JP3384112B2 - 光線路故障切分け試験方法及び光パルス試験器 - Google Patents
光線路故障切分け試験方法及び光パルス試験器Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電話局の局内装置と加
入者端末とが光ファイバを介して接続された光線路を試
験及び監視する技術に関する。
入者端末とが光ファイバを介して接続された光線路を試
験及び監視する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】信頼性が高く且つ経済的な光通信システ
ムを実現するためには、光線路の信頼性及び経済性が重
要な課題となる。そのため、通信の異常が生じた場合、
その原因が光線路にあるか否かの切分けを迅速に行う必
要がある。光線路の故障切分けを行う方法として、局か
ら被試験光ファイバに光パルスを送信し、前記被試験光
ファイバ終端に接続されている短波長透過型反射回路か
らの反射光を光パルス試験器を用いて測定する方法が知
られている。この方法を図６に示す。
ムを実現するためには、光線路の信頼性及び経済性が重
要な課題となる。そのため、通信の異常が生じた場合、
その原因が光線路にあるか否かの切分けを迅速に行う必
要がある。光線路の故障切分けを行う方法として、局か
ら被試験光ファイバに光パルスを送信し、前記被試験光
ファイバ終端に接続されている短波長透過型反射回路か
らの反射光を光パルス試験器を用いて測定する方法が知
られている。この方法を図６に示す。
【０００３】図６（ａ）において、局内装置１と加入者
端末７は、被試験光ファイバ３で接続されている。局内
装置１からの通信信号は、被試験光ファイバ３を介し、
短波長透過型反射回路８を透過し、光受信機４に送られ
電気信号に変換された後、帯域フィルタ５を通過して受
信機６に入力される。光パルス試験器110 からの試験信
号光を被試験光ファイバ３に入射するため、被試験光フ
ァイバ３には光分岐回路２が接続されている。光パルス
試験器110 からの試験信号光は、通信信号光が持つ波長
とは異なる波長を有している。
端末７は、被試験光ファイバ３で接続されている。局内
装置１からの通信信号は、被試験光ファイバ３を介し、
短波長透過型反射回路８を透過し、光受信機４に送られ
電気信号に変換された後、帯域フィルタ５を通過して受
信機６に入力される。光パルス試験器110 からの試験信
号光を被試験光ファイバ３に入射するため、被試験光フ
ァイバ３には光分岐回路２が接続されている。光パルス
試験器110 からの試験信号光は、通信信号光が持つ波長
とは異なる波長を有している。
【０００４】試験信号光が、光受信機４に入力し通信に
影響を与えることを防ぐため、光受信機４の手前に設置
された短波長透過型反射回路８によって試験信号光が遮
断される。この時、短波長透過型反射回路８において、
試験信号光による反射光が生じる。この反射光は、被試
験光ファイバ３及び光分岐回路２を経由して光パルス試
験器110 に入射する。
影響を与えることを防ぐため、光受信機４の手前に設置
された短波長透過型反射回路８によって試験信号光が遮
断される。この時、短波長透過型反射回路８において、
試験信号光による反射光が生じる。この反射光は、被試
験光ファイバ３及び光分岐回路２を経由して光パルス試
験器110 に入射する。
【０００５】図６（ｂ）において、実線は短波長透過型
反射回路８からの反射光を光パルス試験器110 を用いて
測定したとき光パルス試験器110 によって表示される測
定波形である。本図において、短波長透過型反射回路８
で生じた反射光が測定される位置は、光パルス試験器11
0 と短波長透過型反射回路８との距離を示している。光
線路において故障が生じた場合、図６（ｂ）中の破線で
示すように、光パルス試験器110 によって反射光が測定
される位置又は相対パワーが故障発生前後において変化
することを利用して、光線路の故障切分け試験が行われ
る。
反射回路８からの反射光を光パルス試験器110 を用いて
測定したとき光パルス試験器110 によって表示される測
定波形である。本図において、短波長透過型反射回路８
で生じた反射光が測定される位置は、光パルス試験器11
0 と短波長透過型反射回路８との距離を示している。光
線路において故障が生じた場合、図６（ｂ）中の破線で
示すように、光パルス試験器110 によって反射光が測定
される位置又は相対パワーが故障発生前後において変化
することを利用して、光線路の故障切分け試験が行われ
る。
【０００６】図７は、従来の光パルス試験器を示すブロ
ック構成図である。短波長透過型反射回路から戻ってく
る反射光は、３ｄＢカプラ41を介して受光器42に入射さ
