JP3392593B2 - Heat sink mounting structure - Google Patents

Heat sink mounting structure

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JP3392593B2
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明はヒートシンクの実装構造
に関する。近年、小型化及び高信頼性化が要求される電
子装置として、例えばラップトップパソコン等の可搬型
電子装置が広く市場に出回っている。この種の電子装置
の高性能化を図るためには、発熱量の大きい集積回路パ
ッケージを1つまたはそれ以上用いることが必要にな
る。このため、発熱量の大きい集積回路パッケージの放
熱性を確保するためにヒートシンクが使用されており、
その実装構造及び実装方法の最適化が模索されている。 【0002】 【従来の技術】従来、図11に示されるように、集積回
路チップ2をパッケージ4内に密閉収容し、パッケージ
4に取り付けられたリード6により集積回路チップ2を
プリント配線板8に接続し、パッケージ4上に接着剤1
0によりヒートシンク12を固着した構造が公知であ
る。この構造において、集積回路チップ2をパッケージ
4内に内蔵してなるものが前述した集積回路パッケージ
に相当する。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図11
に示される従来のヒートシンクの実装構造においては、
集積回路チップ2とヒートシンク12の間にパッケージ
4が介在しているので、集積回路チップ2とヒートシン
ク12の間の熱抵抗が大きくなり、高い放熱効果が得ら
れないという問題があった。 【0004】よって、本発明の目的は、放熱効果を高め
ることができるヒートシンクの実装構造を提供すること
にある。 【0005】 【課題を解決するための手段】そこで、本発明では、集
積回路チップで代表される電子部品にヒートシンクを直
接実装することにした。 【0006】即ち、本発明によると、配線層を有する基
板と、該基板上に第1の接着剤により固着され上記配線
層に電気的に接続される電子部品と、該電子部品上に第
2の接着剤により固着されるヒートシンクとを備え、上
記第2の接着剤は上記第1の接着剤の熱伝導率よりも大
きい熱伝導率を有するヒートシンクの実装構造が提供さ
れる。ここで、硬化した第2の接着剤の軟化温度は硬化
した第1の接着剤の軟化温度よりも低い。 【0007】本発明の他の側面によると、概略中央部に
開口を有するヒートシンクを、該開口に対向する位置に
吸引口を有する吸引ノズルに吸着支持し、上記開口を介
して電子部品を吸引することにより該電子部品の上面を
上記ヒートシンクに第1の接着剤を介して密着させ、上
記吸引ノズルを移動することにより上記電子部品の下面
を基板に第2の接着剤を介して密着させた後、上記第1
及び第2の接着剤を固化させるようにしたヒートシンク
の実装方法が提供される。 【0008】 【作用】本発明のヒートシンクの実装構造においては、
集積回路チップ等の電子部品は、基板(例えばプリント
配線板)の配線層に電気的に接続するために、第1の接
着剤により直接基板上に固着されている。また、ヒート
シンクは第2の接着剤により電子部品上に直接固着され
る。 【0009】このようにヒートシンクを第2の接着剤に
より電子部品上に直接固着すると共に、第2の接着剤の
熱伝導率が第1の接着剤の熱伝導率よりも大きくなるよ
うにしているので、放熱効果が高まる。また、硬化した
第2の接着剤の軟化温度を硬化した第1の接着剤の軟化
温度よりも低く設定しているので、本発明のヒートシン
クの実装構造を得た後に、第2の接着剤だけを軟化させ
てヒートシンクを交換することができる。 【0010】本発明のヒートシンクの実装方法では、特
定構成の吸引ノズルを用い、これによりヒートシンク及
び電子回路部品を取り扱うようにしているので、本発明
の実装構造を容易に得ることができる。 【0011】 【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。図1は本
発明の実施例を示すヒートシンクの実装構造の側面図で
ある。例えば配線層を有するプリント配線板からなる基
板8上には、電子部品としての集積回路チップ2の下面
が第1の接着剤14により固着される。集積回路チップ
2の上面には第2の接着剤16によりヒートシンク12
が固着される。ヒートシンク12は、その上面に放熱面
積を大きくするための複数の放熱フィン12Aを有して
いる。 【0012】第1の接着剤14による集積回路チップ2
と基板8の接着部を図2により説明する。集積回路チッ
