JP3261259B2 - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光信号の伝送媒体であ
る光ファイバの光損失その他の特性を、遠隔にて正確に
試験する光パルス試験器に関する。
る光ファイバの光損失その他の特性を、遠隔にて正確に
試験する光パルス試験器に関する。
【０００２】
【従来の技術】信頼性が高く、経済的な光通信システム
を実現するためには、光伝送路となる光ファイバ線路の
信頼性及び経済性が重要な課題となる。そのために、光
ファイバの区間損失、接続損失及び反射減衰量を正確に
測定する必要がある。
を実現するためには、光伝送路となる光ファイバ線路の
信頼性及び経済性が重要な課題となる。そのために、光
ファイバの区間損失、接続損失及び反射減衰量を正確に
測定する必要がある。
【０００３】この要求に応える光ファイバ試験器は、被
試験光ファイバに光を送出し、その被試験光ファイバか
ら反射光や後方散乱光を受信し、これを解析して被試験
光ファイバの光損失その他の特性を画面表示する装置で
ある。従来、通信信号に影響を与えることなく光線路の
監視試験を行うため、図５に示す方法が用いられてい
る。
試験光ファイバに光を送出し、その被試験光ファイバか
ら反射光や後方散乱光を受信し、これを解析して被試験
光ファイバの光損失その他の特性を画面表示する装置で
ある。従来、通信信号に影響を与えることなく光線路の
監視試験を行うため、図５に示す方法が用いられてい
る。
【０００４】図５において、被試験光ファイバ４は、両
端に局内装置１と光受信機２とが接続されている。光フ
ァイバ試験器60からの試験信号を被試験光ファイバ４に
入射するため、被試験光ファイバ４には光分岐回路３が
接続されている。光ファイバ試験器60からの試験信号
は、通信波長とは異なる波長を有している。試験信号
が、光受信機２に入力し通信に影響を与えることを防ぐ
ため、光受信機２の手前に設置された波長依存型光フィ
ルタ50によって試験信号は遮断される。局内装置１から
の通信信号は、被試験光ファイバ４を介し、波長依存型
光フィルタ50を透過し、光受信機２に送られ電気信号に
変換された後、帯域フィルタ６を通過して受信機７に入
力される。
端に局内装置１と光受信機２とが接続されている。光フ
ァイバ試験器60からの試験信号を被試験光ファイバ４に
入射するため、被試験光ファイバ４には光分岐回路３が
接続されている。光ファイバ試験器60からの試験信号
は、通信波長とは異なる波長を有している。試験信号
が、光受信機２に入力し通信に影響を与えることを防ぐ
ため、光受信機２の手前に設置された波長依存型光フィ
ルタ50によって試験信号は遮断される。局内装置１から
の通信信号は、被試験光ファイバ４を介し、波長依存型
光フィルタ50を透過し、光受信機２に送られ電気信号に
変換された後、帯域フィルタ６を通過して受信機７に入
力される。
【０００５】図６は、従来の光ファイバ試験器60を示す
ブロック構成図である。被試験光ファイバから戻って来
る反射光及び後方散乱光は、３ｄＢカプラ21を介して受
光器22に入射され、電気信号に変換されてＡ／Ｄ変換回
路23に入力される。Ａ／Ｄ変換回路23の出力は、加算処
理回路24に逐次入力される。表示器25では、加算処理回
路24における加算信号を対数変換した波形を表示する。
タイミング発生回路26は加算処理回路24、光スイッチ27
及び矩形光パルス波形発生用パルスドライバ62に所定周
期の同期信号を送る。矩形光パルス波形発生用パルスド
ライバ62は上記同期信号を受けて、通信波長と異なる波
長を持つ試験光光源61に矩形パルスを送る。
ブロック構成図である。被試験光ファイバから戻って来
る反射光及び後方散乱光は、３ｄＢカプラ21を介して受
光器22に入射され、電気信号に変換されてＡ／Ｄ変換回
路23に入力される。Ａ／Ｄ変換回路23の出力は、加算処
理回路24に逐次入力される。表示器25では、加算処理回
路24における加算信号を対数変換した波形を表示する。
タイミング発生回路26は加算処理回路24、光スイッチ27
及び矩形光パルス波形発生用パルスドライバ62に所定周
期の同期信号を送る。矩形光パルス波形発生用パルスド
ライバ62は上記同期信号を受けて、通信波長と異なる波
長を持つ試験光光源61に矩形パルスを送る。
【０００６】図７に、上記矩形パルスの波形を示す。こ
こで、Ａは波高値、ＴＰ は矩形パルス幅を示す。上記
矩形パルス信号を受けた試験光光源61から、図７に示す
