JP3323667B2 - 物体検出装置 - Google Patents

物体検出装置

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JP3323667B2
JP3323667B2 JP26045694A JP26045694A JP3323667B2 JP 3323667 B2 JP3323667 B2 JP 3323667B2 JP 26045694 A JP26045694 A JP 26045694A JP 26045694 A JP26045694 A JP 26045694A JP 3323667 B2 JP3323667 B2 JP 3323667B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、所定の監視領域に物体
が存在することを検出する物体検出装置に関し、特に、
物体検出装置のフェールセーフ技術に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、工場等の機械と作業者が協同し
て作業する作業空間等では、作業者の安全対策として、
機械可動部周囲等に、作業者が近づくと危険である危険
領域を定め、この危険領域に作業者が侵入したことを検
出するための装置が設けられている。
【0003】このような検出装置としては、例えば、光
ビームセンサがある。これは、監視領域の境界部分等に
光ビームのカーテンを張り、光ビームが遮断された時、
人等の物体が存在することを示すものである。しかし、
この光ビームセンサの場合は、監視領域が広範囲になる
と、光ビーム数が著しく増加する欠点があった。また、
その他には踏圧センサがある。かかる踏圧センサとして
は、例えば、2枚の板材電極間にゴム材を介在させ、ゴ
ム材に多数の孔を設け、人等が板材を踏んだ時に上下の
板状電極が接触することにより、物体の存在を検出する
マットセンサや、光ファイバをゴムの中に入れ、上から
の踏圧力による光ファイバの歪みから物体の存在を検出
するセンサ等があり、従来利用されてきている。しか
し、これら踏圧センサの場合は、足元が邪魔になると共
に、ゴムの劣化で性能の低下を来す。また、足元が汚れ
る等の問題点があった。更に、踏圧センサの場合も、倉
庫や広い作業現場等、監視領域が広範囲の場合には、監
視領域全面にセンサを敷かなければならないという難点
があった。
【0004】広範囲な監視領域の物体検出に好適なセン
サとして、例えば、焦電センサを用いることができる。
焦電センサは、物体から放射される赤外線を検知して物
体を検出するものであり、焦電センサを監視カメラのよ
うに監視領域に向けておくだけで、監視領域に物体が存
在すれば、その物体から放射される赤外線が焦電センサ
で受信されて物体の存在が判るので、広範囲な領域の監
視に好適である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな焦電センサ等を利用した従来の物体検出装置では、
焦電センサの故障監視機能がないため、焦電センサが故
障した時、現実に監視領域に物体が存在するのに、物体
検知の出力が発生せず、物体なしと同じ形態の誤りの出
力が発生するという問題がある。
【0006】このため、このような焦電センサ等を用い
て物体の検出を行う場合には、センサが正常であるか否
かを常時確認しつつ、物体の検出を行うことが必要とな
る。尚、従来、物体を検出するセンサ部分が正常に動作
するか否かを確認する方法には、例えば特開平4−32
1184号公報に記載したものがある。しかし、この方
法では、カメラの受光面を構成する複数の受光手段(セ
ンサ部分に相当する)の一部分の受光状態に基づいて、
受光面全体が正常であるか否かを検査する構成をとって
おり、必ずしも、全部の受光手段について検査を行って
はいない。このため、受光状態の検査に使用されている
受光手段以外の受光手段に故障が生じた時に受光面の故
障判定ができない。
