JP3319732B2 - Voltage control circuit, network device, and voltage detection method - Google Patents

Voltage control circuit, network device, and voltage detection method

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JP3319732B2 JP2000019637A JP2000019637A JP3319732B2 JP 3319732 B2 JP3319732 B2 JP 3319732B2 JP 2000019637 A JP2000019637 A JP 2000019637A JP 2000019637 A JP2000019637 A JP 2000019637A JP 3319732 B2 JP3319732 B2 JP 3319732B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばIEEE1
394規格のCPS(Cable Power Status:ケーブル給
電)機能においてケーブルを介して供給される電源電圧
のような外部供給電圧と、基準電圧との大小関係を検知
する機能を有する電圧制御回路に関する。
[0001] The present invention relates to, for example, IEEE 1
The present invention relates to a voltage control circuit having a function of detecting a magnitude relationship between an external supply voltage such as a power supply voltage supplied via a cable and a reference voltage in a CPS (Cable Power Status: Cable Power Supply) function of the 394 standard.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年のパソコンを中心としたマルチメデ
ィア化の発展に伴い、画像データのような膨大なデータ
を高速に処理する機能が各情報機器に求められている。
これに伴い、機器間のデータ転送レートを向上させる技
術も重要になっている。このような背景から、高速デー
タ転送が可能な技術として、IEEE1394規格が提
唱され、これに従った開発が進んでいる。IEEE13
94規格は、バスの本数を従来よりも大幅に減らし、そ
の代わりに転送のための動作周波数を向上させることに
よって、転送レートを高めるシリアル転送手法を示すも
のである。
2. Description of the Related Art With the recent development of multimedia, mainly personal computers, each information device is required to have a function of processing enormous data such as image data at high speed.
Along with this, technology for improving the data transfer rate between devices has also become important. Against this background, the IEEE 1394 standard has been proposed as a technology capable of high-speed data transfer, and development in accordance therewith has been progressing. IEEE13
The 94 standard describes a serial transfer method in which the number of buses is significantly reduced from the conventional one, and instead, the operating frequency for transfer is increased to thereby increase the transfer rate.

【0003】図8はIEEE1394のネットワークシ
ステムの構成の一部を示す図である。図8において、各
ネットワーク機器がケーブルを介して接続されている。
ケーブルは、4本のデータ線(データ線対およびストロ
ーブ線対)および電源・グランド線の計6本の線で構成
される。なお、ケーブルの種類によっては、電源・グラ
ンド線を有さない4本構成のものもある。
FIG. 8 is a diagram showing a part of the configuration of an IEEE 1394 network system. In FIG. 8, each network device is connected via a cable.
The cable is composed of four data lines (a data line pair and a strobe line pair) and a power / ground line, for a total of six lines. Note that, depending on the type of cable, there is also a four-wire configuration having no power / ground line.

【0004】IEEE1394準拠のLSIはその機能
から、主としてデータ入出力を司るPHY部と、転送プ
ロトコルを制御するLINK部とに分けられる。データ
受信の場合は、信号は転送ケーブルからPHY部へ、そ
してPHY部からLINK部へと転送される。データ送
信の場合は、この逆方向に信号が転送される。
[0004] An LSI conforming to IEEE 1394 is mainly divided into a PHY section for controlling data input / output and a LINK section for controlling a transfer protocol, according to its functions. For data reception, signals are transferred from the transfer cable to the PHY section and from the PHY section to the LINK section. In the case of data transmission, the signal is transferred in the opposite direction.

【0005】また、IEEE1394規格では、高速デ
ータ転送の他に、データ転送用のケーブルを介して電源
を供給するCPS機能もサポートしている。IEEE1
394規格にはその転送レートに応じて、IEEE13
94_1995、IEEE1394.A、IEEE13
94.Bといった複数の規格があるが、これら全てにC
PS機能が規定されている。
The IEEE 1394 standard also supports a CPS function for supplying power via a data transfer cable, in addition to high-speed data transfer. IEEE1
According to the IEEE 1394 standard, IEEE 13
94_1995, IEEE1394. A, IEEE13
94. There are multiple standards such as B
PS function is defined.

【0006】すなわち、IEEE1394規格に準拠し
たLSIでは、ケーブルによって供給される電源電圧が
所定範囲内にある場合に、CPS機能を動作させる必要
がある。そして、このCPS機能はデータ入出力を司る
PHY部の規格であるので、PHY部では、ケーブルに
よって給電される電源電圧が所定範囲内にあるか否かを
検知する機能を持つことが必要である。
That is, in an LSI conforming to the IEEE 1394 standard, it is necessary to operate the CPS function when a power supply voltage supplied by a cable is within a predetermined range. Since the CPS function is a standard of the PHY section that controls data input / output, the PHY section needs to have a function of detecting whether the power supply voltage supplied by the cable is within a predetermined range. .

【0007】例えばIEEE1394_1995では、
CPS機能において外部から供給される電圧は8〜40
Vと規定されている。これは、少なくとも8〜40Vの
範囲ではCPS機能が動作すべき、ということであり、
したがって、この規格に準拠したLSIを開発するため
には、ケーブルから供給される電圧が8〜40Vの範囲
にあるか否かを検知する機能を設ける必要がある。
For example, in IEEE1394_1995,
The externally supplied voltage in the CPS function is 8 to 40
V. This means that the CPS function should operate at least in the range of 8-40V,
Therefore, in order to develop an LSI conforming to this standard, it is necessary to provide a function for detecting whether the voltage supplied from the cable is in the range of 8 to 40 V.

【0008】図9は図8に示すようなシステムを構成す
るネットワーク機器の内部構成の一例を示す図である。
図9において、PHY部はCPS機能を有しており、ケ
ーブルを介して供給された外部電圧VDD_extが所定の
範囲内にあるか否かを判定する電圧判定部15を備えて
いる。
FIG. 9 is a diagram showing an example of the internal configuration of a network device constituting the system shown in FIG.
In FIG. 9, the PHY unit has a CPS function, and includes a voltage determination unit 15 that determines whether the external voltage VDD_ext supplied via a cable is within a predetermined range.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】一方、8〜40Vとい
う高電圧をLSIに直接印加することは、LSIの破壊
につながり、好ましくない。このため規格では、供給電
圧を400kΩの電圧降下用抵抗を介して降下させてか
らPHY部に印加することとしている。よって、PHY
部は降下後の電圧を検知して供給電圧を推測する構成と
なり、電圧検知精度に加えて電圧降下の精度が、規格順
守のためのきわめて重要な要素となる。
On the other hand, directly applying a high voltage of 8 to 40 V to an LSI leads to destruction of the LSI, which is not preferable. For this reason, according to the standard, the supply voltage is reduced through a 400 kΩ voltage drop resistor and then applied to the PHY section. Therefore, PHY
The unit detects the voltage after the voltage drop and estimates the supply voltage, and the accuracy of the voltage drop in addition to the voltage detection accuracy is a very important factor for compliance with the standard.

【0010】ところが、本願発明者が調査した範囲で
は、上記のような規格をみたす回路構成は未だ提案され
ていない。
However, within the scope investigated by the inventor of the present invention, a circuit configuration meeting the above-mentioned standards has not yet been proposed.

