JP3311298B2 - エッジャ開度制御装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、熱間圧延プラント
などで使用されるエッジャ開度制御装置に係わり、特に
圧延処理で得られた製品の幅変化に基づいた学習を行っ
てエッジャ開度を制御し、製品の幅を一定にするエッジ
ャ開度制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】熱間圧延プラントでは、熱間圧延プロセ
スで得られた製品の幅、特に先端、尾端の幅形状を一定
幅にして、クロップ量を減らして歩留まりを向上させる
ことが重要な要素となっている。

【０００３】この際、製品の先端部分、尾端部分では、
幅の変化が一定のパターンになることから、エッジャ開
度の設定を行う際、被圧延材の種類、化学成分、圧下量
などに応じて、パターンテーブルの登録されている各エ
ッジャ開度パターンのうち、最適なエッジャ開度パター
ンを読み出し、これを設定エッジャ開度パターンとし、
被圧延材の圧延を行うとき、設定エッジャ開度パターン
に基づき、エッジャ開度を一定のパターンで変化させ
て、搬入された被圧延材の幅を調整させ、製品の先端部
分、定常部分、尾端部分の幅を目標値と一致させてい
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
熱間圧延プラントでは、設定エッジャ開度パターンの精
度を良くするために、図１６に示すように、熱間圧延プ
ロセスで得られた製品の幅（幅データ）を検出し、各幅
データと、幅目標値との偏差（幅偏差）ΔＢ_iを収集し
てオフラインで、解析者に各幅偏差ΔＢ_iを解析させ、
各幅偏差ΔＢ_iがゼロになるように、パターンテーブル
に登録されている各エッジャ開度パターンを補正してい
る。

【０００５】このため、被圧延材を熱間圧延して製品を
製造する毎に、製品の幅データを採取して解析者による
解析を行わなければならず、手間が大変であると同時
に、解析を行った時点から、解析結果が製品の熱間圧延
プロセスに反映されるまで、かなりの時間がかかってし
まうという問題があった。

【０００６】本発明は上記の事情に鑑み、請求項１で
は、被圧延材を熱間圧延して製品を製造する毎に得られ
た製品の幅データに基づき、設定エッジャ開度パターン
を最適化して製品の幅を一定にすることができ、これに
よってクロップ量を減らして歩留まりを向上させること
ができるエッジャ開度制御装置を提供することを目的と
している。

【０００７】請求項２では、被圧延材を熱間圧延して製
品を製造する毎に得られた製品の幅データに基づき、Ｐ
Ｉ演算によって設定エッジャ開度パターンを最適化し、
これによって演算処理を分かり易くし、調整を容易にし
ながら、製品の幅を一定にすることができるとともに、
クロップ量を減らして歩留まりを向上させることができ
るエッジャ開度制御装置を提供することを目的としてい
る。

【０００８】請求項３では、被圧延材を熱間圧延して製
品を製造する毎に得られた製品の幅データに基づき、幅
圧下効率を調整しながら、ＰＩ演算によって設定エッジ
ャ開度パターンを最適化し、これによって収束速度を早
めながら、製品の幅を一定にすることができるととも
に、クロップ量を減らして歩留まりを向上させることが
できるエッジャ開度制御装置を提供することを目的とし
ている。

【０００９】請求項４では、パターンテーブルに登録す
る各エッジャ開度パターンの要素数を少なくして必要な
メモリ容量を低減させながら、被圧延材を熱間圧延して
製品を製造する毎に得られた製品の幅データに基づき、
設定エッジャ開度パターンを最適化し、これによって製
品の幅を一定にすることができるとともに、クロップ量
を減らして歩留まりを向上させることができるエッジャ
開度制御装置を提供することを目的としている。

【００１０】請求項５では、パターンテーブルに登録す
る各エッジャ開度パターンの要素数を少なくして必要な
メモリ容量を低減させるとともに、演算量を少なくしな
がら、被圧延材を熱間圧延して製品を製造する毎に得ら
れた製品の幅データに基づき、設定エッジャ開度パター
ンを最適化し、これによって製品の幅を一定にすること
ができるとともに、クロップ量を減らして歩留まりを向
上させることができるエッジャ開度制御装置を提供する
ことを目的としている。

【００１１】請求項６では、パターンテーブルに登録す
る各エッジャ開度パターンの要素数を少なくして必要な
メモリ容量を低減させるとともに、演算量を少なくし、
さらに特異な幅データを除去しながら、被圧延材を熱間
圧延して製品を製造する毎に得られた製品の幅データに
基づき、設定エッジャ開度パターンを最適化し、これに
よって製品の幅を一定にすることができるとともに、ク
ロップ量を減らして歩留まりを向上させることができる
エッジャ開度制御装置を提供することを目的としてい
る。

【００１２】請求項７では、ベジェ曲線を使用すること
により、特異な幅データに影響されることなく、被圧延
材を熱間圧延して製品を製造する毎に得られた製品の幅
データに基づき、設定エッジャ開度パターンを最適化
し、これによって製品の幅を一定にすることができると
ともに、クロップ量を減らして歩留まりを向上させるこ
とができるエッジャ開度制御装置を提供することを目的
としている。

【００１３】請求項８では、所定条件を満たす評価点を
用いて複数のベジェ曲線を作成するとともに、ＧＡ法を
使用して最適なベジェ曲線を選択して特異な幅データに
影響されることなく、最適な近似曲線と、被圧延材を熱
間圧延して製品を製造する毎に得られた製品の幅データ
とに基づき、設定エッジャ開度パターンを最適化し、こ
れによって製品の幅を一定にすることができるととも
に、クロップ量を減らして歩留まりを向上させることが
できるエッジャ開度制御装置を提供することを目的とし
ている。

【００１４】請求項９では、任意の評価点を用いて複数
のベジェ曲線を作成するとともに、ＧＡ法を使用してさ
らに最適なベジェ曲線を選択して特異な幅データに影響
されることなく、さらに最適な近似曲線と、被圧延材を
熱間圧延して製品を製造する毎に得られた製品の幅デー
タとに基づき、設定エッジャパターンを最適化し、これ
によって製品の幅を一定にすることができるとともに、
クロップ量を減らして歩留まりを向上させることができ
るエッジャ開度制御装置を提供することを目的としてい
る。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、請求項１では、搬入された被圧延材をエ
ッジャロールにより幅方向に圧延するとともに水平ロー
ルにより厚み方向に圧延して、指定された形状の製品を
製造する熱間圧延プラントにおいて、前記各製品の各部
に対するエッジャ開度を示す複数のエッジャ開度データ
によって構成されたエッジャ開度パターンが登録された
パターンテーブルを有し、前記被圧延材を圧延する際
に、指定された製品形状や材種に対応するエッジャ開度
パターンを前記パターンテーブルから読み出して前記エ
ッジャロールのエッジャ開度を調整する設定計算機能部
と、前記製品の板幅を実際に測定して得られた幅データ
に基づき、所定の演算を行ってエッジャ開度補正データ
を算出し、算出されたエッジャ開度補正データに基づ
き、前記パターンテーブルに登録されている前記各エッ
ジャ開度パターンのうち、前記製品に対応するエッジャ
開度パターンを修正する幅学習機能部とを備えたことを
特徴としている。

【００１６】請求項２では、請求項１に記載のエッジャ
開度制御装置において、前記幅学習機能部は、前記製品
の板幅を実際に測定して得られた幅データに基づき、Ｐ
Ｉ演算を行って前記製品の各部に対する複数のエッジャ
開度補正データを算出し、各エッジャ開度補正データに
基づき、前記パターンテーブルに登録されている前記各
エッジャ開度パターンのうち、前記製品に対応するエッ
ジャ開度パターンを補正することを特徴としている。

【００１７】請求項３では、請求項１または２のいずれ
かに記載のエッジャ開度制御装置において、前記幅学習
機能部は、前記製品の板幅を実際に測定して得られた幅
データに基づき、幅圧下効率を調整しながら、ＰＩ演算
を行って前記製品の各部に対する複数のエッジャ開度補
正データを算出し、各エッジャ開度補正データに基づ
き、前記パターンテーブルに登録されている前記各エッ
ジャ開度パターンのうち、前記製品に対応するエッジャ
開度パターンを補正することを特徴としている。

【００１８】請求項４では、請求項１に記載のエッジャ
開度制御装置において、前記幅学習機能部は、前記製品
の板幅を実際に測定して得られた幅データと、予め設定
されている幅目標値との偏差に基づき、前記製品の各部
に対する補正直線を算出し、この補正直線に基づき、前
記パターンテーブルに登録されている前記各エッジャパ
ターンのうち、前記製品に対応するエッジャ開度パター
ンを補正することを特徴としている。

【００１９】請求項５では、請求項１または４のいずれ
かに記載のエッジャ開度制御装置において、前記幅学習
機能部は、前記製品の板幅を実際に測定して得られた幅
データと、予め設定されている幅目標値との偏差に基づ
き、近似演算によって前記製品の各部に対する補正多次
式を算出し、この補正多次式に基づき、前記パターンテ
ーブルに登録されている前記各エッジャ開度パターンの
うち、前記製品に対応するエッジャ開度パターンを補正
することを特徴としている。

【００２０】請求項６では、請求項１、４、５のいずれ
かに記載のエッジャ開度制御装置において、前記幅学習
機能部は、前記製品の板幅を実際に測定して得られた幅
データのうち、エッジャ開度を狭める特異な幅データを
除去して、残った幅データと、予め設定されている幅目
標値との偏差に基づき、近似演算によって前記製品の各
部に対する補正直線または補正曲線を算出し、この補正
直線または補正曲線に基づき、前記パターンテーブルに
登録されている前記各エッジャ開度パターンのうち、前
記製品に対応するエッジャ開度パターンを補正すること
を特徴としている。