【0007】そこで、本発明では上記事情に鑑みてなさ
れたもので、物体を検出するセンサの全てが正常である
ことを確認しつつ物体検出ができ、しかも、センサ故障
時には危険を示す出力を発生することができる物体検出
装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】このため請求項1記載の
発明の物体検出装置では、所定領域を周期的に監視して
物体検出を行うセンサ部と、該センサ部からの検出出力
に基づいて物体有無の判定信号を発生する判定手段と、
周期運動を行う前記センサ部の1周期毎にセンサ部の故
障監視を行う故障監視手段と、前記判定手段と故障監視
手段の各出力信号を入力し、故障監視手段から故障検出
信号が入力した時に前記判定手段の判定信号に関係なく
危険を示す論理値0の出力信号を発生する信号処理手段
を備え、前記センサ部が、モータで回転駆動される回
転体と、該回転体の側面の一部に当該回転体の回転軸方
向に列設される複数のセンサ素子と、回転体側面の前方
を覆って固定され、物体の監視を行う前記所定領域を定
める第1の窓と該第1の窓とは別の位置に設けられセン
サ部故障監視用の第2の窓とを有するカバーとを備え、
該カバーの第1の窓が、列設された複数のセンサ素子の
どちらか一方の端部のセンサ素子をマスクする形状に開
口形成され、第2の窓が、全てのセンサ素子に対面する
よう開口形成される構成であり、前記第1の窓でマスク
されないセンサ素子の検出出力に基づいて前記判定手段
が物体有無の判定信号を発生し、前記第2の窓で受信さ
れる故障検査のための検査信号に基づく全てのセンサ素
子の出力に基づいて前記故障監視手段が故障監視する構
成とした。
【0009】また、請求項2記載の発明では、前記判定
手段は、センサ部から、物体無しの検出出力が入力した
時に安全を示す論理値1の出力を発生し、物体有りの検
出出力が入力した時に危険を示す論理値0の出力を発生
する構成である。また、請求項3記載の発明では、前
判定手段が、前記第1の窓でマスクされるセンサ素子以
外の他のセンサ素子が1個である時、前記他のセンサ素
子の出力信号を反転するインバータと、該インバータの
反転出力と前記マスクされるセンサ素子からの出力との
論理和演算を行う論理和回路と、該論理和演算回路の出
力を少なくともセンサ部の監視周期より長い遅延時間を
有するオン・ディレー回路とで構成され、前記故障監視
手段は、前記所定領域以外の領域に設置されて故障検査
のための前記検査信号を発生する検査信号発生手段と、
該検査信号発生手段からの検査信号に基づく第1の窓で
マスクされるセンサ素子からの信号と前記他のセンサ素
子のインバータの反転出力を微分した微分出力との論理
積演算を行う第1論理積回路と、該第1論理積回路の出
力を少なくともセンサ部の監視周期より長い遅延時間を
有するオフ・ディレー回路とで構成され、前記信号処理
手段は、前記オン・ディレー回路の出力とオフ・ディレ
ー回路の出力の論理積演算を行う第2論理積演算回路で
構成される。
【0010】また、請求項4記載の発明では、前記第1
の窓でマスクされるセンサ素子以外の他のセンサ素子が
複数個ある時は、複数個の他のセンサ素子に対応して設
けた各インバータからの各反転出力の論理積演算を行う
第3論理積演算回路を設け、該第3論理積演算回路の論
理積出力信号を前記論理和回路に入力する構成とする。
【0011】また、請求項5記載の発明では、前記検査
信号発生手段が、前記第2の窓を介してセンサ素子に光
を放射する発光源である。また、請求項6記載の発明で
は、前記センサ素子を、焦電センサとした。また、請求
項7記載の発明では、前記センサ素子を、受光センサと
した。また、請求項8記載の発明では、前記カバーは、
第1カバー部材と第2カバー部材に分割され、第1及び
第2カバー部材は、それぞれ端部に切欠部を有し、これ
ら端部を重ね合わせ両切欠部で第1の窓を形成する構成
である。
【0012】
【作用】かかる請求項1記載の発明の構成によれば、
