ｃ）に示すよ
うに、濃淡画像である原画像（図２（ａ））から検査ウ
インドウ内に含まれる検査画像（検査対象であるソーセ
ージの領域内の画像）を抽出する。そして、演算部１１
は、図２（ｄ）に示すように、抽出された検査画像（図
２（ｃ））の周縁を外側に１画素分ずつ拡大する画像拡
大処理を行うようになっている。
うに、濃淡画像である原画像（図２（ａ））から検査ウ
インドウ内に含まれる検査画像（検査対象であるソーセ
ージの領域内の画像）を抽出する。そして、演算部１１
は、図２（ｄ）に示すように、抽出された検査画像（図
２（ｃ））の周縁を外側に１画素分ずつ拡大する画像拡
大処理を行うようになっている。
【００１９】演算部１１は、この画像拡大処理を所要回
数繰り返して、検査画像の周縁を拡大させた拡大画像を
作成するようになっている。尚、図２（ｄ）に示す内側
の細線は、説明の便宜上書き加えたものであるので、実
際の拡大画像には、現れないものである。尚、演算部１
１は、拡大画像を以下のように作成する。
数繰り返して、検査画像の周縁を拡大させた拡大画像を
作成するようになっている。尚、図２（ｄ）に示す内側
の細線は、説明の便宜上書き加えたものであるので、実
際の拡大画像には、現れないものである。尚、演算部１
１は、拡大画像を以下のように作成する。
【００２０】図３に示すように、検査画像（図２
（ｃ））の周縁に隣接する黒画素２１を選び、その黒画
素２１の輝度を、その黒画素２１が隣接する検査画像の
周縁画素２２・２３・２４の輝度の平均値に設定する。
このように検査画像の周縁に隣接する全ての黒画素に対
して輝度の設定を行うことによって、検査画像の外側に
１画素分ずつ周縁を拡大する。
（ｃ））の周縁に隣接する黒画素２１を選び、その黒画
素２１の輝度を、その黒画素２１が隣接する検査画像の
周縁画素２２・２３・２４の輝度の平均値に設定する。
このように検査画像の周縁に隣接する全ての黒画素に対
して輝度の設定を行うことによって、検査画像の外側に
１画素分ずつ周縁を拡大する。
【００２１】次に、演算部１１は、図２（ｅ）に示すよ
うに、図２（ｄ）に示す拡大画像を微分し、所定のしき
い値で２値化処理してエッジ２値画像を作成するよう
になっており、そのエッジ２値画像をエッジ画像記憶領
域９ｃに格納するようになっている。ここで、しきい値
は、欠陥候補１２以外のノイズと欠陥候補１２とを分
離できるような値である。尚、本実施形態では、３×３
画素のSobel フィルタを用いて拡大画像を微分するよう
になっているが、これに限るものではない。
うに、図２（ｄ）に示す拡大画像を微分し、所定のしき
い値で２値化処理してエッジ２値画像を作成するよう
になっており、そのエッジ２値画像をエッジ画像記憶領
域９ｃに格納するようになっている。ここで、しきい値
は、欠陥候補１２以外のノイズと欠陥候補１２とを分
離できるような値である。尚、本実施形態では、３×３
画素のSobel フィルタを用いて拡大画像を微分するよう
になっているが、これに限るものではない。
【００２２】次に、演算部１１は、エッジ２値画像（図
２（ｅ））と、検査ウインドウ（図２（ｂ））とをエッ
ジ画像記憶領域９ｃと検査ウインドウ記憶領域９ｂとか
ら読み出して、それらの論理積から、図２（ｆ）に示す
ように、検査ウインドウ内の欠陥候補１２を検出するよ
うになっており、その欠陥候補１２を欠陥データとして
上記の欠陥記憶領域９ｄに格納するようになっている。
演算部１１は、その欠陥データを欠陥記憶領域９ｄから
読み出して、しきい値を判定基準としてソーセージが
不良品であるか否かの不良品判定処理を行うようになっ
ている。ここで、しきい値は、欠陥候補を欠陥と判定
する基準を表す値であり、欠陥の面積（画素数）により
規定する。即ち、演算部１１は、欠陥候補の面積（画素
数）を算出し、不良品判定処理を行うようになってい
る。そして、演算部１１は、欠陥データがしきい値を
越える場合には、検査対象であるソーセージが不良品で
あるとして、除去機構６にＩ／Ｏ７ｂを介して除去信号
を送信するようになっている。尚、しきい値は、欠陥
の面積（画素数）に限るものではなく、欠陥の形状や位