【００２１】請求項７では、請求項１に記載のエッジャ
開度制御装置において、前記幅学習機能部は、前記製品
の板幅を実際に測定して得られた幅データに基づき、ベ
ジェ曲線を作成するとともに、このベジェ曲線に基づ
き、前記製品の各部に対するエッジャ開度補正データを
算出し、このエッジャ開度補正データに基づき、前記パ
ターンテーブルに登録されている前記各エッジャ開度パ
ターンのうち、前記製品に対応するエッジャ開度パター
ンを補正することを特徴としている。

【００２２】請求項８では、請求項１、７のいずれかに
記載のエッジャ開度制御装置において、前記幅学習機能
部は、被圧延材の長さ方向に等間隔になり、かつ幅方向
に任意の値となる各点を各評価点として選択するとと
も、幅方向値を切り替えながら、複数のベジェ曲線と、
各ベジェ曲線の遺伝子とを作成し、前記各ベジェ曲線と
前記製品の幅データとの差の積分値を示す評価関数を作
成し、各評価関数のうち、最も小さな値となる評価関数
に対応する遺伝子、ベジェ曲線をＧＡ法を用いて選択す
るとともに、このベジェ曲線に基づき、前記製品の各部
に対するエッジャ開度補正データを算出し、このエッジ
ャ開度補正データに基づき、前記パターンテーブルに登
録されている前記各エッジャ開度パターンのうち、前記
製品に対応するエッジャ開度パターンを補正することを
特徴としている。

【００２３】請求項９では、請求項１、７のいずれかに
記載のエッジャ開度制御装置において、前記幅学習機能
部は、被圧延材の長さ方向に対し、任意の位置になり、
かつ幅方向に任意の値となる各点を各評価点として選択
するととも、各評価点の位置、幅方向値を切り替えなが
ら、複数のベジェ曲線と、各ベジェ曲線の遺伝子とを作
成し、前記各ベジェ曲線と前記製品の幅データとの差の
積分値を示す評価関数を作成し、各評価関数のうち、最
も小さな値となる評価関数に対応する遺伝子、ベジェ曲
線をＧＡ法を用いて選択するとともに、このベジェ曲線
に基づき、前記製品の各部に対するエッジャ開度補正デ
ータを算出し、このエッジャ開度補正データに基づき、
前記パターンテーブルに登録されている前記各エッジャ
開度パターンのうち、前記製品に対応するエッジャ開度
パターンを補正することを特徴としている。

【００２４】上記の構成により、請求項１では、被圧延
材を圧延するとき、設定計算機能部のパターンテーブル
に登録されている各エッジャ開度パターンのうち、指定
された製品形状や材種に対応するエッジャ開度パターン
を読み出して、エッジャロールのエッジャ開度を調整す
るとともに、製品の板幅を実際に測定して得られた幅デ
ータに基づき、幅学習機能部によって、所定の演算を行
ってエッジャ開度補正データを算出し、このエッジャ開
度補正データに基づき、パターンテーブルに登録されて
いる各エッジャ開度パターンのうち、製品に対応するエ
ッジャ開度パターンを修正する。これにより、被圧延材
を熱間圧延して製品を製造する毎に、設定エッジャ開度
パターンを最適化して、製品の幅を一定にし、クロップ
量を減らして歩留まりを向上させる。

【００２５】請求項２では、製品の板幅を実際に測定し
て得られた幅データに基づき、幅学習機能部によって、
ＰＩ演算を行って製品の各部に対する複数のエッジャ開
度補正データを算出し、各エッジャ開度補正データに基
づき、パターンテーブルに登録されている各エッジャ開
度パターンのうち、製品に対応するエッジャ開度パター
ンを補正する。これにより、被圧延材を熱間圧延して製
品を製造する毎に、ＰＩ演算によって、設定エッジャ開
度パターンを最適化し、演算処理を分かり易くし、調整
を容易にしながら、製品の幅を一定にするとともに、ク
ロップ量を減らして歩留まりを向上させる。

【００２６】請求項３では、製品の板幅を実際に測定し
て得られた幅データに基づき、幅学習機能部によって、
幅圧下効率を調整しながら、ＰＩ演算を行って製品の各
部に対する複数のエッジャ開度補正データを算出し、各
エッジャ開度補正データに基づき、パターンテーブルに
登録されている各エッジャ開度パターンのうち、製品に
対応するエッジャ開度パターンを補正する。これによ
り、被圧延材を熱間圧延して製品を製造する毎に、幅圧
下効率を調整しながら、ＰＩ演算によって、設定エッジ
ャ開度パターンを最適化し、収束速度を早めながら、製
品の幅を一定にするとともに、クロップ量を減らして歩
留まりを向上させる。

【００２７】請求項４では、幅学習機能部によって、製
品の板幅を実際に測定して得られた幅データと、予め設
定されている幅目標値との偏差に基づき、近似演算を行
い、製品の各部に対する補正直線を算出し、この補正直
線に基づき、パターンテーブルに登録されている各エッ
ジャ開度パターンのうち、製品に対応するエッジャ開度
パターンを補正する。これにより、パターンテーブルに
登録する各エッジャ開度パターンの要素数を少なくし
て、必要なメモリ容量を低減させながら、被圧延材を熱
間圧延して製品を製造する毎に、設定エッジャ開度パタ
ーンを最適化し、製品の幅を一定にするとともに、クロ
ップ量を減らして歩留まりを向上させる。

【００２８】請求項５では、幅学習機能部によって、製
品の板幅を実際に測定して得られた幅データと、予め設
定されている幅目標値との偏差に基づき、近似演算を行
い、製品の各部に対する補正多次式を算出し、この補正
多次式に基づき、パターンテーブルに登録されている各
エッジャ開度パターンのうち、製品に対応するエッジャ
開度パターンを補正する。これにより、パターンテーブ
ルに登録する各エッジャ開度パターンの要素数を少なく
して、必要なメモリ容量を低減させるとともに、演算量
を少なくしながら、被圧延材を熱間圧延して製品を製造
する毎に、設定エッジャ開度パターンを最適化し、製品
の幅を一定にするとともに、クロップ量を減らして歩留
まりを向上させる。

【００２９】請求項６では、幅学習機能部によって、製
品の板幅を実際に測定して得られた幅データのうち、エ
ッジャ開度を狭める特異な幅データを除去して、残った
幅データと、予め設定されている幅目標値との偏差に基
づき、近似演算を行い、製品の各部に対する補正直線ま
たは補正曲線を算出し、この補正直線または補正曲線に
基づき、パターンテーブルに登録されている各エッジャ
開度パターンのうち、製品に対応するエッジャ開度パタ
ーンを補正する。これにより、パターンテーブルに登録
する各エッジャ開度パターンの要素数を少なくして、必
要なメモリ容量を低減させるとともに、演算量を少なく
し、さらに特異な幅データを除去しながら、被圧延材を
熱間圧延して製品を製造する毎に、設定エッジャ開度パ
ターンを最適化し、製品の幅を一定にするとともに、ク
ロップ量を減らして歩留まりを向上させる。

【００３０】請求項７では、製品の板幅を実際に測定し
て得られた幅データに基づき、幅学習機能部によって、
ベジェ曲線を作成するとともに、このベジェ曲線に基づ
き、製品の各部に対するエッジャ開度補正データを算出
し、このエッジャ開度補正データに基づき、パターンテ
ーブルに登録されている各エッジャ開度パターンのう
ち、製品に対応するエッジャ開度パターンを補正する。
これにより、特異な幅データに影響されることなく、被
圧延材を熱間圧延して製品を製造する毎に、設定エッジ
ャ開度パターンを最適化し、製品の幅を一定にするとと
もに、クロップ量を減らして歩留まりを向上させる。

【００３１】請求項８では、幅学習機能部によって、被
圧延材の長さ方向に等間隔になり、かつ幅方向に任意の
値となる各点を各評価点として選択するととも、幅方向
値を切り替えながら、複数のベジェ曲線と、各ベジェ曲
線の遺伝子とを作成した後、各ベジェ曲線と製品の幅デ
ータとの差の積分値を示す評価関数を作成し、各評価関
数のうち、最も小さな値となる評価関数に対応する遺伝
子、ベジェ曲線をＧＡ法を用いて選択するとともに、こ
のベジェ曲線に基づき、製品の各部に対するエッジャ開
度補正データを算出し、このエッジャ開度補正データに
基づき、パターンテーブルに登録されている各エッジャ
開度パターンのうち、製品に対応するエッジャ開度パタ
ーンを補正する。これにより、ＧＡ法を使用して最適な
ベジェ曲線を作成し、これによって特異な幅データに影
響されることなく、最適な近似曲線と、被圧延材を熱間
圧延して得られた製品の各幅データとに基づき、設定エ
ッジャ開度パターンを最適化し、製品の幅を一定にする
とともに、クロップ量を減らして歩留まりを向上させ
る。

【００３２】請求項９では、幅学習機能部によって、被
圧延材の長さ方向に対し、任意の位置になり、かつ幅方
向に任意の値となる各点を各評価点として選択するとと
も、各評価点の位置、幅方向値を切り替えながら、複数
のベジェ曲線と、各ベジェ曲線の遺伝子とを作成した
後、各ベジェ曲線と製品の幅データとの差の積分値を示
す評価関数を作成し、各評価関数のうち、最も小さな値
となる評価関数に対応する遺伝子、ベジェ曲線をＧＡ法
を用いて選択するとともに、このベジェ曲線に基づき、
製品の各部に対するエッジャ開度補正データを算出し、
このエッジャ開度補正データに基づき、パターンテーブ
ルに登録されている各エッジャ開度パターンのうち、製
品に対応するエッジャ開度パターンを補正する。これに
より、ＧＡ法を使用して、さらに最適なベジェ曲線を作
成し、これによって特異な幅データに影響されることな
く、さらに最適な近似曲線と、被圧延材を熱間圧延して
得られた製品の各幅データとに基づき、設定エッジャ開
度パターンを最適化し、製品の幅を一定にするととも
に、クロップ量を減らして歩留まりを向上させる。