プ2は、その下面に外部回路との接続用の導体からなる
複数のビット16を有している。ビット16の形状は例
えば半球状である。 【0013】一方、基板8上には、ビット16の位置に
対応して導体パターンからなる配線層18が形成されて
いる。集積回路チップ2は、ビット16と配線層18と
の間の位置合わせを行った後に、第1の接着剤14によ
り基板8上に固着される。このとき、適当な圧力を与え
ることによって、ビット16と配線層18の接触状態が
得られ、集積回路チップ2と配線層8の間の電気的な接
続がなされる。 【0014】再び図1を参照して、第2の接着剤16
は、第1の接着剤14の熱伝導率よりも大きい熱伝導率
を有している。こうしているのは、集積回路チップ2と
ヒートシンク12の間に介在する固化した第2の接着剤
16の熱抵抗を最小限に押さえて、放熱効果を高めるた
めである。 【0015】この実施例では、集積回路チップ2の上面
に直接ヒートシンク12を固着しているので、図11に
より説明した従来のヒートシンクの実装構造と比較し
て、高い放熱効果を得ることができる。 【0016】第2の接着剤16としては、例えば、金及
びダイヤモンドを含む物質群から選択される少なくとも
1つの物質の粉末を樹脂に混入させてなる接着剤を用い
ることができる。金やダイヤモンドの熱伝導率は一般的
に樹脂の熱伝導率よりも大きいので、このような特定物
質の粉末が混入した樹脂系接着剤の熱伝導率を大きくす
ることができるのである。 【0017】望ましくは、硬化した第2の接着剤16の
軟化温度は、硬化した第1の接着剤14の軟化温度より
も低くなるように各接着剤の主成分樹脂が選択される。
硬化した接着剤の軟化温度(キュアー温度)を上述のよ
うに設定しているので、図1の構造において、第2の接
着剤16だけを軟化させてヒートシンク12を交換する
ことができる。 【0018】各接着剤として熱硬化性接着剤を用いるこ
とによって、集積回路チップ2の駆動を開始してからの
安定した接着力を保証することができる。一方、各接着
剤として熱可塑性接着剤を用いることによって、集積回
路チップ2及び/またはヒートシンク12の交換を容易
に行うことができる。 【0019】図3は本発明の実装方法で使用することが
できる吸引ノズルの説明図である。本発明方法を実施す
る場合には、ヒートシンク12の概略中央部に開口12
Bを形成しておく。 【0020】吸引ノズル20は、ヒートシンク12の開
口12Bに開口する位置に吸引口20Aを有しており、
また、ヒートシンク12の放熱フィン12Aに対向する
位置に放熱フィンAが着座する凹部20Bを有してい
る。 【0021】吸引ノズル20は図示しない真空ポンプ等
の吸引手段に接続されており、この吸引手段により吸引
口20A内を負圧にすることによって、吸引ノズル20
によりヒートシンク12を吸着支持することができる。 【0022】ヒートシンク12には開口12Bが形成さ
れているので、ヒートシンク12を吸引ノズル20によ
り吸着支持した状態でさらにヒートシンク12の下面に
集積回路チップ2を吸引吸着することができる。 【0023】そして、この状態で吸引ノズル20を移動
することによって、集積回路チップ2の下面を基板上の
予め定められた位置に配置して、集積回路チップ2を基
板上に実装することができる。 【0024】ヒートシンク12に集積回路パッケージ2
を密着させる場合には、これらの間に接着剤が介在する
ようにヒートシンク12の下面及び集積回路チップ2の
上面の何れか一方或いは両方に接着剤を塗布しておき、
また、集積回路チップ2の下面及び基板の上面の何れか
一方或いは両方にも接着剤を塗布しておく。 【0025】集積回路チップ2及びヒートシンク12を
基板上に実装したら、吸引ノズル20による吸引を中止
して、吸引ノズル20を取り除き、通常の方法により接
着剤を固化させる。 【0026】この方法によると、吸引ノズル20を用い
て集積回路チップ2及びヒートシンク12を同時に基板
上に実装することができるので、接着剤の例えば加熱に
よる硬化工程が一回で済み、電子装置の製造工程が簡略
化される。また、この方法によると、本発明のヒートシ
ンクの実装構造を容易に得ることができる。 【0027】図4は本発明の実装方法で使用することが
できる他の吸引ノズルの説明図である。図4の実施例
は、図3の実施例と対比して、吸引ノズル20が吸引口
20Aの他に少なくとも1つの他の吸引口20Cを有し
ている点で特徴づけられる。 【0028】即ち、この実施例では、ヒートシンク12
の開口Bに対向する位置に形成される吸引口20Aの他
に例えば複数の(図では2つの)吸引口20Cを吸引ノ
ズル20に設けているのである。 【0029】このような吸引口20Cを付加することに
