JP3367720B2 - 放射線計測方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、原子力施設の空気中の
ダスト放射線濃度を計測する放射線計測方法に係わり、
特に補集開始時のバックグラウンド計数値を正確に見込
むことにより、計測の正確性を向上し得る放射線計測方
法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、原子力施設の空気中におけるダ
スト放射線濃度の測定では、施設内の測定場所の空気を
吸引しつつ、空気中のダストをろ紙により補集（集塵）
してダストの放射線を計測することにより、空気中のダ
スト放射線濃度を測定するダスト放射線モニタが広く用
いられている。

【０００３】図８はこの種のダスト放射線モニタの動作
を示すタイムチャートである。このダスト放射線モニタ
は、施設内の測定場所から空気を吸引するサンプリング
配管がろ紙及びその駆動部から集塵配管及び集塵選択弁
を介して吸引ポンプに接続されている。また、このサン
プリング配管はバイパス配管及びバイパス選択弁を介し
て吸引ポンプに接続されている。

【０００４】いま、図８（ａ）に示すように、バイパス
選択弁が開状態となり、集塵選択弁が閉状態となると、
サンプリング配管から吸引される空気はバイパス配管及
び吸引ポンプを介して図示しないダクトに排出される。

【０００５】このとき、駆動部はろ紙を移動させて新た
なろ紙面をサンプリング配管に導入する（時刻ｔ１）。
ここで、ろ紙の上方に配置された放射線検出器は、図８
（ｂ）に示すように、ろ紙上の放射線を計数して計数率
をデータ処理装置に送出する。なお、このときは、ろ紙
に放射能が蓄積しておらず（状態ａ）、計数率は最低値
を示す。データ処理装置はその計数率に基づいて、図８
（ｃ）に示すように、バックグラウンド計数率ＢＧを計
測する（期間Ｔｂ）。

【０００６】続いて、バイパス選択弁が閉状態となり、
集塵選択弁が開状態となると（時刻ｔ２）、サンプリン
グ配管に吸引された空気は、ろ紙を通過して吸引ポンプ
に吸引されると共に、ダクトに排出される。また、空気
中のダストは、吸引された空気がろ紙を通過する際に、
ろ紙に補集される（状態ｃ）。

【０００７】一方、放射線検出器は、ろ紙に補集された
ダストの放射線を計数して計数結果をデータ処理装置に
送出する。データ処理装置はその計数結果及び前述した
バックグラウンド計数率ＢＧに基づいて、次の（１）式
に示すように空気中のダスト放射線濃度を計測する（期
間Ｔｃ内）。

【０００８】

【数１】

【０００９】 但し、ＮＥＴ計数；（検出器出力計数率−バックグラウンド計数率）×時間 又は（検出器出力計数率×時間−バックグラウンド計数率×時間） ここで、放射線検出器の出力計数率は、図８（ｂ）に示
すように、集塵の初期において急激に上昇する。これ
は、測定場所の空気に含まれる放射線源には気体状のも
のと粒子状のものとの２種類があり、このうち、急激に
吸引され易い気体状のものによる放射線濃度が集塵初期
に計数されるからである。なお、測定場所の空気はダス
ト放射線モニタ設置場所の空気よりも放射能を多く含ん
でいる。

【００１０】また、集塵時間がある程度経過すると、粒
子状のもの（ダスト）がろ紙上に蓄積してその単位時間
毎の蓄積量を全ての集塵時間で除した値に比例してダス
ト放射線濃度が計測される。これにより、ダスト放射線
濃度の計測値は、集塵の初期において実際よりも高い値
を示すが、集塵時間の経過に伴って実際の値に近付いて
くる。

【００１１】すなわち、集塵初期は、（１）式の分子に
おけるＮＥＴ計数が急激に上昇し、且つ（１）式の分母
における集塵時間が小さい値をとることにより、結果と
して（１）式で求まるダスト放射線濃度が不必要に高い
値となっている。また、計測終了後、前述同様に、駆動
部がろ紙を移動させて新たなろ紙面をサンプリング配管
に導入することにより（時刻Ｔｃ）、次回の計測を開始
する。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら以上のよ
うな放射線計測方法では、集塵初期に検出器の出力計数
率が上昇することにより、ダスト放射線濃度が急激に上
昇して計測されるという問題がある。