【００３３】

【発明の実施の形態】《第１の実施形態》図１は本発明
によるエッジャ開度制御装置のうち、請求項１、２に対
応する第１の実施形態を使用した熱間圧延システムの一
例を示すブロック図である。

【００３４】この図に示す熱間圧延システム１は、被圧
延材２を搬送する搬送路３と、この搬送路３の前段側に
配置され、入力されたエッジャ開度データに応じてエッ
ジャ開度を調整し、搬送路３上を通過する被圧延材２の
板幅を調整する１対のエッジャローラ４と、搬送路３の
中段部分に配置され、ロール間隔を調整して搬送路３上
を通過する被圧延材２の厚みを調整する１対の水平ロー
ラ５と、搬送路３の後段側に配置され、水平ローラ５に
よって圧延された製品の板幅を測定して幅データを生成
する幅計６と、この幅計６から出力される幅データを取
り込んで記録紙７上に記録するチャートコーダ８と、幅
計６から出力される幅データを取り込んで記憶するとと
もに、記憶している各幅データに基づき、学習を行っ
て、被圧延材２の種類、化学成分、圧下量などに応じて
分類された各エッジャ開度パターンの学習項を補正し、
エッジャロール４に供給するエッジャ開度データを随
時、補正するエッジャ開度制御装置９と、パソコンまた
はＥＷＳ（エンジニリアリングワークステーション）な
どによって構成され、エッジャ開度制御装置９によって
収集された各幅データを取り込むとともに、予め登録さ
れている解析プログラムなどを使用して解析データをト
レンド表示する解析装置１０とを備えている。

【００３５】そして、この熱間圧延システム１では、被
圧延材２を熱間圧延して製品を製造するとき、エッジャ
開度制御装置９に登録されている各エッジャ開度パター
ンのうち、被圧延材２の種類、化学成分、圧下量などに
応じたエッジャ開度パターンを選択させるとともに、こ
のエッジャ開度パターンに応じたエッジャ開度データを
エッジャローラ４に供給して、エッジャ開度を一定のパ
ターンで変化させながら、搬入された被圧延材２を圧延
させ、製品の先端部分、定常部分、尾端部分の幅を目標
値と一致させる。さらに、エッジャ開度制御装置９によ
って、幅計６から出力される幅データをオンラインで解
析して、エッジャ開度パターンと、製品の幅パターンと
の関係を学習させ、この学習結果に基づき、各製品の幅
パターンと、目標値との偏差がゼロになるように、エッ
ジャ開度パターンの学習項を補正する。

【００３６】この場合、エッジャ開度制御装置９は、幅
計６から出力される幅データを収集して記憶するととも
に、記憶している各幅データを解析装置１０に供給する
実績値収集機能部１１と、この実績値収集機能部１１に
記憶されている各幅データを取り込んでＰＩ操作を施し
て各製品の幅パターンと幅目標値との偏差をゼロにする
のに必要な学習項を求める幅学習機能部１２と、この幅
学習機能部１２で得られた学習項を使用してパターンテ
ーブル１３に登録されている各エッジャ開度パターンを
修正し、エッジャローラ４に供給しているエッジャ開度
データを調整する設定計算機能部１４とを備えている。

【００３７】そして、このエッジャ開度制御装置９で
は、被圧延材２の種類、化学成分、圧下量などに応じた
エッジャ開度パターンを選択させ、このエッジャ開度パ
ターンに応じたエッジャ開度データをエッジャローラ４
に供給して、エッジャ開度を一定のパターンで変化させ
るとともに、幅計６から出力される幅データを取り込ん
で、解析装置１０に供給させるとともに、取り込んだ各
幅データに基づき、オンラインで製品の形状を解析し
て、各製品の幅パターンと、幅目標値との偏差をゼロに
するのに必要な学習項を計算し、各製品の幅パターン
と、幅目標値との偏差がゼロになるように、エッジャロ
ーラ４のエッジャ開度を調整する。

【００３８】次に、図２に示すフローチャートを参照し
つつ第１の実施形態の動作について系統的に説明する。

【００３９】まず、被圧延材２を熱間圧延して製品を製
造するとき、エッジャ開度制御装置９の設定計算機能部
１４によって、予め登録されている各エッジャ開度パタ
ーンのうち、被圧延材２の種類、化学成分、圧下量など
に応じたエッジャ開度パターンが選択されるとともに、
このエッジャ開度パターンに応じたエッジャ開度データ
が生成され、これがエッジャローラ４に供給される。

【００４０】これにより、搬送路３を介して被圧延材２
が搬入される毎に、エッジャローラ４によって、被圧延
材２の先頭からの距離に応じて、エッジャ開度が一定の
パターンで変更され、被圧延材２の幅が調整される。ま
た、水平ローラ５によってエッジャ処理済みの被圧延材
２が厚み方向に圧延される。このようにして先端部分、
定常部分、および尾端部分の幅、および厚みが目標値と
一致した製品が製造され、搬出される。

【００４１】以上の圧延動作と並行して、製品が製造さ
れる毎に幅計６によって製品の幅が測定されて幅データ
が生成され、各幅データに基づき、チャートコーダ８の
記録紙７上に、各製品の幅が時系列的に記録される。ま
た、エッジャ開度制御装置９の実績収集機能部１１によ
って幅データが収集、記憶され、さらに解析装置１０に
よって実績収集機能部１１に記憶されている各幅データ
が解析されて各製品の幅などのトレンド情報が表示され
る（ステップＳＴ１）。

【００４２】さらに、実績収集機能部１１に記憶されて
いる各幅データに基づき、エッジャ開度制御装置９の幅
学習機能部１２によって、図３に示すように、製品の先
頭を起点にして予め設定された長さ毎、例えば製品の先
頭を起点として、０ｍｍ、２００ｍｍ、４００ｍｍ、６
００ｍｍ、８００ｍｍなど、各制御点毎の幅データと、
予め設定されている製品の幅目標値との幅偏差が計算さ
れ（ステップＳＴ２）、これによって得られた各制御点
毎の幅偏差データΔＢ_i（但し、ｉ＝１、２、…、５）
に基づき、次式に示す演算が行われ、ｉ番目の制御点に
対するエッジャ開度補正データΔＥ_iが計算される（ス
テップＳＴ３）。

【００４３】

【数１】 但し、ΔＥ_i：ｉ番目の制御点におけるエッジャ開度補
正データ ΔＢ_i：ｉ番目の制御点における幅偏差データ ∂Ｂ／∂Ｅ｜_i：ｉ番目の制御点における幅圧下効率
（先尾端幅モデル式などの数式モデルにて算出された可
変値または実績値に基づいて得られた固定値）

【００４４】次いで、幅学習機能部１２によって、
（１）式で得られたエッジャ開度補正データΔＥ_iに基
づき、次式に示す演算が行われ、各制御点におけるエッ
ジャ開度の学習項Ｚ_SSiが計算された後（ステップＳＴ
４）、 Ｚ_SSi＝α_I・ΔＥ_i＋Ｚ_SSi＋α_P・ΔＥ_i …（２） 但し、α_I：積分ゲイン α_P：比例ゲイン Ｚ_SSi：制御点ｉでのエッジャ開度の学習項 ΔＥ_i：ｉ番目の制御点におけるエッジャ開度補正デー
タ

【００４５】次式に示す演算が行われ、エッジャ開度パ
ターンを構成するエッジャ開度データＥ_iが計算され
る。

【００４６】 Ｅ_i＝Ｅ_ORGi＋Ｚ_SSi …（３） 但し、Ｅ_i：ｉ番目のエッジャ開度データＥ_i Ｚ_SSi：制御点ｉでのエッジャ開度学習項 Ｅ_ORGi：パターンテーブルに登録されているエッジャ開
度パターンを構成する各エッジャ開度データのうち、ｉ
番目の制御点におけるエッジャ開度データ

【００４７】その後、幅学習機能部１２によって、エッ
ジャローラ４の油圧応答特性と、各制御点でのエッジャ
開度データＥ_iとが比較されて、各エッジャ開度データ
Ｅ_iが実現可能な数値であるかどうかがチェックされ、
実際のエッジャローラ４が応答できるように、各制御点
でのエッジャ開度データＥ_iの学習項Ｚ_SSiにリミットが
かけられる（ステップＳＴ５）。

【００４８】例えば、エッジャロール４の油圧応答特性
が図４の点線１５に示すようにしか調整できなければ、
（３）式によって実線１６に示すように、各制御点にお
けるエッジャ開度データＥ_iが得られても、３番目の制
御点以降、エッジャローラ４がエッジャ開度データＥ_i
に追随しなくなり、製品の幅が幅目標値より狭くなり、
これを製品として販売できなくなることから、一点鎖線
１７に示すように、各制御点におけるエッジャ開度デー
タＥ_iの学習項Ｚ_SSiが補正される。

【００４９】次いで、幅学習機能部１２によって得られ
たリミット補正済みの各エッジャ開度データＥ_iの学習
項Ｚ_SSiに基づき、設定計算機能部１４のパターンテー
ブル１３に登録される各エッジャ開度パターンのうち、
被圧延材２の種類、化学成分、圧下量などに応じたエッ
ジャ開度パターン、すなわち各エッジャ開度データＥ_i
を得るときに使用したエッジャ開度パターンの学習項Ｚ
_SSiが更新される（ステップＳＴ６）。