よって、比較的大型で重量が大きいヒートシンクについ
てもこれを吸引ノズル20に吸着支持することができ
る。ヒートシンクの底面にスリットを形成しておくこと
によって、ヒートシンクと集積回路チップの接着力を高
めることができる。これを図5により説明する。 【0030】図5の(A)の例では、ヒートシンク12
の底面に放熱フィン12Aと平行に複数のスリットSを
形成している。また、(B)に示される例では、(A)
に示される放熱フィン12Aと平行なスリットに加えて
これらと垂直な方向に複数のスリットSを形成してい
る。さらに、(C)に示される例では、ヒートシンク1
2の底面に放射状のスリットSを形成している。 【0031】このようにヒートシンク12の底面にスリ
ットSを形成しておくことによって、スリットS内に接
着剤が入り込み、ヒートシンク12と集積回路チップ2
の間の接着力を高めることができる。 【0032】また、各スリットSはヒートシンク12の
底面の縁まで形成されているので、例えば図3により説
明した実装方法において、集積回路チップ2とヒートシ
ンク12の間に接着剤を介在させておかなくとも、集積
回路チップ2と基板との間に介在する接着剤を集積回路
チップ2とヒートシンク12の間に回り込ませることが
でき、実装方法を簡略化することができる。 【0033】集積回路チップの側面を覆うような形状の
ヒートシンクを用いることによって、ヒートシンクと集
積回路チップの接着力を高めることができる。これを図
6及び図7により説明する。 【0034】図6の(A)に示される例では、ヒートシ
ンク12における放熱フィン12Aと反対側の面の両端
に一対の突起12Cを設けておき、ヒートシンク12を
集積回路チップ2に固着したときに、突起12Cによっ
て集積回路チップ2の側面の一部または全部が覆われる
ようにしている。 【0035】また、(B)に示される例では、ヒートシ
ンク12の放熱フィン12Aと反対側の面の外周全部に
突起12Cを設けておき、これによりヒートシンク12
を集積回路チップ2に固着したときに、集積回路チップ
2の側面が突起12Cによって覆われるようにしてい
る。 【0036】図7は、図6の(A)に示されるヒートシ
ンクを用いた実装構造の側面図である。ヒートシンク1
2の突起12Cによって集積回路チップ2の対向側面が
覆われるようにしているので、接着剤16がヒートシン
ク12と集積回路チップ2の間に回り込み易くなり、接
着強度を高めることができる。この例では、基板8と集
積回路チップ2を接着する接着剤14とは異なる接着剤
16によって集積回路チップ2とヒートシンク12を接
着しているが、同じ接着剤を用いて各部材を接着する場
合にも、この効果が得られることは勿論である。 【0037】また、この実施例では、接着剤14の量を
多くしておくことによって、集積回路チップ2の側面に
おいて集積回路チップ2とヒートシンクの突起12Cと
を接着剤14により覆うことができるので、基板8と集
積回路チップ2とヒートシンク12の間の接着力を高め
ることができる。 【0038】尚、同一の接着剤を用いてヒートシンク1
2及び集積回路チップ2を同時に基板8上に固着する場
合には、集積回路チップ2を基板8上の予め定められた
位置にセットした後に、一旦ヒートシンク12を僅かに
(例えば数100μm)集積回路チップ2から浮かせる
ことによって、接着剤をヒートシンク12と集積回路チ
ップ2の間に容易に回り込ませることができる。 【0039】図6により説明したような放熱フィンと反
対の側に突起を有するヒートシンクについても、図5に
示したようなスリットを形成しておくことによって、集
積回路チップとの接着力を高めることができる。これを
図8により説明する。 【0040】図8の(A)、(B)及び(C)に示され
るヒートシンクはそれぞれ図5の(A)、(B)及び
(C)に示される種々のスリットSを有している。この
ようなスリットSをヒートシンク12の集積回路チップ
への密着面に形成しておくことによって、ヒートシンク
12と集積回路パッケージ2の接着力を高めることがで
きるとともに、ヒートシンク12と集積回路パッケージ
2の間への接着剤の回り込みを改善することができる。
尚、図8の(B)及び(C)に示されている例では、ヒ
ートシンク12の突起12Cにおける集積回路チップの
側面に対向する面にもスリットが形成されている。 【0041】図3に従って本発明方法を実施する場合、
ヒートシンクを機械的に支持する機構を吸引ノズルに設
けておいてもよい。その例を図9により説明する。図9
に示される吸引ノズル20においては、ヒートシンクの
放熱フィン12A(図3参照)が着座する凹部20B内
に押さえ金具(クリップ)22をそれぞれ設けている。 【0042】吸引ノズル20の凹部20B内にヒートシ