ンサ部において、センサ素子が回転体と一体に回転し、
回転体の1回転毎にカバーの第1の窓を介してマスクさ
れないセンサ素子で所定領域の物体の有無を検出する。
また、回転体の1回転毎に第2の窓を介して全てのセン
サ素子が検査信号を受信する。そして、所定領域を周期
的に監視するセンサ部の1周期毎に、判定手段は第1の
窓でマスクされないセンサ素子の検出出力に基づいて物
体の有無を判定し、故障監視手段はセンサ部における全
てのセンサ素子からの出力に基づいてセンサ部の故障監
視を行い、センサ部の故障を検出した時には、判定手段
からの判定信号に関係なく、信号処理手段から危険を示
す論理値0の出力を発生する。
【0013】これにより、センサ部の故障を常時監視し
ながら所定領域の物体検出を実行することができ、しか
も、センサの故障を知らせることが可能である。また、
請求項2記載の発明の構成によれば、所定領域に物体が
存在する時には判定手段から物体有りの危険を示す論理
値0の信号が出力し、作業者が存在しない場合には判定
手段から物体無しの安全を示す論理値1の信号が出力す
る。このため、監視する所定領域を例えば作業者が侵入
しては危険な場所として、作業者の安全を確保する監視
装置として適用することができる。
【0014】また、請求項3記載の発明の構成によれ
、検査信号に基づくセンサ素子の出力のうち、第1の
窓でマスクされるセンサ素子以外の他のセンサ素子の出
力は、インバータで反転される。そして、他のセンサ素
子が1個の場合は、マスクされるセンサ素子からの出力
とインバータで反転された出力が論理和回路で論理和演
算される。尚、他のセンサ素子が複数個ある時は、請求
項4記載の発明のように、複数個の他のセンサ素子に対
応して設けた各インバータからの各反転出力の論理積演
算を行う第3論理積演算回路を設け、この第3論理積演
算回路の論理積出力信号を前記論理和回路に入力する。
これにより、所定領域に物体が存在しない時に論理和回
路から安全を示す論理値1の出力を発生することができ
る。更に、この論理和回路の論理出力信号をオン・ディ
レー回路を介してセンサ部の監視周期より長い所定時間
遅延させて発生させることで、物体の存在による危険を
示す論理値0の出力を連続的に発生させることができ
る。また、マスクされるセンサ素子の信号とインバータ
の反転出力を微分した微分出力を第1論理積回路で論理
積演算することで、全てのセンサ素子が正常である時に
安全を示す論理値1の出力を発生させることができる。
そして、オフ・ディレー回路で、この論理値1の出力の
消滅をセンサ部の回転周期より長い時間遅延させること
で、全てのセンサ素子が正常である時に連続的に安全を
示す論理値1の出力を発生させることができる。
【0015】そして、オン・ディレー回路及びオフ・デ
ィレー回路の出力を第2論理積回路で論理積演算するこ
とで、両回路の少なくともいずれか一方が論理値0の出
力を発生した時、即ち、センサ部が故障であるか又は/
及び所定領域に物体が存在する時は、危険を示す論理値
0の出力を発生させることができる。また、請求項6記
載の発明によれば、人体を検出するのに好適である。
【0016】また、請求項7記載の発明によれば、発光
体の検出に好適である。また、請求項8記載の発明によ
れば、第1カバー部材と第2カバー部材の重ね合わせの
場合を変えることで、第1の窓の幅を変更することがで
き、監視する所定領域の範囲を可変にできる。
【0017】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本発明の第1実施例のセンサ部の構成を示
す。図1において、センサ素子としての焦電センサP
H′,PH1 〜PH4 は、図2に示すようにモータ1の
回転軸2に固定されて回転駆動される円筒状の回転体3
の側面の一部に、回転体3の回転軸方向に沿って列設さ
れ、回転体3と一体に回転する。
【0018】回転体3の側面前方周囲には、回転体1を