【００１３】この上昇は、ダスト放射線モニタの設置場
所と測定場所の放射線濃度差に比例して大きい。これに
より、ダスト放射線の警報レベルを越える可能性があ
る。また、警報レベルを越えた際には、測定場所への入
域が制限されるばかりではなく、仮に入域できたとして
も、放射性ダストを呼吸器官から吸い込まないように、
フィルター付のマスクを着用して入域する必要がある。

【００１４】さらに、マスクを着用したままでは、作業
性が悪く、予定期間中に作業が終了しない場合がある。
本発明は上記実情を考慮してなされたもので、ダスト補
集開始時の計数上昇による計測誤差を補正し、ダスト放
射線濃度の計測の正確性を向上し得る放射線計測方法を
提供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】請求項１に対応する発明
は、ダストを含むガスをろ紙を介して吸引し、前記ろ紙
に補集されたダストから放射される放射線を計数するこ
とにより、前記ガス中のダスト放射線濃度を求める放射
線計測方法において、前記ガスを吸引する際に、前記ろ
紙の周囲を前記ガスの雰囲気で満たすと共に、前記吸引
を中断して前記雰囲気ガスの放射線を計数し、前記雰囲
気ガスの放射線の計数を終了したとき、前記吸引を再開
して前記ろ紙にダストを補集すると共に、当該補集され
たダストの放射線を計数し、このダストの放射線の計数
値から前記雰囲気ガスの放射線の計数値を減算し、この
減算結果に基づいて、前記ダスト放射線濃度を算出する
放射線計測方法である。

【００１６】

【００１７】

【００１８】

【００１９】さらに、請求項２に対応する発明は、ダス
トを含むガスをろ紙を介して吸引し、前記ろ紙に補集さ
れたダストから放射される放射線を計数し、このダスト
放射線計数値に基づいて、前記ガス中のダスト放射線濃
度を求める放射線計測方法において、前記ガス中のダス
ト放射線濃度を求める際に、前記補集の開始から前記ろ
紙に蓄積される前記ダストの放射線を計数し、この計数
結果を一定期間毎に積算して初回の積算による計数値Ｎ
１及び次回の積算による計数値Ｎ２を求め、これら初回
及び次回の計数値Ｎ１，Ｎ２を下記式に代入してバック
グラウンド計数値ＢＧを求め、このバックグラウンド計
数値ＢＧを前記ダスト放射線計数値から減算し、この減
算結果に基づいて、前記ダスト放射線濃度を算出する放
射線計測方法である。 ＢＧ＝（３Ｎ１−Ｎ２）／２

【００２０】

【作用】従って、請求項１に対応する発明は以上のよう
な手段を講じたことにより、ガスを吸引する際に、ろ紙
の周囲をガスの雰囲気で満たすと共に、吸引を中断して
雰囲気ガスの放射線を計数し、雰囲気ガスの放射線の計
数を終了したとき、吸引を再開してろ紙にダストを補集
すると共に、当該補集されたダストの放射線を計数し、
このダストの放射線の計数値から雰囲気ガスの放射線の
計数値を減算し、この減算結果に基づいて、ダスト放射
線濃度を算出するので、ダスト補集開始時の計数上昇に
よる計測誤差を補正し、ダスト放射線濃度の計測の正確
性を向上させることができる。

【００２１】

【００２２】

【００２３】

【００２４】さらに、請求項２に対応する発明は、ガス
中のダスト放射線濃度を求める際に、補集の開始からろ
紙に蓄積されるダストの放射線を計数し、この計数結果
を一定期間毎に積算して初回の積算による計数値Ｎ１及
び次回の積算による計数値Ｎ２を求め、これら初回及び
次回の計数値Ｎ１，Ｎ２を“ＢＧ＝（３Ｎ１−Ｎ２）／
２”の式に代入してバックグラウンド計数値ＢＧを求
め、このバックグラウンド計数値ＢＧをダスト放射線計
数値から減算し、この減算結果に基づいて、ダスト放射
線濃度を算出するので、バックグラウンド計数値ＢＧを
計測する時間を設けることがないために計測時間を短縮
化することができ、且つダスト補集開始時の計数上昇に
よる計測誤差を補正し、ダスト放射線濃度の計測の正確
性を向上させることができる。