ンク12の放熱フィン12Aを挿入すると、押さえ金具
22が弾性変形し、それにより生じる摩擦力によってヒ
ートシンク12は吸引ノズル20に支持される。このよ
うな押さえ金具を吸引ノズルに設けておくことによっ
て、比較的重量の大きいヒートシンクについても本発明
方法を適用することができる。 【0043】図9に示された例では、吸引ノズル20の
各凹部20B内に個別に押さえ金具22を設けている
が、ヒートシンクを側方から押さえつける器具を吸引ノ
ズル20の端に設けておいてもよい。このような器具
は、例えば、吸引ノズル20に固定されたブロックと、
このブロックに一端が固定される押し付けバネと、押し
付けバネの他端に取り付けられる押し付け部材とから構
成することができる。 【0044】図10に示されるように、分割型のヒート
シンク12′を用いることができる。この例では、図9
に示される吸引ノズル20を用い、各凹部20Bに対応
して分割された複数のヒートシンク12′を各押さえ金
具22により各凹部20Bに着座させておき、この状態
で吸引口20A内を負圧にして集積回路チップ2を吸引
ノズル20により吸着支持する。そうしておいて、吸引
ノズル20を移動させて、集積回路チップ2を基板上の
予め定められた位置に実装するのである。 【0045】この実施例によると、図3の方法のように
ヒートシンクの概略中央部に開口を形成しておく必要は
ない。尚、弾性力によってヒートシンクを吸引ノズル2
0に支持することに代えて、粘着テープ等の粘着力によ
ってヒートシンクを吸引ノズル20に支持するようにし
てもよい。 【0046】 【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
放熱効果の高いヒートシンクの実装構造の提供が可能に
なるという効果が生じる。また、本発明によると、ヒー
トシンクの交換が容易なヒートシンクの実装構造の提供
が可能になるという効果もある。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mounting structure of a heat sink. 2. Description of the Related Art In recent years, portable electronic devices such as a laptop personal computer have been widely marketed as electronic devices that require miniaturization and high reliability. In order to improve the performance of this type of electronic device, it is necessary to use one or more integrated circuit packages that generate a large amount of heat. For this reason, a heat sink is used to secure the heat radiation of the integrated circuit package that generates a large amount of heat.
Optimization of the mounting structure and the mounting method is being sought. 2. Description of the Related Art Conventionally, as shown in FIG. 11, an integrated circuit chip 2 is hermetically housed in a package 4 and the integrated circuit chip 2 is mounted on a printed wiring board 8 by leads 6 attached to the package 4. Connect and glue 1 on package 4
A structure is known in which the heat sink 12 is fixed with a zero. In this structure, the one in which the integrated circuit chip 2 is built in the package 4 corresponds to the above-described integrated circuit package. [0003] However, FIG.