矩形光パルス波形が光スイッチ27及び３ｄＢカプラ21を
介して被試験光ファイバに送出される
こで、Ａは波高値、ＴＰ は矩形パルス幅を示す。上記
矩形パルス信号を受けた試験光光源61から、図７に示す
矩形光パルス波形が光スイッチ27及び３ｄＢカプラ21を
介して被試験光ファイバに送出される
【０００７】図５に示す光線路監視試験方法を用いた場
合、光パルス試験60による試験結果から、通信信号の被
試験光ファイバ４における区間損失、接続損失及び反射
減衰量を正確に把握することは、それぞれの測定項目が
固有の波長依存性を有するため、非常に困難である。
合、光パルス試験60による試験結果から、通信信号の被
試験光ファイバ４における区間損失、接続損失及び反射
減衰量を正確に把握することは、それぞれの測定項目が
固有の波長依存性を有するため、非常に困難である。
【０００８】一方、試験精度向上のため、通信波長に近
い波長の試験光光源を有する光パルス試験器と図５に示
す光線路監視試験方法とを用いた場合、試験信号は、波
長依存型光フィルタ50において充分遮断されず、光受信
機２に入射され通信信号と共に電気信号に変換される。
電気変換された試験信号は、帯域フィルタ６によってあ
る程度除去されるが、充分には除去されず、受信機７の
信号電力対雑音電力比を劣化させ、通信に影響を与えて
しまう。
い波長の試験光光源を有する光パルス試験器と図５に示
す光線路監視試験方法とを用いた場合、試験信号は、波
長依存型光フィルタ50において充分遮断されず、光受信
機２に入射され通信信号と共に電気信号に変換される。
電気変換された試験信号は、帯域フィルタ６によってあ
る程度除去されるが、充分には除去されず、受信機７の
信号電力対雑音電力比を劣化させ、通信に影響を与えて
しまう。
【０００９】図８は、図７で示す波高値Ａ＝１、矩形パ
ルス幅ＴＰ ＝１００ｎｓの矩形パルス信号が、中心周
波数９３ＭＨｚ、帯域幅６ＭＨｚを有する帯域フィルタ
を通過した後の信号波形を示す。本図より、上記帯域フ
ィルタを通過する試験信号は約１８ｄＢ減衰され受信機
に入力されてしまう。現在、光線路区間損失、接続損失
及び反射減衰量を、通信に影響を与えることなく、且つ
正確に測定するための光線路監視試験方法が課題となっ
ている。
ルス幅ＴＰ ＝１００ｎｓの矩形パルス信号が、中心周
波数９３ＭＨｚ、帯域幅６ＭＨｚを有する帯域フィルタ
を通過した後の信号波形を示す。本図より、上記帯域フ
ィルタを通過する試験信号は約１８ｄＢ減衰され受信機
に入力されてしまう。現在、光線路区間損失、接続損失
及び反射減衰量を、通信に影響を与えることなく、且つ
正確に測定するための光線路監視試験方法が課題となっ
ている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、通信に影響
を与えることなく、通信信号の被試験光ファイバにおけ
る区間損失、接続損失及び反射減衰量等を正確に把握す
ることができるようにすることを目的とする。
を与えることなく、通信信号の被試験光ファイバにおけ
る区間損失、接続損失及び反射減衰量等を正確に把握す
ることができるようにすることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、試験信号を所
定のパルス波形に形成し、これを被試験光ファイバに繰
り返し送出する光パルス発生手段と、被試験光ファイバ
から戻って来る前記光パルスに対する反射光及び後方散
乱光を受光し、所定の信号処理を施して得られた被試験
光ファイバの特性を示す情報を表示する光ファイバ特性
測定手段とを具えた光パルス試験器において、試験信号
が、加入者端末に設置される復調器に内蔵される帯域フ
ィルタに入力したときに効率的に除去される波形（例え
ば、 RAISED COSINE波形、COSINE ROLLOFF波形等）の光
パルスを発生することが可能であるパルスドライバを具
える。
定のパルス波形に形成し、これを被試験光ファイバに繰
り返し送出する光パルス発生手段と、被試験光ファイバ
から戻って来る前記光パルスに対する反射光及び後方散
乱光を受光し、所定の信号処理を施して得られた被試験
光ファイバの特性を示す情報を表示する光ファイバ特性
測定手段とを具えた光パルス試験器において、試験信号
が、加入者端末に設置される復調器に内蔵される帯域フ
ィルタに入力したときに効率的に除去される波形（例え
