JP3327189B2 - Method for manufacturing multilayer wiring TAB tape - Google Patents

Method for manufacturing multilayer wiring TAB tape

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ワイヤレスボンデ
ィングの一種であるTAB(tape automated bondinng)
方式に使用されるTABテープに係り、特に多層にわた
って配線が形成された多層配線TABテープの製造方法
に関するものである。
The present invention relates to a TAB (tape automated bondinng) which is a kind of wireless bonding.
The present invention relates to a TAB tape used in a system, and more particularly to a method for manufacturing a multilayer wiring TAB tape in which wiring is formed over multiple layers.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のTABテープは、1層の配線パタ
ーンが形成されたものが一般的であるが、最近2メタル
TABテープと呼ばれる両面に配線パターンを設けた2
層配線TABテープが現れてきた。2メタルTABテー
プとする目的は高速伝送性を向上させるためである。例
えばICチップから他の部品(デバイス)までの配線が
短いほど伝送速度は高速になるので、両面に配線を設け
て部品同士を電気的に接続することができるようにした
ものである。
2. Description of the Related Art A conventional TAB tape generally has a one-layer wiring pattern formed thereon. Recently, a two-metal TAB tape has a wiring pattern provided on both sides.
A layer wiring TAB tape has appeared. The purpose of the two-metal TAB tape is to improve high-speed transmission. For example, the shorter the wiring from the IC chip to other components (devices), the higher the transmission speed. Therefore, wiring is provided on both surfaces to enable the components to be electrically connected to each other.

【0003】2メタルTABテープの一例を図5に示
す。図5に示すものはポリイミドフィルム1の両面に積
層した銅箔をフォトエッチングして形成された配線パタ
ーン2,3が形成されている。図5(a)に示すもので
は配線パターン2,3間の導通はスルーホールで行われ
ており、ポリイミドフィルム1に形成されたスルーホー
ル1a内に施された銅メッキ層4により両面の配線パタ
ーン2,3間を導通している。図5(b)に示すもので
は配線パターン2,3間の導通はビィアホールで行われ
ており、ポリイミドフィルム1にビィアホール1b内に
施された銅メッキ層5により両面の配線パターン2,3
間を導通している。
FIG. 5 shows an example of a two-metal TAB tape. In FIG. 5, wiring patterns 2 and 3 are formed by photo-etching a copper foil laminated on both sides of a polyimide film 1. In FIG. 5A, conduction between the wiring patterns 2 and 3 is performed by through holes, and the copper plating layers 4 provided in the through holes 1a formed in the polyimide film 1 form wiring patterns on both surfaces. There is electrical conduction between the two and three. In FIG. 5B, conduction between the wiring patterns 2 and 3 is performed by via holes, and the copper plating layer 5 provided in the via holes 1b on the polyimide film 1 causes the wiring patterns 2 and 3 on both surfaces to pass.
There is conduction between them.

【0004】ビィアホールが形成された多層配線TAB
テープを製造する方法としては、以下に示すようなもの
が考えられる。なお、スルーホールが形成されたものも
同様な方法で製造することができる。
[0004] Multi-layer wiring TAB with via holes formed
As a method of manufacturing the tape, the following method can be considered. Incidentally, the one in which the through hole is formed can be manufactured by the same method.

【0005】まず、ポリイミドフィルムの両面に銅箔が
積層されたポリイミド両面銅張りテープにスプロケット
ホールをプレス等により打ち抜く。このポリイミド両面
銅張りテープの片面にフォトレジストを塗布または積層
し、露光、現像、裏止め、エッチング、フォトレジスト
の剥膜を行うことにより、銅箔に孔を開ける。レーザ光
線照射またはケミカルエッチングによりポリイミドフィ
ルムに孔を形成する。次に、孔が形成された面に銅メッ
キを施し、この銅メッキ層の表面にフォトレジストを塗
布または積層し、露光、現像、裏止め、エッチング、フ
ォトレジストの剥膜を行うことにより、2層目の配線パ
ターンを形成する。
First, a sprocket hole is punched out of a polyimide double-sided copper-clad tape in which copper foil is laminated on both sides of a polyimide film by a press or the like. A photoresist is applied or laminated on one side of the polyimide double-sided copper-clad tape, and holes are made in the copper foil by performing exposure, development, backing, etching, and stripping of the photoresist. A hole is formed in the polyimide film by laser beam irradiation or chemical etching. Next, copper plating is applied to the surface on which the holes are formed, a photoresist is applied or laminated on the surface of the copper plating layer, and exposure, development, backing, etching, and photoresist stripping are performed. The wiring pattern of the layer is formed.