【００２５】

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図１は本発明の第１の実施例に係るダスト
放射線モニタの構成を示すブロック図である。このダス
ト放射線モニタは、サンプリングガス（空気）を導入す
るサンプリング配管１が施設内の所定の測定場所に設け
られ、このサンプリング配管１がろ紙２によりサンプリ
ングガス中のダストを補集する集塵部３を介して集塵配
管４に接続され、この集塵配管４が集塵選択弁５を介し
て吸引ポンプ６に接続されている。

【００２６】また、サンプリング配管１は集塵部３より
も前段でバイパス配管７に接続され、バイパス配管７は
バイパス選択弁８を介して吸引ポンプ６に接続されてい
る。吸引ポンプ６はサンプリングガスを吸引して図示し
ないダクトに排出するものである。

【００２７】ここで、集塵部３は、予めろ紙２が巻かれ
た巻出しローラ２ａと、この巻出しローラ２ａから巻き
出されて間欠的に走行するろ紙２を集塵部３内を介して
巻き取る巻取りローラ２ｂとが夫々外部に配置されてい
る。なお、集塵部３内のろ紙２の走行方向は空気の吸引
方向に直交している。

【００２８】巻取りローラ２ｂはろ紙駆動部９により駆
動され、ろ紙駆動部９は制御装置１０に制御されてい
る。また、ろ紙２と集塵部３との境界部３ａは集塵部駆
動部１１により密閉又は開放され、集塵部駆動部１１は
制御装置１０により制御されている。

【００２９】制御装置１０は、所定の制御手順に従い、
ろ紙駆動部９、集塵部駆動部１１、集塵選択弁５及びバ
イパス選択弁８を制御するものであって、これらの制御
タイミングをデータ処理装置１２に送出する機能をもっ
ている。

【００３０】さらに、集塵部３は、ろ紙２の上方に放射
線検出器１３が配置されている。放射線検出器１３はろ
紙２の近傍の放射線を計数し、計数結果としての計数率
をデータ処理装置１２に送出するものである。

【００３１】データ処理装置１２は、制御装置１０から
受ける制御タイミング及び放射線検出器１３から受ける
計数率に基づいて、バックグラウンド計数率ＢＧ及び測
定場所の空気中におけるダスト放射線濃度を計測するも
のであって、該計測結果を表示部１４に送出する機能を
もっている。表示部１４はデータ処理装置１２から受け
る計測結果を表示するものである。

【００３２】次にこのようなダスト放射線モニタを用い
た放射線計測方法について図２のタイムチャート及び図
３の模式図を用いて説明する。いま、前回の放射線計測
が終了して、今回新たに放射線計測を開始するとする。

【００３３】制御装置１０は、図２（ｅ）に示すよう
に、集塵選択弁５を閉にし、且つバイパス選択弁８を開
にして（時刻ｔ３）、サンプリングガスをバイパス配管
７に流すようにする。

【００３４】続いて、制御装置１０は、集塵部駆動部１
１を制御して境界部３ａを開にした後、ろ紙駆動部９を
制御して巻取りローラ２ｂを駆動させて新たなろ紙２を
集塵部３に導入する。

【００３５】集塵部３では、境界部３ａが開となるた
め、図３（ｈ）及び図２（ｆ）に示すように、集塵部３
の外部から清浄な外部エア（air ）が導入されて放射線
検出器１３の出力計数率が最低状態Ｎａとなる（状態
ａ）。

【００３６】続いて、制御装置１０は、境界部３ａを閉
状態として外部エアの導入を停止し、しかる後、集塵選
択弁５を開状態にすると共に、バイパス選択弁８を閉状
態にして（時刻ｔ４）、図３（ｉ）に示すように、集塵
部３における放射線検出器１３の周囲をサンプリングガ
スの雰囲気で充満させて置換する（状態ｂ）。なお、放
射線検出器１３の周囲がサンプリングガスの雰囲気で置
換されたとき、制御装置１０は、サンプリングガス中の
ダストをろ紙２に蓄積させないため、集塵選択弁５を閉
状態とすると共に、バイパス選択弁を開状態にする（時
刻ｔ５）。