In the conventional heat sink mounting structure shown in
Since the package 4 is interposed between the integrated circuit chip 2 and the heat sink 12, the thermal resistance between the integrated circuit chip 2 and the heat sink 12 increases, and there is a problem that a high heat radiation effect cannot be obtained. Accordingly, an object of the present invention is to provide a mounting structure of a heat sink which can enhance a heat radiation effect. Accordingly, in the present invention, a heat sink is directly mounted on an electronic component represented by an integrated circuit chip. That is, according to the present invention, a substrate having a wiring layer, an electronic component fixed on the substrate by a first adhesive and electrically connected to the wiring layer, and a second component on the electronic component are provided. And a heat sink fixed by an adhesive, wherein the second adhesive has a thermal conductivity higher than that of the first adhesive. Here, the softening temperature of the hardened second adhesive is hardened.
Lower than the softening temperature of the first adhesive. According to another aspect of the present invention, a heat sink having an opening at a substantially central portion is suction-supported by a suction nozzle having a suction port at a position facing the opening, and the electronic component is sucked through the opening. Then, the upper surface of the electronic component is brought into close contact with the heat sink via the first adhesive, and the lower surface of the electronic component is brought into close contact with the substrate via the second adhesive by moving the suction nozzle. , The first
And a method for mounting a heat sink for solidifying the second adhesive. According to the heat sink mounting structure of the present invention,
Electronic components such as integrated circuit chips are directly fixed on the substrate with a first adhesive in order to electrically connect to a wiring layer of the substrate (for example, a printed wiring board). Further, the heat sink is directly fixed on the electronic component by the second adhesive. As described above, the heat sink is directly fixed on the electronic component with the second adhesive, and the thermal conductivity of the second adhesive is higher than the thermal conductivity of the first adhesive. Therefore, the heat radiation effect is enhanced. Also cured
Softening of the first adhesive cured at the softening temperature of the second adhesive
Since the temperature is set lower than the temperature, the heat sink
After obtaining the mounting structure of the metal, only the second adhesive is softened.
The heat sink can be replaced. In the method of mounting a heat sink according to the present invention, a suction nozzle having a specific configuration is used to handle the heat sink and the electronic circuit components. Therefore, the mounting structure of the present invention can be easily obtained. An embodiment of the present invention will be described below. FIG. 1 is a side view of a mounting structure of a heat sink showing an embodiment of the present invention. For example, a lower surface of an integrated circuit chip 2 as an electronic component is fixed on a substrate 8 formed of a printed wiring board having a wiring layer by a first adhesive 14. A heat sink 12 is provided on the upper surface of the integrated circuit chip 2 with a second adhesive 16.
Is fixed. The heat sink 12 has a plurality of radiating fins 12A on its upper surface for increasing the radiating area. Integrated circuit chip 2 using first adhesive 14
The bonding portion between the substrate and the substrate 8 will be described with reference to FIG. The integrated circuit chip 2 has a plurality of bits 16 made of a conductor for connection to an external circuit on the lower surface. The shape of the bit 16 is, for example, hemispherical. On the other hand, a wiring layer 18 made of a conductor pattern is formed on the substrate 8 corresponding to the position of the bit 16. After the alignment between the bit 16 and the wiring layer 18 is performed, the integrated circuit chip 2 is fixed on the substrate 8 with the first adhesive 14. At this time, by applying an appropriate pressure, the contact state between the bit 16 and the wiring layer 18 is obtained, and the electrical connection between the integrated circuit chip 2 and the wiring layer 8 is made. Referring again to FIG. 1, the second adhesive 16
Has a thermal conductivity greater than the thermal conductivity of the first adhesive 14. The reason for this is to minimize the thermal resistance of the solidified second adhesive 16 interposed between the integrated circuit chip 2 and the heat sink 12, thereby enhancing the heat radiation effect. In this embodiment, since the heat sink 12 is directly fixed on the upper surface of the integrated circuit chip 2, a higher heat radiation effect can be obtained as compared with the conventional heat sink mounting structure described with reference to FIG. As the second adhesive 16, for example, an adhesive obtained by mixing powder of at least one substance selected from a substance group including gold and diamond into a resin can be used. Since the thermal conductivity of gold or diamond is generally higher than the thermal conductivity of a resin, the thermal conductivity of a resin-based adhesive mixed with such a powder of a specific substance can be increased. Preferably, the main resin of each adhesive is selected such that the softening temperature of the cured second adhesive 16 is lower than the softening temperature of the cured first adhesive 14.