置等を表す値としてもよい。
２（ｅ））と、検査ウインドウ（図２（ｂ））とをエッ
ジ画像記憶領域９ｃと検査ウインドウ記憶領域９ｂとか
ら読み出して、それらの論理積から、図２（ｆ）に示す
ように、検査ウインドウ内の欠陥候補１２を検出するよ
うになっており、その欠陥候補１２を欠陥データとして
上記の欠陥記憶領域９ｄに格納するようになっている。
演算部１１は、その欠陥データを欠陥記憶領域９ｄから
読み出して、しきい値を判定基準としてソーセージが
不良品であるか否かの不良品判定処理を行うようになっ
ている。ここで、しきい値は、欠陥候補を欠陥と判定
する基準を表す値であり、欠陥の面積（画素数）により
規定する。即ち、演算部１１は、欠陥候補の面積（画素
数）を算出し、不良品判定処理を行うようになってい
る。そして、演算部１１は、欠陥データがしきい値を
越える場合には、検査対象であるソーセージが不良品で
あるとして、除去機構６にＩ／Ｏ７ｂを介して除去信号
を送信するようになっている。尚、しきい値は、欠陥
の面積（画素数）に限るものではなく、欠陥の形状や位
置等を表す値としてもよい。
【００２３】上記の構成において、ソーセージ検査シス
テム１の動作を図面を用いて説明する。図１（ａ）に示
すように、コンベア２によってソーセージ３の搬送が開
始されると、ＣＣＤカメラ４は、欠陥検出装置５からソ
ーセージ３の撮像開始信号を受信し、ソーセージ３の撮
像を開始する。ＣＣＤカメラ４が撮像を開始すると、Ｃ
ＣＤカメラ４は、撮像した原画像を欠陥検出装置５に送
信する。欠陥検出装置５は、図１（ｂ）に示すように、
原画像を受信すると、原画像を画像データとして一旦画
像データ記憶領域９ａに格納する。画像データが格納さ
れると、演算部１１により欠陥検出ルーチンが実行さ
れ、ソーセージ３の欠陥検出が行われる。
テム１の動作を図面を用いて説明する。図１（ａ）に示
すように、コンベア２によってソーセージ３の搬送が開
始されると、ＣＣＤカメラ４は、欠陥検出装置５からソ
ーセージ３の撮像開始信号を受信し、ソーセージ３の撮
像を開始する。ＣＣＤカメラ４が撮像を開始すると、Ｃ
ＣＤカメラ４は、撮像した原画像を欠陥検出装置５に送
信する。欠陥検出装置５は、図１（ｂ）に示すように、
原画像を受信すると、原画像を画像データとして一旦画
像データ記憶領域９ａに格納する。画像データが格納さ
れると、演算部１１により欠陥検出ルーチンが実行さ
れ、ソーセージ３の欠陥検出が行われる。
【００２４】欠陥検出ルーチンが実行されると、図４に
示すように、画像データ記憶領域９ａから画像データ
（図２（ａ））が読み出され、画像データがしきい値
で２値化処理され（Ｓ１）、検査対象であるソーセージ
３と背景とが分離される。そして、白黒反転処理され
て、検査領域となる検査ウインドウ（図２（ｂ））が作
成される。以上のように検査ウインドウが作成される
と、検査ウインドウ記憶領域９ｂに格納される。
示すように、画像データ記憶領域９ａから画像データ
（図２（ａ））が読み出され、画像データがしきい値
で２値化処理され（Ｓ１）、検査対象であるソーセージ
３と背景とが分離される。そして、白黒反転処理され
て、検査領域となる検査ウインドウ（図２（ｂ））が作
成される。以上のように検査ウインドウが作成される
と、検査ウインドウ記憶領域９ｂに格納される。
【００２５】次に、演算部１１により画像データ記憶領
域９ａから画像データが読み出され、原画像（図２
（ａ））から検査ウインドウ（図２（ｂ））内に含まれ
る検査画像（検査対象であるソーセージの領域内の画
像）が抽出される（Ｓ２）。検査画像（図２（ｃ））が
抽出されると、検査画像の周縁を外側に１画素分ずつ拡
大する画像拡大処理が行われる（Ｓ３）。具体的には、
図３（ａ）に示すように、検査画像（図２（ｃ））の周
縁に隣接する黒画素２１が選ばれ、その黒画素２１の輝
度が設定される。この輝度は、黒画素２１に隣接する検
査画像の周縁画素２２・２３・２４の輝度の平均値に設
定される。このように検査画像の周縁に隣接する全ての
黒画素に対して輝度が設定されることによって、検査画