【００３７】また、放射線検出器はこのガス雰囲気の放
射線を計数し、その計数率Ｎｂをデータ処理装置に送出
する。データ処理装置はこの計数率に基づいて、図２
（ｇ）に示すように、バックグラウンド計数率ＢＧを算
出して記憶する。

【００３８】次に、制御装置は、集塵選択弁５を開状態
にすると共に、バイパス選択弁８を閉状態にし（時刻ｔ
６）、図３（ｊ）に示すように、サンプリングガス中の
ダストをろ紙２上に蓄積させる（状態ｃ）。また、放射
能検出器１３はこのダストの蓄積量に対応してダスト計
数率を所定時間毎にデータ処理装置１２に送出する。

【００３９】これにより、データ処理装置１２は、所定
時間毎に受けるダスト計数率から夫々前述したＮｂの大
きさをもつバックグラウンド計数率ＢＧを減算して正味
のダスト計数率Ｎｃを求め、集塵した単位時間の積算に
より、（１）式に示すように正味の計数値であるＮＥＴ
計数を求める。また、データ処理装置１２は、このＮＥ
Ｔ計数を（１）式の分母に示されるサンプリングガスの
体積で割算して測定場所の空気中におけるダスト放射線
濃度を計測し、この計測結果を表示装置１４に送出す
る。

【００４０】表示装置１４はこの計測結果に基づいて、
測定場所の空気中におけるダスト放射線濃度を表示す
る。これにより、今回の放射線計測が終了する。

【００４１】以下、前述同様に、次回以降の放射線計測
を実行する。上述したように第１の実施例によれば、サ
ンプリングガスを吸引する際に、状態ｂに示すようにろ
紙２の周囲をガスの雰囲気で満たすと共に、ダストをろ
紙２に蓄積させないように吸引を中断して雰囲気ガスの
放射線を計数し、雰囲気ガスの放射線の計数を終了した
とき、吸引を再開してろ紙２にダストを補集すると共
に、当該補集されたダストの放射線を計数し、このダス
トの放射線の計数値から雰囲気ガスの放射線の計数値を
減算し、この減算結果に基づいて、ダスト放射線濃度を
算出するようにしたので、ダスト補集開始時の計数上昇
による計測誤差を補正し、ダスト放射線濃度の計測の正
確性を向上させることができる。

【００４２】次に本発明の第２の実施例に係る放射線計
測方法について図４のタイムチャートを用いて説明す
る。なお、本実施例方法は、第１の実施例に比べ、バッ
クグラウンド計数率ＢＧを得るためのサンプリングガス
雰囲気による置換工程を省略した計測技術であり、具体
的には、図１と同一構成の装置において、外部エアの導
入時からろ紙２上に蓄積されるダスト放射線の計数時に
至るまでに、所定の空時間Ｔｄを設けている。

【００４３】すなわち、制御装置１０は、前述同様に、
計測開始時に、集塵選択弁５を閉にし、且つバイパス選
択弁８を開にして、サンプリングガスをバイパス配管７
に流すと共に、集塵部駆動部１１を制御して境界部３ａ
を開にした後、ろ紙駆動部９を制御してろ紙２を駆動さ
せて新たなろ紙２を集塵部３に送出することにより、集
塵部３を図３（ｈ）に示す状態ａに制御する。

【００４４】また、データ処理装置１２はこの状態ａ時
の計数率に基づいてバックグラウンド計数率ＢＧの近似
値を算出して記憶する（期間Ｔｂ）。続いて、制御装置
１０は、集塵選択弁５を開状態にすると共に、バイパス
選択弁８を閉状態にして、図３（ｊ）に示す状態ｃのよ
うに、サンプリングガス中のダストをろ紙２上に蓄積さ
せ、放射能検出器１３は、このダストの放射線に対応す
るダスト計数率を所定時間毎にデータ処理装置１２に送
出する。

【００４５】ここで、データ処理装置１２は、所定の空
時間Ｔｄが経過するまで、受けたダスト計数率を無視す
る。これにより、集塵初期に（１）式の分子におけるＮ
ＥＴ計数が急激に上昇しても、（１）式の分母における
集塵時間が所定の空時間Ｔｄよりも大きい値をとるの
で、結果として（１）式で求まるダスト放射線濃度を適
切な値とすることができる。

