JP3398112B2 - 光ディスク再生装置の検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 【０００１】 【発明の属する技術分野】本発明は、コンパクトディス
ク（以下、「ＣＤ」と略称する）などの光ディスク再生
装置の光学的特性の自己調整機能の検査を行う検査装置
に関する。 【０００２】 【従来の技術】近年、車載用や携帯用オーディオ装置に
ＣＤやミニディスク（以下、「ＭＤ」と略称する）、あ
るいはナビゲーション装置にＣＤ−ＲＯＭなどの光ディ
スクが大容量のデータ記憶媒体として広く利用されてい
る。車載用や携帯用の光ディスク再生装置では、振動な
どの存在する悪条件下でデータの再生を行う必要があ
る。このため、光ディスク再生装置の製造後の製品検査
では、再生出力が振動などによって不連続的に変化する
音飛びなどの現象が、一定の規格内では起こらないこと
を検査する必要がある。また、光ディスク再生装置で
は、光学的に高密度で記憶されているデータの再生を非
接触で行うので、光学系の自己調整機能を備えており、
工場からの出荷検査で自己調整機能の検査も行う必要が
ある。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】光ディスク再生装置
は、表面の傷や振動などによってデータの読取り誤差が
生じても、ある程度の範囲ではデータの修復が可能に構
成されている。このため、自己調整機能の検査において
は、かえって判断が困難となっている。従来は、作業者
が耳や目で確認する官能評価に頼らざるを得ず、個人差
や周辺の環境によっても品質にバラツキが発生する恐れ
がある。また、作業に手間がかかるので、作業工数の面
でも不利である。 【０００４】本発明の目的は、自己調整機能の検査を確
実に行うことができ、自動化も容易な光ディスク再生装
置の検査装置を提供することである。 【０００５】 【０００６】 【０００７】 【０００８】 【０００９】 【００１０】 【００１１】 【００１２】 【００１３】 【００１４】 【００１５】 【００１６】 【００１７】 【００１８】 【００１９】 【課題を解決するための手段】本発明は、光ディスクに
デジタル信号として記録されている情報を光学的に読取
って再生するために、光学系の自己調整手段を備える光
ディスク再生装置の検査装置において、検査対象の光デ
ィスク再生装置に挿入して用いられ、耐傷性能を検査す
るための傷が付加されている試験用光ディスクと、検査
対象の光ディスク再生装置に機械的振動を与えるための
振動発生手段と、光ディスク再生装置による試験用光デ
ィスクの再生信号の歪の程度から、音飛び発生か否かを
判断する音飛び判断手段と、音飛び判断手段からの出力
に応答し、音飛びの発生回数を計数する計数手段と、検
査対象の光ディスク再生装置の自己調整手段から、調整
値を読取る読取手段と、予め設定される試験条件に従っ
て振動発生手段および音飛び判断手段を制御し、計数手
段の計数値および読取手段が読取った調整値に基づいて
耐傷性能および自己調整機能の良否判定を行う制御手段
とを含むことを特徴とする光ディスク再生装置の検査装
置である。 【００２０】本発明に従えば、試験用光ディスクには予
め耐傷性能を検査するための傷が付加されており、振動
発生手段からは検査対象の光ディスク再生装置に機械的
振動が与えられる。音飛び判断手段は、光ディスク再生
手段による試験用光ディスクの再生信号の歪の程度から
音飛び発生か否かを判断し、判断手段からの出力を計数
して耐傷性能を判定し、自己調整機能の調整値を読出し
て自己調整機能の良否判定を自動的に行うことができ
る。 【００２１】 【発明の実施の形態】図１は、本発明の実施の一形態に
よる光ディスク再生装置の検査装置についての概略的な
電気的構成を示す。光ディスク再生装置１は、ＣＤやＭ
Ｄなどの光ディスクに記憶されているデータを再生す
る。光ディスク再生装置１の耐傷性能検査のために、試
験用光ディスク２が用いられる。試験用光ディスク２を
再生した光ディスク再生装置１からの出力は、音飛び判
断装置３に入力され、出力レベルが不連続的に変化する
音飛びが発生するか否かが判断される。音飛び判断装置
３によって音飛びが発生していると判断されるときに
は、カウンタ４の計数値が増加する。カウンタ４の計数
値に基づいて、光ディスク再生装置１の耐傷性能を判定
するために、パーソナルコンピュータ５が接続される。
カウンタ４の係数値はパーソナルコンピュータ５に入力
され、パーソナルコンピュータ５に予め設定されている
試験条件に従って計数値の評価が行われる。パーソナル