防護するためのカバー4が設けられている。カバー4
は、略半円筒状の第1及び第2カバー部材4A,4Bか
らなり、回転体3の周囲に固定設置された基台5にアン
グル6,6を介してネジ7によって固定されている。第
1及び第2カバー部材4A,4Bのそれぞれ一方の端部
には、切欠部8A,8Bが形成されており、この切欠部
8A,8B側の端部を重ね合わせることで、前記焦電セ
ンサPH1 〜PH4 によって物体を監視する所定領域
(本実施例では、作業者等が存在しては危険な領域とす
る)を定める第1の窓9が開口形成される。この第1の
窓9の上下方向の開口幅は、図2に示すように、一番上
端にある焦電センサPH′がマスクされ、その他の焦電
センサPH1〜PH4 が第1の窓9に面するように形成
されている。
【0019】また、一方の第2カバー部材4Bには、前
記ネジ7を取り付けるためのネジ孔10a〜10cが複数設
けられ、これらネジ孔10a〜10cを選択することで、第
2カバー4Bの固定位置をずらすことができ、これによ
り、第1の窓9の開口幅(回転体3の移動方向)を変え
ることができ、前記所定領域の範囲を可変することがで
きる。更に、第2カバー部材4Bには、別の位置に第2
の窓11が形成されている。この第2の窓11は、センサ部
12の故障監視のための検査信号を発生する検査信号発生
手段としての発光源20からの光が、全ての焦電センサP
H′,PH1 〜PH4 に入射するように形成されてい
る。更に、上端の焦電センサPH′に対面する開口部の
開口幅(回転体3の移動方向)は、図3に示すように、
その他の焦電センサPH1 〜PH4 に対面する部分に比
べて広く形成されている。
【0020】従って、本実施例のセンサ部12は、モータ
1により回転駆動される回転体3と、複数の焦電センサ
PH′,PH1 〜PH4 と、カバー4と、基台6等で構
成される。尚、前記焦電センサPH′,PH1 〜PH4
は、物体から放射される赤外線を感知して焦電効果を利
用して物体を検出するものであり、感知素子の温度変化
があった時に微分出力を発生するので、通常はチョッパ
機構によりチョッパに同期させて交流信号が発生する。
【0021】次に、図4に本実施例の回路構成を示す。
所定領域の物体監視用の4個の焦電センサPH1 〜PH
4 の出力信号は、レベル検定回路LD1 〜LD4 でそれ
ぞれレベル検定され、各々レベル検定回路LD 1 〜LD
4 の出力信号は整流回路REC1 〜REC4 で整流され
る。整流回路REC1 〜REC4 は図9で示すように零
電位(アース)にクランプされて整流出力信号Pi (i
=1〜4)を出力する。尚、図9中、C91,C92はコン
デンサ、D91,D92はダイオードである。これら各整流
信号Pi (i=1〜4)は、各々インバータIN1 〜I
4 で反転され、否定信号バーPi (整流信号Pi の否
定信号で、バーは否定を表している)となる。これら各
否定信号バーPi は、コンデンサC1 〜C4 によって各
々dバーPi /dt(>0)として微分されて第1論理
積回路としての第1ANDゲート21に入力する。また、
各否定信号バーPiは、各々結合用コンデンサC5 〜C
8 を介し、ダイオードD5 〜D8 を用いて電源電位VCC
にクランプされ、第3論理積回路としての第3ANDゲ
ート26に入力する。第3ANDゲート26の論理積出力
は、図10で示すように整流回路REC5で電源電位VCC
にクランプされて整流された後に論理和回路としてのO
Rゲート22の一方の入力端子に入力する。尚、図10中、
93,C94はコンデンサ、D93,D94はダイオードであ
る。
【0022】ORゲート22の他方の入力端子には、第1
の窓9ではマスクされる上端の焦電センサPH′の出力
信号が、レベル検定回路LD′でレベル検定され、更に
図10と同様の方法の整流回路REC′で整流されて入力
される。ORゲート22の論理和出力は、オン・ディレー
回路23を介して信号処理手段を構成する第2論理積回路