【００４６】なお、所定の空時間Ｔｄが経過した後、デ
ータ処理装置１２は、前述同様に、所定時間毎に受ける
ダスト計数率及び前述したバックグラウンド計数率ＢＧ
の近似値に基づいて、測定場所の空気中におけるダスト
放射線濃度を計測し、表示装置１４はこの計測結果を表
示する。

【００４７】以下、前述した通り、次回以降の放射線計
測を実行する。上述したように第２の実施例によれば、
ガス中のダスト放射線濃度を求める際に、補集の開始か
ら所定の空時間Ｔｄを経過した後に計数されたダスト放
射線計数値に基づいて、ダスト放射線濃度を算出するよ
うにしたので、当該所定の空時間Ｔｄだけのデッドタイ
ムにより、ダスト補集開始時の計数上昇による計測誤差
を補正し、ダスト放射線濃度の計測の正確性を向上させ
ることができる。

【００４８】次に、本発明の第３の実施例に係る放射線
計測方法について図５のタイムチャートを用いて説明す
る。なお、本実施例方法は、第２の実施例に対し、所定
の空き時間Ｔｄを設ける代わりに所定の計測開始計数率
Ｎｄを設け、放射線検出器１３から受けるダスト計数率
が計測開始計数率Ｎｄを越えてから該ダスト計数率に基
づいてダスト放射線濃度を算出するようにしている。

【００４９】ここで、制御装置１０は、前述同様に、集
塵部３を図３（ｈ）に示す状態ａに制御する。また、デ
ータ処理装置１２はこの状態ａの計数率に基づいてバッ
クグラウンド計数率ＢＧの近似値を算出して記憶する。

【００５０】続いて、制御装置１０は、集塵選択弁５を
開状態にすると共に、バイパス選択弁８を閉状態にし
て、図３（ｊ）に示すように、サンプリングガス中のダ
ストをろ紙２上に蓄積させ、放射能検出器１３は、この
ダストの放射線に対応するダスト計数率を所定時間毎に
データ処理装置１２に送出する。

【００５１】ここで、データ処理装置１２は、前述同様
に放射線計数率の急激な上昇による計測誤差を阻止する
ため、所定の計測開始計数率Ｎｄよりも低い値のダスト
計数率を無視する。なお、集塵初期のダスト計数率が計
測開始計数率Ｎｄを越えるためにはある程度の集塵時間
を必要とする。

【００５２】これにより、集塵初期に（１）式の分子に
おけるＮＥＴ計数が急激に上昇しても、（１）式の分母
における集塵時間が大きい値をとるので、結果として
（１）式で求まるダスト放射線濃度を適切な値とするこ
とができる。

【００５３】以下、前述同様に放射線計測を実行する。
上述したように第３の実施例によれば、ガス中のダスト
放射線濃度を求める際に、補集の開始から所定の計数値
Ｎｄを越えた後に計数されたダスト放射線計数値に基づ
いて、ダスト放射線濃度を算出するようにしたので、当
該所定の計数値Ｎｄに達するまでのデッドタイムによ
り、ダスト補集開始時の計数上昇による計測誤差を補正
し、ダスト放射線濃度の計測の正確性を向上させること
ができる。

【００５４】次に、本発明の第４の実施例に係る放射線
計測方法について図６のタイムチャートを用いて説明す
る。なお、本実施例方法は、図１と同一構成の装置にお
いて、従来とは異なり、データ処理装置１２がバックグ
ラウンド計数時に計数された元の計数率に所定の上乗せ
値ｎを加算してバックグラウンド計数率を算出してい
る。

【００５５】すなわち、この上乗せ値ｎの加算により、
ＮＥＴ計数を求める際に用いるバックグラウンド計数率
を適正な大きさの値に補正するので、集塵初期における
急激な計数率の上昇を補正し、ダスト放射線濃度を正確
に計測することができる。なお、この上乗せ値ｎは以前
の計測記録から経験的に得ることができる。