像の周縁が外側に１画素分ずつ拡大される。この画像拡
大処理が所要回数繰り返され、拡大画像（図２（ｄ））
が作成される。尚、図２（ｄ）に示す内側の細線は、拡
大前の検査画像の周縁であるが、説明の便宜上書き加え
たものであるので、実際の拡大画像には、現れないもの
である。
域９ａから画像データが読み出され、原画像（図２
（ａ））から検査ウインドウ（図２（ｂ））内に含まれ
る検査画像（検査対象であるソーセージの領域内の画
像）が抽出される（Ｓ２）。検査画像（図２（ｃ））が
抽出されると、検査画像の周縁を外側に１画素分ずつ拡
大する画像拡大処理が行われる（Ｓ３）。具体的には、
図３（ａ）に示すように、検査画像（図２（ｃ））の周
縁に隣接する黒画素２１が選ばれ、その黒画素２１の輝
度が設定される。この輝度は、黒画素２１に隣接する検
査画像の周縁画素２２・２３・２４の輝度の平均値に設
定される。このように検査画像の周縁に隣接する全ての
黒画素に対して輝度が設定されることによって、検査画
像の周縁が外側に１画素分ずつ拡大される。この画像拡
大処理が所要回数繰り返され、拡大画像（図２（ｄ））
が作成される。尚、図２（ｄ）に示す内側の細線は、拡
大前の検査画像の周縁であるが、説明の便宜上書き加え
たものであるので、実際の拡大画像には、現れないもの
である。
【００２６】次に、演算部１１により拡大画像（図２
（ｄ））がSobel フィルタで微分され（Ｓ４）、所定の
しきい値で２値化処理される（Ｓ５）。これにより拡
大画像から欠陥候補以外のノイズが除去されてエッジ２
値画像（図２（ｅ））が作成され、エッジ画像記憶領域
９ｃに格納される。
（ｄ））がSobel フィルタで微分され（Ｓ４）、所定の
しきい値で２値化処理される（Ｓ５）。これにより拡
大画像から欠陥候補以外のノイズが除去されてエッジ２
値画像（図２（ｅ））が作成され、エッジ画像記憶領域
９ｃに格納される。
【００２７】次に、演算部１１により検査ウインドウ記
憶領域９ｂから検査ウインドウ（図２（ｂ））が読み出
され、エッジ画像記憶領域９ｃからエッジ２値画像（図
２（ｅ））が読み出されて、検査ウインドウとエッジ２
値画像との論理積から検査ウインドウ内の欠陥候補１２
（図２（ｆ））が検出される（Ｓ６）。欠陥候補１２が
検出されると、欠陥候補１２の面積（画素数）を算出
し、欠陥データとして欠陥記憶領域９ｄに格納される。
そして、欠陥記憶領域９ｄから欠陥データが読み出さ
れ、しきい値を判定基準としてソーセージ３が不良品
であるか否かの不良品判定処理がなされる（Ｓ７）。
憶領域９ｂから検査ウインドウ（図２（ｂ））が読み出
され、エッジ画像記憶領域９ｃからエッジ２値画像（図
２（ｅ））が読み出されて、検査ウインドウとエッジ２
値画像との論理積から検査ウインドウ内の欠陥候補１２
（図２（ｆ））が検出される（Ｓ６）。欠陥候補１２が
検出されると、欠陥候補１２の面積（画素数）を算出
し、欠陥データとして欠陥記憶領域９ｄに格納される。
そして、欠陥記憶領域９ｄから欠陥データが読み出さ
れ、しきい値を判定基準としてソーセージ３が不良品
であるか否かの不良品判定処理がなされる（Ｓ７）。
【００２８】欠陥データがしきい値を越える場合に
は、欠陥候補１２が欠陥と判断されるため、検査対象で
あるソーセージ３が不良品であるとして、Ｉ／Ｏ７ｂを
介してソーセージ除去機構６に除去信号が送信される
（エンド）。ソーセージ除去機構６が除去信号を受信す
ると、欠陥のあるソーセージ３が除去され、再び、新た
なソーセージ３について欠陥検出ルーチンが実行され
る。一方、欠陥データがしきい値を越えない場合に
は、欠陥候補１２が欠陥でないと判断されるため、検査
対象であるソーセージ３が正常であると判断され、その
ソーセージ３における欠陥検出ルーチンが終了する（エ
ンド）。そして、再び、新たなソーセージ３について欠
陥検出ルーチンが実行される。
は、欠陥候補１２が欠陥と判断されるため、検査対象で
あるソーセージ３が不良品であるとして、Ｉ／Ｏ７ｂを
介してソーセージ除去機構６に除去信号が送信される
（エンド）。ソーセージ除去機構６が除去信号を受信す