れ、電気信号に変換されてＡ／Ｄ変換回路43に入力され
る。Ａ／Ｄ変換回路43の出力は、加算処理回路44に逐次
入力される。表示器45では、加算処理回路44における加
算信号を対数変換した波形を表示する。タイミング発生
回路46は加算処理回路44、光スイッチ47及び矩形光パル
ス波形発生用パルスドライバ112 に所定周期の同期信号
を送る。矩形光パルス波形発生用パルスドライバ112 は
前記同期信号を受けて、通信波長と異なる波長を持つ試
験光光源111 に矩形パルスを送る。
ック構成図である。短波長透過型反射回路から戻ってく
る反射光は、３ｄＢカプラ41を介して受光器42に入射さ
れ、電気信号に変換されてＡ／Ｄ変換回路43に入力され
る。Ａ／Ｄ変換回路43の出力は、加算処理回路44に逐次
入力される。表示器45では、加算処理回路44における加
算信号を対数変換した波形を表示する。タイミング発生
回路46は加算処理回路44、光スイッチ47及び矩形光パル
ス波形発生用パルスドライバ112 に所定周期の同期信号
を送る。矩形光パルス波形発生用パルスドライバ112 は
前記同期信号を受けて、通信波長と異なる波長を持つ試
験光光源111 に矩形パルスを送る。
【０００７】図８に、この矩形パルス波形を示す。ここ
で、Ａは波高値、ＴP は矩形パルス幅を示す。前記矩形
パルス信号を受けた試験光光源111 から、図８に示す矩
形光パルスが、光スイッチ47及び３ｄＢカプラ41を介し
て被試験光ファイバに送出される。
で、Ａは波高値、ＴP は矩形パルス幅を示す。前記矩形
パルス信号を受けた試験光光源111 から、図８に示す矩
形光パルスが、光スイッチ47及び３ｄＢカプラ41を介し
て被試験光ファイバに送出される。
【０００８】図６に示した光線路故障切分け試験方法に
おいて、短波長透過型反射回路８の直前の光パルス試験
器110 が持つ測定距離分解能以下の場所で、光パルス試
験器110 によって表示される波形上で短波長透過型反射
回路８からの反射光と等しい相対パワーが測定されるよ
うな故障（故障点20）が生じた場合、光パルス試験器11
0 が持つ距離分解能精度の限界のため、図６（ｂ）に示
すように反射光の測定される位置の故障発生前後におい
て変化する波形が光パルス試験器110 で測定できず、故
障発生前の測定波形と同様な波形となるため、故障切分
けは非常に困難である。
おいて、短波長透過型反射回路８の直前の光パルス試験
器110 が持つ測定距離分解能以下の場所で、光パルス試
験器110 によって表示される波形上で短波長透過型反射
回路８からの反射光と等しい相対パワーが測定されるよ
うな故障（故障点20）が生じた場合、光パルス試験器11
0 が持つ距離分解能精度の限界のため、図６（ｂ）に示
すように反射光の測定される位置の故障発生前後におい
て変化する波形が光パルス試験器110 で測定できず、故
障発生前の測定波形と同様な波形となるため、故障切分
けは非常に困難である。
【０００９】このような従来技術の問題を解決するた
め、短波長透過型反射回路８に入射しても反射光が生じ
ない第２の試験波長を有する光パルス試験器を用いるこ
とが考えられる。このようにすると、前記光パルス試験
器の測定では、前記のような故障が故障点20で生じた場
合その測定波形は故障点にのみ反射光が観測される。つ
まり、従来の故障切分け試験方法と併用することによ
り、光線路故障切分け試験を正確に行うことが可能にな
ると考えられる。しかし、第２の試験波長を有する光パ
ルス試験器を図６に示す光線路故障切分け試験方法に用
いた場合、試験信号光は短波長透過型反射回路８を透過
し、光受信機４に入射され通信信号光と共に電気信号に
変換される。電気変換された試験信号は、帯域フィルタ
５によってある程度除去されるが充分には除去されず、
受信機６の信号電力対雑音電力比を劣化させ通信に影響
を与えてしまうという問題がある。
め、短波長透過型反射回路８に入射しても反射光が生じ
ない第２の試験波長を有する光パルス試験器を用いるこ
とが考えられる。このようにすると、前記光パルス試験
器の測定では、前記のような故障が故障点20で生じた場
合その測定波形は故障点にのみ反射光が観測される。つ
まり、従来の故障切分け試験方法と併用することによ
り、光線路故障切分け試験を正確に行うことが可能にな
ると考えられる。しかし、第２の試験波長を有する光パ
ルス試験器を図６に示す光線路故障切分け試験方法に用
いた場合、試験信号光は短波長透過型反射回路８を透過
し、光受信機４に入射され通信信号光と共に電気信号に
変換される。電気変換された試験信号は、帯域フィルタ
５によってある程度除去されるが充分には除去されず、
受信機６の信号電力対雑音電力比を劣化させ通信に影響
を与えてしまうという問題がある。