【0006】次に、片面に銅箔が他方の面に接着剤が積
層された片面銅箔ポリイミドフィルムを2層目の配線パ
ターン上に接着剤により接着する。接着剤が硬化した
ら、ビヤホール側にフォトレジストを塗布または積層
し、露光、現像、裏止め、エッチング、フォトレジスト
の剥膜を行うことにより、銅箔に孔を開ける。この孔の
部分のポリイミドフィルムにレーザ光線照射またはケミ
カルエッチングにより孔を形成する。孔が形成された面
に銅メッキを施し、この銅メッキ層の表面にフォトレジ
ストを塗布または積層し、露光、現像、裏止め、エッチ
ング、フォトレジストの剥膜を行うことにより、デバイ
スホール部に相当する部分の銅をエッチングにより除去
する。さらに、この部分にレーザ光線照射またはケミカ
ルエッチングを行うことによりポリイミドフィルムを除
去してデバイスホール部を形成する。ビヤホール側にフ
ォトレジストを塗布または積層して、露光、現像、裏止
め、エッチング、フォトレジストの剥膜を行うことによ
り、3層目の配線パターンを形成する。
Next, a single-sided copper foil polyimide film in which a copper foil is laminated on one side and an adhesive is laminated on the other side is adhered to the second-layer wiring pattern with an adhesive. When the adhesive is cured, a photoresist is applied or laminated on the via hole side, and exposure, development, backing, etching, and removal of the photoresist are performed to form holes in the copper foil. A hole is formed in the polyimide film at the hole by laser beam irradiation or chemical etching. Copper plating is applied to the surface where the holes are formed, photoresist is applied or laminated on the surface of this copper plating layer, and exposure, development, backing, etching, and photoresist stripping are performed, so that the device holes are removed. Corresponding portions of copper are removed by etching. Further, the polyimide film is removed by performing laser beam irradiation or chemical etching on this portion to form a device hole. A third layer wiring pattern is formed by applying or laminating a photoresist on the via hole side, exposing, developing, backing, etching, and removing the photoresist.

【0007】最後に反対側の銅箔面にフォトレジストを
塗布または積層して、露光、現像、裏止め、エッチン
グ、フォトレジストの剥膜を行うことにより、1層目の
配線パターンを形成する。以上のような工程を経て3層
構造の3層配線TABテープの製造が完了する。
[0007] Finally, a photoresist is applied or laminated on the copper foil surface on the opposite side, and exposure, development, backing, etching, and removal of the photoresist are performed to form a first-layer wiring pattern. Through the steps described above, the manufacture of the three-layer wiring TAB tape having the three-layer structure is completed.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た3層配線TABテープの製造方法では、2層目の配線
パターンを形成した後に、片面銅箔ポリイミドフィルム
を接着剤により接着することが安定してできないといっ
た問題があり、銅箔を張り合わせたポリイミドフィルム
同士を積層する場合にも層間に気泡が巻き込まれたり、
部分的な剥離が生じたりするので、層間の接着の信頼性
を確保することができないといった問題が生じ、このよ
うな3層配線TABテープの製造は、未だ実用化、商業
化には至ってはいないのが現状である。
However, in the above-described method for manufacturing a three-layer wiring TAB tape, it is possible to stably bond a single-sided copper foil polyimide film with an adhesive after forming a second-layer wiring pattern. There is a problem that it is not possible, even when laminating polyimide films laminated copper foil, bubbles are caught between layers,
There is a problem that the reliability of adhesion between layers cannot be ensured due to partial peeling or the like, and the production of such a three-layer wiring TAB tape has not yet been put to practical use or commercialization. is the current situation.