ると、欠陥のあるソーセージ３が除去され、再び、新た
なソーセージ３について欠陥検出ルーチンが実行され
る。一方、欠陥データがしきい値を越えない場合に
は、欠陥候補１２が欠陥でないと判断されるため、検査
対象であるソーセージ３が正常であると判断され、その
ソーセージ３における欠陥検出ルーチンが終了する（エ
ンド）。そして、再び、新たなソーセージ３について欠
陥検出ルーチンが実行される。
【００２９】尚、本実施形態においては、欠陥検出ルー
チンを演算部１１に実行させるプログラムが予めＲＯＭ
１０に格納されているが、これに限定されることなく、
磁気テープや磁気ディスク、光ディスク等の記録媒体に
記録されていても良い。
チンを演算部１１に実行させるプログラムが予めＲＯＭ
１０に格納されているが、これに限定されることなく、
磁気テープや磁気ディスク、光ディスク等の記録媒体に
記録されていても良い。
【００３０】即ち、これらの記録媒体を用いることによ
って、上記のプログラムを実行させるようになっていて
も良い。そして、この場合、ＣＣＤカメラ４や除去機構
が欠陥検出装置５に代えてパーソナルコンピュータ等の
情報処理装置に接続可能にされていれば、記録媒体から
上記のプログラムを読み取ることによって、パーソナル
コンピュータ等の情報処理装置に欠陥検出ルーチンを実
行させることができるため、コンベア２に搬送されるソ
ーセージ３の欠陥を検出することができる。
って、上記のプログラムを実行させるようになっていて
も良い。そして、この場合、ＣＣＤカメラ４や除去機構
が欠陥検出装置５に代えてパーソナルコンピュータ等の
情報処理装置に接続可能にされていれば、記録媒体から
上記のプログラムを読み取ることによって、パーソナル
コンピュータ等の情報処理装置に欠陥検出ルーチンを実
行させることができるため、コンベア２に搬送されるソ
ーセージ３の欠陥を検出することができる。
【００３１】尚、検査ウインドウの作成において、原画
像（図２（ａ））に欠陥候補１２が存在する場合には、
２値化処理により欠陥候補１２がソーセージの領域から
はずれてしまう（黒画素になる）ため、本実施形態に係
る欠陥検出装置５は、穴埋め処理を行うようになってい
る。この穴埋め処理は、図２（ｂ）に示すように、検査
ウインドウ内から欠陥候補１２を含むノイズを除く処理
であれば良い。
像（図２（ａ））に欠陥候補１２が存在する場合には、
２値化処理により欠陥候補１２がソーセージの領域から
はずれてしまう（黒画素になる）ため、本実施形態に係
る欠陥検出装置５は、穴埋め処理を行うようになってい
る。この穴埋め処理は、図２（ｂ）に示すように、検査
ウインドウ内から欠陥候補１２を含むノイズを除く処理
であれば良い。
【００３２】
【発明の効果】請求項１記載の発明は、濃淡画像を微分
することにより輝度変化の大きい画素を検出する欠陥検
出方法であって、検査領域を表す検査ウインドウをその
他の領域から分離するように前記濃淡画像を２値化する
２値化工程と、前記検査ウインドウから検査対象となる
検査画像のみを抽出する抽出工程と、前記検査画像の周
囲に前記検査画像の周縁部分と同程度の輝度の画素を配
置させた拡大画像を作成する画像拡大工程と、前記拡大
画像を微分し、２値化してエッジ２値画像を作成する微
分２値化工程とを含み、前記エッジ２値画像のうち、検
査ウインドウに含まれる領域全体を検出範囲とする方法
である。これにより、検査対象の周縁を本来の検査対象
の周縁よりも拡大させることができるため、従来のよう
に、検査ウインドウ（図５（ｄ））を検査対象（図５
（ｅ））よりも小さくする必要が無くなり、検査対象の
周縁付近に存在する欠陥をも検出することができる。即
ち、検査対象の周縁部分を検査ウインドウに含ませるこ
とにより、検査対象の周縁部分に存在する欠陥をも検出
できるため、検査精度を向上させることができるという
効果を奏する。
することにより輝度変化の大きい画素を検出する欠陥検
出方法であって、検査領域を表す検査ウインドウをその
他の領域から分離するように前記濃淡画像を２値化する
２値化工程と、前記検査ウインドウから検査対象となる