【００５０】これにより、次の被圧延材２を熱間圧延し
て製品を製造するとき、設定計算機能部１４によって、
更新されたエッジャ開度パターンを構成する各エッジャ
開度データＥ_iが選択され、これがエッジャローラ４に
供給されて製品の先端部分、定常部分、尾端部分の幅が
幅目標値と一致するようにエッジャローラ４のエッジャ
開度が調整される。

【００５１】このように、第１の実施形態においては、
被圧延材２を熱間圧延して製品を製造するとき、幅計６
によって圧延処理で製造された製品の幅を測定するとと
もに、エッジャ開度制御装置９によって、幅計６から出
力される幅データをオンラインで解析し、エッジャロー
ラ４に供給しているエッジャ開度パターンと、製品の幅
パターンとの関係を学習させ、この学習結果に基づき、
各製品の幅パターンと、目標値との偏差がゼロになるよ
うに、エッジャ開度パターンの学習項Ｚ_SSiを補正する
ようにした。このため、被圧延材２を熱間圧延して製品
を製造する毎に、ＰＩ演算によりエッジャ開度パターン
を最適化して製品の幅を一定にすることができ、これに
よりクロップ量を減らして歩留まりを向上させることが
できる（請求項１、２の効果）。また調整も容易であ
る。

【００５２】《第２の実施形態》次に本発明によるエッ
ジャ開度制御装置のうち、請求項１、３に対応する第２
の実施形態を説明する。なお、基本的な構成は図１に示
した第１の実施形態における熱間圧延システム１と同一
であるため図示は省略する。

【００５３】第２の実施形態の特徴は、前述した（１）
式に示す演算を行う前に、幅学習機能部１２によって次
式に示す演算を行い、各被圧延材２に対する各制御点の
幅圧下効率を最適化させ、これによってＰＩ演算で使用
されるゲインを大きくして、できるだけ早く収束させる
ようにしたことである。

【００５４】

【数２】 但し、α：平滑係数 ｉ：制御点を示すインデックス ｊ：被圧延材２を示すインデックス Ｅ_i、j：今回の被圧延材２を圧延したときに得られた各
制御点でのエッジャ開度データ Ｂ_i、j：前回の被圧延材２を圧延したときに得られた各
制御点での幅実績値 Ｅ_i、j-1：前回の被圧延材２を圧延したときに得られた
各制御点でのエッジャ開度データ Ｂ_i、j-1：前回の被圧延材２を圧延したときに得られた
各制御点での幅実績値 ∂Ｂ／∂Ｅ｜_i、j：ｉ番目の制御点における幅圧下効率 このように、この第２の実施形態では、（１）式に示す
演算を行う前に、幅学習機能部１２により上式に示す演
算を行って、各被圧延材２に対する各制御点の幅圧下効
率を最適化させて、ＰＩ演算で使用されるゲインを大き
くするようにした。このため、被圧延材２を熱間圧延し
て製品を製造する毎に、ＰＩ演算を早期に収束させて設
定エッジャ開度パターンを最適化させ、製品の幅を一定
にすることができるとともに、クロップ量を減らして歩
留まりを向上させることができる（請求項１、３の効
果）。

【００５５】《第３の実施形態》次に本発明によるエッ
ジャ開度制御装置のうち、請求項１、４に対応する第３
の実施形態を説明する。なお、基本的な構成は図１に示
した第１の実施形態における熱間圧延システム１と同一
であるため図示は省略する。

【００５６】第３の実施形態の特徴は、図５に示すよう
に、被圧延材２の端部を圧延するときに使用するエッジ
ャ開度データを２つの直線１８及び１９で近似し、これ
に対応して、被圧延材２の端部を圧延するときに使用す
るエッジャ開度補正データも２つの直線で近似し、さら
に各直線の不連続点Ｃを処理して、各エッジャ開度デー
タを最適化することにより、エッジャ開度パターンの要
素を簡素化し、制御効率、メモリ効率を向上させるよう
にしたことである。

【００５７】この場合、被圧延材２の端部長さを１００
０ｍｍとすると、次式に示すように、被圧延材２の端部
を圧延するときに使用するエッジャ開度データＥを２本
の直線１８、１９で近似できることから、 Ｅ＝ａ₁Ｘ＋ｂ₁ ［０≦Ｘ＜Ｃ］ …（５） Ｅ＝ａ₂Ｘ＋ｂ₂ ［Ｃ≦Ｘ＜１０００］ …（６） 比例定数ａ₁、ａ₂、定数ｂ₁、ｂ₂、Ｃによって、被圧延
材２を圧延するときに使用するエッジャ開度パターンを
表現することができ、これら比例定数ａ₁、ａ₂、定数ｂ
₁、ｂ₂、制御点を示すインデックスＣをパターンテーブ
ル１３に登録するだけで、エッジャロール４のエッジャ
開度を最適化することができる。

【００５８】この際、これら（５）式、（６）式で使用
される比例定数ａ₁、ａ₂がエッジャロール４が持つ油圧
応答特性による制限を受けることから、これら比例定数
ａ₁、ａ₂のみについて、リミット処理を行えば良い。

【００５９】そして、エッジャ開度パターンを（５）
式、（６）式で表わしていることから、これら（５）
式、（６）式で示される各エッジャ開度データＥに対す
るエッジャ開度補正データΔＥも、次式に示すように、
２本の直線で近似した形式で表わすことができる。

【００６０】 ΔＥ＝ａ₃Ｘ＋ｂ₃ ［０≦Ｘ＜Ｃ］ …（７） ΔＥ＝ａ₄Ｘ＋ｂ₄ ［Ｃ≦Ｘ＜１０００］ …（８） 但し、Ｘ：被圧延材２の先端からの距離 ΔＥ：エッジャ開度データＥに対するエッジャ開度補正
データ 次に、図６に示すフローチャートを参照しながら、この
ような２本の直線で近似されるエッジャ開度補正データ
ΔＥの算出手順について詳細に説明する。

【００６１】まず、エッジャロール４、水平ロール５に
よって被圧延材２を圧延して製品を製造する毎に、幅計
６によって製品の幅が測定され、これによって得られた
幅データがエッジャ開度制御装置９の実績収集機能部１
１によって収集され、被圧延材２の種類（化学成分）、
圧延方法（幅圧下量、厚み圧下量）、幅の区分毎に分類
されて記憶される（ステップＳＴ１１）。

【００６２】そして、幅計６によって幅が測定された製
品の本数が（７）式、（８）式で表わされるエッジャ開
度補正データΔＥを求めるのに十分な本数、例えば５０
本に達したとき、幅学習機能部１２によって、実績収集
機能部１１に記憶されている各幅データが制御点Ｃより
前の幅データと、制御点Ｃより後の幅データとに振り分
けられるとともに（ステップＳＴ１２）、各幅データに
基づき、第１の実施形態における幅学習機能部１２と同
様な手順で、図７に示すように、エッジャ開度補正デー
タΔＥが求められる（ステップＳＴ１３）。

【００６３】その後、幅学習機能部１２によって、０番
目の制御点に対応するエッジャ開度補正データΔＥ〜Ｃ
番目の制御点に対応するエッジャ開度補正データΔＥま
での各エッジャ開度補正データΔＥに対し、最小２乗法
が適用され、（７）式を構成する比例定数ａ₃と、定数
ｂ₃とが下記の（９）式で表わされる油圧応答特性を満
たすように同定されるとともに、Ｃ番目の制御点に対応
するエッジャ開度補正データΔＥ〜最終番目の制御点に
対応するエッジャ開度補正データΔＥまでの各エッジャ
開度補正データΔＥに対し、最小２乗法が適用されて、
（８）式を構成する比例定数ａ₄と、定数ｂ₄とが下記の
（１０）式で表わされる油圧応答特性を満たすように同
定される（ステップＳＴ１４）。

【００６４】Ｌ_E≦ａ₁＋ａ₃≦Ｕ_E …（９） Ｌ_E≦ａ₂＋ａ₄≦Ｕ_E …（１０） 但し、Ｌ_E：エッジャロール４のエッジャ開度を調整す
る際の油圧応答下限値 Ｕ_E：エッジャロール４のエッジャ開度を調整する際の
油圧応答上限値

【００６５】次いで、幅学習機能部１２によって、これ
ら（９）式、（１０）式を満たすように同定された比例
定数ａ₃、ａ₄に基づき、（７）式、（８）式に示すエッ
ジャ開度補正データΔＥが決定された後、各エッジャ開
度補正データΔＥを表わす２本の直線がＣ番目の制御点
で連続しているかどうかがチェックされ、Ｃ番目の制御
点で、これらの直線が不連続になっていれば、Ｃ番目の
制御点でのエッジャ開度補正データΔＥとして、エッジ
ャロール４の開度が開く方向の直線上のエッジャ開度補
正データΔＥが使用される（ステップＳＴ１５）。

【００６６】これにより、Ｃ番目の制御点より前のエッ
ジャ開度補正データΔＥと、Ｃ番目の制御点から後のエ
ッジャ開度補正データΔＥとが図８（ａ）に示すような
直線２０、２１であれば、Ｃ番目の制御点より前のエッ
ジャ開度補正データΔＥを表わす直線２０上のエッジャ
開度補正データΔＥが選択されて、これがＣ番目の制御
点でのエッジャ開度補正データΔＥとして使用され、ま
たＣ番目の制御点より前のエッジャ開度補正データΔＥ
と、Ｃ番目の制御点から後のエッジャ開度補正データΔ
Ｅとが図８（ｂ）に示すような直線２２、２３であれ
ば、Ｃ番目の制御点より後のエッジャ開度補正データΔ
Ｅを表わす直線２３上のエッジャ開度補正データΔＥが
選択されて、これがＣ番目の制御点でのエッジャ開度補
正データΔＥとして使用される。