【0009】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、信頼性が高く高速伝送性のよい多層配線TABテー
プを製造することができる多層配線TABテープ製造方
法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a multilayer wiring TAB tape capable of manufacturing a multilayer wiring TAB tape having high reliability and good high-speed transmission. .

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の多層配線TAB
テープの製造方法は、導電性箔体に第1の未硬化樹脂層
を積層し、導通部分に対応する第1の未硬化樹脂層を除
去し、前記第1の未硬化樹脂層を硬化させて第1中間薄
膜体を製造し、この第1中間薄膜体の少なくとも硬化し
た樹脂層側の表面に導電性層を積層し、少なくとも硬化
した樹脂層側に形成された導電性層をフォトエッチング
して配線パターンを形成し、少なくとも硬化した樹脂層
側の導電性層の表面に第2の未硬化樹脂層を積層し、導
通部分に対応する第2の未硬化樹脂層を除去し、第2の
未硬化樹脂層を硬化させて第2の中間薄膜体を製造し、
前記第2の中間薄膜体の少なくとも硬化した樹脂層側の
表面に導電性層を積層させ、当該導電性層及び前記導電
性箔体の少なくとも一方にフォトエッチングにより配線
パターンを形成することを特徴とする。
In order to achieve the object of the present onset Akira of the multi-layer wiring TAB
The method of manufacturing a tape includes laminating a first uncured resin layer on a conductive foil body, removing the first uncured resin layer corresponding to a conductive portion, and curing the first uncured resin layer. A first intermediate thin film body is manufactured, a conductive layer is laminated on at least the surface of the first intermediate thin film body on the cured resin layer side, and the conductive layer formed on at least the cured resin layer side is photo-etched. Forming a wiring pattern, laminating a second uncured resin layer on at least the surface of the cured conductive layer on the resin layer side, removing the second uncured resin layer corresponding to the conductive portion, and removing the second uncured resin layer; Curing the cured resin layer to produce a second intermediate thin film,
A conductive layer is laminated on at least the cured resin layer side surface of the second intermediate thin film body, and a wiring pattern is formed on at least one of the conductive layer and the conductive foil body by photoetching. I do.

【0012】上記製造方法により得られた多層配線TA
Bテープの表面に形成された配線パターン上に未硬化樹
脂層を積層してから、導通部分に対応する未硬化樹脂層
を除去し、前記未硬化樹脂層を硬化させて中間薄膜体を
製造し、この中間薄膜体の少なくとも硬化した樹脂層の
表面に導電性層を積層させ、前記導電性層及び導電性箔
体の少なくとも一方にフォトエッチングにより配線パタ
ーンを形成するまでの一連の工程を少なくとも1回以上
付加するようにしてもよい。
The multilayer wiring TA obtained by the above manufacturing method
After laminating the uncured resin layer on the wiring pattern formed on the surface of the B tape, the uncured resin layer corresponding to the conductive portion is removed, and the uncured resin layer is cured to produce an intermediate thin film body. A series of steps of laminating a conductive layer on at least the surface of the cured resin layer of the intermediate thin film body and forming a wiring pattern on at least one of the conductive layer and the conductive foil body by photoetching. It may be added more than once.

【0013】さらに、前記未硬化樹脂層を除去してデバ
イスホールに相当する凹所を形成する工程を付加しても
よい。前記凹所に対応する未硬化樹脂層の除去をレーザ
ー光線により行うようにしてもよい。また、前記凹所に
対応する未硬化樹脂層の除去を未硬化樹脂を溶解する薬
剤により行うようにしてもよい。
Further, a step of removing the uncured resin layer to form a recess corresponding to a device hole may be added. The removal of the uncured resin layer corresponding to the recess may be performed by a laser beam. Further, the removal of the uncured resin layer corresponding to the recess may be performed by a chemical that dissolves the uncured resin.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の一形態にか
かる多層配線TABテープの製造方法について添付図面
に基づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a method for manufacturing a multilayer wiring TAB tape according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