【００１０】図９は、図８で示す波高値Ａ＝１、矩形パ
ルス幅ＴP ＝１００ｎｓの矩形パルス信号が、中心周波
数９３ＭＨｚ、帯域幅６ＭＨｚを有する帯域フィルタを
通過した後の信号波形を示す。本図より、前記帯域フィ
ルタを通過する試験信号は約１８ｄＢ減衰され受信機に
入力されてしまうという問題があることが分かる。現
在、光線路の故障切分けを、通信に影響を与えることな
く、且つ正確に行うことが課題となっている。
ルス幅ＴP ＝１００ｎｓの矩形パルス信号が、中心周波
数９３ＭＨｚ、帯域幅６ＭＨｚを有する帯域フィルタを
通過した後の信号波形を示す。本図より、前記帯域フィ
ルタを通過する試験信号は約１８ｄＢ減衰され受信機に
入力されてしまうという問題があることが分かる。現
在、光線路の故障切分けを、通信に影響を与えることな
く、且つ正確に行うことが課題となっている。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、通信に影響
を与えることなく、距離分解能精度に左右されずに正確
に故障切分けを行うことができる試験方法と試験装置を
提供することを目的とする。
を与えることなく、距離分解能精度に左右されずに正確
に故障切分けを行うことができる試験方法と試験装置を
提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の故障切分け試験
方法は、局内装置と加入者端末とを結ぶ光線路に生じた
故障を検出する光線路故障切分け試験方法であって、局
内装置から光線路に、通信信号光の波長とは異なる波長
の第１の試験波長光を投射し、当該光線路からの反射光
を受光して第１の故障情報を得る工程と、局内装置から
光線路に、所定の光パルス波形を有し、第１の試験波長
光の波長とは異なる波長の第２の試験波長光を投射し、
当該光線路からの反射光を受光して第２の故障情報を得
る工程とを具え、第１の故障情報と第２の故障情報とに
基づいて光線路の故障の発生を判定し、前記第２の試験
波長光が加入者端末の光受信機により受光された場合、
当該第２の試験波長光により発生するパルス信号を、前
記光受信機に接続した帯域フィルタにより遮断すること
を特徴とする。
方法は、局内装置と加入者端末とを結ぶ光線路に生じた
故障を検出する光線路故障切分け試験方法であって、局
内装置から光線路に、通信信号光の波長とは異なる波長
の第１の試験波長光を投射し、当該光線路からの反射光
を受光して第１の故障情報を得る工程と、局内装置から
光線路に、所定の光パルス波形を有し、第１の試験波長
光の波長とは異なる波長の第２の試験波長光を投射し、
当該光線路からの反射光を受光して第２の故障情報を得
る工程とを具え、第１の故障情報と第２の故障情報とに
基づいて光線路の故障の発生を判定し、前記第２の試験
波長光が加入者端末の光受信機により受光された場合、
当該第２の試験波長光により発生するパルス信号を、前
記光受信機に接続した帯域フィルタにより遮断すること
を特徴とする。
【００１３】更に本発明の試験装置は、通信信号光とは
異なる波長を持ち、矩形パルス波形に成形された試験信
号光を被試験光ファイバに繰り返し送出する光パルス発
生手段と、通信信号光に対しては反射せずに該試験信号
光にのみ反射光が生じる波長依存型反射回路からの試験
信号光の反射光を受光し、反射光に所定の信号処理を施
して得られる被試験光ファイバの特性を示す情報を表示
する光ファイバ特性測定手段とに加えて、更に、前記の
試験信号光が持つ波長とは異なり且つ前記の波長依存型
反射回路に入射しても反射光を生じない波長を有する第
２の試験光を発生する手段を具えている。
異なる波長を持ち、矩形パルス波形に成形された試験信
号光を被試験光ファイバに繰り返し送出する光パルス発
生手段と、通信信号光に対しては反射せずに該試験信号
光にのみ反射光が生じる波長依存型反射回路からの試験
信号光の反射光を受光し、反射光に所定の信号処理を施
して得られる被試験光ファイバの特性を示す情報を表示
する光ファイバ特性測定手段とに加えて、更に、前記の
試験信号光が持つ波長とは異なり且つ前記の波長依存型
反射回路に入射しても反射光を生じない波長を有する第
２の試験光を発生する手段を具えている。
【００１４】本発明の試験装置の好適な例は、前記第２
の試験光を発生する手段が、加入者端末に内蔵される帯
域フィルタによって遮断される光パルス波形を発生させ
るパルスドライバを具えている。
の試験光を発生する手段が、加入者端末に内蔵される帯
域フィルタによって遮断される光パルス波形を発生させ
るパルスドライバを具えている。
【００１５】
【作用】本発明によれば、試験信号光が短波長透過型反
射回路に入射しても反射光を生じない波長を有する第２