【００６７】その後、幅学習機能部１２によって、各エ
ッジャ開度補正データΔＥに基づき、パターンテーブル
１３に登録されている各エッジャ開度パターンの構成要
素（比例定数ａ₁、ａ₂、定数ｂ₁、ｂ₂、Ｃ）のうち、幅
データを得るときに使用したエッジャ開度パターンの比
例定数ａ₂、定数ｂ₂（学習項）が補正されて、エッジャ
ロール４のエッジャ開度が調整される（ステップＳＴ１
６）。

【００６８】このように、この第３の実施形態では、被
圧延材２の端部を圧延するときに使用するエッジャ開度
データを２つの直線１８及び１９で近似し、これに対応
して、被圧延材２の端部を圧延するときに使用するエッ
ジャ開度補正データも直線で近似し、さらに各直線の不
連続点Ｃを処理して、各エッジャ開度データを最適化す
るようにした。このため、パターンテーブル１３に登録
する各エッジャ開度パターンの要素数を少なくして、必
要なメモリ容量を低減させながら、被圧延材２を熱間圧
延して製品を製造する毎に得られた製品の幅データに基
づき、設定エッジャ開度パターンを最適化することがで
き、これによって製品の幅を一定にすることができると
ともに、クロップ量を減らして歩留まりを向上させるこ
とができる（請求項１、４の効果）。

【００６９】《第４の実施形態》次に本発明によるエッ
ジャ開度制御装置のうち、請求項１、５に対応する第４
の実施形態を説明する。なお、基本的な構成は図１に示
した第１の実施形態における熱間圧延システム１と同一
であるため図示は省略する。

【００７０】第４の実施形態の特徴は、被圧延材２の端
部を圧延するときに使用するエッジャ開度補正データΔ
Ｅを１つの多次式で近似し、第３の実施形態における熱
間圧延システムで生じる問題、すなわちエッジャ開度補
正データΔＥを示す各直線の不連続が発生しないように
したことである。

【００７１】この場合、被圧延材２の端部を圧延すると
きのエッジャ開度補正データΔＥを近似する１つの多次
式として、例えば次式に示す４次式を使用する。 ΔＥ＝ｄ₄Ｘ₄＋ｄ₃Ｘ₃＋ｄ₂Ｘ₂＋ｄ₁Ｘ＋ｄ₀ …（１１） 但し、Ｘ：被圧延材２の先端からの距離 ｄ₄：曲線の特性を示す４次定数 ｄ₃：曲線の特性を示す３次定数 ｄ₂：曲線の特性を示す２次定数 ｄ₁：曲線の特性を示す１次定数 ｄ₀：定数

【００７２】このように、この第４の実施形態では、被
圧延材２の端部を圧延するときに使用するエッジャ開度
補正データΔＥを１つの多次式で近似するようにした。
このため、エッジャ開度補正データΔＥを示す各直線の
不連続が発生しないようにし、これによって不連続点の
処理などを不要にして演算量を低減させながら、パター
ンテーブル１３に登録する各エッジャ開度パターンの要
素数を少なくし、さらに設定エッジャ開度パターンを最
適化して、製品の幅を一定にすることができるととも
に、クロップ量を減らして歩留まりを向上させることが
できる（請求項１、５の効果）。

【００７３】《第５の実施形態》次に本発明によるエッ
ジャ開度制御装置のうち、請求項１、６に対応する第５
の実施形態を説明する。なお、基本的な構成は図１に示
した第１の実施形態における熱間圧延システム１と同一
であるため図示は省略する。

【００７４】第５の実施形態の特徴は、実績収集機能部
１１によって収集された１つの製品に関する幅データの
うち、同種の製品に関する幅データの特徴と明確に異な
る特性を持ち、この幅データが製品の幅を極端に狭める
方向の幅データであるとき、この幅データを無効にし、
これによって被圧延材２の幅圧下により、多少、幅が広
めに出ても、製品の幅が目標値より下回らないようにし
て、引き当て通りの製品出荷を行うことができるように
したことである。

【００７５】この際、次に述べる手順で、各幅データの
特徴を判定して、同種の製品と異なる幅データを無効に
する。

【００７６】まず、エッジャ開度制御装置９の幅学習機
能部１２によって、パターンテーブル１３に登録されて
いる前回までの学習項に基づき、前回までの製品に関す
る各制御点でのエッジャ開度補正データΔＥ_APiを計算
し、各エッジャ開度補正データΔＥ_APiと、今回の製品
に対する幅データから求めた各制御点でのエッジャ開度
補正データΔＥ_iとの差が下記の（１２）式を満たして
いるとき、またはこれらの差を積分した値（積分値）が
下記の（１３）式を満たしているとき、今回、得られた
各制御点でのエッジャ開度補正データΔＥ_iを無効にす
る。

【００７７】

【数３】 但し、ｉ：制御点を示すインデックス β₁：個々の制御点での差に対する上限値 β₂：個々の制御点での差を積分した値に対する上限値 ΔＥ_i：幅実績値から求めたｉ番目の制御点でのエッジ
ャ開度補正値 ΔＥ_APi：計算によって得られた近似直線（または近似
曲線）にＸを代入して得られたｉ番目の制御点でのエッ
ジャ開度補正データ

【００７８】その後、幅学習機能部１２によって、これ
ら（１２）式、（１３）式によって削除されずに残った
各エッジャ開度補正データΔＥ_iに基づき、第３の実施
形態における幅学習機能部１２と同様な手順で、各制御
点でのエッジャ開度補正データΔＥを求めて、幅データ
を得るときに使用したエッジャ開度パターンの学習項を
補正する。

【００７９】これにより、図９（ａ）に示すように、パ
ターンテーブル１３に登録されている前回までの学習項
によって得られる各エッジャ開度補正データΔＥ_APiの
各折れ線２４に対し、今回の各エッジャ開度補正データ
ΔＥ_iを示す折れ線２５の一部が極端に下回るとき、す
なわち今回の各エッジャ開度補正データΔＥ_iを使用し
て近似（同定）を行うと、近似によって得られたエッジ
ャ開度データＥの折れ線がエッジャローラ４の開度を極
端に狭め、製品の一部分の幅が極端に狭くなってしまう
恐れがあるとき、（１２）式によって今回の各エッジャ
開度補正データΔＥ_iを無効にして、製品の幅が目標値
より狭くならないようにする。

【００８０】同様に、図９（ｂ）に示すように、パター
ンテーブル１３に登録されている前回までの学習項によ
って得られる各エッジャ開度補正データΔＥ_APiの各折
れ線２６に対し、今回の各エッジャ開度補正データΔＥ
_iを示す折れ線２７が全体的に下回るとき、すなわち今
回の各エッジャ開度補正データΔＥ_iを使用して近似
（同定）を行うと、近似によって得られたエッジャ開度
データＥの折れ線がエッジャローラ４の開度を極端に狭
め、製品の先端部分、後端部分の幅が極端に狭くなって
しまう恐れがあるとき、（１３）式によって今回の各エ
ッジャ開度補正データΔＥ_iを無効にして、製品の幅が
目標値より狭くならないようにする。

【００８１】このように、この第５の実施形態では、実
績収集機能部１１によって収集された１つの製品に関す
る幅データのうち、同種の製品に関する幅データの特徴
と明確に異なる特性を持ち、この幅データが製品の幅を
極端に狭める方向の幅データであるとき、この幅データ
を無効にするようにした。このため、パターンテーブル
１３に登録する各エッジャ開度パターンの要素数を少な
くして、必要なメモリ容量を低減させながら、特異な幅
データよる影響を無くして、設定エッジャ開度パターン
を最適化することができ、これによって被圧延材２の幅
圧下により、多少、幅が広めに出ても、製品の幅が目標
値より下回らないようにして、引き当て通りの製品出荷
を行うようにしながら、クロップ量を減らして歩留まり
を向上させることができる（請求項１、６の効果）。

【００８２】《第６の実施形態》次に本発明によるエッ
ジャ開度制御装置のうち、請求項１、７に対応する第６
の実施形態を説明する。なお、基本的な構成は図１に示
した第１の実施形態における熱間圧延システム１と同一
であるため図示は省略する。

【００８３】第６の実施形態の特徴は、実績収集機能部
１１によって収集されて記憶された各製品毎の各幅デー
タに基づき、幅学習機能部１２によって、ベジェ曲線を
計算して、設定計算機能部１４のパターンテーブル１３
に登録されている各エッジャ開度パターンのうち、製品
に対応するエッジャ開度パターンの学習項を補正し、こ
れによってノイズなどに起因して突発的に幅データが変
化しても、これらの幅データにリミットをかけることな
く、ノイズによる影響を小さくしながら、エッジャロー
ラ４のエッジャ開度を最適化するようにしたことであ
る。

【００８４】この場合、この実施形態では、図１０のフ
ローチャートに示す手順で、エッジャローラ４のエッジ
ャ開度を最適化する。

【００８５】まず、エッジャロール４、水平ロール５に
よって被圧延材２を圧延して製品を製造する毎に、幅計
６によって、製品の幅を測定し、これによって得られた
幅データがエッジャ開度制御装置９の実績収集機能部１
１によって収集されて、被圧延材２の種類（化学成
分）、圧延方法（幅圧下量、厚み圧下量）、幅の区分毎
に分類されて、記憶される（ステップＳＴ２１）。

【００８６】そして、幅計６によって幅が測定された製
品の本数がエッジャ開度補正データを求めるのに十分な
本数に達したとき、幅学習機能部１２によって、実績収
集機能部１１に記憶されている各制御点毎の各幅データ
と、予め設定されている幅目標値とが比較され、これら
の偏差（幅偏差データ）が求められるとともに（ステッ
プＳＴ２２）、各幅偏差データに基づき、第１の実施形
態における幅学習機能部１２と同様な手順で、図１１に
示すように、各制御点のエッジャ開度補正データΔＥ
（サンプル値となるデータ）が求められる（ステップＳ
Ｔ２３）。