【0015】まず、図1(a)に示すようなフィルム状
の銅箔10の片面にフィルム状の未硬化樹脂層11をド
ライフィルムラミネータを用いて積層(ラミネート)し
て図1(b)のような状態とした。銅箔10としては幅
が70mmで厚さが25μmの電解銅箔を使用した。未
硬化樹脂層11は、感光性未硬化樹脂層11bと非感光
性未硬化樹脂層11aとから構成され、図4に示すよう
に感光性未硬化樹脂層11bと非感光性未硬化樹脂層1
1aとの両面に保護フィルム12で被覆した状態で市販
されているものを使用した。未硬化樹脂層11は幅が7
0mmで厚さが35μmのものを使用した。
First, a film-like uncured resin layer 11 is laminated (laminated) on one side of a film-like copper foil 10 as shown in FIG. 1A using a dry film laminator. It was in such a state. As the copper foil 10, an electrolytic copper foil having a width of 70 mm and a thickness of 25 μm was used. The uncured resin layer 11 includes a photosensitive uncured resin layer 11b and a non-photosensitive uncured resin layer 11a, and as shown in FIG.
A commercially available product in which both sides of 1a were covered with the protective film 12 was used. The width of the uncured resin layer 11 is 7
One having a thickness of 0 mm and a thickness of 35 μm was used.

【0016】感光性未硬化樹脂としてはポリイミド系樹
脂及びエポキシ系樹脂がある。ポリイミド系樹脂にはフ
ィルム状で積層して使用するタイプと、液状でコーティ
ングして使用するタイプの2種類がある。エポキシ系樹
脂は通常液状でコーティングして使用される。
The photosensitive uncured resin includes a polyimide resin and an epoxy resin. There are two types of polyimide resins, a type used by laminating in a film form and a type used by coating in a liquid form. The epoxy resin is usually used in a liquid state after being coated.

【0017】次に、このような積層フィルム体にスプロ
ケットホールをプレス等により打ち抜いて形成した。
Next, a sprocket hole was punched out of such a laminated film by a press or the like.

【0018】次にビィアホールを形成する。すなわち、
感光性未硬化樹脂層11bに向けて光を照射して露光し
た後、現像して図1(c)のように感光性未硬化樹脂層
11bに孔13を形成する。現像液は0.5%乳酸水溶
液を用いた。次に、孔13から露出した非感光性未硬化
樹脂層11aをエッチングして図1(d)に示すように
孔14を形成した。エッチング液は10%水酸化ナトリ
ウム水溶液を用いた。さらに、図1(e)に示すように
感光性未硬化樹脂層11bを除去する。除去液は10%
乳酸水溶液を用いた。この後270℃で熱処理を施し、
非感光性未硬化樹脂層11aの硬化を行った。硬化した
樹脂層を符号11A表現して未硬化の樹脂層11aと区
別する。
Next, a via hole is formed. That is,
After irradiating the photosensitive uncured resin layer 11b with light and exposing it to light, it is developed to form holes 13 in the photosensitive uncured resin layer 11b as shown in FIG. As a developing solution, a 0.5% lactic acid aqueous solution was used. Next, the non-photosensitive uncured resin layer 11a exposed from the hole 13 was etched to form a hole 14 as shown in FIG. As an etching solution, a 10% aqueous sodium hydroxide solution was used. Further, as shown in FIG. 1E, the photosensitive uncured resin layer 11b is removed. 10% removal solution
A lactic acid aqueous solution was used. After that, heat treatment is performed at 270 ° C.
The non-photosensitive uncured resin layer 11a was cured. The cured resin layer is represented by reference numeral 11A to distinguish it from the uncured resin layer 11a.

【0019】次に、導通化処理を行った後、硫酸銅水溶
液を用いて電気メッキを行い、図1(f)に示すように
銅メッキ層15を形成した。この銅メッキ層15の表面
にフォトレジストを塗布または積層し、露光、現像、裏
止め、エッチング、フォトレジストの剥膜を行うことに
より、図1(g)に示すように2層目の配線パターン1
5aを形成する。銅メッキ層15のエッチングはドライ
フィルムを用いたフォトエッチングにより行った。
Next, after conducting the treatment, electroplating was carried out using an aqueous solution of copper sulfate to form a copper plating layer 15 as shown in FIG. 1 (f). By applying or laminating a photoresist on the surface of the copper plating layer 15 and performing exposure, development, backing, etching, and stripping of the photoresist, the wiring pattern of the second layer is formed as shown in FIG. 1
5a is formed. The etching of the copper plating layer 15 was performed by photoetching using a dry film.