コンピュータ５によって処理されたデータは、たとえば
表示装置６によって画像表示される。 【００２２】光ディスク再生装置１は振動発生装置７上
に載置され、パーソナルコンピュータ５によって設定さ
れる振動条件で外部から振動が与えられる。振動が１方
向に発生されるとしても、振動の回数や振幅はパーソナ
ルコンピュータ５から設定可能である。さらに、振動の
方向やモードを変えるような構成も可能である。音飛び
判断装置３の判断レベルや振動発生装置７の発生する振
動条件は、パーソナルコンピュータ５に予め設定されて
記憶されている試験条件や、試験用光ディスク２のＴＯ
Ｃ部などに記憶されているデータに基づいて設定可能で
ある。 【００２３】光ディスク再生装置１は、光ディスクを再
生するために、光学的な自己調整機能が重要である。光
ディスク再生装置１に内蔵されている光学系の調整機能
は、光ディスク再生装置１から音飛び判断装置３への出
力から分岐してパーソナルコンピュータ５に直接入力さ
れる。パーソナルコンピュータ５内では、アナログ／デ
ジタル変換（以下、「Ａ／Ｄ」と略称する）回路によっ
てデジタル変換され、パーソナルコンピュータ５内のメ
モリに記憶される。試験用光ディスク２は、前述のよう
にＴＯＣ部などに試験条件などが設定されている場合が
あり、その場合はパーソナルコンピュータ５が読取った
条件による検査が行われる。 【００２４】光ディスク再生装置１は、各種サーボ回路
を有し、自己調整によって調整された調整値は、パーソ
ナルコンピュータ５に記憶される。光ディスク再生装置
１から自己調整機能に関連する調整値を外部に読出す動
作は、光ディスク再生装置１の前面パネルに設けられて
いる操作入力部１１に対して、通常の動作では行わない
ような予め定める特定の操作手順に従う操作を行うこと
によって起動される。試験用光ディスク２は、１つの半
径上に複数の傷１２が同心円上に形成されている。傷１
２の広さや深さは、検査条件に従って各種のものを形成
することができる。光ディスク再生装置１には、再生中
のアドレスなどを表示する表示部１３も設けられてい
る。 【００２５】図２は、図１に示す試験用光ディスク２の
部分的な断面構成を示す。一般のＣＤなどと同様に、試
験用光ディスク２には、試験用のプログラムソースなど
が記憶されている。試験用光ディスク２における記憶
は、ピット２０と呼ばれる凹部の有無に従って行われ
る。ピット２０が形成されていると、レンズ２１によっ
て絞られるレーザ光２２が透明層２３を通過して照射さ
れたときに、反射膜２４による反射強度が変化し、記憶
データを読取ることができる。反射膜２４の裏面側は保
護膜２５によって覆われ、ピット２０が保護されてい
る。透明層２３の表面に傷１２が形成されると、レーザ
光２２が散乱され、ピット２０からの反射強度が低下す
る。傷１２が大きいときには、試験用光ディスク２の表
面の円周方向に沿って長期間正常なデータを読取ること
ができなくなってしまう。光ディスク再生装置１では、
ピット２０の列を読取ることによって、回転サーボ、フ
ォーカスサーボ、トラッキングサーボなどの自己調整を
行っている。長時間に亘って正常にピット２０からのデ
ータを読取ることができないと、ピット２０に照射され
るレーザ光２２の位置精度も低下する。 【００２６】ＣＤやＭＤは、ある程度のデータの誤りに
対処することができるように、エラー訂正機能を有して
いる。しかしながら、データの読取りのエラーが長期間
続くと、エラー訂正が不可能になる。このため、再生し
ていた音響信号などに不自然な変化が発生し、音飛びと
なる。 【００２７】図３は、図１の音飛び判断装置３の電気的
構成を示す。光ディスク再生装置１からのアナログ変換
された再生出力は、増幅回路３１によって増幅され、絶
対値回路３２によって一定の極性に変換される。光ディ
スク再生装置１からの再生出力に音飛びが発生している
と、絶対値回路３２によって変換された絶対値の出力レ
ベルが増大する。絶対値回路３２の出力は、比較回路３
３によって基準レベル３４と比較され、比較出力はハイ
レベルまたはローレベルの論理信号として導出される。
図３の構成では、音飛びが発生して絶対値回路３２の出
力が増大し、基準レベル３４を越えると、比較回路３３
からハイレベルの出力が導出される。基準レベル３４
は、外部から変更可能である。音飛びのレベルは、試験
用光ディスク２に形成する傷１２の大きさや、光ディス
ク再生装置１の構成によって異なるので、基準レベル３
４を適宜調整することによって、適切な耐傷性能の検査
を行うことができる。 【００２８】試験用光ディスク２に形成する傷１２とし
ては、正常な光ディスク再生装置１であっても、確実に