としての第2ANDゲート25の一方の入力端子に入力す
る。第2ANDゲート25の他方の入力端子には、第1A
NDゲート21の論理積出力が、図10と同様の方法による
整流回路REC6 を介してオフ・ディレー回路24に入力
され、更に、このオフ・ディレー回路24の出力信号が入
力される。
【0023】尚、本実施例では焦電センサは、信号の増
幅機能を内蔵するものとしている。増幅機能がない場合
は、レベル検定回路の前段に増幅器を設ければよい。レ
ベル検定回路LDi (i=1〜4)、整流回路RECi
(i=1〜5)、インバータINi (1〜4)、コンデ
ンサCi (i=5〜9)、第3ANDゲート26、ORゲ
ート22及びオン・ディレー回路23を含んで判定手段が構
成され、微分用コンデンサCi (i=1〜4)、第1A
NDゲート21、整流回路REC6 、オフ・ディレー回路
24及び発光源20を含んで故障監視手段が構成される。
尚、前記判定手段は、所定領域を監視する焦電センサP
i が1個の場合は、第3ANDゲート26が不要であ
り、コンデンサからの出力を整流回路REC5 を介して
ORゲート22の入力端子に入力する構成とすればよい。
【0024】ここで、前記オン・ディレー回路23は、回
路故障時に遅延時間TONが短縮される側に誤らない特性
を有するフェールセーフな構成であり、また、オフ・デ
ィレー回路24も、回路故障時には遅延時間TOFF が延長
される側に誤らないフェールセーフな構成である。この
ようなフェールセーフなオン・ディレー回路、オフ・デ
ィレー回路は、U.S.Patent4,667,18
4号、特公平1−23006号公報、特公平2−453
75号公報、特公平4−41532号公報及び電気学会
論文誌のVol.104(C),No.2(1984−
2)やVol.107(C),No.10(1987−
10)等で公知である。尚、図5に、4端子コンデンサ
と抵抗とで構成したフェールセーフなオン・ディレー回
路23の簡単な一例を示し、図6にコンデンサと抵抗とで
構成したフェールセーフなオフ・ディレー回路24の簡単
な一例を示す。図5中、Rkは抵抗、Ckは4端子コン
デンサであり、図6中、Rmは抵抗、Cmはコンデン
サ、Dmはダイオードである。
【0025】また、第1〜第3ANDゲート21,25,26
及びORゲート22も、故障時に出力を発生しない(出力
が論理値0)フェールセーフな構成である。このような
コンデンサ結合に基づいてフェールセーフな論理積演算
や論理和演算を行う回路及びその方法は、特公平5−2
948号公報、実公平3−49474号公報、特公平4
−41532号公報、U.S.Patent5,02
7,114号、U.S.Patent4,661,88
0号、U.S.Patent4,667,184号及び
U.S.Patent5,345,138号等で公知で
あって、入力信号は電源電位より高い電位(電源枠外電
位)で処理されてフェールセーフが確保される所に特徴
がある。
【0026】次に図7のタイムチャートを参照して動作
を説明する。モータ1により回転体3が回転すると、焦
電センサPH′は、第2の窓11を通過する毎に、発光源
20から光信号に含まれる赤外線成分を感知し、焦電素子
PH′から増幅された所定レベル以上の交流信号が発生
し、レベル検定回路LD′及び整流回路REC′を介し
て、図7に示すように整流回路REC′からの信号P′
が論理値1(時間幅τとする)となる。この論理値1の
信号P′は、第1ANDゲート21及びORゲート22に入
力する。
【0027】一方、その他の焦電センサ素子PH1 〜P
4 も、焦電センサPH′の受光期間中に、発光源20か
らの光信号を感知して、それぞれレベル検定回路LD1
〜LD4 及び整流回路REC1 〜REC4 を介して、図
7に示すように整流回路REC1 〜REC4 からの信号
i (i=1〜4)が論理値1(時間幅τ′とする)と
なる。ここで、τ>τ′であり、これは第2の窓11の開
口幅によって定められる。この論理値1の整流信号Pi