【0020】次に、図2(h)に示すように、孔14を
プライマー16で埋め、未硬化樹脂層21を積層した。
未硬化樹脂層21の幅は60mmで厚さが35μmのも
のを使用した。未硬化樹脂層21は、感光性未硬化樹脂
層21bと非感光性未硬化樹脂層21aとから構成さ
れ、上記と同様に感光性未硬化樹脂層21bと非感光性
未硬化樹脂層21aとの両面に保護フィルムで被覆した
状態で市販されているものを使用した。
Next, as shown in FIG. 2H, the holes 14 were filled with a primer 16, and an uncured resin layer 21 was laminated.
The width of the uncured resin layer 21 was 60 mm and the thickness was 35 μm. The uncured resin layer 21 is composed of a photosensitive uncured resin layer 21b and a non-photosensitive uncured resin layer 21a. The uncured resin layer 21b and the non-photosensitive uncured resin layer 21a are formed as described above. A commercially available product coated on both sides with a protective film was used.

【0021】次にビィアホールを形成した。すなわち、
感光性未硬化樹脂21bに向けて光を照射して露光した
後、現像して図2(i)のように感光性未硬化樹脂層2
1bに孔23を形成した。現像液は0.5%乳酸水溶液
を用いた。次に、孔23から露出した非感光性未硬化樹
脂層21aをエッチングして図2(j)に示すように孔
24を形成した。エッチング液は10%水酸化ナトリウ
ム水溶液を用いた。
Next, via holes were formed. That is,
After irradiating the photosensitive uncured resin 21b with light and exposing it to light, the photosensitive uncured resin 21b is developed and developed as shown in FIG.
A hole 23 was formed in 1b. As a developing solution, a 0.5% lactic acid aqueous solution was used. Next, the non-photosensitive uncured resin layer 21a exposed from the hole 23 was etched to form a hole 24 as shown in FIG. As an etching solution, a 10% aqueous sodium hydroxide solution was used.

【0022】さらに、図2(k)に示すように感光性未
硬化樹脂層21bを除去する。除去液は10%乳酸水溶
液を用いた。この後270℃で熱処理を施し、非感光性
未硬化樹脂層21aを硬化させる。硬化した樹脂層を符
号21A表現して未硬化の樹脂層21aと区別する。
Further, as shown in FIG. 2K, the photosensitive uncured resin layer 21b is removed. A 10% aqueous lactic acid solution was used as the removing solution. Thereafter, a heat treatment is performed at 270 ° C. to cure the non-photosensitive uncured resin layer 21a. The cured resin layer is represented by reference numeral 21A to distinguish it from the uncured resin layer 21a.

【0023】次に、導通化処理を行った後、硫酸銅水溶
液を用いて電気メッキを行い、図2(l)に示すように
銅メッキ層25を形成した。この銅メッキ層25の表面
にフォトレジストを塗布または積層し、露光、現像、裏
止め、エッチング、フォトレジストの剥膜を行うことに
より、図2(m)に示すように、銅メッキ層25の一部
分を除去して硬化した樹脂層21Aの露出部分25aを
形成した。この露出部分25aは、図3(n)に示すデ
バイスホール11c,21c(本発明の凹所に相当す
る。)に対応する部分に形成される。
Next, after conducting, a copper plating layer 25 was formed by electroplating using an aqueous solution of copper sulfate, as shown in FIG. By applying or laminating a photoresist on the surface of the copper plating layer 25 and performing exposure, development, backing, etching, and stripping of the photoresist, as shown in FIG. An exposed portion 25a of the cured resin layer 21A was formed by removing a part thereof. The exposed portion 25a is formed in a portion corresponding to the device holes 11c and 21c (corresponding to the recess of the present invention) shown in FIG.