Since the softening temperature (curing temperature) of the cured adhesive is set as described above, the heat sink 12 can be replaced by softening only the second adhesive 16 in the structure of FIG. By using a thermosetting adhesive as each adhesive, a stable adhesive force after the start of driving of the integrated circuit chip 2 can be guaranteed. On the other hand, by using a thermoplastic adhesive as each adhesive, the exchange of the integrated circuit chip 2 and / or the heat sink 12 can be easily performed. FIG. 3 is an explanatory view of a suction nozzle which can be used in the mounting method of the present invention. When carrying out the method of the present invention, an opening 12
B is formed. The suction nozzle 20 has a suction port 20A at a position opened to the opening 12B of the heat sink 12.
Further, the heat sink 12 has a concave portion 20B at a position facing the heat radiation fin 12A where the heat radiation fin A is seated. The suction nozzle 20 is connected to a suction means such as a vacuum pump (not shown).
Thereby, the heat sink 12 can be suction-supported. Since the opening 12B is formed in the heat sink 12, the integrated circuit chip 2 can be further suction-adsorbed to the lower surface of the heat sink 12 while the heat sink 12 is suction-supported by the suction nozzle 20. Then, by moving the suction nozzle 20 in this state, the lower surface of the integrated circuit chip 2 can be arranged at a predetermined position on the substrate, and the integrated circuit chip 2 can be mounted on the substrate. . The integrated circuit package 2 is mounted on the heat sink 12.
In order to make the adhesive adhere, the adhesive is applied to one or both of the lower surface of the heat sink 12 and the upper surface of the integrated circuit chip 2 so that the adhesive is interposed therebetween.
An adhesive is applied to one or both of the lower surface of the integrated circuit chip 2 and the upper surface of the substrate. After the integrated circuit chip 2 and the heat sink 12 are mounted on the substrate, the suction by the suction nozzle 20 is stopped, the suction nozzle 20 is removed, and the adhesive is solidified by an ordinary method. According to this method, the integrated circuit chip 2 and the heat sink 12 can be simultaneously mounted on the substrate by using the suction nozzle 20, so that only one hardening step of the adhesive by heating, for example, is required, and The manufacturing process is simplified. Further, according to this method, the mounting structure of the heat sink of the present invention can be easily obtained. FIG. 4 is an explanatory view of another suction nozzle that can be used in the mounting method of the present invention. The embodiment of FIG. 4 is characterized in that the suction nozzle 20 has at least one other suction port 20C in addition to the suction port 20A in comparison with the embodiment of FIG. That is, in this embodiment, the heat sink 12
For example, a plurality of (two in the figure) suction ports 20C are provided in the suction nozzle 20 in addition to the suction port 20A formed at a position facing the opening B. By adding such a suction port 20C, even a relatively large and heavy heat sink can be suction-supported by the suction nozzle 20. By forming a slit on the bottom surface of the heat sink, the adhesive strength between the heat sink and the integrated circuit chip can be increased. This will be described with reference to FIG. In the example of FIG. 5A, the heat sink 12
A plurality of slits S are formed on the bottom surface of the fin in parallel with the radiation fins 12A. In the example shown in (B), (A)
In addition to the slits parallel to the radiating fins 12A shown in FIG. Further, in the example shown in FIG.