【0011】図10は本願発明者が考案した、上記の規
格を満たす電圧判定部15の回路構成を示す図である。
図10では、ケーブル12は電圧降下用抵抗11(抵抗
値R0)を介して電圧制御回路50の入力端子51と接
続されており、また電圧制御回路50内部では、抵抗素
子52(抵抗値R1)が、抵抗11と直列に配置される
ように入力端子51に接続されている。ケーブル12か
らグランドVssに電流Icps が流れ、外部電圧VDD_ex
tは電圧制御回路50において電圧Vaに変換される。
コンパレータ53は変換電圧Vaと比較電圧Vbとを比
較し、この比較結果を示す信号Vcps を出力する。信号
Vcps は変換電圧Vaが比較電圧Vbよりも高いとき
“H”になり、これにより、外部電圧VDD_extとして
ケーブル給電可能な電圧が供給されていることが検知さ
れる。
FIG. 10 is a diagram showing a circuit configuration of the voltage determining unit 15 devised by the inventor of the present application and meeting the above-mentioned standards.
In FIG. 10, the cable 12 is connected to the input terminal 51 of the voltage control circuit 50 via the voltage drop resistor 11 (resistance value R0), and inside the voltage control circuit 50, a resistance element 52 (resistance value R1). Are connected to the input terminal 51 so as to be arranged in series with the resistor 11. The current Icps flows from the cable 12 to the ground Vss, and the external voltage VDD_ex
t is converted into a voltage Va in the voltage control circuit 50.
The comparator 53 compares the converted voltage Va with the comparison voltage Vb, and outputs a signal Vcps indicating the result of the comparison. The signal Vcps becomes “H” when the converted voltage Va is higher than the comparison voltage Vb, and thereby, it is detected that a voltage which can be supplied to the cable is supplied as the external voltage VDD_ext.

【0012】図11は図10の回路構成における外部電
圧VDD_extと変換電圧Vaとの関係を示すグラフであ
る。図11では、電圧制御回路50の電源電圧VDD_in
tを3.3V、最大耐電圧Vmax を3.6Vとしてい
る。図11に示すように、図10の回路構成では、外部
電圧VDD_extと変換電圧Vaとは終始比例関係にあ
る。そして、抵抗素子52の抵抗値R1は、外部電圧V
DD_extとして40Vが与えられた場合であっても変換
電圧Vaが最大耐電圧Vmax である3.6Vを越えない
ような値に設定する。すなわち、 3.6/R1=40/(R0+R1) から R1=3.6・R0/(40−3.6) =0.0989・400k=39.56kΩ また、マージンをみて変換電圧Vaの最大値を3.3V
と設定すると、 R1=3.3・R0/(40−3.3) =0.0899・R0=35.95kΩ したがって、抵抗素子52の抵抗値R1は35kΩ〜4
0kΩの範囲に設定するのが好ましい。もちろん、ケー
ブル給電電圧や最大耐電圧、あるいは電圧降下用抵抗の
抵抗値に応じて、抵抗素子52の抵抗値R1は変わる。
FIG. 11 is a graph showing the relationship between the external voltage VDD_ext and the converted voltage Va in the circuit configuration of FIG. In FIG. 11, the power supply voltage VDD_in of the voltage control circuit 50 is shown.
It is assumed that t is 3.3 V and the maximum withstand voltage Vmax is 3.6 V. As shown in FIG. 11, in the circuit configuration of FIG. 10, the external voltage VDD_ext and the converted voltage Va are in a proportional relationship from time to time. The resistance value R1 of the resistance element 52 is equal to the external voltage V
Even if 40 V is given as DD_ext, the conversion voltage Va is set to a value that does not exceed the maximum withstand voltage Vmax of 3.6 V. That is, from 3.6 / R1 = 40 / (R0 + R1) to R1 = 3.6 · R0 / (40−3.6) = 0.0989 · 400k = 39.56 kΩ Further, the maximum value of the conversion voltage Va is considered in view of the margin. 3.3V
R1 = 3.3 · R0 / (40−3.3) = 0.0899 · R0 = 35.95 kΩ Therefore, the resistance value R1 of the resistance element 52 is 35 kΩ to 4
It is preferable to set the range to 0 kΩ. Of course, the resistance value R1 of the resistance element 52 changes according to the cable power supply voltage, the maximum withstand voltage, or the resistance value of the voltage drop resistor.

【0013】また、外部電圧VDD_extの判定の基準と
なる基準電圧は8Vであるが、マージンを持たせて5V
〜7.5V程度に設定することが一般的であるので、こ
こでは基準電圧を7Vとし、比較電圧Vbを0.63V
に設定している。この比較電圧Vbは、基準電圧と、電
圧降下用抵抗11および抵抗素子52の抵抗値の比とに
基づいて、設定すればよい。
The reference voltage which is used as a reference for determining the external voltage VDD_ext is 8 V, but 5 V with a margin.
In general, the reference voltage is set to 7 V, and the comparison voltage Vb is set to 0.63 V
Is set to The comparison voltage Vb may be set based on the reference voltage and the ratio of the resistance values of the voltage drop resistor 11 and the resistance element 52.

【0014】しかしながら、図10のような回路構成で
は、外部電圧VDD_extと変換電圧Vaとは比例関係に
あり、しかも変換電圧Vaは外部電圧VDD_extのほぼ
1/10となるので、外部電圧VDD_extが大きく変化
しても変換電圧Vaはその1/10程度しか変化しな
い。逆に言うと、外部電圧VDD_extの検知に対し、比
較電圧Vbやコンパレータ53の検知精度のばらつきは
その10倍に増幅されて効くことになる。また、抵抗5
2の抵抗値のばらつきも外部電圧VDD_extの検知精度
に大きな影響を与える。
However, in the circuit configuration shown in FIG. 10, the external voltage VDD_ext and the converted voltage Va are in a proportional relationship, and the converted voltage Va is almost 1/10 of the external voltage VDD_ext. Even if it changes, the conversion voltage Va changes only about 1/10 of that. Conversely, the variation in the detection accuracy of the comparison voltage Vb and the comparator 53 with respect to the detection of the external voltage VDD_ext is amplified to 10 times that of the external voltage VDD_ext. The resistance 5
The variation in the resistance value of 2 also greatly affects the detection accuracy of the external voltage VDD_ext.

【0015】さらに、コンパレータの入力は、感度の面
から、電源電圧の1/2程度に設定するのが望ましいと
されている。図10の回路構成では、コンパレータ53
の入力信号のレベルはグランド電位Vssに近い値になっ
ており、このことは検出精度の面で好ましくない。
Further, it is considered that the input of the comparator is desirably set to about 1/2 of the power supply voltage in terms of sensitivity. In the circuit configuration of FIG.
Is close to the ground potential Vss, which is not preferable in terms of detection accuracy.

【0016】前記の問題に鑑み、本発明は、例えばCP
S機能を実現するための電圧制御回路として、外部電圧
と基準電圧との比較を精度良く実現可能にすることを目
的とする。
In view of the above problems, the present invention provides, for example, a CP
It is an object of the present invention to accurately compare an external voltage with a reference voltage as a voltage control circuit for realizing the S function.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、本発明は、外部電圧が基準電圧の近傍にある領域
において、変換電圧の範囲を広げ、かつ、この範囲をよ
り高電圧側にシフトさせることによって、外部電圧と基
準電圧との比較の精度を高めるものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention expands the range of the conversion voltage in a region where the external voltage is near the reference voltage and increases the range of the conversion voltage on the higher voltage side. , The accuracy of the comparison between the external voltage and the reference voltage is improved.

【0018】具体的には、請求項1の発明が講じた解決
手段は、外部から供給された外部電圧と、その比較基準
となる基準電圧との大小関係を検知する電圧制御回路と
して、外部電圧が電圧降下用抵抗を介して印加可能な入
力端子と、前記入力端子に印加された外部電圧を前記電
圧降下用抵抗と併せて外部電圧よりも低い電圧に変換す
る電圧変換手段と、前記電圧変換手段から出力された変
換電圧を所定の比較電圧と比較し、この比較結果を示す
信号を、外部電圧と基準電圧との大小関係を示す信号と
して出力する比較手段とを備え、前記電圧変換手段は、
外部電圧と変換電圧との関係において、外部電圧の増分
に対する変換電圧の増分の比が、外部電圧が基準電圧の
近傍にある比較領域においては、相対的に高く、前記比
較領域よりも高電圧側の領域においては、相対的に低く
なるように、電圧変換を行うものである。
More specifically, the present invention provides a voltage control circuit for detecting a magnitude relationship between an externally supplied external voltage and a reference voltage as a reference for comparison. An input terminal that can be applied via a voltage dropping resistor, voltage conversion means for converting an external voltage applied to the input terminal to a voltage lower than the external voltage together with the voltage dropping resistance, Comparing means for comparing the converted voltage output from the means with a predetermined comparison voltage, and outputting a signal indicating the result of the comparison as a signal indicating the magnitude relationship between the external voltage and the reference voltage; and ,
In the relationship between the external voltage and the conversion voltage, the ratio of the increment of the conversion voltage to the increment of the external voltage is relatively high in the comparison region where the external voltage is near the reference voltage, and is higher on the higher voltage side than the comparison region. In this area, voltage conversion is performed so as to be relatively low.