ば、 RAISED COSINE波形、COSINE ROLLOFF波形等）の光
パルスを発生することが可能であるパルスドライバを具
える。
【００１２】本発明の好適な例では、前記の帯域フィル
タによって遮断される波形を有し且つ通信波長を含む広
い波長範囲で試験し得るように構成される。
タによって遮断される波形を有し且つ通信波長を含む広
い波長範囲で試験し得るように構成される。
【００１３】
【作用】本発明の光パルス試験器から送出される光パル
スは、復調器に内蔵される帯域フィルタに入力すること
によって効率的に除去されることが可能となる。即ち、
被試験光ファイバを試験した場合、光受信機の手前に設
置される波長依存型光フィルタが無くても、復調器の中
に設置されている帯域フィルタにより、試験信号のみを
除去することが可能となる。よって、被試験光ファイバ
に通信信号が伝送されているとき、通信波長と等しい波
長である試験信号を用いて測定を行っても、受信機の信
号電力対雑音電力比を劣化させることなく被試験光ファ
イバの試験が可能となる。
スは、復調器に内蔵される帯域フィルタに入力すること
によって効率的に除去されることが可能となる。即ち、
被試験光ファイバを試験した場合、光受信機の手前に設
置される波長依存型光フィルタが無くても、復調器の中
に設置されている帯域フィルタにより、試験信号のみを
除去することが可能となる。よって、被試験光ファイバ
に通信信号が伝送されているとき、通信波長と等しい波
長である試験信号を用いて測定を行っても、受信機の信
号電力対雑音電力比を劣化させることなく被試験光ファ
イバの試験が可能となる。
【００１４】また、本発明の光パルス試験器は、通信波
長と等しい波長を有する試験信号を用いた試験が可能と
なるため、その試験結果から、通信信号の被試験光ファ
イバにおける区間損失、接続損失及び反射減衰量等を正
確に把握することが可能となる。
長と等しい波長を有する試験信号を用いた試験が可能と
なるため、その試験結果から、通信信号の被試験光ファ
イバにおける区間損失、接続損失及び反射減衰量等を正
確に把握することが可能となる。
【００１５】
【実施例】図１は、本発明の光パルス試験器を用いた光
線路監視試験の実施例を示すブロック構成図である。図
において、本発明の光パルス試験器20を除く部分は、図
５に示す従来の光線路監視試験方式の構成と同様であ
る。
線路監視試験の実施例を示すブロック構成図である。図
において、本発明の光パルス試験器20を除く部分は、図
５に示す従来の光線路監視試験方式の構成と同様であ
る。
【００１６】図２は本発明の光パルス試験器20を示すブ
ロック構成図である。図において、試験光光源28及び特
殊光パルス発生用パルスドライバ29を除く他の部分は、
従来の光パルス試験器の構成と同様であり、同一符号を
付して説明に代える。試験光光源28は、通信波長を含め
た任意の波長を持っている。特殊光パルス発生用パルス
ドライバ29では、従来の光パルス試験器のように矩形波
のみでなく、次式で示される RAISED COSINE波、ｃ
（ｔ）のような特殊関数のパルス波形を発生することが
できる。
ロック構成図である。図において、試験光光源28及び特
殊光パルス発生用パルスドライバ29を除く他の部分は、
従来の光パルス試験器の構成と同様であり、同一符号を
付して説明に代える。試験光光源28は、通信波長を含め
た任意の波長を持っている。特殊光パルス発生用パルス
ドライバ29では、従来の光パルス試験器のように矩形波
のみでなく、次式で示される RAISED COSINE波、ｃ
（ｔ）のような特殊関数のパルス波形を発生することが
できる。
【００１７】 ｃ（ｔ）＝（Ａ／２）（１＋ｃｏｓ（π・ＢT −ｔ）），−ＴR ≦ｔ≦ＴR ｃ（ｔ）＝０ ，｜ＴR ｜＜ｔ ここで、Ａは波高値、ＢT ＝１／ＴR 、ＴR は図７にお
ける矩形パルス幅ＴPに相当するパラメータ、ｔは時間
である。
ける矩形パルス幅ＴPに相当するパラメータ、ｔは時間
である。
【００１８】図３は、図２における特殊光パルス発生用
パルスドライバ29によって生成される RAISED COSINE波
形を示す。この RAISED COSINE波形の試験信号は、図１
において、復調器５の中に設置されている帯域フィルタ
６によって除去される。
パルスドライバ29によって生成される RAISED COSINE波
形を示す。この RAISED COSINE波形の試験信号は、図１
において、復調器５の中に設置されている帯域フィルタ
６によって除去される。