【００８７】次いで、幅学習機能部１２によって、各制
御点毎に各サンプル値が平均化されて、各制御点におけ
る各サンプル値の平均位置を示す位置ベクトルＰ_i（評
価点を示すベクトル）が求められた後（ステップＳＴ２
４）、次式に示す演算が行われて、各制御点の位置ベク
トルＰ_iに対応するベジェ曲線２８を構成する位置ベク
トルＺが求められる（ステップＳＴ２５）。

【００８８】

【数４】 但し、ｉ：評価点となる制御点を示すインデックス Ｎ：評価点の個数 ｔ：０≦ｔ≦１となる媒介変数 Ｚ：ベジェ曲線を構成する位置ベクトル Ｐ_i：各制御点の位置ベクトル その後、幅学習機能部１２によって、（１４）式で得ら
れたベジェ曲線２８上にある各点の値に基づき、各制御
点におけるエッジャ開度補正データΔＥが求められると
ともに、各エッジャ開度補正データΔＥに基づき、設定
計算機能部１４のパターンテーブル１３に登録される各
エッジャ開度パターンのうち、被圧延材２の種類、化学
成分、圧下量などに応じたエッジャ開度パターン、すな
わち各エッジャ開度補正データΔＥを得るときに使用し
たエッジャ開度パターンの学習項が更新される。

【００８９】これにより、次の被圧延材２を熱間圧延し
て、製品を製造するとき、設定計算機能部１４によっ
て、更新されたエッジャ開度パターンを構成する各エッ
ジャ開度データＥが選択されて、これがエッジャローラ
４に供給され、製品の先端部分、定常部分、尾端部分の
幅が目標値と一致するように、エッジャローラ４のエッ
ジャ開度が調整される（ステップＳＴ２６）。

【００９０】このように、この第６の実施形態では、実
績収集機能部１１によって収集されて記憶された各製品
毎の各幅データに基づき、幅学習機能部１２によって、
ベジェ曲線を計算して、設定計算機能部１４のパターン
テーブル１３に登録されている各エッジャ開度パターン
のうち、製品に対応するエッジャ開度パターンの学習項
を補正するようにした。このため、ノイズなどに起因し
て突発的に幅データが変化しても、これらの幅データに
リミットをかけることなく、ノイズによる影響を小さく
しながら、被圧延材２を熱間圧延して製品を製造する毎
に得られた製品の幅データに基づき、設定エッジャ開度
パターンを最適化し、これによって製品の幅を一定にす
ることができるとともに、クロップ量を減らして歩留ま
りを向上させることができる（請求項１、７の効果）。

【００９１】《第７の実施形態》次に本発明によるエッ
ジャ開度制御装置のうち、請求項１、８に対応する第７
の実施形態を説明する。なお、基本的な構成は図１に示
した第１の実施形態における熱間圧延システム１と同一
であるため図示は省略する。

【００９２】第７の実施形態の特徴は、幅学習機能部１
２によって、所定の条件を満たすベジェ曲線を複数個、
作成するとともに、ＧＡ法を用いて最も良好なベジェ曲
線を選択し、このベジェ曲線に基づき、設定計算機能部
１４のパターンテーブル１３に登録されている各エッジ
ャパターンのうち、製品に対応するエッジャ開度パター
ンの学習項を補正し、これによってノイズなどに起因し
て突発的に幅データが変化しても、これらの幅データに
リミットをかけることなく、ノイズによる影響を小さく
しながら、エッジャローラのエッジャ開度を最適化する
ようにしたことである。

【００９３】この場合、次に述べる手順で各評価点Ｐ_i
を決めて、複数のベジェ曲線を作成し、ＧＡ法を用いて
最も良好なベジェ曲線を求める。

【００９４】まず、幅学習機能部１２によって、図１２
に示すように、被圧延材２の先端から距離を示すＸ軸上
に、被圧延材２の先端（０ｍｍ）を起点として、ａ（ｍ
ｍ）までを求める評価点の個数に応じて等間隔に距離を
とり制御点ｘ_iとし、制御点ｘ_iに対する各幅データと幅
目標値との偏差（幅偏差）を示すＹ座標値ｙ_iが任意の
値となる各点が評価点Ｐ_i（但し、ｉ＝０、１、…、
Ｎ）として選択されて、次式で示されるＸ座標値Ｘ、Ｙ
座標値Ｙを持つベジェ曲線２９が求められる。

【００９５】

【数５】 但し、ｉ：評価点を示すインデックス Ｎ：評価点の個数 ｔ：０≦ｔ≦１となる媒介変数 Ｙ：ベジェ曲線２９のＹ座標値 Ｘ：ベジェ曲線２９のＸ座標値 ｙ_i：各評価点のＹ座標値 その後、幅学習機能部１２によって、各評価点Ｐ_iのＹ
座標値ｙ_iが２進数に変換され、２進数で表現される各
評価点Ｐ_iのＹ座標値ｙ_iが横に並べられて、遺伝的アル
ゴリズムで使用される遺伝子（ベジェ曲線２９に対応す
る遺伝子）が求められる。

【００９６】これにより、各評価点Ｐ_iのＹ座標値ｙ_iが
１０進数で、“１１０”であれば、２進数のＹ座標値ｙ
_iとして“０１１０１１１０”が得られる、また評価点
Ｐ_iのＹ座標値ｙ_iが１０進数で、“１７９”であれば、
２進数のＹ座標値ｙ_iとして“１０１１００１１”が得
られ、下記に示す遺伝子が求められる。

【００９７】

【数６】 次いで、幅学習機能部１２によって、実績収集機能部１
１に記憶されている各幅データが読み出され、各幅デー
タを得た位置（被圧延材２の先端からの位置）がＸ座標
にされ、各幅データの値と、幅目標値との幅偏差がＹ座
標値にされたサンプル点Ｐ_jが求められ、図１３に示す
ように、各サンプル点Ｐ_jと、ベジェ曲線２９との距離
Ｌ_iが求められるとともに、次式に示すように、各距離
Ｌ_iが全て加算されて、ベジェ曲線２９の元になる遺伝
子を評価するのに必要な評価関数Ｓが求められる。

【数７】

【００９８】以下、Ｘ軸上における各評価点Ｐ_iの距離
ａ、Ｙ軸上における各評価点Ｐ_iのＹ座標値が順次、他
の値に切り替えて、遺伝子が変更されながら、上述した
手順と同じ方法で、新たな遺伝子に対するベジェ曲線２
９、このベジェ曲線２９の遺伝子を評価する評価関数Ｓ
が求められる。

【００９９】その後、各ベジェ曲線２９に対する各評価
関数Ｓの値が相互に比較されて、最小となる評価関数Ｓ
がＧＡ法により選択され、この評価関数Ｓに対応する遺
伝子が最適な遺伝子と判定されて、図１４に示すよう
に、最適な遺伝子を持つベジェ曲線２９が最適なベジェ
曲線３０として選択される。

【０１００】そして、幅学習機能部１２によって、最適
なベジェ曲線３０上にある各点の値に基づき、各制御点
におけるエッジャ開度補正データが求められるととも
に、各エッジャ開度補正データに基づき、設定計算機能
部１４のパターンテーブル１３に登録される各エッジャ
開度パターンのうち、被圧延材２の種類、化学成分、圧
下量などに応じたエッジャ開度パターン、すなわち各エ
ッジャ開度データΔＥを得るときに使用したエッジャ開
度パターンの学習項が更新される。

【０１０１】これにより、次の被圧延材２を熱間圧延し
て、製品を製造するとき、設定計算機能部１４によっ
て、更新されたエッジャ開度パターンを構成する各エッ
ジャ開度データＥが選択されて、これがエッジャローラ
４に供給され、製品の先端部分、定常部分、尾端部分の
幅が目標値と一致するように、エッジャローラ４のエッ
ジャ開度が調整される。

【０１０２】このように、この第７の実施形態では、幅
学習機能部１２によって、所定の条件を満たすベジェ曲
線を複数個、作成するとともに、ＧＡ法を用いて最も良
好なベジェ曲線を選択し、このベジェ曲線に基づき、設
定計算機能部１４のパターンテーブル１３に登録されて
いる各エッジャ開度パターンのうち、製品に対応するエ
ッジャ開度パターンの学習項を補正するようにした。こ
のため、ノイズなどに起因して突発的に幅データが変化
しても、これらの幅データにリミットをかけることな
く、ノイズによる影響を小さくしながら、最適な近似曲
線と、被圧延材２を熱間圧延して製品を製造する毎に得
られた製品の幅データとに基づき、設定エッジャ開度パ
ターンを最適化し、これによって製品の幅を一定にする
ことができるとともに、クロップ量を減らして、歩留ま
りを向上させることができる（請求項１、８の効果）。

【０１０３】また、この第７の実施形態では、ベジェ曲
線３０上の各制御点におけるエッジャ開度補正データを
求めて、エッジャ開度パターンの学習項を補正するよう
にしているが、エッジャローラ４をエッジャ開度をコン
トロールするコントローラ装置の開度調整ピッチが各制
御点のピッチよりも短い場合には、（１５）式、（１
６）式で表わされる媒介変数ｔを消去して得られた次式
で示されるベジェ曲線３０のＹ座標値Ｙをコントローラ
装置に直接、送るようにしても良い。

【０１０４】

【数８】 但し、ｉ：評価点を示すインデックス Ｎ：評価点の個数 Ｙ：ベジェ曲線３０のＹ座標値（エッジャ開度補正関
数） Ｘ：ベジェ曲線３０のＸ座標値 ｙ_i：各評価点のＹ座標値 これにより、コントローラ装置の開度調整ピッチが各制
御点のピッチよりも短いときでも、最適なベジェ曲線３
０と、エッジャローラ４のエッジャ開度曲線とを一致さ
せることができる。