は、インバータIN1 〜IN4 によってそれぞれ反転さ
れて否定信号バーPi となり、コンデンサC5 〜C8
介して第3ANDゲート26に入力する。同時に、コンデ
ンサC1 〜C4 で微分されて第1ANDゲート21にも入
力する。
【0028】第3ANDゲート26の出力は、否定信号バ
ーPi によって論理値0となり、整流回路REC5 から
ORゲート22の一方の入力端子に論理値0の信号が入力
する。しかし、ORゲート22の他方の入力端子には、焦
電センサPH′の出力に基づいて論理値1の信号が入力
しており、ORゲート22の出力は論理値1となり、オン
・ディレー回路23から論理値1の出力が生じる。また、
第1ANDゲート21からも論理値1の出力が発生し、こ
の論理値1の出力は、オフ・ディレー回路24によってそ
の遅延時間TOFF によって回転体3の1周期Tより長く
サンプル/ホールドされる(TOFF >Tである)。これ
により、第2ANDゲート25からは論理値1の出力が発
生する。そして、所定領域に物体が存在しない場合に
は、上述のように、焦電センサPH′,PH1 〜PH4
からは、第2の窓11の通過に伴って、回転体3の回転周
期Tで出力が発生するだけである。
【0029】以上のように、全ての焦電センサPH′,
PH1 〜PH4 が正常で、所定領域に物体が存在しない
場合は、所定領域に物体が存在せず安全であることを示
す論理値1の出力が、第2ANDゲート25から生じる。
一方、全ての焦電センサPH′,PH1 〜PH4 が正常
の時に、所定領域に物体が存在する場合は、焦電センサ
PH1 〜PH4 からは、第2の窓11の通過時に加えて第
1の窓9を通過する際にも、物体から放射される赤外線
成分により交流の出力信号が発生するので、図7の点線
で示すように、第1の窓9の通過に伴う論理値1の出力
が信号Pi に生じる。この場合も、インバータIN1
IN4 により反転された否定信号バーPi によって第3
ANDゲート26の出力が論理値0となる。また、第1の
窓9の通過時には焦電センサPH′はマスクされている
ので、信号P′は論理値0である。従って、ORゲート
22の出力は論理値0となり、オン・ディレー回路23の出
力が論理値0となる。オン・ディレー回路23の論理値0
の出力は、その遅延時間TONによって回転体3の1周期
Tより長くサンプル/ホールドされる(TON>T)。従
って、所定領域に物体が存在する場合には、この物体の
存在による図7の点線で示す論理値1の出力が、回転体
3の1周期毎に信号Pi に生じるので、オン・ディレー
回路23から論理値0の出力が継続され、第2ANDゲー
ト25から論理値0の出力が継続して発生する。
【0030】以上のように、全ての焦電センサPH′,
PH1 〜PH4 が正常で所定領域に物体が存在する場合
には、所定領域に物体が存在して危険であることを示す
論理値0の出力が、第2ANDゲート25から生じる。次
に、本実施例装置のフェールセーフ性について説明す
る。焦電センサPH′,PH1 〜PH4 のいずれかに出
力の発生しない故障が生じると、第1ANDゲート21の
出力が論理値0となり、オフ・ディレー回路24の遅延時
間TOFF 経過後に第2ANDゲート25の出力が危険を示
す論理値0となる。また、回転体3が回転しない時は、
PH1 〜PH4 の出力に基づく信号Pi には、論理値1
→論理値0或いは論理値0→論理値1の変化が生じな
い。この場合、信号Pi は、第1ANDゲート21と第3
ANDゲート26に交流結合で入力しているので、第1A
NDゲート21及び第3ANDゲート26から論理値1の出
力が生じない。更に、インバータIN1 〜IN4 に固定
故障が生じても交流結合のため同じように、第1AND
ゲート21及び第3ANDゲート26から論理値1の出力が
生じない。
【0031】従って、本実施例装置によれば、故障時に
は第2ANDゲート25の出力が、危険を示す論理値0と
なり、フェールセーフである。図8に、本発明の第2実