【0019】請求項1の発明によると、外部電圧は、電
圧変換手段によって、外部電圧の増分に対する変換電圧
の増分の比が、比較領域においては、相対的に高く、比
較領域よりも高電圧側の領域においては、相対的に低く
なるように、変換される。このため、比較領域よりも高
電圧側の領域において、変換電圧が回路の耐電圧を越え
ないようにしつつ、比較領域における変換電圧の範囲を
広く設定することができる。したがって、比較電圧や、
比較手段の検知精度のばらつきが、外部電圧の判定に対
して与える影響を、低く抑えることができるので、外部
電圧と基準電圧との比較の精度を高めることができる。
According to the first aspect of the present invention, the ratio of the increment of the converted voltage to the increment of the external voltage is relatively high in the comparison region by the voltage conversion means, and is higher on the high voltage side than in the comparison region. Are converted to be relatively low in the region of. For this reason, the range of the conversion voltage in the comparison region can be set wide while the conversion voltage does not exceed the withstand voltage of the circuit in the region on the higher voltage side than the comparison region. Therefore, the comparison voltage,
Since the influence of the variation in the detection accuracy of the comparing means on the determination of the external voltage can be suppressed low, the accuracy of the comparison between the external voltage and the reference voltage can be improved.

【0020】そして、請求項2の発明では、前記請求項
1の電圧制御回路における電圧変換手段は、前記電圧降
下用抵抗と直列に配置されるように前記入力端子と接続
された,ダイオード、またはダイオード接続されたトラ
ンジスタを備えているものとする。
According to a second aspect of the present invention, in the voltage control circuit of the first aspect, the voltage conversion means is connected to the input terminal so as to be arranged in series with the voltage dropping resistor. It is assumed that a diode-connected transistor is provided.

【0021】さらに、請求項3の発明では、前記請求項
2の電圧制御回路における比較手段は、前記比較電圧を
生成する比較電圧生成手段を備え、前記比較電圧生成手
段は、定電流源と、前記定電流源と直列に配置された,
ダイオード、またはダイオード接続されたトランジスタ
とを備えているものとする。
Further, in the invention according to claim 3, the comparison means in the voltage control circuit according to claim 2 includes comparison voltage generation means for generating the comparison voltage, wherein the comparison voltage generation means comprises: a constant current source; Placed in series with said constant current source,
A diode or a diode-connected transistor.

【0022】また、請求項4の発明では、前記請求項1
の電圧制御回路における電圧変換手段は、前記電圧降下
用抵抗と直列に配置されるように前記入力端子と接続さ
れた電圧降下素子と、前記電圧降下素子の、前記入力端
子側の電圧が、所定の制限電圧を越えないように制限を
かけるクランプ回路とを備えたものとする。
Further, in the invention of claim 4, according to claim 1,
The voltage control means in the voltage control circuit of (1) includes: a voltage drop element connected to the input terminal so as to be arranged in series with the voltage drop resistor; and a voltage on the input terminal side of the voltage drop element being a predetermined voltage. And a clamp circuit for limiting the voltage so as not to exceed the limit voltage.

【0023】そして、請求項5の発明では、前記請求項
4の電圧制御回路におけるクランプ回路は、前記電圧降
下素子と並列に設けられたトランジスタと、前記トラン
ジスタのドレイン電圧を一方の入力とするとともに、前
記制限電圧を他方の入力とし、その出力が前記トランジ
スタのゲート入力となるコンパレータとを備えているも
のとする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the voltage control circuit according to the fourth aspect, the clamp circuit includes a transistor provided in parallel with the voltage drop element and a drain voltage of the transistor as one input. , And a comparator whose other input is the limited voltage and whose output is the gate input of the transistor.

【0024】また、請求項6の発明では、前記請求項4
の電圧制御回路におけるクランプ回路は、前記電圧降下
素子と並列に設けられた、1つまたは直列に配置された
複数のダイオードまたはダイオード接続されたトランジ
スタを備えているものとする。
According to the sixth aspect of the present invention, the fourth aspect is provided.
It is assumed that the clamp circuit in the voltage control circuit includes one or a plurality of diodes or a diode-connected transistor arranged in parallel with the voltage drop element.

【0025】また、請求項7の発明では、前記請求項4
の電圧制御回路における電圧降下素子は、抵抗、ダイオ
ード、またはダイオード接続されたトランジスタである
ものとする。
According to the seventh aspect of the present invention, in the fourth aspect,
It is assumed that the voltage drop element in the voltage control circuit is a resistor, a diode, or a diode-connected transistor.

【0026】また、請求項8の発明は、ケーブルが接続
可能に構成されたネットワーク機器として、ケーブルを
介して供給された外部供給電圧が、所定の範囲内にある
か否かを判定する電圧判定部を備え、前記電圧判定部
は、前記請求項1の電圧制御回路と、一端がこの電圧制
御回路の前記入力端子に接続され、他端に前記外部供給
電圧が与えられる電圧降下用抵抗とを備えているもので
ある。
According to the present invention, as a network device to which a cable is connectable, a voltage judgment for judging whether or not an external supply voltage supplied via the cable is within a predetermined range. Wherein the voltage determination unit includes the voltage control circuit according to claim 1 and a voltage drop resistor having one end connected to the input terminal of the voltage control circuit and the other end supplied with the external supply voltage. It is equipped.

【0027】また、請求項9の発明が講じた解決手段
は、外部から供給された外部電圧とその比較基準となる
基準電圧との大小関係を検知する電圧制御回路として、
外部電圧が電圧降下用抵抗を介して印加可能な入力端子
と、一端が前記入力端子に接続され、他端が接地された
抵抗素子と、前記抵抗素子の前記一端の電圧を、前記基
準電圧と対応する所定の比較電圧と比較し、この比較結
果を示す信号を外部電圧と基準電圧との大小関係を示す
信号として出力するコンパレータとを備えたものであ
る。
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a voltage control circuit for detecting a magnitude relationship between an external voltage supplied from the outside and a reference voltage as a reference for comparison.
An input terminal to which an external voltage can be applied via a voltage drop resistor, one end of which is connected to the input terminal, the other end of which is grounded, and a voltage of the one end of the resistance element, A comparator for comparing with a corresponding predetermined comparison voltage and outputting a signal indicating the result of the comparison as a signal indicating the magnitude relation between the external voltage and the reference voltage.

【0028】また、請求項10の発明では、前記請求項
9の電圧制御回路における前記電圧降下用抵抗の抵抗値
は400KΩであり、前記抵抗素子の抵抗値は35kΩ
〜40kΩであるものとする。
According to a tenth aspect of the present invention, in the voltage control circuit of the ninth aspect, the resistance value of the voltage drop resistor is 400 KΩ, and the resistance value of the resistance element is 35 kΩ.
4040 kΩ.

【0029】さらに、請求項11の発明では、前記請求
項9の電圧制御回路における所定の比較電圧は、前記基
準電圧と、前記電圧降下用抵抗および前記抵抗素子の抵
抗値の比とに基づいて設定されるものとする。
Further, in the invention according to claim 11, the predetermined comparison voltage in the voltage control circuit according to claim 9 is based on the reference voltage and the ratio between the resistance of the voltage drop resistor and the resistance element. Shall be set.