の試験信号光が光パルス試験器から送出される。この機
能により、短波長透過型反射回路より光パルス試験器が
有する測定距離分解能以下の場所に、光パルス試験器で
表示される波形上で短波長透過型反射回路からの反射光
と等しい相対パワーが測定されるような故障が生じて
も、第２の試験光について前記光パルス試験器を用いて
試験を行うと、故障点においてのみ反射光が測定され
る。よって、従来の光パルス試験器が持つ距離分解能精
度に左右されず正確に故障切分け試験を行うことが可能
となる。
射回路に入射しても反射光を生じない波長を有する第２
の試験信号光が光パルス試験器から送出される。この機
能により、短波長透過型反射回路より光パルス試験器が
有する測定距離分解能以下の場所に、光パルス試験器で
表示される波形上で短波長透過型反射回路からの反射光
と等しい相対パワーが測定されるような故障が生じて
も、第２の試験光について前記光パルス試験器を用いて
試験を行うと、故障点においてのみ反射光が測定され
る。よって、従来の光パルス試験器が持つ距離分解能精
度に左右されず正確に故障切分け試験を行うことが可能
となる。
【００１６】本発明によれば、光パルス試験器から送出
される光パルスが、加入者端末に内蔵される帯域フィル
タに入力することによって効率的に除去される。即ち、
前記第２の試験光を用いて光線路故障切分け試験を行う
場合、光受信機の手前に設置される短波長透過型反射回
路で試験信号光が遮断されず光受信機に入射しても、前
記帯域フィルタにより試験信号のみを除去することが可
能となる。よって、被試験光ファイバに通信信号が伝送
されているとき、試験信号光が光受信機に入射しても、
受信機の信号電力対雑音電力比を劣化させることなく故
障切分け試験が可能となる。
される光パルスが、加入者端末に内蔵される帯域フィル
タに入力することによって効率的に除去される。即ち、
前記第２の試験光を用いて光線路故障切分け試験を行う
場合、光受信機の手前に設置される短波長透過型反射回
路で試験信号光が遮断されず光受信機に入射しても、前
記帯域フィルタにより試験信号のみを除去することが可
能となる。よって、被試験光ファイバに通信信号が伝送
されているとき、試験信号光が光受信機に入射しても、
受信機の信号電力対雑音電力比を劣化させることなく故
障切分け試験が可能となる。
【００１７】
【実施例】図１は、本発明の光線路故障切分け試験方法
の第１の実施例を示す図である。図１（ａ）はブロック
構成図であり、本発明の光パルス試験器40を除く他の部
分は、図６に示した従来の光線路故障切分け試験方式の
構成と同様であり、同一符号を付して説明に代える。
の第１の実施例を示す図である。図１（ａ）はブロック
構成図であり、本発明の光パルス試験器40を除く他の部
分は、図６に示した従来の光線路故障切分け試験方式の
構成と同様であり、同一符号を付して説明に代える。
【００１８】最初に、光パルス試験器40で生成される短
波長透過型反射回路８に試験光が入射したとき反射光が
生じる波長の試験光を用いて故障切分け試験を行う。図
１（ｂ）に、光パルス試験器40にて測定される波形を示
す。短波長透過型反射回路８により光パルス試験器40が
有する測定距離分解能以下の場所に、光パルス試験器40
によって表示される波形上で短波長透過型反射回路８か
らの反射光と等しい相対パワーが測定されるような故障
（故障点20）が生じた場合、光パルス試験器40が持つ距
離分解能精度の限界から、光パルス試験器40では、故障
発生前の測定波形である図１（ｂ）と同様な波形のみ測
定され、故障切分けは不可能である。
波長透過型反射回路８に試験光が入射したとき反射光が
生じる波長の試験光を用いて故障切分け試験を行う。図
１（ｂ）に、光パルス試験器40にて測定される波形を示
す。短波長透過型反射回路８により光パルス試験器40が
有する測定距離分解能以下の場所に、光パルス試験器40
によって表示される波形上で短波長透過型反射回路８か
らの反射光と等しい相対パワーが測定されるような故障
（故障点20）が生じた場合、光パルス試験器40が持つ距
離分解能精度の限界から、光パルス試験器40では、故障
発生前の測定波形である図１（ｂ）と同様な波形のみ測
定され、故障切分けは不可能である。
【００１９】次に、光パルス試験器40における、短波長
透過型反射回路８に試験光が入射したとき反射光が生じ
ない波長を有する第２の試験光を用いて、故障切分け試
験を行う。図１（ｃ）は、前記第２の試験光を用いた光
パルス試験器40による故障切分け試験を行ったときに光
パルス試験器40で測定される波形である。このとき、図
１（ａ）に示す光線路に故障点20が存在しない場合は、
図１（ｃ）に示す反射光は光パルス試験器40において測
定されないものである。