施例を示し、センサ素子として焦電センサの代わりに受
光素子を用いる場合の回路例を示す。尚、第1実施例と
同一要素には同一符号を付して説明を省略する。
【0032】図において、受光素子PH′,PH1 〜P
4 は、第1の窓9及び第2の窓11から入射する光信号
を受光して出力を発生する構成であり、この場合は、受
光素子PH′,PH1 〜PH4 の出力を増幅する増幅器
AMP′,AMP1 〜AMP 4 を設ける。これら増幅器
AMP′,AMP1 〜AMP4 には、図4の第1実施例
における整流回路REC′,REC1 〜REC4 に対応
する整流回路が含まれているものとしている。尚、その
他の回路構成は第1実施例と同じである。
【0033】そして、本実施例装置の動作は、図4に示
す第1実施例と同じであり、説明は省略する。また、本
実施例装置のフェールセーフ性については、増幅器AM
P′,AMP 1 〜AMP4 に固定故障が発生した場合
も、交流結合によって第1ANDゲート21及び第3AN
Dゲート26から論理値1の出力が生じない。その他の故
障については第1実施例と同様にフェールセーフ性が確
保できる。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、セ
ンサ部が正常に動作しているか否かを監視しながら物体
検出が可能であり、センサ部が故障した時には、直ちに
危険を示す論理値0の出力が発生してこれを知らせるこ
とが可能であり、フェールセーフ性に優れる。
【0035】また、本発明によれば、所定領域に物体を
検出した時に危険を示す論理値0の出力を発生し、物体
が存在しない時には安全を示す論理値1の出力を発生す
るので、例えば、機械可動部周囲の危険領域に作業者等
が接近することを監視する監視装置として有効である。
また、本発明によれば、回転体を覆うカバーを2つの部
材に分割構成し、切欠部を設けた両部材端部を重ね合わ
せて物体の監視を行う監視領域を定める第1の窓を形成
するので、一方のカバー部材の取付け位置をずらすだけ
で、第1の窓の開口幅を容易に変えることができ、監視
領域の範囲を容易に変更することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る物体検出装置の第1実施例のセン
サ部の構成図
【図2】同上センサ部の第1の窓とセンサ素子の位置関
係を示す図
【図3】同上センサ部の第2の窓とセンサ素子の位置関
係を示す図
【図4】同上第1実施例の回路図
【図5】オン・ディレー回路の一例を示す回路図
【図6】オフ・ディレー回路の一例を示す回路図
【図7】同上実施例の動作を説明するためのタイムチャ
ート
【図8】本発明に係る物体検出装置の第2実施例を示す
回路図
【図9】入力信号を零電位にクランプして整流する整流
回路の構成図
【図10】入力信号を電源電位にクランプして整流する整
流回路の構成図
【符号の説明】
1 モータ 3 回転体 4 カバー 9 第1の窓 11 第2の窓 21 第1ANDゲート 22 ORゲート 23 オン・ディレー回路 24 オフ・ディレー回路 25 第2ANDゲート 26 第3ANDゲート PH′,PH1 〜PH4 焦電センサ(受光素子) IN1 〜IN4 インバータ C1 〜C9 コンデンサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01V 8/20 G08B 13/191 G08B 25/04

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定領域を周期的に監視して物体検出を行
    うセンサ部と、該センサ部からの検出出力に基づいて物
    体有無の判定信号を発生する判定手段と、周期運動を行
    う前記センサ部の1周期毎にセンサ部の故障監視を行う
    故障監視手段と、前記判定手段と故障監視手段の各出力
    信号を入力し、故障監視手段から故障検出信号が入力し