【0030】また、請求項12の発明が講じた解決手段
は、ネットワーク機器において、ケーブルを介して供給
された外部供給電圧とその比較基準となる基準電圧との
大小関係を検知する方法として、前記外部供給電圧をこ
れよりも低い電圧に変換するステップと、前記電圧変換
ステップにおいて得られた変換電圧を前記基準電圧と対
応する所定の比較電圧と比較するステップとを備え、前
記電圧変換ステップは、外部供給電圧と変換電圧との関
係において、外部供給電圧の増分に対する変換電圧の増
分の比が、外部供給電圧が基準電圧の近傍にある比較領
域においては相対的に高く、前記比較領域よりも高電圧
側の領域においては相対的に低くなるように、電圧変換
を行うものである。
In a twelfth aspect of the present invention, a network device detects a magnitude relationship between an externally supplied voltage supplied via a cable and a reference voltage serving as a comparison reference in a network device. Converting the external supply voltage to a lower voltage, and comparing the converted voltage obtained in the voltage conversion step with a predetermined comparison voltage corresponding to the reference voltage, wherein the voltage conversion step includes: In the relationship between the external supply voltage and the conversion voltage, the ratio of the increment of the conversion voltage to the increment of the external supply voltage is relatively high in the comparison region where the external supply voltage is near the reference voltage, and is higher than in the comparison region. The voltage conversion is performed so that the voltage becomes relatively low in the voltage side region.

【0031】[0031]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、IEEE1394規格のCPS機能に対する構成を
例にとって、図面を参照して説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings, taking as an example a configuration for the CPS function of the IEEE 1394 standard.

【0032】(第1の実施形態)図1は本発明の第1の
実施形態に係る電圧制御回路の回路構成を示す図であ
る。図1では、電圧制御回路10において、ケーブルを
介して供給される外部電圧VDD_extと基準電圧との比
較を行うための構成のみを示している。図1において、
2はダイオード接続されたN型MOSトランジスタであ
る。MOSトランジスタ2は、ドレインおよびゲートが
入力端子1と接続され、ソースがグランドVssと接続さ
れており、入力端子1に接続された外付けの電圧降下用
抵抗11と直列に配置されるように構成されている。こ
のMOSトランジスタ2によって、電圧変換手段が構成
されている。3は変換電圧としてのMOSトランジスタ
2のドレイン電圧Vaを比較電圧Vbと比較し、この比
較結果を示す信号Vcps を外部電圧VDD_extと基準電
圧との大小関係を示す信号として出力する比較手段とし
てのコンパレータである。
(First Embodiment) FIG. 1 is a diagram showing a circuit configuration of a voltage control circuit according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1 shows only a configuration in the voltage control circuit 10 for comparing the external voltage VDD_ext supplied via a cable with a reference voltage. In FIG.
Reference numeral 2 denotes a diode-connected N-type MOS transistor. The MOS transistor 2 has a drain and a gate connected to the input terminal 1, a source connected to the ground Vss, and is arranged in series with an external voltage drop resistor 11 connected to the input terminal 1. Have been. The MOS transistor 2 constitutes a voltage converter. A comparator 3 compares the drain voltage Va of the MOS transistor 2 as a conversion voltage with a comparison voltage Vb, and outputs a signal Vcps indicating the comparison result as a signal indicating the magnitude relationship between the external voltage VDD_ext and the reference voltage. It is.

【0033】図2は図1の回路構成における外部電圧V
DD_extと変換電圧Vaとの関係を示すグラフである。
MOSトランジスタ2はダイオード接続されているの
で、変換電圧Vaはダイオード特性すなわち2乗特性
(飽和特性)を示す。したがって、図2に示すように、
外部電圧VDD_extが低い領域ではグラフの傾きは急峻
になり、一方、外部電圧VDD_extが高くなるにつれ
て、変換電圧Vaの上昇カーブは鈍くなっていく。この
ダイオード特性の曲線は、MOSトランジスタ2のサイ
ズによって決定される。
FIG. 2 shows the external voltage V in the circuit configuration of FIG.
6 is a graph showing a relationship between DD_ext and a conversion voltage Va.
Since MOS transistor 2 is diode-connected, converted voltage Va shows diode characteristics, that is, square characteristics (saturation characteristics). Therefore, as shown in FIG.
In the region where the external voltage VDD_ext is low, the slope of the graph becomes steep, while as the external voltage VDD_ext increases, the rising curve of the converted voltage Va becomes dull. The curve of the diode characteristic is determined by the size of the MOS transistor 2.

【0034】回路の検知性能の面からいうと、外部電圧
VDD_extが基準電圧の近傍にある低電圧側の比較領域
Aにおける曲線の傾きは大きい方が望ましいが、比較領
域Aにおける傾きを大きくすればするほど、高電圧側の
変換電圧Vaが高くなるので、場合によっては、変換電
圧Vaが耐電圧Vmax を越えてしまう。よって、外部電
圧VDD_extが40Vのときに変換電圧Vaが耐電圧Vm
ax すなわち3.6Vを越えない範囲で、MOSトラン
ジスタ2のサイズを最適化するのが望ましい。なお、規
格の上限電圧40Vは、回路保護の観点から目安として
定められたものであり、40Vを越えると回路を動作不
可にする必要は必ずしもない。したがって、外部電圧V
DD_extが40Vのときに変換電圧Vaが耐電圧Vmax
を越えないようにすればよいので、外部電圧VDD_ext
と40Vとの大小関係を判別する必要は必ずしもない。
In terms of the detection performance of the circuit, it is desirable that the slope of the curve in the comparison region A on the low voltage side where the external voltage VDD_ext is near the reference voltage is large. The higher the conversion voltage Va, the higher the conversion voltage Va on the high voltage side. In some cases, the conversion voltage Va exceeds the withstand voltage Vmax. Therefore, when the external voltage VDD_ext is 40 V, the conversion voltage Va becomes the withstand voltage Vm.
It is desirable to optimize the size of the MOS transistor 2 within the range not exceeding ax, that is, 3.6V. Note that the upper limit voltage 40V of the standard is determined as a guide from the viewpoint of circuit protection, and it is not always necessary to disable the circuit when it exceeds 40V. Therefore, the external voltage V
When the DD_ext is 40 V, the conversion voltage Va becomes the withstand voltage Vmax.
, The external voltage VDD_ext
It is not always necessary to determine the magnitude relationship between the voltage and 40V.

【0035】すなわち、本実施形態によると、1)外部
電圧VDD_extが基準電圧の近傍にある比較領域Aにお
いては、外部電圧VDD_extの増分に対する変換電圧V
aの増分の比(曲線の傾き)を大きくすることができる
ので、検知精度が高まる。また、比較電圧Vbをより高
く、内部電源電圧VDD_intの1/2程度に設定するこ
とが可能になる。そして、これとともに、2)比較領域
Aよりも高電圧側の領域Bにおいては、変換電圧Vaが
最大耐電圧Vmax を超えないように制御できる。本実施
形態では、ダイオード特性を利用して、1個のトランジ
スタ2によって、領域Aと領域Bにおける特性を実現し
ている。
That is, according to the present embodiment, 1) In the comparison region A where the external voltage VDD_ext is near the reference voltage, the conversion voltage V for the increment of the external voltage VDD_ext
Since the ratio of the increment of a (the slope of the curve) can be increased, the detection accuracy is increased. Further, it is possible to set the comparison voltage Vb to be higher and set to about 1/2 of the internal power supply voltage VDD_int. 2) In the region B on the higher voltage side than the comparison region A, the control can be performed so that the converted voltage Va does not exceed the maximum withstand voltage Vmax. In the present embodiment, the characteristics in the region A and the region B are realized by one transistor 2 using the diode characteristics.