透過型反射回路８に試験光が入射したとき反射光が生じ
ない波長を有する第２の試験光を用いて、故障切分け試
験を行う。図１（ｃ）は、前記第２の試験光を用いた光
パルス試験器40による故障切分け試験を行ったときに光
パルス試験器40で測定される波形である。このとき、図
１（ａ）に示す光線路に故障点20が存在しない場合は、
図１（ｃ）に示す反射光は光パルス試験器40において測
定されないものである。
【００２０】図２は、本発明の光パルス試験器40を示す
ブロック構成図である。本図において、試験光光源48-
1、48-2及び特殊光パルス発生用パルスドライバ49、試
験光光源選択スイッチ50を除く他の部分は、従来の光パ
ルス試験器の構成と同様であり、同一符号を付して説明
に代える。
ブロック構成図である。本図において、試験光光源48-
1、48-2及び特殊光パルス発生用パルスドライバ49、試
験光光源選択スイッチ50を除く他の部分は、従来の光パ
ルス試験器の構成と同様であり、同一符号を付して説明
に代える。
【００２１】試験光光源48-1からの試験信号光が短波長
透過型反射回路に入射すると反射光が生じ試験信号光は
遮断されるが、試験光光源48-2からの試験信号光が短波
長透過型反射回路に入射しても反射光は生じず試験信号
光は透過する。また、試験に用いる試験光光源は試験光
光源選択スイッチ50によって選択される。特殊光パルス
発生用パルスドライバ49では、従来の光パルス試験器の
ように矩形波のみでなく、次式で示される RAISED COSI
NE波ｃ（ｔ）のような特殊関数であるパルス波形の発生
が可能である。
透過型反射回路に入射すると反射光が生じ試験信号光は
遮断されるが、試験光光源48-2からの試験信号光が短波
長透過型反射回路に入射しても反射光は生じず試験信号
光は透過する。また、試験に用いる試験光光源は試験光
光源選択スイッチ50によって選択される。特殊光パルス
発生用パルスドライバ49では、従来の光パルス試験器の
ように矩形波のみでなく、次式で示される RAISED COSI
NE波ｃ（ｔ）のような特殊関数であるパルス波形の発生
が可能である。
【００２２】
【数１】
ｃ（ｔ）＝（Ａ／２）（１＋ｃｏｓ（π・ＢT −ｔ）），−ＴR ≦ｔ≦ＴR
ｃ（ｔ）＝０ ，｜ＴR ｜＜ｔ
ここで、Ａは波高値、ＢT ＝１／ＴR ，ＴR は図８にお
ける矩形パルス幅ＴPに相当するパラメータ、ｔは時間
である。
ける矩形パルス幅ＴPに相当するパラメータ、ｔは時間
である。
【００２３】図３は、図２における特殊パルス波形発生
用パルスドライバ49によって生成される RAISED COSINE
波形を示す。上記 RAISED COSINE波形の試験信号は、図
１において、加入者端末７の中に設置されている帯域フ
ィルタ５によって除去される。
用パルスドライバ49によって生成される RAISED COSINE
波形を示す。上記 RAISED COSINE波形の試験信号は、図
１において、加入者端末７の中に設置されている帯域フ
ィルタ５によって除去される。
【００２４】図４に、波高値Ａ＝１、光パルス幅ＴR ＝
１００ｎｓの RAISED COSINE波形パルス信号が、中心周
波数９３ＭＨｚ、帯域幅６ＭＨｚの帯域フィルタを通過
した後の信号波形を示す。本図より、前記帯域フィルタ
による試験信号遮断量は、約４７ｄＢである。つまり、
従来の光線路故障切分け試験方法において光受信機４の
手前に設置されていた短波長透過型反射回路８による試
験信号光の遮断が、帯域フィルタ５によって行われるこ
とが可能となる。よって、被試験光ファイバ３に通信信
号が伝送されているとき、短波長透過型反射回路８に入
射しても反射光が生じず反射回路８を透過してしまう第
２の試験光を用いて光パルス試験器40による故障切分け
試験を行っても、光受信機４に入力される試験信号は、
帯域フィルタ５によって充分除去され、受信機６の通信
電力対雑音電力比を劣化させることなく故障切分け試験
が可能となる。
１００ｎｓの RAISED COSINE波形パルス信号が、中心周
波数９３ＭＨｚ、帯域幅６ＭＨｚの帯域フィルタを通過
した後の信号波形を示す。本図より、前記帯域フィルタ
による試験信号遮断量は、約４７ｄＢである。つまり、
従来の光線路故障切分け試験方法において光受信機４の
手前に設置されていた短波長透過型反射回路８による試
験信号光の遮断が、帯域フィルタ５によって行われるこ
とが可能となる。よって、被試験光ファイバ３に通信信
号が伝送されているとき、短波長透過型反射回路８に入
射しても反射光が生じず反射回路８を透過してしまう第
２の試験光を用いて光パルス試験器40による故障切分け
試験を行っても、光受信機４に入力される試験信号は、