音飛びが発生する傷を数カ所入れておくことが望まし
い。このような傷１２が形成されていても、音飛びを発
生しないときには、耐傷性能は良好でも出力のダイナミ
ックレンジが狭いなど、他の不具合がある可能性があ
る。また、傷１２としては、正常な光ディスク再生装置
１では、音飛びが発生しない傷を数カ所入れておくこと
が望ましい。このような傷１２によって音飛びを発生す
るとすれば、検査対象となっている光ディスク再生装置
１の耐傷性能が不良であると判定することができる。ま
た、段階的に大きさの異なる傷１２を複数ケ所入れてお
くことも可能である。このような段階的に大きさの異な
る傷によれば、ある大きさ以上の傷に対して音飛びを発
生し、耐傷性能の程度を量的に把握することができる。
さらに、正常な光ディスク再生装置１であれば、音飛び
が発生しないであろう程度の傷１２であって、種類の異
なる傷を複数ケ所入れておくことも好ましい。音飛びが
発生する傷があるとすれば、特定の種類の傷に対しては
耐傷性能が劣ることが判明すれば、対応策を取るための
情報として有効に判断することができる。 【００２９】図４は、図１の光ディスク再生装置１の内
部構成を示す。試験用光ディスク２に記録されているデ
ータは、ピックアップ４０によって光学的に読取られ
る。読取られたデータは、読取回路４１によって増幅さ
れ、信号処理回路４２によってデジタル信号処理され、
エラー訂正などが行われる。試験用光ディスク２は、モ
ータ４３によって回転駆動され、モータ４３は回転サー
ボ回路４４によって駆動される。ピックアップ４０によ
る試験用光ディスク２からのデータの読取りは、フォー
カスサーボ回路４５およびトラッキングサーボ回路４６
による制御下で行われる。自己調整回路４７は、マイク
ロコンピュータなどを含み、信号処理回路４２からの出
力に基づいて回転サーボ回路４４、フォーカスサーボ回
路４５、トラッキングサーボ回路４６を制御する。自己
調整回路４７には、インタフェイス（以下、「Ｉ／Ｆ」
と略称する）回路４８を介し、ＲＳ−２３２Ｃなどの規
格に従うコマンド入力が外部からシリアル入力端子４９
を介して与えられる。自己調整回路４７に外部からコマ
ンドが与えられると、検査用の自己調整モードに入る。
自己調整回路４７によって調整された調整値は、信号処
理回路４２から外部に導出される。この際、信号処理回
路４２の出力は、デジタル／アナログ変換（以下、「Ｄ
／Ａ」と略称する）回路５０から外部出力端子５１に導
出される。自己調整回路４７による自己調整検査用の動
作モードは、図１の操作入力部１１からの操作入力に応
じて起動するように構成することもできる。また、調整
値の読取りは、表示部１３で行うようにしてもよい。 【００３０】図５は、本実施形態による光ディスク再生
装置の検査装置の動作を示す。ステップａ１から動作を
開始し、ステップａ２では検査条件を設定する。検査条
件は、たとえば図１のパーソナルコンピュータ５内に記
憶されたり、前述のように試験用光ディスク２のＴＯＣ
領域などに記憶させたりすることができる。また、試験
用光ディスク２がＭＤであるときには、書込みが可能な
ので、試験条件を予め記録させることは容易である。 【００３１】ステップａ３では、検査対象の光ディスク
再生装置１のディスク挿入部１０に試験用光ディスク２
を挿入する。ステップａ４では、ＲＳ−２３２Ｃ用シリ
アル入力端子４９などを通じてコマンド入力することに
よって、自己調整を行わせる。ステップａ５では、調整
値読出しを行う。外部出力端子５１を介する調整値の読
出しによって、図１のパーソナルコンピュータ５は、自
己調整機能が良好に作動しているか否かを判断する。自
己調整機能が良好に作動していると判断されるときには
ステップａ７に移り、試験用光ディスク２に形成されて
いる傷１２のうち、耐傷性能検査に使用する傷を選択す
る。光ディスク再生装置１は、自己調整機能が良好であ
ると判定されているので、傷１２の形成されている位置
をトラックで指定することによって、傷１２の選択を行
うことができる。ステップａ８では、検査条件に従って
振動を付与するか否かを判断する。振動付与が条件とさ
れているときには、ステップａ９で振動条件に従って振
動発生装置７を作動させ、加振を行う。ステップａ８で
振動付与が条件とされていないとき、あるいはステップ
ａ９で加振を開始した後は、ステップａ１０で試験用光
ディスク２からの再生を行う。ステップａ１１で、図１
の音飛び判断装置７による音飛び発生の有無の判断を行
い、音飛びが発生していれば、ステップａ１２でカウン
タ４の計数値を増大させるカウントを行う。ステップａ