【０１０５】《第８の実施形態》次に本発明によるエッ
ジャ開度制御装置のうち、請求項１、９に対応する第８
の実施形態を説明する。なお、基本的な構成は図１に示
した第１の実施形態における熱間圧延システム１と同一
であるため図示は省略する。

【０１０６】第８の実施の形態の特徴は、幅学習機能部
１２によって、被圧延材２の先端または後端以外の点を
起点として、実績収集機能部１１に記憶されている各幅
データのいくつかを選択させるとともに、ＧＡ法で最も
良好なベジェ曲線を選択させ、このベジェ曲線に基づ
き、設定計算機能部１４のパターンテーブル１３に登録
されている各エッジャパターンのうち、製品に対応する
エッジャ開度パターンの学習項を補正し、これによって
ノイズなどに起因して突発的に幅データが変化しても、
これらの幅データにリミットをかけることなく、ノイズ
による影響を小さくしながら、エッジャローラ４のエッ
ジャ開度を最適化するようにしたことである。

【０１０７】この場合、幅学習機能部１２によって、図
１５に示すように、被圧延材２の先端からの距離が
“ｅ”となってる点を起点とするとともに、先端からの
距離が“ｆ”となっている点を終点として、次式に示す
制約条件を満たすＸ座標値ｘ_iを持ち、かつ任意のＹ座
標値ｙ_iを持つ各点が選択されて、各点が評価点Ｐ_i（但
し、ｉ＝０、１、…、Ｎ）に決められる。

【０１０８】 ｅ＜ｘ₁＜ｘ₂＜ｘ₃＜…＜ｘ_i＜…＜ｘ_N＜ｆ …（２０） 但し、ｉ：各評価点を示すインデックス Ｎ：各評価点の数 次いで、幅学習機能部１２によって、各評価点Ｐ_iに基
づき、次式で示されるＸ座標値Ｘ、Ｙ座標値Ｙを持つベ
ジェ曲線３１が求められる。

【０１０９】

【数９】 但し、ｉ：評価点を示すインデックス Ｎ：評価点の個数 ｔ：０≦ｔ≦１となる媒介変数 Ｙ：ベジェ曲線３１のＹ座標値 Ｘ：ベジェ曲線３１のＸ座標値 ｙ_i：各評価点のＹ座標値 ｘ_i：各評価点のＸ座標値 その後、幅学習機能部１２によって、各評価点Ｐ_iのＹ
座標値ｙ_i、Ｘ座標値ｘ_iが２進数に変換され、２進数で
表現される各評価点Ｐ_iのＹ座標値ｙ_i、Ｘ座標値ｘ_iが
横に並べられて、遺伝的アルゴリズムで使用される遺伝
子（ベジェ曲線３１に対応する遺伝子）が求められる。

【０１１０】これにより、各評価点Ｐ_iのＹ座標値ｙ_i、
Ｘ座標値ｘ_iが２進数で、下記に示す値であれれば、

【数１０】 下記に示す遺伝子が得られる。

【０１１１】

【数１１】 次いで、幅学習機能部１２によって、実績収集機能部１
１に記憶されている各幅データが読み出され、各幅デー
タを得た位置（被圧延材２の先端からの位置）がＸ座標
にされるとともに、各幅データの値と、幅目標値との幅
偏差がＹ座標値にされたサンプル点Ｐ_jが求められた
後、各サンプル点Ｐ_jと、ベジェ曲線との距離Ｌ_iが求め
られるとともに、次式に示すように、各距離Ｌ_iが全て
加算されて、ベジェ曲線３１に対する遺伝子を評価する
のに必要な評価関数Ｓが求められる。

【数１２】 以下、Ｘ軸上における各評価点Ｐ_iのＸ座標値ｘ_i、Ｙ座
標値ｙ_iが順次、他の値に切り替えられて、遺伝子の値
が変更されながら、上述した手順と同じ手順で、新たな
各評価点Ｐ_iに対するベジェ曲線３１と、このベジェ曲
線３１に対する遺伝子を評価する評価関数Ｓとが求めら
れる。

【０１１２】その後、各ベジェ曲線３１に対する各評価
関数Ｓの値が相互に比較されて、最小となる評価関数Ｓ
がＧＡ法により選択されるとともに、この評価関数Ｓに
対応する遺伝子が最適な遺伝子と判定され、この最適な
遺伝子を持つベジェ曲線３１が最適なベジェ曲線として
選択される。

【０１１３】そして、幅学習機能部１２によって、（２
１）式、（２２）式で示されるベジェ曲線３１のうち、
最適なベジェ曲線に対し、媒介変数ｔの値が順次、切り
替えられながら、Ｎｅｗｔｏｎ−Ｒａｐｈｓｏｎ法が使
用されて、被圧延材２の先端から等間隔となる制御点、
例えば先端からの距離が０ｍｍとなる制御点、１００ｍ
ｍとなる制御点、２００ｍｍとなる制御点などにおける
各Ｙ座標値が導き出されて、これらＹ座標値が各制御点
におけるエッジャ開度補正データにされるとともに、各
エッジャ開度補正データに基づき、設定計算機能部１４
のパターンテーブル１３に登録される各エッジャ開度パ
ターンのうち、被圧延材２の種類、化学成分、圧下量な
どに応じたエッジャ開度パターン、すなわち各エッジャ
開度データＥを得るときに使用したエッジャ開度パター
ンの学習項が更新される。

【０１１４】これにより、次の被圧延材２を熱間圧延し
て、製品を製造するとき、設定計算機能部１４によっ
て、更新されたエッジャ開度パターンを構成する各エッ
ジャ開度データＥが選択されて、これがエッジャローラ
４に供給され、製品の先端部分、定常部分、尾端部分の
幅が目標値と一致するように、エッジャローラ４のエッ
ジャ開度が調整される。

【０１１５】このように、この第８の実施形態では、幅
学習機能部１２によって、被圧延材２の先端または後端
以外の点を起点として、実績収集機能部１１に記憶され
ている各幅データのいくつかを選択させるとともに、Ｇ
Ａ法で最も良好なベジェ曲線を選択させ、このベジェ曲
線に基づき、設定計算機能部１４のパターンテーブル１
３に登録されている各エッジャ開度パターンのうち、製
品に対応するエッジャ開度パターンの学習項を補正する
ようにした。このため、ノイズなどに起因して突発的に
幅データが変化しても、これらの幅データにリミットを
かけることなく、ノイズによる影響を小さくしながら、
さらに最適な近似曲線と、被圧延材を熱間圧延して製品
を製造する毎に得られた製品の幅データとに基づき、設
定エッジャ開度パターンを最適化し、これによって製品
の幅を一定にすることができるとともに、クロップ量を
減らして、歩留まりを向上させることができる（請求項
１、９の効果）。

【０１１６】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、請
求項１のエッジャ開度制御装置では、被圧延材を熱間圧
延して製品を製造する毎に得られた製品の幅データに基
づき、設定エッジャ開度パターンを最適化して、製品の
幅を一定にすることができ、これによってクロップ量を
減らして歩留まりを向上させることができる。

【０１１７】請求項２のエッジャ開度制御装置では、被
圧延材を熱間圧延して製品を製造する毎に得られた製品
の幅データに基づき、ＰＩ演算によって、設定エッジャ
開度パターンを最適化し、これによって演算処理を分か
り易くし、調整を容易にしながら、製品の幅を一定にす
ることができるとともに、クロップ量を減らして歩留ま
りを向上させることができる。

【０１１８】請求項３のエッジャ開度制御装置では、被
圧延材を熱間圧延して製品を製造する毎に得られた製品
の幅データに基づき、幅圧下効率を調整しながら、ＰＩ
演算によって、設定エッジャ開度パターンを最適化し、
これによって収束速度を早めながら、製品の幅を一定に
することができるとともに、クロップ量を減らして歩留
まりを向上させることができる。

【０１１９】請求項４のエッジャ開度制御装置では、パ
ターンテーブルに登録する各エッジャ開度パターンの要
素数を少なくして、必要なメモリ容量を低減させなが
ら、被圧延材を熱間圧延して製品を製造する毎に得られ
た製品の幅データに基づき、設定エッジャ開度パターン
を最適化し、これによって製品の幅を一定にすることが
できるとともに、クロップ量を減らして歩留まりを向上
させることができる。

【０１２０】請求項５のエッジャ開度制御装置では、パ
ターンテーブルに登録する各エッジャ開度パターンの要
素数を少なくして、必要なメモリ容量を低減させるとと
もに、演算量を少なくしながら、被圧延材を熱間圧延し
て製品を製造する毎に得られた製品の幅データに基づ
き、設定エッジャ開度パターンを最適化し、これによっ
て製品の幅を一定にすることができるとともに、クロッ
プ量を減らして歩留まりを向上させることができる。

【０１２１】請求項６のエッジャ開度制御装置では、パ
ターンテーブルに登録する各エッジャ開度パターンの要
素数を少なくして、必要なメモリ容量を低減させるとと
もに、演算量を少なくし、さらに特異な幅データを除去
しながら、被圧延材を熱間圧延して製品を製造する毎に
得られた製品の幅データに基づき、設定エッジャ開度パ
ターンを最適化し、これによって製品の幅を一定にする
ことができるとともに、クロップ量を減らして歩留まり
を向上させることができる。

【０１２２】請求項７のエッジャ開度制御装置では、ベ
ジェ曲線を使用することにより、特異な幅データに影響
されることなく、被圧延材を熱間圧延して製品を製造す
る毎に得られた製品の幅データに基づき、設定エッジャ
開度パターンを最適化し、これによって製品の幅を一定
にすることができるとともに、クロップ量を減らして、
歩留まりを向上させることができる。