帯域フィルタ５によって充分除去され、受信機６の通信
電力対雑音電力比を劣化させることなく故障切分け試験
が可能となる。
【００２５】ゆえに、本発明の光パルス試験器を用い
て、故障切分け試験を行うことによって、従来、光パル
ス試験器が持つ距離分解能精度の限界により不可能であ
った、短波長透過型反射回路から測定距離分解能以下の
点で生じた故障に対する光線路の故障切分け試験が、通
信に影響を与えることなく、正確に行うことが可能とな
る。
て、故障切分け試験を行うことによって、従来、光パル
ス試験器が持つ距離分解能精度の限界により不可能であ
った、短波長透過型反射回路から測定距離分解能以下の
点で生じた故障に対する光線路の故障切分け試験が、通
信に影響を与えることなく、正確に行うことが可能とな
る。
【００２６】図５は、１つの局内装置と複数の加入者端
末とが光合分岐回路を介して接続されている分岐形光線
路について、光線路故障切分け試験を行う本発明の第２
の実施例を示す図である。図５（ａ）において、光合分
岐回路70を除く他の部分は、図１に示す光線路故障切分
け試験方式の構成と同様であり、同一符号を付して説明
に代える。局内装置１からの通信信号光は被試験光ファ
イバ３を介し、光合分岐回路70によって各加入者端末７
に分配される。
末とが光合分岐回路を介して接続されている分岐形光線
路について、光線路故障切分け試験を行う本発明の第２
の実施例を示す図である。図５（ａ）において、光合分
岐回路70を除く他の部分は、図１に示す光線路故障切分
け試験方式の構成と同様であり、同一符号を付して説明
に代える。局内装置１からの通信信号光は被試験光ファ
イバ３を介し、光合分岐回路70によって各加入者端末７
に分配される。
【００２７】故障切分け試験は、光パルス試験器40によ
って行われる。最初に、短波長透過型反射回路８に試験
光が入射したとき反射光が生じる波長の試験光につい
て、本発明の光パルス試験器40を用いて故障切分け試験
を行う。前記試験光を用いたときの光パルス試験器40に
て測定される波形を、図５（ｂ）に実線で示す。
って行われる。最初に、短波長透過型反射回路８に試験
光が入射したとき反射光が生じる波長の試験光につい
て、本発明の光パルス試験器40を用いて故障切分け試験
を行う。前記試験光を用いたときの光パルス試験器40に
て測定される波形を、図５（ｂ）に実線で示す。
【００２８】この図に示すように、分岐形光線路では、
各短波長透過型反射回路８からの反射光は光合分岐回路
70によって重畳され光パルス試験器40で測定されるた
め、光パルス試験器40において表示される波形は、幾重
にも重なって表示される。そのため、故障が、短波長透
過型反射回路８より光パルス試験器40が有する測定距離
分解能以下の場所（故障点20）で生じた場合、反射光が
測定される位置又は相対パワーにて故障切分けを行うこ
とは困難である。
各短波長透過型反射回路８からの反射光は光合分岐回路
70によって重畳され光パルス試験器40で測定されるた
め、光パルス試験器40において表示される波形は、幾重
にも重なって表示される。そのため、故障が、短波長透
過型反射回路８より光パルス試験器40が有する測定距離
分解能以下の場所（故障点20）で生じた場合、反射光が
測定される位置又は相対パワーにて故障切分けを行うこ
とは困難である。
【００２９】そこで、２番目に、短波長透過型反射回路
８に試験光が入射したとき反射光が生じない波長の試験
光について、光パルス試験器40を用いて故障切分け試験
を行う。このとき、光パルス試験器40から送出される試
験信号波形は、帯域フィルタ５によって遮断される特殊
な波形を有しているため、試験信号光が短波長透過型反
射回路８を透過しても受信機６の信号電力対雑音電力比
を劣化させず、通信に影響を与えることなく故障切分け
試験が可能である。このとき、光パルス試験器40にて測
定される波形を、図５（ｂ）に破線で示す。もし、故障
が生じていない場合は、破線で示される波形は観測され
ず、光線路内での故障は存在しないと判定される。
８に試験光が入射したとき反射光が生じない波長の試験
光について、光パルス試験器40を用いて故障切分け試験
を行う。このとき、光パルス試験器40から送出される試
験信号波形は、帯域フィルタ５によって遮断される特殊
な波形を有しているため、試験信号光が短波長透過型反
射回路８を透過しても受信機６の信号電力対雑音電力比
を劣化させず、通信に影響を与えることなく故障切分け
試験が可能である。このとき、光パルス試験器40にて測
定される波形を、図５（ｂ）に破線で示す。もし、故障
が生じていない場合は、破線で示される波形は観測され
ず、光線路内での故障は存在しないと判定される。
【００３０】このように、２種類の波長の試験光を用い