【００５６】上述したように第４の実施例によれば、バ
ックグラウンド計数値を求める処理として、バックグラ
ウンドの放射線を計数して元計数値を求め、この元計数
値に所定の上乗せ値ｎを加算する演算処理を含むように
したので、補集開始時にデッドタイムを生じることな
く、ダスト補集開始時の計数上昇による計測誤差を補正
し、ダスト放射線濃度の計測の正確性を向上させること
ができる。

【００５７】次に、本発明の第５の実施例に係る放射線
計測方法について図７のタイムチャートを用いて説明す
る。なお、本実施例方法は、図１と同一構成の装置にお
いて、従来とは異なり、バックグラウンドの計測時間を
省略し、且つ正確にダスト放射線濃度を計測する技術で
あって、具体的には、データ処理装置１２が放射線検出
器１３から送出されるダスト計測率に基づいてバックグ
ラウンド計数率を求め、且つこのバックグラウンド計数
率及び上記ダスト計数率によってダスト放射線濃度を算
出するようにしている。

【００５８】また、このデータ処理装置１２は、放射線
検出器１３から受けるダスト計数率を所定の期間毎に積
算して初回の積算による計数値Ｎ１及び次回の積算によ
る計数値Ｎ２を算出を求め、これら計数値Ｎ１，Ｎ２
を、予め記憶した“ＢＧ＝（３Ｎ１−Ｎ２）／２”の式
に代入してバックグラウンド計数値ＢＧを算出する機能
をもっている。また、データ処理装置１２は、ダスト計
数率を所定の期間積算して得る計数値Ｎからバックグラ
ウンド計数値ＢＧを減算してＮＥＴ計数を求め、このＮ
ＥＴ計数に基づいてダスト放射線濃度を算出する機能を
もっている。

【００５９】ここで、図７に示すように、データ処理装
置１２は集塵開始時から所定の期間だけダスト計数率を
積算して初回の計数値Ｎ１を求める。なお、このとき計
数値Ｎ１はａ１，ｂ１，ｃ２，ａ２，ａ１により囲まれ
る台形の面積と等価である。

【００６０】また、同様にデータ処理装置１２は、計数
値Ｎ１の積算終了後から所定の期間だけダスト計数率を
積算して次回の計数値Ｎ２を求める。なお、計数値Ｎ２
はａ２，ｃ２，ａ３，ａ２により囲まれる台形の面積と
等価である。

【００６１】ここで、次回の計数値Ｎ２から初回の計数
値Ｎ１を減算すると、次の所定期間に蓄積した計数値
（Ｎ２−Ｎ１）が求まる。この計数値（Ｎ２−Ｎ１）は
ｂ２，ｃ２，ｄ３，ｃ３，ｂ２で囲まれる平行四辺形の
面積と等価である。

【００６２】続いて、簡単な幾何学的な考察により、こ
の計数値（Ｎ２−Ｎ１）を２分割すると、初回の所定期
間に蓄積した計数値｛（Ｎ２−Ｎ１）／２｝が求まる。
なお、この初回の所定期間に蓄積した計数値｛（Ｎ２−
Ｎ１）／２｝は、ｂ１，ｃ２，ｂ２，ｂ１で囲まれる三
角形の面積と等価である。

【００６３】従って、初回の所定期間の計数値Ｎ１から
初回の所定期間に蓄積した計数値｛（Ｎ２−Ｎ１）／
２｝を減算すると、所定期間におけるバックグラウンド
計数値ＢＧを得ることができる。

【００６４】すなわち、データ処理装置１２は、次に示
す（２）式により、バックグラウンド計数値ＢＧを算出
する。 ＢＧ＝Ｎ１−（Ｎ２−Ｎ１）／２ ＝（３Ｎ１−Ｎ２）／２ …（２） 以下、前述したように、データ処理装置１２は、ダスト
計数率を所定の期間積算して得る計数値Ｎからバックグ
ラウンド計数値ＢＧを減算してＮＥＴ計数を求め、この
ＮＥＴ計数に基づいてダスト放射線濃度を算出する。