【０１２３】請求項８のエッジャ開度制御装置では、所
定条件を満たす評価点を用いたＧＡ法を使用して複数の
ベジェ曲線を作成するとともに、最適なベジェ曲線を選
択して、特異な幅データに影響されることなく、最適な
近似曲線と、被圧延材を熱間圧延して製品を製造する毎
に得られた製品の幅データとに基づき、設定エッジャ開
度パターンを最適化し、これによって製品の幅を一定に
することができるとともに、クロップ量を減らして歩留
まりを向上させることができる。

【０１２４】請求項９のエッジャ開度制御装置では、任
意の評価点を用いたＧＡ法を使用して複数のベジェ曲線
を作成するとともに、さらに最適なベジェ曲線を選択し
て、特異な幅データに影響されることなく、さらに最適
な近似曲線と、被圧延材を熱間圧延して製品を製造する
毎に得られた製品の幅データとに基づき、設定エッジャ
開度パターンを最適化し、これによって製品の幅を一定
にすることができるとともに、クロップ量を減らして歩
留まりを向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるエッジャ開度制御装置の実施の形
態である熱間圧延システムの一例を示すブロック図であ
る。

【図２】第１の実施形態のおける熱間圧延システムの動
作を示すフローチャートである。

【図３】第１の実施形態における幅学習機能部の幅偏差
算出動作を示す説明図である。

【図４】第１の実施形態における幅学習機能部のリミッ
ト動作を示す説明図である。

【図５】第３の実施形態における熱間圧延システムで使
用される近似直線の一例を示す説明図である。

【図６】第３の実施形態における熱間圧延システムの動
作を示すフローチャートである。

【図７】第３の実施形態における幅学習機能部の幅偏差
算出動作を示す説明図である。

【図８】第３の実施形態における幅学習機能部の不連続
点処理動作を示す説明図である。

【図９】第５の実施形態における幅学習機能部の不要幅
データ削除動作を示す説明図である。

【図１０】第６の実施形態における熱間圧延システムの
動作を示すフローチャートである。

【図１１】第６の実施形態における幅学習機能部のベジ
ェ曲線算出動作を示す説明図である。

【図１２】第７の実施形態における幅学習機能部のベジ
ェ曲線算出動作を示す説明図である。

【図１３】第７の実施形態における幅学習機能部の評価
関数算出動作を示す説明図である。

【図１４】第７の実施形態における幅学習機能部のエッ
ジャ開度補正データ算出動作を示す説明図である。

【図１５】第８の実施形態における幅学習機能部のベジ
ェ曲線算出動作を示す説明図である。

【図１６】従来から知られている熱間圧延システムの動
作を示す説明図である。

【符号の説明】

１：熱間圧延システム ２：被圧延材 ３：搬送路 ４：エッジャローラ ５：水平ローラ ６：幅計 ７：記録紙 ８：チャートコーダ ９：エッジャ開度制御装置 １０：解析装置 １１：実績値収集機能部 １２：幅学習機能部 １３：パターンテーブル １４：設定計算機能部 １５：点線 １６：実線 １７：一点鎖線 １８、１９、２０、２１、２２、２３：直線 ２４、２５、２６、２７：折れ線 ２８、２９、３０、３１：ベジェ曲線

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平９−225513（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−252609（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−206714（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−192209（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−255712（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) B21B 37/00 - 37/78 G05B 13/02

Claims (9)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 搬入された被圧延材をエッジャロールに
   より幅方向に圧延するとともに水平ロールにより厚み方
   向に圧延して、指定された形状の製品を製造する熱間圧
   延プラントにおいて、 前記各製品の各部に対するエッジャ開度を示す複数のエ
   ッジャ開度データによって構成されたエッジャ開度パタ
   ーンが登録されたパターンテーブルを有し、前記被圧延
   材を圧延する際に、指定された製品形状や材種に対応す
   るエッジャ開度パターンを前記パターンテーブルから読
   み出して前記エッジャロールのエッジャ開度を調整する
   設定計算機能部と、 前記製品の板幅を実際に測定して得られた幅データに基
   づき、所定の演算を行ってエッジャ開度補正データを算
   出し、算出されたエッジャ開度補正データに基づき、前
   記パターンテーブルに登録されている前記各エッジャ開
   度パターンのうち、前記製品に対応するエッジャ開度パ
   ターンを修正する幅学習機能部と、 を備えたことを特徴とするエッジャ開度制御装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載のエッジャ開度制御装置
   において、 前記幅学習機能部は、前記製品の板幅を実際に測定して
   得られた幅データに基づき、ＰＩ演算を行って前記製品
   の各部に対する複数のエッジャ開度補正データを算出
   し、各エッジャ開度補正データに基づき、前記パターン
   テーブルに登録されている前記各エッジャ開度パターン
   のうち、前記製品に対応するエッジャ開度パターンを補
   正する、 ことを特徴とするエッジャ開度制御装置。
3. 【請求項３】 請求項１または２のいずれかに記載のエ
   ッジャ開度制御装置において、 前記幅学習機能部は、前記製品の板幅を実際に測定して
   得られた幅データに基づき、幅圧下効率を調整しなが
   ら、ＰＩ演算を行って前記製品の各部に対する複数のエ
   ッジャ開度補正データを算出し、各エッジャ開度補正デ
   ータに基づき、前記パターンテーブルに登録されている
   前記各エッジャ開度パターンのうち、前記製品に対応す
   るエッジャ開度パターンを補正する、 ことを特徴とするエッジャ開度制御装置。
4. 【請求項４】 請求項１に記載のエッジャ開度制御装置
   において、 前記幅学習機能部は、前記製品の板幅を実際に測定して
   得られた幅データと、予め設定されている幅目標値との
   偏差に基づき、前記製品の各部に対する補正直線を算出
   し、この補正直線に基づき、前記パターンテーブルに登
   録されている前記各エッジャパターンのうち、前記製品
   に対応するエッジャ開度パターンを補正する、 ことを特徴とするエッジャ開度制御装置。
5. 【請求項５】 請求項１または４のいずれかに記載のエ
   ッジャ開度制御装置において、 前記幅学習機能部は、前記製品の板幅を実際に測定して
   得られた幅データと、予め設定されている幅目標値との
   偏差に基づき、近似演算によって前記製品の各部に対す
   る補正多次式を算出し、この補正多次式に基づき、前記
   パターンテーブルに登録されている前記各エッジャ開度
   パターンのうち、前記製品に対応するエッジャ開度パタ
   ーンを補正する、 ことを特徴とするエッジャ開度制御装置。
6. 【請求項６】 請求項１、４、５のいずれかに記載のエ
   ッジャ開度制御装置において、 前記幅学習機能部は、前記製品の板幅を実際に測定して
   得られた幅データのうち、エッジャ開度を狭める特異な
   幅データを除去して、残った幅データと、予め設定され
   ている幅目標値との偏差に基づき、近似演算によって前
   記製品の各部に対する補正直線または補正曲線を算出
   し、この補正直線または補正曲線に基づき、前記パター
   ンテーブルに登録されている前記各エッジャ開度パター
   ンのうち、前記製品に対応するエッジャ開度パターンを
   補正する、 ことを特徴とするエッジャ開度制御装置。
7. 【請求項７】 請求項１に記載のエッジャ開度制御装置
   において、 前記幅学習機能部は、前記製品の板幅を実際に測定して
   得られた幅データに基づき、ベジェ曲線を作成するとと
   もに、このベジェ曲線に基づき、前記製品の各部に対す
   るエッジャ開度補正データを算出し、このエッジャ開度
   補正データに基づき、前記パターンテーブルに登録され
   ている前記各エッジャ開度パターンのうち、前記製品に
   対応するエッジャ開度パターンを補正する、 ことを特徴とするエッジャ開度制御装置。
8. 【請求項８】 請求項１、７のいずれかに記載のエッジ
   ャ開度制御装置において、 前記幅学習機能部は、被圧延材の長さ方向に等間隔にな
   り、かつ幅方向に任意の値となる各点を各評価点として
   選択するととも、幅方向値を切り替えながら、複数のベ
   ジェ曲線と、各ベジェ曲線の遺伝子とを作成し、 前記各ベジェ曲線と前記製品の幅データとの差の積分値
   を示す評価関数を作成し、各評価関数のうち、最も小さ
   な値となる評価関数に対応する遺伝子、ベジェ曲線をＧ
   Ａ法を用いて選択するとともに、このベジェ曲線に基づ
   き、前記製品の各部に対するエッジャ開度補正データを
   算出し、このエッジャ開度補正データに基づき、前記パ
   ターンテーブルに登録されている前記各エッジャ開度パ
   ターンのうち、前記製品に対応するエッジャ開度パター
   ンを補正する、 ことを特徴とするエッジャ開度制御装置。
9. 【請求項９】 請求項１、７のいずれかに記載のエッジ
   ャ開度制御装置において、 前記幅学習機能部は、被圧延材の長さ方向に対し、任意
   の位置になり、かつ幅方向に任意の値となる各点を各評
   価点として選択するととも、各評価点の位置、幅方向値
   を切り替えながら、複数のベジェ曲線と、各ベジェ曲線
   の遺伝子とを作成し、 前記各ベジェ曲線と前記製品の幅データとの差の積分値
   を示す評価関数を作成し、各評価関数のうち、最も小さ
   な値となる評価関数に対応する遺伝子、ベジェ曲線をＧ
   Ａ法を用いて選択するとともに、このベジェ曲線に基づ
   き、前記製品の各部に対するエッジャ開度補正データを
   算出し、このエッジャ開度補正データに基づき、前記パ
   ターンテーブルに登録されている前記各エッジャ開度パ
   ターンのうち、前記製品に対応するエッジャ開度パター
   ンを補正する、 ことを特徴とするエッジャ開度制御装置。