    た時に前記判定手段の判定信号に関係なく危険を示す論
    理値0の出力信号を発生する信号処理手段とを備えた物
    体検出装置であって、 前記センサ部が、モータで回転駆動される回転体と、該
    回転体の側面の一部に当該回転体の回転軸方向に列設さ
    れる複数のセンサ素子と、回転体側面の前方を覆って固
    定され、物体の監視を行う前記所定領域を定める第1の
    窓と該第1の窓とは別の位置に設けられセンサ部故障監
    視用の第2の窓とを有するカバーとを備え、該カバーの
    第1の窓が、列設された複数のセンサ素子のどちらか一
    方の端部のセンサ素子をマスクする形状に開口形成さ
    れ、第2の窓が、全てのセンサ素子に対面するよう開口
    形成される構成であり、 前記第1の窓でマスクされないセンサ素子の検出出力に
    基づいて前記判定手段が物体有無の判定信号を発生し、
    前記第2の窓で受信される故障検査のための検査信号に
    基づく全てのセンサ素子の出力に基づいて前記故障監視
    手段が故障監視する ことを特徴とする物体検出装置。
  2. 【請求項2】前記判定手段は、センサ部から、物体無し
    の検出出力が入力した時に安全を示す論理値1の出力を
    発生し、物体有りの検出出力が入力した時に危険を示す
    論理値0の出力を発生する構成である請求項1記載の物
    体検出装置。
  3. 【請求項3】前記判定手段が、前記第1の窓でマスクさ
    れるセンサ素子以外の他のセンサ素子が1個である時、
    前記他のセンサ素子の出力信号を反転するインバータ
    と、該インバータの反転出力と前記マスクされるセンサ
    素子からの出力との論理和演算を行う論理和回路と、該
    論理和演算回路の出力を少なくともセンサ部の監視周期
    より長い遅延時間を有するオン・ディレー回路とで構成
    され、 前記故障監視手段は、前記所定領域以外の領域に設置さ
    れて前記検査信号を発生する検査信号発生手段と、該検
    査信号発生手段からの検査信号に基づく第1の窓でマス
    クされるセンサ素子からの信号と前記他のセンサ素子の
    インバータの反転出力を微分した微分出力との論理積演
    算を行う第1論理積回路と、該第1論理積回路の出力を
    少なくともセンサ部の監視周期より長い遅延時間を有す
    るオフ・ディレー回路とで構成され、 前記信号処理手段は、前記オン・ディレー回路の出力と
    オフ・ディレー回路の出力の論理積演算を行う第2論理
    積演算回路で構成されることを特徴とする請求項2記載
    の物体検出装置。
  4. 【請求項4】前記第1の窓でマスクされるセンサ素子以
    外の他のセンサ素子が複数個ある時は、複数個の他のセ
    ンサ素子に対応して設けた各インバータからの各反転出
    力の論理積演算を行う第3論理積演算回路を設け、該第
    3論理積演算回路の論理積出力信号を前記論理和回路に
    入力する構成とする請求項3記載の物体検出装置。
  5. 【請求項5】前記検査信号発生手段が、前記第2の窓を
    介してセンサ素子に光を放射する発光源である請求項
    又は4に記載の物体検出装置。
  6. 【請求項6】前記センサ素子が、焦電センサである請求
    項1〜5のいずれか1つに記載の物体検出装置。
  7. 【請求項7】前記センサ素子が、受光センサである請求
    項1〜5のいずれか1つに記載の物体検出装置。
  8. 【請求項8】前記カバーは、第1カバー部材と第2カバ
    ー部材に分割され、第1及び第2カバー部材は、それぞ
    れ端部に切欠部を有し、これら端部を重ね合わせ両切欠
    部で第1の窓を形成する構成である請求項1〜7のいず
    れか1つに記載の物体検出装置。
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