【００１９】図４に、光パルス試験器20から、波高値Ａ
＝１、光パルス幅ＴR ＝１００ｎｓの試験信号が送出さ
れ、中心周波数及び帯域幅がそれぞれ９３ＭＨｚ及び６
ＭＨｚの帯域フィルタ６を通過した後の試験信号波形を
示す。本図より、帯域フィルタ６による試験信号遮断量
は約４７ｄＢである。即ち、従来の光線路監視試験方法
において光受信機２の手前に設置されていた波長依存型
光フィルタによる試験信号の遮断を、帯域フィルタ６に
よって行われることを可能とした。
＝１、光パルス幅ＴR ＝１００ｎｓの試験信号が送出さ
れ、中心周波数及び帯域幅がそれぞれ９３ＭＨｚ及び６
ＭＨｚの帯域フィルタ６を通過した後の試験信号波形を
示す。本図より、帯域フィルタ６による試験信号遮断量
は約４７ｄＢである。即ち、従来の光線路監視試験方法
において光受信機２の手前に設置されていた波長依存型
光フィルタによる試験信号の遮断を、帯域フィルタ６に
よって行われることを可能とした。
【００２０】よって、被試験光ファイバ４に通信信号が
伝送されているとき、通信波長と等しい波長の試験信号
を用いて、光パルス試験器20による試験を行っても、光
受信機２に入力される試験信号は、帯域フィルタ６によ
って充分除去され、受信機７の通信電力対雑音電力比を
劣化させることなく被試験光ファイバ４の試験が可能と
なる。この時、通信波長と同波長の試験信号を用いて光
パルス試験器20による試験を行っているため、試験結果
から、通信信号の被試験光ファイバ４における区間損
失、接続損失及び反射減衰量等を正確に把握することが
可能となる。
伝送されているとき、通信波長と等しい波長の試験信号
を用いて、光パルス試験器20による試験を行っても、光
受信機２に入力される試験信号は、帯域フィルタ６によ
って充分除去され、受信機７の通信電力対雑音電力比を
劣化させることなく被試験光ファイバ４の試験が可能と
なる。この時、通信波長と同波長の試験信号を用いて光
パルス試験器20による試験を行っているため、試験結果
から、通信信号の被試験光ファイバ４における区間損
失、接続損失及び反射減衰量等を正確に把握することが
可能となる。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光パルス
試験器を用いることにより、光線路の監視試験を行う上
で、通信に影響を与えることなく、通信信号の光線路区
間損失、接続損失及び反射減衰量等を正確に把握するこ
とが可能となる。加えて、光線路監視試験方法におい
て、監視試験による通信への影響を回避するために従来
用いられていた波長依存型光フィルタへの依存度も低く
なり、光線路の監視試験その他の運用業務の効率化を図
ることが可能となる。
試験器を用いることにより、光線路の監視試験を行う上
で、通信に影響を与えることなく、通信信号の光線路区
間損失、接続損失及び反射減衰量等を正確に把握するこ
とが可能となる。加えて、光線路監視試験方法におい
て、監視試験による通信への影響を回避するために従来
用いられていた波長依存型光フィルタへの依存度も低く
なり、光線路の監視試験その他の運用業務の効率化を図
ることが可能となる。
【図１】 図１は、本発明の光パルス試験器を用いた光
線路監視試験の実施例を示すブロック構成図である。
線路監視試験の実施例を示すブロック構成図である。
【図２】 図２は、本発明の光パルス試験器の詳細を示
すブロック構成図である。
すブロック構成図である。
【図３】 図３は、 RAISED COSINE波形を示す図であ
る。
る。
【図４】 図４は、 RAISED COSINE波形信号の帯域フィ
ルタ通過後の信号波形を示す図である。
ルタ通過後の信号波形を示す図である。
【図５】 図５は、従来の光線路監視試験方法を示すブ
ロック構成図である。
ロック構成図である。
【図６】 図６は、従来の光パルス試験器の詳細を示す
ブロック構成図である。
ブロック構成図である。
【図７】 図７は、従来の光パルス試験器に用いられて
いる矩形パルス波形を示す図である。
いる矩形パルス波形を示す図である。
【図８】 図８は、矩形パルス信号の帯域フィルタ通過
後の信号波形を示す図である。
後の信号波形を示す図である。
１ 局内装置 ２ 光受信機 ３ 光分岐回路 ４ 被試験光ファイバ ５ 復調器 ６ 帯域フィルタ ７ 受信機 ２０ 本発明の光パルス試験器 ２１ ３ｄＢカプラ ２２ 受光器 ２３ Ａ／Ｄ変換回路 ２４ 加算処理回路 ２５ 表示器 ２６ タイミング発生器 ２７ 光スイッチ ２８ 試験光光源 ２９ 特殊光パルス波形発生用パルスドライバ ５０ 波長依存型光フィルタ ６０ 従来の光パルス試験器 ６１ 波長依存型光フィルタ５０によって充分遮断され