検査画像のみを抽出する抽出工程と、前記検査画像の周
囲に前記検査画像の周縁部分と同程度の輝度の画素を配
置させた拡大画像を作成する画像拡大工程と、前記拡大
画像を微分し、２値化してエッジ２値画像を作成する微
分２値化工程とを含み、前記エッジ２値画像のうち、検
査ウインドウに含まれる領域全体を検出範囲とする方法
である。これにより、検査対象の周縁を本来の検査対象
の周縁よりも拡大させることができるため、従来のよう
に、検査ウインドウ（図５（ｄ））を検査対象（図５
（ｅ））よりも小さくする必要が無くなり、検査対象の
周縁付近に存在する欠陥をも検出することができる。即
ち、検査対象の周縁部分を検査ウインドウに含ませるこ
とにより、検査対象の周縁部分に存在する欠陥をも検出
できるため、検査精度を向上させることができるという
効果を奏する。
【００３３】請求項２記載の発明は、濃淡画像を微分す
ることにより輝度変化の大きい画素を検出する欠陥検出
装置であって、検査領域を表す検査ウインドウをその他
の領域から分離するように前記濃淡画像を２値化する２
値化手段と、前記検査ウインドウから検査対象となる検
査画像のみを抽出する抽出手段と、前記検査画像の周囲
に前記検査画像の周縁部分と同程度の輝度の画素を配置
させた拡大画像を作成する画像拡大手段と、前記拡大画
像を微分し、２値化してエッジ２値画像を作成する微分
２値化手段とを有し、前記エッジ２値画像のうち、検査
ウインドウに含まれる領域全体を検出範囲とする構成で
ある。これにより、検査対象の周縁を本来の検査対象の
周縁よりも拡大させることができるため、従来のよう
に、検査ウインドウ（図５（ｄ））を検査対象（図５
（ｅ））よりも小さくする必要が無くなり、検査対象の
周縁付近に存在する欠陥をも検出することができる。即
ち、検査対象の周縁部分を検査ウインドウに含ませるこ
とにより、検査対象の周縁部分に存在する欠陥をも検出
できるため、検査精度を向上させることができるという
効果を奏する。
ることにより輝度変化の大きい画素を検出する欠陥検出
装置であって、検査領域を表す検査ウインドウをその他
の領域から分離するように前記濃淡画像を２値化する２
値化手段と、前記検査ウインドウから検査対象となる検
査画像のみを抽出する抽出手段と、前記検査画像の周囲
に前記検査画像の周縁部分と同程度の輝度の画素を配置
させた拡大画像を作成する画像拡大手段と、前記拡大画
像を微分し、２値化してエッジ２値画像を作成する微分
２値化手段とを有し、前記エッジ２値画像のうち、検査
ウインドウに含まれる領域全体を検出範囲とする構成で
ある。これにより、検査対象の周縁を本来の検査対象の
周縁よりも拡大させることができるため、従来のよう
に、検査ウインドウ（図５（ｄ））を検査対象（図５
（ｅ））よりも小さくする必要が無くなり、検査対象の
周縁付近に存在する欠陥をも検出することができる。即
ち、検査対象の周縁部分を検査ウインドウに含ませるこ
とにより、検査対象の周縁部分に存在する欠陥をも検出
できるため、検査精度を向上させることができるという
効果を奏する。
【００３４】請求項３記載の発明は、濃淡画像を微分す
ることにより輝度変化の大きい画素を検出する欠陥検出
プログラムを記録した記録媒体であって、前記プログラ
ムは、検査領域を表す検査ウインドウをその他の領域か
ら分離するように前記濃淡画像を２値化させ、前記検査
ウインドウから検査対象となる検査画像のみを抽出さ
せ、前記検査画像の周囲に前記検査画像の周縁部分と同
程度の輝度の画素を配置させた拡大画像を作成させ、前
記拡大画像を微分させ、２値化させてエッジ２値画像を
作成させ、前記エッジ２値画像のうち、検査ウインドウ
に含まれる領域全体を検出範囲とする構成である。これ
により、検査対象の周縁を本来の検査対象の周縁よりも
拡大させることができるため、従来のように、検査ウイ
ンドウ（図５（ｄ））を検査対象（図５（ｅ））よりも
小さくする必要が無くなり、検査対象の周縁付近に存在
する欠陥をも検出することができる。即ち、検査対象の
周縁部分を検査ウインドウに含ませることにより、検査