１１で音飛びが発生していないとき、ステップａ１２で
音飛びカウントを行った後は、ステップａ１３でカウン
ト値の評価を行う。検査条件に従って、一定時間のカウ
ント値を基準値と比較し、たとえば確実に音飛びが発生
する傷１２を選択しているときには、傷１２の数とカウ
ント値とが等しいときに耐傷性能が良好と判断する。正
常な光ディスク再生装置１では、音飛びが発生しない傷
１２を選択しているときには、カウント値が０であると
きに耐傷性能が良好と判定する。段階的に大きさの異な
る傷１２を選択しているときには、要求される耐傷性能
に応じたカウント値以下のときに耐傷性能が良好と判定
する。 【００３２】ステップａ１４では、検査条件に従って、
検査すべき項目が終了したか否かを判断する。検査項目
が終了していないと判断されるときには、ステップａ７
に戻り、新たに傷１２を選択する。検査終了と判断され
るときには、ステップａ１５で１つの光ディスク再生装
置１に対する検査を終了する。ステップａ６で、自己調
整機能が良好でないと判断されるときには、ステップａ
１６で自己調整機能不良と判断して検査を終了する。 【００３３】以上の実施形態では、自己調整機能の検査
と耐傷性能の検査とを一貫して自動的に行うようにして
いるけれども、別個に行うこともできる。また、自己調
整機能の検査は、光ディスク再生装置１の表面パネルに
設けられる操作入力部１１や表示部１３などを利用する
こともできる。表示部１３は、通常、再生中のＣＤなど
のトラック番号や時、分、秒などのアドレスを表示する
ために用いられるけれども、一定時間間隔で自己調整の
各調整値を漸次的に表示するようにして、外部に読出す
こともできる。また、外部出力端子５１から音声信号と
して外部に報知するようにすることも可能である。 【００３４】さらに、図３に示す音飛び判断装置３の出
力が論理値で得られるので、作業者がついている場合で
も、耐傷性能を個人差なく判定することができる。 【００３５】 【００３６】 【００３７】 【００３８】 【００３９】 【００４０】 【００４１】 【発明の効果】以上のように本発明によれば、光ディス
ク再生装置の耐傷性能の検査と自己調整機能の検査を自
動的に行うことができる。

【図面の簡単な説明】 【図１】本発明の実施の１形態による検査装置の概略的
な電気的構成を示すブロック図である。 【図２】図１の試験用光ディスク２に設ける傷１２に関
連する構成を示す部分的な断面図である。 【図３】図１の音飛び判断装置３の電気的構成を示すブ
ロック図である。 【図４】図１の光ディスク再生装置１の電気的構成を示
すブロック図である。 【図５】図１の検査装置の動作を示すフローチャートで
ある。 【符号の説明】 １ 光ディスク再生装置 ２ 試験用光ディスク ３ 音飛び判断装置 ４ カウンタ ５ パーソナルコンピュータ ６ 表示装置 ７ 振動発生装置 １１ 操作入力部 １２ 傷 １３ 表示部 ２０ ピット ２１ レンズ ２２ レーザ光 ３３ 比較回路 ３４ 基準レベル ４０ ピックアップ ４２ 信号処理回路 ４３ モータ ４４ 回転サーボ回路 ４５ フォーカスサーボ回路 ４６ トラッキングサーボ回路 ４７ 自己調整回路 ４９ シリアル入力端子 ５１ 外部出力端子

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/08 G11B 20/10 - 20/18 G11B 7/00 - 7/013

Claims (1)

1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 光ディスクにデジタル信号として記録さ
   れている情報を光学的に読取って再生するために、光学
   系の自己調整手段を備える光ディスク再生装置の検査装
   置において、 検査対象の光ディスク再生装置に挿入して用いられ、耐
   傷性能を検査するための傷が付加されている試験用光デ
   ィスクと、 検査対象の光ディスク再生装置に機械的振動を与えるた
   めの振動発生手段と、 光ディスク再生装置による試験用光ディスクの再生信号
   の歪の程度から、音飛び発生か否かを判断する音飛び判
   断手段と、 音飛び判断手段からの出力に応答し、音飛びの発生回数
   を計数する計数手段と、 検査対象の光ディスク再生装置の自己調整手段から、調
   整値を読取る読取手段と、 予め設定される試験条件に従って振動発生手段および音
   飛び判断手段を制御し、計数手段の計数値および読取手
   段が読取った調整値に基づいて耐傷性能および自己調整
   機能の良否判定を行う制御手段とを含むことを特徴とす
   る光ディスク再生装置の検査装置。