【0024】次に、銅メッキ層25に形成された硬化し
た樹脂層21Aの露出部分25aにレーザー光線を照射
して硬化樹脂を分解して除去し、更に分解残渣を過マン
ガン酸カリウムと水酸化ナトリウムを溶解した水溶液で
除去して、図3(n)に示すようにデバイスホール孔1
1c,21cを形成した。
Next, the exposed portion 25a of the cured resin layer 21A formed on the copper plating layer 25 is irradiated with a laser beam to decompose and remove the cured resin, and the decomposition residue is further removed with potassium permanganate and sodium hydroxide. Is removed with an aqueous solution in which the device hole 1 is removed as shown in FIG.
1c and 21c were formed.

【0025】次に、銅メッキ層25にエッチングを施し
て3層目の配線パターン25bを形成した。このエッチ
ングはドライフィルム26を用いたフォトエッチングに
より行った。
Next, the copper plating layer 25 was etched to form a third wiring pattern 25b. This etching was performed by photoetching using the dry film 26.

【0026】すなわち、図3(o)に示すように銅メッ
キ層25の表面にフォトレジストとしてのドライフィル
ム26を張り合わせる。次に、図3(p)に示すように
ドライフィルム26の露光、現像し、銅メッキ層25に
露出面25cし、裏止めとして銅箔10の表面にレジス
ト27を塗布した。塩化鉄で銅メッキ層25をエッチン
グし、レジスト27の剥膜を行うことにより、図3
(q)に示すように3層目の配線パターン25aを形成
した。
That is, as shown in FIG. 3 (o), a dry film 26 as a photoresist is laminated on the surface of the copper plating layer 25. Next, as shown in FIG. 3 (p), the dry film 26 was exposed and developed, the exposed surface 25c was formed on the copper plating layer 25, and a resist 27 was applied to the surface of the copper foil 10 as a backing. By etching the copper plating layer 25 with iron chloride and stripping the resist 27, FIG.
As shown in (q), a third-layer wiring pattern 25a was formed.

【0027】次に、銅箔10の表面に液状のフォトレジ
ストを塗布し、露光、現像、裏止め、エッチング、フォ
トレジストの剥膜を行うことにより、図3(r)に示す
ように1層目の配線パターン10aを形成した。デバイ
スホール11c,21cに対応する銅箔10には貫通孔
10bを形成した。
Next, a liquid photoresist is applied to the surface of the copper foil 10 and is exposed, developed, backed, etched, and stripped of the photoresist, thereby forming one layer as shown in FIG. An eye wiring pattern 10a was formed. A through hole 10b was formed in the copper foil 10 corresponding to the device holes 11c and 21c.

【0028】上記工程におけるフォトレジストの露光マ
スクの孔径は150μmとしてある。形成された孔の仕
上がり孔径は接続側で100〜120μm、露出側で1
40〜160μmであり、露出側に広がる裁頭状の孔と
なっている。また、銅メッキ層15,25の厚さは10
〜20μmの範囲であった。
The hole diameter of the photoresist exposure mask in the above process is 150 μm. The finished hole diameter of the formed hole is 100 to 120 μm on the connection side and 1 on the exposed side.
It is 40 to 160 μm, and is a truncated hole extending to the exposed side. The thickness of the copper plating layers 15 and 25 is 10
〜20 μm.

【0029】以上の各工程により3層配線TABテープ
が製造されるのであるが、後工程においてソルダーレジ
ストの塗布、メッキ等の工程を更に付加する必要がある
場合があるが、これらについては周知技術を適用するこ
とができる。
The three-layer wiring TAB tape is manufactured by the above-described steps. In the subsequent steps, it may be necessary to further add a step such as application and plating of a solder resist. Can be applied.

【0030】次に、かかる実施の一形態にかかる多層配
線TABテープの製造方法の作用について説明する。
Next, the operation of the method for manufacturing a multilayer wiring TAB tape according to the embodiment will be described.