対象の周縁部分に存在する欠陥をも検出できるため、検
査精度を向上させることができるという効果を奏する。
ることにより輝度変化の大きい画素を検出する欠陥検出
プログラムを記録した記録媒体であって、前記プログラ
ムは、検査領域を表す検査ウインドウをその他の領域か
ら分離するように前記濃淡画像を２値化させ、前記検査
ウインドウから検査対象となる検査画像のみを抽出さ
せ、前記検査画像の周囲に前記検査画像の周縁部分と同
程度の輝度の画素を配置させた拡大画像を作成させ、前
記拡大画像を微分させ、２値化させてエッジ２値画像を
作成させ、前記エッジ２値画像のうち、検査ウインドウ
に含まれる領域全体を検出範囲とする構成である。これ
により、検査対象の周縁を本来の検査対象の周縁よりも
拡大させることができるため、従来のように、検査ウイ
ンドウ（図５（ｄ））を検査対象（図５（ｅ））よりも
小さくする必要が無くなり、検査対象の周縁付近に存在
する欠陥をも検出することができる。即ち、検査対象の
周縁部分を検査ウインドウに含ませることにより、検査
対象の周縁部分に存在する欠陥をも検出できるため、検
査精度を向上させることができるという効果を奏する。
【図１】本実施形態に係るソーセージ検査システムを説
明する図である。
明する図である。
【図２】画像データの処理を説明する図である。
【図３】拡大処理を説明する図である。
【図４】欠陥検出ルーチンの動作を示すフローチャート
である。
である。
【図５】従来の画像データの処理を説明する図である。
【図６】従来の画像データの処理を説明する図である。
１ ソーセージ検査システム
２ コンベア
３ ソーセージ
４ ＣＣＤカメラ
５ 欠陥検出装置
６ ソーセージ除去機構
７ａ Ｉ／Ｏ
７ｂ Ｉ／Ｏ
８ 信号バス
９ ＲＡＭ
１０ ＲＯＭ
１１ 演算部
１２ 欠陥候補
１３ 欠陥候補
フロントページの続き
(72)発明者 米田 康司
兵庫県神戸市西区高塚台１丁目５番５号
株式会社神戸製鋼所 神戸総合技術研
究所内
(56)参考文献 特開 平５−209732（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−46744（ＪＰ，Ａ)
特開 昭61−126437（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−175343（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−73324（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−14867（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 21/88
G01N 21/89
G06T 7/00
Claims (3)
- 【請求項１】 濃淡画像を微分することにより輝度変化
の大きい画素を検出する欠陥検出方法であって、 検査領域を表す検査ウインドウをその他の領域から分離
するように前記濃淡画像を２値化する２値化工程と、 前記検査ウインドウから検査対象となる検査画像のみを
抽出する抽出工程と、 前記検査画像の周囲に前記検査画像の周縁部分と同程度
の輝度の画素を配置させた拡大画像を作成する画像拡大
工程と、 前記拡大画像を微分し、２値化してエッジ２値画像を作
成する微分２値化工程とを含み、 前記エッジ２値画像のうち、検査ウインドウに含まれる
領域全体を検出範囲とすることを特徴とする欠陥検出方
法。 - 【請求項２】 濃淡画像を微分することにより輝度変化
の大きい画素を検出する欠陥検出装置であって、 検査領域を表す検査ウインドウをその他の領域から分離
するように前記濃淡画像を２値化する２値化手段と、 前記検査ウインドウから検査対象となる検査画像のみを
抽出する抽出手段と、 前記検査画像の周囲に前記検査画像の周縁部分と同程度
の輝度の画素を配置させた拡大画像を作成する画像拡大
手段と、 前記拡大画像を微分し、２値化してエッジ２値画像を作
成する微分２値化手段とを有し、 前記エッジ２値画像のうち、検査ウインドウに含まれる