【0036】例えば課題の項で示した図11では、外部
電圧VDD_extが5V〜10Vの範囲で変化したとき、
変換電圧Vaは0.45V〜0.9Vの範囲で変化す
る。これに対して、図2では、外部電圧VDD_extが5
V〜10Vの範囲で変化したとき、変換電圧Vaは1.
1V〜1.62Vの範囲で変化する。すなわち、外部電
圧VDD_extが基準電圧近傍の所定の範囲にあるとき、
変換電圧Vaは、変化する範囲が大きく、かつ、レベル
が高くなっている。これによって、比較電圧Vbやコン
パレータ3の検知精度のばらつきの影響が小さくなり、
かつ、コンパレータの検知感度も向上する。したがっ
て、検知精度を向上させることが可能となる。
For example, in FIG. 11 shown in the problem section, when the external voltage VDD_ext changes in a range of 5V to 10V,
The conversion voltage Va changes in the range of 0.45V to 0.9V. On the other hand, in FIG. 2, the external voltage VDD_ext is 5
When changed in the range of V to 10 V, the conversion voltage Va becomes 1.
It changes in the range of 1V to 1.62V. That is, when the external voltage VDD_ext is in a predetermined range near the reference voltage,
The conversion voltage Va has a large range of change and a high level. Thereby, the influence of the variation of the comparison voltage Vb and the detection accuracy of the comparator 3 is reduced,
In addition, the detection sensitivity of the comparator is improved. Therefore, the detection accuracy can be improved.

【0037】(第1の実施形態の変形例)図3は本発明
の第1の実施形態の変形例を示す回路図である。図3に
示す電圧制御回路10Aは、比較電圧Vbを生成する比
較電圧生成手段として、定電流源4およびダイオード接
続されたN型MOSトランジスタ5を備えている。この
比較電圧生成手段とコンパレータ3とによって、比較手
段が構成されている。
(Modification of First Embodiment) FIG. 3 is a circuit diagram showing a modification of the first embodiment of the present invention. The voltage control circuit 10A shown in FIG. 3 includes a constant current source 4 and a diode-connected N-type MOS transistor 5 as comparison voltage generation means for generating a comparison voltage Vb. The comparison voltage generating means and the comparator 3 constitute a comparing means.

【0038】第1の実施形態では、図10の構成に比べ
て、外部電圧VDD_extが基準電圧の近傍にあるときの
変換電圧Vaの範囲を拡大することができた。ところ
が、トランジスタ2の特性がプロセスや温度のばらつき
によって変化したとき、これに伴い、変換電圧Vaも変
動してしまうおそれがある。本変形例は、トランジスタ
2の特性のばらつきに対しても、さらに方策を施したも
のである。
In the first embodiment, the range of the converted voltage Va when the external voltage VDD_ext is near the reference voltage can be expanded as compared with the configuration of FIG. However, when the characteristics of the transistor 2 change due to variations in process or temperature, the conversion voltage Va may also change accordingly. In the present modification, further measures are taken against variations in the characteristics of the transistor 2.

【0039】図3において、トランジスタ5は、トラン
ジスタ2と同様にドレインとゲートとが接続されたダイ
オード接続になっており、そのドレインには定電流源4
が接続されている。このため、トランジスタ5には定電
流源4から常に一定の電流が供給され、トランジスタ5
のゲート電圧が比較電圧Vbとして出力される。
In FIG. 3, the transistor 5 has a diode connection in which the drain and the gate are connected similarly to the transistor 2, and the drain thereof has a constant current source 4
Is connected. Therefore, a constant current is always supplied from the constant current source 4 to the transistor 5, and the transistor 5
Is output as the comparison voltage Vb.

【0040】図3の構成では、コンパレータ3は、トラ
ンジスタ2によって制御された変換電圧Vaとトランジ
スタ5によって制御された比較電圧Vbとを比較する。
このため、トランジスタ2の特性の変化に起因して変換
電圧Vaが変動しても、比較電圧Vbもまたトランジス
タ5の特性の変化に起因して同様に変動し、かつ、電圧
Va,Vbの変動方向は同一であるので、その差には、
電圧変動の影響は現れない。したがって、トランジスタ
2の特性変化に起因する誤検知を防止することができ、
検知性能を向上させることができる。
In the configuration shown in FIG. 3, the comparator 3 compares the converted voltage Va controlled by the transistor 2 with the comparison voltage Vb controlled by the transistor 5.
Therefore, even if the converted voltage Va fluctuates due to a change in the characteristics of the transistor 2, the comparison voltage Vb also fluctuates similarly due to a change in the characteristics of the transistor 5, and the fluctuations in the voltages Va and Vb. Since the directions are the same, the difference is
The effect of voltage fluctuation does not appear. Therefore, erroneous detection due to a change in the characteristics of the transistor 2 can be prevented,
Detection performance can be improved.

【0041】(第2の実施形態)第1の実施形態におい
て、トランジスタ2のサイズをこれに流れる電流I1が
さらに少なくなるように調整すれば、図2の曲線が全体
的に上昇し、比較領域Aにおける曲線の傾きが大きくな
る。これにより、外部電圧VDD_extが基準電圧の近傍
にあるときの変換電圧Vaの範囲がさらに拡大されるの
で、検知精度をさらに高めることができる。ところがこ
の場合、比較領域Aよりも高電圧側の領域Bにおいて、
変換電圧Vaが耐電圧Vmax を越えてしまうおそれが生
じる。
(Second Embodiment) In the first embodiment, if the size of the transistor 2 is adjusted so that the current I1 flowing through the transistor 2 is further reduced, the curve of FIG. The slope of the curve at A increases. Thereby, the range of the converted voltage Va when the external voltage VDD_ext is near the reference voltage is further expanded, so that the detection accuracy can be further improved. However, in this case, in the region B on the higher voltage side than the comparison region A,
The conversion voltage Va may exceed the withstand voltage Vmax.

【0042】そこで、本発明の第2の実施形態では、変
換電圧Vaが所定の制限電圧を越えないように制限をか
けるクランプ回路を設ける。これにより、外部電圧VDD
_extが基準電圧の近傍にある比較領域Aにおいて、外
部電圧VDD_extの増分に対する変換電圧Vaの増分の
比をさらに高めることができる。
Therefore, in the second embodiment of the present invention, a clamp circuit for limiting the converted voltage Va so as not to exceed a predetermined limit voltage is provided. As a result, the external voltage VDD
In the comparison region A where _ext is near the reference voltage, the ratio of the increment of the conversion voltage Va to the increment of the external voltage VDD_ext can be further increased.

【0043】図4は本発明の第2の実施形態に係る電圧
制御回路の回路構成を示す図である。図4において、2
Aは電圧降下素子としてのダイオード接続されたN型M
OSトランジスタであり、図1のトランジスタ2より
も、ゲート幅が小さく、またはゲート長が大きく構成さ
れている。これにより、トランジスタ2Aの電流I1A
は図1のトランジスタ2を流れる電流I1よりも小さく
なる。20は変換電圧Vaが所定の制限電圧Vcを越え
ないように制限をかけるクランプ回路であって、トラン
ジスタ2Aと並列に設けられたN型MOSトランジスタ
21と、このトランジスタ21のドレイン電圧すなわち
変換電圧Vaを一方の入力とするとともに、制限電圧V
cを他方の入力とし、その出力がトランジスタ21のゲ
ート入力となるコンパレータ22とを備えている。な
お、内部電源電圧VDD_intは常に印加されているもの
とする。
FIG. 4 is a diagram showing a circuit configuration of a voltage control circuit according to a second embodiment of the present invention. In FIG. 4, 2
A is a diode-connected N-type M as a voltage drop element
It is an OS transistor and has a smaller gate width or a larger gate length than the transistor 2 in FIG. As a result, the current I1A of the transistor 2A
Becomes smaller than the current I1 flowing through the transistor 2 in FIG. Reference numeral 20 denotes a clamp circuit for limiting the conversion voltage Va so as not to exceed a predetermined limit voltage Vc, and an N-type MOS transistor 21 provided in parallel with the transistor 2A, and a drain voltage of the transistor 21, that is, a conversion voltage Va. As one input, and the limit voltage V
c is used as the other input, and a comparator 22 whose output is the gate input of the transistor 21 is provided. It is assumed that the internal power supply voltage VDD_int is always applied.