【0031】本実施の一形態の3層配線TABテープで
は未硬化樹脂層11及び21を塗布または積層するよう
にしているので、当該未硬化樹脂層11及び21の塗布
または積層を安定して行うことができる。さらに、未硬
化樹脂層11及び21と被積層層との間に気泡が巻き込
まれることを無くすことができる。これにより層間の密
着性を高めることができ、層間剥離等の欠陥が生じにく
い。したがって、本実施の形態により製造された3層配
線TABテープは高い信頼性を有するものである。多層
の配線パターンとを最短距離で電気的に接続するといっ
た機能はなんら失っていないので高い高速伝送性を具備
することはいうまでもない。
In the three-layer wiring TAB tape according to the present embodiment, the uncured resin layers 11 and 21 are applied or laminated, so that the uncured resin layers 11 and 21 are applied or laminated stably. be able to. Further, it is possible to prevent bubbles from being caught between the uncured resin layers 11 and 21 and the layer to be laminated. Thereby, the adhesion between the layers can be enhanced, and defects such as delamination are less likely to occur. Therefore, the three-layer wiring TAB tape manufactured according to the present embodiment has high reliability. Since the function of electrically connecting the multilayer wiring pattern with the shortest distance is not lost, it is needless to say that high-speed transmission is provided.

【0032】なお、図1(a)〜(f)の工程から図2
(m)以降の工程に進めば、2層配線TABテープを製
造することができる。この方法によりTABテープを実
際に製造してみたが、上記3層配線TABテープと同様
に製造することができ、同様な品質を有していた。
It should be noted that the steps shown in FIGS.
(M) By proceeding to the subsequent steps, a two-layer wiring TAB tape can be manufactured. When a TAB tape was actually manufactured by this method, it could be manufactured in the same manner as the three-layer wiring TAB tape, and had the same quality.

【0033】なお、上記実施の形態ではビィアホールに
より配線パターンを導通するTABテープを例に説明し
たが、スルーホールでも3層以上では必ずビィアホール
との組み合わせになるので説明を省略したものであり、
スルーホールにより導通を図る多層配線TABテープに
も適用することができる。
In the above-described embodiment, a TAB tape in which a wiring pattern is electrically connected by a via hole has been described as an example. However, since a through hole is always combined with a via hole in three or more layers, the description is omitted.
The present invention can also be applied to a multi-layer wiring TAB tape that conducts through a through hole.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の多層配線
TABテープの製造方法では、信頼性が高く高速伝送性
のよい多層配線TABテープを製造することができる。
As described above, according to the method for manufacturing a multilayer wiring TAB tape of the present invention, a multilayer wiring TAB tape having high reliability and good high-speed transmission can be manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の一形態の多層配線TABテープ
の製造方法の工程を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing steps of a method for manufacturing a multilayer wiring TAB tape according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の一形態の多層配線TABテープ
の製造方法の工程を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing steps of a method for manufacturing a multilayer wiring TAB tape according to one embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の一形態の多層配線TABテープ
の製造方法の工程を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing steps of a method for manufacturing a multilayer wiring TAB tape according to one embodiment of the present invention.

【図4】図1〜図3に示す製造方法で使用した未硬化樹
脂層の形態を示す図である。
FIG. 4 is a view showing a form of an uncured resin layer used in the manufacturing method shown in FIGS.

【図5】従来のTABテープの構造を示す図である。FIG. 5 is a view showing the structure of a conventional TAB tape.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 銅箔 10a 1層目の配線パターン 10b 孔 11 未硬化樹脂層 11a 非感光性未硬化樹脂層 11A 硬化後の樹脂層 11b 感光性未硬化樹脂層 11c デバイスホール(凹所) 14 孔 15 銅メッキ層 15a 2層目の配線パターン 21 未硬化樹脂層 21a 非感光性未硬化樹脂層 21A 硬化後の樹脂層 21b 感光性未硬化樹脂層 21c デバイスホール(凹所) 24 孔 25 銅メッキ層 25a デバイスホールに対応した露出部分 25b 3層目の配線パターン DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Copper foil 10a 1st wiring pattern 10b hole 11 Uncured resin layer 11a Non-photosensitive uncured resin layer 11A Cured resin layer 11b Photosensitive uncured resin layer 11c Device hole (concave) 14 hole 15 Copper plating Layer 15a Second-layer wiring pattern 21 Uncured resin layer 21a Non-photosensitive uncured resin layer 21A Cured resin layer 21b Photosensitive uncured resin layer 21c Device hole (concave) 24 hole 25 Copper plating layer 25a Device hole 25b Third layer wiring pattern