領域全体を検出範囲とすることを特徴とする欠陥検出装
置。 - 【請求項３】 濃淡画像を微分することにより輝度変化
の大きい画素を検出する欠陥検出プログラムを記録した
記録媒体であって、 前記プログラムは、検査領域を表す検査ウインドウをそ
の他の領域から分離するように前記濃淡画像を２値化さ
せ、 前記検査ウインドウから検査対象となる検査画像のみを
抽出させ、 前記検査画像の周囲に前記検査画像の周縁部分と同程度
の輝度の画素を配置させた拡大画像を作成させ、 前記拡大画像を微分させ、２値化させてエッジ２値画像
を作成させ、 前記エッジ２値画像のうち、検査ウインドウに含まれる
領域全体を検出範囲とすることを特徴とする欠陥検出プ
ログラムを記録した記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22227097A JP3410337B2 (ja) | 1997-08-19 | 1997-08-19 | 欠陥検出方法及びその装置並びに欠陥検出制御プログラムを記録した記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22227097A JP3410337B2 (ja) | 1997-08-19 | 1997-08-19 | 欠陥検出方法及びその装置並びに欠陥検出制御プログラムを記録した記録媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1164236A JPH1164236A (ja) | 1999-03-05 |
| JP3410337B2 true JP3410337B2 (ja) | 2003-05-26 |
Family
ID=16779760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22227097A Expired - Fee Related JP3410337B2 (ja) | 1997-08-19 | 1997-08-19 | 欠陥検出方法及びその装置並びに欠陥検出制御プログラムを記録した記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3410337B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001194316A (ja) * | 1999-10-26 | 2001-07-19 | Hitachi Ltd | 非破壊検査方法およびその装置 |
| JP4978215B2 (ja) * | 2007-01-30 | 2012-07-18 | トヨタ自動車株式会社 | 加工面欠陥判定方法 |
| JP5390755B2 (ja) * | 2007-06-28 | 2014-01-15 | パナソニック株式会社 | 画像処理による外観検査方法およびその装置 |
| JP4743231B2 (ja) * | 2008-06-16 | 2011-08-10 | パナソニック電工株式会社 | 外観検査方法及び外観検査装置 |
| JP4743230B2 (ja) * | 2008-06-16 | 2011-08-10 | パナソニック電工株式会社 | 外観検査方法及び外観検査装置 |
| JP5663283B2 (ja) | 2010-12-02 | 2015-02-04 | オリンパス株式会社 | 内視鏡画像処理装置及びプログラム |
| CN102692417B (zh) * | 2012-01-15 | 2014-06-25 | 河南科技大学 | 基于机器视觉的乳化肠食产品肠衣鼓爆程度检测方法 |
-
1997
- 1997-08-19 JP JP22227097A patent/JP3410337B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH1164236A (ja) | 1999-03-05 |
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