【0044】コンパレータ22は変換電圧Vaと制限電
圧Vcとを比較し、変換電圧Vaの方が高くなると
“H”を出力する。このとき、トランジスタ21はゲー
ト電圧が“H”になるためオン状態になり、トランジス
タ2AのドレインからグランドVssに電流I2を流
す。この結果、変換電圧Vaは制限電圧Vcを越えなく
なり、すなわち、制限電圧Vcでクランプされる。
The comparator 22 compares the converted voltage Va with the limit voltage Vc, and outputs "H" when the converted voltage Va becomes higher. At this time, the transistor 21 is turned on because the gate voltage becomes “H”, and the current I2 flows from the drain of the transistor 2A to the ground Vss. As a result, the converted voltage Va does not exceed the limit voltage Vc, that is, is clamped at the limit voltage Vc.

【0045】図5は図4の回路構成における外部電圧V
DD_extと変換電圧Vaとの関係を示すグラフである。
図5に示すように、比較領域Aにおいては、トランジス
タ2Aのサイズ調整によって、曲線の傾きが大きくな
り、外部電圧VDD_extが基準電圧の近傍にあるときの
変換電圧Vaの範囲が図2よりも拡大されている。一
方、領域Bにおいては、クランプ回路20によって、変
換電圧Vaはその上限が制限電圧Vcに抑制されるの
で、変換電圧Vaが耐電圧Vmax を越えることはない。
FIG. 5 shows the external voltage V in the circuit configuration of FIG.
6 is a graph showing a relationship between DD_ext and a conversion voltage Va.
As shown in FIG. 5, in the comparison area A, the slope of the curve increases due to the size adjustment of the transistor 2A, and the range of the conversion voltage Va when the external voltage VDD_ext is near the reference voltage is larger than that in FIG. Have been. On the other hand, in the region B, the upper limit of the conversion voltage Va is suppressed to the limit voltage Vc by the clamp circuit 20, so that the conversion voltage Va does not exceed the withstand voltage Vmax.

【0046】(第2の実施形態の変形例)図6は第2の
実施形態の変形例を示す回路図である。図6に示す電圧
制御回路10Cは、図4のトランジスタ2Aの代わりに
電圧降下素子としての抵抗6を備え、また、抵抗6と並
列に設けられ、かつ、直列に配置された3個のダイオー
ド接続されたN型MOSトランジスタ23a,23b,
23cを有するクランプ回路23を、クランプ回路20
の代わりに備えている。クランプ回路23の各トランジ
スタ23a,23b,23cは、変換電圧Vaが3Vt
(VtはN型MOSトランジスタのしきい値電圧)を越
えるとオン状態になり、抵抗6の入力端子側の端からグ
ランドVssに電流I2Aを流す。この結果、変換電圧
Vaは3Vtを越えなくなり、すなわち、所定の制限電
圧としての3Vtでクランプされる。
(Modification of Second Embodiment) FIG. 6 is a circuit diagram showing a modification of the second embodiment. The voltage control circuit 10C shown in FIG. 6 includes a resistor 6 as a voltage drop element in place of the transistor 2A of FIG. 4, and includes three diode connections provided in parallel with the resistor 6 and arranged in series. N-type MOS transistors 23a, 23b,
The clamp circuit 23 having the
Instead of Each of the transistors 23a, 23b, and 23c of the clamp circuit 23 has a conversion voltage Va of 3 Vt.
When (Vt exceeds the threshold voltage of an N-type MOS transistor), the transistor is turned on, and a current I2A flows from the input terminal side end of the resistor 6 to the ground Vss. As a result, the converted voltage Va does not exceed 3 Vt, that is, is clamped at 3 Vt as a predetermined limit voltage.

【0047】図7は図6の回路構成における外部電圧V
DD_extと変換電圧Vaとの関係を示すグラフである。
図7に示すように、比較領域Aにおいては、抵抗6によ
って、外部電圧VDD_extと変換電圧Vaとは比例関係
になる。また、コンパレータ3の入力となる比較電圧V
bが電源電圧のほぼ1/2程度に設定されるので、コン
パレータ3の感度の面からみて検出精度が改善される。
一方、領域Bにおいては、クランプ回路23によって、
変換電圧Vaはその上限が3Vtに抑制されるので、変
換電圧Vaが耐電圧Vmax を越えることはない。
FIG. 7 shows the external voltage V in the circuit configuration of FIG.
6 is a graph showing a relationship between DD_ext and a conversion voltage Va.
As shown in FIG. 7, in the comparison area A, the external voltage VDD_ext and the converted voltage Va are in a proportional relationship due to the resistance 6. In addition, the comparison voltage V input to the comparator 3
Since b is set to about 1/2 of the power supply voltage, the detection accuracy is improved in terms of the sensitivity of the comparator 3.
On the other hand, in the region B, the clamp circuit 23
Since the upper limit of the converted voltage Va is suppressed to 3 Vt, the converted voltage Va does not exceed the withstand voltage Vmax.

【0048】なお、図6の構成では、クランプ回路23
はN型MOSトランジスタによって構成されているが、
P型トランジスタによって構成してもかまわない。この
場合、各トランジスタにおいて、基板電位をソース電位
と共通にすることによって、基板効果の影響を少なくす
ることもできる。
In the configuration of FIG. 6, the clamp circuit 23
Is composed of N-type MOS transistors,
It may be constituted by a P-type transistor. In this case, by making the substrate potential common to the source potential in each transistor, the influence of the substrate effect can be reduced.

【0049】また、図6の構成では、クランプ回路23
を構成するトランジスタの個数を3としたが、このトラ
ンジスタの個数は、クランプをかける制限電圧に応じて
任意に設定可能であり、3に限定されるものではない。
また、この個数は、耐電圧Vmax とトランジスタのしき
い値電圧Vtに基づいて、適宜設定すればよい。
In the configuration shown in FIG. 6, the clamp circuit 23
Is set to three, but the number of transistors can be arbitrarily set according to the limiting voltage to be clamped, and is not limited to three.
The number may be appropriately set based on the withstand voltage Vmax and the threshold voltage Vt of the transistor.

【0050】さらに、図6の構成では、クランプ回路2
3を構成するトランジスタ23a,23b,23cの特
性のばらつきによって、クランプをかける制限電圧にば
らつきが生じることが予想される。ところがこの場合で
も、クランプをかける制限電圧が、比較電圧Vbよりも
充分高く、耐電圧Vmax よりも充分低い範囲にあれば、
回路動作上、特に問題は生じない。
Further, in the configuration of FIG.
It is anticipated that variations in the characteristics of the transistors 23a, 23b, and 23c constituting the third transistor will cause variations in the clamped voltage to be clamped. However, even in this case, if the limiting voltage to be clamped is sufficiently higher than the comparison voltage Vb and sufficiently lower than the withstand voltage Vmax,
There is no particular problem in circuit operation.

【0051】また、図4の構成において、クランプ回路
20の代わりに、図6のクランプ回路23を設けてもよ
い。また、図4の構成において、トランジスタ2Aの代
わりに抵抗6を設けてもかまわない。さらに、図4およ
び図6の構成において、トランジスタ2Aまたは抵抗6
の代わりに、電圧降下素子として、ゲートに所定電圧が
印加されたトランジスタを設けてもかまわない。このト
ランジスタを、非飽和の線形領域で動作させることによ
って、比較領域Aにおける曲線の傾きを急峻にすること
も可能である。
In the configuration of FIG. 4, a clamp circuit 23 of FIG. 6 may be provided instead of the clamp circuit 20. In the configuration of FIG. 4, a resistor 6 may be provided instead of the transistor 2A. 4 and 6, the transistor 2A or the resistor 6
Alternatively, a transistor having a gate to which a predetermined voltage is applied may be provided as a voltage drop element. By operating this transistor in the unsaturated linear region, the slope of the curve in the comparison region A can be made steep.