た故障切分け試験を行うことによって、従来、光パルス
試験器が持つ距離分解能精度の限界により非常に困難で
あった分岐形光線路の故障切分け試験についても、正確
に且つ通信サービスに影響を与えることなく行うことが
可能となる。
た故障切分け試験を行うことによって、従来、光パルス
試験器が持つ距離分解能精度の限界により非常に困難で
あった分岐形光線路の故障切分け試験についても、正確
に且つ通信サービスに影響を与えることなく行うことが
可能となる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の故障切分
け試験方法及び光パルス試験器を用いることにより、通
信に影響を与えることなく、且つ光パルス試験器が有す
る距離分解能精度に左右されず正確に故障切分け試験を
行うことが可能となる。また、遠隔にて故障切分け試験
を行うため、光線路の監視試験その他の運用業務の効率
化を図ることも可能となる。
け試験方法及び光パルス試験器を用いることにより、通
信に影響を与えることなく、且つ光パルス試験器が有す
る距離分解能精度に左右されず正確に故障切分け試験を
行うことが可能となる。また、遠隔にて故障切分け試験
を行うため、光線路の監視試験その他の運用業務の効率
化を図ることも可能となる。
【図１】図１は、本発明の光パルス試験器を用いた光線
路故障切分け試験方法の第１の実施例を示す図であり、
（ａ）はブロック構成図、（ｂ）は反射光を生じる波長
の試験信号光で故障切分け試験を行った場合に光パルス
試験器に表示される波形を示す図、（ｃ）は反射光を生
じない波長の試験信号光で故障切分け試験を行った場合
に光パルス試験器に表示される波形を示す図である。
路故障切分け試験方法の第１の実施例を示す図であり、
（ａ）はブロック構成図、（ｂ）は反射光を生じる波長
の試験信号光で故障切分け試験を行った場合に光パルス
試験器に表示される波形を示す図、（ｃ）は反射光を生
じない波長の試験信号光で故障切分け試験を行った場合
に光パルス試験器に表示される波形を示す図である。
【図２】図２は、本発明の光パルス試験器の詳細を示す
ブロック構成図である。
ブロック構成図である。
【図３】図３は、 RAISED COSINE波形を示す図である。
【図４】図４は、 RAISED COSINE波形信号の帯域フィル
タ通過後の信号波形を示す図である。
タ通過後の信号波形を示す図である。
【図５】図５は、本発明の光パルス試験器を用いた光線
路故障切分け試験方法の第２の実施例を示す図であり、
（ａ）はブロック構成図、（ｂ）は（ａ）に示す分岐形
光線路の故障切分け試験において、光パルス試験器に表
示される波形を示す図である。
路故障切分け試験方法の第２の実施例を示す図であり、
（ａ）はブロック構成図、（ｂ）は（ａ）に示す分岐形
光線路の故障切分け試験において、光パルス試験器に表
示される波形を示す図である。
【図６】図６は、従来の光線路故障切分け試験方法を示
す図であり、（ａ）はブロック構成図、（ｂ）は従来の
光パルス試験器を用いて光線路故障切分け試験を行った
ときに光パルス試験器に表示される波形を示す図であ
る。
す図であり、（ａ）はブロック構成図、（ｂ）は従来の
光パルス試験器を用いて光線路故障切分け試験を行った
ときに光パルス試験器に表示される波形を示す図であ
る。
【図７】図７は、従来の光パルス試験器の詳細を示すブ
ロック構成図である。
ロック構成図である。
【図８】図８は、従来の光パルス試験器に用いられてい
る矩形パルス波形を示す図である。
る矩形パルス波形を示す図である。
【図９】図９は、矩形パルス信号の帯域フィルタ通過後
の信号波形を示す図である。
の信号波形を示す図である。
１ 局内装置
２ 光分岐回路
３ 被試験光ファイバ
４ 光受信機
５ 帯域フィルタ
６ 受信機
７ 加入者端末
８ 短波長透過型反射回路
２０ 故障点
４０ 本発明の光パルス試験器
４１ ３ｄＢカプラ
４２ 受光器
４３ Ａ／Ｄ変換回路
４４ 加算処理回路
４５ 表示器
４６ タイミング発生器
４７ 光スイッチ
４８−１ 試験信号光が短波長透過型反射回路に入射し
たとき、反射光が生じる波長を持つ試験光光源 ４８−２ 試験信号光が短波長透過型反射回路に入射し
たとき、反射光が生じない波長を持つ第２の試験光光源 ４９ 特殊光パルス発生用パルスドライバ ５０ 試験光光源選択スイッチ ７０ 光合分岐回路 １１０ 従来の光パルス試験器 １１１ 試験信号光が短波長透過型反射回路に入射した
とき、反射光が生じる波長を持つ試験光光源 １１２ 矩形光パルス発生用パルスドライバ
たとき、反射光が生じる波長を持つ試験光光源 ４８−２ 試験信号光が短波長透過型反射回路に入射し