A radial slit S is formed on the bottom surface of the second member 2. By forming the slit S on the bottom surface of the heat sink 12 in this manner, the adhesive enters the slit S, and the heat sink 12 and the integrated circuit chip 2
Between them can be increased. Further, since each slit S is formed up to the edge of the bottom surface of the heat sink 12, for example, in the mounting method described with reference to FIG. 3, an adhesive is not interposed between the integrated circuit chip 2 and the heat sink 12. In both cases, the adhesive interposed between the integrated circuit chip 2 and the substrate can be wrapped between the integrated circuit chip 2 and the heat sink 12, and the mounting method can be simplified. By using a heat sink shaped to cover the side surface of the integrated circuit chip, the adhesive strength between the heat sink and the integrated circuit chip can be increased. This will be described with reference to FIGS. In the example shown in FIG. 6A, a pair of protrusions 12C are provided at both ends of the heat sink 12 on the side opposite to the heat radiation fins 12A, and the heat sink 12 is fixed to the integrated circuit chip 2. , The projection 12C covers part or all of the side surface of the integrated circuit chip 2. In the example shown in FIG. 3B, a projection 12C is provided on the entire outer periphery of the surface of the heat sink 12 on the side opposite to the radiation fins 12A.
Is fixed to the integrated circuit chip 2 so that the side surface of the integrated circuit chip 2 is covered by the projection 12C. FIG. 7 is a side view of a mounting structure using the heat sink shown in FIG. Heat sink 1
Since the opposite side surface of the integrated circuit chip 2 is covered by the two protrusions 12C, the adhesive 16 can easily flow between the heat sink 12 and the integrated circuit chip 2, and the adhesive strength can be increased. In this example, the integrated circuit chip 2 and the heat sink 12 are adhered by an adhesive 16 different from the adhesive 14 that adheres the substrate 8 and the integrated circuit chip 2. However, when the respective members are adhered using the same adhesive. Of course, this effect can be obtained. Also, in this embodiment, by increasing the amount of the adhesive 14, the integrated circuit chip 2 and the protrusion 12C of the heat sink can be covered with the adhesive 14 on the side surface of the integrated circuit chip 2. The adhesive strength between the substrate 8, the integrated circuit chip 2, and the heat sink 12 can be increased. The heat sink 1 is formed using the same adhesive.
When the integrated circuit chip 2 and the integrated circuit chip 2 are simultaneously fixed on the substrate 8, the integrated circuit chip 2 is set at a predetermined position on the substrate 8, and then the heat sink 12 is temporarily (for example, several hundreds μm). By floating from the chip 2, the adhesive can easily flow around between the heat sink 12 and the integrated circuit chip 2. For a heat sink having a protrusion on the side opposite to the heat radiation fin as described with reference to FIG. 6, the slit as shown in FIG. Can be. This will be described with reference to FIG. The heat sinks shown in FIGS. 8A, 8B, and 8C have various slits S shown in FIGS. 5A, 5B, and 5C, respectively. By forming such slits S on the contact surface of the heat sink 12 with the integrated circuit chip, the adhesive force between the heat sink 12 and the integrated circuit package 2 can be increased, and the gap between the heat sink 12 and the integrated circuit package 2 can be increased. Of the adhesive to the adhesive can be improved.
In the example shown in FIGS. 8B and 8C, a slit is also formed on the surface of the protrusion 12C of the heat sink 12 facing the side surface of the integrated circuit chip. When carrying out the method of the invention according to FIG.
A mechanism for mechanically supporting the heat sink may be provided in the suction nozzle. An example will be described with reference to FIG. FIG.
In the suction nozzle 20 shown in FIG. 1, a holding metal (clip) 22 is provided in a concave portion 20B in which a heat radiation fin 12A (see FIG. 3) of a heat sink is seated. When the radiating fins 12A of the heat sink 12 are inserted into the concave portions 20B of the suction nozzle 20, the holding metal 22 is elastically deformed, and the heat sink 12 is supported by the suction nozzle 20 by the frictional force generated thereby. By providing such a holding member in the suction nozzle, the method of the present invention can be applied to a relatively heavy heat sink. In the example shown in FIG. 9, the holding members 22 are individually provided in the respective recesses 20B of the suction nozzle 20, but a device for holding the heat sink from the side is provided at the end of the suction nozzle 20. Is also good. Such a device includes, for example, a block fixed to the suction nozzle 20,
It can be composed of a pressing spring having one end fixed to the block and a pressing member attached to the other end of the pressing spring. As shown in FIG. 10, a split type heat sink 12 'can be used. In this example, FIG.