る波長を持つ試験光光源 ６２ 矩形光パルス発生用パルスドライバ
る波長を持つ試験光光源 ６２ 矩形光パルス発生用パルスドライバ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 須田 裕之 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−116029（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−166837（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/08 H04B 10/08
Claims (5)
- 【請求項１】 試験信号光を所定のパルス波形に形成
し、これを被試験光ファイバに繰り返し送出する光パル
ス発生手段と、 前記被試験光ファイバから戻って来る前記光パルスに対
する反射光及び後方散乱光を受光し、所定の信号処理を
施して得られた前記被試験光ファイバの特性を示す情報
を表示する光ファイバ特性測定手段とを具えた光パルス
試験器において、 前記試験信号光の帯域を通信信号光の波長帯域内に選定
し、 加入者端末に設置される帯域フィルタによって、光パル
ス試験器から送出されるパルス信号の遮断を実現するた
め、パルス信号のベースバンド帯域幅を狭帯域化するこ
とを可能とするパルスドライバを具えたことを特徴とす
る光パルス試験器。 - 【請求項２】 通信波長と同一の波長帯から選択された
試験波長を有する光源を具えたことを特徴とする請求項
１に記載の光パルス試験器。 - 【請求項３】 試験信号光のパルス波形を前記帯域フィ
ルタによって効率的に除去される波形とする請求項１記
載の光パルス試験器。 - 【請求項４】 前記パルス波形をライズド・コサイン
（ＲＡＩＳＥＤ ＣＯＳＩＮＥ）波形とする請求項３記
載の光パルス試験器。 - 【請求項５】 前記パルス波形をコサイン・ロールオフ
（ＣＯＳＩＮＥ ＲＯＬＬＯＦＦ）波形とする請求項３
記載の光パルス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12767894A JP3261259B2 (ja) | 1994-06-09 | 1994-06-09 | 光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12767894A JP3261259B2 (ja) | 1994-06-09 | 1994-06-09 | 光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07333103A JPH07333103A (ja) | 1995-12-22 |
| JP3261259B2 true JP3261259B2 (ja) | 2002-02-25 |
Family
ID=14966007
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12767894A Expired - Fee Related JP3261259B2 (ja) | 1994-06-09 | 1994-06-09 | 光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3261259B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4876735B2 (ja) * | 2006-06-23 | 2012-02-15 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
-
1994
- 1994-06-09 JP JP12767894A patent/JP3261259B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07333103A (ja) | 1995-12-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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