たとき、反射光が生じない波長を持つ第２の試験光光源 ４９ 特殊光パルス発生用パルスドライバ ５０ 試験光光源選択スイッチ ７０ 光合分岐回路 １１０ 従来の光パルス試験器 １１１ 試験信号光が短波長透過型反射回路に入射した
とき、反射光が生じる波長を持つ試験光光源 １１２ 矩形光パルス発生用パルスドライバ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 須田 裕之
東京都千代田区内幸町１丁目１番６号
日本電信電話株式会社内
(56)参考文献 特開 平５−172693（ＪＰ，Ａ)
特開 昭60−121829（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−333103（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
H04B 10/00 - 10/28
H04J 14/00 - 14/08
G01M 11/00
Claims (3)
- 【請求項１】 局内装置と加入者端末とを結ぶ光線路に
生じた故障を検出する光線路故障切分け試験方法であっ
て、 局内装置から光線路に、通信信号光の波長とは異なる波
長の第１の試験波長光を投射し、当該光線路からの反射
光を受光して第１の故障情報を得る工程と、 局内装置から光線路に、所定の光パルス波形を有し、第
１の試験波長光の波長とは異なる波長の第２の試験波長
光を投射し、当該光線路からの反射光を受光して第２の
故障情報を得る工程とを具え、 第１の故障情報と第２の故障情報とに基づいて光線路の
故障の発生を判定し、 前記第２の試験波長光が加入者端末の光受信機により受
光された場合、当該第２の試験波長光により発生するパ
ルス信号を、前記光受信機に接続した帯域フィルタによ
り遮断することを特徴とする光線路故障切分け試験方
法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の光線路故障切分け方法
において、前記第２の試験波長光の光パルス波形を、RA
ISED COSINE 波形としたことを特徴とする光線路故障切
分け試験方法。 - 【請求項３】 局内装置と加入者端末とを結ぶ光線路に
生じた故障を検出する光線路故障切分け試験方法に用い
られる光パルス試験器であって、 通信信号光の波長とは異なる波長の第１の試験波長光を
発生する第１の光源と、 第１の試験波長光とは異なる波長の第２の試験波長光を
発生する第２の光源装置と、 これら第１及び第２の光源を駆動して、加入者端末の光
受信機により受光された際当該光受信機に接続した帯域
フィルタにより遮断される信号波形のパルス信号を発生
する光パルス波形の光パルスを発生させるパルスドライ
バと、 試験すべき光線路からの反射光を受光する受光器と、受
光器からの出力信号を処理して光線路の故障情報を発生
する信号処理装置とを具えることを特徴とする光パルス
試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12767794A JP3384112B2 (ja) | 1994-06-09 | 1994-06-09 | 光線路故障切分け試験方法及び光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12767794A JP3384112B2 (ja) | 1994-06-09 | 1994-06-09 | 光線路故障切分け試験方法及び光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07336302A JPH07336302A (ja) | 1995-12-22 |
| JP3384112B2 true JP3384112B2 (ja) | 2003-03-10 |
Family
ID=14965986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12767794A Expired - Fee Related JP3384112B2 (ja) | 1994-06-09 | 1994-06-09 | 光線路故障切分け試験方法及び光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3384112B2 (ja) |
-
1994
- 1994-06-09 JP JP12767794A patent/JP3384112B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07336302A (ja) | 1995-12-22 |
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