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 Continuation of front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/60

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 導電性箔体に第1の未硬化樹脂層を積層
し、導通部分に対応する第1の未硬化樹脂層を除去し、
前記第1の未硬化樹脂層を硬化させて第1中間薄膜体を
製造し、この第1中間薄膜体の少なくとも硬化した樹脂
層側の表面に導電性層を積層し、少なくとも硬化した樹
脂層側に形成された導電性層をフォトエッチングして配
線パターンを形成し、少なくとも硬化した樹脂層側の導
電性層の表面に第2の未硬化樹脂層を積層し、導通部分
に対応する第2の未硬化樹脂層を除去し、第2の未硬化
樹脂層を硬化させて第2の中間薄膜体を製造し、前記第
2の中間薄膜体の少なくとも硬化した樹脂層側の表面に
導電性層を積層させ、当該導電性層及び前記導電性箔体
の少なくとも一方にフォトエッチングにより配線パター
ンを形成することを特徴とする多層配線TABテープの
製造方法。
1. A lamination of a first uncured resin layer on a conductive foil body
And removing the first uncured resin layer corresponding to the conductive portion,
Curing the first uncured resin layer to form a first intermediate thin film body
Manufactured and at least a cured resin of the first intermediate thin film body
A conductive layer is laminated on the layer side surface, and at least
Photo-etching the conductive layer formed on the oil layer side
A line pattern is formed and at least the conductive layer on the cured resin layer side is
Laminating a second uncured resin layer on the surface of the conductive layer,
And removing the second uncured resin layer corresponding to
Curing the resin layer to produce a second intermediate thin film,
At least the surface of the intermediate thin film body on the cured resin layer side
Stacking a conductive layer, the conductive layer and the conductive foil body
Wiring pattern by photo-etching on at least one of
Of a multi-layer wiring TAB tape characterized by forming
Production method.
【請求項2】 請求項1に記載の製造方法により得られ
た多層配線TABテープの表面に形成された配線パター
ン上に未硬化樹脂層を積層してから、導通部分に対応す
る未硬化樹脂層を除去し、前記未硬化樹脂層を硬化させ
て中間薄膜体を製造し、この中間薄膜体の少なくとも硬
化した樹脂層の表面に導電性層を積層させ、前記導電性
層及び導電性箔体の少なくとも一方にフォトエッチング
により配線パターンを形成するまでの1連の工程を少な
くとも1回以上付加した多層配線TABテープの製造方
法。
2. The method according to claim 1, which is obtained by:
Pattern formed on the surface of a multi-layered wiring TAB tape
After laminating an uncured resin layer on the
Removing the uncured resin layer, and curing the uncured resin layer
To produce an intermediate thin film, and at least harden the intermediate thin film.
A conductive layer is laminated on the surface of the
Photo-etching at least one of layer and conductive foil
Reduces the number of steps required to form a wiring pattern
How to manufacture a multilayer wiring TAB tape with at least one addition
Law.
【請求項3】 前記未硬化樹脂層を除去してデバイスホ
ールに相当する凹所を形成する工程を付加した請求項1
または2のいずれかに記載の多層配線TABテープの製
造方法。
3. A device housing wherein the uncured resin layer is removed.
2. A step of forming a recess corresponding to the tool.
Or the production of the multilayer wiring TAB tape according to any one of
Construction method.
【請求項4】 前記凹所に対応する未硬化樹脂層の除去
をレーザー光線により行う請求項3に記載の多層配線T
ABテープの製造方法。
4. Removal of an uncured resin layer corresponding to the recess.
4. The multilayer wiring T according to claim 3, wherein the step (b) is performed by a laser beam.
AB tape manufacturing method.
【請求項5】 前記凹所に対応する未硬化樹脂層の除去
を未硬化樹脂を溶解する薬剤により行う請求項3に記載
の多層配線TABテープの製造方法。
5. Removal of an uncured resin layer corresponding to the recess.
4. The method according to claim 3, wherein the step (c) is performed with a chemical that dissolves the uncured resin.
Of manufacturing a multilayer wiring TAB tape.
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