, A plurality of heat sinks 12 ′ divided corresponding to the respective recesses 20 B are seated in the respective recesses 20 B by the respective holders 22. Thus, the integrated circuit chip 2 is suction-supported by the suction nozzle 20. Then, the suction nozzle 20 is moved to mount the integrated circuit chip 2 at a predetermined position on the substrate. According to this embodiment, it is not necessary to form an opening at the approximate center of the heat sink unlike the method of FIG. The heat sink is moved by the suction nozzle 2 by elastic force.
Instead of being supported at zero, the heat sink may be supported by the suction nozzle 20 by the adhesive force of an adhesive tape or the like. As described above, according to the present invention,
There is an effect that a mounting structure of a heat sink having a high heat radiation effect can be provided. According to the present invention,
Provide a heat sink mounting structure that allows easy replacement of the sink
There is also an effect that it becomes possible.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の実施例を示すヒートシンクの実装構造
の側面図である。 【図2】チップと基板の接着部の説明図である。 【図3】実装方法で使用する吸引ノズルの説明図であ
る。 【図4】実装方法で使用する他の吸引ノズルの説明図で
ある。 【図5】本発明の実施例におけるヒートシンクの斜視図
である。 【図6】本発明の実施例におけるヒートシンクの斜視図
である。 【図7】本発明の実施例を示す実装構造の側面図であ
る。 【図8】本発明の実施例におけるヒートシンクの斜視図
である。 【図9】実装方法で使用するさらに他の吸引ノズルの説
明図である。 【図10】本発明の実施例を示す実装方法の説明図であ
る。 【図11】従来のヒートシンクの実装構造の断面図であ
る。 【符号の説明】 2 電子回路部品(集積回路パッケージ) 8 基板(プリント配線板) 12 ヒートシンク 14,16 接着剤
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a side view of a mounting structure of a heat sink showing an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an explanatory diagram of a bonding portion between a chip and a substrate. FIG. 3 is an explanatory diagram of a suction nozzle used in a mounting method. FIG. 4 is an explanatory diagram of another suction nozzle used in the mounting method. FIG. 5 is a perspective view of a heat sink according to the embodiment of the present invention. FIG. 6 is a perspective view of a heat sink according to the embodiment of the present invention. FIG. 7 is a side view of a mounting structure showing an embodiment of the present invention. FIG. 8 is a perspective view of a heat sink according to the embodiment of the present invention. FIG. 9 is an explanatory diagram of still another suction nozzle used in the mounting method. FIG. 10 is an explanatory diagram of a mounting method showing an embodiment of the present invention. FIG. 11 is a sectional view of a conventional heat sink mounting structure. [Description of Signs] 2 Electronic circuit components (integrated circuit package) 8 Substrate (printed wiring board) 12 Heat sinks 14, 16 Adhesive

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 H01L 23/34 - 23/40 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/60 H01L 23/34-23/40

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 配線層を有する基板と、 該基板上に第1の接着剤により固着され上記配線層に電
気的に接続される電子部品と、 該電子部品上に第2の接着剤により固着されるヒートシ
ンクとを備え、 上記第2の接着剤は上記第1の接着剤の熱伝導率よりも
大きい熱伝導率を有し、 硬化した上記第2の接着剤の軟化温度は硬化した上記第
1の接着剤の軟化温度よりも低いことを特徴とする ヒー
トシンクの実装構造。
(57) Claims 1. A substrate having a wiring layer, an electronic component fixed on the substrate with a first adhesive and electrically connected to the wiring layer, and the electronic component and a heat sink which is secured by a second adhesive on said second adhesive have a thermal conductivity greater than the thermal conductivity of the first adhesive, cured the second adhesive The softening temperature of the agent is
A mounting structure for a heat sink, wherein the mounting temperature is lower than a softening temperature of the adhesive .
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