【0052】また、図4または図6の構成において、図
3に示すような比較電圧生成手段を併せて設けてもかま
わない。
Further, in the configuration of FIG. 4 or FIG. 6, a comparison voltage generating means as shown in FIG. 3 may be additionally provided.

【0053】また、図1のダイオード接続されたトラン
ジスタ2、図4のダイオード接続されたトランジスタ2
Aの代わりに、ダイオードを設けてもかまわない。ま
た、図3のダイオード接続されたトランジスタ2,5の
代わりに、ダイオードを設けてもよい。さらに、図6の
クランプ回路23を構成するダイオード接続されたトラ
ンジスタ23a,23b,23cの代わりに、ダイオー
ドを設けてもかまわない。
The diode-connected transistor 2 of FIG. 1 and the diode-connected transistor 2 of FIG.
A diode may be provided instead of A. A diode may be provided instead of the diode-connected transistors 2 and 5 in FIG. Further, a diode may be provided instead of the diode-connected transistors 23a, 23b and 23c constituting the clamp circuit 23 of FIG.

【0054】そして図9に示すネットワーク機器におい
て、課題の項で示した電圧制御回路50の代わりに、各
実施形態または各変形例に係る電圧制御回路10,10
A,10B,10Cを用いて電圧判定部15を構成する
ことによって、PHY部のCPS機能をより精度よく実
現することができる。
In the network device shown in FIG. 9, instead of the voltage control circuit 50 described in the section of the subject, the voltage control circuits 10 and 10 according to each embodiment or each modification are provided.
By configuring the voltage determination unit 15 using A, 10B, and 10C, it is possible to more accurately realize the CPS function of the PHY unit.

【0055】[0055]

【発明の効果】以上のように本発明によると、比較領域
よりも高電圧側の領域において、変換電圧が回路の耐電
圧を越えないようにしつつ、比較領域における変換電圧
の範囲を広く設定することができる。したがって、比較
電圧や、比較手段の検知精度のばらつきが外部電圧の判
定に対して与える影響を、低く抑えることができるの
で、外部電圧と基準電圧との比較の精度を高めることが
できる。
As described above, according to the present invention, the range of the conversion voltage in the comparison region is set wide while the conversion voltage does not exceed the withstand voltage of the circuit in the region on the higher voltage side than the comparison region. be able to. Therefore, the influence of the comparison voltage and the variation in the detection accuracy of the comparison means on the determination of the external voltage can be suppressed low, so that the accuracy of the comparison between the external voltage and the reference voltage can be improved.

【0056】そして、本発明に係る電圧制御回路を用い
ることによって、IEEE1394規格を満足するPH
Y部の開発が可能になる。
By using the voltage control circuit according to the present invention, a PH satisfying the IEEE 1394 standard is satisfied.
The development of Y section becomes possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態に係る電圧制御回路の
回路構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a circuit configuration of a voltage control circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の回路構成における外部電圧と変換電圧と
の関係を示すグラフである。
FIG. 2 is a graph showing a relationship between an external voltage and a converted voltage in the circuit configuration of FIG.

【図3】本発明の第1の実施形態の変形例を示す回路図
である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a modification of the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第2の実施形態に係る電圧制御回路の
回路構成を示す図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a circuit configuration of a voltage control circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図5】図4の回路構成における外部電圧と変換電圧と
の関係を示すグラフである。
FIG. 5 is a graph showing a relationship between an external voltage and a converted voltage in the circuit configuration of FIG.

【図6】本発明の第2の実施形態の変形例を示す回路図
である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing a modification of the second embodiment of the present invention.

【図7】図6の回路構成における外部電圧と変換電圧と
の関係を示すグラフである。
FIG. 7 is a graph showing a relationship between an external voltage and a converted voltage in the circuit configuration of FIG.

【図8】ネットワークシステムの構成の一部を示す図で
ある。
FIG. 8 is a diagram showing a part of the configuration of a network system.

【図9】図8に示すようなシステムを構成するネットワ
ーク機器の内部構成の一例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing an example of an internal configuration of a network device constituting the system as shown in FIG. 8;

【図10】本願発明者が考案した、IEEE1394規
格を満たす回路構成図である。
FIG. 10 is a circuit diagram satisfying the IEEE 1394 standard, devised by the inventor of the present application.

【図11】図10の回路構成における外部電圧と内部電
圧との関係を示すグラフである。
11 is a graph showing a relationship between an external voltage and an internal voltage in the circuit configuration of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

VDD_ext 外部電圧 Va 変換電圧 Vb 比較電圧 Vcps 外部電圧と基準電圧との大小関係を示す信号 A 比較領域 1 入力端子 2 ダイオード接続されたトランジスタ(電圧変換手
段) 2A ダイオード接続されたトランジスタ(電圧降下素
子) 3 コンパレータ(比較手段) 4 定電流源 5 ダイオード接続されたトランジスタ 6 抵抗(電圧降下素子) 10,10A,10B,10C 電圧制御回路 11 電圧降下用抵抗 12 ケーブル 15 電圧判定部 20 クランプ回路 21 トランジスタ 22 コンパレータ 23 クランプ回路 23a,23b,23c トランジスタ 51 抵抗素子
VDD_ext External voltage Va Conversion voltage Vb Comparison voltage Vcps Signal indicating magnitude relationship between external voltage and reference voltage A Comparison area 1 Input terminal 2 Diode-connected transistor (voltage conversion means) 2A Diode-connected transistor (voltage drop element) Reference Signs List 3 Comparator (comparing means) 4 Constant current source 5 Diode-connected transistor 6 Resistance (voltage drop element) 10, 10A, 10B, 10C Voltage control circuit 11 Voltage drop resistance 12 Cable 15 Voltage determination unit 20 Clamp circuit 21 Transistor 22 Comparator 23 Clamp circuit 23a, 23b, 23c Transistor 51 Resistive element

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H03K 5/08 (72)発明者 吉田 忠弘 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 高橋 学志 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 平田 貴史 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 有馬 幸生 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 小松 義英 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平10−79192(JP,A) 特開 平10−214122(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G05F 1/10 G01R 19/165 G05F 3/24 H01L 21/822 H01L 27/04 H03K 5/08 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI H03K 5/08 (72) Inventor Tadahiro Yoshida 1006 Oojidoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Takahashi Gakushi 1006, Kazuma, Kazuma, Kazuma, Osaka, Japan Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Takashi Hirata 1006, Kazuma, Kazuma, Kazuma, Osaka, Japan Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 1006 Oaza Kadoma, Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Yoshihide Komatsu 1006 Oaza Kadoma, Kadoma, Osaka Pref. Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (56) References JP-A 10-79192 (JP, A) Kaihei 10-214122 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G05F 1/10 G01R 19/165 G05F 3/24 H01L 21/822 H01L 27/04 H03K 5/08