【００６５】上述したように第５の実施例によれば、ガ
ス中のダスト放射線濃度を求める際に、補集の開始から
ろ紙２に蓄積されるダストの放射線を計数し、この計数
結果を一定期間毎に積算して初回の積算による計数値Ｎ
１及び次回の積算による計数値Ｎ２を求め、これら初回
及び次回の計数値Ｎ１，Ｎ２を“ＢＧ＝（３Ｎ１−Ｎ
２）／２”の式に代入してバックグラウンド計数値ＢＧ
を求め、このバックグラウンド計数値ＢＧをダスト放射
線計数値から減算し、この減算結果に基づいて、ダスト
放射線濃度を算出するようにしたので、バックグラウン
ド計数値ＢＧを計測する時間を設けることがないために
計測時間を短縮化することができ、且つダスト補集開始
時の計数上昇による計測誤差を補正し、ダスト放射線濃
度の計測の正確性を向上させることができる。

【００６６】なお、上記第１の実施例では、集塵部３を
図３（ｉ）に示す状態ｂにした後、サンプリングガス中
のダストをろ紙２に蓄積させないため、集塵選択弁５を
閉状態とすると共に、バイパス選択弁を開状態にした場
合について説明したが、これに限らず、状態ｂにした
後、吸引ポンプ６を停止させてダストのろ紙２への蓄積
を阻止するようにしても、本発明を同様に実施して同様
の効果を得ることができる。その他、本発明はその要旨
を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。

【００６７】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ダ
スト補集開始時の計数上昇による計測誤差を補正し、ダ
スト放射線濃度の計測の正確性を向上できる放射線計測
方法を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例に係るダスト放射線モニ
タの構成を示すブロック図。

【図２】同実施例における動作を説明するためのタイム
チャート。

【図３】同実施例における動作を説明するための模式
図。

【図４】本発明の第２の実施例に係る放射線計測方法を
説明するためのタイムチャート。

【図５】本発明の第３の実施例に係る放射線計測方法を
説明するためのタイムチャート。

【図６】本発明の第４の実施例に係る放射線計測方法を
説明するためのタイムチャート。

【図７】本発明の第５の実施例に係る放射線計測方法を
説明するためのタイムチャート。

【図８】従来のダスト放射線モニタの動作を示すタイム
チャート。

【符号の説明】

１…サンプリング配管、２…ろ紙、２ａ…巻出しロー
ラ、２ｂ…巻取りローラ、３…集塵部、３ａ…境界部、
４…集塵配管、５…集塵選択弁、６…吸引ポンプ、７…
バイパス配管、８…バイパス選択弁、９…ろ紙駆動部、
１０…制御装置、１１…集塵部駆動部、１２…データ処
理装置、１３…放射線検出器、１４…表示部。

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ダストを含むガスをろ紙を介して吸引
   し、前記ろ紙に補集されたダストから放射される放射線
   を計数することにより、前記ガス中のダスト放射線濃度
   を求める放射線計測方法において、 前記ガスを吸引する際に、 前記ろ紙の周囲を前記ガスの雰囲気で満たすと共に、前
   記吸引を中断して前記雰囲気ガスの放射線を計数し、 前記雰囲気ガスの放射線の計数を終了したとき、前記吸
   引を再開して前記ろ紙にダストを補集すると共に、当該
   補集されたダストの放射線を計数し、 このダストの放射線の計数値から前記雰囲気ガスの放射
   線の計数値を減算し、 この減算結果に基づいて、前記ダスト放射線濃度を算出
   することを特徴とする放射線計測方法。
2. 【請求項２】 ダストを含むガスをろ紙を介して吸引
   し、前記ろ紙に補集されたダストから放射される放射線
   を計数し、このダスト放射線計数値に基づいて、前記ガ
   ス中のダスト放射線濃度を求める放射線計測方法におい
   て、 前記ガス中のダスト放射線濃度を求める際に、 前記補集の開始から前記ろ紙に蓄積される前記ダストの
   放射線を計数し、 この計数結果を一定期間毎に積算して初回の積算による
   計数値Ｎ１及び次回の積算による計数値Ｎ２を求め、 これら初回及び次回の計数値Ｎ１，Ｎ２を下記式に代入
   してバックグラウンド計数値ＢＧを求め、 このバックグラウンド計数値ＢＧを前記ダスト放射線計
   数値から減算し、 この減算結果に基づいて、前記ダスト放射線濃度を算出
   することを特徴とする放射線計測方法。 ＢＧ＝（３Ｎ１−Ｎ２）／２