Claims (12)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 外部から供給された外部電圧と、その比
較基準となる基準電圧との大小関係を検知する電圧制御
回路であって、 外部電圧が、電圧降下用抵抗を介して印加可能な入力端
子と、 前記入力端子に印加された外部電圧を、前記電圧降下用
抵抗と併せて、外部電圧よりも低い電圧に変換する電圧
変換手段と、 前記電圧変換手段から出力された変換電圧を、前記基準
電圧と対応する所定の比較電圧と比較し、この比較結果
を示す信号を、外部電圧と基準電圧との大小関係を示す
信号として出力する比較手段とを備え、 前記電圧変換手段は、 外部電圧と変換電圧との関係において、外部電圧の増分
に対する変換電圧の増分の比が、外部電圧が基準電圧の
近傍にある比較領域においては、相対的に高く、前記比
較領域よりも高電圧側の領域においては、相対的に低く
なるように、電圧変換を行うものであることを特徴とす
る電圧制御回路。
1. A voltage control circuit for detecting a magnitude relation between an external voltage supplied from the outside and a reference voltage as a comparison reference, wherein the external voltage is an input that can be applied via a voltage drop resistor. A voltage conversion unit that converts an external voltage applied to the input terminal into a voltage lower than the external voltage, together with the voltage drop resistance, and a conversion voltage output from the voltage conversion unit. Comparing means for comparing the reference voltage with a predetermined comparison voltage corresponding thereto, and outputting a signal indicating the result of the comparison as a signal indicating the magnitude relationship between the external voltage and the reference voltage; In the relationship between the conversion voltage and the conversion voltage, the ratio of the increment of the conversion voltage to the increment of the external voltage is relatively high in the comparison region where the external voltage is near the reference voltage, and is higher on the higher voltage side than the comparison region. Oite a voltage control circuit, characterized in that as relatively low, and performs voltage conversion.
【請求項2】 請求項1記載の電圧制御回路において、 前記電圧変換手段は、 前記電圧降下用抵抗と直列に配置されるように前記入力
端子と接続された,ダイオード、またはダイオード接続
されたトランジスタを備えていることを特徴とする電圧
制御回路。
2. The voltage control circuit according to claim 1, wherein said voltage conversion means is connected to said input terminal so as to be arranged in series with said voltage dropping resistor, or is a diode-connected transistor. A voltage control circuit, comprising:
【請求項3】 請求項2記載の電圧制御回路において、 前記比較手段は、前記比較電圧を生成する比較電圧生成
手段を備え、 前記比較電圧生成手段は、 定電流源と、 前記定電流源と直列に配置された,ダイオード、または
ダイオード接続されたトランジスタとを備えていること
を特徴とする電圧制御回路。
3. The voltage control circuit according to claim 2, wherein the comparison means includes comparison voltage generation means for generating the comparison voltage, wherein the comparison voltage generation means includes a constant current source, and the constant current source. A voltage control circuit, comprising: a diode or a diode-connected transistor arranged in series.
【請求項4】 請求項1記載の電圧制御回路において、 前記電圧変換手段は、 前記電圧降下用抵抗と直列に配置されるように前記入力
端子と接続された電圧降下素子と、 前記電圧降下素子の、前記入力端子側の電圧が、所定の
制限電圧を越えないように制限をかけるクランプ回路と
を備えたものであることを特徴とする電圧制御回路。
4. The voltage control circuit according to claim 1, wherein said voltage conversion means is connected to said input terminal so as to be arranged in series with said voltage drop resistor; and said voltage drop element. And a clamp circuit for limiting the voltage on the input terminal side so as not to exceed a predetermined limit voltage.
【請求項5】 請求項4記載の電圧制御回路において、 前記クランプ回路は、 前記電圧降下素子と並列に設けられたトランジスタと、 前記トランジスタのドレイン電圧を一方の入力とすると
ともに、前記制限電圧を他方の入力とし、その出力が前
記トランジスタのゲート入力となるコンパレータとを備
えていることを特徴とする電圧制御回路。
5. The voltage control circuit according to claim 4, wherein the clamp circuit has a transistor provided in parallel with the voltage drop element, a drain voltage of the transistor as one input, and the limit voltage is set to A voltage control circuit comprising: a comparator having the other input and an output serving as a gate input of the transistor.
【請求項6】 請求項4記載の電圧制御回路において、 前記クランプ回路は、 前記電圧降下素子と並列に設けられた、1つまたは直列
に配置された複数の、ダイオードまたはダイオード接続
されたトランジスタを備えていることを特徴とする電圧
制御回路。
6. The voltage control circuit according to claim 4, wherein the clamp circuit includes one or a plurality of diodes or diode-connected transistors provided in parallel with the voltage drop element and arranged in series. A voltage control circuit, comprising:
【請求項7】 請求項4記載の電圧制御回路において、 前記電圧降下素子は、 抵抗、ダイオード、またはダイオード接続されたトラン
ジスタであることを特徴とする電圧制御回路。
7. The voltage control circuit according to claim 4, wherein the voltage drop element is a resistor, a diode, or a diode-connected transistor.
【請求項8】 ケーブルが接続可能に構成されたネット
ワーク機器であって、 ケーブルを介して供給された外部供給電圧が、所定の範
囲内にあるか否かを判定する電圧判定部を備え、 前記電圧判定部は、 請求項1記載の電圧制御回路と、 一端がこの電圧制御回路の前記入力端子に接続され、他
端に前記外部供給電圧が与えられる電圧降下用抵抗とを
備えているネットワーク機器。
8. A network device configured to be connectable to a cable, comprising: a voltage determination unit that determines whether an external supply voltage supplied via the cable is within a predetermined range, 2. A network device comprising: the voltage control circuit according to claim 1; and a voltage drop resistor having one end connected to the input terminal of the voltage control circuit and the other end supplied with the external supply voltage. .
【請求項9】 外部から供給された外部電圧と、その比
較基準となる基準電圧との大小関係を検知する電圧制御
回路であって、 外部電圧が、電圧降下用抵抗を介して印加可能な入力端
子と、 一端が前記入力端子に接続され、他端が接地された抵抗
素子と、 前記抵抗素子の前記一端の電圧を、前記基準電圧と対応
する所定の比較電圧と比較し、この比較結果を示す信号
を外部電圧と基準電圧との大小関係を示す信号として出
力するコンパレータとを備えたことを特徴とする電圧制
御回路。
9. A voltage control circuit for detecting a magnitude relationship between an external voltage supplied from the outside and a reference voltage as a comparison reference, wherein the external voltage is an input that can be applied via a voltage drop resistor. A resistance element having one end connected to the input terminal and the other end grounded; comparing a voltage at the one end of the resistance element with a predetermined comparison voltage corresponding to the reference voltage; A voltage control circuit comprising: a comparator that outputs a signal indicating the magnitude as a signal indicating a magnitude relationship between an external voltage and a reference voltage.
【請求項10】 請求項9記載の電圧制御回路におい
て、 前記電圧降下用抵抗の抵抗値は、400kΩであり、 前記抵抗素子の抵抗値は、35kΩ〜40kΩであるこ
とを特徴とする電圧制御回路。
10. The voltage control circuit according to claim 9, wherein a resistance value of the voltage dropping resistor is 400 kΩ, and a resistance value of the resistance element is 35 kΩ to 40 kΩ. .
【請求項11】 請求項9記載の電圧制御回路におい
て、 前記所定の比較電圧は、 前記基準電圧と、前記電圧降下用抵抗および前記抵抗素
子の抵抗値の比とに基づいて、設定されることを特徴と
する電圧制御回路。
11. The voltage control circuit according to claim 9, wherein the predetermined comparison voltage is set based on a ratio between the reference voltage and a resistance value of the voltage drop resistance and the resistance element. A voltage control circuit characterized by the following.
【請求項12】 ネットワーク機器において、ケーブル
を介して供給された外部供給電圧と、その比較基準とな
る基準電圧との大小関係を検知する方法であって、 前記外部供給電圧を、これよりも低い電圧に変換するス
テップと、 前記電圧変換ステップにおいて得られた変換電圧を、前
記基準電圧と対応する所定の比較電圧と比較するステッ
プとを備え、 前記電圧変換ステップは、 外部供給電圧と変換電圧との関係において、外部供給電
圧の増分に対する変換電圧の増分の比が、外部供給電圧
が基準電圧の近傍にある比較領域においては相対的に高
く、前記比較領域よりも高電圧側の領域においては相対
的に低くなるように、電圧変換を行うものであることを
特徴とする電圧検知方法。
12. A method for detecting, in a network device, a magnitude relationship between an external supply voltage supplied via a cable and a reference voltage serving as a comparison reference, the external supply voltage being lower than the reference voltage. Converting the voltage into a voltage, and comparing the converted voltage obtained in the voltage converting step with a predetermined comparison voltage corresponding to the reference voltage, wherein the voltage converting step includes the steps of: In the relationship, the ratio of the increment of the conversion voltage to the increment of the external supply voltage is relatively high in the comparison region where the external supply voltage is near the reference voltage, and is relatively high in the region on the higher voltage side than the comparison region. A voltage detection method characterized by performing voltage conversion so as to be as low as possible.
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